KR19990020488A - 전자제어장치의 안정성 검사장치 - Google Patents

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Abstract

입력신호에 의해 공급전력이 순간적으로 단속되는 경우 정상적으로 전자 제어 장치가 동작하는지를 검사하기 위한 것으로, 입력신호를 일정한 증폭비에 따라 증폭시키는 증폭수단과, 인가되는 소정의 신호를 반전 혹은 재반전 시키는 신호 변환 수단과, 인가되는 소정의 신호를 구형파로 변조하여 소정의 주파수로 발진하는 발진 수단과, 입력신호에 따라 일정주기로 스위칭되어 설정되어 있는 공급전력을 단속시키는 단속 수단으로 이루어져 파워 트랜지스터의 게이터단에 증폭기와 인버터 및 타이머를 연결하여 입력신호에 의해 공급전력이 순간적으로 단속 되게 함으로써 공급전력이 순간적으로 단속되었을 경우 전자 제어 장치에 설정되어 있는 기본특성에 따라 정상적으로 동작하는지를 저렴한 비용으로 검사할 수 있다.

Description

전자제어장치의 안정성 검사장치
본 발명은 전자 제어 장치의 안정성 검사장치에 관한 것으로, 보다 더 상세하게는 파워 트랜지스터의 게이터단에 증폭기와 인버터 및 타이머를 연결하여 입력신호에 의해 공급전력이 순간적으로 단속되는 경우 정상적으로 전자 제어 장치가 동작하는지를 검사하는 전자 제어 장치의 안정성 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로 전자 제어 장치의 안정성 검사장치는 전자 제어 장치의 기본특성에 따라 전자 제어 장치들이 정상적으로 동작하는 지를 검사하는 것으로, 종래에는 서지 테스트시(SURGE TESTER)기와 같은 검사장비의 일부기능을 이용하여 순간적으로 전력을 단속시켜 전자 제어 장치의 기본 특성에 따라 정상적으로 동작하였는지를 검사하였다.
따라서, 상기 전자소자들의 순간적인 전원공급의 단속으로 인한 동작상태 이상유무를 검사하는 일반적인 검사장비는 고가이며, 특히 검사장비 기능의 일부분을 이용하므로 업무의 비효율성과 검사비용이 상대적으로 증감한다는 문제점이 있었다.
본 발명은 전술한 바와 같은 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 파워 트랜지스터의 게이터단에 증폭기와 인버터 및 타이머를 연결하여 입력신호에 의해 공급전력이 순간적으로 단속 되게 함으로써 공급전력이 순간적으로 단속되었을 경우 전자제어소자들의 기본특성에 따라 일정한 범위 내에 안정적으로 동작되는 가를 검사하기 위한 것이다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 입력신호를 일정한 증폭비에 따라 증폭시키는 증폭수단과;
인가되는 소정의 신호를 반전 혹은 재반전 시키는 신호 변환 수단과;
인가되는 소정의 신호를 구형파로 변조하여 소정의 주파수로 발진하는 발진 수단과;
입력신호에 따라 일정주기로 스위칭되어 설정되어 있는 공급전력을 단속시키는 단속 수단으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
도1은 본 발명의 실시예에 따른 전자 제어 장치의 안정성 검사장치를 보이는 구성 블록도이다.
도2는 도1의 본 발명의 실시예에서 전자 제어 장치의 안정성 검사장치를 보이는 상세 구성도이다.
이하. 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도1에서 알 수 있는 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 전자제어장치의 안정성 검사장치는 증폭부(10)와, 신호 변환부(20)와, 타이머(30)와, 트랜지스터(40)로 이루어지는데, 증폭부(10)는 설정되어 있는 증폭비에 따라 입력신호를 증폭시킨다.
신호 변환부(20)는 상기 증폭부(10)에서 인가되는 증폭신호를 반전 혹은 재반전시켜 입력신호와 반전되거나 동일한 신호를 출력한다.
타이머(30)는 상기 신호 변환부(20)에서 인가되는 신호를 구형파로 변조하여 소정의 발진주파수를 가지는 발진신호를 출력한다.
FET 트랜지스터(40)는 입력신호에 따라 일정주기로 스위칭되어 설정되어 있는 공급전력을 단속시키는 것으로 전력용으로 사용되는 파워 트랜지스터로 이루어져 있다.
상기 FET 트랜지스터(40)의 게이터 단자에는 상기 입력신호에 따라 발진된 신호가 인가되고, 드레인 단자에는 입력전력인 12V가 입력되며, 소오스 단자에는 외부장치가 연결된다.
전술한 바와 같은 기능을 구비하여 이루어지는 본 발명에서 전자제어장치의 안정성 검사장치의 동작을 도1 및 도2와 함께 설명하면 다음과 같다.
검사 대상이 되는 전자제어 장치가 순간적인 입력전원 단속에 정상적으로 동작하는 지를 검출하기 위해 도2와 같이 전자제어 장치의 안정성 검사장치의 입력단에는 PC(PERSONER COMPUER)를 연결하고, 출력단에는 검사할 전자제어 장치를 연결하며, 구동 전력은 전원 인가단자를 이용하여 12V를 인가한다.
이때, 상기 PC에 설정되어 있는 테스트용 신호가 입력단에 인가되면 전자제어 장치의 안정성 검사장치의 증폭부(10)는 상기 PC에서 인가되는 테스트용 신호를 증폭비에 따라 증폭시키고 그에 해당하는 증폭신호를 신호 변환 장치(20)에 출력한다.
신호변환 장치(20)는 상기 증폭부(10)에서 인가되는 신호에 따라 증폭신호를 반전시킨 후 재반전시켜 입력신호와 동일한 신호를 타이머(30)에 출력한다.
타이머(30)는 상기 신호변환 장치(20)에 인가되는 신호에 따라 구형파 발진 신호를 FET 트랜지스터(40)의 게이터단(G)에 출력한다.
이때, 상기 타이머(30)에서 출력되는 발진신호에 의해 게이터단(G)이 제어되어 FET 트랜지스터가 온/오프 스위칭된다.
따라서, 상기 FET트랜지스터의 온/오프에 따라 드레인(D)단자와 소오스(S) 단자를 통해 전자제어 장치에 공급되는 입력전력이 순간적으로 단속된다.
이때, 상기 입력전력이 순간적으로 단속되는 동안 전자제어 장치가 기본 특성에 따른 정상적인 데이터 신호가 디스플레이부에 인가되는지를 테스터기 사용자가 확인한다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 파워 트랜지스터의 게이터단에 증폭기와 인버터 및 타이머를 연결하여 입력신호에 의해 공급전력이 순간적으로 단속 되게 함으로써 공급전력이 순간적으로 단속되었을 경우 전자 제어 장치에 설정되어 있는 기본특성에 따라 정상적으로 동작하는지를 저렴한 비용에 검사할 수 있다.

Claims (4)

  1. 전자제어장치의 안정성 검사장치에 있어서, 입력신호를 일정한 증폭비에 따라 증폭시키는 증폭수단과;
    인가되는 소정의 신호를 반전 혹은 재반전 시키는 신호 변환 수단과;
    인가되는 소정의 신호를 구형파로 변조하여 소정의 주파수로 발진하는 발진 수단과;
    입력신호에 따라 일정주기로 스위칭되어 설정되어 있는 공급전력을 단속시키는 단속 수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 안정성 검사장치
  2. 청구항1에 있어서, 단속수단은 전력용 파워 FET 트랜지스터로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 안정성 검사장치.
  3. 청구항2에 있어서, 상기 FET 트랜지스터의 게이터 단자에는 입력신호에 따라 발진된 발진신호가 인가되고, 드레인 단자에는 입력전력인 12V가 입력되며, 소오스 단자에는 외부장치가 연결되는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 안정성 검사장치.
  4. 청구항1에 있어서, 상기 증폭수단에 인가되는 입력신호는 PC 신호 또는 함수 발생기 신호등 다양한 신호를 사용할 수 있는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 안정성 검사장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6781279B2 (en) 2000-08-18 2004-08-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Micro-actuator with interdigitated combs perpendicular to a base
KR101381019B1 (ko) * 2011-01-17 2014-04-14 주식회사 만도 전자제어유닛의 검사장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6781279B2 (en) 2000-08-18 2004-08-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Micro-actuator with interdigitated combs perpendicular to a base
US7083737B2 (en) 2000-08-18 2006-08-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Method for manufacturing a micro-actuator
KR101381019B1 (ko) * 2011-01-17 2014-04-14 주식회사 만도 전자제어유닛의 검사장치

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