KR20150029708A - 용량성 터치스크린을 검출하기 위한 방법 및 장치, 및 이동 단말 - Google Patents

용량성 터치스크린을 검출하기 위한 방법 및 장치, 및 이동 단말 Download PDF

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KR20150029708A
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Abstract

본 발명의 실시예는 용량성 터치스크린을 검사하기 위한 방법 및 장치, 및 이동 단말을 제공하며, 이는 터치스크린의 검사 효율성을 향상시킬 수 있다. 상기 방법은 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린의 응답에 따라 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득하는 단계; 및 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 상기 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하는 단계를 포함하며, 상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 응답이다. 본 발명의 실시예는 터치스크린 기술 분야에 적용 가능하다.

Description

용량성 터치스크린을 검출하기 위한 방법, 장치, 및 이동 단말{METHOD, DEVICE, AND MOBILE TERMINAL FOR DETECTING CAPACITIVE TOUCH SCREEN}
본 출원은 2012년 6월 29일 중국특허청에 출원되고 발명의 명칭이 "METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CAPACITIVE TOUCHSCREEN, AND MOBILE TERMINAL"인 중국특허출원 No. 201210222802.8에 대한 우선권을 주장하는 바이며, 상기 문헌의 내용은 본 명세서에 원용되어 병합된다.
본 발명은 터치스크린 기술 분야에 관한 것이며, 특히 용량성 터치스크린을 검사하기 위한 방법 및 장치, 및 이동 단말에 관한 것이다.
전자 장치의 인간-기계 상호작용 장치로서, 터치스크린이 폭넓게 점차 적용되고 있다.
종래기술에서는, 전자 장치가 공장에서 출하되기 전에 전자 장치의 터치스크린을 검사한다. 예를 들어, 검사를 신속하게 수행하기 위해, 통상적으로 전자 장치를 단지 인간의 터치만으로 검사하고, 인간의 터치의 궤적이 실시간으로 표시된다. 궤적이 인간 터치의 궤적과 일치하면, 터치스크린이 정상인 것으로 하고, 궤적이 인간 터치의 궤적과 불일치하면, 예를 들어, 단절의 현상이 있거나 궤적이 표류하면, 터치스크린의 ITO에 단락 회로 또는 쇼트 회로의 문제가 있는 것으로 한다.
그렇지만, 전술한 검사 방법을 사용하는 경우, 터치스크린에 장애가 있는지를 수작업으로 결정해야 하며, 이로 인해 검사 방법의 검사 효율성이 떨어지게 된다.
본 발명이 실시예는 용량성 터치스크린을 검사하기 위한 방법 및 장치, 이동 단말을 제공하여, 이는 터치스크린의 검사 효율성을 향상시킬 수 있다.
전술한 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시예는 이하의 기술적 솔루션을 사용한다:
한 관점에 따르면, 본 발명의 실시예는 용량성 터치스크린을 검사하는 방법을 제공하며, 상기 방법은:
사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린의 응답에 따라 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득하는 단계; 및
상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 상기 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하는 단계
를 포함하며,
상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 응답이다.
다른 관점에 따르면, 본 발명의 실시예는 용량성 터치스크린을 검사하는 장치를 추가로 제공하며, 상기 장치는: 터치스크린 및 프로세서를 포함하며,
상기 터치스크린은 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하고, 상기 프로세서에 응답 정보를 송신하도록 구성되어 있으며; 그리고
상기 프로세서는 터치스크린에 의해 송신된 응답 정보를 수신하고, 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득하며; 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 상기 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하도록 구성되어 있다.
또 다른 관점에 따르면, 본 발명의 실시예는 이동 단말을 추가로 제공하며, 상기 이동 단말은 전술한 용량성 터치스크린을 검사하는 장치를 포함한다.
본 발명의 실시예에서 제공하는 용량성 터치스크린을 검사하는 방법 및 장치, 및 이동 단말에서, 터치 동작에 대해 터치스크린 상에서 획득된 응답 정보 집합 및 사전설정된 응답 정보 집합에 따라, 터치스크린의 작동 상태가 정상인지의 여부가 수작업으로 결정할 필요 없이 자동으로 결정될 수 있으며, 이에 의해 터치스크린 검사 효율성이 향상된다.
본 발명의 실시예 또는 종래기술의 기술적 솔루션을 더 명확하게 설명하기 위해, 이하에서는 실시예 또는 종래기술을 설명하는 데 필요한 첨부된 도면에 대해 간략하게 설명한다. 당연히, 이하의 실시예의 첨부된 도면은 본 발명의 일부의 실시예에 지나지 않으며, 당업자라면 창조적 노력 없이 첨부된 도면으로부터 다른 도면을 도출해낼 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따라 용량성 터치스크린을 검사하는 방법에 대한 개략적인 흐름도이다.
도 2는 투사형 용량성 터치스크린에 대한 개략적인 구조도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따라 용량성 터치스크린을 검사하는 다른 방법에 대한 개략적인 흐름도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따라 용량성 터치스크린을 검사하는 또 다른 방법에 대한 개략적인 흐름도이다.
도 5는 터치스크린의 디스플레이 영역 및 논-디스플레이 영역에 대한 개략도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따라 용량성 터치스크린을 검사하는 장치에 대한 개략적인 구조도이다.
이하에서는 본 발명의 실시예에 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예의 기술적 솔루션에 대해 명확하고 완전하게 설명한다. 당연히, 설명된 실시예는 본 발명의 모든 실시예가 아닌 일부에 지나지 않는다. 당업자가 창조적 노력 없이 본 발명의 실시예에 기초하여 획득하는 모든 다른 실시예는 본 발명의 보호 범위 내에 있게 된다.
실시예 1
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예는 용량성 터치스크린을 검사하는 방법을 제공한다. 방법은 터치스크린이 일체화되어 있는 전자 장치, 구체적으로 예를 들어 이동 전화 또는 PAD일 수 있는 전자 장치에 적용 가능하다. 상기 방법은 이하를 포함한다:
101. 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린의 응답에 따라 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득한다.
102. 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 상기 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정한다.
터치스크린이 사전설정된 영역에서의 터치 동작을 수신한 후, 이 사전설정된 영역 내에 있으면서 터치 동작에 대응하는 터치 포인트가 쇼트되거나 단절되면 사전설정된 영역 내의 터치 포인트의 용량 값이 변하며, 여기서 사전설정된 영역 내의 터치 포인트는 간섭 신호 및 터치 포인트의 좌표 위치 중 적어도 하나를 전자 장치에 보고한다. 이 방법에서, 전자 장치는 터치 동작에 대한 터치스크린의 응답에 따라 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득한다.
전자 장치는 사전설정된 응답 정보 집합을 저장하고, 이에 따라 전자 장치는 터치스크린의 작동 상태가 정상인지를 검사할 수 있다. 사전설정된 응답 정보 집합은 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 응답이다. 이 방법에서, 전자 장치에 의해 획득된, 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 전자 장치는 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정한다.
이에 대응해서, 전자 장치에 의해 획득된, 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 일치하면, 전자 장치는 터치스크린의 작동 상태가 정상인 것으로 결정한다.
본 발명의 실시예에서 제공하는 용량성 터치스크린을 검사하는 방법에서, 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대해 터치스크린 상에서 획득된 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 일치하는지가 결정되며, 결정 결과에 따라, 터치스크린의 작동 상태가 정상인지의 여부가 수작업으로 결정할 필요 없이 자동으로 결정될 수 있으며, 이에 의해 터치스크린 검사 효율성이 향상된다.
실시예 2
본 실시예는 투사형 용량성 터치스크린의 구조를 예로 사용해서 설명한다. 도 2에 도시된 바와 같이, 수평 전극 및 수직 전극, 즉 도 2에 도시된 X 축 및 Y 축 상의 전극은 투사형 용량성 터치스크린의 유리 표면 상에 이루어져 있고, 여기서 각 행의 전극은 상호 접속되어 있고 각 열의 전극 역시 상호 접속되어 있다. 손가락이 터치 영역을 터치하면, 터치 영역의 X 축 및 Y 축 상의 터치 포인트가 상호 커패시턴스를 생성한다. 터치 포인트의 커패시턴스 값이 변한 후, 터치스크린은 X 축 및 Y 축 상의 전극의 위치에 따라 터치스크린 상의 터치 포인트의 위치를 전자 장치에 보고한다. 당연히, 터치스크린은 간섭 신호 및 터치 포인트의 위치를 전자 장치에 계속 보고한다.
