KR102620036B1 - 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법 - Google Patents

웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102620036B1
KR102620036B1 KR1020220038646A KR20220038646A KR102620036B1 KR 102620036 B1 KR102620036 B1 KR 102620036B1 KR 1020220038646 A KR1020220038646 A KR 1020220038646A KR 20220038646 A KR20220038646 A KR 20220038646A KR 102620036 B1 KR102620036 B1 KR 102620036B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
wells
well
alignment
sheet
sheets
Prior art date
Application number
KR1020220038646A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20230140040A (ko
Inventor
김정태
하동수
박용우
이종웅
Original Assignee
빛기술 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 빛기술 주식회사 filed Critical 빛기술 주식회사
Priority to KR1020220038646A priority Critical patent/KR102620036B1/ko
Publication of KR20230140040A publication Critical patent/KR20230140040A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102620036B1 publication Critical patent/KR102620036B1/ko

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B38/00Ancillary operations in connection with laminating processes
    • B32B38/18Handling of layers or the laminate
    • B32B38/1825Handling of layers or the laminate characterised by the control or constructional features of devices for tensioning, stretching or registration
    • B32B38/1833Positioning, e.g. registration or centering
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B3/00Layered products comprising a layer with external or internal discontinuities or unevennesses, or a layer of non-planar form; Layered products having particular features of form
    • B32B3/26Layered products comprising a layer with external or internal discontinuities or unevennesses, or a layer of non-planar form; Layered products having particular features of form characterised by a particular shape of the outline of the cross-section of a continuous layer; characterised by a layer with cavities or internal voids ; characterised by an apertured layer
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B41/00Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
    • B32B41/02Safety arrangements
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B41/00Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
    • B32B2041/04Detecting wrong registration, misalignment, deviation, failure

Abstract

본 발명은, 베이스 시트와 커버 시트를 각각의 얼라인 마크를 기준으로 정렬하여 합착하는 단계; 상기 베이스 시트와 상기 커버 시트 각각에 형성된 복수의 웰들 간의 정렬 상태를 판단하는 단계; 상기 웰들 간의 정렬 상태가 불량한 경우에, 상기 웰들 간의 오프셋 값을 결정하는 단계; 및 다음의 베이스 시트 및 커버 시트 간의 합착시에, 상기 얼라인 마크를 기준으로 한 정렬에 상기 오프셋 값을 고려하는 단계를 포함하는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법을 제공한다.

Description

웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법{LAMINATION METHOD FOR SHEETS HAVING WELLS}
본 발명은 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 사람의 질병 보유 여부를 검사하기 위해서는 인체에서 검체를 채취하게 된다. 간이 검사 방식에 있어서, 검체는 진단 키트에 떨어뜨려져서, 질병 보유 여부 판정에 이용될 수 있다.
이를 위해, 진단 키트는 진단 시약을 보유하고 있어야 한다. 진단 시약이 저장되는 공간을 만들기 위해서, 진단 키트는 복수의 층이 합착된 구조로 형성된다. 진단 시약을 수용하는 공간을 정확히 구성하기 위해서는, 복수 층을 형성하는 시트들 간의 정렬이 중요하다.
그러나, 시트들에 수용 공간을 형성하기 위한 인쇄 과정에서의 오차, 주변 온도에 의한 시트의 변형, 시트의 신축성에 의한 변형 등의 원인으로 인해, 수용 공간을 기준으로 한 정렬이 정확하게 이루어지지 못할 수도 있다.
본 발명의 일 목적은, 진단 시약을 수용하는 웰을 기준으로 하여 시트들 간의 정확한 정렬이 이루어지게 하는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법을 제공하는 것이다.
상기한 과제를 실현하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법은, 베이스 시트와 커버 시트를 각각의 얼라인 마크를 기준으로 정렬하여 합착하는 단계; 상기 베이스 시트와 상기 커버 시트 각각에 형성된 복수의 웰들 간의 정렬 상태를 판단하는 단계; 상기 웰들 간의 정렬 상태가 불량한 경우에, 상기 웰들 간의 오프셋 값을 결정하는 단계; 및 다음의 베이스 시트 및 커버 시트 간의 합착시에, 상기 얼라인 마크를 기준으로 한 정렬에 상기 오프셋 값을 고려하는 단계를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 베이스 시트와 상기 커버 시트 각각에 형성된 복수의 웰들 간의 정렬 상태를 판단하는 단계는, 적층된 상기 베이스 시트와 상기 커버 시트를 촬영하여, 상기 베이스 시트의 베이스 웰과 상기 커버 시트의 커버 웰에 대한 이미지를 분석하는 단계를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 베이스 웰과 상기 커버 웰에 대한 이미지 분석은, 상기 베이스 웰과 상기 커버 웰 간의 어긋남을 분석하는 것을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 어긋남은, 상기 베이스 웰의 윤곽선과 상기 커버 웰의 윤곽선 간의 간격을 기초로 결정될 수 있다.
여기서, 상기 웰들 간의 정렬 상태가 불량한 경우에, 상기 웰들 간의 오프셋 값을 결정하는 단계는, 상기 웰들 중 대응하는 두 쌍의 웰들을 선정하고, 상기 두 쌍의 웰들을 기준으로 중심의 어긋남을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 두 쌍의 웰들은, 상기 베이스 시트 및 상기 커버 시트의 웰들 중 중앙 열을 따라 배열된 웰들을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 두 쌍의 웰들은, 상기 중앙 열의 양 끝에 위치한 웰들을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 오프셋 값은, 상기 두 쌍의 웰들 각각에서의 상기 어긋남에 대한 평균 값일 수 있다.
여기서, 상기 웰들 간의 정렬 상태가 불량한 경우에, 상기 웰들 간의 오프셋 값을 결정하는 단계는, 상기 베이스 시트와 상기 커버 시트의 네 코너 영역 각각에서 복수 쌍의 웰들을 선정하고, 상기 복수 쌍의 웰들에서의 어긋남의 평균 값을 상기 오프셋 값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 코너 영역 각각에서 상기 복수 쌍의 웰들은, 사각 형을 이루도록 배열된 4개의 웰들을 포함할 수 있다.
여기서, 상기 다음의 베이스 시트 및 커버 시트 간의 합착시에, 상기 얼라인 마크를 기준으로 한 정렬에 상기 오프셋 값을 고려하는 단계는, 상기 다음의 베이스 시트와 커버 시트 각각의 얼라인 마크를 기초로 무게 중심을 구하고, 상기 무게 중심에 오프셋 값을 반영하는 단계를 포함할 수 있다.
상기와 같이 구성되는 본 발명에 따른 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법에 의하면, 베이스 시트와 커버 시트를 얼라인 마크를 기준으로 정렬하여 합착한 후 각각의 웰들 간의 정렬 상태를 판단하고 불량인 경우 웰들 간의 오프셋 값을 결정하여 다음의 베이스 시트와 커버 시트 간의 정렬 시에 고려하도록 하여, 웰을 기준으로 시트들 간의 정확한 정렬이 이루어질 수 있다.
그에 의해, 대량 생산되는 진단 키트에서 시트 간의 정렬 불량으로 인한 제품 불량이 지속적으로 발생하는 것을 막을 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 2는 서로 합착되는 베이스 시트(100)와 커버 시트(200)를 설명하기 위한 평면도이다.
도 3은 베이스 시트(100)와 커버 시트(200)가 합착된 상태에 대한 검사 방식을 보인 개념도이다.
도 4는 베이스 웰(130)과 커버 웰(230) 간의 정렬 불량의 일 예를 보인 개념도이다.
도 5는 베이스 시트(100)와 커버 시트(200) 간의 정렬 불량을 개선하기 위한 오프셋 값 결정 방식을 설명하기 위한 개념도이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일·유사한 구성에 대해서는 동일·유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
본 도면을 참조하면, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법은, 베이스 시트(100)와 커버 시트(200)를 정렬 후 합착하는 것으로 시작된다(S1). 그들의 정렬은 얼라인 마크들(130 및 230)을 기준으로 이루어진다.
그들이 합착된 상태에서, 그들의 웰들(150 및 250, 이상 도 2 참조) 간의 정렬 상태가 판단된다(S3). 정렬 상태가 불량이라면(S5), 웰들(150 및 250) 간의 오프셋 값이 결정될 수 있다(S7). 이러한 오프셋 값은 다음 순서로 합착되는 베이스 시트(100)와 커버 시트(200) 간의 얼라인 마크들(130 및 230)를 이용한 정렬 시에 반영될 수 있다.
이와 달리, 웰들(150 및 250) 간의 정렬 상태가 양호하다면(S5), 다음의 베이스 시트(100)와 커버 시트(200) 간의 정렬시에는 앞선 순서에서의 정렬 기준을 동일하게 유지하게 된다.
이러한 구성에 따라, 베이스 시트(100)와 커버 시트(200) 간의 정렬을 얼라인 마크들(130 및 230)에 기초하면서도, 실제 정렬이 요구되는 웰들(150 및 250) 간의 정렬 상태를 판단하여 다음 정렬 시에 반영할 수 있게 된다.
그에 의해, 얼라인 마크들(130 및 230)만을 기준으로 한 정렬이 잘못되었음에도 이후의 정렬 불량이 지속적으로 이어지는 것을 방지할 수 있다. 이는 베이스 시트(100)와 커버 시트(200) 간의 합착 제품에서의 대량의 불량을 방지할 수 있게 한다.
이상의 각 단계에 대해 도 2 내지 도 5를 참조하여 보다 구체적으로 설명한다.
도 2는 서로 합착되는 베이스 시트(100)와 커버 시트(200)를 설명하기 위한 평면도이다.
본 도면을 참조하면, 베이스 시트(100)는 필름 형태의 본체(110)를 가진다. 본체(110)는 대체로 사각 형태로서, 네 코너에는 얼라인 마크(130)가 형성될 수 있다. 얼라인 마크(130)는 십자 형태로 형성될 수 있다.
본체(110)에는 또한 베이스 웰(130)이 형성될 수 있다. 베이스 웰(130)은 진단 시약을 수용하기 위해 오목한 부분이다. 베이스 웰(130)은 복수 개로 구비되어, 격자 형태로 배열될 수 있다. 베이스 웰(130)은 본체(110) 중 나머지 영역에 인쇄층을 형성함에 의해 오목하게 만들어진다. 그에 따라, 인쇄 상태, 기타 필름의 신축에 따라, 베이스 웰(130)의 위치에 다소 간의 변동이 생기게 되는 것이다.
커버 시트(200)는 베이스 시트(100)와 대체로 동일하다. 그 역시 필름인 본체(210)에 얼라인 마크(230)와 커버 웰(250)이 형성된 것이다. 커버 웰(250) 역시 주변 영역에 인쇄층이 형성됨에 상대적으로 오목하게 형성된 것이다.
여기서, 커버 웰(250)은 베이스 웰(130) 보다 사이즈가 작은 것일 수 있다.
도 3은 베이스 시트(100)와 커버 시트(200)가 합착된 상태에 대한 검사 방식을 보인 개념도이다.
본 도면을 참조하면, 베이스 시트(100)와 커버 시트(200)는 서로 합착된 상태다. 이를의 합착은, 얼라인 마크들(130 및 230)을 기준으로 서로에 대해 정렬시킨 후에 이루어진 것이다. 나아가, 이들 사이에는 스페이서(미도시)가 개입될 수도 있다.
커버 시트(200) 상에 베이스 시트(100)가 올려진 상태에서, 베이스 웰(130) 내에는 커버 웰(250)이 위치할 수 있다. 그에 의해, 커버 웰(250)을 둘러싸는 부분이 베이스 웰(130) 내에 위치하는 것으로 보여지게 된다.
여기서, 얼라인 마크들(130 및 230) 기준을 넘어서, 웰들(150 및 250) 간의 정렬 상태가 제대로인지는 비전 센서(300)를 통해 파악될 수 있다. 비전 센서(300)는 합착된 베이스 시트(100)와 커버 시트(200)를 촬영하여, 웰들(150 및 250)에 대한 영상을 획득한다. 제어 모듈(미도시)은 상기 영상에 기초하여, 웰들(150 및 250) 에 대한 이미지를 분석하여 그들 간의 정렬 상태를 판단하게 된다.
도 4는 베이스 웰(130)과 커버 웰(230) 간의 정렬 불량의 일 예를 보인 개념도이다.
본 도면을 참조하면, 웰들(150 및 250)에 대한 이미지 분석은 그들 간의 어긋남을 분석하는 것이다.
그들이 어긋난 상태는, 본 도면에 예시된 바와 같이, 베이스 웰(130)의 중심(C1)과 커버 웰(250)의 중심(C2)이 서로 어긋난 상태이다.
또한, 그들의 윤곽선 간의 간격도 상하/좌우로 어긋나게 된다. 그에 따라, X방향을 따른 윤곽선들의 좌우 간격인 dx1과 dx2는 서로 다르다. Y방향을 따르는 상하의 간격인 dy1과 dy2 역시 서로 다르다.
나아가, 그 다름의 편차가 큰 경우, 예를 들어 dx1이나 dy1이 영에 가까운 경우라면, 웰들(150 및 250) 간의 정렬 상태는 상기 제어 모듈에 의해 불량으로 평가될 것이다.
도 5는 베이스 시트(100)와 커버 시트(200) 간의 정렬 불량을 개선하기 위한 오프셋 값 결정 방식을 설명하기 위한 개념도이다.
본 도면을 참조하면, 오프셋 값을 결정하기 위해서는, 복수의 웰들(150 및 250) 중에서 두 쌍의 웰들을 선정하고, 그들을 기준으로 어긋남을 결정할 수 있다.
두 쌍의 웰들은 서로 이격된 것일 수 있다. 또한, 두 쌍의 웰들은 복수의 웰들(150 및 250) 중 중앙에 위치한 것일 수 있다. 이러한 관점들을 고려하면, 두 쌍의 웰들은 중앙 열(M)을 따라 배열된 것들일 수 있다. 나아가, 그들은 중앙 열(M)의 양 끝에 위치하는 것들일 수 있다. 중앙 열(M)을 기준으로 함에 따라, 오프셋 값 반영시 좌우의 웰들에서 어긋남의 양이 누적되는 정도가 낮아질 수 있다.
두 쌍의 웰들에 대해서, 각각 베이스 웰(130)과 커버 웰(250) 간의 어긋남이 산출될 수 있다. 오프셋 값은 각각의 어긋남에 대한 평균 값으로 결정될 수 있다.
이러한 구성에 따라, 두 쌍의 웰들 각각에서 중심(C1 및 C2) 간의 X 방향 및 Y 방향으로의 불일치 간격의 평균값, 상측 웰들과 하측 웰들에서 각 중심(C1 또는 C2)를 연결하는 선 간의 각도(θ)가 구해질 수 있다. 이상의 평균 값과 각도(θ)가 오프셋 값으로 설정될 수 있다.
이러한 오프셋 값은 다음의 베이스 시트(100)와 커버 시트(200) 간의 얼라인 마크들(130 및 230)를 기초로 한 정렬에 반영된다. 구체적으로, 얼라인 마크들(130 및 230)을 기초로 무게 중심(G)이 선정된 후에, 그 무게 중심(G)에 대해 평균값을 반영하고 또한 각도(θ)를 반영하여 시트들을 정렬할 수 있다.
마지막으로, 또 다른 오프셋 값 결정 방식을 설명한다.
삭제
오프셋 값을 결정하기 위해서, 베이스 시트와 커버 시트 각각의 네 코너 영역의 웰들이 선정될 수 있다. 해당 영역 별로, 웰들은 복수 개로서, 구체적으로 사각형을 이루는 4개의 웰들로 선정될 수 있다. 선정된 웰들에 대해 어긋남의 평균 값을 구하여, 그를 오프셋 값으로 결정할 수 있다.
상기와 같은 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법은 위에서 설명된 실시예들의 구성과 작동 방식에 한정되는 것이 아니다. 상기 실시예들은 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 구성될 수도 있다.
100: 베이스 시트 110: 본체
130: 얼라인 마크 150: 베이스 웰
200: 커버 시트 210: 본체
230: 얼라인 마크 250: 커버 웰
300: 비전 센서

Claims (11)

  1. 베이스 시트와 커버 시트를 각각의 얼라인 마크를 기준으로 정렬하여 합착하는 단계;
    상기 베이스 시트와 상기 커버 시트 각각에 형성된 복수의 웰들 간의 정렬 상태를 판단하는 단계;
    상기 웰들 간의 정렬 상태가 불량한 경우에, 상기 웰들 간의 오프셋 값을 결정하는 단계; 및
    다음의 베이스 시트 및 커버 시트 간의 합착시에, 상기 얼라인 마크를 기준으로 한 정렬에 상기 오프셋 값을 고려하는 단계를 포함하는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 시트와 상기 커버 시트 각각에 형성된 복수의 웰들 간의 정렬 상태를 판단하는 단계는,
    적층된 상기 베이스 시트와 상기 커버 시트를 촬영하여, 상기 베이스 시트의 베이스 웰과 상기 커버 시트의 커버 웰에 대한 이미지를 분석하는 단계를 포함하는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 베이스 웰과 상기 커버 웰에 대한 이미지 분석은,
    상기 베이스 웰과 상기 커버 웰 간의 어긋남을 분석하는 것인, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 어긋남은,
    상기 베이스 웰의 윤곽선과 상기 커버 웰의 윤곽선 간의 간격을 기초로 결정되는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 웰들 간의 정렬 상태가 불량한 경우에, 상기 웰들 간의 오프셋 값을 결정하는 단계는,
    상기 웰들 중 대응하는 두 쌍의 웰들을 선정하고, 상기 두 쌍의 웰들을 기준으로 중심의 어긋남을 결정하는 단계를 포함하는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 두 쌍의 웰들은,
    상기 베이스 시트 및 상기 커버 시트의 웰들 중 중앙 열을 따라 배열된 웰들인, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 두 쌍의 웰들은,
    상기 중앙 열의 양 끝에 위치한 웰들인, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 오프셋 값은,
    상기 두 쌍의 웰들 각각에서의 상기 어긋남에 대한 평균 값인, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 웰들 간의 정렬 상태가 불량한 경우에, 상기 웰들 간의 오프셋 값을 결정하는 단계는,
    상기 베이스 시트와 상기 커버 시트의 네 코너 영역 각각에서 복수 쌍의 웰들을 선정하고, 상기 복수 쌍의 웰들에서의 어긋남의 평균 값을 상기 오프셋 값으로 결정하는 단계를 포함하는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 코너 영역 각각에서 상기 복수 쌍의 웰들은,
    사각 형을 이루도록 배열된 4개의 웰들을 포함하는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 다음의 베이스 시트 및 커버 시트 간의 합착시에, 상기 얼라인 마크를 기준으로 한 정렬에 상기 오프셋 값을 고려하는 단계는,
    상기 다음의 베이스 시트와 커버 시트 각각의 얼라인 마크를 기초로 무게 중심을 구하고, 상기 무게 중심에 오프셋 값을 반영하는 단계를 포함하는, 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법.
KR1020220038646A 2022-03-29 2022-03-29 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법 KR102620036B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220038646A KR102620036B1 (ko) 2022-03-29 2022-03-29 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220038646A KR102620036B1 (ko) 2022-03-29 2022-03-29 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20230140040A KR20230140040A (ko) 2023-10-06
KR102620036B1 true KR102620036B1 (ko) 2024-01-02

Family

ID=88296332

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020220038646A KR102620036B1 (ko) 2022-03-29 2022-03-29 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102620036B1 (ko)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101439790B1 (ko) 2013-09-12 2014-09-12 유승국 진단 키트 제조 장치 및 이에 의해 제조된 진단 키트

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101057354B1 (ko) * 2009-07-28 2011-08-17 주식회사 나래나노텍 상부 얼라인 마크 및 하부 얼라인 마크를 동시에 얼라인하기 위한 얼라인 장치 및 방법
KR102059437B1 (ko) * 2013-06-17 2019-12-26 (주)선익시스템 Z축 비틀림 보정이 포함된 기판과 마스크 정렬방법
KR20210052655A (ko) * 2019-10-29 2021-05-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치, 그것의 제조 방법, 및 그것의 제조 장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101439790B1 (ko) 2013-09-12 2014-09-12 유승국 진단 키트 제조 장치 및 이에 의해 제조된 진단 키트

Also Published As

Publication number Publication date
KR20230140040A (ko) 2023-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7589844B2 (en) Shape inspection method and apparatus
US6640002B1 (en) Image processing apparatus
US20050232479A1 (en) Method for aligning two objects, method for detecting superimposing state of two objects, and apparatus for aligning two objects
JP2008014940A (ja) 平面状被撮像物のカメラ計測のためのカメラキャリブレーション方法、および応用計測装置
EP3800495A1 (en) Microscope slide coordinate system registration
JPH02143544A (ja) 目合せ用バーニヤパターンを備えた半導体装置
EP0141548B1 (en) Photomask pattern inspection
US10068126B2 (en) Microscope slide coordinate system registration
JP2004500565A (ja) 直線の欠陥検出
KR102620036B1 (ko) 웰이 형성된 시트들간의 라미네이션 방법
US7290489B2 (en) Substrate inspecting apparatus and control method thereof
JP2002288633A (ja) 画像処理装置およびその位置補正方法
JP4267526B2 (ja) 印刷半田検査装置
JPH08181053A (ja) 位置検出方法
KR101787898B1 (ko) 다이 본딩 장치 및 방법
JP2003014654A (ja) 基板の検査方法及び検査装置並びに電子機器用製品の製造方法
CN115087891B (zh) 大型光反射元件的制造方法以及光学成像装置的制造方法
CN217425248U (zh) 显示装置的检查装置
CN105865359B (zh) 板弯量测装置和其板弯量测方法
KR102148751B1 (ko) 검사 효율이 향상된 엑스레이 검사 장치 및 엑스레이 검사 방법
JP2694462B2 (ja) 半導体ウェーハチップの位置合わせ方法
JPH0756183A (ja) 位置合わせ方法
JPS63271176A (ja) 配線パタ−ンの位置合せ方法
JPH03214363A (ja) 文字群の印刷検査方法
JP2021043106A (ja) 放射線透過試験用模擬部材、放射線透過試験用模擬画像作成方法、放射線透過試験装置、放射線透過試験手法評価方法、放射線透過試験手法選定方法、放射線透過試験データ評価方法、および放射線透過試験学習データ生成方法

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant