KR100719916B1 - Tft-lcd with means for repairing line open and interlayer short - Google Patents
Tft-lcd with means for repairing line open and interlayer short Download PDFInfo
- Publication number
- KR100719916B1 KR100719916B1 KR1020000036139A KR20000036139A KR100719916B1 KR 100719916 B1 KR100719916 B1 KR 100719916B1 KR 1020000036139 A KR1020000036139 A KR 1020000036139A KR 20000036139 A KR20000036139 A KR 20000036139A KR 100719916 B1 KR100719916 B1 KR 100719916B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- line
- thin film
- film transistor
- data line
- data
- Prior art date
Links
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 title abstract description 16
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1343—Electrodes
- G02F1/134309—Electrodes characterised by their geometrical arrangement
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
- G02F1/136263—Line defects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Geometry (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
본 발명은 라인 오픈 및 층간 쇼트를 리페어할 수 있는 리페어 수단이 구비된 박막 트랜지스터 액정표시장치를 개시하며, 개시된 본 발명의 박막 트랜지스터 액정표시장치는, 교번적으로 게이트 라인 및 보조용량 라인이 서로 평행하게 배열되어 있고, 게이트 절연막의 개재하에 상기 게이트 라인 및 보조용량 라인과 교차하게 데이터 라인이 배열되어 있으며, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에는 스위칭 소자로서 박막 트랜지스터가 배치되어 있고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인에 의해 한정된 화소 영역에는 화소 전극이 배치되어 있는 구조의 박막 트랜지스터 어레이 기판을 포함하는 박막 트랜지스터 액정표시장치로서, 상기 각 화소 영역의 상기 데이터라인들과 인접하는 양측 가장자리 부분 각각에 일측 및 타측 단부가 상기 데이터 라인 및 화소전극과 각각 오버랩되는 바 형태(bar type)의 리페어 패턴이 배치되어 있는 것을 특징으로 한다. The present invention discloses a thin film transistor liquid crystal display device having a repair means capable of repairing line open and interlayer short. The disclosed thin film transistor liquid crystal display device of the present invention alternately has a gate line and a storage capacitor line parallel to each other. And a data line are arranged to intersect the gate line and the storage capacitor line under a gate insulating film. A thin film transistor is disposed as a switching element at an intersection of the gate line and the data line. And a thin film transistor array substrate having a structure in which pixel electrodes are disposed in a pixel region defined by a data line, the thin film transistor liquid crystal display comprising: one side and each side edge portion adjacent to the data lines of each pixel region. The other end is the data The repair and the pattern of the pixel electrode and a bar-type (type bar), each overlapping and being disposed.
Description
도 1은 종래 기술에 따른 박막 트랜지스터 액정표시장치의 박막 트랜지스터 어레이 기판을 도시한 평면도. 1 is a plan view illustrating a thin film transistor array substrate of a thin film transistor liquid crystal display device according to the related art.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 라인 오픈 및 층간 쇼트 리페어용 수단이 구비된 박막 트랜지스터 액정표시장치의 박막 트랜지스터 어레이 기판을 도시한 평면도. FIG. 2 is a plan view illustrating a thin film transistor array substrate of a thin film transistor liquid crystal display device having line opening and interlayer short repair means according to an exemplary embodiment of the present invention; FIG.
도 3a 내지 도 3c는 본 발명에 따른 박막 트랜지스터 액정표시장치에서의 라인 오픈 및 층간 쇼트의 리페어 방법을 설명하기 위한 평면도. 3A to 3C are plan views illustrating a method for repairing line open and interlayer short in a thin film transistor liquid crystal display according to the present invention;
(도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명)(Explanation of symbols for the main parts of the drawing)
2 : 게이트 라인 3 : 보조용량 라인2: gate line 3: auxiliary capacitance line
4 : 데이터 라인 5a : 소오스 전극4:
5b : 드레인 전극 6 : 화소 전극5b: drain electrode 6: pixel electrode
10 : 박막 트랜지스터 20 : 리페어 패턴10: thin film transistor 20: repair pattern
본 발명은 박막 트랜지스터 액정표시장치에 관한 것으로, 특히, 라인 오픈 및 층간 쇼트에 의한 결함을 리페어할 수 있는 리페어용 수단이 구비된 박막 트랜지스터 액정표시장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thin film transistor liquid crystal display device, and more particularly, to a thin film transistor liquid crystal display device having a repair means capable of repairing defects caused by line open and interlayer short.
액정표시장치는 경량, 박형 및 저소비 전력 등의 특성을 갖기 때문에, CRT(Cathod-ray tube)를 대신하여 각종 정보기기의 단말기 또는 비디오기기 등에 사용되고 있다. 특히, 박막 트랜지스터 액정표시장치(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display : 이하, TFT-LCD)는 응답 특성이 우수하고, 그리고, 고화소수에 적합하기 때문에 상기 CRT에 필적할만한 고화질 및 대형의 표시장치를 실현할 수 있다. Since liquid crystal displays have characteristics such as light weight, thinness, and low power consumption, they are used in terminals or video devices of various information apparatuses in place of the CRT (Cathod-ray tube). In particular, the thin film transistor liquid crystal display (hereinafter referred to as TFT-LCD) has excellent response characteristics and is suitable for high pixel number, so that a high quality and large display device comparable to the CRT can be realized. Can be.
이러한 TFT-LCD는, 통상, TFT 어레이 기판(TFT array substrate)과 컬러필터 기판(color filter substrate) 사이에 액정층이 개재된 구조로 이루어져 있으며, 각 화소에 구비된 TFT에 의해 상기 각 화소가 개별적으로 구동되어 소정의 화상을 표시하게 된다. Such a TFT-LCD generally has a structure in which a liquid crystal layer is interposed between a TFT array substrate and a color filter substrate, and each pixel is individually separated by a TFT provided in each pixel. Is driven to display a predetermined image.
도 1은 종래 기술에 따른 TFT-LCD의 TFT 어레이 기판을 도시한 평면도로서, 도시된 바와 같이, 수 개의 게이트 라인들(2)이 일방향으로 배열되어 있고, 상기 게이트 라인들(2) 사이에는 스토리지 온 커먼(storage on common) 방식으로 보조용량 라인(3)이 배열되어 있으며, 상기 게이트 라인(2) 및 보조용량 라인(3)과 교차하는 방향으로 수 개의 데이터 라인들(4)이 배열되어 있다. 그리고, 상기 게이트 라인(2) 및 데이터 라인(4)의 교차부에는 스위칭 소자인 TFT(10)가 배치되어 있고, 상기 게이트 라인(2) 및 데이터 라인(4)에 의해 한정된 화소 영역에는 ITO 금속막 으로 이루어진 화소 전극(6)이 배치되어 있다. 도 1에서, 도면부호 5a 및 5b는 소오스 및 드레인 전극을 나타낸다. 1 is a plan view showing a TFT array substrate of a TFT-LCD according to the prior art, and as shown,
한편, 상기 게이트 라인(2)과 데이터 라인(4), 그리고, 상기 보조용량 라인(3)과 데이터 라인(4)은 그들 사이에 개재되는 게이트 절연막에 의해서 전기적으로 절연되며, 보조용량(Cs)은 상기 보조용량 라인(3)과 게이트 절연막 및 화소 전극(6) 사이에서 얻어진다. On the other hand, the
그러나, 상기와 같은 구조의 TFT 어레이 기판을 갖는 종래의 TFT-LCD는, 상기 TFT 어레이 기판의 제조 과정에서 발생되는 불순물 또는 그 밖의 요인에 의한 결함, 예컨데, 라인 결함(line defect), 또는, 화소 결함(pixel defect) 등에 의해서 그 신뢰성이 확보되지 못하고, 아울러, 제조수율이 불량한 문제점이 있다. However, a conventional TFT-LCD having a TFT array substrate having such a structure is a defect caused by impurities or other factors generated in the manufacturing process of the TFT array substrate, for example, a line defect or a pixel. There is a problem that the reliability is not secured due to a pixel defect, etc., and the manufacturing yield is poor.
이에 따라, 종래에는 공정 결함을 미리 제거하거나, 또는, 화소 구조 및 라인 디자인의 변경을 통해 상기한 결함들을 방지하고 있는데, 상기 방법들은 화소 결함이나 동일층에서의 쇼트 결함 등은 해결할 수 있지만, 데이터 라인과 보조용량 라인의 교차부에서 흔히 발생되는 라인 오픈(line open) 및 층간 쇼트(interlayer short)와 같은 결함 등은 해결하지 못하는 문제점이 있다. Accordingly, the above-mentioned defects are conventionally prevented by removing process defects in advance or by changing the pixel structure and line design. The above methods can solve pixel defects or short defects in the same layer, but the data Defects such as line open and interlayer short, which often occur at the intersection of the line and the auxiliary capacitance line, cannot be solved.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 라인 오픈 및 층간 쇼트를 리페어할 수 있는 리페어용 수단이 구비된 TFT-LCD를 제공하는데, 그 목적이 있다. Accordingly, an object of the present invention is to provide a TFT-LCD equipped with a repair means capable of repairing line open and interlayer short, which has been devised to solve the above problems.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 TFT-LCD는, 교번적으로 게이트 라인 및 보조용량 라인이 서로 평행하게 배열되어 있고, 게이트 절연막의 개재하에 상기 게이트 라인 및 보조용량 라인과 교차하게 데이터 라인이 배열되어 있으며, 상기 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에는 스위칭 소자로서 박막 트랜지스터가 배치되어 있고, 상기 게이트 라인과 데이터 라인에 의해 한정된 화소 영역에는 화소 전극이 배치되어 있는 구조의 TFT 어레이 기판을 포함하는 TFT-LCD로서, 상기 각 화소 영역의 상기 데이터라인들과 인접하는 양측 가장자리 부분 각각에 일측 및 타측 단부가 상기 데이터 라인 및 화소전극과 각각 오버랩되는 바 형태(bar type)의 리페어 패턴이 배치되어 있는 것을 특징으로 한다. In the TFT-LCD of the present invention for achieving the above object, the gate line and the auxiliary capacitance line are alternately arranged in parallel with each other, and the data line intersects with the gate line and the auxiliary capacitance line under the intervening gate insulating film. And a TFT array substrate having a structure in which a thin film transistor is disposed as a switching element at an intersection portion of the gate line and a data line, and a pixel electrode is disposed in a pixel region defined by the gate line and the data line. A TFT-LCD comprising a bar type repair pattern in which one side and the other end overlap with each other of the data line and the pixel electrode at each side edge portion adjacent to the data lines of the pixel area. It is characterized by being.
본 발명에 따르면, 게이트 라인의 형성시에 데이터 라인의 오픈 및 층간 쇼트를 리페어할 수 있는 리페어용 패턴을 추가로 더 구비시킴으로써, 상기 데이터 라인의 오픈 및 보조용량 라인과의 쇼트 발생시, 상기 결함들을 용이하게 리페어할 수 있다. According to the present invention, by further comprising a repair pattern for repairing the open and interlayer short of the data line when the gate line is formed, the defects in the occurrence of a short with the open and auxiliary capacitance line of the data line It can be repaired easily.
(실시예)(Example)
이하, 첨부된 도면에 의거하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 라인 오픈 및 층간 쇼트 리페어용 수단이 구비된 TFT-LCD의 TFT 어레이 기판을 개략적으로 도시한 평면도로서, 이를 설명하면 다음과 같다. 여기서, 도 1과 동일한 부분은 동일한 도면부호로 나타낸다. 2 is a plan view schematically illustrating a TFT array substrate of a TFT-LCD equipped with a means for line open and interlayer short repair according to an embodiment of the present invention. Here, the same parts as in Fig. 1 are designated by the same reference numerals.
도시된 바와 같이, 게이트 라인(2)과 및 보조용량 라인(3)이 일방향으로 서 로 평행하게 교번적으로 배열되어 있으며, 데이터 라인(4)이 상기 게이트 라인(2) 및 보조용량 라인(3)과 교차하는 방향으로 배열되어 있다. 그리고, 상기 게이트 라인(2)과 데이터 라인(4)의 교차부에는 상기 게이트 라인(2)의 일부분인 게이트 전극과, 상기 데이터 라인(4)으로부터 돌출된 드레인 전극(5b) 및 상기 드레인 전극(5b)과 이격하여 대향·배치된 소오스 전극(5a)을 포함하는 TFT(10)가 배치되어 있다. 또한, 상기 게이트 라인(2) 및 데이터 라인(4)에 의해 한정된 화소 영역에는 ITO 금속막과 같은 투명 금속막으로 이루어지고, 상기 보조용량 라인(3)과 오버랩되면서 상기 TFT(10)의 소오스 전극(5a)과 전기적으로 콘택되게 화소 전극(6)이 배치되어 있다. As shown, the
게다가, 각 화소에는 일측 및 타측 단부가 데이터 라인(4) 및 화소전극(6)과 각각 오버랩되는 바 형태(bar type)의 리페어 패턴(20)이 상기 화소 영역의 양측 가장자리 부분에 각각 하나씩 배치되어 있다. 여기서, 상기 리페어 패턴(20)은 상기 게이트 라인(2)의 형성시에 함께 형성된 것으로, 상기 게이트 라인(2)과 동일면 상에 배치되며, 또한, 도시되지는 않았으나, 게이트 절연막에 의해 상기 데이터 라인(4) 및 화소 전극(6)과 전기적으로 절연된다. In addition, each pixel includes a bar
상기와 같은 구조로 TFT 어레이 기판을 구성하게 되면, 비록, 그 제조 공정에서 데이터 라인(4)의 오픈, 또는, 보조용량 라인(3)과 데이터 라인(4)간의 쇼트가 발생되더라도, 레이저 리페어 장비를 이용한 웰딩(welding)을 행하여 상기 리페어 패턴(20)의 일측 단부와 데이터 라인(4)간의 연결, 그리고, 상기 리페어 패턴(20)의 타측 단부와 화소 전극(6)간을 연결시킴으로써, 상기한 결함들을 용이 하게 리페어할 수 있다. When the TFT array substrate is formed in the above structure, even if the
자세하게, 도 3a 내지 도 3c는 본 발명에 따른 리페어 패턴이 구비된 TFT 어레이 기판에서의 데이터 라인 오픈 및 층간 쇼트의 리페어 방법을 설명하기 위한 평면도이다. 여기서, 도면부호 A 및 B는 데이터 오픈 지점, 그리고, C는 보조용량 라인과 데이터 라인간의 층간 쇼트 지점을 나타내며, O는 컷팅 지점(cutting point), I는 전류 흐름(current flow), 그리고, W는 웰딩 지점(welding point)을 나타낸다. In detail, FIGS. 3A to 3C are plan views illustrating a repair method of data line open and interlayer short in a TFT array substrate equipped with a repair pattern according to the present invention. Here, reference numerals A and B denote data open points, and C denote interlayer short points between the storage capacitor lines and the data lines, O denotes a cutting point, I denotes a current flow, and W Denotes a welding point.
먼저, 도 3a 및 3b에 도시된 바와 같이, 공정 상의 요인, 파티클(particle), 또는, 단차에 의해서 데이트 라인(4)의 오픈이 발생된 경우, 화소 영역의 양측 가장자리에 각각 배치된 리페어 패턴(20)과 데이터 라인(4) 및 화소 전극(6)간을 레이저 리페어 장비를 이용하여 각각 쇼트시킨다. 이에 따라, 상기 데이터 라인(4)에 실려진 신호는 상기 데이터 라인(4)과 쇼트된 한 쌍의 리페어 패턴(20)과 화소 전극(6)을 통해 오픈되지 않은 데이터 라인 부분으로 전달되고, 그래서, 상기 데이터 라인(4)의 오픈이 리페어되어 데이터 신호의 전달이 정상적으로 이루어지게 된다. First, as shown in FIGS. 3A and 3B, when an opening of the
여기서, 리페어가 수행됨에 따라, 상기 라인 오픈에 의한 결함은 화소 결함으로 변하게 되며, 이 결과, 표시 영역 전체에 대해서는 양호한 표시 특성을 얻을 수 있게 된다. Here, as the repair is performed, the defect due to the line opening turns into a pixel defect, and as a result, good display characteristics can be obtained for the entire display area.
다음으로, 도 3c에 도시된 바와 같이, 보조용량 라인(6)과 데이터 라인(4)간의 층간 쇼트가 발생된 경우, 상기 층간 쇼트 지점(C)의 양측의 데이터 라인 부분은 레이저 리페어 장비를 이용하여 각각 컷팅시키고, 반면, 리페어 패턴(20)과 데 이터 라인(4) 및 리페어 패턴(20)과 화소 전극(6)은 쇼트시킴으로써, 상기 층간 쇼트에 대한 리페어를 행한다. Next, as illustrated in FIG. 3C, when an interlayer short circuit between the
이 경우에도 마찬가지로, 상기 층간 쇼트는 용이하게 리페어되며, 그래서, 데이터 신호의 정상적인 전달이 이루어질 수 있다. In this case as well, the interlayer short is easily repaired, so that normal transmission of the data signal can be achieved.
이상에서와 같이, 본 발명은 각 화소에 일측 및 타측 단부가 데이터 라인 및 화소 전극과 각각 오버랩되는 바 형태의 리페어 패턴을 구비시킴으로써, 라인 오픈 및 층간 쇼트에 의한 결함을 손쉽게 리페어할 수 있으며, 그래서, TFT-LCD의 제조 수율을 향상시킬 수 있음은 물론, 그 표시 품질을 향상시킬 수 있다. As described above, according to the present invention, by providing a repair pattern in the form of bars in which one side and the other end of the pixel overlap each other with the data line and the pixel electrode, defects due to line open and interlayer short can be easily repaired. In addition, the manufacturing yield of the TFT-LCD can be improved, and the display quality thereof can be improved.
