KR19990020488A - 전자제어장치의 안정성 검사장치 - Google Patents
전자제어장치의 안정성 검사장치 Download PDFInfo
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000013112 stability test Methods 0.000 claims description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 4
- 238000012430 stability testing Methods 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 241000270730 Alligator mississippiensis Species 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000010356 wave oscillation Effects 0.000 description 1
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Abstract
Description
Claims (4)
- 전자제어장치의 안정성 검사장치에 있어서, 입력신호를 일정한 증폭비에 따라 증폭시키는 증폭수단과;인가되는 소정의 신호를 반전 혹은 재반전 시키는 신호 변환 수단과;인가되는 소정의 신호를 구형파로 변조하여 소정의 주파수로 발진하는 발진 수단과;입력신호에 따라 일정주기로 스위칭되어 설정되어 있는 공급전력을 단속시키는 단속 수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 안정성 검사장치
- 청구항1에 있어서, 단속수단은 전력용 파워 FET 트랜지스터로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 안정성 검사장치.
- 청구항2에 있어서, 상기 FET 트랜지스터의 게이터 단자에는 입력신호에 따라 발진된 발진신호가 인가되고, 드레인 단자에는 입력전력인 12V가 입력되며, 소오스 단자에는 외부장치가 연결되는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 안정성 검사장치.
- 청구항1에 있어서, 상기 증폭수단에 인가되는 입력신호는 PC 신호 또는 함수 발생기 신호등 다양한 신호를 사용할 수 있는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 안정성 검사장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970043949A KR100217085B1 (ko) | 1997-08-30 | 1997-08-30 | 전자제어장치의 안정성 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970043949A KR100217085B1 (ko) | 1997-08-30 | 1997-08-30 | 전자제어장치의 안정성 검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990020488A true KR19990020488A (ko) | 1999-03-25 |
KR100217085B1 KR100217085B1 (ko) | 1999-09-01 |
Family
ID=19519941
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970043949A KR100217085B1 (ko) | 1997-08-30 | 1997-08-30 | 전자제어장치의 안정성 검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100217085B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6781279B2 (en) | 2000-08-18 | 2004-08-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Micro-actuator with interdigitated combs perpendicular to a base |
KR101381019B1 (ko) * | 2011-01-17 | 2014-04-14 | 주식회사 만도 | 전자제어유닛의 검사장치 |
-
1997
- 1997-08-30 KR KR1019970043949A patent/KR100217085B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6781279B2 (en) | 2000-08-18 | 2004-08-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Micro-actuator with interdigitated combs perpendicular to a base |
US7083737B2 (en) | 2000-08-18 | 2006-08-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for manufacturing a micro-actuator |
KR101381019B1 (ko) * | 2011-01-17 | 2014-04-14 | 주식회사 만도 | 전자제어유닛의 검사장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100217085B1 (ko) | 1999-09-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19970830 |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19970830 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 19990529 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 19990603 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
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|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20020604 Year of fee payment: 4 |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20020604 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |