KR20010059032A - 내부 전압 발생장치 - Google Patents

내부 전압 발생장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20010059032A
KR20010059032A KR1019990066410A KR19990066410A KR20010059032A KR 20010059032 A KR20010059032 A KR 20010059032A KR 1019990066410 A KR1019990066410 A KR 1019990066410A KR 19990066410 A KR19990066410 A KR 19990066410A KR 20010059032 A KR20010059032 A KR 20010059032A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
internal
voltage
internal voltage
level
driven
Prior art date
Application number
KR1019990066410A
Other languages
English (en)
Inventor
서정원
Original Assignee
박종섭
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박종섭, 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 박종섭
Priority to KR1019990066410A priority Critical patent/KR20010059032A/ko
Publication of KR20010059032A publication Critical patent/KR20010059032A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/462Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
    • G05F1/465Internal voltage generators for integrated circuits, e.g. step down generators
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/143Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/145Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
    • G11C5/146Substrate bias generators
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/147Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명의 내부전압 발생 장치는 내부 생성 전압(VPP, VBB)이 내부 전압의 변동에 영향을 받지 않도록 내부 생성 전압(VPP, VBB)의 레벨 검출기에 별도의 내부 전압 드라이버를 구비하여 안정된 동작을 할 수 있고, 불필요한 파워 소모를 방지할 수 있다.

Description

내부 전압 발생장치{Internal voltage generating device}
본 발명은 내부 전압 발생 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 내부 생성 전압(VPP 또는 VBB)이 내부 전압의 변동에 영향을 받지 않도록 내부 생성 전압(VPP 또는 VBB)의 레벨 검출기에 별도의 내부 전압 드라이버를 구비하여 안정된 동작을 할 수 있고, 불필요한 파워 소모를 방지할 수 있는 내부 전압 발생장치에 관한 것이다.
도 1 은 종래 기술의 내부 전압 발생 장치를 구비한 반도체 메모리 장치의 개념도로써, 여기서는 내부 승압전압(VPP)을 생성하기 위한 회로 구성을 예를 들어 설명한다. 이에 도시된 바와 같이, 외부 공급 전압(VEXT)에 의해 내부 전압(VINT)을 발생시키는 내부 전압 발생부(1)와, 상기 내부 전압(VINT)을 구동 하기 위한 내부전압 드라이버(2)와, 상기 내부 전압 드라이버(2)에 의해 구동된 내부 전압(VINT)에 의해 구동되어 데이터를 저장하는 뱅크(또는, 메모리 셀 블록일 수도 있슴.)(3)와, 상기 내부 전압 드라이버(2)에 의해 구동된 내부전압(VINT)에 의해 구동되어 내부 승압 전압(VPP)의 레벨을 검출하는 내부 승압 전압 레벨 검출부(4)와, 상기 내부 승압 전압 레벨 검출부(4)의 출력신호(VPPEN)에 의해 외부 공급전압(VEXT)에 의해 구동되어 내부 승압전압(VPP)을 발생시키는 내부 승압전압 펌핑부(5)를 포함하여 구성된다.
상기 내부 전압 드라이버(2)는 상기 내부 전압 발생부(1)의 기준전압(VR)과 내부 전압(VINT)을 비교하는 비교부(2-1)와, 상기 비교부(2-1)의 출력신호에 의해 내부 전압(VINT)이 기준전압(VR)보다 낮아지면 외부 공급전압(VEXT)을 인가하여 내부 전압(VINT)의 레벨을 높이는 피모스 트랜지스터(PM)를 구비하여 구성된다.
여기서는 내부 승압 전압(VPP)을 생성하기 위한 반도체 메모리 장치의 개념도를 예를 들어 설명하였지만, 내부 웰 바이어스 전압(VBB)을 생성하기 위한 반도체 메모리 장치의 개념도도 상기와 동일한 구성요소를 구비하여 구성되고, 상기 내부 승압 전압 펌핑부(5)는 내부 웰 바이어스 전압(VBB)을 펌핑하기 위해 제어된다.
이와 같이 구성된 종래 기술의 내부전압 발생 장치를 구비한 반도체 메모리 장치의 동작을 설명하면 다음과 같다.
상기 뱅크(3)에 사용되는 내부 전압(VINT)에 의해 상기 내부 승압전압 레벨 검출부(4)가 구동되어 내부 전압(VINT) 레벨에 일시적인 변동이 생기면 즉시 내부 승압전압(VPP) 레벨에 변동이 발생된다.
내부 전압 발생부(1)엣 생성된 기준 전압(VR)을 기준으로 내부 전압 드라이버(2)가 동작하여 내부 전압(VINT)이 생성되고, 그 내부 전압(VINT)은 뱅크 또는 주변 회로의 전원(power)으로 사용된다.
내부 전압(VINT)을 기준으로 내부 승압전압(VPP)의 레벨을 결정하는 내부 승압 전압 레벨 검출부(4)는 내부 승압 전압 펌핑부(5)의 동작을 제어하는 신호(VPPEN)을 생성한다.
일반적으로 뱅크(3)가 활성화 또는 프리차지 동작을 할 때, 내부 전압(VINT)에 변동이 발생하고, 내부 전압 드라이버(2)는 내부 전압(VINT) 레벨이 기준 전압(VR) 보다 낮아지면, 상기 피모스 트랜지스터(PM)를 구동하여 기준전압(VR) 레벨에 내부 전압(VINT) 레벨을 맞추게 된다.
도 2 는 외부 공급전압(VEXT)에 대한 내부 생성 전압들(VINT, VPP, VBB)의 관계를 보인 파형도로써, 내부 전압(VINT) 레벨에 따라 내부 생성 전압(VPP 또는 VBB)의 레벨이 결정된다.
도 3 은 내부 전압(VINT)의 일시적인 변동이 발생하였을 때, 내부 생성 전압(VPP 또는 VBB)의 변동을 보인 파형도로써, 내부 전압(VINT)의 레벨이 일시적으로 변동하면, 이를 기준으로 하는 내부 생성 전압(VPP 또는 VBB)도 동일하게 변동이 발생한다. 여기서 도 3 은 시스템에 사용된 메모리의 내부 생성 전압을 오실로스코프로 관찰하여 얻어낸 파형도이다.
이와 같이 종래 기술의 반도체 메모리 장치에서는 뱅크에서 사용되는 내부 전압(VINT)을 기준으로 내부 생성 전압(VPP 또는 VBB)이 만들어 졌다. 그러나 이와 같이 내부 전압(VINT)을 기준으로 생성된 전압은 내부 전압(VINT)에 의해 소자가 구동될 때, 전압 레벨이 변동이 생길 때마다 내부 생성 전압(VPP 또는 VBB)도 변동이 발생하여 반도체 메모리 장치의 안정된 동작을 보장할 수 없게 되는 문제점이 발생하였다.
이와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 내부 생성전압 검출부에 별도의 내부전압 드라이버를 구비하여 뱅크의 사용에 의해 발생하는 내부전압의 변동이 상기 내부 생성전압 검출부에 전달되지 않도록하여 내부 전압의 일시적인 변동에 영향을 받지 않고, 항상일정한 내부 생성 전압 레벨을 유지할 수 있는 전압 생성 회로를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 내부 전압 발생 장치는,
외부 공급 전압에 의해 복수개의 내부 전압의 레벨을 각각 설정하는 복수개의 기준 전압을 발생시키는 복수개의 내부 전압 발생부와,
상기 내부 전압 발생부의 기준전압 레벨에 내부 전압 레벨을 맞추기 위한 복수개의 내부전압 드라이버와,
상기 내부 전압 드라이버에 의해 구동된 임의의 내부전압에 의해 구동되어 데이터를 저장하는 뱅크와,
상기 다른 임의의 내부전압에 의해 구동되어 내부 생성 전압의 레벨을 검출하는 내부 생성 전압 레벨 검출부와,
상기 내부 생성 전압 레벨 검출부의 출력신호에 의해 외부 공급전압에 의해 구동되어 내부 생성 전압을 발생시키는 내부 생성 전압 펌핑부를 포함하여 구성되어,
상기 뱅크에 공급되는 내부전압과 상기 내부 생성전압 레벨 검출부에 공급되는 내부전압이 서로다른 내부 전압 드라이버에 의해 구동되는 것을 특징으로 한다.
상술한 목적 및 기타의 목적과 본 발명의 특징 및 이점은 첨부도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통해 보다 분명해 질 것이다.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1 은 종래 기술의 내부 전압 발생 장치를 구비한 반도체 메모리 장치의 구성도.
도 2 는 도 1 의 반도체 메모리 장치에 있어서, 외부 공급 전압(VEXT)에 대한 내부 전압(VINT, VBB, VPP)들의 관계를 보인 파형도.
도 3 은 도 1 의 반도체 메모리 장치에 있어서, 내부 전압(VINT)의 일시적인 변동에 대한 내부 승압 전압(VPP) 및 내부 웰 바이어스 전압(VBB)의 변동을 보인 파형도.
도 4 는 본 발명에 따른 일실시예의 내부 전압 발생 장치를 구비한 반도체 메모리 장치의 구성도.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >
10 : 내부전압 발생부
21 : 제1 내부전압 드라이버
22 : 제2 내부전압 드라이버
23 : 제1 비교부
24 : 제2 비교부
30 : 뱅크(메모리 셀 블록)
40 : 내부 승압전압 레벨 검출부
50 : 내부 승압전압 펌핑부
PM1, PM2 : 피모스 트랜지스터
NM : 엔모스 트랜지스터
도 4 는 본 발명에 따른 내부 전압 발생 회로를 구비한 반도체 메모리의 일실시예를 보인 개념도로써, 여기서는 내부 승압전압(VPP)을 생성하기 위한 회로 구성을 예를 들어 설명한다. 이에 도시된 바와 같이, 외부 공급 전압(VEXT)에 의해 내부 전압(VINT)을 발생시키는 내부 전압 발생부(10)와, 상기 내부 전압 발생부(10)의 기준전압(VR) 레벨에 제1 내부 전압(VINT1) 레벨을 맞추기 위한 제1 내부전압 드라이버(21)와, 상기 제1 내부 전압 드라이버(21)에 의해 구동된 제1 내부 전압(VINT1)에 의해 구동되어 데이터를 저장하는 뱅크(메모리 셀 블록)(30)와, 상기 내부 전압 발생부(10)의 기준전압(VR) 레벨에 제2 내부 전압(VINT2) 레벨을 맞추기 위한 제2 내부전압 드라이버(22)와, 상기 제2 내부전압 드라이버(22)에 의해 구동된 제2 내부전압(VINT2)에 의해 구동되어 내부 승압 전압(VPP)의 레벨을 검출하는 내부 승압 전압 레벨 검출부(40)와, 상기 내부 승압 전압 레벨 검출부(40)의 출력신호(VPPEN)에 의해 외부 공급전압(VEXT)에 의해 구동되어 내부 승압전압(VPP)을 발생시키는 내부 승압전압 펌핑부(50)와, 상기 제2 내부 전압(VINT2)라인에 게이트가 접속되고, 소오스와 드레인이 공통 접속되어 접지라인(VSS)에 접속된 엔모스 트랜지스터(NM)로 구성된 캐패시터(60)를 포함하여구성된다.
상기 제1, 제2 내부전압 드라이버(21, 22)는 상기 내부 전압 발생부(10)의 기준전압(VR)과 각각 제1, 제2 내부전압(VINT1, VINT2)을 비교하여 그 비교결과를 출력하는 제1, 제2 비교부(23, 24)와, 상기 제1, 제2 비교부(23, 24)의 출력신호에 의해 각각 제어되어 외부 공급전압(VEXT)에 의해 제1, 제2 내부전압(VINT1, VINT2) 레벨을 조절하기 위해 소오스에 외부 공급전압(VEXT)이 인가되고, 드레인이 상기 제1, 제2 내부전압(VINT1, VINT2) 라인에 각각 접속되고, 게이트에 상기 제1, 제2 비교부(23, 24)의 출력이 각각 인가되는 제1, 제2 피모스 트랜지스터(PM1, PM2)를 포함하여 구성된다.
여기서는 내부 승압 전압(VPP)을 생성하기 위한 반도체 메모리 장치의 개념도를 예를 들어 설명하였지만, 내부 웰 바이어스 전압(VBB)을 생성하기 위한 반도체 메모리 장치의 개념도도 상기와 동일한 구성요소를 구비하여 구성되고, 상기 내부 승압 전압 펌핑부(50)는 내부 웰 바이어스 전압(VBB)을 펌핑하기 위해 제어된다.
상기 내부전압 발생부(10)에서 생성된 기준전압(VR)을 기준으로 제1 내부전압 드라이버(21)는 제1 내부전압(VINT1)을 생성한다. 상기 제1 내부전압 드라이버(21)에 의해 생성된 제1 내부전압(VINT1)은 뱅크(30) 또는 주변 회로의 전원(power)으로 사용된다.
마찬가지로 기준전압(VR)을 기준으로 제2 내부전압 드라이버(22)는 제2 내부전압(VINT2)을 생성한다. 상기 제2 내부전압 드라이버(22)에 의해 생성된 제2 내부전압(VINT2)은 내부 승압전압 레벨 검출부(40)의 전원으로 사용된다. 이와 같이 내부 승압전압 레벨 검출부(40)의 전원을 제1 내부전압(VINT1)과 분리함으로써, 일시적인 제1 내부전압(VINT1)의 변동에 상관없이 항상 기준전압(VR)을 기준으로 내부 승압전압(VPP)을 생성할 수 있다.
제2 내부전압(VINT2)과 접지전압(VSS) 사이에 엔모스 트랜지스터(NM)로 구성된 캐패시터(60)를 구비하여 더욱 안정된 제2 내부 전압(VINT2) 레벨을 유지할 수 있다.
일반적으로 내부 승압전압 레벨 검출부(40)에서 소모하는 전류는 매우 작으므로, 제2 내부 전압(VINT2)을 생성하는 제2 내부전압 드라이버(22)는 작은 구동능력을 가져도 상관 없다.
또한 필요에 따라 2개 이상의 내부전압 발생부를 구비하는 경우, 제1 기준전압(VR1)과 제2 기준전압(VR2)을 생성하여 제1 기준전압(VR)은 제1 내부전압 드라이버(21)에 입력되어 뱅크(30) 또는 주변회로를 구동하기 위해 사용되고, 제2 기준전압(VR2)은 제2 내부전압 드라이버(22)에 입력되어 내부 승압전압 레벨 검출부(40)를 구동하기 위해 사용될 수 있다. 이러한 경우, 제1 내부전압(VINT1)과 제2 내부 전압(VINT2) 레벨은 다른 값을 가질 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 내부 생성 전압(VPP 또는 VBB)의 레벨 검출부에 별도의 내부전압 드라이버를 구비하여 뱅크에서 사용하는 내부전압의 잡음이 전달되지 않도록 하여 내부전압의 일시적인 변동에 영향을 받지 않고, 항상일정한 내부 생성 전압 레벨을 유지하도록하기 때문에, 시스템이 안정적으로 동작할 수 있고, 시스템의 불필요한 전력 소모를 방지할 수 있는 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 외부 공급 전압에 의해 복수개의 내부 전압의 레벨을 각각 설정하는 복수개의 기준 전압을 발생시키는 복수개의 내부 전압 발생부와,
    상기 내부 전압 발생부의 기준전압 레벨에 내부 전압 레벨을 맞추기 위한 복수개의 내부전압 드라이버와,
    상기 내부 전압 드라이버에 의해 구동된 임의의 내부전압에 의해 구동되어 데이터를 저장하는 뱅크와,
    상기 다른 임의의 내부전압에 의해 구동되어 내부 생성 전압의 레벨을 검출하는 내부 생성 전압 레벨 검출부와,
    상기 내부 생성 전압 레벨 검출부의 출력신호에 의해 외부 공급전압에 의해 구동되어 내부 생성 전압을 발생시키는 내부 생성 전압 펌핑부를 포함하여 구성되어,
    상기 뱅크에 공급되는 내부전압과 상기 내부 생성전압 레벨 검출부에 공급되는 내부전압이 서로다른 내부 전압 드라이버에 의해 구동되는 것을 특징으로 하는 내부 전압 발생 장치.
  2. 상기 제 1 항의 내부 전압 발생 장치에 있어서,
    상기 내부전압 드라이버는,
    상기 내부 전압 발생부의 기준전압과 내부전압을 비교하여 그 비교결과를 출력하는 비교수단과, 상기 비교수단의 출력신호에 의해 제어되어 외부 공급전압에 의해 내부전압 레벨을 조절하는 조절 수단을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 내부 전압 발생 장치.
  3. 상기 제 2 항의 내부 전압 발생 장치에 있어서,
    상기 조절 수단은, 소오스에 외부 공급전압이 인가되고, 드레인이 상기 제1 내부전압 라인에 연결되고, 게이트에 상기 비교수단의 출력이 인가되어 제어되는 모스 트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 내부 전압 발생장치.
  4. 상기 제 1 항의 내부 전압 발생 장치에 있어서,
    상기 제2 내부전압 라인과 접지전압 라인 사이에 연결된 캐패시터를 추가로 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 내부 전압 발생 장치.
  5. 상기 제 4 항의 내부 전압 발생 장치에 있어서,
    상기 캐패시터는 상기 제2 내부 전압 라인에 게이트가 접속되고, 소오스와 드레인이 공통 접속되어 접지라인에 접속된 모스 트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 내부전압 발생 장치.
  6. 상기 제 1 항의 내부 전압 발생 장치에 있어서,
    상기 내부 생성 전압은 내부 승압전압 또는 내부 웰 바이어스 전압인 것을특징으로 하는 내부전압 발생 장치.
KR1019990066410A 1999-12-30 1999-12-30 내부 전압 발생장치 KR20010059032A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990066410A KR20010059032A (ko) 1999-12-30 1999-12-30 내부 전압 발생장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990066410A KR20010059032A (ko) 1999-12-30 1999-12-30 내부 전압 발생장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20010059032A true KR20010059032A (ko) 2001-07-06

Family

ID=19633548

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990066410A KR20010059032A (ko) 1999-12-30 1999-12-30 내부 전압 발생장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20010059032A (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100713083B1 (ko) * 2005-03-31 2007-05-02 주식회사 하이닉스반도체 내부전원 생성장치
KR100728904B1 (ko) * 2005-12-28 2007-06-15 주식회사 하이닉스반도체 전압 발생기 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치
US7639547B2 (en) 2006-12-27 2009-12-29 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device for independently controlling internal supply voltages and method of using the same

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100713083B1 (ko) * 2005-03-31 2007-05-02 주식회사 하이닉스반도체 내부전원 생성장치
US7450439B2 (en) 2005-03-31 2008-11-11 Hynix Semiconductor Inc. Apparatus for generating internal voltage
KR100728904B1 (ko) * 2005-12-28 2007-06-15 주식회사 하이닉스반도체 전압 발생기 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치
US7538600B2 (en) 2005-12-28 2009-05-26 Hynix Semiconductor Inc. Voltage generator and semiconductor memory apparatus with the same
US7639547B2 (en) 2006-12-27 2009-12-29 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device for independently controlling internal supply voltages and method of using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100383769B1 (ko) 펌핑 전압 레귤레이션 회로
US6002599A (en) Voltage regulation circuit with adaptive swing clock scheme
KR100455376B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 네거티브 전압 발생기
KR100386085B1 (ko) 고전압 발생회로
US6384672B2 (en) Dual internal voltage generating apparatus
US20050030086A1 (en) Negative voltage generator for a semiconductor memory device
JPH10283786A (ja) 半導体装置の内部電圧供給回路
KR0127318B1 (ko) 백바이어스전압 발생기
KR100586545B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 오실레이터용 전원공급회로 및 이를이용한 전압펌핑장치
KR20100064853A (ko) 반도체 소자의 내부전압 발생기
KR100889312B1 (ko) 반도체 소자의 문턱전압 검출부 및 검출방법, 이를 이용한내부전압 생성회로
KR20090103623A (ko) 내부전압 발생 장치
KR100416792B1 (ko) 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 전압 발생방법
KR20010059032A (ko) 내부 전압 발생장치
KR20060110045A (ko) 전압 강하 회로
KR100379555B1 (ko) 반도체 소자의 내부 전원 발생기
KR100940826B1 (ko) 네거티브 전압 생성 장치
KR20050052891A (ko) 내부전원 발생장치
KR0165385B1 (ko) 반도체 메모리장치의 스탠바이 내부전원전압 발생회로
KR20030002508A (ko) 안정적인 승압 전압을 발생시킬 수 있는 반도체 메모리장치의 승압 전압 발생 회로
KR100475896B1 (ko) 고전압레귤레이션회로
KR100904736B1 (ko) 내부전압 생성회로
KR20070056443A (ko) 고전압 발생 장치
KR20070003240A (ko) 승압 전압 생성 회로
KR100186307B1 (ko) 내부 전원전압 보상회로

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination