KR20010004051A

KR20010004051A - 액정패널의 플리커 측정방법 및 장치

Info

Publication number: KR20010004051A
Application number: KR1019990024642A
Authority: KR
Inventors: 이마무라겐이치; 모리오카다카유키
Original assignee: 오오마츠 시게루; 리더 덴시 가부시키 가이샤
Priority date: 1999-06-18
Filing date: 1999-06-28
Publication date: 2001-01-15
Also published as: JP2001004446A; TW434410B; KR100540366B1

Abstract

본 발명은 플리커값의 직접 판독을 가능하게 하는 액정패널 플리커 측정방법을 제공한다.

이를 위하여 피측정대상 액정패널(1)의 표면의 휘도를 검지(10)하여 휘도신호를 얻는다. 이 얻은 휘도 신호를 정규화(22)하고, 그 정규화한 휘도신호의 AC 성분(23)으로부터 플리커값를 발생(24)한다.

Description

액정패널의 플리커 측정방법 및 장치{APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING FLICKERS OF LIQUID CRYSTAL PANEL}

본 발명은 액정패널의 플리커측정에 관한 것이다.

종래, 생산라인 등에 있어서는 액정패널의 조정을 위하여 스펙트럼 애널라이저를 사용하여 액정패널의 플리커값의 측정을 행하고 있다. 구체적으로는 액정패널의 스크린면상에 배치한 광센서에 의하여 액정패널의 휘도를 검지하고, 그리고 이 검지한 휘도신호를 스펙트럼 애널라이저에 입력하여 그 휘도신호의 스펙트럼표시를 행하게 한다. 액정패널은 그 개체차(백라이트 밝기의 플리커) 및 검사에 사용하는 화상패턴의 평균휘도에 의하여 패널면 휘도가 다르기 때문에, 플리커값의 측정에 있어서는, 이 표시 스펙트럼중의 DC 성분의 값, 즉 패널면 휘도성분(V_dc)과 표시스펙트럼의 AC 성분(30 Hz)의 피크-피크치, 즉 플리커성분(V_f)을 판독하고, 그리고 이들 비, 즉 V_f/ V_dc를 계산할 필요가 있다. 이 계산한 비가 플리커값가 된다.

상기 종래의 측정법에서는 액정패널의 개체차 등 때문에 개개의 액정패널마다 V_dc와 V_f의 두 값을 판독하면, 이들 비의 연산을 행하지 않으면 안되고, 측정자에게 있어서 번거로운 작업으로 되어 있다. 또 설비로서 고가인 스펙트럼 애널라이저가 필요하였다.

따라서, 본 발명의 목적은 플리커값의 측정을 용이하게 행할 수 있는 액정패널 플리커측정의 방법 및 장치를 제공하는 것이다.

도 1은 본 발명에 의한 액정패널 플리커값 측정장치의 블록도,

도 2는 도 1의 장치의 동작을 나타내는 파형도,

도 3은 도 1의 장치내의 자동이득 제어회로의 상세를 나타내는 회로도이다.

※도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 액정패널 10 : 광센서

21 : 증폭기 22 : 자동이득제어(AGC)회로

23 : AC 성분 분리회로 24 : 검파회로

30 : 표시기 V_a: 패널면 휘도성분

V_dc: 패널면 휘도성분 V_f: 플리커성분

V_r: 기준치 V_n: 정규화한 휘도신호

220, 222 : 연산 증폭기 V_dc' : 정규화한 패널면 휘도성분

V_f' : 정규화한 플리커성분 R3, C : 저대역통과 필터

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 액정패널의 플리커 측정방법은, 가) 피측정대상의 액정패널의 표면의 휘도를 검지하여 휘도신호를 얻는 스텝과, 나) 그 휘도신호를 정규화하는 스텝과, 다) 그 정규화한 휘도신호의 AC 성분으로부터 플리커값를 발생하는 스텝으로 이루어진다.

본 발명에 의하면, 상기 정규화 스텝은 상기 휘도신호를 자동이득 제어함으로써, 상기 휘도신호의 DC 성분이 소정의 값이 되도록 하는 것을 포함할 수 있다.

