KR20030048516A - 온도조절계용 통합 검사지그 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 온도조절계용 통합 검사지그에 관한 것으로서, 그 목적은 여러 종류의 온도조절계 및 다양한 크기의 온도조절계를 검사할 수 있는 온도조절계용 통합 검사지그를 제공함에 있다. 이는 베이스판상에 제품취부부가 형성되고, 상기 제품취부부의 일측에 통신부가 형성되어 온도조절계의 기능검사를 수행하는 온도조절계용 검사지그에 있어서, 상기 검사지그를 적어도 두개이상 조합하되, 제품의 크기에 따라 상기 제품취부부가 상이하고, 제품의 종류를 선택하는 제품선택버튼가 형성되어진 것이다.

Description

온도조절계용 통합 검사지그{A combination test jig for temperature controller}
본 발명은 온도조절계용 통합 검사지그에 관한 것으로서, 온도조절계용 검사지그의 종류별 및 크기별로 검사할 수 있도록 적어도 두개이상의 검사지그를 통합하는 검사지그에 관한 것이다.
일반적으로 온도조절계는 온도를 검출하고자 하는 위치에 설치된 측온체의 전기신호를 받아 목표(설정)온도와 비교하여 전기로 등을 가열 또는 냉각하는 조작기에 조절신호를 보내는 기기이다.
상기와 같은 온도조절계는 조립이 완성된 상태에서 전원의 이상유무를 검사하기 위해 일정시간(약 30분) 동안에 전원을 공급하여 예열해주어 단선, 납땜불량, PCB 숏트 등을 발생시키는 번아웃 상태를 수리하게 된다.
그 다음 온도조절계에 탑재된 여러가지 기능, 예를 들면 입력, 출력 및 기능사양 등을 검사하고, 이상유무를 확인하여 불량을 제거하기위해 온도조절계용 검사지그를 사용하고 있다.
도 1은 종래의 종래에 따른 온도조절계의 검사지그를 나타내고 있다.
도시한 바와 같이 검사지그는 베이스판(1), 상기 베이스판(1)상측에 형성되고, 온도조절계가 삽입되는 제품취부부(2)와, 상기 제품취부부(2)에 설치되고, 상기 온도조절계의 단자와 접촉되는 단자핀(3)과, 상기 단자핀(3)에 전기적으로 연결되고, 컴퓨터와 릴레이 박스를 상기 단자핀(3)에 연결시키는 커넥터(4)와, 상기 제품취부부(2)의 측면에 형성되고, 통신테스트부와 연결되는 통신핀(5a)을 구비한 통신부(5)와, 상기 온도조절계의 종류에 따라 결선을 변경시키는 옵션버튼(6)으로 구성되어 있다.
상기와 같이 구성된 종래의 온도조절계용 검사지그는 제품취부부(2)에 제품을 안착시키고, 단자핀(3)과 통신핀(5)을 이용하여 제품의 기능검사를 하게 된다.
그러나, 상기와 같은 온도조절계의 검사지그는 제품의 크기 및 종류를 한가지에만 사용되는 문제점이 있었다.
즉, 다양한 온도조절계의 크기 및 종류에 적용할 수 없었다.
본 발명은 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 그 목적은 여러 종류의 온도조절계 및 다양한 크기의 온도조절계를 검사할 수 있는 온도조절계용 통합 검사지그를 제공함에 있다.
도 1은 종래에 따른 온도조절계용 검사지그를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명에 따른 온도조절계용 통합검사지그를 나타낸 사시도.
도 3은 본 발명에 따른 온도조절계용 통합검사지그를 나타낸 정면도.
도 4는 본 발명에 따른 온도조절계용 통합검사지그를 나타낸 측면도.
(도면중 주요 부분에 대한 부호의 설명)
100: 통합검사지그
10: 검사지그
20: 제품선택버튼
30: 제품선택커넥트
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 베이스판상에 제품취부부가 형성되고, 상기 제품취부부의 일측에 통신부가 형성되어 온도조절계의 기능검사를 수행하는 온도조절계용 검사지그에 있어서, 상기 검사지그를 적어도 두개이상 조합하되, 제품의 크기에 따라 상기 제품취부부가 상이하고, 제품의 종류를 선택하는 제품선택버튼가 형성되어진 것이다.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 온도조절계용 통합 검사지그를 나타내고 있다.
도시한 바와 같이 통합검사지그(100)는 네개의 검사지그(10)를 결합시켜 놓은 것으로서, 한개의 검사지그는 종래와 그 구성이 동일하다.
즉, 베이스판과, 상기 베이스판의 상측에 형성되고, 온도조절계가 삽입되는 제품취부부와, 상기 제품취부부에 설치되고, 상기 온도조절계의 단자와 접촉되는 단자핀과, 상기 단자핀에 전기적으로 연결되고, 컴퓨터와 릴레이 박스를 상기 단자핀에 연결시키는 커넥터와, 상기 제품취부부의 측면에 형성되고, 통신테스트부와 연결되는 통신핀을 구비한 통신부와, 상기 온도조절계의 종류에 따라 결선을 변경시키는 옵션버튼으로 구성되어 있다.
또한, 제품의 종류(일명 PX 또는 NX)를 선택하는 제품선택버튼(20)이 설치되고, 후방에는 제품선택커넥터(30)가 설치되어 있다.
즉, 제품의 종류에 따라 회로의 결선 등을 변경하여 검사하게 되는 것이다.
본 발명에 따른 작용을 상세히 설명하면 다음과 같다.
생산라인에서 제조된 여러종류 및 크기의 온도조절계 중 검사하고자 하는 하나의 제품을 선택하여 본 발명의 통합검사지그(100) 중에 맞는 위치에 제품을 삽입시키게 된다.
이때 제품의 종류를 제품선택버튼(20)으로 설정하고, 여러가지 옵션을 옵션버튼으로 설정하여 여러가지 기능을 검사하게 된다.
이상 상세히 설명한 바와 같은 본 발명의 온도조절계용 통합검사지그는 종류 및 크기가 다른 온도조절계를 하나의 통합검사지그로 검사할 수 있는 것이다.

Claims (1)

  1. 베이스판(1)상에 제품취부부(2)가 형성되고, 상기 제품취부부(2)의 일측에 통신부(5)가 형성되어 온도조절계의 기능검사를 수행하는 온도조절계용 검사지그(10)에 있어서,
    상기 검사지그(10)를 적어도 두개이상 조합하되, 제품의 크기에 따라 상기 제품취부부(2)가 상이하고, 제품의 종류를 선택하는 제품선택버튼(20)가 형성되어진 것을 특징으로 하는 온도조절계용 통합검사지그.
KR10-2001-0078430A 2001-12-12 2001-12-12 온도조절계용 통합 검사지그 KR100445345B1 (ko)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102001947B1 (ko) * 2018-01-23 2019-07-19 주식회사 알티솔루션 극한 환경조건이 적용가능한 다부품 내구성 테스트 시스템
KR102397987B1 (ko) * 2021-12-21 2022-05-16 글로벤스 주식회사 온도 제어기 통합 출력 지그 어셈블리
CN116594441A (zh) * 2023-05-10 2023-08-15 佛山市通宝华龙控制器有限公司 一种冷调节设备结构及检测方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0769038B2 (ja) * 1989-07-21 1995-07-26 富士電機株式会社 油加温装置
KR19980039119A (ko) * 1996-11-27 1998-08-17 배순훈 자동조정기능을 구비한 회로기능 검사장치 및 그 조정방법
KR100213370B1 (ko) * 1996-12-28 1999-08-02 전주범 자동검사 지그장치를 구비한 회로기능 검사장치
KR200327382Y1 (ko) * 1998-12-26 2003-12-24 주식회사 포스코 제철소에서사용되는복사온도계의자동교정장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102001947B1 (ko) * 2018-01-23 2019-07-19 주식회사 알티솔루션 극한 환경조건이 적용가능한 다부품 내구성 테스트 시스템
KR102397987B1 (ko) * 2021-12-21 2022-05-16 글로벤스 주식회사 온도 제어기 통합 출력 지그 어셈블리
CN116594441A (zh) * 2023-05-10 2023-08-15 佛山市通宝华龙控制器有限公司 一种冷调节设备结构及检测方法
CN116594441B (zh) * 2023-05-10 2024-01-30 佛山市通宝华龙控制器有限公司 一种冷调节设备结构及检测方法

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