KR102514726B1 - 광 방사원의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 조명의 방향 의존성 측정을 위한 방법 및 고니오라디오미터 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 141
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 72
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 36
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 22
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 5
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 238000004091 panning Methods 0.000 description 3
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 235000019589 hardness Nutrition 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000011326 mechanical measurement Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000009428 plumbing Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0242—Control or determination of height or angle information of sensors or receivers; Goniophotometry
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/06—Testing the alignment of vehicle headlight devices
- G01M11/064—Testing the alignment of vehicle headlight devices by using camera or other imaging system for the light analysis
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4247—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/448—Array [CCD]
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Abstract
본 발명은 광 방사원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 방향 의존성 측정을 위한 고니오라디오미터에 관한 것으로서, 상기 고니오라디오미터는, 측정 동작 중에 광 방사원(2)을 제1 축(31) 및 제1 축(31)에 수직인 제2 축(32)에 대해 이동시키기 위한 장치; 상기 방사원(2)으로부터의 광이 반사되는, 균일한 반사를 나타내는 측정 벽(5); 및 광학 유닛(8) 및 2차원 센서 칩(100)을 갖는 위치적으로 고정되고 이동 불가능하게 배열된 카메라(7)를 갖는다. 카메라(7)는 측정 벽(5) 상에 반사된 광을 포착하도록 배열되고, 반사광은 카메라(7)의 광학 유닛(8)에 의해 카메라(7)의 센서 칩(100) 상에 결상되며, 센서 칩(100)은 측정 동작 중에 방사원(2)이 회전됨에 따라 측정값을 기록하고, 측정값은 방사원(2)의 방사 중심에 대한 실질적으로 구면 상의 조명 또는 방사 특성 변수를 표시한다. 본 발명은 또한 광 방사원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 방향 의존성 측정을 위한 방법 및 고니오라디오미터에 관한 것으로, 측정 중에 동시에 측정값을 제공하는 적어도 2개의 고정 설치된 센서(1, 100)가 제공된다.
Description
본 발명은 광 방사원(optical radiation source)의 적어도 하나의 조명(lighting) 또는 방사 특성 변수(radiometric characteristic variable)의 방향 의존성 측정(direction-dependent measuremen)을 위한 방법 및 고니오라디오미터(gonioradiometer)에 관한 것이다.
램프 또는 조명 기구의 조명 또는 방사 특성 변수의 측정을 위해서, 고니오라디오미터가 일반적으로 사용된다. 이는 광-기계 측정 시스템이고, 이들 시스템에 의해 광 방사를 기술하기 위한 변수의 방향 의존성이 결정될 수 있다. 예로서, 사용되는 센서 또는 측정 장치 헤드에 따라, 광원의 광도 분포 또는 색 분포체가 결정될 수 있다. 광원 또는 방사원은, 고니오라디오미터의 중앙 및 이에 따라 구좌표계(spherical coordinate system)의 좌표 원점에서 그의 광 중심과 배열된다. 이 경우에, 조명 또는 방사 특성 변수의 측정값은, 광원 또는 방사원을 이동시킴으로써 또는 상이한 각도 영역에서 연속적으로 센서를 이동시킴으로써 각도 측정에 의해, 즉 모든 방향에 대하여 측정될 수 있다.
상기 광원에 대한 조명 또는 방사 특성 변수는 개별 방향을 평가함으로써 그리고/또는 분포체의 소구역(subregion) 또는 전체 입체각에 걸친 측정 결과의 적분을 통해 얻어진다.
광도와 같은 조명 또는 방사 특성 변수는 방향 의존성 변수이며, 그의 방출 방향은 일반적으로 광원에 연결된 좌표계에서 2개의 각도에 의해 주어질 수 있다. 실제로, A 평면, B 평면 및 C 평면이라 기술되는 특정 평면계를 통한 기술이 통용되고 있다. 이들 평면은 표준 DIN 5032 파트 1(1999)에 정의되어 있다. 또한, 대응하는 정의는 문헌 CIE No. 70(1987)("The measurement of absolute luminous intensity distributions", Central Bureau of the CIE, ISBN 3 900 734 05 4)에서 찾을 수 있다.
실제로, 특정 고니오라디오미터 유형들은 유용한 것으로 입증되어 있고, 마찬가지로 상기 DIN 5032 파트 1 및 문헌 CIE No. 70(1987)에 정의되어 있다. 특히, 측정 중에 광원이 회전되는 한편 센서는 위치적으로 안정적인 유형 1.1 내지 1.3 고니오라디오미터가 관심의 대상이다. 여기서, 광원 또는 방사원은 그의 광 중심 또는 방사 중심이 고니오라디오미터의 중앙에 부착된다. 고니오라디오미터의 유형에 따라, A, B 또는 C 평면이 측정된다. 조명 시험 센터 또는 연구소는 모든 측정 작업을 실행할 수 있도록 하기 위해서 입수 가능한 각기 다른 고니오라디오미터들을 보유해야 한다.
측정 시간을 짧게 유지하고 이에 따라 측정당 비용을 가능한 한 낮게 유지하기 위해서 포착할 입체각을 최대한 빨리 포착하기 위한 고니오미터의 필요성이 존재한다.
따라서, 본 발명은, 짧은 측정 시간을 가능하게 하는, 광 방사원의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 방향 의존성 측정을 위한 방법 및 고니오라디오미터를 제공하고자 하는 목적에 기초하고 있다.
본 발명에 따르면, 이러한 목적은 청구항 1의 특징을 갖는 고니오라디오미터를 통해, 청구항 8의 특징을 갖는 방법을 통해, 그리고 청구항 22의 특징을 갖는 고니오라디오미터를 통해 달성된다. 본 발명의 구성은 종속항에서 찾을 수 있다.
따라서, 본 발명에 따르면, 측정 중에 동시에 측정값을 제공하는 적어도 2개의 센서가 제공된다.
따라서, 제1 발명 양태에서, 본 발명은 복수의 적절히 부착된 센서를 동시에 판독함으로써 강도 분포의 측정이 실시되는 방법에 관한 것이다. 복수의 센서를 사용함으로써, 측정 시간은 상당히 단축될 수 있다. 여기서, 복수의 센서를 사용하는 본 발명에 따른 해결책은, 광원이 이동되는 한편, 센서가 위치적으로 고정된 방식으로 배열되는, 유형 1의 고니오라디오미터에 관한 것이다.
여기서, 본 발명은, 그의 모든 발명 양태 및 구성에서, 바람직하게는 평면계의 평면이 방사원의 방사 중심을 통해 연장되는 교차선에서 교차하는, 평면계를 이용하여 측정을 수행한다. 평면계의 특정 평면은 제1 각도로 식별된다. 이러한 평면 내에서 제2 각도, 즉 방출 각도가 정의되며, 이는 고려되는 평면 내의 방사의 방출 방향을 표시한다. 따라서, 이 공간 내의 특정 지점은 먼저 평면을 식별하는 제1 각도를 통해 그리고 고려되는 평면 내의 방출 각도를 표시하는 제2 각도를 통해 정의된다. 3개의 표준화된 A, B 및 C 평면계는 DIN 5032 파트 1에 상세히 기술된 바와 같이, 광원에 대한 그들의 배열 및 2개의 기준축에 대한 그들의 정의 관점에서 상이하며, 여기서 추가로 이 설명을 참조한다.
단어 "센서(sensor)"가 본 발명의 문맥 내에서 사용되는 경우, 특히 100nm(UV-C) 내지 1mm(IR-C)의 파장 범위에서 또는 이 파장 범위의 소구역에서 광 방사(자외선, 가시광 및 적외선)를 측정하기에 적합한 센서들의 모든 실시예를 의미한다. 센서는, 예를 들어 분광 복사계(spectral radiometer), 광도계, 광전자 증배관(photomultiplier), 또는 적외선, 자외선 또는 색상 측정 헤드일 수 있다. 후술하는 바와 같이, 본 발명의 의미 내의 센서는 또한 CCD 센서 또는 CMOS 센서의 감광성 픽셀일 수도 있다.
