CN219179589U - 一种应用于ic测试机的检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种应用于IC测试机的检测装置，包括：接口单元和电源检测单元。所述接口单元用于获取由IC测试机的稳压电源发送的供电信号，并将所述供电信号发送至所述电源检测单元。所述电源检测单元与所述接口单元电连接，用于根据所述供电信号进行检测，并通过灯光指示所述供电信号的状态。本申请的检测装置通过设置接口单元以及电源检测单元，通过接口单元获取IC测试机的供电，经电源检测单元进行检测，在IC测试机的任意稳压电源出现异常时，电源检测单元通过数据或灯光进行指示，以便于快速排查IC测试机的电源异常情况。

Description

一种应用于IC测试机的检测装置

技术领域

本实用新型涉及半导体设备检测技术领域，尤其涉及一种应用于IC测试机的检测装置。

背景技术

目前的集成电路(integrated circuit，IC)的生产过程中，需要对成品的IC芯片进行测试，以避免不良品流入市场。其中，IC测试机通过DUT板对IC芯片进行测试，IC测试机在使用过程中可能会出现供电异常情况，导致测试结果不准确，造成IC芯片的不良误判。因此，需要不定期对IC测试机进行检测。由于大批量生产过程所需的IC测试机数量较多，对IC测试机的检测难度较大，无法快速排查IC测试机的电源异常情况。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种应用于IC测试机的检测装置，以解决目前无法快速排查IC测试机的电源异常情况的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

一种应用于IC测试机的检测装置，包括：接口单元和电源检测单元；

所述接口单元用于获取由IC测试机的稳压电源发送的供电信号，并将所述供电信号发送至所述电源检测单元；

所述电源检测单元与所述接口单元电连接，用于根据所述供电信号进行检测，并通过灯光指示所述供电信号的状态。

进一步的，检测装置还包括激励源检测单元，所述激励源检测单元与所述接口单元电连接；

所述接口单元还用于获取由IC测试机的测试激励源发送的第一激励信号，并将所述第一激励信号发送至所述激励源检测单元；

所述激励源检测单元用于响应所述第一激励信号输出第一响应信号，并通过所述接口单元将所述第一响应信号发送至IC测试机。

进一步的，检测装置还包括继电器控制位检测单元，所述继电器控制位与所述接口单元电连接；

所述接口单元还用于获取IC测试机在继电器控制位工作时，通过所述测试激励源输出的第二激励信号，并将所述第二激励信号发送至所述继电器控制位检测单元；

所述继电器控制位检测单元用于响应所述第二激励信号输出第二响应信号，并通过所述接口单元将所述第二响应信号发送至IC测试机。

进一步的，检测装置还包括时间测试模块检测单元，所述时间测试模块检测单元与所述接口单元电连接；

所述接口单元还用于获取由IC测试机的方波激励源发送的方波激励信号，并将所述方波激励信号发送至时间测试模块检测单元；

所述时间测试模块检测单元用于响应所述方波激励信号输出第三响应信号，并通过所述接口单元将所述第三响应信号发送至IC测试机的时间测试模块。

进一步的，所述接口单元包括64PIN的第一公头连接器和10PIN的第二公头连接器；

所述第一公头连接器分别与所述电源检测单元、所述激励源检测单元、所述继电器控制位检测单元以及所述时间测试模块检测单元电连接，所述第二公头连接器与所述时间测试模块检测单元电连接。

进一步的，所述激励源检测单元包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻以及第十电阻；

所述第一电阻的一端、所述第二电阻的一端、所述第三电阻的一端、所述第四电阻的一端、所述第五电阻的一端、所述第六电阻的一端、所述第七电阻的一端以及所述第八电阻的一端均与所述第一公头连接器的第二十四引脚连接，所述第九电阻的一端与所述第一公头连接器的第五十四引脚电连接，所述第十电阻的一端与所述第一公头连接器的第六十四引脚连接；

