KR20020007683A - Semiconductor package and its manufacturing method - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A semiconductor package and a manufacturing method thereof are provided to manufacture a thin semiconductor package by offsetting the thickness of the first semiconductor chip by the thickness of a substrate like a lead or circuit board, and to improve a heat radiation capacity by exposing one surface of the first and/or second semiconductor chips to the exterior of an encapsulating material. CONSTITUTION: A plurality of input/output pads(4) are formed in the center of the second surface and in the inner circumference of the first semiconductor chip(2), including the first and second surfaces(2a,2b). The second semiconductor chip(6) has the first and second surfaces(6a,6b). A plurality of input/output pads(8) are formed on the first surface of the second semiconductor chip having the first and second surfaces, connected to the input/output pads formed in the center of the first semiconductor chip by using the first electrical connection unit. The substrate has the first and second surfaces in the outer circumference of the first semiconductor chip, connected to the input/output pads formed in the inner circumference of the first semiconductor chip by using the second electrical connection unit. The encapsulating material(40) encapsulates the first semiconductor chip, the second semiconductor chip, the first electrical connection unit, the second electrical connection unit and the substrate.

Description

반도체패키지 및 그 제조 방법{Semiconductor package and its manufacturing method}Semiconductor package and its manufacturing method

본 발명은 반도체패키지 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게 설명하면 초박형인 동시에 반도체칩을 적층함으로써 고용량화를 구현할 수 있고, 또한 방열 성능이 우수한 반도체패키지 및 그 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor package and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a semiconductor package and a method for manufacturing the same, which can realize high capacity by stacking semiconductor chips and excellent heat dissipation performance.

통상 반도체패키지는 반도체칩을 외부 환경으로부터 안전하게 보호함은 물론, 그 반도체칩과 마더보드(Mother Board)와의 전기적 신호가 용이하게 교환되도록 한 것을 말한다.In general, the semiconductor package not only protects the semiconductor chip from the external environment, but also means that the electrical signal between the semiconductor chip and the motherboard is easily exchanged.

최근에는 상기한 반도체패키지 내부에 다수의 반도체칩을 적층함으로써 고기능화를 구현한 적층형 반도체패키지가 출시되고 있으며, 이러한 종래의 통상적인 적층형 반도체패키지(100')를 도1에 도시하였다.Recently, a multilayer semiconductor package having high functionality by stacking a plurality of semiconductor chips inside the semiconductor package has been released. Such a conventional multilayer semiconductor package 100 'is shown in FIG.

도시된 바와 같이 통상 수지층(18')을 중심으로 상,하면에 본드핑거(20a')및 볼랜드(20b')를 갖는 회로패턴(20')이 형성되어 있고, 상기 회로패턴(20')의 표면은 커버코트(23')로 코팅된 회로기판(16')이 구비되어 있다. 또한, 상기 회로기판(16')의 상면 중앙부에는 제1반도체칩(2')이 접착제로 접착되어 있고, 상기 제1반도체칩(2')의 상면에는 제2반도체칩(6')이 접착제로 접착되어 있다. 물론, 상기 제1반도체칩(2') 및 제2반도체칩(6')의 상면에는 다수의 입출력패드(4',8')가 형성되어 있다. 상기 제1반도체칩(2') 및 제2반도체칩(6')의 입출력패드(4',8')는 각각 회로기판(16')에 형성된 회로패턴(20')중 본드핑거(20a')에 도전성와이어(60')로 접속되어 있다. 또한, 제1반도체칩(2'), 제2반도체칩(6'), 도전성와이어(60') 및 회로기판(16')의 상면은 봉지재(40')로 봉지되어 있다. 상기 회로기판(16')의 하면에 형성된 회로패턴(20')중 볼랜드(20b')에는 다수의 도전성볼(50')이 융착되어 있으며, 이 도전성볼(50')이 차후 마더보드의 소정 패턴에 접속된다.As shown, a circuit pattern 20 'having a bond finger 20a' and a ball land 20b 'is formed on the upper and lower surfaces of the resin layer 18'. The surface of the circuit board 16 'is coated with a cover coat 23'. In addition, the first semiconductor chip 2 'is bonded to the center of the upper surface of the circuit board 16' with the adhesive, and the second semiconductor chip 6 'is attached to the upper surface of the first semiconductor chip 2'. It is bonded by. Of course, a plurality of input / output pads 4 'and 8' are formed on the upper surfaces of the first semiconductor chip 2 'and the second semiconductor chip 6'. The I / O pads 4 'and 8' of the first semiconductor chip 2 'and the second semiconductor chip 6' are bonded fingers 20a 'of the circuit patterns 20' formed on the circuit board 16 ', respectively. ) Is connected to the conductive wire 60 '. In addition, the upper surface of the first semiconductor chip 2 ', the second semiconductor chip 6', the conductive wire 60 ', and the circuit board 16' is sealed with an encapsulant 40 '. A plurality of conductive balls 50 'are fused to the ball lands 20b' among the circuit patterns 20 'formed on the bottom surface of the circuit board 16', and the conductive balls 50 'are subsequently fixed on the motherboard. Is connected to the pattern.

이러한 반도체패키지(100')는 제1반도체칩(2') 및 제2반도체칩(6')의 전기적 신호가 도전성와이어(60'), 회로기판(16')의 본드핑거(20a'), 도전성 비아홀(20c'), 볼랜드 (20b')및 도전성볼(50')을 통해서 마더보드와 교환된다.In the semiconductor package 100 ', the electrical signals of the first semiconductor chip 2' and the second semiconductor chip 6 'are transmitted to the conductive wire 60', the bond finger 20a 'of the circuit board 16', It is exchanged with the motherboard through the conductive via hole 20c ', the ball land 20b' and the conductive ball 50 '.

그러나 이러한 종래의 반도체패키지는 일정두께의 회로기판 상면에 다시 제1반도체칩 및 제2반도체칩이 차례로 적층되어 있음으로써, 회로기판의 두께에 다시 제1반도체칩 및 제2반도체칩의 두께가 더해져 전체적인 두께가 두꺼워지는 단점이 있다.However, such a conventional semiconductor package is the first semiconductor chip and the second semiconductor chip are sequentially stacked on the upper surface of the circuit board of a certain thickness, the thickness of the first semiconductor chip and the second semiconductor chip is added to the thickness of the circuit board. There is a disadvantage that the overall thickness is thick.

또한, 최근의 고기능화된 반도체칩을 탑재시 열방출량이 많게 되는데, 이러한 열을 적절히 방출할 수 있는 수단이 없어서 반도체패키지의 오작동을 유발하는문제점이 있다.In addition, the amount of heat dissipation is increased when mounting a highly functional semiconductor chip in recent years, there is a problem that causes a malfunction of the semiconductor package because there is no means for properly discharging such heat.

또한, 상기 제2반도체칩의 입출력패드와 회로기판의 본드핑거를 연결하는 도전성와이어의 루프하이트(Loop Height)가 큼으로써 반도체패키지의 제조 공정중 와이어스위핑(Wire Sweeping)이나 와이어쇼트(Wire Short)가 빈번히 발생하는 문제점이 있다.In addition, since the loop height of the conductive wire connecting the input / output pad of the second semiconductor chip and the bond finger of the circuit board is large, the wire sweeping or the wire short during the manufacturing process of the semiconductor package is large. There is a problem that occurs frequently.

더불어, 상기 회로기판은 수지층을 중심으로 상,하면에 회로패턴이 형성되고, 또한 상,하의 회로패턴은 도전성비아홀로 연결되며, 그 회로패턴의 표면은 커버코트로 코팅된 복잡한 구조를 함으로써, 리드이나 통상적인 써킷필름 및 써킷테이프에 비하여 고가이고 따라서, 상기 회로기판을 이용한 반도체패키지의 가격이 고가로 되는 문제점이 있다.In addition, the circuit board is formed with a circuit pattern on the upper and lower surfaces around the resin layer, and the upper and lower circuit patterns are connected by conductive via holes, and the surface of the circuit pattern has a complicated structure coated with a cover coat, There is a problem that the price of the semiconductor package using the circuit board is expensive compared to the lead, the conventional circuit film and the circuit tape.

또한, 제1반도체칩 및 제2반도체칩 모두 도전성와이어에 의해 회로기판과 전기적으로 접속됨으로써 제조 시간(와이어 본딩 시간)이 오래 걸리고 그만큼 불량률도 커지는 문제점이 있다.In addition, since both the first semiconductor chip and the second semiconductor chip are electrically connected to the circuit board by conductive wires, the manufacturing time (wire bonding time) takes a long time, and the defect rate is also increased.

따라서 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 리드 또는 회로기판의 두께에 의해 제1반도체칩의 두께가 상쇄됨으로써 전체적으로 두께가 얇은 반도체패키지 및 그 제조 방법을 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above-described conventional problems, to provide a semiconductor package and a manufacturing method of a thin overall thickness by canceling the thickness of the first semiconductor chip by the thickness of the lead or circuit board.

본 발명의 다른 목적은 제1반도체칩 또는 제2반도체칩의 일면을 외부로 노출시켜 방열 성능이 우수한 반도체패키지 및 그 제조 방법을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a semiconductor package having excellent heat dissipation performance by exposing one surface of a first semiconductor chip or a second semiconductor chip to the outside and a method of manufacturing the same.

본 발명의 또다른 목적은 제2반도체칩을 제1반도체칩 상면에 플립칩 기술을이용하여 접속시킴으로써 루프하이트로 인한 종래의 와이어스위핑이나 와이어쇼트 등의 문제를 해결할 수 있는 반도체패키지 및 그 제조 방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to connect a second semiconductor chip to the upper surface of the first semiconductor chip by using flip chip technology, and thus, a semiconductor package and a method of manufacturing the same, which can solve the problems of conventional wire sweeping or wire short due to loop height. To provide.

본 발명의 또다른 목적은 비교적 가격이 저렴한 리드 또는 수지층, 필름, 테이프 등의 회로기판을 이용하여 저가의 반도체패키지를 제공할 수 있는 반도체패키지 및 그 제조 방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a semiconductor package and a method of manufacturing the same, which can provide a low-cost semiconductor package using a circuit board such as a lead or resin layer, film, tape, etc., which is relatively inexpensive.

본 발명의 또다른 목적은 제1반도체칩의 입출력패드에 탭본딩, 리드본딩 또는 갱본딩 기술을 이용하여 제조 시간을 단축할 수 있는 반도체패키지 및 그 제조 방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a semiconductor package and a method of manufacturing the same, which can shorten manufacturing time by using tap bonding, lead bonding, or gang bonding techniques on input / output pads of a first semiconductor chip.

도1은 종래의 반도체패키지를 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing a conventional semiconductor package.

도2a 및 도2b는 본 발명의 제1실시예에 의한 반도체패키지를 도시한 단면도 및 저면도이다.2A and 2B are a cross-sectional view and a bottom view showing a semiconductor package according to a first embodiment of the present invention.

도3은 본 발명의 제2실시예에 의한 반도체패키지를 도시한 단면도이다.3 is a cross-sectional view showing a semiconductor package according to a second embodiment of the present invention.

도4a 내지 도4f는 본 발명의 제1실시예에 의한 반도체패키지의 제조 방법을 도시한 설명도이다.4A to 4F are explanatory views showing a method of manufacturing a semiconductor package according to the first embodiment of the present invention.

도5a 내지 도5g는 본 발명의 제2실시예에 의한 반도체패키지의 제조 방법을 도시한 설명도이다.5A to 5G are explanatory views showing a method of manufacturing a semiconductor package according to the second embodiment of the present invention.

- 도면중 주요 부호에 대한 설명 --Description of the main symbols in the drawings-

101,102; 본 발명에 의한 반도체패키지101,102; Semiconductor package according to the present invention

2; 제1반도체칩 2a,2b; 제1반도체칩의 제1면 및 제2면2; First semiconductor chips 2a and 2b; First and second surfaces of the first semiconductor chip

4; 제1반도체칩의 입출력패드4; I / O pad of the first semiconductor chip

6; 제2반도체칩 6a,6b; 제2반도체칩의 제1면 및 제2면6; Second semiconductor chips 6a and 6b; First and second surfaces of the second semiconductor chip

8; 제2반도체칩의 입출력패드8; I / O pad of the second semiconductor chip

10; 도전성범프10; Conductive Bump

12; 리드 12a,12b; 리드의 제1면 및 제2면12; Leads 12a, 12b; First and second side of the lead

14; 리드의 할프에칭부14; Half etching part of lead

16; 회로기판 16a,16b; 회로기판의 제1면 및 제2면16; Circuit boards 16a and 16b; First and second sides of the circuit board

18; 수지층 20; 회로패턴18; Resin layer 20; Circuit pattern

22; 통공 30; 액상 봉지재22; Through-hole 30; Liquid encapsulant

40; 봉지재 50; 도전성볼40; Encapsulant 50; Conductive ball

60; 도전성와이어 70; 접착테이프60; Conductive wire 70; Adhesive tape

상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 의한 반도체패키지는 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제2면의 중앙부 및 내주연에는 다수의 입출력패드가 형성된 제1반도체칩과; 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제1면에는 다수의 입출력패드가 형성되어 있으며, 상기 입출력패드는 제1전기적 접속수단에 의해 상기 제1반도체칩의 중앙부에 형성된 입출력패드에 접속된 제2반도체칩과; 상기 제1반도체칩의 외주연에 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제1반도체칩의 내주연에 형성된 입출력패드와 제2전기적 접속수단으로 연결된 섭스트레이트와; 상기 제1반도체칩, 제2반도체칩, 제1전기적 접속수단, 제2전기적 접속수단 및 섭스트레이트를 봉지하는 봉지재를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the semiconductor package according to the present invention includes a first semiconductor chip having a first surface and a second surface, and having a plurality of input / output pads formed at a central portion and an inner circumference of the second surface; It has a first surface and a second surface, a plurality of input and output pads are formed on the first surface, the input and output pads are connected to the input and output pads formed in the center of the first semiconductor chip by the first electrical connection means 2 semiconductor chip; A substrate having a first surface and a second surface on an outer circumference of the first semiconductor chip and connected to an input / output pad formed on an inner circumference of the first semiconductor chip and a second electrical connection means; And a sealing material for encapsulating the first semiconductor chip, the second semiconductor chip, the first electrical connection means, the second electrical connection means, and the substrate.

여기서, 상기 제1전기적 접속수단은 솔더범프, 골드범프, 도전성 에폭시로 코팅된 골드범프, 리드리스(Leadless) 솔더 범프, 이방성전도필름(ACF,Anisotropic Conductive Film)중 선택된 어느 하나일 수 있다.The first electrical connection means may be any one selected from solder bumps, gold bumps, gold bumps coated with conductive epoxy, leadless solder bumps, and anisotropic conductive film (ACF).

상기 제1전기적 접속수단으로 접속되는 제1반도체칩 또는 제2반도체칩의 입출력패드중 어느 한쪽의 입출력패드에는 니켈/금(Ni/Au) 돌기가 더 형성될 수 도 있다.Nickel / gold (Ni / Au) protrusions may be further formed on any one of the input / output pads of the first semiconductor chip or the second semiconductor chip connected by the first electrical connection means.

상기 제1반도체칩과 제2반도체칩 사이의 제1전기적 접속수단은 액상 봉지재로 언더필(Underfill)될 수 있다.The first electrical connection means between the first semiconductor chip and the second semiconductor chip may be underfilled with a liquid encapsulant.

상기 제1반도체칩의 제1면 도는 제2반도체칩의 제2면은 봉지재 외부로 노출될 수 있다.The first surface of the first semiconductor chip or the second surface of the second semiconductor chip may be exposed to the outside of the encapsulant.

상기 제1반도체칩의 제1면에는 열방출용 도전성 부재가 더 부착될 수도 있다.A heat dissipation conductive member may be further attached to the first surface of the first semiconductor chip.

상기 섭스트레이트는 제1면이 봉지재 외부로 노출될 수 있다.The first substrate may be exposed to the outside of the encapsulant.

