KR102490491B1 - Roughened copper foil, copper-clad laminate, and printed wiring board - Google Patents

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Abstract

파인 피치 회로 형성이나 고주파 용도에 적합한 저조도의 미세 요철이면서도, 수지와의 밀착성뿐만 아니라 내 마찰성도 우수하고, 그렇기 때문에 동장 적층판의 가공 내지 프린트 배선판의 제조에 있어서 무언가의 물체에 마찰된 후에 있어서도, 수지와의 우수한 밀착성을 안정적으로 발휘하는 것이 가능한 조면화 처리 구리박이 제공된다. 본 발명의 조면화 처리 구리박은, 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 구비한 조면화 처리면을 적어도 한쪽 측에 갖는다. 조면화 처리면은, ISO25178에 준거하여 측정되는 최대 높이 Sz가 1.5㎛ 이하이고, 또한 ISO25178에 준거하여 측정되는 산 정점의 산술 평균곡 Spc가 1300㎜-1 이하이다.Although it is a low-intensity fine irregularity suitable for fine pitch circuit formation and high-frequency applications, it is excellent not only in adhesion to resin but also in friction resistance, so even after being rubbed against an object in the processing of a copper-clad laminate or the production of a printed wiring board, resin A roughened copper foil capable of stably exhibiting excellent adhesion to is provided. The roughened copper foil of the present invention has, on at least one side, a roughened surface provided with fine concavities and convexities composed of acicular crystals and/or plate-like crystals. As for the roughening process surface, maximum height Sz measured based on ISO25178 is 1.5 micrometers or less, and arithmetic mean curve Spc of the peak measured based on ISO25178 is 1300 mm< -1 > or less.

Description

조면화 처리 구리박, 동장 적층판 및 프린트 배선판Roughened copper foil, copper-clad laminate, and printed wiring board

본 발명은, 조면화 처리 구리박, 동장 적층판 및 프린트 배선판에 관한 것이다.This invention relates to a roughening process copper foil, a copper clad laminated board, and a printed wiring board.

파인 피치 회로의 형성에 적합한 프린트 배선판 구리박으로서, 산화 처리 및 환원 처리(이하, 산화 환원 처리라고 총칭하는 경우가 있음)를 거쳐 형성된 미세 요철을 조면화 처리면으로서 구비한 조면화 처리 구리박이 제안되어 있다.As a printed wiring board copper foil suitable for formation of a fine pitch circuit, a roughened copper foil provided with fine irregularities formed through oxidation treatment and reduction treatment (hereinafter sometimes referred to collectively as oxidation reduction treatment) as a roughening treatment surface is proposed. has been

예를 들어, 특허문헌 1(국제 공개 제2014/126193호)에는, 최대 길이가 500㎚ 이하인 구리 복합 화합물로 이루어지는 침상 또는 판상의 미세 요철로 형성한 조면화 처리층을 표면에 구비한 표면 처리 구리박이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 2(국제 공개 제2015/040998호)에는, 구리 복합 화합물로 이루어지는 최대 길이가 500㎚ 이하인 사이즈의 침상 또는 판상의 볼록 형상부로 형성된 미세 요철을 갖는 조면화 처리층과, 당해 조면화 처리층의 표면에 실란 커플링제 처리층을 적어도 일면에 구비한 구리박이 개시되어 있다. 이들 문헌의 조면화 처리 구리박에 의하면, 조면화 처리층의 미세 요철에 의한 앵커 효과에 의해 절연 수지 기재와의 사이가 양호한 밀착성을 얻을 수 있음과 함께, 양호한 에칭 팩터를 구비한 파인 피치 회로의 형성이 가능해진다고 되어 있다. 특허문헌 1 및 2에 개시되는 미세 요철을 갖는 조면화 처리층은 모두, 알칼리 탈지 등의 예비 처리를 행한 후, 산화 환원 처리를 거쳐 형성되어 있다. 이와 같이 하여 형성되는 미세 요철은 구리 복합 화합물의 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 특유의 형상을 갖는 것이며, 이러한 미세 요철을 구비한 조면화 처리면은, 미세 구리 입자의 부착에 의해 형성된 조면화 처리면이나, 에칭에 의해 요철이 부여된 조면화 처리면보다 대체로 미세하다.For example, in Patent Document 1 (International Publication No. 2014/126193), surface-treated copper provided with a surface-treated layer formed of needle-like or plate-like fine irregularities made of a copper complex compound having a maximum length of 500 nm or less on the surface. Park is initiated. Further, in Patent Document 2 (International Publication No. 2015/040998), a roughening treatment layer having fine concavities and convexities formed of acicular or plate-shaped convex-shaped portions having a size of 500 nm or less in maximum length made of a copper composite compound, and the roughening Disclosed is a copper foil provided with a silane coupling agent treated layer on at least one surface of the treated layer. According to the roughened copper foil of these literatures, while being able to obtain good adhesion to the insulating resin substrate by the anchor effect due to the fine irregularities of the roughened layer, a fine pitch circuit provided with a good etching factor. It is said that formation is possible. All of the roughening treatment layers having fine concavities and convexities disclosed in Patent Literatures 1 and 2 are formed through oxidation-reduction treatment after performing preliminary treatment such as alkali degreasing. The fine concavities and convexities formed in this way have a unique shape composed of acicular crystals and/or plate-like crystals of the copper composite compound, and the roughened surface provided with these fine concavities and convexities is a roughening surface formed by adhesion of fine copper particles. It is generally finer than a cotton-processed surface or a roughened-processed surface to which irregularities are provided by etching.

한편, 최근의 휴대용 전자 기기 등의 고기능화에 수반하여, 대량의 정보의 고속 처리를 하기 위해 신호의 고주파화가 진행되고 있어, 고주파 용도에 적합한 프린트 배선판이 요구되고 있다. 이러한 고주파용 프린트 배선판에는, 고주파 신호를 품질 저하시키지 않고 전송 가능하게 하기 위해, 전송 손실의 저감이 요망된다. 프린트 배선판은 배선 패턴으로 가공된 구리박과 절연 수지 기재를 구비한 것이지만, 전송 손실은, 구리박에 기인하는 도체 손실과, 절연 수지 기재에 기인하는 유전체 손실로 주로 이루어진다. 또한, 도체 손실은, 고주파로 될수록 현저하게 나타나는 구리박의 표피 효과에 의해 더욱 커질 수 있다. 이 때문에, 고주파 용도에 있어서의 전송 손실의 저감을 도모하기 위해, 도체 손실을 저감 가능한 구리박으로서, 저조도의 구리박이 요구되고 있다. 이 점에서, 특허문헌 2에는 상술한 조면화 처리층을 구비한 구리박이 고주파 회로 형성 재료로서 적합하다고 되어 있다.On the other hand, with the recent high performance of portable electronic devices and the like, high-frequency signals are progressing in order to process a large amount of information at high speed, and printed wiring boards suitable for high-frequency applications are required. In such a printed wiring board for high frequencies, reduction in transmission loss is desired in order to enable transmission of high frequency signals without deterioration in quality. A printed wiring board includes a copper foil processed into a wiring pattern and an insulating resin substrate, but transmission loss mainly consists of conductor loss due to the copper foil and dielectric loss caused by the insulating resin substrate. In addition, the conductor loss can be further increased due to the skin effect of the copper foil, which appears remarkably as the frequency increases. For this reason, in order to aim at the reduction of the transmission loss in a high frequency use, a copper foil of low illumination is calculated|required as a copper foil which can reduce conductor loss. From this point, it is said that the copper foil provided with the roughening process layer mentioned above by patent document 2 is suitable as a high frequency circuit formation material.

국제 공개 제2014/126193호International Publication No. 2014/126193 국제 공개 제2015/040998호International Publication No. 2015/040998

그러나, 산화 환원 처리를 거쳐 형성된 미세 요철은, 구리박끼리의 마찰(예를 들어, 구리박을 롤 상태로부터 인출할 때에 일어날 수 있음), 혹은 다른 부재(예를 들어, 반송 롤러 등)와의 마찰에 의해 형상 열화되기 쉽다. 이것은, 상기한 바와 같은 미세 요철은 구리 복합 화합물의 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되기 때문에, 침상 결정 및/또는 판상 결정이 꺾이거나, 혹은 경우에 따라서는 쓰러지거나 하는 경우가 있기 때문이다. 이와 같이 마찰되어 형상 열화된 미세 요철은, 조면화 처리 구리박의 외관을 손상시킬 뿐만 아니라, 미세 요철에 의한 절연 수지 기재에 대한 앵커 효과를 저감시킨다. 이 때문에, 외관 불량이나 성능의 열화(특히 수지와의 밀착성의 저하)에 의한 수율의 저하를 초래한다는 우려가 있다.However, the fine irregularities formed through the redox treatment are friction between copper foils (eg, which may occur when copper foil is pulled out from a roll state) or friction with other members (eg, conveying rollers). are prone to shape deterioration. This is because the above microreliefs are composed of needle-like crystals and/or plate-like crystals of the copper composite compound, so that the needle-like crystals and/or plate-like crystals may break or, in some cases, fall over. In this way, the shape-degraded fine irregularities not only impair the appearance of the roughened copper foil, but also reduce the anchor effect to the insulating resin substrate due to the fine irregularities. For this reason, there is a concern of causing a decrease in yield due to poor appearance or deterioration of performance (in particular, decrease in adhesion to resin).

본 발명자들은, 금번, 산화 환원 처리를 거쳐 형성된 미세 요철의 형상을 제어하여, ISO25178에 준거하여 측정되는 최대 높이 Sz가 1.5㎛ 이하이고, 또한 ISO25178에 준거하여 측정되는 산 정점의 산술 평균곡 Spc가 1300㎜-1 이하이도록 함으로써, 파인 피치 회로 형성이나 고주파 용도에 적합한 저조도의 미세 요철이면서도, 수지와의 밀착성뿐만 아니라 내 마찰성도 우수하고, 그렇기 때문에 동장 적층판의 가공 내지 프린트 배선판의 제조에 있어서 무언가의 물체에 마찰된 후에 있어서도, 수지와의 우수한 밀착성을 안정적으로 발휘시킬 수 있다는 지견을 얻었다.The inventors of the present invention control the shape of fine irregularities formed through the oxidation-reduction treatment this time so that the maximum height Sz measured in accordance with ISO25178 is 1.5 μm or less, and the arithmetic mean curve Spc of the peaks measured in accordance with ISO25178 is obtained. By setting it to 1300 mm -1 or less, it is excellent in not only adhesion to resin but also friction resistance, even though it is a low-intensity fine irregularity suitable for fine pitch circuit formation and high-frequency applications, and therefore, something in the processing of copper-clad laminates and the production of printed wiring boards. It was found that excellent adhesion to resin can be stably exhibited even after being rubbed against an object.

따라서, 본 발명의 목적은, 파인 피치 회로 형성이나 고주파 용도에 적합한 저조도의 미세 요철이면서도, 수지와의 밀착성뿐만 아니라 내 마찰성도 우수하고, 그렇기 때문에 동장 적층판의 가공 내지 프린트 배선판의 제조에 있어서 무언가의 물체에 마찰된 후에 있어서도, 수지와의 우수한 밀착성을 안정적으로 발휘하는 것이 가능한 조면화 처리 구리박을 제공하는 데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide low-intensity fine concavities and convexities suitable for fine pitch circuit formation and high-frequency applications, but also have excellent adhesion to resin as well as friction resistance. It is to provide the roughening process copper foil which can exhibit excellent adhesiveness with resin stably even after rubbing against an object.

본 발명의 일 양태에 의하면, 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 구비한 조면화 처리면을 적어도 한쪽 측에 갖는 조면화 처리 구리박이며, 상기 조면화 처리면은, ISO25178에 준거하여 측정되는 최대 높이 Sz가 1.5㎛ 이하이고, 또한 ISO25178에 준거하여 측정되는 산 정점의 산술 평균곡 Spc가 1300㎜-1 이하인 조면화 처리 구리박이 제공된다.According to one aspect of the present invention, it is a roughened copper foil having at least one side a roughened treated surface with fine irregularities composed of acicular crystals and/or plate-like crystals, wherein the roughened treated surface complies with ISO25178 The maximum height Sz measured by doing is 1.5 micrometers or less, and the arithmetic mean curve Spc of the peak measured based on ISO25178 is 1300 mm -1 or less, and the roughening process copper foil is provided.

본 발명의 다른 일 양태에 의하면, 상기 양태의 조면화 처리 구리박을 구비한 동장 적층판이 제공된다.According to another aspect of this invention, the copper clad laminated board provided with the roughening process copper foil of the said aspect is provided.

본 발명의 다른 일 양태에 의하면, 상기 양태의 조면화 처리 구리박을 구비한 프린트 배선판이 제공된다.According to another aspect of this invention, the printed wiring board provided with the roughening process copper foil of the said aspect is provided.

정의Justice

본 발명을 특정하기 위해 사용되는 용어 내지 파라미터의 정의를 이하에 나타낸다.Definitions of terms and parameters used to specify the present invention are given below.

본 명세서에 있어서 「최대 높이 Sz」라 함은, ISO25178에 준거하여 측정되는, 표면의 가장 높은 점으로부터 가장 낮은 점까지의 거리를 나타내는 파라미터이다. 최대 높이 Sz는, 조면화 처리면에 있어서의 소정의 측정 면적(예를 들어, 22500㎛2의 2차원 영역)의 표면 프로파일을 시판되고 있는 레이저 현미경으로 측정함으로써 산출할 수 있다.In this specification, "maximum height Sz" is a parameter that indicates the distance from the highest point to the lowest point on the surface measured based on ISO25178. Maximum height Sz is computable by measuring the surface profile of the predetermined|prescribed measurement area (for example, 22500 micrometer< 2 > two-dimensional area|region) in a roughening process surface with a commercially available laser microscope.

본 명세서에 있어서 「산 정점의 산술 평균곡 Spc」라 함은, ISO25178에 준거하여 측정되는, 정의 영역 중에 있어서의 산 정점의 주 곡률의 산술 평균을 나타내는 파라미터이다. 이 값이 작은 것은, 다른 물체와 접촉하는 점이 둥그스름한 것을 나타낸다. 한편, 이 값이 큰 것은, 다른 물체와 접촉하는 점이 뾰족한 것을 나타낸다. 단적으로 말하면, 산 정점의 산술 평균곡 Spc는, 레이저 현미경으로 측정 가능한, 혹의 둥근 정도를 나타내는 파라미터라고 할 수 있다. 산 정점의 산술 평균곡 Spc는, 조면화 처리면에 있어서의 소정의 측정 면적(예를 들어, 100㎛2의 2차원 영역)의 표면 프로파일을 시판되고 있는 레이저 현미경으로 측정함으로써 산출할 수 있다.In this specification, "arithmetic average curve Spc of mountain peaks" is a parameter representing the arithmetic average of the principal curvatures of mountain peaks in the positive region, measured in accordance with ISO25178. A small value indicates that the contact point with another object is round. On the other hand, when this value is large, it indicates that the contact point with another object is sharp. Simply put, it can be said that the arithmetic mean curve Spc of the mountain peak is a parameter indicating the degree of roundness of the lump that can be measured with a laser microscope. The arithmetic mean curve Spc of the peaks can be calculated by measuring the surface profile of a predetermined measurement area (for example, a two-dimensional area of 100 μm 2 ) on the roughened surface with a commercially available laser microscope.

본 명세서에 있어서, 전해 구리박의 「전극면」이라 함은, 전해 구리박 제작 시에 음극과 접하고 있던 측의 면을 가리킨다.In this specification, the "electrode surface" of an electrolytic copper foil refers to the side surface which was in contact with the cathode at the time of electrolytic copper foil production.

본 명세서에 있어서, 전해 구리박의 「석출면」이라 함은, 전해 구리박 제작 시에 전해 구리가 석출되어 가는 측의 면, 즉 음극과 접하고 있지 않은 측의 면을 가리킨다.In this specification, the "precipitation surface" of an electrolytic copper foil refers to the side surface on which electrolytic copper precipitates at the time of electrolytic copper foil production, ie, the side surface which is not in contact with the cathode.

조면화 처리 구리박 Roughened Copper Foil

본 발명의 구리박은 조면화 처리 구리박이다. 이 조면화 처리 구리박은 적어도 한쪽 측에 조면화 처리면을 갖는다. 조면화 처리면은, 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 구비하고 있고, 이러한 미세 요철은, 산화 환원 처리를 거쳐 형성될 수 있는 것이며, 전형적으로는 침상 결정 및/또는 판상 결정이 구리박면에 대해 대략 수직 및/또는 경사 방향으로 무성한 형상(예를 들어, 잔디밭 형상)으로 관찰되는 것이다. 그리고, 이 조면화 처리면은, ISO25178에 준거하여 측정되는 최대 높이 Sz가 1.5㎛ 이하이고, 또한 ISO25178에 준거하여 측정되는 산 정점의 산술 평균곡 Spc가 1300㎜-1 이하이다. 이와 같이, 산화 환원 처리를 거쳐 형성된 미세 요철의 형상을 제어하여, 최대 높이 Sz가 1.5㎛ 이하이고, 또한 산 정점의 산술 평균곡 Spc가 1300㎜-1 이하이도록 함으로써, 파인 피치 회로 형성이나 고주파 용도에 적합한 저조도의 미세 요철이면서도, 수지와의 밀착성뿐만 아니라 내 마찰성도 우수하고, 그렇기 때문에 동장 적층판의 가공 내지 프린트 배선판의 제조에 있어서 무언가의 물체에 마찰된 후에 있어서도, 수지와의 우수한 밀착성을 안정적으로 발휘시키는 것이 가능해진다. 특히, 상술한 정의대로, 산 정점의 산술 평균곡 Spc는 혹의 둥근 정도를 나타내는 파라미터이며, 그 값이 작을수록 다른 물체와 접촉하는 점이 둥그스름한 것을 나타낸다. 따라서, 상기 우수한 내 마찰성은, 이 Spc를 1300㎜-1 이하로 작게 함으로써, 침상 결정 및/또는 판상 결정이 꺾이거나 또는 쓰러지거나 하기 어려워지기 때문은 아닌지 생각된다. 즉, 전술한 바와 같이, 종래의 산화 환원 처리를 거쳐 형성된 미세 요철은, 구리박끼리의 마찰이나 다른 부재와의 마찰에 의해 형상 열화되기 쉬워, 외관 불량이나 성능의 열화(특히, 수지와의 밀착성의 저하)에 의한 수율의 저하를 초래한다는 우려가 있었지만, 본 발명의 조면화 처리 구리박에 의하면, 그러한 기술적 과제를 해결할 수 있다.The copper foil of this invention is a roughening process copper foil. This roughening process copper foil has a roughening process surface on at least one side. The roughened surface has fine concavities and convexities composed of acicular crystals and/or plate-like crystals, and these fine concavities and convexities can be formed through oxidation-reduction treatment. Typically, the acicular crystals and/or plate-like crystals are It is observed in a lush shape (for example, a lawn shape) in a substantially perpendicular and/or inclined direction with respect to the copper foil surface. And the largest height Sz of this roughening process surface measured based on ISO25178 is 1.5 micrometers or less, and the arithmetic mean curve Spc of the peak measured based on ISO25178 is 1300 mm< -1 > or less. In this way, by controlling the shape of fine concavities and convexities formed through oxidation-reduction processing so that the maximum height Sz is 1.5 μm or less and the peak arithmetic mean curve Spc is 1300 mm -1 or less, fine pitch circuit formation and high frequency applications It has excellent adhesion to resin as well as friction resistance, and therefore, even after rubbing against an object in the processing of copper-clad laminates or the production of printed wiring boards, excellent adhesion to resin is stable. It becomes possible to exert In particular, as defined above, the arithmetic average curve Spc of the peak is a parameter representing the degree of roundness of the bump, and the smaller the value, the rounder the point in contact with another object. Therefore, it is considered that the above excellent friction resistance is because the needle-like crystals and/or the plate-like crystals are less likely to break or collapse by reducing this Spc to 1300 mm -1 or less. That is, as described above, the fine irregularities formed through the conventional redox treatment are easily degraded in shape due to friction between copper foils or friction with other members, resulting in poor appearance or deterioration of performance (in particular, adhesion to resin). Although there was a concern of causing a decrease in yield due to a decrease in ), according to the roughened copper foil of the present invention, such a technical subject can be solved.

조면화 처리면에 있어서의 최대 높이 Sz는 1.5㎛ 이하이고, 바람직하게는 1.2㎛ 이하, 더 바람직하게는 1.0㎛ 이하이다. 이러한 범위 내의 Sz이면, 파인 피치 회로 형성이나 고주파 용도에 더 적합한 것이 된다. 특히, 이와 같이 저조도이면 고주파 신호 전송에 있어서 문제가 되는 구리박의 표피 효과를 저감하여, 구리박에 기인하는 도체 손실을 저감하고, 그것에 의해 고주파 신호의 전송 손실을 유의미하게 저감할 수 있다. Sz의 하한값은 특별히 한정되지 않지만, 수지와의 밀착성 향상의 관점에서, Sz는 0.1㎛ 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 0.2㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.3㎛ 이상이다.The maximum height Sz on the roughened surface is 1.5 µm or less, preferably 1.2 µm or less, and more preferably 1.0 µm or less. If Sz is within this range, it becomes more suitable for fine pitch circuit formation and high frequency applications. In particular, such a low illumination reduces the skin effect of the copper foil, which is a problem in high-frequency signal transmission, reduces the conductor loss caused by the copper foil, and thereby significantly reduces the transmission loss of the high-frequency signal. The lower limit of Sz is not particularly limited, but from the viewpoint of improving adhesion with the resin, Sz is preferably 0.1 μm or more, more preferably 0.2 μm or more, and still more preferably 0.3 μm or more.

조면화 처리면에 있어서의 산 정점의 산술 평균곡 Spc는 1300㎜-1 이하이고, 바람직하게는 1200㎜-1 이하, 더 바람직하게는 1000㎜-1 이하이다. 이들 범위 내의 Spc이면, 더 마찰되기 어려운 둥그스름한 혹 형상으로 할 수 있기 때문에, 내 마찰성을 향상시킬 수 있다. Spc의 하한값은 특별히 한정되지 않지만, 100㎜-1 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 200㎜-1 이상, 더욱 바람직하게는 300㎜-1 이상이다.The arithmetic mean curve Spc of the peak peaks in the roughened surface is 1300 mm -1 or less, preferably 1200 mm -1 or less, more preferably 1000 mm -1 or less. If it is Spc within these ranges, since it can be set as a rounded hump shape which is less likely to rub, friction resistance can be improved. The lower limit of Spc is not particularly limited, but is preferably 100 mm -1 or more, more preferably 200 mm -1 or more, and still more preferably 300 mm -1 or more.

상술한 바와 같이, 조면화 처리면의 미세 요철은 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성된다. 침상 결정 및/또는 판상 결정의 높이(즉, 침상 결정 및/또는 판상 결정의 근원으로부터 수직 방향으로 측정되는 높이)는, 50∼400㎚인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 100∼400㎚, 더욱 바람직하게는 150∼350㎚이다.As described above, the fine irregularities on the roughened surface are composed of acicular crystals and/or plate-like crystals. The height of the needle-like crystals and/or plate-like crystals (that is, the height measured in the vertical direction from the base of the needle-like crystals and/or plate-like crystals) is preferably 50 to 400 nm, more preferably 100 to 400 nm, still more Preferably it is 150-350 nm.

본 발명의 조면화 처리 구리박의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 0.1∼35㎛가 바람직하고, 더 바람직하게는 0.5∼18㎛이다. 또한, 본 발명의 조면화 처리 구리박은, 통상의 구리박 표면에 조면화 처리를 행한 것에 한정되지 않고, 캐리어 부착 구리박의 구리박 표면에 조면화 처리를 행한 것이어도 된다.The thickness of the roughened copper foil of the present invention is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 35 μm, more preferably 0.5 to 18 μm. Moreover, the roughening process copper foil of this invention is not limited to what performed the roughening process on the normal copper foil surface, What performed the roughening process on the copper foil surface of copper foil with a carrier may be sufficient.

제조 방법manufacturing method

본 발명에 의한 조면화 처리 구리박은, 모든 방법에 의해 제조된 것이어도 되지만, 산화 환원 처리를 거쳐 제조되는 것이 바람직하다. 이하, 본 발명에 의한 조면화 처리 구리박의 바람직한 제조 방법의 일례를 설명한다. 이 바람직한 제조 방법은, 최대 높이 Sz가 1.5㎛ 이하인 표면을 갖는 구리박을 준비하는 공정과, 상기 표면에 대해 예비 처리, 산화 처리 및 환원 처리를 순차 행하는 조면화 공정(산화 환원 처리)을 포함하여 이루어진다.The roughening-treated copper foil according to the present invention may be manufactured by any method, but is preferably manufactured through oxidation-reduction treatment. Hereinafter, an example of the preferable manufacturing method of the roughening process copper foil by this invention is demonstrated. This preferred manufacturing method includes a step of preparing a copper foil having a surface with a maximum height Sz of 1.5 µm or less, and a roughening step (oxidation-reduction treatment) of sequentially performing a preliminary treatment, an oxidation treatment, and a reduction treatment on the surface, It is done.

(1) 구리박의 준비(1) Preparation of copper foil

조면화 처리 구리박의 제조에 사용하는 구리박으로서는 전해 구리박 및 압연 구리박의 양쪽의 사용이 가능하고, 더 바람직하게는 전해 구리박이다. 또한, 구리박은, 무조면화의 구리박이어도 되고, 예비적 조면화를 실시한 것이어도 된다. 구리박의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 0.1∼35㎛가 바람직하고, 더 바람직하게는 0.5∼18㎛이다. 구리박이 캐리어 부착 구리박의 형태로 준비되는 경우에는, 구리박은, 무전해 구리 도금법 및 전해 구리 도금법 등의 습식 성막법, 스퍼터링 및 화학 증착 등의 건식 성막법, 또는 그것들의 조합에 의해 형성한 것이어도 된다.As copper foil used for manufacture of a roughening process copper foil, use of both an electrolytic copper foil and a rolled copper foil is possible, More preferably, it is an electrolytic copper foil. In addition, the copper foil may be non-roughened copper foil, or may have been subjected to preliminary roughening. The thickness of the copper foil is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 35 μm, more preferably 0.5 to 18 μm. When the copper foil is prepared in the form of a copper foil with a carrier, the copper foil is formed by a wet film formation method such as an electroless copper plating method and an electrolytic copper plating method, a dry film formation method such as sputtering and chemical vapor deposition, or a combination thereof. It can be done.

조면화 처리가 행해지게 되는 구리박의 표면은, ISO25178에 준거하여 측정되는 최대 높이 Sz가 1.5㎛ 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 1.2㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1.0㎛ 이하이다. 상기 범위 내이면, 본 발명의 조면화 처리 구리박에 요구되는 표면 프로파일, 특히 1.5㎛ 이하의 최대 높이 Sz를 조면화 처리면에 실현하기 쉬워진다. Sz의 하한값은 특별히 한정되지 않지만, Sz는 0.1㎛ 이상이 바람직하고, 보다 바람직하게는 0.2㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.3㎛ 이상이다.It is preferable that the maximum height Sz of the surface of the copper foil to which a roughening process is performed is measured based on ISO25178 is 1.5 micrometer or less, More preferably, it is 1.2 micrometer or less, More preferably, it is 1.0 micrometer or less. If it is in the said range, it becomes easy to realize the surface profile requested|required of the roughening process copper foil of this invention, especially the maximum height Sz of 1.5 micrometers or less in a roughening process surface. The lower limit of Sz is not particularly limited, but Sz is preferably 0.1 μm or more, more preferably 0.2 μm or more, and still more preferably 0.3 μm or more.

(2) 조면화 처리(산화 환원 처리)(2) Roughening treatment (oxidation-reduction treatment)

이와 같이 하여 상기 낮은 Sz가 부여된 구리박의 표면에 대해 예비 처리, 산화 처리 및 환원 처리를 순차 행하는 습식에 의한 조면화 공정을 실시하는 것이 바람직하다. 특히, 용액을 사용한 습식법으로 구리박의 표면에 산화 처리를 실시함으로써, 구리박 표면에 산화구리(산화제이구리)를 함유하는 구리 화합물을 형성한다. 그 후, 당해 구리 화합물을 환원 처리하여 산화구리의 일부를 아산화구리(산화제일구리)로 전환시킴으로써, 산화구리 및 아산화구리를 함유하는 구리 복합 화합물로 이루어지는 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 구리박의 표면에 형성할 수 있다. 여기서, 미세 요철은, 구리박의 표면을 습식법으로 산화 처리한 단계에서, 산화구리를 주성분으로 하는 구리 화합물에 의해 형성된다. 그리고, 당해 구리 화합물을 환원 처리하였을 때, 이 구리 화합물에 의해 형성된 미세 요철의 형상을 대략 유지한 채, 산화구리의 일부가 아산화구리로 전환되어, 산화구리 및 아산화구리를 함유하는 구리 복합 화합물로 이루어지는 미세 요철이 된다. 이와 같이 구리박의 표면에 습식법으로 적정한 산화 처리를 실시한 후에, 환원 처리를 실시함으로써, nm 오더의 미세 요철의 형성이 가능해진다.In this way, it is preferable to perform a wet roughening step of sequentially performing a preliminary treatment, an oxidation treatment, and a reduction treatment with respect to the surface of the copper foil to which the above-mentioned low Sz is provided. In particular, a copper compound containing copper oxide (cupric oxide) is formed on the surface of the copper foil by subjecting the surface of the copper foil to oxidation treatment by a wet method using a solution. Thereafter, the copper compound is subjected to a reduction treatment to convert a part of the copper oxide to cuprous oxide (cuprous oxide), thereby forming a microstructure composed of needle-like crystals and/or plate-like crystals composed of copper oxide and a copper complex compound containing cuprous oxide. Concavo-convex can be formed on the surface of the copper foil. Here, the fine irregularities are formed by a copper compound containing copper oxide as a main component in the step of oxidizing the surface of the copper foil by a wet method. Then, when the copper compound is subjected to a reduction treatment, a part of the copper oxide is converted to cuprous oxide while maintaining the shape of the fine concavo-convex formed by the copper compound to form a copper complex compound containing copper oxide and cuprous oxide. It becomes a fine irregularity formed. In this way, formation of fine concavities and convexities on the order of nm becomes possible by performing a reduction treatment after performing an appropriate oxidation treatment on the surface of the copper foil by a wet method.

(2a) 예비 처리(2a) Preliminary treatment

산화 처리에 앞서, 구리박에 대해 탈지 등의 예비 처리를 실시하는 것이 바람직하다. 이 예비 처리는, 구리박을 수산화나트륨 수용액에 침지하여 알칼리 탈지 처리를 행한 후, 수세하는 것이 바람직하다. 바람직한 수산화나트륨 수용액은 NaOH 농도 20∼60g/L, 액온 30∼60℃이고, 바람직한 침지 시간은 2초∼5분이다. 또한, 알칼리 탈지 처리가 실시된 구리박을 황산계 수용액에 침지한 후, 수세하는 것이 바람직하다. 바람직한 황산계 수용액은 황산 농도 1∼20질량%, 액온 20∼50℃이고, 바람직한 침지 시간은 2초∼5분이다.Prior to the oxidation treatment, it is preferable to perform a preliminary treatment such as degreasing on the copper foil. In this preliminary treatment, it is preferable to wash with water after immersing the copper foil in an aqueous sodium hydroxide solution and performing an alkali degreasing treatment. Preferable sodium hydroxide aqueous solution has a NaOH concentration of 20 to 60 g/L, a solution temperature of 30 to 60°C, and a preferred immersion time is 2 seconds to 5 minutes. Further, it is preferable to wash with water after immersing the copper foil subjected to the alkali degreasing treatment in a sulfuric acid-based aqueous solution. A preferable sulfuric acid-based aqueous solution has a sulfuric acid concentration of 1 to 20% by mass, a liquid temperature of 20 to 50°C, and a preferable immersion time is 2 seconds to 5 minutes.

(2b) 산화 처리(2b) oxidation treatment

상기 예비 처리가 실시된 구리박에 대해 수산화나트륨 용액 등의 알칼리 용액을 사용하여 산화 처리를 행한다. 알칼리 용액으로 구리박의 표면을 산화함으로써, 산화구리를 주성분으로 하는 구리 복합 화합물로 이루어지는 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 구리박의 표면에 형성할 수 있다. 이때, 알칼리 용액의 온도는 60∼85℃가 바람직하고, 알칼리 용액의 pH는 10∼14가 바람직하다. 또한, 알칼리 용액은 산화의 관점에서 염소산염, 아염소산염, 차아염소산염, 과염소산염을 포함하는 것이 바람직하고, 그 농도는 100∼500g/L이 바람직하다. 산화 처리는 전해 구리박을 알칼리 용액에 침지시킴으로써 행하는 것이 바람직하고, 그 침지 시간(즉, 산화 시간)은 10초∼20분이 바람직하고, 더 바람직하게는 30초∼10분이다.An oxidation treatment is performed using an alkali solution such as a sodium hydroxide solution with respect to the copper foil subjected to the above-described preliminary treatment. By oxidizing the surface of the copper foil with an alkaline solution, fine concavities and convexities composed of needle-like crystals and/or plate-like crystals made of a copper complex compound containing copper oxide as a main component can be formed on the surface of the copper foil. At this time, the temperature of the alkaline solution is preferably 60 to 85 ° C, and the pH of the alkaline solution is preferably 10 to 14. In view of oxidation, the alkali solution preferably contains chlorates, chlorites, hypochlorites, and perchlorates, and the concentration thereof is preferably 100 to 500 g/L. The oxidation treatment is preferably performed by immersing the electrolytic copper foil in an alkaline solution, and the immersion time (ie, oxidation time) is preferably 10 seconds to 20 minutes, more preferably 30 seconds to 10 minutes.

산화 처리에 사용하는 알칼리 용액은 산화 억제제를 더 포함하는 것이 바람직하다. 즉, 알칼리 용액에 의해 구리박의 표면에 대해 산화 처리를 실시한 경우, 당해 볼록 형상부가 과도하게 성장하여, 원하는 길이를 초과하는 경우가 있어, 원하는 미세 요철을 형성하는 것이 곤란해진다. 그래서, 상기 미세 요철을 형성하기 위해, 구리박 표면에 있어서의 산화를 억제 가능한 산화 억제제를 포함하는 알칼리 용액을 사용하는 것이 바람직하다. 바람직한 산화 억제제의 예로서는, 아미노계 실란 커플링제를 들 수 있다. 아미노계 실란 커플링제를 포함하는 알칼리 용액을 사용하여 구리박 표면에 산화 처리를 실시함으로써, 당해 알칼리 용액 중의 아미노계 실란 커플링제가 구리박의 표면에 흡착되어, 알칼리 용액에 의한 구리박 표면의 산화를 억제할 수 있다. 그 결과, 산화구리의 침상 결정 및/또는 판상 결정의 성장을 억제할 수 있어, 극히 미세한 요철을 구비한 바람직한 조면화 처리면을 형성할 수 있다. 아미노계 실란 커플링제의 구체예로서는, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필메틸디메톡시실란, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-트리에톡시실릴-N-(1,3-디메틸-부틸리덴)프로필아민, N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란 등을 들 수 있고, 특히 바람직하게는 N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란이다. 이것들은 모두 알칼리성 용액에 용해되어, 알칼리성 용액 중에 안정적으로 유지됨과 함께, 상술한 구리박 표면의 산화를 억제하는 효과를 발휘한다. 알칼리 용액에 있어서의 아미노계 실란 커플링제(예를 들어, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란)의 바람직한 농도는 0.01∼20g/L이고, 더 바람직하게는 0.02∼20g/L이다.It is preferable that the alkaline solution used for oxidation treatment further contains an oxidation inhibitor. That is, when oxidation treatment is performed on the surface of the copper foil with an alkali solution, the convex portion may grow excessively and exceed a desired length, making it difficult to form desired fine irregularities. Then, in order to form the said microrelief, it is preferable to use the alkaline solution containing the oxidation inhibitor which can suppress oxidation in the copper foil surface. An amino-type silane coupling agent is mentioned as an example of a preferable oxidation inhibitor. By subjecting the copper foil surface to oxidation treatment using an alkaline solution containing an amino-based silane coupling agent, the amino-based silane coupling agent in the alkaline solution is adsorbed on the surface of the copper foil, and oxidation of the copper foil surface by the alkaline solution can suppress As a result, the growth of acicular crystals and/or plate-like crystals of copper oxide can be suppressed, and a preferable roughened surface with extremely fine irregularities can be formed. Specific examples of the amino silane coupling agent include N-2-(aminoethyl)-3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-2-(aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane, and 3-aminopropyltri. Methoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-triethoxysilyl-N-(1,3-dimethyl-butylidene)propylamine, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, etc. and N-2-(aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane is particularly preferred. All of these are dissolved in the alkaline solution, and while being stably maintained in the alkaline solution, they exert the effect of suppressing the above-mentioned oxidation of the copper foil surface. The preferred concentration of the amino-based silane coupling agent (for example, N-2-(aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane) in the alkaline solution is 0.01 to 20 g/L, more preferably 0.02 to 20 g/L. 20 g/L.

(2c) 환원 처리(2c) reduction treatment

상기 산화 처리가 실시된 구리박(이하, 산화 처리 구리박이라고 함)에 대해 환원 처리액을 사용하여 환원 처리를 행한다. 환원 처리에 의해 산화구리의 일부를 아산화구리(산화제일구리)로 전환시킴으로써, 산화구리 및 아산화구리를 함유하는 구리 복합 화합물로 이루어지는 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 구리박의 표면에 형성할 수 있다. 이 환원 처리는, 산화 처리 구리박에 환원 처리액을 접촉시킴으로써 행하면 되지만, 이때 환원 처리액 중의 용존 산소량을 올리는 것이, 1300㎜-1 이하의 산 정점의 산술 평균곡 Spc의 조면화 처리면을 형성하는 데 있어서 바람직하다. 용존 산소량을 올림으로써, 용존 산소에 의한 산화 효과와 환원제에 의한 환원력의 균형을 맞출 수 있고, 그것에 의해 상기 Spc를 실현할 수 있는 것이라고 생각된다. 환원 처리액 중의 용존 산소량을 올리는 방법으로서는, 환원 처리액을 교반하면서 산화 처리 구리박을 침지시키는 방법 및 산화 처리 구리박에 환원 처리액을 샤워로 분사하는 방법을 들 수 있다. 특히 바람직하게는, 간편하게 바람직한 Spc를 실현할 수 있는 점에서, 환원 처리액을 샤워로 분사하는 방법이며, 이 경우, 샤워로 환원 처리액을 분사하는 시간은 2∼60초 정도의 단시간이면 되고, 더 바람직하게는 5∼30초이다. 또한, 바람직한 환원 처리액은 디메틸아민보란 수용액이며, 이 수용액은 디메틸아민보란을 10∼40g/L의 농도로 함유하는 것이 바람직하다. 또한, 디메틸아민보란 수용액은 탄산나트륨과 수산화나트륨을 사용하여 pH12∼14로 조정되는 것이 바람직하다. 이때의 수용액의 온도는 특별히 한정되지 않고, 실온이면 된다. 이와 같이 하여 환원 처리를 행한 구리박은 수세하고, 건조하는 것이 바람직하다.The copper foil subjected to the oxidation treatment (hereinafter referred to as oxidation-treated copper foil) is subjected to reduction treatment using a reduction treatment liquid. By converting a part of copper oxide to cuprous oxide (cuprous oxide) by reduction treatment, fine irregularities composed of acicular crystals and/or plate-like crystals composed of a copper complex compound containing copper oxide and cuprous oxide are formed on the surface of the copper foil. can be formed in This reduction treatment may be performed by bringing the oxidation treatment copper foil into contact with the reduction treatment solution. At this time, increasing the amount of dissolved oxygen in the reduction treatment solution forms a roughened surface of the arithmetic mean curve Spc of peaks of 1300 mm -1 or less. It is desirable to do It is thought that by increasing the amount of dissolved oxygen, it is possible to balance the oxidizing effect by dissolved oxygen and the reducing power by the reducing agent, thereby realizing the above Spc. Examples of methods for increasing the amount of dissolved oxygen in the reduction treatment liquid include a method of immersing the oxidation treatment copper foil while stirring the reduction treatment liquid, and a method of spraying the reduction treatment liquid on the oxidation treatment copper foil with a shower. Particularly preferred is a method of spraying the reducing treatment liquid with a shower in that a desired Spc can be easily achieved. In this case, the time for spraying the reducing treatment liquid with the shower may be as short as 2 to 60 seconds. Preferably it is 5 to 30 seconds. In addition, a preferable reducing treatment liquid is an aqueous solution of dimethylamine borane, and it is preferable that this aqueous solution contains dimethylamine borane at a concentration of 10 to 40 g/L. Further, the aqueous solution of dimethylamine borane is preferably adjusted to pH 12 to 14 using sodium carbonate and sodium hydroxide. The temperature of the aqueous solution at this time is not particularly limited, and may be room temperature. In this way, it is preferable to wash and dry the copper foil which performed the reduction process with water.

(3) 방청 처리(3) Anti-rust treatment

요망에 따라, 조면화 처리 후의 구리박에 방청 처리를 실시하여, 방청층을 형성해도 된다. 방청층의 예로서는, 무기 성분을 사용한 무기 방청층, 유기 성분을 사용한 유기 방청층 및 그것들의 조합을 들 수 있다. 바람직한 무기 방청층은, 아연, 주석, 니켈, 코발트, 몰리브덴, 텅스텐, 티타늄, 크롬 등의 원소를 1종 이상 포함하는 것이다. 바람직한 유기 방청층은, 트리아졸 화합물을 포함하는 것이며, 더 바람직하게는 벤조트리아졸, 카르복시벤조트리아졸, 메틸벤조트리아졸, 아미노트리아졸, 니트로벤조트리아졸, 히드록시벤조트리아졸, 클로로벤조트리아졸, 에틸벤조트리아졸, 나프토트리아졸, 또는 그것들의 임의의 조합을 포함한다.If desired, a rust-preventive process may be performed on the copper foil after the roughening treatment to form a rust-preventive layer. Examples of the anti-rust layer include an inorganic anti-rust layer using an inorganic component, an organic anti-rust layer using an organic component, and a combination thereof. A preferable inorganic antirust layer contains one or more elements, such as zinc, tin, nickel, cobalt, molybdenum, tungsten, titanium, and chromium. Preferred organic anti-corrosive layers are those containing a triazole compound, more preferably benzotriazole, carboxybenzotriazole, methylbenzotriazole, aminotriazole, nitrobenzotriazole, hydroxybenzotriazole, and chlorobenzotriazole. sol, ethylbenzotriazole, naphthotriazole, or any combination thereof.

(4) 실란 커플링제 처리(4) Silane coupling agent treatment

요망에 따라, 조면화 처리 후의 구리박에 실란 커플링제 처리를 실시하여, 실란 커플링제층을 형성해도 된다. 이에 의해 내습성, 내약품성 및 접착제 등과의 밀착성 등을 향상시킬 수 있다. 실란 커플링제층은, 실란 커플링제를 적절하게 희석하여 도포하고, 건조시킴으로써 형성할 수 있다. 실란 커플링제의 예로서는, 4-글리시딜부틸트리메톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란 등의 에폭시 관능성 실란커플링제, 또는 3-아미노프로필트리에톡시실란, N-2(아미노에틸)3-아미노프로필트리메톡시실란, N-3-(4-(3-아미노프로폭시)부톡시)프로필-3-아미노프로필트리메톡시실란, N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란 등의 아미노 관능성 실란 커플링제, 또는 3-머캅토프로필트리메톡시실란 등의 머캅토 관능성 실란 커플링제, 또는 비닐트리메톡시실란, 비닐페닐트리메톡시실란 등의 올레핀 관능성 실란 커플링제, 또는 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란 등의 아크릴 관능성 실란 커플링제, 또는 이미다졸 실란 등의 이미다졸 관능성 실란 커플링제, 또는 트리아진실란 등의 트리아진 관능성 실란 커플링제 등을 들 수 있다.According to request, a silane coupling agent process may be performed on the copper foil after a roughening process, and a silane coupling agent layer may be formed. Thereby, moisture resistance, chemical resistance, adhesiveness with an adhesive etc. can be improved. The silane coupling agent layer can be formed by appropriately diluting and applying the silane coupling agent and drying it. Examples of the silane coupling agent include epoxy functional silane coupling agents such as 4-glycidylbutyltrimethoxysilane and 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, or 3-aminopropyltriethoxysilane, N-2( Aminoethyl) 3-aminopropyltrimethoxysilane, N-3-(4-(3-aminopropoxy)butoxy)propyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimeth An amino functional silane coupling agent such as toxysilane, or a mercapto functional silane coupling agent such as 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, or an olefin functional silane such as vinyltrimethoxysilane or vinylphenyltrimethoxysilane. A coupling agent, or an acrylic functional silane coupling agent such as 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, or an imidazole functional silane coupling agent such as imidazole silane, or a triazine functional silane coupling agent such as triazinesilane, etc. can be heard

또한, 상술한 바와 같은 방청 처리와 상술한 바와 같은 실란 커플링제 처리의 양쪽을 행해도 된다.In addition, you may perform both the above-mentioned rust prevention process and the above-mentioned silane coupling agent process.

동장 comrade 적층판Laminate

본 발명의 조면화 처리 구리박은 프린트 배선판용 동장 적층판의 제작에 사용되는 것이 바람직하다. 즉, 본 발명의 바람직한 양태에 의하면, 상기 조면화 처리 구리박을 구비한 동장 적층판, 또는 상기 조면화 처리 구리박을 사용하여 얻어진 동장 적층판이 제공된다. 이 동장 적층판은, 본 발명의 조면화 처리 구리박과, 이 조면화 처리 구리박의 조면화 처리면에 밀착되어 형성되는 수지층을 구비하여 이루어진다. 조면화 처리 구리박은 수지층의 편면에 설치되어도 되고, 양면에 설치되어도 된다. 수지층은, 수지, 바람직하게는 절연성 수지를 포함하여 이루어진다. 수지층은 프리프레그 및/또는 수지 시트인 것이 바람직하다. 프리프레그라 함은, 합성 수지판, 유리판, 유리 직포, 유리 부직포, 종이 등의 기재에 합성 수지를 함침시킨 복합 재료의 총칭이다. 절연성 수지의 바람직한 예로서는, 에폭시 수지, 시아네이트 수지, 비스말레이미드트리아진 수지(BT 수지), 폴리페닐렌에테르 수지, 페놀 수지 등을 들 수 있다. 또한, 수지 시트를 구성하는 절연성 수지의 예로서는, 에폭시 수지, 폴리이미드 수지, 폴리에스테르 수지 등의 절연 수지를 들 수 있다. 또한, 수지층에는 절연성을 향상시키는 등의 관점에서 실리카, 알루미나 등의 각종 무기 입자로 이루어지는 필러 입자 등이 함유되어 있어도 된다. 수지층의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 1∼1000㎛가 바람직하고, 보다 바람직하게는 2∼400㎛이고, 더욱 바람직하게는 3∼200㎛이다. 수지층은 복수의 층으로 구성되어 있어도 된다. 프리프레그 및/또는 수지 시트 등의 수지층은 미리 구리박 표면에 도포되는 프라이머 수지층을 개재하여 조면화 처리 구리박에 마련되어 있어도 된다.It is preferable that the roughening process copper foil of this invention is used for manufacture of the copper clad laminated board for printed wiring boards. That is, according to the preferable aspect of this invention, the copper clad laminated board provided with the said roughening process copper foil or the copper clad laminated board obtained using the said roughening process copper foil is provided. This copper clad laminated board comprises the roughening process copper foil of this invention, and the resin layer formed by adhering to the roughening process surface of this roughening process copper foil. The roughening-treated copper foil may be provided on one side of the resin layer, or may be provided on both sides. The resin layer contains a resin, preferably an insulating resin. The resin layer is preferably a prepreg and/or a resin sheet. Prepreg is a general term for composite materials in which a synthetic resin is impregnated into substrates such as synthetic resin plates, glass plates, glass woven fabrics, glass non-woven fabrics, and paper. Preferable examples of the insulating resin include epoxy resins, cyanate resins, bismaleimide triazine resins (BT resins), polyphenylene ether resins, and phenol resins. Moreover, as an example of the insulating resin which comprises a resin sheet, insulating resins, such as an epoxy resin, a polyimide resin, and a polyester resin, are mentioned. In addition, the resin layer may contain filler particles made of various inorganic particles such as silica and alumina from the viewpoint of improving insulation. Although the thickness of the resin layer is not particularly limited, it is preferably 1 to 1000 μm, more preferably 2 to 400 μm, still more preferably 3 to 200 μm. The resin layer may be composed of a plurality of layers. Resin layers, such as a prepreg and/or a resin sheet, may be provided in the roughening process copper foil through the primer resin layer previously apply|coated to the copper foil surface.

프린트 print 배선판wiring board

본 발명의 조면화 처리 구리박은 프린트 배선판의 제작에 사용되는 것이 바람직하다. 즉, 본 발명의 바람직한 양태에 의하면, 상기 조면화 처리 구리박을 구비한 프린트 배선판, 또는 상기 조면화 처리 구리박을 사용하여 얻어진 프린트 배선판이 제공된다. 본 양태에 의한 프린트 배선판은, 수지층과, 구리층이 이 순서로 적층된 층 구성을 포함하여 이루어진다. 또한, 수지층에 대해서는 동장 적층판에 관하여 상술한 바와 같다. 어쨌든, 프린트 배선판은 공지의 층 구성이 채용 가능하다. 프린트 배선판에 관한 구체예로서는, 프리프레그의 편면 또는 양면에 본 발명의 조면화 처리 구리박을 접착시켜 경화한 적층체로 한 후, 회로 형성한 편면 또는 양면 프린트 배선판이나, 이것들을 다층화한 다층 프린트 배선판 등을 들 수 있다. 또한, 다른 구체예로서는, 수지 필름 상에 본 발명의 조면화 처리 구리박을 형성하여 회로를 형성하는 플렉시블 프린트 배선판, COF, TAB 테이프 등도 들 수 있다. 또 다른 구체예로서는, 본 발명의 조면화 처리 구리박에 상술한 수지층을 도포한 수지 부착 구리박(RCC)을 형성하고, 수지층을 절연 접착재층으로서 상술한 프린트 기판에 적층한 후, 조면화 처리 구리박을 배선층의 전부 또는 일부로서 모디파이드 세미 애디티브(MSAP)법, 서브 트랙티브법 등의 방법으로 회로를 형성한 빌드 업 배선판이나, 조면화 처리 구리박을 제거하여 세미 애디티브(SAP)법으로 회로를 형성한 빌드 업 배선판, 반도체 집적 회로 상에 수지 부착 구리박의 적층과 회로 형성을 교대로 반복하는 다이렉트 빌드 업 온 웨이퍼 등을 들 수 있다.It is preferable that the roughening process copper foil of this invention is used for preparation of a printed wiring board. That is, according to the preferable aspect of this invention, the printed wiring board provided with the said roughening process copper foil or the printed wiring board obtained using the said roughening process copper foil is provided. The printed wiring board according to this aspect includes a layer configuration in which a resin layer and a copper layer are laminated in this order. In addition, about a resin layer, it is as having mentioned above about a copper clad laminated board. In any case, a known layer structure can be adopted for the printed wiring board. Specific examples of the printed wiring board include a single-sided or double-sided printed wiring board obtained by adhering the roughened copper foil of the present invention to one or both surfaces of a prepreg to form a cured laminate, and then forming a circuit, a multilayer printed wiring board obtained by multilayering these, etc. can be heard Moreover, as another specific example, the flexible printed wiring board which forms the roughening process copper foil of this invention on a resin film, and forms a circuit, COF, TAB tape, etc. are mentioned. As another specific example, after forming a copper foil (RCC) with a resin in which the above-described resin layer is applied to the roughened copper foil of the present invention, and laminating the resin layer on the above-described printed circuit board as an insulating adhesive layer, A build-up wiring board in which a circuit is formed by a method such as a modified semi-additive (MSAP) method or a subtractive method using the treated copper foil as all or part of the wiring layer, or a semi-additive (SAP) by removing the roughened copper foil. ) method, and direct build-up on wafers in which lamination of copper foil with resin and circuit formation are alternately repeated on semiconductor integrated circuits.

실시예Example

본 발명을 이하의 예에 의해 더욱 구체적으로 설명한다.The present invention is explained more specifically with the following examples.

예 1∼10Examples 1 to 10

본 발명의 조면화 처리 구리박의 제작을 이하와 같이 하여 행하였다.Production of the roughening process copper foil of this invention was performed as follows.

(1) 전해 구리박의 제작(1) Production of electrolytic copper foil

구리 전해액으로서 이하에 설명되는 조성의 황산 산성 황산구리 용액을 사용하고, 음극에 티타늄제의 회전 전극을 사용하고, 양극에는 DSA(치수 안정성 양극)를 사용하고, 용액 온도 45℃, 전류 밀도 55A/dm2로 전해하여, 두께 12㎛의 전해 구리박을 얻었다. 이 전해 구리박의 석출면 및 전극면의 최대 높이 Sz를 후술하는 방법으로 측정한 바, 석출면의 Sz가 0.8㎛, 전극면의 Sz가 1.2㎛였다.As a copper electrolyte solution, a sulfuric acid acidic copper sulfate solution having the composition described below was used, a rotating electrode made of titanium was used as the cathode, and a DSA (dimensional stability anode) was used as the anode, solution temperature was 45°C, and current density was 55 A/dm. 2 to obtain an electrolytic copper foil having a thickness of 12 µm. When the maximum height Sz of the deposition surface and electrode surface of this electrolytic copper foil was measured by the method mentioned later, Sz of the precipitation surface was 0.8 micrometer and Sz of the electrode surface was 1.2 micrometer.

<황산 산성 황산구리 용액의 조성><Composition of sulfuric acid copper sulfate solution>

- 구리 농도: 80g/L- Copper concentration: 80g/L

- 황산 농도: 260g/L- Sulfuric acid concentration: 260g/L

- 비스(3-술포프로필)디술피드 농도: 30㎎/L- Bis (3-sulfopropyl) disulfide concentration: 30 mg / L

- 디알릴디메틸암모늄클로라이드 중합체 농도: 50㎎/L- Diallyldimethylammonium chloride polymer concentration: 50 mg/L

- 염소 농도: 40㎎/L- Chlorine concentration: 40mg/L

(2) 조면화 처리(산화 환원 처리)(2) Roughening treatment (oxidation-reduction treatment)

상기 얻어진 전해 구리박의 전극면측(예 1∼5) 또는 석출면측(예 6∼10)에 대해, 이하에 설명되는 3단계의 프로세스에 의해 조면화 처리(산화 환원 처리)를 행하였다. 즉, 이하에 나타내는 예비 처리, 산화 처리 및 환원 처리를 이 순서로 행하였다.The electrode surface side (Examples 1 to 5) or the precipitation surface side (Examples 6 to 10) of the obtained electrolytic copper foil was subjected to a roughening treatment (oxidation-reduction treatment) by a three-step process described below. That is, the preliminary treatment, oxidation treatment, and reduction treatment shown below were performed in this order.

<예비 처리><Preliminary processing>

상기 (1)에서 얻어진 전해 구리박을 NaOH 농도 50g/L의 수산화나트륨 수용액에 액온 40℃에서 1분간 침지하여, 알칼리 탈지 처리를 행한 후, 수세하였다. 이 알칼리 탈지 처리가 실시된 전해 구리박을 황산 농도가 5질량%인 황산계 수용액에 1분간 침지한 후, 수세하였다.The electrolytic copper foil obtained in the above (1) was immersed in an aqueous sodium hydroxide solution having a NaOH concentration of 50 g/L at a liquid temperature of 40°C for 1 minute, subjected to an alkali degreasing treatment, and then washed with water. The electrolytic copper foil subjected to the alkali degreasing treatment was immersed in a sulfuric acid-based aqueous solution having a sulfuric acid concentration of 5% by mass for 1 minute, and then washed with water.

<산화 처리><Oxidation treatment>

상기 예비 처리가 실시된 전해 구리박에 대해 산화 처리를 행하였다. 이 산화 처리는, 당해 전해 구리박을 액온 70℃, pH=12, 아염소산 농도가 150g/L, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란 농도가 10g/L인 수산화나트륨 용액에, 표 1에 기재되는 시간 침지시킴으로써 행하였다. 이와 같이 하여, 전해 구리박의 양면에, 산화구리를 주성분으로 하는 구리 복합 화합물로 이루어지는 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 형성하였다.Oxidation treatment was performed on the electrolytic copper foil subjected to the preliminary treatment. In this oxidation treatment, the electrolytic copper foil is subjected to hydroxylation at a solution temperature of 70°C, pH = 12, a chlorous acid concentration of 150 g/L, and an N-2-(aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane concentration of 10 g/L. It carried out by making it immerse in sodium solution for the time described in Table 1. In this way, on both sides of the electrolytic copper foil, fine concavities and convexities composed of needle-like crystals and/or plate-like crystals made of a copper complex compound containing copper oxide as a main component were formed.

<환원 처리><Reduction treatment>

상기 산화 처리가 실시된 시료에 대해 환원 처리를 행하였다. 이 환원 처리는, 상기 산화 처리에 의해 미세 요철이 형성된 전해 구리박의 전극면측 또는 석출면측에, 탄산나트륨과 수산화나트륨을 사용하여 pH=12로 조정한 디메틸아민보란 농도가 20g/L인 수용액을 10초간 샤워로 분사함으로써 행하였다. 이때의 수용액의 온도는 실온으로 하였다. 이와 같이 하여 환원 처리를 행한 시료를 수세하고, 건조하였다. 이들 공정에 의해, 전해 구리박의 한쪽 면측의 산화구리의 일부를 환원하여 아산화구리로 하고, 산화구리 및 아산화구리를 포함하는 구리 복합 화합물로 이루어지는 미세 요철을 갖는 조면화 처리면으로 하였다. 이와 같이 하여 침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 구비한 조면화 처리면을 적어도 한쪽 측에 갖는 조면화 처리 구리박을 얻었다.A reduction treatment was performed on the sample subjected to the above oxidation treatment. In this reduction treatment, an aqueous solution having a dimethylamine borane concentration of 20 g/L adjusted to pH = 12 using sodium carbonate and sodium hydroxide is applied to the electrode surface side or the precipitation surface side of the electrolytic copper foil on which fine concavities and convexities are formed by the above oxidation treatment, and is 10 g/L. It was carried out by spraying with a shower for seconds. The temperature of the aqueous solution at this time was room temperature. The sample subjected to the reduction treatment in this way was washed with water and dried. By these steps, a part of the copper oxide on one side of the electrolytic copper foil was reduced to form cuprous oxide, and a roughened surface having fine irregularities made of a copper complex compound containing copper oxide and cuprous oxide was obtained. In this way, a roughened copper foil having at least one side a roughened surface provided with fine concavities and convexities composed of acicular crystals and/or plate-like crystals was obtained.

예 11(비교) Example 11 (comparison)

환원 처리에 있어서의 수용액의 부착을, 샤워를 사용하는 대신에, 산화 처리가 실시된 시료를 수용액 중에 침지시킴으로써 행한 것 이외에는, 예 2와 마찬가지로 하여, 조면화 처리 구리박의 제작을 행하였다.A roughening-treated copper foil was produced in the same manner as in Example 2, except that adhesion of the aqueous solution in the reduction treatment was performed by immersing the sample subjected to the oxidation treatment in the aqueous solution instead of using a shower.

예 12 및 13(비교) Examples 12 and 13 (comparison)

예 1의 (1)과 마찬가지로 하여 얻어진 전해 구리박의 석출면측(예 12) 또는 전극면측(예 13)에 대해 예 1의 (2)와 마찬가지로 하여 예비 처리를 행한 후, 이하에 설명되는 종래의 산화 처리 및 환원 처리(산화 환원 처리)를 실시함으로써, 조면화 처리 구리박의 제작을 행하였다.After performing a preliminary treatment in the same manner as in Example 1 (2) on the deposition surface side (Example 12) or electrode surface side (Example 13) of the electrolytic copper foil obtained in the same manner as in Example 1 (1), the conventional The roughening process copper foil was produced by performing oxidation treatment and reduction treatment (oxidation reduction treatment).

<산화 처리><Oxidation treatment>

상기 전해 구리박에 대해 산화 처리를 행하였다. 이 산화 처리는, 상기 전해 구리박을, 롬 앤드 하스 전자 재료 주식회사 제조의 산화 처리액인 「PRO BOND 80A OXIDE SOLUTION」을 10vol% 및 「PRO BOND 80B OXIDE SOLUTION」을 20vol% 함유하는 액온 85℃의 수용액에 5분간 침지시킴으로써 행하였다.Oxidation treatment was performed on the electrolytic copper foil. In this oxidation treatment, the electrolytic copper foil is subjected to a liquid temperature of 85 ° C. containing 10 vol% of “PRO BOND 80A OXIDE SOLUTION” and 20 vol% of “PRO BOND 80B OXIDE SOLUTION”, which is an oxidation treatment liquid manufactured by Rohm and Haas Electronic Materials Co., Ltd. It was performed by immersing in an aqueous solution for 5 minutes.

<환원 처리><Reduction treatment>

상기 산화 처리를 실시한 전해 구리박에 대해 환원 처리를 행하였다. 이 환원 처리는, 상기 산화 처리를 실시한 전해 구리박에, 롬 앤드 하스 전자 재료 주식회사 제조의 환원 처리액인 「CIRCUPOSIT PB OXIDE CONVERTER 60C」를 6.7vol%, 「CUPOSITZ」를 1.5vol% 함유하는 액온 35℃의 수용액을 10초간 샤워로 분사함으로써 행하였다. 이와 같이 하여 환원 처리를 행한 시료를 수세하고, 건조하였다.A reduction treatment was performed on the electrolytic copper foil subjected to the oxidation treatment. In this reduction treatment, the electrolytic copper foil subjected to the above oxidation treatment was subjected to a liquid temperature of 35°C containing 6.7 vol% of "CIRCUPOSIT PB OXIDE CONVERTER 60C" and 1.5 vol% of "CUPOSITZ", which is a reduction treatment liquid manufactured by Rohm and Haas Electronic Materials Co., Ltd. It performed by spraying the aqueous solution at °C in a shower for 10 seconds. The sample subjected to the reduction treatment in this way was washed with water and dried.

예 14 및 15(비교) Examples 14 and 15 (comparison)

환원 처리를, 샤워를 사용하는 대신에, 산화 처리가 실시된 시료를 수용액 중에 5분간 침지시킴으로써 행한 것 이외에는, 예 12(예 14의 경우) 또는 예 13(예 15의 경우)과 마찬가지로 하여, 조면화 처리 구리박의 제작을 행하였다.The reduction treatment was performed in the same manner as in Example 12 (in the case of Example 14) or Example 13 (in the case of Example 15), except that the sample subjected to the oxidation treatment was immersed in an aqueous solution for 5 minutes instead of using a shower, Production of the cotton-treated copper foil was performed.

평가evaluation

예 1∼15에 있어서 제작된 조면화 처리 구리박에 대해, 이하에 설명되는 각종 평가를 행하였다.About the roughening process copper foil produced in Examples 1-15, the various evaluation demonstrated below was performed.

<최대 높이 Sz><maximum height Sz>

레이저 현미경(가부시키가이샤 키엔스 제조, VK-X100)을 사용한 표면 성상 해석에 의해, 조면화 처리 구리박의 조면화 처리면에 있어서의 최대 높이 Sz의 측정을 ISO25178에 준거하여 행하였다. 구체적으로는, 조면화 처리 구리박의 조면화 처리면에 있어서의 면적 22500㎛2의 2차원 영역의 표면 프로파일을 레이저법에 의해 측정하였다. 동일 샘플에 대해 3개소 측정하였을 때의 평균값을 최대 높이 Sz의 값으로서 채용하였다. 전술한 각 예에 있어서의 조면화 처리 전의 전해 구리박의 석출면 또는 전극면의 최대 높이 Sz의 측정도 상기와 마찬가지의 순서로 행해졌다.The measurement of maximum height Sz in the roughening process surface of the roughening process copper foil was performed based on ISO25178 by the surface property analysis using a laser microscope (VK-X100 made by Keyence Corporation). Specifically, the surface profile of the two-dimensional area|region with an area of 22500 micrometer< 2 > in the roughening process surface of the roughening process copper foil was measured by the laser method. The average value when measuring three locations for the same sample was adopted as the value of the maximum height Sz. The measurement of the maximum height Sz of the electrode surface or the deposition surface of the electrolytic copper foil before the roughening treatment in each of the examples described above was also performed in the same procedure as described above.

<산 정점의 산술 평균곡 Spc><The arithmetic mean of the peak of the mountain Spc>

레이저 현미경(가부시키가이샤 키엔스 제조, VK-X100)을 사용한 표면 성상 해석에 의해, 조면화 처리 구리박의 조면화 처리면에 있어서의 산 정점의 산술 평균곡 Spc의 측정을 ISO25178에 준거하여 행하였다. 구체적으로는, 조면화 처리 구리박의 조면화 처리면에 있어서의 면적 100㎛2의 2차원 영역의 표면 프로파일을, 레이저법에 의해 측정하였다. 동일 샘플에 대해 10개소 측정하였을 때의 평균값을 산 정점의 산술 평균곡 Spc로서 채용하였다.Measurement of the arithmetic mean curve Spc of the peaks in the roughened surface of the roughened copper foil was performed based on ISO25178 by surface property analysis using a laser microscope (VK-X100, manufactured by Keyence Corporation). . Specifically, the surface profile of the two-dimensional region with an area of 100 µm 2 on the roughened surface of the roughened copper foil was measured by a laser method. The average value when measuring 10 locations for the same sample was adopted as the arithmetic mean curve Spc of the mountain peak.

<내 마찰성-마찰 시험 전후의 명도 차 ΔL><Friction resistance-brightness difference ΔL before and after friction test>

조면화 처리 구리박의 내 마찰성을 평가하기 위해, 마찰 시험 전후에 있어서의 조면화 처리 구리박의 조면화 처리면의 (L*a*b* 표색계에 있어서의) 명도 L*의 변화(ΔL)를 측정하였다. 명도 L*의 측정은, 분광 색차계(닛본 덴쇼꾸 고교 가부시키가이샤 제조, SE2000)를 사용하여, JIS Z8722:2000에 준거하여 행하였다. 이때, 명도의 교정에는 측정 장치에 부속된 백색판을 사용하였다. 이 측정은 동일 부위에 대해 3회 행하고, 3회의 측정값의 평균값을 당해 조면화 처리 구리박의 명도 L*의 값으로서 채용하였다. 이어서, 마찰 시험으로서, 제작한 조면화 처리 구리박을 복수 매 적층하고, 얻어진 적층체 상으로부터 5㎏f/㎠의 하중을 가하면서, 적층체의 내부에 위치하는 1매의 조면화 처리 구리박을 인발하였다. 인발한 조면화 처리 구리박의 조면화 처리면의 명도 L*를 상기와 마찬가지로 하여 측정하였다. 이와 같이 하여 얻어진 마찰 시험 전후의 명도 L*의 차(ΔL)를 내 마찰성의 평가 지표로 하였다. 구체적으로는, 마찰 시험 전후의 명도차 ΔL이 10 이하인 것을 「양호」라고, 10을 초과하는 것을 「떨어짐」이라고 판정하였다.In order to evaluate the friction resistance of the roughened copper foil, the change in brightness L* (in the L*a*b* color system) of the roughened surface of the roughened copper foil before and after the friction test (ΔL) was measured. The measurement of brightness L* was performed based on JIS Z8722:2000 using the spectroscopic color difference meter (SE2000 by Nippon Denshoku Kogyo Co., Ltd.). At this time, the white plate attached to the measuring device was used for the calibration of brightness. This measurement was performed 3 times with respect to the same site|part, and the average value of 3 times measurement value was employ|adopted as the value of lightness L* of the said roughening process copper foil. Next, as a friction test, a plurality of sheets of the produced roughened copper foil are laminated, and while applying a load of 5 kgf / cm 2 from the obtained laminate, one roughened copper foil positioned inside the laminate was pulled out. Lightness L* of the roughened treated surface of the roughened treated copper foil was measured in the same manner as above. The difference (ΔL) in lightness L* before and after the friction test obtained in this way was used as an evaluation index for friction resistance. Specifically, those with a brightness difference ΔL of 10 or less before and after the friction test were judged to be "good", and those exceeding 10 were judged to be "poor".

<수지와의 밀착성-마찰 시험 후의 박리 강도><Adhesion to resin-peel strength after friction test>

절연 수지 기재로서, 프리프레그(파나소닉 가부시키가이샤 제조, MEGTRON4, 두께 100㎛) 2매를 준비하여, 적층하였다. 이 적층한 프리프레그에, 상기 마찰 시험을 행한 조면화 처리 구리박(하중을 가하면서 적층체로부터 인발한 것)을 그 조면화 처리면이 프리프레그와 접촉하도록 적층하고, 진공 프레스기를 사용하여, 프레스압 2.9㎫, 온도 200℃, 프레스 시간 90분의 조건에서 프레스하여 동장 적층판을 제작하였다. 다음으로, 이 동장 적층판에 에칭법에 의해, 3.0㎜ 폭의 박리 강도 측정용 직선 회로를 구비한 시험 기판을 제작하였다. 이와 같이 하여 형성한 직선 회로를, JIS C6481-1996에 준거하여 절연 수지 기재로부터 박리하여, 박리 강도(kgf/㎝)를 측정하였다.As an insulating resin base material, two sheets of prepreg (manufactured by Panasonic Corporation, MEGTRON4, thickness 100 µm) were prepared and laminated. On this laminated prepreg, the roughened copper foil (pulled out from the laminate while applying a load) subjected to the friction test is laminated so that the roughened surface is in contact with the prepreg, and using a vacuum press, It pressed on conditions of a press pressure of 2.9 MPa, a temperature of 200°C, and a press time of 90 minutes to produce a copper clad laminated board. Next, a test board provided with a linear circuit for peel strength measurement with a width of 3.0 mm was produced on this copper-clad laminate by an etching method. The linear circuit thus formed was peeled from the insulating resin substrate in accordance with JIS C6481-1996, and the peel strength (kgf/cm) was measured.

결과result

예 1∼15에 있어서 얻어진 평가 결과는 표 1에 기재되는 바와 같았다. 표 1에 기재되는 바와 같이, 본 발명의 조건을 만족시키는 예 1∼10으로 제작한 조면화 처리 구리박은, 내 마찰성 및 마찰 시험 후의 수지와의 밀착성의 양쪽이 우수한 것이었다.The evaluation results obtained in Examples 1 to 15 were as shown in Table 1. As shown in Table 1, the roughened copper foils produced in Examples 1 to 10 satisfying the conditions of the present invention were excellent in both friction resistance and adhesion to resin after a friction test.

Figure 112018002051977-pct00001
Figure 112018002051977-pct00001

Claims (7)

침상 결정 및/또는 판상 결정으로 구성되는 미세 요철을 구비한 조면화 처리면을 적어도 한쪽 측에 갖는 조면화 처리 구리박이며, 상기 조면화 처리면은, ISO25178에 준거하여 측정되는 최대 높이 Sz가 1.5㎛ 이하이고, 또한 ISO25178에 준거하여 측정되는 산 정점의 산술 평균곡 Spc가 1300㎜-1 이하인, 조면화 처리 구리박.A roughened copper foil having on at least one side a roughened treated surface comprising fine concavities and convexities composed of acicular crystals and/or plate-like crystals, wherein the roughened treated surface has a maximum height Sz measured in accordance with ISO25178 of 1.5 It is micrometer or less, and the arithmetic mean curve Spc of the mountain peak measured based on ISO25178 is 1300 mm< -1 > or less, roughening process copper foil. 제1항에 있어서,
상기 침상 결정 및/또는 판상 결정의 높이가 50∼400㎚인, 조면화 처리 구리박.
According to claim 1,
The roughened copper foil whose height of the said needle-like crystal and/or plate-like crystal is 50-400 nm.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 최대 높이 Sz가 0.2∼1.0㎛인, 조면화 처리 구리박.
According to claim 1 or 2,
The roughening process copper foil whose said maximum height Sz is 0.2-1.0 micrometer.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 산 정점의 산술 평균곡 Spc가 200∼1000㎜-1인, 조면화 처리 구리박.
According to claim 1 or 2,
The roughening process copper foil whose arithmetic average curve Spc of the said mountain peak is 200-1000 mm< -1 >.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 미세 요철이 산화 환원 처리를 거쳐 형성된 것인, 조면화 처리 구리박.
According to claim 1 or 2,
The roughening process copper foil which is what the said fine unevenness|corrugation was formed through oxidation-reduction treatment.
제1항 또는 제2항에 기재된 조면화 처리 구리박을 구비한, 동장 적층판.The copper clad laminated board provided with the roughening process copper foil of Claim 1 or 2. 제1항 또는 제2항에 기재된 조면화 처리 구리박을 구비한, 프린트 배선판.The printed wiring board provided with the roughening process copper foil of Claim 1 or 2.
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