KR100237686B1

KR100237686B1 - 플리커 레벨 측정 방법 및 장치

Info

Publication number: KR100237686B1
Application number: KR1019970058439A
Authority: KR
Inventors: 김규석
Original assignee: 윤종용; 삼성전자주식회사
Priority date: 1997-11-06
Filing date: 1997-11-06
Publication date: 2000-01-15
Also published as: KR19990038619A; US6141092A

Abstract

액정 표시 장치 패널에 제1 전압을 인가하여 액정 표시 장치 패널로부터 빛이 나오도록 한 후, 액정 표시 장치 패널로부터 나오는 빛의 휘도 L을 감지하고, 감지된 휘도의 최대값 Lmax과 최소값 Lmin을 구한다. 이 휘도의 최대값 Lmax과 휘도의 최소값 Lmin을 휘도 L에 대한 망막의 반응 함수인 R(L)에 각각 대입하여 플리커 레벨인 R(Lmax)-R(Lmin) 값을 구한다. 여기서, 망막의 반응 함수 R(L)은 눈동자를 통과한 빛의 세기 TD(L)에 대한 함수이다.

Description

플리커 레벨 측정 방법 및 장치

본 발명은 플리커 레벨을 측정하는 방법 및 장치에 관한 것으로서, 특히 실제 사람의 눈으로 인식되는 플리커와 같은 경향성을 가지는 플리커 레벨의 측정 방법 및 장치에 관한 것이다.

액정 표시 장치(liquid crystal display; 이하 'LCD'라 함)는 두 기판 사이에 주입되어 있는 액정 물질에 전계를 인가하고, 이 전계의 세기를 조절하여 기판에 투과되는 빛의 양을 조절함으로써, 원하는 화상 신호를 얻는 표시장치이다.

구체적으로, 액정 물질에 인가되는 전계는 LCD 내에 마련된 공통 전극과 화소 전극에 각각 인가되는 공통 전압과 데이터 전압의 전압차에 의해 발생하며, 이 전계의 세기는 데이터 전압(또는 공통 전압)을 변화시킴으로써 조절한다.

이 때, 두 기판 사이에 있는 액정 물질에 전계가 계속해서 같은 방향으로 인가되면 액정이 열화되기 때문에, 액정에 인가되는 전계의 방향을 계속해서 바꿔주어야 한다. 즉, LCD의 데이터 전압에서 공통 전압을 뺀 값이 교대로 양의 값(이하 '양의 전압'이라 함)과 음의 값(이하 '음의 전압'이라 함)이 되도록 하여야 한다. 이와 같은 구동 방식을 반전 구동 방식이라 한다.

예컨대, 공통 전압에 대한 데이터 전압의 극성이 프레임 주기(일반적으로 60Hz)로 반전하는 프레임 반전에서는, 홀수의 프레임에서 양의 전압이 인가되며, 짝수의 프레임에서 음의 전압이 인가된다. 이 때, 상기한 양의 전압의 평균(root mean square; RMS)과 음의 전압의 평균은 같게 되도록 설정된다. 그러나, 실제 LCD에서는 화소에 존재하는 기생용량에 의해 킥백 전압이 발생하게 되므로, 양의 전압의 평균값과 음의 전압의 평균값이 다르게 된다. 따라서, 홀수 프레임에서 액정에 통과하는 빛의 밝기와 짝수 프레임에서 액정에 통과하는 빛의 밝기가 다르게 된다. 이에 따라 화면의 깜박거림 현상인 플리커(flicker)가 프레임 주파수(60Hz)의 1/2 (30Hz) 단위로 발생하게 된다.

종래에, 이와 같은 플리커는 애플사가 제시한 다음의 식1을 이용하여 측정하였다.

여기서, F는 플리커 레벨을 나타내며, Po와 Pf는 LCD 패널에서 나오는 빛의 직류 성분과 교류 성분(플리커 성분)의 진폭을 각각 나타낸다. 즉, 종래의 플리커 레벨 측정 방법에 의하면 플리커 레벨은 플리커 성분의 폭 대 빛의 직류 성분의 비로서 나타내어진다.

