KR100399534B1 - 엘시디 패널 점등 테스트 시스템 - Google Patents

엘시디 패널 점등 테스트 시스템 Download PDF

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KR100399534B1
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Abstract

본 발명은 엘시디 점등 테스트 시스템에 관한 것으로, 본 발명에 따른 엘시디 패널 검사 시스템은 테스트 작동상태를 제어하는 메인 컨트롤러; 메인 컨트롤러의 제어로 선행 제조공정을 거친 엘시디 패널을 공급하는 공급부; 공급부로부터 전달된 엘시디 패널을 회전 동작하여 일측 또는 타측으로 이송시키는 로봇; 로봇의 측부에 위치하여 로봇으로부터 공급된 엘시디 패널을 전달받아 엘시디 패널에 대한 테스트를 수행하되, 하나의 엘시디 패널에 대해서는 테스트를 수행하고, 동시에 다른 하나의 엘시디 패널을 테스트 대기 상태로 유지시켜 두 개의 엘시디 패널이 테스트 및 테스트 대기 상태에 있도록 하는 테스트장치를 구비한 것으로, 상기 테스트장치는 상기 로봇으로부터 전달된 상기 엘시디 패널 중의 하나를 이송 및 이송대기 하는 제 1이송대기부와; 상기 제 1이송대기수단에서 이송 및 대기중인 엘시디 패널과 다른 엘시디 패널을 이송 대기시켜 상기 제 1이송대기수단의 동작경로와 반대방향으로 작동하여 상기 다른 엘시디 패널을 이송 및 이송대기 시키는 제 2이송대기부를 구비한다. 이러한 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 시스템의 배치와 구성상태를 개선함과 동시에 점등 테스트 장치의 구성을 개선함으로써 엘시디 패널의 점등 테스트를 위한 공정 시간을 감소시켜 공정 효율을 보다 향상시킬 수 있도록 하고, 또한 설비의 배치상태에 따른 점유공간 및 시스템 구현 경비를 줄일 수 있도록 하는 효과가 있다.

Description

엘시디 패널 점등 테스트 시스템{LCD panel lighting test system}
본 발명은 엘시디 패널 점등 테스트장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 제조 공정을 거친 엘시디 패널의 점등 상태를 목시 테스트하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템 및 그 장치에 관한 것이다.
일반적으로 엘시디(LCD) 패널은 여러 단계의 제조 공정을 거쳐 제조되어지는바, 이때 각 제조 공정, 예컨대, 납땜 등의 조립공정, 불량 요인의 수리공정 등의 공정이 진행될 때 엘시디 패널에는 그 점등 상태를 테스트하는 소정의 점등 상태 테스트 공정을 진행하여 제조된 엘시디 패널이 항상 일정 수준 이상의 점등 상태를 유지하여 제품으로 출하되도록 하고 있다.
여기서의 엘시디 패널 점등 테스트는 엘시디 패널 테스트 시스템의 테스트부에서 엘시디 패널 전체에 대한 점등 신호를 인가한 후 엘시디 패널에 디스플레이되는 화면 상태를 육안관측을 통해 목시 테스트하도록 되어 있다.
그리고 엘시디 패널의 광원 점등상태가 적절히 검측되며, 이러한 검측결과에 따라 불량으로 판정이 된 엘시디 패널은 분리 반송되어 적절한 추후공정을 거친 후 그 기능이 복구되도록 하고, 정상 상태의 엘시디 패널은 제품으로 출하되도록 한다.
이러한 종래의 엘시디 패널의 테스트를 위한 시스템은 컨베이어에 의하여 엘시디 패널을 공급하는 공급부와 이 공급부에 대하여 수평상태로 배치된 로봇을 구비하고, 다시 로봇에 대하여 수평상태로 위치한 다수의 엘시디 패널 테스트장치를구비한 구성이다.
이러한 종래 엘시디 패널 테스트 시스템에서 엘시디 패널을 테스트할 때 로봇이 하나의 엘시디 패널을 이송 전달하면 엘시디 패널 테스트장치에서 이에 대한 테스트를 수행한 후 다시 로봇이 다른 엘시디 패널을 엘시디 패널 테스트장치로 전달하여 계속적인 엘시디 패널 테스트가 이루어지도록 하고 있다.
그런데, 종래의 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 두 대의 엘시디 패널 테스트 장치가 로봇에 대하여 수평 상태로 위치하고 있기 때문에 로봇은 한번에 하나씩의 엘시디 패널을 일측의 테스트장치에 한번 전달한 다음 타측의 테스트장치로 이동하여 타측의 테스트장치로 엘시디 패널을 번갈아 가면서 공급하도록 되어 있다.
따라서 이러한 엘시디 패널 이송작업으로 로봇은 회전운동뿐만 아니라 각각의 테스트 장비를 향한 직선운동을 함께 수행하여야 하기 때문에 이때의 이동으로 인한 이동시간이 소요되어 그만큼 공정시간이 길어지게 되고, 또한, 로봇의 이동을 위한 설비가 부가적으로 필요하기 때문에 시스템의 구현을 위한 별도의 설비 비용이 소요되게 된다.
그리고 각각의 패널 테스트 장치는 한번에 하나씩의 엘시디 패널을 전달받아 테스트한 후 반송하도록 되어 있다. 즉 로봇으로부터 하나씩의 엘시디 패널을 전달받은 후 이 패널에 대한 테스트가 완료되면 다시 테스트장치로 다른 엘시디 패널을 전달받아 엘시디 패널에 대한 테스트가 이루어지도록 한다는 것이다.
따라서 종래의 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 마련된 테스트장치에서는한번에 하나씩의 엘시디 패널만을 전달받아 테스트 한 후 반송하고, 다시 로봇으로부터 다른 엘시디 패널을 전달받아야 하기 때문에 테스트장치에는 항상 하나의 엘시디 패널의 이동과 테스트만이 이루어지므로 테스트장치에서의 엘시디 패널 테스트시간이 많이 소요되게 되어 시스템의 운용 효율이 떨어지는 문제점도 있다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 엘시디 패널의 점등 상태 테스트를 위하여 이송되는 엘시디 패널의 이송 경로와 이를 위한 공정 시스템의 구성을 개선하여 엘시디 패널 테스트 시스템의 설비 비용을 줄일 수 있도록 하고, 또한 테스트시간을 단축시킬 수 있도록 한 엘시디 패널 점등 테스트 시스템을 제공하기 위한 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템의 구성을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 구현된 하나의 점등 테스트장치에 구현된 장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템의 작동 플로우를 도시한 순서도이다.
도 4는 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 마련된 테스트장치의 측면도이다.
도 5는 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 마련된 테스트장치의 배치상태를 도시한 정면도이다.
**도면의 주요부분에 대한 부호의 설명**
10...메인 컨트롤러
20...로봇
100...제 1테스트 장치
200...제 2테스트장치
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 테스트 작동상태를 제어하는 메인 컨트롤러; 상기 메인 컨트롤러의 제어로 선행 제조공정을 거친 상기 엘시디 패널을 공급하는 공급부; 상기 공급부로부터 전달된 엘시디 패널을 회전 동작하여 일측 또는 타측으로 이송시키는 로봇; 상기 로봇의 측부에 위치하여 상기 로봇으로부터 공급된 상기 엘시디 패널을 전달받아 상기 엘시디 패널에 대한 테스트를 수행하되, 하나의 엘시디 패널에 대해서는 테스트를 수행하고, 동시에 다른 하나의 엘시디 패널을 테스트 대기 상태로 유지시켜 두 개의 엘시디 패널이 테스트 및 테스트 대기 상태에 있도록 하는 테스트장치를 구비한다.
그리고 본 발명에 따른 상기 테스트장치는 상기 로봇으로부터 전달된 상기 엘시디 패널 중의 하나를 이송 및 이송대기 하는 제 1이송대기부; 상기 제 1이송대기수단에서 이송 및 대기중인 엘시디 패널과 다른 엘시디 패널을 이송 대기시켜 상기 제 1이송대기수단의 동작경로와 반대방향으로 작동하여 상기 다른 엘시디 패널을 이송 및 이송대기 시키는 제 2이송대기부를 구비한다.
또한 본 발명에 따른 상기 로봇과 상기 제 1 및 제 2이송대기부 사이에는 상기 로봇으로부터 전달된 엘시디 패널을 상기 제 1 및 제 2이송대기부로 선택적으로 전달하는 전달부가 마련된다.
그리고 바람직하게 상기 제 1 및 제 2이송대기부로부터 전달된 상기 엘시디 패널들의 얼라인먼트 기준 위치를 촬상하는 촬상부를 구비하고, 상기 촬상부에 의하여 촬상된 상기 엘시디 패널의 얼라인먼트마크의 촬상 상태에 따라 상기 제 1 및 제 2이송대기부로부터 전달된 엘시디 패널이 상기 테스트부에 접촉되도록 위치를 조절하는 위치조절부를 구비한다.
또한, 상기 위치조절부는 상기 엘시디 패널의 점등 위치를 X축에 대하여 조절하는 X축 조절부와, 상기 엘시디 패널의 점등 위치를 Y축에 대하여 조절하는 Y축 조절부와, Y축 그리고 Z축 및 회전 위치를 조절하는 위치조절부를 포함한다.
그리고 상기 로봇의 타측에는 상기 로봇으로부터 전달된 상기 엘시디 패널을 전달받아 상기 엘시디 패널에 대한 테스트를 수행하는 또 다른 테스트 장치가 설치된 것을 특징으로 한다.
이하에서는 전술한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 엘시디 패널 테스트 시스템에 대한 하나의 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트시스템은 설비에 하나의 엘시디 패널 테스트장치를 설치하여 운용할 수 있고, 또는 두 개 내지는 그 이상의 설비를 설치하여 운용할 수 있다.
그러나 가장 기본적으로 하나의 테스트장치와 하나의 로봇으로 운용되지만 가장 큰 운용 효율을 발휘하는 상태는 하나의 로봇에 두 개의 테스트장치로 배치되어 운용되는 것이 최적의 운용상태일 것이다.
따라서, 후술한 실시예는 두 개의 테스트장치가 배치된 상태의 시스템 구성과 그 운용상태를 바람직한 실시예로 제시한다.
본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 도 1에 도시된 바와 같이 시스템의 운용과 작동상태 및 테스트 된 결과에 따른 공정 진행 상태를 전체적으로 제어하도록 전체 시스템 구성들과 통신선로에 의하여 접속된 메인 컨트롤러(10)를 구비한다.
그리고 컨베이어 라인 등으로 된 엘시디 패널 공급부(30)가 마련되고, 이 공급부(30)로부터 공급된 엘시디 패널을 메인 컨트롤러(10)에 의한 제어로 일측과 타측으로 회전 동작하여 이송시키는 로봇(20)을 구비한다.
그리고 로봇(20)의 구동방향 일측으로는 제 1테스트 장치(100)가 마련되고, 로봇(20)의 구동방향 타측으로는 제 2테스트 장치(200)가 마련되며, 각각의 테스트 장치(100)(200) 외측으로는 테스트된 엘시디 패널을 반송 처리하는 반송부(40)가 구현된다.
따라서 점등 테스트를 위한 엘시디 패널은 로봇(20)의 일측과 타측으로 공급부(30)로부터 제 1테스트 장치(100)와 제 2테스트 장치(200)에 선택적으로 공급되도록 되어 있다.
그리고 로봇(20)에 의하여 각 제1,2테스트 장치(100)(200)로 공급되는 작업 방향은 공급부(30)에 대하여 수직방향으로 엘시디 패널을 공급하도록 되어 있기 때문에 로봇(20)의 기본적인 회전 방향 전환 외에 로봇(20)은 직선 운동에 따른 위치 이동은 수행하지 않는다. 즉 로봇(20)의 작업 위치는 고정된 상태에서 회전동작만을 수행한다는 것이다.
여기서 각각의 제1,2테스트 장치(100)(200)는 서로 동일하게 구현된 것으로, 그 구성은 도 2와 도 4 그리고 도 5에 도시된 바와 같이 메인 컨트롤러(10)에 의하여 제어되며, 각 테스트 장치(100)(200)의 작동상태를 제어하는 테스트 컨트롤러(110)를 구비한다.
그리고 테스트 컨트롤러(110)에 의하여 제어되며 엘시디 패널에 대한 점등 상태 테스트를 실시하는 점등 테스트부(120)를 구비한다. 이 점등 테스트부(120)는 엘시디 패널의 X와 Y면으로 접촉하고, 엘시디 패널을 진공으로 흡착하도록 되어 있으며, 신호가 인가되는 접촉바늘에 엘시디 패널의 전극단자가 접촉되도록 된 워크 테이블을 구비하고 있다.
한편, 점등 테스트부(120)로의 엘시디 패널의 이송은 로봇(20)으로부터 제공된 엘시디 패널을 최초 상향 경사지게 이송시켜 점등 테스트부(120)의 상측으로 위치시키도록 하는 전달부(130)에 의하여 소정 거리의 이송이 이루어진다.
이 전달부(130)는 로봇(20)으로부터 엘시디 패널을 전달받아 상향 경사지게 이송한 후 다시 엘시디 패널을 대략 60도의 각도로 회전 위치시킨다. 이러한 회전 각도는 점등 테스트부(120)에서 엘시디 패널이 점등된 상태에 따른 목시테스트를 위해 작업자의 시야 각도에 맞도록 하기 위한 것이다.
그리고 전달부(130)에서 전달된 엘시디 패널을 이송 및 대기시키는 제 1이송대기부(140)와 제 2이송대기부(150)가 마련되어 점등 테스트부(120)를 향한 나머지 소정거리의 이송이 이루어진다.
이 각각의 제1,2이송대기부(140)(150)는 서로 겹쳐져 있는 상태에 있는데, 먼저 제 1이송대기부(140)에 의하여 하나의 엘시디 패널이 점등 테스트부(120)로 이송되면, 두 번째 제 2이송대기부(150)는 다른 하나의 엘시디 패널을 이송 대기상태에 있도록 한다.
그리고 제 1이송대기부(140)에서 엘시디 패널의 점등 테스트가 완료되면 이와 동시에 제 2이송대기부(150)는 즉시 점등 테스트부(120)로 엘시디 패널을 이송하여 엘시디 패널에 대한 계속적인 테스트를 수행하도록 하고, 최초 테스트된 엘시디 패널은 즉각적으로 반송 처리되도록 한다.
이러한 제 1이송대기부(140)와 제 2이송대기부(150)의 작동은 서로 반대방향으로 동시에 이루어지도록 되어 있다.
다음으로 점등 테스트부(120)로 엘시디 패널이 이송되면 엘시디 패널의 접촉패드와 점등 테스트부(120)의 접촉바늘이 서로 접촉하도록 그 위치를 조절하는 위치조절부가 마련되고, 이때의 위치조절을 위한 얼라인먼트 측정을 위하여 한 개 내지는 두 개의 CCD로 된 촬상부(160)가 마련된다.
이 촬상부(160)는 엘시디 패널의 끝단 모서리 부분에 "+" 모양으로 된 얼라인먼트 표시를 촬상하여 그 위치의 조절이 이루어지도록 하는 것으로, 본 발명에 적용된 촬상부(160)는 미세하게 CCD의 자체 위치 조절이 이루어지도록 다축 조절부분을 구비하고 있으며, CCD의 초점 거리는 대략 75mm 정도로 구현되고, 그 촬상 배율은 대략 240배율 정도로 구현되어 있다.
한편, 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 마련된 테스트장치는 점등 상태의 목시 테스트뿐만 아니라 정밀한 점등 상태 확인을 위하여 별도의 현미경 장치(180)를 설치하여 운용하고 있다.
이때 적용되는 현미경 장치(180)는 엘시디 패널 전면에 대한 점등 상태 확인을 위하여 X축과 Y축에 대한 방향으로 조절 작동이 가능하도록 되어 있다.
계속해서 각각의 이송대기부(140)(150)로부터 이송된 엘시디 패널이 점등 테스트부(120)로 이송되면 이송된 점등 테스트부(120)에서의 접촉니들과 엘시디 패널의 접촉패드부분이 접촉할 수 있도록 전술한 촬상부(160)에서 위치를 측정하게 되면 각 위치조절부(170)(171)(172)(173)에서 측정된 위치로 엘시디 패널의 접촉 위치를 얼라인먼트 하게 된다.
이때의 얼라인먼트 동작은 X축에 대한 엘시디 패널의 접촉위치를 조절하는 X축 위치조절부(170)와 Y축에 대한 위치조절을 수행하는 Y축 위치조절부(171)를 구비하고, 또한, Z축에 대한 위치조절을 수행하는 Z축 위치조절부(172)와 마지막으로 회전 위치에 대한 위치조절을 수행하는 회전위치 조절부(173)를 구비하고 있다.
여기서 각각의 위치조절부의 작동은 미세한 위치조절 운용이 가능하도록 고정밀도를 가진 볼스크류 작동구성으로 되어 있다. 그리고 측정된 위치에 대한 반복 접촉시의 얼라이먼트 변위 폭은 대략 0.002mm를 유지하도록 되어 있고, 엘시디 패널의 후광원(190)이 그 전방으로 설치되어 있다.
이하에서는 전술한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 엘시디 패널 테스트시스템의 작용상태에 대하여 도 3을 참조하여 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 엘시디 점등 테스트 시스템은 선행 제조 공정을 통하여 제작된 엘시디 패널이 최종에 그 점등 상태 테스트를 위하여 컨베이어 등으로 된 공급부(30)로부터 공급되면(S10), 로봇(20)은 공급된 엘시디 패널을 좌측 또는 우측에 마련된 제1,2테스트 장치(100)(200)로 이송하게 된다(S20).
그리고 일측의 제 1테스트 장치(100)로 로봇(20)을 통하여 이송된 엘시디 패널은 그 테스트 장치(100)의 전달부(130)로 운반되게 된 후 계속해서 다음 엘시디 패널은 다시 로봇(20)을 통하여 제 2테스트 장치(200)로 이송된다.
이와 같이 로봇(20)을 통하여 각각의 테스트 장치(100)(200)로 이송된 엘시디 패널은 전달부(130)에서 전달받게 된다. 그리고 전달부(130)는 이 엘시디 패널을 상향 경사지게 이송시킨 후 대략 60도의 각도로 전방 회동시킨다(S30).
그리고 엘시디 패널의 전방 회동이 완료되면 제 1이송대기부(140)에 엘시디 패널의 존재 유무를 판단하게 되고(S40), 제 1이송대기부(140)에 엘시디 패널이 없으면 제 1이송대기부(140)가 작동하여 전달부(130)로부터 엘시디 패널을 전달받게 되며(S42), 제 1이송대기부(140)에 엘시디 패널이 있으면 제 2이송대기부(150)에서엘시디 패널을 전달받게 된다(S42).
즉, 공정 운용중 제1,2테스트 장치(100)(200)에는 두 개의 엘시디 패널이 운용중에 있게 되는데, 이때의 작동은 제 1이송대기부(140)에 엘시디 패널이 전달된 후 점등 테스트부(120)로 엘시디 패널이 전달되면, 계속해서 로봇(20)을 통하여 또 다른 엘시디 패널이 전달부(130)로 전달되게 되고, 이 전달부(130)는 제 2이송대기부(150)에 다른 엘시디 패널을 전달하게 된다.
그리고 제 1이송대기부(140)로부터 점등 테스트부(120)에 엘시디 패널이 이송되면(S60) 촬상부(160)에서는 이송된 엘시디 패널의 얼라인먼트 위치를 촬상하게 되고, 이 촬상된 위치에 따라 테스트 위치에 맞도록 X축 위치조절부(170)와 Y축 위치조절부(171) 그리고 Z축 위치조절부(172) 및 회전 위치조절부(173)가 각각 작동하여 엘시디 패널의 정확한 테스트 위치를 맞추게 된다(S70).
그리고 후광원(190)이 발광하여 조명을 하게 됨과 동시에 점등 테스트부(120)의 접촉니들과 엘시디 패널의 접촉패드가 접촉한 후 점등 신호를 인가하게 되면 엘시디 패널 전체에 대한 점등이 이루어진다.(S80)
이러한 점등 상태에서 작업자는 엘시디 패널의 점등 상태를 목시 테스트함과 동시에 현미경(180)을 통하여 정밀 테스트를 수행하게 된다. 그리고 테스트된 엘시디 패널이 정상상태면 작업자는 테스트 컨트롤러(110)를 통하여 정상상태라고 판별 입력하고, 불량상태라고 판별되면 테스트 컨트롤러(110)에 불량상태로 판별 입력한다.
그리고 이 테스트 컨트롤러(110)의 정상 및 불량 판별상태는 즉시 통신선로를 통하여 메인 컨트롤러(10)로 송신하게 되고, 이 메인 컨트롤러(10)에서는 이후 테스트된 엘시디 패널의 다음 작업 상태에 대한 공정을 시스템에 인식 및 인가하게 된다.
한편 제 1이송대기부(140)로부터 이송된 엘시디 패널의 테스트가 종료되었는가의 여부를 판별하게 되고(S50), 판별결과 제 1이송대기부(140)에 있는 엘시디 패널의 테스트가 종료되면, 다시 제 1이송대기부(140)로부터 전달부(130) 측으로 테스트된 엘시디 패널은 이송되게 되고, 동시에 대기중이던 제 2이송대기부(150)가 점등 테스트부(120)로 엘시디 패널을 이송시키게 되며 이송된 다른 엘시디 패널은 점등 테스트부(120)에서 그 점등 상태의 테스트가 이루어지게 된다.(S60)
그리고 제 1이송대기부(140)로부터 테스트된 엘시디 패널을 전달받은 전달부(130)는 다시 경사지게 하강하여 반송부(140) 측으로 엘시디 패널을 반송한(S90) 다음 로봇(20)으로부터 새로운 엘시디 패널을 전달받고, 다시 경사지게 상승한 후 제 1이송대기부(140)로 새로운 엘시디 패널을 전달하게 된다.
전술한 바와 같은 제1,2이송대기부(140)(150)들에서의 엘시디 패널의 이송에 소요되는 시간, 즉 하나의 엘시디 패널을 측정한 후 다음 엘시디 패널이 접촉되기까지 걸리는 공정 시간이 장치의 정밀도와 운용상태에 따라 달라질 수 있으나 대략 9초 내외의 시간 안에 이루어질 수 있다. 이러한 공정 시간은 종래의 테스트 장치에서 소용되는 시간의 거의 절반 내지는 2/3 수준으로 그만큼 공정시간을 단축시킬 수 있게 된다.
이상과 같은 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템 및 장치는 엘시디 패널의 전달 및 이송을 위한 설비의 배치와 구성을 개선한 것으로, 하나의 로봇이 정지상태에서 회전 동작만으로 두 대의 테스트 장치로 엘시디 패널의 이송이 가능하도록 한다.
또한, 각각의 테스트 장치에서는 엘시디 패널의 상하 이송과 두 개의 엘시디 패널에 대한 거의 동시적인 테스트 운용으로 테스트 전후의 장치 운용시간을 줄일 수 있도록 하고 있다.
따라서 이러한 본 발명의 구성 외에 이들의 세부적인 일부분을 변형하여 다른 실시예로 적용할 수 있을 것이고, 또는 본 발명의 구성상태 및 그 변형된 상태의 운용방법을 다르게 구현할 수 있을 것이다.
그러나 기본적으로 변형된 구성과 방법들이 본 발명에서 청구하고 있는 구성요소들을 모두 포함하고 있는 것이라면 본 발명의 기술적 범주에 포함된다고 보아야 할 것이다.
이상과 같은 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 시스템의 배치와 구성상태를 개선함과 동시에 점등 테스트 장치의 구성을 개선함으로써 엘시디 패널의 점등 테스트를 위한 공정 시간을 감소시켜 공정 효율을 보다 향상시킬 수 있도록 하고, 또한 설비의 배치상태에 따른 점유공간 및 시스템 구현 경비를 줄일 수 있도록 하는 효과가 있다.

Claims (7)

  1. 삭제
  2. 선행 제조공정을 거친 엘시디 패널의 점등 상태를 테스트하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 있어서,
    테스트 작동상태를 제어하는 메인 컨트롤러;
    상기 메인 컨트롤러의 제어로 선행 제조공정을 거친 상기 엘시디 패널을 공급하는 공급부;
    상기 공급부로부터 전달된 엘시디 패널을 회전 동작하여 일측 또는 타측으로 이송시키는 로봇;
    상기 로봇의 측부에 위치하여 상기 로봇으로부터 공급된 상기 엘시디 패널을 전달받아 상기 엘시디 패널에 대한 테스트를 수행하되, 하나의 엘시디 패널에 대해서는 테스트를 수행하고, 동시에 다른 하나의 엘시디 패널을 테스트 대기 상태로 유지시켜 두 개의 엘시디 패널이 테스트 및 테스트 대기 상태에 있도록 하는 테스트장치를 구비하며;
    상기 테스트장치는 상기 로봇으로부터 전달된 상기 엘시디 패널 중의 하나를 이송 및 이송대기 하는 제 1이송대기부와;
    상기 제 1이송대기수단에서 이송 및 대기중인 엘시디 패널과 다른 엘시디 패널을 이송 대기시켜 상기 제 1이송대기수단의 동작경로와 반대방향으로 작동하여 상기 다른 엘시디 패널을 이송 및 이송대기 시키는 제 2이송대기부를 구비한 것을 특징으로 하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 로봇과 상기 제 1 및 제 2이송대기부 사이에는 상기 로봇으로부터 전달된 엘시디 패널을 상기 제 1 및 제 2이송대기부로 선택적으로 전달하는 전달부가 마련된 것을 특징으로 하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템.
  4. 제 2항 또는 제 3항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2이송대기부로부터 전달된 상기 엘시디 패널들의 얼라인먼트 기준 위치를 촬상하는 촬상부를 구비한 것을 특징으로 하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 촬상부에 의하여 촬상된 상기 엘시디 패널의 얼라인먼트마크의 촬상 상태에 따라 상기 제 1 및 제 2이송대기부로부터 전달된 엘시디 패널이 상기 테스트부에 접촉되도록 위치를 조절하는 위치조절부를 구비한 것을 특징으로 하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템.
  6. 제 5항에 있어서, 상기 위치조절부는 상기 엘시디 패널의 점등 위치를 X축에 대하여 조절하는 X축 조절부와, 상기 엘시디 패널의 점등 위치를 Y축에 대하여 조절하는 Y축 조절부와, Y축 그리고 Z축 및 회전 위치를 조절하는 위치조절부를 포함하는 것을 특징으로 하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템.
  7. 제 2항에 있어서, 상기 로봇의 타측에는 상기 로봇으로부터 전달된 상기 엘시디 패널을 전달받아 상기 엘시디 패널에 대한 테스트를 수행하는 또 다른 제2테스트 장치가 설치된 것을 특징으로 하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템.
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