기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다. In addition, this invention can be implemented in various changes within the range which does not deviate from the summary.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000036139A KR100719916B1 (en) | 2000-06-28 | 2000-06-28 | Tft-lcd with means for repairing line open and interlayer short |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000036139A KR100719916B1 (en) | 2000-06-28 | 2000-06-28 | Tft-lcd with means for repairing line open and interlayer short |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020001425A KR20020001425A (en) | 2002-01-09 |
KR100719916B1 true KR100719916B1 (en) | 2007-05-18 |
Family
ID=19674567
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000036139A KR100719916B1 (en) | 2000-06-28 | 2000-06-28 | Tft-lcd with means for repairing line open and interlayer short |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100719916B1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101041618B1 (en) * | 2008-04-24 | 2011-06-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | Array substrate for LCD device and method of fabricating the same |
US8975628B2 (en) | 2011-01-17 | 2015-03-10 | Samsung Display Co., Ltd. | Thin film transistor array panel |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102623558B1 (en) * | 2018-11-14 | 2024-01-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | Display device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000003177A (en) * | 1998-06-26 | 2000-01-15 | 김영환 | Thin-film liquid crystal dispaly device |
KR20000031532A (en) * | 1998-11-07 | 2000-06-05 | 구본준, 론 위라하디락사 | Liquid crystal display having area divided repair structure |
-
2000
- 2000-06-28 KR KR1020000036139A patent/KR100719916B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000003177A (en) * | 1998-06-26 | 2000-01-15 | 김영환 | Thin-film liquid crystal dispaly device |
KR20000031532A (en) * | 1998-11-07 | 2000-06-05 | 구본준, 론 위라하디락사 | Liquid crystal display having area divided repair structure |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101041618B1 (en) * | 2008-04-24 | 2011-06-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | Array substrate for LCD device and method of fabricating the same |
US8629951B2 (en) | 2008-04-24 | 2014-01-14 | Lg Display Co., Ltd. | Array substrate for liquid crystal display device and method of fabricating the same |
US9069220B2 (en) | 2008-04-24 | 2015-06-30 | Lg Display Co., Ltd. | Array substrate for liquid crystal display device and method of fabricating the same |
US8975628B2 (en) | 2011-01-17 | 2015-03-10 | Samsung Display Co., Ltd. | Thin film transistor array panel |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20020001425A (en) | 2002-01-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6642972B2 (en) | Array substrate for a liquid crystal display and method for fabricating thereof with insulating stack made from TFT layers between crossed conductors | |
KR101226711B1 (en) | Liquid crystal display panel and fabricating method and repairing method theteof | |
JP2005316489A (en) | Display apparatus and method for repairing defect generating therein | |
US5852482A (en) | TFT array of liquid crystal display where dataline and source electrode projecting therefrom cross gate lines at only two points and repair method thereof | |
KR20010057026A (en) | TFT array panel | |
JP2003307748A (en) | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof | |
US6297520B1 (en) | Active matrix substrate and correcting method of structural defect thereof | |
KR100779013B1 (en) | repair method of gate line open in LCD | |
JPH10123563A (en) | Liquid crystal display device and its fault correction method | |
US7990486B2 (en) | Liquid crystal display panel with line defect repairing mechanism and repairing method thereof | |
KR100719916B1 (en) | Tft-lcd with means for repairing line open and interlayer short | |
US20050140865A1 (en) | Substrate for liquid crystal display, liquid crystal display having the same, and method of manufacturing the same | |
KR100695614B1 (en) | Repair method for one pixel using laser chemical vapor deposition and a repaired substrate of liquid crystal display device | |
KR100919192B1 (en) | Liquid crystal display apparatus including repair line and manufacturing method thereof | |
KR0182247B1 (en) | Thin film transistor substrate for liquid crystal display device having repair line | |
JP2770813B2 (en) | Liquid crystal display | |
KR100488942B1 (en) | Tft-lcd with dummy pattern serving both as light shielding and repair | |
KR20010011850A (en) | LCD having high aperture ratio and high transmittance | |
KR20010103431A (en) | method for fabricating liquid crystal display device | |
KR100529572B1 (en) | Thin film transistor liquid crystal display | |
JPH0317614A (en) | Production of active matrix display device | |
KR100520375B1 (en) | Liquid crystal display | |
JPH0750278B2 (en) | Liquid crystal display | |
KR100679513B1 (en) | Array substrate of Liquid crystal display | |
KR100675930B1 (en) | Method for repairing data openning of flat display array |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
N231 | Notification of change of applicant | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
AMND | Amendment | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
G170 | Publication of correction | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130417 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140421 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150416 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160418 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170417 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180424 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190502 Year of fee payment: 13 |