KR102596662B1 - 얇은 제품의 로그를 제조하는 방법 및 플랜트 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 제품 상에서 검출된 표면 및/또는 두께의 결함의 추적에 의하여 최적의 방식으로 연속적인 얇은 제품, 또는 웨브의 로그(B1, B2)를 생산하는 방법으로서,
- 적어도 하나의 1차 로그를 생성하기 위해, 얇은 제품(T)을 와인딩 머신(winding machine) 에서 로그(log)(B1, B2)로 연속적으로 감는 단계와,
- 상기 연속적인 얇은 제품에서의 표면 및/ 또는 두께의 임의의 결함을 식별하는 단계와,
- 상기 1차 로그 외부의 상기 데이터베이스 시스템(31)에, 1차 로그와 연관된 기준 시스템에 대하여 상기 결함의 적어도 위치를 포함하는 상기 결함에 관련된 정보를 저장하는 단계와,
- 상기 1차 로그에 1차 ID 코드를 할당하는 단계와,
- 상기 1차 코드로 상기 1차 로그를 마킹하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 결함들에 대한 정보를 상기 1차 로그의 1차 ID 코드와 연관시켜서, 상기 데이터베이스에서, 주어진 1차 ID 코드가, 1차 로그 상의 그들의 위치에 의거하여 식별될 수 있는, 각각의 1차 로그의 표면 및/또는 두께에서의 결함과 관련된 정보와 연관되는 단계와,
- 각각의 1차 로그로 감긴 제품의 적어도 하나의 후속 공정을 최적화하기 위해, 상기 데이터베이스 시스템에 저장된, 1차 로그의 결함에 관한 상기 정보를 사용하는 단계로써, 상기 사용은, 처리되고 있는 상기 1차 로그의 1차 코드를 인식하고 1차 로그에 연관된 표면 결함들에 대한 정보에 의거해서 제품을 처리하는 단계를 포함한다.
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Description
본 발명은 종이 제품, 종이, 티슈 페이퍼, 부직포, 필름, 다중 재료 제품 등과 같은 로그에 감기는, 연속적인 얇은 제품 또는 웨브 제품의 제조에 관한 것이다.
특히, 본 발명은, 제품 상에서 검출된 두께 및/또는 표면에서의 결함을 추적함으로써 최적화된 방식으로, 연속적인 얇은 제품 또는 웨브 제품의 로그(log)를 제조하는 방법에 관한 것이다.
또한, 본 발명의 목적은 제품 상에서 검출된 두께 및/또는 표면에서의 결함을 추적함으로써 최적화된 방식으로, 연속적인 얇은 제품 또는 웨브 제품의 로그를 제조하기 위한 플랜트이다.
많은 산업 분야에서, 예를 들어 원통형 코어(cylindrical core) 주위에 감아서 제조된 웨브재의 로그, 소위 마스터 롤(master roll)을 상이한 크기의 롤(roll)로 변형시킬 필요가 있으며; 이 때문에, 마스터 롤을 풀고, 이른바 되감기 기계에 의해, 다른 치수 특징을 갖는 롤로, 이들을 되감는 방법을 제공하는 방법이 사용된다. 더 작은 최종 로그는 그 다음의 제품을 제조하기 위한 라인에 공급하기 위한 반제품(semi-finished)으로서 사용된다.
몇몇의 플랜트에서는, 후속 변환을 위해, 예를 들어, 후속 처리를 위해 되감기 기계에 의해 더 작은 로그로 분할하기 위해, 클라이언트에게 보내지는 마스터 롤만을 제조하며; 몇몇 플랜트에서는, 최종 제품을 생산하기 위해 최종 클라이언트로 보내지는 더 작은 로그를 또한 제조할 수도 있다.
리와인딩 머신은 통상적으로 예를 들어, 제조될 2차 로그의 수와 동일한 다수의 원통형 코어로 길이방향으로 절단되는(즉, 원통형체의 축 방향으로) 초기의 원통형체를 위한 2차 로그용의 지지체 코어가 제조되는 스테이션을 포함하며, 여기에서 각각의 코어는 그것이 지지하는 2차 로그의 폭과 동일한 횡방향 폭(즉, 그 축을 따른 길이)을 갖는다.
또한, 리와인딩 머신은, 풀릴 마스터 롤이 배치되는 영역 및, 그 전방에, 코어 준비 스테이션에서 제조된 지지체 코어가 정렬해서 인접하여 배열되는 영역을 포함한다. 마스터 롤의 꼬리 가장자리는 동축 및 연속적인 지지체 코어의 길이방향 세트에 고정된다. 상기 코어들의 세트는 상기 마스터 롤과 함께 회전 구동되어, 상기 웨브 제품이 코어들의 방향으로 그로부터 풀리도록 한다.
마스터 롤과 지지체 코어 사이에는, 일반적으로 코어 수에서 1을 뺀 것과 동일한 수의 일련의 커팅 블레이드가 배치된다. 블레이드는 코어가 분리되는 영역에 대응하는 길이방향 위치에 배열되어, 마스터 롤이 풀리는 동안, 웨브 제품은 기계 방향으로 절단되고, 따라서 이들이 감기는 대응 코어와 동일한 폭의 웨브를 제조한다.
코어의 개수 및 위치(따라서 코어의 개수 및 횡방향 폭 또는 축방향 길이)는 제조 필요성에 의거하여 변경될 수 있다. 따라서, 마스터 롤로부터, 상이한 횡방향 폭의 가변적인 수의 2차 로그가 제조될 수 있다.
ID 코드를 가진 종이 라벨은 2차 로그의 외부 표면 상에 고정되고, ID 코드는 로그를 저장하고 클라이언트에게 전달하는 데 유용하다.
본 명세서에 개시된 것과 유사한 생산 플랜트는, 예를 들어 특허 문헌 WO2008/010239에 개시되어 있다.
웨브 제품을 제조할 때, 다른 결함뿐만 아니라 표면 또는 폭의 결함이 발생할 수 있다. 이들 결함을 갖는 제품은 마스터 롤에 감긴다. 어느 경우에는, 2차 로그를 되감기 위해 마스터 롤이 풀릴 때 표면 결함을 검증하는 것이 가능하다. 이러한 결함이 검출될 때, 생산 플랜트는 정지되고, 결함이 있는 웨브 제품의 일부는 절단되고, 제품은 다시 2차 로그에 고정되고, 되감기가 다시 시작한다; 이는 작업중단시간을 초래하고, 플랜트의 전체 생산성을 감소시킨다.
2차 로그의 제조에서의 또 다른 문제점은 일단 이들이 제조되면 그 관리이다. 상이한 치수의 2차 로그의 존재 및 더 많은 클라이언트들에 대한 동시 생산은, 창고 또는 최종 클라이언트에게 보내질 다수의 릴을 할당하는데 엉망으로 될 수 있으며, 클라이언트에게 전송될 릴의 포장에서 실수를 할 위험이 있다. 이것은 또한 자동화된 창고 관리 시스템의 경우에 발생할 수 있다.
[발명의 목적 및 요약]
본 발명의 목적은, 웨브 재료의 롤(roll)의 제조에 관한 공지된 문제, 특히 작업 중단 시간 및 완성된 제품 창고의 관리에 연결된 문제를 해결하는 것이다.
이 목적 내에서, 본 발명의 중요한 목적은, 제품 상에서 검출된 표면 및/또는 두께의 결함을 추적함으로써 최적화된 방식으로 연속적인 얇은 제품의 로그를 제조하기 위한 방법 및 플랜트를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은, 제품 상에서 검출된 표면 및/또는 두께의 결함을 추적함으로써, 작업중단 시간을 피할 수 있는 최적화된 방식으로 연속적인 얇은 제품의 로그(log)를 생성하는 방법 및 플랜트를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 제품 상에서 검출된 표면 및/또는 두께 에서의 결함을 추적함으로써 최적화된 방식으로 연속적인 얇은 제품의 로그를 제조하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이며, 이것은 플랜트에서 제조된 로그의 취급을 용이하게 한다.
마지막이지만 가치가 적지 않은, 본 발명의 또 다른 목적은, 제조 마스터 롤의 하류에서, 마스터 롤이 생산된 플랜트 외부에서 조차도, 로그의 후속 처리를 용이하게 하는, 제품 상에서 검출된 두께 및/또는 표면의 결함을 추적함으로써 최적화된 방식으로 연속적인 얇은 제품의 로그를 제조하기 위한 방법 및 플랜트를 제공하는 것이다.
이하에서 보다 명백해질 이들 및 다른 목적은, 청구항 제 1항의 방법 및 청구항 제 20항의 플랜트를 통해 달성된다.
제 1측면에 따르면, 본 발명은, 예를 들어, 되감기(rewinding)와 같은 로그 감기 단계에서 검출된 제품 파라미터를 추적해서 최적화된 방식으로 무한한 얇은 제품의 로그(log)를 제조하는 방법에 관한 것으로, 상기 방법은 이하의 단계를 포함한다:
- 얇은 제품을 다수의 스트립으로 절단하는 단계와,
- 상기 복수의 인접 로그의 스트립을 감는 단계와,
- 절단 단계 전 또는 후에, 상기 얇은 제품과 연관된 파라미터를 검출하는 단계와,
- 상기 복수의 인접 로그 중 적어도 하나의 로그에 대해, 상기 로그 외부의 데이터베이스 시스템에 상기 파라미터에 대한 정보를 저장하는 단계와,
- ID 코드를 상기 적어도 하나의 로그에 할당하는 단계와,
- 상기 적어도 하나의 로그를 상기 ID 코드로 마킹하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 파라미터에 관한 상기 정보를 상기 적어도 하나의 로그의 상기 ID 코드에 연관시켜, 상기 대응하는 로그의 상기 파라미터에 대한 정보가, 상기 데이터베이스에서, 소정의 ID 코드에 연관되도록 하는 단계와,
- 상기 적어도 하나의 로그의 후속 처리 단계들에서, 상기 적어도 하나의 로그에 감긴 상기 제품의 적어도 하나의 후속 처리를 최적화하기 위해, 상기 데이터베이스 시스템에 저장된 상기 파라미터들에 관한 정보를 공유하는 단계, 즉 상기 데이터베이스 시스템에 저장된, 상기 적어도 하나의 로그의 상기 파라미터들에 대한 상기 정보를 사용하는 적어도 하나의 단계를 실현하는 단계로써, 상기 사용은 처리되는 상기 적어도 하나의 로그의 ID 코드를 인식하고 로그의 파라미터에 관한 정보에 의거하여 상기 로그의 제품을 처리하는 단계를 제공한다.
실제로, 아이디어는 로그 감기 단계 동안 측정된 제품 파라미터를 식별하고,이들을 그 로그에 연관시켜, 이 로그에 대한 후속 동작이 이들 파라미터를 고려하도록 하는 것이다(실제로, 제품 파라미터는 롤에 기록되어 남아 있다.).
바람직한 실시예에 따르면, 상기 데이터베이스 시스템은 텔레마티컬리(telematically) 원격 액세스 가능한 서버와 연관되고, 상기 얇은 제품을 복수의 로그로 감는 상기 단계는 제 1플랜트에서 발생하며, 상기 감기 후에, 상기 로그 중 적어도 하나에 대한 적어도 하나의 추가 처리는, 원격으로 액세스 가능한 데이터베이스 시스템에 저장된 대응하는 로그와 연관된 파라미터에 대한 정보를 사용하여, 제 2플랜트에서 최적화된 방식으로 이루어진다.
이것은 제 1롤이 생성되는 플랜트의 하류에서도 얇은 제품의 생산 공정을 최적화할 수 있게 한다. 즉 소위 변환 라인, 즉 반제품의 롤을 최종 제품으로 변환하는 생산 라인의 생산을 최적화하는 것이다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 방법은 마스터 롤(master roll) 또는 1차 로그(primary log)로 불리는 로그를 감는 제 1단계, 및 상기 1차 로그를, 2차 로그로 불리는 상기 복수의 로그로 감는, 되감기라고 불리는, 후속 제 2단계를 포함하며, 상기 되감기 단계 동안 상기 스트립으로 절단하는 단계가 발생하며, 상기 1차 로그를 생성하는 단계는 이하의 단계를 포함한다.
- 적어도 하나의 1차 로그를 생성하기 위해, 상기 얇은 제품을 와인딩 머신(winding machine)에서 로그(log)로 연속적으로 감는 단계,
- 상기 1차 로그를 생성하기 위해 감긴 상기 얇은 제품과 연관된 상기 제 1일련의 상기 파라미터를 식별하는 단계,
- 상기 1차 로그 외부의 상기 데이터베이스 시스템에, 상기 파라미터에 대한 정보를 저장하는 단계,
- 상기 1차 로그에 1차 ID 코드를 할당하는 단계,
- 상기 1차 코드로 상기 1차 로그를 마킹하는 단계,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 파라미터에 대한 정보를 상기 1차 로그의 상기 1차 ID 코드에 연관시킴으로써, 상기 데이터베이스에서, 주어진 1차 ID 코드에, 대응하는 1차 로그의 상기 파라미터에 관한 정보가 연관되도록 하는 단계.
일부 실시예에서, 1차 로그를 생성하는 단계는 수행되지 않으며, 따라서 연속적인 얇은 제품은 생산 라인으로부터 되감기 단계로 직접 공급되어, 생산 라인으로부터 제품이, 제조될 롤과 동일한 폭의 웨브로 절단되어, 다수의 롤을 생성한다.
주목해야할 것은, 되감기 동안, 코어 상에 감긴 얇은 제품의 측면 트리밍(trimming) 만을 절단할 수 있어서, 되감기 단계 동안, 하나의 단일 릴이 감긴 최종 제품과 하나 또는 두 개의 릴과 함께 나올 수 있으며, 이 릴은 트리밍을 가지고 배출된다는 것이다; 대안적으로, 단지 하나의 로그만이 존재할 수 있고, 트리밍은 흡입 개구를 통해 연속적으로 배출된다.
1차 로그에 감는 단계 및 후속 되감기 단계에서, 되감기 단계는,
- 통상의 지지체 코어를, 요구되는 2차 로그의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭을 갖는, 제품이 되감기게 될 복수의 2차 지지체 코어로 절단하는 단계와,
- 얇은 제품을 푸는 단계와,
- 얇은 제품을 제품 공급 방향으로 절단하는 단계로써; 상기 절단 위치는 상기 제품을, 서로 인접하여 배열되고 정렬된 대응하는 2차 지지체 코어의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭의 2개 이상의 스트립으로 절단하는 위치이며,
- 얇은 제품의 2차 로그를 생성하도록 각각의 2차 지지체 코어 상에 상기 스트립을 되감기하는 단계를 제공하며,
- 또한 상기 1차 로그의 1차 ID 코드를 판독하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서 판독된 상기 1차 ID 코드와 연관된, 상기 1차 로그에서의 상기 얇은 제품의 상기 파라미터에 대한 정보를 획득하는 단계가 제공되며,
또한,
- 각각의 2차 로그들에 2차 ID 코드들을 할당하는 단계와,
- 상기 2차 로그들을 각각의 2차 ID 코드들에 의해 마킹하는 단계와,
- 상기 1차 로그의 제 1일련의 파라미터에 대한 정보를 각각 2차 로그의 제 2일련의 파라미터에 대한 정보로 변경하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 2차 ID 코드들을, 대응하는 2차 로그들의 파라미터들에 대한 각각의 정보에 연관시켜서, 각각의 2차 로그에 제 2일련의 파라미터들이 연관되도록 하는 단계가 제공된다.
바람직하게는, 상기 복수의 2차 지지체 코어의 개수 및/또는 횡방향 폭, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은, 상기 1차 로그에서의 상기 얇은 제품의 일련의 파라미터와 관련된 정보를 고려하여 결정되므로, 각각의 2차 로그에서 원하는 제 2일련의 파라미터가 연관된다. 따라서, 바람직하게는, 상기 복수의 2차 지지체 코어의 절단, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은,
- 상기 1차 로그(B1)에서의 상기 얇은 제품의 원하는 일련의 파라미터에 대한 정보의 함수이거나, 또는
- 상기 1차 로그(B1)에서의 상기 얇은 제품의 일련의 파라미터에 대한 정보와는 독립된,
1차 로그의 풀림 방향에 횡방향의 절단 위치를 제공한다.
이 방법은 바람직하게는 1차 로그 또는 마스터 롤이 2차 로그로 되감기 후에 1차 로그 또는 마스터롤로부터 1차 ID 코드를 삭제하는 단계를 포함한다.
특히 바람직한 실시예에 따르면, 파라미터는 얇은 제품의 표면 및/또는 두께의 결함을 포함한다. 결함에 관련된 상기 파라미터에 대한 정보는 상기 로그 상의 상기 결함의 위치를 포함하는 것이 바람직하고; 위치에 대한 상기 정보는 로그의 중심으로부터 풀려진 제품 미터(meter) 및 상기 로그의 가장자리로부터의 거리의 관점에서 로그 상의 결함의 좌표를 포함하는 것이 바람직하다.
로그 상의 결함의 위치를 식별하고, 그 생산의 하류에서 상기 로그로부터 생성된 얇은 제품 상의 결함에 대한 상기 정보를 전달하는 것에 의해, 전체 생산 체인을 최적화할 수 있고, 최종 제품의 품질 수준을 알고, 전체 결함 제품 또는 그 일부를 제거하기 위해 개입할 수 있다.
바람직한 실시예에 따르면, 얇은 제품의 파라미터는 또한 다음 중 하나 이상을 포함한다: 기계적 파라미터, 그 중에서 e-모듈러스 및/또는 푸아송 비(Poisson's ratio), 감기 파라미터, 그 중에서 로그의 밀도 프로파일 및/또는 장력 및/또는 슬라이딩, 및/또는 NIP, 결함을 제거하기 위한 결합의 위치.
바람직하게는, 상기 검출된 파라미터에 대한 정보 이외에, 상기 데이터베이스 시스템에는, 로그의 ID 코드와 연관된, 예를 들어, 로그 치수, 중량, 제품 재료, 및 상업적 데이터 중 하나 이상의 로그와 관련된 일반적인 정보가 있다.
바람직한 실시예에 따르면, 제품의 감기는 각각의 로그의 지지체 코어 상에서 수행되고, 상기 마킹은 상기 지지체 코어 상에서 또는 로그의 외부에서 이루어진다.
바람직한 실시예에 따르면, 로그의 마킹은 각각의 지지체 코어 상에서, 바람직하게는 지지체 코어 상에 얇은 제품을 감는 단계의 시작 전에, 또는 로그의 외부에서 감기 후에 수행된다.
바람직한 실시예에 따르면, 적어도 하나의 상기 로그의 마킹은 그래프의, 전자의 또는 자기의 마킹, 또는 이들의 혼합이다.
상기 적어도 하나의 로그의 마킹은 바람직하게는 a)그래프, b)전자, 예를 들어 RFID, 또는 c)자기 테이프일 수 있는 지지체의 부착을 통해 수행된다. 바람직하게는, 전자 또는 자기 지지체의 경우, 상기 적어도 하나의 로그에 지지체를 부착하기 전에, 또는 상기 지지체가 상기 1차 로그에 부착될 때, 상기 1차 ID 코드를 상기 지지체에 할당하기 위한 프로그래밍 단계가 제공된다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 방법은, 얇은 제품을 로그로 감는 단계 후에, 만약 필요한 경우, 각각의 로그와 연관된 파라미터에 대한 정보에 의거하여 하나 이상의 로그를 거부하는 단계를 포함하며, 상기 거부 단계는, 로그의 ID 코드를 판독하는 단계와, 상기 ID 코드의 상기 데이터베이스 시스템과 상호작용하여 각각의 로그의 파라미터에 대한 정보에 액세스하는 단계와, 어느 로그가 거부되어야 하는지를 결정하는 결정 단계를 포함한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 방법은 또한,
- 감기 영역으로부터 상기 패킹 영역으로 상기 적어도 하나의 로그를 이동시키는 단계와,
- 패킹 영역에 도달한 상기 적어도 하나의 로그의 ID 코드를 판독하는 단계와,
- 적어도 하나의 로그에 의해 형성되는 팩(pack)들로 팩킹하는 단계와,
- 데이터베이스 시스템에서, 각각의 팩을 형성하는 로그들의 2차 코드들에 의해 형성되는 연관성(association)을 만드는 단계를 포함한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 방법은, 패킹 단계 전에, 만약 필요한 경우, 각각의 로그와 연관된 파라미터에 대한 정보에 의거하여 하나 이상의 로그를 거부하는 단계를 포함한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 적어도 하나의 로그에 대한 상기 후속 처리에서는, 바람직하게는 원격으로 액세스 가능한, 데이터베이스 시스템에 저장된 각각의 로그 상의 결함의 위치에 대한 상기 정보를 고려하여, 더 작은 치수의 로그로 되감기한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 얇은 제품의 표면 및/또는 두께의 결함을 포함하는 상기 파라미터를 검출하는 상기 단계는, 1차 로그로 또는 1차 로그의 외부 표면 상에 감기 시작 전에 발생한다.
또 다른 측면에 따르면, 상기 방법은 또한 제품 상에서 검출된 표면 및/또는 두께의 적어도 결함을 구체적으로 추적함으로써 최적화된 방식으로의 연속적인 얇은 제품의 로그들의 생산에 관한 것이며,
- 적어도 하나의 1차 로그를 생성하기 위해, 상기 얇은 제품을 와인딩 머신에 로그로 연속적으로 감는 단계와,
- 상기 연속적인 얇은 제품의 표면 및/또는 두께에서의 임의의 결함을 식별하는 단계와,
- 상기 1차 로그 외부에서, 상기 1차 로그와 연관된 기준 시스템에 대한 적어도 상기 결함들의 위치를 포함하는 상기 결함들에 관련된 정보를, 데이터베이스 시스템에 저장하는 단계와,
- 상기 1차 로그에 1차 ID 코드를 할당하는 단계와,
- 상기 1차 로그를 상기 1차 ID 코드로 마킹하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 결함들에 대한 정보를 상기 1차 로그의 1차 ID 코드와 연관시켜서, 상기 데이터베이스에서, 주어진 1차 ID 코드가, 1차 로그 상의 그들의 위치에 의거하여 식별될 수 있는, 각각의 1차 로그의 표면 및/또는 두께에서의 결함과 관련된 정보와 연관되는 단계와,
- 각각의 1차 로그로 감긴 제품의 적어도 하나의 후속 공정을 최적화하기 위해, 상기 데이터베이스 시스템에 저장된, 1차 로그의 결함에 관한 상기 정보를 사용하는 단계로써, 상기 사용은, 처리되고 있는 상기 1차 로그의 1차 코드를 인식하고 1차 로그에 연관된 표면 결함들에 대한 정보에 의거해서 제품을 처리하는 단계를 포함한다.
적절하게는, 상기 연속적인 얇은 제품의 표면 및/또는 두께의 임의의 결함을 검출하는 단계는, 1차 로그로 또는 1차 로그의 외부 표면 상에 감기 시작 전에 발생한다.
바람직하게는, 상기 데이터베이스 시스템에 저장된 1차 로그의 결함에 관한 상기 정보를 사용하는 상기 단계를 통해 최적화된 상기 적어도 하나의 후속 공정은, 1차 로그의 감기 후에, 원하는 횡방향 길이의 2차 로그로 얇은 제품을 되감는 단계를 포함하며, 상기 되감기는 다음 단계,
- 요구되는 2차 로그의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭을 갖는, 제품이 되감기게 될 복수의 2차 지지체 코어로 통상의 지지체 코어를 절단하는 단계와,
- 얇은 제품을 푸는 단계와,
- 제품 공급 방향으로 얇은 제품을 절단하는 단계로써, 상기 절단 위치는 함께 인접하여 배열되고 정렬된 대응하는 2차 지지체 코어의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭의 2개 이상의 스트립으로 제품을 절단하는 단계와,
- 얇은 제품의 2차 로그를 생성하도록 각각의 2차 지지체 코어 상에 상기 스트립을 되감는 단계가 제공되며,
또한,
상기 복수의 2차 지지체 코어의 개수 및/또는 횡방향 폭, 따라서 상기 1 차 로그로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은, 상기 1차 로그에서 상기 얇은 제품의 결함의 위치와 관련된 정보를 고려하여 결정되어, 각각의 2차 로그에 원하는 제 2세트의 결함이 제공되는 것을 특징으로 하고,
- 상기 1차 로그의 1차 코드를 판독하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서 판독된 1차 ID코드와 연관된, 상기 1차 로그의 상기 얇은 제품의 상기 결함의 위치에 관한 정보를 획득하는 단계가 제공되며,
또한,
- 각각의 2차 로그들에 2차 ID 코드들을 할당하는 단계와,
- 각각의 2차 ID코드에 의하여 상기 2차 로그를 마킹하는 단계와,
- 상기 1차 로그 상의 결함의 위치에 대한 정보를 각각 2차 로그 상의 결함의 위치에 대한 정보로 변환하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 2차 코드를 대응하는 2차 로그에서의 결함의 위치에 관한 각각의 정보와 연관시켜서, 각각의 2차 로그와 결함의 세트가 연관되도록 하는 단계가 제공된다.
또 다른 측면에 따르면, 본 발명은 로그 감기 단계에서 검출된 제품 파라미터를 추적해서 최적화된 방식으로 무한한 얇은 제품의 로그를 제조하는 방법에 관한 것으로, 상기 방법은:
- 마스터 롤 또는 1차 로그로 칭하는 로그를 감는 제 1단계, 및 상기 1차로그를 2차 로그로 칭하는, 복수의 로그로 감는, 되감기로 칭하는, 후속의 제 2단계를 포함하고, 상기 되감기 단계 동안 스트립으로 절단하는 단계가 발생하며, 1차 로그를 생성하는 상기 단계는,
- 적어도 하나의 1차 로그를 생성하기 위해, 상기 얇은 제품을 와인딩 머신에 로그로 연속적으로 감는 단계와,
- 상기 1차 로그를 생성하기 위해 감기는 상기 얇은 제품과 연관된 제 1일련의 상기 파라미터들을 식별하는 단계와,
- 상기 1차 로그 외부의 상기 데이터베이스 시스템에, 상기 파라미터에 대한 정보를 저장하는 단계와,
- 상기 1차 로그에 1차 ID 코드를 할당하는 단계와,
- 상기 1차 로그를 상기 1차 코드로 마킹하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 파라미터에 대한 정보를 상기 1차 로그의 상기 1차 ID 코드와 연관시킴으로써, 상기 데이터베이스에서, 소정의 1차 ID 코드에, 대응하는 1차 로그의 상기 파라미터에 관한 정보가 연관되도록 하는 단계를 포함하며;
상기 되감기 단계는,
- 원하는 2차 로그의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭을 갖는, 제품이 되감기게 될 복수의 2차 지지체 코어로 통상의 지지체 코어를 절단하는 단계와,
- 얇은 제품을 푸는 단계와,
- 제품 공급 방향으로 얇은 제품을 절단하며; 절단 위치는 함께 인접하여 배열되고 정렬된 대응하는 2차 지지체 코어의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭의 2개 이상의 스트립으로 제품을 절단하도록 하는 단계와,
- 얇은 제품의 2차 로그를 생성하도록 각각의 2차 지지체 코어 상에 상기 스트립을 되감기하는 단계를 제공하며,
또한,
- 상기 1차 로그의 1차 ID 코드를 판독하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에 의해 판독된, 상기 1차 ID 코드가 연관된, 상기 1차 로그에서의 상기 얇은 제품의 상기 파라미터에 대한 정보를 획득하는 단계가 제공되며,
또한,
- 각각의 2차 로그들에 2차 ID 코드들을 할당하는 단계와,
- 상기 2차 로그들을 각각의 2차 ID 코드들에 의해 마킹하는 단계와,
- 상기 1차 로그의 제 1일련의 파라미터에 대한 정보를 각각의 2차 로그의 제 2일련의 파라미터에 대한 정보로 변경하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 2차 ID 코드들을 대응하는 2차 로그들 상의 파라미터들에 대한 각각의 정보와 연관시켜서, 각각의 2차 로그와 제 2일련의 파라미터가 연관되는 단계와,
- 상기 적어도 하나의 2차 로그의 후속 처리 단계에서, 상기 데이터베이스 시스템에 저장된 상기 파라미터에 관한 정보를 공유하는 단계, 즉 상기 적어도 하나의 2차 로그에 감긴 제품의 적어도 하나의 후속 처리를 최적화하기 위해, 상기 데이터베이스 시스템에 저장된, 상기 적어도 하나의 2차 로그의 상기 파라미터에 대한 상기 정보를 사용하는 적어도 하나의 단계를 실현하는 단계로써, 상기 사용은 처리되는 상기 적어도 하나의 2차 로그의 ID 코드를 인식하고 로그의 파라미터에 대한 정보에 의거하여 로그의 제품을 처리하는 단계가 제공된다.
상기 방법의 추가 사양은, 상기 기재된 본 발명의 제 1측면에 관련된, 상기 기재된 예 및 실시예에 도시되어 있다.
또 다른 실시예에서, 복수의 2차 지지체 코어로 되감기하는 단계 동안, 상기 복수의 2차 지지체 로그의 수 및/또는 횡방향 폭, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은, 각각의 2차 로그에서, 소망의 제 2일련의 파라미터가 연관되도록, 상기 1차 로그에서의 상기 얇은 제품의 일련의 파라미터와 관련된 정보를 고려하여 결정된다.
바람직하게는, 상기 복수의 2차 지지체 코어의 절단, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은,
- 상기 제 1로그에서의 상기 얇은 제품의 소망의 일련의 파라미터에 대한 상기 정보의 함수, 또는
- 상기 1차 로그에서 상기 얇은 제품의 일련의 파라미터에 대한 정보와 독립적인,
1차 로그의 풀림 방향에 횡방향의 절단 위치를 제공한다.
다른 측면에 따르면, 본 발명은 얇은 제품의 로그를 제조하기 위한 플랜트에 관한 것으로,
- 서로 동축을 이루며 서로 인접하는, 대응하는 지지체 코어 상에 얇은 제품을 복수의 로그(log)로 감는 감기 스테이션(winding station)과,
- 지지체 코어의 맞은 편에 배치된, 복수개의 블레이드를 갖는 절단 장치와,
- 플랜트 관리 전자 센터와,
- 상기 로그에 부착된 그래픽 또는 전자 또는 자기 지지체와,
- 상기 감기 스테이션과 연관되고 상기 관리 전자 센터에 동작 가능하게 연결된, 상기 지지체를 기록 또는 프로그램하기에 적합한, 상기 지지체들에 대해 판독 및/또는 기록을 하는 제 1판독 및/또는 기록 장치와,
- 상기 로그 상에 감기는 상기 얇은 제품의 파라미터를 검출하기 위한 적어도 하나의 검출 장치로서, 상기 파라미터는: a) 바람직하게는 상기 로그 상의 상기 결함의 위치를 포함하는, 얇은 제품의 표면 및/또는 두께의 결함; 바람직하게는 상기 위치에 대한 정보는 상기 로그의 중심으로부터 풀린 제품 미터 및 로그의 가장자리로부터의 거리의 관점에서의 상기 로그 상의 결함의 좌표를 포함함, b) 예를 들어, e-모듈러스 및/또는 푸아송 비(Poisson ratio)의 기계적 파라미터, c) 로그 밀도 프로파일 및/또는 인장 및/또는 슬라이딩 및/또는 NIP의 감기 파라미터, d) 결점을 제거하기 위한 결합 위치, 중 하나 이상을 포함하는 검출장치
를 포함하는 플랜트에 관한 것이다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 플랜트는 전술한 하나 이상의 실시예에 따른 방법을 실행하도록 구성된다.
또 다른 실시예에 따르면, 상기 플랜트는 또한,
- 무한한 얇은 제품을 제조하기 위한 생산 라인과,
- 상기 생산 라인으로부터 나오는 얇은 제품을 1차 로그 또는 마스터 롤로 감기에 적합한, 무한한 얇은 제품의 상기 생산 라인의 출구에 배치된 적어도 하나의 와인더(winder)로써, 상기 와인더는 상기 얇은 제품이 감길 원통형 1차 지지체 코어용의 맨드릴(mandrel)을 포함하는 상기 적어도 하나의 와인더를 포함하고,
- 적어도 하나의 리와인더는, 차례대로,
- 형성될 2차 로그용의 2차 지지체 코어를 생산하는 스테이션과,
- 풀릴 1차 로그를 풀기 위한 풀림 영역을 형성하는 상기 감기 스테이션과,
- 상기 풀림 영역에 대향하여 서로 동축으로 인접하여 2차 지지체 코어를 배열하는 영역과,
- 상기 풀림 영역과 상기 2차 코어가 배열되는 상기 영역 사이에 배열된, 복수의 블레이드를 구비한 절단 장치로써, 위치 변환 장치는, 절단 위치를 조정해서 2차 지지체 코어의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭의 스트립 또는 무한한 스트립으로 얇은 제품을 절단하도록, 풀리는 1차 로그의 회전축에 평행하게 상기 블레이드를 이동시키기 위해 상기 복수의 블레이드와 연관되는 상기 절단 장치와,
- 상기 플랜트 관리 전자 센터와,
- 상기 1차 로그에, 바람직하게는 상기 1차 코어에 부착되는 제 1그래픽 또는 전자 또는 자기 지지체와,
- 상기 2차 로그에, 바람직하게는 상기 2차 코어에 부착되는 제 2그래픽 또는 전자 또는 자기 지지체와,
- 상기 와인더와 연관되고 상기 관리 전자 센터에 작동 가능하게 접속된, 상기 제 1지지체를 기록 또는 프로그램하기에 적합한, 상기 지지체에 대해 판독 및/또는 기록하기위한 제 1장치와,
- 상기 리와인더와 연관되고 상기 관리 전자 센터에 동작 가능하게 접속되고, 상기 1차 로그가 상기 리와인더 상에 배열될 때 상기 제 1지지체를 판독하기에 적합한, 상기 지지체에 대해 판독 및/또는 기록하기 위한 제 2장치와,
- 리와인더 상에 존재하는 상기 제 2지지체에 대해 프로그램 또는 기록하기에 적합한, 상기 리와인더와 연관되고 상기 관리 전자 센터에 동작 가능하게 접속된 지지체에 대해 판독 및/또는 기록하기 위한 제 3장치와,
- 제품 파라미터, 바람직하게는, 상기 와인더에 감기는, 얇은 제품의 표면 및/ 또는 두께의 결함을 검출하는 상기 적어도 하나의 검출 장치
를 포함한다.
바람직하게는, 상기 플랜트는, 제품 파라미터, 바람직하게는 심지어 상기 리와인더에 감기는, 얇은 제품의 표면 및/또는 두께의 결함을 검출하는 상기 검출 장치를 포함한다.
바람직하게는, 플랜트 관리 전자 센터는 다음을 수행한다:
- 상기 적어도 하나의 로그 외부에, 얇은 제품의 상기 파라미터와 관련된 정보를 데이터베이스 시스템에 저장하기,
- 각각의 로그에 대해, 각각의 부착된 지지체를 프로그래밍하여, 거기에 ID 코드를 할당하기,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 소정의 ID 코드가 각각의 로그에 감기는 제품의 파라미터와 관련된 정보와 연관되도록, 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 로그의 상기 파라미터에 대한 정보를 상기 로그의 ID 코드와 연관시키기,
- 상기 판독 및/또는 기록 장치에 의해 상기 로그의 ID 코드를 판독하고, 상기 데이터베이스 시스템에 의해 판독된 상기 ID 코드와 연관된, 상기 로그의 상기 얇은 제품의 상기 파라미터와 관련된 정보를 획득하기,
- 상기 지지체를 프로그래밍하고, 새로운 각각의 ID 코드를 거기에 할당하기,
- 일련의 파라미터들이 각각의 로그에 연관되도록, 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 ID 코드들을, 대응하는 로그의 상기 파라미터들에 대한 각각의 정보와 연관시키기.
바람직한 실시예에 따르면, 플랜트 관리 전자 센터는 다음을 수행한다:
- 1차 로그 외부에, 1차 로그와 연관된 기준 시스템에 대하여 상기 결함의 위치를 적어도 포함하는, 상기 파라미터와 관련된 정보 및 적어도 상기 파라미터 검출 장치에 의해 검출된 결함에 관한 정보를 데이터베이스 시스템에 저장하기,
- 각각의 1차 로그에 대해, 각각의 자기 제 1지지체를 프로그래밍하고, 거기에 1차 ID 코드를 할당하기,
- 상기 데이터베이스 시스템에서, 1차 로그에서의 그들의 위치에 의거하여 식별될 수 있는, 각각의 1차 로그의 표면 및 / 또는 두께의 결함과 관련된 정보가 주어진 1차 ID 코드와 연관되도록, 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 1차 로그와 관련된 상기 결함들에 대한 정보를 1차 로그의 1차 ID 코드와 연관시키기,
- 상기 2차 자기 판독 및/또는 기록 장치에 의해 상기 1차 로그의 1차 ID 코드를 판독하고, 상기 데이터베이스 시스템에 의하여 판독된 1차 ID 코드 정보와 연관되는, 상기 1차 로그에서의 상기 얇은 제품의 결함의 위치와 관련된 정보를 획득하는 단계,
- 상기 제 2자기 지지체를 프로그래밍하여, 거기에 각각의 2차 ID 코드를 할당하기,
- 상기 1차 로그 상의 결함의 위치에 대한 정보를 각각 2차 로그 상의 결함의 위치에 대한 정보로 변환하기,
- 각각의 2차 로그와 일련의 결함이 연관되도록, 상기 데이터베이스 시스템에서, 상기 2차 코드와, 대응하는 2차 로그 상의 결함의 위치에 대한 각각의 정보를 연관시키기.
바람직하게는, 각각의 2차 로그에 소망하는 제2세트의 결함이 제공되도록, 상기 복수의 2차 지지체 코어의 개수 및/또는 횡방향 폭, 따라서 1차 로그로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은, 상기 1차 로그에서의 상기 얇은 제품의 결함의 위치와 관련된 정보를 고려하여 결정된다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 플랜트는, 상기 적어도 하나의 리와인더에 의해 생산된 2차 로그를 팩으로 팩킹하기 위한 팩킹 스테이션을 포함하며, 팩킹 스테이션의 입구에는, 주어진 생산 주문에 따라 팩을 준비하기 위해 상기 2차 로그와 관련된 상기 2차 자기 지지체 상에 저장된 2차 코드를 판독하기에 적합한, 상기 관리 전자 센터에 작동 가능하게 연결된, 그래픽, 전자 또는 자기 지지체에 대해 판독 및/또는 기록하기 위한 제 4자기 장치가 제공된다.; 바람직하게는 상기 팩킹 스테이션의 입구에서는, 매우 많은 수의 결함을 포함하는 2차 로그의 거부가 행해진다.
바람직한 실시예에 따르면, 플랜트는 형성된 팩을 라벨링하기 위한 라벨링 장치를 포함하며; 바람직하게는 팩에 부착되는 상기 라벨은 제 3그래픽, 전자 또는 자기 지지체이고, 상기 라벨링 장치는, 상기 관리 전자 센터에 작동 가능하게 연결되어 있으며, 각각의 3차 ID 코드로 상기 제 3지지체를 프로그래밍하기에 적합한, 각각의 지지체에 대해 판독 및/또는 기록하기 위한 제 6장치를 포함한다.
바람직한 실시예에 따르면, 전자 지지체는 RFID 지지체이고, 전자 지지체에 대해 판독 및/또는 기록하기 위한 판독 및/또는 기록 장치는 RFID 안테나이다.
본 발명의 다른 특징 및 장점은 첨부된 도면에서 비제한적인 예로서 도시된, 배타적이지는 않지만, 몇몇 바람직한 실시예의 설명으로부터 더욱 명백해질 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 얇은 제품의 로그를 생산하기 위한 플랜트의 개략도.
도 2는 도 1의 플랜트에 사용된 리와인더(rewinder)의 상부에서 본 개략도.
도 3 은 도 1의 플랜트에 사용되는 릴 세트와 릴용 지지체 코어.
도 1은 본 발명에 따른 얇은 제품의 로그를 생산하기 위한 플랜트의 개략도.
도 2는 도 1의 플랜트에 사용된 리와인더(rewinder)의 상부에서 본 개략도.
도 3 은 도 1의 플랜트에 사용되는 릴 세트와 릴용 지지체 코어.
상기 인용된 도면을 참조하면, 본 발명에 따른 제 1플랜트의 제 1스킴(scheme)은 전체로써 도면 번호(10)으로 표시된다. 플랜트는, 또한 여기에서 1 차 로그(B1)로도 불리는 마스터 롤을 생산 및 저장하고, 마스터 롤(B1)로부터, 여기에서 또한 2차 로그(B2i)로도 불리는 그 다음의 롤을 생산하도록 구성된 생산 플랜트(11) 내에 있다.
용어 "횡방향의"는 얇은 제품의 공급 방향(f1)에 직교하는 방향, 즉 마스터 롤(B1)의 회전축과, 2차 코어(18i)의 축, 따라서 2차 로그(B2i)에 평행한 방향을 의미한다.
먼저, 공지된 플랜트(10)의 구성요소를 이하에 설명한다. 플랜트(10)는 연속적인 얇은 제품(T), 즉 예를 들어 종이, 티슈 페이퍼, 부직포 또는 다른 유사한 제품(필름, 다중-재료 제품)과 같은 웨브 제품을 제조하기 위한 생산 라인을 포함하며,그것의 단부 부분은 번호(12)로 표시되어 있다.
생산 라인(12)의 단부에서, 하나 이상의 와인더(13)가 배열된다(도면에서는 단지 하나의 와인더만이 도시되어 있다). 와인더(13)는 얇은 제품(T)을 지지하고 1 차 지지체 코어(14)로서 아래에 표시되는 원통형 관형상 코어가 배치된 맨드릴을 포함한다. 1차 지지체 코어는 라인(12)상의 얇은 제품(T)의 전방 이동(f1)(기계 방향)방향으로 회전 구동되고, 결과적으로 라인(12)에서 제품은 1차 코어(14)상에 감겨서 마스터 롤 또는 1차 로그(B1)를 형성한다.
와인더(13)의 하류에 언로딩 영역(15)이 배치되고, 여기서 적어도 하나의 제 1이동 장치(16)는 1차 로그(B1)를 패킹 영역 또는 저장 영역으로 이동하도록 배열되고, 심지어는, 이하에 보다 잘 설명되어 있는 바와 같이, 1차 로그(B1)로부터 시작하여 2차 로그(B2i)를 실현하는 하나(또는 이상)의 리와인더(17)(스킴에서는 하나의 리와인더만 도시되어 있음)로도 직접 이동하도록 배열된다.
생성된 2차 로그를 포장 스테이션(26)쪽으로 이동시키는 적어도 하나의 제 2이동 장치(25)가 제공된다.
이 예에서는, 포장 스테이션(26)은 로봇(27), 예를 들어 이동 장치(25)로부터 2차 로그를 취하여 이들을 하나(또는 그 이상)의 컨베이어(28)에 놓는 사람 모양을 한 아암을 포함한다. 예를 들어 하나 이상의 2차 로그(B2i)를 덮는 필름에 의해 패킹하기 위해 포장 장치(39)가 컨베이어(28)의 단부에 설치된다.
제 3이동 장치(29)에 의해, 하나 이상의 2차 로그로 형성된 팩(pack)이 포장 스테이션(26)으로부터 저장 영역으로 운반된다.
플랜트(10)에는, 네트워크를 통해 함께 동작가능하게 연결된 인터페이스(PC) 와 다양한 부품의 동작을 관리하기 위한 PLC 시스템을 구비한 다양한 부품을 제어하는 전자 제어 장치(30)가 준비되어 있다. 전자 제어 장치(30)는 또한 생산 시작 전에 업로드된 정보와 다양한 작업 단계 동안 획득된 정보를 가지는 하나 이상의 서브-데이터베이스를 포함하는 데이터베이스 시스템(31)을 포함한다. 데이터베이스 시스템(31)은 다양한 부품이 연동 방식으로 상호 작용할 수 있게 한다.
본 발명에 따르면, 얇은 제품의 표면 및/또는 두께에서의 결함을 포함하는, 마스터 롤(B1)을 형성하기 위해 와인더(13)에 의해 감긴 얇은 제품(T)과 연관된 파라미터를 검출하기 위한 장치(32)가 제공된다. 이들 파라미터는 또한 다음 중 하나 이상을 포함할 수 있다: 기계적 파라미터, 그 중 e-모듈러스 및/또는 푸아송 비, 권취 파라미터, 그 중 로그의 밀도 프로파일 및/또는 장력 및/또는 슬라이딩, 및/또는 NIP, 결함을 제거하기 위한 결합의 위치.
"장력"은 제품에 부여된 기계적 장력이며, 이것은 하중 셀에 의해 측정될 수 있다. "슬라이딩(Sliding)"은 상류에서의 제품의 풀림속도 또는 생산 속도에 대해 제품을 감는데 관련된 롤러에 부여된 과속이다. "NIP"는 감기는 릴과 감기 공정에 관련된 롤러(지지체 롤 및 라이더 롤(rider roll)로 불림) 사이에 부여된 단위폭 당 힘이다. 로그 밀도 프로파일은 형성 중인 로그의 중량 및 직경에 근거하여 계산되며, 얇은 제품의 e-모듈러스는 제품의 장력 및 슬라이딩으로 인한 신장을 측정하거나 계산함으로써 계산된다. 푸아송 비(Poisson ratio)는 슬라이딩(sliding)으로부터 유도된 신장(elongation)과 광학 비젼(optical vision) 시스템에 의해 측정된 제품의 수축(shrinking)에 의해 측정된다.
결함을 제거하기 위한 결합과 관련하여는, 손상된 영역의 하류 및 상류에서 제품을 횡방향으로 절단하여 생성된 에지를 접합함으로써 생성된 얇은 제품의 연장부상의 이들 접합의 위치에 대하여 참조가 이루어진다.
또한, 파라미터는 예를 들어, 로드 셀에 의해 측정되거나, 또는 그 제품의 그래미지(grammage), 감겨진 미터(meter)의 폭과 수 및 릴의 물리적 치수(권취된 미터, 직경, 폭 등)를 아는 것에 의해 계산된, 각각의 로그의 무게를 포함한다.
가장 중요한 파라미터는 제품의 두께(제품 상에 행해진 처리의 두께, 예를 들어 종이의 경우 코팅 두께도 포함할 수 있음) 및/또는 표면의 결함이다. 본 발명의 개념이, 각각의 로그와 연관될 수 있는, 위에서 나타낸 모든 다른 제품의 파라미터까지 확장될 수 있는 것으로도 이해되는, 표면 및/또는 두께의 결함의 경우를 이하에서 구체적으로 참조할 것이다. 이 경우, 원하는 검출을 수행하기 위해 플랜트에 다른 검출 장치가 제공될 것이다.
언급된 바와 같이, 이 예에서, 장치(32)는 마스터 롤(B1)을 형성하기 위해 와인더에(13)에 감기는 얇은 제품(T)과 연관된 표면 또는 두께에서의 결함(또는, 더욱 일반적으로는, 파라미터)을 검출한다. 예를 들어, 검출 장치(32)는 카메라를 갖는 비전 시스템, 및/또는 QCS 시스템 및/또는 금속 검출 시스템을 포함하며, 이들 모든 시스템은 공지되어 있다.
상기 비전 시스템은 이미지 획득을 통해 구멍, 찢어짐, 폴드(folds), 이물질 등의 결함을 검출할 수 있는 시스템이다. 예를 들어, QCS 시스템은 적외선 소스의 반사 및/또는 굴절 또는 베타 입자의 흡수에 근거하며, 예를 들어 제품의 두께 프로파일, 그래미지(grammage) 프로파일, 상대 습도 프로파일, 특정 마감재(코팅)의 두께 프로파일을 검출하는 것을 가능하게 한다; 이들 파라미터는 제품의 품질과 연관된다. 기준값을 고려하여 이들 측정값의 과도한 차이는 제품의 결함을 의미한다. 금속 검출 시스템은 1mm 보다 더 작은 제품 내의 금속 이물질의 존재를 검출하는 시스템이다.
검출 장치(32)(전술한 시스템 중 하나 이상을 포함함)는 예를 들어 생산 라인(12)의 출구와 와인더(13)의 사이, 또는 바람직하게는 와인더(13)에 또는 와인더(13) 근처에 배치된다. 검출 시스템(32)은 예를 들어, 마스터 롤의 중심으로부터 풀린 제품의 미터 및 마스터 롤의 에지로부터의 거리의 관점에서 마스터 롤 내의 결함의 위치 좌표를 포함하는, 마스터 롤과 연관된 기준 시스템에 따라 결함을 그것의 마스터 롤(B1) 상의 위치와 연관시킨다.
결함에 대한 정보는 데이터베이스 시스템(31)의 제 1데이터베이스(DB1)에 저장되고; 마스터 롤 상의 결함(또는 더 일반적으로는, 파라미터)의 개수 및 위치에 더하여, 정보는 또한 예를 들어 검출된 결함의 형태를 포함한다.
마스터 롤(B1)을 형성하기 위해 와인더(13)에서 1차 코어(14) 상에 제품(T)을 감기 전에, 1차 지지체 코어(14)는 제 1라벨 또는 RFID 지지체(33)를, 예를 들어 1차 코어(14)의 외부 에지에 부착함으로써 전자적으로 마킹된다.
일단 1차 로그(B1)가 실현되면, 전자 지지체, 예를 들어 전자 제어 장치(30)와 동작 가능하게 연결되고 와인더(13)의 출구에 배치된 RFID 안테나(34)에 대해 판독 및/또는 기록하는 제 1전자 장치에 의해, 1차 코드(X)가 RFID 라벨(33)에 할당되고, 데이터베이스 시스템(31)의 제 2데이터베이스(DB2)에 매칭을 갖는다.
전자 장치(30)는, 제 2데이터베이스(DB2)에서, 주어진 1차 ID 코드가 로그 상의 위치에 의거하여 식별될 수 있는, 각각의 1차 로그의 표면 및/또는 두께에서의 결함들에 관한 정보와 연관되도록, 제 2데이터베이스(DB2)에서, 제 1데이터베이스(DB1)에 존재하는 1차 로그의 제품(T)에서 검출된 결함들(또는, 보다 일반적으로는, 파라미터들)에 대한 정보(수, 위치 및 형태)와 1차 로그의 1차 ID 코드(X) 사이를 연관짓는다.
명백히, 1차 ID 코드(X)는 와인더(13)에 제품(T)을 감는 단계의 시작 전에도 RFID 라벨(33)에 할당될 수 있고(할당은 예를 들어, RFID 라벨을 1차 코어에 부착하기 전에, 또는 그 후에 즉시 발생할 수 있음), 검출된 결함(또는 더 일반적으로는, 파라미터)의 연관은 감기 단계가 종료될 때 발생한다. 더욱이, RFID 라벨(33)은 와인더(13)에서 감는 단계후에도 1차 지지체 코어(14)에 부착될 수 있다(그리고, 코드는 1차 로그에 RFID 라벨을 부착하기 전에, 또는 그 직후에 할당될 수 있다.).
와인더(13)의 언로딩 영역(15)으로부터, 제 1이동 장치(16)(예를 들어, 캐리지 또는 셔틀)에 의해 1차 로그(B1)가 운반되어 리와인더(17)상에 로딩된다. 여기서, 전자 지지체, 예를 들어 제 2RFID 안테나(35)에 대해 판독 및/또는 기록을 하는 제 2전자 장치는 전자 RFID 라벨(33)에 프로그램된 1차 로그(B1)의 1차 ID 코드(X)를 판독한다. 따라서, 전자 장치(30)는 처리되고 있는 1차 로그를 식별하고, 1차 코드 X를 통해, 제 1데이터베이스(DB1)에 저장된 결함들(또는, 보다 일반적으로는, 파라미터들)에 대한 정보를 획득한다.
리와인더(17)는, 형성될 2차 로그(B2i)를 위한 관형상 원통형 2차 지지체 코어(18i)가 제조되는 스테이션(22)과, 마스터 롤을 풀기 위한 풀림 영역(20), 풀림 영역(20)의 전방에 서로 동축이며 인접한 2차 지지체 코어(18i)를 배치하기 위한 배치 영역(21) 및 복수의 블레이드(24)를 가지며 풀림 영역과 배치영역(21) 사이에 배치된 절단 장치(23)를 구비한 감기 스테이션(19)을 포함한다. 위치 트랜스레이터(position translator)(도시되지 않음)는, 방향(f2)을 따라서, 즉 풀림 방향에 횡방향으로 블레이드를 이동시키고, 얇은 제품을 2차 지지체 코어(18i)의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭의 연속한 웨브로 절단하도록 절단 위치를 조정하기 위해, 블레이드(24)와 연관된다.
언급된 바와 같이, 전자 장치(30)는 리와인더(17)에서 처리되고 있는 1차 로그(B1)를 식별하고, 1차 코드(X)를 통해, 제 1데이터베이스(DB1)에 저장된 원하는 파라미터들(결함들 또는 다른 기계적 또는 와인딩 파라미터들)에 대한 정보를 획득한다.
따라서, 전자 장치(30)는 리와인더(17)에서 처리되고 있는 1차 로그(B1)에서의 얇은 제품의 원하는 일련의 파라미터에 대한 정보를 고려한다. 전자 장치(30)는 생산의 필요에 근거하여 되감기 단계를 관리하고, 복수의 2차 지지체 코어(18i)의 개수 및/또는 횡방향 폭, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤(B1)로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단을 결정한다. 따라서, 원하는 제 2일련의 파라미터가 1차 로그(B1)로부터 생성된 각각의 2차 로그(B2i)와 연관된다.
가장 간단한 경우에, 로그(B1)의 얇은 제품의 절단은 미리 설정된 생산의 필요에 따라 발생한다. 생산의 필요는, 예를 들어, 1차 로그(B1)로부터 시작하여, 예를 들어, 모두 서로 동일한, 주어진 폭의 6개의 2차 로그(B2i)를 요구하거나, 또는 몇몇은 서로 동일하고 다른 것은 상이한 폭을 가질 것을 요구한다. 도면은 1차 로그 또는 마스터 롤(B1')로부터 시작하는, 상이한 폭의 6개의 2차 로그(B2i)에 대한 생산의 필요성의 경우를 도시한다.
전자 장치(30)는 생산될 로그의 치수와 관련된 생산 정보를 사용하여 되감기 단계를 관리하고, 절단 장치(23)의 블레이드를 적절하게 위치시킨다.
또한, 전자 장치(30)는 이들 2차 코어(18i)를 생성해서 생산 사양에 따라 2차 로그를 실현하도록, 2차 지지체 코어(18i)가 생성되는 스테이션(22)을 제어한다(2차 코어(18i)는 각각의 2차 로그의 웨브와 동일한 횡방향 폭을 갖는다). 일단 코어가 생성되어 영역(21)에 위치되면, 얇은 제품은 로그(B1')로부터 풀려서, 절단되어 대응하는 코어에 감긴다.
예를 들어, 도 2의 1차 로그(B1')에서, 실질적으로 일정한 방식으로 전체 와인딩 연장부를 따라 반복되는, 예를 들어, 1차 로그의 중심선 근처와 가장자리 근처에 배열된 표면 결함(또는, 더 일반적으로 원하는 기계적, 풀림 파라미터, 결함 등이 검출됨)을 가진 2개의 영역(h 및 y)이 검출되었다. 이들 결함은 제 1데이터베이스(DB1)에 저장되고, 로그(B1')를 식별하는 코드(X1)와 연관된다. 일단 1차 로그(B1')가 리와인더(17) 상에 있으면, 전자 장치(30)는 각각의 제 1RFID 라벨(33)로부터 코드(X1)를 판독하고, 로그와 연관된 결함(h 및 y)의 맵을 식별한다. 그 후, 전자 제어 장치(30)는 1차 로그(B1i) 상의 결함의 위치에 대한 정보를 생성될 각각의 2차 로그(B2i) 상의 결함의 위치에 대한 정보로 변환한다.
적절하게는, 일단 실현되면, 2차 지지체 코어(18i)는 각각의 제 2전자 RFID 라벨 또는 지지체(35)를 부착함으로써 전자적으로 마킹된다.
전자 지지체, 예를 들어 리와인더(17)에 제공된 제 3RFID 안테나(36)에 대한 판독 및/또는 기록을 하는 제 3전자 장치에 의해, 전자 제어 장치(30)는, 데이터베이스 시스템(31)의 제 2데이터베이스(DB2)에서 매칭하는, 각각의 2차 ID코드(Ki)를 2차 2코어(18i)의 제 2RFID 라벨(35)에 할당한다.
이미 언급된 바와 같이, 전자 제어 장치(30)는 1차 로그(B1')상의 결함의 위치에 대한 정보를 각각의 2차 로그(B2i) 상의 결함의 위치에 대한 정보, 예를 들어 2차 로그의 중심으로부터 풀린 미터 및 2차 로그의 에지로부터의 거리의 관점에서 2차 로그에 대한 결함의 위치의 좌표로 변환하였다(즉, 2차 로그와 일체인 기준 시스템에 대해). 따라서, 장치(30)는, 각각의 2차 로그(B2i)에 원하는 파라미터(결함, 기계적 파라미터, 풀림 파라미터 등)의 세트가 연관되고, 이 세트는 2차 로그의 코드와 연관하여, 데이터베이스 시스템(31)에 저장되도록, 제 2데이터베이스(DB2)에서, 2차 코드(Ki)와 각각의 2차 로그(B2i) 상의 결함의 위치에 대한 각각의 정보를 연관시켰다. 도 2의 예에서, 6개의 2차 로그(B21, B22, B23, B24, B2y 및 B2h)가 생성되었다(코어 18h - 181 - 182 - 18y - 183 - 184를 가짐).
결과적으로, 각각의 2차 로그(B2i)에 대해서는, 정보를 갖는 데이터베이스 시스템(31)은 제 2플랜트의 전자 관리 시스템 사이에서 공유될 수 있기 때문에, 만약, 제품이 생성된 플랜트 이외의, 제 2플랜트에서도 필요한 경우, 이들 2차 로그로부터 오는 제품의 생산의 후속 단계를 최적화하기 위하여 사용될 수 있는, 원하는 파라미터들(결함, 기계적 파라미터, 풀림 파라미터 등)의 맵이 공지되어 있다. 예를 들어, 로그 B2y 및 B2h 는 거부될 수 있거나, 또는 더 낮은 품질로 표시되거나, 하류의 생산 공정에서 사용될 수 있고, 검출된 결함을 극복하기 위해 언제 개입할 지를 각각의 생산 시스템과 통신한다.
실제로, 이 예에서는, 상기 복수의 2차 지지체 코어의 절단, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은, 1차 로그의 얇은 제품의 일련의 파라미터에 대한 정보와는 독립된 1차 로그의 풀림 방향에 대해 횡방향의 절단 위치를 제공한다.
일부 실시예에 따르면, 전자 장치(30)는, 되감기 단계를 최적화하기 위하여, 데이터베이스 시스템(31)에 저장된 1차 로그(B1)의 결함에 대한 정보를 사용해서 되감기 단계를 구성할 수 있다.
예를 들어, 전자 장치(30)는, 원하는 파라미터(결함, 기계적 파라미터, 풀림 파라미터 등)에 대한 정보에 기초하여, 더 많은 수의 결함이 있는 1차 로그(B1)에 감긴 얇은 제품(T)의 영역을 피하며, 즉 허용가능한 품질의 주어진 수의 2차 로그(즉, 결함이 최소 또는 0인)와 거부될(또는, "낮은 품질(low quality)"로 인정될), 매우 많은 수의 결함을 가진 주어진 수의 2차 로그를 실현하면서, 생성될 2차 로그(B2i)의 수를 계산할 수 있다. 이것은 거부되는 2차 로그의 결함을 분리하기 위해 가장 적절한 방식으로 제품의 횡방향으로 절단 장치(23)의 블레이드를 위치시킴으로써 행해진다. 실제적으로, 이 제 2예에서는, 상기 복수의 2차 지지체 코어의 절단, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은, 1차 로그의 얇은 제품의 원하는 일련의 파라미터에 대한 정보의 함수인 1차 로그의 풀림 방향에 횡방향의 절단 위치를 제공한다.
절단 장치(23)의 블레이드를 위치시키기 전에, 전자 장치(30)는, 전술한 바와 같이 최적화된 방식으로 제조되도록 이들 2차 코어(18i)가 제조되는 스테이션(22)을 제어한다(2차 코어(18i)는 각각의 2차 로그의 웨브와 동일한 횡방향 폭을 갖는다). 실제로, 복수의 2차 지지체 코어(18i)의 수 및/또는 횡방향 폭, 따라서 1차 로그(B1)로부터 나오는 얇은 제품의 대응하는 절단은, 각각의 2차 로그(B2i)에 원하는 제 2의 결함세트가 제공되도록 1차 로그의 얇은 제품의 결함의 위치와 관련된 정보를 고려하여 결정된다.
따라서, 데이터베이스 시스템(31)에는 거부될 2차 로그와 다음 생산 단계로 전달될 2차 로그가 저장된다.
예를 들어, 도 2를 다시 참조하면, 표면 결함이 있는 2개의 영역(h 및 y)이 1차 로그(B1') 상에서 검출되었다. 이들 결함은 제 1데이터베이스(DB1)에 저장되고, 로그(B1')를 식별하는 코드(X1)와 연관된다. 1차 로그(B1')가 리와인더(17) 상에 있으면, 전자 장치(30)는 각각의 제 1RFID 라벨(33)로부터 코드(X1)를 판독하고, 로그와 연관된 결함(h 및 y)의 맵을 식별한다. 그 후, 전자 제어 장치(30)는 1차 로그(B1') 상의 결함의 위치에 대한 정보를 생성될 각각의 2차 로그(B2i) 상의 결함의 위치에 대한 정보로 변환한다. 이에 기초하여, 전자 제어 장치(30)는, 2차 지지체 코어(18i)가 생산의 필요(이 예에서는, 4개의 2차 로그(B21....B24))에 따른 제 1일련의 2차 로그(B2i)와 결함이 있는 2개의 영역 (h) 및 (y)을 포함하는 2개의 2차 로그 (B2y) 및 (B2h)를 생산하기 위해 2차 지지체 코어(18i)가 제조되도록 스테이션(22)을 제어한다. 따라서, 4개의 2차 지지체 코어(18i)는, 원하는 횡방향 폭(로그 치수에 관해서 생산 순서에 따라서)의 4개의 2차 지지체 코어와 다음 순서(외부 에지로부터 다음의 하나로): (18h - 181 - 182 - 18y - 183 - 184)에 따라서, (매우 높은 결함 수를 포함하며, 따라서, 거부될) 2개의 2차 지지체 코어(18y),(18h)가 생성된다.
스테이션(22)에서, 2차 지지체 코어는, 다시 감기는 제품(T)이 감길 복수의 2차 지지체 코어(상기 특정 치수를 가짐)로, 통상의 관형상 원통형 지지체 코어를 6개의 부분으로 절단함으로써 생성된다(몇몇 실시예에서는, 코어가 실현되는 스테이션이 생략될 수 있음).
(18h - 181 - 182 - 18y - 183 - 184) 순서로 서로 동축이고 인접하는 2차 지지체 코어는, 리와인더(13)의 영역(21)에 배열된다. 유사하게는, 전자 장치(30)는, 기계 방향에 따라 1차 로그(B1')로부터 배출되는 제품(T)을, 2차 지지체 코어 (18h - 181 - 182 - 18y - 183 - 184) 사이의 인터페이스에 대응하는 웨브로 절단하도록, 절단 장치(23)의 5개의 블레이드(24)를 배열한다.
다음에, 되감기 단계가 시작되는데, 즉 1차 로그(B1')로부터 얇은 제품(T)을 풀고, 2차 로그(B2i)를 실현하기 위하여, 2차 코어(18i) 상에서, 상기 설명한 위치에서 장치(23)에 의하여 적절하게 절단된 제품(T)의 다음의 감기가 시작된다.
적절하게는, 일단 실현되면, 2차 지지체 코어(18h-181-182-18y-183-184)는 각각의 제 2전자 RFID 라벨 또는 지지체(35)를 부착함으로써 전자적으로 마킹된다.
전자 지지체, 예를 들어, 리와인더(17)에 부착된 제 3RFID 안테나(36)에 대해 판독 및/또는 기록하는 제 3전자 장치에 의해, 전자 제어 장치(30)는, 데이터베이스 시스템(31)의 제 2데이터베이스(DB2)에 매칭을 갖는, 각각의 2차 ID 코드(Ki)를 2차 코어(18i)의 제 2RFID 라벨(35)에 할당한다.
이미 언급된 바와 같이, 전자 제어 장치(30)는, 1차 로그(B1') 상의 결함의 위치에 대한 정보를 각각의 2차 로그(B2i) 상의 결함의 위치, 예를 들어 2차 로그의 중심으로부터 풀린 미터 및 2차 로그의 에지로부터의 거리의 관점에서(즉, 2차 로그와 일체화된 기준 시스템에 대해) 2차 로그 상의 결함의 위치의 좌표에 대한 정보로 변환하였다. 따라서, 장치(30)는, 각각의 2차 로그(B2i)에 결함의 세트가 연관되고, 이 세트는, 2차 로그의 코드와 연관되어, 데이터베이스 시스템(31)에 저장되도록, 제 2데이터베이스(DB2)에서, 2차 코드(Ki)와 각각의 2차 로그(B2i) 상의 결함의 위치에 대한 각각의 정보를 연관시켰다.
또한, 데이터베이스 시스템(31)에는, 2차 로그(B2i)의 2차 ID코드(Ki)와 연관되어서, 표면 및/또는 두께에서의 결함의 위치에 대한 정보 이외에, 2차 로그의 치수, 중량, 생성된 재료의 유형, 및 판매 데이터와 같은, 로그에 대한 일반적인 정보가 또한 있다.
결과적으로, 상기 정보를 갖는 데이터베이스 시스템(31)이 제 2플랜트의 전자 관리 시스템들 사이에서 공유될 수 있기 때문에, 만일 필요하다면, 제품이 생성된 플랜트 이외의 제 2플랜트에서 조차도, 각각의 2차 로그(B2i)에 대해, 이들 2차 로그로부터 오는 제품들의 생산의 후속 단계들을 최적화하기 위해 사용될 수 있는 결함들의 맵이 공지되어 있다.
바람직하게는, 2차 코어 상에 얇은 제품을 감는 단계 전에 2차 로그(B2i)는 각각의 2차 지지체 코어(18i) 상에 마킹된다. 다른 실시예들에서, 마킹은 감기 후에, 즉 2차 로그들(B2i)이 마무리 되었을 때 및/또는, 리와인더(13)로부터 언로딩 되었을 때 수행될 수 있다.
2차 ID 코드(Ki)를 각각의 제 2RFID 라벨(35)에 할당하기 위한 프로그래밍 단계는, 제 2RFID 라벨을 대응하는 2차 로그에 부착하기 전에, 또는 제 2RFID 라벨이, 전술한 바와 같이 2차 로그에 부착되면 수행할 수 있으며, 2차 ID 코드(Ki)는 또한 각각의 제 2코어(18i) 상에 제품을 감는 단계 후에 할당될 수 있지만, 어느 경우에는, 바람직하게는 2차 로그(B2i)가 리와인더(13)를 빠져나가기 전에 또한 할당될 수 있다.
1차 로그(B1')가 2차 로그(B2i)로 다시 감기면, 1차 로그는 더 이상 존재하지 않으며, 따라서 전자 제어 장치(30)는 제 1RFID 라벨에 저장된 데이터를 삭제하고, 제 1지지체 코어는 새로운 1차 로그에 대해 다시 사용될 수 있다. 따라서, 1차 ID 코드(X)와 연관된 정보는 데이터베이스 시스템(31)으로부터 삭제될 수 있다.
일단 각각의 제 2라벨을 갖는 2차 로그(B2i)가 실현되면, 이들은 리와인더(13)로부터, 제 2이동 장치(25), 예를 들어 캐리지 또는 셔틀에 의해 포장 스테이션(26)으로 이동된다.
다른 실시예에서는, 플랜트에 와인더는 제공되지 않을 수 있고, 연속적인 얇은 제품은 제조 라인으로부터 리와인더(rewinder)와 같은 와인더에 직접 공급되어서, 생산 라인으로부터 제품이 리와인더에 존재하는 지지체 코어와 동일한 폭의 웨브로 절단되어, 그 이후 포장 영역 또는 다른 처리 영역으로 이동될 복수의 로그를 생성한다.
주목해야할 점은, 리와인더에서의 절단은, 코어 상에 감기는 얇은 제품의 사이드 트리밍의 절단만을 제공할 수 있다. 되감기로부터 단일 로그가, 감긴 최종 제품 및, 거부될 수 있는, 트리밍을 가진 하나 또는 2개의 로그와 함께 배출될 수 있다는 것이다; 대안적으로, 단지 하나의 로그만이 존재할 수 있고, 트리밍은 흡입 개구를 통해 연속적으로 배출된다.
다른 실시예에서, 하나 이상의 검출 장치는 검출 장치(32)와 유사하게 제품 파라미터(상기 파라미터는 전술한 모든 파라미터 또는 그들 중 일부만을 포함할 수 있다), 예를들어 두께 또는 표면의 결함을 검출하기 위해 리와인더에 제공될 수 있음에 유의하여야 한다(예를 들어, 그것은 전술한 바와 같은 금속 입자를 검출하기 위한 장치를 또한 포함할 수 있다). 각각의 로그 상의 위치에 따라 검출된 파라미터는 리와인더에서 생성된 각각의 로그의 코드와 연관되어 데이터베이스 시스템에 저장된다.
포장 스테이션(26)에서는, 제 4전자 장치가, 전자 지지체 예를 들어 전자 제어 장치(30)와 동작 가능하게 연결되는 제 4RFID 안테나(40)에 대하여 판독 및/또는 기록하기 위하여, 스테이션(26)에 도착하는 제 2로그(B2i)의 제 2RFID 라벨 (35)을 판독하기 위하여, 그것의 2차 ID 코드(Ki)을 판독하기 위하여 제공된다. 이 판독에 의거하여, 전자 제어 장치(30)는 제 2데이터베이스(DB2)와 상호작용하고, 각각의 2차 로그(B2i)의 결함에 대한 정보에 액세스하고, 포장될 로그 및 거부될 로그를 검증한다. 또는, 단순히, 전자 제어 장치(30)는, 주어진 2차 코드(Ki)에 연관된 2차 로그(B2i)가 거부되어야 한다는 것을 이미 알고(이전의 예에서, 코드(Kh) 및 (Ky)를 가지는 로그(B2h) 및 (B2y)) 그에 따라 동작한다.
로봇(27)은 거부?? 2차 로그(B2i)를 취해서, 그들을 방출 영역에 놓고, 포장될 2차 로그(B2i)는 컨베이어(28) 상에서 파일형태로 배열되며, 컨베이어의 단부에서 2차 로그(B2i)의 팩(P)을 형성하도록 커버 필름으로 감긴다.
전자 제어 장치(30)는 데이터베이스 시스템(31)에서, 각 팩(P)을 형성하는 로그의 2차 코드(Ki) 사이의 연관을 만든다. 만일 필요하다면, 데이터베이스 시스템에서, 팩(P)의 3차 ID 코드(F)가 생성되고, 그것에 그 팩의 로그의 2차 코드가 연관된다.
제 5RFID 안테나(45A)와 같은, 전자 지지체에 대해 판독 및/또는 기록을 하기 위한 제 5전자 장치를 포함하는 체크 스테이션(45)은, 팩(P)을 형성하는 로그의 제 2RFID 라벨로부터 2차 코드(Ki)를 판독하여, 그것들이 모두 프로그램된 것인지,또는 포장 단계 동안 발생한 에러인지, 즉, 프로그램된 것보다 더 많은 2차로그 또는 더 적은 2차 로그가 있는지 여부를 검증한다.
적절하게는, 라벨링 장치(46)는, 예를 들어 제 3RFID 라벨(47)을 팩(P)에 부착함으로써 팩(P)을 전자적으로 마킹하고, 3차 ID 코드(F)를 이 제 3RFID 라벨(도면에 도시되지 않음)에 할당하기 위해 RFID 안테나를 통해 그 프로그래밍을 수행한다.
대안적으로, 제 3라벨은 종이로 제조될 수 있고, 이를 형성하는 2차 로그(B2i)의 2차 코드(Ki) 또는 팩을 전체적으로 식별하는 3차 코드(F)를 표시할 수 있다.
형성 및 검증된 팩(P)은, 적절한 방식으로(예를 들어, 포크리프트(forklift)에 의해 이동되는 팔레트(pallet)에 의해) 창고 또는 후속 처리 단계가 수행될 제 2플랜트(50)로 보내지기 위한 전달 영역으로 보내진다.
다시 1차 로그(B1)를 참조하면, 그것이 와인더(12)에서 일단 형성되면, 리와인더(13)로 보내지는 대신에, 그것은 이동 장치(16)에 의해 포장 스테이션(26)으로 직접 보내질 수 있다. 여기서, 그것은 포장되고 창고에 보내지거나 또는 후속 처리 단계가 수행될 플랜트(50)로 보내지기 위한 전달 영역으로 직접 보내진다.
적절하게는, 데이터베이스 시스템(31), 또는 적어도 그의 섹션은, 텔레매티컬리(telematically), 또한 원격적으로 액세스될 수 있는 서버(51)와 연관되어서, 제 2플랜트에서의 처리 동안 제 1RFID 라벨(33)과 연관된 1차 ID 코드(X)의 판독으로부터, 코드(X), 즉 처리되는 1차 로그(B1)와 연관된 정보, 따라서 1차 로그 상의 결함의 위치에 대한 정보를 가질 수 있다. 따라서, 원격으로 액세스 가능한 데이터베이스 시스템(31)을 통해 공유되는 이 정보에 의거하여 이 제 2플랜트에서의 생산을 최적화하는 것이 가능하다. 따라서, 예를 들어, 전술한 것과 유사한 방법에 따라 제 2플랜트에서 되감기 단계를 수행하는 것이 가능할 것이다.
적절하게는, 데이터베이스 시스템(31)이 텔레매티컬리 원격으로 액세스될 수 있는 서버와 연관됨에 따라, 2차 로그(B2i)상의 정보 또한 제 2플랜트(50)에서의 이들 로그의 후속 처리 동안 액세스될 수 있다. 따라서, 2차 로그(B2i)상에 제공된 제 2RFID 라벨(35)에 저장된 2차 코드(Ki)의 판독으로부터, 이들 2차 로그 상의 결함의 위치에 대한 정보를 알 수 있고, 따라서 이들 2차 로그로부터 제품의 생산을 최적화할 수 있으며(예를 들어, 전술한 것과 상이한 방법에 의해서도, 더 작은 치수의 로그로 되감는 것), 이것은, 이상적으로 그 위의 결함 분포(또는, 더욱 일반적으로는, 검출되고 연관된 원하는 파라미터의 분포)를 알고 있는 최종 제품을 생산하게 된다.
전술한 예에서는, 전자 RFID 라벨 및 그 라벨을 판독/기록하기 위한 대응하는 RFID 안테나에 대해 특정한 참조가 이루어졌다. 다른 실시예들에서는, 전자 라벨들 대신에 예를 들어 영숫자 코드들, 또는 바코드, 또는 QR 코드들 또는 다른 코드들을 갖는 종이 라벨들과 같은, 그래픽 지지체들이 또한 사용될 수 있다. 이 경우, 지지체를 원격으로 판독/기록하는 안테나 대신에, 그래프 기호를 광학적으로 판독하기 위한 장치와 그래프 라벨을 인쇄하기 위한 프린터가 필요하다. 또한, 자기 밴드를 갖는 라벨은 자기 밴드에 저장된 데이터를 기록 및 판독하기위한 각각의 장치와 함께 사용될 수있다.
일반적으로, ID 코드와 연관되는 지지체는, 로그를 생성하기 위해 제품이 감기는 지지체 코어에, 또는 로그의 외부 표면에 고정될 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 방법 및 플랜트에 의해서, 생산 플랜트 내부의 1차 및 2차 로그의 이동을 추적하고, 로그를 형성하는 단계 동안 검출되고 이력화(historicized)된 허용될 수 없는 결함을 포함하는 1차 로그의 부분을 거부하면서, 특히 되감기 및/또는 포장의 단계를 최적화할 수 있다.
본 발명에 따른 방법 및 플랜트는, 결함 이외에, 모든 제품과 공정 파라미터 도 로그에 이력화(historicized)를 가능하게 하고, 각각의 로그에 감기는 제품의 후속 공정의 최적화를 가능하게 한다.
더욱이, RFID 라벨의 그래프의 사용으로 인해, 플랜트에서 로그들을 이동 및 저장하는 모든 단계들이 용이하게 된다.
또한, 2차 또는 1차 로그 내에 그래프 또는 RFID 라벨을 사용함으로 인하여, 제 1생산 플랜트에서의 처리 후에 로그에 포함된 상기 지시된 다양한 파라미터(및 특히 결함)를 추적할 수 있다. 라벨의 정보는 로그의 결함을 포함한, 로그의 특징을 포함하는 원격 데이터베이스에 액세스하는데 유용할 것이다. 정보는 전체 변환 공정을 최적화하는데 유용할 것이다. 따라서, 데이터베이스는 처리 체인에 포함된 모든 사람들에 의해 최종 제품까지 액세스될 수 있다.
마지막으로, 그러나 중요한, 그래픽 라벨 대신 RFID 라벨의 사용은, 라벨과 연관된 정보를 종이 라벨에 비해 더 긴 시간 동안 유지할 수 있게 한다. 라벨을 판독하기 위한 전자 시스템의 사용은 또한 오퍼레이터에 의한 코드 판독의 위험성을 감소시키고 판독 단계를 가속시킨다.
예시된 것은 본 발명이 기초로 하는 컨셉의 범위를 벗어나지 않고 형태 및 배열에 있어서 변경할 수 있는 본 발명의 가능한 비제한적인 실시예를 순수하게 나타내는 것으로 이해되어야 한다. 첨부된 청구범위에서의 참조 번호는 본 명세서에서 전술한 상세한 설명 및 첨부 도면에 비추어서 청구범위의 판독을 용이하게 하는 유일한 목적을 위해 제공되는 것이며, 어떠한 방식으로든 보호의 범위를 제한하지 않는다.
Claims (16)
- 로그 감기 단계에서 검출된 제품 파라미터를 추적해서, 연속적인 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법으로서, 상기 방법은:
- 얇은 제품(T)을 복수의 스트립으로 절단하는 단계와,
- 복수의 인접한 로그(Β2i)의 상기 스트립을 감는 단계와,
- 절단 단계 전 또는 후에, 상기 얇은 제품(T)과 연관된 파라미터를 검출하는 단계와,
- 상기 복수의 인접 로그 중 적어도 하나의 로그(B2i)에 대해, 상기 로그(Β2i)외부의 데이터베이스 시스템(31)에 상기 파라미터에 대한 정보를 저장하는 단계와,
- 상기 적어도 하나의 로그(B2i)에 ID 코드를 할당하는 단계와,
- 상기 적어도 하나의 로그(B2i)를 상기 ID 코드로 마킹하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템(31)에서, 상기 파라미터 대한 상기 정보를 상기 적어도 하나의 로그(Β2i)의 상기 ID 코드에 연관시킴으로써, 상기 대응하는 로그의 상기 파라미터에 대한 정보가, 상기 데이터베이스에서, 주어진 ID 코드와 연관되는 단계와,
- 상기 적어도 하나의 로그(B2i)의 후속 처리 단계에서, 상기 데이터베이스 시스템(31)에 저장된 상기 파라미터에 관한 정보를 공유하는 단계, 즉, 상기 적어도 하나의 로그(B2i)로 감긴 제품의 적어도 하나의 후속 공정을 적합하게 하기 위해, 상기 데이터베이스 시스템에 저장된, 상기 적어도 하나의 상기 파라미터에 대한 상기 정보를 사용하는 적어도 하나의 단계를 실현하는 단계로써, 상기 사용은 처리되는 상기 적어도 하나의 로그의 ID 코드를 인식하고, 로그의 파라미터에 대한 정보에 의거하여 로그의 제품의 처리하는 단계를 포함하고,
상기 방법은
마스터 롤(master roll) 또는 1차 로그(primary log)(B1)로 불리는, 로그를 감는 제 1단계, 및 상기 1차 로그(B1)를, 2차 로그로 불리는 상기 복수의 로그(B2i)로 감는, 되감기라고 불리는, 후속의 제 2단계를 포함하고, 상기 되감기 단계 동안 상기 스트립으로 절단하는 상기 단계가 발생하며, 상기 1차 로그를 제조하는 방법은,
- 상기 얇은 제품을 와인딩 머신(winding machine)(13) 에서 로그(log)로 연속적으로 감아서 적어도 하나의 1차 로그(B1)를 생성하는 단계와,
- 상기 1차 로그(B1)를 생성하기 위해 감긴 상기 얇은 제품(T)과 연관된 제1 일련의 상기 파라미터들을 식별하는 단계와,
- 상기 1차 로그(B1) 외부의 상기 데이터베이스 시스템(31)에, 상기 파라미터에 대한 정보를 저장하는 단계와,
- 상기 1차 로그(B1)에 1차 ID 코드를 할당하는 단계와,
- 1차 코드로 상기 1차 로그(B1)를 마킹하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템(31)에서, 상기 파라미터에 대한 정보를 상기 1차 로그(B1)의 상기 1차 ID 코드에 연관시킴으로써, 상기 데이터베이스 시스템(31)에서, 주어진 1차 ID 코드가 대응하는 1차 로그(B1)의 상기 파라미터에 관한 정보와 연관되도록 하는 단계를 포함하며,
상기 되감기는,
- 요구되는 2차 로그(B2i)의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭을 갖는, 제품이 되감기될 복수의 2차 지지체 코어(18i)로 통상의 지지체 코어(14)를 절단하는 단계와,
- 얇은 제품을 푸는 단계와,
- 얇은 제품을 제품 공급 방향(f1)으로 절단하는 단계로써; 얇은 제품을 절단하기 위한 절단 위치는 상기 제품을, 서로 인접하여 배열되고 정렬된 대응하는 2차 지지체 코어(18i)의 횡방향 폭과 동일한 횡방향 폭의 2개 이상의 스트립으로 절단하는 위치이며,
- 얇은 제품의 2차 로그(B2i)를 생성하도록 각각의 2차 지지체 코어(18i) 상에 상기 스트립을 되감기하는 단계를 제공하며,
또한,
- 상기 1차 로그(B1)의 1차 ID 코드를 판독하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템(31)에 의해 판독된, 상기 1차 ID 코드와 연관된, 상기 1차 로그(B1)에서의 상기 얇은 제품의 상기 파라미터에 대한 정보를 획득하는 단계가 제공되며,
또한,
- 각각의 2차 로그(B2i)들에 2차 ID 코드들을 할당하는 단계와,
- 상기 2차 로그(B2i)들을 각각의 2차 ID 코드들에 의해 마킹하는 단계와,
- 상기 1차 로그(B1)의 제 1일련의 파라미터에 대한 정보를 각각 2차 로그(B2i)의 제 2일련의 파라미터에 대한 정보로 변경하는 단계와,
- 상기 데이터베이스 시스템(31)에서, 상기 2차 ID 코드들을 대응하는 2차 로그(B2i)들 상의 파라미터들에 대한 각각의 정보에 연관시켜서, 각각의 2차 로그(B2i)에 제 2일련의 파라미터들이 연관되도록 하는 단계가 제공되는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제 1항에 있어서,
상기 데이터베이스 시스템(31)은 텔레마티컬리(telematically) 원격적으로 액세스 가능한 서버(51)와 연관되고, 상기 얇은 제품을 복수의 로그(B2i)로 감는 상기 단계는 제 1플랜트(11)에서 발생하고, 상기 감기 후에, 상기 로그들 중 적어도 하나에 대한 적어도 하나의 추가적인 처리는, 원격으로 액세스 가능한 데이터베이스 시스템에 저장된 대응하는 로그와 연관된 파라미터에 대한 정보를 사용해서 제 2플랜트(50)에서 발생하는 것을 특징으로 하는 연속적인 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 파라미터는 얇은 제품의 표면 또는 두께의 결함을 포함하며; 결함에 관련된 상기 파라미터에 대한 정보는 로그(B1; B2i) 상의 결함의 위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 있어서,
상기 제품의 감기는 상기 각각의 로그(B1, B2i)의 지지체 코어(14, 18) 상에서 수행되고, 상기 마킹은 상기 지지체 코어 상에서 또는 상기 로그의 외부에서 발생하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 있어서,
적어도 하나의 상기 로그(B1, B2i)의 마킹은 그래픽, 전자 또는 자기 마킹인 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 있어서,
얇은 제품을 로그로 감는 단계 후에, 만약 필요한 경우, 각각의 로그와 연관된 파라미터에 대한 정보에 의거하여 하나 이상의 로그를 거부하는 단계를 포함하며, 상기 거부하는 단계는, 상기 ID 코드의 상기 데이터베이스 시스템과 상호작용하여 각각의 로그의 파라미터에 대한 정보에 액세스하여, 로그의 ID 코드를 판독하는 단계와, 어느 로그가 거부되어야 하는 지를 결정하는 결정 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 있어서,
- 상기 감기 영역으로부터 포장 영역(26)으로 상기 적어도 하나의 로그(B1, B2i)를 이동시키는 단계와,
- 포장 영역(26)에 도달한 상기 적어도 하나의 로그의 ID 코드를 판독하는 단계와,
- 적어도 하나의 로그에 의해 형성되는 팩들(P)로 포장하는 단계와,
- 데이터베이스 시스템(31)에서, 각각의 팩을 형성하는 로그들의 2차 코드들에 의해 형성되는 연관성(association)을 만드는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 있어서,
상기 적어도 하나의 로그(B1, B2i)에 대한 상기 후속 처리는, 상기 데이터베이스 시스템(31)에 저장된 각각의 로그 상의 결함의 위치에 대한 상기 정보를 고려하여, 보다 작은 치수의 로그로 되감는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 있어서,
상기 얇은 제품의 표면 또는 두께의 결함을 포함하는 상기 파라미터를 검출하는 상기 단계는 로그 또는 상기 로그(B1, B2i)의 외부 표면에 감기 시작전에 발생하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 있어서,
상기 1차 로그(B1)에서의 상기 얇은 제품의 일련의 파라미터에 대한 정보를 고려하여, 원하는 일련의 파라미터와 연관되어 있는 각각의 2차 로그로, 상기 복수의 2차 지지체 코어(18i)의 개수 또는 횡방향 폭, 따라서 상기 1차 로그로부터 오는 상기 얇은 제품의 대응하는 절단를 결정하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 있어서,
상기 되감기 단계에는 복수의 2차 지지체 코어(18i)가 제공되며, 상기 복수의 2차 지지체 로그의 수 또는 횡방향 폭, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤(B1)로부터 오는 얇은 제품의 대응하는 절단은, 각각의 2차 로그에 원하는 제 2일련의 파라미터가 연관되도록 상기 1차 로그에서의 상기 얇은 제품의 일련의 파라미터와 관련된 정보를 고려하여 결정되는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제 12항에 있어서,
상기 복수의 2차 지지체 코어(18i)의 절단, 따라서 1차 로그 또는 마스터 롤(B1)로부터 오는 얇은 제품의 대응하는 절단은,
- 상기 1차 로그(B1)에서의 상기 얇은 제품의 원하는 일련의 파라미터에 대한 정보의 함수이거나, 또는
- 상기 1차 로그(B1)에서의 상기 얇은 제품의 일련의 파라미터에 대한 정보와는 독립된,
1차 로그(B1)의 풀림 방향에 횡방향의 절단 위치를 제공하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 방법. - 제1항에 따른 방법을 실행하는 얇은 제품의 로그를 제조하기 위한 플랜트로서,
- 서로 동축을 이루며 서로 인접하는, 대응하는 지지체 코어 상에 복수의 로그(B2i)로 상기 얇은 제품을 감기 위한 감기 스테이션(winding station)(19)과,
- 지지체 코어(18)의 맞은 편에 배치된, 복수개의 블레이드를 갖는 절단 장치(23)와,
- 플랜트 관리 전자 센터(30)와,
- 상기 로그(B2i)에 부착된 그래픽 또는 전자 또는 자기 지지체(33)와,
- 상기 감기 스테이션(19)과 연관되고 상기 관리 전자 센터에 동작 가능하게 연결된, 상기 지지체(33)를 기록 또는 프로그램하기에 적합한, 상기 지지체에 대해 판독 또는 기록을 하기 위한 판독 또는 기록 장치(34, 35)와,
- 상기 로그 상에 감기는 상기 얇은 제품의 파라미터를 검출하기 위한 적어도 하나의 검출 장치(32)로서, 상기 파라미터는:
a) 상기 로그 상의 결함의 위치를 포함하는, 얇은 제품의 표면 또는 두께의 결함; b) e-모듈러스 또는 푸아송 비(Poisson ratio) 의 기계적 파라미터, c) 로그 밀도 프로파일 또는 장력 또는 슬라이딩 또는 NIP의 감기 파라미터, d) 결함을 제거하기 위한 결합 위치;
중 하나 이상을 포함하는 적어도 하나의 검출장치(32)를 포함하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하는 플랜트. - 제 15항에 있어서,
- 무한한 얇은 제품(T)을 제조하기 위한 생산 라인(12)과,
- 상기 생산 라인(12)으로부터 오는 얇은 제품을 1차 로그(B1) 또는 마스터 롤로 감기에 적합한, 무한한 얇은 제품의 상기 생산 라인(12)의 출구에 배치된 적어도 하나의 와인더(13)로써, 상기 와인더(13)는 상기 얇은 제품이 감길 원통형 1차 지지체 코어(14)용의 맨드릴(mandrel)을 포함하는 적어도 하나의 와인더(13)를 추가로 포함하고,
- 적어도 하나의 리와인더(17)는,
- 형성될 2차 로그(B2i)를 위한 2차 지지체 코어(18i)를 생산하는 스테이션(22)과,
- 풀릴 1차 로그(B1)를 풀기 위한 풀림 영역(20)을 제공하는 상기 감기 스테이션(19)과,
- 상기 풀림 영역(20)에 대향하여 서로 동축으로 인접하여 2차 지지체 코어(18i)를 배열하는 영역(21)과,
- 상기 풀림 영역(20)과, 2차 코어가 배열되는 상기 영역(21) 사이에 배열된 복수의 블레이드(24)를 구비한 상기 절단장치(23)로써, 위치 변환 장치는, 2차 지지체 코어의 횡방향 폭과 동일한 횡방향의 스트립 또는 무한한 스트립으로 얇은 제품을 절단하도록 절단 위치를 조정하기 위하여, 풀릴 1차 로그의 회전축에 평행하게 상기 블레이드(24)를 이동시키는 상기 복수의 블레이드와 연관되는 상기 절단 장치(23)와,
- 상기 플랜트 관리 전자 센터(30)와,
- 상기 1차 로그에 부착되는 제 1 그래픽 또는 전자 또는 자기 지지체와,
- 상기 2차 로그에 부착되는 제 2 그래픽 또는 전자 또는 자기 지지체와,
- 상기 와인더(13)와 연관되고 상기 관리 전자 센터(30)에 작동 가능하게 접속된, 제 1지지체를 기록 또는 프로그램하기에 적합한, 제 1지지체에 대해 판독 또는 기록을 하는 제 1장치(34)와,
- 상기 1차 로그가 상기 리와인더 상에 배열될 때 제 1지지체를 판독하기에 적합한, 상기 리와인더(17)와 연관되고 상기 관리 전자 센터(30)에 동작 가능하게 접속된, 지지체에 대해 판독 또는 기록을 하는 제 2장치(35)와,
- 리와인더 상에 존재하는 제 2지지체 상에 프로그램 또는 기입하기에 적합한, 상기 리와인더(17)와 연관되고 상기 관리 전자 센터(30)에 동작 가능하게 접속된, 지지체에 대해 판독 또는 기록을 하는 제 3장치(36)와,
- 상기 와인더(13)에 감기는, 얇은 제품의 표면 또는 두께의 결함으로서, 제품 파라미터를 검출하는 적어도 하나의 검출 장치(32)를 차례로 포함하는 것을 특징으로 하는 얇은 제품의 로그(B1, B2i)를 제조하기 위한 플랜트.
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