KR200370954Y1 - 엘씨디 보드 검사장치 - Google Patents

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KR200370954Y1
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정경식
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주식회사 성일텔레콤
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Abstract

본 고안은 휴대폰 등의 엘씨디(LCD - Liquid Crystal Display)를 구동시켜 주기 위한 보드의 각 회로 부분에 대한 기능검사(테스트)와 단선 및 쇼트 등을 검사하여 주기 위한 엘씨디 보드 검사장치에 관한 것이다.
본 고안은 엘씨디 보드에 설치되는 각 회로의 검사(측정)을 위한 순차적인 작동데이터가 프로그래밍된 중앙처리장치(CPU-Central Process Unit; 110)를 탑재한 본체(11)와, 장비에 의한 엘씨디 보드의 검사과정을 제어하기 위한 콘솔(12)과, 엘씨디 보드(B)를 장착하여 검사를 수행하기 위한 검사지그(13)와, 보드(B)에 대한 검사 진행상태를 출력하여 주기 위한 검사용 모니터(14)등으로 구성되는 것이다.
본 고안은 엘씨디 보드의 각 구성부품에 측정전류를 가하여 구성부품에 대한 이상유무를 검사할 수 있도록 한 것으로서, 최소화된 장비로 보드의 구성부품에 대한 단락여부와 아울러 각 구성부품의 기능의 이상뮤무에 대한 정확한 검사를 실시할 수 있으며, 엘씨디 모듈에 대한 무결성 검사까지 동시에 실시할 수 있는 등의 효과가 있다.

Description

엘씨디 보드 검사장치{inspection mechanism for a liquid crystal display's integrated circuit}
본 고안은 엘씨디(LCD - Liquid Crystal Display) 보드 검사장치에 관한 것으로서, 좀더 상세하게는 휴대폰 등의 엘씨디를 구동시켜 주기 위한 보드(회로기판)에 배열되는 각 구성부품(회로)에 대한 기능검사(테스트)와 단선 및 쇼트 등을 검사하여 주기 위한 엘씨디 보드 검사장치에 관한 것이다.
엘씨디(LCD) 보드는 그 출하에 앞서 보드에 설치된 각 회로(전극패턴)에 대한 단선 및 쇼트 등에 대한 검사(테스트)가 이루어지고 있는데, 종래의 엘씨디 검사장비 등은 각 회로에 대한 포인트 검사를 실행하여 단선 및 쇼트 등을 점검할 수 있도록 한 것이었다.
상기한 종래의 엘씨디 검사장비 등은 포인트 검사방식을 채택하고 있는 것으로 장비의 크기가 커질 수밖에 없었을 뿐만 아니라 한정된 협소한 공간에서 각 구성부품에 대한 포인트 검사가 이루어지므로 검사가 힘들고 검사의 정확도가 떨어질 수 있다는 등의 문제점이 있었으며, 검사과정에 엘씨디 모듈에 대한 검사는 포함되지 않아 제품의 최종 출하단계에서 엘씨디 작동에 대한 무결성 검사를 실시할 수 없다는 등의 다수 문제점이 지적되어 왔다.
또한, 종래의 보드 검사장비는 단선(open)과 단락(short) 등에 대한 사항만을 검출할 수 있는 것으로 각 회로부분이 정상 기능(스펙)을 유지하는지 여부에 대한 검사를 진행할 수 없기 때문에 보드의 실질적인 사용과정에서 불량을 일으킬 수 있다는 등의 문제점이 지적되고 있다.
본 고안은 전술한 바와 같은 종래 엘씨디(LCD) 검사장비 등의 제반 문제점을 일소하기 위해 창출된 것으로서, 엘씨디 보드에 대한 단락(short) 및 단선(open)검사를 진행함과 동시에 각 구성부품(회로)에 측정전류를 가한 다음 각 구성부품의 기능을 역추적하는 방식으로 각 구성부품의 기능(스펙)에 대한 이상유무를 검사할 수 있도록 함으로써 불량 보드의 출하를 원천적으로 방지할 수 있도록 함과 아울러 엘씨디 보드가 가상의 엘씨디를 구동시키도록 함으로써 엘씨디 보드의 검사과정에서 엘씨디 모듈에 대한 무결성 검사까지 동시에 실시할 수 있도록 함에 기술적 과제의 주안점을 두고 완성한 엘씨디 보드 검사장치를 제공하고자 한다.
상기한 기술적 과제를 실현하기 위한 본 고안은 검사(측정) 데이터가 탑재된 중앙처리장치(CPU-Central Processor Unit)를 마련하는 본체와, 장비에 의한 검사과정을 제어하기 위한 콘솔과, 엘씨디 보드에 대한 검사를 수행하기 위한 검사지그 등을 구비하는 것인 바, 이하 예시되는 도면과 함께 본 고안을 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 고안에서 제시하는 엘씨디 보드 검사장치의 구성도.
도 2는 본 고안에 따른 콘솔의 일실시예를 도시한 사시도.
도 3은 본 고안에 따른 검사지그의 일실시예를 도시한 정면도
도 4는 본 고안에 따른 검사지그의 평면도
도 5는 본 고안의 블록도.
▣ 도면의 주요부분에 사용된 부호의 설명 ▣
10: 엘씨디 보드 검사장치 11: 본체
12: 콘솔 13: 검사지그
110: 중앙처리장치 111a: 데이터 저장부
111b: 비교·출력부 111c: 판별부
111d: 디스플레이부 112: 저항 측정부
113: 콘덴서 측정부 114: 코일 측정부
115: 다이오드 측정부 116: 제너-다이오드 측정부
117: 로직-TR 측정부 118: 단락 및 단선 검사부
119: 전원 공급부 120: 마이크로프로세서 수단
도 1에 본 고안에서 제시하는 엘씨디 검사장치(10)의 구성도가 도시되는데, 도시된 바를 통해 본 고안은 엘씨디 보드에 설치되는 각 회로의 검사(측정)을 위한 순차적인 작동데이터가 프로그래밍된 중앙처리장치(CPU-Central Process Unit; 110)를 탑재한 본체(11)와, 장비에 의한 엘씨디 보드의 검사과정을 제어하기 위한 콘솔(12)과, 엘씨디 보드(B)를 장착하여 검사를 수행하기 위한 검사지그(13)와, 보드(B)에 대한 검사 진행상태를 출력하여 주기 위한 검사용 모니터(14)등으로 구성되어짐을 알 수 있다.
도 2에 본 고안에 따른 콘솔(12)의 일실시예가 도시되는데, 도시된 바와 같이 콘솔(12)은 전면에 입,출력 데이터를 디스플레이하여 주기 위한 표시창(W)을 구비하는 컨트롤 판넬(P)을 장착하고, 컨트롤 판넬(P)의 일측에는 검사의 진행을 위한 스타트 스위치(S1), 검사의 단계를 설정하기 위한 스탭 스위치(S2)와, 재설정을 위한 리셋 스위치(S3), 검사모드를 설정하기 위한 모드선택 스위치(S4), 레벨설정 스위치(S5) 등을 설치하여서 된 것이다.
상기 컨트롤 판넬(P)의 이면에는 마이크로프로세서 수단(120)을 장착하여 각 입력 스위치(S1,S2,S3,S4,S5)에 의해 입력되는 신호를 처리하여 중앙처리장치(110)로 전송하여 주도록 함과 아울러 중앙처리장치(110)로부터 전송된 데이터를 표시창(W)으로 출력하여 줄 수 있도록 한다.
도 3 내지 도 4에 검사지그(13)의 일실시예가 도시되는데, 도시된 바와 같이본 고안에 따른 검사지그(13)는 테이블(130)에 입설되는 포스트(131)에 검사유닛(132)을 설치하여 검사유닛(132)이 테이블(13) 저부에 설치된 구동실린더(M)의 구동에 따라 포스트(131)를 따라 상하로 승하강되게 하고, 검사유닛(132)의 직하방에 보드(B)를 고정시켜 주기 위한 지지대(133)를 형성하여 지지대(133)의 일영역에 접점단(134)을 마련하며, 테이블(130)의 일측에 접점단(134)과 연계되는 엘씨디 모니터(135)를 설치하여서 된 것으로서, 검사유닛(132)이 하강하여 지지부(133)에 안치되는 엘씨디 보드(B)에 검사(측정)전류를 인가시켜 줄 수 있도록 함과 아울러 엘씨디 보드(B)가 가상의 엘씨디 모니터(135)를 구동시켜 엘씨디 모듈의 이상유무를 검사할 수 있도록 한 것이다.
도 5에 본 고안의 블록도가 도시되는데, 도시된 바와 같이 콘솔(12)의 컨트롤 판넬(P) 이면에 장착되는 마이크로프로세서 수단(120)과 본체(11)의 내부에 장착된 중앙처리장치(110)가 연계되어 상호간에 데이터를 주고 받고, 중앙처리장치(110)에 의해 검사가 진행됨과 아울러 검사의 진행상태가 검사용 모니터(14)로 출력되어짐을 알 수 있다.
상기 중앙처리장치(110)에는 엘씨디 보드(B)에 배열된 각 구성부품(회로)에 대한 지정 스펙(측정전류에 대한 정상 검출값)이 저장된 데이터 저장부(111a)와, 엘씨디 보드(B)의 각 구성부품에 대한 측정(테스트)결과를 데이터 저장부(111a)에 저장된 지정 스펙과 비교하여 출력하여 줄 수 있도록 한 비교·출력부(111b)와, 각 구성부품에 대한 이상유무를 출력하여 줄 수 있도록 한 판별부(111c)와, 판별경과를 검사용 모니터(14)로 출력하여 주기 위한 디스플레이부(111d)와, 시스템에 전원을 공급(입력 : AC90 ~ 230VAC / 50 ~ 60㎐, 출력 : +5Vdc / 3A, +12Vdc / 1.5A, -12Vdc / 0.3A)하기 위한 전원 공급부(119)가 마련된다.
상기 중앙처리장치(110)는 저항 측정부(112)와, 콘덴서 측정부(113)와, 코일 측정부(114)와, 다이오드 측정부(115)와, 제너-다이오드 측정부(116)와, 로직-TR 측정부(117)와, 단락 및 단선 검사부(118) 등을 구비하는데, 저항 측정부(112)는 10Ω ~ 10㏁의 측정범위를 갖는 것으로 엘씨디 보드(B)의 저항에 0.1㎂ ~ 0.1㎃의 측정전류와 0 ~ 4V의 측정전압을 가해주고, 콘덴서 측정부(113)는 100㎋ ~ 100㎌ / 20㎊ ~ 100㎋의 측정범위를 갖는 것으로 엘씨디 보드(B)의 콘덴서에 0 ~ 4V / 100 ~ 500㎑의 측정전압을 가해주며, 코일 측정부(114)는 10uH ~ 10H의 측정범위를 갖는 것으로 엘씨디 보드(B)의 코일에 200mV ~ 4V의 측정전압을 가해주고, 다이오드 측정부(115)는 0.1 ~ 2V의 측정범위를 갖는 것으로 엘씨디 보드(B)의 다이오드에 1㎃의 측정전류와 최대 2V의 측정전압을 가해주며, 제너-다이오드 측정부(116)는 0.01 ~ 9.9V의 측정범위를 갖는 것으로 엘씨디 보드(B)의 제너-다이오드에 1㎃의 측정전류와 최대 0.01 ~ 9V의 측정전압을 가해주고, 로직-TR 측정부(117)는 0.01 ~ 5V의 측정범위를 갖는 것으로 엘씨디 보드(B)의 로직-TR에 1㎃의 측정전류와 0.01 ~ 5V의 측전전압을 가해주며, 단락 및 단선 검사부(118)는 패턴(pattern) 간에 저항을 측정하여 단락 및 단선을 검사하여 주기 위한 것으로 엘씨디 보드(B)에 0.1 ~ 4V의 측정전류와 10㎃(최대)의 측정전류를 가하여 준다.
이상의 구성으로 된 본 고안은 검사지그(13)에 마련된 지지대(133)에 엘씨디보드를 장착한 다음 검사유닛(132)을 하강시켜 저항, 콘덴서, 코일, 다이오드, 제너-다이오드, 로직-TR 등에 일정한 측정전류를 가하여 단락 및 합선여부와 각 구성부품에 대한 기능의 이상유무를 테스트하는 것으로 그 상세한 작용은 다음과 같이 이루어진다.
검사지그(13)의 지지대(133)에 엘씨디 보드를 장착한 상태에서 콘솔(12)의 각 조작스위치를 조작하여 검사모드를 선택한 다음 검사(테스트)를 진행하게 되는데, 스타트 스위치(S1)를 조작하면 검사유닛(132)이 하강하여 엘씨디 보드(B)에 접하면서 엘씨디 보드(B)에 측정전류를 인가시키게 된다.
중앙처리장치(110)의 저항 측정부(112)는 저항에 0.1㎂ ~ 0.1㎃의 측정전류와 0 ~ 4V의 측정전압을 5~80 ms/step의 측정시간 동안 가하여 저항의 이상유무를 검사하는데, 이때, 측정된 저항값은 비교·출력부(111b)에 의해 데이터 저장부(111a)에 저장된 지정 스펙과 비교·출력되며, 판별부(111c)는 이상유무를 확인하여 합격 및 불합격 판정을 내리고, 디스플레이부(111d)는 검사과정을 검사용 모니터(114)로 출력하여 주게 된다.
콘덴서 측정부(113)는 콘덴서에 0 ~ 4V / 100 ~ 500㎑의 측전전압을 5~80 ms/step / 5~20 ms/step의 측정시간 동안 가하여 콘덴서의 이상유무를 검사하는데, 이때, 콘덴서 측정부(113)에 의해 측정된 측정값은 비교·출력부(111b)에 의해 데이터 저장부(111a)에 저장된 지정 스펙과 비교·출력되며, 판별부(111c)는 이상유무를 확인하여 합격 및 불합격 판정을 내리고, 디스플레이부(111d)는 검사과정을 검사용 모니터(114)로 출력하여 주게 된다.
코일 측정부(114)는 코일에 200mV ~ 4V의 측정전압을 5~80 ms/step의 측정시간 동안 가하여 코일의 이상유무를 감사하는데, 이때, 코일 측정부(114)에 의해 측정된 측정값은 비교·출력부(111b)에 의해 데이터 저장부(111a)에 저장된 지정 스펙과 비교·출력되며, 판별부(111c)는 이상유무를 확인하여 합격 및 불합격 판정을 내리고, 디스플레이부(111d)는 검사과정을 검사용 모니터(114)로 출력하여 주게 된다.
다이오드 측정부(115)는 다이오드에 1㎃의 측정전류와 최대 2V의 측정전압을 5~10 ms/step의 측정시간 동안 가하여 다이오드의 이상유무를 검사하는데, 이때, 다이어드 측정부(115)에 의해 측정된 측정값은 비교·출력부(111b)에 의해 데이터 저장부(111a)에 저장된 지정 스펙과 비교·출력되며, 판별부(111c)는 이상유무를 확인하여 합격 및 불합격 판정을 내리고, 디스플레이부(111d)는 검사과정을 검사용 모니터(114)로 출력하여 주게 된다.
제너-다이오드 측정부(116)는 제너-다이오드에 1㎃의 측정전류와 최대 0.01 ~ 9V의 측정전압을 5~10 ms/step의 측정시간 동안 가하여 제너-다이오드의 이상유무를 검사하게 되는데, 이때, 제너-다이어드 측정부(116)에 의해 측정된 측정값은 비교·출력부(111b)에 의해 데이터 저장부(111a)에 저장된 지정 스펙과 비교·출력되며, 판별부(111c)는 이상유무를 확인하여 합격 및 불합격 판정을 내리고, 디스플레이부(111d)는 검사과정을 검사용 모니터(114)로 출력하여 주게 된다.
로직-TR 측정부(117)는 로직-TR에 1㎃의 측정전류와 0.01 ~ 5V의 측정전압을 5~10 ms/step의 측정시간 동안 가하여 로직-TR에 대한 이상유무를 검사하게 되는데, 이때, 로직-TR 측정부(117)에 의해 측정된 측정값은 비교·출력부(111b)에 의해 데이터 저장부(111a)에 저장된 지정 스펙과 비교·출력되며, 판별부(111c)는 이상유무를 확인하여 합격 및 불합격 판정을 내리고, 디스플레이부(111d)는 검사과정을 검사용 모니터(114)로 출력하여 주게 된다.
단락 및 단선 검사부(118)는 엘씨디 보드(B)에 0.1 ~ 4V의 측정전류와 10㎃(최대)의 측정전류 패턴(pattern) 간에 저항을 측정하여 단락 및 단선을 검사하게 되는데, 측정값이 80Ω 이하일 경우에는 단락으로 판정을 내리며 120Ω 이상일 경우에는 오픈(open)으로 판정을 내리고, 디스플레이부(111d)는 측정결과를 검사용 모니터(114)로 출력하여 주게 된다.
본 고안에서 제시하는 엘씨디 보드 검사장치(10)는 엘씨디 보드의 각 구성부품에 측정전류를 가하여 구성부품에 대한 이상유무를 검사할 수 있도록 한 것으로서, 최소화 된 장비로 보드의 구성부품에 대한 단락여부와 아울러 각 구성부품의 기능의 이상유무에 대한 정확한 검사를 실시할 수 있으며, 검사테이블(130)에 안치된 엘씨디 보드(B)가 가상의 엘씨디 모니터(135)를 구동시킬 수 있도록 함으로써 엘씨디 모듈에 대한 무결성 검사까지 동시에 실시하여 제품의 최종 사용단계에서 발생할 수 있는 불량까지 최소화 할 수 있는 등 본 고안은 그 기대되는 효과가 실로 유익한 고안인 것이다.

Claims (1)

  1. 보드에 설치된 회로의 검사(측정)을 위한 순차적인 작동데이터가 프로그래밍된 중앙처리장치(CPU-Central Process Unit; 110)를 탑재한 본체(11)와, 장비에 의한 엘씨디 보드의 검사과정을 제어하기 위한 콘솔(12)과, 엘씨디 보드(B)를 장착하여 검사를 수행하기 위한 검사지그(13)와, 보드(B)에 대한 검사 진행상태를 출력하여 주기 위한 검사용 모니터(14)를 포함하는 것으로;
    상기 콘솔(12)은 입,출력 데이터를 디스플레이하여 주기 위한 표시창(W)을 구비하는 컨트롤 판넬(P)을 장착하고, 컨트롤 판넬(P)의 일측에는 검사의 진행을 위한 스타트 스위치(S1), 검사의 단계를 설정하기 위한 스탭 스위치(S2)와, 재설정을 위한 리셋 스위치(S3), 검사모드를 설정하기 위한 모드선택 스위치(S4), 레벨설정 스위치(S5)를 설치하여서 구성하며;
    상기 검사지그(13)는 테이블(130)의 포스트(131)에 구동모터(M)를 따라 상하로 승하강되는 검사유닛(132)을 설치하고, 검사유닛(132)의 직하방에 보드(B)를 고정시켜 주기 위한 지지대(133)를 형성하여 지지대(133)의 일영역에 접점단(134)을 마련하며, 테이블(130)의 일측에 접점단(134)과 연계되는 엘씨디 모니터(135)를 설치하여서 구성하고;
    상기 중앙처리장치(110)는 엘씨디 보드(B)에 배열된 각 구성부품(회로)에 대한 지정 스펙(측정전류에 대한 정상 검출값)이 저장된 데이터 저장부(111a)와, 엘씨디 보드(B)의 각 구성부품에 대한 측정(테스트)결과를 데이터 저장부(111a)에 저장된 지정 스펙과 비교하여 출력하여 줄 수 있도록 한 비교·출력부(111b)와, 각 구성부품에 대한 이상유무를 출력하여 줄 수 있도록 한 판별부(111c)와, 시스템에 전원을 공급하기 위한 전원 공급부(119)를 마련하는 것으로, 엘씨디 보드(B)의 저항에 측정전류 및 측정전압을 가하여 테스트를 실행하기 위한 저항측정부(112)와, 엘씨디 보드(B)의 콘덴서에 측전전압을 가하여 테스트를 실행하기 위한 콘덴서 측정부(113)와, 엘씨디 보드(B)의 코일에 측정전압을 가하여 테스트를 실행하기 위한 코일 측정부(114)와, 엘씨디 보드(B)의 다이오드에 측정전류 및 측정전압을 가하여 테스트를 실행하기 위한 다이오드 측정부(115)와, 엘씨디 보드(B)의 제너-다이오드에 측정전류 및 측정전압을 가하여 테스트를 실행하여 주기 위한 제너-다이오드 측정부(116)와, 엘씨디 보드(B)의 로직-TR에 측정전류 및 측전전압을 가하여 테스트를 실행하여 주기 위한 해주기 위한 로직-TR 측정부(117)와, 측정전류와 측정전압을 가하여 단락 및 단선여부를 검사할 수 있도록 한 단락 및 단선 검사부(118)를 구비하도록 하여서 구성한 것임을 특징으로 하는 엘씨디 검사장치.
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