KR102504598B1 - 원전용 pcb 슬롯의 접촉불량 검출장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치에 관한 것으로서, 원자력발전소 노외중성자속감시계통 전자설비의 PCB(인쇄회로기판)가 삽입되는 PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 검출하기 위하여, 전자신호 입출점이 되는 PCB 접촉웨이퍼 및 PCB 슬롯웨이퍼 사이의 접촉부의 저항을 저저항 정밀측정기법으로 측정하여, PCB 접촉웨이퍼 및 PCB 슬롯웨이퍼 사이의 접촉불량 여부를 검출함으로써, 해당 PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단할 수 있는 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치에 관한 것이다.

Description

원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치{A device for detecting poor contact in PCB slots for Nuclear Power Plant}
본 발명은 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치에 관한 것으로서, 원자력발전소 노외중성자속감시계통 전자설비의 PCB(인쇄회로기판)가 삽입되는 PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 검출하기 위하여, 전자신호 입출점이 되는 PCB 접촉웨이퍼 및 PCB 슬롯웨이퍼 사이의 접촉부의 저항을 저저항 정밀측정기법으로 측정하여, PCB 접촉웨이퍼 및 PCB 슬롯웨이퍼 사이의 접촉불량 여부를 검출함으로써, 해당 PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단할 수 있는 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치에 관한 것이다.
항공기, 자동차, 선박 등과 같은 교통수단에서부터 사출성형기, 산업용 기계, 발전소와 같은 산업시설에 이르기까지 다양한 분야에 사용되는 기계에는 해당 기계를 제어하기 위한 제어부와 해당 기계를 전기적으로 연결하기 위한 다수의 배선이 구비되어 있다.
이러한 배선은 기계의 성능 또는 안전에 직접적인 영향을 끼칠 수 있어 매우 중요하며, 대부분의 배선은 PCB 기판에 내장되어 슬롯에 장착되기 때문에 상기 배선 및 슬롯의 접촉불량을 검사하기가 어려워 해당 기계를 효율적으로 관리할 수 없다.
이와 관련하여 메인 제어부와 전기 장치 사이의 접촉불량을 검출하기 위한 종래의 기술이 한국등록특허 제10-2114910호에 개시되어 있다.
종래의 기술은 한 쌍의 배선에 의해 전기 장치와 전기적으로 연결되어 상기 전기 장치로 전력을 공급하는 메인 제어부; 상기 한 쌍의 배선에 병렬로 연결되어 상기 메인 제어부에서 상기 전기 장치로 공급하는 전력을 감지하는 복수의 센서; 상기 메인 제어부와 전기 장치 사이의 배선 및 접촉불량 여부와 불량 구간의 위치를 파악하는 OP(Operating) 패널; 및 상기 메인 제어부와 전기 장치 사이를 전기적으로 연결하는 배선 간을 연결하는 커넥터;를 포함하는 배선 및 커넥터 접촉불량 검출 시스템을 개시하고 있다.
그러나 종래의 기술은 구성이 복잡하여 전체 시스템의 크기가 커지며, PCB 슬롯의 접촉불량을 구분할 수 없다는 문제를 가지고 있다.
한국등록특허 제10-2114910호(2020.05.19)
이와 같은 문제를 해결하기 위해 안출된 본 발명은 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치에 관한 것으로서, 원자력발전소 노외중성자속감시계통 전자설비의 PCB(인쇄회로기판)가 삽입되는 PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 검출하기 위하여, 전자신호 입출점이 되는 PCB 접촉웨이퍼 및 PCB 슬롯웨이퍼 사이의 접촉부의 저항을 저저항 정밀측정기법으로 측정하여, PCB 접촉웨이퍼 및 PCB 슬롯웨이퍼 사이의 접촉불량 여부를 검출함으로써, 해당 PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단할 수 있는 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치에 관한 것이다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일실시예에 따른 본 발명의 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치는,
전류를 공급하는 정전류공급부(110);
상기 정전류공급부(110)로부터 전류를 공급받아 PCB접촉웨이퍼부(140)에 공급하는 다수개의 공급접점(121a,121b)과,
상기 공급접점(121a,121b)에서 공급된 전류가 PCB접촉웨이퍼부(140) 및 PCB슬롯웨이퍼(200)를 통과하여 귀환하는 다수개의 귀환접점(121c,121d)과,
상기 공급접점(121a,121b) 및 귀환접점(121c,121d)과 연결되어 접촉저항을 측정하는 접촉저항측정수단(122)을 포함하는 측정부(120);
상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 일측에 형성되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 선택되는 위치와 접하도록 하측방으로 폭이 좁아지는 형태로 형성되는 제1탐침(131)과,
상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 타측에 형성되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 선택되는 위치와 접하도록 하측방으로 폭이 좁아지는 형태로 제2탐침(132)을 포함하는 탐침부(130);
PCB 기판으로 형성되는 PCB접촉웨이퍼몸체(141)와,
상기 PCB접촉웨이퍼몸체(141)에 삽입되어 지지되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 공급접점(121a,121b)에서 공급되는 전류가 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)와 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉부 및 제1탐침(131) 또는 제2탐침(132)을 거쳐 상기 귀환접점(121c,121d)으로 귀환하도록 하는 PCB접촉웨이퍼(142)를 포함하는 PCB접촉웨이퍼부(140); 및
상기 측정부(120)에서 측정된 접촉저항값을 연산하여 PCB 슬롯의 접촉불량여부를 판단하는 불량판단부(150)를 포함할 수 있다.
이때 상기 정전류공급부(110)는 상기 공급접점(121a,121b)으로 공급하는 전류가 정전류일 수 있다.
또한 상기 탐침부(130)는 상기 제1탐침(131) 및 제2탐침(132)이 끝이 뾰족한 탐침 형태로 형성될 수 있다.
또한 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 공급접점(121a,121b)에서 공급되는 전류는 PCB접촉웨이퍼(142); PCB접촉웨이퍼(142)와 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉부; PCB슬롯웨이퍼(200); 및 제1탐침(131) 또는 제2탐침(132)을 거쳐 상기 귀환접점(121c,121d)으로 귀환할 수 있다.
또한 상기 불량판단부(150)는 상기 측정부(120)에서 측정된 접촉저항값을 연산하여 PCB 슬롯의 접촉불량여부를 판단하는데 있어, 인공지능을 활용한 딥러닝 또는 머신러닝을 수행하도록 구성될 수 있다.
또한 접촉저항측정수단(122)은 다수개의 PCB 슬롯으로 구성되는 원전용 PCB의 슬롯이며, 다수개의 접촉부를 연속적으로 측정하기 위한 소형릴레이 조합을 포함할 수 있다.
본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치는 원전에서 사용하는 PCB 슬롯의 접촉부의 접촉불량을 판단하는 장치로서, PCB 슬롯에 삽입하는 형태로 구성되어 다양한 형태의 PCB 슬롯에 삽입하는 것으로 PCB 슬롯의 접촉불량을 쉽게 판단할 수 있어 범용성이 높다.
또한 본 발명은 필요에 따라 탐침부의 형상을 하단부의 폭이 좁아지는 탐침 형태로 형성하거나 막대 형태로 형성할 수 있어, 접촉불량 판단의 대상이 되는 PCB 슬롯의 타입에 맞추어 선택적으로 사용할 수 있다.
아울러 본 발명은 PCB 슬롯의 2개의 접촉부의 불량여부를 탐침 측정방식으로 각각 측정하거나, 탐침 측정방식으로 동시에 측정하거나, 웨이퍼 분할방식으로 각각 측정할 수 있으므로, 측정의 비용과 정확성을 고려하여 다양한 PCB 슬롯에 선택적으로 사용할 수 있다.
도 1은 본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 일실시예
도 2는 본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 탐침측정방식의 일실시예
도 3은 도 2의 확대도
도 4는 본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 탐침측정방식의 다른 실시예
도 5는 도 4의 확대도
도 6은 본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 웨이퍼분할방식의 일실시예
도 7은 도 6의 확대도
도 8은 도 7의 웨이퍼분할 확대도
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세하게 설명한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 또한, 사용되는 기술 용어 및 과학 용어에 있어서 다른 정의가 없다면, 이 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 통상적으로 이해하고 있는 의미를 가지며, 하기의 설명 및 첨부 도면에서 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 설명은 생략한다. 다음에 소개되는 도면들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 제시되는 도면들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 또한, 명세서 전반에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다. 도면들 중 동일한 구성요소들은 가능한 한 어느 곳에서든지 동일한 부호들로 나타내고 있음에 유의해야 한다.
도 1은 본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 일실시예이고, 도 2는 본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 탐침측정방식의 일실시예이며, 도 3은 도 2의 확대도이고, 도 4는 본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 탐침측정방식의 다른 실시예이며, 도 5는 도 4의 확대도이고, 도 6은 본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 웨이퍼분할방식의 일실시예이며, 도 7은 도 6의 확대도이며, 도 8은 도 7의 웨이퍼분할 확대도이다.
본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치는, 도 1 내지 도 8에서 도시하는 바와 같이,
전류를 공급하는 정전류공급부(110);
상기 정전류공급부(110)로부터 전류를 공급받아 PCB접촉웨이퍼부(140)에 공급하는 다수개의 공급접점(121a,121b)과,
상기 공급접점(121a,121b)에서 공급된 전류가 PCB접촉웨이퍼부(140) 및 PCB슬롯웨이퍼(200)를 통과하여 귀환하는 다수개의 귀환접점(121c,121d)과,
상기 공급접점(121a,121b) 및 귀환접점(121c,121d)과 연결되어 전류를 활용한 접촉저항을 측정하는 접촉저항측정수단(122)을 포함하는 측정부(120);
상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 일측에 형성되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 선택되는 위치와 접하도록 하측방으로 폭이 좁아지는 형태로 형성되는 제1탐침(131)과,
상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 타측에 형성되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 선택되는 위치와 접하도록 하측방으로 폭이 좁아지는 형태로 제2탐침(132)을 포함하는 탐침부(130);
PCB 기판으로 형성되는 PCB접촉웨이퍼몸체(141)와,
상기 PCB접촉웨이퍼몸체(141)에 삽입되어 지지되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 공급접점(121a,121b)에서 공급되는 전류가 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)와 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉부 및 제1탐침(131) 또는 제2탐침(132)을 거쳐 상기 귀환접점(121c,121d)으로 귀환하도록 하는 PCB접촉웨이퍼(142)를 포함하는 PCB접촉웨이퍼부(140); 및
상기 측정부(120)에서 측정된 접촉저항값을 연산하여 PCB 슬롯의 접촉불량여부를 판단하는 불량판단부(150)를 포함할 수 있다.
본 발명의 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치는 PCB 슬롯의 접촉부의 접촉불량을 판단하는 장치로서, 다양한 전자설비, 기계 등의 PCB 슬롯에 삽입하는 형태로 구성되어 상기 PCB 슬롯에 삽입하는 것으로 해당 PCB 슬롯의 접촉불량을 쉽게 판단할 수 있다.
접촉불량 여부 판단의 대상이 되는 PCB 슬롯은 PCB슬롯웨이퍼(200), 즉 제1PCB슬롯웨이퍼(200a) 및 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)를 포함하고 있으며, 상기 제1PCB슬롯웨이퍼(200a) 및 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)의 사이에 본 발명의 접촉불량 검출장치를 삽입한 후, 전류를 공급한 다음 귀환하는 전류에 의한 전압으로 연산한 접촉저항을 측정하여 PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단할 수 있다.
PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단하기 위하여, 본 발명의 PCB접촉웨이퍼부(140)를 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입하면 상기 탐침부(130)가 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)와 접하게 된다.
상기 정전류공급부(110)에서 전류를 공급하면, 상기 공급된 전류는 상기 측정부(120)의 공급접점(121a,121b)으로 전달될 수 있다.
전류를 공급받은 상기 공급접점(121a,121b)은 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 상기 PCB접촉웨이퍼몸체(141)에 형성되는 상기 PCB접촉웨이퍼(142), 즉 제1PCB접촉웨이퍼(142a) 및 제2PCB접촉웨이퍼(142b)와 전기적으로 연결되어 측정에 필요한 전류가 흐르게 된다.
상기 PCB접촉웨이퍼(142)에 전달된 전류는 PCB접촉웨이퍼(142)와 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉부(210a,210b); PCB슬롯웨이퍼(200); 및 제1탐침(131) 또는 제2탐침(132)을 거쳐 상기 귀환접점(121c,121d)으로 귀환할 수 있다.
상기 접촉저항측정수단(122)은 상기 공급접점(121a,121b) 및 귀환접점(121c,121d)과 연결되어 공급되는 정전류가 흐르고, PCB슬롯웨이퍼(200)와 PCB접촉웨이퍼(142)간 형성된 전압을 연산하여 접촉저항을 측정하고, 상기 불량판단부(150)는 측정된 접촉저항의 크기량에 따라 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉불량 여부를 판단할 수 있다.
이때 상기 정전류공급부(110)는 상기 공급접점(121a,121b)으로 공급하는 전류가 정전류일 수 있다. 이를 통하여 본 발명은 미리 설정한 일정한 전류만 공급하여 상기 접촉저항측정수단(122)의 측정 정확도를 향상시킬 수 있다.
본 발명의 제1실시예로 탐침을 이용한 양면 각각 측정방식에 대해 설명하도록 한다.
도 2 및 도 3에서 도시하는 바와 같이, 본 발명의 제1실시예는 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 탐침측정방식의 실시예이며, PCB 슬롯의 2개의 접촉부, 즉 제1접촉부(210a) 및 제2접촉부(210b)의 불량여부를 탐침 측정방식으로 각각 측정할 수 있다.
이를 통해 PCB 슬롯의 2개의 접촉부(210a,210b) 각각의 불량여부를 쉽게 검출할 수 있다.
PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단하기 위하여, 본 발명의 PCB접촉웨이퍼부(140)를 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입하면 상기 제1탐침(131) 및 제2탐침(132)이 상기 제1PCB슬롯웨이퍼(200a) 및 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)와 각각 접하게 된다.
상기 정전류공급부(110)에서 전류를 공급하면, 상기 공급된 전류는 상기 측정부(120)의 다수의 공급접점(121a,121b)으로 전달될 수 있다.
전류를 공급받은 상기 공급접점(121a,121b)은 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 상기 PCB접촉웨이퍼몸체(141)에 형성되는 상기 제1PCB접촉웨이퍼(142a) 및 제2PCB접촉웨이퍼(142b)와 전기적으로 연결되어 측정에 필요한 전류가 흐르게 된다.
상기 제1PCB접촉웨이퍼(142a)에 전달된 전류는 제1PCB접촉웨이퍼(142a)와 제1PCB슬롯웨이퍼(200a)의 제1접촉부(210a); 제1PCB슬롯웨이퍼(200a); 및 제1탐침(131)을 거쳐 상기 귀환접점(121c)으로 귀환할 수 있다.
또한 상기 제2PCB접촉웨이퍼(142b)에 전달된 전류는 제2PCB접촉웨이퍼(142b)와 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)의 제2접촉부(210b); 제2PCB슬롯웨이퍼(200b); 및 제2탐침(132)을 거쳐 상기 귀환접점(121d)으로 귀환할 수 있다.
상기 접촉저항측정수단(122)은 상기 공급접점(121a,121b) 및 귀환접점(121c,121d)과 연결되어 각각의 접촉저항을 측정하고, 상기 불량판단부(150)는 측정된 접촉저항의 크기량에 따라 상기 제1PCB슬롯웨이퍼(200a) 및 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)의 접촉불량 여부를 판단할 수 있다.
이때 제1탐침(131)을 거쳐 귀환접점(121c)으로 귀환한 전류에 의한 전압으로 연산한 접촉저항을 측정하여 제1탐침(131)과 연결되는 제1접촉부(210a)의 불량여부를 검출할 수 있으며, 제2탐침(132)을 거쳐 귀환접점(121d)으로 귀환한 전류에 의한 전압으로 연산한 접촉저항을 측정하여 제2탐침(132)과 연결되는 제2접촉부(210b)의 불량여부를 검출할 수 있다.
즉, 상기 양면 각각 측정방식의 경우, 제1접촉부(210a) 및 제2접촉부(210b)의 불량을 각각 판단할 수 있다.
도 2에서 도시하고 있는 바와 같이, PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB 슬롯에 완전히 삽입되지 않았을 경우 상기 공급접점(121a,121b)에서 공급된 전류가 상기 귀환접점(121c,121d)에 귀환되지 못하다가, 도 3에서 도시하고 있는 바와 같이, PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB 슬롯에 완전히 삽입되었을 경우 상기 제1탐침(131) 및 제2탐침(132)이 상기 제1PCB슬롯웨이퍼(200a) 및 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)와 각각 접하게 되므로, 상기 공급접점(121a,121b)에서 공급된 전류가 접촉부(210a,210b)를 통하여 상기 귀환접점(121c,121d)로 전류가 귀환하게 되어 이를 상기 접촉저항측정수단(122)을 통해 접촉저항의 크기를 측정하게 된다.
상기 불량판단부(150)는 상기 접촉저항측정수단(122)에서 측정된 접촉저항의 크기량에 따라 상기 PCB슬롯웨이퍼(200a,200b)의 접촉불량 여부를 판단할 수 있다.
이때 제1실시예의 경우, 한 쌍으로 형성되는 상기 PCB슬롯웨이퍼(200a,200b)의 접촉부(210a,210b) 각각의 불량여부를 판단할 수 있다.
본 발명의 제2실시예로 탐침을 이용한 양면 동시 측정방식에 대해 설명하도록 한다.
도 4 및 도 5에서 도시하는 바와 같이, 본 발명의 제2실시예는 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 탐침측정방식의 다른 실시예이며, PCB 슬롯의 2개의 접촉부(210a,210b)의 불량여부를 탐침 측정방식으로 동시에 측정할 수 있다.
이를 통해 PCB 슬롯의 접촉부(210a,210b)의 불량여부를 쉽게 검출할 수 있다.
PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단하기 위하여, 본 발명의 PCB접촉웨이퍼부(140)를 PCB슬롯웨이퍼(200a,200b)에 삽입하면 상기 제1탐침(131) 및 제2탐침(132)이 상기 제1PCB슬롯웨이퍼(200a) 및 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)와 각각 대응하여 접하게 된다.
이때 상기 공급접점(121a) 및 귀환접점(121c)은 구비되는 위치가 서로 다를 수 있다. 즉, 상기 공급접점(121a)이 제1탐침(131) 쪽에 위치하면, 상기 귀환접점(121c)은 제2탐침(132) 쪽에 위치하고, 상기 공급접점(121a)이 제2탐침(132) 쪽에 위치하면, 상기 귀환접점(121c)은 제1탐침(131) 쪽에 위치하게 된다.
이러한 구성을 통해, 상기 공급접점(121a)에서 공급된 전류는 상기 제1PCB슬롯웨이퍼(200)의 하나의 접촉부를 거쳐 다른 하나의 접촉부를 통과하여 귀환접점(121c)으로 귀환할 수 있으며, 이를 통해 PCB 슬롯의 2개의 접촉부(210a,210b)의 불량여부를 탐침 측정방식으로 동시에 측정할 수 있다.
상기 정전류공급부(110)에서 전류를 공급하면, 상기 공급된 전류는 상기 측정부(120)의 공급접점(121a)으로 전달될 수 있다.
전류를 공급받은 상기 공급접점(121a)은 제1탐침(131), 제1PCB슬롯웨이퍼(200a) 및 제1접촉부(210a)를 통해 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 상기 PCB접촉웨이퍼몸체(141)에 형성되는 상기 PCB접촉웨이퍼(142)와 전기적으로 연결되어 측정에 필요한 전류가 흐르게 된다.
상기 공급접점(121a)에 전달된 전류는 제1탐침(131)을 거쳐 제1PCB슬롯웨이퍼(200a)로 전달되고, 제1PCB슬롯웨이퍼(200a)와 PCB접촉웨이퍼(142)의 제1접촉부 (210a); PCB접촉웨이퍼(142); PCB접촉웨이퍼(142)와 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)의 제2접촉부(210b); 제2PCB슬롯웨이퍼(200b); 및 제2탐침(132)을 거쳐 상기 귀환접점(121c)으로 귀환할 수 있다.
또는 상기 PCB접촉웨이퍼(142)에 전달된 전류는 제2탐침(132)을 거쳐 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)로 전달되고, 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)와 PCB접촉웨이퍼(142)의 제2접촉부(210b); PCB접촉웨이퍼(142); PCB접촉웨이퍼(142)와 제1PCB슬롯웨이퍼(200a)의 제1접촉부(210a); 제1PCB슬롯웨이퍼(200a); 및 제1탐침(131)을 거쳐 상기 귀환접점(121c)으로 귀환할 수 있다.
상기 접촉저항측정수단(122)은 상기 공급접점(121a) 및 귀환접점(121c)과 연결되어 PCB접촉웨이퍼(142)와 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉부(210a,210b)간의 접촉저항을 측정하고, 상기 불량판단부(150)는 측정된 접촉저항의 크기량에 따라 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉불량 여부를 판단할 수 있다.
이때 제1탐침(131)과 제2탐침(132)을 거쳐 귀환접점(121c)으로 귀환한 전류에 의한 전압으로 연산한 접촉저항을 측정하여 접촉부(210a,210b)의 불량여부를 검출할 수 있다.
즉, 상기 양면 동시 측정방식의 경우, 제1접촉부(210a) 및 제2접촉부(210b)의 불량을 각각 판단할 수는 없으며, PCB 슬롯의 접촉부(210a,210b)의 합산된 접촉저항의 크기에 따라 불량여부를 검출할 수 있다.
이와 같은 방식은 제1실시예와 비교하여 보다 단순화된 연결구조 구성과 측정시간을 절반으로 단축할 수 있다는 장점을 갖는다.
본 발명의 제3실시예로 탐침을 이용하지 않고, PCB접촉웨이퍼 수직분할 방식으로 양면 각각 측정방식에 대해 설명하도록 한다.
도 6 내지 도 8에서 도시하는 바와 같이, 본 발명의 제3실시예는 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치의 웨이퍼 분할방식의 실시예이며, PCB 슬롯의 2개의 접촉부(210a,210b)의 불량여부를 PCB접촉웨이퍼 수직분할 측정방식으로 각각 측정할 수 있다.
이를 통해 PCB 슬롯의 2개의 접촉부(210a,210b) 각각의 불량여부를 쉽게 검출할 수 있다.
PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단하기 위하여, 두쪽으로 분할된 PCB접촉웨이퍼(142)의 몸체인 PCB접촉웨이퍼부(140)를 PCB슬롯웨이퍼(200a,200b)에 삽입하면 상기 제1PCB접촉웨이퍼(142a) 및 제2PCB접촉웨이퍼(142b)가 제1PCB슬롯웨이퍼(200a) 및 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)와 각각 대응하여 접하게 된다.
이때 상기 PCB접촉웨이퍼(142)는 제1PCB접촉웨이퍼(142a) 및 제2PCB접촉웨이퍼(142b)로 구성될 수 있다. 즉, 상기 PCB접촉웨이퍼(142)는 제1PCB접촉웨이퍼(142a) 및 제2PCB접촉웨이퍼(142b)로 수직방향으로 분할되며, 이를 통하여 상기 PCB슬롯웨이퍼(200a,200b)와 PCB접촉웨이퍼(142a,142b)간의 접촉면적 크기에 따라 접촉저항의 크기를 측정할 수 있다.
상기 정전류공급부(110)에서 전류를 공급하면, 상기 공급된 전류는 상기 측정부(120)의 다수의 공급접점(121a,121b)으로 전달될 수 있다.
전류를 공급받은 상기 공급접점(121a,121b)은 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 상기 PCB접촉웨이퍼몸체(141)에 형성되는 상기 PCB접촉웨이퍼(142a,142b)와 전기적으로 연결되어 측정에 필요한 전류가 흐르게 된다.
상기 제1PCB접촉웨이퍼(142a)에 전달된 전류는 제1PCB접촉웨이퍼(142a)와 제1PCB슬롯웨이퍼(200a)의 제1접촉부(210a); 제1PCB슬롯웨이퍼(200a); 및 제1PCB접촉웨이퍼(142a)를 거쳐 상기 귀환접점(121c)으로 귀환할 수 있다.
또한 상기 제2PCB접촉웨이퍼(142b)에 전달된 전류는 제2PCB접촉웨이퍼 (142b)와 제2PCB슬롯웨이퍼(200b)의 제2접촉부(210b); 제2PCB슬롯웨이퍼(200b); 및 제2PCB접촉웨이퍼(142b)를 거쳐 상기 귀환접점(121d)으로 귀환할 수 있다.
상기 접촉저항측정수단(122)은 상기 공급접점(121a,121b) 및 귀환접점(121c,121d)과 연결되어 각각의 전류에 의한 전압으로 연산한 접촉저항을 측정하고, 상기 불량판단부(150)는 측정된 접촉저항의 크기량에 따라 상기 PCB슬롯웨이퍼(200a,200b)의 접촉불량 여부를 판단할 수 있다.
이때 제1PCB접촉웨이퍼(142a)를 거쳐 귀환접점(121c)으로 귀환한 전류를 측정하여 제1PCB접촉웨이퍼(142a)와 연결되는 제1접촉부(210a)의 불량여부를 검출할 수 있으며, 제2PCB접촉웨이퍼(142b)를 거쳐 귀환접점(121d)으로 귀환한 전류를 측정하여 제2PCB접촉웨이퍼(142b)와 연결되는 제2접촉부(210b)의 불량여부를 검출할 수 있다.
즉, 상기 양면 각각 측정방식의 경우, 제1접촉부(210a) 및 제2접촉부(210b)의 불량을 각각 판단할 수 있다.
또한 상기 불량판단부(150)는 상기 측정부(120)에서 측정된 접촉저항값을 연산하여 PCB 슬롯의 접촉불량여부를 판단하는데 있어, 인공지능을 활용한 딥러닝 또는 머신러닝을 수행하도록 구성될 수 있다.
상기 측정된 접촉저항값과 접촉불량여부의 판단결과를 매칭한, 측정된 접촉저항값-접촉불량여부의 판단결과의 매칭정보를 기반으로 인공지능을 활용한 머신러닝을 사용함으로써, 지속적인 학습을 통하여 사용하는 시간이 지날수록 더욱 정확한 PCB 슬롯의 접촉불량여부의 판단이 가능하다.
또한 본 발명은 측정된 접촉저항값-접촉불량여부의 판단결과의 매칭정보를 시간정보 및 환경정보(온도, 습도, 기후, 날씨 등)와 함께 저장하는 저장부; 및 측정된 접촉저항값으로부터 PCB 슬롯의 접촉불량여부를 예측하는 불량예측부를 추가로 포함할 수 있다.
상기 불량예측부는 상기 저장부에 저장되어 있는 측정된 접촉저항값-접촉불량여부의 판단결과의 매칭정보를 기반으로 하여, 현재 측정된 접촉저항값으로부터 향후 예상되는 PCB 슬롯의 접촉불량여부를 예측하여 제공할 수 있다.
110: 정전류공급부
120: 측정부
121a, 121b: 공급접점 121c, 121d: 귀환접점
122: 접촉저항측정수단
130: 탐침부
131: 제1탐침 132: 제2탐침
140: PCB접촉웨이퍼부
141: PCB접촉웨이퍼몸체 142: PCB접촉웨이퍼
142a: 제1PCB접촉웨이퍼 142b: 제2PCB접촉웨이퍼
150: 불량판단부
200: PCB슬롯웨이퍼
200a: 제1PCB슬롯웨이퍼 200b: 제2PCB슬롯웨이퍼
210a: 제1접촉부 210b: 제2접촉부

Claims (6)

  1. 전류를 공급하는 정전류공급부(110);
    상기 정전류공급부(110)로부터 전류를 공급받아 PCB접촉웨이퍼부(140)에 공급하는 다수개의 공급접점(121a,121b)과,
    상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입되어 탐침부(130)가 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)와 접할 때, 상기 공급접점(121a,121b)에서 공급된 전류가 PCB접촉웨이퍼부(140) 및 PCB슬롯웨이퍼(200)를 통과하여 귀환하는 다수개의 귀환접점(121c,121d)과,
    상기 공급접점(121a,121b) 및 귀환접점(121c,121d)과 연결되어 접촉저항을 측정하는 접촉저항측정수단(122)을 포함하는 측정부(120);
    상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 일측에 형성되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 선택되는 위치와 접하도록 하측방으로 폭이 좁아지는 형태로 형성되는 제1탐침(131)과,
    상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 타측에 형성되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입될 때 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 선택되는 위치와 접하도록 하측방으로 폭이 좁아지는 형태로 제2탐침(132)을 포함하는 탐침부(130);
    PCB 기판으로 형성되는 PCB접촉웨이퍼몸체(141)와,
    상기 PCB접촉웨이퍼몸체(141)에 삽입되어 지지되고, 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)가 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입되어 탐침부(130)가 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)와 접할 때, 상기 공급접점(121a,121b)에서 공급되는 전류가 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)와 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉부 및 탐침부(130)를 거쳐 상기 귀환접점(121c,121d)으로 귀환하도록 하는 PCB접촉웨이퍼(142)를 포함하는 PCB접촉웨이퍼부(140); 및
    상기 측정부(120)에서 측정된 접촉저항값을 연산하여 PCB 슬롯의 접촉불량여부를 판단하는 불량판단부(150);를 포함하는 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치에 있어서,
    상기 접촉불량 검출장치를 PCB 슬롯을 구성하는 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입한 후, 전류를 공급한 다음 귀환하는 전류에 의한 전압으로 연산한 접촉저항을 측정하여 PCB 슬롯의 접촉불량 여부를 판단하며,
    상기 PCB접촉웨이퍼부(140)를 PCB슬롯웨이퍼(200)에 삽입하여 상기 탐침부(130)가 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)와 접하게 되고,
    상기 정전류공급부(110)에서 전류를 공급하면, 상기 공급된 전류는 상기 측정부(120)의 공급접점(121a,121b)으로 전달되며,
    전류를 공급받은 상기 공급접점(121a,121b)은 상기 PCB접촉웨이퍼부(140)의 PCB접촉웨이퍼몸체(141)에 형성되는 상기 PCB접촉웨이퍼(142)와 전기적으로 연결되며,
    상기 PCB접촉웨이퍼(142)에 전달된 전류는 PCB접촉웨이퍼(142)와 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉부(210a,210b); PCB슬롯웨이퍼(200); 및 탐침부(130)를 거쳐 상기 귀환접점(121c,121d)으로 귀환하며,
    상기 접촉저항측정수단(122)은 상기 공급접점(121a,121b) 및 귀환접점(121c,121d)과 연결되어 접촉저항을 측정하고,
    상기 불량판단부(150)는 측정된 접촉저항의 크기량에 따라 상기 PCB슬롯웨이퍼(200)의 접촉불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 측정부(120)는
    상기 제1탐침(131)과 제2탐침(132)을 통하여 PCB슬롯웨이퍼(200)의 제1접촉부(210a) 및 제2접촉부(210b)의 접촉저항을 각각 측정하는 것을 특징으로 하는 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치.
  3. 삭제
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 탐침부(130)는
    상기 제1탐침(131) 및 제2탐침(132)이 끝이 뾰죽한 침의 형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치.
  5. 삭제
  6. 제2항에 있어서,
    상기 불량판단부(150)는 상기 측정부(120)에서 측정된 접촉저항값을 연산하여 PCB 슬롯의 접촉불량여부를 판단하는데 있어, 인공지능을 활용한 딥러닝 또는 머신러닝을 수행하는 것을 특징으로 하는 원전용 PCB 슬롯의 접촉불량 검출장치.
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