상기 제2전기적 접속수단은 도전성와이어일 수 있다.The second electrical connection means may be a conductive wire.

상기 섭스트레이트는 구리(Cu) 계열의 리드일 수 있다.The substrate may be a lead of copper (Cu) series.

상기 리드는 제1반도체칩을 향하는 단부의 제1면에 할프에칭부가 더 형성될 수도 있다.The lead may further have a half etching portion formed on the first surface of the end portion facing the first semiconductor chip.

상기 섭스트레이트는 회로기판일 수 있다. 상기 회로기판은 수지층을 기본층으로 하여 그 제2면에는 도전성 회로패턴이 형성되어 있고, 상기 회로패턴은 제1반도체칩의 입출력패드에 직접 접속될 수 있다.The substrate may be a circuit board. The circuit board has a resin layer as a base layer, and a conductive circuit pattern is formed on a second surface thereof, and the circuit pattern can be directly connected to an input / output pad of a first semiconductor chip.

또한, 상기 회로기판의 수지층에는 상기 회로패턴의 일정영역이 제1면을 통하여 외측으로 오픈되도록 다수의 통공이 형성되어 있고, 상기 통공에는 상기 회로패턴과 전기적으로 접속되며 차후 마더보드에 실장되는 도전성볼이 융착될 수 있다.In addition, a plurality of through holes are formed in the resin layer of the circuit board so that a predetermined region of the circuit pattern is opened to the outside through the first surface, and the through holes are electrically connected to the circuit patterns and are subsequently mounted on the motherboard. The conductive ball may be fused.

상기 제1반도체칩의 제2면 높이는 상기 섭스트레이트의 제2면 높이보다 작게함이 바람직하다.Preferably, the height of the second surface of the first semiconductor chip is smaller than the height of the second surface of the substrate.

상기 제1반도체칩의 제1면과 섭스트레이트의 제1면 및 봉지재의 일면은 동일면이 되도록 함이 바람직하다.The first surface of the first semiconductor chip, the first surface of the substrate and the one surface of the encapsulant may be the same surface.

또한, 상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 의한 반도체패키지의 제조 방법은 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제2면의 중앙부 및 내주연에는 다수의 입출력패드가 형성된 제1반도체칩을 구비하고, 또한 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제1면에는 다수의 입출력패드가 형성된 제2반도체칩을 구비하며, 상기 제1반도체칩의 중앙부에 형성된 입출력패드와 제2반도체칩의 입출력패드를 제1전기적 접속수단으로 상호 접속하는 단계와; 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제1반도체칩 및 제2반도체칩의 외주연에 위치되어 차후 마더보드에 실장 가능한 섭스트레이트를 구비하고, 상기 섭스트레이트의 제1면과 상기 제1반도체칩의 제1면이 동일면이 되도록 일체의 접착테이프를 상기 제1섭스트레이트 및 제1반도체칩의 제1면에 접착하는 단계와; 상기 제1반도체칩의 내주연에 형성된 입출력패드와 상기 섭스트레이트를 제2전기적 접속수단으로 접속하는 단계와; 상기 접착테이프 상의 제1반도체칩, 제2반도체칩, 섭스트레이트를 봉지재로 봉지하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.In addition, the semiconductor package manufacturing method according to the present invention in order to achieve the above object has a first semiconductor chip having a first surface and a second surface, a plurality of input and output pads are formed in the central portion and the inner periphery of the second surface And a second semiconductor chip having a first surface and a second surface and having a plurality of input / output pads formed thereon, wherein the input / output pad and the second semiconductor chip formed at the center of the first semiconductor chip are provided. Interconnecting the input / output pads with first electrical connection means; It has a first surface and a second surface, and provided with a substrate that is located on the outer periphery of the first semiconductor chip and the second semiconductor chip to be mounted on the motherboard later, the first surface and the first semiconductor of the substrate Bonding an integral adhesive tape to the first substrate and the first surface of the first semiconductor chip such that the first surface of the chip is the same surface; Connecting the input / output pad formed on the inner circumference of the first semiconductor chip and the substrate with second electrical connection means; And sealing the first semiconductor chip, the second semiconductor chip, and the substrate on the adhesive tape with an encapsulant.

상기 제1전기적 접속수단은 솔더범프, 골드범프, 도전성 에폭시로 코팅된 골드범프, 리드리스(Leadless) 솔더 범프, 이방성전도필름(ACF, AnisotropicConductive Film)중 선택된 어느 하나가 이용될 수 있다.The first electrical connection means may be any one selected from solder bumps, gold bumps, gold bumps coated with conductive epoxy, leadless solder bumps, and anisotropic conductive films (ACF).

상기 제1반도체칩 또는 제2반도체칩의 입출력패드중 어느 한쪽의 입출력패드에는 니켈/금(Ni/Au) 돌기가 형성된 후 제1전기적 접속수단으로 상호 접속될 수 있다.Nickel / gold (Ni / Au) protrusions may be formed on one of the input / output pads of the first semiconductor chip or the second semiconductor chip, and then may be interconnected by the first electrical connection means.

상기 제1반도체칩과 제2반도체칩이 제1전기적 접속수단으로 접속된 후에는 상기 제1전기적 접속수단이 액상 봉지재로 언더필될 수 있다.After the first semiconductor chip and the second semiconductor chip are connected by the first electrical connection means, the first electrical connection means may be underfilled with a liquid encapsulant.

상기 봉지 단계는 상기 제2반도체칩의 제2면이 봉지재 외부로 노출되도록 할 수 있다.The encapsulation step may allow the second surface of the second semiconductor chip to be exposed to the outside of the encapsulant.

상기 봉지 단계후에는 봉지재 외부로 노출된 제1반도체칩의 제1면에 열방출용 도전성 부재가 더 부착될 수 있다.After the encapsulation step, a heat-dissipating conductive member may be further attached to the first surface of the first semiconductor chip exposed to the outside of the encapsulant.

상기 제2전기적 접속수단은 도전성와이어가 이용될 수 있다.Conductive wires may be used as the second electrical connection means.

상기 섭스트레이트는 구리(Cu) 계열의 리드가 이용될 수 있다.The substrate may be a copper (Cu) -based lead.

상기 리드는 제1반도체칩을 향하는 단부의 제1면에 할프에칭부가 더 형성된 것이 이용될 수 있다.The lead may be one in which a half etched portion is further formed on a first surface of an end portion facing the first semiconductor chip.

상기 섭스트레이트는 수지층을 기본층으로 하여, 상기 수지층 상에는 도전성 회로패턴이 형성되어 있고, 상기 회로패턴의 단부는 상기 제1반도체칩의 입출력패드에 직접 접속 가능하게 되어 있으며, 상기 회로패턴의 일정영역은 제1면을 통하여 외측으로 오픈되도록 다수의 통공이 더 형성된 회로기판이 이용될 수도 있다.The substrate has a resin layer as a base layer, and a conductive circuit pattern is formed on the resin layer, and an end portion of the circuit pattern can be directly connected to an input / output pad of the first semiconductor chip. A circuit board in which a plurality of through holes are further formed may be used in a predetermined region so as to open outward through the first surface.

이때, 상기 봉지 단계후에는 상기 접착테이프를 떼어내고, 상기 수지층의 통공에 마더보드에 실장 가능한 도전성볼이 더 융착된다.At this time, after the sealing step, the adhesive tape is peeled off, and the conductive ball mountable on the motherboard is further welded to the through hole of the resin layer.

상기 제1반도체칩의 제2면 높이는 상기 섭스트레이트의 제2면 높이보다 작게 됨이 바람직하다.Preferably, the height of the second surface of the first semiconductor chip is smaller than the height of the second surface of the substrate.

상기와 같이 하여 본 발명에 의한 반도체패키지 및 그 제조 방법에 의하면, 섭스트레이트(리드 또는 회로기판) 두께에 의해 제1반도체칩의 두께가 상쇄됨으로써 전체적으로 두께가 얇은 반도체패키지를 얻을 수 있게 된다.According to the semiconductor package and the manufacturing method of the present invention as described above, the thickness of the first semiconductor chip is canceled by the thickness of the substrate (lead or circuit board), it is possible to obtain a semiconductor package with a thin overall thickness.

또한, 제1반도체칩 및/또는 제2반도체칩의 어느 한 면이 봉지재 외측으로 노출됨으로써 방열 성능이 우수한 반도체패키지를 얻을 수 있게 된다.In addition, since one surface of the first semiconductor chip and / or the second semiconductor chip is exposed to the outside of the encapsulant, a semiconductor package having excellent heat dissipation performance can be obtained.

더구나, 상기 제1반도체칩(또는 제2반도체칩)의 노출된 면에는 도전성 부재를 더 부착함으로써 그 방열 성능을 더욱 향상시킬 수 있게 된다.In addition, by further attaching a conductive member to the exposed surface of the first semiconductor chip (or the second semiconductor chip), the heat dissipation performance can be further improved.

또한, 제1반도체칩과 제2반도체칩을 플립칩 형태로 접속시킴으로써 종래 루프 하이트로 인한 와이어 스위핑이나 와이어 쇼트 등의 문제를 해결할 수 있게 된다.In addition, by connecting the first semiconductor chip and the second semiconductor chip in the form of a flip chip, it is possible to solve problems such as wire sweeping or wire short due to the conventional loop height.

또한, 가격이 저렴한 리드, 회로기판 등을 이용하여 반도체패키지를 제조 함으로써 저가의 반도체패키지를 얻을 수 있게 된다.In addition, it is possible to obtain a low-cost semiconductor package by manufacturing a semiconductor package using a cheap lead, a circuit board and the like.

또한, 섭스트레이트로서 회로기판을 이용할 경우 상기 회로기판에 형성된 도전성 회로패턴을 제1반도체칩의 입출력패드에 탭본딩, 리드본딩 또는 갱본딩 기술을 이용하여 직접 접속함으로써 반도체패키지의 제조 시간을 단축할 수 있게 된다.In addition, when a circuit board is used as a substrate, a semiconductor package can be shortened by directly connecting a conductive circuit pattern formed on the circuit board to an input / output pad of a first semiconductor chip using tap bonding, lead bonding, or gang bonding technology. It becomes possible.

이하 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings such that those skilled in the art can easily implement the present invention.

도2a 및 도2b는 본 발명의 제1실시예에 의한 반도체패키지(101)를 도시한 단면도 및 저면도이다.2A and 2B are a cross-sectional view and a bottom view showing a semiconductor package 101 according to a first embodiment of the present invention.

먼저, 대략 평면인 제1면(2a)과 제2면(2b)을 가지며, 상기 제2면(2b)의 중앙부 및 내주연에는 다수의 입출력패드(4)가 형성된 제1반도체칩(2)이 구비되어 있다.First, the first semiconductor chip 2 has a first plane 2a and a second plane 2b which are substantially planar, and a plurality of input / output pads 4 are formed at the central portion and the inner circumference of the second surface 2b. It is provided.

또한, 대략 평면인 제1면(6a)과 제2면(6b)을 가지며, 상기 제1면(6a)에는 다수의 입출력패드(8)가 형성되어 있으며, 상기 입출력패드(8)는 제1전기적 접속수단에 의해 상기 제1반도체칩(2)의 중앙부에 형성된 입출력패드(4)에 접속된 제2반도체칩(6)이 구비되어 있다.In addition, the first surface 6a and the second surface 6b are substantially planar, and a plurality of input / output pads 8 are formed on the first surface 6a, and the input / output pad 8 has a first surface. A second semiconductor chip 6 connected to the input / output pad 4 formed in the center of the first semiconductor chip 2 by electrical connection means is provided.

여기서, 상기 제1전기적 접속수단은 솔더범프(Solder Bump), 골드범프(Gold Bump), 도전성 에폭시로 코팅된 골드범프(Gold Bump with Conductive Epoxy Coating), 리드리스 솔더 범프(Leadless Solder Bump)와 같은 도전성범프(10), 이방성전도필름(ACF, Anisotropic Conductive Film, 도시되지 않음)중 선택된 어느 하나가 될 수 있다.Here, the first electrical connection means may be a solder bump, a gold bump, a gold bump coated with a conductive epoxy, a leadless solder bump, or the like. The conductive bump 10 may be any one selected from an anisotropic conductive film (ACF).

상기 이방성전도필름은 주지된 바와 같이 일반적인 접착 필름과 전도용금속알갱이가 혼합된 것으로 상기 접착 필름의 두께는 약 50μm 정도이고 전도용금속알갱이의 지름은 약 5μm 정도이다. 또한 상기 전도용금속알갱이의 표면은 얇은 폴리머(Polymer)로 코팅되어 있으며, 이러한 이방성전도필름의 소정 영역에 열 또는 압력을 가하게 되면 그 부분의 전도용금속알갱이를 감싸고 있는 폴리머가 녹게되어 전도성을 갖게 되고 그외의 부분은 확실한 절연성을 유지하는 특성을 가지고 있기때문에 상호 접속될 부분의 위치 맞춤이 용이하다.The anisotropic conductive film is a mixture of a general adhesive film and conductive metal grains as is well known, the thickness of the adhesive film is about 50μm and the diameter of the conductive metal grains is about 5μm. In addition, the surface of the conductive metal grains is coated with a thin polymer (Polymer), and when heat or pressure is applied to a predetermined region of the anisotropic conductive film, the polymer surrounding the conductive metal grains of the portion melts to have conductivity and the like. The part of 가지고 has the property of maintaining a certain insulation, so it is easy to align the parts to be interconnected.

즉, 상기 도전성범프(10)를 이용한 반도체칩의 상호 접속 방법(플립칩 기술)은 제1반도체칩(2) 및 제2반도체칩(6)의 입출력패드(4,8)에 대한 위치를 정확히 일치시킨 후, 상기 어느 한 입출력패드(4,8)에 융착된 도전성범프(10)를 리플로우(Reflow)하여야 하지만, 상기 이방성전도필름을 이용한 경우에는 이러한 고정도의 위치 맞춤이 필요하지 않은 장점이 있다.That is, in the method of interconnecting a semiconductor chip using the conductive bumps 10 (flip chip technology), the positions of the first semiconductor chip 2 and the second semiconductor chip 6 with respect to the input / output pads 4 and 8 are precisely determined. After matching, the conductive bumps 10 fused to any one of the input and output pads 4 and 8 should be reflowed. However, in the case of using the anisotropic conductive film, this high accuracy positioning is not necessary. have.

또한, 상기 제1반도체칩(2) 및 제2반도체칩(6)중 어느 한 반도체칩의 입출력패드(4,8)에는 니켈/금(Ni/Au) 돌기(도시되지 않음)를 미리 형성한 후 상기와 같은 도전성범프(10) 또는 이방성전도필름을 이용하여 두개의 반도체칩을 상호 접속할 수 도 있다. 상기와 같이 니켈/금 돌기를 미리 형성한 이유는 제1반도체칩(2) 및 제2반도체칩(6)의 접속 강도를 강화하기 위함이다.In addition, nickel / gold (Ni / Au) protrusions (not shown) are formed in advance on the input / output pads 4 and 8 of any one of the first semiconductor chip 2 and the second semiconductor chip 6. After that, the two semiconductor chips may be interconnected by using the conductive bumps 10 or the anisotropic conductive film as described above. The reason why the nickel / gold protrusions are formed in advance as described above is to reinforce the connection strength of the first semiconductor chip 2 and the second semiconductor chip 6.

한편, 상기와 같이 플립칩 기술을 이용하여 두개의 반도체칩을 상호 접속한 경우에는 두 반도체칩 사이의 열팽창 계수 차이가 없어 도전성범프(10) 또는 이방성전도필름의 스탠드오프하이트(Standoff Height)를 확보하지 않아도 되므로 적층된 두 반도체칩의 전체적인 두께가 더욱 감소하게 된다.On the other hand, when the two semiconductor chips are interconnected using the flip chip technology as described above, there is no difference in coefficient of thermal expansion between the two semiconductor chips to secure the standoff height of the conductive bump 10 or the anisotropic conductive film. Since it is not necessary, the overall thickness of the two stacked semiconductor chips is further reduced.

더불어, 상기 제1반도체칩(2)과 제2반도체칩(6) 사이의 도전성범프(10)는 액상봉지재(30)로 언더필(Underfill)될 수 있다. 상기와 같이 액상봉지재(30)로 언더필된 경우에는 두 반도체칩의 결합강도가 더욱 강화되고 또한 제조 공정중 상기 도전성범프(10)로의 이물질 침투를 억제하게 된다.In addition, the conductive bumps 10 between the first semiconductor chip 2 and the second semiconductor chip 6 may be underfilled with the liquid encapsulant 30. When underfilled with the liquid encapsulant 30 as described above, the bonding strength of the two semiconductor chips is further strengthened, and the infiltration of foreign matter into the conductive bumps 10 is suppressed during the manufacturing process.

계속해서, 상기 제1반도체칩(2)의 외주연에는 제1면(12a)과 제2면(12b)을 가지며, 상기 제1반도체칩(2)의 내주연에 형성된 입출력패드(4)와 제2전기적 접속수단으로 연결된 섭스트레이트가 구비되어 있다.Subsequently, an outer peripheral edge of the first semiconductor chip 2 has a first surface 12a and a second surface 12b, and an input / output pad 4 formed at an inner peripheral edge of the first semiconductor chip 2. Substrate connected to the second electrical connecting means is provided.

여기서, 상기 섭스트레이트는 구리(Cu) 또는 철(Fe) 계열의 리드(12)일 수 있으며, 상기 리드(12)는 상기 제1반도체칩(2)을 향하는 단부의 제1면(12a)에 할프에칭부(14)가 더 형성될 수 있다. 상기 할프에칭부(14)는 차후 설명할 봉지재(40)와의 결합 면적을 향상시키고 인터락킹(Interlocking) 효과를 유발하여 상기 리드(12)가 봉지재(40)에서 상,하,좌,우로의 이탈되는 현상을 방지한다.Here, the substrate may be a lead 12 of copper (Cu) or iron (Fe) series, and the lead 12 may be formed on the first surface 12a of an end portion facing the first semiconductor chip 2. Half etched portion 14 may be further formed. The half-etching portion 14 improves the bonding area with the encapsulant 40 to be described later, and causes an interlocking effect, so that the lead 12 moves up, down, left, and right in the encapsulant 40. To prevent the phenomenon of deviation.

상기 제1반도체칩(2)의 내주연에 형성된 입출력패드(4)와 섭스트레이트 즉, 리드(12)를 전기적으로 접속시키는 상기 제2전기적 접속수단은 골드와이어 또는 알루미늄와이어와 같은 도전성와이어(60)를 이용함이 바람직하다.The second electrical connection means for electrically connecting the input / output pad 4 formed on the inner circumference of the first semiconductor chip 2 and the substrate, i.e., the lead 12, is a conductive wire 60 such as a gold wire or an aluminum wire. Is preferably used.

이어서, 상기 제1반도체칩(2), 제2반도체칩(6), 제1전기적 접속수단(도전성범프(10) 또는 이방성전도필름), 제2전기적 접속수단(도전성와이어(60)) 및 섭스트레이트(리드(12))는 봉지재(40)로 봉지되어 있다.Subsequently, the first semiconductor chip 2, the second semiconductor chip 6, the first electrical connection means (the conductive bump 10 or the anisotropic conductive film), the second electrical connection means (the conductive wire 60) and the sub The straight (lead 12) is sealed with the sealing material 40.

상기 봉지재(40)는 에폭시몰딩컴파운드(Epoxy Molding Compound) 또는 상기 언더필에 이용된 액상봉지재(30)(예를 들면, Glop Top)가 이용될 수 있다.The encapsulant 40 may be an epoxy molding compound or a liquid encapsulant 30 (eg, Glop Top) used in the underfill.

한편, 상기 제1반도체칩(2)은 제1면(2a)을 봉지재(40) 외부로 노출시켜 그 방열 성능을 더욱 향상시킬 수 있다.Meanwhile, the first semiconductor chip 2 may further expose the first surface 2a to the outside of the encapsulant 40 to further improve its heat dissipation performance.

마찬가지로, 상기 제2반도체칩(6)의 제2면(6b) 역시 봉지재(40) 외부로 노출되도록 하여 그 방열 성능을 더욱 더 향상시킬 수 있다.(도시되지 않음)Similarly, the second surface 6b of the second semiconductor chip 6 may also be exposed to the outside of the encapsulant 40 to further improve its heat dissipation performance (not shown).

또한, 상기 제1반도체칩(2)의 제1면(2a) 및/또는 제2반도체칩(6)의제2면(6b)에는 도전성 부재를 더 부착하여 그 방열 성능을 향상시킬 수도 있다.(도시되지 않음)In addition, a conductive member may be further attached to the first surface 2a of the first semiconductor chip 2 and / or the second surface 6b of the second semiconductor chip 6 to improve its heat dissipation performance. Not shown)

더불어, 상기 섭스트레이트 즉, 리드(12)의 제1면(12a) 역시 봉지재(40) 외부로 노출됨으로써, 이 노출된 면이 차후 마더보드의 소정 패턴에 실장 가능하게 된다.In addition, since the first surface 12a of the lead 12, that is, the lead 12, is also exposed to the outside of the encapsulant 40, the exposed surface may be later mounted on a predetermined pattern of the motherboard.

한편, 상기 제1반도체칩(2)의 제2면(2b) 높이는 상기 섭스트레이트(리드(12))의 제2면(12b) 높이 보다 작게 형성됨으로써, 제2전기적 접속수단(도전성와이어(60))의 루프하이트가 최소화된다.On the other hand, since the height of the second surface 2b of the first semiconductor chip 2 is smaller than the height of the second surface 12b of the substrate (lead 12), the second electrical connection means (conductive wire 60) The loop height of)) is minimized.

또한, 상기 제1반도체칩(2)의 제1면(2a)과 섭스트레이트(리드(12))의 제1면(12a) 및 봉지재(40)의 일면은 동일면을 이루고 있다.In addition, the first surface 2a of the first semiconductor chip 2 and the first surface 12a of the substrate (lead 12) and one surface of the encapsulant 40 form the same surface.

도3은 본 발명의 제2실시예에 의한 반도체패키지(102)를 도시한 단면도이다. 여기서, 본 발명의 제2실시예는 제1실시예와 유사하므로 그 차이점만을 설명하기로 한다.3 is a cross-sectional view showing a semiconductor package 102 according to a second embodiment of the present invention. Here, since the second embodiment of the present invention is similar to the first embodiment, only the differences will be described.

도시된 바와 같이 제1반도체칩(2) 및 제2반도체칩(6)의 상호 접속 구조는 본 발명의 제1실시예에 의한 반도체패키지(101)와 같다. 다만, 본 발명의 제2실시예는 제1반도체칩(2)의 외주연에 섭스트레이트로서 리드(12) 대신 회로기판(16)이 위치되어 있다.As shown, the interconnection structure of the first semiconductor chip 2 and the second semiconductor chip 6 is the same as that of the semiconductor package 101 according to the first embodiment of the present invention. However, in the second embodiment of the present invention, the circuit board 16 is positioned on the outer circumference of the first semiconductor chip 2 instead of the leads 12 as the substrate.

상기 회로기판(16)은 수지층(18), 테이프 또는 필름중 선택된 어느 하나를 기본층으로 하여 그 제2면(16b)에 도전성 회로패턴(20)이 형성되어 있다. 상기 도전성 회로패턴(20)은 구리(Cu) 계열의 박막이다.The circuit board 16 has a conductive circuit pattern 20 formed on the second surface 16b of which the resin layer 18, tape or film is selected as a base layer. The conductive circuit pattern 20 is a thin film of copper (Cu) series.

상기 회로패턴(20)은 제1반도체칩(2)의 소정 영역까지 연장되어 그 제1반도체칩(2)의 입출력패드(4)에 직접 접속되어 있다.The circuit pattern 20 extends to a predetermined region of the first semiconductor chip 2 and is directly connected to the input / output pad 4 of the first semiconductor chip 2.

또한, 상기 회로기판(16)은 상기 회로패턴(20) 일정영역이 제1면(16a)을 통하여 외측으로 오픈(Open)되도록 수지층(18)에 다수의 통공(22)이 형성되어 있다. 상기 통공(22)에는 상기 회로패턴(20)과 전기적으로 접속되며 차후 마더보드에 실장되도록 솔더볼과 같은 도전성볼(50)이 융착되어 있다.In addition, the circuit board 16 has a plurality of through holes 22 formed in the resin layer 18 so that the predetermined region of the circuit pattern 20 is opened outward through the first surface 16a. The through hole 22 is electrically connected to the circuit pattern 20 and a conductive ball 50 such as a solder ball is welded to be mounted on a motherboard later.

상기와 같이 회로기판(16)을 이용했을 경우에는 회로기판(16)의 제2면(16b)에 형성된 회로패턴(20)을 직접 제1반도체칩(2)의 입출력패드(4)에 본딩함으로써, 본 발명의 제1실시예와 같은 도전성와이어(60)가 필요없게 된다. 따라서 반도체패키지(102)의 구조가 단순해지고 그 제조 공정수가 감소된다.In the case where the circuit board 16 is used as described above, the circuit pattern 20 formed on the second surface 16b of the circuit board 16 is directly bonded to the input / output pad 4 of the first semiconductor chip 2. The conductive wire 60, like the first embodiment of the present invention, is not required. Therefore, the structure of the semiconductor package 102 is simplified and the number of manufacturing processes thereof is reduced.

또한, 상기 섭스트레이트로서, 수지층을 기본층으로 제1면에는 볼랜드를, 제2면에는 본드핑거를 포함하는 회로패턴이 형성된 회로기판(도시되지 않음)을 이용할 수도 있다.In addition, as the substrate, a circuit board (not shown) having a resin layer as a base layer and a circuit pattern including a borland on a first surface and a bond finger on a second surface may be used.

도4a 내지 도4f는 본 발명의 제1실시예에 의한 반도체패키지(101)의 제조 방법을 도시한 설명도이고, 도5a 내지 도5g는 본 발명의 제2실시예에 의한 반도체패키지(102)의 제조 방법을 도시한 설명도로서 이를 참조하여 본 발명에 의한 반도체패키지(101,102)의 제조 방법을 설명하면 다음과 같다.4A to 4F are explanatory views showing a method of manufacturing the semiconductor package 101 according to the first embodiment of the present invention, and FIGS. 5A to 5G are semiconductor packages 102 according to the second embodiment of the present invention. The manufacturing method of the semiconductor packages 101 and 102 according to the present invention will be described with reference to this as an explanatory diagram showing a manufacturing method of the present invention.

1. 반도체칩 상호 접속 단계로서, 제1면(2a)과 제2면(2b)을 가지며, 상기 제2면(2b)의 중앙부 및 내주연에는 다수의 입출력패드(4)가 형성된 제1반도체칩(2)을 구비하고, 또한 제1면(6a)과 제2면(6b)을 가지며, 상기 제1면(6a)에는 다수의입출력패드(8)가 형성된 제2반도체칩(6)을 구비하며, 상기 제1반도체칩(2)의 중앙부에 형성된 입출력패드(4)와 제2반도체칩(6)의 입출력패드(8)를 제1전기적 접속수단으로 상호 접속한다.(도4a 및 도5a 참조)1. A semiconductor chip interconnection step, comprising: a first semiconductor having a first surface (2a) and a second surface (2b), and having a plurality of input / output pads (4) formed at a central portion and an inner circumference of the second surface (2b). A second semiconductor chip 6 having a chip 2, and having a first surface 6a and a second surface 6b, and having a plurality of input / output pads 8 formed thereon. And the input / output pad 4 formed in the center of the first semiconductor chip 2 and the input / output pad 8 of the second semiconductor chip 6 are interconnected by first electrical connection means. See 5a)

여기서, 상기 제1전기적 접속수단은 솔더범프, 골드범프, 도전성 에폭시로 코팅된 골드범프, 리드리스 솔더 범프와 같은 도전성범프(10), 또는 이방성전도필름중 선택된 어느 하나가 이용될 수 있다.Here, the first electrical connection means may be any one selected from solder bumps, gold bumps, gold bumps coated with conductive epoxy, conductive bumps 10 such as leadless solder bumps, or anisotropic conductive films.

상기 제1반도체칩(2) 또는 제2반도체칩(6)의 입출력패드(4,8)중 어느 한쪽의 입출력패드(4,8)에는 니켈/금(Ni/Au) 돌기가 형성된 후 제1전기적 접속수단으로 상호 접속될 수도 있다.Nickel / gold (Ni / Au) protrusions are formed on one of the input / output pads 4 and 8 of the input / output pads 4 and 8 of the first semiconductor chip 2 or the second semiconductor chip 6. It may be interconnected by electrical connection means.

상기 제1반도체칩(2)과 제2반도체칩(6)이 제1전기적 접속수단으로 접속된 후에는 그 접속 강도 등을 향상시키기 위해 상기 제1전기적 접속수단이 액상봉지재(30)로 언더필될 수도 있다.(도4b 및 도5b참조)After the first semiconductor chip 2 and the second semiconductor chip 6 are connected by the first electrical connection means, the first electrical connection means is underfilled with the liquid encapsulant 30 in order to improve the connection strength and the like. (See Figs. 4B and 5B).

2. 섭스트레이트 및 접착테이프 제공 단계로서, 제1면(12a,16a)과 제2면(12b,16b)을 가지며, 상기 제1반도체칩(2) 및 제2반도체칩(6)의 외주연에 위치되어 차후 마더보드에 실장 가능한 섭스트레이트를 구비하고, 상기 섭스트레이트의 제1면(12a,16a)과 상기 제1반도체칩(2)의 제1면(2a)이 동일면이 되도록 일체의 접착테이프(70)를 상기 섭스트레이트의 제1면(12a,16a) 및 제1반도체칩(2)의 제1면(2a)에 접착한다.2. Substrate and adhesive tape providing step, having a first surface (12a, 16a) and a second surface (12b, 16b), the outer periphery of the first semiconductor chip (2) and the second semiconductor chip (6) Integrally bonded so that the first surface 12a, 16a of the substrate and the first surface 2a of the first semiconductor chip 2 are flush with each other. The tape 70 is adhered to the first surfaces 12a and 16a of the substrate and the first surface 2a of the first semiconductor chip 2.

여기서, 상기 섭스트레이트는 구리 또는 철 계열로서, 상기 제1반도체칩(2)을 향하는 단부의 제1면(2a)에는 할프에칭부(14)가 형성된 리드(12)를 이용할 수있다.(도4c 참조)Here, the substrate is copper or iron-based, and a lead 12 having a half etched portion 14 may be used on the first surface 2a of the end portion facing the first semiconductor chip 2. 4c)

또한, 상기 섭스트레이트는 수지층(18)을 기본층으로 하여, 상기 수지층(18) 상에는 도전성 회로패턴(20)이 형성되어 있고, 상기 회로패턴(20)의 단부는 상기 제1반도체칩(2)의 입출력패드(4)에 직접 접속 가능하게 되어 있으며, 상기 회로패턴(20)의 일정영역은 제1면(16a)을 통하여 외측으로 오픈되도록 다수의 통공(22)이 더 형성된 회로기판(16)을 이용할 수도 있다.(도5c 참조)In addition, the substrate has a resin layer 18 as a base layer, and a conductive circuit pattern 20 is formed on the resin layer 18, and an end portion of the circuit pattern 20 is formed on the first semiconductor chip ( The circuit board 20 is directly connected to the input / output pad 4 of FIG. 2, and a plurality of through holes 22 are further formed so that a predetermined region of the circuit pattern 20 is opened to the outside through the first surface 16a. 16) may be used (see FIG. 5C).

한편, 상기 제1반도체칩(2)의 제2면(2b) 높이는 상기 섭스트레이트의 제2면 (12b,16b) 높이보다 작은 것을 구비함으로써, 차후 상기 제1반도체칩(2)과 섭스트레이트 사이의 루프하이트가 최소화도록 함이 바람직하다.On the other hand, the height of the second surface 2b of the first semiconductor chip 2 is smaller than the height of the second surface 12b, 16b of the substratum, so that the distance between the first semiconductor chip 2 and the substratum is It is desirable to minimize the loop height of.

3. 제2전기적 접속 단계로서, 상기 제1반도체칩(2)의 내주연에 형성된 입출력패드(4)와 상기 섭스트레이트(리드(12)의 제2면(12b)) 사이를 제2전기적 접속수단으로 접속한다.3. A second electrical connection step, comprising: a second electrical connection between the input / output pad 4 formed on the inner circumference of the first semiconductor chip 2 and the substrate (second surface 12b of the lead 12). Connect by means.

여기서, 상기 섭스트레이트로서 리드(12)를 이용했을 경우에는 골드와이어 또는 알루미늄와이어와 같은 도전성와이어(60)를 이용할 수 있다.(도4d 참조)In this case, when the lead 12 is used as the substrate, a conductive wire 60 such as gold wire or aluminum wire can be used. (See FIG. 4D.)

또한, 섭스트레이트로서 회로기판(16)을 이용했을 경우에는 회로기판(16)에 형성된 회로패턴(20)을 제1반도체칩(2)의 입출력패드(4)에 직접 접속할 수도 있다.(도5d 참조)When the circuit board 16 is used as the substrate, the circuit pattern 20 formed on the circuit board 16 can be directly connected to the input / output pad 4 of the first semiconductor chip 2 (FIG. 5D). Reference)

여기서, 상기 회로기판(16)의 회로패턴(20)을 제1반도체칩(2)의 입출력패드(4)에 접속하는 방법은 주지된 바와 같이 탭본딩, 리드본딩 또는 갱본딩 방법 등을 이용함으로써 그 본딩 시간을 최소화할 수 있다.Here, the method of connecting the circuit pattern 20 of the circuit board 16 to the input / output pad 4 of the first semiconductor chip 2 may be performed by using a tap bonding, a lead bonding or a gang bonding method, as is well known. The bonding time can be minimized.

4. 봉지 단계로서, 상기 접착테이프(70) 상의 제1반도체칩(2), 제2반도체칩(6), 섭스트레이트를 에폭시몰딩컴파운드 또는 액상 봉지재와 같은 봉지재(40)로 봉지한다.(도4e 및 도5e 참조)4. In the encapsulation step, the first semiconductor chip 2, the second semiconductor chip 6, and the substrate on the adhesive tape 70 are encapsulated with an encapsulant 40 such as an epoxy molding compound or a liquid encapsulant. (See Figures 4e and 5e)

이때, 상기 제2반도체칩(6)의 제2면(6b)은 봉지재(40) 외측으로 노출되도록 하여 방열 성능을 향상시킬 수 있다.(도시되지 않음)In this case, the second surface 6b of the second semiconductor chip 6 may be exposed to the outside of the encapsulant 40 to improve heat dissipation performance.

5. 접착테이프 제거 단계로서, 상기 제1반도체칩(2), 봉지재(40) 및 섭스트레이트 일면에서 접착테이프(70)를 제거한다.(도4f 및 도5f 참조)5. As a step of removing the adhesive tape, the adhesive tape 70 is removed from one surface of the first semiconductor chip 2, the encapsulant 40 and the substrate (see FIGS. 4F and 5F).

여기서, 상기와 같이 접착테이프(70)가 제거된 후에는 상기 제1반도체칩(2)의 제1면(2a)에 도전성부재를 더 부착하여 그 방열 성능을 더욱 향상시킬 수도 있다.(도시되지 않음)Here, after the adhesive tape 70 is removed as described above, a conductive member may be further attached to the first surface 2a of the first semiconductor chip 2 to further improve its heat dissipation performance. Not)

여기서, 섭스트레이트로서 리드(12)를 이용했을 경우에는 상기 리드(12)의 제1면(2a)이 직접 마더보드에 실장 가능한 형태가 된다.In this case, when the lead 12 is used as the substrate, the first surface 2a of the lead 12 may be directly mounted on the motherboard.

한편, 섭스트레이트로서 회로기판(16)을 이용했을 경우에는 상기 회로기판(16)에 형성된 통공(22)에 솔더볼과 같은 도전성볼(50)을 융착한다.(도5g 참조)On the other hand, when the circuit board 16 is used as the substrate, the conductive balls 50 such as solder balls are fused to the through holes 22 formed in the circuit board 16 (see Fig. 5G).

상기와 같은 단계가 완료된 후에는 통상적인 마킹을 수행하고, 상기와 같은 섭스트레이트가 일렬 또는 행과 열을 갖는 매트릭스형일 경우에는 싱귤레이션 단계를 통하여 낱개의 반도체패키지로 분리하게 된다.After the above steps are completed, the conventional marking is performed. When the substrate has a matrix or a matrix having rows and columns, the semiconductor package is separated into a single semiconductor package through a singulation step.

이상에서와 같이 본 발명은 비록 상기의 실시예에 한하여 설명하였지만 여기에만 한정되지 않으며, 본 발명의 범주 및 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러가지로 변형된 실시예도 가능할 것이다.As described above, although the present invention has been described with reference to the above embodiments, the present invention is not limited thereto, and various modified embodiments may be possible without departing from the scope and spirit of the present invention.

따라서, 본 발명에 의한 반도체패키지 및 그 제조 방법에 의하면 섭스트레이트(리드 또는 회로기판) 두께에 의해 제1반도체칩의 두께가 상쇄됨으로써 전체적으로 두께가 얇은 반도체패키지를 얻을 수 있다.Therefore, according to the semiconductor package and the method of manufacturing the same according to the present invention, the thickness of the first semiconductor chip is canceled by the thickness of the substrate (lead or circuit board), thereby obtaining a semiconductor package having a thin thickness as a whole.

또한, 제1반도체칩 및/또는 제2반도체칩의 어느 한 면이 봉지재 외측으로 노출됨으로써 방열 성능이 우수한 반도체패키지를 얻을 수 있다.In addition, a semiconductor package having excellent heat dissipation performance can be obtained by exposing one surface of the first semiconductor chip and / or the second semiconductor chip to the outside of the encapsulant.

더구나, 상기 제1반도체칩(또는 제2반도체칩)의 노출된 면에는 도전성 부재를 더 부착함으로써 그 방열 성능을 더욱 향상시킬 수 있다.Furthermore, by further attaching a conductive member to the exposed surface of the first semiconductor chip (or the second semiconductor chip), its heat dissipation performance can be further improved.

또한, 제1반도체칩과 제2반도체칩을 플립칩 형태로 접속시킴으로써 종래 루프 하이트로 인한 와이어 스위핑이나 와이어 쇼트 등의 문제를 해결할 수 있다.In addition, by connecting the first semiconductor chip and the second semiconductor chip in the form of a flip chip, problems such as wire sweeping or wire short due to the conventional loop height can be solved.

또한, 가격이 저렴한 리드, 회로기판 등을 이용하여 반도체패키지를 제조 함으로써 저가의 반도체패키지를 얻을 수 있다.In addition, a low cost semiconductor package can be obtained by manufacturing a semiconductor package using inexpensive leads, circuit boards, and the like.

또한, 섭스트레이트로서 회로기판을 이용할 경우 상기 회로기판에 형성된 도전성 회로패턴을 제1반도체칩의 입출력패드에 탭본딩, 리드본딩 또는 갱본딩 기술을 이용하여 직접 접속함으로써 반도체패키지의 제조 시간을 단축할 수 있다.In addition, when a circuit board is used as a substrate, a semiconductor package can be shortened by directly connecting a conductive circuit pattern formed on the circuit board to an input / output pad of a first semiconductor chip using tap bonding, lead bonding, or gang bonding technology. Can be.

Claims (15)

제1면과 제2면을 가지며, 상기 제2면의 중앙부 및 내주연에는 다수의 입출력패드가 형성된 제1반도체칩과;A first semiconductor chip having a first surface and a second surface, and having a plurality of input / output pads formed at a central portion and an inner circumference of the second surface; 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제1면에는 다수의 입출력패드가 형성되어 있으며, 상기 입출력패드는 제1전기적 접속수단에 의해 상기 제1반도체칩의 중앙부에 형성된 입출력패드에 접속된 제2반도체칩과;It has a first surface and a second surface, a plurality of input and output pads are formed on the first surface, the input and output pads are connected to the input and output pads formed in the center of the first semiconductor chip by the first electrical connection means 2 semiconductor chip; 상기 제1반도체칩의 외주연에 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제1반도체칩의 내주연에 형성된 입출력패드와 제2전기적 접속수단으로 연결된 섭스트레이트와;A substrate having a first surface and a second surface on an outer circumference of the first semiconductor chip and connected to an input / output pad formed on an inner circumference of the first semiconductor chip and a second electrical connection means; 상기 제1반도체칩, 제2반도체칩, 제1전기적 접속수단, 제2전기적 접속수단 및 섭스트레이트를 봉지하는 봉지재를 포함하여 이루어진 반도체패키지.A semiconductor package comprising an encapsulant for encapsulating the first semiconductor chip, the second semiconductor chip, the first electrical connection means, the second electrical connection means, and the substrate. 제1항에 있어서, 상기 제1전기적 접속수단은 솔더범프, 골드범프, 도전성 에폭시로 코팅된 골드범프, 리드리스(Leadless) 솔더 범프, 이방성전도필름(ACF, Anisotropic Conductive Film)중 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The method of claim 1, wherein the first electrical connection means is any one selected from solder bumps, gold bumps, gold bumps coated with conductive epoxy, leadless solder bumps, and anisotropic conductive films (ACF). A semiconductor package, characterized in that. 제1항에 있어서, 상기 제1반도체칩과 제2반도체칩 사이의 제1전기적 접속수단은 액상 봉지재로 언더필(Underfill)된 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The semiconductor package of claim 1, wherein the first electrical connection means between the first semiconductor chip and the second semiconductor chip is underfilled with a liquid encapsulant. 제1항에 있어서, 상기 제1반도체칩은 제1면이 봉지재 외부로 노출된 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The semiconductor package of claim 1, wherein the first semiconductor chip is exposed to the outside of the encapsulant. 제1항 또는 제4항에 있어서, 상기 제1반도체칩의 제1면에는 열방출용 도전성 부재가 더 부착되고, 상기 제2반도체칩은 제2면이 봉지재 외부로 노출된 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The heat dissipating conductive member is further attached to the first surface of the first semiconductor chip, and the second surface of the second semiconductor chip is exposed to the outside of the encapsulant. Semiconductor Package. 제1항에 있어서, 상기 섭스트레이트는 제1면이 봉지재 외부로 노출된 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The semiconductor package of claim 1, wherein the substrate has a first surface exposed to the outside of the encapsulant. 제1항에 있어서, 상기 제2전기적 접속수단은 도전성와이어인 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The semiconductor package according to claim 1, wherein the second electrical connection means is a conductive wire. 제1항에 있어서, 상기 섭스트레이트는 금속성의 리드인 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The semiconductor package of claim 1, wherein the substrate is a metallic lead. 제1항에 있어서, 상기 섭스트레이트는 수지층을 기본층으로 제1면에는 볼랜드를, 제2면에는 본드핑거를 포함하는 회로패턴이 형성된 회로기판인 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The semiconductor package according to claim 1, wherein the substrate is a circuit board having a circuit pattern including a resin layer as a base layer, a borland on a first surface, and a bond finger on a second surface. 제1항에 있어서, 상기 섭스트레이트는 수지층을 기본층으로, 제2면에는 제1반도체칩의 입출력패드와 직접 접속되는 도전성 회로패턴이 형성된 회로기판인 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The semiconductor package of claim 1, wherein the substrate is formed of a resin layer as a base layer, and a second surface thereof is a circuit board having a conductive circuit pattern directly connected to an input / output pad of a first semiconductor chip. 제10항에 있어서, 상기 회로기판은 상기 회로패턴의 일정영역이 제1면을 통하여 외측으로 오픈되도록 수지층에 다수의 통공이 형성되어 있고, 상기 통공에는 상기 회로패턴과 전기적으로 접속되며 차후 마더보드에 실장되는 도전성볼이 융착된 것을 특징으로 하는 반도체패키지.The circuit board of claim 10, wherein the circuit board has a plurality of through-holes formed in the resin layer such that a predetermined region of the circuit pattern is opened outwardly through the first surface, and the through-holes are electrically connected to the circuit pattern. A semiconductor package characterized in that the conductive ball is mounted on the board is fused. 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제2면의 중앙부 및 내주연에는 다수의 입출력패드가 형성된 제1반도체칩을 구비하고, 또한 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제1면에는 다수의 입출력패드가 형성된 제2반도체칩을 구비하며, 상기 제1반도체칩의 중앙부에 형성된 입출력패드와 제2반도체칩의 입출력패드를 제1전기적 접속수단으로 상호 접속하는 단계와;A first semiconductor chip having a first surface and a second surface, the first semiconductor chip having a plurality of input / output pads formed at a central portion and an inner circumference of the second surface, and having a first surface and a second surface; A second semiconductor chip having a plurality of input / output pads formed thereon, and interconnecting the input / output pad formed at the center of the first semiconductor chip with the input / output pad of the second semiconductor chip with first electrical connection means; 제1면과 제2면을 가지며, 상기 제1반도체칩 및 제2반도체칩의 외주연에 위치되어 차후 마더보드에 실장 가능한 섭스트레이트를 구비하고, 상기 섭스트레이트의 제1면과 상기 제1반도체칩의 제1면이 동일면이 되도록 일체의 접착테이프를 상기 제1섭스트레이트 및 제1반도체칩의 제1면에 접착하는 단계와;It has a first surface and a second surface, and provided with a substrate that is located on the outer periphery of the first semiconductor chip and the second semiconductor chip to be mounted on the motherboard later, the first surface and the first semiconductor of the substrate Bonding an integral adhesive tape to the first substrate and the first surface of the first semiconductor chip such that the first surface of the chip is the same surface; 상기 제1반도체칩의 내주연에 형성된 입출력패드와 상기 섭스트레이트를 제2전기적 접속수단으로 접속하는 단계와;Connecting the input / output pad formed on the inner circumference of the first semiconductor chip and the substrate with second electrical connection means; 상기 접착테이프 상의 제1반도체칩, 제2반도체칩, 섭스트레이트를 봉지재로 봉지하는 단계를 포함하여 이루어진 반도체패키지의 제조 방법.Method of manufacturing a semiconductor package comprising the step of encapsulating the first semiconductor chip, the second semiconductor chip, the substrate on the adhesive tape with an encapsulant. 제12항에 있어서, 상기 제1반도체칩과 제2반도체칩이 제1전기적 접속수단으로 접속된 후에는 상기 제1전기적 접속수단이 액상 봉지재로 언더필됨을 특징으로 하는 반도체패키지의 제조 방법.The method of manufacturing a semiconductor package according to claim 12, wherein after the first semiconductor chip and the second semiconductor chip are connected by the first electrical connection means, the first electrical connection means is underfilled with a liquid encapsulant. 제12항에 있어서, 상기 봉지 단계후에는 봉지재 외부로 노출된 제1반도체칩의 제1면에 열방출용 도전성 부재가 더 부착됨을 특징으로 하는 반도체패키지의 제조 방법.The method of claim 12, wherein after the encapsulating, the heat-dissipating conductive member is further attached to the first surface of the first semiconductor chip exposed to the outside of the encapsulant. 제12항에 있어서, 상기 제1반도체칩의 제2면 높이는 상기 섭스트레이트의 제2면 높이보다 작은 것이 이용됨을 특징으로 하는 반도체패키지의 제조 방법.The method of claim 12, wherein the height of the second surface of the first semiconductor chip is smaller than the height of the second surface of the substrate.
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