JP2002071571A - Projector for visual inspection - Google Patents

Projector for visual inspection

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JP2002071571A
JP2002071571A JP2000259482A JP2000259482A JP2002071571A JP 2002071571 A JP2002071571 A JP 2002071571A JP 2000259482 A JP2000259482 A JP 2000259482A JP 2000259482 A JP2000259482 A JP 2000259482A JP 2002071571 A JP2002071571 A JP 2002071571A
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JP
Japan
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light
mirror
fresnel lens
visual inspection
liquid crystal
Prior art date
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Withdrawn
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JP2000259482A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaru Matsumoto
勝 松本
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a compact and low-cost projector for visual inspection. SOLUTION: In the projector for visual inspection, the surface of a large substrate 3 is irradiated with illumination light, and a defect or the like is inspected. A Fresnel lens 20 is arranged in such a way that it is arranged near a mirror 11, that it regulates the illumination light to a parallel luminous flux so as to be guided to the mirror 11, that it regulates the parallel luminous flux reflected by the mirror 11 to a parallel luminous flux to be regulated to a convergence luminous flux, and that it regulates the luminous flux to the convergence luminous flux.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばフラットパ
ネルディスプレイ(FPD)のガラス基板やカラーフィ
ルタ、半導体ウエハなどの大型基板表面に付着したご
み、異物などの外観検査を行うための外観検査用投光装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a projection inspection apparatus for inspecting the appearance of dust and foreign matter on the surface of a large substrate such as a glass substrate or a color filter of a flat panel display (FPD) or a semiconductor wafer. It relates to an optical device.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は外観検査用投光装置の構成図であ
る。この外観検査用投光装置は、照明光路中に配置され
て入射光を平行光束に規制する集光用フレネルレンズ1
(厚さ5mm)と、この集光用フレネルレンズ1を介し
て導光された平行光束に対して挿脱可能に構成され、導
光された平行光束を収束光束に規制する投光用フレネル
レンズ2(厚さ5mm)と、この投光用フレネルレンズ
2を介して導光された収束光束に光学的特性を与えて観
察試料、例えば対角500mm以上の大型基板3上を照
明する散乱板4とを備えている。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a block diagram of a light projecting device for visual inspection. This light-emitting device for visual inspection is a light-collecting Fresnel lens 1 that is arranged in an illumination light path and regulates incident light into a parallel light beam.
(Thickness: 5 mm) and a light projecting Fresnel lens configured to be able to be inserted into and removed from the parallel light beam guided through the light-collecting Fresnel lens 1, and to restrict the guided parallel light beam to a convergent light beam. 2 (thickness 5 mm) and a scattering plate 4 for illuminating an observation sample, for example, a large substrate 3 with a diagonal of 500 mm or more by giving optical characteristics to the convergent light beam guided through the light projecting Fresnel lens 2. And

【0003】集光用フレネルレンズ1、投光用フレネル
レンズ2及び散乱板4は、それぞれ大型基板3よりも大
きな径(500〜600mm程度)を有している。これ
により、大型基板3は、その全体に亘って斑なく照明さ
れるようになっている。
The light-collecting Fresnel lens 1, the light-projecting Fresnel lens 2, and the scattering plate 4 each have a larger diameter (about 500 to 600 mm) than the large substrate 3. Thereby, the large-sized substrate 3 is illuminated without unevenness over the whole.

【0004】又、散乱板4としては、透明電極(図示し
ない)を介して電源5が接続され、電圧が印加可能な透
過型液晶板(以下、散乱板を透過型液晶板として説明す
る)が用いられている。
As the scattering plate 4, a transmission type liquid crystal plate to which a power supply 5 is connected via a transparent electrode (not shown) and to which a voltage can be applied (hereinafter, the scattering plate is described as a transmission type liquid crystal plate) is used. Used.

【0005】一方、光源6は、例えばメタルハライドラ
ンプ(150〜250W)が適用されている。この光源
6は、その発光点が楕円回転面ミラー7の第1焦点に位
置付けられ、かつ楕円回転ミラー7の第2焦点が散乱板
の設けられたゲート8となるように構成されている。
又、ゲート8と集光用フレネルレンズ1との間の距離
は、この集光用フレネルレンズ1の焦点距離(f)と一
致している。
On the other hand, as the light source 6, for example, a metal halide lamp (150 to 250 W) is applied. The light source 6 is configured such that its light emitting point is located at the first focal point of the elliptical rotating mirror 7 and the second focal point of the elliptical rotating mirror 7 is the gate 8 provided with the scattering plate.
Further, the distance between the gate 8 and the light-collecting Fresnel lens 1 is equal to the focal length (f) of the light-collecting Fresnel lens 1.

【0006】なお、光源6とゲート8との間には、熱線
吸収フィルタ9が設けられている。又、照明光路上に
は、フィルタ(グリーン、イエロー、偏光板等)10、
ミラー11が配置されている。上記ゲート8に配される
散乱板は、20〜30mmの大きさを有しており、ゲー
ト8から均一照明光を出射させる機能を有する。
A heat ray absorbing filter 9 is provided between the light source 6 and the gate 8. In addition, on the illumination optical path, a filter (green, yellow, polarizing plate, etc.) 10,
A mirror 11 is provided. The scattering plate disposed on the gate 8 has a size of 20 to 30 mm, and has a function of emitting uniform illumination light from the gate 8.

【0007】このような構成であれば、光源6から発光
された照明光は、楕円回転ミラー7、熱線吸収フィルタ
9及びゲート8を介してフィルタ10を透過し、ミラー
11に照射される。このミラー11に照射された照明光
は、このミラー11で反射されて、集光用フレネルレン
ズ1に照射され、平行光束に規制される。
With such a configuration, the illumination light emitted from the light source 6 passes through the filter 10 via the elliptical rotating mirror 7, the heat ray absorbing filter 9 and the gate 8, and irradiates the mirror 11. The illumination light applied to the mirror 11 is reflected by the mirror 11 and is applied to the converging Fresnel lens 1 to be restricted to a parallel light flux.

【0008】ここで、上記装置では、収束光束を照明光
として用いるので、照明光路中には、投光用フレネルレ
ンズ2及び電圧が印加されて透明になっている透過型液
晶板4が挿入されている。しかるに、投光用フレネルレ
ンズ2からの収束光束は、そのまま透過型液晶板4を透
過して、大型基板3の全面に斑なく照明される。
Here, in the above-mentioned device, a convergent light beam is used as illumination light, so that a light-transmitting Fresnel lens 2 and a transparent liquid crystal plate 4 to which a voltage is applied and which is transparent are inserted in the illumination light path. ing. However, the convergent light beam from the light projecting Fresnel lens 2 passes through the transmissive liquid crystal plate 4 as it is, and is illuminated on the entire surface of the large substrate 3 without unevenness.

【0009】この大型基板3から反射した反射照明光
は、観察者の目12の近傍位置Sに結像される。このと
き、大型基板3の表面にごみや傷等の異物13が存在し
ている場合、この異物13から散乱光が発生して、近傍
位置Sでは結像しなくなる。この結果、観察者は、光軸
外から微小散乱光を目視観察することで、大型基板3の
表面の異物13の存在が確認できる。
The reflected illumination light reflected from the large substrate 3 forms an image at a position S near the eye 12 of the observer. At this time, if a foreign substance 13 such as dust or a scratch is present on the surface of the large-sized substrate 3, scattered light is generated from the foreign substance 13 and no image is formed at the nearby position S. As a result, the observer can visually confirm the presence of the foreign matter 13 on the surface of the large-sized substrate 3 by visually observing the minute scattered light from outside the optical axis.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記外
観検査用投光装置では、照明光をミラー11で折り返し
た後に、ミラー11から所定距離だけ離れた位置に集光
用フレネルレンズ1と投光用フレネルレンズ2との2枚
のフレネルレンズを使って収束光束に成形している。こ
のため、装置全体が大型化する。特に、大型基板3とし
ては対角500mm以上のものを外観検査するので、集
光用フレネルレンズ1、投光用フレネルレンズ2及び散
乱板4は、上記の如く大型基板3よりも大きな径(50
0〜600mm程度)を有していなければならない。
However, in the above-mentioned light projecting device for visual inspection, after the illumination light is turned back by the mirror 11, the light-collecting Fresnel lens 1 and the light projecting light are located at a predetermined distance from the mirror 11. A convergent light beam is formed by using two Fresnel lenses with the Fresnel lens 2. Therefore, the size of the entire apparatus is increased. In particular, since a large substrate 3 having a diagonal size of 500 mm or more is inspected for appearance, the condensing Fresnel lens 1, the light projecting Fresnel lens 2 and the scattering plate 4 have a diameter (50) larger than the large substrate 3 as described above.
(About 0 to 600 mm).

【0011】そこで本発明は、コンパクトで安価な外観
検査用投光装置を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide a compact and inexpensive light projecting device for visual inspection.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1記載による本発
明は、大型基板の表面を照射して欠陥等の検査を行うた
めの外観検査用投光装置において、照明光を放射する光
源と、この光源から放射された前記照明光を反射するミ
ラーと、このミラーに近接配置され、前記照明光を平行
光束に規制して前記ミラーに導光すると共に、前記ミラ
ーで反射した前記平行光束を収束光束に規制するフレネ
ルレンズとを具備したことを特徴とする外観検査用投光
装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a light-emitting device for illuminating a surface of a large-sized substrate for inspecting a defect or the like for inspecting a defect or the like. A mirror for reflecting the illumination light emitted from the light source, and a mirror disposed close to the mirror for restricting the illumination light to a parallel light flux and guiding the light to the mirror, and converging the parallel light flux reflected by the mirror; A light projection device for visual inspection, comprising: a Fresnel lens that regulates a light beam.

【0013】請求項2記載による本発明は、請求項1記
載の外観検査用投光装置において、光源の出射光束に重
ならない前記フレネルレンズの反射光路中に、このフレ
ネルレンズを介して導光される収束光束に所定の光学的
特性を与え前記大型基板を均一に照明する散乱手段を配
置したことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the light emitting device for visual inspection according to the first aspect, light is guided through the Fresnel lens in a reflection optical path of the Fresnel lens which does not overlap with the light beam emitted from the light source. And a scattering means for giving predetermined optical characteristics to the convergent light beam and uniformly illuminating the large-sized substrate.

【0014】請求項3記載による本発明は、請求項2記
載の外観検査用投光装置において、前記散乱手段は、電
圧制御により透明状態と不透明状態との間で切換え可能
な透過型液晶板であることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the light emitting device for visual inspection according to the second aspect, the scattering means is a transmissive liquid crystal plate which can be switched between a transparent state and an opaque state by voltage control. There is a feature.

【0015】請求項4記載による本発明は、請求項3に
記載の外観検査用投光装置において、前記透過型液晶板
は、電源からの印加電圧を印加又は遮断することにより
収束光束又は面光源に任意に選択できることを特徴とす
る。
According to a fourth aspect of the present invention, in the light projecting device for an appearance inspection according to the third aspect, the transmission type liquid crystal plate is provided with a convergent light beam or a surface light source by applying or blocking an applied voltage from a power supply. It can be arbitrarily selected.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、図3と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0017】図1は外観検査用投光装置の構成図であ
る。この外観検査用投光装置は、ミラー11に近接配置
され、照明光を平行光束に規制してミラー11に導光す
ると共に、このミラー11で反射した平行光束を収束光
束に規制するフレネルレンズ20と、このフレネルレン
ズ20から導光された収束光束に所定の光学的特性を与
えて大型基板3の表面に照明する散乱手段としての透過
型液晶板21を備えている。
FIG. 1 is a structural view of a light projecting device for visual inspection. The projection inspection light projecting device is disposed in proximity to the mirror 11 and controls the illumination light to a parallel light beam to guide the light to the mirror 11 and also controls the parallel light beam reflected by the mirror 11 to a convergent light beam. And a transmissive liquid crystal plate 21 as scattering means for illuminating the surface of the large-sized substrate 3 by giving predetermined optical characteristics to the convergent light flux guided from the Fresnel lens 20.

【0018】上記フレネルレンズ20は、平行光束への
規制と収束光束への規制との兼用となっている。このフ
レネルレンズ20は、ミラー11の直前に配置されるも
ので、これらフレネルレンズ20とミラー11との間隔
は、狭い程装置全体の小型化を図ることができる。
The Fresnel lens 20 is used for both restricting a parallel light beam and restricting a convergent light beam. The Fresnel lens 20 is disposed immediately before the mirror 11, and the smaller the distance between the Fresnel lens 20 and the mirror 11, the smaller the size of the entire apparatus.

【0019】透過型液晶板21は、透明電極(図示しな
い)を介して電源5に接続されている。この透過型液晶
板21に適用された調光液晶シート(図示しない)は、
通常は液滴中で液晶(図示しない)がランダムになてい
るため、入射された光が界面又は内部で散乱されて不透
明な状態になっているが、電圧を印加することによっ
て、液晶が電界の方向に整列して、入射した光を散乱し
なくなり、透明に変化する機能を有している。
The transmission type liquid crystal plate 21 is connected to the power supply 5 via a transparent electrode (not shown). The light control liquid crystal sheet (not shown) applied to the transmission type liquid crystal plate 21
Normally, the liquid crystal (not shown) is random in the liquid droplet, so that the incident light is scattered at the interface or inside and is in an opaque state. In order to prevent scattering of incident light and to change to transparent.

【0020】これらフレネルレンズ20及び透過型液晶
板21は、それぞれ大型基板3よりも大きな径(500
〜600mm程度)を有している。これにより、大型基
板3は、その全面に亘って斑なく照明されるようになっ
ている。
Each of the Fresnel lens 20 and the transmission type liquid crystal plate 21 has a diameter (500
程度 600 mm). Thus, the large substrate 3 is illuminated without unevenness over the entire surface.

【0021】次に、上記の如く構成された装置の作用に
ついて説明する。
Next, the operation of the device configured as described above will be described.

【0022】光源6から発光された照明光は、楕円回転
ミラー7、熱線吸収フィルタ9及びゲート8を介してフ
ィルタ10を透過し、フレネルレンズ20に照射され
る。
The illumination light emitted from the light source 6 passes through the filter 10 via the elliptical rotating mirror 7, the heat ray absorbing filter 9 and the gate 8, and is irradiated on the Fresnel lens 20.

【0023】このフレネルレンズ20は、照明光を平行
光束に規制してミラー11に導光する。この平行光束に
規制された照明光は、ミラー11で反射して再びフレネ
ルレンズ20に入射する。このフレネルレンズ20は、
ミラー11で反射された平行光束の照明光を収束光束に
規制する。
The Fresnel lens 20 restricts the illumination light to a parallel light flux and guides the light to the mirror 11. The illumination light restricted to the parallel light flux is reflected by the mirror 11 and enters the Fresnel lens 20 again. This Fresnel lens 20
The illumination light of the parallel light flux reflected by the mirror 11 is restricted to a convergent light flux.

【0024】ここで、透過型液晶板21は、電源5から
電圧が印加されて透明になっている。従って、フレネル
レンズ20からの収束光束は、そのまま透過型液晶板2
1を透過して、大型基板3の全面に斑なく照明される。
Here, the transmission type liquid crystal plate 21 is transparent when a voltage is applied from the power supply 5. Therefore, the convergent light beam from the Fresnel lens 20 is transmitted as it is to the transmission type liquid crystal plate 2.
1, the entire surface of the large substrate 3 is illuminated without unevenness.

【0025】この大型基板3から反射した反射照明光
は、観察者の目12の近傍位置Sに結像される。このと
き、大型基板3の表面にごみや傷等の異物13が存在し
ている場合、この異物13から散乱光が発生して、近傍
位置Sでは結像しなくなる。この結果、観察者は、光軸
外から微小散乱光を目視観察することで、大型基板3の
表面の異物13の存在を確認できる。
The reflected illumination light reflected from the large substrate 3 forms an image at a position S near the eye 12 of the observer. At this time, if a foreign substance 13 such as dust or a scratch is present on the surface of the large-sized substrate 3, scattered light is generated from the foreign substance 13 and no image is formed at the nearby position S. As a result, the observer can confirm the presence of the foreign matter 13 on the surface of the large substrate 3 by visually observing the minute scattered light from outside the optical axis.

【0026】なお、近傍位置Sに、例えば遮光板(図示
しない)を配置させて、大型基板3の表面から直接反射
した反射光が目12に入射しないように構成することも
好ましい。
It is also preferable to arrange a light shielding plate (not shown) in the vicinity position S, for example, so that light reflected directly from the surface of the large-sized substrate 3 does not enter the eyes 12.

【0027】このような収束光束は、特に、大型基板3
に印刷されたパターンの乱れや斑あるいは大型基板3の
表面のごみや傷等の検査に適しており、その大型基板3
の面上での照度が極めて明るいため、異物13の確認が
容易となるばかりでなく、光源像が目12に入射されな
いため、まぶしくならず、観察に支障を来すこともな
い。
Such a convergent light beam is particularly generated by the large substrate 3
It is suitable for inspection of disorder or spots of a pattern printed on the surface of the large substrate 3 or dust or scratches on the surface of the large substrate 3.
Since the illuminance on the surface is extremely bright, not only the foreign matter 13 can be easily confirmed, but also since the light source image is not incident on the eye 12, it does not dazzle and does not hinder observation.

【0028】次に、照明光として面光源を選択する場
合、図2に示すように電源5から透過型液晶板21への
印加電圧を遮断して、透過型液晶板21を不透明にす
る。これにより、フレネルレンズ20を透過して形成さ
れた収束光束は、透過型液晶板21によってシャーカス
テン照明光となり、大型基板3の全面に斑なく照明され
る。
Next, when a surface light source is selected as the illumination light, as shown in FIG. 2, the voltage applied from the power supply 5 to the transmission type liquid crystal plate 21 is cut off to make the transmission type liquid crystal plate 21 opaque. As a result, the convergent light flux formed by passing through the Fresnel lens 20 becomes sharksten illumination light by the transmission type liquid crystal plate 21, and is illuminated on the entire surface of the large substrate 3 without unevenness.

【0029】このような面光源は、特に、大型基板3上
のレジスト等の膜厚の斑或いは透明導電膜(ITO)上
のピンホールや膜下のごみ等の検査に適しており、その
大型基板3の全面に亘って均一な照度となると共に、そ
の基板表面に存在する異物13によって形成される干渉
パターンが観察者によって良く見える。
Such a surface light source is particularly suitable for inspecting unevenness in thickness of a resist or the like on a large substrate 3 or pinholes on a transparent conductive film (ITO) or dust under the film. The illuminance becomes uniform over the entire surface of the substrate 3, and the interference pattern formed by the foreign matter 13 present on the surface of the substrate 3 is clearly seen by the observer.

【0030】このように上記一実施の形態においては、
ミラー11に近接配置され、照明光を平行光束に規制し
てミラー11に導光すると共に、このミラー11で反射
した平行光束を収束光束に規制する平行光束と収束光束
との規制兼用のフレネルレンズ20を配置したので、1
枚のフレネルレンズ20を使用するだけでよく、このミ
ラー11と、フレネルレンズ20の間隔を短くできると
共に、透過型液晶板21をミラー11に近付けることが
できるので、装置全体をコンパクト化でき、かつ高価な
フレネルレンズ20を従来のものと比べ1枚削減し安価
にできる。特に、大型基板3としては対角500mm以
上のものを外観検査する場合でも、小型化した装置によ
り外観検査ができる。なお、フレネルレンズ20とミラ
ー11との間隔は、狭い程装置全体の小型化を図ること
ができる。更に、大型基板3が大型化するような場合に
は、フレネルレンズ20を複数に分割するとともに、こ
の分割に対応させて複数の光源を配置することも可能で
ある。このようにフレネルレンズを複数に分割すること
で焦点距離を抑えることができ、装置の小型化を容易に
図ることができる。
As described above, in one embodiment,
A Fresnel lens, which is disposed close to the mirror 11 and regulates the illumination light to a parallel light flux and guides the light to the mirror 11, and also regulates the parallel light flux reflected by the mirror 11 to a convergent light flux. Since 20 were placed, 1
It is sufficient to use only one Fresnel lens 20, and the distance between the mirror 11 and the Fresnel lens 20 can be shortened, and the transmission type liquid crystal plate 21 can be brought close to the mirror 11, so that the entire apparatus can be made compact and The number of expensive Fresnel lenses 20 can be reduced by one compared with the conventional one, and the cost can be reduced. In particular, even when the appearance of a large substrate 3 having a diagonal of 500 mm or more is inspected, the appearance can be inspected by a downsized device. The smaller the distance between the Fresnel lens 20 and the mirror 11, the smaller the size of the entire device. Further, when the large substrate 3 becomes large, it is possible to divide the Fresnel lens 20 into a plurality of parts and arrange a plurality of light sources corresponding to the division. By dividing the Fresnel lens into a plurality of parts as described above, the focal length can be reduced, and the size of the apparatus can be easily reduced.

【0031】又、散乱板として透過型液晶板21を適用
し、この透過型液晶板21に電圧を印加又は遮断させる
だけで、収束光束又は面光源を適宜選択できるので、照
明光路中に対する散乱板の挿脱の必要がなくなり、観察
作業効率を向上させることができる。
Further, by applying a transmission type liquid crystal plate 21 as a scattering plate and applying or blocking a voltage to the transmission type liquid crystal plate 21, a convergent light beam or a surface light source can be appropriately selected. This eliminates the need for insertion and removal, and can improve the efficiency of observation work.

【0032】さらに、大型基板3の全面を斑なく照明す
るように構成されているので、大型基板3の表面全体に
亘る異物検出能力に優れ、かつ大型基板3の外観検査を
効率よく行なうことができる。
Further, since the entire surface of the large-sized substrate 3 is configured to be illuminated without unevenness, the foreign-substance detection capability over the entire surface of the large-sized substrate 3 is excellent, and the appearance inspection of the large-sized substrate 3 can be efficiently performed. it can.

【0033】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく次の通りに変形してもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment, but may be modified as follows.

【0034】例えば、偏光板が挿入されたフィルタ10
から導光された照明光を受光可能な位置に、アナライザ
としてフィルム状偏光膜が形成されたガラス板を配置さ
せることによって、大型基板3の偏光観察を行うことも
可能である。なお、係る偏光観察は、観察者が偏光板が
設けられた眼鏡等を掛けて、光源像位置に目12を置く
ことによっても行うことができる。
For example, the filter 10 in which a polarizing plate is inserted
By arranging a glass plate on which a film-shaped polarizing film is formed as an analyzer at a position where the illumination light guided from the substrate can be received, it is also possible to observe the polarization of the large substrate 3. The polarized light observation can also be performed by the observer wearing glasses or the like provided with a polarizing plate and placing the eye 12 at the light source image position.

【0035】又、上記一実施の形態では、観察者による
目視検査について説明したが、画像処理装置を介して基
板外観検査を行うように構成してもよい。
Further, in the above-described embodiment, the visual inspection by the observer has been described. However, the configuration may be such that the substrate appearance inspection is performed via an image processing apparatus.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、安
価でコンパクトな外観検査用投光装置を提供できる。
As described above in detail, according to the present invention, it is possible to provide an inexpensive and compact light projector for visual inspection.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係わる外観検査用投光装置の一実施の
形態を示す構成図。
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a light projecting device for visual inspection according to the present invention.

【図2】本発明に係わる外観検査用投光装置の一実施の
形態における照明光として面光源を選択したときの作用
を説明するための図。
FIG. 2 is a view for explaining an operation when a surface light source is selected as the illumination light in the embodiment of the appearance inspection light projecting device according to the present invention.

【図3】従来の外観検査用投光装置の構成図。FIG. 3 is a configuration diagram of a conventional light emitting device for visual inspection.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3:大型基板 5:電源 6:光源 7:楕円回転面ミラー 8:ゲート 9:熱線吸収フィルタ 10:フィルタ 11:ミラー 20:フレネルレンズ 21:透過型液晶板 3: Large substrate 5: Power supply 6: Light source 7: Elliptical rotating surface mirror 8: Gate 9: Heat ray absorption filter 10: Filter 11: Mirror 20: Fresnel lens 21: Transmission type liquid crystal plate

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Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 大型基板の表面を照射して欠陥等の検査
を行うための外観検査用投光装置において、 照明光を放射する光源と、 この光源から放射された前記照明光を反射するミラー
と、 このミラーに近接配置され、前記照明光を平行光束に規
制して前記ミラーに導光すると共に、前記ミラーで反射
した前記平行光束を収束光束に規制するフレネルレンズ
と、を具備したことを特徴とする外観検査用投光装置。
A light source for illuminating illumination light, and a mirror for reflecting the illuminating light emitted from the light source. And a Fresnel lens which is arranged close to the mirror, regulates the illumination light to a parallel light flux and guides the same to the mirror, and regulates the parallel light flux reflected by the mirror to a convergent light flux. Characteristic floodlight for visual inspection.
【請求項2】 光源の出射光束に重ならない前記フレネ
ルレンズの反射光路中に、このフレネルレンズを介して
導光される収束光束に所定の光学的特性を与え前記大型
基板を均一に照明する散乱手段を配置したことを特徴と
する請求項1記載の外観検査用投光装置。
2. A scatterer which imparts predetermined optical characteristics to a convergent light beam guided through the Fresnel lens in a reflected light path of the Fresnel lens which does not overlap with an emitted light beam of a light source, and uniformly illuminates the large-sized substrate. 2. A light projecting device for visual inspection according to claim 1, wherein means are arranged.
【請求項3】 前記散乱手段は、電圧制御により透明状
態と不透明状態との間で切換え可能な透過型液晶板であ
ることを特徴とする請求項2記載の外観検査用投光装
置。
3. The light projection device for visual inspection according to claim 2, wherein said scattering means is a transmissive liquid crystal plate which can be switched between a transparent state and an opaque state by voltage control.
【請求項4】 前記透過型液晶板は、電源からの印加電
圧を印加又は遮断することにより収束光束又は面光源に
任意に選択できることを特徴とする請求項3に記載の外
観検査用投光装置。
4. The light projection device for visual inspection according to claim 3, wherein the transmission type liquid crystal plate can be arbitrarily selected as a convergent light beam or a surface light source by applying or interrupting an applied voltage from a power supply. .
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20040017912A (en) * 2002-08-22 2004-03-02 주식회사 두산 The Light apparatus for detecting defects on bottle
KR100795080B1 (en) 2005-09-20 2008-01-17 가부시키가이샤 모리텍스 Illumination device for inspecting a substrate
CN115616003A (en) * 2022-10-17 2023-01-17 四川长虹电器股份有限公司 Fresnel optical film inspection equipment and inspection method thereof

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040017912A (en) * 2002-08-22 2004-03-02 주식회사 두산 The Light apparatus for detecting defects on bottle
KR100795080B1 (en) 2005-09-20 2008-01-17 가부시키가이샤 모리텍스 Illumination device for inspecting a substrate
CN115616003A (en) * 2022-10-17 2023-01-17 四川长虹电器股份有限公司 Fresnel optical film inspection equipment and inspection method thereof
CN115616003B (en) * 2022-10-17 2024-06-11 四川长虹电器股份有限公司 Fresnel optical film inspection device and inspection method thereof

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