KR102224031B1 - 회로 지연 감시장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

회로 지연 감시장치 및 방법이 제공되고, 이 회로 지연 감시장치는, 복수의 지연소자를 구비하고 그 지연소자를 통해 신호 천이가 전파되는 링 발진기와, 상기 링 발진기 주변에 분포된 복수 N개의 샘플링 포인트를 갖는다. 미세 샘플링 회로소자는, 상기 링 발진기내에서 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 발생하기 위해서, 기준 클록신호의 제어하에서 상기 복수의 샘플링 포인트 각각에서의 신호값들을 샘플링한다. 또한, 대략 샘플링 회로소자는 M개의 천이 카운터 회로를 구비하고, 여기서 M은 2이상 N미만이고, 각 천이 카운터 회로가 상기 링 발진기내의 관련 위치에 접속되고 상기 신호 천이가 상기 관련 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분한다. 상기 대략 샘플링 회로소자는 상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 카운트 값을 샘플링하고, 상기 M개의 천이 카운터 회로는, 임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 상기 M개의 천이 카운터 회로 중 적어도 하나의 관련 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록 상기 링 발진기에 접속된다. 선택 회로소자는, 상기 미세 샘플링 회로소자에서 발생한 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시에 따라, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 상기 소정량보다 큰 관련 위치를 갖는 상기 M개의 천이 카운터 회로 중 하나를 선택한다. 그리고, 출력 생성 회로소자는, 기준 기간에 카운트 표시를, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값과, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시와, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터에 따라 생성한다. 이 해결방법에서는, 고분해능과 고 대역폭의 양쪽의 회로 지연 감시 회로소자를 제공한다.

Description

회로 지연 감시장치 및 방법{A CIRCUIT DELAY MONITORING APPARATUS AND METHOD}

본 발명은, 회로 지연 감시장치 및 회로 지연 감시방법에 관한 것이다.

회로 지연을 감시하는데 원하는 온칩인 경우가 많다. 예를 들면, 이러한 감시형 회로 지연은, 시간 간격을 추론하거나 또는 전압, 온도나 프로세스 변동을 표시하는데 사용될 수 있고, 마이크로프로세서와 시스템 온 칩(SoC) 제품내에서 위상동기 루프 회로들(PLL), 지연 동기 루프 회로들(DLL), 메모리 인터페이스 회로들, 아날로그 대 디지털 변환기, 온도 센서, 프로세스 모니터 등과 같은 광범위한 회로들에서 사용된 메카니즘이다.

종래, 이러한 회로 지연은 아날로그 회로들이나 혼합 신호 회로들(즉, 아날로그 신호와 디지털 신호의 혼합체를 사용하는 회로들)을 사용하여 감시되고 있다. 이러한 기술들에 의해 정확한 결과를 낼 수 있지만, 상기 마이크로프로세서와 SoC 제품의 프로세스의 기하학적 구조가 감소됨에 따라 점점 상기와 같은 아날로그 또는 혼합 신호 회로들을 내장하려고 하고 있다. 그 프로세스의 기하학적 구조가 축소함에 따라, 사용된 공급전압을 감소시키기 위해서도 점점 더 널리 일반화되고 있고, 이러한 공급전압의 감소는 회로 지연을 감시하기 위해 종래의 아날로그 및 혼합신호 회로들을 사용할 때 어렵게 하는 일 요인이다.

이에 따라, 상기 회로 지연 감시 기능성을 제공하기 위해서 디지털 회로소자 전부를 사용하는 것이 더 일반화되고 있다. 이러한 디지털 기술에서는, 주어진 시간 간격으로 신호가 통과하는 게이트 지연의 수를 측정할 수 있다. 이것은, 시간 디지털 변환(TDC)이라고도 하는, 시간 간격을 직접 측정하거나, 전압, 온도나 프로세스 강도 등의 양을 간접적으로 관찰하는데(예를 들면, 상기 회로 지연 감시 기능을 제공하는 상기 장치의 일부가 빠른 프로세스 코너에 있는지 느린 프로세스 코너에 있는지를 검출하는데) 사용될 수 있다.

회로 지연을 감시하는데 잘 알려진 디지털 기술의 일반적인 형태가 도 1에 도시되어 있다. 이러한 기술에서는, 본 예시에서는 지연소자가 인버터인 복수의 지연소자(12,14,16,18,20)로 선형 지연선을 구성하고 있다. 각 지연소자 사이에는 샘플링 포인트가 있어, 지연소자가 N개이면 샘플링 포인트는 N개다. 그리고, 그 샘플링 포인트에서의 신호값을 샘플링 가능하도록 샘플링 포인트마다 일반적으로 플립플롭을 구비하는 샘플링 회로소자(25)가 설치되어 있다. 이러한 샘플링 회로소자는, 클록신호fs에 의해 구동되고, 그 클록신호는 신호 천이를 상기 선형 지연선에 삽입하는데 사용된 구동 소자(10)에도 제공된다.

이러한 기술에서는, 클록신호의 첫 번째 상승 에지에서 상기 구동소자(10)에 의해 상기 지연선에 신호천이를 삽입한 후, 다음의 상기 클록신호의 상승 에지에서 상기 샘플링 회로소자(25)에 의해 샘플링 포인트 각각에서의 현재 값을 샘플링할 수 있다. 그리고, 샘플링된 것과 같은 값들은, 상기 써모미터 투 바이너리(thermometer-to-binary) 회로소자(30)에 제공되어, 클록 주기내에 상기 신호 천이가 통과한 지연소자의 수를 식별하는 출력 코드를 생성한다.

본 예시에서는, 인버터가 지연소자로 사용되는 것으로 인해, 샘플링 회로소자(25)의 교대의 플립플롭 출력마다 인버터 35,37을 추가할 것이다.

따라서, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(30)에의 입력은, 이진열의 비트이고, 여기서 제1 시퀀스의 비트들은 제1값(논리적 0 또는 논리적 1의 값 중 어느 한쪽)을 갖고, 그리고 제2 시퀀스의 비트들은 반대값(즉, 논리적 1 또는 논리적 0의 값)을 갖는다. 그리고, 이들 2개의 시퀀스간 천이의 위치는, 그 신호천이가 클록 사이클에서 상기 선형 지연선을 얼마나 멀리 통과하였는지를 가리키고, 그 2개의 시퀀스간의 천이의 위치에 좌우되는 값을 갖는 코드가 출력된다.

따라서, 단지 예시로서, 상기 구동소자(10)가 상기 지연선에 논리적 0에서 논리적 1로 천이를 일으켰다면, 지연소자(12)에서는 논리적 0의 값으로 천이하는 출력이 생긴 후, 인버터 14에서는 논리적 1의 값으로 천이하는 출력이 생기고 나서, 인버터 16에서는 논리적 0의 값으로 천이하는 출력 등이 생긴다. 신호 천이가 클록 사이클의 다음 상승 에지 이전에 통과하는 인버터마다, 상기 샘플링 회로소자(25)가 클록 사이클의 다음 상승 에지의 샘플링 포인트들을 샘플링한 후 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(30)에 논리적 0의 값을 제공한다는 것을 알 것이다. 그러나, 아직 그 신호천이가 통과하지 않은 지연소자들은, 대신에 논리적 1의 값을 써모미터 투 바이너리 회로소자(30)에 제공할 것이다. 따라서, 그 써모미터 투 바이너리 회로소자(30)에의 입력은 일련의 논리적 0의 값 뒤에 다수의 논리적 1의 값으로 이루어진다는 것을 알 수 있고, 이때의 천이점은 클록 사이클에서 그 지연선을 따라 신호천이가 얼마나 멀리 지나갔는지를 특정한다. 그리고, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(30)에 의해 평가된 것과 같은 온도계 표시는, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(30)로부터 출력되도록 보다 콤팩트한 이전 부호화 표시로 변환될 수 있다.

이러한 선형 지연선의 동적 범위는 그 지연선의 길이가 고정되어 있으므로 제한되어 있고, 그 신호천이는, 기준 기간이 클록신호fs의 연속적인 상승 에지간의 기간인 상기 예시에 있어서, 그 기준 기간내에서 상기 지연선의 끝을 넘어서 연장되지 않아야 한다. 그러나, 분해능은 매우 높다. 특히, 상기 샘플링 회로소자(25)내의 플립플롭은 특정한 셋업 및 홀드 타이밍 요구사항을 가짐으로써, 관련된 샘플링 포인트의 신호가 셋업 또는 홀드 타이밍 윈도우내에서 변화하는 경우, 부정확한 또는 준안정 값은 상기 관련된 플립플롭에 의해 포획되어도 된다는 것을 알 것이다. 상기 지연선에서의 상기 인버터들의 출력은, 상기 클록신호fs와 비동기적으로 변화되는 중이므로, 셋업 또는 홀드 타이밍 윈도우 동안에 출력이 변화할 가능성이 있다. 그러나, 임의의 시점에서, 상기 셋업 또는 홀드 타이밍 윈도우에서 출력이 변화 중인 인버터가 하나 또는 몇 개일 가능성이 있을 뿐이므로, 상기 포획된 값은 하나의 또는 몇 개의 지연소자 위치내에 정확하다. 이러한 부정확성에 의해 출력 코드에 "버블"이 생길 수도 있지만, 일부의 경우에는 특정한 버블 패턴을 보정하는 것도 가능하다.

"1.3V 20ps time-to-digital converter for frequency synthesis in 90nm CMOS"라고 한 Staszewski 등에 의한, IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Volume 53, Number 3, March 2006, pages 220-224에서의 논문에서는, 그 기재된 논문에서 PLL용 TDC로서 사용된 상술한 형태의 기본적인 선형 지연선 해결방법에 관해 설명하고 있다. 그리고, 이하의 3개의 논문에서는, 온칩 PVT 특성화에 적용된 상기 논문에서의 위상(topology)의 응용을 제공한다:

1. "All-digital Circuit-Level Dynamic Variation Monitor for Silicon Debug and Adaptive Clock Control"라고 한 Bowman등에 의한, IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular papers, Volume 58, Number 9, pages 2017-2025, September 2011에서의 논문;

2. "Timing Uncertainty Measurements on the Power5 Microprocessor"라고 한 Restle등에 의한, 2004 IEEE International Solid-State Circuits Conference, Digest of Technical papers, Session 19, Clock Generation and Distribution, 19.7에서의 논문;

3. "On-chip Timing Uncertainty Measurements on IBM Microprocessors"라고 한 Franch등에 의한, IEEE International Test Conference, 2008, pages 1-17, 28 to 30 October 2008에서의 논문.

상술한 논문 모두는 제한된 동적범위를 갖는 선형 위상을 사용한다.

다른 알려진 종래기술이 도 2에 도시되어 있다. 이러한 기술에서는, 링 발진기(50)는, 복수의 지연소자(52,54,56,58,60)로 이루어지게 형성된다. 도 1의 예시와 같이, 도시된 실시예에서의 지연소자들은 인버터다. 에지 카운터(65)는, 상기 에지 카운터가 링 발진기에 접속하는 포인트를 신호천이가 지나갈 때마다 카운트 값을 증분하는데 사용된다. 상기 에지 카운터는, 상기 링 발진기 내에는 인버터가 홀수가 있으므로, 듀얼 에지 카운터로서(예를 들면, 상승 에지 카운터와 하강 에지 카운터 모두를 사용하여) 형성되는 것이 일반적이고, 따라서, 1사이클에서는, 상기 에지 카운터에 의해 관찰된 천이가 논리적 0에서 논리적 1로 천이되지만, 상기 링 발진기에서의 다음 반복 사이클에서는, 상기 에지 카운터(65)의 탭 포인트에서 상기 천이는 논리적 1에서 논리적 0으로 천이된다.

그리고, 샘플링 회로소자(70)는, 예를 들면, 클록신호의 상승 에지마다 상기 에지 카운터(65)의 현재 카운트 값을 샘플링하도록 클록신호에 의해 구동된다. 그리고, 상기 샘플값은, 상기 클록신호에 의해 활성화되어, 그들의 카운트 값들간의 차이와, 이에 따라 상기 링 발진기에서 개재 기간에 신호천이가 지나간 횟수를 결정하기 위해서, 상기 샘플링 회로소자로부터 현재 제공된 출력과 이전의 샘플링된 출력을 비교하는, 미분 회로소자(75)에 제공된다. 그리고, 이 값은, 기준 기간에(본 예시에서는 클록신호의 연속적인 상승 에지 사이에서) 상기 신호천이가 통과하는 지연소자의 개수를 식별하는 코드를 생성하기 위해서, 곱셈기(80)를 사용하여 N과 곱해질 수 있고, 이때의 N은 상기 링 발진기에서의 지연소자의 개수다.

도 2의 해결방법의 이점은, 상기 에지 카운터에서의 단(stage)의 수만큼 제한된 큰 동적 범위를 갖지만, 상기 카운터의 최대 주파수의 한계로 인해 분해능이 나쁜 것이 일반적이라는 것이다.

도 1을 참조하여 상술한 것처럼, 플립플롭들이 특정 셋업 및 홀드 타이밍 요구사항을 가짐에 따라서, 상기 샘플링 회로소자(70)내의 플립플롭들은, 상기 에지 카운터의 출력이 그 셋업 또는 홀드 타이밍 윈도우내에서 변화중이면 부정확하거나 준안정의 값을 기억할 가능성이 있다. 이러한 오류를 최소화하기 위해서, 그레이(gray) 인코딩은, 반드시 1비트만 연속적인 코드마다 다르도록 사용될 수 있다. 그러나, 이것이 의미하는 것은 크기 N의 글리치가 출력파형으로 보일 수 있다는 것이다. 이것은 상기 방식을 많은 응용에 비실용적일 수 있고, 동적범위가 보다 제한됨에도 불구하고 보다 정확한 값을 제공할 수 있는 도 1의 선형 위상과 비교하여 단점이다.

"Circuits and techniques for high-resolution measurement of on-chip power supply noise"라고 한 Alon 등에 의한, IEEE Journal of Solid-State Circuits, Volume 40, Number 4, pages 820-828, April 2005의 논문에는, 도 2와 유사한 구성이 설명되어 있다. 앞서 설명한 정확성 문제를 도 2의 해결방법으로 경감하기 위해서, 본 논문에 설명된 기술은, 상기 크기 N의 글리치를 평균내기 위해서, 비교적 긴 시간의 기간에 상기 회로소자에서 생성한 출력코드를 평균한다. 이것으로 취득중인 값이 정확해질 수 있지만, 많은 경우에, 예를 들면, 보다 짧은 기간에 일어나는 변동을 추적하기를 원하는 경우에 비실용적인 그 정확한 값을 개발하는데 상당한 양의 시간이 걸린다.

따라서, 회로 지연을 감시하는 개선된 메카니즘을 제공하는 것이 바람직할 것이다.

본 발명의 제 1 국면에서 본 회로 지연 감시장치는, 복수의 지연소자를 구비하고 그 지연소자를 통해 신호 천이가 전파되는 링 발진기; 상기 복수의 지연소자 각각의 사이에 샘플링 포인트를 제공하도록 분포된 복수 N개의 샘플링 포인트; 상기 링 발진기내에서 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 발생하기 위해서, 기준 클록신호의 제어하에서 상기 복수의 샘플링 포인트 각각에서의 신호값들을 샘플링하는 미세(fine) 샘플링 회로소자; M개의 천이 카운터 회로를 구비한 대략(coarse) 샘플링 회로소자로서, 여기서 M은 2이상 N미만이고, 상기 N은 3이상이고, 각 천이 카운터 회로는 서로 천이 카운터 회로가 접속된 소정의 위치로부터 이격된 상기 링 발진기내의 상기 소정의 위치에 접속되고, 각 천이 카운터 회로는 상기 신호 천이가 그 천이 카운터 회로가 접속된 상기 소정의 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분하도록 구성되고, 상기 대략 샘플링 회로소자가 상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 카운트 값을 샘플링하도록 구성되고, 상기 M개의 천이 카운터 회로는, 임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 상기 M개의 천이 카운터 회로 중 적어도 하나의 상기 소정의 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록 상기 링 발진기에 접속되는, 상기 대략 샘플링 회로소자; 상기 미세 샘플링 회로소자에서 발생한 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시에 따라, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 상기 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 상기 M개의 천이 카운터 회로 중 하나를 선택하도록 구성된 선택 회로소자; 및 기준 기간에 카운트 표시를, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값과, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시와, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터에 따라 생성하도록 구성된 출력 생성 회로소자를 구비한다.

본 발명에서는, 다수의 천이 카운터 회로가 서로 다른 위치에서 링 발진기에 접속되고, 각 카운터 회로는 상기 신호 천이가 그 카운터가 상기 링 발진기에 접속된 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분한다. 상기 천이 카운터 회로가 상기 링 발진기에 접속되는 위치는, 임의의 시점에서, 미세 샘플링 회로소자에 결정된 것과 같은 상기 신호 천이의 현재의 위치와, 상기 천이 카운터 회로 중 적어도 하나가 상기 링 발진기에 접속되는 위치 사이의 간격이, 소정량보다 크도록 선택된다. 이것은, 임의의 시점에서, 항상, 상기 대략 샘플링 회로소자에 의해 샘플링할 때 출력이 변화중이 아닌 적어도 하나의 천이 카운터 회로이다는 것을 의미한다.