터치스크린의 디스플레이 영역이 정상적으로 작동하는지를 검사하기 위해, 터치 동작에 대응하는 사전설정된 영역은 각 X 축 상의 적어도 하나의 전극 및 각 Y 축 상의 적어도 하나의 전극을 커버하는데, 그 이유는 각 행의 전극은 상호 접속되어 있고 각 열의 전극 역시 상호 접속되어 있기 때문이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예는 용량성 터치스크린을 검사하는 방법을 제공한다. 상기 방법은 터치스크린의 디스플레이 영역의 작동 상태가 미정상인 위치 및 장애 유형을 결정하는 데 사용될 수 있다. 터치 동작은 사전설정된 영역을 따라 수행되는데, 이 사전설정된 영역은 터치스크린의 디스플레이 영역 내에 있다. 터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대응하는 터치스크린 상에 있는 터치 포인트의 좌표 위치를 포함한다.
301. 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린의 응답에 따라 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득하며, 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합는 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있는 터치 포인트의 위치를 포함한다.
302. 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합이 일치하는지를 결정한다.
터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합이 불일치하면, 단계 303이 수행된다.
터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합이 일치하면, 단계 305가 수행된다.
303. 터치 동작에 대한 응답 정보 집합과 사전설정된 응답 정보 집합의 교집합이 획득된 후, 상기 사전설정된 응답 정보 집합 내의 교집합의 여집합을 획득하고; 상기 여집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트가 단절된 것으로 결정한다.
304. 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 제1 터치 포인트의 위치를 포함하면, 상기 제1 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트가 쇼트된 것으로 결정하며, 상기 제1 터치 포인트의 위치는 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합에 포함되어 있으면서 짝수의 터치 포인트와 동일한 위치이다.
305. 터치스크린의 디스플레이 영역의 작업 상태가 정상인 것으로 결정한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 터치스크린은 9개의 X 축과 9개의 Y 축을 예시적으로 포함하고; 사전설정된 영역은, 터치스크린의 최좌측의 단부를 따라, 터치스크린의 최하단으로 하향 이동한 다음, 좌에서 우로, 스크린의 최우측의 단부로 이동함으로써 규정된다. 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때, 터치 동작에 대한 터치스크린의 응답 정보가 18 터치 포인트를 포함하면, 사전설정된 응답 정보 집합은 18개의 터치 포인트의 위치 정보를 포함한다.
X 축의 제2 행에서의 전극 A 및 전극 B가 단절되고, X 축의 제3 행에서의 전극들이 접속될 수 없으면, 전극 C와 전극 D 사이에서 커패시턴스 변화가 일어날 수 없고, 터치스크린은 전극 C와 전극 D에 의해 형성된 터치 포인트의 커패시턴스 변화를 감지할 수 없고, 간섭 신호를 전자 장치에 보고하지 않으며, 전자 장치 역시 터치스크린이 보고하는 간섭 신호를 수신할 수 없다. 그러므로 터치스크린의 디스플레이 영역의 작동 상태가 비정상인 위치 및 장애 유형을 결정하고, 수리를 용이하게 하기 위해서는, 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린 상에서의 응답 정보 집합과 사전설정된 응답 정보 집합의 교집합을 먼저 획득해야 한다. 이 방법에서, 사전설정된 응답 정보 집합 내의 교집합의 여집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트는 단절인 것으로 결정된다.
X 축의 제4 행에서의 전극 E 및 X 축의 제5 행에서의 전극 F가 단락되어 있고, 제4 행에서의 전극들이 상호 접속되어 있고 제5 행에서의 전극들이 상호 접속되어 있기 때문에, 이 경우, 터치 동작이 X 축의 제4 행의 최좌측 단부에 있는 전극 M으로 이동할 때, Y 축의 제1 열에 있는 전극 L과 전극 M 간의 커패시턴스 변화뿐만 아니라 X 축의 제5 행의 최좌측 단부에 있는 전극 N과 전극 L 간의 커패시턴스 변화도 야기된다. 마찬가지로, 터치 동작이 X 축의 제5 행의 최좌측 단부에 있는 전극 N으로 이동할 때, 전극 N과 전극 L 간의 커패시턴스 변화뿐만 아니라 전극 M과 전극 L 간의 커패시턴스 변화도 야기된다. 이 경우, 터치스크린은 전극 M과 전극 L에 의해 형성된 터치 포인트의 위치 및 전극 N과 전극 L에 의해 형성된 터치 포인트의 위치를 전자 장치에 개별적으로 보고하는데, 즉 2회 보고한다. 그러므로 터치 동작에 응답하는 데 참여하는 제1 터치 포인트의 위치에 있어서, 제1 터치 포인트의 위치는 터치 동작에 대해 응답 정보 집합에 포함되어 있으면서 짝수의 터치 포인트와 동일한 위치이다.
전자 장치가 터치스크린의 디스플레이 영역이 단락 또는 쇼트된 것으로 결정하면, 경고를 주는 방식, 터치스크린 상의 비정상 패턴을 표시하는 방식 등이 사용될 수 있으며, 이것은 본 실시예에서 구체적으로 제한되지 않는다.
당연히, 단지 터치스크린의 디스플레이 영역의 작동 상태가 정상인지를 검사하기 위한 것이면, 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린에 관한 것이면서 전자 장치에 의해 획득되는 응답 메시지는 단지 이하를 포함할 뿐이다: 응답되는 터치 포인트의 수 및 응답되는 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나. 이 경우, 전자 장치는 단지 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 일치하는지를 결정하기만 하면 된다. 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 일치하면, 터치스크린의 작동 상태가 정상이고; 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 즉 2 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 수 및/또는 터치 포인트의 위치가 서로 다르면, 터치스크린의 작동 상태가 비정상이다.
전자 장치가 터치스크린의 디스플레이 영역이 단락 또는 쇼트된 것으로 결정하면, 경고를 주는 방식, 터치스크린 상의 비정상 패턴을 표시하는 방식 등이 사용될 수 있으며, 이것은 본 실시예에서 구체적으로 제한되지 않는다.
본 실시예에서, 예시적인 사전설정된 영역은, 터치스크린의 최좌측의 단부를 따라, 터치스크린의 최하단으로 하향 이동한 다음, 좌에서 우로, 스크린의 최우측의 단부로 이동함으로써 규정된다. 그렇지만, 사전설정된 영역은 다른 영역이 될 수 있다. 사전설정된 영역이 각 행 내의 적어도 하나의 전극 및 각 열 내의 적어도 하나의 전극을 커버하며, 이것은 본 실시예에서 구체적으로 제한되지 않는다.
또한, 본 발명의 실시예에서 단계 303과 단계 304 간의 순차 관계는 필요하지 않다. 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 획득된 후, 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보와 불일치하는 한, 터치스크린이 쇼트되었는지의 여부가 먼저 결정될 수 있거나, 터치스크린이 단락되었는지의 여부가 먼저 결정될 수 있으며, 이것은 본 발명의 실시예에서 제한되지 않는다.
본 발명의 실시예에서 제공하는 용량성 터치스크린을 검사하는 방법에서는, 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린 상에서 획득된 응답 정보 집합 및/또는 사전설정된 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 좌표 위치에 따라, 터치스크린의 작동 상태가 정상인지의 여부가 자동으로 결정될 수 있으며, 단락 회로 또는 쇼트 회로가 있는지의 유형과 같은, 터치스크린의 장애 위치가 수작업으로 결정할 필요 없이 터치 포인트의 좌표 위치에 따라 결정될 수 있으며, 이에 의해 터치스크린 검사 효율성이 향상된다.
실시예 3
도 4에 도시된 바와 같이, 논-디스플레이 영역 내의 터치 키의 작동 상태가 정상인지를 검사하기 위해, 본 발명의 실시예는 용량성 터치스크린을 검사하는 방법을 추가로 제공한다. 본 실시예에서, 논-디스플레이 영역은 전자 장치 상에서 터치하는 데 사용될 수 있는 키다. 터치 키의 위치가 디스플레이 영역 외측에 있으면, 사전설정된 영역은 논-디스플레이 영역 내에 있고, 구체적으로 논-디스플레이 영역 내의 터치 키다. 사전설정된 응답 정보 집합은 디스플레이 영역 내의 사전설정된 터치 포인트의 위치를 포함한다. 상기 방법은 이하를 포함한다:
401. 터치스크린에 대한 터치스크린의 응답에 따라 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득하며, 여기서 터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 터치 동작에 대해 응답하는 디스플레이 영역에서의 터치 포인트의 위치를 포함한다.
402. 터치 동작에 대한 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치가 사전설정된 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치와 불일치하면 터치스크린의 논-디스플레이 영역이 비정상적으로 작동하는 것으로 결정한다.
도 5에 도시된 바와 같이, 논-디스플레이 영역(51) 내의 터치 키(511)에 대한 사전설정된 응답 정보 집합은 디스플레이 영역(52) 내의 터치 포인트 G의 좌표 위치이고, 논-디스플레이 영역(51) 내의 터치 키(512)에 대한 사전설정된 응답 정보 집합은 디스플레이 영역(52) 내의 터치 포인트 H의 좌표 위치이며, 논-디스플레이 영역(51) 내의 터치 키(513)에 대한 사전설정된 응답 정보 집합은 디스플레이 영역(52) 내의 터치 포인트 J의 좌표 위치이다. 터치 키(511, 512, 513)의 작동 상태가 정상이면, 디스플레이 영역(52) 내의 터치 포인트 G, H, J는 3개의 키가 터치될 때 응답한다. 터치 키(511)가 단절되면, 전자 장치에 의해 획득되는 터치 동작에 대한 응답 정보는 터치 포인트 G의 좌표 위치를 포함하지 않는다. 이에 대응해서, H 및 J가 단절되면, 동일한 문제가 생긴다. 터치 키(511) 및 터치 키(512)가 쇼트되면, 전자 장치에 의해 획득되는 터치 동작에 대한 응답 정보는 터치 포인트 G 및 H의 좌표 위치를 포함하고; 그러므로 터치 키(511) 및 터치 키(512)가 쇼트된 것으로 결정될 수도 있다.
본 실시예에서, 터치스크린의 디스플레이 영역은 전자 장치의 터치 키를 검사하는 데 사용된다. 터치 동작이 터치 키 상에서 수행되고, 터치스크린의 디스플레이 영역에서 응답하는 터치 포인트의 좌표 위치가 사전설정된 터치 포인트의 좌표 위치와 일치하면, 터치 키가 정상적으로 작동하는 것으로 결정되고; 터치스크린의 디스플레이 영역에서 응답하는 터치 포인트의 좌표 위치가 사전설정된 터치 포인트의 좌표 위치와 불일치하면, 터치 키가 비정상적으로 작동하는 것으로 결정된다.
본 발명의 실시예에서 제공하는 용량성 터치스크린을 검사하는 방법에서는, 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린 상에서 획득된 응답 정보 집합 및 사전설정된 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 좌표 위치에 따라, 터치스크린 상에서 터치 키의 작동 상태가 정상인지의 여부가 수작업으로 결정할 필요 없이 자동으로 결정될 수 있으며, 이에 의해 터치스크린 검사 효율성이 향상된다.
실시예 4
도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예는 용량성 터치스크린을 검사하는 장치를 추가로 제공한다. 터치스크린은 장치와 일체로 되어 있고, 장치는 터치스크린(61) 및 프로세서(62)를 포함한다.
상기 터치스크린(61)은 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하고, 상기 프로세서에 응답 정보를 송신하도록 구성되어 있다.
상기 프로세서(62)는 터치스크린에 의해 송신된 응답 정보를 수신하고, 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득하며; 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 상기 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하도록 구성되어 있다.
터치스크린(61)이 터치 동작을 수신한 후, 이 터치 영역 내에 있으면서 터치 동작에 의해 터치된 터치 포인트가 쇼트되거나 단절되면, 사전설정된 영역 내의 터치 포인트의 용량 값이 변하며, 터치 포인트는 간섭 신호 및 터치 포인트의 좌표 위치 중 적어도 하나를 프로세서(62)에 보고한다. 터치스크린 상의 복수의 터치 포인트가 터치 동작에 의해 차례로 터치될 수 있기 때문에, 프로세서(62)는 터치 동작에 대한 터치스크린의 응답에 따라 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득한다.
터치스크린의 작동 상태가 정상인지를 검사하기 위해, 장치(60)는 사전설정된 응답 정보 집합을 저장한다. 이 방법에서, 프로세서(60)에 의해 획득된 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 프로세서(62)는 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정한다.
프로세서(60)에 의해 획득된 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 일치하면, 프로세서(62)는 터치스크린의 작동 상태가 정상인 것으로 결정한다.
구체적으로, 터치스크린의 디스플레이 영역의 작업 상태가 정상인지의 여부가 검사될 때, 사전설정된 영역은 터치스크린의 디스플레이 영역 내에 있게 된다.
터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 터치 포인트의 수 및 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나를 포함하며, 여기서 상기 터치 포인트는 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있다.
상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때 터치 포인트의 수 및 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나를 포함하며, 여기서 상기 터치 포인트는 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있다.
단지 터치스크린의 디스플레이 영역의 작동 상태가 정상인지를 검사하기 위한 것이면, 상기 프로세서(62)가 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하는 것은 구체적으로:
프로세서(62)에 의해 획득된 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 일치하면, 프로세서(62)는 터치스크린의 작동 상태가 정상인 것으로 결정하는 것
을 포함한다.
구체적으로, 터치스크린의 디스플레이 영역의 작업 상태가 정상인지의 여부가 검사될 때, 사전설정된 영역은 터치스크린의 디스플레이 영역 내에 있게 된다.
터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 터치 포인트의 수 및 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나를 포함하며, 여기서 상기 터치 포인트는 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있다.
상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때 터치 포인트의 수 및 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나를 포함하며, 여기서 상기 터치 포인트는 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있다.
단지 터치스크린의 디스플레이 영역의 작동 상태가 정상인지를 검사하기 위한 것이면, 상기 프로세서(62)가 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하는 것은 구체적으로:
터치 동작에 대한 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 수 및/또는 터치 포인트의 위치가 사전설정된 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 수 및/또는 터치 포인트의 위치와 불일치하면, 터치스크린(61)의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하는 것
을 포함한다.
터치스크린(61)의 디스플레이 영역의 작동 상태가 비정상인 위치 및 장애 유형을 검사하기 위해서이면, 프로세서(62)가 터치스크린(61)의 디스플레이 영역의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하는 것은 구체적으로:
상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합과 상기 사전설정된 응답 정보 집합의 교집합이 획득된 후, 상기 사전설정된 응답 정보 집합 내의 교집합의 여집합을 획득하고; 상기 여집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트가 단절된 것으로 결정하며; 그리고
상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 제1 터치 포인트의 위치를 포함하면, 상기 제1 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트가 쇼트된 것으로 결정하는 것
을 더 포함하며, 여기서 상기 제1 터치 포인트의 위치는 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합에 포함되어 있으면서 짝수의 터치 포인트와 동일하다.
터치스크린(61)의 논-디스플레이 영역 내의 터치 키의 작업 상태가 정상인지의 여부가 검사될 때, 사전설정된 영역은 터치스크린의 논-디스플레이 영역이고, 구체적으로 임의의 터치 키일 수 있다.
터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 터치 동작에 응답하는 디스플레이 영역 내의 터치 포인트의 위치를 포함한다.
사전설정된 응답 정보는 디스플레이 영역 내의 사전설정된 터치 포인트의 위치를 포함한다.
프로세서(62)가 터치스크린(61)의 논-디스플레이 영역의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하는 것은 구체적으로:
터치 동작에 대한 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치가 사전설정된 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치와 불일치하면, 터치스크린의 논-디스플레이 영역이 비정상적으로 작동하는 것으로 결정하는
것을 포함한다.
본 발명의 실시예에서 제공하는 용량성 터치스크린을 검사하는 장치에서는, 프로세서에 의해 획득된, 터치 동작에 대한 터치스크린 상에서의 응답 정보 집합 및 사전설정된 응답 정보 집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 수 및/또는 터치 포인트의 좌표 위치에 따라, 프로세서는 터치스크린 상에서 터치 키의 작동 상태가 정상인지의 여부를 수작업으로 결정할 필요 없이 자동으로 결정할 수 있으며, 이에 의해 터치스크린 검사 효율성이 향상된다.
본 발명의 전술한 실시예에서 제공하는 용량성 터치스크린을 검사하는 장치는 구체적으로 터치스크린이 일체화된 전자 장치, 예를 들어, 이동 전화 또는 컴퓨터일 수 있다.
본 발명의 실시예는 이동 단말을 추가로 제공하며, 상기 이동 단말은 전술한 실시예에서 제공하는 용량성 터치스크린을 검사하는 장치를 포함하며, 그 특정한 구조에 대해서는 여기서 다시 설명하지 않는다.
당업자라면 본 발명의 방법의 단계 중 일부 또는 전부는 관련 하드웨어에 명령을 내리는 컴퓨터 프로그램에 의해 구현될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 프로그램은 컴퓨터가 판독 가능한 저장 매체에 저장될 수 있다. 프로그램이 실행되면, 발명 실시예의 단계가 실행된다. 전술한 저장 매체는 ROM, RAM, 자기디스크, 광디스크와 같이, 프로그램 코드를 저장할 수 있는 임의의 매체가 될 수 있다.
전술한 설명은 단지 본 발명의 특정한 실행 방식에 불과하며, 본 발명의 보호 범위를 제한하려는 것이 아니다. 본 발명에 설명된 기술적 범위 내에서 당업자가 용이하게 실현하는 모든 변형 또는 대체는 본 발명의 보호 범위 내에 있게 된다. 그러므로 본 발명의 보호 범위는 특허청구범위의 보호 범위에 있게 된다.

Claims (11)

  1. 용량성 터치스크린을 검사하는 방법으로서,
    사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 터치스크린의 응답에 따라 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득하는 단계; 및
    상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 상기 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하는 단계
    를 포함하며,
    상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 대한 응답인, 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 사전설정된 영역은 터치스크린의 디스플레이 영역 내에 있으며;
    상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 터치 포인트의 수 및 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나를 포함하며, 여기서 상기 터치 포인트는 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있으며; 그리고
    상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때 터치 포인트의 수 및 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나를 포함하며, 여기서 상기 터치 포인트는 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있는, 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합과 상기 사전설정된 응답 정보 집합의 교집합이 획득된 후, 상기 사전설정된 응답 정보 집합 내의 교집합의 여집합을 획득하고; 상기 여집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트가 단절된 것으로 결정하는 단계
    를 더 포함하는 방법.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 제1 터치 포인트의 위치를 포함하면, 상기 제1 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트가 쇼트된 것으로 결정하는 단계
    를 더 포함하며,
    상기 제1 터치 포인트의 위치는 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합에 포함되어 있으면서 짝수의 터치 포인트와 동일한 위치인, 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 사전설정된 영역은 터치스크린의 논-디스플레이 영역이고,
    상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 상기 터치 동작에 응답하는 디스플레이 영역 내의 터치 포인트의 위치를 포함하며; 그리고
    상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 디스플레이 영역 내의 사전설정된 터치 포인트의 위치를 포함하는, 방법.
  6. 용량성 터치스크린을 검사하는 장치로서,
    터치스크린 및 프로세서를 포함하며,
    상기 터치스크린은 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하고, 상기 프로세서에 응답 정보를 송신하도록 구성되어 있으며; 그리고
    상기 프로세서는 터치스크린에 의해 송신된 응답 정보를 수신하고, 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합을 획득하며; 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 사전설정된 응답 정보 집합과 불일치하면, 상기 터치스크린의 작동 상태가 비정상인 것으로 결정하도록 구성되어 있는, 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 사전설정된 영역은 터치스크린의 디스플레이 영역 내에 있으며;
    상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 터치 포인트의 수 및 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나를 포함하며, 여기서 상기 터치 포인트는 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있으며; 그리고
    상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 터치스크린의 작동 상태가 정상일 때 터치 포인트의 수 및 터치 포인트의 위치 중 적어도 하나를 포함하며, 여기서 상기 터치 포인트는 상기 사전설정된 영역에서의 터치 동작에 응답하는 터치스크린 상에 있는, 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 프로세서는 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합과 상기 사전설정된 응답 정보 집합의 교집합을 획득하고, 상기 사전설정된 응답 정보 집합 내의 교집합의 여집합을 획득하며; 상기 여집합에 포함되어 있는 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트가 단절된 것으로 결정하도록 추가로 구성되어 있는, 장치.
  9. 제7항 또는 제8항에 있어서,
    상기 프로세서는 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합이 제1 터치 포인트의 위치를 포함하면, 상기 제1 터치 포인트의 위치에 대응하는 터치 포인트가 쇼트된 것으로 결정하도록 추가로 구성되어 있으며,
    상기 제1 터치 포인트의 위치는 상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합에 포함되어 있으면서 짝수의 터치 포인트와 동일한 위치인, 장치.
  10. 제6항에 있어서,
    상기 사전설정된 영역은 터치스크린의 논-디스플레이 영역이고,
    상기 터치 동작에 대한 응답 정보 집합은 상기 터치 동작에 응답하는 디스플레이 영역을 포함하며; 그리고
    상기 사전설정된 응답 정보 집합은 상기 디스플레이 영역 내의 사전설정된 터치 포인트의 위치를 포함하는, 장치.
  11. 제6항 내지 제10항 중 어느 한 항에 따른 장치를 포함하는 이동 단말.
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