KR102651570B1 - 유리 리본을 제조하기 위한 장치 및 방법들 - Google Patents

Abstract

유리 제조 장치는 용기 및 광의 빔을 수신하도록 위치된 필터를 포함한다. 상기 필터는 상기 필터를 통해 상기 광의 빔의 제2 파장 성분을 통과시키는 한편 상기 광의 빔으로부터의 제1 파장 성분이 상기 필터를 통해 통과하는 것을 막는다. 상기 유리 제조 장치는 상기 필터를 통과하여 상기 용기 내에서 반사된 상기 제2 파장 성분을 수신하도록 위치된 센서를 포함한다. 또한, 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법들 및 유리를 제조하는 방법들이 제공된다.

Description

유리 리본을 제조하기 위한 장치 및 방법들

본 개시는 개괄적으로 유리 리본을 제조하기 위한 방법들 및 장치, 및, 보다 구체적으로, 유리 측정 장치를 사용하여 유리 리본을 제조하는 방법들에 관한 것이다.

본 출원은 2018년 8월 21일 출원된 미국 가출원 제62/720446호의 35 U.S.C.§119 하의 우선권이 이익을 주장하며, 그 내용은 의존되며 그 전체가 참조에 의해 본 명세서에 결합된다.

레벨 센서를 이용하여 유리 제조 공정 동안 용융 물질의 레벨을 측정하는 것이 알려져 있다. 상기 용융 물질과 상기 레벨 센서 사이의 접촉은 상기 용융 물질에 원하지 않은 오염물들을 도입할 수 있다. 또한, 상기 레벨 센서는 상기 용융 물질의 레벨 변동으로 인하여 특정 위치들에서 사용가능하지 않을 수 있다.

본 발명이 해결하려는 과제는 상술한 문제점을 해결하는 것이다.

다음은 상세한 설명에서 설명되는 일부 실시예들에 대한 기본적인 이해를 제공하도록 본 개시의 간략화된 요약을 나타낸다.

일부 실시예들에서, 유리 제조 장치는 용기를 포함할 수 있다. 상기 유리 제조 장치는 광의 빔을 수신하도록 위치된 필터를 포함할 수 있다. 상기 필터는 상기 광의 빔으로부터의 제1 파장 성분이 상기 필터를 통과하는 것을 막는 한편 상기 필터를 통해 상기 광의 빔의 제2 파장 성분을 통과시킬 수 있다. 상기 유리 제조 장치는 상기 필터를 통과하고 상기 용기 내에서 반사된 상기 제2 파장 성분을 수신할 수 있는 센서를 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 제2 파장 성분은 상기 제1 파장 성분의 파장보다 작은 파장을 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 제2 파장 성분은 약 600 나노미터 미만의 파장을 포함할 수 있고, 상기 제1 파장 성분은 약 600 나노미터 초과의 파장을 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치는 상기 용기 내에 배치된 자유 표면을 가지는 용융 물질을 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 센서는 상기 용기 내에 위치된 상기 용융 물질의 상기 자유 표면으로부터 반사된 상기 제2 파장 성분을 수용하도록 위치될 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치는 상기 광의 빔을 방출하도록 위치된 광원을 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치는 상기 광의 빔을 상기 제1 파장 성분 및 상기 제2 파장 성분을 포함하는 복수의 파장 성분들로 분할하도록 구성된 렌즈를 더 포함할 수 있고, 상기 필터는 상기 렌즈로부터 상기 분할된 광의 빔을 수신하도록 위치될 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치는 상기 필터 또는 상기 센서 중 하나 이상이 위치된 자켓(jacket) 내부를 정의하는 자켓을 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 자켓은 광학적으로 투명할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법들은 용융 물질의 자유 표면으로부터 제2 파장 성분을 포함하는 광의 빔을 반사시키는 단계를 포함할 수 있다. 방법들은 상기 용융 물질의 상기 자유 표면으로부터 반사된 상기 광의 빔으로부터 상기 제2 파장 성분을 센싱하는 단계를 포함할 수 있다. 방법들은 상기 광의 빔의 상기 감지된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 용융 물질의 레벨을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 제2 파장 성분을 포함하는 상기 광의 빔을 반사시키는 단계 전에 상기 광의 빔으로부터 제1 파장 성분을 제거하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 제2 파장 성분을 포함하는 상기 광의 빔을 반사시키는 단계 전에 상기 광의 빔으로부터 제1 파장 성분을 제거하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 광의 빔으로부터 상기 제1 파장 성분을 제거하기 전에, 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하기 위한 방법들은 상기 제1 파장 성분 및 상기 제2 파장 성분을 포함하는 복수의 파장 성분들로 상기 광의 빔을 분할하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 제2 파장 성분은 상기 제1 파장 성분의 파장보다 작은 파장을 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 제2 파장 성분을 센싱하는 센서를 냉각시키는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 광의 빔으로부터 상기 제1 파장 성분을 제거하는 필터를 냉각시키는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 용융 물질의 상기 결정된 레벨에 기초하여 상기 용융 물질의 유량을 변경하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유량을 변경하는 단계는 상기 용융 물질의 온도를 조절하는 단계를 포함한다.

일부 실시예들에서, 상기 유량을 변경하는 단계는 상기 용융 물질로부터 형성된 유리 리본의 중량에 더 기초할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리를 제조하는 방법들은 배치(batch) 채움 속도로 용융 용기에 배치 물질을 공급하는 단계를 포함할 수 있다. 방법들은 용융 물질 내로 상기 배치 물질을 용융시키는 단계를 포함할 수 있다. 방법들은 상기 용융 물질의 자유 표면으로부터 제2 파장 성분을 포함하는 광의 빔을 반사시키는 단계를 포함할 수 있다. 방법들은 상기 용융 물질의 상기 자유 표면으로부터 반사된 상기 광의 빔으로부터 상기 제2 파장 성분을 센싱하는 단계를 포함할 수 있다. 방법들은 상기 센싱된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 배치 채움 속도를 변경하는 단계를 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리를 제조하는 방법들은 상기 센싱된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 용융 물질의 레벨을 결정하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 배치 채움 속도를 변경하는 단계는 상기 용융 물질의 상기 결정된 레벨에 기초할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 제2 파장 성분은 상기 제1 파장 성분의 파장보다 작은 파장을 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리를 제조하는 방법들은 상기 제2 파장 성분을 감지하는 센서를 냉각시키는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리를 제조하는 방법들은 상기 광의 빔으로부터 상기 제1 파장 성분을 제거하는 필터를 냉각시키는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리를 제조하는 방법들은 상기 센싱된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 용융 물질의 온도를 조절하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 배치 채움 속도를 변경하는 단계는 상기 용융 물질로부터 형성된 유리 리본의 중량에 더 기초할 수 있다.

전술한 개괄적인 설명 및 다음의 상세한 설명은 본 개시의 실시예들을 나타내며, 그들이 설명되고 청구되는 것처럼 실시예들의 속성 및 특성을 이해하기 위한 개요 또는 틀을 제공하도록 의도된다는 것이 이해될 것이다. 첨부된 도면들은 실시예들에 대한 추가적인 이해를 제공하기 위해 포함되며 본 명세서에 결합되어 그 일부를 구성한다. 도면들은 본 개시의 다양한 실시예들을 도시하며, 설명과 함께 그 원리들 및 동작들을 설명한다.

본 개시의 이들 및 다른 특징들, 실시예들 및 장점들은 첨부된 도면들을 참조하여 읽혀질 때 더 이해될 수 있다.
도 1은 본 개시의 실시예들에 따른 유리 제조 장치의 예시적인 실시예를 개략적으로 도시한다.
도 2는 본 개시의 실시예들에 따른 도 1 의 2-2 선을 따른 상기 유리 제조 장치의 단면 사시도를 나타낸다.
도 3은 본 개시의 실시예들에 따른 유리 제조 장치의 일부 실시예들의 개략적인 전면도를 도시한다.
도 4는 본 개시의 실시예들에 따른 상기 유리 측정 장치 및 용기의 일부 실시예들의 전면도를 개략적으로 도시한다.
도 5는 본 개시의 실시예들에 따른 상기 유리 제조 장치의 추가적인 실시예들을 개략적으로 도시한다.
도 6은 본 개시의 실시예들에 따른 용융 물질의 결정된 레벨에 기초하여 배치 물질의 배치 채움 속도를 변경하기 위한 공정의 예시적인 실시예를 개략적으로 도시한다.
도 7은 본 개시의 실시예들에 따른 배치 물질의 상기 배치 채움 속도 및 상기 용융 물질의 온도를 제어할 수 있는 컨트롤러를 포함하는 상기 유리 제조 장치의 추가적인 실시예들을 개략적으로 도시한다.
도 8은 본 개시의 실시예들에 따른 배치 물질의 상기 배치 채움 속도 및 상기 용융 물질의 상기 온도를 제어할 수 있는 컨트롤러를 포함하는 상기 유리 제조 장치의 추가적인 실시예들을 개략적으로 도시한다.
도 9는 본 개시의 실시예들에 따른 배치 물질의 상기 배치 채움 속도 및 상기 용융 물질의 상기 온도를 제어할 수 있는 컨트롤러를 포함하는 상기 유리 제조 장치의 추가적인 실시예들을 개략적으로 도시한다.

이제 실시예들이 예시적인 실시예들이 도시된 첨부된 도면들을 참조하여 이후에 보다 상세히 설명될 것이다. 가능할 때마다, 동일한 참조 번호들은 동일하거나 유사한 부분들을 나타내도록 도면들에 걸쳐 사용된다. 그러나, 본 개시는 많은 다양한 형태들로 실시될 수 있으며 본 명세서에 제시된 실시예들로 제한되는 것으로 해석되지 않아야 한다.

본 개시의 장치 및 방법들은 유리 시트들로 이후 분할될 수 있는 유리 리본을 제공할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 시트들은 평행사변형, 예컨대 직시각형(예를 들어, 정사각형), 사다리꼴, 또는 다른 형상을 형성하는 4개의 엣지들을 구비할 수 있다. 추가적인 실시예들에서, 상기 유리 시트들은 하나의 연속적인 엣지를 가지는 둥근, 길쭉한, 또는 타원형 유리 시트일 수 있다. 다른 유리 시트들은 2개, 3개, 5개 등의 굽은 및/또는 곧은 엣지들을 포함하는 다른 유리 시트들이 또한 제공될 수 있고 본 설명의 범위 내인 것으로 고려된다. 다양한 길이들, 높이들, 및 두께들을 포함하는 다양한 크기들의 유리 시트들이 또한 고려된다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 시트들의 평균 두께는 상기 유리 시트의 대향하는 주표면들 사이에 다양한 평균 두께들일 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 시트의 평균 두께는 50 마이크로미터(μm) 초과, 예컨대 약 50μm 내지 약 1 밀리미터(mm), 예컨대 약 100μm 내지 약 300μm일 수 있으나, 다른 두께들이 추가적인 실시예들에서 제공될 수 있다. 유리 시트들은 광범위한 디스플레이 응용들, 예컨대, 그러나 이에 제한되지 않는, 액정 디스플레이들(LCDs), 전기영동 디스플레이들(EPD), 유기 발광 다이오드 디스플레이들(OLEDs), 및 플라즈마 디스플레이 패널들(PDPs)에 사용될 수 있다.

도 1에 개략적으로 도시된 것처럼, 일부 실시예들에서, 예시적인 유리 제조 장치(100)는 다량의 용융 물질(121)로부터 유리 리본(103)을 생산하도록 설계된 성형 용기(140)를 포함하는 유리 형성 장치(101)를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)은 상기 유리 리본(103)의 제1 측방향 엣지(153) 및 제2 측방향 엣지(155)를 따라 형성된 대향하는 비교적 두꺼운 엣지 비드들 사이에 배치된 중심부(152)를 포함할 수 있다. 추가적으로, 일부 실시예들에서, 유리 시트(104)는 유리 분리기(149)(예를 들어, 스크라이브, 스코어 휠, 다이아몬드 팁, 레이저 등)에 의해 분리 경로(151)를 따라 상기 유리 리본(103)으로부터 분리될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 분리기(149)로 상기 유리 리본(103)을 분리하기 전 또는 후에, 상기 제1 측방향 엣지(153) 및 상기 제2 측방향 엣지(155)를 따라 형성된 비교적 두꺼운 엣지 비드들이 제거되어 중심부(152)를 균일한 두께를 포함하는 고품질 유리 리본(103)으로 제공할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100)는 저장 통(109)으로부터 배치 물질(107)을 수용하도록 배향된 용융 용기(105)를 포함할 수 있다. 상기 배치 물질(107)은 모터(113)에 의해 구동되는 배치 운반 장치(111)에 의해 도입될 수 있다. 일부 실시예들에서, 유리를 제조하는 방법들은 상기 용융 용기(105)에 배치 채움 속도로 상기 배치 물질(107)을 공급하는 단계를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 컨트롤러(115)는 화살표(117)에 의해 표시된 상기 용융 용기(105) 내로 배치 물질(107)의 원하는 양을 도입하도록 상기 모터(113)를 활성화시키도록 작동할 수 있다. 상기 용융 용기(105)는 용융 물질(121)을 제공하도록 상기 배치 물질(107)을 가열할 수 있다. 유리를 제조하는 방법들은 상기 배치 물질(107)을 상기 용융 물질(121)로 용융시키는 단계를 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리 측정 장치(119a, 119b)는 용기(예를 들어, 청징 용기(127), 혼합 챔버(131), 운반 용기(133), 하나 이상의 연결 도관들(135, 137) 등) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 측정하고 측정된 정보를 통신 라인(120a, 120b)을 통해 상기 컨트롤러(115)에 통신하는데 사용될 수 있다. 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)에 의해 측정된 상기 용융 물질(121)의 레벨에 기초하여, 상기 컨트롤러(115)는 예를 들어 상기 모터(113)의 속도를 조절함으로써 상기 배치 채움 속도를 변경할 수 있다. 예를 들어, 상기 컨트롤러(115)는 상기 용기(301)(도 3 참조) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 측정하는 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)로부터 레벨 통신 라인들(120a, 120b)을 통해 레벨을 수신할 수 있다. 일부 실시예들에서, 소정의 레벨 설정점(123)이 상기 용융 물질(121)의 레벨을 제어하기 위해 컨트롤러(115)에 제공될 수 있다. 상기 소정의 레벨 설정점(123)과 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b)에 의해 상기 컨트롤러(115)에 제공되는 상기 유리 레벨 사이의 차이에 기초하여, 상기 컨트롤러(115)는 속도 명령 라인(122)을 통해 상기 모터(113)로의 속도 명령을 조절할 수 있다. 상기 모터(113)는 상기 용융 용기(105)로의 상기 배치 물질(107)의 배치 채움 속도를 증가시키거나 감소시키도록 상기 배치 운반 장치(111)의 속도를 제어할 수 있다.

또한, 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100)는 상기 용융 용기(105)로부터 하류에 위치되며 제1 연결 도관(129)을 통해 상기 용융 용기(105)에 결합된 상기 청징 용기(127)를 포함하는 제1 컨디셔닝 스테이션을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 용융 물질(121)은 상기 제1 연결 도관(129)을 통해 상기 용융 용기(105)로부터 상기 청징 용기(127)로 중력 공급될 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 중력은 상기 용융 물질(121)을 상기 용융 용기(105)로부터 상기 청징 용기(127)로의 상기 제1 연결 도관(129)의 내부 경로를 통해 드라이브할 수 있다. 또한, 일부 실시예들에서, 기포들이 다양한 기술들에 의해 상기 청징 용기(127) 내의 상기 용융 물질(121)로부터 제거될 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100)는 상기 청징 용기(127)로부터 하류에 위치될 수 있는 상기 혼합 챔버(131)를 포함하는 제2 컨디셔닝 스테이션을 더 포함할 수 있다. 상기 혼합 챔버(131)는 용융 물질(121)의 균질한 조성을 제공하는데 사용될 수 있으며, 이로써 상기 청징 용기(127)를 빠져 나가는 상기 용융 물질(121) 내에 존재할 수 있는 불균질성을 감소시키거나 제거할 수 있다. 도시된 바와 같이, 상기 청징 용기(127)는 제2 연결 도관(135)을 통해 상기 혼합 챔버(131)에 결합될 수 있다. 일부 실시예들에서, 용융 물질(121)은 상기 제2 연결 도관(135)을 통해 상기 청징 용기(127)로부터 상기 혼합 챔버(131)로 중력 공급될 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 중력은 상기 용융 물질(121)을 상기 청징 용기(127)로부터 상기 혼합 챔버(131)로 상기 제2 연결 도관(135)의 내부 경로를 통해 드라이브할 수 있다.

또한, 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100)는 상기 혼합 챔버(131)로부터 하류에 위치될 수 있는 운반 용기(133)를 포함하는 제3 컨디셔닝 스테이션을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 운반 용기(133)는 상기 성형 용기(140)의 입구 도관(141) 내로 투입되는 상기 용융 물질(121)을 컨디셔닝할 수 있다. 예를 들어, 상기 운반 용기(133)는 상기 입구 도관(141)으로의 용융 물질(121)의 일정한 유동을 조절 및 제공하도록 축적기 및/또는 유동 제어기로서 기능할 수 있다. 도시된 바와 같이, 상기 혼합 챔버(131)는 제3 연결 도관(137)을 통해 상기 운반 용기(133)에 결합될 수 있다. 일부 실시예들에서, 용융 물질(121)이 상기 제3 연결 도관(137)을 통해 상기 혼합 챔버(131)로부터 상기 운반 용기(133)로 중력 공급될 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 중력은 상기 혼합 챔버(131)로부터 상기 운반 용기(133)로 상기 제3 연결 도관(137)의 내부 경로를 통해 상기 용융 물질(121)을 드라이브할 수 있다. 더 도시된 바와 같이, 일부 실시예들에서, 운반 파이프(139)(다운 커머(downcomer))는 상기 입구 도관(141)으로 용융 물질(121)을 운반하도록 위치될 수 있다.

용기들을 형성하는 다양한 실시예들이 유리 리본을 퓨전 드로잉하기 위한 Ÿ‡지(wedge)를 가지는 성형 용기, 상기 유리 리본을 슬롯 드로우하기 위한 슬롯을 가지는 성형 용기, 또는 상기 성형 용기로부터 상기 유리 리본을 프레스 롤하기 위한 프레스 롤들을 구비한 성형 용기를 포함하는 본 개시의 특징들에 따라 제공될 수 있다. 예로서, 도시되며 아래 개시된 성형 용기(140)는 유리 리본(103)을 생산하도록 성형 Ÿ‡지(209)의 루트(root)(145)로부터 용융 물질(121)을 퓨전 드로우하도록 제공될 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 상기 용융 물질(121)은 상기 입구 도관(141)으로부터 상기 성형 용기(140)로 운반될 수 있다. 상기 용융 물질(121)은 이후 상기 성형 용기(140)의 구조에 부분적으로 기초하여 상기 유리 리본(103)으로 성형될 수 있다. 예를 들어, 도시된 바와 같이, 상기 용융 물질(121)은 상기 유리 제조 장치(100)의 유리 리본 이동 방향(154)으로 연장되는 드로우 경로를 따라 상기 성형 용기(140)의 바닥 엣지(예를 들어, 루트(145))로부터 드로우될 수 있다. 일부 실시예들에서, 엣지 디렉터들(163, 164)은 상기 용융 물질(121)을 상기 성형 용기(140)로부터 지향시킬 수 있으며, 부분적으로 상기 유리 리본(103)의 폭(W)을 정의할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)의 폭(W)은 상기 유리 리본(103)의 상기 제1 측방향 엣지(153) 및 상기 유리 리본(103)의 상기 제2 측방향 엣지(155) 사이에 연장될 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)의 폭(W)은 약 20mm 이상, 예컨대 약 50mm 이상, 예컨대 약 100mm 이상, 예컨대 약 500mm 이상, 예컨대 약 1000mm 이상, 예컨대 약 2000mm 이상, 예컨대 약 3000mm 이상, 예컨대 약 4000mm 이상일 수 있으나, 추가적인 실시예들에서 위에서 언급된 폭들보다 작거나 큰 다른 폭들이 제공될 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)의 폭(W)은 약 20mm 내지 약 4000mm 예컨대 약 50mm 내지 약 4000mm, 예컨대 약 100mm 내지 약 4000mm, 예컨대 약 500mm 내지 약 4000mm, 예컨대 약 1000mm 내지 약 4000mm, 예컨대 약 2000mm 내지 약 4000mm, 예컨대 약 3000mm 내지 약 4000mm, 예컨대 약 20mm 내지 약 3000mm, 예컨대 약 50mm 내지 약 3000mm, 예컨대 약 100mm 내지 약 3000mm, 예컨대 약 500mm 내지 약 3000mm, 예컨대 약 1000mm 내지 약 3000mm, 예컨대 약 2000mm 내지 약 3000mm, 예컨대 약 2000mm 내지 약 2500mm, 및 그 사이의 모든 범위들 및 하위 범위들일 수 있다.

도 2는 도 1의 2-2 선을 따른 상기 유리 제조 장치(100)의 단면 사시도를 도시한다. 일부 실시예들에서, 상기 성형 용기(140)는 상기 입구 도관(141)으로부터 상기 용융 물질(121)을 수용하도록 배향된 홈통(trough)(201)을 포함할 수 있다. 예시적 목적들로, 간결성을 위해 상기 용융 물질(121)의 크로스-해칭(cross-hatching)이 도 2로부터 제거되었다. 상기 성형 용기(140)는 상기 성형 Ÿ‡지(209)의 반대 단들(210, 211)(도 1 참조) 사이에 연장되는 한 쌍의 하방으로 경사진 수렴하는 표면부들(207, 208)을 포함하는 상기 성형 Ÿ‡지(209)를 더 포함할 수 있다. 상기 성형 Ÿ‡지(209)의 상기 한 쌍의 하방으로 경사진 수렴하는 표면부들(207, 208)은 상기 유리 리본 이동 방향(154)을 따라 수렴하여 상기 성형 Ÿ‡지(209)의 바닥 엣지를 따라 교차하여 상기 성형 용기(140)의 상기 루트(145)를 정의할 수 있다. 상기 유리 제조 장치(100)의 드로우 평면(213)은 상기 유리 리본 이동 방향(154)을 따라 상기 루트(145)를 통해 연장될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)은 상기 드로우 평면(213)을 따라 상기 유리 리본 이동 방향(154)으로 드로우될 수 있다. 도시된 바와 같이, 상기 드로우 평면(213)은 상기 루트(145)를 통해 상기 성형 Ÿ‡지(209)를 이등분할 수 있으나, 다른 실시예들에서, 상기 드로우 평면(213)은 상기 루트(145)에 대하여 다른 방향들로 연장될 수 있다.

또한, 일부 실시예들에서, 상기 용융 물질(121)은 상기 성형 용기(140)의 상기 홈통(201) 내로 방향(156)으로 유동할 수 있다. 상기 용융 물질(121)은 이후 대응하는 둑들(weirs)(203, 204) 상으로 그리고 아래로 상기 대응하는 둑들(203, 204)의 외표면들(205, 206) 상으로 동시에 유동함으로써 상기 홈통(201)으로부터 넘쳐 흐를 수 있다. 용융 물질(121)의 각각의 흐름들은 이후 상기 성형 Ÿ‡지(209)의 상기 하방으로 경사진 수렴하는 표면부들(207, 208)을 따라 유동하여 상기 성형 용기(140)의 루트(145)로부터 드로우되고, 여기서 상기 흐름들은 수렴하여 상기 유리 리본(103)으로 융합한다. 상기 유리 리본(103)은 이후 상기 유리 리본 이동 방향(154)을 따라 상기 드로우 평면(213) 내에서 상기 루트(145)로부터 퓨전 드로우될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 분리기(149)(도 1 참조)는 이후 상기 분리 경로(151)를 따라 상기 유리 리본(103)의 일부를 후속적으로 분리할 수 있다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이, 유리 시트(104)의 형태의 유리 리본(103)의 부분은 상기 분리 경로(151)를 따라 상기 유리 리본(103)으로부터 분리될 수 있다. 도시된 바와 같이, 일부 실시예들에서, 상기 분리 경로(151)는 상기 제1 측방향 엣지(153)와 상기 제2 측방향 엣지(155) 사이에서 상기 유리 리본(103)의 폭(W)을 따라 연장될 수 있다. 또한, 일부 실시예들에서, 상기 분리 경로(151)는 상기 유리 리본(103)의 상기 유리 리본 이동 방향(154)에 수직하게 연장될 수 있다. 또한, 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본 이동 방향(154)은 상기 유리 리본(103)이 상기 성형 용기(140)로부터 퓨전 드로우될 수 있는 방향을 정의할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)은 상기 유리 리본 이동 방향(154)을 따라 이동함에 따라 ≥50mm/s, ≥100mm/s, 또는 ≥500mm/s, 예를 들어 약 50mm/s 내지 약 500mm/s, 예컨대 약 100mm/s 내지 약 500mm/s, 및 그 사이의 모든 범위들 및 하위 범위들의 속도를 포함할 수 있다.

도 2에 도시된 바와 같이, 반대 방향들을 향하며 상기 유리 리본(103)의 두께(T)(예를 들어, 평균 두께)를 정의하는 상기 유리 리본(103)의 제1 주표면(215) 및 상기 유리 리본(103)의 제2 주표면(216)을 가지는 상기 유리 리본(103)이 상기 루트(145)로부터 드로우될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)의 두께(T)는 약 2 밀리미터(mm) 이하, 약 1 밀리미터 이하, 약 0.5 밀리미터 이하, 예를 들어 약 300 마이크로미터(μm) 이하, 약 200 마이크로미터 이하, 또는 약 100 마이크로미터 이하일 수 있으나, 추가적인 실시예들에서 다른 두께들이 제공될 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)의 두께(T)는 약 50μm 내지 약 750μm, 약 100μm 내지 약 700μm, 약 200μm 내지 약 600μm, 약 300μm 내지 약 500μm, 약 50μm 내지 약 500μm, 약 50μm 내지 약 700μm, 약 50μm 내지 약 600μm, 약 50μm 내지 약 500μm, 약 50μm 내지 약 400μm, 약 50μm 내지 약 300μm, 약 50μm 내지 약 200μm, 약 50μm 내지 약 100μm일 수 있으며, 그 사이의 두께들의 모든 범위들 및 하위 범위들을 포함한다. 또한, 상기 유리 리본(103)은 소다-라임 유리, 보로실리케이트 유리, 알루미노-보로실리케이트 유리, 알칼리-함유 유리, 또는 무알칼리 유리를 포함하나 이에 제한되지 않는 다양한 조성들을 포함할 수 있다.

도 3을 참조하면, 일부 실시예들에서, 상기 유리 측정 장치(119a)는 용기(301) 근처에 위치될 수 있다. 상기 용기(301)가 상기 유리 제조 장치(100)의 여러 다양한 구조들을 포함할 수 있으므로 도 3에서 상기 용기(301)는 개략적으로 도시되었다는 것이 이해될 것이다. 예를 들어, 상기 용기(301)는 상기 청징 용기(127), 상기 제1 연결 도관(129), 상기 혼합 챔버(131), 상기 운반 용기(133), 상기 제2 연결 도관(135), 상기 제3 연결 도관(137) 등 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100)는 상기 용기(301) 내에 위치된 자유 표면(303)을 가지는 상기 용융 물질(121)을 포함할 수 있다. 상기 자유 표면(303)은 상기 용융 물질(121)의 최상단 레벨을 포함할 수 있으며, 그 위에는 상기 자유 표면(303)과 접촉하는 대기가 있을 수 있다. 상기 용기(301)는 상기 유리 측정 장치(119a)가 상기 용융 물질(121)의 레벨을 측정할 수 있는 용기 개구(305)를 정의할 수 있는 용기 벽을 포함할 수 있다.

도 3은 하나의 유리 측정 장치(119a)를 도시하나, 다른 유리 측정 장치(예를 들어, 유리 측정 장치(119b))가 구조적 기능적으로 실질적으로 유사할 수 있다. 예를 들어, 복수의 유리 측정 장치(119a, 119b)는 하나 이상의 용기들(303) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 측정하도록 상기 유리 제조 장치(100) 내에 제공될 수 있다. 도 1을 간략히 참조하면, 하나의 유리 측정 장치(119a)는 상기 혼합 챔버(131)에 부착될 수 있는 한편, 다른 유리 측정 장치(119b)는 상기 운반 용기(133)에 부착될 수 있다. 상기 용융 물질(121)의 레벨은 따라서 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)에 의해 상기 유리 제조 장치(100) 내의 복수의 위치들에서 측정될 수 있다.

상기 유리 측정 장치(119a)는 예컨대 상기 용기 개구(305)를 향함으로써 상기 용기(301)를 향하도록 배향될 수 있는 광원(307)을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 광원(307)은 상기 용기(301)를 향해 그리고 상기 용기 개구(305)를 통해 광의 빔(309)을 방출하도록 위치될 수 있다. 예를 들어, 상기 광의 빔(309)은 박색 광을 포함할 수 있고, 상기 용기(301)의 상기 용기 개구(305)를 통과할 수 있으며, 그 결과 상기 광의 빔(309)은 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)으로부터 반사될 수 있다.

상기 유리 측정 장치(119a)는 렌즈(311)를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 렌즈(311)는 상기 광원(307)으로부터 광의 빔(309)을 수신하도록 위치될 수 있다. 상기 렌즈(311)는 상기 광원(307)과 상기 용기(301) 사이에, 예를 들어, 상기 광원(307)과 상기 용기 개구(305) 사이에 위치될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 렌즈(311)는 상기 광의 빔(309)을 제1 파장 성분(315) 및 제2 파장 성분(317)을 포함하는 복수의 파장 성분들(313)로 분할한다. 상기 복수의 파장 성분(313)은 다른, 추가적인, 파장 성분들, 예컨대 제3 파장 성분(319) 등을 포함할 수 있다. 상기 복수의 파장 성분들(313)은 상기 광의 빔(309)의 스펙트럼 파장 성분들, 예컨대 적색 스펙트럼 파장 성분, 녹색 스펙트럼 파장 성분, 청색 스펙트럼 파장 성분 등을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 적색 스펙트럼 파장 성분은 상기 제1 파장 성분(315)에 의해 대표될 수 있으며, 상기 녹색 스펙트럼 파장 성분은 상기 제2 파장 성분(317)에 의해 대표될 수 있으며, 상기 청색 스펙트럼 파장 성분은 상기 제3 파장 성분(319)에 의해 대표될 수 있다. 상기 복수의 파장 성분들(313)은 상기 렌즈(311)로부터 초점 길이에 위치된 초점에서 수렴할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 상이한 파장 성분들(예를 들어, 상기 제1 파장 성분(315), 상기 제2 파장 성분(317), 상기 제3 파장 성분(319) 등)은 상기 렌즈(311)로부터 측정된 상이한 초점 길이들을 가질 수 있다. 상기 상이한 초점 길이들은 상기 제1 파장 성분(315), 상기 제2 파장 성분(317), 및 상기 제3 파장 성분(319)의 상이한 파장들에 기초할 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317)은 상기 제1 파장 성분(315)의 파장보다 작은 파장을 포함할 수 있다. 상기 제3 파장 성분(319)은 상기 제1 파장 성분(315) 및 상기 제2 파장 성분(317)의 파장보다 작은 파장을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 제2 파장 성분(317)은 약 600 나노미터(nm) 미만의 파장을 포함할 수 있고, 상기 제1 파장 성분(315)은 약 600nm 초과의 파장을 포함할 수 있다. 더 짧은 파장들을 포함하는 파장 성분들은 더 짧은 초점 길이들을 가질 수 있으며 이로써 상기 렌즈로부터 더 짧은 거리에 포커싱된다. 더 긴 파장들을 포함하는 파장 성분들은 더 긴 초점 거리들을 가질 수 있으며 이로써 상기 렌즈로부터 더 먼 거리에 포커싱된다. 예를 들어, 상기 제1 파장 성분(315)(예를 들어, 가장 긴 파장을 포함하는 적색 스펙트럼 파장 성분)은 가장 긴 초점 길이를 가질 수 있다. 상기 제2 파장 성분(317)(예를 들어, 상기 적색 스펙트럼 파장 성분보다 작으나 상기 청색 스펙트럼 파장 성분보다 클 수 있는 파장을 포함하는 상기 녹색 스펙트럼 파장 성분)은 상기 제1 파장 성분(315)의 초점 길이보다 짧으나 상기 제3 파장 성분(319)의 초점 길이보다 긴 초점 길이를 가질 수 있다. 상기 제3 파장 성분(319)(예를 들어, 가장 짧은 파장을 포함하는 상기 청색 스펙트럼 파장 성분)은 상기 제1 파장 성분(315)의 초점 길이 및 상기 제2 파장 성분(317)의 초점 길이보다 짧은 초점 길이를 가질 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 제1 파장 성분(315)은 상기 제2 파장 성분(317)보다 긴 초점 길이를 가질 수 있고, 상기 제2 파장 성분(317)은 상기 제3 파장 성분(319)보다 긴 초점 길이를 가질 수 있다.

상기 유리 측정 장치(119a)는 필터(329)를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 필터(329)는 상기 광의 빔(309)을 수신하도록 위치될 수 있다. 예를 들어, 상기 필터(329)는 상기 렌즈(311)로부터 분할된 광의 빔(예를 들어, 상기 복수의 파장 컴포넌트들(313)을 포함하는)을 수신하도록 위치될 수 있다. 상기 필터(329)는 상기 렌즈(311)와 상기 용기(301) 사이에, 예컨대 상기 렌즈(311)와 상기 용기 개구(305) 사이에 위치될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 필터(329)는 상기 필터(329)를 통해 상기 광의 빔(309)의 상기 파장 성분들 중 하나 이상을 통과시킬 수 있으나, 상기 광의 빔(309) 중 하나 이상의 다른 파장 성분들이 상기 필터(329)를 통과하는 것을 막는다. 예를 들어, 상기 필터(329)는 상기 광의 빔(309)의 상기 제2 파장 성분(317)을 상기 필터(329)를 통해 통과시킬 수 있는 반면, 상기 광의 빔으로부터 상기 제1 파장 성분(315)이 상기 필터(329)를 통과하는 것을 막는다. 이러한 방식으로, 상기 필터(329)는 특정 파장을 포함하는 파장 성분들이 통과하는 것을 막는 한편 다른 파장을 포함하는 파장 성분들이 통과하게 할 수 있다. 예를 들어, 상기 필터(329)는 상기 제2 파장 성분(317)(예를 들어, 상기 녹색 스펙트럼 파장 성분) 및 상기 제3 파장 성분(319)(예를 들어, 상기 청색 스펙트럼 파장 성분)이 통과시키게 할 수 있는 반면 상기 제1 파장 성분(315)(예를 들어, 상기 적색 스펙트럼 파장 성분))이 통과하는 것을 막는다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은, 상기 광의 빔(309)으로부터 상기 제1 파장 성분(315)을 제거하기 전에, 상기 광의 빔(309)을 상기 제1 파장 성분(315) 및 상기 제2 파장 성분(317) 및 상기 제3 파장 성분(319)을 포함하는 상기 복수의 파장 성분들(313)로 분할하는 단계를 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 제2 파장 성분(317) 및 상기 제3 파장 성분(319)을 포함하는 상기 광의 빔(309)은 상기 용기 개구(305)를 통과할 수 있으며 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)으로부터 반사될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)으로부터 상기 제2 파장 성분(317)을 포함하는 상기 광의 빔(309)을 반사시키는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 상기 파장 성분들(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317), 상기 제3 파장 성분(319) 등) 중 하나의 초점 길이는 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)과 상기 필터(329) 사이의 거리와 실질적으로 일치할 수 있다. 예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제2 파장 성분(317)의 초점 길이는 상기 자유 표면(303)과 상기 필터(329) 사이의 거리와 실질적으로 일치할 수 있다. 그러나, 상기 자유 표면(303)은 상기 용기(301) 내의 이러한 레벨에 제한되지 않을 수 있다. 대신, 다른 실시예들에서, 상기 파장 성분들 중 다른 것(예를 들어, 상기 제3 파장 성분(319))의 초점 길이가 상기 자유 표면(303)과 상기 필터(329) 사이의 거리와 실질적으로 일치할 수 있도록 상기 자유 표면(303)은 상기 필터(329)로부터 상이한 거리에 위치될 수 있다. 실질적으로 일치시킴으로써, 상기 파장 성분들(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317), 상기 제3 파장 성분(319) 등) 중 하나의 초점 길이는 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)과 상기 필터(329) 사이의 거리에 가까울 수 있으나, 동일하지 않을 수 있고, 다른 파장 성분들보다 이 거리에 더 가까울 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 자유 표면(303)으로부터 반사된 광의 빔(309)의 상기 파장 성분들(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317), 상기 제3 파장 성분(319) 등)은 상기 필터(329)를 통해 그리고 상기 렌즈(311)를 통해 반대 경로를 따라 이동한다. 일부 실시예들에서, 상기 용융 물질(121)은 방출된 파장 성분(322), 예컨대 적색 스펙트럼 파장 성분(예를 들어, 제1 파장 성분(315)과 동일한 파장을 포함)을 방출할 수 있다. 상기 방출된 파장 성분(322)은 노이즈를 발생시킬 수 있으며 상기 유리 측정 장치(119a)가 상기 용융 물질(121)의 레벨을 검출하는 것에 부정적으로 영향을 미칠 수 있다. 이러한 효과들을 줄이기 위해, 상기 필터(329)는 상기 용융 물질(121)에 의해 방출된 상기 방출된 파장 성분(322)이 상기 필터(329)를 통과하는 것을 막을 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 제2 파장 성분(317)을 포함하는 상기 광의 빔(309)을 반시시키는 단계 전에 상기 광의 빔(309)으로부터 상기 제1 파장 성분(315)을 제거하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 방식으로, 상기 필터(329)는 상기 제1 파장 성분(315) 및 상기 방출된 파장 성분(322)이 양 방향들로(예를 들어, 상기 자유 표면(303)을 향하는(예를 들어, 도 3에서 하방) 상기 제1 파장 성분(315) 및 상기 자유 표면(303)으로부터 멀어지는(예를 들어, 도 3에서 상방) 상기 방출된 파장 성분(322)) 상기 필터(329)를 통과하는 것을 막을 수 있다.

상기 유리 측정 장치(119a)는 빔스플리터(331)를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 빔스플리터(331)는 상기 제2 파장 성분(317) 및 상기 제3 파장 성분(319)을 포함하는 상기 광의 빔(309)을 수신하도록 위치될 수 있다. 예를 들어, 상기 빔스플리터(331)는 상기 렌즈(311)로부터 상기 광의 빔(309)(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317) 및 상기 제3 파장 성분(319)을 포함)을 수신하도록 위치될 수 있다. 상기 빔스플리터(331)는 상기 렌즈(311)와 상기 광원(307) 사이에 위치될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 광의 빔(309)이 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)으로부터 반사된 후, 상기 광의 빔(309)은 상기 필터(329) 및 이후 상기 렌즈(311)를 통해 반대 경로를 따라 이동할 수 있다. 상기 광원(307)을 향해 상기 렌즈(311)을 통과한 후, 상기 광의 빔(309)은 상기 렌즈(311)와 상기 광원(307) 사이의 상기 광의 빔(309)의 경로 내에 위치될 수 있는 상기 빔스플리터(331)에 의해 반사될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 빔스플리터(331)는 상기 광원(307)으로부터 멀어지는 위치를 향해 상기 광의 빔(309)을 반사시킬 수 있다.

상기 유리 측정 장치(119a)는 회절 격자(333)를 포함할 수 있다. 상기 회절 격자(333)는 상기 빔스플리터(331)로부터 상기 광의 빔(309)(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317) 및 상기 제3 파장 성분(319)을 포함)을 수신하도록 위치될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 회전 격자(333)는 상기 파장 성분들(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317), 상기 제3 파장 성분(319) 등) 중 하나가 수용될 수 있는 개구(335)(예를 들어, 홀, 슬릿 등)를 정의할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 파장 성분들(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317), 상기 제3 파장 성분(319) 등)이 상기 회절 격자(333)를 향해 포커싱될 수 있도록 상기 회절 격자(333)는 상기 빔스플리터(331)로부터 떨어진 거리에 이격될 수 있다. 상기 파장 성분들 중 하나(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317))는 상기 회절 격자(333)와 상기 빔스필리터(331) 사이의 거리와 유사한 초점 길이를 가질 수 있어, 상기 하나의 파장 성분(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317))은 상기 개구(335)를 통과할 수 있다. 다른 파장 성분(들)(예를 들어, 상기 제3 파장 성분(319))은 상기 회전 격자(333)와 상기 빔스플리터(331) 사이의 거리와 다른 초점 길이를 가질 수 있어, 다른 파장 성분(들)(예를 들어, 상기 제3 파장 성분(319))은 상기 개구(335)를 통과하지 않는다.

상기 유리 측정 장치(119a)는 상기 빔스플리터(331)로부터 상기 파장 성분들(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317), 상기 제3 파장 성분(319) 등) 중 하나를 수신하도록 위치될 수 있는 센서(341)를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 센서(341)는 상기 필터(329)를 통과하고 상기 용기(301) 내에서 반사된 상기 제2 파장 성분(317)을 수신하도록 위치될 수있다. 일부 실시예들에서, 상기 센서(341)는 상기 용기(301) 내에 위치된 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)으로부터 반사된 상기 제2 파장 성분(317)을 수신하도록 위치될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)으로부터 반사된 상기 광의 빔(309)으로부터 상기 제2 파장 성분(317)을 센싱하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 센서(341)는 상기 센서(341)에 의해 수신된 상기 파장 성분(예를 들어, 상기 제2 파장 성분(317))의 색 스펙트럼을 검출할 수 있는 색 검출 센서를 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 광의 빔(309)의 상기 센싱된 제2 파장 성분(317)에 기초하여 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 유리 측정 장치(119a)는 상기 센서(341)에 결합될 수 있는 신호 프로세서(343)를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 센서(341)에 결합됨으로써, 상기 신호 프로세서(343)는 상기 센서(341)로부터 데이터, 예를 들어 상기 센서(341)에 의해 수신된 상기 파장 성분과 관련된 데이터를 수신할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 신호 프로세서(343)는 상기 센서(341)에 의해 수신된 상기 제2 파장 성분(317)의 파장 및/또는 색에 기초하여, 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)과 상기 렌즈(311) 사이의 거리를 결정할 수 있다. 예를 들어, 상기 센서(341)에 의해 수신된 상기 파장 성분의 파장은 상기 회절 격자(333)에 의해 차단된 다른 파장들에 비해 더 높은 파워일 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 센서(341)에 의해 수신된 이러한 파장(예를 들어, 도 3에서 상기 제2 파장 성분(317)에 대응함)은 피크 파워에서의 파장으로서 그래프 상에서 도시될 수 있는 한편 상기 회절 격자(333)에 의해 차단된 다른 파장 성분들(예를 들어, 상기 제3 파장 성분(319))에 대응하는 다른 파장들은 낮은 파워일 수 있다. 상기 센서(341)에 의해 수신된 이러한 파장은 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)과 상기 렌즈(311) 사이의 거리에 대응할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 하나 이상의 파라미터들은 상기 용융 물질(121)의 레벨에 기초하여 변경될 수 있다. 예를 들어, 유리를 제조하는 방법들은 상기 감지된 제2 파장 성분(317)에 기초하여 상기 배치 채움 속도를 변경하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 센싱된 제2 파장 성분(317)은 상기 신호 프로세서(343)에 의해 수신될 수 있으며, 상기 센싱된 제2 파장 성분(317)의 파장을 결정하도록 분석된다. 이러한 파장은 상기 용융 물질(121)의 상기 자유 표면(303)과 상기 렌즈(311) 사이의 거리에 대응할 수 있으며, 이는 상기 용융 물질(121)의 레벨을 나타낼 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 배치 채움 속도를 변경하는 단계는 상기 용융 물질(121)의 결정된 레벨에 기초할 수 있다.

상기 유리 측정 장치(119a)가 상기 용융 물질(121)과 접촉하지 않도록 구성되므로, 상기 유리 측정 장치(119a)는 상기 용융 물질(121)과 접촉하는 레벨 측정 장치에 적합하지 않은 여러 상이한 용기들에 사용될 수 있다. 예를 들어, 상기 유리 측정 장치(119a)는 상기 혼합 챔버(131) 및/또는 상기 운반 용기(133) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 측정하는데 사용될 수 있다. 상기 혼합 챔버(131) 및/또는 상기 운반 용기(133) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨의 변동들로 인하여, 접촉 레벨 측정 장치는 변동되는 레벨들로 인하여 바람직하지 않을 수 있다. 또한, 접촉 레벨 측정 장치는 상기 레벨 측정 장치와 상기 용융 물질(121) 사이의 접촉으로 인하여 상기 용융 물질(121)에 원하지 않은 오염물들을 도입할 수 있다. 비접촉 레벨 측정 장치(119a)는 이러한 단점들을 최소화할 수 있다.

도 4를 참조하면, 상기 용기(301)와 관련된 상기 유리 측정 장치(119a)의 측면도가 도시된다. 상기 용기(301)는 상기 유리 제조 장치(100) 내의 여러 상이한 구조들, 예를 들어, 상기 청징 용기(127), 혼합 챔버(131), 상기 운반 용기(133), 하나 이상의 연결 도관들(135, 137) 등을 포함할 수 있으므로 상기 용기(301)가 개략적으로 도시되었다는 것이 이해될 것이다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 측정 장치(119a)는 벽(403)에 부착될 수 있다. 예를 들어, 마운팅 어셈블리(404)는 하나 이상의 파스너들(fasteners)(예를 들어, 나사들, 볼트들 등)로 상기 벽(403)의 일 측에 부착될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 측정 장치(119a)는 상기 벽(403)에 부착될 수 있는 자켓(jacket)(405)을 포함할 수 있다. 상기 자켓(405)은 상기 마운팅 어셈블리(404)에 부착될 수 있으며(예를 들어 하나 이상의 기계적 파스너들을 통해), 상기 자켓(405)은 상기 벽(403)의 제1 측 상에 위치되며, 상기 마운팅 어셈블리(404)는 상기 벽(403)의 반대 제2 측 상에 위치될 수 있다. 상기 마운팅 어셈블리(404)는 상기 벽(403)에 대하여 고정된 위치에 상기 자켓(405)을 유지시킬 수 있어 상기 자켓(405)은 상기 벽(403)에 대하여 의도하지 않은 움직임으로부터 제한될 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 자켓(405)은 상기 자켓(405)의 자켓 내부(409)(예를 들어, 도 4에 점선으로 도시됨) 내에 하나 이상의 파장 구성 요소(407)를 수용하도록 실질적으로 비어 있을 수 있다. 예를 들어, 상기 파장 구성 요소들(407)은 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)의 여러 상이한 파장 구성들을 포함할 수 있으므로 상기 하나 이상의 파장 구성 요소들(407)이 도 4에 개략적으로 도시된다는 것이 이해될 것이다. 일부 실시예들에서, 상기 하나 이상의 파장 구성 요소들(407)은 상기 광원(307), 상기 렌즈(311), 상기 필터(329), 상기 빔스플리터(331), 상기 회절 격자(333), 상기 센서(341) 등을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 자켓(405)은 상기 필터(329) 또는 상기 센서(341) 중 하나 이상이 위치될 수 있는 상기 자켓 내부(409)를 정의할 수 있다. 상기 광의 빔(309)이 상기 자켓(405)을 통해 투과될 수 있도록 상기 자켓(405)은 광학적으로 투명할 수 있다. 예를 들어, 상기 광의 빔(309)이 상기 자켓 내부(409)를 통해 투과되고 상기 용기(301)를 향해 지향되도록 상기 자켓 내부(409)는 실질적으로 비어 있을 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 광의 빔(309)이 상기 자켓 내부(409)를 빠져나가 상기 광의 빔(309)이 상기 렌즈(311)를 통과하도록 상기 렌즈(311)는 상기 광의 빔(309)의 경로 내에서 상기 자켓(405)의 일단에 부착될 수 있다. 이와 같이, 일부 실시예들에서, 광학적으로 투명함으로써, 상기 자켓(405)은 상기 광의 빔(309)이 상기 자켓 내부(409)(실질적으로 비어 있을 수 있음)를 통해 그리고 상기 렌즈(311)를 통해 상기 자켓(405)의 외부로 투과될 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 자켓(405)이 상기 용기(301) 근처에서 겪을 수 있는 상승된 온도들로 인하여, 상기 자켓(405)은 상기 자켓 내부(409) 내의 상기 파장 구성 요소들(407)을 보호하도록 냉각될 수 있다. 예를 들어, 상기 자켓(405)은 상기 자켓(405)을 냉각시킬 수 있는 냉각 라인(411)을 포함할 수 있다. 상기 냉각 라인(411)은 상기 자켓(405)의 상기 자켓 내부(409) 내의 온도를 감소시키기 위해 냉각된 물질, 예를 들어, 액체, 가스 등을 운반할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 자켓 내부(409) 내의 감소된 온도가 유지될 수 있도록 상기 자켓(405)은 상기 자켓 내부(409)를 둘러싸는 단열 물질을 포함할 수 있다. 상기 자켓(405)은 상기 냉각된 물질(예를 들어, 액체, 가스 등)이 유동할 수 있는 하나 이상의 실질적으로 비어 있는 채널들을 포함할 수 있다. 상기 자켓(405) 내의 상기 하나 이상의 채널들은 상기 냉각 라인(411)과 유체 연통될 수 있어, 상기 냉각된 물질이 상기 냉각 라인(411)을 통해 상기 채널들로 및 상기 채널들로부터 운반될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 제2 파장 성분(317)을 센싱하는 상기 센서(341)를 냉각시키는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 센서(341)는 상기 자켓 내부(409) 내에 위치되며, 상기 냉각 라인(411)은 상기 센서(341)를 냉각시키기 위해 상기 냉각된 물질을 운반할 수 있다. 또한, 일부 실시예들에서, 상기 자켓(405)은 상기 용기(301)의 상기 용기 개구(305)로부터 떨어진 거리에 이격될 수 있다. 이러한 간격은 상기 자켓(405)과 상기 센서(341)에 대한 상기 용기(301) 내부로부터의 고온의 영향을 감소시킬 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 필터(329)는 상기 자켓(405) 및 상기 렌즈(311)로부터 떨어진 거리에 위치될 수 있다. 예를 들어, 상기 필터(329)와 상기 용기(301)를 분리하는 거리는 상기 필터(329)와 상기 렌즈(311)를 분리하는 거리보다 작을 수 있다. 이러한 위치는 제한적인 것으로 의도되지 않으나, 일부 실시예들에서, 상기 필터(329)는 예를 들어 상기 렌즈 근처에 또는 상기 렌즈(311)와 함께 상기 자켓 내부(409) 내에 위치됨으로써 상기 렌즈(311) 근처에 위치될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 용기(301)의 상기 용기 개구(305) 근처의 상기 필터(329)로 인하여, 상기 필터(329)는 상기 용기(301) 내부로부터의 고온들에 노출될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 광의 빔(309)으로부터 상기 제1 파장 성분(315) 및 상기 용융 물질(121)로부터의 상기 방출된 파장 성분을 제거할 수 있는 상기 필터(329)를 냉각시키는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 필터(329)에 대한 상기 고온의 영향을 감소시키기 위해, 상기 유리 측정 장치(119a)는 상기 필터(329)를 냉각하기 위한 열 차폐부(413)를 포함할 수 있다. 상기 광의 빔(309)이 상기 필터(329) 및 상기 열 차폐부(413)를 통과할 수 있도록 상기 열 차폐부(413)는 광학적으로 투명한 구조, 예를 들어 유리 물질을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 열 차폐부(413)는 상기 필터(329)에 인접하게 접촉하게 위치될 수 있다. 예를 들어, 상기 열 차폐부(413)는 상기 필터(329)와 상기 용기(301) 사이에 위치될 수 있다. 상기 열 차폐부(413)는 상기 필터(329)보다 높은 온도들을 견딜 수 있어, 상기 열 차폐부(413)는 상기 필터(329)보다 상기 용기 개구(305)에 가깝게 위치될 수 있다. 상기 열 차폐부(413)는 상기 용융 물질(121)에 의해 상기 용기(301) 내에 발생된 고온들, 가스들, 및/또는 오염물들로부터 상기 필터(329)를 차폐 및/또는 냉각시킬 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 측정 장치(119a)는 공지 퍼지(purge)(415)를 포함할 수 있다. 상기 공기 퍼지(415)는 상기 열 차폐부(413)와 인접하여 접촉하게 위치될 수 있다. 예를 들어, 상기 공기 퍼지(415)는 상기 열 차폐부(413)보다 상기 용기(301)에 근접하게 위치될 수 있으며, 상기 공기 퍼지(415)는 일 측의 상기 용기(301)와 반대 측의 상기 열 차폐부(413) 사이에 위치된다. 일부 실시예들에서, 상기 공기 퍼지(415)의 일 측은 상기 용기(301)에 부착될 수 있고 반대 측은 상기 열 차폐부(413)에 부착될 수 있다. 상기 용기(301) 내의 상기 용융 물질(121)에 의해 발생될 수 있는 가스들 및 오염물들로 인해, 상기 광의 빔(309)이 상기 열 차폐부(413)를 통과할 수 있도록 상기 공기 퍼지(415)는 상기 열 차폐부(413)의 광학적 투명성을 유지시킬 수 있다. 예를 들어, 상기 공기 퍼지(415)는 실질적으로 비어 있을 수 있으며 상기 광의 빔(309)이 통과할 수 있는 내부를 정의할 수 있다. 퍼지 라인(417)은 상기 공기 퍼지(415)의 내부로 및/또는 로부터 가스(예를 들어, 공기 등)을 운반할 수 있다. 상기 퍼지 라인(417)에 의한 이러한 가스의 운반은 상기 열 차폐부(413)를 상기 용기(301)로부터의 오염물로부터 실질적으로 깨끗하게 유지시킬 수 있다.

도 5 내지 도 9를 참조하면, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들 및 유리를 제조하는 방법들의 추가적인 실시예들에 도시된다. 도 5는 유리 제조 장치(500)의 추가적인 실시예들을 도시한다. 상기 유리 제조 장치(500)는 도 1의 유리 제조 장치(100)와 일부 측면들에서 유사할 수 있다. 예를 들어, 상기 유리 제조 장치(500)는 상기 유리 측정 장치(119a, 119b), 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b), 상기 컨트롤러(115) 등을 포함할 수 있다.

상기 유리 측정 장치(119a, 119b)는 도 3 내지 도 4에 설명된 바와 같이 유사한 방식으로 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 용융 물질(121)의 레벨은 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)로부터 오퍼레이터(501)로 전송될 수 있다. 상기 오퍼레이터(501)는 상기 유리 측정 장치(119a, 119b) 내의 상이한 용기들(301)로부터 다수의 레벨 측정치들을 수신할 수 있다. 도 5의 실시예에서, 하나의 유리 측정 장치(119a)는 상기 혼합 챔버(131)에서 상기 용융 물질(121)의 레벨을 측정할 수 있는 한편 제2 유리 측정 장치(119b)는 상기 운반 용기(133)에서 상기 용융 물질(121)의 레벨을 측정할 수 있다. 다른 실시예들에서, 추가적인 유리 측정 장치가 예를 들어 상기 청징 용기(127)에, 상기 연결 도관들(135, 137) 등에 제공될 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 오퍼레이터(501)가 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)로부터의 레벨 측정치들을 수신할 수 있도록 상기 오퍼레이터(501)는 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b)에 연결될 수 있다. 상기 오퍼레이터(501)는 레벨 통신 라인(503)을 통해 단일 레벨 값을 출력할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 오퍼레이터(501)는 차원 축소 선형 또는 비선형 오퍼레이터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 오퍼레이터(501)가 두 레벨들 사이의 차이를 나타내는 값을 출력할 수 있도록 두 위치들(예를 들어, 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)의 위치들에 대응) 사이의 레벨 차이를 제어하는 것을 원할 수 있다. 상기 컨트롤러(115)는 상기 통신 라인(503)을 통해 상기 오퍼레이터(501)로부터 상기 단일 레벨 값을 수신할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 컨트롤러(115)는 상기 소정의 레벨 설정점(123)과 상기 오퍼레이터(501)에 의해 상기 컨트롤러로 제공되는 레벨을 비교할 수 있다. 이들 레벨 값들이 상이한 경우, 상기 컨트롤러(115)는 상기 모터(113)로의 속도 명령을 조절할 수 있고, 이로써 상기 모터(113)는 상기 배치 운반 장치(111)의 속도를 조절할 수 있어, 따라서 상기 배치 채움 속도를 변경한다. 일부 실시예들에서, 상기 컨트롤러(115)는 모델 예측 제어(model predictive control, MPC), 광학 제어 방법(예를 들어, H-무한대 제어) 등을 실행할 수 있다.

도 6을 참조하면, 유리를 제조하는 방법들 및 상기 유리 제조 장치(100) 내의 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들을 도시하는 개략적인 흐름도가 도시된다. 일부 실시예들에서, 상기 컨트롤러(115)는 상기 소정의 레벨 설정점(123)을 수신할 수 있다. 상기 소정의 레벨 설정점(123)에 기초하여, 상기 컨트롤러(115)는 상기 모터(113)를 동작시키기 위한 속도 명령(601)(예를 들어, 도 5의 상기 속도 명령 라인(122)을 따라 전송됨)을 계산할 수 있다. 상기 배치 물질(107)은 배치 채움 속도(603)로 상기 용융 용기(105) 내로 도입될 수 있다. 상기 용융 물질(121)은 상기 용융 용기(105)로부터 상기 유리 제조 장치(100)를 통해 유량(605)으로 흐를 수 있다. 예를 들어, 상기 용융 물질(121)은 상기 혼합 챔버(131) 및 상기 운반 용기(133)로 흐를 수 있다.

일부 실시예들에서, 유리를 제조하는 방법들은 상기 센싱된 제2 파장 성분(317)에 기초하여 상기 배치 채움 속도(603)를 변경하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 도 3 내지 도 4와 관련하여 설명된 바와 같이, 상기 센서(341)는 상기 제2 파장 성분(317)을 수신할 수 있고, 상기 신호 프로세서(343)는 상기 센싱된 제2 파장 성분(317)에 기초하여 상기 용기(301) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정할 수 있다. 따라서 상기 레벨(607a, 607b)은 상기 혼합 챔버(131) 및 상기 운반 용기(133)에 결합된 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)에 의해 결정될 수 있으며, 레벨(607a, 607b)은 상기 오퍼레이터(501)에 전송될 수 있다(예를 들어, 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b)을 따라). 일부 실시예들에서, 상기 오퍼레이터(501)는 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)로부터 수신한 상기 레벨들(607a, 607b)에 기초하여 상기 컨트롤러(115)에 레벨(609)을 전송할 수 있다. 도 5와 관련하여 설명된 바와 같이, 일부 실시예들에서, 이 레벨(609)은 상기 혼합 챔버(131)와 상기 운반 용기(133)에서의 두 레벨들(607a, 607b) 사이의 레벨 차이를 포함할 수 있다. 상기 컨트롤러(115)는 상기 레벨(609)과 상기 소정의 레벨 설정점(123)을 비교하여 상기 속도 명령(601)을 조절할 수 있다. 예를 들어, 상기 레벨(609)이 원하는 것보다 낮으면, 상기 속도 명령(601)은 증가될 수 있으며, 이는 상기 배치 채움 속도(603)를 증가시킨다. 상기 레벨(609)이 원하는 것보다 높으면, 상기 속도 명령(601)은 감소될 수 있으며, 이는 상기 배치 채움 속도(603)를 감소시킨다. 이와 같이, 일부 실시예들에서, 상기 배치 채움 속도(603)를 변경하는 것은 상기 용융 물질(121)의 레벨에 기초할 수 있다.

도 7을 참조하면, 유리 제조 장치(700)의 추가적인 실시예들이 도시된다. 상기 유리 제조 장치(700)는 상기 유리 제조 장치(100, 500) 중 하나 이상과 일부 측면들에서 유사할 수 있다. 예를 들어, 상기 유리 제조 장치(700)는 상기 유리 측정 장치(119a, 119b), 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b), 상기 컨트롤러(115), 상기 오퍼레이터(501), 상기 레벨 통신 라인(503) 등을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 컨트롤러(115)는 상기 유리 제조 장치(700) 내의 상이한 위치들에서의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 제어할 수 있는 다변수 컨트롤러를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 컨트롤러(115)는 상기 소정의 레벨 설정점(123) 및 상기 레벨 통신 라인(503)을 통한 상기 레벨(609)을 수신하는 것에 제한되지 않을 수 있다. 예를 들어, 상기 컨트롤러(115)는 상기 용융 물질(121)의 유량(605)에 대한 유량 설정점(701)을 수신할 수 있다. 추가적으로 또는 대안적으로, 상기 유리 제조 장치(700)는 상기 유리 리본(103)의 중량(705)을 측정하는 저울(703)을 포함할 수 있으며, 이로써 상기 컨트롤러(115)는 상기 저울(703)로부터 상기 중량(705)을 수신한다. 일부 실시예들에서, 상기 저울(703)은 중량 게이지를 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(700)는 온도 제어기(707)를 포함할 수 있다. 상기 온도 제어기(707)는 상기 컨트롤러(115)로부터 온도 설정점(709)을 수신할 수 있고, 상기 온도 설정점(709)은 상기 용융 물질(121)의 원하는 온도를 나타낸다. 일부 실시예들에서, 하나 이상의 온도 센서들(715a, 715b)은 상기 용융 물질(121)의 온도를 측정하기 위해 상기 유리 제조 장치(700) 내의 다양한 위치들에서 제공될 수 있다. 예를 들어, 하나의 온도 센서(715a)는 상기 혼합 챔버(131)를 떠난 후 상기 운반 용기(133)에 들어가기 전에 상기 용융 물질(121)의 온도를 측정하기 위해 상기 혼합 챔버(131)와 상기 운반 용기(133) 사이의 상기 제3 연결 도관(137)에 위치될 수 있다. 다른 온도 센서(715b)는 상기 운반 용기(133)를 떠나는 상기 용융 물질(121)의 온도를 측정하기 위해 상기 운반 용기(133)로부터 하류의 상기 운반 파이프(139)에 위치될 수 있다. 두 온도 센서들(715, 715b)이 도 7에 도시되었으나, 추가적인 온도 센서들이 다른 위치들에 제공될 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들어, 추가적인 온도 센서가 상기 제3 연결 도관(137)에 제공될 수 있고, 하나의 온도 센서(예를 들어, 715a)는 상기 혼합 챔버(131)를 떠난 직후의 상기 용융 물질(121)의 온도를 측정하기 위해 상기 혼합 챔버(131) 근처에 위치되고, 다른 온도 센서는 상기 운반 용기(133)에 들어가기 직전의 상기 용융 물질(121)의 온도를 측정하기 위해 상기 운반 용기(133) 근처에 위치된다. 일부 실시예들에서, 두 온도 센서들은 상기 운반 파이프(139)에 제공될 수 있다. 예를 들어, 하나의 온도 센서는 상기 운반 파이프(139)의 상단에 위치될 수 있는 반면(예를 들어, 상기 운반 용기(133)에 더 가깝게) 다른 온도 센서는 더 멀리 하류에 위치될 수 있다(예를 들어, 상기 성형 용기(140)의 상기 입구 도관(141)에 가깝게). 상기 용융 물질(121)의 온도 측정치들은 상기 온도 센서들(715a, 715b)로부터 상기 온도 컨트롤러(707)로 온도 통신 라인들(717a, 717b)을 통해 전송될 수 있다.

일부 실시예들에서, 하나 이상의 가열 장치(719a, 719b)는 상기 유리 제조 장치(700) 내의 다양한 위치들에 제공될 수 있다. 상기 가열 장치(719a, 719b)는 상기 용융 물질(121)의 유량을 변경하도록 상기 용융 물질(121)을 가열할 수 있다. 예를 들어, 하나의 가열 장치(719a)는 상기 혼합 챔버(131)를 떠나며 상기 운반 용기(133)로 들어가는 상기 용융 물질(121)을 가열시키기 위해 상기 혼합 챔버(131)와 상기 운반 용기(133) 사이의 상기 제3 연결 도관(137)에 상기 온도 센서(715a)에 근접하게 위치될 수 있다. 다른 가열 장치(719b)는 상기 운반 용기(133)를 떠나는 상기 용융 물질(121)을 가열하기 위해 상기 운반 용기(133)로부터 하류의 상기 운반 파이프(139)에 다른 온도 센서(715b) 근처에 위치될 수 있다. 상기 온도 센서들(715a, 715b)과 같이, 두 가열 장치(719a, 719b)가 도 7에 도시되었으나, 추가적인 가열 장치(719a, 719b)가 온도 센서들이 제공될 수 있는 다른 위치들에 제공될 수 있다는 것이 이해될 것이다. 일부 실시예들에서, 상기 가열 장치(719a, 719b)를 위한 온도 설정점들이 상기 온도 컨트롤러(707)로부터 상기 가열 장치(719a, 719b)로 가열 라인들(721a, 721b)을 통해 전송될 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(700) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 용융 물질(121)의 결정된 레벨에 기초하여 상기 용융 물질(121)의 유량을 변경하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 용기(예를 들어, 도 7의 상기 혼합 챔버(131) 및 상기 운반 용기(133)) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨은 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)에 의해 결정될 수 있다. 이 레벨 정보는 상기 오퍼레이터(501)로 전송될 수 있으며(예를 들어, 상기 레벨 통산 라인들(120a, 120b)을 통해), 이는 상기 레벨 통신 라인(503)을 통해 상기 컨트로러(115)에 상기 단일 레벨 값을 출력할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유량을 변경하는 단계는 상기 용융 물질(121)로부터 형성된 상기 유리 리본(103)의 중량에 기초할 수 있다. 예를 들어, 상기 저울(703)은 상기 유리 리본(103)의 중량을 측정함으로써 상기 유리 리본(103)의 중량을 결정할 수 있다. 이 중량은 상기 중량 라인(705)을 통해 상기 컨트롤러(115)에 전송될 수 있다. 상기 유리 리본(103)의 중량 및/또는 상기 오퍼레이터(501)로부터의 상기 용융 물질(121)의 상기 레벨에 기초하여, 상기 컨트롤러(115)는 상기 가열 장치(719a, 719b)에서 온도를 변경할 수 있으며, 따라서 상기 용융 물질(121)의 유량을 변경한다.

일부 실시예들에서, 상기 유량을 변경하는 단계는 상기 용융 물질(121)의 온도를 조절하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 유리를 제조하는 방법들은 상기 센싱된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 용융 물질(121)의 온도를 조절하는 단계를 포함할 수 있다. 도 3 내지 도 4와 관련하여 설명된 바와 같이, 상기 센서(341)는 상기 제2 파장 성분(317)을 수신할 수 있고, 상기 신호 프로세서(343)는 상기 센싱된 제2 파장 성분(317)에 기초하여 상기 용기(301) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정할 수 있다. 상기 레벨은 상기 컨트롤러(115)로 전송될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 혼합 챔버(131) 및 상기 운반 용기(133)의 레벨에 기초하여, 예를 들어 상기 용융 물질(121)의 온도를 조절함으로써 상기 용융 물질(121)의 유량을 변경하는 것을 바랄 수 있다. 상기 컨트롤러(115)는 상기 제3 연결 도관(137) 및 상기 운반 파이프(138)에 대한 원하는 온도 설정점(709)을 출력할 수 있다. 이 온도 설정점(709)은 상기 온도 컨트롤러(707)로 전송될 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 온도 센서들(715a,715b)에 의해 센싱된 상기 용융 물질(121)의 온도와 상기 원하는 온도 설정점(709) 사이의 차이의 비교에 기초하여, 상기 가열 장치(719a, 719b)는 상기 가열 장치(719a, 719b)를 통해 상기 용융 물질(121)의 온도를 조절할 수 있다. 예를 들어, 상기 유량을 증가시키기 위해, 상기 컨트롤러(115)는 상기 온도 컨트롤러(707)로 더 높은 온도 설정점(709)을 출력할 수 있고, 이로써 상기 온도 컨트롤러(707)는 상기 가열 장치(719a, 719b)에 의해 발생된 온도를 증가시킨다. 유량을 감소시키기 위해, 상기 컨트롤러(115)는 상기 온도 컨트롤러(707)로 더 낮은 온도 설정점(709)을 출력할 수 있으며, 이로써 상기 온도 컨트롤러(707)는 상기 가열 장치(719a, 719b)에 의해 발생된 온도를 감소시킨다.

일부 실시예들에서, 상기 배치 채움 속도(603)를 변경하는 단계는 상기 용융 물질(121)로부터 형성된 상기 유리 리본(103)의 중량에 기초할 수 있다. 예를 들어, 상기 저울(703)은 상기 유리 리본(103)의 중량(705)을 측정할 수 있고 상기 컨트롤러(115)로 이 중량을 전송한다. 상기 중량(705)에 기초하여, 상기 컨트롤러(115)는 상기 모터(113)로의 상기 속도 명령을 조절할 수 있으며, 이는 상기 배치 운반 장치(111)의 속도를 조절할 수 있으며, 따라서 상기 배치 채움 속도를 변경한다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 리본(103)의 중량(705)이 원하는 것보다 낮은 경우, 상기 컨트롤러(115)는 상기 모터(113)로의 상기 속도 명령을 증가시킴으로써 상기 배치 채움 속도(603)를 증가시킬 수 있다. 상기 유리 리본(103)의 상기 중량(705)이 원하는 것보다 높은 경우, 상기 컨트롤러(115)는 상기 모터(113)로의 상기 속도 명령을 감소시킴으로써 상기 배치 채움 속도(603)를 감소시킬 수 있다.

도 8을 참조하면, 유리 제조 장치(800)의 추가적인 실시예들이 도시된다. 상기 유리 제조 장치(800)는 상기 유리 제조 장치(100, 500, 700) 중 하나 이상과 일부 측면들에서 유사할 수 있다. 예를 들어, 상기 유리 제조 장치(800)는 상기 유리 측정 장치(119a, 119b), 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b), 상기 컨트롤러(115), 상기 저울(703), 상기 온도 컨트롤러(707), 상기 온도 센서(715a, 715b), 상기 가열 장치(719a, 719b) 등을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(800)는 상기 오퍼레이터(501)를 포함지 않을 수 있어, 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)는 상기 레벨 측정치들을 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b)을 통해 상기 컨트롤러(115)로 직접 전송한다. 상기 컨트롤러(115)는 하나의 소정의 레벨 설정점(예를 들어, 도 7에서 소정의 레벨 설정점(123))을 수신하는 것으로 제한되 않으며, 대신, 복수의 소정의 레벨 설정점들(801a, 801b)을 수신할 수 있다. 예를 들어, 상기 컨트롤러는 상기 혼합 챔버(131) 내의 레벨에 대응하는 하나의 소정의 레벨 설정점(801a) 및 상기 운반 용기(133) 내의 레벨에 대응하는 다른 소정의 레벨 설정점(801b)을 수신할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(800)는 다수의 위치들에서 상기 용융 물질(121)의 온도를 제어하기 위한 복수의 온도 컨트롤러들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 유리 제조 장치(800)는 제1 온도 컨트롤러(803) 및 제2 온도 컨트롤러(805)를 포함할 수 있다. 상기 제1 온도 컨트롤러(803)는 상기 컨트롤러(115)로부터 제1 온도 설정점(807)을 수신할 수 있는 한편, 상기 제2 온도 컨트롤러(805)는 상기 컨트롤러(115)로부터 제2 온도 설정점을 수신할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 제1 온도 컨트롤러(803)는 상기 온도 센서(715a) 및 상기 가열 장치(719a)에 결합될 수 있다. 이러한 방식으로, 상기 제1 온도 컨트롤러(803)는 상기 온도 센서(715a)로부터 상기 제3 연결 도관(137) 내의 상기 용융 물질(121)의 온도를 수신할 수 있고 상기 가열 장치(719a)를 제어할 수 있다. 일부 실시예들에서, 상기 제2 온도 컨트롤러(805)는 상기 온도 센서(715b) 및 상기 가열 장치(719b)에 결합될 수 있다. 이러한 방식으로, 상기 제2 온도 컨트롤러(805)는 상기 온도 센서(715b)로부터 상기 운반 파이프(139) 내의 상기 용융 물질(121)의 온도를 수신할 수 있고 상기 가열 장치(719b)를 제어할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(800) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정하는 방법들은 상기 용융 물질(121)의 결정된 레벨에 기초하여 상기 용융 물질(121)의 유량을 변경하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 용기(예를 들어, 도 7에서 상기 혼합 챔버(131) 및 상기 운반 용기(133)) 내의 상기 용융 물질(121)의 레벨은 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)에 의해 결정될 수 있다. 이 레벨 정보는 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b)을 통해 상기 컨트롤러(115)로 전송될 수 있다. 상기 유량을 변경하는 단계는 상기 용융 물질(121)의 결정된 레벨에 기초하는 것으로 제한되지 않을 수 있다. 대신, 일부 실시예들에서, 상기 유량을 변경하는 단계는 상기 용융 물질(121)로부터 형성된 상기 유리 리본(103)의 중량에 기초할 수 있다. 도 7과 관련하여 설명된 바와 같이, 상기 저울(703)은 상기 유리 리본(103)의 중량을 결정할 수 있으며, 상기 중량 라인(705)을 통해 상기 컨트롤러(115)로 이 중량을 전송한다. 상기 유리 리본(103)의 중량 및/또는 상기 오퍼레이터(501)로부터의 레벨에 기초하여, 상기 컨트롤러(115)는 상기 가열 장치(719a, 719b)에서 온도를 변화시킬 수 있고, 따라서 상기 용융 물질(121)의 유량을 변경한다.

일부 실시예들에서, 상기 유량을 변경하는 단계는 상기 용융 물질(121)의 온도를 조절하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 일부 실시예들에서, 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)에 의해 센싱된 레벨에 따라, 상기 컨트롤러(115)는 상기 제1 온도 컨트롤러(803) 및 상기 제2 온도 컨트롤러(805)로 제공된 상기 제1 온도 설정점(807) 및/또는 상기 제2 온도 설정점(809)을 조절할 수 있다. 상기 온도 센서(715a)에 의해 센싱된 온도가 상기 제1 온도 설정점(807)과 다른 경우, 상기 제1 온도 컨트롤러(803)는 상기 가열 라인(721a)을 통해 상기 가열 장치(719a)로 온도 신호를 전송할 수 있어, 따라서 상기 가열 장치(719a)가 상기 제3 연결 도관(137) 내의 상기 용융 물질(121)의 온도를 높이거나 낮추게 한다. 상기 온도 센서(715b)에 의해 센싱된 온도가 상기 제2 온도 설정점(809)과 상이한 경우, 상기 제2 온도 컨트롤러(805)는 상기 가열 라인(721b)을 통해 상기 가열 장치(719b)로 온도 신호를 전송할 수 있으며, 따라서 상기 가열 장치(719b)가 상기 운반 파이프(139) 내의 상기 용융 물질(121)의 온도를 높이거나 낮추게 한다. 이러한 방식으로, 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)로 상이한 위치들에서 상기 용융 물질(121)의 레벨을 결정함으로서, 상기 용융 물질(121)의 유량이 상기 용융 물질(121)(예를 들어, 상기 제3 연결 도관(137) 및/또는 상기 운반 파이프(139)에서)의 온도를 조절함으로서 변경될 수 있다.

도 9를 참조하면, 유리 제조 장치(900)의 추가적인 실시예들이 도시된다. 상기 유리 제조 장치(900)는 상기 유리 측정 장치(100, 500, 700, 800) 중 하나 이상과 일부 측면들에서 유사할 수 있다. 예를 들어, 상기 유리 제조 장치(900)는 상기 유리 측정 장치(119a, 119b), 상기 레벨 통신 라인들(120a, 120b), 상기 컨트롤러(115), 상기 오퍼레이터(501), 상기 레벨 통신 라인(503), 상기 저울(703), 상기 온도 컨트롤러(707), 상기 온도 센서(715a, 715b), 상기 가열 장치(719a, 719b) 등을 포함할 수 있다.

일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(900)는 상기 유리 제조 장치(900) 내의 두 위치들 사이의 온도 비율을 제어하기 위한 온도 비율 컨트롤러(901)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 온도 비율 컨트롤러(901)는 상기 운반 파이프(139)에 대한 상기 제3 연결 도관(137)에서의 온도 설정점들의 비율을 제어할 수 있다. 상기 온도 컨트롤러(707)는 상기 컨트롤러(115)로부터 상기 온도 설정점(709)을 수신할 수 있다. 상기 온도 비율 컨트롤러(901)는 상기 컨트롤러(115)로부터 상기 온도 설정점들의 비율(903)을 수신할 수 있으며, 상기 비율(903)은 다른 위치(예를 들어, 상기 운반 파이프(139))에서 온도 설정점에 대한 하나의 위치(예를 들어, 상기 제3 연결 도관(137))에서 온도 설정점의 비율(903)을 나타낸다. 이 온도 비율 설정점(905)은 상기 온도 컨트롤러(707)로 전송될 수 있고, 상기 온도 컨트롤러(707)는 상기 온도 비율 설정점(905)에 따라 상기 가열 장치(719a, 719b)의 온도들을 조절할 수 있다. 예를 들어, 상기 컨트롤러(115)는 상기 온도 컨트롤러(707)로 온도 설정점을 전송할 수 있다. 상기 컨트롤러(115)는 또한 상기 운반 파이프(139)의 온도에 대한 상기 제3 연결 도관(137)의 온도의 원하는 비율(903)을 결정할 수 있다. 예를 들어, 상기 비율(903)이 2:1인 경우, 상기 온도 설정점(709)의 두배인 양이 상기 제3 연결 도관(137)의 상기 가열 장치(719a)로 전송될 수 있는 한편, 상기 온도 설정점(709)과 동일한 양이 상기 운반 파이프(139)의 상기 가열 장치(719b)로 전송될 수 있다. 따라서, 상기 용융 물질(121)의 유량은 상기 온도 설정점들의 비율(903)을 조절함으로써 조절될 수 있다.

본 개시의 일부 실시예들에서, 상기 유리 제조 장치(100, 500, 700, 800, 900)는 상기 유리 측정 장치(119a, 119b)를 포함할 수 있으며, 이는 상기 용융 물질(121)을 오염시키지 않으면서 비접촉식으로 상기 용융 물질(121)의 레벨을 측정할 수 있다. 상기 용융 물질(121)의 레벨은 접촉식 레벨 측정 장치로 측정 불가능할 수 있는 상기 유리 제조 장치(100, 500, 700, 800, 900) 내의 여러 위치들에서 측정될 수 있다. 새로운 위치들에서 비접촉식 유리 측정 장치(119a, 119b)의 사용으로 인하여, 상기 유리 제조 장치(100) 내의 하나 이상의 파라미터들, 예컨대 배치 채움 속도, 유량 등이 조절될 수 있다.

본 명세서에 설명된 실시예들 및 기능적 동작들은 디지털 전자 회로 또는 컴퓨터 소프트웨어, 펌웨어, 또는 본 명세서에 개시된 구조들 및 그 구조적 균등물들을 포함하는 하드웨어로, 또는 이들 중 하나 이상의 조합들로 구현될 수 있다. 본 명세서에 설명된 실시예들은 하나 이상의 컴퓨터 프로그램 제품들, 즉, 데이터 처리 장치의 작동의 제어함으로써 또는 제어하기 위해 실행을 위한 유형의 프로그램 캐리어 상에 인코딩된 컴퓨터 프로그램 명령들의 하나 이상의 모듈들로서 구현될 수 있다. 상기 유형의 프로그램 캐리어는 컴퓨터 판독가능한 매체일 수 있다. 상기 컴퓨터 판독가능한 매체는 기계 판독 가능한 저장 장치, 기계 판독 가능한 저장 기판, 메모리 장치, 또는 이들 중 하나 이상의 조합일 수 있다.

상기 용어 "프로세서" 또는 "컨트롤러"는 예를 들어 프로그램 가능한 프로세서, 컴퓨터, 또는 다수의 프로세서들 또는 컴퓨터들을 포함하는 데이터를 처리하기 위한 모든 장치, 소자들, 및 기계들을 포함할 수 있다. 상기 프로세서는 하드웨어에 더하여 문제의 컴퓨터 프로그램을 위한 실행 환경을 생성하는 코드, 예를 들어 프로세서 펌웨어, 프로토콜 스택, 데이터베이스 관리 시스템, 운영 체제, 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 구성하는 코드를 포함할 수 있다.

컴퓨터 프로그램(프로그램, 소프트웨어, 소프트웨어 어플리케이션, 스크립트, 또는 코드로도 알려짐)은 컴파일된 또는 인터프리트된 언어들, 또는 선언적 또는 절차적 언어들을 포함하는 임의의 형태의 프로그램 언어로 작성될 수 있으며, 독립 프로그램으로 또는 모듈, 컴포넌트, 서브루틴, 또는 컴퓨팅 환경에서의 사용에 적합한 다른 유닛으로서를 포함하여 임의의 형태로 배포될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 파일 시스템 내의 파일에 대응할 필요는 없다. 프로그램은 다른 프로그램들 또는 데이터를 보유하는 파일의 일부(예를 들어, 마크업 언어 문서에 저장된 하나 이상의 스크립트들)에, 문제의 프로그램에 전용되는 단일한 파일에, 또는 다수의 조직화된 파일들(예를 들어, 하나 이상의 모듈들, 서브 프로그램들 또는 코드의 부분들을 저장하는 파일들)에 저장될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 하나의 컴퓨터 또는 하나의 장소에 위치되거나 다수의 장소들에 분산되어 있고 통신 네트워크에 의해 상호 연결되는 다수의 컴퓨터들 상에서 수행되도록 배포될 수 있다.

본 명세서에 설명된 과정들은 입력 데이터에 대해 동작하여 출력을 발생시킴으로써 함수들을 수행하는 하나 이상의 컴퓨터 프로그램들을 실행하는 하나 이상의 프로그램 가능한 프로세서들에 의해 수행될 수 있다. 상기 과정들 및 논리 흐름들은 특수 목적 논리 회로, 예를 들어, 필드 프로그램 가능한 게이트 어레이(FPGA), 또는 주문형 반도체(ASIC)에 의해 수행될 수 있으며 장치는 이로서 구현될 수 있다.

컴퓨터 프로그램의 실행에 적합한 프로세서들은 예를 들어, 범용 및 특수 목적 마이크로프로세서들, 및 임의의 종류의 디지털 컴퓨터의 임의의 하나 이상의 프로세서들을 포함한다. 일반적으로, 프로세서는 롬(read only memory) 또는 램(random access memory) 또는 둘 다로부터 명령들과 데이터를 수신할 것이다. 컴퓨터의 기본적인 구성들은 명령들을 수행하기 위한 프로세서 및 명령들 및 데이터를 저장하기 위한 하나 이상의 데이터 메모리 장치들이다. 일반적으로, 컴퓨터는 또한 데이터를 저장하기 위한 하나 이상의 대용량 저장 장치들, 예를 들어, 자기, 광자기 디스크들, 또는 광학 디스크들을 포함하거나 이들로부터 데이터를 수신하거나 이들로 데이터를 전달하기 위해 동작적으로 결합될 것이다. 그러나, 컴퓨터는 이러한 장치들을 가질 필요는 없다. 또한, 컴퓨터는 다른 장치, 예를 들어, 휴대 전화, PDA(personal digital assistant)에 내장될 수 있다.

컴퓨터 프로그램 명령들 및 데이터를 저장하기에 적합한 컴퓨터 판독 가능한 매체는 예를 들어 반도체 메모리 장치들, 예를 들어, EPROM, EEPROM 및 플래시 메모리 장치들; 자기 디스크들, 예를 들어 내부 하드 디스크들 또는 제거가능한 디스크들; 광자기 디스크들; 및 CD ROM 및 DVD-ROM 디스크들을 포함하여 비휘발성 메모리, 매체 및 메모리 장치들을 포함하여 모든 형태의 데이터 메모리를 포함한다. 상기 프로세서 및 상기 메모리는 특수 목적 로직 회로에 의해 보완되거나 그에 통합될 수 있다.

사용자와의 상호 작용을 제공하기 위하여, 본 명세서에 설명된 실시예들은 사용자에게 정보를 디스플레이하기 위한 디스플레이 장치, 예를 들어, CRT(음극선 관) 또는 LCD(액정 디스플레이) 모니터, 등 및 키보드 및 포인팅 장치, 예를 들어, 마우스 또는 트랙볼, 또는 사용자가 컴퓨터로 입력을 제공할 수 있는 터치 스크린을 포함하는 컴퓨터 상에 구현될 수 있다. 다른 종류의 장치들이 또한 사용자와의 상호작용을 제공하는데 사용될 수 있다: 예를 들어, 사용자로부터의 입력은 음향, 음성, 또는 촉각 입력을 포함하여 임의의 형태로 수신될 수 있다.

본 명세서에 설명된 실시예들은 예를 들어 데이터 서버로서 백엔드 컴포넌트를 포함하는, 또는 미들웨어 컴포넌트, 예를 들어 어플리케이션 서버를 포함하는, 또는 프론트 엔드 컴포넌트, 예를 들어 사용자가 본 명세서에 설명된 주제의 구현물들과 상호작용할 수 있는 그래픽 사용자 인터페이스 또는 웹 브라우저를 포함하는 클라이언트 컴퓨터, 또는 이러한 백엔드, 미들웨어, 또는 프론트 엔드 컴포넌트들의 임의의 조합을 포함하는 컴퓨팅 시스템에 구현될 수 있다. 상기 시스템의 컴포넌트들은 임의의 형태 또는 매체의 디지털 데이터 통신, 예를 들어 통신망에 의해 상호연결될 수 있다. 통신망들의 실시예들은 근거리 통신망(LAN) 및 광역망(WAN), 예를 들어 인터넷을 포한한다.

상기 컴퓨팅 시스템은 클라이언트들 및 서버들을 포함할 수 있다. 클라이언트와 서버는 일반적으로 서로로부터 떨어져 있으며 일반적으로 통신망을 통해 상호작용한다. 클라이언트와 서버의 관계는 각각의 컴퓨터들 상에 실행되며 서로에 대하여 클라이언트-서버 관계를 포함하는 컴퓨터 프로그램들에 의해 발생한다.

본 명세서에 사용된 용어들 "the", "a", 또는 "an"은 "적어도 하나"를 의미하며 달리 명시적으로 지시되지 않는한 "오직 하나"로 제한되지 않아야 한다는 것이 이해될 것이다. 마찬가지로, "복수의"는 "하나보다 많음"을 나타내도록 의도된다.

범위들은 본 명세서에서 "약" 하나의 특정 값 및/또는 내지 "약" 다른 특정 값으로서 표현될 수 있다. 이러한 범위가 표현된 경우, 실시예들은 상기 하나의 특정 값 및/또는 상기 다른 특정 값을 포함한다. 유사하게, 값들이 선행사 "약"의 사용에 의해 근사치들로서 사용된 경우, 상기 특정 값은 다른 실시예를 형성한다는 것이 이해될 것이다. 상기 범위들의 끝점들은 다른 끝점과 관련하여서도 다른 끝점에 독립적으로도 의미가 있다는 것이 또한 이해될 것이다.

본 명세서에 사용된 용어들 "실질적", "실질적으로", 및 그 변형들은 설명된 특징이 값 또는 설명과 동일하거나 대략적으로 동일하다는 것을 나타내도록 의도된다.

달리 명시적으로 언급되지 않는한, 본 명세서에 제시된 임의의 방법은 그 단계들이 특정 순서로 수행되는 것을 요구하는 것으로 해석되도록 의도되지 않는다. 따라서, 방법 청구항이 그 단계들이 따라야할 순서를 실제로 언급하지 않거나, 청구항들 또는 설명들에 단계들이 특정 순서로 제한된다고 달리 구체적으로 언급되지 않는 경우, 어떠한 특정한 순서가 추론되는 것으로 의도되지 않는다.

특정한 실시예들의 다양한 특징들, 구성 요소들, 또는 단계들이 연결구 "포함하는"을 사용하여 개시될 수 있으나, 연결구들 "구성되는" 또는 "필수적으로 구성되는"을 사용하여 설명될 수 있는 것들을 포함하는 대안적인 실시예들이 암시된다는 것이 이해될 것이다. 따라서, 예를 들어, A+B+C를 포함하는 장치에 대한 암시된 대안적인 실시예들은 장치가 A+B+C로 구성된 실시예들 및 장치가 A+B+C로 필수적으로 구성된 실시예들을 포함한다.

첨부된 청구항들의 사상 및 범위로부터 벗어나지 않으면서 본 개시에 다양한 수정들 및 변경들이 이루어질 수 있다는 것이 당업계의 통상의 기술자들에게 명백할 것이다. 따라서, 본 개시는 첨부된 청구항들 및 그 균등물들의 범위 내인한 본 개시는 본 명세서의 실시예들의 수정들 및 변형들을 커버한다는 것으로 의도된다.

Claims (26)

1. 용기;
   광의 빔을 수신하도록 위치되는 필터로서, 상기 광의 빔으로부터의 제1 파장 성분이 상기 필터를 통과하는 것을 막는 한편, 상기 광의 빔의 제2 파장 성분이 상기 필터를 통해 통과하도록 구성된 상기 필터; 및
   상기 필터를 통과하여 상기 용기 내에서 반사된 상기 제2 파장 성분을 수신하도록 위치된 센서를 포함하는 유리 제조 장치.
2. 제1 항에 있어서,
   상기 제2 파장 성분은 상기 제1 파장 성분의 파장보다 작은 파장을 포함하고,
   상기 제2 파장 성분은 약 600 나노미터 미만인 파장을 포함하고, 상기 제1 파장 성분은 약 600 나노미터 초과인 파장을 포함하는 유리 제조 장치.
3. 제1 항에 있어서,
   상기 용기 내에 위치된 자유 표면을 가지는 용융 물질을 더 포함하고, 상기 센서는 상기 용기 내에 위치된 상기 용융 물질의 상기 자유 표면으로부터 반사된 상기 제2 파장 성분을 수신하도록 위치되는 유리 제조 장치.
4. 제1 항에 있어서,
   상기 광의 빔을 방출하도록 위치된 광원을 더 포함하는 유리 제조 장치.
5. 제1 항에 있어서,
   상기 제1 파장 성분 및 상기 제2 파장 성분을 포함하는 복수의 파장 성분들로 상기 광의 빔을 분리하도록 구성된 렌즈를 더 포함하고, 상기 필터는 상기 렌즈로부터 상기 분리된 광의 빔을 수신하도록 위치되는 유리 제조 장치.
6. 제1 항에 있어서,
   상기 필터 또는 상기 센서 중 하나 이상이 위치되는 자켓(jacket) 내부를 정의하는 자켓을 더 포함하고, 상기 자켓은 광학적으로 투명한 유리 제조 장치.
7. 광의 빔으로부터 제1 파장 성분을 제거하는 단계;
   용융 물질의 자유 표면으로부터 제2 파장 성분을 포함하는 상기 광의 빔을 반사시키는 단계;
   상기 용융 물질의 상기 자유 표면으로부터 반사된 상기 광의 빔으로부터 상기 제2 파장 성분을 센싱하는 단계; 및
   상기 광의 빔의 상기 센싱된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 용융 물질의 레벨을 결정하는 단계를 포함하는 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법.
8. 제7 항에 있어서,
   상기 광의 빔으로부터 상기 제1 파장 성분을 제거하기 전에, 상기 제1 파장 성분 및 상기 제2 파장 성분을 포함하는 복수의 파장 성분들로 상기 광의 빔을 분리하는 단계를 더 포함하는 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법.
9. 제7 항에 있어서,
   상기 용융 물질의 상기 결정된 레벨에 기초하여 상기 용융 물질의 유량을 변경하는 단계를 더 포함하는 유리 제조 장치 내의 용융 물질의 레벨을 결정하는 방법.
10. 배치(batch) 채움 속도로 배치 물질을 용융 용기로 공급하는 단계;
    상기 배치 물질을 용융 물질로 용융시키는 단계;
    광의 빔으로부터 제1 파장 성분을 제거하는 단계;
    상기 용융 물질의 자유 표면으로부터 제2 파장 성분을 포함하는 상기 광의 빔을 반사시키는 단계;
    상기 용융 물질의 상기 자유 표면으로부터 반사된 상기 광의 빔으로부터 상기 제2 파장 성분을 센싱하는 단계; 및
    상기 센싱된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 배치 채움 속도를 변경하는 단계를 포함하는 유리를 제조하는 방법.
11. 제10 항에 있어서,
    상기 센싱된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 용융 물질의 레벨을 결정하는 단계를 더 포함하는 유리를 제조하는 방법.
12. 제11 항에 있어서,
    상기 배치 채움 속도를 변경하는 단계는 상기 용융 물질의 상기 결정된 레벨에 기초하는 유리를 제조하는 방법.
13. 제10 항에 있어서,
    상기 제2 파장 성분은 상기 제1 파장 성분의 파장보다 작은 파장을 포함하는 유리를 제조하는 방법.
14. 제10 항에 있어서,
    상기 센싱된 제2 파장 성분에 기초하여 상기 용융 물질의 온도를 조절하는 단계를 더 포함하는 유리를 제조하는 방법.
15. 제10 항에 있어서,
    상기 배치 채움 속도를 변경하는 단계는 상기 용융 물질로부터 형성된 유리 리본의 중량에 추가적으로 기초하는 유리를 제조하는 방법.
    
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