KR102520212B1 - Electronic component module and manufacturing mehthod therof - Google Patents

Electronic component module and manufacturing mehthod therof Download PDF

Info

Publication number
KR102520212B1
KR102520212B1 KR1020180065419A KR20180065419A KR102520212B1 KR 102520212 B1 KR102520212 B1 KR 102520212B1 KR 1020180065419 A KR1020180065419 A KR 1020180065419A KR 20180065419 A KR20180065419 A KR 20180065419A KR 102520212 B1 KR102520212 B1 KR 102520212B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
shielding
component
disposed
substrate
electronic device
Prior art date
Application number
KR1020180065419A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20190116887A (en
Inventor
홍석윤
류종인
홍승현
김장현
Original Assignee
삼성전기주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전기주식회사 filed Critical 삼성전기주식회사
Priority to US16/181,485 priority Critical patent/US10564679B2/en
Priority to CN202011039119.1A priority patent/CN112164673B/en
Priority to CN201910072657.1A priority patent/CN110349937A/en
Publication of KR20190116887A publication Critical patent/KR20190116887A/en
Priority to US16/731,282 priority patent/US11209872B2/en
Priority to US17/022,568 priority patent/US11347273B2/en
Priority to KR1020200119072A priority patent/KR102470354B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102520212B1 publication Critical patent/KR102520212B1/en

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/552—Protection against radiation, e.g. light or electromagnetic waves
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02—Containers; Seals
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161—Disposition
    • H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181—Encapsulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Abstract

본 발명에 따른 전자 소자 모듈은, 기판, 상기 기판의 제1면에 실장되는 적어도 하나의 제1 부품과 제2 부품, 상기 제2 부품을 내부에 매립하며 상기 기판 상에 배치되는 밀봉부, 및 일부 또는 전체가 상기 제1 부품과 상기 제2 부품 사이에 배치되어 전자기파의 흐름을 차폐하는 차폐 격벽을 포함하며, 상기 차폐 격벽 중 적어도 일부는 실장 높이가 상기 밀봉부의 실장 높이보다 낮게 구성된다. An electronic device module according to the present invention includes a substrate, at least one first and second component mounted on a first surface of the substrate, a sealing portion disposed on the substrate and burying the second component therein, and Some or all of the shielding barrier ribs are disposed between the first component and the second component to shield electromagnetic waves, and at least some of the shielding barriers have a mounting height lower than that of the sealing unit.

Description

전자 소자 모듈 및 그 제조 방법{ELECTRONIC COMPONENT MODULE AND MANUFACTURING MEHTHOD THEROF}Electronic device module and its manufacturing method {ELECTRONIC COMPONENT MODULE AND MANUFACTURING MEHTHOD THEROF}

본 발명은 전자 소자 모듈 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 모듈에 포함된 수동소자 또는 반도체 칩 등을 외부 환경으로부터 보호함과 동시에 전자파를 차폐할 수 있는 전자 소자 모듈 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an electronic element module and a method for manufacturing the same, and more particularly, to an electronic element module capable of shielding electromagnetic waves while protecting passive elements or semiconductor chips included in the module from the external environment and a method for manufacturing the same. it's about

최근 전자제품 시장은 휴대용으로 급격히 그 수요가 증가하고 있으며, 이를 만족하기 위해 이들 시스템에 실장되는 전자 부품들의 소형화 및 경량화가 요구되고 있다. In the recent electronic product market, the demand for portable devices is rapidly increasing, and in order to satisfy this demand, miniaturization and weight reduction of electronic components mounted in these systems are required.

이러한 전자 부품들의 소형화 및 경량화를 실현하기 위해서는 실장 부품의 개별 사이즈를 감소시키는 기술뿐만 아니라, 다수의 개별 소자들을 원칩(One-chip)화하는 시스템 온 칩(System On Chip: SOC) 기술 또는 다수의 개별 소자들을 하나의 패키지로 집적하는 시스템 인 패키지(System In Package: SIP) 기술 등이 요구되고 있다.In order to realize the miniaturization and light weight of these electronic components, not only the technology to reduce the individual size of mounted components, but also the system on chip (SOC) technology that converts a number of individual devices into one-chip or a number of A system in package (SIP) technology for integrating individual devices into one package is required.

특히, 통신 모듈이나 네트워크 모듈과 같이 고주파 신호를 취급하는 고주파 전자 소자 모듈은 소형화뿐만 아니라 전자파 간섭(EMI)에 대한 차폐 특성을 우수하게 구현하기 위해 다양한 전자파 차폐 구조를 구비할 것이 요구되고 있다.In particular, high-frequency electronic device modules that handle high-frequency signals, such as communication modules or network modules, are required to have various electromagnetic shielding structures in order to achieve excellent shielding characteristics against electromagnetic interference (EMI) as well as miniaturization.

일본등록특허 제5840658호Japanese Patent Registration No. 5840658

본 발명은 내부의 개별 소자를 충격으로부터 보호하면서 동시에 전자파 간섭(EMI) 또는 전자파 내성 특성이 우수한 전자파 차폐구조를 갖는 전자 소자 모듈 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide an electronic element module having an electromagnetic shielding structure that protects internal individual elements from impact and at the same time has excellent electromagnetic interference (EMI) or electromagnetic wave resistance characteristics, and a manufacturing method thereof.

본 발명에 따른 전자 소자 모듈은, 기판, 상기 기판의 제1면에 실장되는 적어도 하나의 제1 부품과 제2 부품, 상기 제2 부품을 내부에 매립하며 상기 기판 상에 배치되는 밀봉부, 및 일부 또는 전체가 상기 제1 부품과 상기 제2 부품 사이에 배치되어 전자기파의 흐름을 차폐하는 차폐 격벽을 포함하며, 상기 차폐 격벽 중 적어도 일부는 실장 높이가 상기 밀봉부의 실장 높이보다 낮게 구성된다. An electronic device module according to the present invention includes a substrate, at least one first and second component mounted on a first surface of the substrate, a sealing portion disposed on the substrate and burying the second component therein, and Some or all of the shielding barrier ribs are disposed between the first component and the second component to shield electromagnetic waves, and at least some of the shielding barriers have a mounting height lower than that of the sealing unit.

또한 본 발명에 따른 전자 소자 모듈은, 기판, 상기 기판의 일면에 실장되는 적어도 하나의 제1 부품과 제2 부품, 상기 제2 부품을 내부에 매립하며 상기 기판 상에 배치되는 밀봉부, 상기 밀봉부의 표면을 따라 배치되는 차폐층, 및 일부 또는 전체가 상기 제1 부품과 상기 제2 부품 사이에 배치되어 전자기파의 흐름을 차폐하는 차폐 격벽을 포함하며, 상기 차폐 격벽과 상기 차폐층은 서로 다른 재질로 구성된다.In addition, the electronic device module according to the present invention includes a substrate, at least one first and second component mounted on one surface of the substrate, a sealing part disposed on the substrate and embedding the second component therein, and the sealing part. a shielding layer disposed along a surface of the portion; and a shielding barrier rib disposed between the first component and the second component in part or in whole to shield the flow of electromagnetic waves, wherein the shielding barrier rib and the shielding layer are made of different materials. consists of

또한 본 발명에 따른 전자 소자 모듈 제조 방법은, 기판의 일면에 적어도 하나의 제1 부품과 제2 부품을 실장하는 단계, 도전성 재질로 형성되며 내부에 수용 공간을 갖는 차폐 케이스를 마련하고 상기 수용 공간에 상기 제1 부품이 수용되도록 상기 차폐 케이스를 상기 기판에 실장하는 단계, 상기 제2 부품과 상기 차폐 케이스를 매립하는 밀봉부를 상기 기판 상에 배치하는 단계, 및 상기 밀봉부와 상기 차폐 케이스를 부분적으로 제거하여 상기 수용 공간을 상기 밀봉부의 외부로 노출시키는 단계를 포함한다.In addition, the electronic device module manufacturing method according to the present invention includes the steps of mounting at least one first component and a second component on one surface of a board, providing a shielding case formed of a conductive material and having an accommodation space therein, and the accommodation space mounting the shielding case on the substrate so that the first component is accommodated therein, disposing a sealing unit on the substrate to embed the second component and the shielding case, and partially sealing the sealing unit and the shielding case. and exposing the receiving space to the outside of the sealing part by removing the sealing part.

본 발명에 따른 전자 소자 모듈은 제1 부품과 제2 부품 간에 차폐 격벽이 배치되므로, 제1 부품과 제2 부품간에 전자기파 간섭이 발생하는 것을 방지할 수 있다.In the electronic device module according to the present invention, since the shielding partition is disposed between the first component and the second component, it is possible to prevent electromagnetic wave interference between the first component and the second component.

또한, 차폐 케이스를 이용하여 제1 부품과 제2 부품 사이를 차폐 격벽을 형성하므로, 차폐 격벽의 실장이 용이하며, 이에 제조가 용이하다.In addition, since the shielding barrier rib is formed between the first component and the second component using the shielding case, mounting of the shielding barrier rib is easy, and thus manufacturing is easy.

