KR20000048848A - 광섬유 시스템 부품 테스트용 장치 및 방법 - Google Patents

광섬유 시스템 부품 테스트용 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

각 광통로가 제 1 및 제 2 단부를 갖는 제 1 및 제 2군의 광통로, 제 1군의 광통로의 하나의 제 1단부에 제 1테스트 디바이스를 선택적으로 연결하는 제 1스위치, 제 2군의 광통로의 하나의 제 1단부에 제 2테스트 디바이스를 선택적으로 연결하는 제 2스위치, 각각의 접합이 적어도 1개의 디바이스 언더 테스트에 연결되는 적어도 1개의 리드를 갖는 복수의 접합으로서, 제 1군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부에 연결되고, 제 2군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부를 적어도 하나의 리드에 연결하는 접합으로 구성된 적어도 하나의 디바이스 언더 테스트에 제 1 및 제 2테스트 디바이스를 선택적으로 연결한 스위치 어셈블리.

Description

광섬유 시스템 부품 테스트용 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER SYSTEM COMPONENTS}
전형적으로 섬유 광 디바이스는 제조후에 그의 광학 특성을 측정하기 위해 테스트된다. 예를 들면, 디바이스의 실제 감쇠를 측정하기 위해 감쇠기를 테스트할 수 있으며, 섬유 광 커플러는 선택된 파장 및 편파에서 커플링비를 측정하기 위하여 테스트될 수 있다.
통상, 섬유 광 디바이스를 테스트하기 위해 각종 기술 및/또는 스위치 어셈블 리가 이용되어 왔다. 예를 들면, 도 1A-1B는 필립 씨. 롱허스트의 영국특허출원 2235043A에 개시된 테스트 어셈블리를 들 수 있다. 도 1A에서, 광측정 시스템은 시스템의 광원(17),(18)과 검출기(22)를 사용하여 얻어지는 광섬유 리본에 연결되는 일련의 멀티 화이버 콘넥터(15)중의 각각의 섬유의 삽입 손실을 측정한다. 다중 채널 광 스위치(1)는 광원(17), (18)에 연결된다. 1x2 양방향 스플리터(2)는 테스트되는 콘넥터(15)와 일치하는 표준 멀티 화이버 콘넥터(3)의 각각의 섬유(8)과 각각의 스위치 채널(3)의 사이에 커플링된다. 광섬유(5)는 6에서 채널(4)에 용융 접속되고, 또한 10에서 용융접 속되는 광섬유(9)에 의해 콘넥터(3)에 연결되는 광섬유 리본(7)의 섬유(8)의 하나에 용융 접속된다.
도 1B는 광섬유 측정시스템이 모니터에서 사용되고, 테스트되는 표준 멀티 화이버 콘넥터(3)와 멀티 화이버 콘넥터(15)의 일치에 의해 서로 연결되는 한쌍의 광섬유 사이의 복귀 손실을 기록할 때를 예시하는 것이다. 복귀 손실 테스트를 수행하기 위하여, 어뎁터(21)와 광역 검출기(22) (도 1A에 도시)는 분리되고, 광섬유 리본(16)의 단부로부터 제거된다. 광섬유 리본(16)의 자유 단부는 인덱스 맷칭 겔(23)에 침지되어 어떠한 빛도 반사되지 않는다. 그런 다음, 복귀 손실은 광원(17), (18) 및 부가 검출기(19), (20)을 사용하여 도전된다.
이와 같이 롱허스트 발명의 테스트 방법은 복잡하고 성가신 것이다. 더욱이, 섬유 광 디바이스의 모든 요구되는 특성은 상이한 테스트 공정에서 부가적인 접속이 이루어지지 않거나, 및/또는 추가적인 작업이 수행되지 않거나, 및/또는 추가적인 테스트 장비가 없이는 테스트를 수행할 수 없다. 그리하여 롱허스트 발명에서 테스트 시스템은 충분하지 않고, 효율적이지 못하며, 자동화에 적합하지 못하다.
도 2는 다른 공지의 스위치 어셈블리, 즉, Bellcore Generic Requirements for Fiber Optic Branching Components, GR-1209-CORE, Issue 1, 1994년 11월호에 기재된 전송 측정기를 예시한 것이다. 광원 스위치(112)는 스위치(106)을 통해 선택된 광원(104)의 하나에서 빛을 발사하여 주변 챔버(110)의 테스트하의 장치(DUT), (108)의 어느 하나로 보내어진다. 검출기(114)는 DUT(108)의 어느 하나를 파워 미터(118)에 접속하여 전송 파워와 반사 파워를 측정한다. 커플러(116)은 DUT(108)에 의해 반사된 광 파워를 검출용 스위치(114)상의 포트(r)로 향한다. 스위치(112), (114)의 포트(r)에 위치하는 레퍼런스 섬유(120)는 시간에 따른 광원 파워의 편차를 보정하는데 사용한다. 반사 레퍼런스(122)는 스위치(112)의 포트(r)에 위치하고, 측정된 광 파워로부터 반사율을 측정하는 데 사용된다.
삽입손실은 엿(108)에서 전송된 파워로부터 레퍼런스 파워(120)를 통해 전송된 파워를 뺌으로써 산출된다. 또한, 반사율은 DUT(108)에 의해 반사되는 파워에서 반사 레퍼런스(122)에 의해 반사되는 파워를 뺌으서써 산출된다. 스위치, 파워 미터 및 주변 챔버는 GPIB 인터페이스를 통해 컴퓨터로 제어된다. 그러나, 본 발명자는 이 스위치 어셉블리(섬유 광 디바이스의 주변 테스트하는 데 사용하는데 제시)는 적당하고도 충분한 섬유 광 디바이스를 테스트하는 규정된 디바이스 특성을 계산하고 특정하는 데 필요한 총 이동 매트릭스(full transfer matrix)를 한정하는 충분한 데이터를 수집하고 모으는 데 사용될 수 없다. 예를 들면, 이 스위치 어셈블리는 섬유 광 디바이스의 지향성 및/또는 인접 크로스토크 측정치를 얻거나 수집할 수 없다.
그리하여 일부, 또는 모든 관련 광 특성용 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공이 요구되어 왔다.
또한, 광섬유 양추형 테이퍼(FBT)와 같은 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공이 요구되어 왔다.
또한, 테스트 기기구성 및/또는 테스트 장비를 변경하지 않고 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신속하고, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공이 요구되어 왔다.
또한, 테스트 기기구성 및/또는 테스트 장비를 변경하지 않고 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신속하고, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공이 요구되어 왔다.
또한, 테스트 작동중 변경되는 디바이스 언터 테스트(DUT)와 테스트 디바이스 사이의 접속을 요구하지 않고 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신속하고, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공이 요구되어 왔다.
또한, 테스트중, 다른 기기와 접속 및/또는 격리 및/또는 동시 테스트하는 동안, 테스트 기기구성 및/또는 테스트 장비를 변경하지 않고 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신속하고, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공이 요구되어 왔다.
이 출원은 1997년 3월 21일에 출원된 미국 가출원 60/040,875호를 우선권 주장하여 참고로 결합한 것이다. 이 출원은 1996년 10월 1일자로 출원한 미국출원 제 08/725,651호의 계속출원이다.
본 발명은 스위치 어셈블리에 관하 것으로, 더 상세히는 광섬유, 디바이스 및/또는 섬유 광 커플러와 같은 섬유 광 디바이스를 테스트하기 위한 스위치 어셈블리에 관한 것이다. 본 발명의 어셈블리는 일부 및/또는 모든 관련 광학 특성용 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정밀하며 신뢰도 높게 테스트한다.
도 1은 테스트되는 표준 멀티 화이버 콘넥터와 멀티 화이버 콘넥터의 일치에 의해 서로 접속되는 한쌍의 광섬유사이의 삽입 손실의 기록과 모니터에 사용되는 공지의 광측정 시스템을 예시한다;
도 1B는 테스트되는 표준 멀티 화이버 콘넥터와 멀티 화이버 콘넥터의 일치에 의해 서로 접속되는 한쌍의 광섬유사이의 복귀 손실의 기록과 모니터에 사용되는 도 1의 공지의 광측정 시스템을 예시한다;
도 2는 Bellcore Generic Requirements for Fiber Optic Branching Components에 기재된 공지의 전송 측정기의 예이다;
도 3A는 광테스트기의 개략도를 나타낸 도이다;
도 3B는 디바이스 언더 테스트(DUT)로 나타낸 테스트되는 1 x 2 FBT 커플러의 대표를 예시한 것이다;
도 4는 디바이스 언더 테스트를 광스위치 어셈블리에 접속하는 테스트 공정중 제 1단계를 나타낸 도이다;
도 5는 테스트 공정중 러퍼런스 파워 값을 얻는 다음 단계를 나타낸 도이다;
도 6은 테스트 공정중 반사 파워 값을 얻는 다음 단계를 나타낸 도이다;
도 7은 테스트 공정중 디바이스 언더 테스트의 리드 1에서 리드 2까지 광 파워 분배치를 얻는 다음 단계를 나타낸 도이다;
도 8은 테스트 공정중 디바이스 언더 테스트의 리드 1에서 리드 3까지 전송된 광 파워를 결정하는 것을 나타낸 도이다;
도 9는 테스트 공정중 디바이스 언더 테스트의 리드 1에서 전송되고, 리드 1까지 디바이스 언더 테스트 배후에 의해 반사되는 광 파워를 결정하는 다음 단계를 나타낸 도이다;
도 10은 테스트 공정중 디바이스 언더 테스트의 리드 2에서 리드 1까지 전송된 광 파워를 결정하는 다음 단계를 나타낸 도이다;
도 11은 테스트 공정중 디바이스 언더 테스트의 리드 2에서 리드 3까지 전송된 광 파워를 결정하는 다음 단계를 나타낸 도이다;
도 12는 테스트 공정중 디바이스 언더 테스트의 리드 3에서 리드 2까지 전송된 광 파워를 결정하는 다음 단계를 나타낸 도이다;
도 13은 테스트되는 복수의 1 x 2 FBT에 연결된 광 테스트 장치의 개략도이다.
도 14는 테스트되는 1 x 4 FBT에 연결된 도 13에 나타낸 광 테스트 장치의 개략도이다.
본 발명의 목적은 모든 관련 광 특성용 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 광섬유 양추형 테이퍼(FBT)와 같은 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 테스트 기기구성 및/또는 테스트 장비를 변경하지 않고 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신속하고, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공하는 것이다.
또한, 본 발명은 테스트 작동중 변경되는 디바이스 언터 테스트(DUT)와 테스트 디바이스 사이의 접속을 요구하지 않고 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신속하고, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공하는 것이다.
본 발명의 더욱 다른 목적은 테스트중, 다른 기기와 접속 및/또는 격리 및/또는 동시 테스트하는 동안, 테스트 기기구성 및/또는 테스트 장비를 변경하지 않고 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하며, 신속하고, 신뢰성 높게 테스트할 수 있는 테스트 어셈블리의 제공하는 것이다.
본 발명은 섬유 광 디바이스 테스트중에 테스트 디바이스 및/또는 섬유 광 디바이스가 완벽하고 적당하게 테스트되기 전제 테스트 프로그램중 수동으로 조작하여야 하는 문제점의 이해와 확인에 기초로 한 것이다. 이러한 것은 테스트 프로그램을 수행하는 사람에 따라 다른 많은 노력이 요구되므로, 섬유 광 디바이스를 테스트하는 전 공정에서 비효율적이었다.
본 발명자는 테스트 장비의 변경이나 테스트 장비와 디바이스 언더 테스트사이?? 접속의 변경없이 예정된 테스트 프로그램에 따라 섬유 광 디바이스를 전체적으로 테스트할 수 있음을 발견하였다. 더욱이, 본 발명자는 스위치 어셈블리를 디자인하여 디바이스 언더 테스트를 DUT에 효율적이고, 효과적으로 접속할 수 있음을 발견하였다.
본 발명의 바람직한 구현예에 따라, 광 스위치 어셈블리는 적어도 하나의 광 디바이스에 광 광원 및 검축기에 선택적으로 접속한다. 이 어셈블리는 제 1 및 제 2군 광통로 및 제 1 및 제 2 광스위치를 포함한다. 제 1광스위치는 광원을 제 1군하나의 단부에 검출기를 선택적으로 접속한다. 또한, 이 어셈블리는 복수의 접합(junction)을 포함하며, 각각은 리드를 가지며, 1개 이상의 리드는 섬유 광 디바이스에 접속되어 있다. 각각의 접합은 제 1군 광통로의 하나의 다른 단부에 접속되고, 제 2군 광통로의 하나의 단부는 리드에 접속되어 섬유 광 디바이스의 테스트를 용이하게 한다.
스위치 어셈블리는 광원과 검출기를 적어도 n-리드를 갖는 적어도 하나의 섬유 광 디바이스에 연결된다. 이 어셈블리는 섬유 광 디바이스의 n-리드에 각각 연결되는 적어도 n개의 접합을 갖는 접합을 포함한다. 또한 이 어셈블리는 n개의 접합의 각각에 광원을 선택적으로 접속하고, 검출기를 n개의 접합의 각각에 접속하는 광 스위치를 포함한다.
또한, 2개의 디바이스를 실질적으로 동시에 테스트하는 광스위치 어셈블리를 사용하는 방법, 다른 디바이스가 광 스위치 어셈블리에 접속 및/또는 격리되어 있으면서 1개의 디바이스를 테스트하는 광스위치 어셈블리를 사용하는 방법, 1개의 디바이스상에서 실질적으로 동시에 2개의 테스트를 수행하는 광스위치 어셈블리를 사용하는 방법 등도 제공한다.
본 발명의 다른 목적, 이점은 첨부하는 도면 및 청구범위에 의해 그의 구성 및 작동이 더 상세히 이해될 수 있으며, 첨부 번호는 각 부품을 지칭한다.
이하, 첨부 도면을 참고로 하여 본 발명을 상세히 설명한다.
본 발명은 유사한 광 응답, 특성 및/또는 인디케이이터를 제공하는 커플러, 스위치, 주파수 분할 멀티플렉서(WDM), 필터, 감쇠기, 편광기, 도파관 등과 같은 광섬유, 디바이스 및/또는 섬유 광 디바이스(이하, 섬유 광 디바이스라 한다)를 효율적이고, 정확하고, 신속하고, 신뢰성 높게 테스트하는 것을 제공하는 것이다. WDM과 같은 이들 각종 섬유 광학 디바이스는 각종 물질, 예를 들면, 유리, 크리스탈, 금속, 플라스틱, 세라믹 등으로 구성될 수 있다.
본 방법의 모든 관련 광특성용 섬유 광 디바이스를 완벽하고, 정확하고, 신뢰성 높게 테스트하는 것이다. 본 발명은 커플러, 스위치, WDM 등과 같은 광섬유 디바이스의 광 특성, 예를 들면, Bellcore (Cell Communiations Research) Specification 1209 및/또는 1221에 간행된 표준으로서 공업 표준 명세의 테스트를 수행하는 것이다.
본 발명의 방법 및 장치의 한가지 주요한 이점은 모든 관련 광특성용 섬유 광 디바이스의 자동화 및 신속하게 테스트하는 것을 허용하는 것이다. 또한, 본 방법 및 장치의 주된 용도는 수동 섬유 광학 부품 제조업자를 위한 생산후 테스트하는 데 있다. 이 방법 및/또는 장치는 고도의 자동화 방법으로 섬유 광 디바이스를 신속하고, 신뢰성 높게 그리고 정확하게 테스트하게 한다.
이 방법을 예시하기 위하여 본 발명자는 1 x 2 FBT 커플러의 표준 Bellcore 1209 광학 테스트하는 것을 개념적으로 설명한다. 상이한 섬유 광 디바이스의 테스트는 특정 광 디바이스에 어떤 단계가 추가 및/또는 삭제되는 것을 제외하고는 단일 광섬유 및/또는 디바이스의 테스트를 포함하여 유사하다. 여기서, 명료하게 설명하기 위하여 섬유 광 디바이스 리드와 테스트 장치 연결의 수는 최소화한다. 상이한 수의 리드를 갖는 섬유 광 디바이스의 테스트는 유사하다. 다수의 접속을 갖는 테스트 장치는 다수의 리드를 갖는 디바이스 및/또는 테스트되는 다수의 디바이스를 허용한다.
도 3A는 광 테스트 장치 24의 개략도이다. 이것은 레이저, LED 등과 같은 한 셋트의 광원(26), (광원로서 표시)와 편광자, 파장 필터 등의 이들 광원(26)의 광학 특성을 선택, 제어하는 방법을 포함한다. 또한 광 테스트 장치(24)는 1 셋트의 광 검출기(28)와 테스트되는 광학 특성을 측정하는 검출기(28)를 선택 제어하는 방법을 포함한다.
광 스위치 어셈블리 (30) (광원과 검출기아래 큰 박스로 표시)은 후술하는 바와 같이 광원(26)과 검출기(28)를 디바이스 언더 테스트에 접속하는 것을 포함한다. 광 스위치 어셈블리(30)는 두 개의 1 x N 광 스위치(32), (34) (스위치A, 스위치B로 표시)와 1 셋트의 1 x 2 광 방향성 커플러(36), (38), (40), (44), (46)(작은 박스 1-6으로 표시)를 포함하며, 각각은 광통로(예, 광섬유, 도파관, 자유 스페이스 등)를 통해 양쪽 광스위치(32((34)로 접속된다.
광커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46)에 부착되는 1 셋트의 포트(48), (50), (52), (54), (56), (58)은 외부 디바이스를 광스위치 어셈블리(30)에 연결한다. 각 광커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46)는 각 포트(48), (50), (52), (54), (56), (58)를 광원(26)으로부터 인풋하는 스위치 A (32) 및 검출기(28)로 아웃풋하는 스위치 B(34) 에 연결한다.
이 접속 형태는 각 광원(26)을 인풋하고, 동시에 검출기(28)을 아웃풋하게 할 수 있다. 레퍼런스 광 반사기(60) (포드(4)아래 흑색 평행선(54))는 참조 번호 54에 계속하여 부착되어 있고, 레퍼런스 광 반사 측정 표준으로 사용된다. 광 팻치 캐이블(62) (포트(5)와 포드(6)아래 흑색 선(56), (58))은 참조번호(56)으로 표시되는 포트(5)와 참조번호(58)로 표시되는 포트(6)에 영구 결합되어 있으며, 광원(26)의 광원을 교정 측정한다.
도 3B는 테스트되는 1 x 2 FBT 커플러(DUT로 표시)의 대표를 나타낸다. 이 디바이스를 적당히 테스트하기 위하여, 각 리드에서 모든 리드(66), (68), (70)으로 광 파워의 분배를 측정하는 것이 필요하다.
도 4는 테스트 공정중 디바이스 언더 테스트(64)를 광스위치 어셈블리(30)에 접속하는 제 1단계를 나타낸다. 이를 이루기 위하여는, 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(64), (66), (68), (70)을 각각 포트(48), (50), (52)에 용융 결합시키는 것이 바람직하다. 여기서 기술한 용융 결합하는 형태 대신에 광 콘넥터, 기계적 결합, 자유 공간 결합, 도파관 등의 결합도 가능하다. 명백하게 하기 위하여, 언급)하는 광 결합은 두꺼운 흑선으로 강조할 것이다.
도 5는 테스트 공정중 러퍼런스 파워 값과 반사값을 얻는 단계를 나타낸다. 레퍼런스 광 파워 값을 결정하기 위하여, 스위치A(32)는 광원(26)을 광통로 또는 연락선(72) 및 광방향 커플러(5) (참조번호 (44))를 경유하여 포트(5) (참조번호 (44))에 연결하고, 광 팻치 캐이블(62)는 포트(5) (참조번호 (56))을 포트(6) (참조번호 (58))에 연결한다. 스위치B(32)는 검출기(28)을 광통로(74) 및 광방향 커플러(5) (참조번호 (46))를 경유하여 포트(6) (참조번호 (58))에 연결한다.
도 6은 레퍼런스 광 반사값을 결정하는 다음 단계를 나타낸다. 레퍼런스 광 반사값을 결정하는 도 6에서, 스위치A(32)는 광원(26)을 광통로(76) 및 광방향 커플러(4) (참조번호 (42))를 경유하여 포트(4) (참조번호 (54))에 연결한다. 이 레퍼런스 광 반사기(60)을 포트(4) (참조번호 (54))에 연결하고, 광 파워 예정량을 포트(4) (참조번호 (54))에 반사시킨다. 스위치B(34)는 포트(4) (참조번호 (54))를 광통로(78) 및 광방향 커플러(42)를 경유하여 검출기(28)에 연결한다.
도 7은 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(66), (66), (68), (70) 각각의 광 파워 분배값을 얻는 다음 단계를 나타낸다. 리드 1(참조번호 (66))에서 리드 2(참조번호 (68))로 전송되는 광 파워를 결정하기 위하여, 스위치A(32)는 광원(26)을 광방향 커플러(36) 및 광통로(80)을 경유하여 포트(1) (참조번호 (48))에 연결한다. 또한, 스위치B(34)는 포트(2) (참조번호 (50))를 광방향 커플러(38) 및 광통로(82)를 경유하여 검출기(28)에 연결한다. 이제 리드 1(참조번호 (66))에서 리드 2(참조번호 (68))까지의 모든 광학 측정은 이루어질 수 있다.
예를 들면, 이 테스트 시스템에 의해 이루어진 광학 측정의 종류는 Bellcore 1209 및 1221에 기재된 1종이상의 광학 테스트를 포함하여도 좋다.
도 8은 이 공정중 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(66), (68), (70) 각각의 광 파워 분배값을 얻는 다음 단계를 나타낸다. 리드 1(참조번호 (66))에서 리드 3(참조번호 (70))로 전송되는 광 파워를 결정하기 위하여, 스위치A(32)는 광원(26)을 광방향 커플러(36) 및 광통로(80)을 경유하여 포트(1) (참조번호 (48))에 연결한다. 또한, 스위치B(34)는 포트(3) (참조번호 (52))를 광방향 커플러(40) 및 광통로(84)를 경유하여 검출기(28)에 연결한다. 이제 리드 1(참조번호 (66))에서 리드 2(참조번호 (68))까지의 모든 광학 측정은 이루어질 수 있다.
도 9는 테스트 공정중 디바이스 언더 테스트(64)의 (66), (68), (70) 각각의 광 파워 분배값을 얻는 다음 단계를 나타낸다. 반사된 리드 1(참조번호 (66))에서 리드 1로 전송되는 광 파워를 결정하기 위하여, 스위치A(32)는 광원(26)을 광방향 커플러(36) 및 광통로(80)을 경유하여 포트(1) (참조번호 (48))에 연결한다. 또한, 스위치B(34)는 포트(1) (참조번호 (48))를 광방향 커플러(36) 및 광통로(86)를 경유하여 검출기(28)에 연결한다. 이제 테스트 디바이스에 의해 반사된 리드 1(참조번호 (66))에서 리드 1까지의 모든 광학 측정은 이루어질 수 있다.
도 10은 이 공정중 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(66), (68), (70) 각각의 광 파워 분배값을 얻는 다음 단계를 나타낸다. 리드 2(참조번호 (68))에서 리드 1(참조번호 (66))로 전송되는 광 파워를 결정하기 위하여, 스위치A(32)는 광원(26)을 광방향 커플러(36) 및 광통로(88)을 경유하여 포트(2) (참조번호 (50))에 연결한다. 또한, 스위치B(34)는 포트(1) (참조번호 (48))를 광방향 커플러(36) 및 광통로(86)를 경유하여 검출기(28)에 연결한다. 이제 리드 2(참조번호 (68))에서 리드 1(참조번호 (66))까지의 모든 광학 측정은 이루어질 수 있다.
도 11은 이 공정중 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(66), (68), (70) 각각의 광 파워 분배값을 얻는 다음 단계를 나타낸다. 리드 2(참조번호 (68))에서 리드 3(참조번호 (70))로 전송되는 광 파워를 결정하기 위하여, 스위치A(32)는 광원(26)을 광방향 커플러(38) 및 광통로(88)을 경유하여 포트(2) (참조번호 (50))에 연결한다. 또한, 스위치B(34)는 포트(3) (참조번호 (52))를 광방향 커플러(40) 및 광통로(84)를 경유하여 검출기(28)에 연결한다. 이제 리드 2(참조번호 (68))에서 리드 3(참조번호 (70))까지의 모든 광학 측정은 이루어질 수 있다.
도 12는 이 공정중 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(66), (68), (70) 각각의 광 파워 분배값을 얻는 다음 단계를 나타낸다. 리드 3(참조번호 (70))에서 리드 2(참조번호 (68))로 전송되는 광 파워를 결정하기 위하여, 스위치A(32)는 광원(26)을 광방향 커플러(40) 및 광통로(90)을 경유하여 포트(3) (참조번호 (52))에 연결한다. 또한, 스위치B(34)는 포트(2) (참조번호 (50))를 광방향 커플러(38) 및 광통로(82)를 경유하여 검출기(28)에 연결한다. 이제 리드 3(참조번호 (70))에서 리드 2(참조번호 (68))까지의 모든 광학 측정은 이루어질 수 있다.
테스트 디바이스에 의해 반사되는 리드(3)에서 리드(3)으로 전송되는 광 파워의 결정은 도 9에 나타낸 것과 유사하며, 리드(3)에서 리드(1)로 전송되는 광 파워의 결정은 도 8에 나타낸 것과 유사하다
이점에서, 각각의 리드에서 모든 다른 리드로의 광 분배 측정은 이루어진다. 이들 광 측정 및 초기 레퍼런스 측정을 사용하여 모든 관련한, 예를 들면 Bellcore 1209 및 1221 광 산출이 수행될 수 있다.
도 13은 테스트되는 복수의 1 x 2 FBT에 연결된 광 테스트 장치의 개략도이다. 효율을 개선하기 위하여, 다른 디바이스가 접속 및/또는 격리되는 동안 1개 이상의 다른 디바이스가 테스트될 수 있다. 예를 들면, 광 스위치 어세블리(30)는 2개의 1 x N의 광 스위치 (32), (34) (스위치A 및 스위치B로 표시) 및 1 셋트의 1 x 2 광방향 커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46), (92), (94), (96) (작은 박스 1-9로 표시)를 포함하며, 이들은 각각 2개의 광스위치(32), (34)에 접속되어 있다. 부가적인 3개의 광방향 커플러(92), (94), (96)도 포함될 수 있다.
광커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46), (92), (94), (96)에 결합되는 1 셋트의 포트(48), (50), (52), (54), (56), (58), (98), (100), (102) ( 1 x 2 커플러의 아래 작은 검은 수직선으로 표시)는 외부 디바이스를 광스위치 어셈블리(30)에 연결하는 데 사용된다. 각각의 광커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46), (92), (94), (96)는 각각의 포트(48), (50), (52), (54), (56), (58), (98), (100), (102)를 광원(26)에서 인풋하는 스위치A(32)와 검출기(28)로 아웃풋하는 스위치B(34)에 연결된다. 바람직하기로는 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(66), (68), (70)는 각각 포트(48), (50), (52)에 용융 결합되어 있다. 또한, 디바이스 언더 테스트(64)가 테스트되는 동안, 디바이스 언더 테스트(104)는 광스위치 어셈블리(30)에 연결 및/또는 격리될 수 있다. 더 구체적으로는 디바이스 언더 테스트(104)의 리드(106), (108), (110)는 포트(48), (50), (52)에 각각 용융 결합되어 디바이스 언더 테스트(64)의 테스트 후에, 또는 동시에 테스트할 수 있다.
도 14는 테스트되는 1 x 4 FBT에 연결된 도 13에 나타낸 광 테스트 장치의 개략도이다. 광 스위치 어세블리(30)는 2개의 1 x N의 광스위치 (32), (34) (스위치A 및 스위치B로 표시) 및 1 셋트의 1 x 2 광방향 커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46), (92), (94), (96) (작은 박스 1-9로 표시)를 포함하며, 이들은 각각 2개의 광스위치(32), (34)에 접속되어 있다. 부가적인 3개의 광방향 커플러(92), (94), (96)도 포함될 수 있다.
광커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46), (92), (94), (96)에 결합되는 1 셋트의 포트(48), (50), (52), (54), (56), (58), (98), (100), (102) ( 1 x 2 커플러의 아래 작은 검은 수직선으로 표시)는 외부 디바이스를 광스위치 어셈블리(30)에 연결하는 데 사용된다. 각각의 광커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46), (92), (94), (96)는 각각의 포트(48), (50), (52), (54), (56), (58), (98), (100), (102)를 광원(26)에서 인풋하는 스위치A(32)와 검출기(28)로 아웃풋하는 스위치B(34)에 연결된다. 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(66), (68), (70), (112), (114)는 각각 포트(48), (50), (52), (54), (56)에 용융 결합되어 있다. 디바이스 언더 테스트의 리드를 포트에 연결하는 다른 표준 수단이 채용될 수 있다. 예를 들면, 용융 결합 대신에 광콘넥터, 기계적 결합, 자유 공간 콘넥션, 도파관 등이 채용될 수 있다.
따라서, 도 14에 예시한 광 테스트 장치는 예정된 테스트 단계를 완료하는 테스트 공정동안 각종 연결 단계를 필요로 하지 않고, 1 x 4 FBT 커플러를 함유하는 디바이스 언더 테스트를 자동으로 테스트할 수 있다.
상기 예는 주로 1 x 2 FBT 커플러를 테스트하는 것을 예시하였으나, 테스트가 요구되는 각종 크기 및 수의 FBT 커플러, 섬유 광 디바이스, 테스트 디바이스, 광원, 검출기 및/또는 다른 디바이스가 여기서 설명한 광 테스트 장치와 함께 사용될 수 있다. 동일하게, 각종 크기 및/또는 수의 광방향 커플러도 사용될 수 있다. 더욱이, 각종 수 및/또는 크기의 광스위치도 사용될 수 있다. 또한 FBT 커플러는 다른 적당한 스위치 기구로 대체할 수 있다.
예를 들면, 1 셋트 이상의 광스위치가 1개 이상의 디바이스 언더 테스트를 실질적으로 동시에 테스트할 수 있고, 또한 실질적으로 동시에 1개 이상의 테스트를 할 수 있다. 예를 들면, 디바이스 언더 테스트(64)가 광스위치(32) 및 광원(26)에 연결된 리드(66), 검출기(28)에 결합된 광스위치(34)에 연결된 리드(66) 및 부가적인 광스위치 및 검출기를 갖는 리드(70)를 갖는 경우, 테스트 시스템은 디바이스 언더 테스트(64)의 리드(68) 및 리드(70)에서 2개의 테스트 절차를 동시에 수행할 수 있다.
유사하게, 복수 셋트의 광원 및 결합 광스위치 및 복수 셋트의 검출기 및 결합 광스위치는 필요에 따라, 실질적으로 동시에 테스트되는 복수의 디바이스 언더 테스트, 및/또는 복수 광원을 갖는 디바이스 언더 테스트 및/또는 검출기를 허용한다. 예를 들면, EDF 광증폭기와 같은 2 x 2 디바이스 언더 테스트는 테스트를 수행하기 위하여 2개의 상이한 동시 광원 및 2개의 상이한 동시 검출기가 요구된다.
여기서 기술된 분리형태의 모든 스위치는 추가의 입력/출력을 갖는 단일 스위치 디바이스와 결합되어도 좋다. 예를 들면, 스위치(32), (34)는 유사한 기능을 갖는 단일 스위치 어셈블리로 결합되어도 좋다. 광커플러(36), (38), (40), (42), (44), (46), (92), (94), (96)는 입력/출력 포트의 소요량 및/또는 유사한 기능을 갖는 단일 광커플러/스위치에 결합되어도 좋다. 즉, 상술한 예는 스위치 디바이스의 논리적 분리를 제공한 것이며, 다른 기능적으로 유사한 스위치 디바이스가 여기서 기술된 광스위치 디바이스의 범위내에서 고려될 수 있다. 더욱이, 커플러는 유사한 기능을 갖는 표준 접합 및/또는 스위치일 수 있다. 또한, 표준 1 x n 광스위치가 커플러(36), (38), (40), (42) 또는 (44) 으로 대치되는 경우, 측정되어야 하는 반사를 허용하는 광스위치(32), (34)와 광원(26) 사이에 1 x 2 광방향 커플러가 필요로 하기도 한다.
전술한 광원 및 검출기 부재는 예정된 테스트 기능을 수행하는 데 적당한 디바이스를 포함한다. 따라서, 섬유 광 디바이스를 테스트하기 위하여, 광원은 레이저일 수 있으나, 다른 디바이스를 테스트하기 위하여는 광원이 예정 회로, 반도체 디바이스, 도체 등을 정밀하게 테스트하기 위하여 다른 테스트/폴링 디바이스를 함유할 수 있다. 또한, 광원과 검출기 부재는 분리 광원 및 검출기 부재로서 유사하게 및/또는 동시에 기능성을 부여하는 단일 디바이스일 수 있다. 그리하여, 각종 테스트 디바이스 및/또는 디바이스 언더 테스트는 전술한 스위치 장치와 함께 사용할 수 있다.
광원, 검출기 및 섬유 광 디바이스 언더 테스트는 전술한 스위치 어셈블리의 각종 상이한 부재/포트에 연결될 수 있다. 즉, 전술한 실시예에서 사용된 구체적 기기 구성은 필요에 따라 적당히 변경될 수 있다. 예를 들면, 광원과 검출기의 위치는 바꾸어도 좋다. 유사하게, 적용되는 특정 테스트 프로그램과 테스트되는 리드의 수에 따라 검출기 및/또는 광원을 섬유 광 디바이스와 바꾸어도 좋다.
광원 및/또는 검출기와 같은 추가 테스트 디바이스를 사용하여도 좋다. 이 경우에, 추가의 광원 및 검출기는 동시 및/또는 최대로 유용화하기 위하여 통상의 방법 또는 전술한 방법으로 연결하여도 좋다. 예를 들면, 각각의 포트에 추가 광원을 선택적으로 연결하는 추가의 광스위치에 추가의 광원을 연결하여도 좋다. 유사하게 각각의 포트에 추가 검출기를 선택적으로 연결하는 추가의 광스위치에 추가의 검출기를 연결하여도 좋다.
광원, 검축기 및/또는 디바이스 언더 테스트를 포함하는 스위치 어셈블리중의 어느 부품의 하나를 연결하는 표준 수단이 사용되어도 좋다. 예들 들면, 용융 결합, 광콘넥터, 기계적 결합, 자유 공간 콘넥션, 도파관 등이 부품을 연결할 수 있다.
전술한 스위치 어셈블리의 잇점에 비추어볼 때, 컴퓨터로 운영되는 표준자동화 프로그램, 마이크로프로세서 등을 결합하거나 연속하여 섬유 광 디바이스를 충분히 테스트할 수 있다. 즉, 본 발명은 테스트 절차를 전체적 조합의 완료전에 변경되는 테스트 설치 및/또는 연결은 요구하지하고 적용되는 각종 테스트 절차를 허용한다.
본 발명의 많은 변화 이점을 전술한 명세서로부터 명백하고, 본 발명의 정신 및 범위내에서 본 발명의 모든 태양 및 이점을 포함하는 청구범위에 의해 시도된다. 더욱이 당분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 수많은 변화와 개량이 가능하므로 본 발명의 범위는 전술한 발명의 상세한 설명에 예시된 기재사항에 한정되는 것이 아니며, 적당한 변경 및 균등물도 본 발명의 범위에 속한다.
전술한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 전술한 광원 및 검출기 부재는 예정된 테스트 기능을 수행하는 데 적당한 디바이스를 포함한다. 따라서, 섬유 광 디바이스를 테스트하기 위하여, 광원은 레이저일 수 있으나, 다른 디바이스를 테스트하기 위하여는 광원이 예정 회로, 반도체 디바이스, 도체 등을 정밀하게 테스트하기 위하여 다른 테스트/폴링 디바이스를 함유할 수 있다. 또한, 광원과 검출기 부재는 분리 광원 및 검출기 부재로서 유사하게 및/또는 동시에 기능성을 부여하는 단일 디바이스일 수 있다. 그리하여, 각종 테스트 디바이스 및/또는 디바이스 언더 테스트는 전술한 스위치 장치와 함께 사용할 수 있다.

Claims (36)

  1. 각 광통로가 제 1 및 제 2 단부를 갖는 제 1 및 제 2군의 광통로,
    제 1군의 광통로의 하나의 제 1단부에 제 1테스트 디바이스를 선택적으로 연결하는 제 1스위치,
    제 2군의 광통로의 하나의 제 1단부에 제 2테스트 디바이스를 선택적으로 연결하는 제 2스위치,
    각각의 접합이 적어도 1개의 디바이스 언더 테스트에 연결되는 적어도 1개의 리드를 갖는 복수의 접합으로서, 제 1군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부에 연결되고, 제 2군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부를 적어도 하나의 리드에 연결하는 접합
    으로 구성된 적어도 하나의 디바이스 언더 테스트에 제 1 및 제 2테스트 디바이스를 선택적으로 연결한 스위치 어셈블리.
  2. 제 1항에 있어서,
    전술한 복수 접합의 적어도 1개가 수동 섬유 광방향 커플러인 스위치 어셈블리.
  3. 제 1항에 있어서,
    전술한 제 1 및 제 2스위치의 적어도 1개가 섬유 광 스위치인 스위치 어셈블리.
  4. 제 1항에 있어서,
    전술한 제 1 및 제 2군의 광통로의 적어도 1개가 광섬유인 스위치 어셈블리.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 제 1테스트 디바이스가 광원이고, 제 2테스트 디바이스가 검출기인 스위치 어셈블리.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 테스트 디바이스의 적어도 1개가 적어도 2개의 테스트 절차 완료전에 변경해야하는 테스트 구성을 필요로 하지 않고, 적어도 2개의 테스트 절차를 적어도 1개의 디바이스 언더 테스트에 수행함을 특징으로 하는 스위치 어셈블리.
  7. 제 1항에 있어서,
    적어도 1개의 디바이스 언더 테스트가 적어도 1개의 파장분할 멀티플렉서, 광역 섬유 광커플러, 커플러, 스위치, 필터, 감쇠기, 도파관, 섬유 광센서, 센서, 섬유 광커플러, 광섬유, 광콘넥터, 섬유 광콘넥터, 광증폭기, 섬유 광증폭기, 광스위치, 섬유 광스위치 및 편광자로 이루어진 스위치 어셈블리.
  8. 제 2항에 있어서,
    복수의 접합의 하나가 레퍼런스 반사기에 연결된 스위치 어셈블리.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 복수의 접합의 2개가 칼리브레이트의 적어도 1개에 서로 기계적 및 광학적으로 연결되어 제 1 및 제 2테스트 디바이스의 적어도 1개의 레퍼런스 측정을 얻는 스위치 어셈블리.
  10. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 접합이 레퍼런스 반사기에 연결된 제 1접합, 각각 임의로 연결된 제 2 및 제 3접합 및 디바이스 언더 테스트의 각 포트용 추가의 접합으로 이루어진 스위치 어셈블리.
  11. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 접합의 2개가 칼리브레이트의 적어도 1개에 서로 임의로 연결되어 제 1 및 제 2테스트 디바이스의 적어도 1개를 위한 레퍼런스 측정을 얻는 스위치 어셈블리.
  12. 각 광통로가 제 1 및 제 2 단부를 갖는 제 1 및 제 2군의 광통로,
    광원을 제 1군의 광통로의 하나의 제 1단부에 선택적으로 연결하는 제 1스위치,
    검출기를 제 2군의 광통로의 하나의 제 1단부에 선택적으로 연결하는 제 2 광스위치,
    상기 적어도 1개의 광 디바이스에 연결되는 적어도 1개의 리드를 갖는 복수의 접합으로서 복수의 접합이 제 1군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부에 연결되고, 제 2군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부를 적어도 하나의 리드에 연결하는 복수의 접합
    으로 구성된 적어도 하나의 섬유 광디바이스에 광원 및 검출기를 선택적으로 연결한 스위치 어셈블리.
  13. 제 12항에 있어서,
    전술한 제 1 및 제 2군의 광통로의 적어도 1개가 광섬유인 스위치 어셈블리.
  14. 제 12항에 있어서,
    광원 및 검출기가 함께 적어도 2개의 테스트 절차 완료전에 변경해야하는 테스트 구성을 필요로 하지 않고, 적어도 2개의 테스트 절차를 적어도 1개의 섬유 광 디바이스에서 수행함을 특징으로 하는 스위치 어셈블리.
  15. 제 12항에 있어서,
    적어도 1개의 디바이스 언더 테스트가 적어도 1개의 파장분할 멀티플렉서, 광역 섬유 광커플러, 커플러, 스위치, 필터, 감쇠기, 도파관, 섬유 광센서, 센서, 섬유 광커플러, 광섬유, 광콘넥터, 섬유 광콘넥터, 광증폭기, 섬유 광증폭기, 광스위치, 섬유 광스위치 및 편광자로 이루어진 스위치 어셈블리.
  16. 제 12항에 있어서, 복수의 접합의 하나가 레퍼런스 반사기에 연결된 스위치 어셈블리.
  17. 제 12항에 있어서, 상기 복수의 접합의 2개가 칼리브레이트의 적어도 1개에 서로 기계적 및 광학적으로 연결되어 제 1 및 제 2테스트 디바이스의 적어도 1개의 레퍼런스 측정을 얻는 스위치 어셈블리.
  18. 제 12항에 있어서, 상기 복수의 접합이 레퍼런스 반사기에 연결된 제 1접합, 각각 임의로 연결된 제 2 및 제 3접합 및 디바이스 언더 테스트의 각 포트용 다른 접합으로 이루어진 스위치 어셈블리.
  19. 제 12항에 있어서, 상기 복수의 접합의 2개가 칼리브레이트의 적어도 1개에 서로 임의로 연결되어 제 1 및 제 2테스트 디바이스의 적어도 1개를 위한 레퍼런스 측정을 얻는 스위치 어셈블리.
  20. 제 12항에 있어서, 상기 복수의 접합이 레퍼런스 반사기에 연결된 제 1접합, 각각 임의로 연결된 제 2 및 제 3접합 및 디바이스 언더 테스트의 각 포트용 추가의 접합으로 이루어진 스위치 어셈블리.
  21. 각 광통로가 제 1 및 제 2 단부를 갖는 제 1 및 제 2군의 광통로,
    제 1군의 광통로의 하나의 제 1단부에 광원을 선택적으로 연결하고, 제 2군의 광통로의 하나의 제 1단부에 검출기를 선택적으로 연결하는 광스위치,
    상기 적어도 1개의 광 디바이스에 연결되는 적어도 1개의 리드를 갖는 접합으로서 이 접합이 제 1군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부에 연결되고, 제 2군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부를 적어도 하나의 리드에 연결하는 접합
    으로 구성된 적어도 하나의 섬유 광디바이스에 광원 및 검출기를 선택적으로 연결한 스위치 어셈블리.
  22. 제 21항에 있어서, 광원 및 검출기가 함께 적어도 2개의 테스트 절차 완료전에 변경해야하는 테스트 구성을 필요로 하지 않고, 적어도 2개의 테스트 절차를 적어도 1개의 섬유 광 디바이스에서 수행함을 특징으로 하는 스위치 어셈블리.
  23. 제 21항에 있어서, 적어도 1개의 섬유 광 디바이스가 적어도 1개의 파장분할 멀티플렉서, 광역 섬유 광커플러, 커플러, 스위치, 필터, 감쇠기, 도파관, 섬유 광센서, 센서, 섬유 광커플러, 광섬유, 광콘넥터, 섬유 광콘넥터, 광증폭기, 섬유 광증폭기, 광스위치, 섬유 광스위치 및 편광자로 이루어진 스위치 어셈블리.
  24. 제 21항에 있어서, 상기 접합 디바이스의 하나가 레퍼런스 반사기에 연결된 스위치 어셈블리.
  25. 제 24항에 있어서, 상기 접합 디바이스가 적어도 1개의 칼리브레이트에 각각 광학적으로 연결된 제 1 및 제 2 리드를 함유하여 광원 및 검출기의 적어도 1개를 위한 레퍼런스 측정을 얻는 스위치 어셈블리.
  26. 제 21항에 있어서, 상기 접합 디바이스가 레퍼런스 반사기에 광학적으로 연결된 제 1접합, 서로 광학적으로 연결된 제 2 및 제 3접합 및 디바이스 언더 테스트의 각 포트용 다른 접합으로 이루어진 스위치 어셈블리.
  27. 제 21항에 있어서, 상기 접합 디바이스가 레퍼런스 반사기에 광학적으로 연결된 제 1접합, 서로 광학적으로 연결된 제 2 및 제 3접합 및 디바이스 언더 테스트의 각 포트용 다른 접합으로 이루어진 스위치 어셈블리.
  28. 각 광통로가 제 1 및 제 2 단부를 갖는 제 1 및 제 2군의 광통로,
    제 1군의 광통로 부재의 하나의 제 1단부에 광원을 선택적으로 연결하고, 제 2군의 광통로 부재의 하나의 제 1단부에 검출기를 선택적으로 연결하는 광스위치,
    상기 적어도 1개의 광 디바이스에 연결되는 적어도 1개의 리드를 갖는 접합으로서, 이 접합이 제 1군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부에 연결되고, 제 2군으로부터 상응하는 광통로의 제 2단부를 적어도 하나의 리드에 연결하는 접합
    으로 구성된 적어도 하나의 섬유 광디바이스에 광원 및 검출기를 선택적으로 연결한 스위치 어셈블리.
  29. (a) 광원을 제 1군의 광통로의 하나의 제 1단부에 선택적으로 연결하고;
    (b) 검출기를 제 2군의 광통로의 하나의 제 1단부에 선택적으로 연결하고;
    (c) 제 1군의 광통로의 하나의 제 2단부에 접합을 연결하고;
    (d) 제 2군의 광통로의 하나의 제 2단부에 접합을 연결하고;
    (e) 적어도 하나의 섬유 광디바이스를 접합에 연결하는
    각각의 비연속, 연속, 연속 독립적 단계의 적어도 하나를 포함하는 스위치 어셈블리를 사용하는 적어도 하나의 섬유 광디바이스에 광원 및 검출기를 선택적으로 연결하는 방법.
  30. 제 29항에 있어서, 적어도 2개의 테스트 절차 완료전에 변경해야하는 테스트 구성을 필요로 하지 않고, 적어도 2개의 테스트 절차를 적어도 1개의 섬유 광 디바이스에서 수행하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  31. 제 29항에 있어서, 추가로
    (1) 접합을 레퍼런스 반사기에 연결하고;
    (2) 레퍼런스 반사기를 사용하여 레퍼런스 테스트를 수행함을 특징으로 하는 방법.
  32. 제 31항에 있어서,
    제 1 및 제 2점합을 서로 연결하는 단계와 제 1 및 제 2접합을 사용하여 광원 및 검출기의 적어도 1개에서 칼리브레이트를 수행하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  33. 제 31항에 있어서,
    섬유 광디바이스의 각 포트를 접합의 분리 접합에 연결하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  34. 제 29항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 접합을 서로 광학적으로 연결하고, 제 1 및 제 2접합을 사용하여 광원 및 검출기의 적어도 1개에서 칼리브레이트를 수행하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  35. 제 29항에 있어서, 제 1 및 제 2 접합을 함유하고,
    (1) 제 1접합을 레퍼런스 반사기에 연결하고 레퍼런스 반사기를 이용하여 레퍼런스 테스트하고,
    (2)제 2 및 제 3접합을 각각 광학적으로 연결하고, 제 2 및 제 3접합을 사용하여 광원과 검출기의 적어도 1개를 칼리브레이트하고,
    (3) 적어도 1개의 섬유 광디바이스의 각 포트를 접합의 분리 접합에 연결하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  36. 적어도 1개의 섬유 광 디바이스의 적어도 n-리드에 연결된 적어도 n-접합을 갖는 접합 디바이스; 및
    n-접합의 각각에 광원을 선택적으로 연결하고, n-접합의 각각에 검출기를 선택적으로 연결하는 광스위치
    를 함유하는 적어도 n-리드를 갖는 적어도 1개의 섬유 광디바이스에 광원과 검출기를 선택적으로 연결한 광스위치 어셈블리.
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