KR101998005B1 - 터치제어 기판, 단말 및 터치 정밀도 향상 방법 - Google Patents

터치제어 기판, 단말 및 터치 정밀도 향상 방법 Download PDF

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센젠 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드
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Abstract

본 출원은 터치제어 기판, 단말 및 터치 정밀도 향상 방법을 공개하였다. 터치제어 기판은 논리제어 모듈, 터치제어 모듈, 제1 스위치제어 모듈, 제1 스위치 모듈, 제2 스위치 모듈, 제2 스위치제어 모듈, 전극 모듈을 을 포함하며; 상기 논리제어 모듈은 각각 상기 제1 스위치 제어 모듈, 상기 터치제어 모듈 및 상기 제2 스위치 제어 모듈에 연결되고; 상기 제1 스위치 모듈은 각각 상기 제1 스위치제어 모듈, 상기 터치제어 모듈, 상기 제2 스위치 모듈 및 상기 전극 모듈에 연결되며; 상기 제2 스위치 모듈은 상기 제2 스위치제어 모듈, 상기 터치제어 모듈 및 상기 전극모듈에 더 연결된다. 상기 방안은 고스트 이미지를 제거하여 접촉점 위치결정의 정밀도를 향상시킬 수 있으며, 또한 스캔 속도가 빠른 특징을 가진다.

Description

터치제어 기판, 단말 및 터치 정밀도 향상 방법{TOUCH CONTROL SUBSTRATE, TERMINAL AND METHOD FOR IMPROVING TOUCH PRECISION}
본 출원은 통신기술 분야에 관한 것으로서, 특히 터치제어 기판, 단말 및 터치 정밀도 향상 방법에 관한 것이다.
현재, 정전용량식 터치스크린 스캔 방법은 주로 셀프 정전용량 스캔방법과 상호 정전용량 스캔방법이 있다. 셀프 정전용량 스캔은 정전용량 스크린의 행 전극과 열 전극을 동시에 스캔함으로써, 행 전극과 열 전극의 셀프 정전용량을 검출하는 것이고(즉 정전용량 스크린 중 행 전극 또는 열 전극과 터치하는 손가락이 형성하는 정전용량의 변화를 검출한다), 상호 정전용량 스캔은 각각 행 전극과 열 전극을 순차적으로 스캔하여, 수직 교차하는 2개의 전극 간의 상호 정전용량을 검출하는 것이다(즉 정전용량 스크린 중 상호 수직을 이루는 행 전극과 열 전극의 교차점 위치의 정전용량 변화를 검출한다).
그러나, 대형 칫수의 터치스크린의 경우, 터치제어점이 2개 또는 그 이상일 때, 셀프 정전용량 스캔방식에 "고스트 이미지"(즉 시스템이 잘못 판단한 접촉점) 현상이 나타날 수 있고, 상호 정전용량 스캔방식은 스캔 속도가 비교적 느리다.
예를 들어, 접촉점이 2개일 때, 셀프 정전용량 스캔방식은 X 전극과 Y 전극을 동시에 스캔하기 때문에, 이 경우 시스템은 현재 4개의 접촉점이 있는 것으로 판단할 수 있는데, 실제로는 2개의 접촉점만이 실제 접촉점이고, 다른 2개는 "고스트 이미지"이다.
상호 정전용량 스캔방식은 행(Y 전극)을 따라 순차적으로 스캔하고, 열(X 전극)을 따라 순차적으로 스캔하여, Y 전극의 스캔 시간 및 상호 수직인 X 전극과 Y 전극 간의 정전용량을 통해 실제 접촉점을 판단한다. 상호 정전용량 스캔 방식은 행과 열을 따라 순차적으로 스캔해야 하기 때문에, 대형 스크린 칫수를 갖는 정전용량 터치스크린의 경우, 비록 상호 정전용량 스캔방식으로 획득되는 접촉점이 모두 실제 접촉점이나, 검출 시간이 비교적 길고, 접촉점 위치통보 효율이 높지 않다.
본 출원이 주로 해결하고자 하는 기술문제는 고스트 이미지를 제거하여 접촉점 위치결정의 정밀도를 높일 수 있으며, 스캔 속도가 빠른 특징을 더 구비하는 터치제어 기판, 단말 및 터치 정밀도 향상방법을 제공하고자 하는데 있다.
상기 기술문제를 해결하기 위하여, 본 출원이 채택한 일 기술방안은 다음과 같다. 터치제어 기판을 제공하며, 상기 터치제어 기판은 논리제어 모듈, 터치제어 모듈, 제1 스위치제어 모듈, 제1 스위치 모듈, 제2 스위치 모듈, 제2 스위치제어 모듈, 전극 모듈을 포함하며; 그 중, 상기 논리 제어 모듈은 제1 출력단, 제2 출력단 및 제3 출력단을 포함하고, 상기 터치제어 모듈은 제어단, 제1 송신단, 제2 송신단 및 수신단을 포함하며, 상기 제1 스위치제어 모듈은 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 스위치 모듈은 제어단, 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하며, 상기 제2 스위치 모듈은 제어단, 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제2 스위치제어 모듈은 입력단 및 출력단을 포함하며; 상기 논리제어 모듈의 제1 출력단은 상기 제1 스위치제어 모듈의 입력단에 연결되고, 상기 제1 스위치제어 모듈의 출력단은 상기 제1 스위치 모듈의 제어단에 연결되며; 상기 논리제어 모듈의 제2 출력단은 상기 터치제어 모듈의 제어단에 연결되고, 상기 터치제어 모듈의 제1 송신단은 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단에 연결되며, 상기 터치제어 모듈의 제2 송신단은 상기 제1 스위치 모듈의 제2 입력단에 연결되고, 상기 제1 스위치 모듈의 출력단은 상기 전극 모듈의 행 전극 유닛에 연결되며; 상기 논리제어 모듈의 제3 출력단은 상기 제2 스위치제어 모듈의 입력단에 연결되고, 상기 제2 스위치제어 모듈의 출력단은 상기 제2 스위치 모듈의 제어단에 연결되며; 상기 제2 스위치 모듈의 제1 입력단은 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단에 연결되고, 상기 제2 스위치 모듈의 제2 입력단은 상기 전극 모듈의 열 전극 유닛에 연결되며, 상기 제2 스위치 모듈의 출력단은 상기 터치제어 모듈의 수신단에 연결되고;
상기 논리제어 모듈은 제1 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단이 상기 제1 스위치 모듈의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하고; 상기 터치제어 모듈이 상기 제1 스위치 모듈을 통해 상기 전극 모듈로 제1 스캔신호를 출력하여, 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 수행하도록 트리거하며; 제1 제어신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈의 제1 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하고, 상기 전극 모듈의 행 전극 신호를 상기 제1 스위치 모듈 및 상기 제2 스위치 모듈을 통해 상기 터치제어 모듈로 전송하여 상기 전극 모듈 중 신호 변화가 발생한 행 전극을 결정하기 위한 것이고; 상기 논리제어 모듈은 또한 상기 전극모듈이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 제2 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈의 제2 입력단이 상기 제1 스위치 모듈의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하고; 제2 제어 신호를 송신하여, 상기 터치제어 모듈이 상기 제1 스위치 모듈을 통해 상기 전극 모듈로 제2 스캔신호를 출력하여, 결정된 상기 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하도록 제어하며; 및 제3 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈의 제2 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하고, 상기 전극 모듈의 열 전극 신호를 상기 제2 스위치 모듈을 통해 상기 터치제어 모듈로 전송하여, 상기 전극 모듈 중 신호 변화가 발생한 위치를 결정하고, 접촉점의 좌표를 획득하기 위한 것이다.
그 중, 상기 전극 모듈은 행 전극 유닛 및 열 전극 유닛을 포함하며, 상기 행 전극 유닛은 복수의 행 전극을 포함하고, 상기 열 전극 유닛은 복수의 열 전극을 포함하며; 상기 제1 스위치 모듈은 복수의 제1 스위치를 포함하고, 하나의 제1 스위치는 하나의 행 전극에 대응하며, 제1 스위치는 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 입력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 제1 송신단에 연결되며, 상기 제2 입력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 제2 송신단에 연결되고, 상기 출력단은 각각 상기 행 전극에 연결되며; 상기 제2 스위치 모듈은 복수의 제2 스위치를 포함하고, 하나의 제2 스위치는 하나의 열 전극에 대응되며, 제2 스위치는 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 입력단은 각각 상기 제1 스위치의 제1 입력단에 연결되며, 상기 제2 입력단은 각각 상기 열 전극에 연결되고, 상기 출력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 수신단에 연결된다.
상기 기술문제를 해결하기 위하여, 본 출원이 채택한 또 다른 기술방안은 다음과 같다. 터치제어 기판을 제공하며, 상기 터치제어 기판은 논리제어 모듈, 터치제어 모듈, 제1 스위치제어 모듈, 제1 스위치 모듈, 제2 스위치 모듈, 제2 스위치제어 모듈, 전극모듈을 포함하고; 상기 논리제어 모듈은 각각 상기 제1 스위치 제어 모듈, 상기 터치제어 모듈 및 상기 제2 스위치 제어 모듈에 연결되며; 상기 제1 스위치 모듈은 각각 상기 제1 스위치제어 모듈, 상기 터치제어 모듈, 상기 제2 스위치 모듈 및 상기 전극 모듈에 연결되고; 상기 제2 스위치 모듈은 상기 제2 스위치제어 모듈, 상기 터치제어 모듈 및 상기 전극모듈에 더 연결되며; 상기 논리제어 모듈은 제1 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈이 제1 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하고, 상기 터치제어 모듈이 상기 제1 스위치모듈을 통해 상기 전극 모듈로 제1 스캔신호를 출력함으로써, 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 수행하도록 트리거하며; 및 제1 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈이 제1 위치로 스위칭되도록 제어하고, 상기 전극 모듈의 행 전극 신호를 상기 제1 스위치 모듈 및 상기 제2 스위치모듈을 통해 상기 터치제어 모듈로 전송하여, 상기 전극 모듈에 신호 변화가 발생한 행 전극을 결정하기 위한 것이며; 상기 논리제어 모듈은 또한 상기 전극 모듈이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 제2 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈이 제2 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하고; 제2 제어 신호를 송신하여, 상기 터치제어 모듈이 상기 제1 스위치모듈을 통해 상기 전극 모듈로 제2 스캔신호를 출력함으로써, 결정된 상기 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하도록 제어하며; 및 제3 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈이 제2 위치로 스위칭되도록 제어하고, 상기 전극 모듈의 열 전극 신호를 상기 제2 스위치 모듈을 통해 상기 터치제어 모듈로 전송하여, 상기 전극 모듈에 신호 변화가 발생한 위치를 결정하고, 나아가 접촉점의 좌표를 획득하기 위한 것이다.
그 중, 상기 논리제어 모듈은 제1 출력단, 제2 출력단 및 제3 출력단을 포함하고, 상기 터치제어 모듈은 제어단, 제1 송신단, 제2 송신단 및 수신단을 포함하며, 상기 제1 스위치제어 모듈은 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 스위치 모듈은 제어단, 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하며, 상기 제2 스위치 모듈은 제어단, 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제2 스위치제어 모듈은 입력단 및 출력단을 포함하며; 상기 논리제어 모듈의 제1 출력단은 상기 제1 스위치제어 모듈의 입력단에 연결되고, 상기 제1 스위치제어 모듈의 출력단은 상기 제1 스위치 모듈의 제어단에 연결되며; 상기 논리 제어 모듈의 제2 출력단은 상기 터치제어 모듈의 제어단에 연결되고, 상기 터치제어 모듈의 제1 송신단은 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단에 연결되며, 상기 터치제어 모듈의 제2 송신단은 상기 제1 스위치 모듈의 제2 입력단에 연결되고, 상기 제1 스위치 모듈의 출력단은 상기 전극 모듈의 행 전극 유닛에 연결되며; 상기 논리제어 모듈의 제3 출력단은 상기 제2 스위치제어 모듈의 입력단에 연결되고, 상기 제2 스위치제어 모듈의 출력단은 상기 제2 스위치 모듈의 제어단에 연결되며; 상기 제2 스위치 모듈의 제1 입력단은 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단에 연결되고, 상기 제2 스위치모듈의 제2 입력단은 상기 전극 모듈의 열 전극 유닛에 연결되며, 상기 제2 스위치 모듈의 출력단은 상기 터치제어 모듈의 수신단에 연결된다.
그 중, 상기 전극 모듈은 행 전극 유닛 및 열 전극 유닛을 포함하며, 상기 행 전극 유닛은 복수의 행 전극을 포함하고, 상기 열 전극 유닛은 복수의 열 전극을 포함하며; 상기 제1 스위치 모듈은 복수의 제1 스위치를 포함하고, 하나의 제1 스위치는 하나의 행 전극에 대응하며, 제1 스위치는 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 입력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 제1 송신단에 연결되며, 상기 제2 입력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 제2 송신단에 연결되고, 상기 출력단은 각각 상기 행 전극에 연결되며; 상기 제2 스위치 모듈은 복수의 제2 스위치를 포함하고, 하나의 제2 스위치는 하나의 열 전극에 대응되며, 제2 스위치는 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 입력단은 각각 상기 제1 스위치의 제1 입력단에 연결되며, 상기 제2 입력단은 각각 상기 열 전극에 연결되고, 상기 출력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 수신단에 연결된다.
그 중, 논리제어 모듈이 제1 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈이 제1 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하는 것은 구체적으로, 상기 논리제어 모듈이 제1 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단이 상기 제1 스위치 모듈의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하는 것이고; 상기 논리제어 모듈이 제1 제어신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈이 제1 위치로 스위칭되도록 제어하는 것은 구체적으로, 상기 논리제어 모듈이 제1 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치모듈의 제1 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하는 것이며; 상기 논리제어 모듈이 상기 전극 모듈이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 제2 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈이 제2 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하는 것은 구체적으로, 상기 논리 제어 모듈이 상기 전극 모듈이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 제2 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈의 제2 입력단이 상기 제1 스위치 모듈의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치 제어 모듈을 트리거하는 것이며; 상기 논리제어 모듈이 제3 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치 모듈이 제2 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어하는 것은 구체적으로, 상기 논리제어 모듈이 제3 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈의 제2 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하기 위한 것이다.
상기 기술문제를 해결하기 위하여, 본 출원이 채택한 또 다른 기술방안은 다음과 같다. 단말을 제공하며, 상기 단말은 상기 어느 한 항의 터치제어 기판 및 정전용량 터치스크린을 포함한다.
상기 기술문제를 해결하기 위하여, 본 출원이 채택한 또 다른 기술방안은, 터치제어 스크린의 터치 정밀도 향상 방법을 제공하며, 상기 방법은 단말이 셀프 정전용량 모드에서 작동 시, 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 실시하여, 신호 변화가 발생한 행 센서의 정보를 획득하는 단계; 셀프 정전용량 스캔이 완료된 후, 단말을 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭하여, 상기 신호 변화가 발생한 행 센서의 정보를 근거로 상호 정전용량 스캔을 실시하여 접촉점의 좌표를 결정하는 단계를 포함한다.
그 중, 단말이 셀프 정전용량 모드에서 작동 시, 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 실시하여, 신호 변화가 발생한 행 센서의 정보를 획득하는 단계는 구체적으로, 단말이 셀프 정전용량 모드에서 작용하며, 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 수행하여, 상기 행 센서의 신호값을 검출하고; 상기 행 센서의 신호값에 변화가 발생 시, 상기 행 센서의 정보를 획득하는 것이다.
그 중, 셀프 정전용량 스캔이 완료된 후, 단말을 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭하여, 상기 신호 변화가 발생한 행 센서의 정보를 근거로 상호 정전용량 스캔을 실시하여 접촉점의 좌표를 결정하는 단계는 구체적으로, 셀프 정전용량 스캔이 완료된 후, 단말을 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭하여, 상기 행 센서의 정보를 근거로 신호 변화가 발생한 행 센서에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하여, 상기 행 센서와 상기 열 센서 간의 신호값을 검출하고; 상기 행 센서와 상기 열 센서 간의 신호값을 근거로, 신호 변화가 발생한 위치를 결정하며; 상기 위치를 근거로 접촉점의 좌표를 결정하는 것이다.
그 중, 셀프 정전용량 스캔이 완료된 후, 단말이 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭되어, 상기 행 센서의 정보를 근거로 신호에 변화가 발생한 행 센서에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하여, 상기 행 센서와 상기 열 센서 간의 신호값을 검출하는 단계는 구체적으로, 셀프 정전용량 스캔이 완료된 후, 단말이 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭되어, 신호에 변화가 발생한 행 센서에 대해 순차적으로 상호 정전용량 스캔을 수행하여, 각각의 상기 행 센서와 열 센서 간의 신호값을 순차적으로 검출하는 것이고; 상기 행 센서와 상기 열 센서 간의 신호값을 근거로, 신호 변화가 발생한 위치를 결정하는 단계는 구체적으로, 상기 각각의 행 센서와 상기 열 센서 간의 신호값을 근거로, 각각의 신호 변화가 발생한 위치를 순차적으로 결정하는 것이다.
그 중, 상기 신호값은 전압값 또는 정전용량값이다.
본 출원의 유익한 효과는 다음과 같다. 종래 기술과 달리, 본 출원은 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 통해 신호에 변화가 발생한 행 전극을 결정한 다음, 신호에 변화가 발생한 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하며, 행 전극과 열 전극 간에 신호 변화가 발생한 위치를 근거로, 접촉점의 좌표를 결정함으로써, 고스트 이미지를 제거하여 접촉점 위치결정의 정밀도를 향상시킬 수 있으며, 또한 스캔 속도가 빠른 특징을 지닌다.
도 1은 본 출원의 터치제어 기판의 일 실시예의 구조도이다.
도 2는 본 출원의 터치제어 기판의 다른 실시예의 구조도이다.
도 3은 본 출원의 터치정밀도 향상 방법의 일 실시예의 흐름도이다.
도 4는 본 출원의 터치정밀도 향상 방법의 다른 실시예의 흐름도이다.
이하 설명에서, 한정하기 위한 것이 아닌 설명하기 위한 것으로, 본 출원이 철저히 이해될 수 있도록 여러 특정 시스템 구조, 인터페이스, 기술과 같은 구체적인 세부 내용을 제시하였다. 그러나, 본 분야의 기술자라면 이러한 구체적인 내용이 없는 기타 실시예에서도 본 출원을 구현할 수 있음을 이해해야 할 것이다. 기타 상황에서, 불필요한 내용이 본 출원의 설명을 방해하지 않도록, 주지하는 장치, 회로 및 방법에 대한 상세한 설명을 생략하였다.
도 1을 참조하면, 본 출원의 터치제어 기판의 일 실시예의 구조도이다. 본 출원의 터치제어 기판은 논리제어 모듈(110), 터치제어 모듈(120), 제1 스위치제어 모듈(130), 제1 스위치 모듈(140), 제2 스위치 모듈(150), 제2 스위치제어 모듈(160), 전극 모듈(170)을 포함한다.
논리제어 모듈(110)은 각각 제1 스위치제어 모듈(130), 터치제어 모듈(120) 및 제2 스위치제어 모듈(160)에 연결되고; 제1 스위치 모듈(140)은 각각 제1 스위치제어 모듈(130), 터치제어 모듈(120), 제2 스위치 모듈(150) 및 전극 모듈(170)에 연결된다.
제2 스위치 모듈(150)은 제2 스위치제어 모듈(160), 터치제어 모듈(120) 및 전극 모듈(170)에 더 연결된다.
논리제어 모듈(110)은 제1 트리거 신호를 송신하여, 제1 스위치 모듈(140)이 제1 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 제1 스위치제어 모듈(130)을 트리거하고, 터치제어 모듈(120)이 제1 스위치모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)로 제1 스캔신호를 출력하여, 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 수행하도록 트리거하며; 및 제1 제어 신호를 송신하여, 제2 스위치제어 모듈(160)을 제어함으로써, 제2 스위치 모듈(150)이 제1 위치로 스위칭되도록 제어하고, 전극 모듈(170)의 행 전극 신호를 제1 스위치 모듈(140) 및 제2 스위치모듈(150)을 통해 터치제어 모듈(120)로 전송하여, 전극 모듈(170)에 신호 변화가 발생한 행 전극을 결정하기 위한 것이다.
논리제어 모듈(110)은 또한 전극 모듈(170)이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시 제2 트리거 신호를 송신하여, 제1 스위치 모듈(140)이 제2 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 제1 스위치제어 모듈(130)을 트리거하고; 제2 제어 신호를 송신하여, 상기 터치제어 모듈(120)이 제1 스위치모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)로 제2 스캔신호를 출력하여, 결정된 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 실시하도록 제어하며; 및 제3 제어 신호를 송신하여, 제2 스위치제어 모듈(160)을 제어함으로써, 제2 스위치 모듈(150)이 제2 위치로 스위칭되도록 제어하고, 전극 모듈(170)의 열 전극 신호를 제2 스위치 모듈(150)을 통해 터치제어 모듈(120)로 전송하여, 전극 모듈(170)에 신호 변화가 발생한 위치를 결정하고, 나아가 접촉점의 좌표를 획득하기 위한 것이다.
구체적으로, 터체제어 기판이 통전된 후, 논리제어 모듈(110)은 제1 스위치제어 모듈(130) 및 터치제어 모듈(120)로 제1 트리거 신호를 송신하여, 제1 스위치 모듈(140)이 제1 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 제1 스위치제어 모듈(130)을 트리거함으로써, 터치제어 기판의 작동 모드를 셀프 정전용량 스캔 모드로 스위칭한다.
제1 스위치 모듈(140)이 제1 위치로 스위칭된 후, 터치제어 모듈(120)이 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)로 제1 스캔 신호를 출력하여, 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 수행하도록 트리거한다. 이후, 논리제어 모듈(110)은 제2 스위치제어 모듈(150)로 제1 제어 신호를 송신하여, 제2 스위치제어 모듈(160)이 제2 스위치 모듈(150)로 명령을 송신하도록 제어함으로써, 제2 스위치 모듈(150)을 제1 위치로 스위칭시키며, 따라서 터치제어 모듈(120)은 제1 스위치 모듈(140) 및 제2 스위치 모듈(150)을 통해 전극 모듈(170)의 행 전극 신호를 수신하여, 전극 모듈(170) 중 신호 변화가 발생한 행 전극을 결정할 수 있다.
그 중, 터치제어 기판의 작동 모드는 셀프 정전용량 스캔 모드와 상호 정전용량 스캔 모드를 포함한다. 제1 스위치 모듈(140)의 제1 위치 및 제2 스위치 모듈(150)의 제1 위치는 셀프 정전용량 스캔모드에 대응하고, 제1 스위치 모듈(140)의 제2 위치 및 제2 스위치 모듈(150)의 제2 위치는 상호 정전용량 스캔 모드에 대응한다.
터치제어 기판이 셀프 정전용량 모드에서 작동 시, 제1 스위치 모드(140)는 제1 위치로 스위칭되고 또한 제2 스위치 모듈(150)은 제1 위치로 스위칭되며, 터치제어 모듈(120)은 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)의 행 전극으로 스캔 신호를 송신하여, 모든 행 전극을 동시에 스캔하고, 또한 제2 스위치 모듈(150)을 통해 모든 행 전극 신호를 수신하여, 행 전극 신호의 변화량을 감지한다. 그 중, 행 전극 신호의 변화량은 행 전극 신호의 셀프 정전용량의 변화량이고, 행 전극 신호는 정전용량값 또는 전압값일 수 있다.
전극 모듈(170)이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 논리제어 모듈(110)은 제1 스위치제어 모듈(130)로 제2 트리거 신호를 송신하여, 제1 스위치 모듈(140)이 제2 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 제1 스위치제어 모듈(130)을 트리거하며, 따라서 터치제어 기판의 작동 모드는 셀프 정전용량 스캔 모드로부터 상호 정전용량 스캔 모드로 스위칭된다.
제1 스위치 모듈(140)이 제2 위치로 스위칭된 후, 논리제어 모듈(110)은 터치제어 모듈(120)로 제2 제어 신호 및 제3 제어 신호를 송신하여, 터치제어 모듈(120)이 제2 제어 신호를 수신 후, 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)로 제2 스캔 신호를 출력하게 함으로써, 결정된 신호 변화가 발생한 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하고; 동시에, 제2 스위치제어 모듈(160)이 제3 제어 신호를 수신한 후, 제2 스위치 모듈(150)이 제2 위치로 스위칭되도록 제어함으로써, 터치제어 모듈(120)은 제2 스위치(150)를 통해 전극 모듈(170) 중 신호 변화가 발생한 상호 정전용량을 수신할 수 있게 되어, 전극 모듈(170) 중 행 전극과 열 전극 간에 신호 변화가 발생한 위치를 결정할 수 있으며, 따라서 접촉점의 좌표를 획득할 수 있다.
그 중, 터치제어 기판이 상호 정전용량 모드에서 작동 시, 제1 스위치 모듈(140)은 제2 위치로 스위칭되고, 또한 제2 스위치 모듈(150)은 제2 위치로 스위칭되며, 터치제어 모듈(120)은 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)의 행 전극으로 제2 스캔 신호를 송신하여, 각각의 행 전극을 순차적으로 스캔하고, 제2 스위치 모듈(150)을 통해 각각의 행 전극과 열 전극 간의 신호를 수신함으로써, 각각의 행 전극과 열 전극 간의 신호의 변화량을 감지한다.
이해할 수 있듯이, 제1 스캔신호와 제2 스캔신호의 스캔 주파수는 사용자의 실제 필요에 따라 설정할 수 있으며, 여기서는 제한하지 않는다.
상기 방안은 셀프 정전용량을 통해 행 전극을 스캔하여 신호에 변화가 발생한 행 전극을 결정하고, 신호에 변화가 발생한 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하며, 행 전극과 열 전극 간의 신호에 변화가 발생한 위치를 근거로 접촉점의 좌표를 결정한다. 이러한 방법은 고스트 이미지를 제거하여 접촉점 위치결정에 대한 정밀도를 높일 수 있고, 또한 스캔 속도가 빠른 특징을 갖는다.
도 2를 참조하면, 도 2는 본 출원의 터치제어 기판의 또 다른 실시예의 구조도이다. 본 출원의 터치제어 기판은 논리제어 모듈(110), 터치제어 모듈(120), 제1 스위치제어 모듈(130), 제1 스위치 모듈(140), 제2 스위치 모듈(150), 제2 스위치제어 모듈(160), 전극 모듈(170)을 포함한다. 그 중, 제1 스위치 모듈(140)은 복수의 제1 스위치(141)를 포함하고, 제2 스위치 모듈(150)은 복수의 제1 스위치(151)를 포함한다. 전극 모듈(170)은 행 전극 유닛(171) 및 열 전극 유닛(172)을 포함하며, 행 전극 유닛(171)은 복수의 행 전극을 포함하고, 열 전극 유닛(172)은 복수의 열 전극을 포함한다. 제1 스위치(141)는 행 전극과 일일이 대응되고, 제2 스위치(151)는 열 전극과 일일이 대응된다.
논리제어 모듈(110)은 제1 출력단, 제2 출력단 및 제3 출력단을 포함하고, 터치제어 모듈(120)은 제어단, 제1 송신단, 제2 송신단 및 수신단을 포함하며, 제1 스위치제어 모듈(130)은 입력단 및 출력단을 포함하고, 제1 스위치 모듈(140)은 제어단, 제1 입력단(1), 제2 입력단(2) 및 출력단(3)을 포함하며, 제2 스위치 모듈(150)은 제어단, 제1 입력단(1), 제2 입력단(2) 및 출력단(3)을 포함하고, 제2 스위치제어 모듈(160)은 입력단 및 출력단을 포함한다.
논리제어 모듈(110)의 제1 출력단은 제1 스위치제어 모듈(130)의 입력단에 연결되고, 제1 스위치제어 모듈(130)의 출력단은 제1 스위치 모듈(140)의 제어단에 연결된다.
논리제어 모듈(110)의 제2 출력단은 터치제어 모듈(120)의 제어단에 연결되고, 터치제어 모듈(120)의 제1 송신단은 제1 스위치 모듈(140)의 제1 입력단(1)에 연결되며, 터치제어 모듈(120)의 제2 송신단은 제1 스위치 모듈(140)의 제2 입력단(2)에 연결되고, 제1 스위치 모듈(140)의 출력단은 전극 모듈(170)의 행 전극 유닛(171)에 연결된다.
논리제어 모듈(110)의 제3 출력단은 제2 스위치제어 모듈(160)의 입력단에 연결되고, 제2 스위치제어 모듈(160)의 출력단은 제2 스위치 모듈(150)의 제어단에 연결된다.
제2 스위치 모듈(150)의 제1 입력단(1)은 제1 스위치 모듈(140)의 제1 입력단(1)에 연결되고, 제2 스위치 모듈(150)의 제2 입력단(2)은 전극 모듈(170)의 열 전극 유닛(172)에 연결되며, 제2 스위치 모듈(160)의 출력단(3)은 터치제어 모듈(120)의 수신단에 연결된다.
그 중, 제1 스위치 모듈(140)은 복수의 제1 스위치(141)를 포함하며, 하나의 제1 스위치(141)는 하나의 행 전극에 대응된다. 제1 스위치(141)는 제1 입력단(1), 제2 입력단(2) 및 출력단(3)을 포함한다. 각각의 제1 스위치(141)의 제1 입력단(1)은 각각 터치제어 모듈(120)의 제1 송신단에 연결되고, 제2 입력단(2)은 각각 터치제어 모듈(120)의 제2 송신단에 연결되며, 출력단은 각각 행 전극에 연결된다.
제2 스위치 모듈(150)은 복수의 제2 스위치(151)를 포함하며, 하나의 제2 스위치(151)는 하나의 열 전극에 대응된다. 제2 스위치(151)는 제1 입력단(1), 제2 입력단(2) 및 출력단(3)을 포함한다. 각각의 제2 스위치(151)의 제1 입력단(1)은 각각 제1 스위치(141)의 제1 입력단(1)에 연결되고, 제2 입력단(2)은 각각 열 전극에 연결되며, 출력단은 각각 터치제어 모듈(120)의 수신단에 연결된다.
논리제어 모듈(110)은 제1 트리거 신호를 송신하여, 제1 스위치 모듈(140)의 제1 입력단이 상기 제1 스위치 모듈(140)의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 제1 스위치제어 모듈(130)을 트리거하고, 터치제어 모듈(120)이 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)로 제1 스캔신호를 출력하여, 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 수행하도록 트리거하며; 제1 제어신호를 송신하여, 제2 스위치제어 모듈(160)을 제어함으로써, 제2 스위치 모듈(150)의 제1 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하고, 전극 모듈(170)의 행 전극 신호를 제1 스위치 모듈(140) 및 제2 스위치 모듈(150)을 통해 터치제어 모듈(120)로 전송하여, 전극 모듈(170) 중 신호 변화가 발생한 행 전극을 결정하기 위한 것이다.
논리제어 모듈(110)은 또한 전극 모듈(170)이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시 제2 트리거 신호를 송신하여, 제1 스위치 모듈(140)의 제2 입력단이 제1 스위치 모듈(140)의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 제1 스위치제어 모듈(130)을 트리거하고; 제2 제어 신호를 송신하여, 터치제어 모듈(120)이 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)로 스캔신호를 출력하여, 결정된 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하도록 제어하며; 및 제3 제어 신호를 송신하여, 제2 스위치제어 모듈(160)을 제어함으로써, 제2 스위치 모듈(150)의 제2 입력단이 제2 스위치 모듈(150)의 출력단에 연결되도록 제어하고, 전극 모듈(170)의 열 전극 신호를 제2 스위치 모듈(150)을 통해 터치제어 모듈(120)로 전송하여, 전극 모듈(170) 중 신호 변화가 발생한 위치를 결정하고, 나아가 접촉점의 좌표를 획득하기 위한 것이다.
구체적으로, 터체제어 기판이 통전된 후, 논리제어 모듈(110)은 제1 스위치제어 모듈(130) 및 터치제어 모듈(120)로 제1 트리거 신호를 송신하여, 제1 스위치 모듈(140) 중 각각의 제1 스위치(141)의 제1 입력단(1)이 제1 스위치(141)의 출력단(3)에 연결되는 것을 제어하도록 제1 스위치제어 모듈(130)을 트리거함으로써, 터치제어 기판의 작동 모드를 셀프 정전용량 스캔 모드로 스위칭한다.
제1 스위치 모듈(140)의 각각의 제1 스위치(141)의 제1 입력단(1)이 출력단(3)에 연결된 후, 터치제어 모듈(120)이 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)로 제1 스캔신호를 출력하도록 트리거함으로써, 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 수행한다. 이후, 논리제어 모듈(110)은 제2 스위치제어 모듈(150)로 제1 제어 신호를 송신하여, 제2 스위치제어 모듈(160)이 제2 스위치 모듈(150)로 명령을 송신하도록 제어함으로써, 제2 스위치 모듈(150) 중 각각의 제2 스위치(151)의 제1 입력단(1)을 제2 스위치(151)의 출력단(3)에 연결시키며, 따라서 터치제어 모듈(120)은 제1 스위치 모듈(140) 및 제2 스위치 모듈(150)을 통해 전극 모듈(170)의 행 전극 신호를 수신할 수 있게 되어, 전극 모듈(170) 중 신호 변화가 발생한 행 전극을 결정할 수 있다.
그 중, 터치제어 기판의 작동 모드는 셀프 정전용량 스캔 모드와 상호 정전용량 스캔 모드를 포함한다. 제1 스위치 모듈(140)의 제1 입력단은 제1 스위치 모듈(140)의 출력단에 연결되고, 또한 제2 스위치 모듈(150)의 제1 입력단은 제2 스위치 모듈(150)의 출력단에 연결되어 셀프 정전용량 모드에 대응된다. 제1 스위치 모듈(140)의 제2 입력단은 제1 스위치 모듈(140)의 출력단에 연결되고, 또한 제2 스위치 모듈(150)의 제1 입력단은 제2 스위치 모듈(150)의 출력단에 연결되어 상호 정전용량 스캔 모드에 대응된다.
터치제어 기판이 셀프 정전용량 모드에서 작동 시, 제1 스위치 모듈(140)은 제1 위치로 스위칭되고 제2 스위치 모듈(150)은 제1 위치로 스위칭되며, 터치제어 모듈(120)은 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)의 행 전극으로 스캔 신호를 송신하여, 모든 행 전극을 동시에 스캔하고, 제2 스위치 모듈(150)을 통해 모든 전극 신호를 수신하여, 행 전극 신호의 변화량을 감지한다. 그 중, 행 전극 신호의 변화량은 행 전극 신호의 셀프 정전용량의 변화량이고, 행 전극 신호는 정전용량값 또는 전압값일 수 있다.
전극 모듈(170)이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 논리제어 모듈(110)은 제1 스위치제어 모듈(130)로 제2 트리거 신호를 송신하여, 제1 스위치 모듈(140) 중 각각의 제1 스위치(141)의 제2 입력단(2)이 제1 스위치(141)의 출력단(3)에 연결되는 것을 제어하도록 제1 스위치제어 모듈(130)을 트리거하며, 따라서 터치제어 기판의 작동 모드는 셀프 정전용량 스캔 모드로부터 상호 정전용량 스캔 모드로 스위칭된다.
제1 스위치 모듈(140) 중 각각의 제1 스위치(141)의 제2 입력단(2)이 제1 스위치(141)의 출력단(3)에 연결된 후, 논리제어 모듈(110)은 터치제어 모듈(120)로 제2 제어 신호 및 제3 제어 신호를 송신하여, 터치제어 모듈(120)이 제2 제어 신호를 수신 후, 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)로 제2 스캔 신호를 출력하게 함으로써, 결정된 신호 변화가 발생한 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하고; 동시에, 제2 스위치제어 모듈(160)이 제3 제어 신호를 수신한 후, 제2 스위치 모듈(150) 중 각각의 제2 스위치(151)의 제2 입력단(2)이 제2 스위치(151)의 출력단(3)에 연결되도록 제어함으로써, 터치제어 모듈(120)은 제2 스위치(150)를 통해 전극 모듈(170) 중 신호 변화가 발생한 상호 정전용량을 수신할 수 있게 되어, 전극 모듈(170) 중 행 전극과 열 전극 간에 신호 변화가 발생한 위치를 결정할 수 있고, 따라서 접촉점의 좌표를 획득할 수 있다.
그 중, 터치제어 기판이 상호 정전용량 모드에서 작동 시, 제1 스위치 모듈(140)의 제2 입력단은 제1 스위치 모듈(140)의 출력단에 연결되고, 또한 제2 스위치 모듈(150)의 제2 입력단은 제2 스위치 모듈(150)의 출력단에 연결되며, 터치제어 모듈(120)은 제1 스위치 모듈(140)을 통해 전극 모듈(170)의 행 전극으로 제2 스캔 신호를 송신하여, 각각의 행 전극을 순차적으로 스캔하고, 제2 스위치 모듈(150)을 통해 각각의 행 전극과 열 전극 간의 신호를 수신함으로써, 각각의 행 전극과 열 전극 간의 신호의 변화량을 감지한다.
이해할 수 있듯이, 제1 스캔신호와 제2 스캔신호의 스캔 주파수는 사용자의 실제 필요에 따라 설정할 수 있으며, 여기서는 제한하지 않는다.
상기 방안은 셀프 정전용량을 통해 행 전극을 스캔하여 신호에 변화가 발생한 행 전극을 결정하고, 신호에 변화가 발생한 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하며, 행 전극과 열 전극 간의 신호에 변화가 발생한 위치를 근거로 접촉점의 좌표를 결정한다. 이러한 방법은 고스트 이미지를 제거하여 접촉점 위치결정에 대한 정밀도를 높일 수 있고, 또한 스캔 속도가 빠른 특징을 갖는다.
본 출원은 단말을 더 제공하며, 상기 단말은 상기 실시예 중의 터치제어 기판 및 정전용량 터치스크린을 포함한다. 구체적인 내용은 상기 각 실시예를 참조하면 되므로, 여기서는 중복 설명을 생략한다.
도 3을 참조하면, 도 3은 본 출원의 터치정밀도 향상 방법의 일 실시예의 흐름도이다. 본 실시예의 실행 주체는 단말이다. 본 실시예의 터치스크린의 터치정밀도 향상 방법은 이하 단계를 포함한다.
S101: 단말이 셀프 정전용량 모드에서 작동 시 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 수행하여, 신호에 변화가 발생한 행 센서의 정보를 획득하는 단계.
단말이 셀프 정전용량 모드에서 작동 시, 단말은 행 센서로 제1 스캔 신호를 송신하여, 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 수행하고, 터치스크린 중 각각의 행 센서의 셀프 정전용량의 정전용량값 또는 전압값을 동시에 검출함으로써, 정전용량값 또는 전압값에 변화가 발생한 행 센서의 정보를 획득한다. 그 중, 셀프 정전용량 검출은 행 센서의 셀프 정전용량의 정전용량값 또는 전압값을 검출하는 것이고, 행 센서의 정보는 행 센서의 좌표이다. 행 센서의 좌표는 어느 행의 행 센서의 신호에 변화가 발생하였는지 결정하기 위한 것이다.
S102: 셀프 정전용량 스캔이 완료된 후, 단말은 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭되며, 상기 신호에 변화가 발생한 행 센서의 정보를 근거로 상호 정전용량 스캔을 수행하여 접촉점의 좌표를 결정하는 단계.
단말은 셀프 정전용량 검출이 완료된 후, 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭되며, 단말은 신호에 변화가 발생한 행 센서의 정보를 근거로, 신호에 변화가 발생한 행 센서로 제2 스캔 신호를 송신하여, 정전용량값 또는 전압값에 변화가 발생한 행 센서에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행함으로써, 정전용량값 또는 전압값에 변화가 발생한 행 센서와 열 센서 간의 신호에 변화가 발생한 위치를 검출한다. 단말이 신호에 변화가 발생한 위치를 검출 시, 상기 위치의 좌표를 획득하여, 상기 좌표를 접촉점의 좌표로 판단한다.
예를 들어, 단말이 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 수행하여, 제1행, 제5행 중의 행 센서의 정전용량값 또는 전압값에 변화가 발생하였음을 검출 시, 단말은 상호 정전용량 작동 모드에서, 각각 제1행, 제5행의 행 센서에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하여, 제1행 및 제5행의 행 센서와 모든 열 센서 간의 신호에 변화가 발생한 위치를 검출한다.
본 실시예에서, 제1 스캔 신호와 제2 스캔 신호의 스캔 주파수는 사용자의 실제 필요에 따라 설정할 수 있으며, 여기서는 제한을 하지 않는다.
상기 방안은 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 수행하여, 신호에 변화가 발생한 행 센서의 정보를 획득하고, 신호에 변화가 발생한 행 센서의 정보에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하며, 접촉점의 좌표를 결정한다. 이러한 방법은 고스트 이미지를 제거하여 접촉점 위치결정에 대한 정밀도를 높일 수 있고, 또한 스캔 속도가 빠른 특징을 갖는다.
도 4를 참조하면, 도 4는 본 출원의 터치정밀도 향상 방법의 또 다른 실시예의 흐름도이다. 본 실시예의 실행 주체는 단말이다. 본 실시예의 터치스크린의 터치정밀도 향상 방법은 이하 단계를 포함한다.
S201: 단말이 셀프 정전용량 모드에서 작동 시, 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 검출을 수행하여, 상기 행 센서의 신호값을 검출하는 단계.
단말이 셀프 정전용량 모드에서 작동 시, 단말은 행 센서로 제1 스캔 신호를 송신하여, 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 수행함으로써, 터치스크린 중 각각의 행 센서의 셀프 정전용량의 정전용량값 또는 전압값을 동시에 검출한다. 그 중, 셀프 정전용량 검출은 행 센서의 셀프 정전용량의 정전용량값 또는 전압값을 검출하는 것이다.
행 센서의 신호값에 변화가 발생 시, 단계 S202를 실행하고, 아닐 경우, 계속 단계 S201을 실행한다.
S202: 상기 행 센서의 신호값에 변화가 발생 시, 상기 행 센서의 정보를 획득하는 단계.
어느 행 센서의 셀프 정전용량의 정전용량값 또는 전압값에 변화가 발생하였음을 검출 시, 정전용량값 또는 전압값에 변화가 발생한 행 센서의 정보를 획득한다. 그 중, 행 센서의 정보는 행 센서의 좌표이다. 행 센서의 좌표는 어느 행의 행 센서의 신호에 변화가 발생하였는지 결정하기 위한 것이다.
S203: 셀프 정전용량 스캔이 완료된 후, 단말은 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭되며, 상기 행 센서의 정보를 근거로 신호에 변화가 발생한 행 센서에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하여, 상기 행 센서와 상기 열 센서 간의 신호값을 검출하는 단계.
셀프 정전용량 스캔이 완료된 후, 단말은 셀프 정전용량 작동 모드로부터 상호 정전용량 작동 모드로 스위칭되며, 단말은 획득된 행 센서의 정보를 근거로, 정전용량값 또는 전압값에 변화가 발생한 행 센서로 제2 스캔신호를 송신하여, 각각의 정전용량값 또는 전압값에 변화가 발생한 행 센서와 열 센서 간의 신호값을 검출한다. 상기 신호값은 정전용량값 또는 전압값이다.
S204: 상기 행 센서와 상기 열 센서 간의 신호값을 근거로, 신호에 변화가 발생한 위치를 결정하는 단계.
단말은 행 센서와 상기 열 센서 간의 신호값을 근거로, 각각의 신호에 변화가 발생한 행 센서와 열 센서 간의 신호에 변화가 발생한 위치를 순차적으로 결정한다.
S205: 상기 위치를 근거로 접촉점의 좌표를 결정하는 단계.
단말이 행 센서와 열 센서의 신호에 변화가 발생한 위치를 검출 시, 상기 위치의 좌표를 획득하고, 행 센서와 열 센서의 신호에 변화가 발생한 좌표를 근거로 접촉점의 좌표를 순차적으로 결정한다.
본 실시예에서, 제1 스캔 신호와 제2 스캔 신호의 스캔 주파수는 사용자의 실제 필요에 따라 설정할 수 있으며, 여기서는 제한을 하지 않는다.
상기 방안은 터치스크린 중의 행 센서에 대해 셀프 정전용량 스캔을 수행하여, 신호에 변화가 발생한 행 센서의 정보를 획득하고, 신호에 변화가 발생한 행 센서의 정보에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행함으로써, 접촉점의 좌표를 결정한다. 이러한 방법은 고스트 이미지를 제거하여 접촉점 위치결정에 대한 정밀도를 높일 수 있고, 또한 스캔 속도가 빠른 특징을 갖는다.
이상의 설명 중, 한정하기 위한 것이 아닌 설명하기 위한 것으로, 본 출원이 철저히 이해될 수 있도록 여러 특정 시스템 구조, 인터페이스, 기술과 같은 구체적인 세부 내용을 제시하였다. 그러나, 본 분야의 기술자라면 이러한 구체적인 내용이 없는 기타 실시예에서도 본 출원을 구현할 수 있음을 이해해야 할 것이다. 기타 상황에서, 불필요한 내용이 본 출원의 설명을 방해하지 않도록, 주지하는 장치, 회로 및 방법에 대한 상세한 설명을 생략하였다.

Claims (12)

  1. 터치제어 기판에 있어서,
    상기 터치제어 기판은 논리제어 모듈, 터치제어 모듈, 제1 스위치제어 모듈, 제1 스위치 모듈, 제2 스위치 모듈, 제2 스위치제어 모듈, 전극 모듈을 을 포함하며;
    상기 논리 제어 모듈은 제1 출력단, 제2 출력단 및 제3 출력단을 포함하고, 상기 터치제어 모듈은 제어단, 제1 송신단, 제2 송신단 및 수신단을 포함하며, 상기 제1 스위치제어 모듈은 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 스위치 모듈은 제어단, 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하며, 상기 제2 스위치 모듈은 제어단, 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제2 스위치제어 모듈은 입력단 및 출력단을 포함하며;
    상기 논리제어 모듈의 제1 출력단은 상기 제1 스위치제어 모듈의 입력단에 연결되고, 상기 제1 스위치제어 모듈의 출력단은 상기 제1 스위치 모듈의 제어단에 연결되며;
    상기 논리제어 모듈의 제2 출력단은 상기 터치제어 모듈의 제어단에 연결되고, 상기 터치제어 모듈의 제1 송신단은 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단에 연결되며, 상기 터치제어 모듈의 제2 송신단은 상기 제1 스위치 모듈의 제2 입력단에 연결되고, 상기 제1 스위치 모듈의 출력단은 상기 전극 모듈의 행 전극 유닛에 연결되며; 상기 논리제어 모듈의 제3 출력단은 상기 제2 스위치제어 모듈의 입력단에 연결되고, 상기 제2 스위치제어 모듈의 출력단은 상기 제2 스위치 모듈의 제어단에 연결되며;
    상기 제2 스위치 모듈의 제1 입력단은 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단에 연결되고, 상기 제2 스위치 모듈의 제2 입력단은 상기 전극 모듈의 열 전극 유닛에 연결되며, 상기 제2 스위치 모듈의 출력단은 상기 터치제어 모듈의 수신단에 연결되고;
    상기 논리제어 모듈은 제1 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단이 상기 제1 스위치 모듈의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하고; 상기 터치제어 모듈이 상기 제1 스위치 모듈을 통해 상기 전극 모듈로 제1 스캔신호를 출력하여, 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 수행하도록 트리거하며; 및 제1 제어신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈의 제1 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하고, 상기 전극 모듈의 행 전극 신호를 상기 제1 스위치 모듈 및 상기 제2 스위치 모듈을 통해 상기 터치제어 모듈로 전송하여 상기 전극 모듈 중 신호 변화가 발생한 행 전극을 결정하기 위한 것이고;
    상기 논리제어 모듈은 또한 상기 전극모듈이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 제2 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈의 제2 입력단이 상기 제1 스위치 모듈의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하고; 제2 제어 신호를 송신하여, 상기 터치제어 모듈이 상기 제1 스위치 모듈을 통해 상기 전극 모듈로 제2 스캔신호를 출력하여, 결정된 상기 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하도록 제어하며; 및 제3 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈의 제2 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하고, 상기 전극 모듈의 열 전극 신호를 상기 제2 스위치 모듈을 통해 상기 터치제어 모듈로 전송하여, 상기 전극 모듈 중 신호 변화가 발생한 위치를 결정하고, 접촉점의 좌표를 획득하기 위한 것인 터치제어 기판.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 전극 모듈은 행 전극 유닛 및 열 전극 유닛을 포함하며, 상기 행 전극 유닛은 복수의 행 전극을 포함하고, 상기 열 전극 유닛은 복수의 열 전극을 포함하며;
    상기 제1 스위치 모듈은 복수의 제1 스위치를 포함하고, 하나의 제1 스위치는 하나의 행 전극에 대응하며, 제1 스위치는 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 스위치의 제1 입력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 제1 송신단에 연결되며, 상기 제1 스위치의 제2 입력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 제2 송신단에 연결되고, 상기 제1 스위치의 출력단은 각각 상기 행 전극에 연결되며;
    상기 제2 스위치 모듈은 복수의 제2 스위치를 포함하고, 하나의 제2 스위치는 하나의 열 전극에 대응되며, 제2 스위치는 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제2 스위치의 제1 입력단은 각각 상기 제1 스위치의 제1 입력단에 연결되며, 상기 제2 스위치의 제2 입력단은 각각 상기 열 전극에 연결되고, 상기 제2 스위치의 출력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 수신단에 연결되는 터치제어 기판.
  3. 터치제어 기판에 있어서,
    상기 터치제어 기판은 논리제어 모듈, 터치제어 모듈, 제1 스위치제어 모듈, 제1 스위치 모듈, 제2 스위치 모듈, 제2 스위치제어 모듈, 전극모듈을 포함하며;
    상기 논리제어 모듈은 각각 상기 제1 스위치 제어 모듈, 상기 터치제어 모듈 및 상기 제2 스위치 제어 모듈에 연결되고; 상기 제1 스위치 모듈은 각각 상기 제1 스위치제어 모듈, 상기 터치제어 모듈, 상기 제2 스위치 모듈 및 상기 전극 모듈에 연결되며;
    상기 제2 스위치 모듈은 상기 제2 스위치제어 모듈, 상기 터치제어 모듈 및 상기 전극모듈에 더 연결되고;
    상기 논리제어 모듈은 제1 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈이 제1 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하고, 상기 터치제어 모듈이 상기 제1 스위치모듈을 통해 상기 전극 모듈로 제1 스캔신호를 출력함으로써, 행 전극의 셀프 정전용량 스캔을 수행하도록 트리거하며; 및 제1 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈이 제1 위치로 스위칭되도록 제어하고, 상기 전극 모듈의 행 전극 신호를 상기 제1 스위치 모듈 및 상기 제2 스위치모듈을 통해 상기 터치제어 모듈로 전송하여, 상기 전극 모듈에 신호 변화가 발생한 행 전극을 결정하기 위한 것이며;
    상기 논리제어 모듈은 또한 상기 전극 모듈이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 제2 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈이 제2 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하고; 제2 제어 신호를 송신하여, 상기 터치제어 모듈이 상기 제1 스위치모듈을 통해 상기 전극 모듈로 제2 스캔신호를 출력함으로써, 결정된 상기 행 전극에 대해 상호 정전용량 스캔을 수행하도록 제어하며; 및 제3 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈이 제2 위치로 스위칭되도록 제어하고, 상기 전극 모듈의 열 전극 신호를 상기 제2 스위치 모듈을 통해 상기 터치제어 모듈로 전송하여, 상기 전극 모듈에 신호 변화가 발생한 위치를 결정하고, 나아가 접촉점의 좌표를 획득하기 위한 것인 터치제어 기판.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 전극 모듈은 행 전극 유닛 및 열 전극 유닛을 포함하며, 상기 행 전극 유닛은 복수의 행 전극을 포함하고, 상기 열 전극 유닛은 복수의 열 전극을 포함하며,
    상기 논리제어 모듈은 제1 출력단, 제2 출력단 및 제3 출력단을 포함하고, 상기 터치제어 모듈은 제어단, 제1 송신단, 제2 송신단 및 수신단을 포함하며, 상기 제1 스위치제어 모듈은 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 스위치 모듈은 제어단, 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하며, 상기 제2 스위치 모듈은 제어단, 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제2 스위치제어 모듈은 입력단 및 출력단을 포함하며;
    상기 논리제어 모듈의 제1 출력단은 상기 제1 스위치제어 모듈의 입력단에 연결되고, 상기 제1 스위치제어 모듈의 출력단은 상기 제1 스위치 모듈의 제어단에 연결되며;
    상기 논리 제어 모듈의 제2 출력단은 상기 터치제어 모듈의 제어단에 연결되고, 상기 터치제어 모듈의 제1 송신단은 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단에 연결되며, 상기 터치제어 모듈의 제2 송신단은 상기 제1 스위치 모듈의 제2 입력단에 연결되고, 상기 제1 스위치 모듈의 출력단은 상기 전극 모듈의 행 전극 유닛에 연결되며; 상기 논리제어 모듈의 제3 출력단은 상기 제2 스위치제어 모듈의 입력단에 연결되고, 상기 제2 스위치제어 모듈의 출력단은 상기 제2 스위치 모듈의 제어단에 연결되며;
    상기 제2 스위치 모듈의 제1 입력단은 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단에 연결되고, 상기 제2 스위치모듈의 제2 입력단은 상기 전극 모듈의 열 전극 유닛에 연결되며, 상기 제2 스위치 모듈의 출력단은 상기 터치제어 모듈의 수신단에 연결되는 터치제어 기판.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 전극 모듈은 행 전극 유닛 및 열 전극 유닛을 포함하며, 상기 행 전극 유닛은 복수의 행 전극을 포함하고, 상기 열 전극 유닛은 복수의 열 전극을 포함하며;
    상기 제1 스위치 모듈은 복수의 제1 스위치를 포함하고, 하나의 제1 스위치는 하나의 행 전극에 대응하며, 제1 스위치는 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제1 스위치의 제1 입력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 제1 송신단에 연결되며, 상기 제1 스위치의 제2 입력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 제2 송신단에 연결되고, 상기 제1 스위치의 출력단은 각각 상기 행 전극에 연결되며;
    상기 제2 스위치 모듈은 복수의 제2 스위치를 포함하고, 하나의 제2 스위치는 하나의 열 전극에 대응되며, 제2 스위치는 제1 입력단, 제2 입력단 및 출력단을 포함하고, 상기 제2 스위치의 제1 입력단은 각각 상기 제1 스위치의 제1 입력단에 연결되며, 상기 제2 스위치의 제2 입력단은 각각 상기 열 전극에 연결되고, 상기 제2 스위치의 출력단은 각각 상기 터치제어 모듈의 수신단에 연결되는 터치제어 기판.
  6. 제4항에 있어서,
    논리제어 모듈이 제1 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈이 제1 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하는 것은 구체적으로,
    상기 논리제어 모듈이 제1 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈의 제1 입력단이 상기 제1 스위치 모듈의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하는 것이고;
    상기 논리제어 모듈이 제1 제어신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈이 제1 위치로 스위칭되도록 제어하는 것은 구체적으로,
    상기 논리제어 모듈이 제1 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치모듈의 제1 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하는 것이며;
    상기 논리제어 모듈이 상기 전극 모듈이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 제2 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈이 제2 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치제어 모듈을 트리거하는 것은 구체적으로,
    상기 논리 제어 모듈이 상기 전극 모듈이 셀프 정전용량 스캔을 완료 시, 제2 트리거 신호를 송신하여, 상기 제1 스위치 모듈의 제2 입력단이 상기 제1 스위치 모듈의 출력단에 연결되는 것을 제어하도록 상기 제1 스위치 제어 모듈을 트리거하는 것이며;
    상기 논리제어 모듈이 제3 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치 모듈이 제2 위치로 스위칭되는 것을 제어하도록 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어하는 것은 구체적으로,
    상기 논리제어 모듈이 제3 제어 신호를 송신하여, 상기 제2 스위치제어 모듈을 제어함으로써, 상기 제2 스위치 모듈의 제2 입력단이 상기 제2 스위치 모듈의 출력단에 연결되도록 제어하기 위한 것인 터치제어 기판.
  7. 단말에 있어서,
    상기 단말은 제 1항 내지 제4항 중의 어느 한 항의 터치제어 기판 및 정전용량 터치스크린을 포함하는 단말.
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