도1은 LCD 패널에서 나오는 빛의 Po 와 Pf를 나타낸 도면이다.

도1에서 가로축은 시간을 나타내며, 세로축은 LCD 패널에서 나오는 빛의 밝기(휘도)를 나타낸다. 도1에서 빛의 밝기는 시간에 대한 사인 함수를 이루는데, 사인 함수의 평균 값(DC 성분)이 Po이고, 사인 함수의 진폭이 Pf이다. 도1에서, Po는 Pf 보다 항상 크기 때문에 식1로 구해지는 플리커 레벨은 항상 음의 값이 된다.

식1에 의하면 플리커 레벨은 단순히 LCD 패널에서 나오는 빛의 밝기(직류 성분, 교류 성분)에 의해 결정되지만, 실제 사람이 인식하는 플리커의 정도는 LCD 패널에서 나오는 빛의 밝기 외에도 눈동자의 크기, 스크린의 크기, 시야 거리 등에도 영향을 받는다. 따라서, 식1에서 구한 플리커 레벨은 실제 사람이 인식하는 플리커와는 다른 경향성을 나타낸다.

이와 같이, 식1로 구한 플리커 레벨과 실제 사람이 인식하는 플리커 레벨이 다른 이유를 구체적으로 설명하면 다음과 같다.

표1은 공통 전압과 데이터 전압간의 전압차를 64개의 계조 레벨로 인가한 경우에 각각의 계조 레벨에 대한 Po, Pf와 식1에 의해 구해진 플리커 레벨을 나타낸다. 그리고, 도2는 표1의 결과로부터 구해지는 계조 레벨에 대한 플리커의 레벨을 나타내는 그래프이다.

계조 레벨	직류 성분(Po)	플리커 성분(Pf)	플리커 레벨(F)
1	0.83	0.01	-23.86
5	0.88	0.01	-22.03
9	1.01	0.02	-17.63
13	1.24	0.04	-14.87
17	1.83	0.05	-15.32
21	2.60	0.08	-15.35
25	3.88	0.11	-15.58
29	5.40	0.14	-15.85
33	7.52	0.19	-16.06
37	9.77	0.19	-17.02
41	12.55	0.17	-18.60
45	15.74	0.19	-19.18
49	19.35	0.16	-20.70
53	24.12	0.16	-21.85
57	28.80	0.06	-26.63
61	33.91	0.01	-38.02
64	34.84	0.01	-34.73

표1 및 도2에 나타낸 바와 같이, 식1에 의해 구해지는 종래의 플리커 레벨은 13 계조 부근에서 가장 큰 값을 나타내나, 실제 사람에 의해 인식되는 플리커 레벨은 도3을 참조해서 설명하는 다음의 이유에 의해 중간 계조 레벨 즉, 32계조 레벨에서 가장 크게 된다.

도3은 액정에 인가되는 전압(Va)에 대한 빛의 투과율(T)을 나타낸 그래프이다. 도3에서, 액정에 인가되는 전압(Va)이 문턱 전압(Vth) 이상인 경우에 액정에 빛이 투과되기 시작하며, 전압 Va가 증가함에 따라 빛의 투과율은 증가하게 된다.

그러나, 전압 Va가 포화 전압(Vsat) 이상으로 되는 경우에는 더 이상 빛의 투과율이 증가하지 않는다.

도3에서, 액정에 인가되는 전압(Va)이 문턱 전압(Vth)과 포화 전압(Vsat)의 중간 부근에 있는 경우에는, 전압 Va가 변함에 따라 빛의 투과율이 급격하게 변하게 된다. 즉, 중간 레벨의 전압 부근에서는 액정에 인가되는 전압이 미소하게 변하더라도 이 변화에 대응하는 빛의 투과량은 상당히 변하게 된다. 따라서, 사람은 중간 계조 전압 레벨에서 플리커의 영향을 가장 민감하게 인지한다.

이와 같이, 종래의 계산 방법에 의해 구해진 플리커 레벨은 실제 사람의 눈으로 인식하는 플리커와는 다른 경향성을 갖는다는 문제점이 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 실제 사람이 눈으로 인식하는 플리커와 같은 경향성을 나타내는 플리커 레벨을 측정하는 방법 및 장치를 제공하기 위한 것이다.

도1은 액정 표시 장치 패널에서 나오는 빛의 직류 성분과 플리커 성분을 나타내는 그래프이다.

도2는 표1의 결과로부터 구해지는 계조 레벨에 대한 플리커의 레벨을 나타내는 그래프이다.

도3은 액정에 인가되는 전압에 대한 빛의 투과율을 나타내는 그래프이다.

도4는 휘도와 망막에 도달한 빛의 세기의 상관 관계를 나타내는 그래프이다.

도5는 망막에 도달하는 빛의 세기와 망막의 반응성을 나타내는 도면이다.

도6은 휘도와 망막의 반응성을 나타내는 도면이다.

도7은 표2의 결과로부터 구해지는 계조 레벨에 대한 플리커의 레벨을 나타내는 그래프이다.

도8은 본 발명에 따른 플리커 레벨 측정 장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 플리커 레벨 측정 방법에 의하면, 우선 액정 표시 장치 패널에 제1 전압을 인가하여 액정 표시 장치 패널로부터 빛이 나오도록 한 후, 액정 표시 장치 패널로부터 나오는 빛의 휘도 L을 감지하고, 감지된 휘도의 최대값 Lmax과 최소값 Lmin을 구한다.

이 휘도의 최대값 Lmax과 휘도의 최소값 Lmin을 휘도 L에 대한 망막의 반응 함수인 R(L)에 각각 대입하여 플리커 레벨인 R(Lmax)-R(Lmin) 값을 구한다. 여기서, 망막의 반응 함수 R(L)은 눈동자를 통과한 빛의 세기 TD(L)에 대한 함수이며, 다음식으로 나타낼 수 있다.

여기서, A는 상수이며, 특히 1000인 것이 바람직하다.

TD(L)은 눈동자의 직경인 D(L)와 휘도 L로 나타낼 수 있으며, 그 식은 다음과 같다.

여기서, D(L)는 다음의 두 식중 어느 한식에 의해 나타낼 수 있다.

D(L)=10^{0.8558-0.000401(logL+8.6)3}

D(L)=4.9-3tanh[0.4(logL+1.0)]

또한, 제1 전압으로는 N개의 계조 레벨을 가지는 계조 전압을 인가하는 것이 바람직하며, 이 경우 N개의 계조 레벨 중 소정 수의 계조 레벨에 대한 각각의 플리커 레벨을 구한 후, 각각 구해진 플리커 레벨 중 최대값을 액정 표시 장치 패널의 플리커 레벨로 결정하는 것이 바람직하다.

한편, 본 발명에 따른 플리커 레벨 측정 장치에 의하면,

액정 표시 장치 패널로부터 나오는 빛의 휘도 L을 감지하기 위한 휘도 감지부와, 휘도 감지부에 의해 감지된 휘도 L로부터 휘도의 최대값 Lmax과 휘도의 최소값 Lmin을 판별하기 위한 최대 및 최소 휘도 판별부와, 휘도의 최대값 Lmax과 휘도의 최소값 Lmin을 휘도 L에 대한 망막의 반응 함수 R(L)에 대입하여, 플리커 레벨인 R(Lmax)-R(Lmin) 값을 구하는 플리커 레벨 결정부를 포함한다.

이하에서는, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.