더하여, 밀봉부를 제조할 때, 차폐 격벽이 밀봉부의 흐름을 차단하는 기능도 수행하므로, 밀봉부와 제1 부품 사이의 간격을 최소화할 수 있다. In addition, when manufacturing the sealing part, since the shielding barrier also serves to block the flow of the sealing part, it is possible to minimize the gap between the sealing part and the first part.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 단면도.
도 2는 도 1에 도시된 전자 소자 모듈의 평면도.
도 3 내지 도 6은 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 제조 방법을 공정순으로 도시한 도면.
도 7 내지 도 9는 각각 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 평면도.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 전자 소자 모듈을 개략적으로 도시한 단면도.
도 11 내지 도 13은 도 10에 도시된 전자 소자 모듈의 제조 방법을 설명하기 위한 도면.
도 14는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 전자 소자 모듈을 개략적으로 도시한 단면도.
도 15 내지 도 17은 도 14에 도시된 전자 소자 모듈의 제조 방법을 설명하기 위한 도면.
도 18은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 사시도.
도 19는 도 18의 I-I′에 따른 단면도.1 is a cross-sectional view of an electronic device module according to an embodiment of the present invention.
2 is a plan view of the electronic device module shown in FIG. 1;
3 to 6 are diagrams illustrating a manufacturing method of an electronic device module according to the present embodiment in a process order.
7 to 9 are plan views of an electronic device module according to another embodiment of the present invention, respectively.
10 is a schematic cross-sectional view of an electronic device module according to another embodiment of the present invention.
11 to 13 are diagrams for explaining a manufacturing method of the electronic element module shown in FIG. 10;
14 is a schematic cross-sectional view of an electronic device module according to another embodiment of the present invention.
15 to 17 are diagrams for explaining a manufacturing method of the electronic element module shown in FIG. 14;
18 is a perspective view of an electronic device module according to another embodiment of the present invention.
Fig. 19 is a cross-sectional view taken along line II' of Fig. 18;

본 발명의 상세한 설명에 앞서, 이하에서 설명되는 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념으로 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 실시예에 불과할 뿐, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다. Prior to the detailed description of the present invention, the terms or words used in this specification and claims described below should not be construed as being limited to a common or dictionary meaning, and the inventors should use their own invention in the best way. It should be interpreted as a meaning and concept corresponding to the technical idea of the present invention based on the principle that it can be properly defined as a concept of a term for explanation. Therefore, the embodiments described in this specification and the configurations shown in the drawings are only the most preferred embodiments of the present invention, and do not represent all of the technical ideas of the present invention, so various equivalents that can replace them at the time of the present application. It should be understood that there may be water and variations.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 이때, 첨부된 도면에서 동일한 구성 요소는 가능한 동일한 부호로 나타내고 있음을 유의해야 한다. 또한, 본 발명의 요지를 흐리게 할 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략할 것이다. 마찬가지의 이유로 첨부 도면에 있어서 일부 구성요소는 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었으며, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것이 아니다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. At this time, it should be noted that the same components in the accompanying drawings are indicated by the same reference numerals as much as possible. In addition, detailed descriptions of well-known functions and configurations that may obscure the gist of the present invention will be omitted. For the same reason, some components in the accompanying drawings are exaggerated, omitted, or schematically illustrated, and the size of each component does not entirely reflect the actual size.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세히 설명한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 단면도이고 도 2는 도 1에 도시된 전자 소자 모듈의 평면도이다.1 is a cross-sectional view of an electronic device module according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of the electronic device module shown in FIG. 1 .

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈(100)은 기판(11), 전자 부품(1), 밀봉부(14), 및 차폐 격벽(15)을 포함하여 구성된다. Referring to FIGS. 1 and 2 , the electronic device module 100 according to the present embodiment includes a substrate 11 , an electronic component 1 , a sealing part 14 , and a shielding barrier 15 .

기판(11)의 제1면에는 전자 부품(1)을 실장하기 위한 실장용 전극들, 접지 전극(19), 그리고 도시하지는 않았지만 실장용 전극들 상호간을 전기적으로 연결하는 배선 패턴이 형성될 수 있다. On the first surface of the substrate 11, mounting electrodes for mounting the electronic component 1, a ground electrode 19, and wiring patterns electrically connecting the mounting electrodes to each other (not shown) may be formed. .

실장용 전극에는 적어도 하나의 전자 부품(1)이 실장된다. At least one electronic component 1 is mounted on the mounting electrode.

접지 전극(19)은 후술되는 차폐 격벽(15)과 전기적으로 연결된다. The ground electrode 19 is electrically connected to a shielding barrier 15 to be described later.

본 실시예에서는 접지 전극(19)이 후술되는 제1 부품과 제2 부품 사이에만 배치되어 차폐 격벽(15)과 접합된다. 그러나 이에 한정되지 않으며, 차폐 격벽(15)의 전체 형상을 따라 접지 전극(19)을 형성하여 접지 전극(19)이 차폐 격벽(15) 전체와 접합되도록 구성하는 등 다양한 변형이 가능하다. In this embodiment, the ground electrode 19 is disposed only between a first part and a second part to be described later, and is bonded to the shielding partition wall 15 . However, it is not limited thereto, and various modifications are possible, such as forming the ground electrode 19 along the entire shape of the shielding barrier rib 15 so that the ground electrode 19 is bonded to the entire shielding barrier rib 15 .

또한 본 실시예에서는 접지 전극(19)이 실선 형태로 형성되나, 이에 한정되지 않으며, 파선 형태로 형성하거나, 점(point) 형태로 형성하는 등 차폐 격벽(15)과 전기적으로 연결될 수만 있다면 다양한 형태로 구성될 수 있다.In addition, in this embodiment, the ground electrode 19 is formed in a solid line shape, but is not limited thereto, and is formed in a broken line shape or a point shape, as long as it can be electrically connected to the shielding barrier 15 in various shapes. may consist of

도면에는 상세히 도시하지 않았지만, 실장용 전극이나 접지 전극(19)은 상부에 적층 배치되는 절연 보호층(미도시)에 의해 보호될 수 있으며, 절연 보호층에 형성된 개구를 통해 외부로 노출될 수 있다. 절연 보호층으로는 솔더 레지스트가 이용될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.Although not shown in detail in the drawing, the mounting electrode or the ground electrode 19 may be protected by an insulating protective layer (not shown) stacked thereon, and may be exposed to the outside through an opening formed in the insulating protective layer. . A solder resist may be used as the insulating protective layer, but is not limited thereto.

이와 같이 구성되는 기판(11)은 당 기술분야에서 잘 알려진 다양한 종류의 회로 기판(예를 들어 세라믹 기판, 인쇄 회로 기판, 유연성 기판 등)이 이용될 수 있다. 본 실시예에 따른 기판(11)은 복수의 층으로 형성된 다층 기판(11)일 수 있으며, 각 층 사이에는 회로 패턴이 형성될 수 있다. As the substrate 11 configured as described above, various types of circuit boards (eg, ceramic substrates, printed circuit boards, flexible substrates, etc.) well known in the art may be used. The substrate 11 according to the present embodiment may be a multilayer substrate 11 formed of a plurality of layers, and a circuit pattern may be formed between each layer.

또한, 본 실시예에 따른 기판(11)은 하부면인 제2면이나 기판(11) 내부에 안테나 배선이 형성될 수 있다.In addition, the substrate 11 according to the present embodiment may have an antenna wire formed on a second surface, which is a lower surface, or inside the substrate 11 .

전자 부품(1)은 수동 소자와 능동 소자 등과 같은 다양한 전자 소자들을 포함할 수 있다. 즉, 전자 부품(1)은 기판(11) 상에 실장되거나 기판(11) 내부에 내장될 수 있는 전자 소자들이라면 모두 이용될 수 있다. 또한 본 실시예에서 전자 부품은 소자에 한정되지 않으며, 커넥터와 같은 다양한 부품을 포함한다.The electronic component 1 may include various electronic elements such as passive elements and active elements. That is, the electronic component 1 may be any electronic device mounted on the board 11 or embedded in the board 11 . Also, in this embodiment, electronic components are not limited to devices, and include various components such as connectors.

또한 본 실시예의 전자 부품(1)은 후술되는 밀봉부(14) 내에 매립되는 적어도 하나의 제2 부품(1b)과, 밀봉부(14)에 매립되지 않고 밀봉부(14)의 외부에 배치되는 제1 부품(1a)을 적어도 하나 포함한다. 예를 들어, 제1 부품(1a)은 커넥터이고, 제2 부품(1b)은 전자 소자일 수 있다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니다. In addition, the electronic component 1 of this embodiment includes at least one second component 1b embedded in the sealing portion 14, which will be described later, and disposed outside the sealing portion 14 without being embedded in the sealing portion 14. It includes at least one first component (1a). For example, the first component 1a may be a connector and the second component 1b may be an electronic device. However, it is not limited thereto.

밀봉부(14)는 기판(11)의 제1면에 배치되어 전자 부품(1)을 밀봉한다. 밀봉부(14)는 전자 부품(1)을 외부에서 둘러싼 형태로 고정함으로써 외부의 충격으로부터 전자 부품(1)을 안전하게 보호한다. 그러나 전술한 바와 같이 전자 부품(1) 중 제1 부품(1a)은 밀봉부(14) 내에 매립되지 않고 밀봉부(14)의 외부에 배치된다. The sealing part 14 is disposed on the first surface of the substrate 11 to seal the electronic component 1 . The sealing part 14 safely protects the electronic component 1 from external shocks by fixing the electronic component 1 in a form surrounded by the outside. However, as described above, the first component 1a of the electronic component 1 is disposed outside the sealing portion 14 without being embedded in the sealing portion 14 .

본 실시예에 따른 밀봉부(14)는 절연성 재질로 형성된다. 예를 들어, 밀봉부(14)는 에폭시몰딩컴파운드(EMC)와 같은 수지 재질로 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 또한 필요에 따라 도전성을 갖는 재질(예컨대 도전성 수지 등)로 밀봉부(14)를 형성하는 것도 가능하다. 이 경우, 제2 부품(1b)과 기판(11) 사이에는 언더필(underfill) 수지와 같은 별도의 밀봉 부재가 구비될 수 있다. The sealing part 14 according to this embodiment is formed of an insulating material. For example, the sealing part 14 may be formed of a resin material such as an epoxy molding compound (EMC), but is not limited thereto. In addition, it is also possible to form the sealing part 14 with a material having conductivity (for example, conductive resin) as needed. In this case, a separate sealing member such as an underfill resin may be provided between the second component 1b and the substrate 11 .

차폐 격벽(15)은 밀봉부(14)와 제1 부품(1a) 사이에 배치되어 제1 부품(1a)으로부터 제2 부품(1b) 측으로 유입되거나, 제2 부품(1b) 측에서 제1 부품 측으로 유입되는 전자기파를 차폐한다. 따라서 차폐 격벽(15)은 도전성 물질로 형성되며, 기판(11)의 접지 전극(19)과 전기적으로 연결된다. 예컨대, 차폐 격벽(15)은 금속판의 형태로 구성될 수 있으며, 솔더나 도전성 수지와 같은 도전성 접착제를 매개로 기판(11)의 접지 전극(19)에 접합될 수 있다. The shielding partition wall 15 is disposed between the sealing part 14 and the first part 1a and flows from the first part 1a to the second part 1b side, or from the second part 1b side to the first part 1a. Shields electromagnetic waves entering the side. Accordingly, the shielding barrier 15 is formed of a conductive material and is electrically connected to the ground electrode 19 of the substrate 11 . For example, the shielding barrier 15 may be configured in the form of a metal plate and may be bonded to the ground electrode 19 of the substrate 11 through a conductive adhesive such as solder or conductive resin.

본 실시예의 경우, 차폐 격벽(15)은 제1 부품(1a)을 완전하게 둘러싸는 사각의 링(ring) 형상으로 구성되며, 이에 내부가 빈 관(pipe) 형상으로 구성된다. In the case of this embodiment, the shielding barrier 15 is composed of a square ring shape completely surrounding the first part 1a, and is composed of a hollow pipe shape.

차폐 격벽(15)은 전자 소자 모듈 제조 과정에서 밀봉부(14)를 형성할 때, 밀봉부(14)의 재료(예컨대 성형 수지)가 제1 부품(1a) 측으로 유입되는 것을 차단한다. 따라서, 제1 부품(1a)차폐 격벽(15)에 의해 밀봉부(14) 내에 매립되지 않는다.The shielding partition wall 15 blocks a material (eg, molding resin) of the sealing portion 14 from flowing into the first component 1a when the sealing portion 14 is formed in the manufacturing process of the electronic device module. Therefore, the first component 1a is not embedded in the sealing portion 14 by the shielding partition wall 15 .

본 실시예에서 차폐 격벽(15)은 사각의 링(ring) 형상으로 구성된다. 그러나 본 발명의 구성이 이에 한정되는 것은 아니며, 원형 링이나 타원형 링, 다각형 링 등 제1 부품(1a)과 제2 부품(1b) 사이에서 전자기파의 흐름을 차단할 수만 있다면 차폐 격벽(15)은 다양한 형태로 변형될 수 있다. In this embodiment, the shielding barrier 15 is configured in a square ring shape. However, the configuration of the present invention is not limited thereto, and as long as the flow of electromagnetic waves can be blocked between the first part 1a and the second part 1b, such as a circular ring, an elliptical ring, or a polygonal ring, the shielding barrier 15 can be used in a variety of ways. shape can be transformed.

차폐 격벽(15)의 실장 높이는 제1 부품(1a)의 실장 높이와 동일하거나 더 높게 형성된다. The mounting height of the shielding barrier 15 is equal to or higher than that of the first component 1a.

또한 본 실시예에서 차폐 격벽(15)의 실장 높이는 밀봉부(14)의 높이보다 낮게 형성된다. 본 발명은 차폐 케이스(도 4의 15a)를 이용하여 차폐 격벽(15)을 형성한다. 따라서 차폐 케이스(15a)를 부분적으로 제거하는 과정이 필수적으로 수행되어야 하므로, 본 실시예와 같이 차폐 격벽(15) 전체의 실장 높이를 밀봉부(14)의 실장 높이보다 낮게 구성할 수 있다. Also, in this embodiment, the mounting height of the shielding partition wall 15 is lower than that of the sealing portion 14 . In the present invention, the shielding partition 15 is formed using a shielding case ( 15a in FIG. 4 ). Therefore, since the process of partially removing the shielding case 15a must be necessarily performed, the mounting height of the entire shielding partition wall 15 can be configured to be lower than the mounting height of the sealing portion 14, as in the present embodiment.

그러나 도 14의 실시예와 같이, 필요에 따라 후술되는 차폐 격벽(15) 중 일부를 밀봉부(14)와 같은 높이로 구성할 수 있다. 그러나 다른 부분은 모두 높이를 밀봉부(14)의 실장 높이보다 낮게 구성된다. However, as in the embodiment of FIG. 14 , some of the shielding partition walls 15 to be described below may be configured at the same height as the sealing part 14 as needed. However, all other parts are configured to be lower than the mounting height of the sealing part 14.

이처럼 본 발명의 차폐 격벽(15)은 적어도 일부의 실장 높이가 밀봉부(14)의 실장 높이보다 낮게 형성될 수 있다.As such, at least a portion of the shielding bulkhead 15 of the present invention may be formed lower than the mounting height of the sealing part 14 .

다음으로 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 제조 방법을 설명한다. Next, a method of manufacturing the electronic device module according to the present embodiment will be described.

도 3 내지 도 6은 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 제조 방법을 공정순으로 도시한 도면이다. 3 to 6 are diagrams illustrating a method of manufacturing an electronic device module according to an exemplary embodiment in a process order.

먼저 도 3에 도시된 바와 같이, 기판(11)의 제1면에 전자 부품들(1)을 실장한다.First, as shown in FIG. 3 , electronic components 1 are mounted on the first surface of the board 11 .

본 실시예에 따른 기판(11)은 다층 복수의 층으로 형성된 다층 회로 기판으로, 각 층 사이에는 전기적으로 연결되는 회로 패턴들이 형성될 수 있다. 또한 기판(11)의 상면에는 실장용 전극과 접지 전극(19) 등이 형성된다. The substrate 11 according to the present embodiment is a multi-layer circuit board formed of a plurality of multi-layers, and electrically connected circuit patterns may be formed between the respective layers. In addition, a mounting electrode and a ground electrode 19 are formed on the upper surface of the substrate 11 .

전자 부품들(1)은 솔더(solder)와 같은 도전성 접착제를 통해 기판(11)에 접합될 수 있다. The electronic components 1 may be bonded to the substrate 11 through a conductive adhesive such as solder.

이어서, 도 4에 도시된 바와 같이, 차폐 케이스(15a)를 기판(11)의 제1면에 실장한다. Subsequently, as shown in FIG. 4 , the shielding case 15a is mounted on the first surface of the substrate 11 .

차폐 케이스(15a)는 도전성 재질로 형성되며, 일면이 개방되고 내부에 수용 공간을 구비하는 용기 형태로 형성될 수 있다. The shielding case 15a is made of a conductive material, and may be formed in the form of a container having one surface open and having an accommodation space therein.

본 실시예에서 차폐 케이스(15a)는 일면이 개방된 직육면체 형상으로 형성된다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니며, 원기둥 형상이나, 다각형 기둥 형상으로 차폐 케이스(15a)를 구성하는 등 내부에 제1 부품(1a)을 수용할 수 있는 수용 공간을 구비한다면 다양한 형태로 구성될 수 있다.In this embodiment, the shielding case 15a is formed in a rectangular parallelepiped shape with one surface open. However, it is not limited thereto, and may be configured in various shapes as long as an accommodation space capable of accommodating the first part 1a is provided therein, such as configuring the shielding case 15a in a cylindrical shape or a polygonal column shape.

차폐 케이스(15a)는 내부 수용 공간에 제1 부품(1a)이 수용되도록 기판(11)에 실장된다. 따라서 차폐 케이스(15a)의 개방된 일면은 기판(11)의 제1면에 접합된다. 이때, 차폐 케이스(15a)는 적어도 일부가 기판(11)의 접지 전극(19)에 접합된다. The shielding case 15a is mounted on the board 11 so that the first component 1a is accommodated in the inner accommodating space. Accordingly, the open surface of the shielding case 15a is bonded to the first surface of the substrate 11 . At this time, at least a part of the shielding case 15a is bonded to the ground electrode 19 of the substrate 11 .

한편, 본 실시예에서는 전자 부품들(1)을 기판(11)에 먼저 실장한 후, 차폐 케이스(15a)를 실장하는 경우를 예로 들고 있다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니다. Meanwhile, in this embodiment, the case where the electronic components 1 are first mounted on the board 11 and then the shielding case 15a is mounted is taken as an example. However, it is not limited thereto.

예들 들어, 기판(11) 상에 도전성 페이스트를 도포한 후, 전자 부품들(1)과 차폐 케이스(15a)를 모두 도전성 페이스트 상에 배치하고, 리플로우 솔더링(reflow Soldering) 공정을 통해 전자 부품들(1)과 차폐 케이스(15a)를 동시에 기판(11)에 접합하는 것도 가능하다.For example, after applying the conductive paste on the substrate 11, the electronic components 1 and the shielding case 15a are both disposed on the conductive paste, and the electronic components are reflowed through a reflow soldering process. It is also possible to bond (1) and the shielding case 15a to the substrate 11 at the same time.

이어서, 도 5에 도시된 바와 같이, 전자 부품(1)을 밀봉하며 기판(11)의 제1면에 밀봉부(14)를 형성한다. Subsequently, as shown in FIG. 5 , the electronic component 1 is sealed and a sealing portion 14 is formed on the first surface of the substrate 11 .

밀봉부(14)는 기판(11)의 제1면 전체에 형성될 수 있다. 따라서, 밀봉부(14)는 제2 부품들(1b)뿐만 아니라, 제1 부품(1a)을 덮고 있는 차폐 케이스(15a)도 모두 매립하는 형태로 형성된다. The sealing part 14 may be formed on the entire first surface of the substrate 11 . Therefore, the sealing part 14 is formed in a form to bury not only the second components 1b but also the shielding case 15a covering the first component 1a.

이때, 밀봉부(14)를 형성하는 재료(예컨대 성형 수지)는 차폐 케이스(15a)에 의해, 차폐 케이스(15a)의 내부 공간으로는 유입되지 않는다. 따라서, 제1 부품(1a)은 밀봉부(14)를 형성하는 재료와 접촉하지 않는다. At this time, the material forming the sealing portion 14 (for example, molding resin) is prevented from flowing into the inner space of the shielding case 15a by the shielding case 15a. Therefore, the first component 1a does not come into contact with the material forming the sealing portion 14 .

본 단계에서 밀봉부(14)는 트랜스퍼 몰딩 방식을 통해 제조될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In this step, the sealing part 14 may be manufactured through a transfer molding method, but is not limited thereto.

이어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 밀봉부(14)와 차폐 케이스(15a)를 부분적으로 제거한다. 이때 제거되는 부분은 차폐 케이스(15a)가 배치된 제1 영역(도 1의 A1)이며, 제2 부품(1b)이 배치된 제2 영역(도 2의 A2)은 제거되지 않는다.Subsequently, as shown in FIG. 6, the sealing portion 14 and the shielding case 15a are partially removed. At this time, the part to be removed is the first area (A1 in FIG. 1) where the shielding case 15a is disposed, and the second area (A2 in FIG. 2) where the second component 1b is disposed is not removed.

본 단계에서 밀봉부(14)는 두께가 얇아지는 형태로 제거된다. 따라서 밀봉부(14)의 제거에는 그라인더(G)가 이용될 수 있다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니다. In this step, the sealing portion 14 is removed in a thinned form. Therefore, a grinder (G) may be used to remove the sealing portion (14). However, it is not limited thereto.

제1 영역(A1)이 부분적으로 제거됨에 따라, 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)은 두께가 다르게 형성된다. As the first area A1 is partially removed, the first area A1 and the second area A2 are formed to have different thicknesses.

또한 밀봉부(14)의 제1 영역(A1)은 차폐 케이스(15a)의 내부 공간이 외부로 노출될 때까지 제거된다. 이에 제1 부품(1a)도 함께 외부로 노출된다. Also, the first area A1 of the sealing part 14 is removed until the inner space of the shielding case 15a is exposed to the outside. Accordingly, the first component 1a is also exposed to the outside.

밀봉부(14)가 제거되면, 차폐 케이스(15a)는 관(pipe) 형상 또는 링(ring) 형상의 차폐 격벽(15)으로 변형된다.When the sealing part 14 is removed, the shielding case 15a is transformed into a shielding partition wall 15 having a pipe shape or a ring shape.

한편, 본 단계에서 제1 영역(A1) 전체가 부분적으로 제거된다. 따라서, 차폐 케이스(15a) 상부에 배치된 밀봉부(14)뿐만 아니라, 차폐 케이스(15a)의 양측에 배치된 밀봉부(도 2의 14a)도 일부가 제거된다. 이에 제1 영역(A1)의 밀봉부(14a) 제2 영역(A2)의 밀봉부(14) 사이에는 단차가 형성된다. Meanwhile, in this step, the entire first area A1 is partially removed. Therefore, not only the sealing portion 14 disposed on the upper portion of the shielding case 15a, but also a portion of the sealing portion (14a in FIG. 2) disposed on both sides of the shielding case 15a is removed. Accordingly, a step is formed between the sealing portion 14a of the first area A1 and the sealing portion 14 of the second area A2.

또한 제1 영역(A1)의 밀봉부(14a)는 높이가 제2 영역(A2)의 밀봉부(14) 보다 낮으므로, 제1 영역(A1)의 밀봉부(14a)는 내에는 전자 부품이 실장되지 않거나, 차폐 격벽(15)보다 실장 높이가 낮은 전자 부품들만 배치된다. In addition, since the height of the sealing portion 14a of the first area A1 is lower than that of the sealing portion 14 of the second area A2, the sealing portion 14a of the first area A1 contains electronic components. Only electronic components that are not mounted or have a mounting height lower than the shielding partition wall 15 are disposed.

이와 같은 과정을 통해 완성되는 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈은, 제1 부품과 제2 부품 간에 차폐 격벽이 배치되므로, 제1 부품과 제2 부품간에 전자기파 간섭이 발생하는 것을 방지할 수 있다.In the electronic device module according to the present embodiment completed through the above process, since the shielding barrier rib is disposed between the first component and the second component, it is possible to prevent electromagnetic wave interference between the first component and the second component.

또한, 차폐 케이스를 이용하여 제1 부품과 제2 부품 사이를 차폐 격벽을 형성하므로, 차폐 격벽의 실장이 용이하며, 이에 제조가 용이하다.In addition, since the shielding barrier rib is formed between the first component and the second component using the shielding case, mounting of the shielding barrier rib is easy, and thus manufacturing is easy.

더하여, 밀봉부를 제조할 때, 차폐 격벽이 밀봉부의 흐름을 차단하는 기능도 수행하므로, 밀봉부와 제1 부품 사이의 간격을 최소화할 수 있다. In addition, when manufacturing the sealing part, since the shielding barrier also serves to block the flow of the sealing part, it is possible to minimize the gap between the sealing part and the first part.

본 실시예와 같이 차폐 케이스(15a)를 이용하지 않고, 금형을 이용하여 제2 부품 측에만 밀봉부를 형성하는 경우를 고려하면, 제1 부품과 제2 부품 사이에 금형 틀이 배치되어야 하므로 제1 부품과 제2 부품 사이의 거리는 금형 틀의 두께 이상으로 이격되어야 한다. Considering the case where the sealing part is formed only on the second part side using a mold without using the shield case 15a as in the present embodiment, since a mold frame must be disposed between the first part and the second part, the first part The distance between the part and the second part must be at least as large as the thickness of the mold frame.

그러나 본 실시예와 같이 차폐 케이스를 이용하여 차페 격벽을 형성하는 경우, 제1 부품과 제2 부품 사이에 금형 틀을 배치할 필요가 없으므로, 제1 부품과 제2 부품 사이의 거리를 최소화할 수 있으며, 이에 전자 소자 모듈의 전체적인 크기도 최소화할 수 있다.However, when the shielding partition is formed using the shielding case as in the present embodiment, since there is no need to place a mold frame between the first and second parts, the distance between the first and second parts can be minimized. Accordingly, the overall size of the electronic device module can be minimized.

한편, 본 발명에 따른 전자 소자 모듈은 전술한 실시예에 한정되지 않으며, 다양한 응용이 가능하다. On the other hand, the electronic device module according to the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various applications are possible.

도 7 내지 도 9는 각각 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 평면도이다. 7 to 9 are plan views of an electronic device module according to another exemplary embodiment of the present invention.

도 7과 도 8에 도시된 전자 소자 모듈은, 차폐 격벽(15)이 서로 연결된 적어도 2개의 격벽을 포함하며, 격벽들 중 적어도 하나는 제1 부품(1a)과 제2 부품(1b) 사이에 배치된다. The electronic device module shown in FIGS. 7 and 8 includes at least two barrier ribs in which the shielding barrier rib 15 is connected to each other, and at least one of the barrier ribs is interposed between the first component 1a and the second component 1b. are placed

먼저 도 7을 참조하면, 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈은 전술한 실시예의 전자 소자 모듈과 유사하게 구성되며, 차폐 격벽(15)이 사각의 링 형태로 형성되지 않고 한 면이 제거된 'ㄷ(또는 C)' 형상으로 형성된다. 따라서 서로 연결된 3개의 격벽을 포함하며, 이 중 하나는 제1 부품(1a)과 제2 부품(1b) 사이에 배치된다. First, referring to FIG. 7 , the electronic element module according to the present embodiment is configured similarly to the electronic element module of the above-described embodiment, and the shielding barrier 15 is not formed in a rectangular ring shape and one side is removed. (or C)' is formed in the shape. Thus, it includes three partition walls connected to each other, one of which is disposed between the first part 1a and the second part 1b.

본 실시예에 따른 전자 소자 모듈은 전술한 형태의 차폐 케이스(도 4의 15a)를 기판(11)에 실장한 후, 차폐 케이스(15a)에 의해 형성되는 4개의 격벽들(15) 중 어느 하나를 절단(dicing) 과정에서 기판(11)과 함께 제거함으로써 제조될 수 있다. In the electronic device module according to the present embodiment, after the above-described shielding case (15a in FIG. 4) is mounted on the board 11, any one of the four barrier ribs 15 formed by the shielding case 15a is formed. It can be manufactured by removing along with the substrate 11 in a dicing process.

또한, 본 실시예에서는 접지 전극(19)이 차폐 격벽(15) 전체와 접합된다.Also, in this embodiment, the ground electrode 19 is bonded to the entire shielding barrier rib 15.

또한 도 8을 참조하면, 전자 소자 모듈은 차폐 격벽(15)이 사각의 링 형태로 형성되지 않고 두 면이 제거된 'L' 형상으로 형성된다. 따라서 서로 연결된 2개의 격벽을 포함하며, 이 중 하나는 제1 부품(1a)과 제2 부품(1b) 사이에 배치된다.Also, referring to FIG. 8 , the electronic device module is formed in an 'L' shape in which the shielding barrier 15 is not formed in a rectangular ring shape but two sides are removed. Thus, it includes two partition walls connected to each other, one of which is disposed between the first component 1a and the second component 1b.

본 실시예에 따른 전자 소자 모듈은 전술한 형태의 차폐 케이스(15a)를 기판(11)에 실장한 후, 차폐 케이스(15a)에 의해 형성되는 4개의 차폐 격벽들(15) 중 2개의 차폐 격벽(15)을 절단(dicing) 과정에서 기판(11)과 함께 제거함으로써 제조될 수 있다. In the electronic device module according to the present embodiment, after mounting the above-described shielding case 15a on the board 11, two shielding barriers among the four shielding barriers 15 formed by the shielding case 15a It can be manufactured by removing (15) together with the substrate 11 in a dicing process.

또한, 본 실시예에서는 접지 전극(19)이 차폐 격벽(15) 전체와 접합된다.Also, in this embodiment, the ground electrode 19 is bonded to the entire shielding barrier rib 15.

그리고 도 9를 참조하면, 전자 소자 모듈은 차폐 격벽(15)이 사각의 링 형태로 형성되지 않고 세 면이 제거된 'I' 형상으로 형성된다. 따라서 차폐 격벽(15)은 기판(11)을 가로지르는 형태로 배치된다.Referring to FIG. 9 , the electronic device module is formed in an 'I' shape in which the shielding barrier 15 is not formed in a rectangular ring shape but has three sides removed. Accordingly, the shielding barrier rib 15 is disposed to cross the substrate 11 .

본 실시예에 따른 전자 소자 모듈은 전술한 형태의 차폐 케이스(15a)를 기판(11)에 실장한 후, 차폐 케이스(15a)에 의해 형성되는 4개의 차폐 격벽들(15) 중 3개의 차폐 격벽(15)을 절단(dicing) 과정에서 기판(11)과 함께 제거함으로써 제조될 수 있다. In the electronic device module according to the present embodiment, after mounting the above-described shielding case 15a on the board 11, three shielding barriers among the four shielding barriers 15 formed by the shielding case 15a It can be manufactured by removing (15) together with the substrate 11 in a dicing process.

도 7 내지 도 9에 개시된 구성은 스트립 형태의 기판에 다수의 전자 소자 모듈을 일괄적으로 제조하는 과정에서, 차폐 케이스(15a)의 한 면 내지 세 면을 기판 스트립의 더미 영역에 배치시킨 후, 기판 절단 과정에서 더미 영역에 형성된 면을 기판의 더미 영역과 함께 제거함에 따라 형성될 수 있다.In the configuration disclosed in FIGS. 7 to 9, in the process of manufacturing a plurality of electronic device modules on a strip-shaped board at once, after placing one to three sides of the shielding case 15a in the dummy area of the substrate strip, It may be formed by removing the surface formed in the dummy region along with the dummy region of the substrate during the substrate cutting process.

도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 전자 소자 모듈을 개략적으로 도시한 단면도이다. 10 is a schematic cross-sectional view of an electronic device module according to another embodiment of the present invention.

도 10을 참조하면, 본 실시예의 전자 소자 모듈은 제2 영역(A2)에 배치되는 밀봉부(14)의 표면을 따라 차폐층(17)이 배치된다. Referring to FIG. 10 , in the electronic device module according to the present embodiment, a shielding layer 17 is disposed along the surface of the sealing part 14 disposed in the second region A2.

차폐층(17)은 밀봉부(14)의 표면에 형성되어 외부로부터 제2 부품(1b)으로 유입되거나, 제2 부품(1b)에서 외부로 유출되는 전자기파를 차폐한다. 따라서 차폐층(17)은 도전성 물질로 형성되며, 기판(11)의 접지 전극(19)과 전기적으로 연결될 수 있다. The shielding layer 17 is formed on the surface of the sealing part 14 to block electromagnetic waves flowing from the outside into the second part 1b or flowing out from the second part 1b. Accordingly, the shielding layer 17 is formed of a conductive material and may be electrically connected to the ground electrode 19 of the substrate 11 .

본 실시예에서는 차폐층(17)과 기판(11)의 접지 전극(19)을 전기적으로 연결하기 위해 기판(11)의 접지 전극(19) 중 적어도 일부가 밀봉부(14)의 외부로 노출된다. 이러한 구성은 밀봉부(14)를 제조하는 과정에서 접지 전극(19)이 일부 노출되도록 밀봉부(14)의 위치와 크기를 한정하거나, 밀봉부(14)를 부분적으로 제거함으로써 형성될 수 있다. In this embodiment, in order to electrically connect the shielding layer 17 and the ground electrode 19 of the substrate 11, at least a part of the ground electrode 19 of the substrate 11 is exposed to the outside of the sealing portion 14. . This configuration may be formed by limiting the position and size of the sealing portion 14 so that the ground electrode 19 is partially exposed during the manufacturing process of the sealing portion 14 or partially removing the sealing portion 14 .

그러나 본 발명의 구성이 이에 한정되는 것은 아니며, 접지 전극(19)을 기판(11)의 측면으로 노출시키고, 차폐층(17)을 기판(11)의 측면까지 형성하여 기판(11)의 측면에서 접지 전극(19)이 차폐층(17)과 접촉하도록 구성하는 등 다양한 변형이 가능하다.However, the configuration of the present invention is not limited thereto, and the ground electrode 19 is exposed to the side of the substrate 11, and the shielding layer 17 is formed up to the side of the substrate 11, so that the side of the substrate 11 Various modifications are possible, such as configuring the ground electrode 19 to contact the shielding layer 17 .

차폐층(17)은 밀봉부(14)의 외부면에 도전성 분말을 포함하는 수지재를 도포하거나, 금속 박막을 형성함으로써 이루어질 수 있다. 금속 박막을 형성하는 경우 스퍼터링, 스크린 프린팅(screen printing), 기상증착법, 전해 도금, 비전해 도금과 같은 다양한 기술들이 사용될 수 있다.The shielding layer 17 may be formed by applying a resin material containing conductive powder to the outer surface of the sealing part 14 or forming a metal thin film. In the case of forming a metal thin film, various techniques such as sputtering, screen printing, vapor deposition, electrolytic plating, and non-electrolytic plating may be used.

예를 들어, 본 실시예에 따른 차폐층(17)은 밀봉부(14)의 외부면에 스프레이 코팅법으로 형성된 금속 박막일 수 있다. 스프레이 코팅법은 균일한 도포막을 형성할 수 있으며 다른 공정에 비해 설비 투자에 소요되는 비용이 적은 장점이 있다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니며, 스크린 프린팅 방식을 통해 금속 박막을 형성하여 이용하는 것도 가능하다. For example, the shielding layer 17 according to the present embodiment may be a metal thin film formed on the outer surface of the sealing part 14 by a spray coating method. The spray coating method can form a uniform coating film and has the advantage of requiring less equipment investment compared to other processes. However, it is not limited thereto, and it is also possible to form and use a metal thin film through a screen printing method.

또한, 차폐층(17)은 차폐 격벽(15)과 전기적으로 연결될 수 있다. 본 실시예에서 차폐층(17)은 차폐 격벽(15)의 상단에 접합된다. 차폐층(17)과 차폐 격벽(15)은 모두 도전성 물질(예컨대, Cu, Ag, Au, Ni, Pt, Pd, 또는 이들의 합금)로 형성되나, 각기 다른 공정을 통해 형성되므로 서로 다른 재료로 형성될 수 있다. 그러나 필요에 따라 동일한 재료로 형성하는 것도 가능하다.Also, the shielding layer 17 may be electrically connected to the shielding barrier rib 15 . In this embodiment, the shielding layer 17 is bonded to the top of the shielding barrier rib 15 . Both the shielding layer 17 and the shielding barrier 15 are formed of a conductive material (eg, Cu, Ag, Au, Ni, Pt, Pd, or an alloy thereof), but they are formed through different processes, so they are made of different materials. can be formed However, it is also possible to form with the same material as needed.

본 실시예에의 기판(11)에 안테나(20)가 배치될 수 있다. 안테나(20)는 기판(11)의 제2면 중 제1 영역(A1)과 대응하는 위치에 배치될 수 있다. 안테나(20)가 제2 영역(A2)에 배치되는 경우, 안테나(20)를 통해 송수신되는 무선 신호는 차폐층(17)에 의해 차단될 수 있다. 따라서, 본 실시예에서 안테나(20)는 차폐층(17)이 없는 제1 영역(A1)에만 배치된다. An antenna 20 may be disposed on the substrate 11 in this embodiment. The antenna 20 may be disposed at a position corresponding to the first area A1 on the second surface of the substrate 11 . When the antenna 20 is disposed in the second area A2 , radio signals transmitted and received through the antenna 20 may be blocked by the shielding layer 17 . Therefore, in this embodiment, the antenna 20 is disposed only in the first area A1 where the shielding layer 17 is not present.

그러나 본 발명의 구성이 이에 한정되는 것은 아니며, 안테나(20)가 기판(11)의 하부로 무선 신호를 방사하도록 구성하는 경우에는 제2 영역(A2)에도 안테나를 배치할 수 있다. However, the configuration of the present invention is not limited thereto, and when the antenna 20 is configured to radiate radio signals to the lower portion of the substrate 11, the antenna may also be disposed in the second area A2.

예를 들어, 기판(11)과 수평한 방향으로 무선 신호를 방사하는 다이폴 안테나를 배치하는 경우, 제1 영역(A1)에 배치하는 것이 유리하다. 반면에 기판(11)과 수직한 방향 중 하부 방향으로 무선 신호를 방사하는 패치 안테나를 배치하는 경우에는 제2 영역(A2)에 배치해도 무방하다. For example, when disposing a dipole antenna that radiates radio signals in a direction parallel to the substrate 11, it is advantageous to dispose it in the first area A1. On the other hand, in the case of arranging a patch antenna radiating a radio signal in a downward direction among directions perpendicular to the substrate 11, it may be disposed in the second area A2.

또한 본 실시예에서 안테나(20)는 기판(11)에 형성되는 회로 패턴을 이용하여 형성한다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니며, 별도로 제조된 안테나 부품을 기판(11)의 제2면에 실장하여 이용하는 등 다양한 변형이 가능하다. Also, in this embodiment, the antenna 20 is formed using a circuit pattern formed on the substrate 11 . However, it is not limited thereto, and various modifications are possible, such as mounting and using a separately manufactured antenna component on the second surface of the board 11 .

이어서, 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 제조 방법을 설명한다. Next, the manufacturing method of the electronic element module according to the present embodiment will be described.

도 11 내지 도 13은 도 10에 도시된 전자 소자 모듈의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다. 본 실시예의 전자 소자 모듈 제조 방법은 제1 영역(A1)의 밀봉부(14)를 단계적으로 제거한다. 11 to 13 are views for explaining a manufacturing method of the electronic device module shown in FIG. 10 . In the electronic device module manufacturing method of this embodiment, the sealing portion 14 of the first area A1 is removed step by step.

본 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 제조 방법은 도 5에 도시된 상태까지는 전술한 실시예와 동일하게 진행된다. The manufacturing method of the electronic device module according to the present embodiment proceeds in the same manner as in the above-described embodiment up to the state shown in FIG. 5 .

도 5에 도시된 바와 같이 밀봉부(14)가 형성되면, 도 11에 도시된 바와 같이 제1 부품(1a)과 제2 부품(1b) 사이에 배치되는 차폐 케이스(15a)를 노출시키는 1차 제거 단계가 진행된다. 이 과정에서 밀봉부(14)는 제1 부품(1a)과 제2 부품(1b) 사이에 배치되는 차폐 격벽의 상부에 배치된 부분만 제거된다. When the sealing part 14 is formed as shown in FIG. 5, as shown in FIG. 11, a first step exposing the shielding case 15a disposed between the first part 1a and the second part 1b The elimination phase proceeds. In this process, only the portion of the sealing part 14 disposed on the upper portion of the shielding barrier rib disposed between the first component 1a and the second component 1b is removed.

본 단계는 모듈의 절단(sawing 또는 dicing)에 이용되는 블레이드(blade, 미도시)나 레이저를 이용하여 밀봉부(14)를 제거하며, 이에 차폐 케이스(15a) 중 제1 부품(1a)과 제2 부품(1b) 사이에 배치된 부분만 노출된다.In this step, the sealing part 14 is removed using a blade (not shown) or a laser used for sawing or dicing of the module, and thus the first part 1a and the first part 1a of the shielding case 15a are removed. Only the portion disposed between the two parts 1b is exposed.

따라서 본 단계에서 제거되는 밀봉부(14)는 차폐 격벽(도 10의 15)과 동일하거나 유사한 폭으로 제거되며, 밀봉부(14)가 제거되면, 차폐 격벽(15)의 상부는 빈 공간(S)으로 형성된다. Therefore, the sealing part 14 removed in this step is removed to the same or similar width as the shielding partition wall (15 in FIG. 10), and when the sealing part 14 is removed, the upper part of the shielding partition wall 15 is an empty space (S ) is formed.

이어서, 도 12에 도시된 바와 같이, 차폐층(17)을 형성한다. 차폐층(17)은 전술한 실시예와 마찬가지로, 밀봉부(14)의 외부면에 도전성 분말을 포함하는 수지재를 도포하거나, 금속 박막을 형성함으로써 이루어질 수 있다. 금속 박막을 형성하는 경우 스퍼터링, 스크린 프린팅(screen printing), 기상증착법, 전해 도금, 비전해 도금과 같은 다양한 기술들이 사용될 수 있다.Subsequently, as shown in FIG. 12, a shielding layer 17 is formed. As in the above-described embodiment, the shielding layer 17 may be formed by applying a resin material containing conductive powder to the outer surface of the sealing part 14 or forming a metal thin film. In the case of forming a metal thin film, various techniques such as sputtering, screen printing, vapor deposition, electrolytic plating, and non-electrolytic plating may be used.

또한 본 단계에서 차폐층(17)은 밀봉부(14)의 빈 공간(S)에도 충진되어 차폐 격벽(15)과 연결된다. Also, in this step, the shielding layer 17 fills the empty space S of the sealing part 14 and is connected to the shielding partition 15 .

이어서, 도 13에 도시된 바와 같이 밀봉부(14)를 부분적으로 제거하는 2차 제거 단계가 진행된다. 이때 제거되는 부분은 차폐 케이스(15a)가 배치된 제1 영역(도 1의 A1)이며, 제2 부품(1b)이 배치된 제2 영역(도 2의 A2)은 제거되지 않는다. 또한 본 단계에서 차폐 격벽(15)의 상부에 형성된 차폐층(17)은 제거되지 않는다. Subsequently, as shown in FIG. 13, a secondary removal step of partially removing the sealing portion 14 is performed. At this time, the part to be removed is the first area (A1 in FIG. 1) where the shielding case 15a is disposed, and the second area (A2 in FIG. 2) where the second component 1b is disposed is not removed. Also, in this step, the shielding layer 17 formed on the upper part of the shielding barrier rib 15 is not removed.

이와 같은 과정을 통해 제조되는 본 실시예의 전자 소자 모듈은 상기 구성으로 한정되는 것은 아니며, 차폐층(17)과 차폐 격벽(15)을 직접 연결하지 않고 기판(11)의 접지 전극(19)을 통해 간접적으로 연결하는 등 다양한 변형이 가능하다. The electronic device module of this embodiment manufactured through such a process is not limited to the above configuration, and does not directly connect the shielding layer 17 and the shielding barrier 15 through the ground electrode 19 of the substrate 11. Various variations such as indirect connection are possible.

도 14는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 전자 소자 모듈을 개략적으로 도시한 단면도이다. 14 is a schematic cross-sectional view of an electronic device module according to another embodiment of the present invention.

도 14를 참조하면, 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈은 제1 부품(1a)을 둘러 싸는 차폐 격벽(15) 중 제1 부품(1a)과 제2 부품(1b) 사이에 배치되는 부분(151, 이하, 제1 격벽)이 다른 부분에 비해 높게 구성된다.Referring to FIG. 14, the electronic device module according to the present embodiment includes a portion 151 disposed between the first component 1a and the second component 1b of the shielding barrier 15 surrounding the first component 1a. , Hereinafter, the first barrier rib) is configured higher than other portions.

제1 격벽(151)은 제1 영역(A1)에 배치되는 밀봉부(14)의 높이와 동일한 높이로 구성된다. 따라서 차폐층(17)은 밀봉부(14)의 상부면과 동일한 평면 상에서 제1 격벽(151)과 연결된다.The first barrier rib 151 has the same height as that of the sealing part 14 disposed in the first area A1. Accordingly, the shielding layer 17 is connected to the first partition wall 151 on the same plane as the upper surface of the sealing part 14 .

이를 위해, 본 실시예의 전자 소자 모듈 제조 방법은, 밀봉부를 단계적으로 제거한다. To this end, in the electronic device module manufacturing method of this embodiment, the sealing portion is removed step by step.

도 15 내지 도 17은 도 14에 도시된 전자 소자 모듈의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다. 15 to 17 are diagrams for explaining a manufacturing method of the electronic device module shown in FIG. 14 .

본 실시예의 전자 소자 모듈 제조 방법은, 도 5에 도시된 상태에서, 도 15에 도시된 바와 같이 차폐 케이스(15a)가 노출될 때까지 그라인더(G)를 이용하여 밀봉부(14) 상부면을 전체를 편평하게 제거하는 1차 제거 단계가 진행된다. 이때, 제1 부품(1a)은 외부로 노출되지 않는다.In the electronic element module manufacturing method of this embodiment, in the state shown in FIG. 5, as shown in FIG. 15, the upper surface of the sealing part 14 is grinded using a grinder G until the shielding case 15a is exposed. A first removal step is performed to flatly remove the whole. At this time, the first component 1a is not exposed to the outside.

이어서, 도 16에 도시된 바와 같이 밀봉부(14) 표면에 차폐층(17)을 형성하여 노출된 차폐 케이스에 차폐층(17)을 연결하는 차폐층 형성 단계가 진행된다. Subsequently, as shown in FIG. 16 , a shielding layer forming step of forming a shielding layer 17 on the surface of the sealing unit 14 and connecting the shielding layer 17 to the exposed shielding case is performed.

이어서, 도 17에 도시된 바와 같이, 제1 영역(A1)의 제1 부품(1a)이 외부로 노출되도록 차폐 케이스(15a)와 밀봉부(14)를 일부 제거하는 2차 제거 단계가 진행된다. 본 단계에서 차폐층(17)과 연결된 차폐 격벽(15)은 제거되지 않는다. Subsequently, as shown in FIG. 17 , a secondary removal step of partially removing the shielding case 15a and the sealing portion 14 is performed so that the first part 1a of the first area A1 is exposed to the outside. . In this step, the shielding barrier 15 connected to the shielding layer 17 is not removed.

이와 같은 과정을 통해 제조되는 본 실시예의 전자 소자 모듈은 상기 구성으로 한정되는 것은 아니며, 차폐층(17)과 차폐 격벽(15)을 직접 연결하지 않고 기판(11)의 접지 전극(19)을 통해 간접적으로 연결하는 등 다양한 변형이 가능하다. The electronic device module of this embodiment manufactured through such a process is not limited to the above configuration, and does not directly connect the shielding layer 17 and the shielding barrier 15 through the ground electrode 19 of the substrate 11. Various variations such as indirect connection are possible.

도 18은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 전자 소자 모듈의 평면도이고, 도19는 도 18의 I-I′에 따른 단면도이다.FIG. 18 is a plan view of an electronic device module according to another embodiment of the present invention, and FIG. 19 is a cross-sectional view taken along line II′ of FIG. 18 .

도 18을 참조하면, 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈은 안테나(20)를 구비한다. 그리고 제2 부품(1b)이 배치되는 제1 영역(A1), 차폐층(17)이 배치되는 제2 영역(A2), 그리고 안테나(20)가 배치되는 제3 영역(A3)으로 전자 소자 모듈의 영역이 구분된다.Referring to FIG. 18 , the electronic element module according to the present embodiment includes an antenna 20 . Further, the electronic device module includes a first area A1 where the second part 1b is disposed, a second area A2 where the shielding layer 17 is disposed, and a third area A3 where the antenna 20 is disposed. area is divided.

이에 따라, 밀봉부(14)도 제1 영역(A1)에 배치되는 제1 밀봉부(141), 제2 영역(A2)에 배치되는 제1 밀봉부(142), 제3 영역(A3)에 배치되는 제3 밀봉부(143)로 구분될 수 있다.Accordingly, the sealing part 14 is also applied to the first sealing part 141 disposed in the first area A1, the first sealing part 142 disposed in the second area A2, and the third area A3. It can be distinguished by the third sealing part 143 disposed thereon.

제1 밀봉부(141)는 차폐층(17) 외부에 배치되며, 적어도 일부가 차폐 격벽(15)과 연결된다. 제1 밀봉부(141)는 차폐 격벽(15)을 부분적으로 제거하는 과정에서 차폐 격벽(15)과 함께 일부가 제거되는 밀봉부로 규정할 수 있다. 이에 따라 제1 밀봉부(141)는 제2 밀봉부(142)보다 얇은 두께를 가지며, 예컨대, 제1 밀봉부(141)는 차폐 격벽(15)과 동일한 두께(또는 높이)로 구성될 수 있다.The first sealing part 141 is disposed outside the shielding layer 17, and at least a part thereof is connected to the shielding barrier rib 15. The first sealing portion 141 may be defined as a sealing portion partially removed together with the shielding barrier rib 15 in the process of partially removing the shielding barrier rib 15 . Accordingly, the first sealing portion 141 has a thickness smaller than that of the second sealing portion 142. For example, the first sealing portion 141 may have the same thickness (or height) as the shielding partition wall 15. .

제2 밀봉부(142)는 차폐층(17)의 내부에 배치된다. 따라서 내부에 제2 부품들(1b)을 매립한다.The second sealing part 142 is disposed inside the shielding layer 17 . Accordingly, the second parts 1b are buried therein.

제3 밀봉부(143)는 제1 밀봉부(141)와 마찬가지로 차폐층(17) 외부에 배치되며 내부에 전자 소자나 전자 부품을 매립하지 않는다. 또한 표면에는 도전성 물질이 배치되지 않는다. Like the first sealing part 141, the third sealing part 143 is disposed on the outside of the shielding layer 17 and does not embed an electronic element or electronic component therein. Also, no conductive material is disposed on the surface.

제3 밀봉부(143)는 제1 밀봉부(141)나 제2 밀봉부(142)와 두께가 다르게 구성될 수 있으며, 예컨대 제1 밀봉부(141)나 제2 밀봉부(142)보다 얇은 두께로 구성될 수 있다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니다.The third sealing portion 143 may have a different thickness from the first sealing portion 141 or the second sealing portion 142, and may be thinner than the first sealing portion 141 or the second sealing portion 142, for example. thickness can be configured. However, it is not limited thereto.

제3 밀봉부(143)는 기판(11)의 테두리를 따라 배치된다. 보다 구체적으로 사각 형상으로 형성되는 기판(11)에서 변을 따라 배치된다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니다. The third sealing part 143 is disposed along the edge of the substrate 11 . More specifically, it is disposed along the side of the substrate 11 formed in a quadrangular shape. However, it is not limited thereto.

기판(11)의 제2면이나 기판(11) 내부에는 안테나(20)가 배치된다. 본 실시예에서 안테나(20)는 기판(11)의 제2면 중 제3 밀봉부(143)와 대면하는 위치에 배치된다. An antenna 20 is disposed on the second surface of the substrate 11 or inside the substrate 11 . In this embodiment, the antenna 20 is disposed at a position facing the third sealing portion 143 on the second surface of the substrate 11 .

본 발명을 설명함에 있어서, 안테나(20)가 제3 밀봉부(143)와 마주보도록 배치되거나 대면하도록 배치된다는 의미는, 안테나(20)를 기판(11)의 제1면에 투영하였을 때, 제3 밀봉부(143)와 서로 겹쳐지도록 배치되는 것을 의미한다.In describing the present invention, the meaning that the antenna 20 is arranged to face or face the third sealing portion 143 means that when the antenna 20 is projected onto the first surface of the substrate 11, 3 means that they are arranged so as to overlap each other with the sealing part 143.

안테나(20)가 제1 밀봉부(141)나 제2 밀봉부(142)와 대면하는 영역에 배치되는 경우, 안테나(20)를 통해 송수신되는 무선 신호는 차폐 격벽(15)이나 차폐층(17)에 의해 차단될 수 있다. 따라서, 본 실시예에서 안테나(20)는 차폐 격벽(15)이나 차폐층(17)이 없는 제3 밀봉부(143) 하부에만 배치된다.When the antenna 20 is disposed in an area facing the first sealing portion 141 or the second sealing portion 142, radio signals transmitted and received through the antenna 20 are transmitted and received through the shielding bulkhead 15 or the shielding layer 17. ) can be blocked. Therefore, in this embodiment, the antenna 20 is disposed only under the third sealing portion 143 without the shielding barrier rib 15 or the shielding layer 17 .

그러나 본 발명의 구성이 이에 한정되는 것은 아니며, 안테나(20)가 기판(11)의 하부로 무선 신호를 방사하도록 구성하는 경우에는 제1 밀봉부(141)나 제2 밀봉부(142)의 하부에도 안테나(20)를 배치할 수 있다. However, the configuration of the present invention is not limited thereto, and when the antenna 20 is configured to radiate a radio signal to the lower portion of the substrate 11, the lower portion of the first sealing portion 141 or the second sealing portion 142 The antenna 20 can also be placed.

예를 들어, 기판(11)과 수평한 방향으로 무선 신호를 방사하는 다이폴 안테나를 배치하는 경우, 제3 밀봉부(143)와 대면하는 영역(A3)에 안테나(20)를 배치하는 것이 유리하다. 반면에 기판(11)과 수직한 방향 중 하부 방향으로 무선 신호를 방사하는 패치 안테나를 배치하는 경우에는 제1 밀봉부(141)나 제2 밀봉부(142)와 대면하는 영역(A1, A2)에 배치해도 무방하다.For example, in the case of arranging a dipole antenna radiating a radio signal in a direction parallel to the substrate 11, it is advantageous to dispose the antenna 20 in the area A3 facing the third sealing portion 143. . On the other hand, in the case of arranging a patch antenna radiating a radio signal in a downward direction among directions perpendicular to the substrate 11, the areas A1 and A2 facing the first sealing portion 141 or the second sealing portion 142 Feel free to place it in

또한 본 실시예에서 안테나(20)는 기판(11)에 형성되는 회로 배선을 이용하여 형성한다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니며, 별도로 제조된 안테나 부품을 기판(11)의 제2면에 실장하여 이용하는 등 다양한 변형이 가능하다.Also, in this embodiment, the antenna 20 is formed using circuit wiring formed on the substrate 11 . However, it is not limited thereto, and various modifications are possible, such as mounting and using a separately manufactured antenna component on the second surface of the board 11 .

한편, 본 실시예에서 제2 밀봉부(142)와 제3 밀봉부(143) 사이에 배치되는 차폐층(17)은 기판(11)의 접지 전극(19)에 전기적으로 연결될 수 있다. Meanwhile, in the present embodiment, the shielding layer 17 disposed between the second sealing part 142 and the third sealing part 143 may be electrically connected to the ground electrode 19 of the substrate 11 .

이를 위한 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈 제조 방법은, 도 11에 도시된 단계 이후, 제2 밀봉부(142)와 제3 밀봉부(143)의 경계를 따라 밀봉부(14)를 슬릿 형태로 제거하여 접지 전극(19)을 밀봉부(14)의 외부로 노출시키는 공정과, 제2 밀봉부(142)의 표면과 상기한 슬릿 내에 차폐층(17)을 형성하는 공정이 순차적으로 진행될 수 있다. 이후, 그라인더로 제3 영역(A3)의 밀봉부(14)를 두께가 얇아지는 형태로 제거하여 제3 밀봉부(143)를 완성할 수 있다.For this purpose, in the electronic device module manufacturing method according to the present embodiment, after the step shown in FIG. 11, the sealing part 14 is formed in a slit shape along the boundary between the second sealing part 142 and the third sealing part 143. A process of exposing the ground electrode 19 to the outside of the sealing part 14 by removing it and a process of forming the shielding layer 17 on the surface of the second sealing part 142 and in the above slit may be sequentially performed. . Thereafter, the third sealing portion 143 may be completed by removing the sealing portion 14 of the third area A3 in a thinned form using a grinder.

이상과 같이 구성되는 본 실시예에 따른 전자 소자 모듈은 차폐층(17)가 형성되지 않은 영역에 안테나를 배치하므로, 안테나의 방사 성능을 유지하면서, 전자 부품을 보호할 수 있다.Since the electronic element module according to the present embodiment configured as described above disposes the antenna in the region where the shielding layer 17 is not formed, it is possible to protect the electronic component while maintaining the radiation performance of the antenna.

이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능하다는 것은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이다. 또한 각 실시예들은 서로 조합될 수 있다. Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and variations are possible without departing from the technical spirit of the present invention described in the claims. It will be obvious to those skilled in the art. Also, each embodiment may be combined with each other.

100: 전자 소자 모듈
1: 전자 부품
11: 기판
14: 밀봉부
15: 차폐 격벽
17: 차폐층
19: 접지 전극100: electronic element module
1: electronic components
11: Substrate
14: sealing part
15: shielding bulkhead
17: shielding layer
19: ground electrode

Claims (16)

기판;
상기 기판의 제1 면에 배치되는 밀봉부;
상기 기판의 상기 제1면에서 상기 밀봉부 외측에 배치되는 제1 부품;
상기 기판의 상기 제1 면에 배치되며 상기 밀봉부 내부에 매립되는 제2 부품; 및
일부 또는 전체가 상기 제1 부품과 상기 제2 부품 사이에 배치되어 전자기파의 흐름을 차폐하는 차폐 격벽;
을 포함하며,
상기 차폐 격벽 중 적어도 일부는 실장 높이가 상기 밀봉부의 실장 높이보다 낮게 구성되는 전자 소자 모듈.
Board;
a sealing part disposed on the first surface of the substrate;
a first component disposed outside the seal on the first surface of the substrate;
a second part disposed on the first surface of the substrate and embedded in the sealing part; and
a shielding barrier rib partially or entirely disposed between the first part and the second part to shield the flow of electromagnetic waves;
Including,
The electronic device module of claim 1 , wherein a mounting height of at least some of the shielding bulkheads is lower than a mounting height of the sealing portion.
 제1항에 있어서,
상기 차폐 격벽과 상기 제1 부품 사이에는 빈 공간이 구비되고, 상기 차폐 격벽과 상기 제2 부품 사이에는 상기 밀봉부가 배치되는 전자 소자 모듈.
According to claim 1,
The electronic device module of claim 1 , wherein an empty space is provided between the shielding barrier rib and the first component, and the sealing unit is disposed between the shielding barrier rib and the second component.
 제1항에 있어서, 상기 차폐 격벽은,
사각의 링(ring) 형상으로 형성되며 내부 공간에 상기 제1 부품이 배치되는 전자 소자 모듈.
The method of claim 1, wherein the shielding partition,
An electronic device module formed in a rectangular ring shape and having the first component disposed in an internal space.
 제1항에 있어서, 상기 차폐 격벽은,
서로 연결된 적어도 2개의 격벽을 포함하며, 격벽들 중 적어도 하나는 상기 제1 부품과 상기 제2 부품 사이에 배치되는 전자 소자 모듈.
The method of claim 1, wherein the shielding partition,
An electronic device module comprising at least two barrier ribs connected to each other, wherein at least one of the barrier ribs is disposed between the first component and the second component.
 제1항에 있어서, 상기 차폐 격벽은,
상기 기판을 가로지르도록 배치되는 전자 소자 모듈.
The method of claim 1, wherein the shielding partition,
An electronic device module disposed to cross the substrate.
 제1항에 있어서,
상기 기판은 일면에 적어도 하나의 접지 전극을 구비하며,
상기 차폐 격벽은 상기 접지 전극에 접합되는 전자 소자 모듈.
According to claim 1,
The substrate has at least one ground electrode on one surface,
The shielding barrier rib is bonded to the ground electrode.
 제1항에 있어서,
상기 밀봉부의 표면을 따라 배치되는 차폐층을 더 포함하는 전자 소자 모듈.

According to claim 1,
The electronic device module further comprising a shielding layer disposed along a surface of the sealing unit.

 제7항에 있어서, 상기 차폐층은,
상기 차폐 격벽의 상단에 연결되는 전자 소자 모듈.
The method of claim 7, wherein the shielding layer,
An electronic device module connected to an upper end of the shielding barrier rib.
 제7항에 있어서,
상기 차폐층과 상기 차폐 격벽은 서로 다른 재료로 구성되는 전자 소자 모듈.
According to claim 7,
The electronic device module of claim 1 , wherein the shielding layer and the shielding barrier rib are composed of different materials.
 제7항에 있어서, 상기 밀봉부는,
상기 차폐층의 외부에 배치되며 상기 차폐 격벽과 연결되는 제1 밀봉부;
표면에 상기 차폐층이 배치되는 제2 밀봉부; 및
상기 차폐층의 외부에 배치되며 상기 제1 밀봉부 및 상기 제2 밀봉부보다 얇은 두께로 형성되는 제3 밀봉부;
를 포함하며,
상기 제3 밀봉부와 대면하는 상기 기판의 제2면 또는 기판의 내부에는 안테나가 배치되는 전자 소자 모듈.
The method of claim 7, wherein the sealing part,
a first sealing part disposed outside the shielding layer and connected to the shielding barrier rib;
a second sealing part on the surface of which the shielding layer is disposed; and
a third sealing part disposed outside the shielding layer and having a thickness smaller than that of the first sealing part and the second sealing part;
Including,
An electronic device module wherein an antenna is disposed on a second surface of the substrate facing the third sealing portion or inside the substrate.
 기판의 일면에 적어도 하나의 제1 부품과 제2 부품을 실장하는 단계;
도전성 재질로 형성되며 내부에 수용 공간을 갖는 차폐 케이스를 마련하고, 상기 수용 공간에 상기 제1 부품이 수용되도록 상기 차폐 케이스를 상기 기판에 실장하는 단계;
상기 제2 부품과 상기 차폐 케이스를 매립하는 밀봉부를 상기 기판 상에 배치하는 단계; 및
상기 밀봉부와 상기 차폐 케이스를 부분적으로 제거하여 상기 수용 공간을 상기 밀봉부의 외부로 노출시키는 단계;
를 포함하는 전자 소자 모듈 제조 방법.
mounting at least one first component and a second component on one surface of a substrate;
preparing a shielding case made of a conductive material and having an accommodation space therein, and mounting the shielding case on the substrate so that the first component is accommodated in the accommodation space;
disposing a sealing unit on the substrate to bury the second component and the shielding case; and
exposing the accommodation space to the outside of the sealing part by partially removing the sealing part and the shielding case;
Electronic device module manufacturing method comprising a.
 제11항에 있어서, 상기 수용 공간을 상기 밀봉부의 외부로 노출시키는 단계 이전에,
상기 밀봉부의 표면에 차폐층을 형성하는 단계를 더 포함하는 전자 소자 모듈 제조 방법.
The method of claim 11, before exposing the accommodation space to the outside of the sealing part,
The electronic device module manufacturing method further comprising forming a shielding layer on the surface of the sealing portion.
 제12항에 있어서, 상기 차폐층을 형성하는 단계는,
상기 밀봉부를 부분적으로 제거하여 상기 차폐 케이스를 부분적으로 노출시키는 단계; 및
상기 밀봉부의 표면과 부분적으로 노출된 상기 차폐 케이스에 상기 차폐층을 형성하는 단계;
를 포함하는 전자 소자 모듈 제조 방법.
The method of claim 12, wherein forming the shielding layer,
partially exposing the shielding case by partially removing the sealing part; and
forming the shielding layer on the shielding case partially exposed to the surface of the sealing unit;
Electronic device module manufacturing method comprising a.
 제13항에 있어서, 상기 차폐 케이스를 부분적으로 노출시키는 단계는,
그라인더를 이용하여 상기 차폐 케이스가 노출될 때까지 상기 밀봉부의 상부면을 제거하는 단계인 전자 소자 모듈 제조 방법.
The method of claim 13, wherein the step of partially exposing the shielding case,
and removing an upper surface of the sealing portion by using a grinder until the shielding case is exposed.
 제13항에 있어서, 상기 차폐 케이스를 부분적으로 노출시키는 단계는,
블레이드나 레이저를 이용하여 상기 차폐 케이스 중 상기 제1 부품과 상기 제2 부품 사이에 배치된 격벽에 대응하는 부분만 노출시키는 단계인 전자 소자 모듈 제조 방법.
The method of claim 13, wherein the step of partially exposing the shielding case,
Exposing only a portion of the shielding case corresponding to a barrier rib disposed between the first component and the second component by using a blade or a laser.
 제11항에 있어서, 상기 수용 공간을 상기 밀봉부의 외부로 노출시키는 단계는,
그라인더를 이용하여 상기 밀봉부와 상기 차폐 케이스를 부분적으로 제거하는 단계인 전자 소자 모듈 제조 방법.The method of claim 11, wherein the step of exposing the accommodation space to the outside of the sealing part,
and partially removing the sealing portion and the shielding case using a grinder.
KR1020180065419A 2018-04-05 2018-06-07 Electronic component module and manufacturing mehthod therof KR102520212B1 (en)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/181,485 US10564679B2 (en) 2018-04-05 2018-11-06 Electronic device module, method of manufacturing the same and electronic apparatus
CN202011039119.1A CN112164673B (en) 2018-04-05 2019-01-25 Electronic device module and electronic apparatus
CN201910072657.1A CN110349937A (en) 2018-04-05 2019-01-25 Electronic-component module, the method and electronic device for manufacturing the electronic-component module
US16/731,282 US11209872B2 (en) 2018-04-05 2019-12-31 Electronic device module, method of manufacturing the same and electronic apparatus
US17/022,568 US11347273B2 (en) 2018-04-05 2020-09-16 Electronic device module, method of manufacturing the same and electronic apparatus
KR1020200119072A KR102470354B1 (en) 2018-04-05 2020-09-16 Electronic component module

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180039595 2018-04-05
KR20180039595 2018-04-05

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200119072A Division KR102470354B1 (en) 2018-04-05 2020-09-16 Electronic component module

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190116887A KR20190116887A (en) 2019-10-15
KR102520212B1 true KR102520212B1 (en) 2023-04-10

Family

ID=68209356

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180065419A KR102520212B1 (en) 2018-04-05 2018-06-07 Electronic component module and manufacturing mehthod therof

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102520212B1 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102246964B1 (en) * 2019-11-05 2021-04-30 주식회사 이큐셀 Plasma Sensor Mounted Wafer And Manufacturing Method Thereof
KR20220014685A (en) 2020-07-29 2022-02-07 삼성전기주식회사 Electronic component package and manufacturing method thereof
KR102369456B1 (en) * 2021-05-24 2022-03-04 제너셈(주) Processing substrate method and processing substrate apparatus for the same
KR102369457B1 (en) * 2021-05-24 2022-03-04 제너셈(주) Processing substrate method and processing substrate apparatus for the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005086603A (en) 2003-09-10 2005-03-31 Tdk Corp Electronic component module and its manufacturing method
JP2011139244A (en) 2009-12-28 2011-07-14 Kyocera Corp High frequency module
JP2014093520A (en) * 2012-11-02 2014-05-19 Universal Global Scientific Industrial Co Ltd Electronic package module and method for manufacturing the same
US20170354039A1 (en) * 2014-12-12 2017-12-07 Meiko Electronics Co., Ltd. Encapsulated Circuit Module, And Production Method Therefor

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5840658B2 (en) 1976-09-03 1983-09-07 富士電機株式会社 Cylindrical water wheel installed at the gate

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005086603A (en) 2003-09-10 2005-03-31 Tdk Corp Electronic component module and its manufacturing method
JP2011139244A (en) 2009-12-28 2011-07-14 Kyocera Corp High frequency module
JP2014093520A (en) * 2012-11-02 2014-05-19 Universal Global Scientific Industrial Co Ltd Electronic package module and method for manufacturing the same
US20170354039A1 (en) * 2014-12-12 2017-12-07 Meiko Electronics Co., Ltd. Encapsulated Circuit Module, And Production Method Therefor

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190116887A (en) 2019-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102470354B1 (en) Electronic component module
US8592958B2 (en) Chip package and manufacturing method thereof
KR102520212B1 (en) Electronic component module and manufacturing mehthod therof
KR101288284B1 (en) Semiconductor package manufacturing method
KR101642560B1 (en) Electronic component module and manufacturing method thereof
KR20200001102A (en) Electronic component module and manufacturing mehthod therof
KR102428340B1 (en) Electronic component module and electronic device having the same
KR20200123572A (en) Electronic component module and method for fabricating the same
KR20170097345A (en) Electronic component module and manufacturing mehthod therof
KR101762627B1 (en) Semiconductor package and method of manufacturing the same
KR20180101832A (en) Electric component module and manufacturing method thereof
US20210120664A1 (en) Electronic device module
KR101141443B1 (en) Method for manufacturing semiconductor package
KR102505198B1 (en) Electronic component module and manufacturing mehthod therof
KR102387747B1 (en) Electronic component module
KR102518174B1 (en) Electronic component module
KR20220000087A (en) Electronic device module
KR20210131689A (en) Electronic device module and manufacturing method thereof
KR102248529B1 (en) Electronic component module and manufacturing method thereof
JP7494432B2 (en) Electronic element module and manufacturing method thereof
KR20190129650A (en) Electronic component module and manufacturing mehthod therof
KR101350610B1 (en) Semiconductor package
JP2020174172A (en) Electronic element module and manufacturing method of the same
KR20130048991A (en) Semiconductor package and manufacturing mehthod therof
KR20140041643A (en) Semiconductor package

Legal Events

Date Code Title Description
A107 Divisional application of patent
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant