KR19980051705A

KR19980051705A - 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법

Info

Publication number: KR19980051705A
Application number: KR1019960070619A
Authority: KR
Inventors: 김정헌
Original assignee: 유기범; 대우통신 주식회사
Priority date: 1996-12-23
Filing date: 1996-12-23
Publication date: 1998-09-25
Also published as: KR100233902B1

Abstract

본 발명은 패킷 보드를 시험할 수 있는 기능을 롬(ROM)에 펌웨어(F/W) 형태로 저장하여 이와 같은 롬을 디바이스 제어 보드에 내장해서 패킷 보드를 루프백(loopback) 시험하여 결과를 모니터에 디스플레이(display)하도록하기에 적합한 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법에 관한 것으로서, 종래의 기술에 있어서는 패킷 프로토콜을 시험하기 위해서는 고가의 전용시험장비(PT500)를 사용해야 하며, 필요 기능을 추가하기가 불편한 결점이 있었으나, 본 발명은 시험 기능을 별도의 시험장비 없이 디바이스 제어 보드(30) 내에 펌웨어로 구성하여 프로토콜의 이상 유무 및 패킷 보드(40)의 이상 유무를 점검하도록함으로써 시험에 드는 비용이 저렴하고 시험을 실시하기가 편리하며, 필요 기능을 추가하기도 용이해지게 되므로 상술한 결점을 개선시킬 수 있는 것이다.

Description

전전자 교환기의 패킷보드 시험방법

본 발명은 TDX-100 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법에 관한 것으로서, 특히, 패킷 보드를 시험할 수 있는 기능을 롬(ROM)에 펌웨어(F/W) 형태로 저장하여 이와 같은 롬을 디바이스 제어 보드에 내장해서 패킷 보드를 루프백(loopback) 시험하여 결과를 모니터에 디스플레이(display)하도록하기에 적합한 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법에 관한 것이다.

이와 관련하여, 종래의 기술에 따른 패킷 프로토콜(protocol)을 시험하기 위해서는 전용시험장비(PT500)나 패킷 모니터 장치(PPM등)을 이용하여 시험을 실시하였다.

그러나 이와 같은 종래의 기술에 있어서는 패킷 프로토콜을 시험하기 위해서는 고가의 전용시험장비(PT500)를 사용해야 하며, 필요 기능을 추가하기가 불편한 결점이 있다.

본 발명은 이와 같은 종래 기술의 결점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 시험 기능을 디바이스 제어 보드 내에 구성하여 프로토콜의 이상 유무 및 패킷 보드의 이상 유무를 점검하도록 할 수 있는 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.

도 1은 본 발명에 따른 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법을 적용하기 위한 TDX-100 전전자 교환기의 일 실시예를 나타낸 블록도

도 2는 본 발명에 따른 TDX-100 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 상위 프로세서20 : 패킷 장치

30 : 디바이스 제어 보드40 : 패킷 보드

50 : 스위치

본 발명의 상술한 목적 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술 분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.

이하, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 1을 참조하면, 도 1은 본 발명에 따른 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법을 적용하기 위한 TDX-100 전전자 교환기의 일 실시예를 나타낸 블록도로서, 가입자 호 및 중계 호 처리를 수행하며, 시스템 상태 관리를 위한 유지 보수 기능을 수행하는 상위 프로세서(10), 상술한 상위 프로세서(10)의 제어를 받아 패킷 보드 시험 기능을 제공하는 패킷 장치(20), 상술한 패킷 장치(20)의 신호를 교환하는 스위치(50)를 포함하여 이루어진다.

이때, 상술한 패킷 장치(20)는 디바이스 제어 보드(30) 및 패킷 보드(40)로 이루어져 4개 까지 형성될 수 있으며, 각각의 패킷 장치 내의 패킷 보드는 각각 16개 까지 형성될 수 있다.

이와 같이 이루어지는 본 발명을 도 2를 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.

상위 프로세서(10)는 가입자 호 및 중계 호 처리를 수행하며, 시스템 상태 관리를 위한 유지 보수 기능을 수행하며, 패킷 장치(20)는 상술한 상위 프로세서(10) 내의 디바이스 제어 보드(30)와 PCM BUS 정합(2Mbps)하여 상술한 상위 프로세서(10)의 제어를 받아 패킷 보드 시험 기능을 제공하며, 스위치(50)는 상술한 패킷 장치(20) 내의 패킷 보드(40)와 서브하이웨이(subhighway) 정합하여 상술한 패킷 장치(20)의 신호를 원하는 경로로 교환시킨다.

도 2는 본 발명에 따른 TDX-100 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도이다.

먼저, 시험 명령이 입력되면 디바이스 제어 보드(30)에 연결되어 기설정된 모니터(도면 중에 도시하지 않음)에 시험하고자 하는 항목을 선택할 수 있도록 각 메뉴를 디스플레이한 후, 어느 메뉴가 선택되는지를 판단한다(110,120,130).

이때, 디스플레이되는 메뉴를 보면 다음과 같다.

1. 패킷 데이터 모니터

2. 디바이스 제어 보드 자체 시험

3. 패킷 보드 시험

4. 라인 시험

이에, 1번 패킷 데이터 모니터 기능을 선택하면, 패킷 보드(40)에서 올라오고/내려가는 패킷 데이터의 형태를 기설정된 모니터(도면 중에 도시되지 않음)에 디스플레이하는데, 이는 온-라인(on-line) 상에서 가능하며 이를 이용하여 여러 가지 데이터를 구성해서 필요시 화면에 보여준다(140,150).

이와 같은 1번 모니터 기능을 보면, 패킷 보드(40)에서 올라오는 패킷 데이터들을 디바이스 제어 보드(30)의 기설정된 메모리(도면 중에 도시되지 않음)에 저장하여 모니터 기능을 수행하는데, 이때 메모리에 저장된 데이터를 읽어서 모니터에 디스플레이하며, 상위에서 내려오는 데이터들도 일단 메모리에 저장되므로 이들도 읽어서 모니터에 디스플레이하기가 가능하므로 양방향의 데이터 흐름을 모니터할 수 있다.

또한, 해당 기능을 수행하기 위해서는 데이터를 분석해야 하는데, 이때 분석한 데이터를 이용하여 호 시도 회수, 성공 회수 등의 다양한 정보를 모니터에 디스플레이할 수도 있다.

다음, 오프-라인(off-line) 상에서 실행이 가능한 시험 기능의 선택에 따른 동작을 보면 다음과 같다.

먼저, 2번 디바이스 제어 보드 자체 시험 기능은 디바이스 제어 보드(30) 자체를 시험하여 결과를 보여주는 것으로, 메모리, L-버스, PCM-버스를 점검하여 결과를 모니터에 디스플레이한다(160,170,180,190).

다음, 3번 패킷 보드 시험 기능은 디바이스 제어 보드(30)에서 패킷 보드(40)를 제어하여 시험하는 기능으로, 시험 수행 코드를 패킷 보드(40)의 메모리 특정 위치에 적어둠으로써 패킷 보드(40)에서 읽어와 코드에 따라 해당 기능을 수행하며, 결과를 자체 메모리의 특정 위치에 저장하고 시험 완료 코드를 디바이스 제어 보드(30)에 송신하고 결과를 모니터에 디스플레이한다(200,210,220,230,240,250).

그리고 4번 라인(프로토콜) 시험 기능은 패킷 보드(40)의 전반적인 데이터의 패스를 점검하는 기능으로, 디바이스 제어 보드(30)에서 패킷 데이터를 만들어 해당 패킷 보드(40)에 송신하여 루트를 거쳐 되돌아 오는 값을 읽어 초기에 송신한 값과 비교하여 결과를 모니터에 디스플레이하여(260,270,280,290,300) 패킷 데이터 전송 과정의 이상 유무를 파악할 수 있다.

또한, 상술한 1번 내지 4번 기능 중에 어느 한 기능을 수행한 후, 시험을 지속할 것을 선택하면 상술한 단계(110,120,130)의 메뉴 디스플레이 단계부터 수행하고 시험을 지속하지 않을 것을 선택하면 리턴(return)한다(310).

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 시험 기능을 별도의 시험장비 없이 디바이스 제어 보드(30) 내에 펌웨어로 구성하여 프로토콜의 이상 유무 및 패킷 보드(40)의 이상 유무를 점검하도록함으로써 시험에 드는 비용이 저렴하고 시험을 실시하기가 편리하며, 필요 기능을 추가하기도 용이해지게 되는 효과가 있다.

Claims

가입자 호 및 중계 호 처리를 수행하며 시스템 상태 관리를 위한 유지 보수 기능을 수행하는 상위 프로세서, 디바이스 제어 보드 및 패킷 보드로 이루어져 상기 상위 프로세서의 제어를 받아 패킷 보드 시험 기능을 제공하는 패킷 장치, 상기 패킷 장치의 신호를 교환하는 스위치를 포함하여 이루어지는 전전자 교환기에 있어서,

시험 명령이 입력되면 상기 디바이스 제어 보드에 연결되어 기설정된 모니터에 시험하고자 하는 항목을 선택할 수 있도록 1번 내지 4번의 각 메뉴를 디스플레이한 후, 어느 메뉴가 선택되는지를 판단하는 제1단계;

상기 제1단계 수행 후, 상기 1번 패킷 데이터 모니터 기능을 선택하면, 상기 패킷 보드에서 올라오고/내려가는 패킷 데이터의 형태를 기설정된 모니터에 디스플레이하는 제2단계;

상기 제1단계 수행 후, 상기 2번 디바이스 제어 보드 자체 시험 기능을 선택하면, 메모리, L-버스, PCM-버스를 점검하여 결과를 모니터에 디스플레이하는 제3단계;

상기 제1단계 수행 후, 상기 3번 패킷 보드 시험 기능을 선택하면, 시험 수행 코드를 상기 패킷 보드의 메모리 특정 위치에 적어둠으로써 상기 패킷 보드에서 읽어와 코드에 따라 해당 기능을 수행하며, 결과를 자체 메모리의 특정 위치에 저장하고 시험 완료 코드를 상기 디바이스 제어 보드에 송신하고 결과를 모니터에 디스플레이하는 제4단계;

상기 제1단계 수행 후, 상기 4번 라인 시험 기능을 선택하면, 상기 디바이스 제어 보드에서 패킷 데이터를 만들어 해당 상기 패킷 보드에 송신하여 루트를 거쳐 되돌아 오는 값을 읽어 초기에 송신한 값과 비교하여 결과를 모니터에 디스플레이하는 제5단계;

상기 제2단계 내지 상기 제5단계 중에서 어느 한 단계를 수행한 후, 시험을 지속할 것을 선택하면 상기 제1단계의 메뉴 디스플레이 단계부터 수행하고 시험을 지속하지 않을 것을 선택하면 리턴하는 제6단계를 포함하여 이루어지는 전전자 교환기의 패킷보드 시험방법.