JP2010204021A - 回路基板検査装置および回路基板検査方法 - Google Patents
回路基板検査装置および回路基板検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010204021A JP2010204021A JP2009052180A JP2009052180A JP2010204021A JP 2010204021 A JP2010204021 A JP 2010204021A JP 2009052180 A JP2009052180 A JP 2009052180A JP 2009052180 A JP2009052180 A JP 2009052180A JP 2010204021 A JP2010204021 A JP 2010204021A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- conductor pattern
- inspection
- value
- capacitance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】絶縁性基板の一面に導体パターンが形成された回路基板100における導体パターンに対して検査用信号(電流信号Siおよび電圧信号Sv)が供給されたときの物理量を測定する測定部4と、測定部4によって測定された物理量に基づいて回路基板100の良否を検査する制御部7とを備え、測定部4は、導体パターンの各端部の間に電流信号Siが供給されたときの物理量としての導体パターンの抵抗値Rを測定すると共に、絶縁性基板の他面側に配設された電極および導体パターンの間に電圧信号Svが供給されたときの物理量としての導体パターンと電極との間の静電容量Cを測定し、制御部7は、測定部4によって測定された抵抗値Rおよび静電容量Cを乗算した乗算値に基づいて回路基板100の良否を検査する。
【選択図】図1
Description
R=(ρ×L)/(W×T)・・・(1)式
C=εγ×W×L/D・・・(2)式
乗算値Nm=R×C=(ρ×L×εγ×W×L)/(W×T×D)・・・(3)式
2 載置台
5 測定部
8 制御部
22 電極板
100,200 回路基板
101 絶縁性基板
101a 一面
101b 他面
102 導体パターン
103 電極
111 端部
C,Cs 静電容量
Nd 除算値
Nm,Nms 乗算値
R,Rs 抵抗値
Si 電流信号
Sv 電圧信号
Claims (4)
- 絶縁性基板の一面に導体パターンが形成された回路基板における当該導体パターンに対して検査用信号が供給されたときの所定の物理量を測定する測定部と、当該測定部によって測定された前記物理量に基づいて前記回路基板の良否を検査する検査部とを備えた回路基板検査装置であって、
前記測定部は、前記導体パターンの各端部の間に前記検査用信号が供給されたときの前記所定の物理量としての当該導体パターンの抵抗値を測定すると共に、前記絶縁性基板の他面側に配設された電極および前記導体パターンの間に前記検査用信号が供給されたときの前記所定の物理量としての当該導体パターンと当該電極との間の静電容量を測定し、
前記検査部は、前記測定部によって測定された前記抵抗値および前記静電容量を乗算した乗算値に基づいて前記回路基板の良否を検査する回路基板検査装置。 - 前記検査部は、良好とされる前記回路基板についての前記乗算値、および検査対象の前記回路基板についての前記乗算値のいずれか一方を他方で除算した除算値と、所定の基準値とを比較して、前記検査対象の回路基板の良否を検査する請求項1記載の回路基板検査装置。
- 絶縁性基板の一面に導体パターンが形成された回路基板における当該導体パターンに検査用信号を供給して所定の物理量を測定し、当該測定した物理量に基づいて前記回路基板の良否を検査する回路基板検査方法であって、
前記導体パターンの各端部の間に前記検査用信号を供給して前記所定の物理量としての当該導体パターンの抵抗値を測定すると共に、前記絶縁性基板の他面側に配設された電極および前記導体パターンの間に前記検査用信号を供給して前記所定の物理量としての当該導体パターンと当該電極との間の静電容量を測定し、
前記測定した抵抗値および静電容量を乗算した乗算値に基づいて前記回路基板の良否を検査する回路基板検査方法。 - 良好とされる前記回路基板についての前記乗算値、および検査対象の前記回路基板についての前記乗算値のいずれか一方を他方で除算した除算値と、所定の基準値とを比較して、前記検査対象の回路基板の良否を検査する請求項3記載の回路基板検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009052180A JP5420277B2 (ja) | 2009-03-05 | 2009-03-05 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009052180A JP5420277B2 (ja) | 2009-03-05 | 2009-03-05 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010204021A true JP2010204021A (ja) | 2010-09-16 |
JP5420277B2 JP5420277B2 (ja) | 2014-02-19 |
Family
ID=42965637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009052180A Expired - Fee Related JP5420277B2 (ja) | 2009-03-05 | 2009-03-05 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5420277B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012078277A (ja) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
JP2012078276A (ja) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
JP2017009399A (ja) * | 2015-06-22 | 2017-01-12 | イビデン株式会社 | プリント配線板の検査方法 |
CN107076790A (zh) * | 2014-10-29 | 2017-08-18 | 日本电产理德股份有限公司 | 基板检查装置及基板检查方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0425775A (ja) * | 1990-05-21 | 1992-01-29 | Hitachi Chem Co Ltd | 配線板の検査方法及び装置 |
JPH06109796A (ja) * | 1992-05-29 | 1994-04-22 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 被試験装置の評価装置とその方法、ならびに抵抗性評価と波形評価を同時実行するための装置とその方法 |
JPH07301654A (ja) * | 1994-04-04 | 1995-11-14 | Fluke Corp | ローカル・エリア・ネットワーク・ケーブルの試験装置及び方法 |
JP2003014808A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-15 | Hioki Ee Corp | 基準データ作成方法および回路基板検査装置 |
-
2009
- 2009-03-05 JP JP2009052180A patent/JP5420277B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0425775A (ja) * | 1990-05-21 | 1992-01-29 | Hitachi Chem Co Ltd | 配線板の検査方法及び装置 |
JPH06109796A (ja) * | 1992-05-29 | 1994-04-22 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 被試験装置の評価装置とその方法、ならびに抵抗性評価と波形評価を同時実行するための装置とその方法 |
JPH07301654A (ja) * | 1994-04-04 | 1995-11-14 | Fluke Corp | ローカル・エリア・ネットワーク・ケーブルの試験装置及び方法 |
JP2003014808A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-15 | Hioki Ee Corp | 基準データ作成方法および回路基板検査装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012078277A (ja) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
JP2012078276A (ja) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
CN107076790A (zh) * | 2014-10-29 | 2017-08-18 | 日本电产理德股份有限公司 | 基板检查装置及基板检查方法 |
CN107076790B (zh) * | 2014-10-29 | 2019-12-13 | 日本电产理德股份有限公司 | 基板检查装置及基板检查方法 |
US10761654B2 (en) | 2014-10-29 | 2020-09-01 | Nidec-Read Corporation | Circuit board inspection device and circuit board inspection method |
JP2017009399A (ja) * | 2015-06-22 | 2017-01-12 | イビデン株式会社 | プリント配線板の検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5420277B2 (ja) | 2014-02-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3558434B2 (ja) | 電気的配線検査方法及び装置 | |
KR102050123B1 (ko) | 절연 검사 방법 및 절연 검사 장치 | |
KR20090027610A (ko) | 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 | |
JP5507430B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP5420277B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP4949947B2 (ja) | 回路基板検査方法および回路基板検査装置 | |
KR101296460B1 (ko) | 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 | |
JP4219489B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP5191805B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
JP2002014132A (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP2006200973A (ja) | 回路基板検査方法およびその装置 | |
JP2010175489A (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
KR101430040B1 (ko) | 절연검사장치 및 절연검사방법 | |
JP2001330631A (ja) | 回路基板検査方法および回路基板検査装置 | |
JP5420303B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP2014020815A (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JP2014137231A (ja) | 検査治具の検査方法 | |
US8704545B2 (en) | Determination of properties of an electrical device | |
JP2010243507A (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP2010066031A (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP2005049314A (ja) | プロービングテスト法およびプローブ状態検出装置 | |
JP4999143B2 (ja) | 基板検査装置 | |
KR20230089427A (ko) | 절연 검사 장치 및 절연 검사 방법 | |
JP2002043721A (ja) | プリント基板の検査方法と検査装置 | |
JP2006071567A (ja) | プローブの接触状態判別方法、回路基板検査方法および回路基板検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120228 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130717 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130723 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130920 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131119 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131120 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |