JP7207416B2 - フリッカ測定装置、フリッカ測定方法、フリッカ測定プログラム - Google Patents

フリッカ測定装置、フリッカ測定方法、フリッカ測定プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP7207416B2
JP7207416B2 JP2020552551A JP2020552551A JP7207416B2 JP 7207416 B2 JP7207416 B2 JP 7207416B2 JP 2020552551 A JP2020552551 A JP 2020552551A JP 2020552551 A JP2020552551 A JP 2020552551A JP 7207416 B2 JP7207416 B2 JP 7207416B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
flicker
conditions
unit
measurement conditions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020552551A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2020079946A1 (ja
Inventor
克樹 今井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Publication of JPWO2020079946A1 publication Critical patent/JPWO2020079946A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7207416B2 publication Critical patent/JP7207416B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/20Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
    • G01J1/34Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using separate light paths used alternately or sequentially, e.g. flicker
    • G01J1/36Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using separate light paths used alternately or sequentially, e.g. flicker using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4247Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/444Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/745Detection of flicker frequency or suppression of flicker wherein the flicker is caused by illumination, e.g. due to fluorescent tube illumination or pulsed LED illumination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、例えば、液晶ディスプレイの画面のフリッカ値を測定する技術に関する。
フリッカ測定装置として、スポット型のフリッカ測定装置と二次元フリッカ測定装置とがある。スポット型のフリッカ測定装置は、プローブを備えており、プローブが測定領域(スポット領域)に近づけられた状態で、測定領域のフリッカ値を測定する(例えば、特許文献1)。二次元フリッカ測定装置は、二次元撮像素子を備えており、二次元領域のフリッカ値を測定する(例えば、特許文献2)。
ディスプレイの画面に発生するフリッカのムラを評価するために、ディスプレイの画面に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値が測定される。二次元フリッカ測定装置によれば、二次元領域のフリッカ値を測定することができるので、1台の二次元フリッカ測定装置で、複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を一度に測定することができる。
フリッカの測定条件が異なると、フリッカのムラが異なることがあるので、複数の測定条件の下で、フリッカのムラが評価されることが望ましい。しかしながら、この場合、管理すべきデータ(例えば、複数の測定条件のそれぞれの内容、ディスプレイ画面に設定された複数の測定領域のそれぞれについて、複数の測定条件のそれぞれの下で測定されたフリッカ値)が増えるので、データを効率的に管理する必要がある。
特開2002-350284号公報 特開2005-109535号公報
本発明の目的は、フリッカのムラの評価に必要なデータを効率的に管理することが可能なフリッカ測定装置、フリッカ測定方法およびフリッカ測定プログラムを提供することである。
本発明の他の目的は、フリッカのムラの評価に必要なデータを基にして、フリッカの評価を支援することができるフリッカ評価支援装置、フリッカ評価支援方法およびフリッカ評価支援プログラムを提供することである。
上述した本発明の目的を実現するために、本発明の一側面を反映したフリッカ測定装置は、第1の処理部と、第2の処理部と、第3の処理部と、を備える。前記第1の処理部は、フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する。前記第2の処理部は、前記第1の処理部によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する。前記第3の処理部は、前記第2の処理部によって生成された前記紐付けデータを、紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する。
発明の1又は複数の実施形態により与えられる利点及び特徴は以下に与えられる詳細な説明及び添付図面から十分に理解される。これら詳細な説明及び添付図面は、例としてのみ与えられるものであり本発明の限定の定義として意図されるものではない。
二次元フリッカ測定装置と複数のスマートフォンとの配置関係を説明する説明図である。 二次元フリッカ測定装置から見た複数のスマートフォンの平面模式図である。 実施形態に係る二次元フリッカ測定装置の構成を示すブロック図である。 測定条件リストの一例を説明する説明図である。 表示条件リストの一例を説明する説明図である。 算出条件リストの一例を説明する説明図である。 領域定義リストで定義された測定領域の一例を説明する説明図である。 9つのDUT画面のそれぞれに設定された5つの測定領域の位置と、撮影範囲Rの位置との関係の一例を示す二次元座標系を説明する説明図である。 9つのDUT画面のうちの1つのDUT画面に関する紐付けデータリストの一例を説明する説明図である。 実施形態に係る二次元フリッカ測定装置がフリッカ値を測定する動作を説明するフローチャートである。 測定条件(1)の下で実行されたDUT画面のフリッカ値の測定を説明するフローチャートである。 5つの測定領域のそれぞれについて、フリッカ値の算出を説明する説明図である。 変形例に係る二次元フリッカ測定装置の構成を示すブロック図である。 第1変形例に係る二次元フリッカ測定装置に備えられるフリッカ評価支援装置の動作を説明するフローチャートである。 第1変形例において、生成部によって生成されたグラフの一例を説明する説明図である。 第2変形例に係る二次元フリッカ測定装置に備えられるフリッカ評価支援装置の動作を説明するフローチャートである。 第2変形例において、生成部によって生成されたグラフの一例を説明する説明図である。
以下、図面を参照して、本発明の1又は複数の実施形態が説明される。しかし、発明の範囲は、開示された実施形態に限定されない。
各図において、同一符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、その構成について、既に説明している内容については、その説明を省略する。本明細書において、個別の構成を指す場合にはハイフンを付した参照符号(例えば、測定領域10-1)で示し、総称する場合にはハイフンを省略した参照符号(例えば、測定領域10)で示す。
図1は、二次元フリッカ測定装置2と複数のスマートフォンSPとの配置関係を説明する説明図である。図2は、二次元フリッカ測定装置2から見た複数のスマートフォンSPの平面模式図である。スマートフォンSPに備えられる液晶カラーディスプレイ(DUT=Device Under Test)が、測定対象物である。測定対象物は、画像を表示する機能を有しており、実施形態では、DUTの画面1(以下、DUT画面1)を例にして説明する。
スマートフォン、タブレット端末等のモバイル端末に搭載される液晶ディスプレイは、家庭用電源で駆動される液晶ディスプレイと比べて、フリッカのムラが大きい。モバイル端末に搭載される液晶ディスプレイは、バッテリー駆動なので、バッテリーを長持ちさせるための液晶駆動方式、液晶構造等が採用されている。これらがフリッカのムラを大きくする原因となるのである。なお、測定対象物は、モバイル用端末に搭載される液晶ディスプレイに限らず、家庭用電源で駆動される液晶ディスプレイでもよい。
図1および図2を参照して、9台のスマートフォンSPがテーブル91に行列状に並べられており、二次元フリッカ測定装置2に備えられる撮影部21(図3)の撮影範囲R内に、9台のスマートフォンSPが配置されている。スマートフォンSPは、小型なので、9台のスマートフォンSPが並べられて、フリッカが一度に測定される。スマートフォンSPの台数が9を例にして説明しているが、これに限定されず、台数は、9以外の複数でもよいし、1でもよい。
テーブル91の形状は矩形であり、テーブル91は、第1側部911~第4側部914を有する。第1側部911に上下方向に延びるリニアガイド92が配置されている。二次元フリッカ測定装置2は、リニアガイド92によって複数のスマートフォンSPの上方に配置されている。リニアガイド92は、ガイドレール921と、ガイドレール921に沿って移動可能であり、二次元フリッカ測定装置2が固定されるブロック(不図示)と、を備える。これにより、二次元フリッカ測定装置2は、ガイドレール921に沿ってリニア方向に移動することが可能となる。
二次元フリッカ測定装置2は、測定者の指示に基づいて、DUT画面1に複数の測定領域10を設定する。DUT画面1には、5つの測定領域10が二次元に設定されている。測定領域10-3がDUT画面1の中心に設定されており、測定領域10-1,10-2,10-4,10-5がDUT画面1の四隅に設定されている。この設定は一例である。9台のスマートフォンSPのそれぞれに備えられるDUT画面1に設定される複数の測定領域10の位置は、それぞれ同じである。DUT画面1に設定される測定領域10の数は、複数であればよく、5に限定されない。隣り合う測定領域10の間には、隙間が形成されているが、隙間が形成されていなくてもよい。測定領域10の形状は、矩形であるが、これに限定されず、円形でもよい。
図3は、実施形態に係る二次元フリッカ測定装置2の構成を示すブロック図である。二次元フリッカ測定装置2は、撮影部21と、制御処理部22と、通信部23と、操作部24と、を備える。撮影部21は、光学レンズ211と、二次元撮像素子212と、を備える。光学レンズ211は、DUT画面1の全体からの光Lを収束する。光学レンズ211で収束された光Lは、二次元撮像素子212で受光される。二次元撮像素子212は、二次元の撮影領域を有する画像センサである(例えば、CMOSセンサ、CCDセンサ)。二次元撮像素子212は、画像を表示したDUT画面1を撮影し、撮影した画像の輝度信号SGを出力する。輝度信号SGは、測光量を示す信号の具体例である。
輝度は、視感度曲線V(λ)の分光感度特性を持つ二次元撮像素子212が測定したDUT画面1の光強度である。輝度信号SGは、この光強度を示す信号である。輝度信号SGを例にして説明するが、画像情報信号でもよい。画像情報信号は、任意の分光感度特性を持つ二次元撮像素子212がDUT画面1を撮影することにより、二次元撮像素子212が生成する光強度信号(RAW画像データ)である。測光量は、輝度および画像情報信号を総称する物理量である。
制御処理部22は、二次元フリッカ測定装置2の動作に必要な各種の制御および処理を実行する。制御処理部22は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、および、HDD(Hard Disk Drive)等のハードウェアプロセッサ、並びに、制御処理部22の機能を実行するためのプログラムおよびデータ等によって実現される。
制御処理部22は、機能ブロックとして、制御部221と、測定条件記憶部222と、第1の処理部223と、第2の処理部224と、第3の処理部225と、紐付けデータ記憶部226と、信号生成部227と、を備える。
制御部221は、制御処理部22の各部(測定条件記憶部222、第1の処理部223、第2の処理部224、第3の処理部225、紐付けデータ記憶部226、信号生成部227)を、当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、通信部23および操作部24を制御するための装置である。
測定条件記憶部222は、測定条件リスト222a、表示条件リスト222bおよび算出条件リスト222cを予め記憶している。図4は、測定条件リスト222aの一例を説明する説明図である。測定条件リスト222aは、複数の測定条件により構成される。測定条件が複数あるので、各測定条件にID(identification)が付与されている。例えば、測定条件(1)には、測定条件ID6-1が付与され、測定条件(2)には、測定条件ID6-2が付与されている。
複数の測定条件のそれぞれは、測定条件ID6、表示条件ID7および算出条件ID8により構成される。例えば、測定条件(1)は、測定条件ID6-1、表示条件ID7-1および算出条件ID8-1により構成され、測定条件(2)は、測定条件ID6-2、表示条件ID7-2および算出条件ID8-2により構成される。
図5は、表示条件リスト222bの一例を説明する説明図である。表示条件リスト222bは、複数の表示条件により構成される。表示条件が複数あるので、各表示条件にIDが付与されている。例えば、表示条件(1)には、表示条件ID7-1が付与され、表示条件(2)には、表示条件ID7-2が付与されている。
表示条件は、フリッカ測定用の表示パターン(第1の画像)をDUT画面1(測定対象物)に表示させるのに用いられる条件である。DUT画面1は、TFT(Thin Film Transistor)液晶パネルとする。従って、DUT画面1は、共通電極(コモン電極)を備える。なお、DUT画面1は、TFT液晶パネルのような液晶画面に限らず、例えば、OLED画面でもよい。
表示条件は、表示条件ID7、駆動周波数、共通電圧および表示パターン定義リストにより構成される。表示条件ID7は、この表示条件に付与されたIDである。駆動周波数は、DUT画面1の駆動周波数である。共通電圧は、DUT画面1の共通電極に印加される電圧である。表示パターン定義リストは、DUT画面1に表示される表示パターンの定義である。DUT画面1の各画素のR値、G値、B値を、このリストで示される値にすることにより、このリストで定義される表示パターンをDUT画面1に表示させることができる。
図6は、算出条件リスト222cの一例を説明する説明図である。算出条件リスト222cは、複数の算出条件により構成される。算出条件が複数あるので、各算出条件にIDが付与されている。例えば、算出条件(1)には、算出条件ID8-1が付与され、算出条件(2)には、算出条件ID8-2が付与されている。
算出条件は、撮影部21(図3)が表示パターン(第1の画像)を表示しているDUT画面1を撮影して得られた画像(第2の画像)を基にして、フリッカ値を算出するのに用いられる条件である。算出条件は、算出条件ID8、撮影条件および領域定義リストにより構成される。算出条件ID8は、この算出条件に付与されたIDである。
撮影条件は、撮影部21がDUT画面1に表示されている表示パターンを撮影する間隔および枚数である。測定者は、フリッカ値の測定精度とフリッカ値の測定時間とを考慮して、これらの設定をする。例えば、撮影間隔が短く、かつ、撮影枚数が多いと、フリッカ値の測定精度は向上するが、フリッカ値の測定時間は長くなる。
領域定義リストは、DUT画面1(図2)の中心を原点とした座標において、5つの測定領域10のそれぞれの位置を定義したリストである。領域定義リストは、基準座標、高さおよび幅により構成される。基準座標により、測定領域10の位置が定まる。高さと幅とにより、測定領域10のサイズが定まる。領域10-1~10-5のそれぞれの高さh1~h5は、同じ値でもよいし、異なる値でもよい。領域10-1~10-5のそれぞれの幅w1~w5は、同じ値でもよいし、異なる値でもよい。
領域定義リストで定義される測定領域10について、測定領域10-1を例にして説明する。図7は、領域定義リストで定義された測定領域10-1の一例を説明する説明図である。基準座標(x1,y1)が測定領域10-1の左上角を規定する。座標(x1,y1-h1)が測定領域10-1の左下角を規定する。座標(x1+w1,y1)が測定領域10-1の右上角を規定する。座標(x1+w1,y1-h1)が測定領域10-1の右下角を規定する。
図3を参照して、制御部221は、測定条件記憶部222に記憶されている測定条件リスト222a(図4)に含まれる複数の測定条件の中からいずれかの測定条件を読み出す。制御部221は、読み出した測定条件に含まれる表示条件ID7が割り当てられている表示条件(図5)を測定条件記憶部222から読み出す。制御部221は、読み出した測定条件に含まれる算出条件ID8が割り当てられている算出条件(図6)を測定条件記憶部222から読み出す。
図2および図3を参照して、第1の処理部223は、制御部221によって読み出された測定条件の下で、撮影部21がDUT画面1を撮影することにより得られるDUT画面1の測光量を基にして、DUT画面1に設定された5つの測定領域10のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、複数の測定条件(図4)のそれぞれに対して実行する。撮影部21は、9つのDUT画面1を撮影するので、第1の処理部223は、9つのDUT画面1のそれぞれに対して、第1の処理を実行する。このように第1の処理部223は、フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる測定対象物の測光量を基にして、測定対象物に設定された複数の測定領域10のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部222に予め記憶されている複数の測定条件のそれぞれに対して実行する。
第1の処理について説明する。第1の処理部223は、撮影範囲Rを示す座標データを予め記憶しており、そして、撮影範囲Rに9台のスマートフォンSPが配置された状態で、9台のスマートフォンSPのそれぞれに搭載されたDUT画面1(言い換えれば、DUT画面1-1~1-9)の中心の座標データを予め記憶している。第1の処理部223は、これらの座標データおよび領域定義リスト(図6)を基にして、DUT画面1-1~1-9のそれぞれに設定された測定領域10-1~10-5の位置と、撮影範囲Rの位置との関係を示す二次元座標系を生成する。図8は、この二次元座標系の一例を説明する説明図である。
図2、図3および図8を参照して、第1の処理部223は、スマートフォンSP-1に搭載されたDUT画面1-1の中心C-1の座標を原点にして、DUT画面1-1に設定される5つの測定領域10(測定領域10-1~10-5)のそれぞれの位置を決定し、スマートフォンSP-2に搭載されたDUT画面1-2の中心C-2の座標を原点にして、DUT画面1-2に設定される5つの測定領域10のそれぞれの位置を決定する。第1の処理部223は、スマートフォンSP-3~SP-9に搭載されるDUT画面1-3~1-9に対しても同様の決定をする。これにより、撮影部21が撮影した画像(第2の画像)上において、9つのDUT画面1に設定された5つの測定領域10の位置が決定される。
図2および図3を参照して、第1の処理部223は、撮影部21がDUT画面1-1~1-9を撮影することにより得られるDUT画面1-1~1-9の測光量を基にして、DUT画面1-1~1-9のそれぞれに設定された測定領域10-1~10-5のぞれぞれのフリッカ値を算出する。フリッカ値の算出方式として、例えば、コントラスト方式とJEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)方式とがある。第1の処理部223は、コントラスト方式、JEITA方式のいずれでもフリッカ値を算出することができる。なお、これらの方式以外でも、実施形態は適用することができる。
第2の処理部224は、第1の処理部223によって算出された5つの測定領域10のそれぞれのフリッカ値で構成されるデータと、制御部221によって読み出された測定条件と、を紐付けた紐付けデータ25を生成する第2の処理について、複数の測定条件(図4)のそれぞれに対して実行する。撮影部21は、9つのDUT画面1を撮影するので、第2の処理部224は、9つのDUT画面1のそれぞれに対して、第2の処理を実行する。
第2の処理部224は、9つのDUT画面1のそれぞれについて、紐付けデータリスト251を生成する。紐付けデータリスト251について、DUT画面1-1の場合を例にして説明する。図9は、DUT画面1-1に関する紐付けデータリスト251-1の一例を説明する説明図である。紐付けデータリスト251-1は、DUT画面1-1を搭載しているスマートフォンSP-1のIDと、複数の紐付けデータ25とにより構成される。複数の紐付けデータ25は、複数の測定条件に対応する。例えば、紐付けデータ25-1は、測定条件ID6-1の下で測定された、DUT画面1-1に設定された測定領域10-1~10-5のそれぞれのフリッカ値である。
第3の処理部225は、9つのDUT画面1のそれぞれの紐付けデータリスト251を、紐付けデータ記憶部226に記憶させる。紐付けデータリスト251は、複数の紐付けデータ25により構成される。このように、第3の処理部225は、第2の処理部224によって生成された、DUT画面1に関する紐付けデータ25を、紐付けデータ記憶部226に記憶させる第3の処理について、複数の測定条件(図4)のそれぞれに対して実行する。
信号生成部227は、表示パターン信号を生成する。制御部221は、読み出した測定条件(図4)に含まれる表示条件ID7が割り当てられた表示条件(図5)を、測定条件記憶部222から読み出し、信号生成部227に、その表示条件に含まれる表示パターン定義リストに従った表示パターン信号を生成させる。
通信部23は、二次元フリッカ測定装置2が外部装置と通信する通信インターフェイスである。通信部23は、9つのDUT画面1のそれぞれと通信ケーブルによって接続されている。通信ケーブルは、例えば、USB(Universal Serial Bus)ケーブルである。制御部221は、通信部23に、信号生成部227によって生成された表示パターン信号を、9台のスマートフォンSPのそれぞれに送信させる。これにより、図2に示すDUT画面1-1~1-9のそれぞれに表示パターン(第1の画像)が表示される。
操作部24は、タッチパネル、ハードキー等により実現される。操作部24は、光学レンズ211のピント合わせ、フリッカ値の測定命令の入力等に用いられる。
なお、制御処理部22の機能の一部又は全部は、CPUによる処理に替えて、又は、これと共に、FPGA(field programmable gate array)による処理によって実現されてもよい。又、同様に、制御処理部22の機能の一部又は全部は、ソフトウェアによる処理に替えて、又は、これと共に、専用のハードウェア回路による処理によって実現されてもよい。
制御処理部22は、図3に示す複数の要素によって構成される。従って、制御処理部22を実現するハードウェアの1つであるHDDには、これらの要素を実現するためのプログラムが格納されている。すなわち、このHDDには、制御部221、第1の処理部223、第2の処理部224、第3の処理部225、信号生成部227のそれぞれを実現するためのプログラムが格納されている。これらのプログラムは、制御プログラム、第1の処理プログラム、第2の処理プログラム、第3の処理プログラム、信号生成プログラムと表現される。
第1の処理プログラム、第2の処理プログラム、第3の処理プログラムは、要素の定義を用いて表現される。第1の処理部223および第1の処理プログラムを例にして説明する。第1の処理部223は、フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる測定対象物の測光量を基にして、測定対象物に設定された複数の測定領域10のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部222に予め記憶されている複数の測定条件のそれぞれに対して実行する。第1の処理プログラムは、フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる測定対象物の測光量を基にして、測定対象物に設定された複数の測定領域10のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部222に予め記憶されている複数の測定条件のそれぞれに対して実行するプログラムである。
制御処理部22を実現するハードウェアの一つであるCPUによって実行されるこれらのプログラム(制御プログラム、第1の処理プログラム、第2の処理プログラム、第3の処理プログラム、信号生成プログラム)のフローチャートが、後で説明する図10および図11である。
実施形態に係る二次元フリッカ測定装置2がフリッカ値を測定する動作について説明する。図10は、この動作を説明するフローチャートである。図2、図3および図10を参照して、9台のスマートフォンSPがテーブル91(図1)にセットされた状態で、測定者は、操作部24を操作して、フリッカ値の測定命令を制御処理部22に入力する(ステップS1)。
制御部221は、n=1を設定し、図4に示す複数の測定条件のうち、n番目の測定条件を測定条件記憶部222から読み出す(ステップS2)。ここでは、1番目の測定条件(測定条件(1))が読み出される。
制御部221は、測定条件(1)に含まれる表示条件ID7-1が割り当てられた、図5に示す表示条件(1)を、測定条件記憶部222から読み出す(ステップS3)。
制御部221は、信号生成部227に、表示条件(1)に含まれる表示パターン定義リストに従った表示パターン信号を生成させる。制御部221は、通信部23に対して、表示条件(1)に含まれる駆動周波数を示す信号、共通電圧を示す信号、および、表示パターン信号を送信する命令をする。通信部23は、9台のスマートフォンSPのそれぞれに、これらの信号を送信する。これにより、9台のスマートフォンSPは、それぞれ、表示条件(1)の下でDUT画面1-1~1-9を駆動させる。
制御部221は、測定条件(1)に含まれる算出条件ID8-1が割り当てられた、図6に示す算出条件(1)を、測定条件記憶部222から読み出す(ステップS4)。
制御部221は、撮影部21に対して、算出条件(1)に含まれる撮影条件の下で、9台のスマートフォンSPを撮影させる命令をする。撮影部21は、算出条件(1)の撮影条件の下で、9台のスマートフォンSPを撮影する(ステップS5)。上述したように、9台のスマートフォンSPは、それぞれ、表示条件(1)の下でDUT画面1-1~1-9を駆動させている。
制御部221は、第1の処理部223に対して、算出条件(1)の撮影条件の下で撮影された9台のスマートフォンSPの画像、および、算出条件(1)に含まれる領域定義リストを基にして、9台のスマートフォンSPのそれぞれに搭載されたDUT画面1(DUT画面1-1~1-9)のフリッカ値を測定する命令をする。第1の処理部223は、この命令に従って、DUT画面1-1~1-9のフリッカ値を測定する(ステップS6)。この測定の詳細は、後で説明する。
制御部221は、図4に示す全ての測定条件の下で(言い換えれば、複数の測定条件のそれぞれの下で)、フリッカ値が測定されたか否かを判断する(ステップS7)。制御部221は、全ての測定条件の下で、フリッカ値が測定されていないと判断したとき(ステップS7でNo)、n=n+1を設定する(ステップS8)。これにより、次の測定条件(ここでは、測定条件(2))について、ステップS2~ステップS6の処理がされる。
制御部221は、全ての測定条件の下で、フリッカ値が測定されたと判断したとき(ステップS7でYes)、9台のスマートフォンSPのそれぞれに搭載されたDUT画面1-1~1-9について、各DUT画面1の紐付けデータリスト251を生成する命令をする。第2の処理部224は、この命令に従って、DUT画面1-1~1-9のそれぞれの紐付けデータリスト251(紐付けデータリスト251-1~251-9)を生成する(ステップS9)。既に説明したように、図9は、DUT画面1-1の紐付けデータリスト251-1の一例を示す。
制御部221は、紐付けデータリスト251-1~251-9を紐付けデータ記憶部226に記憶させる命令をする。第3の処理部225は、この命令に従って、紐付けデータリスト251-1~251-9を紐付けデータ記憶部226に記憶させる(ステップS10)。
フリッカ値の測定(ステップS6)を詳しく説明する。この測定について、測定条件(1)の下で実行されたDUT画面1-1のフリッカ値の測定を例にして説明する。図11は、この測定を説明するフローチャートである。第1の処理部223は、i=1、j=1を設定する。iは、撮影部21が撮影した画像(第2の画像)の順番を示す。jは、測定領域10-1~10-5の順番を示す。第1の処理部223は、図6に示す算出条件(1)に含まれる撮影条件の下で撮影して得られた、時系列に並ぶ複数の画像(第2の画像)のうち、i番目の画像を取得する(ステップS21)。ここでは、1番目の画像(第2の画像)が取得される。1番目の画像は、先頭の画像である。撮影部21は、9台のスマートフォンSPの動画を撮影しているので、i番目の画像は、i番目のフレームを意味する。
第1の処理部223は、ステップS21で取得された画像に含まれるj番目の測定領域10を構成する全画素の輝度値を取得する(ステップS22)。ここでは、1番目の測定領域10(測定領域10-1)が対象となる。
第1の処理部223は、ステップS22で取得された輝度値の代表値を取得する(ステップS23)。輝度値の代表値とは、当該測定領域10の輝度値について、統計上の傾向を示す値である。輝度値の代表値は、例えば、当該測定領域10を構成する全画素の輝度値の平均値である。なお、二次元撮像素子212上の位置に応じて感度のばらつき、熱ノイズが大きい場合、例えば、中央値を輝度値の代表値にしてもよい。
第1の処理部223は、測定領域10-1~10-5の全てについて、輝度値の代表値を取得したか否かを判断する(ステップS24)。第1の処理部223は、測定領域10-1~10-5の全てについて、輝度値の代表値を取得していないと判断したとき(ステップS24でNo)、j=j+1を設定する(ステップS25)。これにより、次の測定領域10(ここでは、測定領域10-2)について、ステップS21~ステップS24の処理がされる。
第1の処理部223は、測定領域10-1~10-5の全てについて、輝度値の代表値を取得したと判断したとき(ステップS24でYes)、上述した時系列に並ぶ複数の画像(第2の画像)の全てについて、ステップS21~ステップS24の処理がされたか否かを判断する(ステップS26)。
第1の処理部223は、時系列に並ぶ複数の画像の全てについて、ステップS21~ステップS24の処理がされていないと判断したとき(ステップS26でNo)、i=i+1を設定する(ステップS27)。これにより、次の画像について、ステップS21~ステップS26の処理がされる。
第1の処理部223は、時系列に並ぶ複数の画像の全てについて、ステップS21~ステップS24の処理がされたと判断したとき(ステップS26でYes)、j=1を設定し、j番目の測定領域10のフリッカ値を算出する(ステップS28)。図12は、測定領域10-1~10-5のそれぞれについて、フリッカ値の算出を説明する説明図である。1番目の測定領域10(測定領域10-1)を例にしてフリッカ値の算出について、簡単に説明する。第1の処理部223は、1番目~最後の画像(第2の画像)のそれぞれから得られた測定領域10-1の輝度値の代表値(すなわち、1番目の画像から得られた測定領域10-1の輝度値の代表値、2番目の画像から得られた測定領域10-1の輝度値の代表値、・・・、最後の画像から得られた測定領域10-1の輝度値の代表値)を用いて、測定領域10-1のフリッカ値を算出する。1番目~最後の画像の数は、撮影枚数である。
第1の処理部223は、測定領域10-1~10-5の全てについて、フリッカ値を算出したか否かを判断する(ステップS29)。第1の処理部223は、測定領域10-1~10-5の全てについて、フリッカ値を算出していないと判断したとき(ステップS29でNo)、j=j+1を設定する(ステップS30)。これにより、次の測定領域10(ここでは、測定領域10-2)について、ステップS28~ステップS29の処理がされる。
第1の処理部223は、測定領域10-1~10-5の全てについて、フリッカ値を算出したと判断したとき(ステップS29でYes)、測定条件(1)の下で実行されたDUT画面1-1のフリッカ値の測定が終了する。
実施形態の主な効果を説明する。紐付けデータ25(図9)は、フリッカの測定条件の下で測定された、DUT画面1に設定された測定領域10-1~10-5のそれぞれのフリッカ値と、その測定条件と、を紐付けたデータである。実施形態に係る二次元フリッカ測定装置2は、複数の測定条件のそれぞれについて、紐付けデータ25を生成し、これらの紐付けデータ25を紐付けデータ記憶部226に記憶させる。従って、実施形態に係る二次元フリッカ測定装置2によれば、フリッカのムラの評価に必要なデータが増えても、これを効率的に管理することができる。
実施形態の変形例を説明する。図13は、変形例に係る二次元フリッカ測定装置2aの構成を示すブロック図である。二次元フリッカ測定装置2aは、図3に示す実施形態に係る二次元フリッカ測定装置2を前提とし、制御処理部22がフリッカ評価支援装置228を備える。実施形態は、同一機種(言い換えれば、同一モデル)の多数のDUT画面1について、図10に示す処理をすることにより、これらのDUT画面1に関する紐付けデータリスト251を紐付けデータ記憶部226に記憶させる。同一機種のDUT画面1の数が、例えば、1000のとき、紐付けデータ記憶部226は、1000個の紐付けデータリスト251を記憶している。変形例は、これらのDUT画面1に関する紐付けデータリスト251を用いて、フリッカ値の統計を求める。
フリッカ評価支援装置228は、二次元フリッカ測定装置2aに備えられているが、二次元フリッカ測定装置2aから独立した装置でもよい。この場合、フリッカ評価支援装置228は、二次元フリッカ測定装置2aに備えられる紐付けデータ記憶部226に記憶されている紐付けデータリスト251に含まれる紐付けデータ25を読み出して、フリッカ値の統計を求める。
フリッカ評価支援装置228は、算出部2281と、生成部2282と、出力部2283と、を備える。算出部2281は、フリッカ値の統計量(統計値)を算出する。生成部2282は、フリッカ値の統計量を示すグラフを生成する。グラフは、例えば、箱ひげ図でもよいし、Xbar-R管理図でもよい。生成部2282は、統計をとる目的に応じて、グラフの種類を変えてもよい。出力部2283は、グラフを出力する。出力部2283は、グラフを表示部に表示させる表示制御部でもよいし、グラフを印刷する印刷部でもよい。出力部2283が表示制御部のとき、表示制御部は、操作部24に備えられるディスプレイ(表示部)にグラフを表示させてもよいし、二次元フリッカ測定装置2aと通信可能なコンピュータ装置のディスプレイ(表示部)にグラフを表示させてもよい。出力部2283が印刷部のとき、二次元フリッカ測定装置2aと通信可能なプリンタ(印刷部)が、グラフを印刷する。
変形例には、第1変形例と第2変形例とがある。第1変形例から説明する。図13を参照して、算出部2281は、同一機種の多数のDUT画面1(複数のDUT画面1)のそれぞれから得られた、複数の測定条件(図4)のそれぞれに関する紐付けデータリスト251に含まれる紐付けデータ25(図9)を基にして、複数の測定条件のそれぞれについて、フリッカ値の統計量を算出する。生成部2282は、複数の測定条件のそれぞれについて、算出部2281によって算出されたフリッカ値の統計量を示すグラフを生成する。出力部2283は、生成部2282によって生成されたグラフを出力する。
制御処理部22を実現するハードウェアの1つであるHDDには、算出部2281、生成部2282、出力部2283のそれぞれを実現するためのプログラムが格納されている。これらのプログラムは、算出プログラム、生成プログラム、出力プログラムと表現される。これらのプログラムは、算出部2281、生成部2282、出力部2283の定義を用いて表現される。算出部2281および算出プログラムを例にして説明する。算出部2281は、上述した通りである。算出プログラムは、複数のDUT画面1のそれぞれから得られた、複数の測定条件のそれぞれに関する紐付けデータリスト251に含まれる紐付けデータ25を基にして、複数の測定条件のそれぞれについて、フリッカ値の統計量を算出するプログラムである。制御処理部22を実現するハードウェアの一つであるCPUによって実行されるこれらのプログラム(算出プログラム、生成プログラム、出力プログラム)のフローチャートが、後で説明する図14である。以上説明したことは、後で説明する第2変形例でも言えることである。
第1変形例に係る二次元フリッカ測定装置2aに備えられるフリッカ評価支援装置228の動作を説明する。図14は、この動作を説明するフローチャートである。図13および図14を参照して、算出部2281は、n=1を設定し、紐付けデータ記憶部226に記憶されている紐付けデータリスト251の中から、n番目の測定条件(図4、図9)に関する紐付けデータ25を取得する(ステップS41)。ここでは、算出部2281は、1番目の測定条件(測定条件(1))に関する紐付けデータ25を取得する。n番目の測定条件に関する紐付けデータ25とは、n番目の測定条件に割り当てられた測定条件ID6と、測定領域10-1~10-5のそれぞれのフリッカ値とが紐付けられたデータである。同一機種のDUT画面1の数が、例えば、1000のとき、n番目の測定条件に関する紐付けデータ25の数は、1000となる。
算出部2281は、取得した紐付けデータ25に含まれるフリッカ値(ここでは、測定領域10-1~10-5の区別はされない)を用いて、n番目の測定条件に関するフリッカ値の統計量(例えば、フリッカ値の最小値、フリッカ値の第1四分位、フリッカ値の中央値(第2四分位)、フリッカ値の第3四分位、フリッカ値の最大値)を算出する(ステップS42)。ここでは、1番目の測定条件(測定条件(1))に関するフリッカ値の統計量が算出される。
算出部2281は、複数の測定条件(図4)の全てについて、フリッカ値の統計量を算出したか否かを判断する(ステップS43)。算出部2281は、複数の測定条件の全てについて、フリッカ値の統計量を算出していないと判断したとき(ステップS43でNo)、n=n+1を設定する(ステップS44)。これにより、次の測定条件について、ステップS41~ステップS43の処理がされる。ここでは、2番目の測定条件(測定条件(2))が対象となる。
算出部2281は、複数の測定条件の全てについて、フリッカ値の統計量を算出したと判断したとき(ステップS43でYes)、生成部2282は、複数の測定条件のそれぞれの下で測定されたフリッカ値の統計量を示すグラフを生成する(ステップS45)。出力部2283は、生成部2282によって生成されたグラフを出力する(ステップS46)。
図15は、第1変形例において、生成部2282によって生成されたグラフの一例を説明する説明図である。このグラフは、箱ひげ図である。複数の測定条件は、3つの測定条件とする。図15を参照して、測定条件が、測定条件(1)、測定条件(2)、測定条件(3)と変化するに従って、フリッカ値の中央値の変化量に対して、フリッカ値の最大値の変化量が大きくなっている。これにより、ある特定の測定領域10のフリッカ値が大きいことが分かる。
第1変形例によれば、複数の測定条件のそれぞれについて、フリッカ値の統計量を示すグラフを出力する。従って、DUT画面1の開発者、設計者、製造者等は、これを参考にして、DUT画面1の開発、設計、製造等をすることができる。
第2変形例を説明する。第1変形例は、複数の測定条件のそれぞれに関するフリッカ値の統計量を求めるが、第2変形例は、測定領域10-1~10-5(複数の測定領域10)のそれぞれに関するフリッカ値の統計量を求める。第2変形例は、測定領域10-1~10-5の定義が固定されるので、複数の測定条件(図4)は、算出条件が共通となり、表示条件が異なる。例えば、複数の測定条件のそれぞれの算出条件は、算出条件(1)である。
図13を参照して、算出部2281は、同一機種の多数のDUT画面1(複数のDUT画面1)のそれぞれから得られた、複数の測定条件(図4)のそれぞれに関する紐付けデータリスト251に含まれる紐付けデータ25を基にして、測定領域10-1~10-5のそれぞれについて、フリッカ値の統計量を算出する。生成部2282は、測定領域10-1~10-5のそれぞれについて、算出部2281によって算出されたフリッカ値の統計量を示すグラフを生成する。出力部2283は、生成部2282によって生成されたグラフを出力する。
第2変形例に係る二次元フリッカ測定装置2aに備えられるフリッカ評価支援装置228の動作を説明する。図16は、この動作を説明するフローチャートである。jは、測定領域10の番号を示し、nは、測定条件の番号を示す。図13および図16を参照して、算出部2281は、j=1、n=1を設定し、紐付けデータ記憶部226に記憶されている紐付けデータリスト251の中から、n番目の測定条件の下で測定されたj番目の測定領域10のフリッカ値を取得する(ステップS51)。ここでは、算出部2281は、1番目の測定条件の下で測定された1番目の測定領域10(測定領域10-1)のフリッカ値を取得する。
算出部2281は、複数の測定条件の全てについて、j番目の測定領域10のフリッカ値を取得したか否かを判断する(ステップS52)。ここでは、1番目の測定領域10(測定領域10-1)が対象となる。算出部2281は、複数の測定条件の全てについて、j番目の測定領域10のフリッカ値を取得していないと判断したとき(ステップS52でNo)、n=n+1を設定する(ステップS53)。これにより、次の測定条件について、ステップS51~ステップS52の処理がされる。ここでは、2番目の測定条件が対象となる。
算出部2281は、複数の測定条件の全てについて、j番目の測定領域10のフリッカ値を取得したと判断したとき(ステップS52でYes)、これまでに取得したフリッカ値を基にして、j番目の測定領域10に関するフリッカ値の統計量を算出する(ステップS54)。ここでは、1番目の測定領域10(測定領域10-1)が対象となる。
算出部2281は、測定領域10-1~10-5の全てについて、フリッカ値の統計量を算出したか否かを判断する(ステップS55)。算出部2281は、測定領域10-1~10-5の全てについて、フリッカ値の統計量を算出していなと判断したとき(ステップS55でNo)、j=j+1、n=1を設定する(ステップS56)。これにより、次の測定領域10について、ステップS51~ステップS55の処理がされる。ここでは、2番目の測定領域10(測定領域10-2)が対象となる。
算出部2281は、測定領域10-1~10-5の全てについて、フリッカ値の統計量を算出したと判断したとき(ステップS55でYes)、生成部2282は、測定領域10-1~10-5のそれぞれに関するフリッカ値の統計量を示すグラフを生成する(ステップS57)。出力部2283は、生成部2282によって生成されたグラフを出力する(ステップS58)。
図17は、第2変形例において、生成部2282によって生成されたグラフの一例を説明する説明図である。このグラフは、箱ひげ図である。測定領域10-1~10-5のうち、測定領域10-1~10-3について、フリッカ値の統計量が示され、測定領域10-4~10-5について、フリッカ値の統計量が省略されている。測定領域10-3のフリッカ値のばらつきが大きいことが分かる。
第2変形例によれば、DUT画面1に設定された測定領域10-1~10-5のそれぞれについて、フリッカ値の統計量を示すグラフを出力する。従って、DUT画面1の開発者、設計者、製造者等は、これを参考にして、DUT画面1の開発、設計、製造等をすることができる。
(実施形態の纏め)
実施形態の第1局面に係るフリッカ測定装置は、
フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第1の処理部と、
前記第1の処理部によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第2の処理部と、
前記第2の処理部によって生成された前記紐付けデータを、紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第3の処理部と、を備える。
フリッカ測定装置は、スポット型のフリッカ測定装置でもよいし、二次元フリッカ測定装置でもよい。測定条件記憶部および紐付けデータ記憶部は、フリッカ測定装置に備えられていてもよいし、別の装置(例えば、フリッカ測定装置と通信可能なコンピュータ装置)に備えられていてもよい。
測光量は、輝度および画像情報信号を総称する物理量である。輝度は、視感度曲線V(λ)の分光感度特性を持つ二次元撮像素子またはプローブが測定したDUT画面の光強度である。画像情報信号は、任意の分光感度特性を持つ二次元撮像素子がDUT画面を撮影することにより、二次元撮像素子が生成する光強度信号(RAW画像データ)である。
紐付けデータは、フリッカの測定条件の下で測定された、測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値と、その測定条件と、を紐付けたデータである。実施形態の第1局面に係るフリッカ測定装置は、複数の測定条件のそれぞれについて、紐付けデータを生成し、これらの紐付けデータを紐付けデータ記憶部に記憶させる。従って、実施形態の第1局面に係るフリッカ測定装置によれば、フリッカのムラの評価に必要なデータが増えても、これを効率的に管理することができる。
上記構成において、前記フリッカ測定装置は、二次元撮像素子を含む撮影部を備える二次元フリッカ測定装置であり、前記第1の処理部は、前記撮影部が前記測定対象物を撮影することにより得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の前記測定領域のぞれぞれの前記フリッカ値を算出する。
二次元フリッカ測定装置は、フリッカ測定用に製作された装置でもよいし、フリッカ測定用のプログラムがインストールされているコンピュータ装置(例えば、パーソナルコンピュータ、タブレット端末、スマートフォン)でもよい。前者の場合、装置に内蔵されている撮影部(カメラ)が測定対象物を撮影する。後者の場合、コンピュータ装置に外付けされた撮影部(カメラ)が測定対象物を撮影する。
上記構成において、前記測定条件は、フリッカ測定用の第1の画像を前記測定対象物に表示させるのに用いられる表示条件と、前記撮影部が前記第1の画像を表示している前記測定対象物を撮影して得られた第2の画像を基にして、前記フリッカ値を算出するのに用いられる算出条件と、を含む。
第1の画像は、テストパターン、表示パターンと言い換えることができる。表示条件は、例えば、測定対象物が第1の画像を表示するのに用いられる駆動周波数および共通電圧、並びに、第1の画像の定義を含む。算出条件は、例えば、複数の測定領域のそれぞれの位置およびサイズ、並びに、測定対象物に表示された第1の画像の撮影間隔および撮影枚数を含む。
実施形態の第2局面に係るフリッカ測定方法は、
フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第1の処理ステップと、
前記第1の処理ステップによって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第2の処理ステップと、
前記第2の処理ステップによって生成された前記紐付けデータを、紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第3の処理ステップと、を備える。
実施形態の第2局面に係るフリッカ測定方法は、実施形態の第1局面に係るフリッカ測定装置を方法の観点から規定しており、実施形態の第1局面に係るフリッカ測定装置と同様の作用効果を有する。
実施形態の第3局面に係るフリッカ測定プログラムは、
フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第1の処理ステップと、
前記第1の処理ステップによって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第2の処理ステップと、
前記第2の処理ステップによって生成された前記紐付けデータを、紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第3の処理ステップと、をコンピュータに実行させる。
実施形態の第3局面に係るフリッカ測定プログラムは、実施形態の第1局面に係るフリッカ測定装置をプログラムの観点から規定しており、実施形態の第1局面に係るフリッカ測定装置と同様の作用効果を有する。
実施形態の第4局面に係るフリッカ評価支援装置は、
紐付けデータ記憶部に記憶されている紐付けデータを基にして、フリッカの評価を支援するフリッカ評価支援装置であって、
前記紐付けデータ記憶部に記憶されている前記紐付けデータは、
前記フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第1の処理によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた前記紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第2の処理によって生成された前記紐付けデータを、前記紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行されて得られ、
前記フリッカ評価支援装置は、
複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する算出部と、
複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記算出部によって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成部と、
前記生成部によって生成された前記グラフを出力する出力部と、を備える。
フリッカ値の統計量を示すグラフは、例えば、箱ひげ図、Xbar-R管理図である。実施形態の第4局面に係るフリッカ評価支援装置によれば、複数の測定条件のそれぞれについて、フリッカ値の統計量を示すグラフを出力する。従って、測定対象物の開発者、設計者、製造者等は、これを参考にして、測定対象物の開発、設計、製造等をすることができる。
実施形態の第5局面に係るフリッカ評価支援方法は、
紐付けデータ記憶部に記憶されている紐付けデータを基にして、フリッカの評価を支援するフリッカ評価支援方法であって、
前記紐付けデータ記憶部に記憶されている前記紐付けデータは、
前記フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第1の処理によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた前記紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第2の処理によって生成された前記紐付けデータを、前記紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行されて得られ、
前記フリッカ評価支援方法は、
複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する算出ステップと、
複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記算出ステップによって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成ステップと、
前記生成ステップによって生成された前記グラフを出力する出力ステップと、を備える。
実施形態の第5局面に係るフリッカ評価支援方法は、実施形態の第4局面に係るフリッカ評価支援装置を方法の観点から規定しており、実施形態の第4局面に係るフリッカ評価支援装置と同様の作用効果を有する。
実施形態の第6局面に係るフリッカ評価支援プログラムは、
紐付けデータ記憶部に記憶されている紐付けデータを基にして、フリッカの評価を支援するフリッカ評価支援プログラムであって、
前記紐付けデータ記憶部に記憶されている前記紐付けデータは、
前記フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第1の処理によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた前記紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第2の処理によって生成された前記紐付けデータを、前記紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行されて得られ、
前記フリッカ評価支援プログラムは、
複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する算出ステップと、
複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記算出ステップによって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成ステップと、
前記生成ステップによって生成された前記グラフを出力する出力ステップと、をコンピュータに実行させる。
実施形態の第6局面に係るフリッカ評価支援プログラムは、実施形態の第4局面に係るフリッカ評価支援装置をプログラムの観点から規定しており、実施形態の第4局面に係るフリッカ評価支援装置と同様の作用効果を有する。
実施形態の第7局面に係るフリッカ評価支援装置は、
紐付けデータ記憶部に記憶されている紐付けデータを基にして、フリッカの評価を支援するフリッカ評価支援装置であって、
前記紐付けデータ記憶部に記憶されている前記紐付けデータは、
前記フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第1の処理によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた前記紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第2の処理によって生成された前記紐付けデータを、前記紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行されて得られ、
前記フリッカ評価支援装置は、
複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する算出部と、
複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記算出部によって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成部と、
前記生成部によって生成された前記グラフを出力する出力部と、を備える。
フリッカ値の統計量を示すグラフは、例えば、箱ひげ図、Xbar-R管理図である。実施形態の第7局面に係るフリッカ評価支援装置によれば、測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれについて、フリッカ値の統計量を示すグラフを出力する。従って、測定対象物の開発者、設計者、製造者等は、これを参考にして、測定対象物の開発、設計、製造等をすることができる。
実施形態の第8局面に係るフリッカ評価支援方法は、
紐付けデータ記憶部に記憶されている紐付けデータを基にして、フリッカの評価を支援するフリッカ評価支援方法であって、
前記紐付けデータ記憶部に記憶されている前記紐付けデータは、
前記フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第1の処理によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた前記紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第2の処理によって生成された前記紐付けデータを、前記紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行されて得られ、
前記フリッカ評価支援方法は、
複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する算出ステップと、
複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記算出ステップによって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成ステップと、
前記生成ステップによって生成された前記グラフを出力する出力ステップと、を備える。
実施形態の第8局面に係るフリッカ評価支援方法は、実施形態の第7局面に係るフリッカ評価支援装置を方法の観点から規定しており、実施形態の第7局面に係るフリッカ評価支援装置と同様の作用効果を有する。
実施形態の第9局面に係るフリッカ評価支援プログラムは、
紐付けデータ記憶部に記憶されている紐付けデータを基にして、フリッカの評価を支援するフリッカ評価支援プログラムであって、
前記紐付けデータ記憶部に記憶されている前記紐付けデータは、
前記フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第1の処理によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた前記紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行され、
前記第2の処理によって生成された前記紐付けデータを、前記紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行されて得られ、
前記フリッカ評価支援プログラムは、
複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する算出ステップと、
複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記算出ステップによって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成ステップと、
前記生成ステップによって生成された前記グラフを出力する出力ステップと、をコンピュータに実行させる。
実施形態の第9局面に係るフリッカ評価支援プログラムは、実施形態の第7局面に係るフリッカ評価支援装置をプログラムの観点から規定しており、実施形態の第7局面に係るフリッカ評価支援装置と同様の作用効果を有する。
本発明の実施形態が詳細に図示され、かつ、説明されたが、それは単なる図例及び実例であって限定ではない。本発明の範囲は、添付されたクレームの文言によって解釈されるべきである。
2018年10月17日に提出された日本国特許出願特願2018-195624は、その全体の開示が、その全体において参照によりここに組み込まれる。
本発明によれば、フリッカ測定装置、フリッカ測定方法、フリッカ測定プログラム、フリッカ評価支援装置、フリッカ評価支援方法およびフリッカ評価支援プログラムを提供することができる。

Claims (15)

  1. フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第1の処理部と、
    前記第1の処理部によって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第2の処理部と、
    前記第2の処理部によって生成された前記紐付けデータを、紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第3の処理部と、
    複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、
    複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する、
    または、
    複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する
    算出部と、
    複数の前記測定条件のそれぞれについて、または、複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記算出部によって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成部と、
    前記生成部によって生成された前記グラフを出力する出力部と、を備えるフリッカ測定装置。
  2. 前記フリッカ測定装置は、二次元撮像素子を含む撮影部を備える二次元フリッカ測定装置であり、
    前記第1の処理部は、前記撮影部が前記測定対象物を撮影することにより得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の前記測定領域のれぞれの前記フリッカ値を算出する、請求項1に記載のフリッカ測定装置。
  3. 前記測定条件は、
    フリッカ測定用の第1の画像を前記測定対象物に表示させるのに用いられる表示条件と、
    前記撮影部が前記第1の画像を表示している前記測定対象物を撮影して得られた第2の画像を基にして、前記フリッカ値を算出するのに用いられる算出条件と、を含む、請求項2に記載のフリッカ測定装置。
  4. 前記算出条件は、複数の前記測定領域のそれぞれの位置およびサイズ、並びに、前記測定対象物に表示された前記第1の画像の撮影間隔および撮影枚数を含む、請求項3に記載のフリッカ測定装置。
  5. フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第1の処理ステップと、
    前記第1の処理ステップによって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第2の処理ステップと、
    前記第2の処理ステップによって生成された前記紐付けデータを、紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第3の処理ステップと、
    複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、
    複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する、
    または、
    複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する
    算出ステップと、
    複数の前記測定条件のそれぞれについて、または、複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記算出ステップによって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成ステップと、
    前記生成ステップによって生成された前記グラフを出力する出力ステップと、を備えるフリッカ測定方法。
  6. フリッカの測定条件の下で測定対象物から得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ値を算出する第1の処理について、測定条件記憶部に予め記憶されている複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第1の処理ステップと、
    前記第1の処理ステップによって算出された複数の前記測定領域のそれぞれの前記フリッカ値で構成されるデータと、前記測定条件と、を紐付けた紐付けデータを生成する第2の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第2の処理ステップと、
    前記第2の処理ステップによって生成された前記紐付けデータを、紐付けデータ記憶部に記憶させる第3の処理について、複数の前記測定条件のそれぞれに対して実行する第3の処理ステップと、
    複数の前記測定対象物のそれぞれから得られた、複数の前記測定条件のそれぞれに関する前記紐付けデータを基にして、
    複数の前記測定条件のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する、
    または、
    複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記フリッカ値の統計量を算出する
    算出ステップと、
    複数の前記測定条件のそれぞれについて、または、複数の前記測定領域のそれぞれについて、前記算出ステップによって算出された前記統計量を示すグラフを生成する生成ステップと、
    前記生成ステップによって生成された前記グラフを出力する出力ステップと、をコンピュータに実行させるフリッカ測定プログラム。
  7. 前記フリッカ値の統計量は、少なくともフリッカ値の最小値、フリッカ値の中央値、フリッカ値の最大値を含む請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載のフリッカ測定装置。
  8. 前記フリッカ測定方法は、二次元撮像素子を含む撮影部を備える二次元フリッカ測定装置で実行され、
    前記第1の処理ステップは、前記撮影部が前記測定対象物を撮影することにより得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の前記測定領域のれぞれの前記フリッカ値を算出する、請求項5に記載のフリッカ測定方法。
  9. 前記測定条件は、
    フリッカ測定用の第1の画像を前記測定対象物に表示させるのに用いられる表示条件と、
    前記撮影部が前記第1の画像を表示している前記測定対象物を撮影して得られた第2の画像を基にして、前記フリッカ値を算出するのに用いられる算出条件と、を含む、請求項8に記載のフリッカ測定方法。
  10. 前記算出条件は、複数の前記測定領域のそれぞれの位置およびサイズ、並びに、前記測定対象物に表示された前記第1の画像の撮影間隔および撮影枚数を含む、請求項9に記載のフリッカ測定方法。
  11. 前記フリッカ値の統計量は、少なくともフリッカ値の最小値、フリッカ値の中央値、フリッカ値の最大値を含む請求項5および請求項8ないし請求項10のいずれか1項に記載のフリッカ測定方法。
  12. 前記フリッカ測定プログラムは、二次元撮像素子を含む撮影部を備える二次元フリッカ測定装置で実行され、
    前記第1の処理ステップは、前記撮影部が前記測定対象物を撮影することにより得られる前記測定対象物の測光量を基にして、前記測定対象物に設定された複数の前記測定領域のれぞれの前記フリッカ値を算出する、請求項6に記載のフリッカ測定プログラム。
  13. 前記測定条件は、
    フリッカ測定用の第1の画像を前記測定対象物に表示させるのに用いられる表示条件と、
    前記撮影部が前記第1の画像を表示している前記測定対象物を撮影して得られた第2の画像を基にして、前記フリッカ値を算出するのに用いられる算出条件と、を含む、請求項12に記載のフリッカ測定プログラム。
  14. 前記算出条件は、複数の前記測定領域のそれぞれの位置およびサイズ、並びに、前記測定対象物に表示された前記第1の画像の撮影間隔および撮影枚数を含む、請求項13に記載のフリッカ測定プログラム。
  15. 前記フリッカ値の統計量は、少なくともフリッカ値の最小値、フリッカ値の中央値、フリッカ値の最大値を含む請求項6および請求項12ないし請求項14のいずれか1項に記載のフリッカ測定プログラム。
JP2020552551A 2018-10-17 2019-08-20 フリッカ測定装置、フリッカ測定方法、フリッカ測定プログラム Active JP7207416B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018195624 2018-10-17
JP2018195624 2018-10-17
PCT/JP2019/032512 WO2020079946A1 (ja) 2018-10-17 2019-08-20 フリッカ測定装置、フリッカ測定方法、フリッカ測定プログラム、フリッカ評価支援装置、フリッカ評価支援方法およびフリッカ評価支援プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2020079946A1 JPWO2020079946A1 (ja) 2021-09-16
JP7207416B2 true JP7207416B2 (ja) 2023-01-18

Family

ID=70284514

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020552551A Active JP7207416B2 (ja) 2018-10-17 2019-08-20 フリッカ測定装置、フリッカ測定方法、フリッカ測定プログラム

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11902672B2 (ja)
JP (1) JP7207416B2 (ja)
KR (1) KR102639638B1 (ja)
CN (1) CN112840184B (ja)
WO (1) WO2020079946A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024071639A1 (ko) * 2022-09-28 2024-04-04 삼성전자주식회사 플리커링 보정 방법 및 그 전자 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005107527A (ja) 2003-09-29 2005-04-21 Samsung Sdi Co Ltd フィールド順次駆動方式の液晶表示装置
JP2005109535A (ja) 2003-09-26 2005-04-21 Sony Corp フリッカ測定装置
JP2011163947A (ja) 2010-02-10 2011-08-25 Seiko Epson Corp 光特性測定方法およびその装置
JP2014164159A (ja) 2013-02-26 2014-09-08 Seiko Epson Corp 画像データ処理回路及び方法、並びに、電子機器

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0132194Y1 (ko) * 1993-03-31 1998-12-15 이헌조 액정표시소자의 플리커 측정장치
JP2002350284A (ja) 2001-05-25 2002-12-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置の検査方法および検査装置
JP3803924B2 (ja) * 2002-09-09 2006-08-02 本田技研工業株式会社 イメージセンサ
JP2006003867A (ja) 2004-05-20 2006-01-05 Seiko Epson Corp 画像補正量検出装置、電気光学装置用駆動回路、電気光学装置及び電子機器
JP4581927B2 (ja) * 2005-09-07 2010-11-17 セイコーエプソン株式会社 表示装置のぎらつき測定方法およびぎらつき測定装置
JP4875564B2 (ja) 2007-08-02 2012-02-15 キヤノン株式会社 フリッカ補正装置及びフリッカ補正方法
JP2011169842A (ja) 2010-02-22 2011-09-01 Seiko Epson Corp フリッカー測定方法およびその装置
JP6046413B2 (ja) * 2011-08-08 2016-12-14 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. 表示装置及びその駆動方法
JP5945395B2 (ja) * 2011-10-13 2016-07-05 オリンパス株式会社 撮像装置
JP2014185881A (ja) * 2013-03-22 2014-10-02 Seiko Epson Corp 測定装置、及び測定方法
CN103761951B (zh) * 2013-12-31 2016-03-30 深圳市华星光电技术有限公司 一种自适应多区公共电压调整系统及方法
JP2018093275A (ja) * 2016-11-30 2018-06-14 オリンパス株式会社 撮像装置およびフリッカ判定方法
JP6320503B1 (ja) * 2016-12-28 2018-05-09 オリンパス株式会社 撮像装置、フリッカ検出方法、およびプログラム
JP2023018536A (ja) * 2021-07-27 2023-02-08 コニカミノルタ株式会社 光計測装置、光計測方法、データ処理装置及びプログラム

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005109535A (ja) 2003-09-26 2005-04-21 Sony Corp フリッカ測定装置
JP2005107527A (ja) 2003-09-29 2005-04-21 Samsung Sdi Co Ltd フィールド順次駆動方式の液晶表示装置
JP2011163947A (ja) 2010-02-10 2011-08-25 Seiko Epson Corp 光特性測定方法およびその装置
JP2014164159A (ja) 2013-02-26 2014-09-08 Seiko Epson Corp 画像データ処理回路及び方法、並びに、電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
KR20210058914A (ko) 2021-05-24
CN112840184A (zh) 2021-05-25
US20210352202A1 (en) 2021-11-11
JPWO2020079946A1 (ja) 2021-09-16
CN112840184B (zh) 2024-04-30
KR102639638B1 (ko) 2024-02-21
WO2020079946A1 (ja) 2020-04-23
US11902672B2 (en) 2024-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11270663B2 (en) Method for detecting compensation parameters of brightness, method for compensating brightness, detection device for detecting compensation parameters of brightness, brightness compensation device, display device, and non-volatile storage medium
JP6031525B2 (ja) ディスプレイ温度検出のためのシステム及び方法
KR102513670B1 (ko) 센서 보정 시스템, 디스플레이 제어 장치, 프로그램, 및 센서 보정 방법
KR102542503B1 (ko) 표시 패널 검사 장치 및 그 구동 방법
US11272121B2 (en) Two-dimensional flicker measurement device, two-dimensional flicker measurement system, two-dimensional flicker measurement method, and two-dimensional flicker measurement program
TW201344186A (zh) 熱成像裝置、熱成像方法及熱成像控制系統
JP7173763B2 (ja) 画像生成装置および画像生成方法
JP2015125243A (ja) マルチディスプレイシステム、画像表示装置、画面制御方法およびプログラム
JP7207416B2 (ja) フリッカ測定装置、フリッカ測定方法、フリッカ測定プログラム
JP2005189542A (ja) 表示システム、表示プログラム、表示方法
JP2015119344A (ja) 撮像素子の感度分布の測定装置及びその制御方法、画像表示装置のキャリブレーション装置及びその制御方法
TW201512676A (zh) 圖像分析系統及方法
WO2018078753A1 (ja) 補正システム
KR20140113449A (ko) 묘화 데이터 생성 방법, 묘화 방법, 묘화 데이터 생성 장치, 및 묘화 장치
JP5634473B2 (ja) パネル評価システム及びパネル評価方法
JP4644595B2 (ja) ディスプレイの評価装置、評価方法及びプログラム
JP5113232B2 (ja) パネル評価システム及びパネル評価方法
JP7189515B2 (ja) 二次元フリッカ測定装置、二次元フリッカ測定方法、および、二次元フリッカ測定プログラム
JP6303528B2 (ja) 寸法計測装置、寸法計測方法、及び、プログラム
TW201310985A (zh) 被拍攝物體之影像定位系統及方法
WO2019116465A1 (ja) ムラ補正システム、ムラ補正方法および表示装置
JP5578298B1 (ja) 2次元画像処理装置、2次元色彩輝度計、2次元画像処理方法及び2次元画像処理プログラム
JP2009265440A (ja) 表示装置および表示方法
JP2016213590A (ja) 検出装置及び検出方法
KR20150092571A (ko) 카메라 모듈 검사 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220906

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221020

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221102

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221219

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7207416

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150