KR102670180B1 - 잔류 dc 측정 장치, 잔류 dc 측정 방법 및 잔류 dc 측정 프로그램 - Google Patents

Abstract

본 발명의 잔류 DC 측정 장치는, 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광하여 수광 신호를 출력하고, 표시 장치로 플리커 측정용 화상의 표시 중에 출력된 수광 신호에 기초하여 표시 장치의 플리커값을 측정하여 초기 플리커값으로서 기억부에 보존하고, 계속해서, 표시 장치에 소정의 표시 화상을 소정의 표시 시간에 걸쳐 표시시키고, 소정의 표시 시간이 경과하면 플리커 측정용 화상을 다시 표시 장치에 표시시키고, 플리커 측정용 화상의 표시 중에 출력된 수광 신호에 기초하여 표시 장치의 플리커값을 측정하여 사후 플리커값으로서 기억부에 보존하고, 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 기억부에 보존되고 있는 사후 플리커값과 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량을 산출하는 것이다.

Description

잔류 DC 측정 장치, 잔류 DC 측정 방법 및 잔류 DC 측정 프로그램

본 발명은, 액정 디스플레이 등의 표시 장치에 생기는 잔류 DC 를 측정하는 기술에 관한 것이다.

액정 디스플레이에서는, 장시간 동일한 화상을 표시하면, 번인이 발생하는 것이 알려져 있다 (예를 들어, 비특허문헌 1 참조). 비특허문헌 1 에서는, 이 번인은, 잔류 DC 에 강하게 관계한다고 설명되어 있다. 잔류 DC 전압을 측정하는 방법으로서, 플리커 소거법이 알려져 있다 (예를 들어, 비특허문헌 2 참조). 플리커 소거법은, 일반적으로, 액정 패널에 대해 스트레스 (온도, 열) 를 가하고, 그 후에 대칭인 교류 신호를 인가하고, 발생하는 플리커를 제거하기 위해서 인가하는 바이어스 전압을 측정하는 방법이다. 그러나, 비특허문헌 2 에는, 플리커 소거법에서는 측정의 자동화가 곤란하기 때문에, 측정자에 따라 측정 결과가 상이한 경우가 있다는 과제가 보고되어 있다. 비특허문헌 3 에는, 시료에 상이한 DC 전압 스트레스를 인가한 후의 플리커값의 시간적 변화가 기재되어 있다. 즉, 비특허문헌 3 의 도 11 에는, 플리커량이 시간과 함께 변화하는 것이 나타나 있다.

최근, 시야각이 넓고 해상도가 높은 고성능의 액정 디스플레이를 실현하는 수단으로서, 프린지 전계 스위칭 방식의 액정이 널리 사용되고 있다. 그러나, 이 액정 재료는, 잔류 DC 가 크기 때문에, 번인이 발생하기 쉽다는 문제가 있다. 이 때문에, 잔류 DC 를 측정할 필요성이 높아지고 있다.

그러나, 잔류 DC 를 측정하기 위해서, 바이어스 전압을 액정 셀에 인가하기 위해서는, 액정 디스플레이를 분해하고, 액정 셀에 배선을 접속할 필요가 있다. 따라서, 조립이 거의 완료된 액정 디스플레이에 대해, 예를 들어 검사 공정에 있어서 잔류 DC 를 조사하려고 해도, 액정 셀에 바이어스 전압을 인가할 수 없기 때문에, 플리커 소거법은 사용할 수 없다. 동일하게, 조립이 거의 완료된 액정 디스플레이에 대해서는, 상기 비특허문헌 3 과 같이, 액정 셀에 상이한 DC 전압을 인가하여 플리커값의 차이를 조사할 수도 없다. 그래서, 공장에서의 조립이 거의 완료된 액정 디스플레이 등의 표시 장치에 대해서도, 잔류 DC 를 측정 가능하게 하는 것이 요망되고 있다.

Yuji Nakazono, etc. "Evaluation of residual DC of LC cell", Proceedings of 5th Asian Symposium on Information Display, ASID '99, 1999, p.51-54 이노우에 마사루 외 「유전흡수법에 의한 잔류 DC 전압 측정 (플리커 소거법과의 상관)」, 액정 토론회 강연 예고집, 일반 사단법인 일본 액정 학회, 1997, 23(0), p.216-217 H. J. Park, etc. "Analysis of IPS Mura, Image-Sticking and Flicker Caused by Internal DC Effects", (미), SID 03 DIGEST, 2003, p.204-207

본 발명은, 상기 서술한 사정을 감안하여 이루어진 발명으로, 분해하지 않고서는 배선을 접속할 수 없는 표시 장치여도, 잔류 DC 와 상관이 있는 값을 간편하게 측정하는 것이 가능한 잔류 DC 측정 장치, 잔류 DC 측정 방법, 잔류 DC 측정 프로그램을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 서술한 목적을 실현하기 위해서, 본 발명의 일측면을 반영한 잔류 DC 측정 장치는, 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광하여 수광 광량에 대응하는 수광 신호를 출력하고, 상기 표시 장치에 플리커 측정용 화상을 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 초기 플리커값으로서 기억부에 보존하고, 계속해서, 상기 표시 장치에 소정의 표시 화상을 소정의 표시 시간에 걸쳐 표시시키고, 상기 소정의 표시 시간이 경과하면 상기 플리커 측정용 화상을 다시 상기 표시 장치에 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 사후 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하고, 상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 기억부에 보존되고 있는 상기 사후 플리커값과 상기 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량을 산출하는 것이다.

발명의 1 또는 복수의 실시형태에 의해 주어지는 이점 및 특징은 이하에 주어지는 상세한 설명 및 첨부 도면으로부터 충분히 이해된다. 이들 상세한 설명 및 첨부 도면은, 예로서만 주어지는 것이고 본 발명의 한정의 정의로서 의도되는 것은 아니다.

도 1 은 표시 장치, 잔류 DC 측정 장치의 전기적 구성예를 개략적으로 나타내는 블록도이다.
도 2 는 잔류 DC 측정 장치의 광학계를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 3 은 잔류 DC 측정 장치에 의한 표시 장치의 잔류 DC 측정 상태를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 4 는 표시부에 있어서의 측정 위치의 구체적인 일례를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 5 는 도 4 에 나타내는 각 측정 위치의 플리커값의 구체예를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 6 은 도 5 에 있어서의 플리커값 등을 측정 위치별로 표 형식으로 나타내는 도면이다.
도 7 은 잔류 DC 측정 장치의 동작 순서예를 개략적으로 나타내는 플로우 차트이다.
도 8 은 액정 디스플레이에 표시하는 피로 패턴의 일례를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 9 는 도 8 의 피로 패턴의 표시 후에 측정된 플리커값의 공간 분포의 일례를 개략적으로 나타내는 도면이다.

(본 발명의 기초가 된 지견)

도 8 은, 액정 디스플레이에 표시하는 피로 패턴의 일례를 개략적으로 나타내는 도면이다. 도 9 는, 도 8 의 피로 패턴의 표시 후에 측정된 플리커값의 공간 분포의 일례를 개략적으로 나타내는 도면이다. 도 8, 도 9 를 사용하여, 본 발명의 기초가 된 지견이 설명된다.

도 8 에서는, 배경인 흑색 영역 내에, 별 형상의 백색 영역 (50) 과 화살표 형상의 백색 영역 (55) 을 포함하는 피로 패턴이, 액정 디스플레이에 표시되고 있다. 액정 디스플레이에, 도 8 에 나타내는 바와 같은 피로 패턴을 장시간에 걸쳐 표시시켜 두고, 그 후, 계속해서, 플리커 측정용의 체크 무늬를 표시시켜 플리커를 측정하면, 잔류 DC 에서 기인하여, 도 9 에 나타내는 바와 같이, 피로 패턴을 장시간 표시한 백색 영역 (50, 55) 의 플리커값이, 다른 영역의 플리커값보다 커지는 것이 알려져 있다.

플리커값은, 액정 디스플레이 등의 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광함으로써 측정할 수 있다. 이 때문에, 완성품의 표시 장치에 대해, 플리커값을 측정하는 것은 가능하다. 그래서, 본 발명자는, 플리커값에 주목해, 플리커값에 기초하여 잔류 DC 를 나타내는 지표값이 얻어지는 것은 아닐까 생각하여, 본 발명을 상도했다.

(실시형태)

이하, 본 발명의 실시형태가, 도면을 참조하면서 설명된다. 또한, 각 도면에 있어서, 동일한 구성 요소에는 동일한 부호가 이용되고, 상세한 설명은, 적절히 생략된다.

도 1 은, 측정 대상인 표시 장치와, 본 실시형태의 잔류 DC 측정 장치의 전기적 구성예를 개략적으로 나타내는 블록도이다. 도 2 는, 본 실시형태의 잔류 DC 측정 장치의 광학계를 개략적으로 나타내는 도면이다. 도 3 은, 본 실시형태의 잔류 DC 측정 장치에 의한, 측정 대상인 표시 장치의 잔류 DC 측정 상태를 개략적으로 나타내는 도면이다.

도 3 에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태의 잔류 DC 측정 장치 (100) 와 측정 대상인 표시 장치 (5) 는, 전기적으로 접속되어 있다. 잔류 DC 측정 장치 (100) 는, 표시 장치 (5) 의 표시부 (10) 에 있어서의 소정의 이차원 영역 (예를 들어, 표시부 (10) 의 전체) 에 설정된 복수의 소정의 측정 위치에 있어서의 플리커를 측정하여, 잔류 DC 를 나타내는 지표값을 구한다.

도 1, 도 2 에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태의 잔류 DC 측정 장치 (100) 는, 이차원 센서 (107) 와, 광학 필터 (110) 와, 광학계 (115) 와, 렌즈 구동부 (117) 와, 거리 센서 (120) 와, 표시부 (125) 와, 입력부 (130) 와, 제어 회로 (140) 를 구비한다. 제어 회로 (140) 는, 중앙연산 처리장치 (CPU) (150) 와, 메모리 (160) 와, 주변 회로 (도시 생략) 를 포함한다. 도 1 에 나타내는 바와 같이, 표시 장치 (5) 는, 표시부 (10) (이 실시형태에서는, 예를 들어 액정 디스플레이) 와, 구동부 (20) 를 포함한다. 구동부 (20) 는, 예를 들어 집적 회로 또는 트랜지스터 등으로 구성되고, 제어 회로 (140) 로부터의 제어 신호에 기초하여, 소정의 표시 화상을 표시부 (10) 에 표시한다.

잔류 DC 측정 장치 (100) 의 메모리 (160) (기억부의 일례에 상당) 는, 예를 들어 리드 온리 메모리 (ROM), 랜덤 엑세스 메모리 (RAM), 전기적으로 소거 재기록 가능한 ROM (EEPROM) 등을 포함한다. 메모리 (160) 는, 예를 들어 하드 디스크 드라이브 (HDD) 를 포함해도 된다. 메모리 (160) 의 예를 들어 ROM 은, CPU (150) 를 동작시키는 본 실시형태의 제어 프로그램 (잔류 DC 측정 프로그램의 일례에 상당) 을 기억한다. CPU (150) 는, 메모리 (160) 에 기억된 본 실시형태의 제어 프로그램에 따라 동작함으로써, 측정 처리부 (151), 연산 처리부 (152) 로서 기능한다. 측정 처리부 (151), 연산 처리부 (152) 의 기능은, 후술된다.

이차원 센서 (107) (수광부의 일례에 상당) 는, 행 방향 X 및 열 방향 Y (도 2) 로 이차원적으로 배열된 복수의 광전 변환 소자 (1071 ~ 107N) (예를 들어 포토 다이오드) 를 포함하고, 제어 회로 (140) 에 전기적으로 접속되어 있다. 광학계 (115) 는, 1 또는 복수의 렌즈에 의해 구성되고, 이차원 센서 (107) 의 수광면에 표시 장치 (5) (표시부 (10)) 의 상을 결상한다. 광학 필터 (110) 는, 본 실시형태에서는, 이차원 센서 (107) 와 광학계 (115) 사이에 배치된다. 렌즈 구동부 (117) 는, 광학계 (115) 의 광축 방향으로 광학계 (115) 의 측정 범위 조정용 렌즈를 이동시킨다.

이차원 센서 (107) 의 광전 변환 소자 (1071 ~ 107N) 는, 각각, 광학계 (115) 및 광학 필터 (110) 를 투과한, 표시 장치 (5) 의 표시부 (10) 에 있어서의 측정 위치로부터의 광을 수광하고, 수광 광량에 따른 수광 신호를 제어 회로 (140) 에 출력한다. 이차원 센서 (107) 는, 예를 들어 상보형 금속 산화물 반도체 (CMOS) 이미지 센서이다.

광학 필터 (110) 는,

(광전 변환 소자 (1071 ~ 107N) 의 분광 감도 특성) × (광학 필터 (110) 의 분광 투과 특성)

= (이차원 센서 (107) 의 분광 응답도)

= 표준 비시감도 V(λ) (식 1)

를 만족하는 분광 투과 특성을 갖는다. 광학 필터 (110) 는, 흡수형 또는 증착형의 필터이며, 공지된 수법에 의해 (식 1) 을 만족하는 분광 투과 특성을 갖도록 형성된다. 또한, 도 2 에서는, 광학 필터 (110) 는, 이차원 센서 (107) 전에 배치되어 있지만, 광학계 (115) 와 표시 장치 (5) 사이에 배치되어도 된다.

거리 센서 (120) 는, 제어 회로 (140) 에 전기적으로 접속되어 있고, 측정 처리부 (151) 에 의해 제어되어, 표시 장치 (5) 와 잔류 DC 측정 장치 (100) 의 거리인 워크 디스턴스 (WD) 를 검출한다. 거리 센서 (120) 는, 검출한 WD 를 제어 회로 (140) 에 출력한다. 측정 처리부 (151) 는, 거리 센서 (120) 에 의해 검출된 WD 에 따라, 렌즈 구동부 (117) 를 동작시켜, 광학계 (115) 를 구성하는 1 또는 복수의 렌즈의 광축 방향에 있어서의 위치를 조정함으로써, 측정 범위 (화각) 를 조정한다. 거리 센서 (120) 는, 예를 들어 레이저 거리 센서로 구성된다. 거리 센서 (120) 는, 레이저 거리 센서에 한정되지 않고, 초음파 센서 또는 적외선 센서 등의 WD 를 검출 가능한 다른 센서로 구성되어도 된다.

WD 는, 본 실시형태에서는, 도 2 에 나타내는 바와 같이, 표시 장치 (5) 의 표시부 (10) 의 표면과, 이차원 센서 (107) 의 수광면 사이의 수평 방향을 따른 거리로 설정되어 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 대체적으로, WD 는, 표시 장치 (5) 의 표시부 (10) 의 표면과, 잔류 DC 측정 장치 (100) 의 케이싱의 표면 사이의 수평 방향을 따른 거리로 설정되어도 된다.

또한, 측정 처리부 (151) 는, 예를 들어 렌즈 구동부 (117) 가 없고 화각 고정의 광학계 (115) 가 이용되고 있는 경우에는, 거리 센서 (120) 에 의해 검출된 WD 에 따라, 잔류 DC 측정 장치 (100) 의 케이싱을 표시 장치 (5) 에 가깝게 하거나 멀리하거나 하도록 사용자에게 촉구하는 메시지를 표시부 (125) 에 표시해도 된다.

표시부 (125) 는, 예를 들어 액정 디스플레이 패널을 포함한다. 표시부 (125) 는, CPU (150) 에 의해 제어되어, 예를 들어 잔류 DC 의 측정 결과를 표시한다. 또한, 표시부 (125) 는, 액정 디스플레이 패널에 한정되지 않고, 유기 EL (electroluminescence) 패널 등의 다른 표시 패널을 포함해도 된다.

입력부 (130) 는, 사용자에 의해 조작되는 조작 버튼을 포함하고, 사용자의 조작 내용을 나타내는 조작 신호를 제어 회로 (140) 에 출력한다. 입력부 (130) 는, 예를 들어, 측정 개시를 지시하기 위한 측정 개시 버튼, 소정의 표시 화상의 표시 시간을 설정하기 위한 표시 시간 설정 버튼 등을 포함한다. 또한, 표시부 (125) 가 터치 패널식 디스플레이인 경우에는, 조작 버튼 대신에, 터치 패널식 디스플레이가 입력부 (130) 를 겸용해도 된다.

도 4 는, 표시부 (10) 에 있어서의 측정 위치의 구체적인 일례를 개략적으로 나타내는 도면이다. 도 5 는, 도 4 에 나타내는 각 측정 위치에 있어서의 플리커값의 구체예를 개략적으로 나타내는 도면이다. 도 6 은, 도 5 에 있어서의 플리커값 등을 측정 위치별로 표 형식으로 나타내는 도면이다. 도 7 은, 잔류 DC 측정 장치의 동작 순서예를 개략적으로 나타내는 플로우 차트이다. 도 4 ~ 도 6 을 참조하면서, 도 7 에 따라, 측정 처리부 (151) 및 연산 처리부 (152) 의 기능이 설명된다.

예를 들어, 입력부 (130) 의 측정 개시 버튼을 사용하여 측정 개시가 사용자에 의해 지시되면, 도 7 의 동작이 개시된다. 스텝 S1000 에 있어서, 예를 들어, 입력부 (130) 의 표시 시간 설정 버튼을 사용하여 표시 시간 T1 (본 실시형태에서는 예를 들어, 도 5 에 나타내는 바와 같이 T1 = 2800 [초]) 이 사용자에 의해 설정되면, 측정 처리부 (151) 는, 이 설정을 접수하고, 설정된 표시 시간 T1 을 메모리 (160) 의 예를 들어 RAM 에 보존한다.

스텝 S1005 (초기 플리커값 측정 스텝의 일례에 상당) 에 있어서, 측정 처리부 (151) 는, 표시 장치 (5) 의 구동부 (20) 를 제어하여, 예를 들어 체크 무늬의 플리커 측정용 패턴 (플리커 측정용 화상의 일례에 상당) 을 표시부 (10) 에 표시시키고, 이차원 센서 (107) 의 광전 변환 소자 (1071 ~ 107N) 로부터 출력되는 수광 신호에 기초하여, 소정의 순서로 플리커값을 측정하고, 메모리 (160) 의 예를 들어 RAM 에, 각 측정 위치에 대응시켜, 초기 플리커값으로서 보존한다. 측정 처리부 (151) 는, 예를 들어, 콘트라스트 방식, 전자 정보 기술 산업 협회 (JEITA) 방식, 국제 전기 표준회의 (IEC) 에서 규정된 측정 방법, 또는, International Committee for Display Metrology 에 의해 규정된 ICDM 규격에 따르는 플리커값을 측정한다.

본 실시형태에서는, 도 4 에 나타내는 바와 같이, 5 지점의 측정 위치 F(x1, y1), F(x3, y1), F(x2, y2), F(x1, y3), F(x3, y3) 에 있어서, 플리커값이 측정되고 있다. 도 5 에 나타내는 바와 같이, 측정 개시 시점부터 1000 [초] 경과 시점까지, 플리커 측정용 패턴이 표시부 (10) 에 표시되어, 플리커값이 측정되고 있다. 측정 처리부 (151) 에 의해 측정된, 각 측정 위치에 있어서의 초기 플리커값 FVi(xi, yj) 는, 소수점 이하 제 1 자리를 사사오입하면, 도 6 에 나타내는 바와 같이, 각각, -47, -46, -48, -48, -47 [dB] 이다. 초기 플리커값 FVi(xi, yj) 는, 각각, 각 측정 위치에 대응시켜, 메모리 (160) 에 보존된다.

도 7 의 스텝 S1010 (표시 제어 스텝의 일례에 상당) 에 있어서, 측정 처리부 (151) 는, 표시 장치 (5) 의 구동부 (20) 를 제어하여, 소정의 표시 화상을 표시 시간 T1 에 걸쳐 표시부 (10) 에 표시시킨다. 소정의 표시 화상은, 예를 들어 표시부 (10) 의 전체에 표시되는 백색 화상이어도 된다. 대체적으로, 소정의 표시 화상은, 예를 들어 도 8 에 나타내는 바와 같은, 배경인 흑색 영역 내에 백색 영역이 포함되는 피로 패턴이어도 된다. 단, 도 8 에 나타내는 바와 같은 피로 패턴의 경우에는, 5 지점의 측정 위치 F(x1, y1), F(x3, y1), F(x2, y2), F(x1, y3), F(x3, y3) 이, 백색 영역 내에 위치하는 피로 패턴인 것이 바람직하다. 표시 시간 T1 은, 본 실시형태에서는, 도 5 에 나타내는 바와 같이, T1 = 2800 [초] 이다.

도 7 의 스텝 S1015 (사후 플리커값 측정 스텝의 일례에 상당) 에 있어서, 측정 처리부 (151) 는, 표시 장치 (5) 의 구동부 (20) 를 제어하여, 스텝 S1005 와 동일한 플리커 측정용 패턴을 표시부 (10) 에 표시시키고, 이차원 센서 (107) 의 광전 변환 소자 (1071 ~ 107N) 로부터 출력되는 수광 신호에 기초하여, 스텝 S1005 와 동일한 순서로 플리커값을 측정하고, 메모리 (160) 의 예를 들어 RAM 에, 각 측정 위치에 대응시켜, 사후 플리커값으로서 보존한다.

측정 처리부 (151) 에 의해 측정된, 각 측정 위치에 있어서의 사후 플리커값 FVa(xi, yj) 는, 소수점 이하 제 1 자리를 사사오입하면, 도 6 에 나타내는 바와 같이, 각각, -31, -40, -43, -25, -15 [dB] 이다. 사후 플리커값 FVa(xi, yj) 는, 각각, 각 측정 위치에 대응시켜, 메모리 (160) 에 보존된다. 또한, 도 5 에는, 그 후에 측정된 플리커값도 나타나 있다. 그러나, 본 실시형태에서는, 표시 시간 T1 의 경과 후에 최초로 측정된 플리커값이, 사후 플리커값으로서, 메모리 (160) 에 보존된다.

도 7 의 스텝 S1020 (연산 처리 스텝의 일례에 상당) 에 있어서, 연산 처리부 (152) 는, 사후 플리커값으로부터 초기 플리커값을 감산한 차를 플리커 변화량으로서 산출한다. 즉, 연산 처리부 (152) 는, 플리커 변화량 FD(xi, yj) 를,

FD(xi, yj)

= FVa(xi, yj) - FVi(xi, yj)

에 의해 산출한다. 연산 처리부 (152) 는, 산출한 플리커 변화량 FD(xi, yj) 를, 잔류 DC 플리커량으로서, 메모리 (160) 의 예를 들어 RAM 에 보존한다.

본 실시형태에서는, 연산 처리부 (152) 에 의해 산출된, 각 측정 위치에 있어서의 플리커 변화량 FD(xi, yj) 인 잔류 DC 플리커량은, 소수점 이하 제 1 자리를 사사오입하면, 도 6 에 나타내는 바와 같이, 각각 16, 6, 5, 22, 32 [dB] 이다. 잔류 DC 플리커량은, 각각 각 측정 위치에 대응시켜, 메모리 (160) 에 보존된다.

초기 플리커값 FVi(xi, yj) 는, 소정의 표시 화상이 표시되기 전에 측정된 플리커값이므로, 잔류 DC 의 영향을 받고 있지 않다. 한편, 사후 플리커값 FVa(xi, yj) 는, 소정의 표시 화상이 표시 시간 T1 에 걸쳐 표시된 후에 측정된 플리커값이므로, 잔류 DC 의 영향을 받고 있다. 따라서, 사후 플리커값 FVa(xi, yj) 로부터 초기 플리커값 FVi(xi, yj) 를 감산한 플리커 변화량 FD(xi, yj) 는, 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 사용할 수 있다고 생각된다. 그래서, 본 실시형태에서는, 플리커 변화량 FD(xi, yj) 는, 잔류 DC 플리커량으로서, 메모리 (160) 에 보존되고 있다.

도 7 의 스텝 S1025 에 있어서, 연산 처리부 (152) 는, 모든 측정 위치 (xi, yj) 에 있어서의 플리커 변화량 FD(xi, yj) 의 평균값, 최대값, 최소값, 편차값을 구하고, 각각, 메모리 (160) 의 예를 들어 RAM 에 보존한다. 스텝 S1030 에 있어서, 연산 처리부 (152) 는, 예를 들어 도 6 에 나타내는 측정 결과 및 연산 결과를 표시부 (125) 에 표시하고, 도 7 의 동작을 종료한다.

도 5, 도 6 의 예에서는, 평균값 FDave 는, 소수점 이하 제 1 자리를 사사오입하면,

FDave

= (16 ＋ 6 ＋ 5 ＋ 22 ＋ 32)/5

= 16

이다. 플리커 변화량 FD(xi, yj) 의 평균값 FDave 는, 표시 장치 (5) 의 표시부 (10) 의 전체에 있어서의 잔류 DC 를 나타내는 값이라고 생각된다.

도 5, 도 6 의 예에서는, 최대값 FDmax 는, FDmax = 32 이다. 도 5, 도 6 의 예에서는, 최소값 FDmin 은, FDmin = 5 이다. 도 5, 도 6 의 예에서는, 편차값 FDdif 는,

FDdif

= FDmax - FDmin

= 27 이다.

도 6 에 나타내는 결과에서는, 측정 위치 F(x3, y3) 의 플리커 변화량이 32 [dB] 로 크게 변화하고 있고, 5 점의 측정 위치 중에서 잔류 DC 가 가장 크게 발생하고 있는 것을 알 수 있다. 한편, 측정 위치 F(x2, y2) 에서는, 플리커 변화량이 5 [dB] 로 작기 때문에, 잔류 DC 의 발생이 적었던 것을 알 수 있다. 각 측정 위치의 잔류 DC 플리커량의 평균값이 16 [dB] 이며, 편차값이 27 [dB] 이므로, 측정 위치에 따라 잔류 DC 의 발생량이 크게 상이한 것도 알 수 있다.

이상 설명된 바와 같이, 본 실시형태에서는, 표시부 (10) 에 소정의 표시 화상이 표시 시간 T1 에 걸쳐 표시된 후의 사후 플리커값으로부터, 표시 전의 초기 플리커값이 감산된 플리커 변화량이 구해지고 있다. 사후 플리커값은, 잔류 DC 의 영향을 받고 있고, 초기 플리커값은, 잔류 DC 의 영향을 받고 있지 않기 때문에, 플리커 변화량은, 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서 사용할 수 있다. 따라서, 본 실시형태의 잔류 DC 측정 장치 (100) 에 의하면, 분해하지 않고서는 배선을 접속할 수 없는 표시 장치 (5) 여도, 잔류 DC 를 측정하는 것이 가능하게 되어 있다. 즉, 본 실시형태의 잔류 DC 측정 장치 (100) 를 사용하면, 예를 들어 표시 장치 (5) 가 제조되는 공장의 검사 공정에 있어서, 조립이 거의 완료된 상태에서, 표시 장치 (5) 의 잔류 DC 를 측정할 수 있다.

본 실시형태에서는, 이차원적으로 배열된 복수의 광전 변환 소자 (1071 ~ 107N) 를 포함하는 이차원 센서 (107) 를 사용하여, 복수 (본 실시형태에서는 5 지점) 의 측정 위치 F(xi, yi) 에 있어서의 잔류 DC 플리커량이 구해지고 있다. 이 때문에, 본 실시형태에 의하면, 표시 장치 (5) 에 있어서의 잔류 DC 의 공간 분포를 파악할 수 있다.

본 실시형태에서는, 도 6 에 나타나는 측정 결과, 연산 결과가 표시부 (125) 에 표시된다. 이 때문에, 플리커 변화량 (잔류 DC 플리커량) 의 최대값이, 측정 위치 F(x3, y3) 인 것이, 표시부 (125) 에 표시된다. 이로써, 사용자는, 플리커값을 저감하기 위해서 개선해야 하는 위치를 파악할 수 있다.

본 실시형태에서는, 플리커 변화량 (잔류 DC 플리커량) 의 최대값에 더하여, 플리커 변화량 (잔류 DC 플리커량) 의 최소값이, 측정 위치 F(x2, y2) 인 것이, 표시부 (125) 에 표시된다. 이로써, 사용자는, 플리커값의 편차를 저감하기 위해서 개선해야 하는 위치를 파악할 수 있다.

본 실시형태에서는, 입력부 (130) 의 표시 시간 설정 버튼을 사용하여 표시 시간 T1 이 사용자에 의해 설정되면, 측정 처리부 (151) 는, 이 설정을 접수하고, 설정된 표시 시간 T1 을 메모리 (160) 의 예를 들어 RAM 에 보존한다. 따라서, 본 실시형태에 의하면, 사용자는, 표시 장치 (5) 에 사용되는 액정 재료에 따라, 원하는 표시 시간 T1 을 설정할 수 있다. 예를 들어, 잔류 DC 가 용이하게 발생하는 액정 재료이면, 표시 시간 T1 이 짧은 값으로 설정되면, 잔류 DC 의 측정 시간을 단축할 수 있다. 한편, 잔류 DC 가 용이하게 발생하지 않는 액정 재료이면, 표시 시간 T1 이 긴 값으로 설정되면, 보다 확실하게 잔류 DC 를 측정할 수 있다.

(그 외)

(1) 상기 실시형태에서는, 플리커 변화량 FD(xi, yj) 의 최대값 FDmax 및 최소값 FDmin 의 차분이, 편차값 FDdif 로서 산출되고 있다. 대체적으로, 플리커 변화량 FD(xi, yj) 의 분산 또는 표준 편차가 편차값으로서 산출되어도 된다. 단, 상기 실시형태와 같이 최대값 및 최소값의 차분이, 편차값을 단시간에 용이하게 산출할 수 있다.

(2) 상기 실시형태에서는, 메모리 (160) 의 예를 들어 ROM 이, CPU (150) 를 동작시키는 상기 실시형태의 제어 프로그램을 기억하고 있지만, 제어 프로그램을 기억하는 매체는, 메모리 (160) 로 한정되지 않는다.

예를 들어, 콤팩트 디스크 (CD)-ROM, DVD, 유니버설 시리얼 버스 (USB) 메모리 등의 착탈 가능한 기록 매체에, 상기 실시형태의 제어 프로그램을 기억시켜 두고, 잔류 DC 측정 장치 (100) 는, 상기 착탈 가능한 기록 매체의 기억 내용을 판독 가능한 구성을 가져도 된다.

(3) 상기 실시형태에서는 광학 필터 (110) 를 구비하고 있지만, 광학 필터를 구비하지 않아도 된다. 예를 들어, 표시 장치 (5) 의 표시부 (10) 에 표시되는 색에 따라서는, 이차원 센서 (107) 의 분광 응답도를 표준 비시감도 V(λ) 에 일치시킬 필요가 없는 경우도 있고, 그 경우에는 광학 필터를 구비하지 않아도 된다.

(4) 상기 실시형태에서는, 잔류 DC 측정 장치 (100) 가 제어 회로 (140) 를 구비하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 외부의 퍼스널 컴퓨터와 잔류 DC 측정 장치 (100) 를 무선 또는 유선으로 통신 가능하게 구성하고, 잔류 DC 측정 장치 (100) 대신에, 퍼스널 컴퓨터가, 표시부 (125), 입력부 (130) 및 제어 회로 (140) 를 구비해도 된다. 이와 같은 구성으로도, 상기 실시형태와 동일한 효과를 얻을 수 있다. 잔류 DC 측정 장치 (100) 의 구성을 간소화할 수 있다.

(5) 상기 실시형태에서는, 잔류 DC 측정 장치 (100) 는, 표시 장치 (5) 의 표시부 (10) 에 있어서의 소정의 이차원 영역에 설정된 복수의 소정의 측정 위치에 있어서의 플리커를 측정하는 장치이지만, 이것에 한정되지 않는다. 잔류 DC 측정 장치는, 표시 장치 (5) 의 표시부 (10) 에 있어서의 단일의 측정 위치의 플리커를 측정하는 장치여도 된다.

(6) 상기 실시형태에 있어서, 메모리 (160) 에는, 추가로, 잔류 DC 와 플리커 변화량의 관계를 나타내는 관계식이 미리 보존되어 있어도 된다. 연산 처리부 (152) 는, 플리커 변화량과 관계식으로부터 잔류 DC 를 구해도 된다. 이 실시형태에 의하면, 표시 장치 (5) 를 분해하는 일 없이, 완성품의 표시 장치 (5) 에 있어서의 잔류 DC 를 구할 수 있다.

(7) 상기 실시형태에서는, 연산 처리부 (152) 는, 복수의 측정 위치에 있어서의 플리커 변화량 FD(xi, yi) 의 평균값, 최대값, 최소값을 구하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 플리커 변화량 FD(xi, yi) 의 평균값, 최대값, 최소값 중 어느 하나를 구해도 된다. 혹은, 플리커 변화량 FD(xi, yi) 의 평균값, 최대값, 최소값 대신에, 또는 더하여, 플리커 변화량 FD(xi, yi) 의 최빈도값을 구해도 된다.

(8) 상기 실시형태에서는, 연산 처리부 (152) 는, 사후 플리커값으로부터 초기 플리커값을 감산한 차를 플리커 변화량으로서 산출하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 연산 처리부 (152) 는, 사후 플리커값을 초기 플리커값으로 제산한 몫을, 플리커 변화량으로서 산출해도 된다.

이상과 같이, 각 실시형태에 의하면, 분해하지 않고서는 배선을 접속할 수 없는 표시 장치여도, 잔류 DC 와 상관이 있는 값을 간편하게 측정하는 것이 가능하게 되어 있다.

본 명세서는, 상기와 같이 여러 가지 양태의 기술을 개시하고 있지만, 그 중 주된 기술을 이하에 정리한다.

제 1 양태에 관련된 잔류 DC 측정 장치는,

표시 장치의 잔류 DC 를 측정하는 잔류 DC 측정 장치로서,

광전 변환 소자를 포함하고, 상기 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광하여 수광 광량에 대응하는 수광 신호를 출력하는 수광부와,

데이터를 보존하기 위한 기억부와,

상기 표시 장치에 플리커 측정용 화상을 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 수광부로부터 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 초기 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하고, 계속해서, 상기 표시 장치에 소정의 표시 화상을 소정의 표시 시간에 걸쳐 표시시키고, 상기 소정의 표시 시간이 경과하면 상기 플리커 측정용 화상을 다시 상기 표시 장치에 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 수광부로부터 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 사후 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하는 측정 처리부와,

상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 기억부에 보존되고 있는 상기 사후 플리커값과 상기 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량을 산출하는 연산 처리부

를 구비하는 것이다.

제 2 양태에 관련된 잔류 DC 측정 방법은,

표시 장치의 잔류 DC 를 측정하는 잔류 DC 측정 방법으로서,

상기 표시 장치에 플리커 측정용 화상을 표시시키고, 광전 변환 소자를 포함하는 수광부가 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광하여 출력한, 수광 광량에 대응하는 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 초기 플리커값으로서 기억부에 보존하는 초기 플리커값 측정 스텝과,

상기 플리커 측정용 화상 대신에 소정의 표시 화상을 소정의 표시 시간에 걸쳐 상기 표시 장치에 표시시키는 표시 제어 스텝과,

상기 소정의 표시 시간이 경과하면 상기 소정의 표시 화상 대신에 상기 플리커 측정용 화상을 다시 상기 표시 장치에 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 수광부로부터 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 사후 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하는 사후 플리커값 측정 스텝과,

상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 기억부에 보존되고 있는 상기 사후 플리커값과 상기 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량을 산출하는 연산 처리 스텝

을 구비하는 것이다.

제 3 양태에 관련된 잔류 DC 측정 프로그램은,

표시 장치의 잔류 DC 를 측정하는 잔류 DC 측정 장치의 컴퓨터에,

상기 표시 장치에 플리커 측정용 화상을 표시시키고, 광전 변환 소자를 포함하는 수광부가 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광하여 출력한, 수광 광량에 대응하는 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 초기 플리커값으로서 기억부에 보존하는 초기 플리커값 측정 스텝과,

상기 플리커 측정용 화상 대신에 소정의 표시 화상을 소정의 표시 시간에 걸쳐 상기 표시 장치에 표시시키는 표시 제어 스텝과,

상기 소정의 표시 시간이 경과하면 상기 소정의 표시 화상 대신에 상기 플리커 측정용 화상을 다시 상기 표시 장치에 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 수광부로부터 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 사후 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하는 사후 플리커값 측정 스텝과,

상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 기억부에 보존되고 있는 상기 사후 플리커값과 상기 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량을 산출하는 연산 처리 스텝

을 실행시키는 것이다.

제 1 양태 또는 제 2 양태 또는 제 3 양태에서는, 플리커 측정용 화상의 표시 중에 수광부로부터 출력된 수광 신호에 기초하여 표시 장치의 플리커값이 측정되고, 초기 플리커값으로서 기억부에 보존된다. 소정의 표시 화상이 소정의 표시 시간에 걸쳐 표시된 후, 플리커 측정용 화상의 표시 중에 수광부로부터 출력된 수광 신호에 기초하여 표시 장치의 플리커값이 측정되고, 사후 플리커값으로서 기억부에 보존된다. 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 사후 플리커값과 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량이 산출된다.

사후 플리커값은, 소정의 표시 화상이 소정의 표시 시간에 걸쳐 표시 장치에 표시된 후에 측정되고 있으므로, 잔류 DC 의 영향을 받고 있다. 한편, 초기 플리커값은, 잔류 DC 의 영향을 받고 있지 않다. 따라서, 플리커 변화량은, 잔류 DC 의 영향 정도를 나타내고 있기 때문에, 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서 사용할 수 있다. 그 결과, 제 1 양태 또는 제 2 양태 또는 제 3 양태에 의하면, 분해하지 않고서는 배선을 접속할 수 없는 표시 장치여도, 잔류 DC 와 상관이 있는 값을 간편하게 측정하는 것이 가능하게 되어 있다.

상기 제 1 양태에 있어서, 예를 들어,

상기 수광부는, 상기 광전 변환 소자를 복수 포함하고, 상기 복수의 광전 변환 소자에 대응하여 복수의 상기 수광 신호를 각각 출력하고,

상기 복수의 광전 변환 소자는, 이차원적으로 나란히 배치되고, 각각, 상기 표시 장치의 서로 상이한 측정 위치로부터 출사되는 광을 수광하고,

상기 측정 처리부는, 상기 복수의 수광 신호에 기초하여, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커값을 각각 구하고, 구한 상기 플리커값을 각각 상기 측정 위치에 대응시켜 상기 기억부에 보존하고,

상기 연산 처리부는, 상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커 변화량을 각각 구해도 된다.

이 양태에서는, 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 복수의 측정 위치에 있어서의 플리커 변화량이 각각 구해진다. 따라서, 이 양태에 의하면, 표시 장치에 있어서의 잔류 DC 의 공간 분포를 파악할 수 있다.

상기 제 1 양태에 있어서, 예를 들어,

상기 연산 처리부는, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커 변화량의 평균값, 최대값, 최소값, 및 최빈도값 중 적어도 하나를 구해도 된다.

이 양태에 의하면, 복수의 측정 위치에 있어서의 플리커 변화량의 평균값, 최대값, 최소값, 및 최빈도값 중 적어도 하나가 구해지므로, 표시 장치의 전체에 있어서의 잔류 DC 를 평가하는 평가값을 얻을 수 있다.

상기 제 1 양태에 있어서, 예를 들어,

표시부를 추가로 구비하고,

상기 연산 처리부는, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커 변화량의 최대값 및 최소값을 구하고, 상기 최대값, 상기 최소값, 상기 최대값의 측정 위치, 및 상기 최소값의 측정 위치를, 상기 표시부에 표시해도 된다.

이 양태에서는, 복수의 측정 위치에 있어서의 플리커 변화량의 최대값, 최소값, 및 그들의 각 측정 위치가, 표시부에 표시된다. 따라서, 이 양태에 의하면, 표시 장치에 있어서의 잔류 DC 의 편차의 최대 및 최소의 위치를 파악할 수 있다.

상기 제 1 양태에 있어서, 예를 들어,

표시부를 추가로 구비하고,

상기 연산 처리부는, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커 변화량에 기초하여, 상기 플리커 변화량의 편차를 나타내는 편차값을 구해 상기 표시부에 표시해도 된다.

이 양태에서는, 복수의 측정 위치에 있어서의 플리커 변화량에 기초하여, 플리커 변화량의 편차를 나타내는 편차값이 구해져 표시부에 표시된다. 따라서, 이 양태에 의하면, 표시 장치에 있어서의 잔류 DC 의 편차 정도를 파악할 수 있다. 상기 편차값은, 복수의 측정 위치에 있어서의 플리커 변화량의 분산 또는 표준 편차여도 된다. 대체적으로, 상기 편차값은, 복수의 측정 위치에 있어서의 플리커 변화량의 최대값과 최소값의 차분이어도 된다.

상기 제 1 양태에 있어서, 예를 들어,

상기 기억부에는, 상기 잔류 DC 와 상기 플리커 변화량의 관계를 나타내는 관계식이 미리 보존되어 있고,

상기 연산 처리부는, 상기 플리커 변화량과 상기 관계식으로부터 상기 잔류 DC 를 구해도 된다.

이 양태에서는, 구해진 플리커 변화량과, 잔류 DC 와 플리커 변화량의 관계를 나타내는 관계식으로부터, 잔류 DC 가 구해진다. 따라서, 이 양태에 의하면, 분해하지 않고서는 배선을 접속할 수 없는 표시 장치여도, 잔류 DC 를 구할 수 있다.

상기 제 1 양태에 있어서, 예를 들어,

상기 연산 처리부는, 상기 사후 플리커값으로부터 상기 초기 플리커값을 감산한 차를, 또는 상기 사후 플리커값을 상기 초기 플리커값으로 제산한 몫을, 상기 플리커 변화량으로서 산출해도 된다. 이 양태에 의하면, 감산 또는 제산의 간단한 연산으로, 플리커 변화량을 산출할 수 있다.

본 발명의 실시형태가 상세하게 도시되고, 또한, 설명되었지만, 그것은 단순한 도례 및 실례이고 한정은 아니다. 본 발명의 범위는, 첨부된 클레임의 문언에 의해 해석되어야 한다.

2019년 3월 13일에 제출된 일본 특허 출원 번호 2019-045577의 전체의 개시는, 그 전체에 있어서 참조에 의해 여기에 받아들여진다.

산업상 이용가능성

본 개시의 잔류 DC 측정 장치, 잔류 DC 측정 방법 및 잔류 DC 측정 프로그램은, 표시 장치의 잔류 DC 를 측정하는 장치에 사용된다.

Claims (9)

1. 표시 장치의 잔류 DC 를 측정하는 잔류 DC 측정 장치로서,
   광전 변환 소자를 포함하고, 상기 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광하여 수광 광량에 대응하는 수광 신호를 출력하는 수광부와,
   데이터를 보존하기 위한 기억부와,
   상기 표시 장치에 플리커 측정용 화상을 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 수광부로부터 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 초기 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하고, 계속해서, 상기 표시 장치에 소정의 표시 화상을 소정의 표시 시간에 걸쳐 표시시키고, 상기 소정의 표시 시간이 경과하면 상기 플리커 측정용 화상을 다시 상기 표시 장치에 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 수광부로부터 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 사후 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하는 측정 처리부와,
   상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 기억부에 보존되고 있는 상기 사후 플리커값과 상기 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량을 산출하는 연산 처리부를 구비하고, 상기 연산 처리부는, 상기 사후 플리커값으로부터 상기 초기 플리커값을 감산한 차를, 또는 상기 사후 플리커값을 상기 초기 플리커값으로 제산한 몫을, 상기 플리커 변화량으로서 산출하는,
   잔류 DC 측정 장치.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 수광부는, 상기 광전 변환 소자를 복수 포함하고, 상기 복수의 광전 변환 소자에 대응하여 복수의 상기 수광 신호를 각각 출력하고,
   상기 복수의 광전 변환 소자는, 이차원적으로 나란히 배치되고, 각각, 상기 표시 장치의 서로 상이한 측정 위치로부터 출사되는 광을 수광하고,
   상기 측정 처리부는, 상기 복수의 수광 신호에 기초하여, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커값을 각각 구하고, 구한 상기 플리커값을 각각 상기 측정 위치에 대응시켜 상기 기억부에 보존하고,
   상기 연산 처리부는, 상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커 변화량을 각각 구하는,
   잔류 DC 측정 장치.
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 연산 처리부는, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커 변화량의 평균값, 최대값, 최소값, 및 최빈도값 중 적어도 하나를 구하는,
   잔류 DC 측정 장치.
4. 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,
   표시부를 추가로 구비하고,
   상기 연산 처리부는, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커 변화량의 최대값 및 최소값을 구하고, 상기 최대값, 상기 최소값, 상기 최대값의 측정 위치, 및 상기 최소값의 측정 위치를, 상기 표시부에 표시하는,
   잔류 DC 측정 장치.
5. 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,
   표시부를 추가로 구비하고,
   상기 연산 처리부는, 상기 복수의 측정 위치에 있어서의 상기 플리커 변화량에 기초하여, 상기 플리커 변화량의 편차를 나타내는 편차값을 구하여 상기 표시부에 표시하는,
   잔류 DC 측정 장치.
6. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 기억부에는, 상기 잔류 DC 와 상기 플리커 변화량의 관계를 나타내는 관계식이 미리 보존되어 있고,
   상기 연산 처리부는, 상기 플리커 변화량과 상기 관계식으로부터 상기 잔류 DC 를 구하는,
   잔류 DC 측정 장치.
7. 삭제
8. 표시 장치의 잔류 DC 를 측정하는 잔류 DC 측정 방법으로서,
   상기 표시 장치에 플리커 측정용 화상을 표시시키고, 광전 변환 소자를 포함하는 수광부가 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광하여 출력한, 수광 광량에 대응하는 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 초기 플리커값으로서 기억부에 보존하는 초기 플리커값 측정 스텝과,
   상기 플리커 측정용 화상 대신에 소정의 표시 화상을 소정의 표시 시간에 걸쳐 상기 표시 장치에 표시시키는 표시 제어 스텝과,
   상기 소정의 표시 시간이 경과하면 상기 소정의 표시 화상 대신에 상기 플리커 측정용 화상을 다시 상기 표시 장치에 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 수광부로부터 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 사후 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하는 사후 플리커값 측정 스텝과,
   상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 기억부에 보존되고 있는 상기 사후 플리커값과 상기 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량을 산출하는 연산 처리 스텝을 구비하고, 상기 연산 처리 스텝은, 상기 사후 플리커값으로부터 상기 초기 플리커값을 감산한 차를, 또는 상기 사후 플리커값을 상기 초기 플리커값으로 제산한 몫을, 상기 플리커 변화량으로서 산출하는,
   잔류 DC 측정 방법.
9. 표시 장치의 잔류 DC 를 측정하는 잔류 DC 측정 장치의 컴퓨터에,
   상기 표시 장치에 플리커 측정용 화상을 표시시키고, 광전 변환 소자를 포함하는 수광부가 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 표시 장치로부터 출사되는 광을 수광하여 출력한, 수광 광량에 대응하는 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 초기 플리커값으로서 기억부에 보존하는 초기 플리커값 측정 스텝과,
   상기 플리커 측정용 화상 대신에 소정의 표시 화상을 소정의 표시 시간에 걸쳐 상기 표시 장치에 표시시키는 표시 제어 스텝과,
   상기 소정의 표시 시간이 경과하면 상기 소정의 표시 화상 대신에 상기 플리커 측정용 화상을 다시 상기 표시 장치에 표시시키고, 상기 플리커 측정용 화상의 표시 중에 상기 수광부로부터 출력된 상기 수광 신호를 취득하고, 취득한 상기 수광 신호에 기초하여 상기 표시 장치의 플리커값을 측정하여 사후 플리커값으로서 상기 기억부에 보존하는 사후 플리커값 측정 스텝과,
   상기 잔류 DC 를 나타내는 지표값으로서, 상기 기억부에 보존되고 있는 상기 사후 플리커값과 상기 초기 플리커값의 연산에 의해 플리커 변화량을 산출하는 연산 처리 스텝을 실행시키고, 상기 연산 처리 스텝은, 상기 사후 플리커값으로부터 상기 초기 플리커값을 감산한 차를, 또는 상기 사후 플리커값을 상기 초기 플리커값으로 제산한 몫을, 상기 플리커 변화량으로서 산출하는,
   기록 매체에 저장된 잔류 DC 측정 프로그램.