所述第一电阻的另一端与所述第一公头连接器的第八引脚连接，所述第二电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十引脚连接，所述第三电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十二引脚连接，所述第四电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十四引脚连接，所述第五电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十六引脚连接，所述第六电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十八引脚连接，所述第七电阻的另一端与所述第一公头连接器的第二十引脚连接，所述第七电阻的另一端与所述第一公头连接器的第二十二引脚连接，所述第八电阻的另一端与所述第一公头连接器的第二十四引脚连接，所述第九电阻的另一端与所述第一公头连接器的第五十引脚连接，所述第十电阻的另一端与所述第一公头连接器的第五十八引脚连接。

进一步的，所述时间测试模块检测单元包括第十一电阻和第十二电阻；

所述第十一电阻的一端与所述第一公头连接器的第三十八引脚连接，所述第十一电阻的另一端与所述第一公头连接器的第三十六引脚连接；

所述第十二电阻的一端与所述第一公头连接器的第三十九引脚连接，所述第十二电阻的另一端与所述第一公头连接器的第三十三引脚连接。

进一步的，所述电源检测单元包括：第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十六电阻、第一发光二极管、第二发光二极管、第三发光二极管以及第四发光二极管；

所述第十三电阻的一端与所述第一公头连接器的第一引脚连接，所述第十三电阻的另一端与所述第一发光二极管的正极连接，所述第一发光二极管的负极与所述第一公头连接器的第二引脚连接；

所述第十四电阻的一端与所述第一公头连接器的第三引脚连接，所述十四电阻的另一端与所述第二发光二极管的负极连接，所述第二发光二极管的正极与所述第一公头连接器的第二引脚连接；

所述第十五电阻的一端与所述第一公头连接器的第四引脚连接，所述第十五电阻的另一端与所述第三发光二极管的正极连接，所述第十五电阻的负极与所述第二公头连接器的第十引脚连接；

所述第十六电阻的一端与所述第一公头连接器的第五引脚连接，所述第十六电阻的另一端与所述第四发光二极管的正极连接，所述第十六电阻的负极与所述第二公头连接器的第十引脚连接。

进一步的，所述继电器控制位检测单元包括拨码开关，所述拨码开关分别与所述第一公头连接器、所述第二公头连接器连接。

本实用新型的有益效果在于：本申请的检测装置通过设置接口单元以及电源检测单元，通过接口单元获取IC测试机的供电，经电源检测单元进行检测，在IC测试机的任意稳压电源出现异常时，电源检测单元通过灯光进行指示，以便于快速排查IC测试机的电源异常情况。

附图说明

图1为本实用新型实施例的检测装置的电路原理框图；

图2为本实用新型实施例的第一公头连接器、激励检测单元以及时间测试模块检测单元的电路原理图；

图3为本实用新型实施例的电源检测单元的电路原理图；

图4为本实用新型实施例的第二公头连接器的电路原理图；

图5为本实用新型实施例的拨码开关的电路原理图；

图6为本实用新型实施例的检测装置的电路板的结构示意图。

标号说明：

10、检测装置；100、接口单元；200、电源检测单元；300、激励源检测单元；400、时间测试模块检测单元；500、继电器控制位检测单元；20、IC测试机。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

实施例

请参照图1至图6，本实用新型的实施例为：

请参照图1，一种应用于IC测试机20的检测装置10，检测装置10包括电路板，所述电路板设置有接口单元100和电源检测单元200。所述接口单元100用于获取由IC测试机20的稳压电源发送的供电信号，并将所述供电信号发送至所述电源检测单元200。所述电源检测单元200与所述接口单元100电连接，用于根据所述供电信号进行检测，并通过灯光指示所述供电信号的状态。

本实施例的检测装置10的原理为：本实施例通过检测装置10对IC测试机20进行快速检测排查，当检测装置10对IC测试机20检测时，检测装置10通过接口单元100与IC测试机20电连接，获取IC测试机20的若干个稳压电源发送的供电信号，接口单元100将若干个供电信号发送至电源检测单元200，电源检测单元200获取供电信号后检测供电信号的状态，并通过灯光指示对应的稳压电源的状态。

示例性地，本实施例的电源检测单元200为采用若干个发光二极管的检测电路，若干个发光二极管具有不同的工作电压，以对应IC测试机20的若干个不同电压的稳压电源。当任意发光二极管出现无法点亮、闪烁或亮度异常时，则可以判定IC测试机20对应的稳压电源存在异常，该IC测试机20存在故障，需要维修。

可以理解的，本实施例通过设置有电源检测单元200的检测装置10，对IC测试机20的稳压电源进行检测，并通过灯光指示稳压电源的状态，有利于快速排查IC测试机20的供电异常情况，避免故障的IC测试机20在产线上使用。

IC测试机20在测试IC芯片过程中，还需要对IC芯片施加激励，观察其响应是否符合测试要求。当IC测试机20的测试激励源出现异常时，同样会对IC芯片产生不良误判。为了排查IC测试机20的测试激励源故障，可选的，所述检测装置10还包括激励源检测单元300，所述激励源检测单元300与所述接口单元100电连接。所述接口单元100还用于获取由IC测试机20的测试激励源发送的第一激励信号，并将所述第一激励信号发送至所述激励源检测单元300。所述激励源检测单元300用于响应所述第一激励信号输出第一响应信号，并通过所述接口单元100将所述第一响应信号发送至IC测试机20。

可以理解的，测试激励源在测试IC芯片的过程中，向IC芯片发送测试激励信号，IC芯片会响应该测试激励信号发送响应信号至IC测试机20，IC测试机20根据响应信号的电压情况判断IC芯片是否异常。示例性地，检测装置10对IC测试机20进行检测时，通过接口单元100获取IC测试机20的若干个测试激励源发送第一激励信号，第一激励信号经激励源检测单元300生成对应的第一响应信号，第一响应信号再经接口单元100返回至IC测试机20，以使IC测试机20检测该第一响应信号的电压大小。激励源检测单元300经校验且无异常，如果IC测试机20检测到第一响应信号电压大小是异常的，那么可以判定IC测试机20的对应测试激励源存在异常，需要对该IC测试机20进行维修；如果IC测试机20检测到第一响应信号的电压大小是正常的，那么可以判定该IC测试机20对应的测试激励源无异常。

可选的，提供第一预设响应信号，通过IC测试机20将第一响应信号与第一预设阈值进行比较，若不在第一预设阈值范围内，则判定IC测试机20上对应的测试激励源异常，该IC测试机20故障；反之，则判定IC测试机20上对应的测试激励源无异常。示例性地，测试激励源发出1mA的第一激励信号，第一预设阈值设置为2±0.02V。

IC测试机20在测试IC芯片过程中，IC测试机20的控制模块通过驱动继电器控制位来控制若干个继电器闭合，以使测试电路形成回路，并测试回路的电压值。当继电器控制位异常时，会导致测试回路异常，从而导致IC芯片的不良误判。可选的，检测装置10还包括继电器控制位检测单元500，所述继电器控制位与所述接口单元100电连接。所述接口单元100还用于获取IC测试机20在继电器控制位工作时，通过所述测试激励源输出的第二激励信号，并将所述第二激励信号发送至所述继电器控制位检测单元500。所述继电器控制位检测单元500用于响应所述第二激励信号输出第二响应信号，并通过所述接口单元100将所述第二响应信号发送至IC测试机20。

可以理解的，检测装置10对IC测试机20进行检测时，IC测试机20的控制模块下发指令，使继电器控制位工作，以使测试电路形成回路。检测装置10通过接口单元100获取IC测试机20上的测试激励源发送第二激励信号，第二激励信号经过继电器控制位检测单元500后生成第二响应信号，第二响应信号经接口单元100发送至IC测试机20，通过IC测试机20根据第二响应信号判断继电器控制位是否异常。示例性地，第二激励信号、第二响应信号均为电流信号，提供第二预设阈值，并通过IC测试机20将第二预设阈值与第二响应信号进行比较，若第二响应信号不在第二预设阈值内，则判定IC测试机20的继电器控制位异常；反之，则判定IC测试机20的继电器控制位正常。示例性地，第二预设阈值设置为0±0.1V。

可选的，检测装置10还包括时间测试模块检测单元400，所述时间测试模块检测单元400与所述接口单元100电连接。所述接口单元100还用于获取由IC测试机20的方波激励源发送的方波激励信号，并将所述方波激励信号发送至时间测试模块检测单元400。所述时间测试模块检测单元400用于响应所述方波激励信号输出第三响应信号，并通过所述接口单元100将所述第三响应信号发送至IC测试机20的时间测试模块。

可以理解的，IC测试机20的时间测试模块用于测试IC芯片的时钟，IC测试机20在测试IC芯片的过程中，IC测试机20的方波激励源会向IC芯片施加方波激励信号，IC芯片响应方波激励信号向时间测试模块发送第三响应信号，时间测试模块根据第三响应信号判断IC芯片是否异常。示例性地，检测装置10对IC测试机20进行检测时，通过接口单元100接收方波激励信号，方波激励信号经过时间测试模块检测单元400后生成对应的第三响应信号，第三响应信号经接口单元100发送至时间测试模块，以使时间测试模块测量该第三响应信号的频率。

可选的，提供第三阈值，通过IC测试机20将第三阈值和第三响应信号的频率进行比较，当第三响应信号的频率处于第三阈值的范围内时，则判定方波激励源和时间测试模块均正常；反之，则判定方波激励源、时间测试模块中至少一个存在异常。示例性地，方波激励源输出1kHz的方波激励信号，第三阈值设置为1±0.01kHz。

可以理解的，IC测试机的由于连接计算机等处理设备，并配置有控制面板和显示屏幕，通过控制面板设定相应的参数(例如各激励源的电参数以及各个阈值等)，并根据各个响应信号进行运算处理，通过显示屏幕交互提供直观的数据对比，由此根据各个响应信号获得IC测试机上对应的功能模块的状态。

请参照图2至图6，具体的，所述接口单元100包括64PIN的第一公头连接器SITE1_A和10PIN的第二公头连接器SITE1_B。所述第一公头连接器SITE1_A分别与所述电源检测单元200、所述激励源检测单元300、所述继电器控制位检测单元500以及所述时间测试模块检测单元400电连接，所述第二公头连接器SITE1_B与所述时间测试模块检测单元400电连接。

请参照图2，具体的，所述激励源检测单元300包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9以及第十电阻R10。所述第一电阻R1的一端、所述第二电阻R2的一端、所述第三电阻R3的一端、所述第四电阻R4的一端、所述第五电阻R5的一端、所述第六电阻R6的一端、所述第七电阻R7的一端以及所述第八电阻R8的一端均与所述第一公头连接器SITE1_A的第二十四引脚连接，所述第九电阻R9的一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第五十四引脚电连接，所述第十电阻R10的一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第六十四引脚连接。所述第一电阻R1的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第八引脚连接，所述第二电阻R2的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第十引脚连接，所述第三电阻R3的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第十二引脚连接，所述第四电阻R4的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第十四引脚连接，所述第五电阻R5的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第十六引脚连接，所述第六电阻R6的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第十八引脚连接，所述第七电阻R7的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第二十引脚连接，所述第七电阻R7的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第二十二引脚连接，所述第八电阻R8的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第二十四引脚连接，所述第九电阻R9的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第五十引脚连接，所述第十电阻R10的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第五十八引脚连接。

其中，第一电阻R1至第十电阻R10均采用阻值为2k的电阻，第一电阻R1至第八电阻R8用于检测8通道的激励源，第九电阻R9和第十电阻R10用于检测2通道的激励源。

具体的，所述时间测试模块检测单元400包括第十一电阻R11和第十二电阻R12。所述第十一电阻R11的一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第三十八引脚连接，所述第十一电阻R11的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第三十六引脚连接。所述第十二电阻R12的一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第三十九引脚连接，所述第十二电阻R12的另一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第三十三引脚连接。

请参照图2和图3，具体的，所述电源检测单元200包括：第十三电阻R13、第十四电阻R14、第十五电阻R15、第十六电阻R16、第一发光二极管、第二发光二极管、第三发光二极管以及第四发光二极管。所述第十三电阻R13的一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第一引脚连接，所述第十三电阻R13的另一端与所述第一发光二极管的正极连接，所述第一发光二极管的负极与所述第一公头连接器SITE1_A的第二引脚连接。所述第十四电阻R14的一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第三引脚连接，所述十四电阻的另一端与所述第二发光二极管的负极连接，所述第二发光二极管的正极与所述第一公头连接器SITE1_A的第二引脚连接。所述第十五电阻R15的一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第四引脚连接，所述第十五电阻R15的另一端与所述第三发光二极管的正极连接，所述第十五电阻R15的负极与所述第二公头连接器SITE1_B的第十引脚连接。所述第十六电阻R16的一端与所述第一公头连接器SITE1_A的第五引脚连接，所述第十六电阻R16的另一端与所述第四发光二极管的正极连接，所述第十六电阻R16的负极与所述第二公头连接器SITE1_B的第十引脚连接。

可以理解的，IC测试机20的若干个稳压电源输出供电信号，依次经过对应的电阻和发光二极管，以形成回路，通过发光二极管的状态指示对应稳压电源是否异常。其中，第一发光二极管的工作电压为+15V，第二发光二极管的工作电压为-15V，第三发光二极管的工作电压为+5V，第四发光二极管的工作电压为+12V。

请参照图5，具体的，所述继电器控制位检测单元500包括拨码开关DIP1，所述拨码开关DIP1分别与所述第一公头连接器SITE1_A、所述第二公头连接器SITE1_B连接。示例性地，拨码开关DIP1的其中一侧端子SW1的第一引脚至第四引脚用于接入第三激励信号，拨码开关DIP1的另一侧SW2的第二引脚至第四引脚用于输出第三检测信号。可以理解的，本实施例的检测装置10对IC测试机20进行测试时，拨码开关DIP1打到ON档，接入第三激励信号，并输出第三检测信号，通过IC测试机20测试第三检测信号的电压，同时将第三检测信号的电压与第三阈值进行比较，根据比较结果判断继电器控制位是否异常。

综上所述，本实用新型提供的一种应用于IC测试机的检测装置，通过设置电源检测单元、激励源检测单元、时间测试模块检测单元以及继电器控制位检测单元，通过数据或灯光进行指示，便于对IC测试机的多个功能模块进行快速的故障排查，有利于避免故障的IC测试机对IC芯片的测试产生误判和影响IC芯片的正常生产运行。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围。

Claims (9)

1.一种应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，包括：接口单元和电源检测单元；

所述接口单元用于获取由IC测试机的稳压电源发送的供电信号，并将所述供电信号发送至所述电源检测单元；

所述电源检测单元与所述接口单元电连接，用于根据所述供电信号进行检测，并通过灯光指示所述供电信号的状态。

2.根据权利要求1所述的应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，还包括激励源检测单元，所述激励源检测单元与所述接口单元电连接；

所述接口单元还用于获取由IC测试机的测试激励源发送的第一激励信号，并将所述第一激励信号发送至所述激励源检测单元；

所述激励源检测单元用于响应所述第一激励信号输出第一响应信号，并通过所述接口单元将所述第一响应信号发送至IC测试机。

3.根据权利要求2所述的应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，还包括继电器控制位检测单元，所述继电器控制位与所述接口单元电连接；

所述接口单元还用于获取IC测试机在继电器控制位工作时，通过所述测试激励源输出的第二激励信号，并将所述第二激励信号发送至所述继电器控制位检测单元；

所述继电器控制位检测单元用于响应所述第二激励信号输出第二响应信号，并通过所述接口单元将所述第二响应信号发送至IC测试机。

4.根据权利要求3所述的应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，还包括时间测试模块检测单元，所述时间测试模块检测单元与所述接口单元电连接；

所述接口单元还用于获取由IC测试机的方波激励源发送的方波激励信号，并将所述方波激励信号发送至时间测试模块检测单元；

所述时间测试模块检测单元用于响应所述方波激励信号输出第三响应信号，并通过所述接口单元将所述第三响应信号发送至IC测试机的时间测试模块。

5.根据权利要求4所述的应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，所述接口单元包括64PIN的第一公头连接器和10PIN的第二公头连接器；

所述第一公头连接器分别与所述电源检测单元、所述激励源检测单元、所述继电器控制位检测单元以及所述时间测试模块检测单元电连接，所述第二公头连接器与所述时间测试模块检测单元电连接。

6.根据权利要求5所述的应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，所述激励源检测单元包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻以及第十电阻；

所述第一电阻的一端、所述第二电阻的一端、所述第三电阻的一端、所述第四电阻的一端、所述第五电阻的一端、所述第六电阻的一端、所述第七电阻的一端以及所述第八电阻的一端均与所述第一公头连接器的第二十四引脚连接，所述第九电阻的一端与所述第一公头连接器的第五十四引脚电连接，所述第十电阻的一端与所述第一公头连接器的第六十四引脚连接；

所述第一电阻的另一端与所述第一公头连接器的第八引脚连接，所述第二电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十引脚连接，所述第三电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十二引脚连接，所述第四电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十四引脚连接，所述第五电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十六引脚连接，所述第六电阻的另一端与所述第一公头连接器的第十八引脚连接，所述第七电阻的另一端与所述第一公头连接器的第二十引脚连接，所述第七电阻的另一端与所述第一公头连接器的第二十二引脚连接，所述第八电阻的另一端与所述第一公头连接器的第二十四引脚连接，所述第九电阻的另一端与所述第一公头连接器的第五十引脚连接，所述第十电阻的另一端与所述第一公头连接器的第五十八引脚连接。

7.根据权利要求5所述的应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，所述时间测试模块检测单元包括第十一电阻和第十二电阻；

所述第十一电阻的一端与所述第一公头连接器的第三十八引脚连接，所述第十一电阻的另一端与所述第一公头连接器的第三十六引脚连接；

所述第十二电阻的一端与所述第一公头连接器的第三十九引脚连接，所述第十二电阻的另一端与所述第一公头连接器的第三十三引脚连接。

8.根据权利要求5所述的应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，所述电源检测单元包括：第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十六电阻、第一发光二极管、第二发光二极管、第三发光二极管以及第四发光二极管；

所述第十三电阻的一端与所述第一公头连接器的第一引脚连接，所述第十三电阻的另一端与所述第一发光二极管的正极连接，所述第一发光二极管的负极与所述第一公头连接器的第二引脚连接；

所述第十四电阻的一端与所述第一公头连接器的第三引脚连接，所述十四电阻的另一端与所述第二发光二极管的负极连接，所述第二发光二极管的正极与所述第一公头连接器的第二引脚连接；

所述第十五电阻的一端与所述第一公头连接器的第四引脚连接，所述第十五电阻的另一端与所述第三发光二极管的正极连接，所述第十五电阻的负极与所述第二公头连接器的第十引脚连接；

所述第十六电阻的一端与所述第一公头连接器的第五引脚连接，所述第十六电阻的另一端与所述第四发光二极管的正极连接，所述第十六电阻的负极与所述第二公头连接器的第十引脚连接。

9.根据权利要求5所述的应用于IC测试机的检测装置，其特征在于，所述继电器控制位检测单元包括拨码开关，所述拨码开关分别与所述第一公头连接器、所述第二公头连接器连接。

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