KR19980020142A - 액정 표시 장치(lcd) 탭(tab) 제품의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 액정 표시 장치(LCD) 탭(TAB) 제품의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 방법에 관한 것으로서, LCD TAB 제품의 개발 초기 단계에서의 제품 특성 검토 및 신뢰성 검토를 위한 단품 테스트가 종래에는 수동으로 이루어져 왔기 때문에 테스트 과정이 복잡하고 번거로울 뿐만 아니라 테스트 후의 TAB 테이프의 가이드 홀과 테스트 장치의 가이드 핀 간의 분리가 수월하지 않고 분리 과정에서 TAB 테이프 상의 회로 패턴이 손상되는 문제점 등이 있다.

따라서 본 발명은 탄성체를 포함한 지지기둥을 따라 프로브 핀이 삽입된 테스트 장치의 상부판과 TAB 제품이 놓여진 하부판이 맞물리면서 테스트가 이루어지고, 테스트 완료 후에는 하부판 상에 탄성체를 개재하여 형성된 지지/이격판의 탄성력에 의하여 TAB 제품이 자동으로 분리됨으로써, 테스트가 용이하게 이루어질 뿐만 아니라 분리시의 회로 패턴 손상을 방지할 수 있는 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 방법에 관한 것이다.

Description

액정 표시 장치(LCD) 탭(TAB) 제품의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 방법

본 발명은 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 액정 표시 장치(LCD) 탭(TAB) 제품의 단품 테스트 후 TAB 테이프와 테스트 장치 간의 분리가 자동적으로 이루어지고 분리시의 회로 패턴 손상을 방지할 수 있는 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 방법에 관한 것이다.

정보 전달 매체의 주요 부분인 표시 장치의 소형화, 경량화의 추세에 따라 규모가 큰 음극선관(CRT; Cathod Ray Tube)을 대체하는 각종 표시장치가 개발되고 있다. 그 중에서도 액정 표시 장치(LCD; Liquid Crystal Display)는 저소비전력, 소형, 경량의 특성을 살려 시계, 전자 계산기 뿐만 아니라 노트북 컴퓨터, TV 등의 대형, 대화소 표시용 분야와 뷰-파인더(View-Finder)나 투사형 표시장치와 같은 소형, 고밀도 분야 등에서 광범위하게 응용되고 있다.

이러한 LCD의 평면적인 유효 표시면적을 가능한 크게 하기 위해서나 박형의 모듈을 형성하기 위하여 LCD 패널에 구동 칩(Drive Chip)을 실장하는 기술이 점차 중요시되고 있는데, 통상적으로 쓰이는 방식이 구동 칩을 실장한 탭(TAB; Tape Automated Bonding) 테이프를 LCD 패널에 접속하는 방식이다.

즉, TAB 실장 방법은 액정 TV, 사무기기용 칼라 LCD 패널 등의 고화소 LCD에 현재 가장 일반적으로 사용되는 기술로서, 구동 칩을 탭 테이프 캐리어(TAB Tape Carrier) 상에 열압착 본딩으로 일괄 접속한 후, 반도체 칩 부분을 수지 봉지하여 개별 부품으로 분리하고, 이것을 LCD 패널과 이방성 전도 필름(ACF; Anisotropic Conductive Film) 또는 광경화성 필름을 통하여 연결하는 방식이다.

그런데 구동 칩을 탭 테이프에 접속하고 난 후의 LCD TAB 제품은 개발 초기 단계에서 제품의 특성 검토 및 신뢰성 검토를 위하여 테스트를 실시하여야 한다. 즉, 단품 상태에서의 테스트가 이루어져야 하는데 종래에는 이 과정이 수동으로 이루어져 왔기 때문에 테스트 과정이 복잡하고 번거로울 뿐만 아니라, 특히 테스트 후의 TAB 테이프의 가이드 홀과 테스트 장치의 가이드 핀 간의 분리가 수월하지 않다. 그리고 수동으로 분리하다 보면, TAB 테이프 상의 회로 패턴이 손상되는 불량이 발생하는 문제점이 있다.

따라서 본 발명의 목적은 상기 문제점을 해결하기 위하여, LCD TAB 제품의 단품 테스트 후 TAB 테이프와 테스트 장치 간의 분리가 용이하며 자동적으로 이루어질 뿐만 아니라, 분리시의 회로 패턴 손상을 방지할 수 있는 테스트 장치 및 그를 이용한 테스트 방법을 제공하는데 있다.

도 1은 본 발명에 따른 테스트 장치에 의하여 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트가 이루어지기 전의 상태를 보여주는 사시도.

도 2는 본 발명에 따른 테스트 장치에 의하여 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트가 이루어지는 상태를 보여주는 사시도.

도 3은 본 발명에 따른 테스트 장치에 의하여 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트가 완료된 후 분리가 이루어지는 상태를 보여주는 사시도.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

10 : 액정 표시 장치(LCD) 탭(TAB) 제품11 : 탭 테이프(TAB Tape)

12 : LCD 구동 칩(Drive Chip)13 : 가이드 홀(Guide Hole)

20 : 테스트 장치21 : 베이스(Base)

22 : 하부판23 : 상부판

24 : 지지기둥25 : 지지/이격판

26 : 가이드 핀(Guide Pin)27 : 커넥터(Connector)

28 : 프로브 핀(Prove Pin)

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 베이스와, 상기 베이스 상부에 형성되며 액정 표시 장치 탭 제품이 놓여지기 위한 하부판과, 상기 하부판 상부에 형성되며 복수개의 프로브 핀이 삽입되어 체결된 상부판과, 상기 베이스와 하부판 및 상부판을 연결하고 지지하는 지지기둥과, 상기 상부판 상부에 형성되며 상기 프로브 핀과 테스트 보드를 연결하는 커넥터와, 상기 프로브 핀의 위치에 대응되는 상기 하부판 상에 탄성체가 개재되어 형성된 지지/이격판을 포함하는 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트 장치를 제공한다.

또한 상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 탭 테이프 상에 복수개의 구동 칩이 접속되어 있고 그 구동 칩 간에 회로 패턴이 형성되어 있으며 복수개의 가이드 홀을 갖는 액정 표시 장치 탭 제품이 준비되는 단계와, 상기 탭 제품이 테스트 장치의 하부판 상부로 공급되고 상기 하부판에 형성된 복수개의 가이드 핀에 상기 탭 제품의 가이드 홀이 끼워지는 단계와, 상기 하부판 상부에 형성된 상부판이 지지기둥을 따라 하부판과 맞물리는 단계와, 상기 상부판에 삽입되어 체결되어 있는 복수개의 프로브 핀이 상기 탭 제품의 회로 패턴 상에 접속되어 테스트가 이루어지는 단계와, 상기 프로브 핀의 위치에 대응되는 상기 하부판상에 탄성체를 개재하여 형성된 지지/이격판의 탄성 작용에 의하여 탭 제품이 하부판으로부터 분리되는 단계를 포함하는 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트 방법을 제공한다.

이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.

도 1은 본 발명에 따른 테스트 장치에 의하여 LCD TAB 제품의 테스트가 이루어지기 전의 상태를 보여주는 사시도이다.

도 2는 본 발명에 따른 테스트 장치에 의하여 LCD TAB 제품의 테스트가 이루어지는 상태를 보여주는 사시도이다.

도 3은 본 발명에 따른 테스트 장치에 의하여 LCD TAB 제품의 테스트가 완료된 후 분리가 이루어지는 상태를 보여주는 사시도이다.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 테스트 장치(20)는 베이스(21)와, 상기 베이스(21) 상부에 형성되며 LCD TAB 제품(10)이 놓여지기 위한 하부판(22)과, 상기 하부판(22) 상부에 형성되며 복수개의 프로브 핀(28)이 삽입되어 체결된 상부판(23)과, 상기 베이스(21)와 하부판(22) 및 상부판(23)을 연결하고 지지하는 지지기둥(24)과, 상기 상부판(23) 상부에 형성되며 상기 프로브 핀(28)과 테스트 보드(도시되지 않음)를 연결하는 커넥터(27), 및 상기 프로브 핀(28)의 위치에 대응되는 상기 하부판(22) 상에 탄성체가 개재되어 형성된 지지/이격판(25)으로 이루어진다.

LCD TAB 제품(10)의 테스트 장치(20)는 크게 베이스(21; Base), 하부판(22), 상부판(23), 지지기둥(24), 커넥터(27; Connector)로 이루어진다. 베이스(21)는 테스트 장치(20)의 기반을 이루며, 탄성체를 포함하는 지지기둥(24)에 의해 상부판(23) 및 하부판(22)과 연결된다. 상부판(23)에는 복수개의 프로브 핀(28; Prove Pin)이 삽입되어 체결되어 있고, 프로브 핀(28)은 상부판(23) 상부 일측에 형성된 커넥터(27)를 통하여 테스트 보드(도시되지 않음)와 연결된다. 테스트하고자 하는 LCD TAB 제품(10)은 하부판(22) 상부에 놓여지며, 하부판(22) 중앙에 형성된 지지/이격판(25)에 위치한 LCD TAB 제품(10)의 단품이 테스트된다. 지지/이격판(25)이 형성된 하부판(22) 상에는 LCD TAB 제품(10)의 올바른 정렬 및 테스트가 이루어지는 동안의 흔들림 방지를 위하여 가이드 핀(26; Guide Pin)이 형성된다. 지지/이격판(25)과 하부판(22) 사이에는 용수철과 같은 탄성체가 개재되어 있어서 가이드 핀(26)을 따라 지지/이격판(25)이 상하운동을 할 수 있다.

LCD TAB 제품(10)은 TAB 테이프(11) 상에 복수개의 구동 칩(12)이 접속되어 있으며, TAB 테이프(11) 상의 각 구동 칩(12) 주위에는 소정의 회로 패턴(도시되지 않음)이 배선되어 있다. 그리고 TAB 테이프(11)의 양쪽 가장자리에는 테스트 장치(20)의 가이드 핀(26)과 대응되는 가이드 홀(13)이 형성되어 있다.

테스트가 이루어지는 과정을 설명하자면 다음과 같다. 우선 LCD TAB 제품(10)이 지지/이격판(25) 상의 가이드 핀(26)에 끼워지고, 테스트 장치(10)의 상부판(23)과 하부판(22)이 지지기둥(24)을 따라 맞물리게 되며, 프로브 핀(28)이 LCD TAB 제품(10)의 회로 패턴(도시되지 않음)에 접속됨으로써 테스트가 이루어진다. 따라서 테스트는 구동 칩(12), 회로 패턴(도시되지 않음), 프로브 핀(28), 커넥터(27), 테스트 보드(도시되지 않음) 순의 신호 경로를 통하여 이루어진다. 테스트가 완료되면, 지지기둥(24)의 용수철 탄성력에 의하여 상부판(23)과 하부판(22)이 분리되고 지지/이격판(25)의 용수철 탄성력에 의하여 TAB 제품(10)이 분리된다.

이상 설명한 바와 같이 본 발명의 구조에 따르면, LCD TAB 제품의 개발 초기 단계에서의 제품 특성 검토 및 신뢰성 검토를 위한 단품 테스트가 용이하게 이루어질 뿐만 아니라, 테스트 완료 후 테스트 장치와 탭 제품의 분리가 자동으로 이루어지며 탭 제품의 회로 패턴에 손상이 가해지지 않는다는 이점이 있다.

Claims (5)

1. 베이스와, 상기 베이스 상부에 형성되며 액정 표시 장치 탭 제품이 놓여지기 위한 하부판과, 상기 하부판 상부에 형성되며 복수개의 프로브 핀이 삽입되어 체결된 상부판과, 상기 베이스와 하부판 및 상부판을 연결하고 지지하는 지지기둥과, 상기 상부판 상부에 형성되며 상기 프로브 핀과 테스트 보드를 연결하는 커넥터와, 상기 프로브 핀의 위치에 대응되는 상기 하부판 상에 탄성체가 개재되어 형성된 지지/이격판을 포함하는 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 지지기둥은 탄성체를 포함하며 그 탄성력의 탄성력에 의하여 상기 상부판과 하부판의 분리가 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트 장치.
3. 제 1 항에 있어서, 상기 지지/이격판이 형성된 하부판 상에 상기 액정 표시 장치 탭 제품의 가이드 홀과 대응되는 복수개의 가이드 핀이 형성된 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트 장치.
4. 탭 테이프 상에 복수개의 구동 칩이 접속되어 있고 그 구동 칩 간에 회로 패턴이 형성되어 있으며 복수개의 가이드 홀을 갖는 액정 표시 장치 탭 제품이 준비되는 단계와, 상기 탭 제품이 테스트 장치의 하부판 상부로 공급되고 상기 하부판에 형성된 복수개의 가이드 핀에 상기 탭 제품의 가이드 홀이 끼워지는 단계와, 상기 하부판 상부에 형성된 상부판이 지지기둥을 따라 하부판과 맞물리는 단계와, 상기 상부판에 삽입되어 체결되어 있는 복수개의 프로브 핀이 상기 탭 제품의 회로 패턴 상에 접속되어 테스트가 이루어지는 단계와, 상기 프로브 핀의 위치에 대응되는 상기 하부판상에 탄성체를 개재하여 형성된 지지/이격판의 탄성 작용에 의하여 탭 제품이 하부판으로부터 분리되는 단계를 포함하는 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트 방법.
5. 제 4 항에 있어서, 상기 테스트가 이루어진 후 상기 탭 제품이 하부판으로부터 분리됨과 동시에 지지기둥에 개재된 탄성체의 탄성력에 의하여 테스트 장치의 상부판과 하부판이 분리되는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치 탭 제품의 테스트 방법.