KR19980032745A - 펄스 플레이트 플라즈마 이온주입 시스템 - Google Patents

Abstract

작업재 이온주입표면(120)에 이온이 충돌하게 함으로써 작업재 이온주입표면(120)을 처리하기 위한 방법과 장치이다. 이온주입챔버(12)는 하나 또는 그 이상의 작업재(14)가 삽입될 수 있는 챔버내부(24)를 한정한다. 지지대(30)는 작업재(14)의 이온주입표면(120)이 내부영역(34)을 향하도록 내부영역(34)에 하나 또는 그 이상의 작업재(14)를 위치시킨다. 가스형태의 도우펀트재료는, 가스가 하나 또는 그 이상의 작업재(14)에 매우 인접한 이온챔버(12)의 영역(34)을 차지하도록 이온주입챔버(12)에 주입된다. 이온주입재료의 플라즈마는 이온주입챔버(12)의 내부영역(34)내에서 발생된다. 이온주입챔버(12)내에 위치된 제1 및 제2전도성전극(30, 32)은 하나 또는 그 이상의 작업재(14)가 점유하는 챔버내부(24, 34)에 인접한 전도성 표면을 가진다. 챔버 외측의 전압원은 제1 및 제2전도성전극(30, 32)을 상대적으로 바이어스한다. 제어회로(100)는 챔버(12)에 주입된 가스분자를 이온화시키고 또한 이온화된 가스분자를 하나 또는 그 이상 작업재(14)의 이온주입표면(120)으로 가속시키는 일련의 펄스(112, N, P)로 전극을 활성화시키기 위해 제1 및 제2전극(30, 32)을 반복적으로, 상대적으로 바이어싱하는 전압원을 사용한다.

Description

펄스 플레이트 플라즈마 이온주입 시스템

본 발명은 작업재에 충돌되도록 가속되는 플라즈마 입자내에, 처리되게 될 작어재를 담그는 작업재 처리시스템에 관한 것이다. 그러한 시스템은 제어된 이온농도로 웨이퍼를 도핑시키기 위하여 실리콘 웨이퍼의 표면을 향해 가속되는 양으로 하적된 이온을 포함하는 플라즈마내로 하나 또는 그 이상의 작업재를 담근다.

상업적으로 입수할 수 있는 이온주입 시스템은, 하나 또는 그 이상의 작업재들이 소오스로부터 온 이온에 의해 처리되는 이온주입 챔버로부터 떨어진 소오스챔버를 포함하는 이온소오스를 사용한다. 소오스 챔버에 있는 방출개구는 이온빔을 형성하기 위해 이온들이 형성을 이루고 분석되고, 그리고 가속이 되도록 이온들이 소오스에서 방출되도록 한다. 이온빔은 진공된 빔경로를 따라 이온주입챔버를 향해간다. 이 이온주입 챔버에서, 이온빔들은 주입챔버내에 위치된 하나 또는 그 이상의 작업재, 전형적으로 원형 웨이퍼를 타격한다. 그러한 시스템의 전형적인 응용에서, 웨이퍼들은 실리콘 웨이퍼이고 그리고 이온들은 반도체 재료를 생성하기 위해 웨이퍼를 도핑하는데 사용된다. 마스크와 패시베이션층(passivation layer)을 사용하는 선택적인 이온주입은 이러한 선행기술 이온주입기로 집적회로가 제조될 수 있게 한다.

콘라드(conrad)의 미국특허 제4,764,394호 Method and Apparatus for Plasma Source Ion Implantation은 이온충돌로 타겟을 처리하기 위한 이온주입 시스템을 기재하여 놓았다. 3차원 타겟의 표면내로 이온주입은 밀폐된 챔버내에서 타겟의 주위의 이온호된 플라즈마를 형성시킴으로서 이루어진다. 타겟을 감싸는 영역에 플라즈마가 셋업되면, 플라즈마로부터의 이온은 타겟을 조정할 필요가 없이 모든 측면에서 타겟 대상물로 가게 된다. 이러한 이온주입은 높은 전압, 전형적으로 20킬로볼트 또는 이 보다 더 높은 전압의 펄스의 반보적인 인가로 이루어진다. 이러한 펄스의 반복적인 인가는 이온들이 노출된 타켓의 표면으로 가게 한다. 플라즈마는 셋업시키기 위한 미국특허 제4,764,394호의 기술은 타켓의 영역내로 중성가스를 도입시킨 다음 이온방사로 개스를 이온화시키기 위한 것이다.

콘라스의 미국특허 제4,764,394호에 기재된 시스템은 작업재를 둘러싸는 영역내에 개별적인 이온소오스를 사용하여 플라즈마를 셋업시킨 다음, 작업재로 플라즈마의 양이온을 유인하기 위하여 작업재를 지지하는 전극에 음전압으로 선택적으로 펄스를 보낸다. 이 발명에 따라 구성된 구조와 방법은 일련의 에너지화된 펄스로 플라즈마 생성과 작업재 처리를 한다.

본 발명은 작업재의 입자충돌에 의한 작업재 처리에 관한 것이다. 이온주입 챔버에는 챔버내부가 제공된다. 전도성 작업재를 한 전극으로서 작용하고, 챔버내부에 하나 또는 그 이상의 작업재가 위치된다. 챔버는 챔버내부와 경계를 이루는 전도성 벽부를 가지고 또한 제2전극으로서 작용한다.

하나 또는 그 이상의 작업재들은 이온주입 챔버내에 삽입되어 전도성 지지부 위에 위치되어, 하나 또는 그 이상의 작업재들의 처리면들은 이온주입 챔버의 내부영역을 향한다. 중성적으로 하전된 개스분자의 형태인 작업재 처리재료들은, 전도성 지지부에 의해 지지되는 하나 또는 그 이상의 작업재에 아주 근접하여 이온주입 챔버의 영역을 개스가 차지하도록 이온주입 챔버내로 주입된다.

바이어싱 전압이 제1전극을 형성하는 전도성 작업재 지지부와 제2전극을 형성하는 이온주입 챔버의 전도성 벽부 사이에 인가된다. 이 바이어싱 전압을 챔버내에 주입된 개스분자를 이온화시키고 그리고 하나 또는 그 이상의 작업재의 처리면을 향해 상기 이온화의 결과로 생성된 하전입자를 가속시키기 위해 제1 및 제2전극을 상대적으로 바이어싱하기 위한 일련의 전기적 펄스인 것이 가장 바람직하다.

본 발명의 특정한 사용은 웨이퍼를 도핑시키기 위해 실리콘 웨이퍼내로 제어된 농도의 이온을 주입시키는 것이다. 실험결과는 주입불순물의 적절한 농도는 적절한 이온 도핑재료로 이루어질 수 있다는 것을 보여 주었다.

본 발명은 평판패널 디스플레이 등을 이온주입시키는 특정한 응용에 사용될 수 있는데, 큰 표면적의 작업재는 이온충돌로 처리된다. 평판패널 디스플레이는 한 표면에 도포된 다결정 또는 비정질 실리콘코딩을 가지는 글래스 등의 기재로 제조된다. 코팅된 기재는 이온주입 챔버내로 삽입되어 이온충돌로 처리된다.

본 발명의 실시는, 비교적 긴 진공이온 빔 경로에 의해 이온주입 스테이션으로부터 멀리 떨어진 이온소스를 가지는 선행기술 이온주입장치에 비해 여러 특징적인 장점을 가진다. 본 발명에 따라 구성된 이온주입장치의 제조단가는 플라스마 소오스와 이러한 소오스를 위한 파워스플라이의 제거로 인해 감소될 수 있다. 챔버내에 플라즈마를 생성시키는 전극간의 갭이 비교적 작게 만들어질 수 있기 때문에, 프로세스 챔버의 크기가 감소될 수 있다. 시스템의 크기, 전력소비 및 관리유지가 보다 간단히 이루어지기 때문에, 이러한 이온주입 장치의 운통비용이 감소될 수 있다. 적절한 재료로 이루어진, 예컨대 실리콘으로 코팅된 알루미늄으로 이루어진 두개의 매우 근접한 플레이트 때문에, 플라즈마가 두 플레이트 사이에 형성되므로 이온주입 장치의 오염이 감소될 수 있다. 평판패널 디스플레이와 같은 큰 단면의 작업재를 처리하기 위한 능력이, 처리될 수 있는 작업재의 크기를 증가시키기 위하여 전극의 크기가 증기될 필요가 없기 때문에 향상될 수 있다. 이온주입의 균일로 또한 매우 훌륭하고, 약 1%보다 적은 변동이 이루어질 수 있다.

플라즈마를 셋업시키기 위한, 기술된 기술의 사용은 이온주입에만 극한되지 않는다. 기술된 기술은 또한 에칭과 에슁에 사용될 수 있다. 만일 제1 및 제2전극에 인가된 펄스의 극성이 반전된다면, 작업재는 전자로 처리될 수 있는데, 이러한 경우 포토레지스트의 처리에 유용할 수 있다. 일반적으로 양 또는 음전압이 제1 및 제2전극중 하나에 인가될 수 있고 그리고 다른 전극은 기준, 전형적으로 접지전위에서 유지될 수 있다.

본 발명의 이들 목적, 장점 및 특징들은 첨부도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예의 상세한 설명에서부터 명확히 알 수 있다.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 구성된 이온주입 시스템의 개략도.

도 2A 및 도 2B는 프로세스 챔버내에 플라즈마를 셋업시키기 위한 음극과 양극을 포함하는 프로세스 챔버를 나타내는 확대된 개략도.

도 3은 작업재의 표면에 충돌하는 이온간에 가능한 상호작용을 보여주는 개략도.

도 4는 이온이 작업재에 충돌할 때 이온에너지가 무게의 함수에 따른 이온주입 가망도를 보여주는 그래프.

도 5는 보존 플루오르라이드 개스분자로부터 추출된 보존으로 전도되는 6인치 직경의 웨이퍼의 주입을 위해 웨이퍼표면 아래 깊이의 함수에 따른 이온주입 농도를 보여주는 그래프.

도 6은 보존으로 이온주입된 6인치 웨이퍼의 도핑 균일도를 보여주는 그래프.

도 1은 일반적으로 평면 작업재(14)들이 이들 작업재의 이온처리위해 삽입되는 프로세스 챔버(12)를 포함하는 이온주입 시스템(10)의 개략적인 개요이다. 도 1에 표시된 시스템은 개별적인 웨이퍼를 한번에 하나씩 프로세스 챔버(12)내에 삽입시키기 위한 로드록(20)을 포함한다. 로드록의 사용은 작업재들이 프로세스 챔버(12)내에 삽입되고 또한 프로세스 챔버로부터 제거될 때 개방되고, 폐쇄되는 밸브(21)에 의해 작업재들이 챔버(12)내에 위치되고, 또한 챔버에서부터 철수될 때 감소된 전압(대기압에 대해)에서 프로세스 챔버(12)가 유지될 수 있도록 한다.

도 1의 프로세스 챔버(12)는 작업재(14)가 삽입되는 챔버내부(14)를 규정하는 내부벽(22)을 가진다. 작업재(14)는 일반적으로 평평한 전도성 테이블 또는 지지대(30)위에 위치된다. 테이블(30)은 테이블(30)에 의해 지지되는 작업재의 크기에 따라 적합한 치수를 가질 수 있다.

작업재 테이블위에 어느 정도 떨어진 곳에, 분기관과 작업재(14)간의 영역(34)에 이온화 가능한 가스를 주입시키는 가스전달 분기관(32)이 있다. 작업재위의 이 영역(34)은 이온주입 시스템(10)의 작동동안 이온 플라즈마가 생성되는 영역이다. 이온화 되지 않고 그리고 이온주입되지 않은 가스분자들은 배출개구(35)를 통해 챔버로부터 방출된다. 한 실시예에 있어서, 도 2A와 도 2B에 도시된 바와 같이 배출개구(35)는 테이블(30) 아래에 형성된다.

챔버외측의 가스공급기(36)는 챔버벽을 관통해, 유입구(37)에서 작업재(14)를 향하는 개구(40)의 배열(도 2A 및 도 2B)로 가는 다수의 전달통로를 형성하는 분기관으로 가는 유입구(37)를 통해 이온화 가능한 가스를 전달한다. 분기관과 작업재(14) 사이의 영역에서 가스밀도를 가능한 균일하게 유지함으로써 훌륭한 처리 균일도가 이루어진다. 바람직한 분기관(32)은 일반적으로 단면이 원형이고 그리고 분기관의 외측주변 둘레에 가스농도를 가능한 균일하게 유지하기 위하여 개구(40)의 배열을 포함한다. 이러한 구성에 있어서, 작업재(14)는 잠재적인 플라즈마의 비균일 영역을 피하기 위하여, 원형테이블(30)의 변부로부터 내측으로 이격되어 테이블(30)상에 위치된다. 균일한 이온주입은 또한 전극의 변부에서 전기장 강도를 제어하기 위해 제1전극으로서의 테이블(30)의 변부의 형태와 제2전극으로서의 분기관(32)의 변부의 형태를 적절히 설계함으로써 보장될 수 있다.

가스가 플라즈마 영역(34)에 도입되면, 가스분자들은 이온화(하나 또는 그 이상의 전자들의 제거)되고 그리고 양으로 하전된 원자들이, 분기관(32)이 접지전위에 유지되어 있는 동안 전도성 테이블(30)에 인가되는 일련의 음전압 펄스에 의해 작업재를 행해 가속된다(도 2A). 특정한 응용에서, 테이블(30)과 분기관(32)에 인가된 전압이 반전될 수 있어서, 전자들이 작업재에 충돌되도록 가속된다. 설명된 실시예에서, 단일의 작업재가 테이블(30)에 지지되어 있는 것으로 도시되었지만, 본 발명을 사용하여 다수의 작업재들이 동시에 이온주입될 수 있다.

도 2A와 도 2B는 작업재(14)위의 영역(34)에서 작업재 처리재료의 집중을 발생시키기 위하여 사용된 네 개의 상이한 바이어싱 구성은 보여준다. 도 2A에서, 분기관(32)과 챔버벽은 접지된다. 이 구성에서, 전도성 지지테이블(30)에 인가된 음전압 펄스(N)는 영역(34)에서 비교적 높은 자기장에 의해 이온이 생성되도록 하여 테이블을 향해 가속되도록 한다. 도 2B의 실시예에서, 지지테이블은 접지되고 그리고 전압펄스들이 분기관(32)에 인가된다. 이 구성에서 양전압 펄스(P)는 양으로 대전된 이온을 작업재(14)를 향해 가속시킨다.

챔버(12) 외측에 위치된 변조회로(100)는 전도성 테이블(30)과 전도성 분기관(32)을 상대적으로 바이어스하기 위하여 한 전극으로서의 테이블(30)과 다른 전극으로서의 분기관(32)을 가로질러 전압펄스를 인가한다. 상업적으로 입수가능한 다수의 전압원중 어떠한 것도 전압펄스를 공급하기에 적합하다.

바람직한 변조회로(100)는, 챔버내로 주입되는 가스분자를 이온화시키고 또한 하나 또는 그 이상의 작업재(14)의 이온주입면을 향해 이온화된 가스분자를 가속시키는 일련의 펄스(112)를 제공하는 고압 고체스위치에 의해 제어되는 전원을 포함한다. 펄스(112)의 반복율과 펄스기간은, 두 전극(30, 32)에 인가된 펄스에 의해 영역(34)에서 글로우방전이 발전해 플라즈마가 형성되는 것을 보장하도록 선택된다. 플라즈마밀도는 이온화펄스가 제거된 후에, 재결합과 확산으로 인해 수백 밀리초 정도의 시간내에 붕괴될 수 있다. 플라즈마를 연속적으로 유지하기 위하여, 초 당 수천 펄스율 또는 이 보다 큰 펄스율이 필요하다. 그러나, 낮은 펄스율에서, 각 펄스동안 이온화외 이온주입이 발생되지만, 낮은 이온주입율이 된다.

오염을 감소시키기 위하여, 한 실시예의 테이블(30)과 분기관(32)은 실리콘으로 코팅된 알루미늄으로 만들어진다. 쿼츠와 같은 적절한 절연재료로 챔버벽(22)의 최소 일부분과 비작업영역을 붙이는 것은 전력소비뿐만 아니라 오염감소를 도와준다.

도 3은 이온플라즈마 영역(34)으로부터 온 이온들이 표면(20)을 타격할 때 작업재(14)의 처리면(120)에서 발생하는 가능한 반작용을 보여준다. 도 3에 도시된, 가능한 이온-표면 반작용은 비탄성(이온주입뿐만 아니라 광자, X-레이, 이차전자의 생성) 및 탄성(스퍼트링 및 반사된 입자들) 반작용을 보여준다. 투사이온(130)은 작업재(14)의 견고한 격자에 트랩될 수 있고 그리고 이것이 이온주입이다. 트랩핑 가능성(n)이 도 4의 그래프에 도시되어 있고, 예상한 바와 같이 이온에너지(E)를 증가시키고 그리고 이온무게(m)를 감소시킴으로써 트랩핑 가능성이 증가된다. 높은 에너지(E10Kev)에서, 이온무게에 상관없이 트랩핑 가능성은 n=1이다. 이온에너지는 주로 플라즈마의 시스전압(sheath voltage)에 의해 결정된다. 시스전압은 변조기(100)에 의해 공급된 펄스전압에 의해 제어된다. 트랩핑 가능성은 또한 가스압력에 의해 영향을 받는데, 이는 이온들이 표면(120)에 도달하기 전까지 가스분자와의 충돌로 인해 그들의 에너지 일부를 손실할 수 있기 때문이다.

작업재(14)를 챔버내로 삽입시키기 위한 로드록(20)의 사용은 챔버(12)의 내부가 이온주입간에 진공상태로 머물러있게 한다. 전공펌프(140)는 챔버내부를 감소된 기압으로 유지시키고, 감소된 기압은 챔버(12)와 펌프(140) 사이에 삽입된 밸브(142)에 의해 조절된다. 선택적으로 동일한 펌프(140)가 가스배출 개구(35)에 결합될 수 있다.

실리콘웨이퍼는 본 발명에 따라 질소 도펀트재료로 이온주입되었다. 질소가스는 챔버내부에 외방으로 개방되는 분기관(32)을 통해 연장하는 여러 개의 통로를 통해 질소가스를 전달하는 알루미늄 분기관(32)을 통해 소오스(36)에서 챔버(12)내로 공급된다. 도 2A에 도시된 전체 챔버(12)는 로드록(20)을 통해 챔버내로 삽입되는 실리콘 웨이퍼를 지지하는 웨이퍼 지지대(30)를 제외하고는 접지된다. 지지대(30)에 펄스를 주기 위하여, 절연체(150)는 챔버의 벽을 지지대(30)로부터 절연시킨다. 챔버의 측벽과 하부는 쿼츠 하드웨어로 보호된다. 질소플라즈마는 2000pps의 펄스 반복율에서 5마이크로초의 펄스주기 동안 웨이퍼지지대(30)를 음으로 펄스를 가함으로써 발생된다.

글로우방전이 전개되는 임계 펄스전압은 챔버(12)에 도입된 가스의 유형, 가스압력, 및 전극(30, 32)간의 간격에 의존한다. 전극간의 간격은 주어진 진폭의 전압펄스 동안 만들어진 전기장 세기를 결정한다.

필요한 이온화를 발생시키기 위해 필요한 펄스전압은 영역(34)에 다른 외부적인 압력에 의해 영향을 받을 수 있다. 이들 입력들은 방사소오스(152)를 포함해 도 2A와 2B에 도시되어서, 방사소오스는 UV 또는 다른 적절한 방사를 윈도우(153)를 통해 챔버측벽으로 보낸다. 또한 헬름홀츠 코일(154)이 영역(34)에 비례해 위치되어 영역(34)에 임의의 자기장을 셋업할 수 있다. 코일(154)은 영역(34)에 비례해 챔버(12)의 내측 또는 외측에 위치될 수 있다. 다른 실시예에서는, 영구자석들이 영역(34)내에 자기장을 셋업시키기 위해 사용될 수 있다.

본 발명에 따른 체험은, 접지된 챔버벽에 대한 -3.6Kv에서 자기장없이 플라즈마가 챔버내에서 셋업된다는 것을 가리킨다. 동일한 전극간의 간격과 헬름홀츠 코일(154)에 의해 발생된 40가우스의 자기장으로, 플라즈마는 감소된 -1.8Kv에서 개시된다. 도우즈율은 가스압력과 펄스상태에 관련된다. 4마이크로초의 펄스폭과 5000Hz의 펄스율을 가지는 V=-5Kv의 이온주입 조건으로, 가스압력에 따라 4 × 10¹³㎠/초에서 2 × 10¹⁵㎠/초까지의 도우즈율이 구해졌다.

본 발명을 사용하는 도우핑은 훌륭한 균일도를 가지는 6인치 실리콘웨이퍼에서 수행되었다. 도 5는 보론-플루오라이드 펄스플레이트 플라즈마 이온주입을 사용하여 보론 도우핑 프로파일(웨이퍼의 표면에서부터의 거리의 함수에 따라 입방 센티미터 당 원자의 농도)를 설명한다. 도 6은 보론으로 6인치 실리콘웨이퍼를 도우핑한 다음 급속열 어닐링했을 때 이루어진 도우핑 균일도 묘사이다. 도 6의 묘사는 4점 프로브로 측정된 면저항의 맵인데, 이는 지형상의 맵과 유사하다. 등고선(equal lines of elevation) 대신에, 도 6은 면저항의 등선을 보여준다. 평균 먼저 항은 두꺼운 실선으로 도시되어 있다. 두꺼운 실선 내외측의 동심선은 평균 아래, 위의 점진적인 면저항을 나타낸다. 웨이퍼(14)의 표면을 가로지른 평균저항의 전체적인 편차는 약 1%이다.

본 발명이 상세하게 설명되었지만, 본 발명은 청구항의 범위 또는 사상을 벗어남이 없이 다양한 변형과 수정이 이루어질 수 있다는 것을 알아야 한다.

내용없음

Claims (21)

1. (a) 하나 또는 그 이상 작업재(14)의 처리표면(120)이, 내부를 규정하는 전도성 벽부(32)를 가지는 처리챔버(12)의 내부(24)의 처리영역(34)을 향하도록 하나 또는 그 이상의 작업재(14)를 처리챔버(12)의 내부(24)로 삽입시켜, 전도성 작업재 지지대(30) 위에 하나 또는 그 이상의 작업재(14)를 재치시키는 단계;

   (b) 가스분자들이 처리영역(34)을 점유하도록 처리챔버(12)내에 중상적으로 대전된 가스분자를 포함하는 처리재료를 주입시키는 단계; 및

   (c) 처리챔버(12)에 주입된 가스분자들을 이온화시켜, 대전된 입자들을 하나 또는 그 이상의 작업재(14)의 처리표면(120)에 충돌시키기 위해 대전된 입자들을 가속시키기 위하여 전압펄스(112, N, P)를 인가함으로써 처리챔버(12)의 전도성 벽부(32)와 전도성 작업재지지대(30)를 반복적으로, 상대적으로 바이어싱하는 단계를 포함하는 것이 특징인, 하나 또는 그 이상의 작업재(14)를 처리하기 위한 방법.
2. 청구항 1에 있어서, 상대적으로 바이어싱하는 단계(c)는 처리챔버(12)에 주입된 가스분자들을 이온화시켜, 양으로 대전된 이온을 하나 또는 그 이상의 작업재(14)의 처리표면(120)에 충돌시키도록 가속시키기 위하여, 처리챔버(12)의 전도성 벽부(32)에 대해 전도성 작업재지지대(30)를 음으로 바이어싱하는 단계를 포함하는 것이 특징인 방법.
3. 청구항 1에 있어서, 상대적으로 바이어싱하는 단계(c)는 처리챔버(12)에 주입된 가스분자들을 이온화시켜, 전자들을 하나 또는 그 이상의 작업재(14)의 처리표면(120)에 충돌시키도록 가속시키기 위하여, 처리챔버(12)의 전도성 벽부(32)에 대해 전도성 작업재지지대(30)를 양으로 바이어싱하는 단계를 포함하는 것이 특징인 방법.
4. 청구항 1에 있어서, 반복적으로 상대적으로 바이어싱하는 단계(c)는 전도성 벽부(32)를 기준 전기전위에 유지시키는 동안 전도성 작업재지지대(30)에 전압펄스(112, N)를 인가하는 단계를 포함하는 것이 특징인 방법.
5. 청구항 1에 있어서, 반복적으로 상대적으로 바이어싱하는 단계(c)는 전도성 작업지지대(30)를 기준 전기전위에 유지시키는 동안 전도성 벽부(32)에 전압펄스(P)를 인가하는 단계를 포함하는 것이 특징인 방법.
6. 청구항 1에 있어서, 처리챔버(12)의 처리영역(34)에 자기장을 제공하는 단계를 포함하는 것이 특징인 방법.
7. 처리챔버(12)의 처리영역(34)에 방사를 제공하는 단계를 포함하는 것이 특징인 방법.
8. 청구항 1에 있어서, 전도성 작업재지지대(30)와 전도성 벽부(32)를 바이어스 하기 위해 인가된 전압펄스(112, N, P)는 처리챔버(12)의 내부(24)에 이온 플라즈마농도를 비교적 일정한 레벨로 유지하기에 충분한 펄스율, 폭 및 크기를 가지는 것이 특징인 방법.
9. 청구항 8에 있어서, 전압펄스(112, N, P)는 수 마이크로초정도 지속하고 그리고 수천 헤르츠정도의 펄스반복율을 가지는 것이 특징인 방법.
10. (a) 챔버내부(24)를 한정하고 또한 챔버내부(24)를 규정하는 전도성 벽부(32)를 가지는 처리챔버(12);

    (b) 처리챔버(12)의 내부(24)에서 하나 또는 그 이상의 작업재(14)를 지지하기 위한 전도성 작업재지지대(30);

    (c) 가스분자들이 전도성 작업재지지대(30)에 의해 지지되는 하나 또는 그 이상의 작업재(14)에 인접한 처리영역을 차지하도록, 가스분자를 포함하는 처리재료를 처리챔버(12)내로 주입시키기 주입기(32); 및

    (d) 전도성 작업재지지대(30)와 전도성 벽부(32)를 반복적으로, 상대적으로 바이어싱하고, 또한 처리챔버(12)에 주입된 가스분자들을 이온화시키고 그리고 대전된 입자들을 하나 또는 그 이상 작업재(14)의 처리표면(120)에 충돌하도록 가속시키는 일련의 전압펄스(112, N, P)를 제공하는 전압원을 포함하는 제어회로(100)를 포함하는 것이 특징인, 하나 또는 그 이상의 작업재(14)를 처리하기 위한 장치(10).
11. 청구항 10에 있어서, 전도성 벽부(32)는 주입기(32)를 포함하는 것이 특징인 장치.
12. 청구항 10에 있어서, 제어회로(100)는 처리챔버(12)에 주입된 가스분자를 이온화시켜, 양으로 대전된 이온을 하나 또는 그 이상의 작업재(14)의 처리표면(120)에 충돌하도록 가속시키기 위하여 처리챔버(12)의 전도성 벽부(32)에 대해 전도성 작업재지지대(30)를 반복적으로 음으로 바이어스시키는 것이 특징인 장치.
13. 청구항 10에 있어서, 제어회로(100)는 처리챔버(12)에 주입된 가스분자를 이온화시켜, 전자를 하나 또는 그 이상의 작업재(14)의 처리표면(120)에 충돌하도록 가속시키기 위하여 처리챔버(12)의 전도성 벽부(32)에 대해 전도성 작업재지지대(30)를 반복적으로 양으로 바이어스시키는 것이 특징인 장치.
14. 청구항 10에 있어서, 전압원은 전도성 작업재지지대(30)에 전압펄스(112, N)를 인가하고 또한 제어회로(100)는 전도성 벽부(32)를 기준 전기전위에 유지시키는 것이 특징인 장치.
15. 청구항 10에 있어서, 전압원은 전도성 벽부(32)에 전압펄스(P)를 인가하고 또한 제어회로(100)는 전도성 작업재지지대(30)를 기준 전기전위에 유지시키는 것이 특징인 장치.
16. 청구항 10에 있어서, 전도성 작업재지지대(30)는 처리챔버(12)의 절연부(150)에 의해 지지되는 것이 특징인 장치.
17. 청구항 10에 있어서, 주입기(32)는 챔버내부(24)에 가스분자를 절단하기 위한 분기관(32)을 포함하는 것이 특징인 장치.
18. 청구항 17에 있어서, 분기관(32)은 전도성재료를 포함하고 또한 처리챔버(12)의 절연부(150)에 의해 지지되며, 그리고 전압원은 전도성 작업재지지대(30)에 대해 전도성 분기관(32)을 상대적으로 바이어스하기 위하여 전도성 분기관(32)에 전압펄스(P)를 인가하는 것이 특징인 장치.
19. 청구항 10에 있어서, 챔버내부(24) 및 전도성 작업재지지대(30)의 비-자업영역중 적어도 일부는 절연재료로 덮히는 것이 특징인 장치.
20. 청구항 10에 있어서, 처리챔버(12)의 처리영역(34)에 자기장을 셋업시키기 위한 자석(154)을 포함하는 것이 특징인 장치.
21. 청구항 10에 있어서, 처리챔버(12)의 처리영역(34)에 방사를 제공하기 위한 방사원(152)을 포함하는 것이 특징인 장치.