사람의 눈은 외부의 모든 빛에 대하여 직접적으로 반응을 하는 것이 아니라, 눈동자를 통과한 빛에 대해서만 반응을 한다. 그런데, 사람의 눈동자는 빛의 광량에 따라 크기가 변하기 때문에 실제로 눈이 망막에 도달하는 빛의 세기는 외부의 빛의 세기와는 차이가 있다.

본 발명은 이와 같은 외부의 빛의 세기와 망막에 실제 도달하는 빛의 세기의 차이를 고려한 것이다.

휘도에 대한 눈동자의 크기(직경)는 Degroot and Gebhard에 의해 식2로 나타내어진다.

D(L)=10^{0.8558-0.000401(logL+8.6)3}

여기서, L은 휘도로서 그 단위는 cd/m²이며, D(L)는 휘도(L)에 대한 눈동자의 직경을 나타낸다.

식2에서 휘도가 증가할수록, 눈동자의 크기는 작아지는 것을 알 수 있다. 눈동자를 통과한 빛만이 망막에 도달하기 때문에, 눈동자를 통과하여 망막에 도달하는 빛의 세기(trolands)는 식3으로 구할 수 있다.

식2에서 구한 D(L)를 식3에 대입하면, 식3은 다음과 같이 된다.

여기서, TD(L)은 망막에 도달한 빛의 세기로서 휘도에 대한 함수이다.

도4는 휘도와 망막에 도달한 빛의 세기의 상관 관계를 나타내는 도면이다. 도4에서, 가로축은 휘도(L)의 로그값을 나타내며, 세로축은 망막에 도달하는 빛의 세기(TD(L))의 로그값을 나타낸다. 도 4로부터 알 수 있는 바와 같이 휘도가 약한 부분에서는 휘도와 망막에 도달하는 빛의 세기는 거의 선형적인 관계를 보이지만, 휘도가 강한 부분에서는 망막에 도달하는 빛의 세기는 일정하게 된다.

망막에 도달하는 빛은 망막 세포를 통해 전기적인 신호로 바뀌며, 이 전기 신호는 시신경을 통해 대뇌로 전달된다. 눈동자를 통과한 빛의 세기에 대한 전기신호 즉, 눈의 반응성은 식 5로 모델링할 수 있다.

식 5는 Michaelis-Menten 방정식으로서, R(L)은 망막의 반응성을 나타낸다. TD(L)은 식3 및 식4로 구해지는 망막에 도달하는 빛의 세기를 나타내며, A는 상수이다. 본 발명의 실시예에서 A는 1000으로 설정한다.

식4에서 구한 TD(L)을 식 5에 대입함으로써, 식6을 구할 수 있다.

식 6으로부터 구해지는, 망막에 도달한 빛의 세기(TD(L))와 휘도(L)에 대한 망막의 반응성(R(L))을 각각 도5와 도6에 도시하였다.

도5에서, 가로축은 망막에 도달한 빛의 세기(TD(L))의 로그값(log(TD(L))을 나타내며, 세로축은 망막의 반응성(R(L))을 나타낸다. 도5에 나타낸 바와 같이, 망막의 반응성은 log(TD(L)) 값이 약 1이하인 부분에서는 0에 근사하게 되고, log(TD(L)) 값이 5 이상인 부분에서는 1000에 근사하게 된다.

도6에서, 가로축은 휘도(L)의 로그값(logL)을 나타내며, 세로축은 망막의 반응성(R(L))을 나타낸다. 도6에서도 망막의 반응성은 logL값이 소정값 이하에서는 0에 근사한 값이 되고, 소정 값 이상에서는 1000에 근사한 값이 된다.

식6과 도6으로부터, 휘도가 진동할 때 즉, 휘도의 최대값과 최소값에서의 눈의 반응성의 차이를 구할 수 있으며, 본 발명에서는 이 값을 플리커 레벨로 정의한다. 식7은 본 발명에 의해 구해지는 플리커 레벨을 나타내는 식이다.

F=R(Lmax)-R(Lmin)=R(P0+Pf)-R(P0-Pf)

여기서, Lmax는 휘도의 최대값을 나타내며, Lmin은 휘도의 최소값을 나타낸다. 휘도의 최대값(Lmax)은 휘도의 직류 성분값(P0)과 플리커 성분의 진폭(Pf)의 합(P0+Pf)으로 나타낼 수 있으며, 휘도의 최소값(Lmin)은 휘도의 직류 성분값에다 플리커 성분의 진폭을 뺀값(P0-Pf)으로 나타낼 수 있다. 식6을 식7에 대입하면, 다음의 식이 된다.

식8로 나타내는 플리커 레벨 측정 방법으로 구한 결과를 표2에 나타낸다. 표2는 표1과 마찬가지로, 공통 전압과 데이터 전압간의 차이를 64개의 계조 레벨로 인가한 경우에 각각의 계조 레벨에 대한 Po, Pf와 식1에 의해 구해진 플리커 레벨을 나타낸다.

도7은 표2의 결과로부터 구해지는 계조 레벨에 대한 플리커의 레벨을 나타내는 그래프이다

계조레벨	직류성분(Po)	플리커성분(Pf)	Lmax	Lmin	플리커레벨(F)
1	0.83	0.01	0.84	0.82	0.12
5	0.88	0.01	0.89	0.87	0.19
9	1.01	0.02	1.03	0.99	0.55
13	1.24	0.04	1.28	1.20	1.18
17	1.83	0.05	1.88	1.78	1.30
21	2.60	0.08	2.68	2.52	1.56
25	3.88	0.11	3.99	3.77	1.81
29	5.40	0.14	5.54	5.26	1.99
33	7.52	0.19	7.71	7.33	2.22
37	9.77	0.19	9.96	9.58	2.00
41	12.55	0.17	12.72	12.38	1.55
45	15.74	0.19	15.93	12.55	1.49
49	19.35	0.16	19.51	19.19	1.14
53	24.12	0.16	24.28	23.96	0.95
57	28.80	0.06	28.86	28.74	0.34
61	33.91	0.01	33.92	33.90	0.03
64	34.84	0.01	34.85	34.83	0.06

도7에서, 플리커 레벨은 32 부근의 계조 레벨에서 플리커 레벨값이 가장 크게 되는 것을 알 수 있다. 이는 앞에서 설명한 바와 같이, 실제 사람이 눈으로 인식하는 플리커의 경향성과 거의 같게 된다.

상기한 실시예에서는 휘도(L)에 대한 눈의 직경(D(L))을 식2로 나타내었으나, Moon and Spenser에 의한 다음의 식으로 나타낼 수 있다.

D(L)=4.9-3tanh[0.4(logL+1.0)]

식9를 상기한 식3과 식5에 각각 대입함으로써, TD(L)과 R(L)을 각각 구할 수 있으며, 이들 식을 이용하여 플리커 레벨을 결정할 수 있다. 이와 같이 하여 측정한 플리커 레벨도 실재 사람이 인식하는 플리커의 경향성과 거의 같게 된다.

도8은 본 발명의 실시예에 따라 플리커 레벨을 측정하는 장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.

도8에서, LCD 패널 구동부(10)가 LCD 패널(20)에 연결되어 있으며, 이 LCD 패널 구동부(10)는 LCD 패널(20)을 구동하기 위한 각종 구동 전압을 LCD 패널에 인가한다. LCD 패널(20)에 인접한 곳에는 LCD 패널에서 나오는 휘도를 감지하기 위한 휘도 감지부(30)가 위치하고 있다. 휘도 감지부(30)는 측정하고자 하는 LCD 패널과 수직하게 위치하여, LCD 패널로부터 나오는 빛의 휘도를 감지한다. 빛의 휘도 측정은 LCD 패널 중 하나 이상의 위치에서 하는 것이 좋으며, 본 실시예에서는 LCD 패널의 중앙 부근과 4개의 모서리 부근에서 각각 휘도를 측정한다.

휘도 감지부(30)로부터 감지된 휘도는 최대 및 최소 휘도값 측정부(40)에 입력되어, 휘도값의 최대값(Lmax)과 최소값(Lmin)이 결정된다.

최대 및 최소 휘도값 측정부(40)로부터 결정된 휘도의 최대값(Lmax)과 최소값(Lmin)은 플리커 레벨 결정부(50)에 입력되며, 플리커 레벨 결정부(50)는 입력된 휘도의 최대값과 휘도의 최소값을 식8에 대입하여 플리커 레벨을 결정한다.

도8에 도시한 본 발명의 플리커 레벨 측정 장치에서는, LCD 패널 구동부(10)로부터 LCD 패널에 인가되는 계조 전압의 계조 레벨을 바꾸어 가면서 플리커 레벨을 측정하고, 측정된 플리커 레벨값이 가장 큰 값을 구하여 이 값을 LCD 패널의 플리커 레벨로 결정한다.

이하에서는, 플리커 레벨 측정 장치의 일예를 구체적으로 설명한다.

LCD 패널의 인접 부근에 휘도를 감지하기 위한 장치의 일종인 일본 토콘(TOCON)사의 계측기 BM-7을 배치한다. 이 BM-7은 LCD 패널로부터의 휘도(L)를 입력으로 받아 아날로그 전압 Vout을 출력으로 하며, 그 관계식은 다음과 같다.

Vout=0.0105×L

앞서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따라 플리커 레벨을 결정하기 위해서는 휘도의 최대값(Lmax)과 최소값(Lmin)을 알아야 하며, 휘도의 최대값과 최소값은 휘도의 직류 성분의 값(P0)과 휘도의 교류 성분(플리커 성분)의 진폭 값(Pf)을 이용해 구할 수 있다. 여기서, 휘도의 직류 성분(P0)은 주파수가 0Hz이며, 휘도의 교류 성분은 프레임 반전의 경우 주파수가 30Hz이다.

그러나, BM-7로부터 출력되는 전압(Vout)은 각각의 휘도(주파수)에 대한 전압으로 출력되는 것이 아니라, 모든 주파수 범위에 대한 합으로 표시되기 때문에, BM-7의 출력 전압으로부터 LCD 패널의 휘도값을 직접 측정할 수는 없다.

이에 따라, BM-7에 휴렛 패커드(HP)사의 계측기인 DSA(dynamic signal analyzer)(모델명: HP35665)을 연결하여 BM-7의 출력(Vout)을 DSA의 입력으로 한다. Vout을 DSA의 입력으로 할 때, DSA의 출력전압(Vrms)은 다음식으로 된다.

여기서, Vref는 기준 전압으로서, 본 계측기는 7.08(

)V이다.

DSA의 출력(Vrms)은 각각의 주파수에 대하여 출력되기 때문에, 이를 이용하여 각각의 휘도에 대한 전압 Vout을 구할 수 있다.

즉, 주파수가 0Hz인 DSA의 출력을 Vrms(0Hz)으로 하고, 주파수가 30Hz인 DSA의 출력을 Vrms(30Hz)라고 하면, 식11을 이용하여 Vout(0Hz),Vout(30Hz)를 다음과 같이 구할 수 있다.

,

이들 Vout(0Hz), Vout(30Hz)을 식10에 대입함으로써, L(0Hz)과 L(30Hz)을 각각 구할 수 있다. 여기서, L(0Hz)과 L(30Hz)은 각각 휘도의 직류 성분의 값과 교류 성분의 진폭값을 의미한다.

따라서, 이들 L(0Hz)과 L(30Hz)로부터 휘도의 최대값과 최소값을 구할 수 있으며, 휘도의 최대값과 최소값을 식8에 대입함으로써, 플리커 레벨을 측정할 수 있다.

상기한 바와 같이 본 발명에 의하면, LCD 패널의 빛에 대한 눈동자의 크기와 망막의 반응성을 고려하여 플리커 레벨을 측정하기 때문에 실제 사람이 눈으로 인식하는 플리커와 같은 경향성을 나타내는 플리커 레벨을 측정할 수 있다.

Claims

액정 물질을 포함하며, 상기 액정 물질에 인가되는 전압에 따라 빛의 투과율이 다르게 되는 액정 표시 장치 패널에 제1 전압을 인가하여 상기 액정 물질을 투과하는 빛이 상기 액정 표시 장치 패널로부터 나오도록 하는 단계와;

상기 액정 표시 장치 패널로부터 나오는 빛의 휘도 L을 감지하는 단계와;

상기 감지된 휘도의 최대값 Lmax과 최소값 Lmin을 구하는 단계와;

상기 휘도 L에 대한 망막의 반응 함수 R(L)에, 상기 휘도의 최대값 Lmax과 상기 휘도의 최소값 Lmin을 각각 대입하여 플리커 레벨인 R(Lmax)-R(Lmin) 값을 구하는 단계를 포함하며,

상기 망막의 반응 함수 R(L)은 눈동자를 통과한 빛의 세기 TD(L)에 대한 함수인 플리커 레벨 측정 방법.
제1항에서,

상기 제1 전압은 N개의 계조 레벨을 가지는 계조 전압이며,

상기 N개의 계조 레벨 중 소정 수의 계조 레벨에 대한 각각의 플리커 레벨을 구하고, 상기 각각 구해진 플리커 레벨 중 최대값을 상기 액정 표시 장치 패널의 플리커 레벨로 결정하는 플리커 레벨 측정 방법.
제2항에서,

상기 눈동자를 통과한 빛의 세기 TD(L)는,

이며, 상기 D(L)는 휘도 L에 반응하는 눈동자의 직경을 나타내는 플리커 레벨 측정 방법.
제3항에서,

상기 눈동자의 직경 D(L)는

D(L)=10^{0.8558-0.000401(logL+8.6)3} 인 플리커 레벨 측정 방법.
제3항에서,

상기 눈동자의 직경 D(L)는

D(L)=4.9-3tanh[0.4(logL+1.0)] 인 플리커 레벨 측정 방법.
제4항 또는 제5항에서,

상기 반응 함수 R(L)은

이며, 상기 A는 상수인 플리커 레벨 측정 방법.
제6항에서,

상기 A는 1000인 플리커 레벨 측정 방법.
액정 표시 장치 패널로부터 나오는 빛의 휘도 L을 감지하기 위한 휘도 감지부와;

상기 휘도 감지부에 의해 감지된 휘도 L로부터 휘도의 최대값 Lmax과 휘도의 최소값 Lmin을 판별하기 위한 최대 및 최소 휘도 판별부와;

상기 휘도 L에 대한 망막의 반응 함수 R(L)에, 상기 휘도의 최대값 Lmax과 상기 휘도의 최소값 Lmin을 각각 대입하여 플리커 레벨인 R(Lmax)-R(Lmin) 값을 구하는 플리커 레벨 결정부를 포함하며,

상기 망막의 반응 함수 R(L)은 눈동자를 통과한 빛의 세기 TD(L)에 대한 함수인 플리커 레벨 측정 장치.
제8항에서,

상기 눈동자를 통과한 빛의 세기 TD(L)는,

이며, 상기 D(L)는 휘도 L에 반응하는 눈동자의 직경을 나타내는 플리커 레벨 측정 장치.
제9항에서,

상기 눈동자의 직경 D(L)는

D(L)=10^{0.8558-0.000401(logL+8.6)3} 인 플리커 레벨 측정 장치.
제9항에서,

상기 눈동자의 직경 D(L)는

D(L)=4.9-3tanh[0.4(logL+1.0)] 인 플리커 레벨 측정 장치.
제10항 또는 제11항에서,

상기 반응 함수 R(L)은

이며, 상기 A는 상수인 플리커 레벨 측정 장치.