KR102542140B1 - 폴리머 내 나노입자의 분산도를 평가하는 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 (S1) 나노입자를 포함하는 폴리머를 시트 형태로 제조하는 단계; (S2) 상기 폴리머 시트를 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)의 멀티포인트(multi-point) 측정 모드로 촬영하는 단계; (S3) 촬영된 이미지로부터 포인트당 상기 나노입자의 함량을 측정하는 단계; 및 (S4) 전체 포인트로부터 측정된 나노입자 함량의 평균값 및 표준편차를 산출하여 기준값과 비교하는 단계를 포함하는, 폴리머 내 나노입자의 분산도를 평가하는 방법에 관한 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 나노입자를 미량으로 함유하는 폴리머에 대해서 마이크로-XRF의 멀티포인트 측정방식을 도입하여 포인트별로 나노입자의 함량을 측정하고, 그 측정치의 평균값 및 표준편차를 통해 나노입자의 분산도를 파악함으로써 폴리머 내 미량으로 존재하는 성분의 분산도를 효율적으로 평가할 수 있다.

Description

폴리머 내 나노입자의 분산도를 평가하는 방법{METHOD OF EVALUATING DISPERSION DEGREE OF NANO PARTICLES IN POLYMERS}
본 발명은 폴리머 내 나노입자의 분산도를 평가하는 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)를 이용하여 폴리머 내 나노입자의 분산도를 정량적으로 분석하여 평가하는 방법에 관한 것이다.
폴리머 내에 나노입자의 분산도를 분석하기 위해 사용되는 방법으로 XRD(X-ray Diffraction), TEM(transmission electron microcopy), 유변학(rheology) 및 NMR(nuclear magnetic resonance) 등이 있다.
상기 XRD는 나노입자의 모폴로지 평가에는 유용하나 XRD 패턴에서 피크점이 나타나지 않을 경우 분석이 어렵다. 상기 TEM은 나노 복합체 중의 나노 입자의 분산도를 정량적으로 분석하는데 유용하나, 분석할 수 있는 영역이 매우 작아 평균적 결과를 얻기 위해서는 다수의 영상을 촬영해야 하고, 나노 입자가 미량으로 존재하는 경우 한 개의 이미지에 카운팅되는 입자의 개수가 작아 분석이 어렵다. 유변학 및 NMR 방법은 벌크 분석을 신속하게 수행하는 것이 가능하지만 이 역시 나노 입자가 미량으로 존재할 경우에는 분석이 불가능한 한계가 있다.
따라서, 폴리머 내에 미량으로 존재하는 나노입자의 분산도를 보다 효율적으로 분석 및 평가할 수 있는 방법이 필요하다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 한 목적은 폴리머 내에 미량으로 존재하는 나노입자의 분산도를 정량적으로 분석 및 평가할 수 있는 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면,
(S1) 나노입자를 포함하는 폴리머를 시트 형태로 제조하는 단계;
(S2) 상기 폴리머 시트를 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)의 멀티포인트(multi-point) 측정 모드로 촬영하는 단계;
(S3) 촬영된 이미지로부터 포인트당 상기 나노입자의 함량을 측정하는 단계; 및
(S4) 전체 포인트로부터 측정된 나노입자 함량의 평균값 및 표준편차를 산출하여 기준값과 비교하는 단계를 포함하는, 폴리머 내 나노입자의 분산도를 평가하는 방법이 제공된다.
상기 (S3) 단계에서, 포인트당 나노입자의 함량 측정은 200 내지 300 초, 예컨대 200초 동안 수행될 수 있다.
상기 폴리머 시트는 나노입자를 0.01 내지 20 중량%, 예컨대 0.05 내지 5 중량%의 함량으로 포함할 수 있다.
상기 폴리머 시트는 나노입자를 0.05 내지 0.5 중량%의 함량으로 포함하는 경우, 나노입자 함량의 평균값 및 표준편차를 하기 수학식 1에 대입하여 산출된 값이 0.2 내지 4의 범위를 만족한다.
[수학식 1]
분산도(D) = b / (a^0.5) × 100
상기 식에서,
a는 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)의 멀티포인트(multi-point) 측정 모드로 촬영된 이미지의 전체 포인트로부터 측정된 나노입자 함량의 평균값이고,
b는 상기 나노입자 함량의 표준편차이다.
상기 (S2) 단계에서, 멀티포인트(multi-point) 측정은 격자(grid) 패턴으로 수행될 수 있다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 나노입자를 미량으로 함유하는 폴리머에 대해서 마이크로-XRF의 멀티포인트 측정방식을 도입하여 포인트별로 나노입자의 함량을 측정하고, 그 측정치의 평균값 및 표준편차를 통해 나노입자의 분산도를 파악함으로써 폴리머 내 미량으로 존재하는 성분의 분산도를 효율적으로 평가할 수 있다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 전술한 발명의 내용과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따라 나노입자-함유 폴리머 시트를 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)의 멀티포인트 측정 모드로 촬영하여 얻은 이미지를 나타낸 것이다.
도 2는 비교예 1에 따라 나노입자-함유 폴리머 시트를 전계방출형 주사전자현미경(FE-SEM)으로 촬영하여 얻은 이미지를 나타낸 것이다.
이하, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
본 발명의 일 실시형태는 폴리머 내 나노입자의 분산도를 평가하는 방법에 관한 것이며, 상기 방법은 하기 단계들을 포함한다:
(S1) 나노입자를 포함하는 폴리머를 시트 형태로 제조하는 단계;
(S2) 상기 폴리머 시트를 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)의 멀티포인트(multi-point) 측정 모드로 촬영하는 단계;
(S3) 촬영된 이미지로부터 포인트당 상기 나노입자의 함량을 측정하는 단계; 및
(S4) 전체 포인트로부터 측정된 나노입자 함량의 평균값 및 표준편차를 산출하여 기준값과 비교하는 단계.
이하에서는 본 발명에 따른 방법을 단계별로 설명한다.
상기 (S1) 단계에서, 본 발명에서 분석하고자 하는 폴리머는 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 나일론, 페놀 수지, 합성 고무 등과 같이 다양한 산업에서 사용되는 중합체 소재를 포함할 수 있다. 특히, 폴리에틸렌 및 폴리프로필렌이 나노입자를 포함하는 제품으로서 일반적으로 사용되는 점에서 본 발명에서 적합하게 적용될 수 있으나, 이에 국한되는 것은 아니다.
이들 폴리머는 그 적용 목적에 따라 특정 성분들을 나노 입자 형태로 포함할 수 있으며, 이들 나노 입자가 균일하게 분산될 때 의도하는 특성을 부여하는데 효과적이므로 상기 나노 입자의 분산도를 분석 및 평가하는 것이 종종 필요하다.
예를 들어, 폴리머는 나노 입자 등을 포함시켜 펠렛 또는 시트 형태로 가공하기 위해서 압출 공정을 거치는데, 이때 나노 입자의 분산 정도는 폴리머의 압출 특성과 관련될 수 있다. 즉, 나노입자가 불균일하게 분산되어 있는 경우 폴리머의 압출시 압력 부하가 높아지고, 압출기 메쉬의 교체 주기가 짧아져 압출 특성을 불량하게 할 수 있다. 반면에, 나노입자가 균일하게 분산되어 있는 경우에는 압출기의 압력부하가 낮아지고 압출기 메쉬의 교체 주기가 길어지며, 이는 압출 기간의 증가로 압출 특성이 좋아지는 것을 의미한다. 따라서, 폴리머 내의 나노입자의 분산도는 폴리머의 압출 특성을 예측하는데 이용될 수 있다.
상기 (S2) 단계에서는 상기 폴리머 시트에 분포된 나노입자를 분석하기 위해 빔(beam) 사이즈가 수십 ㎛인 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)를 이용하여 상기 폴리머 시트를 촬영한다.
상기 마이크로-XRF는 에너지 분산형 X-선 형광분석기(ED-XRF)에 해당되며, 시료에 X-선을 조사할 경우 시료의 각 성분 원소마다 고유한 X-선의 에너지 값을 갖는 원리로부터 각 성분 원소들을 에너지 값에 따라 분리함으로써 원소들의 정성 분석 및 정량 분석을 수행하는 장비로서, Na 부터 U까지의 원소 분석이 가능하다.
본 발명의 일 실시양태에서, 상기 마이크로-XRF는 예컨대 브루커(Bruker)사의 ED-XRF 장비 중 하나인 M4 Torndo를 사용할 수 있다.
상기 M4 Torndo는 모든 종류의 샘플, 특히 불균일(non-Homogenous)하거나 불규칙한 모양과 거친 표면을 가지고 있는 샘플에 대해서 분석이 가능하고, 포인트(Point) 분석, 멀티포인트(Multi-Point) 분석, 선(Line) 분석, 맵핑(Mapping) 분석, 멀티맵핑(Multi Mapping) 분석 등 다양한 방식으로 분석이 이루어질 수 있다. 이 중에서도, 멀티포인트 분석은 분석하고자 하는 시료의 위치 선정시 측정자의 임의적인 조작이 필요없어 분석의 객관성을 보장할 수 있는 점에서 유리하다. 특히, 폴리머 내에 나노입자가 미량으로 존재하는 경우 상기 나노입자의 분산도를 분석하는데 효율적으로 사용될 수 있다.
예컨대, 폴리에틸렌의 경우 체적 저항 특성을 부여하기 위해 마그네슘(Mg) 입자를 0.01 내지 20 중량%, 상세하게는 0.05 내지 5 중량% 또는 0.05 내지 0.5 중량%의 미량으로 포함하게 되는데, 이러한 폴리머를 상기와 같은 마이크로-XRF의 멀티포인트 측정 모드로 촬영하는 경우 XRD, TEM, NMR 등에 비해 국소 부위가 아닌 대면적 분석이 가능하여 미량의 입자들에 대한 대표성이 높아지는 장점이 있다.
구체적으로, 도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따라 나노입자-함유 폴리머 시트를 마이크로-XRF의 멀티포인트 측정 모드로 촬영하여 얻은 이미지로서, 한 이미지에 격자 패턴의 24개 포인트를 포함한다. 이는 24개의 포인트에 대해서 포인트별로 나노입자의 밀집 정도를 분석하는 것으로서, 기존 TEM 또는 SEM 분석에서 나노입자를 확인하기 위해 고배율을 적용함에 따라 미량의 입자의 경우 한 이미지에 카운팅되는 입자 수가 몇 개 되지 않아 분석이 어려웠던 한계를 극복할 수 있다.
상기 (S3) 단계에서는 마이크로-XRF의 멀티포인트 측정모드를 이용하여 촬영된 이미지로부터 포인트당 상기 나노입자의 함량을 측정한다.
이때, 상기 포인트당 측정 시간(acquisition time)은 나노입자의 분산도 평가에 대한 변별력을 확보하기 위한 측면에서 100 내지 300 초, 예컨대 200초로 설정하는 것이 유리할 수 있다. 만약, 상기 측정 시간이 100초 미만으로 너무 짧은 경우에는 이후 산출하게 되는 표준편차의 상승으로 분산도 평가에 대한 변별력에 영향을 미칠 수 있고, 상기 측정 시간이 300초를 초과하는 경우에는 전체 분석 및 평가시간이 증가시키는 요인이 된다.
상기 (S4) 단계에서는 전체 포인트로부터 측정된 나노입자의 함량 수치들의 표준편차를 산출한 후 이를 기준값, 즉 기준시료의 표준편차와 비교함으로써 폴리머 내 나노입자의 분산도를 평가한다.
예컨대, 도 1의 이미지에 포함된 24개의 포인트에 대해서 포인트당 측정된 함량 수치들로부터 산출된 표준편차가 기준시료의 값 보다 낮은 경우에 폴리머 내 나노입자의 분산도가 우수한 것으로, 상기 기준시료의 값 보다 높은 경우에는 폴리머 내 나노입자의 분산도가 불량한 것으로 평가할 수 있다. 상기 기준시료는 의도하는 목적에 따라 분산도를 적절히 제어함으로써 제조할 수 있다.
상기 나노입자 함량의 평균값 및 표준편차는 포인트당 나노입자의 함량 측정 시간에 따라서 달라질 수 있기에, 표준편차의 정확한 비교를 위해서는 측정 시료와 기준 시료에 대한 포인트당 나노입자의 함량 측정 시간이 동일해야 하며, 그러한 조건하에 측정된 입자 함량의 표준편차는 폴리머 내 나노입자의 분산도를 나타내는 지표로 작용할 수 있다.
특히, 폴리머 내에 나노입자의 함량이 극미량인 경우, 예컨대 0.05 내지 0.5 중량%인 경우에는 전체 포인트로부터 측정된 나노입자 함량의 평균값 및 표준편차는 하기 수학식 1에 대입하여 산출된 값이 0.2 내지 4의 범위를 만족할 수 있다.
[수학식 1]
분산도(D) = b / (a^0.5) × 100
상기 식에서,
a는 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)의 멀티포인트(multi-point) 측정 모드로 촬영된 이미지의 전체 포인트로부터 측정된 나노입자 함량의 평균값이고,
b는 상기 나노입자 함량의 표준편차이다.
상기 수학식 1로부터 산출된 분산도(D)의 값은 폴리머내 나노입자가 0.05 내지 0.5 중량%와 같이 극미량인 경우의 분산 상태를 평가하는데 사용될 수 있으며, 그 평가기준은 다음과 같다:
0.2 내지 4 : 나노입자가 균일하게 분산된 상태
4 내지 10 : 나노입자가 일부분에 밀집된 상태
> 10 : 나노입자가 폴리머 시트의 분석 영역에 존재하지 않음
상기와 같은 평가기준에 따르면, 수학식 1에 따른 분산도(D)가 낮을수록 폴리머에 나노입자가 균일하게 분산되어 있는 상태를 나타낸다.
이러한 기준은 나노입자의 분산도가 함량의 평균값 보다 표준편차에 영향을 크게 받는 것을 고려하여 설정된 것이다. 즉, 폴리머 내에 나노입자의 함량이 극미량인 경우에는 수학식 1에서 분산도(D)가 함량의 표준편차(b)에는 비례하고, 함량의 평균값(a)의 제곱근에 반비례하는 관계를 확인한 것이다.
상기한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 나노입자를 미량으로 함유하는 폴리머에 대해서 마이크로-XRF의 멀티포인트 측정방식을 도입하여 포인트별로 나노입자의 함량을 측정하고, 그 측정치의 평균값 및 표준편차를 통해 나노입자의 분산도를 파악함으로써 폴리머 내 미량으로 존재하는 성분의 분산도를 효율적으로 평가할 수 있다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 실시예를 들어 상세하게 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명에 따른 실시예들은 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명의 실시예들은 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해 제공되는 것이다.
실시예 1:
폴리머로서 폴리에틸렌에 마그네슘(Mg)을 5 중량%로 충전시킨 후, 이를 압출하여 폴리머 시트를 시료로서 제조하였다.
이때, 시료는 총 2개로서, 각 시료에 대해서 동일 함량으로 나노입자를 포함하되, 시료 1는 압출기를 통상적인 속도인 200rpm로 작동시켜 압출을 수행하였고, 시료 2는 시료 1에 비해 압출기의 속도를 증가시켜 혼합 속도를 빠르게 함으로서 나노입자의 분산 균일도가 개선되도록 제조하였다.
마이크로-XRF(M4 Tornado, beam size 20㎛, Brucker)를 이용하여 상기 시료에 X-선을 조사한 후, 멀티포인트 측정 모드로 이미지를 촬영하였다. 촬영된 이미지를 10배 확대하여 15mm×10mm 영역에 포함된 격자(grid) 패턴의 24개 포인트에 대해서 1개의 포인트 당 나노입자의 함량을 측정하였다(도 1 참조). 이때, 측정 시간(acquisition time)은 50초, 100초 및 200초로 하여 시간별로 측정하였다.
전체 24개 포인트로부터 측정된 나노입자의 함량 수치들로부터 평균값 및 표준편차를 산출하고, 두 시료의 산출된 값을 비교하였다. 그 결과를 하기 표 1에 나타내었다.
Mg 함량 측정치
측정시간(50초) 측정시간(100초) 측정시간(200초)
시료 1 시료 2 시료 1 시료 2 시료 1 시료 2
평균 5.05 5.12 5.01 5.24 5.08 5.33
표준편차 0.37 0.34 0.32 0.26 0.21 0.10
시료 1: 기준 시료
시료 2: 분산도 개선 시료
상기 표 1로부터 볼 수 있는 바와 같이, 기준 시료인 시료 1에 비해서 분산도를 개선시킨 시료 2로부터 산출된 표준편차가 낮았다. 즉, 마이크로-XRF를 이용하여 폴리머 내 나노입자의 함량을 측정하고, 이로부터 산출된 표준편차가 폴리머 내 나노입자의 분산도를 나타내는 지표로 작용할 수 있음을 확인할 수 있다.
또한, 포인트당 나노입자 함량을 측정하는 시간이 200초일 때 100초인 경우에 비해 표준편차가 낮았으며, 이는 포인트당 함량 측정시간이 200초인 경우가 변별력있는 분산도 결과를 도출할 수 있음을 보여주는 것이다.
실시예 2:
폴리머로서 폴리에틸렌에 마그네슘(Mg)을 0.2 중량%로 충전시킨 후, 이를 압출하여 폴리머 시트를 시료로서 제조하였다.
이때, 시료는 총 2개로서, 각 시료에 대해서 동일 함량으로 나노입자를 포함하되, 시료 1는 압출기를 통상적인 속도인 200rpm로 작동시켜 압출을 수행하였고, 시료 2는 시료 1에 비해 압출기의 속도를 증가시켜 혼합 속도를 빠르게 함으로서 나노입자의 분산 균일도가 개선되도록 제조하였다.
마이크로-XRF(M4 Tornado, beam size 20㎛, Brucker)를 이용하여 상기 시료에 X-선을 조사한 후, 멀티포인트 측정 모드로 이미지를 촬영하였다. 촬영된 이미지를 10배 확대하여 15mm×10mm 영역에 포함된 격자(grid) 패턴의 12개 포인트에 대해서 1개의 포인트 당 나노입자의 함량을 측정하였다. 이때, 측정 시간(acquisition time)은 변별력있는 분산도 결과를 도출할 수 있는 200초로 설정하였다.
전체 12개 포인트로부터 측정된 나노입자의 함량 수치들로부터 평균값 및 표준편차를 산출한 후, 두 시료의 산출된 값을 비교하였다.
또한, 각 시료부터 산출된 평균값(a) 및 표준편차(b)을 하기 수학식 1에 대입하여 분산도를 평가하고, 그 결과를 하기 표 2에 나타내었다.
[수학식 1]
분산도(D) = b / (a^0.5) × 100
Mg 함량 측정치
측정시간(200초)
시료 1 시료 2
평균 0.181 0.184
표준편차 0.021 0.016
분산도(D)=b/(a^0.5) ×100 4.9 3.7
압출특성(mesh 주기, h) 1.5 2.5
시료 1: 기준 시료
시료 2: 분산도 개선 시료
상기 표 2로부터 볼 수 있는 바와 같이, 기준 시료인 시료 1에 비해서 분산도를 개선시킨 시료 2로부터 산출된 표준편차가 낮았다. 또한, 시료 2의 경우 수학식 1을 적용한 분산도(D)의 값도 낮게 산출되었으며 0.2 내지 4의 범위를 만족하였다. 그 결과, 시료 2의 압출 메쉬 교체 주기도 시료 1에 비해 길어 압출 특성이 보다 우수함을 나타내고 있다.
비교예 1:
폴리머로서 폴리에틸렌에 마그네슘(Mg)을 0.2 중량%로 충전시킨 후, 이를 압출하여 폴리머 시트를 제조한 후, 상기 시트를 전계방출형 주사전자현미경(FE-SEM) (FESEM SU-8020, HITACHI)으로 촬영하였으며, 그 결과를 도 2에 나타내었다.
도 2로부터 볼 수 있는 바와 같이, FE-SEM의 경우 분석할 수 있는 영역이 매우 작아 저배율(a)에서는 입자 확인이 명확하지 않고, 고배율(b)에서는 평균적 결과를 얻기 위해서는 다수의 영상을 촬영해야 했으며 한 개의 이미지에 카운팅되는 나노입자의 개수가 작아 분석 자체가 어려웠다.
비교예 2:
실시예 2와 동일한 과정을 수행하되, 마이크로-XRF(M4 Tornado, beam size 20㎛, Brucker)의 이미지 촬영시 멀티맵핑(multi-mapping) 측정 모드를 적용하였다.
촬영된 이미지에 대해서 각 시료의 나노입자 함량을 측정하고, 그 수치들로부터 평균값 및 표준편차를 산출하였다. 그 결과를 하기 표 3에 나타내었다.
Mg 함량 측정치
멀티맵핑모드
시료 1 시료 2
평균 0.192 0.193
표준편차 0.017 0.017
압출특성(mesh 주기, h) 1.5 2.5
시료 1: 기준 시료
시료 2: 분산도 개선 시료
그 결과, 상기 멀티맵핑 측정모드를 적용한 경우 기준 시료인 시료 1과 분산도를 개선시킨 시료 2의 표준편차 값에서 차이가 없었다. 이는 멀티맵핑 측정모드의 적용시 폴리머 내 미량으로 함유된 나노입자의 분산도를 정확하게 평가하기 어려움을 나타내는 것이다.

Claims (7)

  1. (S1) 나노입자를 포함하는 폴리머를 시트 형태로 제조하는 단계;
    (S2) 상기 폴리머 시트를 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)의 멀티포인트(multi-point) 측정 모드로 촬영하는 단계;
    (S3) 촬영된 이미지로부터 포인트당 상기 나노입자의 함량을 측정하는 단계; 및
    (S4) 전체 포인트로부터 측정된 나노입자 함량의 평균값 및 표준편차를 산출하여 기준값과 비교하는 단계를 포함하고,
    상기 폴리머 시트가 나노입자를 0.05 내지 0.5 중량%의 함량으로 포함하는 경우 나노입자 함량의 평균값 및 표준편차를 하기 수학식 1에 대입하여 산출된 값이 0.2 내지 4의 범위를 만족하는 것인, 폴리머 내 나노입자의 분산도를 평가하는 방법:
    [수학식 1]
    분산도(D) = b / (a^0.5) × 100
    상기 식에서,
    a는 마이크로-XRF(X-ray fluorescence)의 멀티포인트(multi-point) 측정 모드로 촬영된 이미지의 전체 포인트로부터 측정된 나노입자 함량의 평균값이고,
    b는 상기 나노입자 함량의 표준편차이다.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 (S3) 단계에서 포인트당 나노입자의 함량 측정을 200 내지 300 초 동안 수행하는 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 포인트당 나노입자의 함량 측정시간이 200초인 방법.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제1항에 있어서,
    상기 (S2) 단계에서 멀티포인트(multi-point) 측정이 격자(grid) 패턴으로 수행되는 방법.
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