또 본 발명에 의한 액정패널의 플리커 측정장치는, 가) 피측정대상의 액정패널의 표면의 휘도를 검지하여 휘도신호를 발생하는 검지수단과, 나) 상기 휘도신호를 받도록 접속하고 있고, 상기 액정패널의 플리커값를 발생하는 플리커값 발생회로로서, a) 상기 휘도신호를 자동이득 제어함으로써, 상기 휘도신호의 DC 성분이 소정의 값이 되도록 상기 휘도신호를 정규화하는 자동이득 제어회로와, b) 그 자동이득 제어회로의 출력으로부터의 정규화된 신호를 받아 그 신호로부터 AC 성분을 분리하여 얻는 AC 성분 분리회로와, c) 상기 AC 성분의 진폭으로부터 플리커값를 얻는 회로를 포함하는 상기한 플리커값 발생회로로 이루어진다.

다음에 본 발명의 실시형태에 관하여 이하에 도면을 참조하여 설명한다.

도 1은 본 발명에 의한 액정패널 플리커 측정장치를 블록도로 나타내고 있다. 이 플리커 측정장치는 측정대상의 액정패널(l)의 플리커값를 측정하는 것으로서, 도시한 바와 같이 액정패널(1)의 스크린에 배치하는 광센서(10)와 플리커값 발생회로(20)와 표시기(30)로 구성하고 있다. 플리커값 발생회로(20)는 증폭기(21)와 자동이득 제어(AGC)회로(22)와 AC 성분 분리회로(23)와 검파회로(24)로 구성하고 있다.

상세하게는 측정대상으로 삼는 액정패널(1)은 화소반전형, 라인반전형중의 어느 한 타입의 것이더라도 좋다. 이 액정패널의 스크린에 근접하여 배치하는 광센서(10)는 액정패널의 스크린면으로부터의 빛을 검지하여, 그 휘도를 나타내는 휘도신호를 출력으로 발생한다. 광센서(10)의 출력으로 입력이 접속된 증폭기(21)는, 광 센서(10)로부터의 휘도신호를 증폭한다. 이 시점에서의 휘도신호(Va)는, DC 성분과 AC 성분(주파수는 30 Hz)을 가지고 있고, DC 성분은 패널면 휘도성분(Vdc)이고, AC 성분은 플리커성분(V_f)이다. 이 일예를 도 2의(a)로 나타내고 있다. 이 증폭된 휘도신호는, AGC 회로(22)의 입력으로 인가되고, 그리고 AGC 회로(22)는 받은 증폭 휘도신호를 자동이득 제어 또는 스케일링에 의하여 기준치(Vr)에 대하여 정규화한다. 이 정규화한 휘도신호(Vn)의 일예를 도 2의 (b)로 나타내고 있고, 패널면 휘도성분은 V_dc', 그리고 플리커성분은 V_f'로 되어 있다. 이어서 AC 성분 분리회로 (23)의 입력에 주고, 그리고 이 회로(23)는 휘도신호로부터 이 신호중의 AC 성분을 필터링 등에 의하여 분리한다. 이 분리한 AC 성분은, 이어서 검파회로(24)로 검파함으로써, A-C 성분의 피크-피크치를 나타내는 DC 전압을 발생한다. 이 DC 전압은 이어서 표시기(30)에 인가하고, 그리고 이 전압에 의하여 플리커값를 표시한다.

본 발명의 이 액정패널 플리커 측정장치에 의하면, 상기한 바와 같이 플리커값가 직접표시되기 때문에, 종래의 측정법에 있어서와 같은 값의 판독 및 비의 계산이 불필요하게 되어 플리커값의 직접 판독을 할 수 있게 된다. 이 플리커값는 액정패널의 깜박거림의 조정을 위한 대향전극 입력전압(V_com)의 조절에 사용된다.

다음에 도 3을 참조하여, AGC 회로(22)의 일 실시형태에 관하여 설명한다. 도시한 바와 같이 AGC 회로(22)는, 연산증폭기(220)를 구비하고, 이 연산증폭기 (220)는 휘도신호(V_a)를 받는 비반전입력과, 정규화한 휘도신호(V_n)를 발생하는 출력단자를 가진다. 이 연산증폭기(220)에는 이 증폭기의 이득을 결정하는 저항기 (R1)와, 카드뮴셀과 같은 빛감지형의 가변저항기(R2)를 구비하고, 그 저항기 (R1)는 출력단자와 반전입력과의 사이에 접속하고, 가변저항기(R2)는 반전입력과 접지와의 사이에 접속하고 있다. 또 회로(22)는 연산증폭기(220)의 출력단자와 접지와의 사이에 접속한 저항기(R3)와 콘덴서(C)로 이루어지는 저대역 통과필터와, 이 저대역 통과필터의 출력을 받는 반전입력을 가지는 연산증폭기(222)를 구비하고 있다. 저대역 통과필터는 DC 성분은 통과시키나, 플리커 성분은 통과시키지 않도록 차단주파수를 설정한다. 연산증폭기(222)는 그 비반전입력이 기준전압(V_r)의 전원(224)에 접속하고, 그리고 출력단자가 발광다이오드(D)의 양극에 접속하고 있다. 이 다이오드의 음극은 접지에 접속하고 있다.

이 AGC 회로(22)의 동작은 이하와 같다. 즉 맨 처음에 휘도신호(V_a)의 DC 성분 즉 평균치가 기준전압(V_r)보다도 클 때, V_n의 DC 성분도 V_r보다도 크기 때문에 연산증폭기(222)의 출력은 더욱 음(-)이 되어 LED의 발광량이 감소하고, 이에 의하여 가변저항기(R2)의 저항이 증대한다. 이 증대에 의하여 연산증폭기(220)의 이득은 감소하여, V_n의 평균치를 저하시키도록 작용한다. 또 V_n의 평균치가 기준전압 (V_r)보다도 낮아졌을 때에는, 상기와는 반대로 작용하여 연산증폭기의 이득을 크게 하도록 작용한다. 이 피드백제어에 의하여 정규화 휘도전압(V_n)의 DC 성분은항상 기준전압(V_r)과 일치하게 된다. 이에 따라 휘도신호의 정규화를 행할 수 있다. 기준전압(V_r)을 예를 들어 0 dB 가 되는 값으로 설정하면, V_r'의 판독이 그대로 플리커값를 나타내에 되고, 이에 의하여 플리커값의 직접 판독이 가능해진다.

다음에 상기 본 발명의 일 실시형태에 대하여 이하와 같은 변경이 가능하다. 첫째로, 상기 실시형태에서는 휘도신호의 정규화를 아날로그 회로만을 사용하여 실현하고 있으나, 휘도신호(V_a)의 V_dc와 V_r을 검지한 후, 이들 값을 마이크로 컴퓨터 등을 사용하여 디지털적으로 처리함으로써도 본 발명의 정규화를 행할 수 있다. 둘째로, 상기 실시형태에서는 플리커값의 표시만을 행하나, 이 플리커값를 사용하여 V_com전압의 자동조정에 사용할 수도 있다.

이상, 본 발명에 의하면 플리커값의 직접 판독을 할수 있게 되고, 이에 따라 액정패널의 개체차 등에 기인한 액정패널마다 필요한 번거로운 판독 및 연산이 불필요하게 된다. 이 결과 액정패널의 생산라인 등에 있어서, 액정패널의 플리커값를 저비용으로 손쉽운 측정이 가능해진다.

Claims

액정패널의 플리커 측정방법으로서,

가) 피측정대상의 액정패널의 표면의 휘도를 검지하여 휘도 신호를 얻는 스텝과,

나) 상기 휘도신호를 정규화하는 스텝과,

다) 상기 정규화한 휘도신호의 AC 성분으로부터 플리커값를 발생하는 스텝으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정패널 플리커값 측정방법.
제 1항에 있어서,

상기 정규화 스텝은, 상기 휘도신호를 자동이득 제어함으로써, 상기 휘도신호의 DC 성분이 소정의 값이 되도록 하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정패널 플리커값 측정방법.
액정패널의 플리커 측정장치로서,

가) 피측정 대상의 액정패널의 표면의 휘도를 검지하여 휘도신호를 발생하는 검지수단과,

나) 상기 휘도신호를 받도록 접속되어 있고, 상기 액정패널의 플리커값를 발생하는 플리커값 발생회로로서,

a) 상기 휘도신호를 자동이득 제어함으로써, 상기 휘도신호의 DC 성분이 소정의 값이 되도록 상기 휘도신호를 정규화하는 자동이득 제어회로와,

b) 상기 자동이득 제어회로의 출력으로부터의 정규화된 신호를 받고, 상기 신호로부터 AC 성분을 분리하여 얻는 AC 성분 분리회로와,

c) 상기 AC 성분의 진폭으로부터 플리커값를 얻는 회로를 포함하는 상기 플리커값 발생회로로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정패널 플리커값 측정장치.