KR19990052415A - LCD and its repair method - Google Patents
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Abstract
본 발명은 노말리 화이트 모드(normally white mode)에서의 화이트 픽셀결함(white pixel defect)에 대한 리페어가 가능한 액정표시소자 및 그의 리페어방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device capable of repairing white pixel defects in a normally white mode and a repair method thereof.
본 발명은 서로 교차하는 게이트 라인과 데이타 라인과; 상기 데이타 라인 및 게이트 라인에 의해 만들어지는 화소영역에 형성된 화소전극과; 상기 데이터 라인 및 게이트 라인에 연결됨과 동시에 상기 화소전극과 연결되는, 화소구동용 스위칭소자와; 상기 화소전극과 오버랩되고, 상기 게이트 라인과 나란하게 배열되어 상기 데이터 라인과 교차하며, 상기 데이터 라인과 교차하는 부분 및 화소전극과 오버랩되는 일부분에 오목부를 갖는 스토리지 전극라인과; 상기 스토리지 전극라인과 일정간격을 두고 상기 스토리지 전극라인의 오목부에 형성된 섬패턴과; 상기 스토리지 전극라인과 섬패턴을 연결하기 위한 연결부로 이루어지는 스토리지 전극으로 이루어지는 액정표시소자에 있어서, 상기 스위칭소자에 불량이 발생되면, 불량이 발생된 스위칭소자에 연결된 화소전극과 데이터 라인을 쇼트시켜 리페어하는 것을 특징으로 한다.The present invention provides a gate line and a data line that cross each other; A pixel electrode formed in the pixel region formed by the data line and the gate line; A pixel driving switching element connected to the data line and the gate line and simultaneously with the pixel electrode; A storage electrode line overlapping the pixel electrode, arranged parallel to the gate line to intersect the data line, and having a recessed portion at a portion crossing the data line and at a portion overlapping the pixel electrode; An island pattern formed at a recess of the storage electrode line at a predetermined distance from the storage electrode line; A liquid crystal display device comprising a storage electrode including a connection part for connecting the storage electrode line and an island pattern. When a failure occurs in the switching device, the pixel electrode and the data line connected to the switching device in which the failure occurs are repaired. Characterized in that.
Description
본 발명은 평판표시소자에 관한 것으로서, 노말리 화이트 모드(normally white mode)에서의 화이트 픽셀결함(white pixel defect)에 대한 리페어가 가능한 스토리지 온 커먼방식의 액정표시소자에 관한 것이다. 또한, 노말리 화이트 모드에서의 화이트 픽셀 결함을 중간계조의 멸점(滅點)으로 변환시켜 품질 및 수율을 향상시킬 수 있는 액정표시소자의 리페어방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display device, and more particularly, to a storage on common liquid crystal display device capable of repairing white pixel defects in a normally white mode. In addition, the present invention relates to a repairing method of a liquid crystal display device capable of improving the quality and yield by converting a white pixel defect in a normally white mode into a dark spot.
TFT-LCD 는 고개구율, 광시야각, 저소비전력등과 함께 대형화가 중요한 발전방향으로 자리잡고 있다. TFT-LCD를 대형화하는 데 있어서, TFT 구동능력(performance), 액정동작전압 및 높은 비저항의 유지 등이 요구되고 있다.TFT-LCD is becoming an important development direction along with high opening ratio, wide viewing angle and low power consumption. In increasing the size of a TFT-LCD, there is a demand for maintaining TFT performance, liquid crystal operating voltage and high specific resistance.
그리고, 대화면의 고화질을 얻기 위해서는 액정에 인가되는 전압을 충분히 유지시켜 주어야 하는데, 이를 위해 스토리지 캐패시터를 구비한 액정표시소자가 채택되었다.In addition, in order to obtain a high quality of the large screen, the voltage applied to the liquid crystal must be sufficiently maintained. For this purpose, a liquid crystal display device having a storage capacitor has been adopted.
일반적으로 스토리지 캐패시터를 채택한 액정표시소자는 크게 스토리지 게이트 온(storage on gate)방식과 스토리지 온 커먼(storage on common)방식으로 크게 나누어진다.In general, a liquid crystal display device employing a storage capacitor is largely divided into a storage on gate method and a storage on common method.
도 1은 종래의 스토리지 온 커먼방식을 채택한 액정표시소자의 평면 구조를 도시한 것이다. 도 1을 참조하면, 종래의 액정표시소자는 서로 교차하는 게이트 라인(11) 및 데이터 라인(12)이 배열된다.1 illustrates a planar structure of a liquid crystal display device employing a conventional storage on common method. Referring to FIG. 1, in the conventional liquid crystal display, gate lines 11 and data lines 12 that cross each other are arranged.
상기 데이터 라인(12)과 게이트 라인(11)에 의해 한정되는 화소영역(14)에는 투명도전막으로 된 화소전극(13)이 형성되고, 게이트 라인(11)과 데이터 라인(12)이 교차하는 부분에는 박막 트랜지스터(15)가 형성된다.A pixel electrode 13 made of a transparent conductive film is formed in the pixel region 14 defined by the data line 12 and the gate line 11, and a portion where the gate line 11 and the data line 12 cross each other. The thin film transistor 15 is formed.
그리고, 종래의 스토리지 온 커먼방식의 액정표시소자는 스토리지 전극(16)을 상기 화소전극(13)과 오버랩되어 상기 게이트 라인(11)과 나란히 배열되도록 형성한다.In the liquid crystal display of the conventional storage on common type, the storage electrode 16 overlaps the pixel electrode 13 so as to be arranged in parallel with the gate line 11.
상기한 바와같이 스토리지 온 커먼방식을 채택한 종래의 액정표시소자는 액정셀에 인가되는 전압을 스토리 전극(16)에 의해 유지시켜 줌으로써 화질을 개선할 수 있었다.As described above, the conventional liquid crystal display device adopting the storage on common method can improve the image quality by maintaining the voltage applied to the liquid crystal cell by the story electrode 16.
TFT-LCD 가 고화질화되어감에도 불구하고, 양품(良品)의 TFT-LCD 의 경우에도 화이트 픽셀결함 및 블랙픽셀 결함(black pixel defect)이 제조회사마다 1개 내지 8개정도 포함되어 있게 된다.In spite of the higher quality of the TFT-LCD, even in the case of good-quality TFT-LCD, white pixels and black pixel defects are included in the manufacturing range of about 1 to 8 units.
도 1에서와 같은 구조를 갖는 TFT-LCD 의 경우에는 TFT 스위칭소자(15)에 불량이 발생할 때, 화이트 픽셀의 경우에는 화소전극(13)에 전압을 인가할 수 없기 때문에 항상 밝은 휘점(輝點, white pixel)으로 남아있게 된다.In the case of a TFT-LCD having the structure as shown in FIG. 1, when a defect occurs in the TFT switching element 15, in the case of a white pixel, a voltage is not always applied to the pixel electrode 13 so that a bright bright spot , white pixels).
특히, 노말리 화이트모드의 TFT-LCD 의 경우, 상기 화이트 픽셀결함은 1개만 존재하더라도 상대적으로 사람의 눈에 잘 띄게 되기 때문에, 고품질의 TFT-LCD에 있어서 심각한 문제로 대두되고 있다.In particular, in the case of the normally white mode TFT-LCD, since only one white pixel defect is present in the human eye, it is a serious problem in high-quality TFT-LCD.
본 발명은 상기한 바와같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 노말리 화이트모드에서의 화이트 픽셀결함에 대한 리페어가 가능한 스토리지 온 커먼방식의 액정표시소자를 제공하는 데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide a storage on common liquid crystal display device capable of repairing white pixel defects in a normally white mode.
또한, 본 발명은 노말리 화이트 모드에서의 화이트 픽셀 결함을 중간계조의 멸점으로 변환시켜 품질 및 수율을 향상시킬 수 있는 스토리지 온 커먼방식의 액정표시소자를 제공하는 데 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a storage on common liquid crystal display device that can improve the quality and yield by converting the white pixel defect in the normally white mode to the halftone of the halftone.
