KR102098762B1 - Apparatus for manufacturing semiconductor and method of manufacturing semiconductor device - Google Patents

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Abstract

본 발명의 과제는 밀어올림 유닛을 품종에 맞춰 용이하게 변경하는 것이 가능한 반도체 제조 장치를 제공하는 데 있다. 반도체 제조 장치는, 다이를 다이싱 테이프의 아래로부터 밀어올리는 밀어올림 유닛과, 다이를 흡착하는 콜릿을 구비한다. 밀어올림 유닛은, 다이싱 테이프와 접촉하는 사각 형상의 복수의 블록을 갖는 제1 유닛과, 복수의 블록의 각각에 독립적으로 상하 이동을 전달하는 동심원 형상의 복수의 블록을 갖는 제2 유닛을 구비한다. 제1 유닛은 제2 유닛의 위에 장착된다.An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus capable of easily changing a pushing unit according to a variety. The semiconductor manufacturing apparatus includes a pushing unit for pushing the die from below the dicing tape, and a collet for adsorbing the die. The pushing unit includes a first unit having a plurality of blocks having a quadrangular shape in contact with a dicing tape, and a second unit having a plurality of blocks having a concentric shape that independently transmits vertical movement to each of the plurality of blocks. do. The first unit is mounted on top of the second unit.

Description

반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법{APPARATUS FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE}A semiconductor manufacturing apparatus and a manufacturing method of a semiconductor device {APPARATUS FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE}

본 개시는 반도체 제조 장치에 관한 것으로, 예를 들어 밀어올림 유닛을 구비하는 다이본더에 적용 가능하다.The present disclosure relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and is applicable to, for example, a die bonder having a pushing unit.

일반적으로, 다이라 불리는 반도체 칩을, 예를 들어 배선 기판이나 리드 프레임 등(이하, 총칭해서 '기판'이라고 함)의 표면에 탑재하는 다이본더에 있어서는, 일반적으로, 콜릿 등의 흡착 노즐을 사용해서 다이를 기판 위로 반송하여 압박력을 부여함과 함께, 접합재를 가열함으로써 본딩을 행한다고 하는 동작(작업)이 반복해서 행해진다.Generally, in a die bonder in which a semiconductor chip called a die is mounted on the surface of a wiring board or a lead frame (hereinafter, collectively referred to as a 'substrate'), for example, an adsorption nozzle such as collet is generally used. Then, the operation (work) of performing bonding by heating the bonding material while heating the bonding material is performed while conveying the die onto the substrate and applying a pressing force.

다이본더 등의 반도체 제조 장치에 의한 다이 본딩 공정 중에는, 반도체 웨이퍼(이하, '웨이퍼'라고 함)로부터 분할된 다이를 박리하는 박리 공정이 있다. 박리 공정에서는, 다이싱 테이프 이면으로부터 밀어올림 유닛에 의해 다이를 밀어올려서, 다이 공급부에 유지된 다이싱 테이프로부터 1개씩 박리하고, 콜릿 등의 흡착 노즐을 사용해서 기판 위로 반송한다.Among the die bonding process by a semiconductor manufacturing apparatus such as a die bonder, there is a peeling step of peeling a divided die from a semiconductor wafer (hereinafter referred to as a “wafer”). In the peeling step, the die is pushed up by the pushing unit from the back side of the dicing tape, and peeled one by one from the dicing tape held in the die supply section, and conveyed onto the substrate using an adsorption nozzle such as collet.

예를 들어, 일본 특허공개 제2012-4393호 공보(특허문헌 1)에 의하면, 다이싱 테이프에 접착된 복수의 다이 중 박리 대상의 다이를 밀어올려서 다이싱 테이프로부터 박리할 때, 다이의 주변부 중 소정부에 있어서의 다이싱 테이프를 밀어올려서 박리 기점을 형성하고, 그 후, 소정부 이외 부분의 다이싱 테이프를 밀어올려서 다이를 다이싱 테이프로부터 박리하고 있다.For example, according to Japanese Patent Laid-Open No. 2012-4393 (Patent Document 1), a plurality of dies adhered to a dicing tape are pushed up and peeled off from the dicing tape, and thus, among the peripheral portions of the die. The dicing tape in the predetermined portion is pushed up to form a peeling origin, and then the dicing tape in a portion other than the predetermined portion is pushed up to peel the die from the dicing tape.

일본 특허공개 제2012-4393호 공보Japanese Patent Publication No. 2012-4393

웨이퍼로부터 다이를 픽업할 경우, 품종(예를 들어 다이 사이즈)에 맞춘 지그를 세트할 필요가 있다. 그러나, 품종 교환 시의 조정이 번잡하여 시간을 요한다. 픽업 동작이 특허문헌 1과 같은 다단 밀어올림 등에서는 미리 동작 사양에 맞춘 구조로 만들어져 있기 때문에, 밀어올림 유닛은 뒤에서부터 변경할 수 없다.When picking up a die from a wafer, it is necessary to set a jig according to the variety (for example, die size). However, adjustments when changing varieties are complicated and require time. Since the pickup operation is made of a structure conforming to the operation specifications in advance in the multi-stage pushing such as Patent Document 1, the pushing unit cannot be changed from the back.

본 개시의 과제는 밀어올림 유닛을 품종에 맞춰서 용이하게 변경하는 것이 가능한 반도체 제조 장치를 제공하는 데 있다.An object of the present disclosure is to provide a semiconductor manufacturing apparatus capable of easily changing a pushing unit according to a variety.

그 밖의 과제와 신규 특징은, 본 명세서의 기술 및 첨부 도면으로부터 명백해질 것이다.Other problems and novel features will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

본 개시의 중 대표적인 것의 개요를 간단히 설명하면 하기와 같다.The outline of a representative one of the present disclosure is briefly described below.

즉, 반도체 제조 장치는, 다이를 다이싱 테이프의 아래로부터 밀어올리는 밀어올림 유닛과, 상기 다이를 흡착하는 콜릿을 구비한다. 상기 밀어올림 유닛은, 상기 다이싱 테이프와 접촉하는 사각 형상의 복수의 블록을 갖는 제1 유닛과, 상기 복수의 블록의 각각에 독립적으로 상하 이동을 전달하는 동심원 형상의 복수의 블록을 갖는 제2 유닛을 구비한다. 상기 제1 유닛은 상기 제2 유닛의 위에 장착된다.That is, the semiconductor manufacturing apparatus includes a pushing unit for pushing the die from below the dicing tape, and a collet for adsorbing the die. The pushing unit includes a first unit having a plurality of blocks having a quadrangular shape contacting the dicing tape, and a second having a plurality of blocks having a concentric circle shape that independently transmits vertical movement to each of the plurality of blocks. It is equipped with a unit. The first unit is mounted on top of the second unit.

상기 반도체 제조 장치에 의하면, 밀어올림 유닛을 품종에 맞춰 용이하게 변경하는 것이 가능하다.According to the above-mentioned semiconductor manufacturing apparatus, it is possible to easily change the pushing unit according to the variety.

도 1은 실시예에 따른 다이본더를 위에서 본 개념도.
도 2는, 도 1에 있어서 화살표 A 방향에서 보았을 때 픽업 헤드 및 본딩 헤드의 동작을 설명하는 도면.
도 3은, 도 1의 다이 공급부의 외관 사시도를 나타내는 도면.
도 4는, 도 1의 다이 공급부의 주요부를 나타내는 개략 단면도.
도 5는, 실시예에 따른 밀어올림 유닛의 외관 사시도.
도 6a는, 도 5의 제1 유닛의 일부의 상면도.
도 6b는, 도 5의 제2 유닛의 일부의 상면도.
도 6c는, 도 5의 제3 유닛의 일부의 상면도.
도 7은, 도 5의 밀어올림 유닛의 종단면도.
도 8은, 도 5의 밀어올림 유닛의 종단면도.
도 9는, 실시예에 따른 밀어올림 유닛과 픽업 헤드 중 콜릿부와의 구성을 나타낸 도면.
도 10은, 실시예에 따른 다이본더의 픽업 동작을 설명하기 위한 흐름도.
도 11은, 실시예에 따른 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도.
도 12a는, 변형예에 따른 밀어올림 유닛의 외관 사시도.
도 12b는, 변형예에 따른 밀어올림 유닛의 외관 사시도.
도 13은, 도 12a의 제1 유닛의 종단면도.
도 14a는, 도 12a의 밀어올림 유닛의 일부의 종단면도.
도 14b는, 도 14a의 밀어올림 유닛의 일부로부터 제1 유닛을 제거한 상태의 종단면도.
도 15는, 변형예 2에 따른 밀어올림 유닛의 외관 사시도.
도 16은, 도 15의 제3 유닛의 종단면도.
도 17은, 도 16의 제3 유닛의 일부의 상면도.
도 18은, 도 15의 제3 유닛의 변형예의 일부의 상면도.
1 is a conceptual view from above of a die bonder according to an embodiment.
FIG. 2 is a view for explaining the operation of the pickup head and the bonding head when viewed in the direction of arrow A in FIG. 1;
3 is a view showing an external perspective view of a die supply unit of FIG. 1.
4 is a schematic cross-sectional view showing a main part of the die supply part of FIG. 1.
5 is an external perspective view of a pushing unit according to an embodiment.
6A is a top view of a portion of the first unit in FIG. 5;
6B is a top view of a portion of the second unit in FIG. 5.
6C is a top view of a part of the third unit in FIG. 5.
Fig. 7 is a longitudinal sectional view of the pushing unit of Fig. 5;
8 is a longitudinal sectional view of the pushing unit of FIG. 5.
9 is a view showing the configuration of the collapsing part of the lifting unit and the pickup head according to the embodiment.
10 is a flowchart for explaining the pickup operation of the die bonder according to the embodiment.
11 is a flowchart for explaining a method of manufacturing a semiconductor device according to an embodiment.
12A is an external perspective view of a pushing unit according to a modification.
12B is an external perspective view of a pushing unit according to a modification.
Fig. 13 is a longitudinal sectional view of the first unit in Fig. 12A.
14A is a longitudinal sectional view of a part of the pushing unit of FIG. 12A.
14B is a longitudinal sectional view of the first unit removed from a part of the pushing unit of FIG. 14A.
15 is an external perspective view of a pushing unit according to Modification 2;
Fig. 16 is a longitudinal sectional view of the third unit in Fig. 15;
17 is a top view of a part of the third unit of FIG. 16.
18 is a top view of a part of a modification of the third unit in FIG. 15.

이하, 실시예 및 변형예에 대해서 도면을 이용하여 설명한다. 단, 이하의 설명에 있어서, 동일 구성 요소에는 동일 부호를 붙여 반복되는 설명을 생략하는 경우가 있다. 또한, 도면은 설명을 보다 명확하게 하기 위해서, 실제의 형태에 비해, 각 부의 폭, 두께, 형상 등에 대하여 모식적으로 표현되는 경우가 있지만, 어디까지나 일례로서, 본 발명의 해석을 한정하는 것은 아니다. Hereinafter, examples and modifications will be described with reference to the drawings. However, in the following description, the same components may be given the same reference numerals and repeated descriptions may be omitted. In addition, in order to make the description more clear, in some cases, the width, thickness, shape, etc. of each part are schematically expressed in comparison with the actual form, but the interpretation of the present invention is not limited by way of example only. .

[실시예][Example]

도 1은 실시예에 따른 다이본더의 개략을 나타내는 상면도이다. 도 2는 도 1에 있어서 화살표 A 방향에서 보았을 때, 픽업 헤드 및 본딩 헤드의 동작을 설명하는 도면이다.1 is a top view showing an outline of a die bonder according to an embodiment. FIG. 2 is a view for explaining the operation of the pickup head and the bonding head when viewed in the direction of arrow A in FIG. 1.

다이본더(10)는, 크게 구별하여, 다이 공급부(1)와, 픽업부(2), 중간 스테이지부(3)와, 본딩부(4)와, 반송부(5), 기판 공급부(6)와, 기판 반출부(7)와, 각 부의 동작을 감시하여 제어하는 제어부(8)를 갖는다.The die bonder 10 is largely divided into a die supply unit 1, a pickup unit 2, an intermediate stage unit 3, a bonding unit 4, a transport unit 5, and a substrate supply unit 6 And a control unit 8 that monitors and controls the operation of each unit and the substrate carrying unit 7.

우선, 다이 공급부(1)는 기판 P에 실장하는 다이 D를 공급한다. 다이 공급부(1)는, 웨이퍼(11)를 유지하는 웨이퍼 유지대(12)와, 웨이퍼(11)로부터 다이 D를 밀어올리는 점선으로 나타내는 밀어올림 유닛(13)을 갖는다. 다이 공급부(1)는 도시하지 않은 구동 수단에 의해 XY 방향으로 이동하고, 픽업하는 다이 D를 밀어올림 유닛(13)의 위치로 이동시킨다.First, the die supply unit 1 supplies the die D mounted on the substrate P. The die supply unit 1 has a wafer holder 12 for holding the wafer 11 and a pushing unit 13 indicated by a dotted line for pushing the die D from the wafer 11. The die supply unit 1 moves in the XY direction by a driving means (not shown), and moves the picked up die D to the position of the pushing unit 13.

픽업부(2)는, 다이 D를 픽업하는 픽업 헤드(21)와, 픽업 헤드(21)를 Y 방향으로 이동시키는 픽업 헤드의 Y 구동부(23)와, 콜릿(22)을 승강, 회전 및 X 방향 이동시키는 도시하지 않은 각 구동부를 갖는다. 픽업 헤드(21)는, 밀어 올려진 다이 D를 끝 부분에 흡착 유지하는 콜릿(22)(도 2도 참조)을 갖고, 다이 공급부(1)로부터 다이 D를 픽업하고, 중간 스테이지(31)에 적재한다. 픽업 헤드(21)는, 콜릿(22)을 승강, 회전 및 X 방향 이동시키는 도시하지 않은 각 구동부를 갖는다.The pick-up section 2 lifts, rotates and rotates the pickup head 21 for picking up the die D, the Y drive section 23 of the pick-up head for moving the pick-up head 21 in the Y direction, and the collet 22. It has each driving unit (not shown) that moves in the direction. The pick-up head 21 has a collet 22 (see FIG. 2) for adsorbing and holding the pushed-up die D at the end, picking up the die D from the die supply section 1, and feeding it to the intermediate stage 31. Load. The pickup head 21 has respective driving parts (not shown) for moving the collet 22 up and down, rotating, and moving in the X direction.

중간 스테이지부(3)는, 다이 D를 일시적으로 적재하는 중간 스테이지(31)와, 중간 스테이지(31) 위의 다이 D를 인식하기 위한 스테이지 인식 카메라(32)를 갖는다.The intermediate stage part 3 has an intermediate stage 31 for temporarily loading the die D, and a stage recognition camera 32 for recognizing the die D on the intermediate stage 31.

본딩부(4)는, 중간 스테이지(31)로부터 다이 D를 픽업하고, 반송되어 오는 기판 P 위에 본딩하거나, 또는 이미 기판 P의 위에 본딩된 다이의 위에 적층하는 형태로 본딩한다. 본딩부(4)는, 픽업 헤드(21)와 마찬가지로 다이 D를 선단에 흡착 유지하는 콜릿(42)(도 2를 참조)을 구비하는 본딩 헤드(41)와, 본딩 헤드(41)를 Y 방향으로 이동시키는 Y 구동부(43)와, 기판 P의 위치 인식 마크(도시생략)를 촬상하여 본딩 위치를 인식하는 기판 인식 카메라(44)를 갖는다.The bonding part 4 picks up the die D from the intermediate stage 31 and bonds it on the substrate P to be conveyed, or bonds it on top of the die already bonded on the substrate P. The bonding portion 4, like the pickup head 21, has a bonding head 41 having a collet 42 (see Fig. 2) for adsorbing and holding the die D at the tip, and the bonding head 41 in the Y direction. It has a Y driving unit 43 to move to and a substrate recognition camera 44 that recognizes a bonding position by imaging a position recognition mark (not shown) of the substrate P.

이와 같은 구성에 의해, 본딩 헤드(41)는, 스테이지 인식 카메라(32)의 촬상 데이터에 기초하여 픽업 위치·자세를 보정하고, 중간 스테이지(31)로부터 다이 D를 픽업하고, 기판 인식 카메라(44)의 촬상 데이터에 기초하여 기판 P에 다이 D를 본딩한다.With such a configuration, the bonding head 41 corrects the pickup position and posture based on the imaging data of the stage recognition camera 32, picks up the die D from the intermediate stage 31, and board recognition camera 44 ), Die D is bonded to the substrate P based on the imaging data.

반송부(5)는, 1장 또는 여러 장의 기판 P(도 1에서는 4장)를 적재한 기판 반송 팔레트(51)와, 기판 반송 팔레트(51)가 이동하는 팔레트 레일(52)을 구비하고, 병행해서 설치된 동일 구조의 제1, 제2 반송부를 갖는다. 기판 반송 팔레트(51)는, 기판 반송 팔레트(51)에 설치된 도시하지 않은 너트를 팔레트 레일(52)을 따라 설치된 도시하지 않은 볼 나사로 구동함으로써 이동한다.The transport section 5 includes a board transport pallet 51 on which one or several boards P (four in FIG. 1) are loaded, and a pallet rail 52 on which the board transport pallet 51 moves, It has the 1st, 2nd conveyance parts of the same structure installed in parallel. The substrate conveying pallet 51 is moved by driving a nut (not shown) provided on the substrate conveying pallet 51 with a ball screw (not shown) provided along the pallet rail 52.

이와 같은 구성에 의해, 기판 반송 팔레트(51)는, 기판 공급부(6)에서 기판 P를 적재하고, 팔레트 레일(52)을 따라 본딩 위치까지 이동하고, 본딩 후, 기판 반출부(7)까지 이동하여, 기판 반출부(7)에 기판 P를 건넨다. 제1, 제2 반송부는, 서로 독립하여 구동되고, 한쪽의 기판 반송 팔레트(51)에 적재된 기판 P에 다이 D를 본딩 중에, 다른 쪽의 기판 반송 팔레트(51)는, 기판 P를 반출하고, 기판 공급부(6)로 되돌아가서, 새로운 기판 P를 적재하는 등의 준비를 행한다.With such a configuration, the substrate conveying pallet 51 loads the substrate P from the substrate supply part 6, moves along the pallet rail 52 to the bonding position, and after bonding, moves to the substrate carrying part 7 Then, the substrate P is passed to the substrate carrying portion 7. The first and second transport units are driven independently of each other, and while bonding the die D to the substrate P loaded on one of the substrate transport pallets 51, the other substrate transport pallet 51 carries out the substrate P , Returning to the substrate supply section 6, and preparing such as loading a new substrate P.

제어부(8)는, 다이본더(10)의 각 부의 동작을 감시하여 제어하는 프로그램(소프트웨어)을 저장하는 메모리와, 메모리에 저장된 프로그램을 실행하는 중앙처리장치(CPU)를 구비한다.The control unit 8 includes a memory for storing a program (software) for monitoring and controlling the operation of each part of the die bonder 10, and a central processing unit (CPU) for executing a program stored in the memory.

다음으로, 다이 공급부(1)의 구성에 대해서 도 3 및 도 4를 이용하여 설명한다. 도 3은 다이 공급부의 외관 사시도를 나타내는 도면이다. 도 4는 다이 공급부의 주요부를 나타내는 개략 단면도이다.Next, the configuration of the die supply unit 1 will be described with reference to FIGS. 3 and 4. It is a figure which shows the external perspective view of a die supply part. 4 is a schematic cross-sectional view showing a main part of a die supply part.

다이 공급부(1)는, 수평 방향(XY 방향)으로 이동하는 웨이퍼 유지대(12)와, 상하 방향으로 이동하는 밀어올림 유닛(13)을 구비한다. 웨이퍼 유지대(12)는, 웨이퍼 링(14)을 유지하는 익스팬드 링(15)과, 웨이퍼 링(14)에 유지되고 복수의 다이 D가 접착된 다이싱 테이프(16)를 수평으로 위치 결정하는 지지 링(17)을 갖는다. 밀어올림 유닛(13)은 지지 링(17)의 내측에 배치된다.The die supply unit 1 includes a wafer holder 12 moving in the horizontal direction (XY direction) and a pushing unit 13 moving in the vertical direction. The wafer holder 12 horizontally positions the dividing tape 16 holding the wafer ring 14 and the dicing tape 16 held by the wafer ring 14 and adhered to a plurality of dies D. It has a support ring (17). The pushing unit 13 is disposed inside the support ring 17.

다이 공급부(1)는, 다이 D를 밀어올릴 때에, 웨이퍼 링(14)을 유지하고 있는 익스팬드 링(15)을 하강시킨다. 그 결과, 웨이퍼 링(14)에 유지되어 있는 다이싱 테이프(16)가 길게 늘어져서 다이 D의 간격이 확대되고, 밀어올림 유닛(13)에 의해 다이 D 하방으로부터 다이 D를 밀어올려 다이 D의 픽업성을 향상시키고 있다. 또한, 박형화에 수반하여 다이를 기판에 접착하는 접착제는, 액체 상태로부터 필름 형상으로 되고, 웨이퍼(11)와 다이싱 테이프(16)의 사이에 다이 어태치 필름(DAF)(18)이라 불리는 필름 형상의 접착 재료를 붙이고 있다. 다이 어태치 필름(18)을 갖는 웨이퍼(11)에서는, 다이싱은, 웨이퍼(11)와 다이 어태치 필름(18)에 대하여 행해진다. 따라서, 박리 공정에서는, 웨이퍼(11)와 다이 어태치 필름(18)을 다이싱 테이프(16)로부터 박리한다. 또한, 이후에서는, 다이 어태치 필름(18)의 존재를 무시하고, 박리 공정을 설명한다.When the die D is pushed up, the die supply unit 1 lowers the expand ring 15 holding the wafer ring 14. As a result, the dicing tape 16 held on the wafer ring 14 is elongated, and the gap between the dies D is enlarged, and the pushing unit 13 pushes the die D from below the die D to pick up the die D. Improving sex. Moreover, the adhesive which bonds a die to a board | substrate with thinning becomes a film form from a liquid state, and is a film called a die attach film (DAF) 18 between the wafer 11 and the dicing tape 16. The adhesive material of the shape is attached. In the wafer 11 having the die attach film 18, dicing is performed on the wafer 11 and the die attach film 18. Therefore, in the peeling step, the wafer 11 and the die attach film 18 are peeled from the dicing tape 16. In addition, in the following, the existence of the die attach film 18 is ignored, and the peeling process will be described.

다음으로, 밀어올림 유닛(13)에 대해서 도 5, 6a 내지 6d, 7, 8을 이용하여 설명한다. 도 5는 실시예에 따른 밀어올림 유닛의 외관 사시도이다. 도 6a는 도 5의 제1 유닛의 일부의 상면도이다. 도 6b의 도 5의 제2 유닛의 일부의 상면도이다. 도 6c는 도 5의 제3 유닛의 일부의 상면도이다. 도 7은 도 5의 밀어올림 유닛의 종단면도이다. 도 8은 도 5의 밀어올림 유닛의 종단면도이다.Next, the pushing unit 13 will be described with reference to FIGS. 5, 6A to 6D, 7, and 8. 5 is an external perspective view of a pushing unit according to an embodiment. FIG. 6A is a top view of a portion of the first unit of FIG. 5. It is a top view of a part of the 2nd unit of FIG. 5 of FIG. 6B. 6C is a top view of a portion of the third unit of FIG. 5. 7 is a longitudinal sectional view of the pushing unit of FIG. 5. 8 is a longitudinal sectional view of the pushing unit of FIG. 5.

밀어올림 유닛(13)은, 제1 유닛(13a)과, 제1 유닛(13a)이 장착되는 제2 유닛(13b)과, 제2 유닛(13b)이 장착되는 제3 유닛(13c)을 구비한다. 제2 유닛(13b) 및 제3 유닛(13c)은 품종에 관계없이 공통의 부분이며, 제1 유닛(13a)은 품종마다 교체 가능한 부분이다.The pushing unit 13 includes a first unit 13a, a second unit 13b to which the first unit 13a is mounted, and a third unit 13c to which the second unit 13b is mounted. do. The second unit 13b and the third unit 13c are common parts regardless of varieties, and the first unit 13a is a replaceable part for each variety.

제1 유닛(13a)은 블록 A1 내지 A6을 갖는 블록부(13a1)와, 복수의 흡착 구멍을 갖는 돔 헤드(13a2)와, 흡인 구멍(13a3)과, 돔 흡착의 흡인 구멍(13a4)을 갖고, 제2 유닛(13b)의 동심원 형상의 블록 B1 내지 B6의 상하 운동을 동심 사각 형상의 6개의 블록 A1 내지 A6의 상하 운동으로 변환한다. 6개의 블록 A1 내지 A6은 독립적으로 상하 운동이 가능하다. 동심 사각 형상의 블록 A1 내지 A6의 평면 형상은 다이 D의 형상에 맞도록 구성된다. 다이 사이즈가 작은 경우는, 동심 사각 형상의 블록의 수는 6개보다도 적게 구성된다. 이 경우, 예를 들어 제3 유닛의 출력부 및 제2 유닛의 동심원 형상의 블록은 사용되지 않게 된다. 이것은, 제3 유닛의 복수의 출력부 및 제2 유닛의 동심원 형상의 블록이 서로 독립하여 상하 이동하는(상하 이동하지 않는) 것에 의해 가능하게 되어 있다.The first unit 13a has a block portion 13a1 having blocks A1 to A6, a dome head 13a2 having a plurality of suction holes, a suction hole 13a3, and a suction hole 13a4 for dome suction , Convert the vertical motion of the concentric circular blocks B1 to B6 of the second unit 13b to the vertical motion of the six blocks A1 to A6 of concentric square shape. The six blocks A1 to A6 can independently move up and down. The planar shape of the concentric square-shaped blocks A1 to A6 is configured to fit the shape of the die D. When the die size is small, the number of concentric square-shaped blocks is less than six. In this case, for example, the output unit of the third unit and the concentric block of the second unit are not used. This is made possible by a plurality of output units of the third unit and concentric circular blocks of the second unit moving up and down (not moving up and down) independently of each other.

제2 유닛(13b)은, 원관 형상의 블록 B1 내지 B6과, 외주부(13b2)를 갖고, 제1 유닛(13a)의 원주 위에 배치되는 출력부 C1 내지 C6의 상하 운동을 동심원 형상의 6개의 블록 B1 내지 B6의 상하 운동으로 변환한다. 6개의 블록 B1 내지 B6은 독립적으로 상하 운동이 가능하다.The second unit 13b has six blocks of concentric circular motions with the cylindrical blocks B1 to B6, the outer peripheral portions 13b2, and the vertical movement of the output units C1 to C6 disposed on the circumference of the first unit 13a. It converts to the vertical motion of B1 to B6. The six blocks B1 to B6 can independently move up and down.

제3 유닛(13c)은 중앙부(13c0)와 6개의 주변부(13c1 내지 13c6)를 구비한다. 중앙부(13c0)는 상면의 원주 위에 등간격으로 배치되어 독립적으로 오르내리는 6개의 출력부 C1 내지 C6을 갖는다. 주변부(13c1 내지 13c6)는 각각 출력부 C1 내지 C6을 서로 독립하여 구동 가능하다. 주변부(13c1 내지 13c6)는 각각 모터 M1 내지 M6을 구비하고, 중앙부(13c0)에는 모터의 회전을 캠 또는 링크에 의해 상하 이동으로 변환하는 플런저 기구 P1 내지 P6을 구비한다. 플런저 기구 P1 내지 P6은 출력부 C1 내지 C6에 상하 이동을 부여한다. 또한, 모터 M2, M5 및 플런저 기구 P2, P5는 도시를 생략하였다.The third unit 13c has a central portion 13c0 and six peripheral portions 13c1 to 13c6. The central portion 13c0 is arranged at equal intervals on the circumference of the upper surface and has six output portions C1 to C6 independently rising and falling. The peripheral parts 13c1 to 13c6 can respectively drive the output parts C1 to C6 independently of each other. The peripheral parts 13c1 to 13c6 are provided with motors M1 to M6, respectively, and the central part 13c0 is provided with plunger mechanisms P1 to P6 for converting the rotation of the motor to vertical movement by a cam or link. The plunger mechanisms P1 to P6 provide vertical movement to the output sections C1 to C6. Incidentally, motors M2, M5 and plunger mechanisms P2 and P5 are not shown.

다음으로, 밀어올림 유닛과 콜릿의 관계에 대해서 도 9를 이용하여 설명한다. 도 9는 실시예에 따른 밀어올림 유닛과 픽업 헤드 중 콜릿부와의 구성을 나타낸 도면이다.Next, the relationship between the pushing unit and the collet will be described with reference to FIG. 9. 9 is a view showing the configuration of the collapsing part of the lifting unit and the pickup head according to the embodiment.

도 9에 도시한 바와 같이 콜릿부(20)는, 콜릿(22)과, 콜릿(22)을 유지하는 콜릿 홀더(24)와, 각각에 설치되어 다이 D를 흡착하기 위한 흡인 구멍(22v, 23v)을 갖는다.As shown in Fig. 9, the collet portion 20 includes a collet 22, a collet holder 24 holding the collet 22, and suction holes 22v, 23v provided on each to adsorb the die D ).

제1 유닛(13a)은 상면 주변부에 돔 헤드(13a2)를 갖는다. 돔 헤드(13a2)는 복수의 흡착 구멍 HL과 공동부 CV를 갖고, 흡인 구멍(13a3)으로부터 흡인하여, 콜릿(22)으로 픽업되는 다이 D의 주변의 다이 Dd를 다이싱 테이프(16)를 개재해서 흡인한다. 도 9에서는 블록부(13a1)의 주위에 흡착 구멍 HL을 일예로만 나타내고 있지만, 픽업 대상이 아닌 다이 Dd를 안정적으로 유지하기 위해서 복수 열 설치하고 있다. 동심 사각 형상의 블록 A1 내지 A6의 각 블록 사이의 간극 A1v, A2v, A3v, A4v, A5v 및 제1 유닛(13a)의 돔 내의 공동부를 개재해서 돔 흡착의 흡인 구멍(13a4)으로부터 흡인하여, 콜릿(22)으로 픽업되는 다이 D를 다이싱 테이프(16)를 개재해서 흡인한다. 흡인 구멍(13a3)으로부터의 흡인과 흡인 구멍(13a4)으로부터의 흡인은 독립적으로 행할 수 있다.The first unit 13a has a dome head 13a2 at its upper periphery. The dome head 13a2 has a plurality of adsorption holes HL and a cavity CV, and the die Dd around the die D picked up by the suction hole 13a3 is picked up by the collet 22 via the dicing tape 16. And aspirate. Although the adsorption hole HL is shown as an example only around the block portion 13a1 in FIG. 9, a plurality of rows are provided to stably maintain the die Dd, which is not a pickup object. The gaps A1v, A2v, A3v, A4v, A5v between the respective blocks of the concentric square-shaped blocks A1 to A6 are interspersed with a cavity in the dome of the first unit 13a and sucked from the suction hole 13a4 of the dome adsorption, collet The die D picked up by (22) is sucked through the dicing tape (16). The suction from the suction hole 13a3 and the suction from the suction hole 13a4 can be performed independently.

본 실시예의 밀어올림 유닛(13)은, 제1 유닛의 블록 형상, 블록의 수를 변경함으로써, 다양한 다이에 적용 가능하며, 예를 들어 블록 수가 6개인 경우에는, 다이 사이즈가 20mm□ 이하인 다이에 적용 가능하다. 제3 유닛의 출력부의 수, 제2 유닛의 동심원 형상의 블록의 수 및 제1 유닛의 동심 사각 형상의 블록의 수를 늘림으로써, 다이 사이즈가 20mm□보다 큰 다이에도 적용 가능하다.The pushing unit 13 of this embodiment can be applied to various dies by changing the block shape and number of blocks of the first unit. For example, in the case of 6 blocks, the die size is 20 mm or less. It is applicable. By increasing the number of output units of the third unit, the number of concentric circular blocks of the second unit, and the number of concentric square blocks of the first unit, it is also applicable to dies having a die size larger than 20 mm □.

다음으로, 전술한 구성에 의한 밀어올림 유닛(13)에 의한 픽업 동작에 대해서 도 10을 이용하여 설명한다. 도 10은 픽업 동작의 처리 플로우를 나타내는 흐름도이다.Next, the pick-up operation by the pushing unit 13 having the above-described configuration will be described with reference to FIG. 10. 10 is a flowchart showing the processing flow of the pickup operation.

스텝 S1: 제어부(8)는 픽업하는 다이 D가 밀어올림 유닛(13)의 바로 위에 위치하도록 웨이퍼 유지대(12)을 이동하고, 다이싱 테이프(16)의 이면에 제3 유닛의 상면이 접촉하도록 밀어올림 유닛(13)을 이동한다. 이때, 도 9에 도시한 바와 같이, 제어부(8)는, 블록부(13a1)의 각 블록 A1 내지 A6이 돔 헤드(13a2)의 표면과 동일 평면을 형성하도록 하고, 돔 헤드(13a2)의 흡착 구멍 HL과, 블록 간의 간극 A1v, A2v, A3v, A4v, A5v에 의해 다이싱 테이프(16)을 흡착한다.Step S1: The control unit 8 moves the wafer holder 12 so that the die D to be picked up is located directly above the pushing unit 13, and the upper surface of the third unit contacts the back surface of the dicing tape 16 So that the pushing unit 13 is moved. At this time, as shown in FIG. 9, the control unit 8 causes each of the blocks A1 to A6 of the block portion 13a1 to form the same plane as the surface of the dome head 13a2, and adsorbs the dome head 13a2 The dicing tape 16 is adsorbed by the holes HL and the gaps A1v, A2v, A3v, A4v, and A5v between the blocks.

스텝 2: 제어부(8)는, 콜릿부(20)를 하강시켜서, 픽업하는 다이 D의 위에 위치 결정하고, 흡인 구멍(22v, 24v)에 의해 다이 D를 흡착한다.Step 2: The control unit 8 lowers the collet portion 20, positions it on the die D to be picked up, and adsorbs the die D by suction holes 22v and 24v.

스텝 3: 제어부(8)는, 블록부(13a1)의 블록을 외측으로부터 순차 상승시켜서 박리 동작을 행한다. 즉, 제어부(8)는 모터 M6로 플런저 기구 P6을 구동하고, 가장 외측의 블록 A6만을 수십 ㎛로부터 수백 ㎛ 상승시켜서 정지시킨다. 이 결과, 블록 A6의 주변에 있어서 다이싱 테이프(16)가 솟아오른 밀어올림 부분이 형성되고, 다이싱 테이프(16)와 다이 어태치 필름(18)의 사이에 미소한 공간, 즉 박리 기점이 생긴다. 이 공간에 의해 앵커 효과, 즉 다이 D에 가해지는 스트레스가 대폭 저감되어, 이후의 박리 동작을 확실하게 행할 수 있다. 다음으로, 제어부(8)는 모터 M5로 플런저 기구 P5를 구동하고, 2번째로 외측의 블록 A5만을 블록 A6보다도 높게 상승시켜 정지시킨다. 다음으로, 제어부(8)는 모터 M4로 플런저 기구 P4를 구동하고, 3번째로 외측의 블록 A4만을 블록 A5보다도 높게 상승시켜 정지시킨다. 다음으로, 제어부(8)는 모터 M3으로 플런저 기구 P3을 구동하고, 4번째로 외측의 블록 A3만을 블록 A4보다도 높게 상승시켜 정지시킨다. 다음으로, 제어부(8)는 모터 M2로 플런저 기구 P2를 구동하고, 5번째로 외측의 블록 A2만을 블록 A3보다도 높게 상승시켜 정지시킨다. 마지막으로, 제어부(8)는 모터 M1로 플런저 기구 P1을 구동하고, 가장 내측의 블록 A1만을 블록 A2보다도 높게 상승시켜 정지시킨다.Step 3: The control unit 8 sequentially lifts the block of the block portion 13a1 from the outside to perform a peeling operation. That is, the control unit 8 drives the plunger mechanism P6 with the motor M6, and raises and stops only the outermost block A6 from tens of μm to several hundreds of μm. As a result, a raised portion of the dicing tape 16 protruding around the block A6 is formed, and a small space between the dicing tape 16 and the die attach film 18, that is, the peeling origin. Occurs. The anchor effect, that is, the stress applied to the die D is greatly reduced by this space, and subsequent peeling operation can be reliably performed. Next, the control unit 8 drives the plunger mechanism P5 with the motor M5, and secondly, only the outer block A5 rises higher than the block A6 to stop. Next, the control unit 8 drives the plunger mechanism P4 with the motor M4, and thirdly, raises and stops only the outer block A4 higher than the block A5. Next, the control unit 8 drives the plunger mechanism P3 with the motor M3, and fourthly, raises and stops only the outer block A3 higher than the block A4. Next, the control unit 8 drives the plunger mechanism P2 with the motor M2, and fifthly increases only the outer block A2 higher than the block A3 to stop. Finally, the control unit 8 drives the plunger mechanism P1 with the motor M1, and raises and stops only the innermost block A1 higher than the block A2.

스텝 S4: 제어부(8)는 콜릿을 상승시킨다. 스텝 S3의 마지막 상태에서는, 다이싱 테이프(16)와 다이 D와의 접촉 면적은 콜릿의 상승에 의해 박리할 수 있는 면적으로 되어, 콜릿(22)의 상승에 의해 다이 D를 박리할 수 있다.Step S4: The control unit 8 raises the collet. In the last state of step S3, the contact area between the dicing tape 16 and the die D is an area that can be peeled off by the rise of the collet, and the die D can be peeled off by the rise of the collet 22.

스텝 S5: 제어부(8)는 블록부(13a1)의 각 블록 A1 내지 A6이 돔 헤드(13a2)의 표면과 동일 평면을 형성하도록 하고, 돔 헤드(13a2)의 흡착 구멍 HL과, 블록 간의 간극 A1v, A2v, A3v, A4v, A5v에 의한 다이싱 테이프(16)의 흡착을 정지한다. 제어부(8)는 다이싱 테이프(16)의 이면으로부터 제1 유닛의 상면이 이격되도록 밀어올림 유닛(13)을 이동한다.Step S5: The control unit 8 causes each of the blocks A1 to A6 of the block portion 13a1 to form the same plane as the surface of the dome head 13a2, the adsorption hole HL of the dome head 13a2, and the gap A1v between the blocks , The adsorption of the dicing tape 16 by A2v, A3v, A4v, A5v is stopped. The control unit 8 moves the pushing unit 13 so that the upper surface of the first unit is spaced from the back surface of the dicing tape 16.

제어부(8)는 스텝 S1 내지 S5를 반복하여, 웨이퍼(11)의 좋은 품질의 다이를 픽업한다.The control section 8 repeats steps S1 to S5 to pick up a good quality die of the wafer 11.

다음으로, 실시예에 따른 다이본더를 사용한 반도체 장치의 제조 방법에 대해서 도 11을 이용하여 설명한다. 도 11은 반도체 장치의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.Next, a method for manufacturing a semiconductor device using a die bonder according to an embodiment will be described with reference to FIG. 11. 11 is a flowchart showing a method of manufacturing a semiconductor device.

스텝 S11: 웨이퍼(11)로부터 분할된 다이 D가 접착된 다이싱 테이프(16)를 유지한 웨이퍼 링(14)을 웨이퍼 카세트(도시생략)에 저장하고, 다이본더(10)에 반입한다. 제어부(8)는 웨이퍼 링(14)이 충전된 웨이퍼 카세트로부터 웨이퍼 링(14)을 다이 공급부(1)에 공급한다. 또한, 기판 P를 준비하고, 다이본더(10)에 반입한다. 제어부(8)는 기판 공급부(6)에서 기판 P를 기판 반송 팔레트(51)에 적재한다.Step S11: The wafer ring 14 holding the dicing tape 16 to which the die D divided from the wafer 11 is adhered is stored in a wafer cassette (not shown) and carried into the die bonder 10. The control unit 8 supplies the wafer ring 14 to the die supply unit 1 from the wafer cassette filled with the wafer ring 14. Further, the substrate P is prepared and carried into the die bonder 10. The control part 8 loads the board | substrate P from the board | substrate supply part 6 to the board | substrate conveyance pallet 51.

스텝 S12: 제어부(8)는 스텝 S1 내지 S5에 의해 분할한 다이를 웨이퍼로부터 픽업한다.Step S12: The control unit 8 picks up the die divided by the steps S1 to S5 from the wafer.

스텝 S13: 제어부(8)는 픽업한 다이를 기판 P 위에 탑재 또는 이미 본딩한 다이의 위에 적층한다. 제어부(8)는 웨이퍼(11)로부터 픽업한 다이 D를 중간 스테이지(31)에 적재하고, 본딩 헤드(41)로 중간 스테이지(31)로부터 다시 다이 D를 픽업하고, 반송되어 온 기판 P에 본딩한다.Step S13: The control unit 8 stacks the picked-up die on the substrate P or stacks it on the die already bonded. The control unit 8 loads the die D picked up from the wafer 11 onto the intermediate stage 31, picks up the die D again from the intermediate stage 31 with the bonding head 41, and bonds it to the conveyed substrate P do.

스텝 S14: 제어부(8)는 기판 반출부(7)에서 기판 반송 팔레트(51)로부터 다이 D가 본딩된 기판 P를 추출한다. 다이본더(10)로부터 기판 P를 반출한다.Step S14: The control unit 8 extracts the substrate P to which the die D is bonded from the substrate transport pallet 51 in the substrate carrying unit 7. The substrate P is taken out from the die bonder 10.

<변형예 1><Modification 1>

다음으로, 밀어올림 유닛의 변형예 1에 대해서 도 12a, 12b, 13, 14a, 14b를 이용하여 설명한다. 도 12a는 변형예 1에 따른 밀어올림 유닛의 외관 사시도이다. 도 12b는 변형예 1에 따른 밀어올림 유닛의 외관 사시도이다. 도 13은 도 12a의 제1 유닛의 종단면도이다. 도 14a는 도 12a의 밀어올림 유닛의 제1 유닛 및 제2 유닛의 일부의 종단면도이다. 도 14b는 도 12a의 제1 유닛을 제거한 상태의 종단면도이다.Next, Modification Example 1 of the pushing unit will be described with reference to FIGS. 12A, 12B, 13, 14A, and 14B. 12A is an external perspective view of a pushing unit according to Modification Example 1; 12B is an external perspective view of a pushing unit according to Modification Example 1; 13 is a longitudinal sectional view of the first unit of FIG. 12A. 14A is a longitudinal sectional view of a part of the first unit and the second unit of the pushing unit of FIG. 12A. 14B is a longitudinal sectional view of the first unit of FIG. 12A removed.

밀어올림 유닛(13A)은, 제1 유닛(13Aa)과, 제1 유닛(13Aa)이 장착되는 제2 유닛(13Ab)을 구비한다. 제2 유닛(13Ab)은 품종에 관계없이 공통의 부분이며, 제1 유닛(13Aa)은 품종마다 교체 가능한 부분이다.The pushing unit 13A includes a first unit 13Aa and a second unit 13Ab to which the first unit 13Aa is mounted. The second unit 13Ab is a common part regardless of the variety, and the first unit 13Aa is a replaceable part for each variety.

제1 유닛(13Aa)은, 실시예의 제1 유닛(13a)과 블록 수가 상이하지만, 그 밖에는 제1 유닛(13a)과 마찬가지이다. 제1 유닛(13Aa)은, 블록 AA1 내지 AA4를 갖는 블록부(13Aa1)와, 복수의 흡착 구멍을 갖는 돔 헤드(13Aa2)와, 흡인 구멍(13a3)과, 돔 흡착의 흡인 구멍(13a4)과, 제2 유닛(13Ab)의 동심원 형상의 블록 BA1 내지 BA4의 상하 운동을 동심 사각 형상의 4개의 블록 A1 내지 A4에 전달하는 부재 aA1 내지 aA4를 구비한다.The first unit 13Aa has a different number of blocks from the first unit 13a in the embodiment, but is the same as the first unit 13a otherwise. The first unit 13Aa includes a block portion 13Aa1 having blocks AA1 to AA4, a dome head 13Aa2 having a plurality of suction holes, a suction hole 13a3, and a suction hole 13a4 for dome suction , And members aA1 to aA4 for transmitting the vertical motion of the concentric circular blocks BA1 to BA4 of the second unit 13Ab to the four concentric rectangular blocks A1 to A4.

제2 유닛(13Ab)은, 외주부(13Ab1)와, 외주부(13Ab1)를 덮음으로써 제1 유닛(13Aa)을 장착하는 부재(13Ab2)와, 부재(13Ab2)를 외주부(13Ab1)에 로크(고정)하는 부재(13Ab3)와, 동축의 원관 형상(파이프 형상)의 블록 BA1 내지 BA4와, 블록 BA1 내지 BA4를 각각 구동하는 구동부 CA1 내지 CA4를 구비한다. 부재(13Ab3)의 로크를 해제함으로써, 부재(13Ab2)는 위로 이동하는 것이 가능하게 되어, 제1 유닛(13Aa)을 제2 유닛(13Ab)에 탈착 가능하게 된다. 구동부 CA1 내지 CA4는 상하 방향으로, 위에서부터 구동부 CA1, CA2, CA3, CA4의 순서로 배치된다. 4개의 구동부 CA1 내지 CA4는 각각 독립적으로 4개의 블록 BA1 내지 BA4를 상하로 구동 가능하며, 그 결과 4개의 블록 AA1 내지 AA4는 독립적으로 상하 운동이 가능하다. 구동부 CA1 내지 CA4를 상하 방향으로 배치하기 때문에, 실시예보다도 가로 방향의 크기를 작게 할 수 있다.The second unit 13Ab is a member 13Ab2 for mounting the first unit 13Aa by covering the outer peripheral portion 13Ab1 and the outer peripheral portion 13Ab1, and the member 13Ab2 is locked (fixed) to the outer peripheral portion 13Ab1. The member 13Ab3 to be provided, the coaxial cylindrical (pipe-shaped) blocks BA1 to BA4, and the driving units CA1 to CA4 for driving the blocks BA1 to BA4, respectively. By unlocking the member 13Ab3, the member 13Ab2 can be moved upward, and the first unit 13Aa can be detached from the second unit 13Ab. The driving units CA1 to CA4 are arranged in the order of the driving units CA1, CA2, CA3, and CA4 from the top in the vertical direction. The four driving units CA1 to CA4 can independently drive the four blocks BA1 to BA4 up and down, and as a result, the four blocks AA1 to AA4 can independently move up and down. Since the driving units CA1 to CA4 are arranged in the vertical direction, the size in the horizontal direction can be made smaller than in the examples.

밀어올림 유닛(13A)에 의한 픽업 동작은 도 10에 도시한 실시예의 밀어올림 유닛(13)에 의한 동작과 마찬가지이다. 밀어올림 유닛(13A)을 구비하는 다이본더를 사용한 반도체 장치의 제조 방법은 도 11에 도시한 실시예의 반도체 장치의 제조 방법과 마찬가지이다.The pickup operation by the pushing unit 13A is the same as the operation by the pushing unit 13 in the embodiment shown in FIG. The manufacturing method of the semiconductor device using the die bonder provided with the pushing unit 13A is the same as the manufacturing method of the semiconductor device of the embodiment shown in FIG.

<변형예 2><Modification 2>

다음으로, 밀어올림 유닛의 변형예 2에 대해서 도 15 내지 17을 이용하여 설명한다. 도 15는 변형예 2에 따른 밀어올림 유닛의 외관 사시도이다. 도 16은 도 15의 제3 유닛의 종단면도이다. 도 17은 도 16의 제3 유닛의 일부의 상면도이다.Next, Modification Example 2 of the pushing unit will be described with reference to FIGS. 15 to 17. 15 is an external perspective view of a pushing unit according to Modification 2; 16 is a longitudinal sectional view of the third unit of FIG. 15. 17 is a top view of a portion of the third unit of FIG. 16.

밀어올림 유닛(13B)은, 제1 유닛(13Ba)과, 제1 유닛(13Ba)이 장착되는 제2 유닛(13Bb)과, 제2 유닛(13Bb)이 장착되는 제3 유닛(13Bc)을 구비한다. 제2 유닛(13Bb) 및 제3 유닛(13Bc)은 품종에 관계없이 공통의 부분이며, 제1 유닛(13Ba)은 품종마다 교체 가능한 부분이다.The pushing unit 13B includes a first unit 13Ba, a second unit 13Bb to which the first unit 13Ba is mounted, and a third unit 13Bc to which the second unit 13Bb is mounted. do. The second unit 13Bb and the third unit 13Bc are common parts regardless of varieties, and the first unit 13Ba is a replaceable part for each variety.

제1 유닛(13Ba)은 제1 유닛(13a)과 블록수가 상이하지만 마찬가지의 구조이며, 최대 12개의 블록을 구비한다. 제2 유닛(13Bb)은 제2 유닛(13b)과 블록수가 상이하지만 마찬가지의 구조이며, 최대 12개의 블록을 구비한다.The first unit 13Ba has the same number of blocks as the first unit 13a, but has the same structure and includes up to 12 blocks. The second unit 13Bb has the same number of blocks as the second unit 13b, but has the same structure and includes up to 12 blocks.

제3 유닛(13Bc)은 중앙부(13Bc0)와 12개의 주변부(13c1 내지 13c6, 13d1 내지 13d6)를 구비한다. 중앙부(13Bc0)는 상면의 외측의 원주 위에 등간격으로 배치되어 독립적으로 오르내리는 6개의 출력부 C1 내지 C6과 내측의 원주 위에 등간격으로 배치되어 독립적으로 오르내리는 6개의 출력부 D1 내지 D6을 갖는다. 주변부(13c1 내지 13c6)는 주변부(13d1 내지 13d6)의 위에 배치된다. 주변부(13c1 내지 13c6, 13d1 내지 13d6)는 각각 출력부 C1 내지 C6, D1 내지 D6을 서로 독립하여 구동 가능하다. 주변부(13c1 내지 13c6, 13d1 내지 13d6)는 각각 모터 M1 내지 M6, Md1 내지 Md6을 구비하고, 중앙부(13Bc0)에는 모터의 회전을 캠 또는 링크에 의해 상하 이동으로 변환하는 플런저 기구 P1 내지 P6, Pd1 내지 Pd6을 구비한다. 플런저 기구 P1 내지 P6, Pd1 내지 Pd6은 출력부 C1 내지 C6, D1 내지 D6에 상하 이동을 부여한다. 또한, 모터 M1, M2, M4, M5, Md1, Md2, Md4, Md5 및 플런저 기구 P1, P2, P4, P5, Pd1, Pd2, Pd4, Pd5는 도시를 생략하였다.The third unit 13Bc has a central portion 13Bc0 and 12 peripheral portions 13c1 to 13c6 and 13d1 to 13d6. The central portion 13Bc0 has six outputs C1 to C6 which are arranged at equal intervals on the outer circumference of the upper surface and rise and fall independently, and six outputs D1 to D6 that are arranged at equal intervals on the inner circumference to rise and fall independently. . The peripheral portions 13c1 to 13c6 are disposed on the peripheral portions 13d1 to 13d6. The peripheral parts 13c1 to 13c6 and 13d1 to 13d6 can respectively drive the output parts C1 to C6 and D1 to D6 independently of each other. The peripheral parts 13c1 to 13c6, 13d1 to 13d6 are provided with motors M1 to M6 and Md1 to Md6, respectively, and in the central part 13Bc0, plunger mechanisms P1 to P6, Pd1 for converting rotation of the motor to vertical movement by a cam or link To Pd6. The plunger mechanisms P1 to P6, Pd1 to Pd6 provide vertical movement to the output sections C1 to C6, D1 to D6. Also, motors M1, M2, M4, M5, Md1, Md2, Md4, Md5 and plunger mechanisms P1, P2, P4, P5, Pd1, Pd2, Pd4, and Pd5 are omitted from the illustration.

제3 유닛을 세로로 적층하여 출력부를 늘림으로써, 더 많은 블록을 동작시킬 수 있다. 상단에 배치한 제3 유닛은 출력부 외에도 하단 유닛용 플런저의 축이 관통하는 스페이스가 필요해진다. 변형예 2에서는 상단과 하단의 제3 유닛의 모터의 회전을 상하 이동으로 변환하는 플런저 기구의 캠 또는 링크 위치를 동심원 위의 내주부와 외주부로 비켜놓고 배치하고 있지만, 도 18에 도시한 바와 같이, 상하의 제3 유닛의 각도를 (180°/설치 포인트 수, 예를 들어 6 출력의 제3 유닛에서는 30°) 비켜놓고 배치함으로써 플런저 출력부의 축이 관통하는 스페이스를 확보해도 된다. 이에 의해 2단 적재층에서, 출력부와도 12점 정도의 대응이 가능하다. 또한, 상단의 유닛의 출력부를 1 내지 3군데 줄여서 스페이스를 확보해도 된다.By stacking the third units vertically to increase the output, more blocks can be operated. In addition to the output unit, the third unit disposed at the top requires a space through which the axis of the plunger for the bottom unit passes. In Variation 2, the cam or link position of the plunger mechanism for converting the rotation of the motors of the upper and lower third units to vertical movement is arranged with the inner and outer circumferential portions above the concentric circles, as shown in FIG. 18. , By placing the angles of the upper and lower third units (180 ° / number of installation points, for example, 30 ° in the third unit of 6 outputs), the space through which the axis of the plunger output part penetrates may be secured. As a result, in the two-layer stacking layer, it is possible to cope with an output unit of about 12 points. In addition, space may be secured by reducing the output unit of the upper unit by one to three places.

실시예에서는, 제3 유닛에 모터의 회전을 캠 또는 링크에 의해 상하 이동의 동작점이 원주 위에 6점 존재한다. 제2 유닛 내에서 6점의 원주 위의 동작점으로부터 6겹의 동심원 위의 동작 원으로 전개한다. 제1 유닛에서는 동심원 위의 동작 원으로부터 다이 사이즈의 사각형 블록의 각 부품에 접속된다. 변형예 1에서는, 제2 유닛 내에서 상하 방향에 배치된 4점의 동작점으로부터 4겹의 동심원 위의 동작 원으로 전개한다. 제1 유닛에서는 동심원 위의 동작 원으로부터 다이 사이즈의 사각형 블록의 각 부품에 접속된다. 변형예 2에서는 제3 유닛의 동작점은 최대 12점 배치된다. 최대 12단계, 6단계 또는 4단계로 분해해서 밀어올림으로써, 복수의 사이즈의 다이에 대하여 부품과 프로세스의 공용화를 행할 수 있다.In the embodiment, the rotational point of the motor in the third unit is six points on the circumference of the vertical movement by the cam or link. In the second unit, it develops from an operating point on the circumference of six points to an operating circle on six concentric circles. In the first unit, each component of the die-sized rectangular block is connected from the operating circle on the concentric circle. In the modified example 1, the four-point motion points arranged in the vertical direction in the second unit are developed to the motion circle on the four-ply concentric circles. In the first unit, each component of the die-sized rectangular block is connected from the operating circle on the concentric circle. In Modification 2, a maximum of 12 operating points of the third unit are arranged. By disassembling and pushing up to a maximum of 12 steps, 6 steps, or 4 steps, it is possible to share parts and processes for dies of a plurality of sizes.

또한, 실시예 및 변형예에서는, 각 단이 서로 영향받지 않는(간섭이 일어나지 않는) 밀어올림 스트로크를 실현함으로써 밀어올림 방향/끌어들임 방향 어느 쪽에도 프로그래밍대로 자유롭게 설정 가능한 밀어올리기 기구를 제공할 수 있다. 즉, 각 단이 각각 독립되어 있어 서로 간섭하지 않는 결합으로 되어 있기 때문에 설계가 용이해진다. 또한, 밀어올림 높이/상하 타이밍 등을 자유롭게 선정할 수 있다.Further, in the embodiment and the modified example, it is possible to provide a push mechanism that can be freely set in both the push direction and the pull direction by implementing a push stroke in which each end is not affected by each other (no interference occurs). . That is, design is easy because each stage is independent and is made of a combination that does not interfere with each other. In addition, you can freely select the height of pushing up / down and the timing.

밀어올림 지그 상면의 동심원 구조까지는 공통으로 할 수 있기 때문에, 다이 사이즈에 의한 품종 교환은, 품종 전환 부품(제1 유닛)을 교환함으로써 완료된다. 품종 전환 부품의 설계는 용이한 것으로 된다. 품종 전환 부품의 설계를 신속하게 할 수 있어 납기/가격을 억제하는 것이 가능하다. 부품의 공용화도 진행된다. 또한, 품종 전환에 따른 시간을 단축할 수 있다.Since the concentric structure of the upper surface of the pushing jig can be common, the exchange of varieties by die size is completed by replacing the varieties switching parts (first unit). The design of varieties conversion parts becomes easy. It is possible to quickly design a variety conversion part, so it is possible to suppress delivery / price. Common use of parts is also in progress. In addition, it is possible to shorten the time required for conversion of varieties.

이상, 본 발명자에 의해 이루어진 발명을 실시예 및 변형예에 기초하여 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은, 상기 실시예 및 변형예로 한정되는 것이 아니라, 다양하게 변경 가능한 것은 물론이다.In the above, although the invention made by the present inventors has been specifically described based on Examples and Modifications, the present invention is not limited to the above Examples and Modifications, and of course various changes are possible.

예를 들어, 실시예에서는 플런저 기구의 상하 이동은 모터를 사용해서 행하고 있지만, 모터를 사용하지 않고 에어 실린더 등의 축의 전후 동작을 평면 캠을 사용해서 상하 이동으로 변환하여도 된다.For example, in the embodiment, the vertical movement of the plunger mechanism is performed using a motor, but the forward and backward movements of an axis such as an air cylinder may be converted to vertical movement using a flat cam without using a motor.

또한, 큰 출력이나 스트로크가 필요한 경우에 캠 또는 링크의 사이즈가 커지게 되어, 소정의 스페이스에 수용되지 않는 경우도 제3 유닛의 1단당 출력부를 줄여서 대응하고 그만큼을 적층하여 보충하는 것도 가능해진다.In addition, when a large output or stroke is required, the size of the cam or link becomes large, so that even if it is not accommodated in a predetermined space, it is possible to reduce the output per unit of the third unit and respond by stacking the same.

또한, 제3 유닛의 출력부로부터 제2 유닛의 블록을 상승시키는 플런저 기구는, 카메라 셔터의 릴리즈와 같이, 플렉시블한 가이드 내를 와이어 형상의 코어가 전후하는 구조로 해도 된다. 이 경우, 모터나 에어 실린더 등의 플런저 캠의 구동부의 배치를 이격된 위치에 설치할 수 있어 배치의 자유도가 향상된다.In addition, the plunger mechanism for raising the block of the second unit from the output of the third unit may have a structure in which a wire-shaped core moves forward and backward within the flexible guide, such as the release of a camera shutter. In this case, the arrangement of the driving parts of the plunger cam, such as a motor or an air cylinder, can be installed at a spaced apart position, so that the degree of freedom of placement is improved.

또한, 제1 유닛의 복수의 블록의 수가 12개, 6개 또는 4개의 예에 대해서 설명하였지만, 3개 이상 있으면 된다. 제2 유닛의 복수의 블록의 수가 12개, 6개 또는 4개의 예에 대해서 설명하였지만, 제1 유닛의 복수의 블록의 수와 동일하면 된다. 제3 유닛의 복수의 구동 출력부의 수가 12개 또는 6개의 예에 대해서 설명하였지만, 제2 유닛의 복수의 블록의 수와 동일하면 된다.In addition, although 12, 6, or 4 examples of the number of the plurality of blocks of the first unit have been described, three or more blocks may be used. Although the number of the plurality of blocks in the second unit has been described for 12, 6, or 4 examples, the number of blocks in the first unit may be the same. Although 12 or 6 examples of the number of the plurality of drive outputs of the third unit have been described, it is sufficient that the number of the plurality of blocks of the second unit is the same.

또한, 제1 유닛의 복수의 블록은 동심 사각 형상의 것에 대해서 설명하였지만, 사각 형상 블록을 평행하게 배열하여 구성해도 된다.In addition, although the plurality of blocks of the first unit has been described as having concentric square shapes, the square blocks may be arranged in parallel.

또한, 실시예에서는 픽업 대상 다이와 주변 다이를 동일한 타이밍에 흡착/해방하였지만, 픽업 대상 다이와 주변 다이를 각각의 타이밍에 흡착/해방을 행하여도 된다. 이에 의해, 보다 확실한 박리를 행할 수 있다.Further, in the embodiment, the pickup target die and the peripheral die are adsorbed / released at the same timing, but the pickup target die and the peripheral die may be adsorbed / released at each timing. Thereby, more reliable peeling can be performed.

또한, 실시예에서는 각 단의 블록은 순차 밀어올렸지만, 각 단이 독립적으로 각각 별도의 동작이 가능하므로 밀어올림/끌어내림의 양 방향의 동작을 혼재해도 된다.Further, in the embodiment, the blocks of each stage are sequentially pushed up, but since each stage can independently perform separate operations, the operations in both directions of push / pull may be mixed.

또한, 실시예에서는 제1 유닛에 블록을 사용해서 다이를 밀어올리는 예를 설명하였지만, 블록 대신에 핀(니들)을 사용해도 된다.Further, in the embodiment, an example in which the die is pushed up by using a block in the first unit is described, but a pin (needle) may be used instead of the block.

또한, 실시예에서는, 다이 어태치 필름을 사용하는 예를 설명하였지만, 기판에 접착제를 도포하는 프리폼부를 설치해서 다이 어태치 필름을 사용하지 않아도 된다.In addition, although the example using the die attach film was demonstrated in the Example, it is not necessary to use the die attach film by providing a preform part for applying an adhesive to the substrate.

또한, 실시예에서는, 다이 공급부로부터 다이를 픽업 헤드로 픽업해서 중간 스테이지에 적재하고, 중간 스테이지에 적재된 다이를 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 다이본더에 대해서 설명하였지만, 이것으로 한정되는 것이 아니라, 다이 공급부로부터 다이를 픽업하는 반도체 제조 장치에 적용 가능하다.In addition, although the die bonder which picks up a die from a die supply part with a pick-up head and loads it on an intermediate stage and bonds the die loaded on the intermediate stage to a board | substrate with a bonding head was demonstrated in embodiment, it is not limited to this. It is applicable to a semiconductor manufacturing apparatus for picking up a die from a die supply section.

예를 들어, 중간 스테이지와 픽업 헤드가 없이, 다이 공급부의 다이를 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 다이본더에도 적용 가능하다.For example, it is applicable to a die bonder that bonds the die of the die supply to the substrate with a bonding head, without an intermediate stage and a pickup head.

또한, 중간 스테이지가 없이, 다이 공급부로부터 다이를 픽업하여 다이 픽업 헤드를 위로 회전해서 다이를 본딩 헤드에 전달하고 본딩 헤드로 기판에 본딩하는 플립 칩 본더에 적용 가능하다.Further, without an intermediate stage, it is applicable to a flip chip bonder that picks up a die from the die supplying part, rotates the die pickup head upwards, transfers the die to the bonding head, and bonds the substrate with the bonding head.

또한, 중간 스테이지와 본딩 헤드가 없이, 다이 공급부로부터 픽업 헤드로 픽업한 다이를 트레이 등에 적재하는 다이 소터에 적용 가능하다.In addition, it is applicable to a die sorter that loads a die picked up from a die supply section to a pickup head without a middle stage and a bonding head, or the like on a tray.

1: 다이 공급부
11: 웨이퍼
13: 밀어올림 유닛
13a: 제1 유닛
13a1: 블록부
13a2: 흡착부
13a3: 흡인부
13a4: 흡인부
A1 내지 A6: 동심 사각 형상의 블록
13b: 제2 유닛
B1 내지 B6: 동심원 형상의 블록
13c: 제3 유닛
13c0: 중앙부
13c1 내지 13c6: 주변부
C1 내지 C6: 출력부
16: 다이싱 테이프
2: 픽업부
21: 픽업 헤드
3: 중간 스테이지부
31: 중간 스테이지
4: 본딩부
41: 본딩 헤드
7: 제어부
10: 다이본더
D: 다이
P: 기판
1: die supply
11: Wafer
13: pushing unit
13a: first unit
13a1: block
13a2: adsorption section
13a3: suction part
13a4: suction part
A1 to A6: concentric square-shaped block
13b: second unit
B1 to B6: concentric block
13c: 3rd unit
13c0: center
13c1 to 13c6: periphery
C1 to C6: output unit
16: dicing tape
2: pickup section
21: pickup head
3: Middle stage section
31: intermediate stage
4: bonding
41: bonding head
7: Control
10: die bonder
D: die
P: Substrate

Claims (14)

반도체 제조 장치로서,
다이를 다이싱 테이프의 아래로부터 밀어올리는 밀어올림 유닛과,
상기 다이를 흡착하는 콜릿
을 구비하고,
상기 밀어올림 유닛은,
상기 다이싱 테이프와 접촉하는 사각 형상의 복수의 블록을 갖는 제1 유닛과,
상기 복수의 블록의 각각에 독립적으로 상하 이동을 전달하는 복수의 블록을 갖는 제2 유닛과,
상기 제2 유닛의 복수의 블록의 각각에 독립적으로 상하 이동을 부여하는 복수의 구동 출력부를 갖는 제3 유닛
을 구비하고,
상기 제1 유닛은 상기 제2 유닛의 위에 장착되고,
상기 제2 유닛 및 상기 제3 유닛은 품종에 관계없이 공통의 부분이며, 상기 제1 유닛은 품종마다 교체 가능한, 반도체 제조 장치.
A semiconductor manufacturing apparatus,
A pushing unit for pushing the die from the bottom of the dicing tape,
Collet adsorbing the die
Equipped with,
The pushing unit,
A first unit having a plurality of blocks of a rectangular shape in contact with the dicing tape,
A second unit having a plurality of blocks for transmitting the vertical movement independently to each of the plurality of blocks,
A third unit having a plurality of drive outputs that independently give up and down movement to each of the plurality of blocks of the second unit
Equipped with,
The first unit is mounted on top of the second unit,
The second unit and the third unit are common parts regardless of varieties, and the first unit is replaceable for each varieties, a semiconductor manufacturing apparatus.
제1항에 있어서,
상기 제1 유닛은 상기 복수의 블록의 상하 이동을 상기 사각 형상의 복수의 블록의 상하 이동으로 변환하는, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
The first unit converts the vertical movement of the plurality of blocks into the vertical movement of the plurality of blocks of the square shape, the semiconductor manufacturing apparatus.
제1항에 있어서,
상기 제1 유닛은,
상기 복수의 블록의 외측에 상기 다이의 외측 주변 다이를 흡착하는 제1 흡착부와,
상기 다이를 흡착하는 상기 복수의 블록 사이의 간극으로 구성되는 제2 흡착부
를 더 구비하는, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
The first unit,
A first adsorption unit for adsorbing the outer peripheral die of the die to the outside of the plurality of blocks,
A second adsorption unit composed of a gap between the plurality of blocks adsorbing the die
Further comprising, a semiconductor manufacturing apparatus.
제3항에 있어서,
상기 제1 흡착부와 상기 제2 흡착부는 독립적으로 흡착 타이밍을 설정 가능한, 반도체 제조 장치.
According to claim 3,
The first adsorption unit and the second adsorption unit are capable of independently setting the adsorption timing, a semiconductor manufacturing apparatus.
제4항에 있어서,
상기 제1 유닛의 복수의 블록의 수는 3 이상인, 반도체 제조 장치.
According to claim 4,
The number of the plurality of blocks of the first unit is three or more, a semiconductor manufacturing apparatus.
제1항에 있어서,
상기 사각 형상의 복수의 블록은 동심 형상으로 구성되는, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
A semiconductor manufacturing apparatus, wherein the plurality of square-shaped blocks are configured in a concentric shape.
제1항에 있어서,
상기 제1 유닛은, 상기 사각 형상의 복수의 블록 대신에 사각 형상으로 배치되는 복수의 바늘을 구비하는, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
The first unit is provided with a plurality of needles arranged in a square shape instead of the plurality of blocks of the square shape, the semiconductor manufacturing apparatus.
제1항에 있어서,
상기 다이는 상기 다이와 상기 다이싱 테이프의 사이에 다이 어태치 필름을 더 구비하는, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
The die further comprises a die attach film between the die and the dicing tape.
제1항에 있어서,
상기 콜릿이 장착되는 픽업 헤드를 더 구비하는, 반도체 제조 장치.
According to claim 1,
And a pickup head on which the collet is mounted.
제9항에 있어서,
상기 픽업 헤드로 픽업되는 다이를 적재하는 중간 스테이지와,
상기 중간 스테이지에 적재되는 다이를 기판 또는 이미 본딩되어 있는 다이의 위에 본딩하는 본딩 헤드
를 더 구비하는, 반도체 제조 장치.
The method of claim 9,
An intermediate stage for loading the die picked up by the pickup head,
A bonding head that bonds the die loaded on the intermediate stage onto a substrate or an already bonded die.
Further comprising, a semiconductor manufacturing apparatus.
반도체 장치의 제조 방법으로서,
(a) 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 기재된 반도체 제조 장치를 준비하는 공정과,
(b) 다이를 갖는 다이싱 테이프를 유지하는 웨이퍼 링을 준비하는 공정과,
(c) 기판을 준비하는 공정과,
(d) 상기 밀어올림 유닛에 의해 상기 다이를 밀어올려서 상기 콜릿으로 상기 다이를 픽업하는 공정
을 구비하는, 반도체 장치의 제조 방법.
A method for manufacturing a semiconductor device,
(a) a process for preparing the semiconductor manufacturing apparatus according to any one of items 1 to 10,
(b) preparing a wafer ring holding a dicing tape with a die,
(c) a process for preparing a substrate,
(d) process of picking up the die by the collet by pushing up the die by the pushing unit
A method of manufacturing a semiconductor device comprising:
제11항에 있어서,
(e) 상기 다이를 기판 또는 이미 본딩되어 있는 다이의 위에 본딩하는 공정을 더 구비하는, 반도체 장치의 제조 방법.
The method of claim 11,
(e) A method of manufacturing a semiconductor device, further comprising a step of bonding the die onto a substrate or a die that is already bonded.
제12항에 있어서,
상기 (d) 공정은 상기 픽업한 다이를 중간 스테이지에 적재하는 공정을 더 갖고,
상기 (e) 공정은 상기 중간 스테이지로부터 상기 다이를 픽업하는 공정을 더 갖는, 반도체 장치의 제조 방법.
The method of claim 12,
The step (d) further includes a step of loading the picked-up die on an intermediate stage,
The step (e) further includes a step of picking up the die from the intermediate stage, a method for manufacturing a semiconductor device.
제11항에 있어서,
상기 (d) 공정은 밀어올림/끌어내림 양 방향의 동작을 혼재하여 행하는 공정을 더 갖는, 반도체 장치의 제조 방법.
The method of claim 11,
The step (d) further includes a step of mixing and pushing / unloading operations in both directions to produce a semiconductor device.
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