KR200179993Y1 - 패키지 테스트 장치 - Google Patents

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KR200179993Y1
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이규호
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Abstract

1. 청구범위에 기재된 고안이 속한 기술분야
패키지 테스트 장치
2. 고안이 해결하려고 하는 기술적 요지
본 고안은 패키지 소자의 고온 테스트시 패키지 소자에 직접 열을 전달하여 패키지 소자의 주변환경을 정확하게 설정할 수 있는 패키지 테스트 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
3. 고안의 해결 방법의 요지
본 고안은 내부 공간이 형성되는 하우징; 상기 하우징의 내부 공간에 장착되며, 히터가 내장되어 상기 하우징의 내부를 고온으로 설정하여주는 방열수단; 상기 방열수단의 히터에 소정 온도의 열원을 제공하는 수단; 상기 방열수단의 일측에 설치되어 패키지 소자의 주변온도를 감지하는 수단; 및 상기 감지수단의 신호를 인가 받아 방열수단에서 발산되는 열을 설정온도로 조절하는 수단을 포함하는 패키지 테스트 장치를 제공한다.
4. 고안의 중요한 용도
본 고안은 패키지 소자의 특성 테스트시 상기 소자에 고온의 주변 환경을 정확하게 설정하여 줌으로써, 상기 테스트의 신뢰도를 높일 수 있는 것임.

Description

패키지 테스트 장치
본 고안은 패키지 테스트시 주변환경을 설정하는 패키지 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 패키지를 고온에서 테스트할 때 별도의 보조장치 없이 패키지 소자의 주변 환경을 정확하게 설정하므로써 테스트의 신뢰도를 향상시킴과 동시에 보조장치 운영시의 예방정비 및 운영시간을 단축시킨 패키지 테스트 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 현재 PC 또는 워크 스테이션(work-station) 등에 사용되는 기억 소자의 동작특성을 측정하고자 할 경우에는, 주변환경을 저온 또는 실온 또는 고온으로 설정하여 여러 가지 주변환경에 대한 테스트를 하여야 하며, 상기 실온상태에서의 테스트시에는 보조장치가 필요하지 않았으나, 상기 저온 또는 고온의 주변환경을 설정하여 주기 위해서는 보조장치가 요구되었다.
참고로, 상기 주변환경을 고온으로 설정하여 주는 써머스트림(thermostream)을 종래 기술에 따른 보조장치로하여 간략히 설명한다.
여기서, 상기 써머스트림은 일정한 압력을 가진 공기를 받아들여 히터를 거쳐 뜨거워진 공기를 패키지 소자의 주변으로 불어주므로써 고온 환경을 만들어 주는 장치이다.
상기와 같은 보조장치는 패키지 소자의 주변으로 넓은 범위에 걸쳐 고온 환경을 만들어 공급하게 된다.
그러나, 상기한 바와 같은 일반적인 패키지 테스트 장치는, 써머스트림이 패키지 소자 주변으로 폭넓은 고온 환경을 설정하므로써 패키지 소자에 정확한 설정 온도를 공급하는 것이 힘들고, 테스터 및 인터페이스 보드(interface board)와 같은 주변기기가 설정된 고온의 주변 환경으로 인하여 손상되는 문제점이 있었다.
또한, 상기 주변기기의 손상을 방지하기 위하여 테스트시에는 항상 작업자가 지켜보아야 하며, 보조장치 운영에 필요한 운영 요원과 예방 정비 및 정비 요원이 항시 대기를 하고 있어야 한다는데 다른 문제점이 있었다.
따라서, 본 고안은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 패키지 소자의 고온 테스트시 패키지 소자에 직접 열을 전달하여 패키지 소자의 주변환경을 정확하게 설정할 수 있는 패키지 테스트 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 본 고안에 따른 패키지 테스트 장치의 일실시예 구성을 나타낸 사시도.
도 2는 본 고안에 따른 패키지 테스트 장치의 분해 사시도.
도 3은 본 고안에 따른 패키지 테스트 장치의 받침대를 나타낸 사시도.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
10 : 하우징 11 : 전원 커넥터
12 : 센서 커넥터 13 : 개구부
20 : 손잡이 30 : 방열판
40 : 온도센서 50 : 받침대
60 : 패키지 소자 61 : 패키지 소켓
상기 목적을 달성하기 위하여 본 고안은, 테스트할 패키지 소자를 위치시키기 위한 내부 공간이 형성되는 하우징; 상기 하우징의 내부 공간에 장착되며, 히터가 내장되어 상기 하우징의 내부를 고온으로 설정하여주는 방열수단; 상기 방열수단의 히터에 소정 온도의 열원을 제공하는 수단; 상기 방열수단의 일측에 설치되어 패키지 소자의 주변온도를 감지하는 수단; 및 상기 감지수단의 신호를 인가 받아 상기 방열수단에서 발산되는 열을 설정온도로 조절하는 수단을 포함하는 패키지 테스트 장치를 제공한다..
이하, 첨부된 도1 내지 도3을 참조하여 본 고안의 구성 및 작용을 상세히 설명하면 다음과 같다.
도1에 도시된 바와 같이, 본 고안의 패키지 테스트 장치는, 일측면에 전원 커넥터(11) 및 센서 커넥터(12)가 설치되며 하측에 개구부(13)가 형성된 박스체의 형상으로 이루어진 하우징(10)과, 상기 하우징(10)의 양측면에 설치되는 절연재의 손잡이(20)와, 상기 하우징(10)의 내부공간에 위치되어 열을 발산하는 히터(도시되지 않음)가 내장된 방열판(30)과, 상기 방열판(30)의 일측에 설치되는 온도센서(40)를 포함한다. 그리고, 상기 전원 커넥터(11)를 통하여 방열판(30)에 내장된 히터에 전원을 공급하며 센서 커넥터(12)를 통하여 온도센서(40)의 감지신호를 받아 방열판(30) 주변의 온도를 조절하는 온도 조절 제어부(100)가 구비된다.
또한, 도3에 도시된 바와 같이, 상기 테스트가 끝날 경우에, 하우징(10)을 보관할 수 있도록 내열성이 큰 물질로 이루어진 받침대(50)가 별도로 구비된다.
여기서, 상기 하우징(10)은 방열판(30)으로부터 발산되는 열에 의하여 손상되지 않도록 내열성이 큰 물질로 형성되고, 상기 하우징(10)의 내부공간은 패키지 소자(60)가 수용되는 공간으로써, 하우징(10)의 하부면에는 상기 수용된 패키지 소자(60)와 접촉하게 된다.
상기와 같은 구성을 갖는 하우징(10)은 패키지 소자(60)의 크기에 맞추어 형성되며, 온도 조절 제어부(100)에서 설정된 온도로 열을 발산하는 방열판(30)으로부터 패키지 소자(60)로 열을 전달하므로써 상기 소자(60)에 열응력을 인가하는 부분이다.
그러면, 상기한 구성으로 이루어진 본 고안의 패키지 테스트 장치의 작용상태를 도2를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 사각 형상으로 이루어진 패키지 소자(60)가 수용되는 패키지 소켓(61)을 방열판(30)의 하측, 즉 하우징(10)의 하부면과 접촉하도록 위치시킨 후에, 상기 온도 조절 제어부(100)로부터 전원 커넥터(11)를 통하여 방열판(30)에 내장되어 있는 히터에 전력을 공급하게 되면, 상기 히터에서 열을 발산하게 되어 패키지 소자(60)의 주변 환경을 고온으로 만들어주게 되며, 이때 상기 패키지 소자(60)의 주변 온도는 방열판(30)의 일측에 위치되어 있는 온도센서(40)에서 감지되어 센서 커넥터(12)를 통하여 온도 조절 제어부(100)에 전기적인 신호로 전달되며, 상기 온도는 테스트의 필요에 따라 조절된다.
그리고, 테스트가 끝나게 되면, 상기 패키지 소자(60) 및 패키지 소켓(61)을 하우징(10)으로부터 꺼낸 후에, 상기 하우징(10)이 고온이므로 작업자가 손잡이(20)를 잡아 받침대(50)로 옮겨 보관하게 된다.
이상에서 설명한 본 고안은 전술한 실시예 및 도면에 의해 한정되는 것은 아니고, 본 고안의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함은 본 고안이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
상기한 바와 같은 본 고안에 따른 패키지 테스트 장치는, 패키지 소자의 주변 환경을 정확하게 설정하여주므로, 고온으로 설정된 패키지 소자의 주변 환경으로 인하여 주변기기의 손상을 방지할 수 있으며, 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 고온 테스트를 하기위한 보조장치가 필요치 않게됨과 동시에, 상기 보조장치의 운영을 위한 운영 요원, 예방 정비 및 정비 요원이 필요치 않게되므로 테스트를 위한 비용이 감소되는 다른 효과가 있다.

Claims (4)

  1. 테스트할 패키지 소자를 위치시키기 위한 내부 공간이 형성되는 하우징;
    상기 하우징의 내부 공간에 장착되며, 히터가 내장되어 상기 하우징의 내부를 고온으로 설정하여주는 방열수단;
    상기 방열수단의 히터에 소정 온도의 열원을 제공하는 수단;
    상기 방열수단의 일측에 설치되어 패키지 소자의 주변온도를 감지하는 감지수단; 및
    상기 감지수단의 신호를 인가 받아 방열수단에서 발산되는 열을 설정온도로 조절하는 수단
    을 포함하는 패키지 테스트 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 하우징의 양측면에 구비되는 손잡이를 더 포함하는 패키지 테스트 장치.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 하우징의 손잡이가 위치될 수 있는 홀이 형성되는 패키지 테스트 장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 하우징 및 받침대가 내열성 재질로 형성되는 패키지 테스트 장치.
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