KR0182639B1 - 전전자 교환기의 아이엔피에서의 글로발 디바이스 테스트 방법 - Google Patents

전전자 교환기의 아이엔피에서의 글로발 디바이스 테스트 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전전자 교환기의 INP에서 글로발 서비스하는 디바이스를 테스트하는 방법에 관한 것이다. 종래의 기술에 있어서는 운용자 터미널로부터의 디바이스 테스트 명령어가 CCS(30), INS(20), 그리고 ASS(10)에 도달하여 ASS(10)에서 디바이스를 테스트하도록 해야 한다. 따라서, 디바이스 테스트 명령어 전달 과정이 복잡해 진다. 또한, ASS(10)는 디바이스의 상태 데이터를 갖고 있는 라이브러리부(128)를 구비함에 따라 MP의 메모리 영역을 사용한다. 따라서, MP의 메모리 영역이 작아져 MP의 메모리 사용 용량이 작아지는 결점이 있다. 이에, 본 발명에서는 디바이스 테스트 명령어의 전달 경로를 줄임으로 디바이스 테스트 명령어의 처리가 신속해 지는 효과가 있다. MP의 메모리 영역을 사용하지 않고 INP(52) 내의 PLD(524)가 제공하는 디바이스 상태 데이터를 직접 사용하여 디바이스를 테스트하므로 MP의 메모리를 절약할 수 있다. 따라서, MP가 사용하는 메모리의 용량이 충분해져 시스템의 서비스 처리 속도가 개선되는 효과가 있는 것이다.

Description

전전자 교환기의 아이엔피(INP)에서의 글로발 다바이스 테스트 방법
제1a도는 종래의 기술에 따른 전전자 교환기의 ASP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법을 설명하기 위한 블록도.
제1b도는 제1a도에 따른 ASP를 상세히 나타낸 블록도.
제2도는 제1a도에 따른 ASP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도.
제3a도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 INP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법을 설명하기 위한 블록도.
제3b도는 제3a도에 따른 INP를 상세히 나타낸 블록도.
제4도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 INP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법의 일 실시 예를 단계별로 나타낸 순서도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
50 : INS 52 : INP
54 : NTP 60 : CCS
62 : OMP 522 : 글로발 서비스 테스트부
524 : PLD
본 발명은 전전자 교환기의 INP(Interconnection Network Processor)에서의 글로발 디바이스 테스트 방법에 관한 것으로서, 특히 전전자 교환기의 INP에서 글로발 서비스하는 디바이스를 테스트하는 방법에 관한 것이다.
제1a도는 종래의 기술에 따른 전전자 교환기의 ASP(Access Switching Processor)에서의 글로발 디바이스 테스트 방법을 설명하기 위한 블록도로, 가입자와 정합하는 ASS(10), 각 ASS 사이를 정합하는 INS(Interconnection Network Subsystem)(20), 그리고 운용자 터미널과 시스템을 정합하는 CCS(Central Control Subsystem)(30)로 구성된다.
동 도면에 있어서, 운용자 터미널(도면 중에 도시되지 않음)로부터 안내 방송 디바이스나 회의 통화 디바이스 등의 테스트를 요구하는 명령이 CCS(30) 내의 MMP(Man Machine Processor)(32)로 입력되면, MMP(32)는 테스트 대상에 대응하는 각 디바이스의 상태를 확인한다. 이때, 상기 운용자 터미널은 별도의 케이블을 통해 MMP(32)와 접속한다. 즉, MMP(32)는 INS(20)의 스위치 네트워크(S, 스페이스 스위치(space switch))를 통해 ASS(10)의 링크(link)(T, 타임 스위치(time switch))를 타고 ASP(12)와 통신한다.
이때, 상기 CCS(30)는 OMP(Operation and Maintenance Processor)(34)를 포함한다. 또한, 상기 INS(20)는 INP(22) 및 NTP(Number Translation Processor)(24)를 포함한다.
이와 같은 OMP(34)는 시스템 내의 일련의 운용과 유지보수 관련 기능을 총괄한다. 또한, INP(22)는 스페이스 스위치를 사용하는 통화로 검색 및 관리를 수행한다. 그리고 NTP(24)는 각 ASP에서 오는 번호 번역 요구에 응답하며 루트 제어기능을 수행하는 것으로, 이는 일반적인 구성이므로 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.
제1b도와 같은 ASP(12) 내의 글로발 서비스 테스트부(122)는 라이브러리(library)부(128)에게 디바이스의 상태 데이터를 요구한다. 또한, 글로발 서비스 테스트부(122)는 디바이스의 테스트를 주관해서 글로발 서비스 상태 관리부(124)로 디바이스의 테스트 결과를 보고한다.
그리고 글로발 서비스 상태 관리부(124)는 라이브러리부(128)로 테스트 결과를 업데이트시킨다.
또한, PLD(Program Loading Data)(126)는 라이브러리부(128)에게 초기화 데이터를 인가한다.
제2도는 제1a도에 따른 ASP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도이다.
먼저, 글로발 서비스의 테스트 명령어가 입력되는지를 판단한다(001).
이에, 글로발 서비스의 테스트 명령어가 입력되지 않으면 종료한다. 반면, 글로발 서비스의 테스트 명령어가 입력되면 테스트 대상에게 테스트를 요구한다(101).
다음, 테스트 요구에 따른 디바이스의 실장 상태를 확인한다(201).
상기 단계(201)에서 테스트 요구에 따른 디바이스가 실장되어 있을 경우 실장된 디바이스에 따른 프러시저(procedure)를 콜한다(301). 반면, 상기 단계(201)에서 테스트 요구에 따른 디바이스가 실장되어 있지 않을 경우 비실장 메시지를 출력하고 종료한다(302).
이어, 상기 단계(301)에서 실장된 디바이스에 따른 프로시저를 콜한 경우 현재 실장된 디바이스의 상태를 관찰한다(401).
상기 단계(401)에서 실장된 디바이스의 상태가 테스트 중일 경우는 현재 다른 테스트 중이라는 메시지를 출력하고 종료한다(501). 상기 단계(401)에서 실장된 디바이스의 상태가 폴트(fault, 장애)일 경우에는 폴트 메시지를 출력하고 종료한다(503). 상기 단계(401)에서 실장된 디바이스의 상태가 아이들(idle, 유휴)일 경우에는 실장된 디바이스 테스트를 실시한다(502).
다음, 테스트 결과를 글로발 서비스 상태 관리부(124)로 보고한다(601).
그리고 상기 실장된 디바이스의 테스트 수행 완료 메시지를 출력하고 종료한다(701).
이때, 글로발 서비스 상태 관리부(124)는 테스트를 실시한 디바이스에 따른 프로시저를 콜해서 테스트에 따른 로컬 데이터를 업데이트한다.
그러나, 이와 같은 종래의 기술에 있어서는 운용자 터미널로부터의 디바이스 테스트 명령어가 CCS(30), INS(20), 그리고 ASS(10)에 도달하여 ASS(10)에서 디바이스를 테스트하도록 해야 한다. 따라서, 디바이스 테스트 명령어 전달 과정이 복잡해 진다. 또한, ASS(10)는 디바이스의 상태 데이터를 갖고 있는 라이브러리부(128)를 구비함에 따라 MP(Main Processor)의 메모리 영역을 사용한다. 따라서, MP의 메모리 영역이 작아져 MP의 메모리 사용 용량이 작아지는 결점이 있다.
본 발명은 이와 같은 종래 기술의 결점을 해결하기 위하여 안출한 것으로, 종래의 기술에 따른 ASS(10)에서 사용하던 라이브러리부(128)를 사용하지 않고 직접 PLD를 사용하여 글로발 서비스를 테스트해서 그 결과를 출력하도록 한다. 또한, 글로발 서비스의 상태를 보존하도록 하는 전전자 교환기의 INP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 전전자 교환기의 INP에서의 글로발 디바이스를 테스트함에 있어서 : 글로발 서비스의 테스트를 요구하는 제1단계; 상기 테스트 요구에 따른 디바이스의 실장 여부를 확인하는 제2단계; 실장된 디바이스의 상태 정보를 저장하고 있는 데이터 베이스를 셀렉트(select)하는 제3단계; 상기 데이터 베이스의 정보로부터 상기 실장된 디바이스의 현재 상태를 판단하는 제4단계; 상기 실장된 디바이스의 상태가 아이들일 경우 상기 실장된 디바이스의 테스트를 실시하는 제5단계; 상기 실장된 디바이스의 테스트 결과를 상기 데이터 베이스에 업데이트하는 제6단계; 수행 완료 메시지를 출력하는 제7단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
제3a도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 INP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법을 설명하기 위한 블록도로, INS(50) 및 CCS(60)로 구성된다.
동 도면에 있어서, CCS(60)는 OMP(62)를 포함한다. 이때, CCS(60)의 기능은 종래의 기술에 따른 CCS(30)의 기능과 유사하다. 그러나, OMP(62)는 종래의 기술에 따른 MMP(32)의 기능 및 OMP(34)의 기능을 통합한다. 즉, MMP(32)의 기능을 OMP(62)의 기능에 통합하므로 시스템의 경비를 절감할 수 있다. 따라서, OMP(62)는 자신의 원래 기능은 물론, MMP의 기능도 수행한다. 이에 따라, INP(52)에서의 처리 기능도 추가되어 종래 ASS(10)에서 처리하던 글로발 서비스 기능을 INP(52)에서 처리하므로 ASS 설치에 따른 경비를 절감할 수 있다.
또한, INS(50)는 INP(52) 및 NTP(54)를 포함한다. 이때, INS(50)의 기능은 종래의 기술에 따른 INS(20)의 기능과 유사하다. 물론, INP(52)의 기능과 NTP(54)의 기능도 종래의 기술에 따른 INP(22)의 기능과 NTP(24)의 기능과 각각 유사하다.
제3b도는 제3a도에 따른 INP(52)를 상세히 나타낸 블록도로, 글로발 서비스 테스트부(522)는 PLD(524)의 요구에 따라서 PLD(524)에게 초기화 데이터 및 디바이스 테스트 결과를 제공한다. 이와 같은 PLD(524)는 테스트 결과에 따른 디바이스의 상태 정보를 업데이트한다.
제4도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 INP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법의 일 실시예를 단계별로 나타낸 순서도이다.
먼저, 운용자 터미널(도면 중에 도시하지 않음)로부터 글로발 서비스의 테스트 명령어의 입력 여부를 판단한다(0010).
상기 단계(0010)에서 글로발 서비스의 테스트 명령어가 입력되지 않으면 종료한다. 반면, 상기 단계(0010)에서 글로발 서비스의 테스트 명령어가 입력되면 테스트를 요구한다(1010).
다음, 테스트 요구에 따른 디바이스의 실장 상태 여부를 확인하다(2010).
상기 단계(2010)에서 디바이스가 실장되어 있지 않으면 비실장 메시지를 출력하고 종료한다(3020). 반면, 상기 단계(2010)에서 디바이스가 실장되어 있으면 상기 디바이스에 따른 데이터 베이스를 셀렉트한다(3010).
이어, 현재의 디바이스 상태를 판단한다(4010).
상기 단계(4010)에서 디바이스의 상태가 테스트 중일 경우 현재 다른 테스트중이라는 메시지를 출력하고 종료한다(5010). 상기 단계(4010)에서 디바이스의 상태가 폴트일 경우 폴트 메시지를 출력하고 종료한다(5030). 상기 단계(4010)에서 디바이스의 상태가 아이들일 경우 디바이스의 테스트를 실시한다(5020).
또한, 테스트 결과를 상기 디바이스에 따른 데이터 베이스를 셀렉트해서 업데이트한다(6010).
이후, 상기 실장된 디바이스의 테스트 수행 완료 메시지를 출력하고 종료한다(7010).
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은, 디바이스 테스트 명령어의 전달 경로를 줄임으로 디바이스 테스트 명령어의 처리가 신속해 지는 효과가 있다. MP의 메모리 영역을 사용하지 않고 INP(52) 내의 PLD(524)가 제공하는 디바이스 상태 데이터를 직접 사용하여 디바이스를 테스트하므로 MP의 메모리를 절약할 수 있다. 따라서, MP가 사용하는 메모리의 용량이 충분해져 시스템의 서비스 처리 속도가 개선되는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 전전자 교환기의 INP에서의 글로발 디바이스를 테스트함에 있어서 : 글로발 서비스의 테스트를 요구하는 제1단계; 상기 테스트 요구에 따른 디바이스의 실장 여부를 확인하는 제2단계; 실장된 디바이스의 상태 정보를 저장하고 있는 데이터 베이스를 셀렉트하는 제3단계; 상기 데이터 베이스의 정보로부터 상기 실장된 디바이스의 현재 상태를 판단하는 제4단계; 상기 실장된 디바이스의 상태가 아이들일 경우 상기 실장된 디바이스의 테스트를 실시하는 제5단계; 상기 실장된 디베이스의 테스트 결과를 상기 데이터 베이스에 업데이트하는 제6단계; 상기 실장된 디바이스의 테스트 수행 완료 메시지를 출력하는 제7단계를 포함하는 전전자 교환기의 INP에서의 글로발 디바이스 테스트 방법.
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