KR20210058914A

KR20210058914A - 플리커 측정 장치, 플리커 측정 방법, 플리커 측정 프로그램, 플리커 평가 지원 장치, 플리커 평가 지원 방법 및 플리커 평가 지원 프로그램

Info

Publication number: KR20210058914A
Application number: KR1020217011037A
Authority: KR
Inventors: 가츠키 이마이
Original assignee: 코니카 미놀타 가부시키가이샤
Priority date: 2018-10-17
Filing date: 2019-08-20
Publication date: 2021-05-24
Also published as: KR102639638B1; US11902672B2; CN112840184B; US20210352202A1; JPWO2020079946A1; JP7207416B2; WO2020079946A1; CN112840184A

Abstract

플리커 측정 장치는, 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제1 처리부와, 제1 처리부에 의해 산출된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값으로 구성되는 데이터와, 측정 조건을 결부시킨 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제2 처리부와, 제2 처리부에 의해 생성된 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제3 처리부를 구비한다.

Description

플리커 측정 장치, 플리커 측정 방법, 플리커 측정 프로그램, 플리커 평가 지원 장치, 플리커 평가 지원 방법 및 플리커 평가 지원 프로그램

본 발명은, 예를 들어 액정 디스플레이의 화면의 플리커값을 측정하는 기술에 관한 것이다.

플리커 측정 장치로서, 스폿형 플리커 측정 장치와 이차원 플리커 측정 장치가 있다. 스폿형 플리커 측정 장치는 프로브를 구비하고 있으며, 프로브가 측정 영역(스폿 영역)에 접근된 상태에서 측정 영역의 플리커값을 측정한다(예를 들어, 특허문헌 1). 이차원 플리커 측정 장치는 이차원 촬상 소자를 구비하고 있으며, 이차원 영역의 플리커값을 측정한다(예를 들어, 특허문헌 2).

디스플레이의 화면에 발생하는 플리커의 불균일을 평가하기 위해, 디스플레이의 화면에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값이 측정된다. 이차원 플리커 측정 장치에 따르면, 이차원 영역의 플리커값을 측정할 수 있으므로, 1대의 이차원 플리커 측정 장치로, 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 한번에 측정할 수 있다.

플리커의 측정 조건이 다르면, 플리커의 불균일이 다른 경우가 있으므로, 복수의 측정 조건 하에서, 플리커의 불균일이 평가되는 것이 바람직하다. 그러나, 이 경우, 관리해야 할 데이터(예를 들어, 복수의 측정 조건의 각각의 내용, 디스플레이 화면에 설정된 복수의 측정 영역의 각각에 대하여, 복수의 측정 조건의 각각의 하에서 측정된 플리커값)가 증가하므로, 데이터를 효율적으로 관리할 필요가 있다.

일본 특허 공개 제2002-350284호 공보 일본 특허 공개 제2005-109535호 공보

본 발명의 목적은, 플리커의 불균일의 평가에 필요한 데이터를 효율적으로 관리하는 것이 가능한 플리커 측정 장치, 플리커 측정 방법 및 플리커 측정 프로그램을 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은, 플리커의 불균일의 평가에 필요한 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원할 수 있는 플리커 평가 지원 장치, 플리커 평가 지원 방법 및 플리커 평가 지원 프로그램을 제공하는 것이다.

상술한 본 발명의 목적을 실현하기 위해, 본 발명의 일 측면을 반영한 플리커 측정 장치는, 제1 처리부와, 제2 처리부와, 제3 처리부를 구비한다. 상기 제1 처리부는, 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행한다. 상기 제2 처리부는, 상기 제1 처리부에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행한다. 상기 제3 처리부는, 상기 제2 처리부에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행한다.

발명의 하나 또는 복수의 실시 형태에 의해 제공되는 이점 및 특징은 이하에 제공되는 상세한 설명 및 첨부 도면으로부터 충분히 이해된다. 이들 상세한 설명 및 첨부 도면은 예로서만 제공되는 것이며, 본 발명의 한정의 정의로서 의도되는 것은 아니다.

도 1은 이차원 플리커 측정 장치와 복수의 스마트폰의 배치 관계를 설명하는 설명도이다.
도 2는 이차원 플리커 측정 장치로부터 본 복수의 스마트폰의 평면 모식도이다.
도 3은 실시 형태에 관한 이차원 플리커 측정 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 4는 측정 조건 리스트의 일례를 설명하는 설명도이다.
도 5는 표시 조건 리스트의 일례를 설명하는 설명도이다.
도 6은 산출 조건 리스트의 일례를 설명하는 설명도이다.
도 7은 영역 정의 리스트에서 정의된 측정 영역의 일례를 설명하는 설명도이다.
도 8은 9개의 DUT 화면의 각각에 설정된 5개의 측정 영역의 위치와, 촬영 범위(R)의 위치의 관계의 일례를 도시하는 이차원 좌표계를 설명하는 설명도이다.
도 9는 9개의 DUT 화면 중 1개의 DUT 화면에 관한 결부 데이터 리스트의 일례를 설명하는 설명도이다.
도 10은 실시 형태에 관한 이차원 플리커 측정 장치가 플리커값을 측정하는 동작을 설명하는 흐름도이다.
도 11은 측정 조건 (1) 하에서 실행된 DUT 화면의 플리커값의 측정을 설명하는 흐름도이다.
도 12는 5개의 측정 영역의 각각에 대하여, 플리커값의 산출을 설명하는 설명도이다.
도 13은 변형예에 관한 이차원 플리커 측정 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 14는 제1 변형예에 관한 이차원 플리커 측정 장치에 구비되는 플리커 평가 지원 장치의 동작을 설명하는 흐름도이다.
도 15는 제1 변형예에 있어서, 생성부에 의해 생성된 그래프의 일례를 설명하는 설명도이다.
도 16은 제2 변형예에 관한 이차원 플리커 측정 장치에 구비되는 플리커 평가 지원 장치의 동작을 설명하는 흐름도이다.
도 17은 제2 변형예에 있어서, 생성부에 의해 생성된 그래프의 일례를 설명하는 설명도이다.

이하, 도면을 참조하여, 본 발명의 하나 또는 복수의 실시 형태가 설명된다. 그러나, 발명의 범위는 개시된 실시 형태에 한정되지 않는다.

각 도면에 있어서, 동일 부호를 붙인 구성은 동일한 구성인 것을 나타내고, 그 구성에 대하여, 이미 설명하고 있는 내용에 대해서는 그 설명을 생략한다. 본 명세서에 있어서, 개별적인 구성을 가리키는 경우에는 하이픈을 첨부한 참조 부호(예를 들어, 측정 영역(10-1))로 나타내고, 총칭하는 경우에는 하이픈을 생략한 참조 부호(예를 들어, 측정 영역(10))로 나타낸다.

도 1은, 이차원 플리커 측정 장치(2)와 복수의 스마트폰(SP)의 배치 관계를 설명하는 설명도이다. 도 2는, 이차원 플리커 측정 장치(2)로부터 본 복수의 스마트폰(SP)의 평면 모식도이다. 스마트폰(SP)에 구비되는 액정 컬러 디스플레이(DUT=Device Under Test)가 측정 대상물이다. 측정 대상물은 화상을 표시하는 기능을 갖고 있으며, 실시 형태에서는 DUT의 화면(1)(이하, DUT 화면(1))을 예로 들어 설명한다.

스마트폰, 태블릿 단말기 등의 모바일 단말기에 탑재되는 액정 디스플레이는, 가정용 전원으로 구동되는 액정 디스플레이와 비교하여 플리커의 불균일이 크다. 모바일 단말기에 탑재되는 액정 디스플레이는 배터리 구동이므로, 배터리를 오래 가게 하기 위한 액정 구동 방식, 액정 구조 등이 채용되고 있다. 이들이 플리커의 불균일을 크게 하는 원인으로 되는 것이다. 또한, 측정 대상물은, 모바일용 단말기에 탑재되는 액정 디스플레이에 한하지 않고, 가정용 전원으로 구동되는 액정 디스플레이여도된다.

도 1 및 도 2를 참조하여, 9대의 스마트폰(SP)이 테이블(91)에 행렬상으로 배열되어 있고, 이차원 플리커 측정 장치(2)에 구비되는 촬영부(21)(도 3)의 촬영 범위(R) 내에, 9대의 스마트폰(SP)이 배치되어 있다. 스마트폰(SP)은 소형이므로, 9대의 스마트폰(SP)이 배열되어 플리커가 한번에 측정된다. 스마트폰(SP)의 대수가 9인 예를 들어 설명하고 있지만, 이것에 한정되지 않고, 대수는 9 이외의 복수여도 되고, 1이어도 된다.

테이블(91)의 형상은 직사각형이며, 테이블(91)은 제1 측부(911) 내지 제4 측부(914)를 갖는다. 제1 측부(911)에 상하 방향으로 연장되는 리니어 가이드(92)가 배치되어 있다. 이차원 플리커 측정 장치(2)는, 리니어 가이드(92)에 의해 복수의 스마트폰(SP)의 상방에 배치되어 있다. 리니어 가이드(92)는, 가이드 레일(921)과, 가이드 레일(921)을 따라 이동 가능하고, 이차원 플리커 측정 장치(2)가 고정되는 블록(도시하지 않음)을 구비한다. 이에 의해, 이차원 플리커 측정 장치(2)는, 가이드 레일(921)을 따라 리니어 방향으로 이동하는 것이 가능하게 된다.

이차원 플리커 측정 장치(2)는, 측정자의 지시에 기초하여, DUT 화면(1)에 복수의 측정 영역(10)을 설정한다. DUT 화면(1)에는, 5개의 측정 영역(10)이 이차원으로 설정되어 있다. 측정 영역(10-3)이 DUT 화면(1)의 중심에 설정되어 있고, 측정 영역(10-1, 10-2, 10-4, 10-5)이 DUT 화면(1)의 네 코너에 설정되어 있다. 이 설정은 일례이다. 9대의 스마트폰(SP)의 각각에 구비되는 DUT 화면(1)에 설정되는 복수의 측정 영역(10)의 위치는 각각 동일하다. DUT 화면(1)에 설정되는 측정 영역(10)의 수는 복수이면 되며, 5에 한정되지 않는다. 인접하는 측정 영역(10) 사이에는 간극이 형성되어 있지만, 간극이 형성되어 있지 않아도 된다. 측정 영역(10)의 형상은 직사각형이지만, 이것에 한정되지 않고, 원형이어도 된다.

도 3은, 실시 형태에 관한 이차원 플리커 측정 장치(2)의 구성을 도시하는 블록도이다. 이차원 플리커 측정 장치(2)는, 촬영부(21)와, 제어 처리부(22)와, 통신부(23)와, 조작부(24)를 구비한다. 촬영부(21)는, 광학 렌즈(211)와, 이차원 촬상 소자(212)를 구비한다. 광학 렌즈(211)는, DUT 화면(1)의 전체로부터의 광(L)을 수속한다. 광학 렌즈(211)로 수속된 광(L)은 이차원 촬상 소자(212)에서 수광된다. 이차원 촬상 소자(212)는 이차원의 촬영 영역을 갖는 화상 센서이다(예를 들어, CMOS 센서, CCD 센서). 이차원 촬상 소자(212)는, 화상을 표시한 DUT 화면(1)을 촬영하고, 촬영한 화상의 휘도 신호 SG를 출력한다. 휘도 신호 SG는, 측광량을 나타내는 신호의 구체예이다.

휘도는, 시감도 곡선 V(λ)의 분광 감도 특성을 갖는 이차원 촬상 소자(212)가 측정한 DUT 화면(1)의 광 강도이다. 휘도 신호 SG는 이 광 강도를 나타내는 신호이다. 휘도 신호 SG를 예로 들어 설명하지만, 화상 정보 신호여도 된다. 화상 정보 신호는, 임의의 분광 감도 특성을 갖는 이차원 촬상 소자(212)가 DUT 화면(1)을 촬영함으로써, 이차원 촬상 소자(212)가 생성하는 광 강도 신호(RAW 화상 데이터)이다. 측광량은 휘도 및 화상 정보 신호를 총칭하는 물리량이다.

제어 처리부(22)는, 이차원 플리커 측정 장치(2)의 동작에 필요한 각종 제어 및 처리를 실행한다. 제어 처리부(22)는, 예를 들어 CPU(Central Processing Unit), RAM(Random Access Memory), ROM(Read Only Memory) 및 HDD(Hard Disk Drive) 등의 하드웨어 프로세서, 그리고 제어 처리부(22)의 기능을 실행하기 위한 프로그램 및 데이터 등에 의해 실현된다.

제어 처리부(22)는, 기능 블록으로서, 제어부(221)와, 측정 조건 기억부(222)와, 제1 처리부(223)와, 제2 처리부(224)와, 제3 처리부(225)와, 결부 데이터 기억부(226)와, 신호 생성부(227)를 구비한다.

제어부(221)는, 제어 처리부(22)의 각 부(측정 조건 기억부(222), 제1 처리부(223), 제2 처리부(224), 제3 처리부(225), 결부 데이터 기억부(226), 신호 생성부(227))를, 당해 각 부의 기능에 따라 각각 제어하고, 통신부(23) 및 조작부(24)를 제어하기 위한 장치이다.

측정 조건 기억부(222)는, 측정 조건 리스트(222a), 표시 조건 리스트(222b) 및 산출 조건 리스트(222c)를 미리 기억하고 있다. 도 4는, 측정 조건 리스트(222a)의 일례를 설명하는 설명도이다. 측정 조건 리스트(222a)는 복수의 측정 조건에 의해 구성된다. 측정 조건이 복수 있으므로, 각 측정 조건에 ID(identification)가 부여되어 있다. 예를 들어, 측정 조건 (1)에는 측정 조건 ID6-1이 부여되고, 측정 조건 (2)에는 측정 조건 ID6-2가 부여되어 있다.

복수의 측정 조건의 각각은, 측정 조건 ID6, 표시 조건 ID7 및 산출 조건 ID8에 의해 구성된다. 예를 들어, 측정 조건 (1)은 측정 조건 ID6-1, 표시 조건 ID7-1 및 산출 조건 ID8-1에 의해 구성되고, 측정 조건 (2)는 측정 조건 ID6-2, 표시 조건 ID7-2 및 산출 조건 ID8-2에 의해 구성된다.

도 5는, 표시 조건 리스트(222b)의 일례를 설명하는 설명도이다. 표시 조건 리스트(222b)는 복수의 표시 조건에 의해 구성된다. 표시 조건이 복수 있으므로, 각 표시 조건에 ID가 부여되어 있다. 예를 들어, 표시 조건 (1)에는 표시 조건 ID7-1이 부여되고, 표시 조건 (2)에는 표시 조건 ID7-2가 부여되어 있다.

표시 조건은, 플리커 측정용 표시 패턴(제1 화상)을 DUT 화면(1)(측정 대상물)에 표시시키는 데 사용되는 조건이다. DUT 화면(1)은 TFT(Thin Film Transistor) 액정 패널로 한다. 따라서, DUT 화면(1)은 공통 전극(커먼 전극)을 구비한다. 또한, DUT 화면(1)은, TFT 액정 패널과 같은 액정 화면에 한하지 않고, 예를 들어 OLED 화면이어도 된다.

표시 조건은, 표시 조건 ID7, 구동 주파수, 공통 전압 및 표시 패턴 정의 리스트에 의해 구성된다. 표시 조건 ID7은, 이 표시 조건에 부여된 ID이다. 구동 주파수는, DUT 화면(1)의 구동 주파수이다. 공통 전압은, DUT 화면(1)의 공통 전극에 인가되는 전압이다. 표시 패턴 정의 리스트는, DUT 화면(1)에 표시되는 표시 패턴의 정의이다. DUT 화면(1)의 각 화소의 R값, G값, B값을, 이 리스트로 나타내는 값으로 함으로써, 이 리스트에서 정의되는 표시 패턴을 DUT 화면(1)에 표시시킬 수 있다.

도 6은, 산출 조건 리스트(222c)의 일례를 설명하는 설명도이다. 산출 조건 리스트(222c)는 복수의 산출 조건에 의해 구성된다. 산출 조건이 복수 있으므로, 각 산출 조건에 ID가 부여되어 있다. 예를 들어, 산출 조건 (1)에는 산출 조건 ID8-1이 부여되고, 산출 조건 (2)에는 산출 조건 ID8-2가 부여되어 있다.

산출 조건은, 촬영부(21)(도 3)가 표시 패턴(제1 화상)을 표시하고 있는 DUT 화면(1)을 촬영하여 얻어진 화상(제2 화상)을 기초로 하여, 플리커값을 산출하는 데 사용되는 조건이다. 산출 조건은 산출 조건 ID8, 촬영 조건 및 영역 정의 리스트에 의해 구성된다. 산출 조건 ID8은, 이 산출 조건에 부여된 ID이다.

촬영 조건은, 촬영부(21)가 DUT 화면(1)에 표시되어 있는 표시 패턴을 촬영하는 간격 및 매수이다. 측정자는 플리커값의 측정 정밀도와 플리커값의 측정 시간을 고려하여, 이들의 설정을 한다. 예를 들어, 촬영 간격이 짧고, 또한 촬영 매수가 많으면, 플리커값의 측정 정밀도는 향상되지만, 플리커값의 측정 시간은 길어진다.

영역 정의 리스트는, DUT 화면(1)(도 2)의 중심을 원점으로 한 좌표에 있어서, 5개의 측정 영역(10)의 각각의 위치를 정의한 리스트이다. 영역 정의 리스트는 기준 좌표, 높이 및 폭에 의해 구성된다. 기준 좌표에 의해, 측정 영역(10)의 위치가 정해진다. 높이와 폭에 의해 측정 영역(10)의 사이즈가 정해진다. 영역(10-1 내지 10-5)의 각각의 높이 h1 내지 h5는 동일한 값이어도 되고, 다른 값이어도 된다. 영역(10-1 내지 10-5)의 각각의 폭 w1 내지 w5는 동일한 값이어도 되고, 다른 값이어도 된다.

영역 정의 리스트에서 정의되는 측정 영역(10)에 대하여, 측정 영역(10-1)을 예로 들어 설명한다. 도 7은, 영역 정의 리스트에서 정의된 측정 영역(10-1)의 일례를 설명하는 설명도이다. 기준 좌표(x1, y1)가 측정 영역(10-1)의 좌측 상단각을 규정한다. 좌표(x1, y1-h1)가 측정 영역(10-1)의 좌측 하단각을 규정한다. 좌표(x1+w1, y1)가 측정 영역(10-1)의 우측 상단각을 규정한다. 좌표(x1+w1, y1-h1)가 측정 영역(10-1)의 우측 하단각을 규정한다.

도 3을 참조하여, 제어부(221)는, 측정 조건 기억부(222)에 기억되어 있는 측정 조건 리스트(222a)(도 4)에 포함되는 복수의 측정 조건 중에서 어느 측정 조건을 판독한다. 제어부(221)는, 판독한 측정 조건에 포함되는 표시 조건 ID7이 할당되어 있는 표시 조건(도 5)을 측정 조건 기억부(222)로부터 판독한다. 제어부(221)는, 판독한 측정 조건에 포함되는 산출 조건 ID8이 할당되어 있는 산출 조건(도 6)을 측정 조건 기억부(222)로부터 판독한다.

도 2 및 도 3을 참조하여, 제1 처리부(223)는, 제어부(221)에 의해 판독된 측정 조건 하에서, 촬영부(21)가 DUT 화면(1)을 촬영함으로써 얻어지는 DUT 화면(1)의 측광량을 기초로 하여, DUT 화면(1)에 설정된 5개의 측정 영역(10)의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 복수의 측정 조건(도 4)의 각각에 대하여 실행한다. 촬영부(21)는 9개의 DUT 화면(1)을 촬영하므로, 제1 처리부(223)는 9개의 DUT 화면(1)의 각각에 대하여 제1 처리를 실행한다. 이와 같이 제1 처리부(223)는, 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역(10)의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부(222)에 미리 기억되어 있는 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 실행한다.

제1 처리에 대하여 설명한다. 제1 처리부(223)는, 촬영 범위(R)을 나타내는 좌표 데이터를 미리 기억하고 있고, 그리고 촬영 범위(R)에 9대의 스마트폰(SP)이 배치된 상태에서, 9대의 스마트폰(SP)의 각각에 탑재된 DUT 화면(1)(바꾸어 말하면, DUT 화면(1-1 내지 1-9))의 중심의 좌표 데이터를 미리 기억하고 있다. 제1 처리부(223)는, 이들 좌표 데이터 및 영역 정의 리스트(도 6)를 기초로 하여, DUT 화면(1-1 내지 1-9)의 각각에 설정된 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 위치와, 촬영 범위(R)의 위치의 관계를 나타내는 이차원 좌표계를 생성한다. 도 8은, 이 이차원 좌표계의 일례를 설명하는 설명도이다.

도 2, 도 3 및 도 8을 참조하여, 제1 처리부(223)는, 스마트폰(SP-1)에 탑재된 DUT 화면(1-1)의 중심(C-1)의 좌표를 원점으로 하여, DUT 화면(1-1)에 설정되는 5개의 측정 영역(10)(측정 영역(10-1 내지 10-5))의 각각의 위치를 결정하고, 스마트폰(SP-2)에 탑재된 DUT 화면(1-2)의 중심(C-2)의 좌표를 원점으로 하여, DUT 화면(1-2)에 설정되는 5개의 측정 영역(10)의 각각의 위치를 결정한다. 제1 처리부(223)는, 스마트폰(SP-3 내지 SP-9)에 탑재되는 DUT 화면(1-3 내지 1-9)에 대해서도 마찬가지의 결정을 한다. 이에 의해, 촬영부(21)가 촬영한 화상(제2 화상) 상에 있어서, 9개의 DUT 화면(1)에 설정된 5개의 측정 영역(10)의 위치가 결정된다.

도 2 및 도 3을 참조하여, 제1 처리부(223)는, 촬영부(21)가 DUT 화면(1-1 내지 1-9)을 촬영함으로써 얻어지는 DUT 화면(1-1 내지 1-9)의 측광량을 기초로 하여, DUT 화면(1-1 내지 1-9)의 각각에 설정된 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각의 플리커값을 산출한다. 플리커값의 산출 방식으로서, 예를 들어 콘트라스트 방식과 JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association) 방식이 있다. 제1 처리부(223)는 콘트라스트 방식, JEITA 방식의 어느 것으로도 플리커값을 산출할 수 있다. 또한, 이들 방식 이외라도 실시 형태는 적용할 수 있다.

제2 처리부(224)는, 제1 처리부(223)에 의해 산출된 5개의 측정 영역(10)의 각각의 플리커값으로 구성되는 데이터와, 제어부(221)에 의해 판독된 측정 조건을 결부시킨 결부 데이터(25)를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 측정 조건(도 4)의 각각에 대하여 실행한다. 촬영부(21)는 9개의 DUT 화면(1)을 촬영하므로, 제2 처리부(224)는 9개의 DUT 화면(1)의 각각에 대하여 제2 처리를 실행한다.

제2 처리부(224)는, 9개의 DUT 화면(1)의 각각에 대하여 결부 데이터 리스트(251)를 생성한다. 결부 데이터 리스트(251)에 대하여, DUT 화면(1-1)의 경우를 예로 들어 설명한다. 도 9는, DUT 화면(1-1)에 관한 결부 데이터 리스트(251-1)의 일례를 설명하는 설명도이다. 결부 데이터 리스트(251-1)는, DUT 화면(1-1)을 탑재하고 있는 스마트폰(SP-1)의 ID와, 복수의 결부 데이터(25)에 의해 구성된다. 복수의 결부 데이터(25)는 복수의 측정 조건에 대응한다. 예를 들어, 결부 데이터(25-1)는, 측정 조건 ID6-1 하에서 측정된, DUT 화면(1-1)에 설정된 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각의 플리커값이다.

제3 처리부(225)는, 9개의 DUT 화면(1)의 각각의 결부 데이터 리스트(251)를 결부 데이터 기억부(226)에 기억시킨다. 결부 데이터 리스트(251)는 복수의 결부 데이터(25)에 의해 구성된다. 이와 같이 제3 처리부(225)는, 제2 처리부(224)에 의해 생성된, DUT 화면(1)에 관한 결부 데이터(25)를 결부 데이터 기억부(226)에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 측정 조건(도 4)의 각각에 대하여 실행한다.

신호 생성부(227)는 표시 패턴 신호를 생성한다. 제어부(221)는, 판독한 측정 조건(도 4)에 포함되는 표시 조건 ID7이 할당된 표시 조건(도 5)을 측정 조건 기억부(222)로부터 판독하고, 신호 생성부(227)에, 그 표시 조건에 포함되는 표시 패턴 정의 리스트에 따른 표시 패턴 신호를 생성시킨다.

통신부(23)는, 이차원 플리커 측정 장치(2)가 외부 장치와 통신하는 통신 인터페이스이다. 통신부(23)는, 9개의 DUT 화면(1)의 각각과 통신 케이블에 의해 접속되어 있다. 통신 케이블은, 예를 들어 USB(Universal Serial Bus) 케이블이다. 제어부(221)는, 통신부(23)에, 신호 생성부(227)에 의해 생성된 표시 패턴 신호를 9대의 스마트폰(SP)의 각각에 송신시킨다. 이에 의해, 도 2에 도시하는 DUT 화면(1-1 내지 1-9)의 각각에 표시 패턴(제1 화상)이 표시된다.

조작부(24)는 터치 패널, 하드 키 등에 의해 실현된다. 조작부(24)는 광학 렌즈(211)의 핀트 맞춤, 플리커값의 측정 명령의 입력 등에 사용된다.

또한, 제어 처리부(22)의 기능의 일부 또는 전부는, CPU에 의한 처리 대신에, 또는 이것과 함께 FPGA(field programmable gate array)에 의한 처리에 의해 실현되어도 된다. 또한, 마찬가지로 제어 처리부(22)의 기능의 일부 또는 전부는 소프트웨어에 의한 처리 대신에, 또는 이것과 함께, 전용 하드웨어 회로에 의한 처리에 의해 실현되어도 된다.

제어 처리부(22)는, 도 3에 도시하는 복수의 요소에 의해 구성된다. 따라서, 제어 처리부(22)를 실현하는 하드웨어의 하나인 HDD에는, 이들 요소를 실현하기 위한 프로그램이 저장되어 있다. 즉, 이 HDD에는 제어부(221), 제1 처리부(223), 제2 처리부(224), 제3 처리부(225), 신호 생성부(227)의 각각을 실현하기 위한 프로그램이 저장되어 있다. 이들 프로그램은 제어 프로그램, 제1 처리 프로그램, 제2 처리 프로그램, 제3 처리 프로그램, 신호 생성 프로그램으로 표현된다.

제1 처리 프로그램, 제2 처리 프로그램, 제3 처리 프로그램은 요소의 정의를 사용하여 표현된다. 제1 처리부(223) 및 제1 처리 프로그램을 예로 들어 설명한다. 제1 처리부(223)는, 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역(10)의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부(222)에 미리 기억되어 있는 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 실행한다. 제1 처리 프로그램은, 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역(10)의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부(222)에 미리 기억되어 있는 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 프로그램이다.

제어 처리부(22)를 실현하는 하드웨어의 하나인 CPU에 의해 실행되는 이들 프로그램(제어 프로그램, 제1 처리 프로그램, 제2 처리 프로그램, 제3 처리 프로그램, 신호 생성 프로그램)의 흐름도가, 후술하는 도 10 및 도 11이다.

실시 형태에 관한 이차원 플리커 측정 장치(2)가 플리커값을 측정하는 동작에 대하여 설명한다. 도 10은, 이 동작을 설명하는 흐름도이다. 도 2, 도 3 및 도 10을 참조하여, 9대의 스마트폰(SP)이 테이블(91)(도 1)에 세트된 상태에서, 측정자는 조작부(24)를 조작하여 플리커값의 측정 명령을 제어 처리부(22)에 입력한다(스텝 S1).

제어부(221)는 n=1을 설정하고, 도 4에 도시하는 복수의 측정 조건 중, n번째의 측정 조건을 측정 조건 기억부(222)로부터 판독한다(스텝 S2). 여기서는 1번째의 측정 조건(측정 조건 (1))이 판독된다.

제어부(221)는, 측정 조건 (1)에 포함되는 표시 조건 ID7-1이 할당된, 도 5에 도시하는 표시 조건 (1)을 측정 조건 기억부(222)로부터 판독한다(스텝 S3).

제어부(221)는, 신호 생성부(227)에, 표시 조건 (1)에 포함되는 표시 패턴 정의 리스트에 따른 표시 패턴 신호를 생성시킨다. 제어부(221)는, 통신부(23)에 대하여, 표시 조건 (1)에 포함되는 구동 주파수를 나타내는 신호, 공통 전압을 나타내는 신호, 및 표시 패턴 신호를 송신하는 명령을 한다. 통신부(23)는, 9대의 스마트폰(SP)의 각각에 이들 신호를 송신한다. 이에 의해, 9대의 스마트폰(SP)은, 각각 표시 조건 (1) 하에서 DUT 화면(1-1 내지 1-9)을 구동시킨다.

제어부(221)는, 측정 조건 (1)에 포함되는 산출 조건 ID8-1이 할당된, 도 6에 도시하는 산출 조건 (1)을 측정 조건 기억부(222)로부터 판독한다(스텝 S4).

제어부(221)는, 촬영부(21)에 대하여, 산출 조건 (1)에 포함되는 촬영 조건 하에서, 9대의 스마트폰(SP)을 촬영시키는 명령을 한다. 촬영부(21)는, 산출 조건 (1)의 촬영 조건 하에서, 9대의 스마트폰(SP)을 촬영한다(스텝 S5). 상술한 바와 같이, 9대의 스마트폰(SP)은 각각 표시 조건 (1) 하에서 DUT 화면(1-1 내지 1-9)을 구동시키고 있다.

제어부(221)는, 제1 처리부(223)에 대하여, 산출 조건 (1)의 촬영 조건 하에서 촬영된 9대의 스마트폰(SP)의 화상, 및 산출 조건 (1)에 포함되는 영역 정의 리스트를 기초로 하여, 9대의 스마트폰(SP)의 각각에 탑재된 DUT 화면(1)(DUT 화면(1-1 내지 1-9))의 플리커값을 측정하는 명령을 한다. 제1 처리부(223)는, 이 명령에 따라 DUT 화면(1-1 내지 1-9)의 플리커값을 측정한다(스텝 S6). 이 측정의 상세는 후술한다.

제어부(221)는, 도 4에 도시하는 모든 측정 조건 하에서(바꾸어 말하면, 복수의 측정 조건의 각각의 하에서), 플리커값이 측정되었는지 여부를 판단한다(스텝 S7). 제어부(221)는, 모든 측정 조건 하에서, 플리커값이 측정되지 않았다고 판단하였을 때(스텝 S7에서 "아니오"), n=n+1을 설정한다(스텝 S8). 이에 의해, 다음 측정 조건(여기서는 측정 조건 (2))에 대하여, 스텝 S2 내지 스텝 S6의 처리가 이루어진다.

제어부(221)는, 모든 측정 조건 하에서, 플리커값이 측정되었다고 판단하였을 때(스텝 S7에서 "예"), 9대의 스마트폰(SP)의 각각에 탑재된 DUT 화면(1-1 내지 1-9)에 대하여, 각 DUT 화면(1)의 결부 데이터 리스트(251)를 생성하는 명령을 한다. 제2 처리부(224)는, 이 명령에 따라 DUT 화면(1-1 내지 1-9)의 각각의 결부 데이터 리스트(251)(결부 데이터 리스트(251-1 내지 251-9))를 생성한다(스텝 S9). 이미 설명한 바와 같이, 도 9는 DUT 화면(1-1)의 결부 데이터 리스트(251-1)의 일례를 도시한다.

제어부(221)는, 결부 데이터 리스트(251-1 내지 251-9)를 결부 데이터 기억부(226)에 기억시키는 명령을 한다. 제3 처리부(225)는, 이 명령에 따라 결부 데이터 리스트(251-1 내지 251-9)를 결부 데이터 기억부(226)에 기억시킨다(스텝 S10).

플리커값의 측정(스텝 S6)을 상세하게 설명한다. 이 측정에 대하여, 측정 조건 (1) 하에서 실행된 DUT 화면(1-1)의 플리커값의 측정을 예로 들어 설명한다. 도 11은, 이 측정을 설명하는 흐름도이다. 제1 처리부(223)는 i=1, j=1을 설정한다. i는, 촬영부(21)가 촬영한 화상(제2 화상)의 순번을 나타낸다. j는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 순번을 나타낸다. 제1 처리부(223)는, 도 6에 도시하는 산출 조건 (1)에 포함되는 촬영 조건 하에서 촬영하여 얻어진, 시계열로 배열하는 복수의 화상(제2 화상) 중 i번째의 화상을 취득한다(스텝 S21). 여기서는 1번째의 화상(제2 화상)이 취득된다. 1번째의 화상은 선두 화상이다. 촬영부(21)는 9대의 스마트폰(SP)의 동화상을 촬영하고 있으므로, i번째의 화상은 i번째의 프레임을 의미한다.

제1 처리부(223)는, 스텝 S21에서 취득된 화상에 포함되는 j번째의 측정 영역(10)을 구성하는 전체 화소의 휘도값을 취득한다(스텝 S22). 여기서는 1번째의 측정 영역(10)(측정 영역(10-1))이 대상으로 된다.

제1 처리부(223)는, 스텝 S22에서 취득된 휘도값의 대푯값을 취득한다(스텝 S23). 휘도값의 대푯값이란, 당해 측정 영역(10)의 휘도값에 대하여, 통계상의 경향을 나타내는 값이다. 휘도값의 대푯값은, 예를 들어 당해 측정 영역(10)을 구성하는 전체 화소의 휘도값의 평균값이다. 또한, 이차원 촬상 소자(212) 상의 위치에 따라 감도의 변동, 열 노이즈가 큰 경우, 예를 들어 중앙값을 휘도값의 대푯값으로 해도 된다.

제1 처리부(223)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 휘도값의 대푯값을 취득하였는지 여부를 판단한다(스텝 S24). 제1 처리부(223)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 휘도값의 대푯값을 취득하지 않았다고 판단하였을 때(스텝 S24에서 "아니오"), j=j+1을 설정한다(스텝 S25). 이에 의해, 다음 측정 영역(10)(여기서는 측정 영역(10-2))에 대하여, 스텝 S21 내지 스텝 S24의 처리가 이루어진다.

제1 처리부(223)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 휘도값의 대푯값을 취득하였다고 판단하였을 때(스텝 S24에서 "예"), 상술한 시계열로 배열하는 복수의 화상(제2 화상)의 전부에 대하여, 스텝 S21 내지 스텝 S24의 처리가 이루어졌는지 여부를 판단한다(스텝 S26).

제1 처리부(223)는, 시계열로 배열하는 복수의 화상의 전부에 대하여, 스텝 S21 내지 스텝 S24의 처리가 이루어지지 않았다고 판단하였을 때(스텝 S26에서 "아니오"), i=i+1을 설정한다(스텝 S27). 이에 의해, 다음 화상에 대하여, 스텝 S21 내지 스텝 S26의 처리가 이루어진다.

제1 처리부(223)는, 시계열로 배열하는 복수의 화상의 전부에 대하여, 스텝 S21 내지 스텝 S24의 처리가 이루어졌다고 판단하였을 때(스텝 S26에서 "예"), j=1을 설정하고, j번째의 측정 영역(10)의 플리커값을 산출한다(스텝 S28). 도 12는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각에 대하여, 플리커값의 산출을 설명하는 설명도이다. 1번째의 측정 영역(10)(측정 영역(10-1))을 예로 들어 플리커값의 산출에 대하여, 간단하게 설명한다. 제1 처리부(223)는, 1번째 내지 최후의 화상(제2 화상)의 각각으로부터 얻어진 측정 영역(10-1)의 휘도값의 대푯값(즉, 1번째의 화상으로부터 얻어진 측정 영역(10-1)의 휘도값의 대푯값, 2번째의 화상으로부터 얻어진 측정 영역(10-1)의 휘도값의 대푯값, …, 최후의 화상으로부터 얻어진 측정 영역(10-1)의 휘도값의 대푯값)을 사용하여, 측정 영역(10-1)의 플리커값을 산출한다. 1번째 내지 최후의 화상의 수는 촬영 매수이다.

제1 처리부(223)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 플리커값을 산출하였는지 여부를 판단한다(스텝 S29). 제1 처리부(223)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 플리커값을 산출하지 않았다고 판단하였을 때(스텝 S29에서 "아니오"), j=j+1을 설정한다(스텝 S30). 이에 의해, 다음 측정 영역(10)(여기서는 측정 영역(10-2))에 대하여, 스텝 S28 내지 스텝 S29의 처리가 이루어진다.

제1 처리부(223)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 플리커값을 산출하였다고 판단하였을 때(스텝 S29에서 "예"), 측정 조건 (1) 하에서 실행된 DUT 화면(1-1)의 플리커값의 측정이 종료된다.

실시 형태의 주된 효과를 설명한다. 결부 데이터(25)(도 9)는, 플리커의 측정 조건 하에서 측정된, DUT 화면(1)에 설정된 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각의 플리커값과, 그 측정 조건을 결부시킨 데이터이다. 실시 형태에 관한 이차원 플리커 측정 장치(2)는, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 결부 데이터(25)를 생성하고, 이들 결부 데이터(25)를 결부 데이터 기억부(226)에 기억시킨다. 따라서, 실시 형태에 관한 이차원 플리커 측정 장치(2)에 따르면, 플리커의 불균일의 평가에 필요한 데이터가 증가해도, 이것을 효율적으로 관리할 수 있다.

실시 형태의 변형예를 설명한다. 도 13은, 변형예에 관한 이차원 플리커 측정 장치(2a)의 구성을 도시하는 블록도이다. 이차원 플리커 측정 장치(2a)는, 도 3에 도시하는 실시 형태에 관한 이차원 플리커 측정 장치(2)를 전제로 하며, 제어 처리부(22)가 플리커 평가 지원 장치(228)를 구비한다. 실시 형태는, 동일 기종(바꾸어 말하면, 동일 모델)의 다수의 DUT 화면(1)에 대하여, 도 10에 도시하는 처리를 함으로써, 이들 DUT 화면(1)에 관한 결부 데이터 리스트(251)를 결부 데이터 기억부(226)에 기억시킨다. 동일 기종의 DUT 화면(1)의 수가 예를 들어 1000일 때, 결부 데이터 기억부(226)는 1000개의 결부 데이터 리스트(251)를 기억하고 있다. 변형예는, 이들 DUT 화면(1)에 관한 결부 데이터 리스트(251)를 사용하여 플리커값의 통계를 구한다.

플리커 평가 지원 장치(228)는, 이차원 플리커 측정 장치(2a)에 구비되어 있지만, 이차원 플리커 측정 장치(2a)로부터 독립된 장치여도 된다. 이 경우, 플리커 평가 지원 장치(228)는, 이차원 플리커 측정 장치(2a)에 구비되는 결부 데이터 기억부(226)에 기억되어 있는 결부 데이터 리스트(251)에 포함되는 결부 데이터(25)를 판독하여, 플리커값의 통계를 구한다.

플리커 평가 지원 장치(228)는, 산출부(2281)와, 생성부(2282)와, 출력부(2283)를 구비한다. 산출부(2281)는, 플리커값의 통계량(통계값)을 산출한다. 생성부(2282)는, 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 생성한다. 그래프는, 예를 들어 상자 수염 그림이어도 되고, Xbar-R 관리도여도 된다. 생성부(2282)는 통계를 취하는 목적에 따라 그래프의 종류를 바꾸어도 된다. 출력부(2283)는 그래프를 출력한다. 출력부(2283)는, 그래프를 표시부에 표시시키는 표시 제어부여도 되고, 그래프를 인쇄하는 인쇄부여도 된다. 출력부(2283)가 표시 제어부일 때, 표시 제어부는, 조작부(24)에 구비되는 디스플레이(표시부)에 그래프를 표시시켜도 되고, 이차원 플리커 측정 장치(2a)와 통신 가능한 컴퓨터 장치의 디스플레이(표시부)에 그래프를 표시시켜도 된다. 출력부(2283)가 인쇄부일 때, 이차원 플리커 측정 장치(2a)와 통신 가능한 프린터(인쇄부)가 그래프를 인쇄한다.

변형예에는 제1 변형예와 제2 변형예가 있다. 제1 변형예부터 설명한다. 도 13을 참조하여, 산출부(2281)는, 동일 기종의 다수의 DUT 화면(1)(복수의 DUT 화면(1))의 각각으로부터 얻어진, 복수의 측정 조건(도 4)의 각각에 관한 결부 데이터 리스트(251)에 포함되는 결부 데이터(25)(도 9)를 기초로 하여, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 플리커값의 통계량을 산출한다. 생성부(2282)는, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여, 산출부(2281)에 의해 산출된 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 생성한다. 출력부(2283)는, 생성부(2282)에 의해 생성된 그래프를 출력한다.

제어 처리부(22)를 실현하는 하드웨어의 하나인 HDD에는, 산출부(2281), 생성부(2282), 출력부(2283)의 각각을 실현하기 위한 프로그램이 저장되어 있다. 이들 프로그램은 산출 프로그램, 생성 프로그램, 출력 프로그램으로 표현된다. 이들 프로그램은 산출부(2281), 생성부(2282), 출력부(2283)의 정의를 사용하여 표현된다. 산출부(2281) 및 산출 프로그램을 예로 들어 설명한다. 산출부(2281)는, 상술한 바와 같다. 산출 프로그램은, 복수의 DUT 화면(1)의 각각으로부터 얻어진, 복수의 측정 조건의 각각에 관한 결부 데이터 리스트(251)에 포함되는 결부 데이터(25)를 기초로 하여, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 플리커값의 통계량을 산출하는 프로그램이다. 제어 처리부(22)를 실현하는 하드웨어의 하나인 CPU에 의해 실행되는 이들 프로그램(산출 프로그램, 생성 프로그램, 출력 프로그램)의 흐름도가, 후술하는 도 14이다. 이상 설명한 것은 후술하는 제2 변형예에서도 말할 수 있는 것이다.

제1 변형예에 관한 이차원 플리커 측정 장치(2a)에 구비되는 플리커 평가 지원 장치(228)의 동작을 설명한다. 도 14는, 이 동작을 설명하는 흐름도이다. 도 13 및 도 14를 참조하여, 산출부(2281)는 n=1을 설정하고, 결부 데이터 기억부(226)에 기억되어 있는 결부 데이터 리스트(251) 중에서 n번째의 측정 조건(도 4, 도 9)에 관한 결부 데이터(25)를 취득한다(스텝 S41). 여기서는 산출부(2281)는 1번째의 측정 조건(측정 조건 (1))에 관한 결부 데이터(25)를 취득한다. n번째의 측정 조건에 관한 결부 데이터(25)란, n번째의 측정 조건에 할당된 측정 조건 ID6과, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각의 플리커값이 결부된 데이터이다. 동일 기종의 DUT 화면(1)의 수가 예를 들어 1000일 때, n번째의 측정 조건에 관한 결부 데이터(25)의 수는 1000이 된다.

산출부(2281)는, 취득한 결부 데이터(25)에 포함되는 플리커값(여기서는 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 구별은 되지 않음)을 사용하여, n번째의 측정 조건에 관한 플리커값의 통계량(예를 들어, 플리커값의 최솟값, 플리커값의 제1 사분위, 플리커값의 중앙값(제2 사분위), 플리커값의 제3 사분위, 플리커값의 최댓값)을 산출한다(스텝 S42). 여기서는 1번째의 측정 조건(측정 조건 (1))에 관한 플리커값의 통계량이 산출된다.

산출부(2281)는, 복수의 측정 조건(도 4)의 전부에 대하여, 플리커값의 통계량을 산출하였는지 여부를 판단한다(스텝 S43). 산출부(2281)는, 복수의 측정 조건의 전부에 대하여, 플리커값의 통계량을 산출하지 않았다고 판단하였을 때(스텝 S43에서 "아니오"), n=n+1을 설정한다(스텝 S44). 이에 의해, 다음 측정 조건에 대하여, 스텝 S41 내지 스텝 S43의 처리가 이루어진다. 여기서는 2번째의 측정 조건(측정 조건 (2))이 대상으로 된다.

산출부(2281)는, 복수의 측정 조건의 전부에 대하여, 플리커값의 통계량을 산출하였다고 판단하였을 때(스텝 S43에서 "예"), 생성부(2282)는, 복수의 측정 조건의 각각의 하에서 측정된 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 생성한다(스텝 S45). 출력부(2283)는, 생성부(2282)에 의해 생성된 그래프를 출력한다(스텝 S46).

도 15는, 제1 변형예에 있어서, 생성부(2282)에 의해 생성된 그래프의 일례를 설명하는 설명도이다. 이 그래프는 상자 수염 그림이다. 복수의 측정 조건은 3개의 측정 조건으로 한다. 도 15를 참조하여, 측정 조건이 측정 조건 (1), 측정 조건 (2), 측정 조건(3)으로 변화함에 따라, 플리커값의 중앙값의 변화량에 대하여, 플리커값의 최댓값의 변화량이 크게 되어 있다. 이에 의해, 어떤 특정 측정 영역(10)의 플리커값이 큰 것을 알 수 있다.

제1 변형예에 따르면, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여, 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 출력한다. 따라서, DUT 화면(1)의 개발자, 설계자, 제조자 등은 이것을 참고로 하여 DUT 화면(1)의 개발, 설계, 제조 등을 할 수 있다.

제2 변형예를 설명한다. 제1 변형예는 복수의 측정 조건의 각각에 관한 플리커값의 통계량을 구하지만, 제2 변형예는 측정 영역(10-1 내지 10-5)(복수의 측정 영역(10))의 각각에 관한 플리커값의 통계량을 구한다. 제2 변형예는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 정의가 고정되므로, 복수의 측정 조건(도 4)은 산출 조건이 공통으로 되고, 표시 조건이 다르다. 예를 들어, 복수의 측정 조건의 각각의 산출 조건은, 산출 조건 (1)이다.

도 13을 참조하여, 산출부(2281)는, 동일 기종의 다수의 DUT 화면(1)(복수의 DUT 화면(1))의 각각으로부터 얻어진, 복수의 측정 조건(도 4)의 각각에 관한 결부 데이터 리스트(251)에 포함되는 결부 데이터(25)를 기초로 하여, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각에 대하여 플리커값의 통계량을 산출한다. 생성부(2282)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각에 대하여, 산출부(2281)에 의해 산출된 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 생성한다. 출력부(2283)는, 생성부(2282)에 의해 생성된 그래프를 출력한다.

제2 변형예에 관한 이차원 플리커 측정 장치(2a)에 구비되는 플리커 평가 지원 장치(228)의 동작을 설명한다. 도 16은, 이 동작을 설명하는 흐름도이다. j는 측정 영역(10)의 번호를 나타내고, n은 측정 조건의 번호를 나타낸다. 도 13 및 도 16을 참조하여, 산출부(2281)는 j=1, n=1을 설정하고, 결부 데이터 기억부(226)에 기억되어 있는 결부 데이터 리스트(251) 중에서 n번째의 측정 조건 하에서 측정된 j번째의 측정 영역(10)의 플리커값을 취득한다(스텝 S51). 여기서는 산출부(2281)는, 1번째의 측정 조건 하에서 측정된 1번째의 측정 영역(10)(측정 영역(10-1))의 플리커값을 취득한다.

산출부(2281)는, 복수의 측정 조건의 전부에 대하여, j번째의 측정 영역(10)의 플리커값을 취득하였는지 여부를 판단한다(스텝 S52). 여기서는 1번째의 측정 영역(10)(측정 영역(10-1))이 대상으로 된다. 산출부(2281)는, 복수의 측정 조건의 전부에 대하여, j번째의 측정 영역(10)의 플리커값을 취득하지 않았다고 판단하였을 때(스텝 S52에서 "아니오"), n=n+1을 설정한다(스텝 S53). 이에 의해, 다음 측정 조건에 대하여 스텝 S51 내지 스텝 S52의 처리가 이루어진다. 여기서는 2번째의 측정 조건이 대상으로 된다.

산출부(2281)는, 복수의 측정 조건의 전부에 대하여, j번째의 측정 영역(10)의 플리커값을 취득하였다고 판단하였을 때(스텝 S52에서 "예"), 지금까지 취득한 플리커값을 기초로 하여, j번째의 측정 영역(10)에 관한 플리커값의 통계량을 산출한다(스텝 S54). 여기서는 1번째의 측정 영역(10)(측정 영역(10-1))이 대상으로 된다.

산출부(2281)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 플리커값의 통계량을 산출하였는지 여부를 판단한다(스텝 S55). 산출부(2281)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 플리커값의 통계량을 산출하지 않았다고 판단하였을 때(스텝 S55에서 "아니오"), j=j+1, n=1을 설정한다(스텝 S56). 이에 의해, 다음 측정 영역(10)에 대하여, 스텝 S51 내지 스텝 S55의 처리가 이루어진다. 여기서는 2번째의 측정 영역(10)(측정 영역(10-2))이 대상으로 된다.

산출부(2281)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 전부에 대하여, 플리커값의 통계량을 산출하였다고 판단하였을 때(스텝 S55에서 "예"), 생성부(2282)는, 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각에 관한 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 생성한다(스텝 S57). 출력부(2283)는, 생성부(2282)에 의해 생성된 그래프를 출력한다(스텝 S58).

도 17은, 제2 변형예에 있어서, 생성부(2282)에 의해 생성된 그래프의 일례를 설명하는 설명도이다. 이 그래프는 상자 수염 그림이다. 측정 영역(10-1 내지 10-5) 중, 측정 영역(10-1 내지 10-3)에 대하여 플리커값의 통계량이 나타나고, 측정 영역(10-4 내지 10-5)에 대하여 플리커값의 통계량이 생략되어 있다. 측정 영역(10-3)의 플리커값의 변동이 큰 것을 알 수 있다.

제2 변형예에 따르면, DUT 화면(1)에 설정된 측정 영역(10-1 내지 10-5)의 각각에 대하여, 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 출력한다. 따라서, DUT 화면(1)의 개발자, 설계자, 제조자 등은, 이것을 참고로 하여 DUT 화면(1)의 개발, 설계, 제조 등을 할 수 있다.

(실시 형태의 정리)

실시 형태의 제1 국면에 관한 플리커 측정 장치는,

플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제1 처리부와,

상기 제1 처리부에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제2 처리부와,

상기 제2 처리부에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제3 처리부를 구비한다.

플리커 측정 장치는 스폿형 플리커 측정 장치여도 되고, 이차원 플리커 측정 장치여도 된다. 측정 조건 기억부 및 결부 데이터 기억부는, 플리커 측정 장치에 구비되어 있어도 되고, 다른 장치(예를 들어, 플리커 측정 장치와 통신 가능한 컴퓨터 장치)에 구비되어 있어도 된다.

측광량은, 휘도 및 화상 정보 신호를 총칭하는 물리량이다. 휘도는, 시감도 곡선 V(λ)의 분광 감도 특성을 갖는 이차원 촬상 소자 또는 프로브가 측정한 DUT 화면의 광 강도이다. 화상 정보 신호는, 임의의 분광 감도 특성을 갖는 이차원 촬상 소자가 DUT 화면을 촬영함으로써, 이차원 촬상 소자가 생성하는 광 강도 신호(RAW 화상 데이터)이다.

결부 데이터는, 플리커의 측정 조건 하에서 측정된, 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값과, 그 측정 조건을 결부시킨 데이터이다. 실시 형태의 제1 국면에 관한 플리커 측정 장치는, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여, 결부 데이터를 생성하고, 이들 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시킨다. 따라서, 실시 형태의 제1 국면에 관한 플리커 측정 장치에 따르면, 플리커의 불균일의 평가에 필요한 데이터가 증가해도, 이것을 효율적으로 관리할 수 있다.

상기 구성에 있어서, 상기 플리커 측정 장치는, 이차원 촬상 소자를 포함하는 촬영부를 구비하는 이차원 플리커 측정 장치이며, 상기 제1 처리부는, 상기 촬영부가 상기 측정 대상물을 촬영함으로써 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값을 산출한다.

이차원 플리커 측정 장치는, 플리커 측정용으로 제작된 장치여도 되고, 플리커 측정용 프로그램이 인스톨되어 있는 컴퓨터 장치(예를 들어, 퍼스널 컴퓨터, 태블릿 단말기, 스마트폰)여도 된다. 전자의 경우, 장치에 내장되어 있는 촬영부(카메라)가 측정 대상물을 촬영한다. 후자의 경우, 컴퓨터 장치에 외장된 촬영부(카메라)가 측정 대상물을 촬영한다.

상기 구성에 있어서, 상기 측정 조건은, 플리커 측정용의 제1 화상을 상기 측정 대상물에 표시시키는 데 사용되는 표시 조건과, 상기 촬영부가 상기 제1 화상을 표시하고 있는 상기 측정 대상물을 촬영하여 얻어진 제2 화상을 기초로 하여, 상기 플리커값을 산출하는 데 사용되는 산출 조건을 포함한다.

제1 화상은 테스트 패턴, 표시 패턴으로 바꾸어 말할 수 있다. 표시 조건은, 예를 들어 측정 대상물이 제1 화상을 표시하는 데 사용되는 구동 주파수 및 공통 전압, 그리고 제1 화상의 정의를 포함한다. 산출 조건은, 예를 들어 복수의 측정 영역의 각각의 위치 및 사이즈, 그리고 측정 대상물에 표시된 제1 화상의 촬영 간격 및 촬영 매수를 포함한다.

실시 형태의 제2 국면에 관한 플리커 측정 방법은,

플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제1 처리 스텝과,

상기 제1 처리 스텝에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제2 처리 스텝과,

상기 제2 처리 스텝에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제3 처리 스텝을 구비한다.

실시 형태의 제2 국면에 관한 플리커 측정 방법은, 실시 형태의 제1 국면에 관한 플리커 측정 장치를 방법의 관점에서 규정하고 있으며, 실시 형태의 제1 국면에 관한 플리커 측정 장치와 마찬가지의 작용 효과를 갖는다.

실시 형태의 제3 국면에 관한 플리커 측정 프로그램은,

상기 제2 처리 스텝에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제3 처리 스텝을 컴퓨터에 실행시킨다.

실시 형태의 제3 국면에 관한 플리커 측정 프로그램은, 실시 형태의 제1 국면에 관한 플리커 측정 장치를 프로그램의 관점에서 규정하고 있으며, 실시 형태의 제1 국면에 관한 플리커 측정 장치와 마찬가지의 작용 효과를 갖는다.

실시 형태의 제4 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치는,

결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 결부 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원하는 플리커 평가 지원 장치이며,

상기 결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 상기 결부 데이터는,

상기 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,

상기 제1 처리에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 상기 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,

상기 제2 처리에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 상기 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되어 얻어지고,

상기 플리커 평가 지원 장치는,

복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출부와,

복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 산출부에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성부와,

상기 생성부에 의해 생성된 상기 그래프를 출력하는 출력부를 구비한다.

플리커값의 통계량을 나타내는 그래프는, 예를 들어 상자 수염 그림, Xbar-R 관리도이다. 실시 형태의 제4 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치에 따르면, 복수의 측정 조건의 각각에 대하여 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 출력한다. 따라서, 측정 대상물의 개발자, 설계자, 제조자 등은, 이것을 참고로 하여 측정 대상물의 개발, 설계, 제조 등을 할 수 있다.

실시 형태의 제5 국면에 관한 플리커 평가 지원 방법은,

결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 결부 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원하는 플리커 평가 지원 방법이며,

상기 플리커 평가 지원 방법은,

복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출 스텝과,

복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 산출 스텝에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성 스텝과,

상기 생성 스텝에 의해 생성된 상기 그래프를 출력하는 출력 스텝을 구비한다.

실시 형태의 제5 국면에 관한 플리커 평가 지원 방법은, 실시 형태의 제4 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치를 방법의 관점에서 규정하고 있으며, 실시 형태의 제4 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치와 마찬가지의 작용 효과를 갖는다.

실시 형태의 제6 국면에 관한 플리커 평가 지원 프로그램은,

결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 결부 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원하는 플리커 평가 지원 프로그램이며,

상기 플리커 평가 지원 프로그램은,

상기 생성 스텝에 의해 생성된 상기 그래프를 출력하는 출력 스텝을 컴퓨터에 실행시킨다.

실시 형태의 제6 국면에 관한 플리커 평가 지원 프로그램은, 실시 형태의 제4 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치를 프로그램의 관점에서 규정하고 있으며, 실시 형태의 제4 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치와 마찬가지의 작용 효과를 갖는다.

실시 형태의 제7 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치는,

상기 플리커 평가 지원 장치는,

복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 영역의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출부와,

복수의 상기 측정 영역의 각각에 대하여, 상기 산출부에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성부와,

플리커값의 통계량을 나타내는 그래프는, 예를 들어 상자 수염 그림, Xbar-R 관리도이다. 실시 형태의 제7 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치에 따르면, 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각에 대하여, 플리커값의 통계량을 나타내는 그래프를 출력한다. 따라서, 측정 대상물의 개발자, 설계자, 제조자 등은, 이것을 참고로 하여 측정 대상물의 개발, 설계, 제조 등을 할 수 있다.

실시 형태의 제8 국면에 관한 플리커 평가 지원 방법은,

상기 플리커 평가 지원 방법은,

복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 영역의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출 스텝과,

복수의 상기 측정 영역의 각각에 대하여, 상기 산출 스텝에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성 스텝과,

실시 형태의 제8 국면에 관한 플리커 평가 지원 방법은, 실시 형태의 제7 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치를 방법의 관점에서 규정하고 있으며, 실시 형태의 제7 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치와 마찬가지의 작용 효과를 갖는다.

실시 형태의 제9 국면에 관한 플리커 평가 지원 프로그램은,

상기 플리커 평가 지원 프로그램은,

실시 형태의 제9 국면에 관한 플리커 평가 지원 프로그램은, 실시 형태의 제7 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치를 프로그램의 관점에서 규정하고 있으며, 실시 형태의 제7 국면에 관한 플리커 평가 지원 장치와 마찬가지의 작용 효과를 갖는다.

본 발명의 실시 형태가 상세하게 도시되며 또한 설명되었지만, 그것은 단순한 도시예 및 실시예로서 한정은 아니다. 본 발명의 범위는 첨부된 클레임의 문언에 의해 해석되어야 한다.

2018년 10월 17일에 제출된 일본 특허 출원 제2018-195624호는, 그 전체의 개시가 그 전체에 있어서 참조에 의해 여기에 원용된다.

본 발명에 따르면, 플리커 측정 장치, 플리커 측정 방법, 플리커 측정 프로그램, 플리커 평가 지원 장치, 플리커 평가 지원 방법 및 플리커 평가 지원 프로그램을 제공할 수 있다.

Claims

플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제1 처리부와,
상기 제1 처리부에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제2 처리부와,
상기 제2 처리부에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제3 처리부를 구비하는, 플리커 측정 장치.
제1항에 있어서, 상기 플리커 측정 장치는, 이차원 촬상 소자를 포함하는 촬영부를 구비하는 이차원 플리커 측정 장치이고,
상기 제1 처리부는, 상기 촬영부가 상기 측정 대상물을 촬영함으로써 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값을 산출하는, 플리커 측정 장치.
제2항에 있어서, 상기 측정 조건은,
플리커 측정용의 제1 화상을 상기 측정 대상물에 표시시키는 데 사용되는 표시 조건과,
상기 촬영부가 상기 제1 화상을 표시하고 있는 상기 측정 대상물을 촬영하여 얻어진 제2 화상을 기초로 하여, 상기 플리커값을 산출하는 데 사용되는 산출 조건을 포함하는, 플리커 측정 장치.
제3항에 있어서, 상기 산출 조건은, 복수의 상기 측정 영역의 각각의 위치 및 사이즈, 그리고 상기 측정 대상물에 표시된 상기 제1 화상의 촬영 간격 및 촬영 매수를 포함하는, 플리커 측정 장치.
플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제1 처리 스텝과,
상기 제1 처리 스텝에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제2 처리 스텝과,
상기 제2 처리 스텝에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제3 처리 스텝을 구비하는, 플리커 측정 방법.
플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제1 처리 스텝과,
상기 제1 처리 스텝에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제2 처리 스텝과,
상기 제2 처리 스텝에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행하는 제3 처리 스텝을 컴퓨터에 실행시키는, 플리커 측정 프로그램.
결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 결부 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원하는 플리커 평가 지원 장치이며,
상기 결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 상기 결부 데이터는,
상기 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제1 처리에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 상기 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제2 처리에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 상기 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되어 얻어지고,
상기 플리커 평가 지원 장치는,
복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출부와,
복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 산출부에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성부와,
상기 생성부에 의해 생성된 상기 그래프를 출력하는 출력부를 구비하는, 플리커 평가 지원 장치.
결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 결부 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원하는 플리커 평가 지원 방법이며,
상기 결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 상기 결부 데이터는,
상기 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제1 처리에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 상기 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제2 처리에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 상기 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되어 얻어지고,
상기 플리커 평가 지원 방법은,
복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출 스텝과,
복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 산출 스텝에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성 스텝과,
상기 생성 스텝에 의해 생성된 상기 그래프를 출력하는 출력 스텝을 구비하는, 플리커 평가 지원 방법.
결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 결부 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원하는 플리커 평가 지원 프로그램이며,
상기 결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 상기 결부 데이터는,
상기 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제1 처리에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 상기 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제2 처리에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 상기 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되어 얻어지고,
상기 플리커 평가 지원 프로그램은,
복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출 스텝과,
복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여, 상기 산출 스텝에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성 스텝과,
상기 생성 스텝에 의해 생성된 상기 그래프를 출력하는 출력 스텝을 컴퓨터에 실행시키는, 플리커 평가 지원 프로그램.
결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 결부 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원하는 플리커 평가 지원 장치이며,
상기 결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 상기 결부 데이터는,
상기 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제1 처리에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 상기 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제2 처리에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 상기 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되어 얻어지고,
상기 플리커 평가 지원 장치는,
복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 영역의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출부와,
복수의 상기 측정 영역의 각각에 대하여, 상기 산출부에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성부와,
상기 생성부에 의해 생성된 상기 그래프를 출력하는 출력부를 구비하는, 플리커 평가 지원 장치.
결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 결부 데이터를 기초로 하여, 플리커의 평가를 지원하는 플리커 평가 지원 방법이며,
상기 결부 데이터 기억부에 기억되어 있는 상기 결부 데이터는,
상기 플리커의 측정 조건 하에서 측정 대상물로부터 얻어지는 상기 측정 대상물의 측광량을 기초로 하여, 상기 측정 대상물에 설정된 복수의 측정 영역의 각각의 플리커값을 산출하는 제1 처리에 대하여, 측정 조건 기억부에 미리 기억되어 있는 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제1 처리에 의해 산출된 복수의 상기 측정 영역의 각각의 상기 플리커값으로 구성되는 데이터와, 상기 측정 조건을 결부시킨 상기 결부 데이터를 생성하는 제2 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되고,
상기 제2 처리에 의해 생성된 상기 결부 데이터를 상기 결부 데이터 기억부에 기억시키는 제3 처리에 대하여, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 대하여 실행되어 얻어지고,
상기 플리커 평가 지원 방법은,
복수의 상기 측정 대상물의 각각으로부터 얻어진, 복수의 상기 측정 조건의 각각에 관한 상기 결부 데이터를 기초로 하여, 복수의 상기 측정 영역의 각각에 대하여, 상기 플리커값의 통계량을 산출하는 산출 스텝과,
복수의 상기 측정 영역의 각각에 대하여, 상기 산출 스텝에 의해 산출된 상기 통계량을 나타내는 그래프를 생성하는 생성 스텝과,
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상기 생성 스텝에 의해 생성된 상기 그래프를 출력하는 출력 스텝을 컴퓨터에 실행시키는, 플리커 평가 지원 프로그램.