KR20020058934A - 메모리 출력능력의 가변제어 장치 및 방법 - Google Patents
메모리 출력능력의 가변제어 장치 및 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20020058934A KR20020058934A KR1020000087072A KR20000087072A KR20020058934A KR 20020058934 A KR20020058934 A KR 20020058934A KR 1020000087072 A KR1020000087072 A KR 1020000087072A KR 20000087072 A KR20000087072 A KR 20000087072A KR 20020058934 A KR20020058934 A KR 20020058934A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- data output
- output driver
- control signal
- stages
- driver control
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1066—Output synchronization
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/12—Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Description
Claims (12)
- 복수의 셀, 복수의 입력단, 복수의 출력단, 복수의 명령조합단, 복수의 주소 입력단 및 복수의 레지스터를 가진 공지의 동기식 메모리에 있어서,커맨드신호와 클럭신호 및 어드레스신호에 따라 데이터 출력 드라이버를 제어하기 위한 데이터 출력 드라이버 제어신호를 생성하는 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부; 및상기 데이터 출력 제어신호 생성부에서 생성된 데이터 출력 드라이버 제어신호에 따라 인에이블되는 복수의 데이터 출력 드라이버부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 데이터 출력 드라이버부가 N개인 경우 상기 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부에서 생성된 데이터 출력 드라이버 제어신호는 log2(N)인 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 장치.
- 복수의 셀, 복수의 입력단, 복수의 출력단, 복수의 명령조합단, 복수의 주소 입력단 및 복수의 레지스터를 가진 공지의 동기식 메모리에 있어서,커맨드신호와 클럭신호 및 데이터 입력신호에 따라 데이터 출력 드라이버를 제어하기 위한 데이터 출력 드라이버 제어신호를 생성하는 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부; 및상기 데이터 출력 제어신호 생성부에서 생성된 데이터 출력 드라이버 제어신호에 따라 인에이블되는 복수의 데이터 출력 드라이버부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 데이터 출력 드라이버부가 N개인 경우 상기 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부에서 생성된 데이터 출력 드라이버 제어신호는 log2(N)인 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 장치.
- 복수의 셀, 복수의 입력단, 복수의 출력단, 복수의 명령조합단, 복수의 주소 입력단 및 복수의 레지스터를 가진 공지의 동기식 메모리에 있어서,외부 패드부를 구성하는 각 패드에 드레인 전압 혹은 소스 전압이 인가되도록 본딩처리된 외부 패드부;상기 외부 패드부로부터 인가된 신호에 따라 데이터 출력 드라이버를 제어하기 위한 데이터 출력 드라이버 제어신호를 생성하는 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부; 및상기 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부에서 생성된 데이터 출력 드라이버 제어신호에 따라 인에이블되는 복수의 데이터 출력 드라이버부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 데이터 출력 드라이버부가 N개인 경우 상기 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부에서 생성된 데이터 출력 드라이버 제어신호는 log2(N)인 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 장치.
- 복수의 셀, 복수의 입력단, 복수의 출력단, 복수의 명령조합단, 복수의 주소 입력단 및 복수의 레지스터를 가진 공지의 동기식 메모리의 출력단의 출력능력을 가변하기 위한 방법에 있어서,커맨드신호와 클럭신호 및 어드레스신호에 따라 데이터 출력 드라이버를 제어하기 위하여 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부로부터 데이터 출력 드라이버 제어신호를 생성하는 제 1 단계; 및상기 데이터 출력 제어신호 생성부에서 생성된 데이터 출력 드라이버 제어신호에 따라 복수의 데이터 출력 드라이버부 인에이블시키는 제 2 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 방법.
- 제 7 항에 있어서,상기 제 1 단계의 데이터 출력 드라이버 제어신호는 상기 데이터 출력 드라이버부가 N개인 경우 log2(N)인 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 방법.
- 복수의 셀, 복수의 입력단, 복수의 출력단, 복수의 명령조합단, 복수의 주소 입력단 및 복수의 레지스터를 가진 공지의 동기식 메모리의 출력단의 출력능력을 가변하기 위한 방법에 있어서,커맨드신호와 클럭신호 및 데이터입력신호에 따라 데이터 출력 드라이버를 제어하기 위하여 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부로부터 데이터 출력 드라이버 제어신호를 생성하는 제 1 단계; 및상기 데이터 출력 제어신호 생성부에서 생성된 데이터 출력 드라이버 제어신호에 따라 복수의 데이터 출력 드라이버부 인에이블시키는 제 2 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 방법.
- 제 9 항에 있어서,상기 제 1 단계의 상기 데이터 출력 드라이버 제어신호는 상기 데이터 출력 드라이버부가 N개인 경우 log2(N)인 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 방법.
- 복수의 셀, 복수의 입력단, 복수의 출력단, 복수의 명령조합단, 복수의 주소 입력단 및 복수의 레지스터를 가진 공지의 동기식 메모리의 출력단의 출력능력을 가변하기 위한 방법에 있어서,외부 패드부를 구성하는 각 패드에 드레인 전압 혹은 소스 전압이 인가되도록 본딩처리하는 제 1 단계;상기 외부 패드부로부터 인가된 신호에 따라 데이터 출력 드라이버를 제어하기 위하여 데이터 출력 드라이버 제어신호 생성부로부터 데이터 출력 드라이버 제어신호를 생성하는 제 2 단계; 및상기 데이터 출력 드라이버 제어신호에 따라 복수의 데이터 출력 드라이버부를 인에블시키는 제 3 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 방법.
- 제 11 항에 있어서,상기 제 1 단계의 데이터 출력 드라이버 제어신호는 상기 데이터 출력 드라이버부가 N개인 경우 log2(N)인 것을 특징으로 하는 메모리 출력능력의 가변제어 방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0087072A KR100490657B1 (ko) | 2000-12-30 | 2000-12-30 | 메모리 출력능력의 가변제어 장치 및 방법 |
US10/029,947 US6625067B2 (en) | 2000-12-30 | 2001-12-31 | Semiconductor memory device for variably controlling drivability |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0087072A KR100490657B1 (ko) | 2000-12-30 | 2000-12-30 | 메모리 출력능력의 가변제어 장치 및 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020058934A true KR20020058934A (ko) | 2002-07-12 |
KR100490657B1 KR100490657B1 (ko) | 2005-05-24 |
Family
ID=19704092
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2000-0087072A KR100490657B1 (ko) | 2000-12-30 | 2000-12-30 | 메모리 출력능력의 가변제어 장치 및 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6625067B2 (ko) |
KR (1) | KR100490657B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100735749B1 (ko) * | 2005-11-28 | 2007-07-06 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치, 메모리 시스템, 및 데이터 송수신시스템 |
KR100738967B1 (ko) * | 2006-08-16 | 2007-07-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 상태 데이터 출력장치 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5796673A (en) * | 1994-10-06 | 1998-08-18 | Mosaid Technologies Incorporated | Delay locked loop implementation in a synchronous dynamic random access memory |
KR100546214B1 (ko) * | 2003-11-13 | 2006-01-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 데이터 및 데이터 스트로브 드라이버 스트랭쓰 제어 회로 |
US7656745B2 (en) | 2007-03-15 | 2010-02-02 | Micron Technology, Inc. | Circuit, system and method for controlling read latency |
US9865317B2 (en) * | 2016-04-26 | 2018-01-09 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses including command delay adjustment circuit |
US9997220B2 (en) | 2016-08-22 | 2018-06-12 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path |
US10224938B2 (en) | 2017-07-26 | 2019-03-05 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for indirectly detecting phase variations |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2743653B2 (ja) * | 1991-09-20 | 1998-04-22 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5634025A (en) * | 1993-12-09 | 1997-05-27 | International Business Machines Corporation | Method and system for efficiently fetching variable-width instructions in a data processing system having multiple prefetch units |
KR100278651B1 (ko) * | 1997-06-27 | 2001-03-02 | 윤종용 | 프로그래머블출력드라이버및이를구비하는반도체메모리장치 |
US6351427B1 (en) * | 1997-12-10 | 2002-02-26 | Texas Instruments Incorporated | Stored write scheme for high speed/wide bandwidth memory devices |
EP1028427B1 (en) * | 1999-02-11 | 2007-07-25 | Infineon Technologies North America Corp. | Hierarchical prefetch for semiconductor memories |
US6064600A (en) * | 1999-03-01 | 2000-05-16 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatus for reading memory device register data |
KR100618791B1 (ko) * | 1999-10-30 | 2006-09-06 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리장치의 출력 드라이버 |
JP2001297584A (ja) * | 2000-04-13 | 2001-10-26 | Nec Corp | 半導体記憶装置の昇圧回路 |
DE10040462B4 (de) * | 2000-08-18 | 2006-05-24 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Speichern und Ausgeben von Daten mit einem virtuellen Kanal |
JP2002074952A (ja) * | 2000-08-31 | 2002-03-15 | Fujitsu Ltd | 同期型半導体記憶装置及びその入力回路の制御方法 |
KR100578233B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2006-05-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기식메모리장치의 데이터 입출력 가변제어장치 |
-
2000
- 2000-12-30 KR KR10-2000-0087072A patent/KR100490657B1/ko active IP Right Grant
-
2001
- 2001-12-31 US US10/029,947 patent/US6625067B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100735749B1 (ko) * | 2005-11-28 | 2007-07-06 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치, 메모리 시스템, 및 데이터 송수신시스템 |
US8122302B2 (en) | 2005-11-28 | 2012-02-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device having adaptive power function |
KR100738967B1 (ko) * | 2006-08-16 | 2007-07-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 상태 데이터 출력장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100490657B1 (ko) | 2005-05-24 |
US6625067B2 (en) | 2003-09-23 |
US20020085427A1 (en) | 2002-07-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7636273B2 (en) | Integrated circuit memory devices that support selective mode register set commands | |
US5537354A (en) | Semiconductor memory device and method of forming the same | |
JP4684394B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
US6362656B2 (en) | Integrated circuit memory devices having programmable output driver circuits therein | |
US6064585A (en) | Semiconductor device and method for fabricating the same, memory core chip and memory peripheral circuit chip | |
JP4808901B2 (ja) | 半導体メモリ装置及びこれを利用したメモリシステム | |
CN1627438B (zh) | 半导体集成电路装置 | |
KR100711100B1 (ko) | 메모리 모듈 및 이를 구비하는 메모리 시스템 | |
US20020136081A1 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
US6339817B1 (en) | Semiconductor memory including main and sub memory portions having plural memory cell groups and a bidirectional data transfer circuit | |
JP2012230737A (ja) | 半導体装置 | |
US20040100856A1 (en) | Semiconductor memory device adaptive for use circumstance | |
US7200065B2 (en) | Input/output circuit | |
KR100490657B1 (ko) | 메모리 출력능력의 가변제어 장치 및 방법 | |
US6215721B1 (en) | Multi-bank memory device and method for arranging input/output lines | |
JP2005158166A (ja) | 半導体装置 | |
CN100568379C (zh) | 存储器装置的写入电路和驱动半导体存储器装置的方法 | |
US5943253A (en) | Semiconductor memory device with efficient layout | |
KR100188021B1 (ko) | 다뱅크구조에서 데이터 입출력라인 로딩 축소장치 | |
JP3466088B2 (ja) | 同期式記憶装置 | |
US6457094B2 (en) | Memory array architecture supporting block write operation | |
KR100745053B1 (ko) | 출력 구동 회로 | |
JP3222545B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR20000025777A (ko) | 반도체메모리의 셀프 리프레시 제어회로 | |
JPH09251773A (ja) | 半導体記憶装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130426 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140423 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160422 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170425 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180425 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190422 Year of fee payment: 15 |