도 1은 종래의 스토리지 온 커먼방식의 액정표시소자의 평면 구조도,1 is a planar structure diagram of a liquid crystal display device of a conventional storage on common method;
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 스토리지 온 커먼방식의 액정표시소자의 평면 구조도,FIG. 2 is a planar structure diagram of a storage on common liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention; FIG.
도 3a 와 도 3b 는 본 발명의 노말리 화이트 모드에서의 화이트 픽셀 결함에 대한 리페어방법을 설명하기 위한 도면,3A and 3B are views for explaining a repair method for a white pixel defect in a normally white mode of the present invention;
(도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명)(Explanation of symbols for the main parts of the drawing)
11, 21 : 게이트 라인 12, 22 : 데이터 라인11, 21: gate line 12, 22: data line
13, 23 : 화소전극 14, 24 : 화소영역13, 23: pixel electrode 14, 24: pixel region
15, 25 : 박막 트랜지스터 16, 26, 36 : 스토리지 전극15, 25: thin film transistors 16, 26, 36: storage electrode
26a : 스토리지 전극의 섬패턴 26b : 스토리지 전극의 연결부26a: island pattern of the storage electrode 26b: connection portion of the storage electrode
상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 서로 교차하는 게이트 라인과 데이타 라인과; 상기 데이타 라인 및 게이트 라인에 의해 만들어지는 화소영역에 형성된 화소전극을 구비하는 액정표시소자에 있어서, 상기 화소전극과 오버랩되고, 상기 게이트 라인과 나란하게 배열되어 상기 데이터 라인과 교차하며, 상기 데이터 라인과 교차하는 부분 및 화소전극과 오버랩되는 일부분에 오목부를 갖는 스토리지 전극라인과; 상기 스토리지 전극라인과 일정간격을 두고 상기 스토리지 전극라인의 오목부에 형성된 섬패턴과; 상기 스토리지 전극라인과 섬패턴을 연결하기 위한 연결부로 이루어지는 스토리지 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자를 제공하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object of the present invention, the present invention comprises a gate line and a data line crossing each other; A liquid crystal display device comprising pixel electrodes formed in a pixel region formed by the data line and the gate line, the liquid crystal display device overlapping with the pixel electrode, arranged in parallel with the gate line, and crossing the data line. A storage electrode line having a recessed portion at a portion crossing the portion and overlapping the pixel electrode; An island pattern formed at a recess of the storage electrode line at a predetermined distance from the storage electrode line; It is characterized in that it provides a liquid crystal display device further comprises a storage electrode consisting of a connecting portion for connecting the storage electrode line and the island pattern.
또한, 본 발명은 서로 교차하는 게이트 라인과 데이타 라인과; 상기 데이타 라인 및 게이트 라인에 의해 만들어지는 화소영역에 형성된 화소전극과; 상기 데이터 라인 및 게이트 라인에 연결됨과 동시에 상기 화소전극과 연결되는, 화소구동용 스위칭소자와; 상기 화소전극과 오버랩되고, 상기 게이트 라인과 나란하게 배열되어 상기 데이터 라인과 교차하며, 상기 데이터 라인과 교차하는 부분 및 화소전극과 오버랩되는 일부분에 오목부를 갖는 스토리지 전극라인과; 상기 스토리지 전극라인과 일정간격을 두고 상기 스토리지 전극라인의 오목부에 형성된 섬패턴과; 상기 스토리지 전극라인과 섬패턴을 연결하기 위한 연결부로 이루어지는 스토리지 전극으로 이루어지는 액정표시소자에 있어서, 상기 스위칭소자에 불량이 발생되면, 불량이 발생된 스위칭소자에 연결된 화소전극과 데이터 라인을 쇼트시켜 리페어하는 액정표시소자의 리페어방법을 제공하는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention includes a gate line and a data line crossing each other; A pixel electrode formed in the pixel region formed by the data line and the gate line; A pixel driving switching element connected to the data line and the gate line and simultaneously with the pixel electrode; A storage electrode line overlapping the pixel electrode, arranged parallel to the gate line to intersect the data line, and having a recessed portion at a portion crossing the data line and at a portion overlapping the pixel electrode; An island pattern formed at a recess of the storage electrode line at a predetermined distance from the storage electrode line; A liquid crystal display device comprising a storage electrode including a connection part for connecting the storage electrode line and an island pattern. When a failure occurs in the switching device, the pixel electrode and the data line connected to the switching device in which the failure occurs are repaired. It is characterized by providing a repair method of a liquid crystal display device.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 불량이 발생된 상기 스위칭소자에 연결된 화소전극과 상기 데이터 라인을 쇼트시켜 주는 방법은 상기 스토리지 전극의 연결부를 커팅하여 스토리지 전극라인으로부터 섬패턴을 분리하는 단계와; 상기 분리된 섬패턴과 상기 화소전극을 쇼트시키는 단계와; 상기 분리된 섬패턴을 상기 데이터 라인과 쇼트시켜 화소전극과 데이터 라인을 쇼트시켜 주는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, a method of shorting a pixel electrode and a data line connected to the switching element in which the failure occurs comprises the steps of: separating an island pattern from a storage electrode line by cutting a connection of the storage electrode; Shorting the separated island pattern and the pixel electrode; And shorting the separated island pattern with the data line to short the pixel electrode and the data line.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 스토리지 전극의 스토리지 전극라인으로부터 섬패턴을 분리시켜주는 방법은 레이저를 이용하여 상기 연결부를 커팅하여 상기 스토리지 전극라인으로부터 섬패턴을 분리하는 것을 특징으로 한다.According to an embodiment of the present invention, the method for separating the island pattern from the storage electrode line of the storage electrode is characterized in that the island pattern is separated from the storage electrode line by cutting the connection using a laser.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 스토리지 전극의 스토리지 전극라인으로부터 분리된 섬패턴과 상기 화소전극 그리고 상기 스토리지 전극의 스토리지 전극라인으로부터 분리된 섬패턴과 데이터 라인은 레이저 용접을 통하여 쇼트시켜주는 것을 특징으로 한다.According to an embodiment of the present invention, the island pattern separated from the storage electrode line of the storage electrode and the pixel electrode and the island pattern and data line separated from the storage electrode line of the storage electrode are shortened by laser welding. It is done.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 스토리지 전극의 스토리지 전극라인으로부터 섬패턴을 통한 화소전극과 데이터 라인의 쇼트에 의해 상기 화소전극에는 항상 일정 전압이 인가되어 화소는 멸점으로 존재하는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, a constant voltage is always applied to the pixel electrode by a short circuit between the pixel electrode and the data line through the island pattern from the storage electrode line of the storage electrode, so that the pixel exists as a dark spot.
이하 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 스토리지 온 커먼방식의 액정표시소자의 평면구조를 도시한 것이다. 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자는 서로 교차하도록 게이트라인(21)과 데이터 라인(22)이 배열되고, 게이트 라인(21)과 데이터 라인(22)이 교차하는 부분에는 박막 트랜지스터(15)가 형성된다.2 illustrates a planar structure of a storage on common liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention. 2, in the liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention, the gate line 21 and the data line 22 are arranged to intersect with each other, and the gate line 21 and the data line 22 cross each other. The thin film transistor 15 is formed.
상기 데이터 라인(22)과 게이트 라인(21)에 의해 한정되는 화소영역(24)에는 투명도전막으로 된 화소전극(23)이 형성되는데, 이 화소전극(23)중 상기 스토리지 전극(26)과 오버랩되는 부분은 스토리지 전극(26)과 함께 스토리지 캐패시터를 구성한다.A pixel electrode 23 made of a transparent conductive film is formed in the pixel region 24 defined by the data line 22 and the gate line 21, and overlaps with the storage electrode 26 of the pixel electrodes 23. The portion to be formed together with the storage electrode 26 constitutes a storage capacitor.
본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자에서는, 스토리지 전극(26)은 화소전극(23)을 가로질러 형성되는데, 스토리지 전극(26)은 데이터 라인(22)이 교차하는 부분 및 화소전극(23)과 오버랩되는 일부분에서 오목부를 갖는 스토리지 전극라인(26a)과 상기 스토리지 전극라인(26a)의 오목부에 스토리지 전극라인(26a)과 일정간격을 두고 형성되어 있는 섬패턴(26b)을 구비한다. 또한, 상기 스토리지 전극(26)은 상기 스토리지 전극라인(26a)과 섬패턴(26b)은 연결부(26c)를 통해 서로 연결되어 있다.In the liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention, the storage electrode 26 is formed across the pixel electrode 23, and the storage electrode 26 includes a portion where the data lines 22 cross and the pixel electrode 23. A storage electrode line 26a having a recess at a portion overlapping with the storage electrode line 26a and an island pattern 26b formed at a predetermined distance from the storage electrode line 26a at a recess of the storage electrode line 26a are provided. In addition, the storage electrode 26 is connected to the storage electrode line 26a and the island pattern 26b through the connection part 26c.
상기한 바와같은 구조를 갖는 액정표시소자에 있어서, TFT 스위칭소자(25)에 불량이 발생하지 않아 정상적으로 동작을 하는 경우에는, 상기 TFT 스위칭소자(25)를 통해 상기 화소전극(23)에 전압이 인가된다.In the liquid crystal display device having the structure as described above, when the TFT switching device 25 does not have a defect and operates normally, a voltage is applied to the pixel electrode 23 through the TFT switching device 25. Is approved.
따라서, TFT-LCD 는 정상적인 노말리 화이트모드로 동작을 하게 된다. 이때, 연결부(26c)를 통해 스토리지 전극라인(26a)과 연결되어 있는 섬패턴(26b)은 스토리지 전극의 일부분으로서 작용한다.Therefore, the TFT-LCD operates in the normal normally white mode. At this time, the island pattern 26b connected to the storage electrode line 26a through the connection part 26c serves as a part of the storage electrode.
그러나, TFT 스위칭소자(25)에 불량이 발생된 경우에는, 상기 FTF 스위칭소자(25)를 통해 화소전극(23)으로 전압이 인가되지 않고, 이에 따라 불량이 발생한 TFT 스위칭소자에 대응하는 화소는 노말리 화이트모드에서 항상 화이트 픽셀로 존재하게 된다. 즉, 화이트 픽셀 결함이 발생되게 된다.However, when a defect occurs in the TFT switching element 25, no voltage is applied to the pixel electrode 23 through the FTF switching element 25, and thus, the pixel corresponding to the TFT switching element in which the defect occurs is In normal white mode, there will always be white pixels. That is, white pixel defects are generated.
이 경우에는 도 3에서와 같이 섬패턴(26b)과 스토리지 전극라인(26a)을 분리시켜 줌으로써 리페어를 하게 된다. 먼저, 도 3a에 도시된 바와같이, 불량이 발생된 TFT 스위칭소자(25)에 대응하는 스토리지 전극라인(26a)으로부터 섬패턴(26b)을 분리시키는데, 스토리지 전극라인(26a)과 섬패턴(26b)을 연결하기 위한 연결부(26c)를 레이저를 이용하여 커팅(cutting)한다. 이로써, 연결부(26c)가 끊어져 스토리지 전극라인(26a)으로부터 섬패턴(26b)이 분리되어진다.In this case, repair is performed by separating the island pattern 26b and the storage electrode line 26a as shown in FIG. 3. First, as shown in FIG. 3A, the island pattern 26b is separated from the storage electrode line 26a corresponding to the TFT switching element 25 in which the failure occurs. The storage electrode line 26a and the island pattern 26b are separated from each other. ) And cuts the connecting portion 26c using a laser. As a result, the connection part 26c is broken to separate the island pattern 26b from the storage electrode line 26a.
이어서, 도 3b에 도시된 바와같이, 화소전극(23)과 스토리지 전극라인(26a)으로부터 분리된 섬패턴(26b)을 레이저 용접(laser welding)을 통해 쇼트시킨다. 그리고, 데이터 라인(22) 및 섬패턴(26b)도 레이저 용접을 통해 쇼트시킨다.Subsequently, as shown in FIG. 3B, the island pattern 26b separated from the pixel electrode 23 and the storage electrode line 26a is shortened by laser welding. The data line 22 and the island pattern 26b are also shorted by laser welding.
도 3b에서 C1 과 C2 는 각각 화소전극(23)과 섬패턴(26b)간의 쇼트부분과 데이터 라인(22)과 섬패턴(26b)간의 쇼트부분을 나타낸다.In FIG. 3B, C1 and C2 represent a short portion between the pixel electrode 23 and the island pattern 26b and a short portion between the data line 22 and the island pattern 26b, respectively.
상기한 바와같이 FTF 스위칭소자에 불량이 난 화소전극을 스토리지 전극의 일부분인 섬패턴(26b)을 통해 쇼트시킴과 동시에 섬패턴(26b)과 데이터 라인(22)을 쇼트시켜 줌으로써, TFT 스위칭소자에 불량이 난 화소의 화소전극(23)을 데이터 라인(22)과 항상 쇼트시켜 준다.As described above, the pixel electrode, which is defective in the FTF switching element, is shorted through the island pattern 26b, which is a part of the storage electrode, and the island pattern 26b and the data line 22 are shortened, thereby providing a TFT switching element. The pixel electrode 23 of the defective pixel is always shorted with the data line 22.
이에 따라, 화소전극(23)에는 항상 섬패턴(26b)을 통해 데이터라인(22)으로부터 전압이 인가됨에 따라 평균전압(Vrms)이 걸리게 된다. 이에 따라 노말리 화이트 모드에서의 화이트 픽셀결함은 발생되지 않고, 불량이 난 화소는 평균전압이 인가됨에 따라 항상 중간계조의 멸점이 된다.Accordingly, the average voltage Vrms is applied to the pixel electrode 23 as the voltage is always applied from the data line 22 through the island pattern 26b. Accordingly, the white pixel defect does not occur in the normally white mode, and the defective pixel is always the halftone of the halftone as the average voltage is applied.
그러므로, 사람의 눈에는 화이트 픽셀결점에 비해 상대적으로 덜 인식되게 되어, 화이트 픽셀결함에 의한 화질저하 및 수율저하를 방지한다.Therefore, the human eye is relatively less recognized than white pixel defects, thereby preventing deterioration in image quality and yield caused by white pixel defects.
상기한 바와같은 본 발명에 따르면, 스토리지 전극에 데이터 라인과 교차하는 섬패턴을 형성하여 정상동작시에는 스토리지 전극으로 이용하고, TFT 스위칭소자에 불량발생시에는 스토리지 전극으로부터 섬패턴을 레이저를 이용하여 분리시킴과 동시에 화소전극과 데이터 라인을 쇼트시켜 준다. 이에 따라, 노말리 화이트모드에서 불량이 발생한 화소를 중간계조의 멸점으로 만들어줌으로써, 고화질 및 고품격의 TFT-LCD를 얻을 수 있다.According to the present invention as described above, by forming an island pattern intersecting the data line on the storage electrode and using it as a storage electrode in normal operation, and separating the island pattern from the storage electrode by using a laser when a defect occurs in the TFT switching element. At the same time, the pixel electrode and the data line are shorted. As a result, a high-definition and high-quality TFT-LCD can be obtained by making the pixel in which the defect occurs in the normally white mode into the halftone of the halftone.
또한, 불량이 발생한 화소를 사람의 눈이 덜 인식되는 중간계조의 멸점으로 리페어가 가능하므로, 수율을 향상시킬 수 있다.In addition, since the defective pixel can be repaired as the halftone of the halftone in which the human eye is less recognized, the yield can be improved.
기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.In addition, this invention can be implemented in various changes within the range which does not deviate from the summary.
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Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970071879A KR19990052415A (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | LCD and its repair method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970071879A KR19990052415A (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | LCD and its repair method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19990052415A true KR19990052415A (en) | 1999-07-05 |
Family
ID=66090862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019970071879A KR19990052415A (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | LCD and its repair method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR19990052415A (en) |
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