KR19980018312U - Tft lcd 패널 테스트 카메라 - Google Patents

Tft lcd 패널 테스트 카메라 Download PDF

Info

Publication number
KR19980018312U
KR19980018312U KR2019960031713U KR19960031713U KR19980018312U KR 19980018312 U KR19980018312 U KR 19980018312U KR 2019960031713 U KR2019960031713 U KR 2019960031713U KR 19960031713 U KR19960031713 U KR 19960031713U KR 19980018312 U KR19980018312 U KR 19980018312U
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lcd panel
test
camera
probe
test camera
Prior art date
Application number
KR2019960031713U
Other languages
English (en)
Inventor
차상훈
방상연
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR2019960031713U priority Critical patent/KR19980018312U/ko
Publication of KR19980018312U publication Critical patent/KR19980018312U/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 고안은 TFT LCD 패널 테스트용 카메라에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 LCD 패널을 테스트하는 테스트 카메라를 X,Y축으로 자유롭게 움직이면서 대형 LCD 패널을 테스트할 수 있도록 한 테스트 카메라에 관한 것이다.

Description

TFT LCD 패널 테스트 카메라
본 고안은 TFT LCD 패널 테스트용 카메라에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 LCD 패널을 테스트하는 테스트 카메라를 X,Y축으로 자유롭게 움직이면서 대형 LCD 패널을 테스트할 수 있도록 한 테스트 카메라에 관한 것이다.
일반적으로 LCD 패널에 관한 테스트는 제품에 대한 디바이스(device)의 전기적 특성 및 전기 광학적 특성을 평가하여 양품 및 불량품을 선별하는 작업으로 테스트의 종류로는 전기적 테스트, 광학적 테스트, 전기 광학적 테스트로 크게 분류되는데, 이들 테스트중 광학적 테스트는 카메라를 통하여 픽셀 패턴(pixel pattern)을 인식한 뒤 반복되는 픽셀 패턴을 비교하여 패턴의 이상 유무를 판별하는 테스트이다.
이와 같은 종래의 LCD 패널의 광학적 테스트를 시행하는 종래의 테스트 설비를 첨부된 도면 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
종래의 LCD 패널의 광학적 테스트 장치는 중앙부에 소정면적의 개구부(미도시)를 갖는 사각형 플레이트 형상의 프로브 플레이트(10)와, 프로브 플레이트(10)의 하부로부터 상기 개구부를 거쳐서 LCD 패널(1)을 상부로 이송시키는 수직 이송 스테이지(20)로 구성되어 있으며, 상기 프로브 플레이트(10)는 LCD 패널(1)을 소정 범위만큼 이동시키도록 구동장치(미도시)와 결합되어 있다.
여기서, 프로브 플레이트(10)의 4변중 세로변 일측 길이 방향에는 제 1 프로브 유닛(11a)이 고정되어 있고, 세로변 타측 길이 방향에도 제 2 프로브 유닛(11b)이 고정되어 있다.
또한, 제 1 프로브 유닛(11a)과 제 2 프로브 유닛(11b)에는 LCD 패널을 구동 및 전기적 특성을 테스트하는 프로브 블록(12)이 2개씩 설치되어 있으며, 상기 프로브 블록(12)들은 모두 제 1 프로브 유닛(11a)과 제 2 프로브 유닛(11b)의 상면과 힌지 결합되어 각 90°회전 가능하게 구성되어 있다.
이와 같이 구성된 종래의 LCD 패널의 테스트 장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 광학 테스트를 진행하기 위해 소정 크기의 LCD 패널(1), 예를 들어 10.4″LCD 패널을 이송 스테이지(20)에 올려 놓은 후 이송 스테이지(20)를 상부로 수직 이동시켜 LCD 패널(1)을 프로브 플레이트(10)의 중앙부에 형성된 개구부에 위치시킨다.
이어서, 프로브 블록(12)을 힌지 회전시켜 LCD 패널(1)의 접속단자(미도시)에 정확하게 접속시킨 후, 테스트용 카메라(30)를 현 위치에 고정시키고, 프로브 플레이트(10)를 단계적으로 이송하면서 LCD 패널(1)의 픽셀 패턴들을 테스트한다.
그러나, 종래의 테스트 카메라는 10.4″보다 큰 12.1″대형 LCD 패널을 검사할 때 프로브 플레이트의 이동범위가 10.4″ LCD 패널의 범위를 벗어날 수 없음으로 12.1″LCD 패널 전체를 테스트할 수 없는 문제점이 있었다.
따라서, 본 고안은 이와 같은 종래의 문제점을 감안하여 안출된 것으로서, 본 고안의 목적은 X,Y축으로 이동하는 X-Y 이송부에 테스트 카메라를 설치하여 LCD 패널의 크기에 관계없이 테스트를 진행시킬 수 있도록 한 TFT LCD 패널 테스트 카메라를 제공함에 있다.
도 1은 종래의 기술에 의한 광학적 테스트 설비를 도시한 사시도이고,
도 2는 본 고안에 의한 광학 테스트를 시행하는 테스트 설비를 도시한 사시도이다.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1: LCD 패널
10: 프로브 플레이트11a, 11b: 프로브 유니트
12: 프로브 블록20: 이송 스테이지
30: 고정형 테스트 카메라40: 테스트 카메라 프레임
41: X-Y 이송부 42: 카메라 이송장치
50: 테스트 카메라
이와 같은 본 고안의 목적을 달성하기 위한 TFT LCD 패널 테스트 카메라는 LCD 패널을 장착하기 위한 프로브 플레이트와, 상기 프로브 플레이트의 상면에 설치되어 상기 LCD 패널의 접속단자들과 접속하기 위한 프로브 블록과, 상기 LCD 패널의 상부에 소정의 거리를 두고 고정되어 상기 LCD 패널을 광학 테스트 하는 테스트 카메라를 포함하고 있는 LCD 패널 테스트 장치에 있어서, 상기 LCD 패널의 크기에 제약 받지 않도록한 상기 테스트 카메라를 이송하는 테스트 카메라 이송 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 고안에 의한 TFT LCD 패널 테스트 카메라의 구성을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
본 고안에 의한 LCD 패널 광학 테스트 장치는 소정 면적의 사각형 플레이트의 중앙부에 소정 크기의 LCD 패널(1)이 놓여지도록 소정 크기의 개구부가 형성되어 있는 프로브 플레이트(10)와, 프로브 플레이트(10)의 하부로부터 상기 개구부를 거쳐 LCD 패널(1)을 상부로 이송시키는 수직 이송 스테이지(20)로 구성되어 있다.
또한, 상기 프로브 플레이트(10)와 일정 간격 상부로 이격되어 LCD 패널(1)을 픽셀 패턴을 테스트하는 테스트 카메라(50)가 형성되어 있는데, 테스트 카메라(50)는 테스트 카메라 프레임(40)에 설치되어 있는 카메라 X-Y이송바(bar)(41)와 카메라 이송장치(42)에 의해 이동 가능하도록 설치되어 있다.
여기서, 프로브 플레이트(10)의 상면의 대향하는 장변중 일측에는 프로브 유닛(11b)이 고정되어 있고, 상기 프로브 유닛(11b)에는 LCD 패널의 구동 및 전기적 특성을 테스트하는 프로브 블록(12) 2개가 설치되어 있으며, 상기 프로브 블록(12)들은 힌지를 매개로 90°회전 가능하게 형성되어 있다.
이와 같이 구성된 본 고안에 의한 TFT LCD 패널 테스트 카메라의 작용을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 광학 테스트를 진행하기 위해 소정 크기의 LCD 패널(1), 예를 들면 12.1″LCD 패널을 이송 스테이지(20)에 올려 놓은 후, 이송 스테이지(20)를 상부로 수직 이동시켜 LCD 패널(1)을 상부로 이송시켜 프로브 플레이트(10)의 개구부에 위치시킨다. 이어서, 프로브 블록(12)을 힌지 회전시켜 LCD 패널(1)의 접속단자(미도시)에 정확하게 접속시킨다.
이후, 프로브 플레이트(10)를 고정하고 테스트 카메라 프레임(40)에 설치되어 있는 X-Y 이송바(41)의 카메라 이송장치(42)에 의해 테스트 카메라(50)를 X,Y 축으로 이송시키면서 12.1″ TFT LCD 패널의 픽셀 패턴을 테스트하여 결과를 출력한다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 고안은 기존의 LCD 패널의 광학 테스트에 사용되는 테스트 카메라를 테스트 카메라 프레임에 설치하고 테스트 카메라 프레임의 X-Y 이송바와 카메라 이송장치를 이용하여 LCD 패널의 크기에 관계없이 LCD 패널을 광학 테스트할 수 있다.

Claims (1)

  1. LCD 패널을 장착하기 위한 프로브 플레이트와, 상기 프로브 플레이트의 상면에 설치되어 상기 LCD 패널의 접속단자들과 접속하기 위한 프로브 블록과, 상기 LCD 패널의 상부에 소정의 거리를 두고 고정되어 상기 LCD 패널을 광학 테스트 하는 테스트 카메라를 포함하고 있는 LCD 패널 테스트 장치에 있어서,
    상기 LCD 패널의 크기에 제약 받지 않도록한 상기 테스트 카메라를 이송하는 테스트 카메라 이송 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 TFT LCD 패널 테스트 장치.
KR2019960031713U 1996-09-25 1996-09-25 Tft lcd 패널 테스트 카메라 KR19980018312U (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019960031713U KR19980018312U (ko) 1996-09-25 1996-09-25 Tft lcd 패널 테스트 카메라

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019960031713U KR19980018312U (ko) 1996-09-25 1996-09-25 Tft lcd 패널 테스트 카메라

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR19980018312U true KR19980018312U (ko) 1998-07-06

Family

ID=53977686

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2019960031713U KR19980018312U (ko) 1996-09-25 1996-09-25 Tft lcd 패널 테스트 카메라

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR19980018312U (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100811544B1 (ko) * 2007-04-18 2008-03-07 홍지훈 평면 디스플레이 검사및 결함제거장치
KR101034923B1 (ko) * 2004-05-31 2011-05-17 엘지디스플레이 주식회사 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101034923B1 (ko) * 2004-05-31 2011-05-17 엘지디스플레이 주식회사 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법
KR100811544B1 (ko) * 2007-04-18 2008-03-07 홍지훈 평면 디스플레이 검사및 결함제거장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100602450B1 (ko) 가요성 인쇄회로기판의 테스트 장치
US6759867B2 (en) Inspection apparatus for liquid crystal display device
US6677773B2 (en) Testing device for printed circuit boards
KR20110022202A (ko) 멀티 프로브 유니트
CN102472788A (zh) 导电图检查装置及检查方法
CN212965298U (zh) 一种带背光端子的显示屏测试系统
KR20100058395A (ko) 평판 디스플레이 패널의 검사장치
KR19980018312U (ko) Tft lcd 패널 테스트 카메라
KR100756438B1 (ko) 엘씨디 셀 검사용 프로빙장치
KR101044630B1 (ko) 검사 장치
JPH0658978A (ja) 移動式プローバ機構
CN1150405C (zh) 裸印刷电路板连续检测用的扫描检测装置
KR100358322B1 (ko) 액정표시장치(ｌｃｄ) 테스트 핸들러
KR100657768B1 (ko) 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치
KR20180088564A (ko) 디스플레이패널의 열화상 검사장치
KR100251650B1 (ko) 반도체검사장치의퍼포먼스보드및이를구비한검사장치
CN214277954U (zh) 键盘按键组装在线检测设备
KR101230626B1 (ko) 전자모듈칩 검사용 소켓
KR100449515B1 (ko) Lcd패널테스트장치
KR102549311B1 (ko) 인쇄회로기판 테스트 장치
JP3251846B2 (ja) 半導体デバイス用テストハンドラ装置
KR200153786Y1 (ko) 화상표시소자 조립체의 히트실 측정장치
KR100460056B1 (ko) 심플 패널 테스트 지그
KR100844537B1 (ko) 평판표시소자용 전극 라인의 결함검출용 장치 및 방법
JP2577525Y2 (ja) ショート・オープン検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid