KR102528379B1 - Semiconductor device package and light emitting device including the same - Google Patents

Semiconductor device package and light emitting device including the same Download PDF

Info

Publication number
KR102528379B1
KR102528379B1 KR1020180014194A KR20180014194A KR102528379B1 KR 102528379 B1 KR102528379 B1 KR 102528379B1 KR 1020180014194 A KR1020180014194 A KR 1020180014194A KR 20180014194 A KR20180014194 A KR 20180014194A KR 102528379 B1 KR102528379 B1 KR 102528379B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
disposed
semiconductor device
light
substrate
cavity
Prior art date
Application number
KR1020180014194A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20190094720A (en
Inventor
오정훈
Original Assignee
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지이노텍 주식회사
Priority to KR1020180014194A priority Critical patent/KR102528379B1/en
Priority to US16/960,695 priority patent/US20200357967A1/en
Priority to PCT/KR2019/001441 priority patent/WO2019151826A1/en
Publication of KR20190094720A publication Critical patent/KR20190094720A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102528379B1 publication Critical patent/KR102528379B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers

Abstract

실시 예는, 복수 개의 캐비티를 포함하는 몸체; 상기 복수 개의 캐비티 내에 각각 배치되는 복수 개의 반도체 소자; 및 상기 복수 개의 캐비티 상에 각각 배치되는 복수 개의 렌즈부를 포함하는 투광부재를 포함하고, 상기 몸체는 제1방향으로 배치되는 복수 개의 도전부, 및 상기 복수 개의 도전부 사이에 배치되는 절연라인을 포함하고, 상기 절연라인은 상기 제1방향과 수직한 제2방향으로 연장되어 상기 복수 개의 캐비티를 관통하는 반도체 소자 패키지 및 이를 포함하는 발광장치를 개시한다.The embodiment includes a body including a plurality of cavities; a plurality of semiconductor elements respectively disposed in the plurality of cavities; and a light transmitting member including a plurality of lens units respectively disposed on the plurality of cavities, wherein the body includes a plurality of conductive parts disposed in a first direction and an insulating line disposed between the plurality of conductive parts. and a semiconductor device package in which the insulating line extends in a second direction perpendicular to the first direction and passes through the plurality of cavities, and a light emitting device including the same.

Description

반도체 소자 패키지 및 이를 포함하는 발광장치{SEMICONDUCTOR DEVICE PACKAGE AND LIGHT EMITTING DEVICE INCLUDING THE SAME}Semiconductor device package and light emitting device including the same

실시 예는 반도체 소자 패키지 및 이를 포함하는 발광장치에 관한 것이다.The embodiment relates to a semiconductor device package and a light emitting device including the same.

GaN, AlGaN 등의 화합물을 포함하는 반도체 소자는 넓고 조정이 용이한 밴드 갭 에너지를 가지는 등의 많은 장점을 가져서 발광 소자, 수광 소자 및 각종 다이오드 등으로 다양하게 사용될 수 있다.Semiconductor devices including compounds such as GaN and AlGaN have many advantages, such as having a wide and easily adjustable band gap energy, and can be used in various ways such as light emitting devices, light receiving devices, and various diodes.

특히, 반도체의 3-5족 또는 2-6족 화합물 반도체 물질을 이용한 발광 다이오드(Light Emitting Diode)나 레이저 다이오드(Laser Diode)와 같은 발광소자는 박막 성장 기술 및 소자 재료의 개발로 적색, 녹색, 청색 및 자외선 등 다양한 색을 구현할 수 있으며, 형광 물질을 이용하거나 색을 조합함으로써 효율이 좋은 백색 광선도 구현이 가능하며, 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해 저소비전력, 반영구적인 수명, 빠른 응답속도, 안전성, 환경 친화성의 장점을 가진다. In particular, light emitting devices such as light emitting diodes or laser diodes using group 3-5 or group 2-6 compound semiconductor materials of semiconductors are developed in thin film growth technology and device materials to produce red, green, Various colors such as blue and ultraviolet can be realized, and white light with high efficiency can be realized by using fluorescent materials or combining colors. , safety, and environmental friendliness.

이러한 반도체 소자는 광 통신 수단의 송신 모듈, LCD(Liquid Crystal Display) 표시 장치의 백라이트, 조명 장치, 경화기, 및 노광기의 광원으로 적용될 수 있다.Such a semiconductor device may be applied as a light source of a transmission module of an optical communication unit, a backlight of a liquid crystal display (LCD) display device, a lighting device, a curing device, and an exposure device.

노광기는 빛에 반응하는 물질인 감광액(photo-resist)이 코팅된 시료 위에 원하는 패턴이 형성된 마스크를 올려놓고 자외선을 조사하여 감광막에 원하는 패턴을 전사시키는 장치이다. An exposure machine is a device that places a mask having a desired pattern on a sample coated with a photo-resist, which is a material that reacts to light, and irradiates ultraviolet rays to transfer the desired pattern to the photo-resist.

예를 들어, 전자기기의 주요 부품으로 내장되는 반도체 소자나 회로기판(PCB) 및 디스플레이 패널은 노광 공정에서 포토리소그래피(Photolithography) 기술을 이용하여 미세 회로 패턴을 형성할 수 있다. For example, a semiconductor device, a circuit board (PCB), and a display panel embedded as main components of an electronic device may form fine circuit patterns using photolithography technology in an exposure process.

이러한 자외선 노광 장치의 광원으로는 수은 자외선 램프, 또는 할로겐 램프 등이 이용될 수 있는데, 이러한 램프들은 효율이 떨어지고, 고가인 문제점이 있다.A mercury ultraviolet lamp or a halogen lamp may be used as a light source of the ultraviolet exposure apparatus, but these lamps have problems in that efficiency is low and expensive.

실시 예는 사이즈가 작은 반도체 소자 패키지를 제공한다.An embodiment provides a semiconductor device package having a small size.

실시 예는 렌즈 장착이 용이한 반도체 소자 패키지를 제공한다.An embodiment provides a semiconductor device package in which a lens is easily mounted.

실시 예는 조밀하게 배치할 수 있는 반도체 소자 패키지를 제공한다.The embodiment provides a semiconductor device package that can be densely arranged.

실시 예는 제작이 용이한 반도체 소자 패키지를 제공한다.The embodiment provides a semiconductor device package that is easy to manufacture.

실시 예에서 해결하고자 하는 과제는 이에 한정되는 것은 아니며, 아래에서 설명하는 과제의 해결수단이나 실시 형태로부터 파악될 수 있는 목적이나 효과도 포함된다고 할 것이다.The problem to be solved in the embodiment is not limited thereto, and it will be said that the solution to the problem described below or the purpose or effect that can be grasped from the embodiment is also included.

본 발명의 일 특징에 따른 반도체 소자 패키지는, 복수 개의 캐비티를 포함하는 몸체; 상기 복수 개의 캐비티 내에 각각 배치되는 복수 개의 반도체 소자; 및 상기 복수 개의 캐비티 상에 각각 배치되는 복수 개의 렌즈부를 포함하는 투광부재를 포함하고, 상기 몸체는 제1방향으로 배치되는 복수 개의 도전부, 및 상기 복수 개의 도전부 사이에 배치되는 절연라인을 포함하고, 상기 절연라인은 상기 제1방향과 수직한 제2방향으로 상기 복수 개의 캐비티를 관통한다.A semiconductor device package according to one aspect of the present invention includes a body including a plurality of cavities; a plurality of semiconductor elements respectively disposed in the plurality of cavities; and a light transmitting member including a plurality of lens units respectively disposed on the plurality of cavities, wherein the body includes a plurality of conductive parts disposed in a first direction and an insulating line disposed between the plurality of conductive parts. and the insulation line passes through the plurality of cavities in a second direction perpendicular to the first direction.

상기 몸체는 자외선 광을 반사할 수 있다.The body may reflect ultraviolet light.

상기 몸체는 다각 형상 또는 원 형상을 가질 수 있다.The body may have a polygonal shape or a circular shape.

본 발명의 일 특징에 따른 반도체 소자 패키지는, 기판; 상기 기판 상에 배치되고 복수 개의 캐비티를 포함하는 몸체; 상기 복수 개의 캐비티 내에 각각 배치되는 복수 개의 반도체 소자; 및 상기 복수 개의 캐비티 상에 각각 배치되는 복수 개의 렌즈부를 포함하는 투광부재를 포함한다.A semiconductor device package according to one aspect of the present invention includes a substrate; a body disposed on the substrate and including a plurality of cavities; a plurality of semiconductor elements respectively disposed in the plurality of cavities; and a light transmitting member including a plurality of lens units respectively disposed on the plurality of cavities.

상기 복수 개의 캐비티는 상기 기판에서 멀어질수록 면적이 넓어지도록 경사진 제1면, 및 상기 제1면 상에 배치되고 상기 기판의 일면과 수직한 제2면을 포함할 수 있다.The plurality of cavities may include a first surface that is inclined such that an area of the plurality of cavities increases as the distance from the substrate increases, and a second surface disposed on the first surface and perpendicular to the one surface of the substrate.

상기 몸체는 제1캐비티와 상기 기판 사이에 배치되는 제2캐비티를 포함하고, 상기 제2캐비티는 상기 기판의 일면과 수직한 제3면을 가질 수 있다.The body may include a second cavity disposed between the first cavity and the substrate, and the second cavity may have a third surface perpendicular to one surface of the substrate.

상기 몸체는 서로 마주보는 제1측면과 제3측면, 서로 마주보는 제2측면과 제4측면, 상기 제1측면과 제2측면 사이에 배치되는 제1모서리, 제2측면과 제3측면 사이에 배치되는 제2모서리, 상기 제3측면과 상기 제4측면 사이에 배치되는 제3모서리, 및 상기 제4측면과 상기 제1측면 사이에 배치되는 제4모서리를 포함하고, 상기 제2면은 상기 제1모서리와 제2모서리 사이, 상기 제2모서리와 제3모서리 사이, 상기 제3모서리와 제4모서리 사이, 및 상기 제4모서리와 제1모서리 사이에 각각 배치될 수 있다.The body has a first side and a third side facing each other, a second side and a fourth side facing each other, a first edge disposed between the first side and the second side, and between the second side and the third side. a second edge disposed between the third side surface and the fourth side surface, and a fourth edge disposed between the fourth side surface and the first side surface; It may be disposed between the first edge and the second edge, between the second edge and the third edge, between the third edge and the fourth edge, and between the fourth edge and the first edge.

상기 제2면의 수직 방향 폭은 상기 제1 내지 제4 모서리에 가까워질수록 작아질 수 있다.A width of the second surface in a vertical direction may decrease as it approaches the first to fourth corners.

상기 제3면의 제1방향 폭은 상기 제1 내지 제4 모서리에 가까워질수록 커질 수 있다.A width of the third surface in the first direction may increase as it approaches the first to fourth corners.

상기 기판, 몸체, 및 투광부재는 다각 형상 또는 원 형상을 가질 수 있다.The substrate, the body, and the light transmitting member may have a polygonal shape or a circular shape.

본 발명의 실시 예에 따르면, 반도체 소자 패키지의 사이즈를 줄일 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the size of a semiconductor device package can be reduced.

또한, 반도체 소자 패키지에 렌즈 결합이 용이해질 수 있다. In addition, coupling of the lens to the semiconductor device package may be facilitated.

또한, 반도체 소자 패키지들의 조밀한 배치가 가능해진다.In addition, dense arrangement of semiconductor device packages becomes possible.

또한, 반도체 소자 패키지의 제작이 용이해질 수 있다.In addition, manufacturing of the semiconductor device package may be facilitated.

본 발명의 다양하면서도 유익한 장점과 효과는 상술한 내용에 한정되지 않으며, 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하는 과정에서 보다 쉽게 이해될 수 있을 것이다.Various advantageous advantages and effects of the present invention are not limited to the above description, and will be more easily understood in the process of describing specific embodiments of the present invention.

도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 개념도이고,
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지를 위에서 본 분해 사시도이고,
도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지를 아래에서 본 분해 사시도이고,
도 4는 도 1의 캐비티를 보여주는 도면이고,
도 5는 도 1의 A-A 방향 단면도이고,
도 6은 도 4의 B-B 방향 단면도이고,
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광장치의 개념도이고,
도 8은 도 7의 A 부분 확대도이고,
도 9는 복수 개의 반도체 소자 패키지와 리드전극의 연결을 보여주는 도면이고,
도 10은 도 1을 다른 방향에서 본 사시도이고,
도 11은 도 1의 저면도이고,
도 12는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 사시도이고,
도 13은 도 12의 분해 사시도이고,
도 14는 도 13의 몸체와 기판의 결합 관계를 보여주는 도면이고,
도 15는 도 12의 C-C 방향 단면도이고,
도 16은 도 13의 D-D 방향 단면 사시도이고,
도 17은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 개념도이고,
도 18은 도 17의 평면도이고,
도 19는 도 18의 제1변형예이고,
도 20은 도 18의 제2변형예이고,
도 21은 본 발명의 제4 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 단면도이고,
도 22는 본 발명의 제4 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 일부 분해 사시도이고,
도 23은 본 발명의 제4 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 평면도이다.
1 is a conceptual diagram of a semiconductor device package according to a first embodiment of the present invention;
2 is an exploded perspective view of a semiconductor device package according to a first embodiment of the present invention viewed from above;
3 is an exploded perspective view of a semiconductor device package according to a first embodiment of the present invention viewed from below;
4 is a view showing the cavity of FIG. 1;
5 is a cross-sectional view in the direction AA of FIG. 1;
6 is a cross-sectional view in the direction BB of FIG. 4;
7 is a conceptual diagram of a light emitting device according to an embodiment of the present invention;
8 is an enlarged view of part A of FIG. 7;
9 is a view showing connections between a plurality of semiconductor device packages and lead electrodes;
10 is a perspective view of FIG. 1 viewed from another direction;
Figure 11 is a bottom view of Figure 1,
12 is a perspective view of a semiconductor device package according to a second embodiment of the present invention;
13 is an exploded perspective view of FIG. 12;
14 is a view showing the coupling relationship between the body and the substrate of FIG. 13;
15 is a cross-sectional view in the CC direction of FIG. 12;
16 is a cross-sectional perspective view in the DD direction of FIG. 13;
17 is a conceptual diagram of a semiconductor device package according to a third embodiment of the present invention;
18 is a plan view of FIG. 17;
19 is a first modified example of FIG. 18;
20 is a second modified example of FIG. 18;
21 is a cross-sectional view of a semiconductor device package according to a fourth embodiment of the present invention;
22 is a partially exploded perspective view of a semiconductor device package according to a fourth embodiment of the present invention;
23 is a plan view of a semiconductor device package according to a fourth embodiment of the present invention.

본 실시 예들은 다른 형태로 변형되거나 여러 실시 예가 서로 조합될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 각각의 실시 예로 한정되는 것은 아니다. The present embodiments may be modified in other forms or combined with each other, and the scope of the present invention is not limited to each of the embodiments described below.

특정 실시 예에서 설명된 사항이 다른 실시 예에서 설명되어 있지 않더라도, 다른 실시 예에서 그 사항과 반대되거나 모순되는 설명이 없는 한, 다른 실시 예에 관련된 설명으로 이해될 수 있다. Even if a matter described in a specific embodiment is not described in another embodiment, it may be understood as a description related to another embodiment, unless there is a description contrary to or contradictory to the matter in another embodiment.

예를 들어, 특정 실시 예에서 구성 A에 대한 특징을 설명하고 다른 실시 예에서 구성 B에 대한 특징을 설명하였다면, 구성 A와 구성 B가 결합된 실시 예가 명시적으로 기재되지 않더라도 반대되거나 모순되는 설명이 없는 한, 본 발명의 권리범위에 속하는 것으로 이해되어야 한다.For example, if the characteristics of component A are described in a specific embodiment and the characteristics of component B are described in another embodiment, the opposite or contradictory description even if the embodiment in which components A and B are combined is not explicitly described. Unless there is, it should be understood as belonging to the scope of the present invention.

실시 예의 설명에 있어서, 어느 한 element가 다른 element의 "상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두 개의 element가 서로 직접(directly)접촉되거나 하나 이상의 다른 element가 상기 두 element 사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 "상(위) 또는 하(아래)(on or under)"으로 표현되는 경우 하나의 element를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment, in the case where an element is described as being formed “on or under” of another element, on or under (on or under) or under) includes both elements formed by directly contacting each other or by indirectly placing one or more other elements between the two elements. In addition, when expressed as "on or under", it may include the meaning of not only the upward direction but also the downward direction based on one element.

이하에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, embodiments of the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily carry out the present invention.

도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 개념도이고, 도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지를 위에서 본 분해 사시도이고, 도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지를 아래에서 본 분해 사시도이다.1 is a conceptual diagram of a semiconductor device package according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view of a semiconductor device package according to a first embodiment of the present invention viewed from above, and FIG. 3 is a first embodiment of the present invention. It is an exploded perspective view of the semiconductor device package according to the example viewed from below.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지는, 기판(200), 기판(200) 상에 배치되는 몸체(100), 몸체(100)의 내부에 배치되는 반도체 소자(400), 및 몸체(100)의 상부에 배치되는 투광부재(300)를 포함할 수 있다.1 to 3 , a semiconductor device package according to an embodiment includes a substrate 200, a body 100 disposed on the substrate 200, and a semiconductor device 400 disposed inside the body 100. , And may include a light transmitting member 300 disposed on the upper portion of the body (100).

기판(200)은 AlN 재질을 포함할 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 자외선 광을 반사할 수 있는 다양한 재질이 선택될 수도 있다. 예시적으로 기판(200)은 산화 알루미늄(Al2O3)을 포함할 수도 있다. 기판(200)은 다각형 형상, 예컨대, 사각형 형상일수 있다.The substrate 200 may include an AlN material. However, it is not necessarily limited thereto, and various materials capable of reflecting ultraviolet light may be selected. Illustratively, the substrate 200 may include aluminum oxide (Al 2 O 3 ). The substrate 200 may have a polygonal shape, for example, a quadrangular shape.

기판(200)은 일면에 제1전극(230) 및 제2전극(220)이 배치될 수 있다. 제1전극(230)과 제2전극(220)은 Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, W, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Ge, Ag 및 Au와 이들의 선택적인 합금 중에서 선택될 수 있다. 예시적으로 제1전극(230) 및 제2전극(220)은 W/Ti/Ni/Cu/Pd/Au 순으로 적층된 구조를 가질 수도 있다.A first electrode 230 and a second electrode 220 may be disposed on one surface of the substrate 200 . The first electrode 230 and the second electrode 220 are Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, W, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Ge, Ag and Au and their A selection of alloys may be selected. For example, the first electrode 230 and the second electrode 220 may have a stacked structure in the order of W/Ti/Ni/Cu/Pd/Au.

반도체 소자(400)는 제2전극(220) 상에 배치되고, 와이어(미도시)에 의해 제1전극(230)과 전기적으로 연결될 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 반도체 소자(400)는 와이어에 의해 제1전극(230) 및 제2전극(220)과 전기적으로 연결될 수도 있다. 또한, 반도체 소자(400)는 플립칩으로 구현되어 제1전극(230) 및 제2전극(220) 상에 배치될 수도 있다. 즉, 반도체 소자(400)는 전극 구조에 따라 다양한 방법으로 제1전극(230) 및 제2전극(220)과 전기적으로 연결될 수 있다.The semiconductor device 400 may be disposed on the second electrode 220 and electrically connected to the first electrode 230 by a wire (not shown). However, it is not necessarily limited thereto, and the semiconductor device 400 may be electrically connected to the first electrode 230 and the second electrode 220 by wires. Also, the semiconductor device 400 may be implemented as a flip chip and disposed on the first electrode 230 and the second electrode 220 . That is, the semiconductor device 400 may be electrically connected to the first electrode 230 and the second electrode 220 in various ways according to the electrode structure.

반도체 소자(400)는 자외선 파장대의 광을 출력할 수 있다. 예시적으로 반도체 소자(400)는 근자외선 파장대의 광(UV-A)을 출력할 수도 있고, 원자외선 파장대의 광(UV-B)을 출력할 수도 있고, 심자외선 파장대의 광(UV-C)을 출력할 수도 있다. 파장범위는 반도체 소자(400)가 포함하는 반도체 구조물에 의해 결정될 수 있다.The semiconductor device 400 may output light in an ultraviolet wavelength range. Illustratively, the semiconductor device 400 may output light (UV-A) in a near-ultraviolet wavelength range, may output light (UV-B) in a far-ultraviolet wavelength range, or output light (UV-C) in a deep-ultraviolet wavelength range. ) can be output. The wavelength range may be determined by a semiconductor structure included in the semiconductor device 400 .

반도체 구조물(미도시)은 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 제1 도전형 반도체층과 제2 도전형 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함할 수 있다. The semiconductor structure (not shown) may include a first conductivity type semiconductor layer, a second conductivity type semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer.

제1 도전형 반도체층은 n 형 반도체층일 수 있고, 제2 도전형 반도체층은 p 형 반도체층일 수 있다. 다만, 이에 한정하지 않고, 제1 도전형 반도체층은 p 형 반도체층일 수 있고, 제2 도전형 반도체층은 n 형 반도체층일 수 있다. The first conductivity-type semiconductor layer may be an n-type semiconductor layer, and the second conductivity-type semiconductor layer may be a p-type semiconductor layer. However, it is not limited thereto, and the first conductivity type semiconductor layer may be a p-type semiconductor layer, and the second conductivity type semiconductor layer may be an n-type semiconductor layer.

활성층은 제1 도전형 반도체층에서 주입되는 반송자와 제2 도전형 반도체층에서 주입되는 반송자의 발광성 재결합에 의해 광을 발광할 수 있다. The active layer may emit light by luminescent recombination of a carrier injected from the first conductivity type semiconductor layer and a carrier injected from the second conductivity type semiconductor layer.

이때, 활성층의 밴드갭 에너지 크기에 발광하는 광의 파장이 결정될 수 있다. 예를 들어, 활성층이 양자 우물과 양자 장벽을 적어도 하나 이상 가질 경우, 양자 우물의 밴드갭 크기에 따라 발광하는 광의 파장이 결정될 수 있다. At this time, the wavelength of light emitted may be determined according to the bandgap energy of the active layer. For example, when the active layer includes at least one quantum well and at least one quantum barrier, the wavelength of emitted light may be determined according to the size of the bandgap of the quantum well.

양자 우물에서 발광하는 광은 유도 방출 또는 자발성 발광을 할 수 있다. 유도 방출일 경우, 발광하는 광의 파장이 특정 파장에서 그 세기가 크고, 발광하는 광의 위상이 같을 수 있으나 자발성 발광을 하는 경우 발광하는 광의 파장이 다양할 수 있고, 광의 파장에 따라 그 세기가 다양할 수 있다. 이 때, 발광하는 광의 파장은 파장에 대한 상대적인 세기를 측정하여, 다른 파장에 비해 광의 세기가 가장 큰 광의 파장으로 정의할 수 있다. 또한, 상기 활성층은 n 형 도펀트 및/또는 p 형 반도체층일 수 있으나, 이에 한정하지 않고 진성 반도체층일 수 있다. Light emitted from the quantum well can be either stimulated emission or spontaneous emission. In the case of stimulated emission, the wavelength of the emitted light is high at a specific wavelength and the phase of the emitted light may be the same, but in the case of spontaneous emission, the wavelength of the emitted light may vary and the intensity may vary according to the wavelength of the light. can At this time, the wavelength of the emitted light may be defined as the wavelength of light having the greatest intensity compared to other wavelengths by measuring the relative intensity with respect to the wavelength. In addition, the active layer may be an n-type dopant and/or a p-type semiconductor layer, but is not limited thereto and may be an intrinsic semiconductor layer.

반도체 구조물은 AlGaN, GaN, GaAs, GaP 등을 기반으로하는 화합물 반도체로 구성될 수 있다. 특히, 반도체 구조물이 GaN 기반의 화합물 반도체로 구성되고, 반도체 소자(400)가 자외선을 발광하는 경우, 반도체 구조물의 Al 조성(또는 함량)에 의해 발광하는 파장이 결정될 수 있다. 예시적으로, 활성층이 AlGaN 또는 GaN으로 구성되는 양자 우물층을 가질 경우, Al 의 조성(또는 함량)에 따라 양자 우물층의 밴드갭을 다양하게 조절할 수 있고 이 때, 양자 우물층의 밴드갭의 크기에 따라 반도체 구조물이 자외선을 발광할 수 있다.The semiconductor structure may be composed of compound semiconductors based on AlGaN, GaN, GaAs, GaP, and the like. In particular, when the semiconductor structure is made of a GaN-based compound semiconductor and the semiconductor device 400 emits ultraviolet rays, the wavelength of light emitted may be determined by the Al composition (or content) of the semiconductor structure. Illustratively, when the active layer has a quantum well layer composed of AlGaN or GaN, the band gap of the quantum well layer can be adjusted in various ways according to the composition (or content) of Al. At this time, the band gap of the quantum well layer Depending on the size, the semiconductor structure may emit ultraviolet light.

예시적으로, 근자외선 파장대의 광(UV-A)은 320nm 내지 420nm 파장대에서 메인 피크를 가질 수 있고, 원자외선 파장대의 광(UV-B)은 280nm 내지 320nm의 파장대에서 메인 피크를 가질 수 있으며, 심자외선 파장대의 광(UV-C)은 100nm 내지 280nm 파장대에서 메인 피크를 가질 수 있다. 그러나, 반도체 소자(400)는 노광에 필요한 파장대의 광을 출력하도록 제작될 수 있다.Illustratively, light (UV-A) in the near-ultraviolet wavelength range may have a main peak in a wavelength range of 320 nm to 420 nm, and light (UV-B) in a far-ultraviolet wavelength range may have a main peak in a wavelength range of 280 nm to 320 nm, , Light (UV-C) in the deep ultraviolet wavelength range may have a main peak in a wavelength range of 100 nm to 280 nm. However, the semiconductor device 400 may be manufactured to output light of a wavelength range required for exposure.

몸체(100)는 기판(200) 상에 배치될 수 있다. 몸체(100)는 접착제(미도시)에 의해 기판(200) 상에 고정될 수 있다. 예시적으로 접착제는 솔더 또는 에폭시일 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 접착제는 금속 재질 및/또는 반도체 재질을 접착할 수 있는 다양한 접착제가 선택될 수 있다.The body 100 may be disposed on the substrate 200 . The body 100 may be fixed on the substrate 200 by an adhesive (not shown). Illustratively, the adhesive may be solder or epoxy. However, the adhesive is not necessarily limited thereto, and various adhesives capable of bonding a metal material and/or a semiconductor material may be selected.

몸체(100)는 상면(일면, 131)과 하면(타면), 그리고 상면과 하면 사이에 배치되는 복수 개의 외측면(121, 122, 123, 124)을 포함할 수 있다. 복수 개의 외측면은 서로 마주보는 제1외측면(121)과 제3외측면(123), 서로 마주보는 제2외측면(122)과 제4외측면(124), 제1외측면(121)과 제2외측면(122)이 만나는 영역에 배치되는 제1모서리부(127a), 제2외측면(122)과 제3외측면(123)이 만나는 영역에 배치되는 제2모서리부(127b), 제3외측면(123)과 제4외측면(124)이 만나는 영역에 배치되는 제3모서리부(127c), 및 제4외측면(124)과 제1외측면(121)이 만나는 영역에 배치되는 제4모서리부(127d)를 포함할 수 있다. 몸체(100)는 다각형 형상, 예컨대, 사각형 형상일수 있다.The body 100 may include an upper surface (one surface, 131) and a lower surface (the other surface), and a plurality of outer surfaces 121, 122, 123, and 124 disposed between the upper and lower surfaces. The plurality of outer surfaces include a first outer surface 121 and a third outer surface 123 facing each other, a second outer surface 122 and a fourth outer surface 124 facing each other, and a first outer surface 121. A first corner portion 127a disposed in the area where the and second outer side surfaces 122 meet, and a second corner portion 127b disposed in the area where the second outer side surface 122 and the third outer side surface 123 meet. , the third corner portion 127c disposed in the area where the third outer surface 123 and the fourth outer surface 124 meet, and in the area where the fourth outer surface 124 and the first outer surface 121 meet. A fourth corner portion 127d may be disposed. The body 100 may have a polygonal shape, for example, a quadrangular shape.

몸체(100)는 상면(131)과 하면을 관통하는 캐비티(110)를 포함할 수 있다. 캐비티(110)의 내면은 자외선 광을 반사할 수 있다. 예시적으로 몸체(100)는 전체적으로 AlN 또는 산화 알루미늄 재질로 이루어져 자외선 광을 반사할 수 있거나, 캐비티(110)에 별도의 반사층이 배치될 수 있다.The body 100 may include a cavity 110 penetrating the upper surface 131 and the lower surface. An inner surface of the cavity 110 may reflect ultraviolet light. For example, the body 100 may be entirely made of AlN or aluminum oxide to reflect ultraviolet light, or a separate reflective layer may be disposed in the cavity 110 .

캐비티(110)는 경사진 제1면(111)과 기판(200)의 일면(210)에 수직한 제2면(112)을 갖는 제1캐비티(110a), 및 몸체의 하면을 관통하여 반도체 소자(400)를 노출시키는 제2캐비티(110b)를 포함할 수 있다. 제2캐비티(110b)는 사각 형상일 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 캐비티(110)의 형상에 대해서는 후술한다.The cavity 110 penetrates the first cavity 110a having an inclined first surface 111 and a second surface 112 perpendicular to the one surface 210 of the substrate 200, and the lower surface of the body to pass through the semiconductor element. A second cavity 110b exposing 400 may be included. The second cavity 110b may have a square shape, but is not necessarily limited thereto. The shape of the cavity 110 will be described later.

몸체(100)는 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d) 중 대각 방향으로 마주보는 모서리부에서 돌출된 복수 개의 돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)를 포함할 수 있다.The body 100 may include a plurality of protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d protruding from corner portions facing each other in a diagonal direction among the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d.

예시적으로 복수 개의 돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)는 제1모서리부(127a)에서 돌출된 제1돌기부(125a), 제2모서리부(127b)에서 돌출된 제2돌기부(125b), 제3모서리부(127c)에서 돌출된 제3돌기부(125c), 및 제4돌기부(125d)에서 돌출된 제4돌기부(125d)를 포함할 수 있다.Illustratively, the plurality of protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d include a first protrusion 125a protruding from the first corner portion 127a, a second protrusion 125b protruding from the second corner portion 127b, A third protrusion 125c protruding from the third corner portion 127c and a fourth protrusion 125d protruding from the fourth protrusion 125d may be included.

그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 복수 개의 돌기부(125a, 125c)는 제1모서리부(127a)에서 돌출된 제1돌기부(125a)와 제3모서리부(127c)에서 돌출된 제3돌기부(125c)만을 포함할 수도 있다. However, it is not necessarily limited to this, and the plurality of protrusions 125a and 125c include a first protrusion 125a protruding from the first corner portion 127a and a third protrusion 125c protruding from the third corner portion 127c. may contain only

제1 내지 제4돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)는 다각 기둥 형상을 가질 수 있다. 예시적으로 제1 내지 제4돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)는 삼각 기둥 형상을 가질 수 있으나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 사각 기둥, 오각 기둥 형상을 가질 수도 있다.The first to fourth protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d may have a polygonal pillar shape. Illustratively, the first to fourth protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d may have a triangular prism shape, but are not necessarily limited thereto and may have a quadrangular prism or pentagonal prism shape.

투광부재(300)는 몸체(100) 상에 배치되어 반도체 소자(400)에서 출사되는 광을 제어할 수 있다. 투광부재(300)는 렌즈부(320)를 포함할 수 있다. 렌즈부(320)는 반도체 소자(400)에서 출사된 광이 균일하게 조사될 수 있도록 제어할 수 있다. 렌즈부(320)는 돔(dome) 형상인 것으로 예시하였으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니고, 광을 균일하게 제어할 수 있도록 다양한 곡률을 가질 수 있다.The light transmitting member 300 may be disposed on the body 100 to control light emitted from the semiconductor device 400 . The light transmitting member 300 may include a lens unit 320 . The lens unit 320 may control light emitted from the semiconductor device 400 to be uniformly irradiated. The lens unit 320 is illustrated as having a dome shape, but is not necessarily limited thereto, and may have various curvatures to uniformly control light.

투광부재(300)는 서로 마주보는 제1측면(311)과 제3측면(313), 서로 마주보는 제2측면(312)과 제4측면(314), 제1측면(311)과 제2측면(312) 사이에 배치되는 제1모서리부(316), 제2측면(312)과 제3측면(313) 사이에 배치되는 제2모서리부(317), 제3측면(313)과 제4측면(314) 사이에 배치되는 제3모서리부(318), 및 제4측면(314)과 제1측면(311) 사이에 배치되는 제4모서리부(315)를 포함할 수 있다. 투광부재(300)는 다각형 형상, 예컨대, 사각형 형상일수 있다.The light transmitting member 300 has a first side 311 and a third side 313 facing each other, a second side 312 and a fourth side 314 facing each other, and a first side 311 and a second side facing each other. 312, a first corner portion 316 disposed between, a second corner portion 317 disposed between the second side surface 312 and the third side surface 313, and a third side surface 313 and a fourth side surface It may include a third corner portion 318 disposed between 314 and a fourth corner portion 315 disposed between the fourth side surface 314 and the first side surface 311 . The light transmission member 300 may have a polygonal shape, for example, a quadrangular shape.

투광부재(300)의 모서리부(315, 316, 317, 318)는 복수 개의 돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)와 결합하는 결합부를 포함할 수 있다. 투광부재(300)의 결합부는 몸체(100)의 돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)의 형상과 대응되는 형상을 가질 수 있다. 본 실시 예에서 몸체(100)의 돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)는 상면이 삼각형 형상을 가질 수 있다. 따라서, 투광부재(300)의 결합부는 평탄면을 가질 수 있다. 따라서, 투광부재(300)는 제1 내지 제4돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)에 모서리부(315, 316, 317, 318)가 삽입되어 고정될 수 있다. The corner portions 315, 316, 317, and 318 of the light transmitting member 300 may include coupling portions coupled to the plurality of protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d. The coupling portion of the light transmitting member 300 may have a shape corresponding to that of the protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d of the body 100. In this embodiment, the upper surfaces of the protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d of the body 100 may have a triangular shape. Accordingly, the coupling portion of the light transmitting member 300 may have a flat surface. Accordingly, the light transmitting member 300 may be fixed by inserting the corner portions 315, 316, 317, and 318 into the first to fourth protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d.

투광부재(300)는 접착제(미도시)에 의해 몸체(100)의 상면(131)에 고정될 수 있다. 접착제는 UV 경화성 레진일 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다.The light transmitting member 300 may be fixed to the upper surface 131 of the body 100 by an adhesive (not shown). The adhesive may be a UV curable resin, but is not necessarily limited thereto.

투광부재(300)는 자외선 파장대의 광을 투과할 수 있는 재질이면 특별히 제한하지 않는다. 예시적으로 투광부재(300)는 쿼츠(Quartz) 또는 글라스를 사용할 수 있으나, 이에 한정하지 않고 자외선 파장 투과율이 높은 광학 재료를 포함할 수 있다.The light transmitting member 300 is not particularly limited as long as it is made of a material capable of transmitting light in the ultraviolet wavelength range. Illustratively, the light transmitting member 300 may use quartz or glass, but is not limited thereto and may include an optical material having high UV wavelength transmittance.

도 4는 도 1의 캐비티를 보여주는 도면이고, 도 5는 도 1의 A-A 방향 단면도이고, 도 6은 도 4의 B-B 방향 단면도이다.FIG. 4 is a view showing the cavity of FIG. 1 , FIG. 5 is a cross-sectional view in the direction A-A of FIG. 1 , and FIG. 6 is a cross-sectional view in the direction B-B of FIG. 4 .

도 4 내지 도 6을 참조하면, 실시 예에 따른 캐비티(110)는 경사진 제1면(111)과 기판(200)에 수직한 제2면(112)을 갖는 제1캐비티(110a), 및 몸체(100)의 하면을 관통하여 반도체 소자(400)를 노출시키는 제2캐비티(110b)를 포함할 수 있다. 4 to 6, the cavity 110 according to the embodiment includes a first cavity 110a having an inclined first surface 111 and a second surface 112 perpendicular to the substrate 200, and A second cavity 110b passing through the lower surface of the body 100 and exposing the semiconductor element 400 may be included.

제1면(111)은 기판(200)에서 멀어질수록 횡단면적이 커지는 파라볼라 형상을 가질 수 있다. 따라서, 반도체 소자(400)에서 출사된 광이 상향 반사되어 광속이 증가하고 균일한 배광을 가질 수 있다.The first surface 111 may have a parabolic shape in which a cross-sectional area increases as the distance from the substrate 200 increases. Accordingly, the light emitted from the semiconductor device 400 is upwardly reflected to increase the luminous flux and to have a uniform light distribution.

제2면(112)은 제1면(111) 상에 배치되고 기판(200)에 수직하게 배치될 수 있다. 제2면(112)은 반도체 소자 패키지의 사이즈를 축소시킬 수 있다. 제1면(111)에 의해 제1캐비티(110a)가 전체적으로 파라볼라 형상을 갖는 경우 직경(R1)이 큰 원형의 캐비티가 형성되므로 반도체 소자 패키지의 크기가 커져야 한다. 따라서, 복수 개의 반도체 소자 패키지가 배치되는 경우 밀집도가 떨어질 수 있다.The second surface 112 may be disposed on the first surface 111 and perpendicular to the substrate 200 . The second surface 112 may reduce the size of the semiconductor device package. When the first cavity 110a has a parabolic shape as a whole due to the first surface 111, a circular cavity having a large diameter R1 is formed, so the size of the semiconductor device package should be increased. Therefore, when a plurality of semiconductor device packages are disposed, density may be reduced.

실시 예에 따르면, 제1캐비티(110a) 내에 제2면(112)이 부분적으로 형성되어 반도체 소자 패키지의 사이즈를 줄일 수 있다. 즉, 패키지의 내측은 파라볼라 형상을 가지면서도 외측은 사각 형상을 가져 복수 개의 반도체 소자 패키지를 조밀하게 배치할 수 있다.According to the embodiment, the second surface 112 is partially formed in the first cavity 110a, thereby reducing the size of the semiconductor device package. That is, the inner side of the package has a parabolic shape and the outer side has a rectangular shape, so that a plurality of semiconductor device packages can be densely disposed.

제1면(111)과 제2면(112)의 수직 방향 최대 폭의 비(H1:H2)는 1:0.5 내지 1: 0.7일 수 있다. 비가 1:0.5보다 커지는 경우 제2면(112)이 넓어져 반도체 소자 패키지의 사이즈를 줄일 수 있으며, 비가 1:0.7보다 작은 경우 제2면(112)이 너무 넓어져 전반사에 따른 광속이 저하되는 문제를 방지할 수 있다.The ratio (H1:H2) of the maximum widths of the first surface 111 and the second surface 112 in the vertical direction may be 1:0.5 to 1:0.7. When the ratio is greater than 1:0.5, the second surface 112 is widened to reduce the size of the semiconductor device package. problems can be avoided.

복수 개의 제2면(112)은 몸체(100)의 모서리부(127a, 127b, 127c, 127d) 사이에 각각 배치될 수 있다. 예시적으로 복수 개의 제2면(112)은 제1모서리부(127a)와 제2모서리부(127b) 사이, 제2모서리부(127b)와 제3모서리부(127c) 사이, 제3모서리부(127c)와 제4모서리부(127d) 사이, 및 제4모서리부(127d)와 제1모서리부(127a) 사이에 각각 배치될 수 있다.The plurality of second surfaces 112 may be disposed between the corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d of the body 100, respectively. Illustratively, the plurality of second surfaces 112 may be between the first corner portion 127a and the second corner portion 127b, between the second corner portion 127b and the third corner portion 127c, and the third corner portion. It may be disposed between 127c and the fourth corner portion 127d, and between the fourth corner portion 127d and the first corner portion 127a.

이때, 제2면(112)의 수직 방향 폭(H2)은 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)에 가까워질수록 작아질 수 있다. 따라서, 제2면(112)은 반원 형상을 가질 수 있다. 제2면(112)의 수직 방향 폭(H2)이 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)에 가까워질수록 커지거나 동일한 경우, 제1캐비티(110a)가 전체적으로 파라볼라 형상을 갖기 어려워 원하는 배광 분포를 갖기 어려울 수 있다. 또한, 수직면이 넓어지므로 상부로 출사되는 광량이 적어져 광속이 저하될 수도 있다.In this case, the vertical width H2 of the second surface 112 may decrease as it approaches the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d. Accordingly, the second surface 112 may have a semicircular shape. When the vertical width H2 of the second surface 112 increases or is the same as the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d are approached, the first cavity 110a has a parabolic shape as a whole. It may be difficult to have a desired light distribution distribution. In addition, since the vertical surface is widened, the amount of light emitted upward is reduced, and thus the luminous flux may be reduced.

제1면(111)은 복수 개의 제2면(112) 사이의 영역으로 연장될 수 있다. 즉, 제1면(111)은 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)를 향해 연장되어 복수 개의 제2면(112)을 구획할 수 있다.The first surface 111 may extend to a region between the plurality of second surfaces 112 . That is, the first surface 111 may extend toward the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d to partition a plurality of second surfaces 112.

제2캐비티(110b)는 반도체 소자(400)를 노출시킬 수 있는 크기를 가질 수 있다. 예시적으로 제2캐비티(110b)는 사각 형상일 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 제2캐비티(110b)는 다각 형상 또는 원 형상을 가질 수 있다.The second cavity 110b may have a size capable of exposing the semiconductor device 400 . Illustratively, the second cavity 110b may have a quadrangular shape, but is not necessarily limited thereto. The second cavity 110b may have a polygonal shape or a circular shape.

제2캐비티(110b)의 측면은 기판(200)과 수직한 제3면(113)을 포함할 수 있다. 제3면(113)은 제2면(112)과 평행할 수 있다. 즉, 제2면(112)과 제3면(113)은 기판(200)에 수직한 면일 수 있다. A side surface of the second cavity 110b may include a third surface 113 perpendicular to the substrate 200 . The third surface 113 may be parallel to the second surface 112 . That is, the second surface 112 and the third surface 113 may be planes perpendicular to the substrate 200 .

제3면(113)의 수직 방향 폭(H3)은 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)에 가까워질수록 커질 수 있다. 즉, 제2면(112)은 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)에 가까워질수록 폭이 작아지는데 반해, 제3면(113)의 수직 방향 폭(H3)은 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)에 가까워질수록 커질 수 있다. 이러한 구성에 의하면 제2캐비티(110b)의 형상을 다각 형상으로 형성할 수 있어 와이어 실장 면적을 확보할 수 있다. 따라서, 소자의 신뢰성이 향상될 수 있다.The vertical width H3 of the third surface 113 may increase as it approaches the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d. That is, while the width of the second surface 112 decreases as it approaches the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d, the width H3 of the third surface 113 in the vertical direction is It may increase as it approaches the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d. According to this configuration, the shape of the second cavity 110b can be formed in a polygonal shape, so that a wire mounting area can be secured. Therefore, the reliability of the device can be improved.

제1면(111)과 제2면(112) 사이의 제1경계(CL1)는 곡선을 갖고, 제3면(113)과 제1면(111) 사이의 제2경계(CL2)는 곡선을 가질 수 있다. 이때, 제1경계(CL1)와 제2경계(CL2)의 곡선은 동일한 곡률을 가질 수 있다. 이러한 구성에 의하면 몸체(100)의 사이즈를 줄일 수 있고, 캐비티(110)의 형상을 다각 형상으로 형성하여 와이어 실장 면적 등을 확보할 수 있다.The first boundary CL1 between the first surface 111 and the second surface 112 has a curve, and the second boundary CL2 between the third surface 113 and the first surface 111 has a curve. can have In this case, the curves of the first boundary CL1 and the second boundary CL2 may have the same curvature. According to this configuration, the size of the body 100 can be reduced, and the shape of the cavity 110 can be formed in a polygonal shape to secure a wire mounting area and the like.

기판(200)은 일면에 배치되는 제1전극(230) 및 제2전극(220), 하면에 배치되는 제1패드(240), 제2패드(260), 및 제3패드(250)를 포함할 수 있다. 제1패드(240)는 관통전극에 의해 제1전극(230)과 전기적으로 연결될 수 있고, 제2패드(260)는 관통전극에 의해 제2전극(220)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1패드(240)와 제2패드(260) 사이에 배치되는 제3패드(250)는 방열 패드일 수 있다. 제1 내지 제3패드(240, 250, 260)는 제1, 제2전극(220)과 동일한 재질일 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다.The substrate 200 includes a first electrode 230 and a second electrode 220 disposed on one surface, and a first pad 240, a second pad 260, and a third pad 250 disposed on a lower surface. can do. The first pad 240 may be electrically connected to the first electrode 230 through a through electrode, and the second pad 260 may be electrically connected to the second electrode 220 through a through electrode. The third pad 250 disposed between the first pad 240 and the second pad 260 may be a heat radiation pad. The first to third pads 240, 250, and 260 may be made of the same material as the first and second electrodes 220, but are not necessarily limited thereto.

제1전극(230), 제2전극(220) 및 제1 내지 제3패드(240, 250, 260)는 Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, W, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Ge, Ag 및 Au와 이들의 선택적인 합금 중에서 선택될 수 있다. 예시적으로 제1전극(230), 제2전극(220) 및 제1 내지 제3패드(240, 250, 260)는 W/Ti/Ni/Cu/Pd/Au 순으로 적층된 구조를 가질 수도 있다.The first electrode 230, the second electrode 220, and the first to third pads 240, 250, and 260 include Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, W, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Ge, Ag and Au and optional alloys thereof. For example, the first electrode 230, the second electrode 220, and the first to third pads 240, 250, and 260 may have a stacked structure in the order of W/Ti/Ni/Cu/Pd/Au. there is.

도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 발광장치의 개념도이고, 도 8은 도 7의 A 부분 확대도이고, 도 9는 복수 개의 반도체 소자 패키지와 회로 패턴의 연결을 보여주는 도면이고, 도 10은 도 1을 다른 방향에서 본 사시도이고, 도 11은 도 1의 저면도이다.7 is a conceptual diagram of a light emitting device according to an embodiment of the present invention, FIG. 8 is an enlarged view of portion A of FIG. 7 , FIG. 9 is a diagram showing connections between a plurality of semiconductor device packages and circuit patterns, and FIG. 1 is a perspective view seen from another direction, and FIG. 11 is a bottom view of FIG. 1 .

도 7을 참조하면, 실시 예에 따른 발광장치는 스테이지(30), 스테이지(30) 상에 배치되는 광원모듈(10, 20)을 포함할 수 있다. 실시 예에 따른 발광장치는 살균 장치, 경화 장치, 노광 장치, 조명 장치, 및 표시 장치 및 차량용 램프 등을 포함하는 개념일 수 있다. 이하에서는 예시적으로 발광장치를 노광기로 설명한다.Referring to FIG. 7 , the light emitting device according to the embodiment may include a stage 30 and light source modules 10 and 20 disposed on the stage 30 . A light emitting device according to an embodiment may include a sterilization device, a curing device, an exposure device, a lighting device, a display device, and a vehicle lamp. Hereinafter, the light emitting device will be described as an exposure machine by way of example.

노광 대상물(41)은 스테이지(30) 상에 배치되고, 노광 대상물(41)과 광원모듈(10, 20) 사이에는 마스크 패턴(42)이 배치될 수 있다. 따라서, 마스크 패턴(42)에 따라 선택적으로 자외선 광이 노광 대상물(41)에 입사할 수 있다. 이러한 구조는 종래 노광기의 구조가 모두 적용될 수 있다.The object 41 to be exposed is disposed on the stage 30, and a mask pattern 42 may be disposed between the object 41 and the light source modules 10 and 20. Accordingly, ultraviolet light may be selectively incident on the object 41 according to the mask pattern 42 . All structures of conventional exposure devices may be applied to this structure.

광원모듈(10, 20)은 회로기판(20) 및 회로기판(20)에 배치되는 복수 개의 반도체 소자 패키지(10)를 포함할 수 있다. 발광장치의 광원모듈(10, 20)에서 복수 개의 반도체 소자 패키지(10)는 최대한 조밀하게 배치되는 것이 중요할 수 있다. 반도체 소자 패키지의 간격을 더 좁게 할수록 타겟(target)면의 광속 및 조도 균일도가 개선될 수 있다.The light source modules 10 and 20 may include a circuit board 20 and a plurality of semiconductor device packages 10 disposed on the circuit board 20 . In the light source modules 10 and 20 of the light emitting device, it may be important to arrange the plurality of semiconductor device packages 10 as densely as possible. As the interval between the semiconductor device packages becomes narrower, the luminous flux and illuminance uniformity of the target surface may be improved.

도 8 및 도 9를 참조하면, 제1리드전극(21)은 제1반도체 소자 패키지(10a)에 전기적으로 연결되고, 제2리드전극(22)은 제1반도체 소자 패키지(10a)와 제4반도체 소자 패키지(10d)에 전기적으로 연결될 수 있다. 8 and 9 , the first lead electrode 21 is electrically connected to the first semiconductor device package 10a, and the second lead electrode 22 is connected to the first semiconductor device package 10a and the fourth semiconductor device package 10a. It may be electrically connected to the semiconductor device package 10d.

제3리드전극(23)은 제1반도체 소자 패키지(10a)와 제2반도체 소자 패키지(10b) 사이를 지나 제5반도체 소자 패키지(10e)에 전기적으로 연결될 수 있다. 이때, 제3리드전극(23)은 제1반도체 소자 패키지(10a) 및 제2반도체 소자 패키지(10b)와 일부 중첩될 수 있다. 그러나, 제3리드전극(23)은 제1반도체 소자 패키지(10a) 및 제2반도체 소자 패키지(10b)의 패드(240, 250, 260)와는 이격되어 쇼트를 방지할 수 있다.The third lead electrode 23 may pass between the first semiconductor device package 10a and the second semiconductor device package 10b and be electrically connected to the fifth semiconductor device package 10e. In this case, the third lead electrode 23 may partially overlap the first semiconductor device package 10a and the second semiconductor device package 10b. However, the third lead electrode 23 is spaced apart from the pads 240 , 250 , and 260 of the first semiconductor device package 10a and the second semiconductor device package 10b to prevent a short circuit.

즉, 실시 예에 따른 광원모듈에서 복수 개의 반도체 소자 패키지(10a, 10b, 10c, 10d, 10e, 10f) 사이로 리드전극(21, 22, 23, 24, 25, 26, 27)이 중첩되어 배치될 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 반도체 소자 패키지의 사이 간격을 줄여 조도 균일도를 개선할 수 있다.That is, in the light source module according to the embodiment, the lead electrodes 21, 22, 23, 24, 25, 26, and 27 are disposed overlapping between the plurality of semiconductor device packages 10a, 10b, 10c, 10d, 10e, and 10f. can According to this configuration, it is possible to improve illuminance uniformity by reducing the distance between semiconductor device packages.

실시 예에 따른 리드전극(21, 22, 23, 24, 25, 26, 27)은 각 반도체 소자 패키지(10a, 10b, 10c, 10d, 10e, 10f)와 개별적으로 연결될 수 있다. 따라서, 리드전극을 통해 각 반도체 소자 패키지에 인가되는 전류값을 다르게 제어할 수 있다. 예시적으로 광원모듈(10, 20)의 에지 영역에 배치된 반도체 소자 패키지에 인가되는 전류값을 더 낮게 제어할 수 있다. 이러한 구성에 의하면 광원모듈 내에서 조도가 낮은 영역에는 전류값을 상대적으로 높게 제어하고 조도가 높은 영역은 전류값을 상대적으로 낮게 제어하여 전체적으로 조도 균일도를 개선할 수 있다. 그러나, 조도가 일정하게 유지되는 구간(예: 광원모듈의 중앙 영역)에서는 복수 개의 반도체 소자 패키지에 공통 리드 전극을 연결하여 동일한 전류를 인가할 수 있다.The lead electrodes 21, 22, 23, 24, 25, 26, and 27 according to the exemplary embodiment may be individually connected to each of the semiconductor device packages 10a, 10b, 10c, 10d, 10e, and 10f. Accordingly, it is possible to differently control the value of current applied to each semiconductor device package through the lead electrode. Illustratively, the current value applied to the semiconductor device package disposed in the edge region of the light source modules 10 and 20 may be controlled to be lower. According to this configuration, it is possible to improve overall illumination uniformity by controlling the current value to be relatively high in an area with low illumination and to control the current value to be relatively low in an area with high illumination in the light source module. However, the same current may be applied to a plurality of semiconductor device packages by connecting a common lead electrode to a section where the illuminance is maintained constant (eg, a central region of the light source module).

도 10 및 도 11을 참조하면, 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 몸체(100)는 기판(200) 상에 배치되는 하면(132), 기판(200)에 수직한 복수 개의 측면(121, 122, 123, 124), 및 복수 개의 측면(121, 122, 123, 124)과 하면(132)을 연결하는 경사면(126)을 포함할 수 있다. 실시 예에서 복수 개의 측면(121, 122, 123, 124)은 기판(200)과 수직하게 배치된 것으로 설명하나 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 복수 개의 측면(121, 122, 123, 124)은 경사를 가질 수도 있다.10 and 11, the body 100 of the semiconductor device package according to the embodiment includes a lower surface 132 disposed on a substrate 200, a plurality of side surfaces 121, 122, 123 and 124), and a plurality of side surfaces 121, 122, 123 and 124 and an inclined surface 126 connecting the lower surface 132 to each other. In the embodiment, the plurality of side surfaces 121, 122, 123, and 124 are described as being disposed perpendicular to the substrate 200, but are not necessarily limited thereto, and the plurality of side surfaces 121, 122, 123, and 124 may have an inclination. may be

몸체(100)는 기판(200) 상에 배치될 수 있다. 이때, 몸체(100)의 하면(132)은 기판(200)보다 작을 수 있다. 즉, 몸체(100)의 하면(132)은 기판(200)의 내측에 배치될 수 있다. 이에 반해 몸체(100)의 외측면(121, 122, 123, 124)은 기판(200)의 외측에 배치될 수 있다. 따라서, 몸체(100)의 측면(121, 122, 123, 124)을 자른 단면적은 기판(200)보다 클 수 있다.The body 100 may be disposed on the substrate 200 . At this time, the lower surface 132 of the body 100 may be smaller than the substrate 200 . That is, the lower surface 132 of the body 100 may be disposed inside the substrate 200 . In contrast, the outer surfaces 121 , 122 , 123 , and 124 of the body 100 may be disposed outside the substrate 200 . Accordingly, a cross-sectional area of the side surfaces 121 , 122 , 123 , and 124 of the body 100 may be larger than that of the substrate 200 .

실시 예에 따르면 복수 개의 외측면(121, 122, 123, 124)과 하면(132)을 연결하는 경사면(126)이 기판(200)에 가까워질수록 면적이 좁아지도록 기울어지므로 몸체(100)의 측면(121, 122, 123, 124)은 기판(200)의 외측에 배치됨에도 불구하고 몸체(100)의 하면(132)은 기판(200)의 내측에 배치될 수 있다. 그 결과, 기판(200)에 배치된 복수 개의 패드(240, 250, 260)는 몸체(100)의 측면(121, 122, 123, 124)의 내측에 배치될 수 있다. 따라서, 회로기판(20)의 리드전극이 몸체(100)와 일부 중첩되어도 패드(240, 250, 260)와는 이격될 수 있다. 따라서, 반도체 소자 패키지를 조밀하게 배치하면서도 전기적 절연성을 확보할 수 있다.According to the embodiment, the inclined surface 126 connecting the plurality of outer surfaces 121, 122, 123, 124 and the lower surface 132 is inclined so as to narrow the area as it approaches the substrate 200, so that the side of the body 100 Although (121, 122, 123, 124) are disposed on the outside of the substrate 200, the lower surface 132 of the body 100 may be disposed on the inside of the substrate 200. As a result, the plurality of pads 240 , 250 , and 260 disposed on the substrate 200 may be disposed inside the side surfaces 121 , 122 , 123 , and 124 of the body 100 . Therefore, even if the lead electrode of the circuit board 20 partially overlaps the body 100, it can be spaced apart from the pads 240, 250, and 260. Accordingly, it is possible to secure electrical insulation while densely arranging semiconductor device packages.

기판(200)의 면적과 몸체(100)의 최대 단면적의 비는 1:1.2 내지 1:1.8일 수 있다. 몸체(100)의 최대 단면적은 복수 개의 측면(121, 122, 123, 124)이 이루는 면적일 수 있다. 비가 1:1.2 이상인 경우 기판(200)의 면적이 충분히 작아 몸체(100)와 리드전극이 일부 중첩되어도 기판(200)의 패드와 전기적으로 절연될 수 있다. 또한, 비가 1:1.8 이하인 경우 몸체(100)의 면적이 작아져 조밀하게 배치될 수 있다.The ratio of the area of the substrate 200 to the maximum cross-sectional area of the body 100 may be 1:1.2 to 1:1.8. The maximum cross-sectional area of the body 100 may be an area formed by the plurality of side surfaces 121 , 122 , 123 , and 124 . When the ratio is 1:1.2 or more, the area of the substrate 200 is sufficiently small, and even if the body 100 and the lead electrode partially overlap, they can be electrically insulated from the pad of the substrate 200 . In addition, when the ratio is 1:1.8 or less, the area of the body 100 becomes small and can be densely arranged.

도 12는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 사시도이고, 도 13은 도 12의 분해 사시도이고, 도 14는 도 13의 몸체와 기판의 결합 관계를 보여주는 도면이다.FIG. 12 is a perspective view of a semiconductor device package according to a second embodiment of the present invention, FIG. 13 is an exploded perspective view of FIG. 12 , and FIG. 14 is a view showing a coupling relationship between a body and a substrate of FIG. 13 .

도 12 및 도 13을 참조하면, 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지는, 기판(200), 기판(200) 상에 배치되는 몸체(100), 몸체(100)의 내부에 배치되는 반도체 소자(400), 및 몸체(100)의 상부에 배치되는 투광부재(300)를 포함할 수 있다.12 and 13 , a semiconductor device package according to an embodiment includes a substrate 200, a body 100 disposed on the substrate 200, and a semiconductor device 400 disposed inside the body 100. , And may include a light transmitting member 300 disposed on the upper portion of the body (100).

기판(200)은 AlN 재질을 포함할 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 자외선 광을 반사할 수 있는 다양한 재질이 선택될 수도 있다. 예시적으로 기판(200)은 산화 알루미늄(Al2O3)을 포함할 수도 있다. 기판(200)은 다각형 형상, 예컨대, 사각형 형상일수 있다. The substrate 200 may include an AlN material. However, it is not necessarily limited thereto, and various materials capable of reflecting ultraviolet light may be selected. Illustratively, the substrate 200 may include aluminum oxide (Al 2 O 3 ). The substrate 200 may have a polygonal shape, for example, a quadrangular shape.

기판(200)은 일면에 제1전극(230) 및 제2전극(220)이 배치될 수 있다. 제1전극(230)과 제2전극(220)은 Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, W, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Ge, Ag 및 Au와 이들의 선택적인 합금 중에서 선택될 수 있다. 예시적으로 제1전극(230) 및 제2전극(220)은 W/Ti/Ni/Cu/Pd/Au 순으로 적층된 구조를 가질 수도 있다.A first electrode 230 and a second electrode 220 may be disposed on one surface of the substrate 200 . The first electrode 230 and the second electrode 220 are Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, W, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Ge, Ag and Au and their A selection of alloys may be selected. For example, the first electrode 230 and the second electrode 220 may have a stacked structure in the order of W/Ti/Ni/Cu/Pd/Au.

반도체 소자(400)는 제2전극(220) 상에 배치되고, 와이어에 의해 제1전극(230)과 전기적으로 연결될 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 반도체 소자(400)는 와이어에 의해 제1전극(230) 및 제2전극(220)과 전기적으로 연결될 수도 있다. 또한, 반도체 소자(400)는 플립칩으로 구현되어 제1전극(230) 및 제2전극(220) 상에 배치될 수도 있다. 즉, 반도체 소자(400)는 전극 구조에 따라 다양하게 제1전극(230) 및 제2전극(220)과 전기적으로 연결될 수 있다.The semiconductor device 400 may be disposed on the second electrode 220 and electrically connected to the first electrode 230 by a wire. However, it is not necessarily limited thereto, and the semiconductor device 400 may be electrically connected to the first electrode 230 and the second electrode 220 by wires. Also, the semiconductor device 400 may be implemented as a flip chip and disposed on the first electrode 230 and the second electrode 220 . That is, the semiconductor device 400 may be electrically connected to the first electrode 230 and the second electrode 220 in various ways according to the electrode structure.

반도체 소자(400)는 자외선 파장대의 광을 출력할 수 있다. 예시적으로 반도체 소자(400)는 근자외선 파장대의 광(UV-A)을 출력할 수도 있고, 원자외선 파장대의 광(UV-B)을 출력할 수 도 있고, 심자외선 파장대의 광(UV-C)을 출력할 수 있다. 파장범위는 반도체 구조물의 Al의 조성비에 의해 결정될 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 반도체 소자(400)는 노광에 필요한 파장대의 광을 출력하도록 제작될 수 있다.The semiconductor device 400 may output light in an ultraviolet wavelength range. Illustratively, the semiconductor device 400 may output light (UV-A) in a near-ultraviolet wavelength range, may output light (UV-B) in a far-ultraviolet wavelength range, or light (UV-A) in a deep ultraviolet wavelength range. C) can be output. The wavelength range may be determined by the composition ratio of Al in the semiconductor structure. However, it is not necessarily limited thereto, and the semiconductor device 400 may be manufactured to output light of a wavelength range required for exposure.

몸체(100)는 서로 마주보는 제1외측면(121)과 제3외측면(123), 서로 마주보는 제2외측면(122)과 제4외측면(124), 제1외측면(121)과 제2외측면(122) 사이에 배치되는 제1모서리부(127a), 제2외측면(122)과 제3외측면(123) 사이에 배치되는 제2모서리부(127b), 제3외측면(123)과 제4외측면(124) 사이에 배치되는 제3모서리부(127c), 및 제4외측면(124)과 제1외측면(121) 사이에 배치되는 제4모서리부(127d)를 포함할 수 있다. 몸체(100)는 다각형 형상, 예컨대, 사각형 형상일수 있다.The body 100 includes a first outer surface 121 and a third outer surface 123 facing each other, a second outer surface 122 and a fourth outer surface 124 facing each other, and a first outer surface 121 facing each other. And a first edge portion 127a disposed between the second outer side surface 122, a second edge portion 127b disposed between the second outer side surface 122 and the third outer side surface 123, and a third outside A third corner part 127c disposed between the side surface 123 and the fourth outer surface 124, and a fourth corner part 127d disposed between the fourth outer surface 124 and the first outer surface 121 ) may be included. The body 100 may have a polygonal shape, for example, a quadrangular shape.

몸체(100)는 상면과 하면을 관통하는 캐비티(110)를 포함할 수 있다. 캐비티(110)의 내면은 자외선 광을 반사할 수 있다. 예시적으로 몸체(100) 자체가 AlN 산화 알루미늄과 같이 자외선 광을 반사할 수 있거나, 캐비티(110)에 별도의 반사층이 배치될 수 있다.The body 100 may include a cavity 110 penetrating upper and lower surfaces. An inner surface of the cavity 110 may reflect ultraviolet light. Illustratively, the body 100 itself may reflect ultraviolet light, such as AlN aluminum oxide, or a separate reflective layer may be disposed in the cavity 110 .

캐비티(110)는 경사진 제1면(111)과 기판(200)에 수직한 제2면(112)을 갖는 제1캐비티(110a), 및 반도체 소자(400)를 노출시키는 제2캐비티(110b)를 포함할 수 있다. 제2캐비티(110b)는 사각 형상일 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. The cavity 110 includes a first cavity 110a having an inclined first surface 111 and a second surface 112 perpendicular to the substrate 200, and a second cavity 110b exposing the semiconductor device 400. ) may be included. The second cavity 110b may have a square shape, but is not necessarily limited thereto.

몸체(100)는 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d) 중 대각 방향으로 마주보는 모서리부에서 돌출된 복수 개의 돌기부(125a, 125b, 125c, 125d)를 포함할 수 있다.The body 100 may include a plurality of protrusions 125a, 125b, 125c, and 125d protruding from corner portions facing each other in a diagonal direction among the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d.

예시적으로 복수 개의 돌기부(125a, 125c)는 제1모서리부(127a)에서 돌출된 제1돌기부(125a), 제3모서리부(127c)에서 돌출된 제3돌기부(125c)를 포함할 수 있다. 이때, 돌기부가 형성되지 않은 제2모서리부(127b)와 제4모서리부(127d)는 진공척이 몸체(100)을 잡기 위한 공간을 제공할 수 있다.Illustratively, the plurality of protrusions 125a and 125c may include a first protrusion 125a protruding from the first corner portion 127a and a third protrusion 125c protruding from the third corner portion 127c. . At this time, the second corner portion 127b and the fourth corner portion 127d without protrusions may provide a space for the vacuum chuck to hold the body 100 .

그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 제2모서리부(127b)에서 돌출된 제2돌기부(미도시)와 제4모서리부(127d)에서 돌출된 제4돌기부(미도시)를 더 포함할 수도 있다.However, it is not necessarily limited thereto, and may further include a second protrusion (not shown) protruding from the second corner portion 127b and a fourth protrusion portion (not shown) protruding from the fourth corner portion 127d.

제1 및 제3돌기부(125a, 125c)는 다각 기둥 형상을 가질 수 있다. 예시적으로 제1 및 제3돌기부(125a, 125c)는 삼각 기둥 형상을 포함할 수 있으나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 사각 기둥, 오각 기둥 형상을 가질 수도 있다.The first and third protrusions 125a and 125c may have a polygonal pillar shape. Illustratively, the first and third protrusions 125a and 125c may include a triangular prism shape, but are not necessarily limited thereto and may have a quadrangular prism or pentagonal prism shape.

투광부재(300)는 몸체(100) 상에 배치되어 반도체 소자(400)에서 출사되는 광을 제어할 수 있다. 투광부재(300)는 렌즈부(320)를 포함할 수 있다. 렌즈부(320)는 반도체 소자(400)에서 출사된 광이 균일하게 조사될 수 있도록 광속을 제어할 수 있다. 렌즈부(320)는 돔 형상인 것으로 예시하였으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니고 광을 균일하게 제어할 수 있도록 다양한 곡률을 가질 수 있다.The light transmitting member 300 may be disposed on the body 100 to control light emitted from the semiconductor device 400 . The light transmitting member 300 may include a lens unit 320 . The lens unit 320 may control light flux so that the light emitted from the semiconductor device 400 may be uniformly irradiated. Although the lens unit 320 is illustrated as having a dome shape, it is not necessarily limited thereto and may have various curvatures to uniformly control light.

투광부재(300)는 서로 마주보는 제1측면(311)과 제3측면(313), 서로 마주보는 제2측면(312)과 제4측면(314), 제1측면(311)과 제2측면(312) 사이에 배치되는 제1모서리부(316), 제2측면(312)과 제3측면(313) 사이에 배치되는 제2모서리부(317), 제3측면(313)과 제4측면(314) 사이에 배치되는 제3모서리부(318), 및 제4측면(314)과 제1측면(311) 사이에 배치되는 제4모서리부(315)를 포함할 수 있다. 투광부재(300)는 다각형 형상, 예컨대, 사각형 형상일수 있다.The light transmitting member 300 has a first side 311 and a third side 313 facing each other, a second side 312 and a fourth side 314 facing each other, and a first side 311 and a second side facing each other. 312, a first corner portion 316 disposed between, a second corner portion 317 disposed between the second side surface 312 and the third side surface 313, and a third side surface 313 and a fourth side surface It may include a third corner portion 318 disposed between 314 and a fourth corner portion 315 disposed between the fourth side surface 314 and the first side surface 311 . The light transmission member 300 may have a polygonal shape, for example, a quadrangular shape.

투광부재(300)는 복수 개의 돌기부(125a, 125c)와 마주보는 모서리부에 배치된 평탄면을 포함할 수 있다. 따라서, 투광부재(300)는 제1 및 제3돌기부(125a, 125c)에 의해 고정될 수 있다.The light transmission member 300 may include a flat surface disposed at a corner portion facing the plurality of protrusions 125a and 125c. Accordingly, the light transmitting member 300 may be fixed by the first and third protrusions 125a and 125c.

이때, 제1돌기부(125a) 및 제3돌기부(125c)는 서로 마주보는 면에 배치된 제1체결부(125-1)를 포함하고, 투광부재(300)는 제1모서리부(316)와 제3모서리부(318)에 배치되어 제1체결부(125-1)와 결합하는 제2체결부(316a, 318a)를 포함할 수 있다.At this time, the first protrusion 125a and the third protrusion 125c include the first fastening portion 125-1 disposed on the surfaces facing each other, and the light transmitting member 300 has a first corner portion 316 and Second fastening parts 316a and 318a disposed on the third corner part 318 and coupled to the first fastening part 125-1 may be included.

이때, 제1체결부(125-1)는 돌기이고 제2체결부(316a, 318a)는 홈일 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 예시적으로 제1체결부(125-1)는 홈이고 제2체결부(316a, 318a)는 돌기일 수도 있다. 제1체결부(125-1)와 제2체결부(316a, 318a)는 제1 및 제3돌기부(125a, 125c)의 돌출 방향으로 연장될 수 있다. 이러한 구성에 의하면 투광부재(300)가 제1 및 제3돌기부(125a, 125c)에 안정적으로 삽입 고정될 수 있다. In this case, the first fastening part 125-1 may be a protrusion, and the second fastening parts 316a and 318a may be grooves, but are not necessarily limited thereto. For example, the first fastening part 125-1 may be a groove, and the second fastening parts 316a and 318a may be protrusions. The first fastening part 125-1 and the second fastening parts 316a and 318a may extend in the protruding direction of the first and third protrusions 125a and 125c. According to this configuration, the light transmitting member 300 can be stably inserted and fixed into the first and third protrusions 125a and 125c.

투광부재(300)는 접착제(미도시)에 의해 몸체(100)의 일면에 고정될 수 있다. 접착제는 UV 경화성 레진일 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다.The light transmitting member 300 may be fixed to one surface of the body 100 by an adhesive (not shown). The adhesive may be a UV curable resin, but is not necessarily limited thereto.

투광부재(300)는 자외선 파장대의 광을 투과할 수 있는 재질이면 특별히 제한하지 않는다. 예시적으로 투광부재(300)는 쿼츠(Quartz) 또는 글라스와 같이 자외선 파장 투과율이 높은 광학 재료를 포함할 수 있으나 이에 한정하는 것은 아니다.The light transmitting member 300 is not particularly limited as long as it is made of a material capable of transmitting light in the ultraviolet wavelength range. Illustratively, the light transmitting member 300 may include an optical material having high UV wavelength transmittance such as quartz or glass, but is not limited thereto.

도 14를 참조하면, 기판(200)은 반도체 소자(400)가 배치되는 제2전극(220), 제2전극(220)과 이격 배치된 제1전극(230), 및 기판(200)의 가장자리를 따라 배치되는 제1돌출부(270)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 14 , a substrate 200 includes a second electrode 220 on which a semiconductor device 400 is disposed, a first electrode 230 spaced apart from the second electrode 220, and an edge of the substrate 200. It may include a first protrusion 270 disposed along.

제1전극(230), 제2전극(220), 및 제1돌출부(270)는 기판(200) 상에 전극층을 형성한 후 패터닝하여 제작할 수 있다. 즉 제1돌출부(270)는 반도체 소자(400)와 전기적으로 절연될 수 있다. 따라서, 제1전극(230), 제2전극(220), 및 제1돌출부(270)는 동일한 재질을 가질 수 있다. 예시적으로 제1전극(230), 제2전극(220), 및 제1돌출부(270)는 Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Ge, Ag 및 Au와 이들의 선택적인 합금 중에서 선택될 수 있다. The first electrode 230 , the second electrode 220 , and the first protrusion 270 may be manufactured by forming an electrode layer on the substrate 200 and then patterning it. That is, the first protrusion 270 may be electrically insulated from the semiconductor element 400 . Therefore, the first electrode 230, the second electrode 220, and the first protrusion 270 may have the same material. Illustratively, the first electrode 230, the second electrode 220, and the first protrusion 270 are Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si , Ge, Ag and Au and optional alloys thereof.

제1돌출부(270)의 두께는 제1전극(230) 및 제2전극(220)과 동일할 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 제1돌출부(270)의 두께는 제1전극(230) 및 제2전극(220)보다 두꺼울 수도 있다. The first protrusion 270 may have the same thickness as the first electrode 230 and the second electrode 220 . However, it is not necessarily limited to this, and the thickness of the first protrusion 270 may be thicker than the first electrode 230 and the second electrode 220 .

몸체(100)의 하면(132)에는 제2캐비티(110b)가 배치되는 제2돌출부(132b) 및 가장자리를 따라 배치되는 오목부(132a)가 배치되고, 제1돌출부(270)는 오목부(132a)에 삽입될 수 있다. 따라서, 기판(200)와 몸체(100)의 조립이 용이해지고 얼라인이 개선될 수 있다. 또한, 조립 후 몸체(100)가 회전하는 것을 방지할 수 있다.On the lower surface 132 of the body 100, a second protrusion 132b in which the second cavity 110b is disposed and a concave portion 132a disposed along an edge are disposed, and the first protrusion 270 is a concave portion ( 132a). Accordingly, assembly of the substrate 200 and the body 100 may be facilitated and alignment may be improved. In addition, it is possible to prevent the body 100 from rotating after assembly.

도 15는 도 12의 C-C 방향 단면도이고, 도 16은 도 13의 D-D 방향 단면 사시도이다.15 is a cross-sectional view in the direction C-C of FIG. 12, and FIG. 16 is a perspective view in the direction D-D of FIG.

도 15 및 도 16을 참조하면, 실시 예에 따른 캐비티(110)는 경사진 제1면(111)과 기판(200)에 수직한 제2면(112)을 갖는 제1캐비티(110a), 및 반도체 소자(400)를 노출시키는 제2캐비티(110b)를 포함할 수 있다. 15 and 16, the cavity 110 according to the embodiment includes a first cavity 110a having an inclined first surface 111 and a second surface 112 perpendicular to the substrate 200, and A second cavity 110b exposing the semiconductor device 400 may be included.

제1면(111)은 기판(200)에서 멀어질수록 횡단면적이 커지는 파라볼라 형상을 가질 수 있다. 따라서, 반도체 소자(400)에서 출사된 광이 상향 반사되어 광속이 증가하고 균일한 배광을 가질 수 있다.The first surface 111 may have a parabolic shape in which a cross-sectional area increases as the distance from the substrate 200 increases. Accordingly, the light emitted from the semiconductor device 400 is upwardly reflected to increase the luminous flux and to have a uniform light distribution.

제2면(112)은 제1면(111) 상에 배치되고 기판(200)에 수직하게 배치될 수 있다. 제2면(112)은 반도체 소자 패키지의 사이즈를 축소시킬 수 있다. 제1면(111)에 의해 제1캐비티(110a)가 전체적으로 파라볼라 형상을 갖는 경우 반도체 소자 패키지의 크기가 커져야 한다. The second surface 112 may be disposed on the first surface 111 and perpendicular to the substrate 200 . The second surface 112 may reduce the size of the semiconductor device package. When the first cavity 110a has a parabolic shape as a whole due to the first surface 111, the size of the semiconductor device package should be increased.

실시 예에 따르면, 제1캐비티(110a) 내에 제2면(112)이 부분적으로 형성되어 반도체 소자 패키지의 사이즈를 줄일 수 있다. 따라서, 반도체 소자 패키지를 조밀하게 배치할 수 있다.According to the embodiment, the second surface 112 is partially formed in the first cavity 110a, thereby reducing the size of the semiconductor device package. Accordingly, semiconductor device packages can be densely arranged.

제1면(111)과 제2면(112)의 수직 방향 최대 폭의 비(H1:H2)는 1:0.5 내지 1: 0.7일 수 있다. 비가 1:0.5보다 커지는 경우 제2면(112)이 넓어져 반도체 소자 패키지의 사이즈를 줄일 수 있으며, 비가 1:0.7보다 작은 경우 제2면(112)이 너무 넓어져 전반사에 따른 광속이 저하되는 문제를 방지할 수 있다.The ratio (H1:H2) of the maximum widths of the first surface 111 and the second surface 112 in the vertical direction may be 1:0.5 to 1:0.7. When the ratio is greater than 1:0.5, the second surface 112 is widened to reduce the size of the semiconductor device package. problems can be avoided.

도 13을 참조하면, 제2면(112)은 몸체(100)의 모서리부 사이에 배치될 수 있다. 예시적으로 복수 개의 제2면(112)은 제1모서리부(127a)와 제2모서리부(127b) 사이, 제2모서리부(127b)와 제3모서리부(127c) 사이, 제3모서리부(127c)와 제4모서리부(127d) 사이, 및 제4모서리부(127d)와 제1모서리부(127a) 사이에 각각 배치될 수 있다.Referring to FIG. 13 , the second surface 112 may be disposed between corner portions of the body 100 . Illustratively, the plurality of second surfaces 112 are between the first corner portion 127a and the second corner portion 127b, between the second corner portion 127b and the third corner portion 127c, and the third corner portion. It may be disposed between 127c and the fourth corner portion 127d, and between the fourth corner portion 127d and the first corner portion 127a.

이때, 제2면(112)의 수직 방향 폭은 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)에 가까워질수록 작아질 수 있다. 따라서, 제2면(112)은 반원 형상을 가질 수 있다. 제2면(112)의 수직 방향 폭(H2)이 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)에 가까워질수록 커지거나 동일한 경우 제1캐비티(110a)가 전체적으로 파라볼라 형상을 갖기 어려워 원하는 배광 분포를 갖기 어려울 수 있다. 또한, 광속이 저하될 수도 있다.At this time, the width of the second surface 112 in the vertical direction may decrease as it approaches the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d. Accordingly, the second surface 112 may have a semicircular shape. When the width H2 of the second surface 112 in the vertical direction increases or is the same as the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d get closer, the first cavity 110a has a parabolic shape as a whole. It may be difficult to have a desired light distribution distribution. Also, the luminous flux may be lowered.

제1면(111)은 복수 개의 제2면(112) 사이의 영역으로 연장될 수 있다. 즉, 제1면(111)은 제1 내지 제4모서리부(127a, 127b, 127c, 127d)로 연장되어 복수 개의 제2면(112)을 구획할 수 있다.The first surface 111 may extend to a region between the plurality of second surfaces 112 . That is, the first surface 111 may extend to the first to fourth corner portions 127a, 127b, 127c, and 127d to partition a plurality of second surfaces 112.

도 15 및 도 16을 참조하면, 제2캐비티(110b)는 제1캐비티(110a)의 하부에 배치될 수 있다. 제2캐비티(110b)는 반도체 소자(400)를 둘러싸도록 배치될 수 있다. 제2캐비티(110b)는 다각 형상 또는 원 형상을 가질 수 있다.Referring to FIGS. 15 and 16 , the second cavity 110b may be disposed below the first cavity 110a. The second cavity 110b may be disposed to surround the semiconductor device 400 . The second cavity 110b may have a polygonal shape or a circular shape.

제2캐비티(110b)는 기판(200)과 수직한 제3면(113)을 포함할 수 있다. 제2캐비티(110b)의 제3면(113)은 제2면(112)과 평행할 수 있다. The second cavity 110b may include a third surface 113 perpendicular to the substrate 200 . The third surface 113 of the second cavity 110b may be parallel to the second surface 112 .

제2캐비티(110b)의 제3면(113)은 서로 마주보는 제1내측면(113a)과 제3내측면(113c), 서로 마주보는 제2내측면(113b)과 제4내측면(113d)을 포함하고, 제1내측면(113a)과 제3내측면(113c)의 수평 방향 길이는 제2내측면(113b)과 제4내측면(113d)보다 길고, 제2내측면(113b)과 제4내측면(113d)의 수직 방향 폭(H4)이 제1내측면(113a)과 제3내측면(113c)의 수직 방향 폭(H3)보다 클 수 있다. The third surface 113 of the second cavity 110b includes a first inner surface 113a and a third inner surface 113c facing each other, and a second inner surface 113b and a fourth inner surface 113d facing each other. ), and the horizontal length of the first inner surface 113a and the third inner surface 113c is longer than the second inner surface 113b and the fourth inner surface 113d, and the second inner surface 113b The vertical width H4 of the fourth inner surface 113d may be greater than the vertical width H3 of the first inner surface 113a and the third inner surface 113c.

제2캐비티(110b)의 제1내측면(113a)은 몸체(100)의 제1측면(121)과 마주보게 배치될 수 있고, 제3내측면(113c)은 몸체(100)의 제3측면(123)과 마주보게 배치될 수 있다.The first inner surface 113a of the second cavity 110b may be disposed to face the first side surface 121 of the body 100, and the third inner surface 113c may be disposed to face the third side surface of the body 100. (123) can be arranged facing.

또한, 제2캐비티(110b)의 제2내측면(113b)은 몸체(100)의 제2측면(122)과 마주보게 배치될 수 있고, 제4내측면(113d)은 몸체(100)의 제4측면(124)과 마주보게 배치될 수 있다.In addition, the second inner surface 113b of the second cavity 110b may be disposed to face the second side surface 122 of the body 100, and the fourth inner surface 113d is the second inner surface 113d of the body 100. It may be disposed facing the 4 sides 124.

제2캐비티(110b)의 제1내측면(113a)과 제3내측면(113c)의 수직 방향 폭(H3)은 제2캐비티(110b)의 제2내측면(113b)과 제4내측면(113d)에 가까워질수록 커질 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 제1면(111)의 하부에 배치되는 제2캐비티(110b)의 형상을 다각 형상으로 형성할 수 있어 와이어 실장 면적 등을 확보할 수 있다. 따라서, 소자의 신뢰성이 향상될 수 있다. 제2내측면(113b) 및 제3내측면(113c)의 수직 방향 폭(H4)은 제1면(111)의 수직 방향 폭(H2)보다 작을 수 있다.The width H3 in the vertical direction of the first inner surface 113a and the third inner surface 113c of the second cavity 110b is the second inner surface 113b and the fourth inner surface of the second cavity 110b ( 113d), it can become larger. According to this configuration, the shape of the second cavity 110b disposed below the first surface 111 can be formed in a polygonal shape, so that a wire mounting area and the like can be secured. Therefore, the reliability of the device can be improved. The vertical direction width H4 of the second inner side surface 113b and the third inner side surface 113c may be smaller than the vertical direction width H2 of the first surface 111 .

도 17은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 개념도이고, 도 18은 도 17의 평면도이고, 도 19는 도 18의 제1변형예이고, 도 20은 도 18의 제2변형예이다.17 is a conceptual diagram of a semiconductor device package according to a third embodiment of the present invention, FIG. 18 is a plan view of FIG. 17 , FIG. 19 is a first modified example of FIG. 18 , and FIG. 20 is a second modified example of FIG. 18 . am.

도 17 및 도 18을 참조하면, 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지는 복수 개의 캐비티(511)를 포함하는 몸체(500), 복수 개의 캐비티(511)에 각각 배치되는 복수 개의 반도체 소자(400), 및 복수 개의 캐비티(511)에 배치되는 복수 개의 렌즈부(521)를 포함하는 투광부재(520)를 포함할 수 있다.17 and 18 , a semiconductor device package according to an embodiment includes a body 500 including a plurality of cavities 511, a plurality of semiconductor devices 400 respectively disposed in the plurality of cavities 511, and A light transmitting member 520 including a plurality of lens units 521 disposed in the plurality of cavities 511 may be included.

몸체(510)는 복수 개의 캐비티(511)를 포함할 수 있다. 몸체(510)는 알루미늄 기판을 가공하여 제작할 수 있다. 따라서, 실시 예에 따른 몸체(510)는 내면과 외면이 모두 도전성을 가질 수 있다. 이러한 구조는 다양한 이점을 가질 수 있다. AlN, Al2O3와 같은 비도전성 재질을 몸체(510)로 사용하는 경우, 자외선 파장대의 반사율이 20% 내지 40%로 작으므로 별도의 반사부재를 배치해야 하는 문제가 있다. 또한, 리드 프레임과 같은 별도의 도전성 부재 및 회로 패턴이 필요할 수 있다. 따라서, 제작 비용이 상승하고 공정이 복잡해질 수 있다. 또한, 금(Au)과 같은 도전성 부재는 자외선을 흡수하여 광 추출 효율이 감소하는 문제가 있다.The body 510 may include a plurality of cavities 511 . The body 510 may be manufactured by processing an aluminum substrate. Therefore, both inner and outer surfaces of the body 510 according to the embodiment may have conductivity. This structure can have a number of advantages. When a non-conductive material such as AlN or Al 2 O 3 is used as the body 510, a reflectance in the ultraviolet wavelength band is as small as 20% to 40%, so there is a problem in that a separate reflective member must be disposed. In addition, a separate conductive member such as a lead frame and a circuit pattern may be required. Therefore, manufacturing cost may increase and the process may become complicated. In addition, a conductive member such as gold (Au) has a problem in that light extraction efficiency is reduced by absorbing ultraviolet rays.

그러나, 실시 예에 따르면, 몸체(510) 자체가 알루미늄으로 구성되므로 자외선 파장대에서 반사율이 높아 별도의 반사부재를 생략할 수 있다. 또한, 몸체(510) 자체가 도전성이 있으므로 별도의 회로패턴 및 리드 프레임을 생략할 수 있다. 또한, 알루미늄으로 제작되므로 열전도성이 140W/m.k 내지 160W/m.k으로 우수할 수 있다. 따라서, 열 방출 효율도 향상될 수 있다.However, according to the embodiment, since the body 510 itself is made of aluminum, the reflectance is high in the UV wavelength range, so a separate reflective member can be omitted. In addition, since the body 510 itself is conductive, a separate circuit pattern and lead frame can be omitted. In addition, since it is made of aluminum, thermal conductivity may be excellent at 140 W/m.k to 160 W/m.k. Therefore, heat dissipation efficiency can also be improved.

몸체(510)는 제1방향(수평 방향)으로 배치된 복수 개의 도전부(512)를 포함할 수 있다. 복수 개의 도전부(512) 사이에는 절연라인(514a, 514b)이 배치될 수 있다. 복수 개의 도전부(512)는 도전성을 가지므로 극을 분리하기 위해 절연라인(514a, 514b)이 배치될 필요가 있다. 따라서, 절연라인(514a, 514b)은 제2방향(수직 방향)으로 복수 개의 캐비티(511)를 관통할 수 있다. 이때, 제1절연라인(514a)은 제1열(L1)에 배치된 캐비티(511)의 바닥면(511a)을 관통할 수 있고, 제2절연라인(514b)은 제2열(L2)에 배치된 캐비티의 바닥면(511a)을 관통할 수 있다.The body 510 may include a plurality of conductive parts 512 disposed in a first direction (horizontal direction). Insulation lines 514a and 514b may be disposed between the plurality of conductive parts 512 . Since the plurality of conductive parts 512 have conductivity, it is necessary to arrange insulation lines 514a and 514b to separate poles. Accordingly, the insulation lines 514a and 514b may pass through the plurality of cavities 511 in the second direction (vertical direction). At this time, the first insulation line 514a may pass through the bottom surface 511a of the cavity 511 disposed in the first column L1, and the second insulation line 514b may penetrate the second column L2. It may penetrate the bottom surface 511a of the disposed cavity.

절연라인(514a, 514b)은 절연 기능을 갖는 다양한 재질이 모두 포함될 수 있다. 예시적으로 절연라인(514a, 514b)은 폴리이미드와 같은 레진을 포함할 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 절연라인(514a, 514b)의 두께는 10㎛ 내지 100㎛일 수 있다. 두께가 10㎛이상인 경우 복수 개의 도전부(512)를 충분히 절연시킬 수 있으며, 두께가 70㎛이하인 경우 패키지의 사이즈가 커지는 문제를 개선할 수 있다.The insulation lines 514a and 514b may include all of various materials having an insulation function. For example, the insulation lines 514a and 514b may include a resin such as polyimide, but are not necessarily limited thereto. The insulation lines 514a and 514b may have a thickness of 10 μm to 100 μm. When the thickness is 10 μm or more, the plurality of conductive parts 512 can be sufficiently insulated, and when the thickness is 70 μm or less, the problem of increasing the size of the package can be improved.

캐비티(110)의 형상은 특별히 제한하지 않는다. 캐비티(110)는 전체적으로 파라볼라 형상을 가질 수 있다. 캐비티(110)는 평면상 원 형상을 가질 수도 있으나 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 다각 형상을 가질 수도 있다. 즉, 전술한 캐비티(110)의 구조를 가질 수도 있다.The shape of the cavity 110 is not particularly limited. The cavity 110 may have a parabolic shape as a whole. The cavity 110 may have a circular shape on a plane, but is not necessarily limited thereto and may have a polygonal shape. That is, it may have the structure of the cavity 110 described above.

투광부재(520)는 복수 개의 캐비티(110) 상에 배치되는 복수 개의 렌즈부(521)를 포함할 수 있다. 투광부재(520)의 형상은 몸체(510)의 형상과 대응될 수 있다. 도 18과 같이 몸체(510)가 육각 형상인 경우 투광부재(520) 역시 육각형상을 가질 수 있다. 몸체(510)의 외측면이 육각 형상을 갖는 경우 내부에 배치된 캐비티가(110) 가장 조밀하게 배치될 수 있다. 따라서, 단위 면적당 반도체 소자(400)의 개수가 많아져 광 출력을 향상시킬 수 있다. 이 경우 캐비티(511)가 서로 엇갈리게 배치되어 캐비티(511) 간의 사이 공간을 줄일 수 있다. 그러나, 몸체의 형상은 이에 한정되는 것은 아니고 다양한 다각 형상 또는 원 형상을 가질 수 있다. 예시적으로 도 19와 같이 몸체(510)는 사각 형상을 가질 수도 있고, 도 20과 같이 삼각 형상을 가질 수도 있다.The light transmitting member 520 may include a plurality of lens units 521 disposed on the plurality of cavities 110 . The shape of the light transmitting member 520 may correspond to the shape of the body 510 . As shown in FIG. 18 , when the body 510 has a hexagonal shape, the light transmitting member 520 may also have a hexagonal shape. When the outer surface of the body 510 has a hexagonal shape, the cavity 110 disposed therein may be most densely disposed. Accordingly, the number of semiconductor devices 400 per unit area increases, and light output can be improved. In this case, the cavities 511 are alternately disposed so that a space between the cavities 511 may be reduced. However, the shape of the body is not limited thereto and may have various polygonal or circular shapes. Illustratively, as shown in FIG. 19 , the body 510 may have a quadrangular shape or may have a triangular shape as shown in FIG. 20 .

도 21은 본 발명의 제4 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 단면도이고, 도 22는 본 발명의 제4 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 일부 분해 사시도이고, 도 23은 본 발명의 제4 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지의 평면도이다.21 is a cross-sectional view of a semiconductor device package according to a fourth embodiment of the present invention, FIG. 22 is a partially exploded perspective view of the semiconductor device package according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 23 is a fourth embodiment of the present invention. It is a plan view of the semiconductor device package according to.

도 21 및 도 22를 참조하면, 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지는(600)는 기판(610), 기판(610) 상에 배치되고 복수 개의 캐비티(621)를 포함하는 몸체(620), 복수 개의 캐비티(621) 내에 각각 배치되는 복수 개의 반도체 소자(400), 및 복수 개의 캐비티(621) 상에 각각 배치되는 복수 개의 렌즈부(631)를 포함하는 투광부재(630)를 포함할 수 있다.21 and 22 , a semiconductor device package 600 according to an embodiment includes a substrate 610, a body 620 disposed on the substrate 610 and including a plurality of cavities 621, a plurality of A light transmitting member 630 including a plurality of semiconductor elements 400 respectively disposed in the cavity 621 and a plurality of lens units 631 respectively disposed on the plurality of cavities 621 may be included.

실시 예에 따른 반도체 소자 패키지는 도 15의 반도체 소자 패키지가 복수 개 합쳐져 형성될 수 있다. 즉, 기판(610) 상에 복수 개의 반도체 소자(400)가 배치되고, 몸체(620)에는 각각의 반도체 소자(400)가 배치될 수 있는 캐비티(621)가 형성될 수 있다. 또한, 투광부재(630)는 복수 개의 캐비티(621)에 각각 배치되는 복수 개의 렌즈부(631)를 포함할 수 있다.A semiconductor device package according to an embodiment may be formed by combining a plurality of semiconductor device packages of FIG. 15 . That is, a plurality of semiconductor elements 400 may be disposed on the substrate 610 , and a cavity 621 in which each semiconductor element 400 may be disposed may be formed in the body 620 . Also, the light transmitting member 630 may include a plurality of lens units 631 respectively disposed in the plurality of cavities 621 .

이때, 반도체 소자 패키지는 도 12 내지 도 16에서 설명한 구조가 모두 적용될 수 있다. 예시적으로 캐비티(621)는 경사를 갖는 제1면(111)과 기판(610)에 수직한 제2면(112)을 포함할 수 있다. 또한, 제2캐비티(110b)의 구조도 가질 수 있다. 또한, 도 1 내지 도 11에서 전술한 구조도 모두 적용될 수 있다.In this case, the structure described in FIGS. 12 to 16 may all be applied to the semiconductor device package. For example, the cavity 621 may include an inclined first surface 111 and a second surface 112 perpendicular to the substrate 610 . In addition, the structure of the second cavity 110b may also be provided. In addition, all of the structures described above in FIGS. 1 to 11 may be applied.

실시 예에 따르면, 제너 다이오드(410)는 몸체의 내부에 형성된 홈(624)에 배치될 수 있다. 이러한 구성에 의하면 반도체 소자(400)에서 출사되는 광이 제너 다이오드(410)에 흡수되는 것을 방지하여 광 출력을 향상시킬 수 있다. 홈(624)은 제2캐비티(110b)와 연결될 수도 있고 이격될 수도 있다. 제너 다이오드(410)는 반도체 소자(400)의 회로 패턴과 전기적으로 연결될 수 있다.According to the embodiment, the Zener diode 410 may be disposed in the groove 624 formed inside the body. According to this configuration, light emitted from the semiconductor element 400 is prevented from being absorbed by the Zener diode 410, thereby improving light output. The groove 624 may be connected to or separated from the second cavity 110b. The Zener diode 410 may be electrically connected to the circuit pattern of the semiconductor device 400 .

도 23을 참조하면, 반도체 소자 패키지의 형상(600)은 사각 형상을 가질 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 반도체 소자 패키지는 삼각 형성, 오각 형상, 육각 형상 등 다양한 다각 형상을 가질 수 있다.Referring to FIG. 23 , a shape 600 of a semiconductor device package may have a quadrangular shape. However, it is not necessarily limited thereto, and the semiconductor device package may have various polygonal shapes such as a triangular shape, a pentagonal shape, and a hexagonal shape.

반도체 소자는 다양한 종류의 발광장치에 적용될 수 있다. 예시적으로 발광장치는 살균 장치, 경화 장치, 노광장치, 조명 장치, 및 표시 장치 및 차량용 램프 등을 포함하는 개념일 수 있다. 즉, 반도체 소자는 케이스에 배치되어 광을 제공하는 다양한 전자 디바이스에 적용될 수 있다.Semiconductor devices can be applied to various types of light emitting devices. For example, the light emitting device may include a sterilization device, a curing device, an exposure device, a lighting device, a display device, and a vehicle lamp. That is, the semiconductor element may be applied to various electronic devices disposed in a case to provide light.

살균 장치는 실시 예에 따른 반도체 소자를 구비하여 원하는 영역을 살균할수 있다. 살균 장치는 정수기, 에어컨, 냉장고 등의 생활 가전에 적용될 수 있으나 반드시 이에 한정하지 않는다. 즉, 살균 장치는 살균이 필요한 다양한 제품(예: 의료 기기)에 모두 적용될 수 있다.The sterilization device may sterilize a desired area by including the semiconductor device according to the embodiment. The sterilization device may be applied to household appliances such as water purifiers, air conditioners, and refrigerators, but is not necessarily limited thereto. That is, the sterilization device can be applied to various products (eg, medical devices) requiring sterilization.

예시적으로 정수기는 순환하는 물을 살균하기 위해 실시 예에 따른 살균 장치를 구비할 수 있다. 살균 장치는 물이 순환하는 노즐 또는 토출구에 배치되어 자외선을 조사할 수 있다. 이때, 살균 장치는 방수 구조를 포함할 수 있다.Illustratively, the water purifier may include a sterilization device according to the embodiment to sterilize circulating water. The sterilization device may be disposed at a nozzle through which water circulates or an outlet to irradiate ultraviolet rays. In this case, the sterilization device may include a waterproof structure.

경화 장치는 실시 예에 따른 반도체 소자를 구비하여 다양한 종류의 액체를 경화시킬 수 있다. 액체는 자외선이 조사되면 경화되는 다양한 물질을 모두 포함하는 최광의 개념일 수 있다. 예시적으로 경화장치는 다양한 종류의 레진을 경화시킬 수 있다. 또는 경화장치는 매니큐어와 같은 미용 제품을 경화시키는 데 적용될 수도 있다.The curing device may be provided with a semiconductor device according to an embodiment to cure various types of liquids. Liquid may be the lightest concept that includes all various materials that are hardened when irradiated with ultraviolet rays. Illustratively, the curing device may cure various types of resins. Alternatively, the curing device may be applied to curing cosmetic products such as nail polish.

노광 장치는 빛에 반응하는 물질인 감광액(photo-resist)이 코팅된 시료 위에 원하는 패턴이 형성된 마스크를 올려놓고 자외선을 조사하여 감광막에 원하는 패턴을 전사할 수 있다. 예를 들어, 전자기기의 주요 부품으로 내장되는 반도체 소자나 회로기판(PCB) 및 디스플레이 패널은 노광 공정에서 포토리소그래피(Photolithography) 기술을 이용하여 미세 회로 패턴을 형성할 수 있다.The exposure apparatus may place a mask having a desired pattern on a sample coated with a photo-resist, which is a material that reacts to light, and irradiate ultraviolet rays to transfer a desired pattern to the photo-resist. For example, a semiconductor device, a circuit board (PCB), and a display panel embedded as main components of an electronic device may form fine circuit patterns using photolithography technology in an exposure process.

조명 장치는 기판과 실시 예의 반도체 소자를 포함하는 광원 모듈, 광원 모듈의 열을 발산시키는 방열부 및 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 광원 모듈로 제공하는 전원 제공부를 포함할 수 있다. 또한, 조명 장치는, 램프, 해드 램프, 또는 가로등 등을 포함할 수 있다. The lighting device may include a light source module including a substrate and the semiconductor device of the embodiment, a heat dissipation unit dissipating heat from the light source module, and a power supply unit that processes or converts an electrical signal received from the outside and provides it to the light source module. Also, the lighting device may include a lamp, a head lamp, or a street lamp.

표시 장치는 바텀 커버, 반사판, 발광 모듈, 도광판, 광학 시트, 디스플레이 패널, 화상 신호 출력 회로 및 컬러 필터를 포함할 수 있다. 바텀 커버, 반사판, 발광 모듈, 도광판 및 광학 시트는 백라이트 유닛(Backlight Unit)을 구성할 수 있다.The display device may include a bottom cover, a reflector, a light emitting module, a light guide plate, an optical sheet, a display panel, an image signal output circuit, and a color filter. The bottom cover, the reflector, the light emitting module, the light guide plate, and the optical sheet may constitute a backlight unit.

반사판은 바텀 커버 상에 배치되고, 발광 모듈은 광을 방출할 수 있다. 도광판은 반사판의 전방에 배치되어 발광 모듈에서 발산되는 빛을 전방으로 안내하고, 광학 시트는 프리즘 시트 등을 포함하여 이루어져 도광판의 전방에 배치될 수 있다. 디스플레이 패널은 광학 시트 전방에 배치되고, 화상 신호 출력 회로는 디스플레이 패널에 화상 신호를 공급하며, 컬러 필터는 디스플레이 패널의 전방에 배치될 수 있다.The reflector is disposed on the bottom cover, and the light emitting module can emit light. The light guide plate may be disposed in front of the reflector to guide light emitted from the light emitting module forward, and the optical sheet may include a prism sheet and the like and be disposed in front of the light guide plate. A display panel may be disposed in front of the optical sheet, an image signal output circuit may supply an image signal to the display panel, and a color filter may be disposed in front of the display panel.

반도체 소자는 표시장치의 백라이트 유닛으로 사용될 때 에지 타입의 백라이트 유닛으로 사용되거나 직하 타입의 백라이트 유닛으로 사용될 수 있다.When the semiconductor device is used as a backlight unit of a display device, it may be used as an edge-type backlight unit or a direct-type backlight unit.

반도체 소자는 상술한 발광 다이오드 외에 레이저 다이오드일 수도 있다.The semiconductor element may be a laser diode other than the light emitting diode described above.

레이저 다이오드는, 발광소자와 동일하게, 상술한 구조의 제1 도전형 반도체층과 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함할 수 있다. 그리고, p-형의 제1 도전형 반도체와 n-형의 제2 도전형 반도체를 접합시킨 뒤 전류를 흘러주었을 때 빛이 방출되는 electro-luminescence(전계발광) 현상을 이용하나, 방출되는 광의 방향성과 위상에서 차이점이 있다. 즉, 레이저 다이오드는 여기 방출(stimulated emission)이라는 현상과 보강간섭 현상 등을 이용하여 하나의 특정한 파장(단색광, monochromatic beam)을 가지는 빛이 동일한 위상을 가지고 동일한 방향으로 방출될 수 있으며, 이러한 특성으로 인하여 광통신이나 의료용 장비 및 반도체 공정 장비 등에 사용될 수 있다.Like the light emitting device, the laser diode may include the first conductivity type semiconductor layer, the active layer, and the second conductivity type semiconductor layer having the above structure. In addition, an electro-luminescence phenomenon in which light is emitted when a current is passed after bonding a p-type first conductivity type semiconductor and an n-type second conductivity type semiconductor is used, but the directionality of the emitted light There is a difference between and phase. That is, a laser diode can emit light having a specific wavelength (monochromatic beam) with the same phase and in the same direction by using a phenomenon called stimulated emission and a constructive interference phenomenon. Due to this, it can be used for optical communication, medical equipment, and semiconductor processing equipment.

수광 소자로는 빛을 검출하여 그 강도를 전기 신호로 변환하는 일종의 트랜스듀서인 광 검출기(photodetector)를 예로 들 수 있다. 이러한 광 검출기로서, 광전지(실리콘, 셀렌), 광 출력전 소자(황화 카드뮴, 셀렌화 카드뮴), 포토 다이오드(예를 들어, visible blind spectral region이나 true blind spectral region에서 피크 파장을 갖는 PD), 포토 트랜지스터, 광전자 증배관, 광전관(진공, 가스 봉입), IR(Infra-Red) 검출기 등이 있으나, 실시 예는 이에 국한되지 않는다.A photodetector, which is a type of transducer that detects light and converts its intensity into an electrical signal, may be exemplified as the light receiving element. As such an optical detector, a photovoltaic cell (silicon, selenium), an optical output device (cadmium sulfide, cadmium selenide), a photodiode (eg, a PD having a peak wavelength in a visible blind spectral region or a true blind spectral region), a photodetector Transistors, photomultiplier tubes, photoelectric tubes (vacuum, gas filled), IR (Infra-Red) detectors, etc., but embodiments are not limited thereto.

또한, 광검출기와 같은 반도체 소자는 일반적으로 광변환 효율이 우수한 직접 천이 반도체(direct bandgap semiconductor)를 이용하여 제작될 수 있다. 또는, 광검출기는 구조가 다양하여 가장 일반적인 구조로는 p-n 접합을 이용하는 pin형 광검출기와, 쇼트키접합(Schottky junction)을 이용하는 쇼트키형 광검출기와, MSM(Metal Semiconductor Metal)형 광검출기 등이 있다. In addition, a semiconductor device such as a photodetector may be fabricated using a direct bandgap semiconductor having excellent light conversion efficiency. Alternatively, photodetectors have various structures, and the most common structures include a pin type photodetector using a p-n junction, a Schottky type photodetector using a Schottky junction, and a Metal Semiconductor Metal (MSM) type photodetector. there is.

포토 다이오드(Photodiode)는 발광소자와 동일하게, 상술한 구조의 제1 도전형 반도체층과 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함할 수 있고, pn접합 또는 pin 구조로 이루어진다. 포토 다이오드는 역바이어스 혹은 제로바이어스를 가하여 동작하게 되며, 광이 포토 다이오드에 입사되면 전자와 정공이 생성되어 전류가 흐른다. 이때 전류의 크기는 포토 다이오드에 입사되는 광의 강도에 거의 비례할 수 있다.Like a light emitting device, a photodiode may include a first conductivity-type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity-type semiconductor layer having the above-described structure, and has a pn junction or pin structure. The photodiode operates by applying reverse bias or zero bias, and when light is incident on the photodiode, electrons and holes are generated and current flows. In this case, the size of the current may be substantially proportional to the intensity of light incident on the photodiode.

광전지 또는 태양 전지(solar cell)는 포토 다이오드의 일종으로, 광을 전류로 변환할 수 있다. 태양 전지는, 발광소자와 동일하게, 상술한 구조의 제1 도전형 반도체층과 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함할 수 있다. A photovoltaic cell or solar cell is a type of photodiode and can convert light into electric current. A solar cell, like a light emitting device, may include a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer having the above structure.

또한, p-n 접합을 이용한 일반적인 다이오드의 정류 특성을 통하여 전자 회로의 정류기로 이용될 수도 있으며, 초고주파 회로에 적용되어 발진 회로 등에 적용될 수 있다.In addition, it can be used as a rectifier of an electronic circuit through the rectification characteristics of a general diode using a p-n junction, and can be applied to an oscillation circuit by being applied to a microwave circuit.

또한, 상술한 반도체 소자는 반드시 반도체로만 구현되지 않으며 경우에 따라 금속 물질을 더 포함할 수도 있다. 예를 들어, 수광 소자와 같은 반도체 소자는 Ag, Al, Au, In, Ga, N, Zn, Se, P, 또는 As 중 적어도 하나를 이용하여 구현될 수 있으며, p형이나 n형 도펀트에 의해 도핑된 반도체 물질이나 진성 반도체 물질을 이용하여 구현될 수도 있다.In addition, the above-described semiconductor device is not necessarily implemented as a semiconductor and may further include a metal material in some cases. For example, a semiconductor device such as a light receiving device may be implemented using at least one of Ag, Al, Au, In, Ga, N, Zn, Se, P, or As, and may be implemented using a p-type or n-type dopant. It may be implemented using a doped semiconductor material or an intrinsic semiconductor material.

이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Although the above has been described with reference to the embodiments, this is only an example and does not limit the present invention, and those skilled in the art to which the present invention belongs will not deviate from the essential characteristics of the present embodiment. It will be appreciated that various variations and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiment can be modified and implemented. And differences related to these modifications and applications should be construed as being included in the scope of the present invention as defined in the appended claims.

Claims (12)

삭제delete 삭제delete 기판;
상기 기판 상에 배치되고 복수 개의 캐비티를 포함하는 몸체;
상기 복수 개의 캐비티 내에 각각 배치되는 반도체 소자; 및
상기 복수 개의 캐비티 상에 각각 배치되는 렌즈부를 포함하는 투광부재를 포함하고,
상기 복수 개의 캐비티는 상기 기판에서 멀어질수록 면적이 넓어지도록 경사진 제1면, 및 상기 제1면 상에 배치되고 상기 기판의 일면과 수직한 제2면을 포함하고,
상기 몸체는 서로 마주보는 제1측면과 제3측면, 서로 마주보는 제2측면과 제4측면, 상기 제1측면과 제2측면 사이에 배치되는 제1모서리, 제2측면과 제3측면 사이에 배치되는 제2모서리, 상기 제3측면과 상기 제4측면 사이에 배치되는 제3모서리, 및 상기 제4측면과 상기 제1측면 사이에 배치되는 제4모서리를 포함하고,
상기 제1면은 상기 제1 내지 제4 모서리로 각각 연장되어 상기 제2면을 복수 개로 구획하고,
상기 제2면은 상기 제1모서리와 제2모서리 사이, 상기 제2모서리와 제3모서리 사이, 상기 제3모서리와 제4모서리 사이, 및 상기 제4모서리와 제1모서리 사이에 각각 배치되는 반도체 소자 패키지.
Board;
a body disposed on the substrate and including a plurality of cavities;
semiconductor devices respectively disposed in the plurality of cavities; and
A light transmitting member including lens units respectively disposed on the plurality of cavities;
The plurality of cavities include a first surface inclined so that an area increases as the area moves away from the substrate, and a second surface disposed on the first surface and perpendicular to the one surface of the substrate,
The body has a first side and a third side facing each other, a second side and a fourth side facing each other, a first edge disposed between the first side and the second side, and between the second side and the third side. A second edge disposed between the third side and the fourth side, and a fourth edge disposed between the fourth side and the first side,
The first surface extends to the first to fourth corners, respectively, to divide the second surface into a plurality of pieces;
The second surface is a semiconductor disposed between the first edge and the second edge, between the second edge and the third edge, between the third edge and the fourth edge, and between the fourth edge and the first edge, respectively. device package.
제3항에 있어서,
상기 몸체는 제1캐비티와 상기 기판 사이에 배치되는 제2캐비티를 포함하고,
상기 제2캐비티는 상기 기판의 일면과 수직한 제3면을 갖는 반도체 소자 패키지.
According to claim 3,
The body includes a second cavity disposed between the first cavity and the substrate,
The second cavity has a third surface perpendicular to one surface of the substrate semiconductor device package.
삭제delete 제4항에 있어서,
상기 제2면의 수직 방향 폭은 상기 제1 내지 제4 모서리에 가까워질수록 작아지고,
상기 제3면의 수직 방향 폭은 상기 제1 내지 제4 모서리에 가까워질수록 커지는 반도체 소자 패키지.
According to claim 4,
The vertical width of the second surface decreases as it approaches the first to fourth corners,
The semiconductor device package of claim 1 , wherein a vertical width of the third surface increases as it approaches the first to fourth corners.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
KR1020180014194A 2018-02-05 2018-02-05 Semiconductor device package and light emitting device including the same KR102528379B1 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180014194A KR102528379B1 (en) 2018-02-05 2018-02-05 Semiconductor device package and light emitting device including the same
US16/960,695 US20200357967A1 (en) 2018-02-05 2019-02-01 Semiconductor device package and light emitting device comprising same
PCT/KR2019/001441 WO2019151826A1 (en) 2018-02-05 2019-02-01 Semiconductor device package and light emitting device comprising same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180014194A KR102528379B1 (en) 2018-02-05 2018-02-05 Semiconductor device package and light emitting device including the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190094720A KR20190094720A (en) 2019-08-14
KR102528379B1 true KR102528379B1 (en) 2023-05-03

Family

ID=67622131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180014194A KR102528379B1 (en) 2018-02-05 2018-02-05 Semiconductor device package and light emitting device including the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102528379B1 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007311674A (en) * 2006-05-22 2007-11-29 Stanley Electric Co Ltd Semiconductor light-emitting device
US20080283861A1 (en) 2004-06-04 2008-11-20 Cree, Inc. Power light emitting die package with reflecting lens and the method of making the same

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2111651A4 (en) * 2007-02-13 2011-08-17 3M Innovative Properties Co Led devices having lenses and methods of making same
KR20120069072A (en) * 2010-12-20 2012-06-28 우리이앤엘 주식회사 Light emitting device
KR101764344B1 (en) * 2013-05-16 2017-08-03 (주)포인트엔지니어링 method for manufacturing substrate for light emitting device mounted driving and power supply circuit together and the substrate thereby
KR102467197B1 (en) * 2015-08-18 2022-11-14 엘지디스플레이 주식회사 Light emitting diode package, backlight unit and liquid crystal display device comprising the same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080283861A1 (en) 2004-06-04 2008-11-20 Cree, Inc. Power light emitting die package with reflecting lens and the method of making the same
JP2007311674A (en) * 2006-05-22 2007-11-29 Stanley Electric Co Ltd Semiconductor light-emitting device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190094720A (en) 2019-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102473399B1 (en) Light emitting device package and light unit
KR102432216B1 (en) Light emitting device package
KR102641336B1 (en) Semiconductor device package
US11355674B2 (en) Semiconductor device package
KR102528379B1 (en) Semiconductor device package and light emitting device including the same
KR102528528B1 (en) Semiconductor device package and light emitting device including the same
KR102487357B1 (en) Semiconductor device package and light emitting device including the same
KR102487358B1 (en) Semiconductor device package and light emitting device including the same
EP3451396A1 (en) Semiconductor device package
KR102472710B1 (en) Semiconductor device package
US20200357967A1 (en) Semiconductor device package and light emitting device comprising same
KR102531150B1 (en) Optical lens and semiconductor device package
KR102509089B1 (en) Semiconductor device package
KR102509075B1 (en) Semiconductor device package
KR102518578B1 (en) Semiconductor device package and lighting device module including the same
US20210210665A1 (en) Light-emitting device package and light source module
KR102607890B1 (en) Semiconductor device package
KR20190014854A (en) Light emitting device package
KR102514176B1 (en) Light emitting device package and light source unit
KR102522822B1 (en) Light emitting device package
KR20200085098A (en) Semiconductor device package
KR20200077180A (en) Light emitting device package
KR20200009885A (en) Semiconductor device package
KR20200136149A (en) Semiconductor device package
KR20210029001A (en) Light emitting package and sterilization module including the same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant