KR19980061851A

KR19980061851A - 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법

Info

Publication number: KR19980061851A
Application number: KR1019960081228A
Authority: KR
Inventors: 허비또
Original assignee: 유기범; 대우통신 주식회사
Priority date: 1996-12-31
Filing date: 1996-12-31
Publication date: 1998-10-07

Abstract

본 발명은 TDX-100 전전자 교환기에 있어서 디바이스 제어 보드가 패킷 핸들러 보드의 상태를 상시적으로 점검하도록하기에 적합한 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법에 관한 것으로서, 종래의 기술에 있어서는 패킷 서비스 운용중에 패킷 핸들러 보드의 기능 장애로 인하여 패킷 서비스가 중단될 경우 패킷 핸들러 보드 내의 어느 부분이 기능 장애인지를 판별하기가 어려운 결점이 있었으나, 본 발명에서는 TDX-100 전전자 교환기에 있어서 온라인 및 오프라인 상태에서 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)의 기능을 시험하여 시험 결과를 상위의 디바이스 제어 보드(20)에 보고함으로써 디바이스 제어 보드(20)가 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)의 상태를 상시적으로 점검하도록함으로써 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40) 내의 장애 부분을 판별하기가 용이해 지게 되므로 상술한 결점을 개선시킬 수 있는 것이다

Description

전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법

본 발명은 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드(packet handler board)의 온라인/오프라인 시험 방법에 관한 것으로서, 특히, TDX-100 전전자 교환기에 있어서 디바이스 제어 보드가 패킷 핸들러 보드의 상태를 상시적으로 점검하도록하기에 적합한 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법에 관한 것이다.

이와 관련하여, 종래의 기술에 따른 전전자 교환기에 있어서 패킷 핸들러 보드는 별도의 시험 장치를 구성해서 패킷 핸들러 보드 각각의 기능을 시험하여 각각의 기능이 정상으로 판단이 내려진 경우 패킷 핸들러 보드를 시스템에 실장함으로써 패킷 서비스가 가능했다.

그러나 이와 같은 종래의 기술에 있어서는 패킷 서비스 운용중에 패킷 핸들러 보드의 기능 장애로 인하여 패킷 서비스가 중단될 경우 패킷 핸들러 보드 내의 어느 부분이 기능 장애인지를 판별하기가 어려웠다.

즉, 상술한 바와 같은 기능 장애가 발생할 경우 패킷 핸들러 보드를 시스템으로부터 탈장시켜서 탈장된 패킷 핸들러 보드 내의 실제 운용 프로그램이 프로그램되어 있는 룸(read only memory; ROM)을 시험 기능이 프로그램되어 있는 롬으로 교체해서 시험을 수행시켜 장애 부분을 파악해서 해당 장애를 제거한 후, 실제 운용 프로그램이 프로그램되어 있는 원래의 룸을 다시 원위치시켜서 패킷 핸들러 보드를 시스템에 실장시켜야 하는 불편함이 있다.

본 발명은 이와 같은 종래 기술의 결점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, TDX-100 전전자 교환기에 있어서 온라인 및 오프라인 상태에서 패킷 핸들러 보드의 기능을 시험하여 시험 결과를 상위의 디바이스 제어 보드에 보고함으로써 디바이스 제어 보드가 패킷 핸들러 보드의 상태를 상시적으로 점검하도록하는 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 디바이스 제어 보드가 주기적으로 혹은 필요시 패킷 핸들러 보드 각각의 기능을 시험하기 위하여 패킷 핸들러 보드에 시험 명령 프리미티브(primitive)를 내리면 패킷 핸들러 보드는 이와 같은 프리미티브를 수신하여 해당 시험을 수행한 후, 시험 결과를 상위의 디바이스 제어 보드에 보고함으로써 상위의 디바이스 제어 보드가 아무때나 패킷 핸들러 보드의 상태를 파악하도록 함을 특징으로 한다.

도 1은 본 발명에 따른 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법을 적용하기 위한 TDX-100 전전자 교환기의 일 실시예를 나타낸 블록도.

도 2는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

10:패킷 블록 20:디바이스 제어 보드

30,40:제1,제16패킷 핸들러 보드 50:상위 프로세서

60:타임 스위치

본 발명의 상술한 목적 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술 분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.

이하, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 1을 참조하면, 도 1은 본 발명에 따른 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법을 적용하기 위한 TDX-100 전전자 교환기의 일 실시예를 나타낸 블록도로서, 패킷 블록(10)과, 상위 프로세서(50)와, 타임 스위치(60)를 포함하여 이루어지는 전전자 교환기에 있어서, 상기 패킷 블록(10)은 디바이스 제어 보드의 제어에 의해 상술한 타임 스위치(60)를 통해 수신된 패킷 데이터를 처리하여 디바이스 제어 보드를 통해 타 패킷 핸들러 보드로 전송하거나 상술한 상위 프로세서(50)에 호 접속 요구 및 호 절단 요구를 위한 제어 패킷을 전송함으로써 패킷 링크를 셋업하거나 절단하는 하위 16매의 패킷 핸들러 보드(30,40)와, 상술한 상위 프로세서(50)와의 통신을 통해 상술한 하위 16매의 패킷 핸들러 보드(30,40)를 16비트의 로컬 버스(local bus)를 통해 제어하며 패킷 핸들러 보드에서 처리된 패킷 데이터를 상술한 16매의 패킷 핸들러 보드(30,40)간에 상호 교환시키거나 상술한 16매의 패킷 핸들러 보드(30,40)로부터 처리된 제어 데이터를 분석하여 상술한 상위 프로세서(50)에 처리 요구 및 보고하는 디바이스 제어 보드(20)를 포함하여 이루어진다.

이와 같이 이루어지는 본 발명을 도 2를 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.

먼저, 패킷 블록(10) 내의 16매의 패킷 핸들러 보드(30,40)는 디바이스 제어 보드(20)의 제어에 의해 타임 스위치(60)를 통해 수신된 패킷 데이터를 처리하여 디바이스 제어 보드(20)를 통해 타 패킷 핸들러 보드로 전송하거나 상위 프로세서(50)에 호 접속 요구 및 호 절단 요구 등의 제어 패킷을 전송함으로써 패킷 링크를 셋업하거나 절단한다.

다음, 디바이스 제어 보드(20)는 상술한 상위 프로세서(50)와의 통신을 통해 상술한 하위 16매의 패킷 핸들러 보드(30,40)를 16비트의 로컬 버스를 통해 제어하며 패킷 핸들러 보드에서 처리된 패킷 데이터를 상술한 16매의 패킷 핸들러 보드(30,40)간에 상호 교환시키거나 상술한 16매의 패킷 핸들러 보드(30,40)로부터 처리된 제어 데이터를 분석하여 상술한 상위 프로세서(50)에 처리 요구 및 보고한다.

도 2는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도이다.

먼저, 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40) 내의 각 실제 운용 프로그램에 각 부분별로 기능 시험 기능을 추가하여 운용되도록한 후, 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)는 디바이스 제어 보드(20)와 서로의 프리미티브를 교환하여 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)가 운용중 시험 명령에 대한 프리미티브를 디바이스 제어 보드(20)로부터 수신하면 프리미티브 변수를 체크하여 다수의 시험 항목 중에서 어느 기능을 시험할 것인지를 선택하여 해당 기능을 시험한다(110,120,130).

이때, 상술한 단계(110,120,130)에 있어서 운용중 오류가 발생할 가능성이 크고 별도의 보조 장비없이 시험 가능한 다수의 시험 항목(예를 들어, 로컬 메모리 시험, 패킷 공유 메모리 시험, 중재부 시험, X.25 링크 시험.....)은 리스트에 등록하여 디바이스 제어 보드(20)로부터 프리미티브 수신시 해당 시험을 수행하게 되는 것이다.

다음, 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)는 해당 시험을 수행한 후, 각각의 시험 결과를 저장할 수 있는 메모리(패킷 공유 메모리)(도면 중에 도시되지 않음)를 별도로 설정하여 시험 결과를 설정된 메모리에 저장한 후, 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)는 디바이스 제어 보드(20)에 인터럽트(interrupt)를 발생시켜 해당 미리미티브에 대한 수행을 완료했음을 통보한다(140,150).

또한, 디바이스 제어 보드(20)는 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)로부터 인터럽트를 수신하여 시험 결과가 저장된 메모리를 읽어감으로써 시험 결과를 파악하여 소정의 화면(도면 중에 도시되지 않음)에 디스플레이하여 운용자가 이를 알 수 있도록 한다(160,170,180).

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 TDX-100 전전자 교환기에 있어서 온라인 및 오프라인 상태에서 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)의 기능을 시험하여 시험결과를 상위의 디바이스 제어 보드(20)에 보고함으로써 디바이스 제어 보드(20)가 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)의 상태를 상시적으로 점검하도록함으로써 각각의 패킷 핸들러 보드(30,40)내의 장애 부분을 판별하기가 용이해 지게 되는 효과가 있다.

Claims

자신의 각 기능 시험 기능이 있는 패킷 핸들러 보드, 상기 패킷 핸들러 보드를 제어하여 상기 패킷 핸들러 보드로부터의 기능 시험 결과 데이터를 리드하는 디바이스 제어 보드를 포함하여 이루어지는 전전자 교환기에 있어서,

상기 패킷 핸들러 보드 내의 각 실제 운용 프로그램에 각 부문별 기능 시험 기능을 추가하여 운용되도록한 후, 상기 패킷 핸들러 보드는 상기 디바이스 제어 보드와 서로 프리미티브를 교환하여 상기 패킷 핸들러 보드가 운용중 시험 명령에 대한 프리미티브를 상기 디바이스 제어 보드로부터 수신하면 프리미티브 변수를 체크하여 다수의 시험 항목 중에서 어느 기능을 시험할 것인지를 선택하여 해당 기능을 시험하는 제1단계;

상기 제1단계 수행 후, 상기 패킷 핸들러 보드는 시험 결과를 저장할 수 있는 메모리를 별도로 설정하여 시험 결과를 설정된 메모리에 저장한 후, 상기 디바이스 제어 보드에 인터럽트를 발생시켜 해당 프리미티브에 대한 수행을 완료했음을 통보하는 제2단계;

상기 제2단계 수행 후, 상기 디바이스 제어 보드는 상기 패킷 핸들러 보드로부터 인터럽트를 수신하여 시험 결과가 저장된 메모리를 읽어감으로써 시험 결과를 파악하여 소정의 화면에 디스플레이하여 운용자 이를 알 수 있도록하는 제3단계를 포함하여 이루어지는 전전자 교환기의 패킷 핸들러 보드의 온라인/오프라인 시험 방법.