KR20030003927A - 입력 버퍼 회로 - Google Patents

입력 버퍼 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR20030003927A
KR20030003927A KR1020010039791A KR20010039791A KR20030003927A KR 20030003927 A KR20030003927 A KR 20030003927A KR 1020010039791 A KR1020010039791 A KR 1020010039791A KR 20010039791 A KR20010039791 A KR 20010039791A KR 20030003927 A KR20030003927 A KR 20030003927A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
input
signal
latch
edge
enable
Prior art date
Application number
KR1020010039791A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100407997B1 (ko
Inventor
서준호
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR10-2001-0039791A priority Critical patent/KR100407997B1/ko
Publication of KR20030003927A publication Critical patent/KR20030003927A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100407997B1 publication Critical patent/KR100407997B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/017509Interface arrangements
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00346Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

본 발명은 디져블 동작시에 이전 입력값을 래치하여 관통 전류(VCC-to-GND) 방지 및 불필요한 입력 신호의 천이를 방지할 수 있도록한 입력 버퍼 회로에 관한 것으로, 입력 데이터와 입력 인에이블/디스에이블 신호를 트리거링하는 슈미트 트리거 NAND 회로부;상기 트리거링된 입력 신호의 노이즈를 제거하기 위해 입력 신호의 상승과 하강 에지후에 일정 시간 지연하는 노이즈 필터;입력 인에이블/디스에이블 신호와 시스템 클럭(clk)을 AND 연산하는 AND 게이트;상기 AND 연산된 신호와 반전된 입력 인에이블/디스에이블 신호를 래치하여 D 래치 인에이블 신호를 출력하는 제 1 래치부;D 래치 인에이블 신호에 의해 반전된 노이즈 필터링 신호를 래치 출력하는 제 2 래치부;상기 제 2 래치부의 출력 신호를 버퍼링 하는 버퍼와 에지 선택 신호(Edge_sel)에 의해 버퍼링된 신호를 상승 에지 또는 하강 에지에서 선별적으로 검출하는 에지 검출부를 포함한다.

Description

입력 버퍼 회로{Input Buffer Circuit}
본 발명은 버퍼 회로에 관한 것으로 특히, 디져블 동작시에 이전 입력값을 래치하여 관통 전류(VCC-to-GND) 방지 및 불필요한 입력 신호의 천이를 방지할 수있도록한 입력 버퍼 회로에 관한 것이다.
마이콤에서 흔히 사용되는 외부 인터럽트(external interrupt)는 일반 입출력 포트중 일부 포트에 부가적인 기능을 하도록 레지스터를 추가하여, 외부 인터럽트의 입력 기능을 인에이블/디스에이블 시킴으로서 구현된다.
이때 일반 입출력 포트의 출력 모드가 오픈 드레인(open drain)일 경우에 그 출력이 "오픈"이 되고, 외부에서 풀업이나 풀다운되지 않으면, 포트가 오픈 상태가 된다.
이것은 입력버퍼의 입력을 플로팅시켜 (VCC to GND) 관통전류가 생기게 된다. 이것이 만약 슬립/스탑(sleep/stop) 모드에서 발생하면, 칩의 슬립/스탑(sleep/stop) 전류 불량을 야기한다.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 종래 기술의 입력 버퍼 회로에 관하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 종래 기술의 입력 버퍼 회로의 하나를 나타낸 회로 구성도이고, 도 2는 도 1의 입력 버퍼 회로의 동작 타이밍도이다.
회로 구성은 입력 데이터를 트리거링하는 슈미트 트리거(11)와, 상기 트리거링된 입력 신호의 노이즈를 제거하는 노이즈 필터(12)와, 상기 노이즈 필터(12)의 필터링된 신호를 반전 출력하는 인버터(13)와, 입력 인에이블/디스에이블 신호("input_en")를 인에이블 신호로 사용하여 반전 출력되는 인버터(13) 출력 신호를 래치 출력하는 래치부(14)와, 래치 출력되는 신호를 버퍼링하여 출력하는 버퍼(15)와, 에지 선택 신호(Edge_sel)에 의해 버퍼링된 신호를 상승 에지 또는 하강에지에서 선별적으로 검출하는 에지 검출부(16)로 구성된다.
여기서, 상기 래치부(14)는 D 래치를 사용한다.
도 3은 종래 기술의 입력 버퍼 회로의 다른 하나를 나타낸 회로 구성도이고,도 4는 도 3의 입력 버퍼 회로의 동작 타이밍도이다.
회로 구성은 입력 데이터와 입력 인에이블/디스에이블 신호("input_en")를 트리거링하는 슈미트 트리거 NAND 회로부(21)와, 상기 트리거링된 입력 신호와 입력 인에이블/디스에이블 신호("input_en")를 NAND 연산하여 출력하는 NAND 게이트(22)와 상기 NAND 연산된 신호의 노이즈를 제거하기 하는 노이즈 필터(23)와, 상기 노이즈 필터(23)의 필터링된 신호를 버퍼링하는 버퍼(24)와, 에지 선택 신호(Edge_sel)에 의해 버퍼링된 신호를 상승 에지 또는 하강 에지에서 선별적으로 검출하는 에지 검출부(25)로 구성된다.
종래 기술의 도 1에서와 같은 입력 버퍼에서 발생하는 플로팅 문제를 해결하려면, 도 2의 입력 버퍼에서와 같이 입력 버퍼에 인에이블 신호를 추가해서 입력으로 사용할 때만 입력 버퍼를 "ON"시키고, 입력 디스에이블시에는 디폴트값으로 잡아주면 된다.
그러나 입력버퍼의 기능이 입력신호의 상승/하강 에지를 검출하기 때문에 도 2에서 이런 입력값과 입력 디스에이블시 디폴트값이 다른 경우에는 입력의 천이로 인해 원하지 않는 에지를 유발한다.
그러나 이와 같은 종래 기술의 입력 버퍼 회로는 다음과 같은 문제가 있다.
입력 디스에이블시 입력 신호가 오픈되어 발생하는 버퍼 입력부의 플로팅에 의한 VCC to GND 관통 전류가 발생하고, 입력 신호의 인에이블 및 디스에이블시 원하지 않는 입력신호의 천이가 발생한다.
이는 입력 신호의 변이를 가져와 회로의 신뢰성을 저하시킨다.
본 발명은 이와 같은 종래 기술의 입력 버퍼 회로의 문제를 해결하기 위한 것으로, 디져블 동작시에 이전 입력값을 래치하여 관통 전류(VCC-to-GND) 방지 및 불필요한 입력 신호의 천이를 방지할 수 있도록한 입력 버퍼 회로를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 종래 기술의 입력 버퍼 회로의 하나를 나타낸 회로 구성도
도 2는 도 1의 입력 버퍼 회로의 동작 타이밍도
도 3은 종래 기술의 입력 버퍼 회로의 다른 하나를 나타낸 회로 구성도
도 4는 도 3의 입력 버퍼 회로의 동작 타이밍도
도 5는 본 발명에 따른 입력 버퍼 회로의 회로 구성도
도 6은 본 발명에 따른 입력 버퍼 회로의 동작 타이밍도
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
31. 슈미트 트리거 NAND 회로부 32. 노이즈 필터
33.34. 제 1,2 인버터 35. AND 회로부
36.37. 제 1,2 래치부 38. 버퍼
39. 에지 검출부
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 입력 버퍼 회로는 입력 데이터와 입력 인에이블/디스에이블 신호를 트리거링하는 슈미트 트리거 NAND 회로부;상기 트리거링된 입력 신호의 노이즈를 제거하기 위해 입력 신호의 상승과 하강 에지후에 일정 시간 지연하는 노이즈 필터;입력 인에이블/디스에이블 신호와 시스템 클럭(clk)을 AND 연산하는 AND 게이트;상기 AND 연산된 신호와 반전된 입력 인에이블/디스에이블 신호를 래치하여 D 래치 인에이블 신호를 출력하는 제 1 래치부;D 래치 인에이블 신호에 의해 반전된 노이즈 필터링 신호를 래치 출력하는 제 2 래치부;상기 제 2 래치부의 출력 신호를 버퍼링 하는 버퍼와 에지 선택 신호(Edge_sel)에 의해 버퍼링된 신호를 상승 에지 또는 하강 에지에서 선별적으로 검출하는 에지 검출부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 따른 입력 버퍼 회로에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 5는 본 발명에 따른 입력 버퍼 회로의 회로 구성도이고, 도 6은 본 발명에 따른 입력 버퍼 회로의 동작 타이밍도이다.
본 발명은 입력 신호의 상승 에지 또는 하강 에지를 감지하는 입력 버퍼 회로에서 입력 신호의 인에이블시에만 입력을 받아들이고, 입력 신호의 디스에이블시에는 이전의 입력값을 래치하도록한 것이다.
이는 입력 디스에이블시 입력 신호가 오픈되어 발생하는 버퍼 입력부의 플로팅에 의한 VCC to GND 관통전류를 방지하고, 입력 신호의 인에이블 및 디스에이블시 원하지 않는 입력신호의 천이를 방지한다.
회로 구성은 입력 데이터와 입력 인에이블/디스에이블 신호("input_en")를 트리거링하는 슈미트 트리거 NAND 회로부(31)와, 상기 트리거링된 입력 신호의 노이즈를 제거하기 위해 입력 신호의 상승(rising)과 하강(falling) 에지후에 일정 시간 딜레이(30ns정도 : 시스템 클럭 반주기의 1/10 정도)하는 노이즈 필터(32)와, 상기 노이즈 필터(32)의 필터링된 신호를 반전 출력하는 제 1 인버터(33)와, 입력 인에이블/디스에이블 신호("input_en")를 반전 출력하는 제 2 인버터(34)와, 입력 인에이블/디스에이블 신호("input_en")와 시스템 클럭(clk)을 AND 연산하는 AND 게이트(35)와, 상기 AND 연산된 신호와 반전된 입력 인에이블/디스에이블 신호("input_en")를 래치하여 D 래치 인에이블 신호를 출력하는 제 1 래치부(36)와, D 래치 인에이블 신호에 의해 반전된 노이즈 필터링 신호를 래치 출력하는 제 2 래치부(37)와, 상기 제 2 래치부(37)의 출력 신호를 버퍼링 하는 버퍼(38)와, 에지 선택 신호(Edge_sel)에 의해 버퍼링된 신호를 상승 에지 또는 하강 에지에서 선별적으로 검출하는 에지 검출부(39)로 구성된다.
여기서, 상기 제 1 래치부(36)는 D 래치를 사용하고, 제 2 래치부(37)는 RS 래치를 사용한다.
이와 같은 본 발명의 입력 신호 처리 과정에 관하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 입력 신호(data)는 입력 인에이블 신호(input_en)가 인에이블시에는 슈미트 트리거 NAND 회로부(31)를 통해 노이즈 필터(32)와 제 1 인버터(33)를 거쳐 제 2 래치부(37)의 입력(D)으로 사용되고, 디스에이블시에는 슈미트 트리거 NAND 회로부(31)의 출력이 디폴트(Default) 값(High)이 되어, 노이즈 필터(32)를 거쳐 제 2 래치부(37)의 입력(D)으로 사용된다.
제 2 래치부(37)의 인에이블 신호(EN)는 제 1 래치부(37)의 출력(QB)이 사용된다.
그리고 입력 인에이블시에는 입력 인에이블 신호(input_en)가 High가 되고 제 1 래치부(36)의 셋 신호(S)는 low가 되고, 리셋 신호(R)는 시스템 클럭 신호(clk)에 동기되어 High가 된다.
이때, 입력 인에이블 신호(input_en)는 시스템 클럭 신호(clk)의 하강 에지(falling edge)에서 활성화되고, 제 1 래치부(36)의 리셋 신호(R)는 시스템 클럭(clk)의 반주기 지난 시점의 상승 에지(rising edge)에서 활성화된다.
그러므로 입력 신호가 노이즈 필터(32)의 지연을 거친후 제 2 래치부(37)에 도달하는 충분한 시간후에 제 2 래치부(37)의 인에이블 신호(EN)를 활성화시키므로써, 입력 인에이블시 디폴트값이 제 2 래치부(37)에 전달되는 것을 방지한다.
그리고 입력 디스에이블시에는 입력 인에이블 신호(input_en)는 Low가 되며, 제 1 래치부(36)의 셋 신호(S)가 활성화된다. 그리고 출력(QB)은 Low가 되어 제 2 래치부(37)의 인에이블 신호(EN)가 Low가 되어 이전에 입력된 값을 유지하게 된다.
그리고 제 2 래치부(37)를 거쳐 버퍼(38)를 거친 입력 신호(Nd_3)는 에지 검출부(39)에 입력되어 에지 선택(edge_sel) 신호에 의해 상승 또는 하강을 선별적으로 검출하여 최종 출력(out_3)으로 내보낸다.
이와 같은 본 발명에 따른 입력 버퍼 회로는 다음과 같은 효과가 있다.
본 발명의 입력 버퍼를 외부 인터럽트를 받아들이는 입력 버퍼로 사용하는 경우에는 입력 디스에이블시 입력이 오픈 되어도 입력 버퍼의 VCC to GND 관통전류가 발생하지 않는다.
또한, 입력 인에이블/디스에이블시 입력 신호의 원하지 않는 에지 발생을 방지할 수 있다.

Claims (4)

  1. 입력 데이터와 입력 인에이블/디스에이블 신호를 트리거링하는 슈미트 트리거 NAND 회로부;
    상기 트리거링된 입력 신호의 노이즈를 제거하기 위해 입력 신호의 상승과 하강 에지후에 일정 시간 지연하는 노이즈 필터;
    입력 인에이블/디스에이블 신호와 시스템 클럭(clk)을 AND 연산하는 AND 게이트;
    상기 AND 연산된 신호와 반전된 입력 인에이블/디스에이블 신호를 래치하여 D 래치 인에이블 신호를 출력하는 제 1 래치부;
    D 래치 인에이블 신호에 의해 반전된 노이즈 필터링 신호를 래치 출력하는 제 2 래치부;
    상기 제 2 래치부의 출력 신호를 버퍼링 하는 버퍼와 에지 선택 신호(Edge_sel)에 의해 버퍼링된 신호를 상승 에지 또는 하강 에지에서 선별적으로 검출하는 에지 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.
  2. 제 1 항에 있어서, 제 1 래치부는 D 래치를 사용하고, 제 2 래치부는 RS 래치를 사용하는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.
  3. 제 1 항에 있어서, 노이즈 필터에서의 지연 시간을 시스템 클럭 반주기의1/10로 하여 출력하는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.
  4. 제 1 항에 있어서, 입력 인에이블 신호(input_en)는 시스템 클럭 신호(clk)의 하강 에지(falling edge)에서 활성화되고, 제 1 래치부의 리셋 신호(R)는 시스템 클럭(clk)의 반주기 지난 시점의 상승 에지(rising edge)에서 활성화되는 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.
KR10-2001-0039791A 2001-07-04 2001-07-04 입력 버퍼 회로 KR100407997B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0039791A KR100407997B1 (ko) 2001-07-04 2001-07-04 입력 버퍼 회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0039791A KR100407997B1 (ko) 2001-07-04 2001-07-04 입력 버퍼 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030003927A true KR20030003927A (ko) 2003-01-14
KR100407997B1 KR100407997B1 (ko) 2003-12-03

Family

ID=27713377

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0039791A KR100407997B1 (ko) 2001-07-04 2001-07-04 입력 버퍼 회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100407997B1 (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100482767B1 (ko) * 2002-07-15 2005-04-14 주식회사 하이닉스반도체 어드레스 버퍼
CN103560504A (zh) * 2013-11-07 2014-02-05 济南诺顿科技有限公司 防止变频电源运行时高低档切换损坏电源的保护电路
CN103560503A (zh) * 2013-11-05 2014-02-05 济南诺顿科技有限公司 防止变频电源运行时频率挡位切换损坏电源的保护电路
CN105897227A (zh) * 2016-04-13 2016-08-24 杨明 触发器及pwm调制电路

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100482767B1 (ko) * 2002-07-15 2005-04-14 주식회사 하이닉스반도체 어드레스 버퍼
CN103560503A (zh) * 2013-11-05 2014-02-05 济南诺顿科技有限公司 防止变频电源运行时频率挡位切换损坏电源的保护电路
CN103560504A (zh) * 2013-11-07 2014-02-05 济南诺顿科技有限公司 防止变频电源运行时高低档切换损坏电源的保护电路
CN105897227A (zh) * 2016-04-13 2016-08-24 杨明 触发器及pwm调制电路

Also Published As

Publication number Publication date
KR100407997B1 (ko) 2003-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5898330A (en) Edge-triggered staticized dynamic flip-flop with scan circuitry
US6023179A (en) Method of implementing a scan flip-flop using an edge-triggered staticized dynamic flip-flop
US5387825A (en) Glitch-eliminator circuit
US9319038B2 (en) Glitch free input transition detector
KR100407997B1 (ko) 입력 버퍼 회로
US7293209B2 (en) Split L2 latch with glitch free programmable delay
CA1143479A (en) Noise eliminator circuit
KR100486261B1 (ko) 스큐가 없는 듀얼 레일 버스 드라이버
US6064237A (en) Device for removing noise
US6463548B1 (en) Method and apparatus to enforce clocked circuit functionality at reduced frequency without limiting peak performance
US6552570B2 (en) Input circuit with non-delayed time blanking
KR100305718B1 (ko) 입/출력버퍼의글리치제거회로
JP2004208108A (ja) 集積回路
US11177799B2 (en) Debounce circuit with noise immunity and glitch event tracking
KR100437622B1 (ko) 입력회로
JP3245573B2 (ja) 双方向バッファ回路
JP2001356917A (ja) パルス判定装置
KR100367739B1 (ko) 노이즈 제거기
KR930005834Y1 (ko) 과전류 보호회로
KR100313937B1 (ko) 이피롬모드보호회로
JPH063423A (ja) 半導体回路
KR100760948B1 (ko) 입력 변화 감지 회로
JPH04337882A (ja) 出力ポート
KR960018904A (ko) 라이트 인에이블신호 버퍼회로
JP2000101405A (ja) 信号変化検出回路

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121022

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131017

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141020

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151019

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161020

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171020

Year of fee payment: 15

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181016

Year of fee payment: 16

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191016

Year of fee payment: 17