선택 회로소자는, 상기 미세 샘플링 회로소자에서 발생한 것과 같은 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 사용하여, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 떨어진 소정량보다 큰 상기 링 발진기에의 관련 접속을 가지므로, 정확하다고 신뢰할 수 있는 출력을 갖는, 상기 천이 카운터 회로 중 하나를 선택한다. 그리고, 출력 생성 회로소자는, 기준 기간에 카운트 표시를, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값과, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시와, 상기 기준 기간의 시작에 관한 특정 기준 카운트 데이터를 사용하여 생성한다.

기준 카운트 데이터는, 특정 실시예에서 미리 결정되지만, 다른 실시예에서 상기 기준 카운트 데이터는 상기 미세 샘플링 회로소자 및 상기 대략 샘플링 회로소자에서 얻은 이전에 샘플링된 데이터에 의해 결정되어도 된다.

이러한 해결방법에 의해, 회로 지연 감시장치는, 링 발진기의 사용으로 인해 동적범위가 크고, 긴 기간에 다수의 출력을 평균할 필요없이 정확한 카운트 표시를 제공할 수 있도록 제조될 수 있다. 특히, 제조된 각 카운트 표시는, 상기 기준 기간내에서 상기 신호 천이가 전파하는 지연소자의 수의 정확한 표시로서 취급될 수 있다.

일 실시예에서, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터는 초기 카운트 값을 포함하고, 상기 출력 생성 회로소자는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 상기 샘플링된 카운트 값과 상기 초기 카운트 값을 비교하여서 상기 기준 기간동안의 상기 카운트 값의 변화를 결정하도록 구성된다.

상기 초기 카운트 값은 다양한 방식으로 결정될 수 있다. 예를 들면, 상기 링 발진기의 동작이 시작되는데 사용된 시작 신호의 어서트시에, 공지된 값, 예를 들면 0으로 초기화되어도 된다. 그 경우에, 상기 출력 생성 회로소자에서 결정한 카운트 값의 변화는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값으로부터 직접 추론될 수 있다.

그러나, 다른 실시예에서, 상기 초기 카운트 값은 상기 대략 샘플링 회로소자에서 샘플링한 것과 같이 이전에 샘플링된 카운트 값을 포함하고, 상기 출력 생성 회로소자는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값을 상기 이전에 샘플링된 카운트 값과 비교하여서 상기 기준 기간동안에 카운트 값의 변화를 결정하도록 구성된 미분 회로소자를 구비한다.

일 실시에에서, 초기 카운트 값을 포함하는 것에 더하여, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터는, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 이전의 위치를 더 포함한다. 이 이전의 위치는, 예를 들면, 시작신호의 어서션이 상기 링 발진기의 동작을 시작하는 상술한 기술을 사용할 때 미리 결정되어도 되거나, 이와는 달리 상기 이전의 위치는 상기 미세 샘플링 회로소자에서 이전에 샘플링한 것처럼 샘플링된 신호값들로부터 결정되어도 된다.

그리고, 일 실시예에서, 상기 출력 생성 회로소자는, 중간 결과를 생성하고 나서, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치에 의거하여 상기 중간 결과를 수정하기 위해서, 상기 카운트 값의 변화에 상기 복수의 지연소자에서의 지연소자의 수를 곱하여서 상기 카운트 표시를 생성하도록 구성된다.

상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치가 상기 출력 생성 회로소자에서 사용될 수 있는 방식은 많이 있다. 일 실시예에서, 상기 출력 생성 회로소자는, 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치로부터, 차이 표시를 생성하도록 구성된다.

그리고, 일 실시예에서, 상기 출력 생성 회로소자는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 상기 소정의 위치가 상기 신호 천이의 전파방향으로 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치 사이에 놓이지 않으면, 상기 차이 표시를 상기 중간 결과에 가산하여 상기 카운트 표시를 생성하도록 구성된다.

그러나, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 상기 소정의 위치가 상기 신호 천이의 전파방향으로 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치 사이에 놓이면, 이러한 해결방법은 정확한 카운트 표시를 보이지 않을 것이다. 대신에, 이러한 경우에, 상기 출력 생성 회로소자는, 상기 카운트 표시를 생성하기 위해서 상기 중간결과로부터 상기 복수의 지연소자에서의 지연소자의 수를 감산하고 나서 상기 차이 표시를 가산하는 동작을 행한다.

상기 중간결과로부터 상기 지연소자의 수를 직접 감산하는 대신에, 상기 카운트 값의 변화는 상기 지연소자의 수에 의해 곱셈하기 전에 1씩 감소될 수 있어서, 필요한 양만큼 감소되어 있던 수정된 중간결과를 생성하여 필요한 카운트 표시를 생성하기 위해서 그 수정된 중간결과에 차이 표시를 직접 가산할 수 있다.

제공된 천이 카운터 회로의 수는, 실시예에 따라 달라질 것이다. 그러나, 일 실시예에서, 2개의 천이 카운터 회로가 제공되고, 양쪽의 천이 카운터 회로는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 천이 카운터 회로가 상기 이전에 샘플링된 카운트 값을 발생한 상기 천이 카운터 회로와 다른 경우에도 상기 미분 회로소자에 의해 상기 카운트 값의 변화가 결정되도록 상기 회로 지연 감시장치의 동작에 앞서 같은 값으로 초기화된다. 이것은, 기준 기간마다 정확한 카운트 표시를 제공할 수 있는 회로 지연 감시장치를 제공하기 위한 간단하고 효과적인 메카니즘을 제공한다.

다른 실시예에서, 2개보다 많은 천이 카운터 회로가 제공되고, 이것은 카운터 회로 각각에 대해 필요하지 않은 실시예가 상기 회로 지연 감시장치의 동작에 앞서 같은 값으로 초기화되는 것을 가능하게 한다. 특히, 일 실시예에서, M은 3이상이고, M개의 천이 카운터 회로는, 임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 적어도 2개의 천이 카운터 회로의 상기 소정의 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록, 상기 링 발진기에 접속된다. 그리고, 상기 미분 회로소자는, 임의의 선택된 기준 기간에, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 상기 샘플링된 카운트 값과 이 천이 카운터 회로의 이전에 샘플링된 카운트 값을 비교하여서 상기 카운트 값의 변화를 결정하도록 구성된다. 따라서, 이러한 구성에 대해, 임의의 시점에서 상기 신호 천이의 현재의 위치와 적어도 2개의 천이 카운터 회로의 소정의 위치 사이의 안전한 간격이 있어서, 적어도 2개의 천이 카운터 회로의 카운터 값들이 정확하다고 할 수 있기 때문에, 이것에 의해, 임의의 선택된 기준 기간에, 유연성은, 현재 및 이전에 샘플링된 카운트 값을 참조하여 카운트 값의 변화를 동일한 천이 카운터 회로로부터 결정할 수 있다. 따라서, 개개의 카운터 회로가 동일한 값으로 초기화되지 않으면 상관없다.

또한, 3개 이상의 천이 카운터 회로가 설치되는 이러한 구성은, 특정한 카운터에 관해서 일어나는 단일 이벤트 업셋일 경우에, 이것은 상기 출력 생성 회로소자에서 출력한 연속적인 카운트 표시에 대한 지속적인 오류를 일으키지 않는다는 것을 의미한다는 것을 알고 있다. 또한, 2개보다 많은 카운터는, 상기 링 발진기의 길이 요구사항을 줄일 수 있다.

상기 미세 샘플링 회로소자는 다양한 방식으로 배치될 수 있다. 그러나, 상기 미세 샘플링 회로소자는 상기 복수의 샘플링 포인트 각각에서 상기 샘플링된 신호값으로부터 이진열을 발생하도록 구성되고, 상기 발생된 이진열은 제1 데이터 값의 시퀀스 후에 제2 데이터 값의 시퀀스를 포함하고, 상기 제1 시퀀스로부터 제2 시퀀스로의 천이의 이진 시퀀스내의 위치는 상기 링 발진기내의 신호 천이의 현재의 위치를 특정한다. 또한, 일 실시예에서, 변환회로는, 이진 시퀀스를, 상기 링 발진기내에서 신호 천이의 현재 위치의 표시를 제공하는 출력 코드를 형성하는 보다 콤팩트한 이진 인코딩으로 변환하도록 구성될 수도 있다.

상기 선택 회로소자가 상기 대략 샘플링 회로소자의 동작과 상호작용하는 방식이 실시예들에 따라 달라질 수 있다. 일 실시예에서, 상기 대략 샘플링 회로소자는, 상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 M개의 천이 카운터 회로 각각의 카운트 값을 샘플링하도록 구성되고, 상기 선택 회로소자는 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 그 M개의 천이 카운터 회로들 중 하나로부터 상기 샘플링된 카운트 값을 선택하도록 구성된다. 따라서, 상기 천이 카운터 회로 각각으로부터의 출력은, 본 실시예에서 샘플링되고, 이때 상기 선택 회로소자는 그 샘플링된 카운트 값 중 하나를 선택한다.

상기 기준 기간은, 원하는 대로 설정될 수 있지만, 일 실시예에서 상기 기준 클록신호의 1클록 사이클이다.

상기 대략 샘플링 회로소자는 각 천이 카운터 회로로부터 상기 카운터 값을 카운트하기 위한 복수의 샘플링 소자를 포함하고, 임의의 시점에서 상기 천이 카운터 회로들 중 적어도 하나의 소정의 위치와 상기 신호 천이의 현재의 위치 사이에서 초과되는 소정량의 간격은, 일 실시예에 있어서, 카운트 값(들)을 샘플링하는데 사용된 상기 대략 샘플링 회로소자내의 상기 복수의 샘플링소자의 셋업 및 홀드 타이밍 특징에 관하여 선택된다. 특히, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 떨어진 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 천이 카운터 각각은, 상기 대략 샘플링 회로소자내에 설치된 상기 샘플링 소자들(예를 들면, 플립플롭들)의 상기 셋업 및 홀드 타이밍 윈도우내에서 변화하지 않는 출력을 생성하게 보장될 수 있음으로써, 그 샘플링 소자들에서 샘플링한 값들은 정확해진다고 예상될 수 있다.

상기 샘플링 포인트들이 상기 링 발진기에 분포되는 방식은 실시예에 따라 달라질 수 있지만, 일 실시예에서 상기 샘플링 포인트들은 상기 복수의 지연소자 각각의 사이에 샘플링 포인트를 제공하도록 규칙적으로 분포된다. 그 분포된 샘플링 포인트의 수는 실시예에 따라 달라질 수 있지만, 일 실시예에서 상기 복수의 샘플링 포인트는 각 지연소자 사이의 샘플링 포인트를 포함하여, 그 복수의 지연소자는 N개의 지연소자를 구비한다. 이것은, 원리상 상기 신호 천이의 현재의 위치가, 가장 근접한 지연소자로 결정되고, 상기 미세 샘플링 회로소자내의 상기 관련된 샘플링 소자들의 상기 셋업 또는 홀드 타이밍 윈도우 동안에 변화하는 개개의 지연소자의 출력으로 인해 생긴 부정확성을 주거나 가져올 수 있음으로써, 가장 미세한 레벨의 샘플링을 제공한다.

여러 가지의 천이 카운터 회로를 상기 링 발진에 접속하는 위치들은, 실시예에 따라 달라질 수도 있다. 그러나, 일 실시예에서, 상기 M개의 천이 카운터 회로의 상기 소정의 위치는 상기 링 발진기내에서 규칙적으로 이격되어 있다. 이것은, 임의의 특별한 시점에서 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 떨어진 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 천이 카운터 회로의 수에 있어서 일관성을 보장한다.

일 실시예에서, 상기 기준 기간이 상기 기준 클록신호의 1클록 사이클과 같지만, 이것은 필수사항이 아니고, 각종 다른 실시예들을 꾀할 수 있다. 예를 들면, 일 실시예에서, 상기 링 발진기의 동작은 시작신호에 의해 기동되고, 상기 M개의 천이 카운터 회로는 소정의 초기 카운트 값으로 초기화되고, 상기 링 발진기 내의 상기 신호 천이의 이전의 위치는 미리 결정되고, 상기 기준 기간은 상기 시작 신호의 어서션(assertion)과 (정지 트리거를 제공하는) 상기 기준 클록신호의 소정의 클록 에지 사이의 기간이다. 이러한 실시예는, 예를 들면, 2개의 특정한 이벤트 사이의 시간, 즉 제1 이벤트에 의해 기동되는 시작신호와 제2 이벤트에 의해 기동되는 상기 기준 클록신호의 상기 소정의 클록 에지 사이의 시간을 결정하는 것이 바람직한 경우에 유용하기도 하다.

본 발명의 제 2 국면에서 본 회로 지연 감시방법은, 복수의 지연소자를 구비한 링 발진기를 통해 신호 천이를 전파하는 단계; 상기 복수의 지연소자 각각의 사이에 샘플링 포인트를 제공하도록 분포된 복수 N개의 샘플링 포인트 각각에서의 신호값들을, 상기 링 발진기내에서 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 발생하기 위해서, 기준 클록신호의 제어하에서 샘플링 하는 단계; 임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 M개(여기서, M은 2이상 N미만이고, 상기 N은 3이상)의 천이 카운터 회로 중 적어도 하나의 소정의 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록 상기 링 발진기에 접속되는 상기 M개의 천이 카운터 회로 각각을 서로 천이 카운터 회로가 접속된 상기 소정의 위치로부터 이격된 상기 링 발진기내의 상기 소정의 위치에 접속하는 단계; 각 천이 카운터 회로내에서, 상기 신호 천이가 그 천이 카운터 회로가 접속된 상기 소정의 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분하는 단계; 상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 카운트 값을 샘플링하는 단계; 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시에 따라, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 상기 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 상기 M개의 천이 카운터 회로 중 하나를 선택하는 단계; 및 기준 기간에 카운트 표시를, 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값과, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시와, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터에 따라 생성하는 단계를 포함한다.

본 발명의 제 3 국면에서 본 회로 지연 감시장치는, 복수의 지연소자를 구비하고 그 지연소자를 통해 신호 천이가 전파되는 링 발진기 수단; 상기 복수의 지연소자 각각의 사이에 샘플링 포인트를 제공하도록 분포된 복수 N개의 샘플링 포인트; 상기 링 발진기 수단내에서 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 발생하기 위해서, 기준 클록신호의 제어하에서 상기 복수의 샘플링 포인트 각각에서의 신호값들을 샘플링하는 미세 샘플링 수단; M개의 천이 카운터 수단을 구비한 대략 샘플링 수단으로서, 여기서 M은 2이상 N미만이고, 상기 N은 3이상이고, 각 천이 카운터 수단은 서로 천이 카운터 수단이 접속된 소정의 위치로부터 이격된 상기 링 발진기 수단내의 상기 소정의 위치에 접속되고, 각 천이 카운터 수단은 상기 신호 천이가 그 천이 카운터 회로가 접속된 상기 소정의 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분하고, 상기 대략 샘플링 수단이 상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 카운트 값을 더욱 샘플링하고, 상기 M개의 천이 카운터 수단은, 임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 상기 M개의 천이 카운터 수단 중 적어도 하나의 상기 소정의 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록 상기 링 발진기 수단에 접속되는, 상기 대략 샘플링 수단; 상기 미세 샘플링 수단에서 발생한 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시에 따라, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 상기 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 상기 M개의 천이 카운터 수단 중 하나를 선택하도록 구성된 선택 수단; 및 기준 기간에 카운트 표시를, 상기 선택수단에서 선택한 상기 천이 카운터 수단의 샘플링된 카운트 값과, 상기 링 발진기 수단내의 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시와, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터에 따라 생성하는 출력 생성수단을 구비한다.

본 발명을 이하의 첨부도면에 도시된 것과 같은 실시예들을 참조하여 예시로만 더 설명한다:
도 1은 종래의 일 회로 지연 감시장치의 구성을 도시한 것이고,
도 2는 종래의 다른 회로 지연 감시장치의 구성을 도시한 것이고,
도 3a 내지 3c는 신호 천이가 링 발진기 내의 소정의 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분하는데 사용된 에지 카운터의 상기 샘플링된 출력에서의 부정확할 수 있을 타이밍 쟁점을 도시한 것이고,
도 4는 일 실시예에 따른 회로 지연 감시장치를 도시하는 도면이고,
도 5는 다른 실시예에 따른 회로 지연 감시장치를 도시하는 도면이고,
도 6은 일 실시예에 따른 도 4 또는 도 5의 회로소자의 일반적인 동작을 도시하는 흐름도,
도 7은 또 다른 실시예에 따른 회로 지연 감시장치를 도시하는 도면이다.

도 3a는, 링 발진기에 접속된 에지 카운터(65)를 사용할 때, 상기 에지 카운터(65)가 링 발진기에 접속되는 소정의 위치를 신호 천이가 지나가는 시간과, 상기 샘플링 회로소자(70)가 공급된 클록신호fs에 의거하여 상기 에지 카운터(65)의 출력을 샘플링하는 타이밍간의 관계에 따라, 일어날 수 있는 타이밍 쟁점을 도시한 것이다. 원(100)은 상기 링 발진기 주변에서 신호 천이의 전파를 나타낸다. 불확실 영역(102)은, 에지 카운터(65)가 링 발진기에 접속되는 소정의 위치 주변의 거리의 범위를 나타내어, 그 신호 천이는 상기 클록신호fs가 어서트될 때에 상기 불확실 영역(102)내에 있으면, 상기 에지 카운터(65)의 출력이 상기 샘플링 회로소자(70)내에서 플립플롭들의 셋업 또는 홀드 타이밍 윈도우 동안에 변화할 가망이 있다. 이 때문에, 부정확한 또는 준안정의 값을 플립플롭들 중 하나 이상이 샘플링할 가망이 있다. 이 문제는 도 2의 종래기술에 관련된 부정확성 쟁점을 일으키는 것이고, 상기 에지 카운터만이 전체 링 발진기 주변에서 신호 천이의 전파 당 한번 카운트 값을 증분하기 때문에, 이것은 상기 링 발진기내에 지연소자가 N개이라면 N개의 지연소자에 의해 부정확한 샘플링된 값을 일으킬 수 있다.

본 발명의 발명자는, 에지 카운터의 출력이 정확하다고 신뢰할 수 있는, 즉 샘플링될 때 변화하는 과정에 있지 않다고 보장될 수 있는 임의의 특별한 시점에서 결정할 메카니즘도 있었다면, 다수의 에지 카운터가 링 발진기에 서로 다른 위치에서 접속되었다면 상기 문제를 해결할 수 있다는 것을 알았다. 도 3b는, 2개의 에지 카운터(101,110)가 링 발진기의 절반만큼 서로 분리된 소정의 위치에서 상기 링 발진기에 접속되는 경우를 도시한 것이다. 에지 카운터 101에 관한 불확실 범위 102와 에지 카운터 110에 관한 별개의 불확실 범위 104가 있다. 양쪽의 에지 카운터(101,110)는 관련 샘플링 회로소자(105,115)를 갖는다. 임의의 점에서 상기 신호 천이가 불확실 범위 104내에 있으면, 그때에 신호 천이가 불확실 범위 102내에 있을 수 없고, 이와는 반대일 수 있다는 것을 알 것이다. 이에 따라서, 임의의 시점에서, 상기 관련 샘플링 회로소자가 출력을 샘플링하려고 있을 때 변화할지도 모르는 출력을 갖는 일 에지 카운터의 최대일 뿐이다.

도 3c는, 상기 링 발진기 주변에서 상기 거리의 1/3인 등거리만큼 다른 에지 카운터와 분리되어 있는, 3개의 에지 카운터(101, 120, 130)가 상기 링 발진기에 접속되는 다른 실시예를 도시한 것이다. 각 에지 카운터(101, 120, 130)는 관련 불확실 영역(102, 106, 108)을 갖고, 각 에지 카운터는 관련 샘플링 회로소자(105, 125, 135)를 갖는다. 또, 상기 신호 천이는 최악의 경우 한번에 불확실 영역들 중 하나의 영역내에만 있을 수 있고, 그에 따라 2개의 에지 카운터로부터의 출력은 임의의 시점에서 신뢰받을 수 있다는 것을 알 것이다.

도 3b 및 도 3c의 원리에 의거하여, 회로 지연 감시장치의 정확성의 향상은 다수의 에지 카운터가 링 발진기에 접속되면 달성될 수 있지만, 에지 카운터의 출력이 오류의 위험없이 안전하게 샘플링될 수 있었던 임의의 특별한 시점에서 결정될 수 있는 것이 필요했을 것이라는 것을 발명자는 알았다. 도 4는 일 실시예에 따른 회로 지연 감시장치의 구성을 도시한 것으로, 여기에서는 2개의 에지 카운터를 사용하였고, 상기 기준 기간에 카운트 표시를 발생할 때 에지 카운터의 출력이 사용하는데 안전한 임의의 특별한 시점에서 결정하기 위한 메카니즘을 제공한다.

도 4에 도시된 것처럼, 링 발진기(200)는, 본 실시예에서 인버터로 형성되는, 복수의 지연소자(202,204,206,208,210)로 구성된다. 2개의 에지 카운터(220,225)는, 본 실시예의 링 발진기내에서, 그 링 발진기내에서 필수적으로 서로 균등하게 이격된 소정의 위치들에 접속된다. 실제로, 상기 링 발진기내에 지연소자가 홀수개 있는 것으로 인해, 그들은 링 발진기 길이의 절반만큼 정확히 분리되어 있지 않다. 일 실시예에서, 클록신호fs에 의해 제어된 일련의 플립플롭을 구비하는 일련의 샘플링 회로소자(230)가 구비되어 있다. 상기 샘플링 회로소자(230)내에 관련 플립플롭들에 입력을 제공하는 일련의 샘플링 포인트는, 상기 지연소자(202,204,206,208,210) 각각의 출력과 관련지어 구비되어 있다.

상기 샘플링 포인트로부터의 출력들을 수신하도록 구성된 일련의 플립플롭은, 샘플링 포인트 각각에서의 신호값을 샘플링하는데 사용된 미세 샘플링 회로소자를 형성하는데 고려될 수 있고, 이때의 샘플링 정보는 상기 링 발진기내에서 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 발생하는데 사용된다. 특히, 그 플립플롭 각각의 출력은, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)에 보내지고, 이때 교대의 각 플립플롭으로부터의 출력은 인버터(240,242)에 보내진다. 따라서, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)에의 입력은 이진열의 비트이고, 여기서 제1 시퀀스의 비트들은 제1값을 갖고, 제2 시퀀스의 비트들은 반대의 값을 갖는다. 그리고, 2개의 시퀀스간의 천이의 위치는, 상기 링 발진기 내에서 신호 천이의 현재의 위치를 가리킨다. 그리고, 도 1의 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자 30과 매우 같은 방식으로, 도 4의 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자 235는, 그 써모미터 값을, 상기 신호 천이의 현재의 위치를 대표하는 출력될 보다 콤팩트한 이진 인코딩으로 변환할 수 있다.

도 4에 도시된 것처럼, 이 출력 코드는 버퍼(250)에 제공되고, 또 디코더(260)에 제공된다. 디코더(260)는, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)로부터의 출력과, 에지 카운터(220,225)는 에지 카운터가 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 가장 먼 상기 링 발진기에 접속되는 위치들의 지식에 의거하여 결정되고, 그에 따라서 제어신호를 다중화기(265)에 발행한다.

상기 샘플링 회로소자(230)내의 플립플롭들은, 대략 회로소자의 일부를 형성하여 상기 클록신호fs의 제어하에서 상기 에지 카운터(220,225) 각각의 출력을 샘플링한다. 그리고, 그 샘플링된 출력들은, 다중화기(265)에 입력들로서 제공된다. 상기 디코더를 거쳐 수신된 제어신호에 의거하여, 그들 입력신호의 하나는 미분 회로소자(270)에 출력된다.

도 4에 도시된 실시예에서, 상기 미분 회로소자(270)는, 일부의 로컬 버퍼링 회로소자를 구비하여 이전에 다중화기(265)로부터 수신된 입력을 버퍼링하고, 상기 클록신호fs에 따라 상기 다중화기(265)로부터의 출력을 재샘플링하도록 구성된다. 본 실시예에서는, 에지 카운터(220,225) 각각이 동일한 값으로 초기화됨에 따라서, 상기 미분 로직(270)은, 기준 기간에 일어난 카운트 값의 변화를 결정하기 위해서 상기 이전에 샘플링된 카운트 값으로부터, 현재 샘플링된 카운트 값을 감산할 뿐이라고 가정하고, 본 실시예에서는, 상기 기준 기간이 클록신호fs의 2개의 대응한 에지 사이, 예를 들면 상기 클록신호의 2개의 상승 에지 사이의 기간이라고 가정한다. 그리고, 상기 미분 회로소자(270)에 의해 결정된 것과 같은 카운트 값의 변화는, 코드 생성 회로소자(255)에 제공된다.

도 4에 도시된 것처럼, 상기 코드 생성 회로소자(255)는, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)로부터 이전에 수신된 출력을 나타내는 버퍼(250)로부터의 출력과 함께, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)로부터의 현재의 출력도 수신한다. 경로(257)상에서 수신된 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)로부터의 현재의 출력과, 상기 버퍼(250)로부터의 출력에 의거하여, 코드 생성 회로소자는 차이 표시를 결정할 수 있고, 특히 이것은 상기 기준 기간에서 신호 천이가 통과하는 상기 링 발진기의 풀 랩(full laps) 위 및 풀 랩보다 위의 지연소자의 수를 나타낸다.

상기 코드 생성 회로소자(255)는, 상기 경로(275) 위의 값 N, 즉, 링 발진기(200)에서의 지연소자의 수의 표시도 수신한다. 이 정보에 의거하여, 상기 코드 생성 회로소자(255)는, 상기 기준 기간에서 상기 신호 천이가 통과하는 총 지연소자의 수를 나타내는 경로(280) 상에서 출력 코드를 생성할 수 있다.

상기 코드 생성 회로소자(255)에서 행한 계산은, 경로(257) 상에 나타낸 것과 같은 상기 신호 천이의 현재의 위치와, 버퍼(250)로부터의 출력으로 나타낸 것과 같은 신호 천이의 이전의 위치와, 상기 선택된 에지 카운터가 상기 링 발진기내에 위치되는 위치에 좌우될 것이다. 특히, 상기 선택된 에지 카운터의 위치가 상기 신호 천이의 이전의 위치와 상기 신호 천이의 현재의 위치 사이의 신호 천이의 경로에 놓여 있지 않으면, 상기 미분 회로소자(270)로부터의 출력을 상기 값N과 곱하여서 얻어진 중간 결과에, 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치간의 차이가 가산된다. 그 결과로 얻어진 값은, 경로(280) 상의 코드로서 출력되고, 상기 기준 기간에 상기 신호 천이에서 통과하는 지연소자의 총수를 가리킨다.

그러나, 상기 선택된 에지 카운터의 위치가 상기 신호 천이의 이전의 위치와 상기 신호 천이의 이동방향으로 상기 신호 천이의 현재의 위치 사이에 놓이면, 일 실시예에서 코드 생성 로직은, 상기 결과로 얻어진 값에 N을 곱하기 전에 상기 미분 회로소자(270)로부터 출력된 값으로부터 1을 감산한다. 이것은, 직접 사용된 미분 회로소자(270)로부터 출력되었던 경우인 N미만인 중간결과를 생성한다. 이 조정에 의해, 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치간의 차이는, 상기 기준 기간에 상기 신호 천이에서 통과하는 지연소자의 총수를 나타내는 경로(280) 상에 출력 코드를 생성하기 위해서 상기 결과로 얻어진 중간값에 가산될 수 있다.

요약하면, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)에서 출력한 미세 코드를 복호함으로써, 상기 신호 천이가 현재 상기 링 발진기내에서 어디에 있는지를 결정하는 것이 가능하다. 또한, 2개의 카운터(220,225)가 상기 링 발진기내에서 등거리 떨어져 있으므로, 상기 천이는, N이 너무 작지 않으면 임의의 동기화 순간에 상기 카운터 중 하나에만 영향을 미칠 수 있다. 양쪽의 카운터는 클록신호fs를 사용하여 샘플링되고, 상기 신호 천이를 위치하도록 상기 미세 코드를 복호한 후, 상기 디코더는, 사이클 단위로, 샘플링되기에 안전하여서 상기 코드 생성 회로소자(255)에 의해 다음의 출력 코드의 생성에 사용된 카운터를 선택한다. 상기 링 발진기가 충분히 길면, 이 해결방법은 준안정성을 전체적으로 방지한다. 도 1의 종래기술의 해결방법을 참조하여 상술한 이유로, 상기 미세 비트들의 샘플링시에 오류가 약간 있을 수 있지만, 이것은, 하나의 위치에 한정되는 것이 일반적이고 출력 카운터 값들에서의 임의의 오류보다 훨씬 작은 결과를 갖는다.

도 5는 3개의 에지 카운터(220,300,305)가 사용되는 다른 실시예를 도시한 것이다. 링 발진기(200)는, 상기 미세 샘플링 회로소자와 같이, 도 4와 같다. 상기 에지 카운터(220,300,305) 각각의 출력은, 공급된 클록신호fs에 따라, 상기 샘플링 회로소자(310)내의 플립플롭들에 의해 샘플링된다. 그 샘플링된 값들은, 다중화기(320)에 제공되고, 추가로 버퍼(325)에 라우팅된다. 이 버퍼로부터의 출력들은 다른 다중화기(330)에 제공된다. 이 때문에, 다중화기 320은 현재의 클록 사이클동안 상기 샘플링된 출력을 상기 에지 카운터로부터 수신하고, 다중화기 330은 이전의 클록 사이클에서 샘플링된 것과 같은 동등한 값들을 수신한다.

상기 디코더 회로소자(315)는, 이전과 같이 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)로부터의 출력을 수신하지만, 추가로 상기 신호 천이의 이전의 위치를 가리키는 버퍼(250)로부터의 출력을 수신한다.

이전의 도 3c를 참조하여 설명한 대로, 임의의 시점에서, 상기 에지 카운터의 적어도 2개로부터의 출력은, 그들의 에지 카운터로부터의 출력이 그 출력이 샘플링될 때 변화하고 있지 않는다는 것이 알려져 있으므로, 사용하기 안전하다. 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치에 관하여, 상기 디코더는, 이전의 클록 사이클과 현재의 클록 사이클 양쪽에서 사용하기에 안전했던 상기 에지 카운터 중 하나를 결정할 수 있고, 그 결정의 결과로서, 출력으로서 그들의 입력 중 하나를 선택하여 상기 미분 회로소자(335)에 제공하기 위해서, 적절한 제어 신호들을 상기 다중화기(320,330)에 보낸다.

따라서, 상기 미분 회로소자는, 상기 현재의 사이클동안의 상기 선택된 에지 카운터의 샘플링된 카운트 값을 나타내는 일 입력과, 동일한 에지 카운터로부터의 이전에 샘플링된 카운트 값을 나타내는 나머지 입력으로 이루어진, 2개의 입력을 수신한다. 그리고, 상기 미분 회로소자(335)는, 카운트 값의 변화의 표시를 상기 코드 생성 회로소자(255)에 제공하기 위해서 그 2개의 값간의 차이를 결정한다. 상기 미분 회로소자(335)에는 임의의 시점에서 필요한 2개의 입력이 구비되므로, 그 미분 회로소자 자체는 클록동작될 필요가 없다. 그리고, 코드 생성 회로소자(255)는, 경로(280)상에서 출력 코드를 생성하기 위해서 도 4를 참조하여 상술한 것과 같은 방식으로 작동한다.

임의의 시점에서 상기 미분 회로소자(335)가 동일한 에지 카운터로부터의 에지 카운트 값간의 차이를 결정하므로, 상기 링 발진기(200)의 동작에 앞서 상기 에지 카운터(220,300,305)가 같은 값으로 초기화될 필요가 없다. 또한, 이러한 해결방법으로, 개개의 카운터로부터의 샘플링된 출력값을 부정확하게 하는 그 개개의 카운터에 영향을 미칠 수도 있는 단일 이벤트 업셋은, 지속적인 오류의 원인이 되지는 않을 것이다. 데이터 처리 시스템에서의 기억소자들은, 단일 이벤트 업셋들(SEUs)에 민감하다. 다양한 현상들에 의해, 기억된 데이터에서의 상태의 변화를 일으키는 SEU를 일으키기도 한다, 예를 들면, 이것은 상기 디바이스내에서 감지노드에 충돌하여 그 상태를 반전시키는 이온들이나 전자기 방사에 기인하기도 한다.

예를 들면, 단일 이벤트 업셋에 의해, 특별한 시점에서 상기 에지 카운터(220)로부터의 출력을 1의 값만큼 출력시킨 경우, 이것은, 상기 에지 카운터가 상기 시점에서 사용되고 있는 중이었을 경우 상기 코드 생성 회로소자(255)로부터의 출력에 있어서 약간 부정확하게 할 수 있었다. 그러나, 이후의 출력코드(280)에 더욱 영향을 미치지는 않을 것이다. 특히, 다른 에지 카운터(300,305)로부터 샘플링된 카운터 값간의 차이에 의거하여 생성된 어떠한 이후의 출력에도 영향을 미치지 않을 것이다. 또한, 상기 에지 카운터(220)로부터의 출력이 사용되는 이후의 어떠한 반복에도, 현재의 샘플링된 값과 이전의 샘플링된 값간의 차이는, 그 단일 이벤트 업셋에 의해 절대값이 신뢰 가능하지 않게 되었었을 경우에도 그래도 정확할 것이다.

도 6은 도 4 또는 도 5의 회로에 의해 행한 단계들을 도시하는 흐름도다. 단계 400에서, 상기 링 발진기(200)내의 샘플링 포인트 각각에서의 신호값이 샘플링되고(여기에서는 미세 샘플링이라고 함), 추가로 각 에지 카운터의 현재 카운트 값이 샘플링된다(여기에서는 대략 샘플링이라고 함). 그리고, 단계 405에서, 상기 링 발진기내의 신호 천이의 현재의 위치를 나타내는 미세(fine) 코드가 생성된다.

그 후, 단계 410에서, 그 출력된 미세 코드는, 어느 에지 카운터를 선택할지를 결정하기 위해서 복호된다. 도 5의 실시예에서, 이 복호동작도, 현재의 시간과 또 이전의 미세 코드가 생성되었던 시간의 양쪽 시간에 샘플링하기에 안전했던 하나의 에지 카운터를 선택하기 위해서 상기 이전에 출력된 미세 코드를 참조한다.

에지 카운터를 선택한 후, 단계 415에서, 미분동작은, 상기 선택된 에지 카운터의 현재의 샘플링된 카운트 값 및 이전의 샘플링 시간에서 샘플링된 카운트 값과, 여기서는 카운트 값의 변화라고도 불리는 상기 개재 기간의 카운트 값으로부터 결정하기 위해서 행해진다. 그 후, 단계 420에서, 상기 코드 생성 회로소자(255)는, 상기 개재 기간의 상기 카운트 값과, 파라미터N과, (상기 신호 천이의 현재의 위치와 신호 천이의 이전의 위치를 각각 가리키는) 현재의 미세 코드와 이전의 미세 코드의 양쪽의 코드에 의거하여, (여기서는 출력 코드라고도 하는) 출력 카운트 표시를 생성하도록 구성된다.

도 4 및 도 5의 예시에서는, 상기 링 발진기가 연속적으로 작동중이고, 카운트 정보가 생성되는 기준 기간을 클록신호fs의 클록 사이클의 정수(예를 들면, 클록신호fs의 하나의 클록 사이클)라고 결정한다고 가정하였다. 그러나, 다른 실시예에서는, 상기 기준 기간은 시작신호와 정지신호에 의해 결정될 수 있다. 특히, 도 7에 도시된 것처럼, 상기 링 발진기(500)는, 일련의 지연소자(502,504,506,508,510)로 구성된다. 그 지연소자들은, NAND 게이트로서 구성된 하나의 지연소자 502를 제외하고는, 인버터들로서 구현된다. 상기 시작신호가 논리적 0값에서 무효화되어 있지만, 상기 NAND 게이트로부터의 출력은 항상 논리적 1값이어서, 신호 천이가 전파중이 아닌 상기 링 발진기내에서는 정상상태가 존속한다는 것을 알 것이다. 그러나, 상기 시작신호가 논리적 1의 값으로 어서트될 때, 이것에 의해 NAND게이트로부터의 출력이 논리적 0의 값으로 천이되게 함에 따라서, 신호 천이를 상기 링 발진기 주변에서 전파를 위해 상기 링 발진기에 삽입한다. 그 시작신호는 카운트 값이 필요한 전체 기간에 계속 어서트되므로, NAND 게이트(502)가 그 기간에 인버터로서 작동되게 하여서, 상기 링 발진기(500)가 링 발진기로서 작동할 수 있다.

상기 샘플링 회로소자(230)는, 정지신호에 의해 작동되는 것으로, 정지신호가 어서트될 때 상기 샘플링 회로소자내의 각종 플립플롭들이 샘플링 포인트 각각에서의 현재의 값들과 상기 에지 카운터 각각의 현재의 값들도 샘플링되게 한다.

도 7과 도 4의 비교에 의해 안 것은, 상기 디코더(260)와 다중화기(265)는 도 4에 대해 정확히 상술한 것과 같은 방식으로 작동한다는 것이다. 그러나, 상기 신호 천이의 시작 위치가 알려져 있으므로(즉, 그 시작 위치가 NAND 게이트 502의 출력에 있으므로), 도 4에 도시되었던 버퍼(250)가 필요하지 않고, 대신에 상기 코드 생성 회로소자는, 상기 써모미터 투 바이너리 회로소자(235)로부터의 출력을, 상기 신호 천이의 현재의 위치(즉, 정지신호에 의거한 샘플링 시각)와 상기 신호 천이의 이전의 위치간의 차이를 직접 구분하는 것으로서 취급한다.

또한, 에지 카운터(200,225)는, 시작신호가 어서트되기에 앞서, 소정의 값, 예를 들면 0으로 초기화되어서, 미분 회로소자는 상기 다중화기(265)로부터의 출력을 수정하는데 필요하지 않다. 대신에, 상기 다중화기로부터 제공된 값은, 기준 기간동안에 상기 카운트 값의 변화를 구분하는 것으로서 직접 취급될 수 있다. 그리고, 상기 코드 생성 회로소자 520은, 도 4의 코드 생성 회로소자 255를 참조하여 필수적으로 상술한 것과 같은 방식으로 작동한다.

상술한 실시예들로부터 안 것은, 이러한 실시예들은 비동기 타이밍 기준을 사용하여 링 발진기를 정확히 샘플링하는 동기화 기술을 제공한다는 것이다. 이 기술은, 고분해능과 고 대역폭의 회로 지연 감시 회로소자를 제공한다. 상술한 실시예들의 기술들을 사용하는 경우, 종래기술의 링 발진기 기반 해결방법에 관한 부정확성 쟁점은, 다수의 사이클에서 상기 회로소자로부터의 출력들을 평균화하려고 하는 요구사항 없이 해결된다.

여기에서는 특정한 실시예들을 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 본 발명의 범위내에서 많은 변형 및 추가를 행하여도 된다. 예를 들면, 이하의 종속항의 특징들과 본 발명의 범위로부터 벗어나지 않고 독립항의 특징들을 여러 가지로 조합할 수 있다.

Claims (19)

1. 복수의 지연소자를 구비하고 그 지연소자를 통해 신호 천이가 전파되는 링 발진기;
   상기 복수의 지연소자 각각의 사이에 샘플링 포인트를 제공하도록 분포된 복수 N개의 샘플링 포인트;
   상기 링 발진기내에서 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 발생하기 위해서, 기준 클록신호의 제어하에서 상기 복수의 샘플링 포인트 각각에서의 신호값들을 샘플링하는 미세(fine) 샘플링 회로소자;
   M개의 천이 카운터 회로를 구비한 대략(coarse) 샘플링 회로소자로서, 여기서 M은 2이상 N미만이고, 상기 N은 3이상이고, 각 천이 카운터 회로는 서로 천이 카운터 회로가 접속된 소정의 위치로부터 이격된 상기 링 발진기내의 상기 소정의 위치에 접속되고, 각 천이 카운터 회로는 상기 신호 천이가 그 천이 카운터 회로가 접속된 상기 소정의 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분하도록 구성되고, 상기 대략 샘플링 회로소자가 상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 카운트 값을 샘플링하도록 구성되고, 상기 M개의 천이 카운터 회로는, 임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 상기 M개의 천이 카운터 회로 중 적어도 하나의 상기 소정의 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록 상기 링 발진기에 접속되는, 상기 대략 샘플링 회로소자;
   상기 미세 샘플링 회로소자에서 발생한 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시에 따라, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 상기 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 상기 M개의 천이 카운터 회로 중 하나를 선택하도록 구성된 선택 회로소자; 및 기준 기간에 카운트 표시를, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값과, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시와, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터에 따라 생성하도록 구성된 출력 생성 회로소자를 구비한, 회로 지연 감시장치.
   
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 기준 기간의 시작에 관한 상기 기준 카운트 데이터는 초기 카운트 값을 포함하고,
   상기 출력 생성 회로소자는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 상기 샘플링된 카운트 값과 상기 초기 카운트 값을 비교하여서 상기 기준 기간동안의 상기 카운트 값의 변화를 결정하도록 구성된, 회로 지연 감시장치.
   
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 초기 카운트 값은 상기 대략 샘플링 회로소자에서 샘플링한 것과 같이 이전에 샘플링된 카운트 값을 포함하고,
   상기 출력 생성 회로소자는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값을 상기 이전에 샘플링된 카운트 값과 비교하여서 상기 기준 기간동안에 카운트 값의 변화를 결정하도록 구성된 미분 회로소자를 구비한, 회로 지연 감시장치.
   
4. 제 2 항에 있어서,
   상기 기준 기간의 시작에 관한 상기 기준 카운트 데이터는, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 이전의 위치를 더 포함하고,
   상기 출력 생성 회로소자는, 중간 결과를 생성하고 나서, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치에 의거하여 상기 중간 결과를 수정하기 위해서, 상기 카운트 값의 변화에 상기 복수의 지연소자에서의 지연소자의 수를 곱하여서 상기 카운트 표시를 생성하도록 구성된, 회로 지연 감시장치.
   
5. 제 4 항에 있어서,
   상기 출력 생성 회로소자는, 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치로부터, 차이 표시를 생성하도록 구성된, 회로 지연 감시장치.
   
6. 제 5 항에 있어서,
   상기 출력 생성 회로소자는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 상기 소정의 위치가 상기 신호 천이의 전파방향으로 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치 사이에 놓이지 않으면, 상기 차이 표시를 상기 중간 결과에 가산하여 상기 카운트 표시를 생성하도록 구성된, 회로 지연 감시장치.
   
7. 제 5 항에 있어서,
   상기 출력 생성 회로소자는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 상기 소정의 위치가 상기 신호 천이의 전파방향으로 상기 신호 천이의 현재의 위치와 이전의 위치 사이에 놓이면, 상기 카운트 표시를 생성하기 위해서 상기 중간결과로부터 상기 복수의 지연소자에서의 지연소자의 수를 감산하고 나서 상기 차이 표시를 가산하는 동작을 행하도록 구성된, 회로 지연 감시장치.
   
8. 제 3 항에 있어서,
   여기서 M은 2이고, 양쪽의 천이 카운터 회로는, 상기 선택 회로소자에서 선택한 천이 카운터 회로가 상기 이전에 샘플링된 카운트 값을 발생한 상기 천이 카운터 회로와 다른 경우에도 상기 미분 회로소자에 의해 상기 카운트 값의 변화가 결정되도록 상기 회로 지연 감시장치의 동작에 앞서 같은 값으로 초기화되는, 회로 지연 감시장치.
   
9. 제 3 항에 있어서,
   M은 3이상이고, M개의 천이 카운터 회로는, 임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 적어도 2개의 천이 카운터 회로의 상기 소정의 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록, 상기 링 발진기에 접속되고,
   상기 미분 회로소자는, 임의의 선택된 기준 기간에, 상기 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 상기 샘플링된 카운트 값과 이 천이 카운터 회로의 이전에 샘플링된 카운트 값을 비교하여서 상기 카운트 값의 변화를 결정하도록 구성된, 회로 지연 감시장치.
   
10. 제 1 항에 있어서,
    상기 미세 샘플링 회로소자는 상기 복수의 샘플링 포인트 각각에서 상기 샘플링된 신호값으로부터 이진열을 발생하도록 구성되고, 상기 발생된 이진열은 제1 데이터 값의 시퀀스 다음에 제2 데이터 값의 시퀀스를 포함하고, 상기 제1 시퀀스로부터 상기 제2 시퀀스로의 천이의 이진 시퀀스내의 위치는 상기 링 발진기내의 신호 천이의 현재의 위치를 특정하는, 회로 지연 감시장치.
    
11. 제 1 항에 있어서,
    상기 대략 샘플링 회로소자는, 상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 M개의 천이 카운터 회로 각각의 카운트 값을 샘플링하도록 구성되고, 상기 선택 회로소자는 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 그 M개의 천이 카운터 회로들 중 하나로부터 상기 샘플링된 카운트 값을 선택하도록 구성된, 회로 지연 감시장치.
    
12. 제 1 항에 있어서,
    상기 기준 기간은 상기 기준 클록신호의 1클록 사이클인, 회로 지연 감시장치.
    
13. 제 1 항에 있어서,
    상기 대략 샘플링 회로소자는 각 천이 카운터 회로로부터 상기 카운터 값을 카운트하기 위한 복수의 샘플링 소자를 포함하고,
    상기 소정량은, 상기 카운트 값을 샘플링하는데 사용된 상기 대략 샘플링 회로소자내의 상기 복수의 샘플링 소자의 셋업 및 홀드 타이밍 특징에 관하여 선택된, 회로 지연 감시장치.
    
14. 제 1 항에 있어서,
    상기 샘플링 포인트들은 상기 복수의 지연소자 각각의 사이에 샘플링 포인트를 제공하도록 규칙적으로 분포되는, 회로 지연 감시장치.
    
15. 제 14 항에 있어서,
    상기 복수의 샘플링 포인트는 각 지연소자 사이의 샘플링 포인트를 포함하여, 상기 복수의 지연소자는 N개의 지연소자를 구비하는, 회로 지연 감시장치.
    
16. 제 1 항에 있어서,
    상기 M개의 천이 카운터 회로의 상기 소정의 위치는 상기 링 발진기내에서 규칙적으로 이격되어 있는, 회로 지연 감시장치.
    
17. 제 4 항에 있어서,
    상기 링 발진기의 동작은 시작신호에 의해 기동되고,
    상기 M개의 천이 카운터 회로는 소정의 초기 카운트 값으로 초기화되고,
    상기 링 발진기 내의 상기 신호 천이의 이전의 위치는 미리 결정되고,
    상기 기준 기간은 상기 시작 신호의 어서션(assertion)과 상기 기준 클록신호의 소정의 클록 에지 사이의 기간인, 회로 지연 감시장치.
    
18. 복수의 지연소자를 구비한 링 발진기를 통해 신호 천이를 전파하는 단계;
    상기 복수의 지연소자 각각의 사이에 샘플링 포인트를 제공하도록 분포된 복수 N개의 샘플링 포인트 각각에서의 신호값들을, 상기 링 발진기내에서 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 발생하기 위해서, 기준 클록신호의 제어하에서 샘플링 하는 단계;
    임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 M개(여기서, M은 2이상 N미만이고, 상기 N은 3이상)의 천이 카운터 회로 중 적어도 하나의 소정의 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록 상기 링 발진기에 접속되는 상기 M개의 천이 카운터 회로 각각을 서로 천이 카운터 회로가 접속된 상기 소정의 위치로부터 이격된 상기 링 발진기내의 상기 소정의 위치에 접속하는 단계;
    각 천이 카운터 회로내에서, 상기 신호 천이가 그 천이 카운터 회로가 접속된 상기 소정의 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분하는 단계;
    상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 카운트 값을 샘플링하는 단계;
    상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시에 따라, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 상기 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 상기 M개의 천이 카운터 회로 중 하나를 선택하는 단계; 및
    기준 기간에 카운트 표시를, 선택 회로소자에서 선택한 상기 천이 카운터 회로의 샘플링된 카운트 값과, 상기 링 발진기내의 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시와, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터에 따라 생성하는 단계를 포함하는, 회로 지연 감시방법.
    
19. 복수의 지연소자를 구비하고 그 지연소자를 통해 신호 천이가 전파되는 링 발진기 수단;
    상기 복수의 지연소자 각각의 사이에 샘플링 포인트를 제공하도록 분포된 복수 N개의 샘플링 포인트;
    상기 링 발진기 수단내에서 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시를 발생하기 위해서, 기준 클록신호의 제어하에서 상기 복수의 샘플링 포인트 각각에서의 신호값들을 샘플링하는 미세 샘플링 수단;
    M개의 천이 카운터 수단을 구비한 대략 샘플링 수단으로서, 여기서 M은 2이상 N미만이고, 상기 N은 3이상이고, 각 천이 카운터 수단은 서로 천이 카운터 수단이 접속된 소정의 위치로부터 이격된 상기 링 발진기 수단내의 상기 소정의 위치에 접속되고, 각 천이 카운터 수단은 상기 신호 천이가 그 천이 카운터 회로가 접속된 상기 소정의 위치를 지나갈 때마다 카운트 값을 증분하고, 상기 대략 샘플링 수단이 상기 기준 클록신호의 제어하에 상기 카운트 값을 더욱 샘플링하고, 상기 M개의 천이 카운터 수단은, 임의의 시점에서, 상기 신호 천이의 현재 위치와 상기 M개의 천이 카운터 수단 중 적어도 하나의 상기 소정의 위치 사이의 간격이 소정량보다 크도록 상기 링 발진기 수단에 접속되는, 상기 대략 샘플링 수단;
    상기 미세 샘플링 수단에서 발생한 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시에 따라, 상기 신호 천이의 현재의 위치로부터 상기 소정량보다 큰 소정의 위치를 갖는 상기 M개의 천이 카운터 수단 중 하나를 선택하도록 구성된 선택 수단; 및
    기준 기간에 카운트 표시를, 상기 선택수단에서 선택한 상기 천이 카운터 수단의 샘플링된 카운트 값과, 상기 링 발진기 수단내의 상기 신호 천이의 현재의 위치의 표시와, 상기 기준 기간의 시작에 관한 기준 카운트 데이터에 따라 생성하는 출력 생성수단을 구비한, 회로 지연 감시장치.

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