KR20000067973A

KR20000067973A - 비대칭 채널 데이터 검출 보상 장치

Info

Publication number: KR20000067973A
Application number: KR1019997000481A
Authority: KR
Inventors: 리사 프레드릭슨
Original assignee: 시게이트 테크놀로지 엘엘씨
Priority date: 1996-07-22
Filing date: 1997-07-22
Publication date: 2000-11-25
Also published as: GB2330283B; US6104765A; HK1018665A1; KR100463560B1; GB9828014D0; WO1998004032A1; GB2330283A; JP2000515292A; DE19781889T1

Abstract

본 발명은 시퀀스내의 샘플(19-20)의 선택된 쌍에 대한 크기값에 비대칭적으로 영향을 주는 데이터 검색 채널을 통해 자기적으로 저장된 상기 데이터(10)로부터 얻어진 데이터 신호(15)를 샘플링함으로써 형성된 시퀀스를 가진 데이터의 검출기(18-30)에 의해 수신된 샘플의 해당 시퀀스(15-17)에 의해 표현되는 데이터 심벌 시퀀스를 선택하는 데이터 심벌 시퀀스 검출기(18-30)에 관한 것이고, 크기 차이 결정기가 샘플값과 해당 추정 예상값 사이의 차이를 표현하기 위해 사용된다. 이러한 차이의 표현은 산술적인 형태로 제한될 수 있다.

Description

비대칭 채널 데이터 검출 보상 장치 {ASYMMETRIC CHANNEL DATA DETECTION COMPENSATION}

디지털 데이터 자기 기록 시스템은 저장 장치 또는 "기록 장치"와 이에 인접하여 위치하는 전기 전류-자기장 변환기 또는 "헤드"를 사용하여 이동하는 자기 매체층내에 데이터를 기록시킴으로써 저장 디지털 데이터를 저장한다. 데이터는 유입되는 방향을 스위칭함으로써 자기 매체에 저장 또는 기록되고, 그렇지 않은 경우에는 실질적으로 데이터에 따라 기록 변환기내의 코일 권선내에 형성된 일정한 크기의 기록 전류를 스위칭함으로써 기록된다. 각각의 기록 전류 방향 전이는 전류 흐름의 이러한 방향 스위칭동안 변환기를 통과하는 자기 매체의 이러한 부분에서 이전에 유도된 매체내의 자화 방향에 대해 반대인 자화 방향의 반전을 야기한다. 종종 비제로복귀반전(NRZI)라 불리는 일 레코딩 설계에서, 변환기를 통과하여 이동하는 자기 매체의 짧은 부분에서 발생하는 각각의 자화 방향 반전은 이진수 "1"을 나타내고, 이러한 부분에서의 상기 반전의 부재는 이진수 "0"을 나타낸다.

이러한 기록된 디지털 데이터의 재생은 검색, (만일 두 변환기가 매체 필드와 변환기 사이의 유도 커플링에 의존한다면 저장 변환기와 같을 수 있는) "판독" 자기장-전압 변환기 또는 "헤드"를 이전에 저장된 데이터를 갖는 자기 매체를 포함하도록 위치하고 이를 통과시킴으로써 이루어진다. 이러한 변환기에 인접한 매체의 통과는 이러한 매체내의 자화 반전 영역을 갖는 플럭스로 하여금 검색 변환기를 위한 아날로그 출력 신호를 형성하는 해당 전압 펄스를 유도하도록 하거나 또는 선택적으로 변환기 회로 패러미터를 변화시키고 이에 의해 이러한 출력 신호 전압 펄스를 제공하도록 한다. 이상에서 설명된 코딩 설계에서, 인접한 매체 부분 사이의 자화 방향의 반전으로 인한 판독 변환기 출력 신호내의 각각의 이러한 전압 펄스는 이진수 "1"을 나타내도록 선택되고, 해당 매체 부분내의 이러한 펄스의 부재는 이진수 "0"을 나타내도록 선택된다.

디지털 데이터 자기 기록 시스템은 이러한 신호를 디지털화하기 위한 기초로서 검색된 아날로그 신호내의 이러한 전압 펄스의 검출을 위한 피크 검출 방법을 사용해 왔다. 이러한 방법은 이러한 신호내에서 어떠한 피크가 이러한 검색된 신호내에서 발생된 펄스와 관련된 이러한 이진수 "1"을 결정하는 선택된 임계치를 초과하는가를 결정하는 것에 기초하고, 데이터가 이상에서 설명된 자기 매체내에 저장되는 이전의 기록 동작내에서 사용되는 타이밍 정보를 재설계하기 위해 이러한 전압 펄스 사이의 시간 또한 사용한다. 아날로그 검색된 신호가 제어된 오실레이터 또는 위상-동기 오실레이터 혹은 동기 장치를 형성하는 위상-동기 루프에 공급되고, 이들은 이러한 아날로그 검색된 신호내에서 검출된 피크의 위치로부터 출력 타이밍 신호 또는 "동기" 신호를 발생시킨다. 저장 동작과 검색 동작 시간 이상동안 자기 매체의 속도가 변하여 아날로그 검색 신호내의 전압 펄스 사이에서 발생하는 불균일 시간 간격 또는 불균일 다중화를 야기하기 때문에, 절대 시간은 데이터 검색 시스템 부분을 동작시키는데 사용되지 않는다.

자기 기록 시스템내에서 자기 매체의 트랙을 따라 1비트의 저장에 덜 기여하여 저장된 비트의 밀도를 증가시키는 것이 항상 요구된다. 피크 검출의 사용은 트랙을 따른 비트 밀도에 제한을 두는데, 그 이유는 임의의 지점 이하의 밀도가 너무 많은 기호간 계면을 야기하고 이는 또다시 이러한 피크 검출 방법을 사용한 데이터 재생시 에러를 야기하기 때문이다. 이러한 제한 때문에, 최근에는 자기 매체내의트랙을 따라 밀도를 증가시키는 것이 알려진 바와 같이, 이러한 계면에도 불구하고 관련된 펄스의 검출을 허용하는 제어된 또는 공지된 기호간 계면의 양을 수용하는 문제에 직면했다. 자기 매체내에 저장된 이진 비트 또는 기호로부터 발생된 판독 변환기 아날로그 신호는 샘플링되어 결과적으로 샘플이 디지털 데이터로 변환되도록 하고, 샘플은 만일 샘플이 사용된다면 피크 검출에 충분할 펄스당 단일 비트 대신에 펄스당 하나 이상의 비트률로 선택된다. 각각의 개별 샘플이 펄스 응답을 목적으로 반영되기 때문에, 시스템내에서 사용된 이러한 프로세스는 이러한 시스템을 부분 응답 시스템으로서 간주하는 결과를 가져온다.

디지털 데이터 자기 기록 시스템은 매우 낮은 주파수는 전송하지 못하고 매우 열악한 전송을 초월한 높은 주파수를 가진다는 점에서 대역 통과 데이터 검색 채널을 포함한다. 비록 가능한 많은 수의 선택적인 부분 응답 시스템 배치가 있지만, 부분 응답 시스템 스펙트럼을 채널내에서 전송되는 데이터에 대해 예상된 것에 매칭(matching)시키는 실제값이 있다. 매우 낮은 주파수에서 전송을 요구하지 않는 비교적 간단한 부분 응답 시스템은 4등급 부분 응답 시스템으로서 공지되어 있고, 전형적으로 자기 디지털 데이터 기록 시스템내에서 사용된다. 이러한 응답은 전체 채널 및 두 샘플 간격에 의해 일시에 분리된 두 개의 반대 극성의 나이퀴스트 채널 임펄스의 합의 응답과 같은 필터 응답을 제공함으로써 얻어진다. 이러한 배치는 필터 아날로그 출력 신호를 야기하고, 이러한 신호로부터 이상적으로는 선택적으로 가능한 샘플값 -1, 0 및 1의 세 값이 얻어질 수 있고, 이러한 값은 적절한 시점에 샘플링된다면 이진 기록된 데이터에 기초한 입력 신호를 위한 것이다. 결과적인 샘플의 시퀀스는 각각의 샘플값이 오직 현재 검색된 저장 데이터와 제 2 이전 데이터로부터의 기여를 가진다는 점에서 하나는 홀수로 구성되고 다른 하나는 짝수로 구성되는 두 시퀀스의 삽입을 포함한다.

임의의 데이터 검색 채널을 통해 제공된 판독 변환기 아날로그 출력 신호는 잡음, 타이밍 에러, 게인 에러, 채널 비대칭 및 검색과정에서 발생된 에러때문에 에러를 가질 수밖에 없다. 피크 검출에서의 판독 신호내의 모든 펄스에 의해 나타내진 값을 개별적으로 결정하는 것에 반하여, 이러한 샘플의 시퀀스의 최대 유사 검출은 관련 추정 대신에 사용되고, 여러 가능한 전송된 심벌 시퀀스의 이러한 관련 추정은 이러한 샘플을 발생시키고 에러에 최소값을 주도록 이러한 심벌 시퀀스를 선택하는 각각의 가능한 심벌 시퀀스와 이러한 수신된 샘플 사이의 최소 평균 제곱된 에러를 찾는 것에 기초한 수신된 샘플 시퀀스를 야기한다.

4등급 부분 응답 시스템 채널은 하나는 짝수 입력 샘플 시퀀스를 수신하고 다른 하나는 홀수 입력 샘플 시퀀스를 수신하는 두 개의 1/2율 채널로 분해되어 두 개의 디코드 채널을 형성한다. 각각의 디코드 채널에 제공된 이러한 셈플에 의해 표현된 데이터의 검출은 독립적으로 수행될 수 있다. 이러한 분해로부터 야기되는 이러한 디코드 채널은 1/2 전체 채널 샘플률 주기에 기초한 하나의 디코드 데이터 심벌에 의해 적절하게 분리된 두 개의 반대극 나이퀴스트 채널 임펄스 응답의 합의 그것과 일치하는 임펄스 응답을 가지고, 이러한 디코드 채널은 이하의 식의 값을 가진 임의의 잡음이 없는 채널 출력 신호의 샘플을 야기하고

여기서, x_i는 샘플 간격 i에서 자기 기록 매체로부터 얻어진 채널에 대해 "1" 또는 "0"의 이진값을 가지도록 선택된 데이터 심벌 입력이고, x_i-1은 채널에 대해 유사한 이진값을 가지지만 한 주기 앞선 디코드 채널률 주기를 가지고 채널 메모리를 반영하며 및 y_i는 증폭과 필터링 이후의 간격 i에서 채널 응답 아날로그 출력 신호이다. 이러한 채널 게인과 필터링이 이상적으로 제공될 때, 채널은 무잡음이되고, y_i는 이상적인 값 -1, 0 및 1의 값을 나타낼 것이다. 다른 경우,이고, 여기서, n_i는 샘플링 시점에서 추가의 잡음을 나타내는 0 평균의 독립 확률 변수이다.

채널 메모리 때문에, 4 등급 부분 응답 시스템내의 에러 발생은 더 많은 에러를 야기하는 검출 시스템내로 전파된다. 이러한 바람직하지 않은 결과는 이러한 저장 이전에 자기 매체내에 저장될 데이터를 적절하게 프리코딩함으로써 방지된다. 이러한 프리코딩된 데이터를 수신하는 디코드 채널에 대한 오버 타임(over time) 검출 프로세스는 오버 타임을 이끌어낼 수 있는 전이들로부터 야기되는 검출 시스템 상태의 가능한 시퀀스를 도시하는 도 1a와 같은 두 상태의 트렐리스 다이어그램에 의해 도시된다. 도 1b는 소정 샘플 간격 이후에 "0"과 "1"로 표현되는 두 상태와 다음 샘플 간격 이후에 다음 데이터 심벌을 취함과 동시에 발생하 수 있는 이러한 두 상태 사이의 전이를 도시한다. 각각의 전이는 화살표 또는 좌측에 이전 상태 이후의 가능한 다음 예상된 데이터 심벌을, 우측에 해당 데이터 심벌을 나타내는 괄호내의 값의 쌍을 가진 브랜치로 표현된다. 도 1a의 트렐리스 다이어그램은 검출 시스템이 "0" 상태에서 시작되었다는 가정을 도시하고, 임의 길이의 샘플의 시퀀스에 대해 도시하며, 다이어그램이 해당 상태 하부에 마크된 각각의 샘플 간격을 가진다며, 시스템은 이러한 시점에 있을 수 있다. 처음부터 끝까지 연속 브랜치 시퀀스는 데이터 심벌값의 가능한 입력 시퀀스에 해당하는 다이어그램을 통한 경로이다.

이러한 디코드 채널을 위한 최대 유사 시퀀스 검출기는 임의의 잡음이 존재할 때 이러한 브랜치에서 가능한 예상된 샘플값에 관찰된 샘플 y_i가 얼마나 인접하는가의 측정으로서 각각의 샘플링 간격 배수 i에서 트렐리스 다이어그램의 각각의 브랜치를 위한 예상된 가능한 샘플값과 관찰된 샘플값 사이의 "유클리드 거리"를 찾는 것에 기초한 브랜치 메트릭을 정의함으로써 제공된다. 따라서, -1의 샘플값을 예상하는 경우, "1" 상태로부터 "0" 상태로의 전이에 해당하는 브랜치를 위해 브랜치 메트릭 B_in은 추가의 0 평균 잡음이 채널내에 존재한다는 가정하에 이하와 같이 표현되고,

+1의 샘플값을 예상하는 경우, 시간 i에서 "0" 상태로부터 "1" 상태로의 트렐리스 다이어그램 전이에 해당하는 브랜치 메트릭 B_ip는 이하와 같다.

마지막으로, 0의 샘플값을 예상하는 경우, 시간 i에서 트렐리스 다이어그램의 두 상태중 하나로부터 같은 상태로의 전이 즉, "0" 상태에서 "0" 상태로 또는 "1" 상태로부터 "1" 상태로의 전이에 해당하는 브랜치 메트릭 B_iz는 이하와 같다.

이상의 식에서, 식들중 같은 값이 존재한 것은 브랜치 메트릭간의 구별에서 검출기에 아무런 도움이 안되고 따라서, y_i ²항은 이러한 메트릭의 각각으로부터 삭제될 수 있다. 유사하게, 각각의 메트릭에 공통의 인수를 곱하는 것은 표현된 거리 사이를 구별하는 검출기의 능력에 아무런 변화도 주지 않고, 따라서, 각각의 메트릭은 1/2 인수가 곱해질 수 있다. 추가의 가능성은 계산을 용이하게 하기 위해 각각의 메트릭으로부터 공통 인수를 삭제하는 것이다. 그러므로, 이러한 최대 유사 검출기를 위해 사용된 표준 메트릭은 이상의 또는 기본 유클리드 거리대신에 이하의 메트릭을 사용하여 브랜치 메트릭의 계산을 용이하게 하도록 매우 간단하게 표현될 수 있다.

및

최대 유사 시퀀스 검출기는 트렐리스 다이어그램내의 모든 브랜치에 대해 이러한 브랜치 메트릭을 계산한다. 이러한 트렐리스 다이어그램을 통한 각각의 경로는 내부에서 발생하는 브랜치 메트릭의 합인 계산된 해당 경로 메트릭을 가질 수 있다. 최소의 경로 메트릭을 가진 트렐리스 다이어그램을 통한 경로는 가장 유사한 경로로서 선택되고, 이러한 경로에 해당하는 예상된 채널 출력 샘플은 채널에 대해 이진 입력의 가장 유사한 시퀀스로서 선택된다.

하지만, 트렐리스 다이어그램이 오버 타임 길이가 연장하는 동안, 비터비(Viterbi) 알고리즘에 대한 재분류가 행해져야 하는데, 그 이유는 전체 경로대해 계속되는 이러한 계산이 임의의 근거있는 계산 커패시티와 이러한 목적으로 제공된 메모리 커패시티 하부에서 빠르게 성장한다. 트렐리스 다이어그램내의 임의의 상태 노드를 통한 임의의 경로를 위한 경로 메트릭이 노드의 좌측과 우측에 대한 경로의 이러한 부분을 위한 부분 경로 메트릭의 합이고, 검출기는 노드의 좌측에 최소의 부분 경로 메트릭 즉, 이러한 노드를 위한 생존 경로를 선택하기만 하면 된다. 검출기는 각각의 노드를 위해 생존 경로를 찾아서 트렐리스 다이어그램의 최종 노드가 예를 들면, 코드 워드의 최종점에 도달할 때까지 보유하고 다음으로 최적 경로 메트릭을 결정하기 위해 이러한 노드에 대한 생존 경로를 노팅(noting)하기만 하면된다.

비록 0 평균값의 추가의 임의 잡음이 이상에서 고려되었지만, 디코드 판독 채널을 포함하는 데이터 검색 또는 판독 채널이 잡음과 더불어 부족하게 된다. 이러한 부족은 이러한 임의 잡음에 더불어 채널에 대한 게인 에러와 오프셋 에러 또는 다른 비대칭을 포함할 수 있다. 이러한 예에서, 이상의 표준 브랜치 메트릭의 사용은 검출 프로세스에 바람직하지 않은 추가의 에러를 야기할 수 있다. 따라서, 부적절한 데이터 조작과 계산상의 복잡함 없이 에러를 감소시키는 메트릭을 사용하는 비터비 검출기가 필요하게 된다.

본 발명은 정보 저장 시스템 특히, 이러한 시스템내의 저장 장치로부터 검색된 데이터의 검출에 관한 것이다.

도 1a와 도 1b는 임의의 데이터 검색 채널 환경하에서의 가능한 데이터 검출기 행동을 나타내는 도면이다.

도 2a 내지 도 4b는 선택적인 데이터 검색 채널 환경하에서의 가능한 데이터 검출기 행동을 나타내는 도면이다.

도 5는 임의의 데이터 검색 채널 환경하에서의 가능한 데이터 검출기 행동을 나타내는 도면이다.

도 6a 내지 도 6e는 선택적인 검출 배치를 사용하는 데이터 검출기와 관련된 가능한 에러율의 좌표를 도시하는 그래프이다.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 시스템의 혼합된 블럭 논리 도면이다.

도 8은 도 7에 도시된 시스템의 일부를 도시하는 논리 도면이다.

본 발명은 데이터 신호에 비대칭적으로 영향을 미치는 데이터 검색 채널을 통해 자기적으로 저장된 데이터로부터 얻어진 데이터 신호를 샘플링함으로써 형성된 샘플 시퀀스를 가지고 검출기에 의해 수신된 샘플의 해당 시퀀스에 의해 표현되는 데이터 심벌 시퀀스를 선택하기 위한 데이터 심벌 시퀀스 검출기를 제공한다. 이러한 검출기는 샘플의 시퀀스에서 해당 선택된 샘플중 적어도 하나에 대해 추정된 예상 크기를 제공하기 위하여 예상된 샘플값 추정기를 가진다. 게다가, 크기 차이 결정기는 샘플의 시퀀스내의 샘플값과 예상된 샘플값 추정기로부터 수신된 해당 추정 예상된 값 사이의 차이를 표현하도록 사용된다. 이러한 차이 표현은 샘플과 이에 관련된 추정된 예상된 값상에 선택된 산술형 제한성을 받는 것으로 발견될 수 있다.

도 2a와 도 2b는 실제 자기 기록 장치 데이터 검색 또는 판독 채널내의 조건을 도시한 트렐리스 다이어그램이다. 도 2a에 도시된 바와 같이 트렐리스 다이어그램은 2-상태 채널을 가지지만, 도 2b에 도시된 트렐리스 다이어그램은 채널의 출력값이 전형적으로 이하와 같이 나타내고,

여기서, s_i는 게인 A내에서 발생하는 에러와내의 n_i에 의해 표현된 샘플 시점에서 잡음이 존재하기 때문에 가능한 게인과 잡음 에러가 존재하는 샘플값이다. 이러한 잡음 샘플은 이상에서 설명된 바와 같이 0의 평균값과 σ²의 분산을 가지는 각각의 샘플링 시점에서 독립적인 확률 변수로서 간주될 수 있다. 인수 A는 기록 매체로부터 채널 출력까지의 전체 채널에 대한 게인이다. 도 2b내의 트렐리스 다이어그램은 현 상태에서 이상적인 무잡음 채널로부터 수신된 -1과 1의 기대값 대신에 게인 에러를 얻을 수밖에 없는 채널에 대해 채널 출력 신호로부터 얻어진 샘플 크기의 예상된 확률론적 평균값을 나타내는 u를 가진 다른 상태로 전이동안 채널 응답 아날로그 출력으로부터 예상된 샘플값이 u가 되는 것을 도시한다.

판독 채널에서 발생할 수 있는 또다른 문제는 이진 입력값 "0"과 "1"에 대한 채널 응답에서의 비대칭이다. 판독 채널내의 이러한 비대칭의 전형적인 소스는 선택적인 제 2 상태에서 다른 상태로 전이될 때보다 제 1 상태에서 다른 상태로 이동하는 자기 매체로부터의 자화 전이를 판독할 때 다른 크기 출력을 종종 제공하는 판독 헤드내에서 자기저항 변환기를 사용함으로써 발생된다. 도 3a의 트렐리스 다이어그램은 이러한 환경하에서의 검출 프로세스를 도시하고, 도 3b에 도시된 트렐리스 다이어그램은 채널 응답 아날로그 출력 신호로부터 예상된 샘플값이 이상적인 무잡음 채널의 출력에서 1과 -1의 기대값과는 다르다는 것을 나타내고, 이러한 기대값으로부터 다른 양의 각각의 가능한 차이는 이러한 비대칭을 반영한다. 이러한 환경에서, 출력 샘플은 이하와 같이 표현될 수 있고,

여기서, u는 이상적인 무잡음 채널로부터 수신된 1의 기대값 대신에 에러와 비대칭을 가질 수밖에 없는 채널에 대한 채널 출력에서 수신된 신호로부터 선택된 샘플 크기의 예상된 확률론적 평균값을 타나낸다. 게다가, ν는 이상적인 무잡음 채널로부터 수신된 -1의 기대값 대신에 이러한 샘플 크기의 예상된 확률론적 평균값을 나타낸다. 여기서, n_i는 평균값 0과 σ²의 분산을 가진 독립 가우스 확률 변수이다.

이러한 환경에서 해당 브랜치 메트릭은 이러한 변경된 예상 샘플값 평균을 반영한다. 따라서, ν 평균 샘플값을 예상하는 경우, "1" 상태로부터 "0" 상태로의 전이에 해당하는 브랜치를 위한 브랜치 메트릭 B_in은 이하와 같다.

이들은 이상에서 설명된 것과 같은 방법으로,및간단히 표현된다.

하지만,를 나타내는 것은 임의의 게인 에러를 수정하기 위해 검출 시스템내에 u를 1과 같게 함으로써 일반적인 손실 없이 간단하게 할 수 있고, ν가 채널 비대칭을 나타내도록 한다. 도 4a의 트렐리스 다이어그램은 채널 응답 아날로그 출력 신호로부터 예상된 샘플값이 이상적인 무잡음 채널의 출력에서 -1의 기대값과는 다르다는 것을 도 4b에 도시된 트렐리스 부분으로써 이러한 상황을 설명한다. 따라서, 채널 응답 출력 아날로그 신호로부터의 샘플 크기는 이하와 같이 표현될 수 있다.

여기서, r_i는 재생된 샘플 크기를 나타낸다. 이 경우, ν 평균 샘플값을 예상하는 경우, "1" 상태로부터 "0" 상태로의 전이에 해당하는 브랜치를 위한 전체 유클리드 거리 브랜치 메트릭 B_in은 이하와 같다.

+1 평균 샘플값을 예상하는 경우, i 시간에서 "0" 상태로부터 "1" 상태로의 트렐리스 다이어그램 전이에 해당하는 브랜치 메트릭 B_ip는 이하와 같다.

이상의 식에서, 식들중 같은 값이 존재한 것은 브랜치 메트릭간의 구별에서 검출기에 아무런 도움이 안되고 따라서, y_i ²항은 이러한 메트릭의 각각으로부터 삭제될 수 있다. 유사하게, 각각의 메트릭에 공통의 인수를 곱하는 것은 표현된 거리 사이를 구별하는 검출기의 능력에 아무런 변화도 주지 않고, 따라서, 각각의 메트릭은 1/2 인수가 곱해질 수 있고 최적 브랜치 메트릭,및을 얻을 수 있다. 또한, 계산을 용이하게 하기 위해, 가장 마지막으로 표현된 B_in을 위한 항내의 인수는 기본 유클리드 거리 기초 메트릭보다 결과적인 메트릭을 사용하여 브랜치 메트릭의 계산 과정을 감소시키는 최대 유사 검출기에 대해 간단한 메트릭을 제공하기 위해 삭제될 수 있거나 또는 최적 브랜치 메트릭이 이하와 같이 간단한 브랜치 메트릭을 제공하기 위해 사용될 수 있다.

시퀀스 검출기 시스템 입력에서 수신된 샘플의 시퀀스에 해당하는 적절한 데이터 심벌 시퀀스를 얻는데 사용되기 위한 이러한 여러 브랜치 메트릭의 적합성은 이러한 사용으로부터 야기된 비교 에러율에 의해 게이징(gauging)된다. 자기 매체내에 저장 장치로부터 재생된 데이터 심벌 시퀀스를 위한 검출 프로세스를 나타내는 트렐리스 다이어그램을 통한 임의의 옳은 상태 시퀀스 또는 경로가 존재할 것이고, 비터비 알고로리즘을 사용하는 검출 시스템의 선택을 반영하는 트렐리스 다이어그램을 통한 상태 시퀀스 또는 경로가 존재할 것이다. 검색 채널의 상황때문에, 때때로 에러가 발생하여 트렐리스 다이어그램내의 이러한 두 경로가 이에 상응하게 분리되고 그 이후에 다시 함께 융합된다. 이러한 각각의 발생은 경로의 이러한 분리와 이어지는 재융합 사이에 발생하는 옳지 못한 상태가 얼마인지에 의존하는 길이의 에러 발생으로 불린다.

이러한 에러 발생의 예가 도 5의 트렐리스 다이어그램에 도시된다. 모든 "0" 상태를 통한 예시적 경로가 굵은 또는 두꺼운 실선 형태로 도시되고, 이전 경로의 초기 "0" 상태로 부터 최종 "0" 상태로의 선택적인 경로가 굵은 점선 형태로 도시된다. 만일 k개의 샘플에 대해 연장하는 예상된 0값 샘플의 시퀀스가 0_k로 표현된다면, 실선 경로는으로 표현되고 점선 경로는 따라서으로 표현된다. 기호는 에러 발생에 대한 가능성을 나타내고, 이는 자기 매체내에 저장된 데이터 심벌에 기초한 채널 출력 신호 샘플링으로부터 기인해야하지만, 예상된 샘플 시퀀스가 검출 시스템에 의해 발생되도록 대신에 선택된다. 따라서, 도 5는 에러 발생에 대한 두 가능성으로 표현되고, 점선 경로가 저장된 데이터에 기초한 결과를 나타내야 하는으로 표현되는 제 1 가능성은 부적절하게 선택되었다.으로 표현되는 제 2 에러 발생 가능성에서, 실선 경로와 전선 경로의 역할이 전도되었다.

디코드 검출 프로세스 최소 거리 에러 발생의 여러 가능성이 이하의 표에 도시된다. 충분한 신호 대 잡음비로 인해 심벌 선택 에러의 가능성이 최소 거리 에러 발생의 가능성에 의해 지배되기 때문에 이러한 가능성이 고려되어야 한다. 이하에서 P_x로 표현되고 이러한 에러 발생의 가능성을 야기하는 이상에서 설명된 다른 브랜치 메트릭하에서 각각의 에러 발생에 대한 표에 기록된 내용은 최소 거리 에러 발생 가능성을 결정하게 된다.

발생율	최적 P_E	간단하게된 P_e	표준 P_e
	P₁	P₄	P₂
	P₁	P₄	P₃
	P₁	P₄	P₃
	P₁	P₄	P₂
	P₁	P₄	P₂
	P₂	P₂	P₂
	P₂	P₂	P₂
	P₃	P₃	P₃
	P₃	P₃	P₃

제 1 최적 브랜치 메트릭은 이상의,및과 같이 시작된다. 도 1의 두 경로에 대한 누적된 최적 브랜치 메트릭에서, B_s는 실선 경로를 위한 누적된 최적 브랜치 메트릭을 나타내고 B_d는 점선 경로를 위한 누적된 최적 브랜치 메트릭을 나타내며, 이들은 이하와 같이 표현되는데,

여기서, r_i는 점선 경로로부터 실선 경로애로의 초기 경로 전이에 해당하는 샘플값이고, r_j는 실선 경로내의 최종 경로 전이에 해당하는 샘플값이고 및 0값 메트릭을 가지는 양 경로내의 분리된 샘플에 대한 항은 생략되었다. 비터비 검출기는 만일 B_d＜B_s라면 즉, 이하와 같다면 최상 또는 점선 경로를 선택하지만,

만일 부등호가 반대 방향이라면 최저 또는 실선 경로를 선택할 것이다. 이는 만일 이하와 같은 경우라면 상부 경로를 선택하는 것과 동치일 것이다.

라 가정하자. 여기서, r은 분산를 가진 가우스 확률 변수이다. 만일 실선 경로가 실제로 저장된 데이터 심벌을 나타낸다면, r의 평균값은이다. 그러므로, 실선 경로가 저장된 데이터에 해당할 때, 에러 발생의 조건부 확률은 실선 경로보다는 검출기에 의한 점선 경로의 에러 선택에 해당하는 최종 부등식을 만족하는 값을 가지는 범위에 걸쳐 r에 대한 가우스 확률밀도 함수를 적분함으로써 이하와 같이 주어진다.

여기서, 더미(dummy) 변수 z는 r 대신에 사용되고,은 이상의 최종 부등식의 관점에서의 검출 임계값이다. 변수를 변화시키면과 같고, 다음과 같이 된다는 것을 알 수 있을 것이다.

만일 점선 경로가 저장된 데이터라면, r의 평균은이다. 에러 발생의 확률은 점선 경로보다는 검출기에 의한 실선 경로의 에러 선택에 상응하기 위하여 이상의 최종 부등식을 만족하지 않는 값범위에 대해 이상의 방법으로 r에 대한 가우스 확률 밀도 함수를 적분함으로써 이하와 같이 주어진다.

또한,

으로 대체하면,

임을 알 수 있을 것이다.

이러한 두 확률은 에러 함수로서 이하와 같이 표현될 수 있다.

앞에서 주어진 에러 발생의 확률은 다음과 같다.

임의의 w〈0라면,

이 된다.

또한,

에 대해서

결과가 얻어진다.

에러 발생의 확률은 이하와 같이 표현될 수 있다.

따라서, 이러한 두 에러 발생은 이하와 같기 정의함으로써 간단하게 표현된다.

선택적인 실선 및 점선 경로를 위한 누적된 브랜치 메트릭이 이하와 같다는 점에서 에러 발생와에 대한 분석은 유사하다.

만일의 경우 즉, 이하와 같은 경우라면 비터비 겸출기는 점선 경로를 선택할 것이다.

하지만, 만일 부등호가 반대 방향라면 실선 경로를 선택한다. 이는 만일 이하와 같은 경우라면 전선 경로를 선택하는 것과 동치이다.

라 가정하면, r은 분산을 가진 가우스 확률 변수가 된다. r의 평균은 어떤 경로가 자기 매체내에 저장된 데이터에 해당하는가에 따라또는이 되고, 이는 다음과 같게 된다.

에러 발생과에 대해, 이하의 두 선택적인 경로를 위해 누적된 브랜치 메트릭에 기초하여 결정된다.

만일 이하의 경우라면 비터비 검출기는경로를 선택하고,

이는 만일 이하의 경우라면 상기 경로를 선택하는 것과 동치이다.

라 가정하면, r은 분산를 가진 가우스 확률 변수가 된다. 저장된 데이터에 해당하는 경로가이면, 평균이 되지만, 기록된 경로가라면, 평균은이 된다. 두 경우 모두 이하와 같이 정의할 수 있다.

에러 발생와의 경우, 검출기의 결정은 이하와 같은 두 선택적인 경로에 대한 누적된 브랜치 메트릭에 기초한다.

만일 이하의 경우라면 비터비 검출기는을 선택하고,

이라고 가정하면, r은 분산를 가진 가우스 확률 변수가 된다. 저장된 데이터에 해당하는 경로가가 되면, 평균은이지만, 저장된 데이터에 해당하는 경로가이면, 평균은이 된다. 이 두 경우, 이하와 같이 정의할 수 있다.

이러한 조건부 확률은 저장된 데이터에 해당하는 패턴을 사용하는 확률에 의해 웨이팅되고 에러 발생의 확률을 얻기 위해 합산된다. 임의의 이진 입력이 주어질 때, 최적 메트릭을 사용하는 전체 에러 발생 확률은 이하와 같다

도 6a 내지 도 6c에서, 비대칭 신호의 최적의 검출에 대한 에러 발생 확률과 그 성분들에 대한 신호 대 잡음비의 이론적인 곡선이 도시된다. 도 6a는 비대칭이 없을 경우 즉,일 경우의 에러 발생율을 도시한다. 좌표점없이 도시된 곡선은을 나타내고, 조건부 확률 성분 P₁, P₂및 P₃에 대한 곡선은 동일하다. 도 6b에서, 좌표점없는 곡선을 가진는 다시을 나타낸다. ν의 절대값은 1보다 작고, 확률 P₃은 성능을 좌우하며 및인 경우에 비해 에러 발생율을 저하 즉,는 도시된 신호 대 잡음비 범위에 대해 더 큰 값을 가진다. 도 6c에서, 하나 이상의 좌표점없는 곡선을 가진는를 나타낸다. ν의 절대값이 1보다 클 때, 확률 P₂가 성능을 좌우하고, 에러 발생내 1/4의 점근 개선이 도시된 대부분의 신호 대 잡음비 범위의에 비교하여 도시된다.

다음으로, 앞에서와 같이으로 주어진 간략화된 브랜치 메트릭이 사용될 때 에러 발생이 분석된다. 에러 발생,,및을 고려하면 경로에 대한 누적된 브랜치 메트릭은 이하와 같다.

비터비 검출기는 만일 한 경우 즉, 이하와 같은 경우에 실선 경로를 선택한다.

라 가정하면, r은 분산와 조건부 평균및을 가진 가우스 확률 변수가 된다.

동치인 조건부 에러발생 확률은 다음과 같다.

간략화된 브랜치 메트릭에 대한 분석은 에러 발생과에 대한 최적 브랜치 메트릭으로부터 변화되지 않고 조건부 에러 발생 확률 P₂를 제공한다.

간략화된 브랜치 메트릭을 사용하는 누적된 브랜치 메트릭이과인 다음 에러 발생과에 관해 생각해보자. 비터비 검출기는 만일인 경우 즉,인 경우 점선 경로를 선택한다. 이로써 P₃의 이러한 에러 발생에 대해 동치인 에러 발생 확률을 얻는다.

임의 이진 입력이 주어질 때, 간략화된 브랜치 메트릭을 사용하는 전체 에러 발생 확률은 다음과 같다.

도 6d에서, 조건부 확률 P₁과 P₄및 전체 에러 발생 확률이에 대한 최적의 브랜치 메트릭을 위한 전체 확률을 따라 간략화된 브랜치 메트릭에 대해 도시된다. 비록 P₄가 P₁보다 약간 더 크지만, 에러 발생율에 대한 전체 기여는 작아서 에러 발생율에 있어서의 순(net) 증가는 전체 확률에 대한 곡선을 이끄는 16dB SNR에서 대략 1%이고 여기서,는 도면의 ve와 동일한 것으로 나타난다.

마지막으로,으로 주어진 경우, 표준 브랜치 메트릭이 사용될 때 에러 발생이 분석된다. 제 1 에러 발생과을 고려하면 표준 브랜치 메트릭을 사용하는 누적된 브랜치 메트릭은 다음과 같다.

및

비터비 검출기는 만일인 경우 즉,인 경우에는 실선 경로를 선택한다.라 가정하면, r은 분산와 조건부 평균및을 가진 가우스 확률 변수가 된다. 조건부 확률은 다음과 같게 된다.

및

에러 발생과에 대해, 표준 브랜치 메트릭을 사용하는 누적된 브랜치 메트릭은 조건부 확률 P₂라는 결과를 가져오는 최적 및 간략화된 브랜치 메트릭 모두를 사용하는 누적된 브랜치 메트릭과 다르지 않다.

에러 발생과에 대해, 표준 메트릭 솔루션내의 누적된 브랜치 메트릭은이다. 비터비 검출기는 만일인 경우 즉,인 경우에는 점선 경로를 선택한다. 이는 조건부 확률 P₃의 결과를 가져온다.

표준 브랜치 메트릭을 사용하는 에러 발생의 전체 확률은 다음과 같다.

앞에서 설명된 표, 도 6b 및 도 6d를 참조로 하면, 이상의 최적 또는 간략화된 브랜치 메트릭을 가진 비대칭 채널상에서 표준 브랜치 메트릭을 사용을 비교할 수 있다. 표준 브랜치 메트릭을 사용함으로써, 최적 확률의 조건부 확률 성분 P₁또는 간략화된 확률의 조건부 확률 성분 P₄는에 대한 등식과또는에 대한 등식을 비교함으로써 알 수 있듯이 확률 P₂또는 P₃중 하나로 열화된다. 확률 P₃은 예를 들면, 도 6b에 도시된 에러 발생율을 좌우하기 때문에 및과에 대한 등식을 비교함으로서 알 수 있듯이 많은 에러 발생이 확률 P₃을 가지는 것의 두 배인 표준 메트릭을 가지기 때문에, 전체 에러 발생율은 대략 2배정도로부터으로 열화된다. 이는 도 6e에 도시되어 있고, 여기서 표준 브랜치 메트릭의 에러 발생 성능은 최적 브랜치 메트릭의 그것과 비교된다. 트렐리스 코드와 같은 저장된 데이터내에서의 추가의 코딩 설계의 사용은 또한 최적 또는 간략화된 브랜치 메트릭보다는 표준 브랜치 메트릭을 사용할 때 에러율을 열화시킨다.

도 7은 디코드 채널내에서 데이터 검색 채널 비대칭이 존재할 때 비터비 검출기내의 간략화된 또는 최적 브랜치 메트릭을 사용하기 위한 시스템을 도시한다. 도 7의 시스템에서, 다수의 적어도 동심원형 트랙을 따라 다수의 자화 방향 검색을 포함하는 자기 재료로 덮인 디스크(10)는 초기 아날로그 판독 신호 x(t)를 제공하기 위하여 스핀들(13) 주위에 "헤드" 위치기 및 초기 신호 프로세서(12)에 의해 선택된 트랙에 인접하여 위치하는 데이터 검색 변환기 배치 또는 "판독 헤드"를 지나 회전된다. 이러한 신호는 여러 게인 증폭기와 선형 채널 등화기를 포함하는 신호 프로세싱 블럭(14)내에서 추가적으로 프로세싱된다. 프로세싱 블럭(14)으로부터의 출력은 샘플러(15)에 의해 신호 프로세싱 블럭으로 제공된 샘플로부터 유도된 신호 프로세싱 블럭(14)에 의해 제공된 샘플 획득 타이밍 신호에 의해 동작되는 샘플-앤드-홀드(sample and hold) 회로에 기초한 샘플러(15)에 제공되는 아날로그 출력 신호 y(t)이다.

샘플러(15)에 의해 얻어진 아날로그 신호 y_i는 아날로그-디지털 컨버터(16)에 전송되고, 여기서, 이들은 2개의 여수형태의 6비트 디지털값을 가진 디지털 샘플로 변화된다. 이러한 디지털 샘플이 크기 제한기(17)를 통해 전달된 이후에, 각각의 속박된 샘플 r_i는 메트릭 발생기(18), 추가의 다음 경로 메트릭 업데이터(19) 및 경로 메모리 업데이터(20)를 포함하고 공지된 구성으로 실행되는 비터비 검출기의 일부로서 브랜치 메트릭 발생기(18)를 통과한다. 경로 메모리 업데이터(20)로부터의 출력 신호는 저장된 데이터값 x_i의 이진 비제로복귀반전(NRZI) 디지털 데이터값의 비터비 검출기에 의한 추정치를 포함한다.

샘플 r_i는 한 샘플링 주기 T의 지연을 제공하는 지연 엘리먼트를 포함하는 지연 라인(21)에 또한 제공된다. 지연 엘리먼트의 수 n은 샘플을 제공하는데 합당한 지연을 지연 라인(21)에 필요한지를 나타내고, 비터비 검출기로부터 해당 데이터값을 얻는다. 따라서, 지연 라인(21)으로부터 나오는 디지털 샘플 r_i-n은 경로 메모리 업데이터(20)의 출력부에서 제공된 추정된 데이터값과 시간적으로 관련한다. 이러한 목적으로 자기 저장 시스템이 요구되는 이러한 데이터를 사용하는 다음의 시스템 부분에 제공되는 것에 더불어 경로 메모리 업데이터(20)의 출력부에서의 이러한 디지털0 데이터값 추정치는 또한 각각의 샘플이 한 샘플링 주기 T 지연되는 두 개의 추가의 지연 엘리먼트(22, 23)에 또한 제공된다. 따라서, 만일 경로 메모리 업데이터가 추정된 저장된 디지털 데이터값이라면, 지연 엘리먼트(23)의 출력은 저장된 디지털 데이터값으로 지연된다.

경로 메모리 업데이터(20)의 출력부에 제공된 추정된 저장 디지털 데이터값은 논리 인버터(24)에 제공되고, 이로부터 이들의 변환된 논리값이 AND 게이트(25)의 입력부에 추가로 제공된다. 지연 엘리먼트(23)의 출력부에서 지연된 추정 저장 디지털 데이터값은 AND 게이트(25)의 다른 입력부에 제공된다. 따라서, AND 게이트(25)는 하나의 입력부에서 논리적으로 변환된 추정 저장 디지털 데이터값을 수신하고 다른 입력부에서 지연된 추정 저장 디지털 데이터값을 수신한다. 경로 메모리 업데이터(20)로부터의 출력 추정 저장 디지털 데이터값이 논리 "0"값과 같고 동시에 두 샘플 주기 지연된 추정 저장 디지털 데이터값이 논리 "1"값과 같을 때, 해당 채널 샘플값은 이상에서 설명된 바와 같이 음의 값을 가질 것으로 예상된다. 이러한 조건에서, 아날로그 멀티플렉서(26)의 선택 입력부에 결합된 AND 게이트(25)의 출력은 논리 "1"값을 가지고, 그 결과 이러한 멀티플렉서의 입력쌍의 쉬프트가 출력부에 연결된다.

AND 게이트(25)의 출력이 논리 "0"을 나타내는 경우, 멀티플렉서(26)의 0값 입력부에 연결된 그라운드 심벌에 의해 표현되는 0값은 출력부에 연결된다. 논리 "1"값이 AND 게이트(25)의 출력에 제공되는 선택적인 경우, 멀티플렉서(26)의 다른 입력부에서의 신호값은 출력부에 연결되고, 이 값은 (-1의 샘플값이 채널 비대칭의 경우 발생할 것으로 예상되는) ν에 대한 현재 추정된 값과 지연된 샘플 r_i-n의 값 사이의 차이를 나타낸다.

이러한 차이는 멀티플렉서(26)의 입력부에 결합되는 출력부를 가진 감산기(27)내에서 얻어진다. 감산기(27)의 한 출력부는 지연 라인(21)에 결합되어 지연된 샘플 r_i-n을 수신한다. 감산기(27)의 다른 입력부는 한 샘플 주기 앞선 추정된 값 ν이고, 이는 이하에서 이해될 수 있을 것이다. 감산기(27)내에서 발견되는 차이는 멀티플렉서(26)의 다른 입력부에 제공되어 AND 게이트(25)가 자신의 입력부에서 논리 "1"값을 가질 때 출력부에 제공된다. 멀티플렉서(26)를 통과한 이러한 차이값은 스텝 크기 제한기(28)에 제공되어 루프 안정성을 위해 충분히 작은 ν를 위한 추정값내에서 변화를 유지하고 합산기(29)의 입력부에 제공된다. ν에 대해 한 샘플 주기 앞선 추정치가 합산기(29)의 다른 입력부에 제공되고 ν의 이러한 추정치가 감산기(27)내에서 결정된 제한된 차이값과 결합된다. 이러한 출력은 한 샘플 주기와 동일한 추가의 지연 엘리먼트(30)를 통해 지연되고 감산기(27)에 제공된 ν를 위한 다음 추정치로서 제공되며, 이상에서 설명된 바와 같이 합산기(29)의 입력부에 제공된다. 게다가, ν의 이러한 다음 추정은 최적 또는 간략화된 브랜치 메트릭을 형성하는데 사용될 목적으로 브랜치 메트릭 발생기(18)에 제공된다.

간략화된 브랜치 메트릭이 최적 브랜치 메트릭보다 상당히 적은 신호 프로세싱을 필요로 하기 때문에, 이들은 브랜치 메트릭(18)내에서 사용되는 것이 바람직하다. 도 8은 간략화된 브랜치 메트릭을 사용하는 브래치 메트릭 발생기를 위한 실행을 도시한다. 두 개의 6비트 합산기(40, 41)가 제공되는데, 각각의 합산기는 좌측에 6개의 상부 입력부와 6개의 하부 입력부를 가지며, 이러한 두 쌍의 입력부상의 논리값은 해당 합산기내에서 합해져서 우측의 6개의 출력부에 논리값을 제공한다. 게다가, 추가의 캐리-인(carry-in) 입력부가 최저 6개의 입력부로 이러한 각각의 합산기의 좌측에 제공된다. 합산기(40)는 브랜치 메트릭을 위한 계산을 제공하고, 합산기(41)는 브랜치 메트릭을 위한 계산을 제공한다. 브랜치 메트릭을 위한 어떠한 계산도 요구되지 않는다.

샘플값 r_i는 도 8의 좌측의 6개의 상부 발생기 입력부(42)에 제공된다. 이러한 값은 곧바로 합산기(41)의 상부 6개의 입력부에 제공되고, 이들은 추가로 48을 통해 6개의 해당 논리 인버터(43)의 입력부에 제공된다. 48을 통한 논리 인버터(43)의 출력은 합산기(40)의 6개의 하부 입력부에 결합된다. 따라서, 샘플 r_i의 비트를 수행하는 것은 합산기(40)의 6개의 하부 입력부에 제공되어 2개의 여수 형태의 음의 값을 제공한다. 지연 엘리먼트(30)로부터 ν의 추정치는 반으로 되어 도 8의 좌측의 5개의 하부 발생기 입력부에 제공된다. ν에 대한 이러한 이진 디지트는 합산기(41)의 좌측상의 5개의 하부 입력부에 제공된다. 6번째 하부 입력부는 그라운드에 결합되어 0값을 가지는데, 그 이유는 ν값이 제공될 때 음이 되기 때문이고, 그 결과 이러한 양에 대한 기호 비트는 2개의 여수를 위해 논리값 "0"으로 설정된다.

마지막으로, 4번째 디지트를 "1"의 논리값으로 할당된 전압값에 연결시킴으로써 1/2값이 합산기(40)의 좌측상의 6개의 상부 입력부에 제공되고, 이러한 입력의 나머지는 그라운드에 연결되어 논리 "0"값을 제공한다. 합산기(40)의 캐리-인 입력부는 논리 "1"값으로 설정되고 합산기(41)의 캐리-인 입력부는 논리 "0"으로 설정된다. 다음으로 합산기(40, 41)의 추가의 행동이 브랜치 메트릭 B_ip의 디지트가 합산기(40)의 우측상의 발생기 출력부(50)에 나타나도록 하고, 브랜치 메트릭 B_in의 디지트가 합산기(41)의 발생기 출력부(51)에 나타나도록 한다.

비록 본 발명이 이상에서 바람직한 실시예를 통해 설명되었지만, 당업자라면 본 발명의 정신과 범위에서 벗어남 없이 변형이 가능하다는 것을 알 수 있을 것이다.

Claims

데이터 신호의 크기에 비대칭적으로 영향을 주는 데이터 검색 채널을 통해 자기적으로 저장된 상기 데이터로부터 얻어진 상기 데이터의 검출기에 의해 수신된 샘플의 해당 시퀀스에 의해 표현되는 데이터 심벌 시퀀스를 선택하는 데이터 심벌 시퀀스 검출기에 있어서,

상기 샘플의 상기 시퀀스내의 상기 샘플의 적어도 하나의 해당 선택된 쌍에 추정된 예상 크기값을 제공하는 예상 샘플값 추정기; 및

상기 샘플의 상기 시퀀스내의 상기 샘플값과 상기 예상 셈플값 추정기로부터 수신된 상기 해당 추정 예상값 사이의 차이를 표현하는 크기 차이 결정기를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 심벌 시퀀스 검출기.
제 1 항에 있어서, 상기 차이의 상기 표현은 상기 차이의 적어도 일부를 제곱함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 데이터 심벌 시퀀스 검출기.
제 1 항에 있어서, 상기 샘플의 상기 시퀀스내의 각각의 상기 샘플에 대한 상기 차이의 상기 표현은 상기 샘플의 적어도 일부가 상기 샘플값 및 상기 샘플값을 제곱함 없이 상기 샘플값에 해당하는 상기 추정 예상값을 사용하여 형성되는 크기인 것을 특징으로 하는 데이터 심벌 시퀀스 검출기.
제 1 항에 있어서, 상기 샘플의 상기 시퀀스내의 각각의 상기 샘플에 대한 상기 차이의 상기 표현은 상기 샘플의 적어도 일부가 상기 샘플값 및 상기 샘플과 관련된 상기 차이의 상기 표현중 임의의 하나에서 상기 해당 추정 예상값을 제곱함 없이 상기 샘플값에 해당하는 상기 추정 예상값을 사용하여 형성되는 크기인 것을 특징으로 하는 데이터 심벌 시퀀스 검출기.
제 1 항에 있어서, 상기 예상값 추정기는 상기 해당 샘플 크기 범위내로 결정된 상기 샘플의 상기 시퀀스내의 상기 샘플로부터 산술적 평균값을 결정함으로써 추정 샘플값을 제공하는 평균기인 것을 특징으로 하는 데이터 심벌 시퀀스 검출기.
제 2 항에 있어서, 상기 샘플의 상기 시퀀스내의 각각의 상기 샘플에 대한 상기 차이의 상기 표현은 상기 샘플의 적어도 일부가 상기 샘플값 및 상기 샘플과 관련된 상기 차이의 상기 표현중 임의의 하나에서 상기 해당 추정 예상값을 제곱함 없이 상기 샘플값에 해당하는 상기 추정 예상값을 사용하여 형성되는 크기인 것을 특징으로 하는 데이터 심벌 시퀀스 검출기.