KR20020073957A - 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (4)
- 반도체 장비 또는 전자기기에 설치되기 전의 완성된 전자부품을 검사하기 위한 장치에 있어서;상기의 완성된 전자부품(1)을 검사하기 위해 많은 량을 담아 놓은 호퍼(10)를 통해 공급되는 상기 전자부품(1)을 진동작용에 의해 이동시키는 피이더 수단 (20);상기 피이더 수단(20)을 통해 공급되는 전자부품을 순차적으로 공급하기 위해 소정의 길이를 갖는 라이너 피이더 수단(30);상기 라이너 피이더 수단(30)에 의해 공급되는 전자부품에 대해서 검사가 용이하도록 유리판으로 이루어진 회전수단(40);상기 회전수단(40)에 의해 회전되는 전자부품에 대해 정확한 검사를 실시하도록 상기 전자부품을 일렬로 배열하기 위한 정렬수단(50);상기 정렬수단(50)을 통해 정렬된 전자부품의 각 면의 형상을 촬영하기 위한 카메라 수단(60);상기 카메라 수단(60)에 의해 촬영된 전자부품에 대해서 위치정보를 파악하기 위한 엔코더(70);상기 카메라 수단(60)에 의해 촬영된 영상신호와 상기 전자부품의 숫자를 확인하기 위해 감지하는 카운터센서(71)와 상기 엔코더(70) 등의 신호를 입력하여 처리 및 제어하기 위한 마이컴(80);상기 마이컴 (80)의 신호에 의해 제어신호를 출력하고 상기 전자부품의 양품 및 불량품의 갯수의 확인이 가능하도록 소정의 위치에 터치판넬로 이루어진 제어수단(90); 및상기 제어수단(90)의 신호에 의해 상기 전자부품의 양품 및 불량품을 구분하여 배출하기 위해 공기압을 분사시키는 2개의 노즐(91)(92);로 구성하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치.
- 제1항에 있어서,상기 정렬수단(50)은 상기 회전수단(40)에 의해 회전되는 전자부품에 대해 정확한 위치로 정렬시키기 위해서 같은 직경을 갖고 동일 속도로 회전하는 정렬기 (51)(53)와, 상기 정렬기(51)(53)보다 직경이 작고 속도가 빠른 정렬기(52)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치.
- 제1항에 있어서,상기 카메라 수단(60)은 상기 전자부품(1)에 대하여 4개의 면(전, 후, 상, 하)을 촬영하기 위해 상기 회전수단(40)의 회전방향으로 소정의 이격된 부분에 각각 설치되되,상기 전자부품(1)의 후면을 촬영하기 위한 리어 카메라(61)가 형성되고, 상기 전자부품(1)의 하면을 촬영하기 위한 바텀 카메라(62)가 형성되며, 상기 전자부품(1)의 상면을 촬영하기 위한 탑 카메라(63)가 형성되고, 상기 전자부품(1)의 전면을 촬영하기 위한 프론트 카메라(64)가 형성되며,상기 카메라(61)(62)(63)(64)에는 상기 전자부품(1)의 정확한 촬영을 위해 조명기능을 갖는 할로겐 전등을 각각 형성시키고, 상기 카메라(61)(62)(64)의 대항되는 부분에는 상기 전자부품(1)의 면을 용이하게 촬영하기 위해 반사 거울을 각각 형성시켜 이루어지는 것을 특징으로 하는 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치.
- 제1항에 있어서,상기 엔코더(70)는 상기 회전수단(40)의 중앙부에 형성되고, 상기 카운터센서(71)는 상기 노즐(91)의 전단에 형성되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0013928A KR100402253B1 (ko) | 2001-03-17 | 2001-03-17 | 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0013928A KR100402253B1 (ko) | 2001-03-17 | 2001-03-17 | 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020073957A true KR20020073957A (ko) | 2002-09-28 |
KR100402253B1 KR100402253B1 (ko) | 2003-10-17 |
Family
ID=27697791
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0013928A KR100402253B1 (ko) | 2001-03-17 | 2001-03-17 | 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100402253B1 (ko) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100449240B1 (ko) * | 2001-09-12 | 2004-09-18 | 주식회사 디쌤 | 병마개용 품질 검사 장치 및 방법 |
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KR101435971B1 (ko) * | 2012-05-22 | 2014-09-02 | 주식회사 고영테크놀러지 | 부품 라이브러리 획득 시스템 및 부품 라이브러리 생성방법 |
CN109675832A (zh) * | 2019-01-21 | 2019-04-26 | 深圳精创视觉科技有限公司 | 一种钕铁硼磁铁尺寸及外观缺陷检测装置 |
CN110954550A (zh) * | 2018-09-27 | 2020-04-03 | 台达电子工业股份有限公司 | 电子元件稳定装置及其适用的外观检测设备 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101347811B1 (ko) * | 2013-08-26 | 2014-01-06 | 주식회사유니온텍 | 휴대폰 부품 형상 검사 및 마킹 장치 |
KR101923719B1 (ko) | 2017-03-02 | 2018-11-29 | 주식회사 태루 | 바이오 메디컬용 채혈관의 외관 검사장치 |
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- 2001-03-17 KR KR10-2001-0013928A patent/KR100402253B1/ko not_active IP Right Cessation
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CN109675832A (zh) * | 2019-01-21 | 2019-04-26 | 深圳精创视觉科技有限公司 | 一种钕铁硼磁铁尺寸及外观缺陷检测装置 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR100402253B1 (ko) | 2003-10-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
J204 | Request for invalidation trial [patent] | ||
J121 | Written withdrawal of request for trial | ||
J204 | Request for invalidation trial [patent] | ||
J301 | Trial decision |
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J2X1 | Appeal (before the patent court) |
Free format text: INVALIDATION |
|
J206 | Request for trial to confirm the scope of a patent right | ||
J2X2 | Appeal (before the supreme court) |
Free format text: APPEAL BEFORE THE SUPREME COURT FOR INVALIDATION |
|
J302 | Written judgement (patent court) |
Free format text: JUDGMENT (PATENT COURT) FOR INVALIDATION REQUESTED 20051221 Effective date: 20070505 |
|
J303 | Written judgement (supreme court) |
Free format text: JUDGMENT (SUPREME COURT) FOR INVALIDATION REQUESTED 20070427 Effective date: 20070823 |
|
J301 | Trial decision |
Free format text: TRIAL DECISION FOR INVALIDATION REQUESTED 20070828 Effective date: 20070927 |
|
EXTG | Extinguishment | ||
J301 | Trial decision |
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