본 발명의 하나의 구성에 따르면, 상기 적어도 2개의 센서는 제1 축 및/또는 제2 축을 따라 정렬되며, 여기서 제1 축 및 제2 축은 측정 동작 중에 광 방사원이 피봇되는 축이다.
특히, 상기 적어도 2개의 센서는 스캔 중에 광 방사원이 피봇되는 축에(그리고 이에 따라 경도 또는 위도 상에) 평행하게 연장되도록 제공될 수 있다. 그의 제1 예는, 상기 적어도 2개의 센서가 서로 수직으로 배열되고, 상기 광 방사원이 수평 방향을 따라 패닝되는(panned) 배열이다. 따라서, 각 스캔 동작에서, 복수의 "위도"는 다수의 센서에 의해 동시에 포착된다. 이 점에서 제2 예시적인 실시예는, 적어도 2개의 센서가 서로 나란히 수평으로 배열되도록 제공되고, 광 방사원이 수직 방향을 따라 패닝된다. 이 경우, 복수의 "경도"는 각 스캔 중에 복수의 센서에 의해 동시에 기록된다. 양쪽 모두의 경우에서는, 다수의 센서가 좌표계의 원점에 위치하는 측정될 물체, 즉 광 방사원으로부터 동일한 거리에 배열되거나, 또는 서로에 대하여 고정된 입체각(solid-angle) 거리를 두고 배열되는 경우에 유리하다.
본 발명의 또 다른 구성은, 적어도 2개의 센서가 축을 따라 서로에 대하여 일정한 거리를 두고 선형 센서 어레이로 배열되도록 제공된다. 여기서, 센서들의 배열은 센서들이 선형으로 배열되는 상기 축에 수직으로 연장되는 축에 대해 전체로서 피봇 가능하다. 이에 따라, 피봇 축에 대해 선형 센서 어레이를 피봇시킴으로써, 센서의 임의의 수직 또는 수평 각도 거리를 설정할 수 있다. 각각의 수직 및 수평 오프셋은 평가시 계산에 의해 제거되어야 한다.
상기 예시적인 실시예에서, 상기 적어도 2개의 센서는 경도 또는 위도 상에 배열되고 이에 따라 광 방사원과 정렬되도록 제공될 수 있다. 결과적으로, 센서 표면 상의 광의 수직 입사가 보장된다. 또한, 반경이 고정된 큰 원 상의 배열은 추후의 평가 계산에서의 조정시 간단한 알고리즘을 보장한다.
본 발명의 또 다른 구성은, 상기 적어도 2개의 센서가 2차원 어레이 또는 매트릭스 형태로 배열되도록 제공된다. 따라서, 상기 센서들은 n×m 그리드이며, n, m ≥ 2이다. 매트릭스 내의 개별 센서들 사이의 거리는 일정할 수 있다. 하나의 구성에서, 상기 센서들은 구면 상에 배열되고, 일정한 각도 거리를 갖는다. 기계 구성을 단순화하기 위해서, 좌표계의 원점 내에 배열되는 측정될 물체에 대하여 일정한 입체각 거리가 실현되는 한, 상기 센서들은 대안적으로 예컨대 평면과 같은 임의의 다른 원하는 표면 상에 장착될 수도 있다. 2차원 어레이를 사용할 때, 수평 및/또는 수직 스캔은 개별 센서들에 비해서 상당히 짧은 경로 길이로 수행될 수 있다.
본 발명의 또 다른 구성에 따르면, 방사원으로부터의 광은 균일한 반사(homogeneous wall)를 갖는 측정 벽(measuring wall) 상에 반사된다. 반사광은 카메라에 의해 포착된다. 여기서, 반사광은 카메라 광학 유닛에 의해 카메라의 CCD 센서 또는 CMOS 센서 상에 결상된다. 여기서, 센서의 개별 픽셀 또는 포토다이오드는 본 발명의 의미 내의 센서를 나타낸다.
따라서, 본 발명의 이러한 구성은 카메라를 통한 반사에서 조사된 측정 벽의 간접 측정을 제공한다. 여기서, 카메라의 CCD 센서 또는 CMOS 센서는 바람직하게는 광도 측정에 의해 보정되고, 즉 표준 사람의 눈의 분광 밝기 감도(spectral brightness sensitivity)로 가중되지만, 이것이 모든 측정 작업에서 반드시 필요한 것은 아니다.
이 구성의 하나의 변형예에 따르면, 개구부가 반사성 측정 벽 내에 추가로 제공되며, 이를 통해 방사원으로부터의 광이 구멍 내에 고정식으로 또는 구멍 뒤의 비교적 긴 거리에 배열되는 또 다른 센서를 추가로 직접 조사한다. 이는, 측정 벽 상의 광 분포의 중요한 지점이 직접 빔 경로 내에 고정식으로 부착된 센서(예컨대, 광도계 헤드)를 통해 교정 목적용으로 측정될 수 있게 한다. 이 변형예는 또한 광 분포의 중요한 지점의 각도 결정만을 위해 측정 벽과 카메라의 조합을 이용할 수 있게 한다. 이는, 측정 벽/카메라 조합이 복잡한 과정으로 교정될 필요가 없기 때문에, 측정값의 추적 가능성에서 또는 측정 불확실성을 회피할 때에 이점을 가질 수 있다.
본 발명의 하나의 구성에서는, 고니오라디오미터의 상이한 위치에 속하는 입체각 영역의 측정 벽 상의 반사 후에 센서 칩에 의해 포착된 광 분포가 조합되어 큰 입체각 영역에 속하는 광 분포를 형성하도록 제공된다. 이를 위해 적합한 알고리즘이 사용될 수 있다. 상기 조합은 개별 이미지들의 중첩으로 실시될 수 있다.
본 발명의 또 다른 구성에 따르면, 광이 적어도 하나의 결상 렌즈(imaging lens) 또는 적어도 하나의 결상 렌즈 시스템(imaging lens system)을 통해 방사원과 적어도 2개의 센서 사이를 통과하도록 제공된다. 여기서, 방사원으로부터 방출된 광을 포커싱하거나 더욱 수렴하는 하나 이상의 렌즈가 제공될 수 있다. 이 구성은 기술된 모든 변형예에서 사용될 수 있다. 이러한 "단축 렌즈(shortening lens)"를 사용함으로써, 원거리장(far field)이 짧아지거나 더 가까워진다. 이는, 예를 들어 예시적인 실시예들 중 하나에 따라 제공된 반사성 측정 벽이 더 이상 실제 원거리장에 배열될 필요가 없다는 것을 의미한다. 방사원과 적어도 2개의 센서 사이에 렌즈를 사용함으로써, 측정 거리가 짧아지고 광 분포의 크기가 감소된다.
또 다른 발명 양태에서, 본 발명은 광 방사원의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 방향 의존성 측정을 위한 고니오라디오미터에 관한 것이다. 상기 고니오라디오미터는,
- 방사원으로부터의 방사를 측정하기에 적합한 적어도 하나의 위치적으로 고정되고(locationally fixed) 이동 불가능하게 배열된 센서, 및
- 상기 센서가 방사원의 방사 중심에 대한 실질적으로 구면 상의 조명 또는 방사 특성 변수를 표시하는 측정값을 기록하도록, 측정 동작 중에 방사원을 제1 축 및 이 제1 축에 수직인 제2 축에 대해 이동시키기 위한 장치를 갖는다.
본 발명에 따르면, 측정 중에 동시에 측정값을 제공하도록 배열되는 적어도 2개의 센서가 제공된다.
또 다른 발명 양태에 따르면, 본 발명은 광 방사원의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 방향 의존성 측정을 위한 고니오라디오미터에 관한 것으로, 상기 고니어라디오미터는,
- 측정 동작 중에 방사원을 제1 축 및 이 제1 축에 수직인 제2 축에 대해 이동시키기 위한 장치,
- 방사원으로부터의 광이 반사되는, 균일한 반사를 나타내는 측정 벽, 및
- 광학 유닛 및 센서 칩을 갖는 위치적으로 고정되고 이동 불가능하게 배열된 카메라를 갖고,
- 상기 카메라는, 측정 벽 상에 반사된 광을 포착하도록 배열되며, 반사광은 카메라의 광학 유닛에 의해 카메라의 센서 칩 상에 결상되고,
- 상기 센서 칩은 측정 동작 중에 방사원이 이동됨에 따라 측정값을 기록하며, 측정값은 방사원의 방사 중심에 대한 실질적으로 구면 상의 조명 또는 방사 특성 변수를 표시한다.
상기 고니오라디오미터의 이러한 구성에 따르면, 고니오라디오미터의 센서는, 특히 CCD 센서 또는 CMOS 센서인 센서 칩에 의해 제공된다. 여기서, 균일 반사 벽 위에 이러한 유형의 센서 칩을 갖는 카메라를 사용하여 광 방사원의 간접 측정이 실시되는 배열이 고려된다.
이러한 구성의 바람직한 변형예에 따르면, 여기서 측정 벽은 방사원의 광 분포의 원거리장 내에 있고, 즉 측정 물체가 대략 점 광원으로서 간주될 수 있는 거리에 있다. 원거리장 내의 배열은, 변형예에서 렌즈 또는 렌즈 시스템이 방사원과 측정 벽 사이에 배열되도록 실시될 수 있어, 측정 거리를 단축하고 측정 벽 상의 광 분포의 크기를 감소시키게 된다. 이 변형예에 따르면, 원거리장은, 이를테면 렌즈 또는 렌즈 시스템을 통해 방사원에 더 가까워지며, 더 짧은 거리로 측정 벽 상에 결상된다.
본 발명은 복수의 예시적인 실시예에 기초하여 도면을 참조하여 이하에서 더욱 상세히 설명될 것이다.
도 1은 고니오라디오미터의 수직 배열된 센서들의 정면도 및 측면도를 나타내고;
도 2는 2개의 축에 대해 패닝 가능한 광 방사원과 함께 도 1의 배열을 나타내며;
도 3은 고니오라디오미터의 수평 배열된 센서의 정면도 및 측면도를 나타내고;
도 4는 2개의 축에 대해 패닝 가능한 광 방사원과 함께 도 3의 배열을 나타내고;
도 5는 임의의 원하는 각도 거리를 실현할 수 있게 하는 피봇식으로 장착된 선형 센서 어레이를 나타내고;
도 6은 수평 또는 수직 스캔 동안 매트릭스의 고니오라디오미터의 센서의 2차원 배열을 나타내고;
도 7은 반사성 측정 벽, 및 일체화된 광학 유닛 및 센서 칩을 갖는 카메라를 포함하는 고니오라디오미터를 나타내고;
도 8은 측정 거리를 단축시키고 측정 벽 상의 광 분포의 크기를 감소시키기 위해 렌즈가 추가로 제공되어 있는, 도 7에 따른 배열을 개략적으로 나타내고;
도 9는 도 7 또는 도 8에 따른 고니오라디오미터의 비교적 큰 입체각 요소 내에 구면을 형성하기 위한 복수의 벽 부분의 조합을 개략적으로 나타내고;
도 10은 중앙에 측정될 광 방사원이 위치하는 구좌표계를 도시하고;
도 11은 A 평면들 및 B 평면들의 측정을 위해 공간적으로 고정된 수평 축 및 공간적으로 이동 가능한 수직 축을 갖는 유형 1.1의 고니오라디오미터를 개략적으로 나타내고;
도 12는 A 평면들 및 B 평면들을 측정하기 위해 공간적으로 고정된 수직 축 및 공간적으로 이동하는 수평 축을 갖는 유형 1.2의 고니오라디오미터를 개략적으로 나타내고;
도 13은 공간적으로 고정된 수직 축 및 공간적으로 이동 가능한 수평 축을 갖고, 여기서 방사원이 이동 축, 예를 들어 C 평면들에 수직인 유형 1.3의 고니오라디오미터를 개략적으로 나타내고 있다.
도 1은 고니오라디오미터의 수직 배열된 센서들의 정면도 및 측면도를 나타내고;
도 2는 2개의 축에 대해 패닝 가능한 광 방사원과 함께 도 1의 배열을 나타내며;
도 3은 고니오라디오미터의 수평 배열된 센서의 정면도 및 측면도를 나타내고;
도 4는 2개의 축에 대해 패닝 가능한 광 방사원과 함께 도 3의 배열을 나타내고;
도 5는 임의의 원하는 각도 거리를 실현할 수 있게 하는 피봇식으로 장착된 선형 센서 어레이를 나타내고;
도 6은 수평 또는 수직 스캔 동안 매트릭스의 고니오라디오미터의 센서의 2차원 배열을 나타내고;
도 7은 반사성 측정 벽, 및 일체화된 광학 유닛 및 센서 칩을 갖는 카메라를 포함하는 고니오라디오미터를 나타내고;
도 8은 측정 거리를 단축시키고 측정 벽 상의 광 분포의 크기를 감소시키기 위해 렌즈가 추가로 제공되어 있는, 도 7에 따른 배열을 개략적으로 나타내고;
도 9는 도 7 또는 도 8에 따른 고니오라디오미터의 비교적 큰 입체각 요소 내에 구면을 형성하기 위한 복수의 벽 부분의 조합을 개략적으로 나타내고;
도 10은 중앙에 측정될 광 방사원이 위치하는 구좌표계를 도시하고;
도 11은 A 평면들 및 B 평면들의 측정을 위해 공간적으로 고정된 수평 축 및 공간적으로 이동 가능한 수직 축을 갖는 유형 1.1의 고니오라디오미터를 개략적으로 나타내고;
도 12는 A 평면들 및 B 평면들을 측정하기 위해 공간적으로 고정된 수직 축 및 공간적으로 이동하는 수평 축을 갖는 유형 1.2의 고니오라디오미터를 개략적으로 나타내고;
도 13은 공간적으로 고정된 수직 축 및 공간적으로 이동 가능한 수평 축을 갖고, 여기서 방사원이 이동 축, 예를 들어 C 평면들에 수직인 유형 1.3의 고니오라디오미터를 개략적으로 나타내고 있다.
본 발명이 예시적인 실시예를 이용하여 도 1 내지 도 9를 참조하여 더욱 상세히 설명되기 전에, 본 발명의 향상된 이해를 돕기 위해서 우선 도 10 내지 도 13에 기초하여 본 발명의 배경이 설명될 것이다.
도 10은 각도 파이(φ) 및 세타(θ)의 정의를 예시하는 구좌표계를 나타내고 있다. 방사원이 이러한 구좌표계의 원점에 위치하는 경우, 방사원의 조명 또는 방사 특성 변수는 방사원을 이동시킴으로써 또는 각도 범위 -180° ≤ φ ≤180° 및 0 ≤ φ ≤180에서 연속적으로 센서를 이동시킴으로써 각도 측정에 의해, 즉 모든 방향에 대해 측정될 수 있다. 따라서, 방출 방향은 2개의 각도 φ, θ에 의해 정의될 수 있다.
A 평면들, B 평면들 및 C 평면들로 표기되고 전술한 DIN 5032 파트 1에 설명되어 있는 특정 평면계를 이용하여, 광도 분포, 또는 다른 방향 의존성 조명 또는 방사 특성 변수를 기술하는 것이 통상적이다. 각 평면계는 광원의 광 중심에서 교차하는 2개의 축을 정의한다. 제1 축은 평면계의 모든 평면이 교차하는 교차선에 의해 주어진다. 제2 축은 방사원 내의 램프의 방위에 의해 주어진다.
A 평면들에서, 개별 평면들은 -180° ≤ X ≤ 180°를 갖는 각도들 Ax로 식별된다. A 평면 내에서, 방향들 또는 방출 각도들 α는 -90° ≤ α ≤ 90°의 각도 α로 주어진다.
B 평면들에서, 개별 평면들은 -180° ≤ X ≤ 180°를 갖는 각도들 Bx로 식별된다. B 평면 내에서, 방향들은 -90° ≤ β ≤ 90°의 각도 β로 표시된다.
C 평면들에서, 개별 평면들은 0° ≤ X ≤ 360°를 갖는 각도들 Cx로 식별된다. C 평면 내에서, 방향들은 0° ≤ γ ≤ 180°의 각도 γ로 표시된다.
도 10으로 돌아가면, 극축(polar axis)이 z-축에 평행하게 연장되는 정도까지, 각도 φ 및 θ는 C 평면계 Cx, γ를 기술하고 있음에 유의해야 하며, 여기서 φ = Cx이고 θ = γ이다.
도 11 내지 도 13은 유형 1.1 내지 1.3의 고니오라디오미터를 개략적으로 나타내고 있다. 각각의 경우에서는, 발광 영역을 갖는 방사원, 센서(원) 및 2개의 축이 개략적으로 도시되어 있고, 상기 축들에 대해 방사원이 패닝될 수 있다. 축들 중 하나는 공간적으로 고정되고, 즉 방사원이 이 축에 대해 패닝되는 경우, 그의 공간적인 정렬은 변하지 않는다. 다른 축은 공간적으로 고정되지 않는데, 이는 고정 축에 대해 패닝하는 경우에, 다른 축의 공간적인 정렬이 반드시 변하기 때문이다.
도 11에 따른 유형 1.1의 고니오라디오미터에서는, 그의 공간적인 위치에 고정되는 수평 축 및 그의 공간적인 위치에서 이동 가능한 축이 존재하고, 상기 축이 도 11의 예시에서는 수직으로 연장하고 있지만 상기 배열이 수평 축에 대해 패닝될 때에는 그의 공간적인 위치를 변화시킨다. A 평면들 또는 B 평면들의 측정이 실시된다.
따라서, A 평면들을 측정하는 데에 사용되는 유형 1.1의 고니오라디오미터는 그의 공간적인 위치에 고정되는 수평 축을 실현한다. 상기 배열이 고정된 수평 축에 대해 방사원과 함께 이동되거나 스캐닝되는 경우에는, 방출 각도 α가 가변되고 있는 A 평면들이 기록된다. 그러나, 이동식 수직 축이 측정 동작 중에 고정된 α를 두고 이동하는 경우에는, 파라미터 Ax가 가변되고, 그 결과 고정된 센서가 "위도" 상의 구면 상을 진행한다. 후자의 동작 모드는 통상적으로 자동차 전조등을 특징짓기 위해 사용된다.
도 12에 따른 유형 1.2의 고니오라디오미터에서는, 고정된 수직 축 및 이동 가능한 수평 축이 존재한다. 마찬가지로 A 평면들 또는 B 평면들에서도 측정이 수행된다. 도 13에 따른 유형 1.3의 고니오라디오미터에서는, 고정된 수직 축 및 이동 가능한 수평 축이 존재한다. 측정은 C 평면들에서 실시된다.
이러한 설명으로부터 진행하여, 이제 본 발명의 제1 예시적인 실시예가 도 1에 기초하여 설명될 것이다. 본 발명은 일반적으로 유형 1.1, 1.2 및 1.3의 고니 오라디오미터에 의한 구현에 적합하다.
도 1은 선형 어레이(10)에서의 센서들(1)의 수직 배열을 나타내고 있다. 여기서, 개별 센서들 사이의 거리(d)는 모든 센서(1)에 대해 일정하다. 센서(1)는 도 1의 우측 도면에서 알 수 있는 바와 같이, 도 2에 추가로 도시되어 있고 도 10에 따른 좌표계의 원점에 위치해 있는 측정될 물체로부터 동일한 거리(r)를 갖는다. 여기서, 수직 배열된 선형 어레이(10)의 센서들(1)은 큰 원 상에 배열되고 측정될 물체와 정렬되도록 제공될 수 있다.
도 1은 또한 스캔 방향(A)을 표시하고 있다. 상기 스캔 방향(A)은 수평 방향으로 또는 개별 센서들(1)의 선형 정렬에 수직으로 실현된다. 이는, 서로 수직인 2개의 축(31, 32)에 대해 패닝할 수 있는 측정될 물체(2)를 추가로 나타내고 있는 도 2에 기초하여 더욱 도시되어 있다. 도 11에 따른 유형 1.1의 고니오라디오미터는 도시된 예시적인 실시예에서 실현된다.
센서(1)는 원칙적으로 100nm 내지 1㎛의 파장 범위 또는 이 파장 범위의 소구역에서 광 방사를 측정하기에 적합한 임의의 원하는 센서일 수 있다. 센서는 예를 들어 광도계이다. 센서(1)는 부분 또는 전체 필터링을 수행하도록 제공될 수 있고, 이를 통해 센서의 감도가 표준 눈의 감도 곡선을 모방한다. 센서(1)는, 예를 들어 출력값으로서 휘도값을 출력할 수 있다.
도 1 및 도 2에 도시된 다수의 센서의 선형 배열에서, 도 10에 따른 좌표계의 다수의 위도는 스캔 방향(A)으로, 즉 수평 방향으로 수행하는 스캐닝 동작에서 동시에 측정된다. 여기서, 2개 내지 10개, 특히 3개 내지 5개의 개별 센서가 선형 배열로 제공되도록 제공될 수 있다. 센서(1)는 바람직하게는 측정될 광 방사원(2)의 원거리장에, 예를 들어 25m의 거리에 위치하지만, 도 9를 참조하여 설명되는 바와 같이, 특히 렌즈가 빔 경로 내에 추가로 삽입되는 경우, 예컨대 10m의 더 짧은 거리가 또한 실현될 수 있다.
다수의 센서(1)를 사용함으로써, 포착될 입체각이 일정한 품질의 센서 신호로 더욱 신속하게 포착되고, 그 결과 측정 시간이 단축된다. 예를 들어 도 1 및 도 2의 예시적인 실시예에서, 복수의 위도가 스캔 중에 포함되어, 후속의 스캔 동작들 중 하나에서, 광 방사원(2)이 축(32)에 대해 대응적으로 큰 각도로 기울어질 수 있다.
따라서, 고정된 각도 거리를 둔 복수의 센서의, 도 1 및 도 2에 도시된 수직의 등거리 배열은 광 분포의 수평 스캐닝의 경우에 유리하고, 여기서 각도 분포의 복수의 수평 횡단면이 동시에 기록된다. 0.05°가 30mm 직경의 수광면을 갖는 25m 거리에 있는 검출기들에서의 검출기 커버리지에 대한 통상적인 각도 치수이므로, 하나의 구성에서, 적합한 센서들의 거리(d)는 0.05°의 배수, 예컨대 0.1°, 0.15°, 0.2° 또는 0.25°이다. 그러나, 다른 각도 거리도 가능하다. 즉, 2개의 인접하는 센서는, 예를 들어, 각각의 경우에서 인접하는 센서들이 원주 상에 위치하며 방사원(2)이 원 중앙에 위치하는 원이 고려되는 경우에 적어도 0.1°의 각도 거리(d)를 갖는다. 25m의 반경에 대해, 인접하는 센서들 간의 거리는, 예를 들어 적어도 4cm, 특히 적어도 7cm, 특히 7cm와 15cm 사이이지만, 더 큰 거리가 실현될 수도 있다. 개별 센서들은 국부적으로 분리되어 있다.
모든 해결책에서, 모든 센서의 정확한 조정은 광 이미지의 진동(모아레 형상(Moire figure)라 알려짐)을 방지하기 위해서 중요하다. 이는, 이러한 조정을 수행할 수 있도록 하기 위해서 센서들의 소정의 중첩으로 동작시킴으로써 측정 중에, 초기 교정에 추가로 행해질 수 있다. 상기 조정은 포인트 동작 또는 스캔 동작에서 실시될 수 있다.
도 3 및 도 4는, 복수의 센서(1)가 고정된 거리(d)를 두고 수평으로 배열되고, 여기서 센서들이 수평으로 배열된 선형 어레이(11)를 형성하는, 도 1 및 도 2에 따른 배열을 나타내고 있다. 스캔 방향(B)은 수직 방향으로 또는 선형 어레이(11)의 종축에 수직으로 실현된다. 다시 한번, 센서(1)는 바람직하게는 측정될 광 방사원(2)과의 정렬로 큰 원 상에 배열된다. 그 결과, 센서(1)의 수광면 상의 광의 수직 입사가 보장된다. 또한, 고정된 반경(r)을 갖는 큰 원 상에 센서를 배열하는 것은 추후 평가의 계산에서 조정시 더 간단한 알고리즘을 가능하게 한다.
도 3 및 도 4의 예시적인 실시예에서, 복수의 경도는 축(32)에 대한 각각의 스캔으로 포함되거나 기록된다.
도 5는 복수의 센서(1)가 재차 센서들 간에 일정한 거리(d)를 두고 선형 어레이(12)로 배열되어 있는 예시적인 실시예를 나타내고 있다. 여기서, 개별 센서들(1) 또는 그들의 수광면의 중심점들(바람직하게는 모든 고려되는 예시적인 실시예에서 원으로 구성됨)은 도 5의 구성에서 수평 또는 수직으로 연장되는 것이 아니라, 비스듬히 연장되는 축(41)을 따라 연장된다. 센서들의 전체 배열, 즉 선형 어레이(12)는 축(41)에 수직으로 연장되는 축(42)에 대해 패닝 가능하도록 또한 제공된다.
전체 배열이 고려되는 광축(43)에 대해 피봇 가능한 각도가 도 5에 δ로 표기되어 있다.
피봇 각도에 따라, 도 5의 어레이(12)에 의한 스캐닝 중, d * cosδ의 개별 센서들의 수평 오프셋이 발생하며, 이는 데이터의 추후 준비에서 계산에 의해 재차 제거될 수 있다. 이와 마찬가지로, d * sinδ의 수직 단계로 스캐닝하기 위한 수직 오프셋이 존재한다. 따라서, 도 5에서 비스듬히 정렬되는 센서 배열은 수평 스캐닝 및 수직 스캐닝 양쪽에서 사용될 수 있다.
따라서, 광축에 대하여 대칭적으로 배열되고 이 축에 대해 전체 유닛으로서 임의의 각도 δ만큼 피봇식으로 장착되는 복수의 센서(1)의 선형 등거리 배열은 센서들의 임의의 수직 또는 수평 각도 거리의 설정을 가능하게 한다. 여기서, 다시 한번, 센서들이 측정 물체(2)에 대해 큰 원 상에 배열되는 경우에 유리하며, 그 결과 센서의 수광면 상의 광의 수직 입사가 보장된다.
도 5의 예시적인 실시예에서는, 선형 어레이(12)가 피봇될 수 있는 피봇축(42)이 대안적으로 센서들(1) 사이에(그리고 이에 따라 재차 축(41)에 수직으로) 구성될 수도 있다는 사실이 언급된다.
도 6은 복수의 센서(1)가 매트릭스 형태로 또는 n행과 m열의 2차원 그리드로 배열되는 배열을 나타내고 있다. 여기서, 열(m) 내의 센서들 간의 거리(d)는 일정하다. 또한, 행(n) 내의 센서들(1)의 거리도 바람직하게는 일정하다. 여기서, 개별 센서들(1) 또는 그들의 수광면은 구면 상에 배열될 수 있고, 그 결과 측정될(좌표계의 원점에 위치한) 물체로부터의 거리(r)는 각각의 경우에 일정하다. 따라서, 행 내 및/또는 열 내의 센서들(1) 간의 입체각 거리도 일정하다.
구면 대신에, 센서(1)는 기계 구성을 단순화할 목적으로, 일정한 입체각 거리가 유지되는 한, 대안적으로 임의의 원하는 다른 표면, 예컨대 평면 상에 장착될 수도 있다.
도 6에 따른 매트릭스(13) 내의 센서들의 배열은 수평 및/또는 수직 스캔의 실현을 가능하게 하며, 여기서 각각의 스캔에서, 복수의 위도 및/또는 경도가 포함된다.
2차원 그리드(13)로 복수의 센서(1)를 배열하는 것은 도 1 내지 도 4에 따른 개별 센서들(1)의 집합일 수 있고, 여기서 센서는, 예를 들어 분광 복사계, 광도계, 광전자 증배관, 또는 적외선, 자외선 또는 색상 측정 헤드이다. 상기한 바와 같이, 여기서 센서들(1)은 바람직하게는 광도 측정 변수를 포착하기 위해 광도 측정에 의해 보정되고, 즉 표준 눈의 감도 곡선으로 가중된다.
센서들의 매트릭스 배열을 사용할 때, 고니오라디오미터는 반드시 순수 스캐닝 작업으로 동작하는 것이 아니라, 하나의 입체각 그리드의 노출로부터 다음 그리드로 전환될 수 있다. 이들 노출 또는 측정값의 기록은 "온더 플라이(on-the-fly)", 즉 고니오라디오미터의 일정한 각속도로 실현될 수 있다. 그러나, 매트릭스 내의 배열은 대안적으로 방사원의 작은 듀티 사이클로 신뢰성 있는 측정값을 얻기 위해서 충분히 긴 기간 동안 개별 측정 지점들에서의 광 입사를 적분할 가능성을 제공한다.
도 7은, 개별 센서들이 카메라(7) 내에 메트릭스 형태로 배열되어 있고, 여기서 측정될 방사원(2)의 간접 측정이 균일 반사 벽(5)을 통해 실시되는, 본 발명의 예시적인 실시예를 나타내고 있다.
도 7은, 2개의 광축(31, 32)에 대해 재차 패닝할 수 있는 방사원(2)에 추가로, 반사성 측정 벽(5) 및 카메라(7)를 갖는 고니오라디오미터를 나타내고 있다. 측정 벽(5)은 특히 백색을 균일하게 반사하도록 구성된다. 백색 반사면은 확산성이고, 무지향성 반사(리미션(remission)이라고도 지칭됨)를 나타내고 있다. 이것이 반사 법칙을 충족시키는 직접 반사를 갖는 거울을 나타내는 것은 아니다. 카메라(7) 내에 배열되고 개략적으로 도시된 2차원 CCD 센서 또는 CMOS 센서(100)(이하에서 양쪽의 변형예에 대해 센서 칩으로서 지칭됨)는, 2차원 센서 칩(100)의 각 픽셀에 반사성 측정 벽(5)의 벽 요소가 할당되도록 예를 들어 렌즈 형태로 카메라(7)에 일체화된, 마찬가지로 개략적으로 도시된 광학 유닛(8)과 협력한다.
또한, 개구부(51)가 측정 벽(5) 내에, 예를 들어 방사원(2)(예를 들어, 조명 기구(luminaire), 전조등 또는 발광 수단임)의 광축(35) 상에 구성되고, 개구부를 통해 방사원(2)으로부터 방출된 광이 통과하여 개별 센서(1')에 의해 검출된다. 여기서, 센서(1')는 벽(5) 뒤 또는 대안적으로 개구부(51) 내의 축(35) 상에 위치한다. 그러나, 센서(1')는 광원 또는 조명 기구의 원거리장에 위치하는 것이 보장되는 한, 임의의 원하는 방향으로 배열될 수도 있다.
방사원(2)은, 도시된 예시적인 실시예에서, 자동차 전조등의 통상적인 광 분포에 대응하는 광 분포(6)를 측정 벽(5) 상에 발생시킨다. 광 분포(6)는 축(31, 32)에 대한 각각의 패닝 운동 동안 센서 칩(100)을 통해 포착된다. 여기서, 벽(5)은 바람직하게는 고니오라디오미터의 측정 축(35)에 수직이다. 그러나, 다른 방위도 가능하지만, 이에 따라 야기되는 광 분포의 왜곡은 평가 알고리즘을 통해 대응적으로 보정되어야 한다. 고니오라디오미터는, 측정 물체(2)의 광 분포에서의 원하는 입체각이 벽(5)을 조사하여 광학 유닛(8)을 통해 카메라의 센서 칩(100)에 의해 포착되도록 측정 물체(2)를 개별 각도 위치로 피봇시킨다.
여기서, 반사 목적으로 사용되는 측정 벽(5)은 바람직하게는 측정 물체(2)의 광 분포의 원거리장에, 즉 측정 물체(2)가 대략 점 광원인 것으로 간주될 수 있는 거리에 위치한다. 포커싱 전조등에 대해 이들은 10m 초과의 거리일 수 있는 한편, 간단한 신호등에 대해서는 3.16m(= v10) 또는 5m의 거리가 통상적이다.
따라서, 도 7의 구성에서, 충분히 균일하게 반사하는 측정 벽(5)과 조합하는 카메라(7)의 센서 칩(100)을 통해 실현되는 센서들의 매트릭스형 배열이 제공되며, 여기서 카메라(7)는 적합한 광학 유닛을 통해 측정 벽(5)을 관찰한다. 여기서, 카메라(7)의 센서 칩(100)은 바람직하게는 광도 측정에 의해 보정되지만, 이것이 반드시 모든 측정 작업에서 필요한 것은 아니다.
카메라(7)를 통한 간접 측정의 경우에서의 측정 역동성은 광도계에 의한 직접 측정에 비해 더 작다. 이는, 카메라(7)를 사용할 때에 측정 공간 및 대물 렌즈 양쪽에서의 산란 광 억제가 제한된다는 사실과 관련되어 있다. 이러한 이유 때문에, 100:1 초과의 역동성은 매우 큰 경비 지출에 의해서만 달성될 수 있다. 이를 고려하면, 개별 구역에서의 광 분포의 중요한 지점, 예컨대 최대값 또는 최소값은, 역동성이 큰 고정식으로 부착된 광도계 헤드를 갖는 고니오라디오미터의 대응하는 정렬을 통해, 카메라(7)의 센서 칩(100)으로 확인한 후, 추후에 측정되도록 제공될 수 있다. 이는, 특히 휘도값이 낮은 광 분포(6)의 영역에 대해 의미가 있는데, 그 이유는 이러한 경우에 카메라(7)를 사용하는 공정이 산란광 문제로 인해 그 한계에 도달하기 때문이다. 그러나, 휘도값이 높은 지점은 또한 광도계(예컨대, 부분 필터링을 갖는 광도계)를 사용하여 정확히 측정될 수 있고, 추후에 그 값이 카메라 센서(100)를 교정하기 위해 사용될 수 있다.
역동성이 높은 통상적인 광 센서를 통해 형성되는, 도 7에 도시된 센서(1')는 이러한 고정식으로 설치된 광도계 헤드이다. 센서(1')는, 측정 중, 현재 개구부(51) 내로 들어가고 센서 칩(100)에 의해 포착되는 광 분포(6)의 영역을 정확히 교정하는 데에 사용될 수 있다. 적절한 경우, 또 다른 개구부 및 관련 센서가 측정 벽(5) 내에 제공될 수 있다. 교정이 고정식으로 설치된 센서(1')를 통해 실현될 수 있기 때문에, 측정 벽(5) 및 카메라(7)의 조합만이 광 분포의 중요한 지점의 각도 결정을 위해 사용될 필요가 있다. 이는, 측정 벽(5) 및 카메라(7)의 조합이 절대적으로 교정될 필요가 없지만, 광도계에 의한 측정 중에 교정될 수 있기 때문에, 측정값의 추적 가능성의 이점과 관련되어 있다.
측정 벽(5)에 대한 카메라(7)의 경사진 배열로 인해 발생하는 왜곡은 평가 중에 계산에 의해 제거된다는 것에 유의해야 한다.
도 8은 광 방사원(2), 측정 벽(5), 카메라(7), 개구부(51) 및 광 센서(1')를 갖는 도 7에 따른 배열을 나타내며, 여기서 추가로 결상 렌즈(9)가 방사원(2)과 측정 벽(5) 사이의 빔 경로 내에 배열되어 있다. 그러나, 개별 렌즈(9)의 도시는 단지 개략적이며, 예시인 것으로 이해되어야 한다. 원칙적으로, 방사원(2)에 의해 방출된 빔 경로를 포커싱하거나 더욱 수렴하는 임의의 원하는 렌즈 시스템 또는 임의의 원하는 렌즈들이 사용될 수 있다.
도 7의 구성에서, 측정 벽(5)은 정확한 광 분포를 포착할 수 있도록 방사원(2)의 원거리장 내에 배열되어야 한다. 조명 기구 및 전조등을 ±20°의 방출 각도로 좁게 방출하는 경우에도, 10m 거리에서 7.3m의 측정 벽의 폭이 여기서 얻어진다. 더 큰 방출 각도에 대해, 필요한 공간은 대폭 증가한다. 최근의 자동차 매트릭스 전조등에 일반적인, 원거리장이 단지 50m인 것으로 가정하면, 큰 구멍이 측정 벽을 제공하는데 필요할 것이다.
큰 공간 요구의 문제는, 이하에 "단축 렌즈"로서 지칭되는, 렌즈(9)의 사용을 통해 해결된다. 렌즈(9)는 측정 거리를 단축시키고 측정 벽 상의 광 분포의 크기를 감소시킨다. 결과적으로, 원거리장은, 예컨대 50m인 것으로 가정되는 것이 아니라, 미리 10m의 거리에 있다. 단축 렌즈의 사용은, 벽(5) 상의 광도가 단축 인자의 제곱에 따라 증가하기 때문에, 짧은 적분 시간이 측정 동작 중에 가능하다는 이점도 있다.
도 9는 복수의 벽 부분이 도 7 및 도 8에 따른 고니오라디오미터를 사용하여 더 큰 입체각 요소 내에 구면을 형성하도록 조합되는 경우의 입체각 영역들의 그룹을 도시하고 있다. 도 9는 방사원(2) 및 그의 광축(35), 방사원(2)이 피봇할 수 있는 2개의 서로 수직으로 배열된 축(31, 32), 카메라(7) 및 균일하게 반사하는 측정 벽(5)을 나타내며, 여기서 개별 입체각 요소에 대응하는 개별 벽 부분들(55) 또는 좌표 원점 내에 방사원(2)을 갖는 구좌표계의 입체각 영역들(56)이 측정 벽 상에 개략적으로 도시되어 있다.
개별 입체각 그리드들을 서로 나란히 배열함으로써, 전체 광 분포가 조합될 수 있다. 이를 위해, 해상도를 개선할 목적으로, 개별 입체각들의 조합이 개별 이미지들(공지된 바와 같이, 용어 "포토-스티칭(photo-stitching)"에 의해 파노라마 기록을 작성할 때)의 중첩으로 실현되는 인터레이스 방법이 제공될 수 있다.
그 구성의 관점에서, 본 발명은, 단지 예시인 것으로 이해되어야 하는 상기 도시된 예시적인 실시예에 한정되지 않는다. 본 발명의 개별 기술된 예시적인 실시예의 특징부들은 서로 다른 조합으로 조합될 수 있다는 사실에 대해서도 언급된다. 범위들이 정의되는 경우, 이들은 이들 범위 내의 모든 값 및 범위 내에 속하는 모든 소구역을 포함한다.
Claims (30)
- 광 방사원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 방향 의존성 측정을 위한 고니오라디오미터(gonioradiometer)로서,
- 측정 동작 중에 방사원(2)을 제1 축(31) 및 상기 제1 축(31)에 수직인 제2 축(32)에 대해 이동시키기 위한 장치,
- 상기 방사원(2)으로부터의 광이 반사되는, 균일한 반사를 나타내는 측정 벽(5), 및
- 위치 고정되고 움직이지 않게 배열되며, 적어도 하나 이상의 렌즈를 갖는 광학 유닛(8) 및 2차원 센서 칩(100)을 구비한 카메라(7)를 갖고,
- 상기 카메라(7)는 상기 측정 벽(5) 상에 반사된 광을 포착하도록 배열되고, 상기 반사광은 상기 카메라(7)의 상기 광학 유닛(8)에 의해 상기 카메라(7)의 상기 센서 칩(100) 상에 결상되며,
- 상기 센서 칩(100)은 측정 동작 중에 상기 방사원(2)이 회전됨에 따라 측정값을 기록하는- 상기 측정값은 상기 방사원(2)의 방사 중심에 대해 정의된 구면 상의 상기 조명 또는 방사 특성 변수를 나타냄 -, 고니오라디오미터. - 제1항에 있어서,
상기 측정 벽(5)은 상기 방사원(2)의 광 분포의 원거리장(far field) 내에 위치하는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 반사성의 측정 벽(5)의 개구부(51), 및 상기 측정 벽(5)을 사이에 두고 상기 방사원(2)의 반대편에 위치하거나 또는 상기 개구부(51) 내에 위치한 센서(1')가 더 제공되며, 상기 센서는 상기 방사원(2)으로부터의 광이 상기 개구부(51)를 통해 상기 센서(1')를 직접 조명하도록 배열되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제3항에 있어서,
상기 센서(1')에 의해 검출된 신호를 고려하여, 상기 센서 칩(100)을 교정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제1항에 있어서,
적어도 하나의 결상 렌즈(9) 또는 적어도 하나의 결상 렌즈 시스템이 상기 방사원(2)에 의해 방출되는 빔 경로를 포커싱하거나 더욱 수렴하며, 상기 방사원(2)과 상기 측정 벽(5) 사이에 배열되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제1항에 있어서,
상기 고니오라디오미터는 측정 동작 중에 상기 방사원(2)을 상기 제1 축(31) 및 상기 제1 축(31)에 수직인 상기 제2 축(32)에 대해 피봇하도록 구성되며, 상기 방사원은 개별 각도 위치로 피봇되어 상기 방사원(2)의 광 분포에서의 원하는 입체각들이 측정 벽(5)을 조사하고 상기 광학 유닛(8)을 통해 상기 카메라(7)의 상기 센서 칩(100)에 의해 포착되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제1항에 있어서,
상기 측정 벽(5)은 백색의 균일한 반사면을 나타내는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 적어도 하나의 센서(1)를 갖는, 광 방사원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 방향 의존성 측정을 위한 방법으로서, 상기 광 방사원(2)은 측정 동작 중에 제1 축(31) 및 상기 제1 축에 수직인 제2 축(32)에 대해 피봇되며, 상기 적어도 하나의 센서(1)는 위치 고정되고 움직이지 않게 배열되고, 상기 방사원(2)은 측정 중에 이동되어 상기 적어도 하나의 센서(1)가 상기 방사원(2)의 방사 중심에 대해 정의된 구면 상의 상기 조명 또는 방사 특성 변수를 나타내는 측정값을 기록하는 방법에 있어서,
측정 중에 동시에 측정값을 제공하는 적어도 2개의 센서(1, 100)가 제공되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제8항에 있어서,
상기 적어도 2개의 센서(1)는 경도 또는 위도 상에 배열되고 여기서 상기 광 방사원(2)과 정렬되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제8항 또는 제9항에 있어서,
상기 광 방사원(2)은, 스캔 중에 상기 2개의 축(31, 32) 중 하나에 대해 피봇되는 한편, 다른 축(32, 31)은 스캔 중에 고정되며, 상기 적어도 2개의 센서(1)는 상기 광 방사원(2)이 피봇되는 상기 축(31, 32)의 방향과 일치하는 방향의 축을 따라 배열되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제8항에 있어서,
상기 적어도 2개의 센서(1)는 서로 겹쳐서 수직으로 배열되며, 상기 광 방사원(2)은 수평 방향을 따라 패닝되는(panned) 것을 특징으로 하는, 방법. - 제8항에 있어서,
상기 적어도 2개의 센서(1)는 서로 나란히 수평으로 배열되며, 상기 광 방사원(2)은 수직 방향을 따라 패닝되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제8항 또는 제9항에 있어서,
상기 적어도 2개의 센서(1)는 축(41) 상에 선형으로 서로로부터 일정한 거리에 배열되고, 상이한 스캔을 위해, 이 축(41)에 수직인 축(42)을 중심으로 전체로서 그들의 선형 배열로 피봇되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제8항 또는 제9항에 있어서,
상기 적어도 2개의 센서(1)는 2차원 어레이(13) 형태로 배열되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제8항에 있어서,
2개의 인접하는 센서(1)는, 원주 상에 상기 인접하는 센서들이 위치하고 그 중앙에 상기 방사원(2)이 위치하는 원이 고려되는 경우, 각각의 경우에 적어도 0.1°의 각도 거리를 갖는 것을 특징으로 하는, 방법, - 제8항에 있어서,
상기 방사원(2)으로부터의 광은 측정 벽(5) 상에 균일한 반사로 반사되고, 상기 반사광은 카메라(7)에 의해 포착되며, 상기 반사광은 상기 카메라(7)에 구비되며 적어도 하나 이상의 렌즈를 갖는 광학 유닛(8)에 의해 2차원 센서 칩(100) 상에 결상되고, 상기 적어도 2개의 센서는 상기 센서 칩(100)의 픽셀에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제16항에 있어서,
상기 방사원(2)으로부터의 광은 추가로 상기 반사성 측정 벽(5) 내의 개구부(51)를 통해 또 다른 센서(1')를 직접 조사하고, 이 센서(1')에 의해 포착된 신호가 상기 센서 칩(100)의 교정을 위해 사용되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제16항에 있어서,
상기 방사원(2)은 광 분포의 원하는 입체각 영역(56)이 상기 측정 벽(5)을 조사하고 상기 광학 유닛(8)을 통해 상기 센서 칩(100)에 의해 캡처되도록 개별 각도 위치로 피봇되는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제16항에 있어서,
상기 고니오라디오미터의 서로 다른 위치와 연관된 입체각 영역들(56)의 광 분포들은 결합되어 더 큰 입체각 영역과 관련된 광 분포를 형성하는- 상기 광 분포들은 측정 벽(5)에 반사된 후 센서 칩(100)에 의해 캡처된 것임 -, 방법. - 제8항에 있어서,
상기 광은 적어도 하나의 결상 렌즈(9) 또는 적어도 하나의 결상 렌즈 시스템을 통해 상기 방사원(2)과 상기 적어도 2개의 센서(1, 100) 사이를 통과하는 것을 특징으로 하는, 방법. - 제8항에 있어서,
- 상기 조명 또는 방사 특성 변수의 출력 방출 방향은 평면계를 사용하여- 상기 평면계의 평면들은 상기 방사원의 방사 중심을 통해 연장되는 교차선에서 교차함 -, 및 고려된 평면 내의 방출 방향을 나타내는 방출 각도를 사용하여 표현되며,
- 상기 조명 또는 방사 특성 변수의 각 측정값에는, 상기 평면계의 특정 평면과, 이 특정 평면 내의 특정 방출 각도가 할당되고,
- 상기 적어도 2개의 센서(1)는 상기 평면계의 하나 이상의 평면에 대해 동시에 측정값들을 제공하는 것을 특징으로 하는, 방법. - 광 방사원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 방향 의존성 측정을 위한 고니오라디오미터로서,
- 상기 방사원(2)으로부터의 방사를 측정하기에 적합한, 위치 고정되고 움직이지 않게 배열된 적어도 하나의 센서(1), 및
- 상기 센서(1)가 상기 방사원(2)의 방사 중심(LS)에 대한 실질적으로 구면 상의 상기 조명 또는 방사 특성 변수를 표시하는 측정값을 기록하도록 측정 동작 중에 상기 방사원(2)을 제1 축(31) 및 상기 제1 축(31)에 수직인 제2 축(32)에 대해 이동시키기 위한 장치를 갖고,
적어도 2개의 센서(1)가 측정 중에 동시에 측정값을 제공하도록 배열되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제22항에 있어서,
상기 적어도 2개의 센서(1)는 경도 또는 위도 상에 배열되고, 여기서 상기 광 방사원(2)과 정렬되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제22항 또는 제23항에 있어서,
상기 광 방사원(2)은 스캔 중에 상기 2개의 축(31, 32) 중 하나에 대해 피봇되는 한편, 다른 축(32, 31)은 스캔 중에 고정되며, 상기 적어도 2개의 센서(1)는 상기 광 방사원(2)이 스캔 중에 피봇되는 상기 축(31, 32)의 방향과 일치하는 축을 따라 배열되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제22항 또는 제23항에 있어서,
상기 적어도 2개의 센서(1)는 축(41) 상에 선형으로 서로로부터 일정한 거리에 배열되며, 이 축(41)에 수직인 축(42)에 대해 전체로서 그들의 선형 배열로 피봇식으로 장착되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제22항 또는 제23항에 있어서,
상기 적어도 2개의 센서(1)는 2차원 어레이(13) 형태로 배열되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제22항에 있어서,
상기 방사원(2)으로부터의 광이 반사되는 균일한 반사를 갖는 측정 벽(5), 및 상기 측정 벽(5) 상에 반사된 광을 포착하는, 적어도 하나 이상의 렌즈를 갖는 광학 유닛(8) 및 2차원 센서 칩(100)을 갖는 카메라(7)를 포함하고, 상기 반사광은 상기 카메라(7)의 상기 광학 유닛(8)에 의해 상기 카메라(7)의 상기 센서 칩(100) 상에 결상되며, 상기 적어도 2개의 센서는 상기 센서 칩(100)의 픽셀에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제27항에 있어서,
상기 반사성 측정 벽(5) 내의 개구부(51) 및 상기 측정 벽(5)을 사이에 두고 상기 방사원(2)의 반대편에 위치하거나 또는 상기 개구부(51) 내에 위치한 또 다른 센서(1')를 포함하며, 상기 또 다른 센서(1')는 상기 방사원(2)으로부터의 광이 상기 개구부(51)를 통해 상기 또 다른 센서(1')를 직접 조사하도록 배열되고, 상기 또 다른 센서(1')에 의해 포착된 신호는 상기 센서 칩(100)의 교정을 위해 이용할 수 있는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제27항에 있어서,
상기 고니오라디오미터는, 광 분포의 원하는 입체각 영역(56)이 상기 측정 벽(5)을 조사하고 상기 광학 유닛(8)을 통해 상기 센서 칩(100)에 의해 포착되도록 상기 방사원(2)을 개별 각도 위치로 피봇시키기 위해 구성되고 제공되는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터. - 제22항에 있어서,
상기 방사원(2)과 상기 적어도 2개의 센서(1, 100) 사이에 배열되는 적어도 하나의 결상 렌즈(9) 또는 적어도 하나의 결상 렌즈 시스템을 포함하는 것을 특징으로 하는, 고니오라디오미터.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102015201093.7 | 2015-01-22 | ||
DE102015201093.7A DE102015201093A1 (de) | 2015-01-22 | 2015-01-22 | Verfahren und Gonioradiometer zur richtungsabhängigen Messung mindestens einer lichttechnischen oder radiometrischen Kenngröße einer optischen Strahlungsquelle |
PCT/EP2016/050267 WO2016116300A1 (de) | 2015-01-22 | 2016-01-08 | Verfahren und gonioradiometer zur richtungsabhängigen messung mindestens einer lichttechnischen oder radiometrischen kenngrösse einer optischen strahlungsquelle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20170103833A KR20170103833A (ko) | 2017-09-13 |
KR102514726B1 true KR102514726B1 (ko) | 2023-03-27 |
Family
ID=55077512
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020177020198A KR102514726B1 (ko) | 2015-01-22 | 2016-01-08 | 광 방사원의 적어도 하나의 조명 또는 방사 특성 변수의 조명의 방향 의존성 측정을 위한 방법 및 고니오라디오미터 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10215622B2 (ko) |
EP (1) | EP3167260B1 (ko) |
JP (1) | JP6787902B2 (ko) |
KR (1) | KR102514726B1 (ko) |
CN (1) | CN107209056B (ko) |
DE (1) | DE102015201093A1 (ko) |
PL (1) | PL3167260T3 (ko) |
WO (1) | WO2016116300A1 (ko) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2015
- 2015-01-22 DE DE102015201093.7A patent/DE102015201093A1/de not_active Withdrawn
-
2016
- 2016-01-08 EP EP16700187.4A patent/EP3167260B1/de active Active
- 2016-01-08 KR KR1020177020198A patent/KR102514726B1/ko active IP Right Grant
- 2016-01-08 US US15/544,758 patent/US10215622B2/en active Active
- 2016-01-08 JP JP2017539342A patent/JP6787902B2/ja active Active
- 2016-01-08 CN CN201680006940.9A patent/CN107209056B/zh active Active
- 2016-01-08 WO PCT/EP2016/050267 patent/WO2016116300A1/de active Application Filing
- 2016-01-08 PL PL16700187T patent/PL3167260T3/pl unknown
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3167260A1 (de) | 2017-05-17 |
DE102015201093A1 (de) | 2016-07-28 |
CN107209056A (zh) | 2017-09-26 |
PL3167260T3 (pl) | 2022-01-10 |
US20180003553A1 (en) | 2018-01-04 |
KR20170103833A (ko) | 2017-09-13 |
WO2016116300A1 (de) | 2016-07-28 |
CN107209056B (zh) | 2021-08-03 |
EP3167260B1 (de) | 2021-08-11 |
US10215622B2 (en) | 2019-02-26 |
JP2018506716A (ja) | 2018-03-08 |
JP6787902B2 (ja) | 2020-11-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |