CN103176075A - 触控面板测试方法及其测试软件 - Google Patents

触控面板测试方法及其测试软件 Download PDF

Info

Publication number
CN103176075A
CN103176075A CN2012100829561A CN201210082956A CN103176075A CN 103176075 A CN103176075 A CN 103176075A CN 2012100829561 A CN2012100829561 A CN 2012100829561A CN 201210082956 A CN201210082956 A CN 201210082956A CN 103176075 A CN103176075 A CN 103176075A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
variable element
contact panel
frame
touching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2012100829561A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103176075B (zh
Inventor
陈俊男
王培旭
徐宗贤
王嘉隆
陈柏桦
徐伟硕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hannstouch Solution Inc
Original Assignee
Hannstouch Solution Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hannstouch Solution Inc filed Critical Hannstouch Solution Inc
Publication of CN103176075A publication Critical patent/CN103176075A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103176075B publication Critical patent/CN103176075B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units

Abstract

一种测试触控面板的方法包括下列步骤:提供该触控面板;提供触控面板测试软件,其包含数据可变参数,该数据可变参数包括接口设定可变参数、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种;以及决定对应于该触控面板的数据可变参数,以对该触控面板进行测试。

Description

触控面板测试方法及其测试软件
技术领域
本发明提出一种测试方法及测试软件,特别是一种测试触控面板的方法及应用此方法的测试软件。
背景技术
随着触控面板技术的进步,触控灵敏度及准确度已显著地提高,使得触控面板逐渐广泛地应用到各种可携式电子装置,例如:手机、平板电脑、数字相机、GPS导航装置等。另外,触控面板也大量地使用于公共场所中的售票系统、信息导览系统等。在这信息流通快速的时代,触控面板已成为广大民众日常生活经常使用到的科技工具。
几乎所有触控面板在出厂前,皆须进行一系列的测试,以确保其触控灵敏度及准确度能符合要求。然而针对不同尺寸的触控面板所配置的规格并不相同,且各种规格的触控面板,其使用的芯片、玻璃的大小、以及触控时所送出的坐标值,通常都有些差异。因此,适用于测试某种规格触控面板的测试程序,无法用于测试另一种规格的触控面板。这导致每遇到不同规格的触控面板,就需要对应于该触控面板规格的测试程序。由于目前触控面板已广泛地应用于各式各样大小的各种产品,所以各种触控面板的规格变得五花八门,也造成在生产触控面板的测试阶段,需要对应于各种规格的测试软件,因而产生诸多不便,并造成生产成本的增加,故急需要有效的解决方案。
基于上述在触控面板测试时所遭遇的繁杂问题,为了解决此问题,发明人经深入研究分析,及无数次实验及改良,终于开发出崭新的触控面板测试方法及其测试软件,能大幅提升触控面板测试的便利性及效率,并显著地降低生产成本,有效解决上述问题。
发明内容
本发明提供一种测试触控面板的方法,其包括下列步骤:提供所述触控面板;提供触控面板测试软件,其包含数据可变参数,所述数据可变参数包括接口设定可变参数、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种;以及决定对应于所述触控面板的所述数据可变参数,以对所述触控面板进行测试。
本发明还提供一种触控面板测试软件,其用以测试触控面板,所述软件包括数据可变参数,所述数据可变参数包括接口设定可变参数、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种。
本发明又提供一种电子装置,其安装有上述的触控面板测试软件。
本发明再提供一种储存装置,其储存有上述的触控面板测试软件。
本发明通过下述的较佳具体实施例,并配合附图说明,使得本发明得到更加深入的了解。
附图说明
图1为本发明一个实施例的测试触控面板的方法;
图2为本发明一个实施例的消框测试在该测试中的触控面板上的显示状况;
图3为本发明一个实施例的线性测试在该测试中的触控面板上的显示状况;
图4为本发明一个实施例的准确性测试在该测试中的触控面板上的显示状况;
图5a及图5b为本发明一个实施例的测试触控面板的方法的流程图;
图6为本发明一个实施例的触控面板测试软件的方块示意图;
图7为本发明另一个实施例的触控面板测试软件的方块示意图。
【主要组件符号说明】
1、5:测试触控面板的方法
2、3、4:触控面板
6、7:触控面板测试软件
7a:数据单元
7b:应用程序
11、12、13、50、51、52、53、54、55、56、57、58、59、510、511、512、513、514、515、516、517、518:步骤
20:框状区域
21:区块
31:边界线
32:对角线
41:测试圆圈
60:数据可变参数
61、71:接口设定可变参数
62、72:触控芯片可变参数
63、73:自动测试可变参数
64、74:手动测试可变参数
74a:消框测试可变参数
74b:线性测试可变参数
74c:准确性测试可变参数
75:触控轨迹显示单元
76:自动测试单元
77:手动测试单元
77a:消框测试程序
77b:线性测试程序
77c:准确性测试程序
具体实施方式
请参考图1,其为本发明一个实施例的测试触控面板的方法。在图1的测试触控面板方法1的步骤11,提供触控面板;接着在步骤12,提供触控面板测试软件,其包含数据可变参数,该数据可变参数包括触控面板连接接口设定可变参数(在本发明中皆简称为“接口设定可变参数”)、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种;然后在步骤13,决定对应于该触控面板的该数据可变参数,以对该触控面板进行测试。
在本实施例中的触控面板测试软件包含数据可变参数,可由使用者依实际所要测试的触控面板,决定对应于该触控面板的该数据可变参数。因此,本实施例的测试触控面板的方法可应用于测试各种尺寸、规格的触控面板,而无须如现有技术必须更换对应尺寸、规格的触控面板测试软件,故本实施例的测试触控面板的方法可提供便利性,并有效降低成本。
上述实施例中的触控面板测试软件还可选择性地包括数据单元及应用程序。该数据单元包含该数据可变参数;该应用程序可选择性地包括触控轨迹显示单元、自动测试单元及手动测试单元。
上述实施例中的提供触控面板测试软件的步骤可选择性地包括下列次步骤:提供电脑;以及安装该触控面板测试软件于该电脑上。上述实施例中的决定对应于该触控面板的该数据可变参数的步骤可选择性地包括下列次步骤:由使用者于该电脑上使用该触控面板测试软件中的该数据单元,以输入该数据可变参数。
上述实施例中的测试触控面板的方法还可选择性地包括下列步骤:
使用该触控轨迹显示单元,载入该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以显示触控轨迹于该触控面板上;
使用该自动测试单元,载入该自动测试可变参数和/或该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以对该触控面板进行自动测试;以及
使用该手动测试单元,载入该手动测试可变参数和/或该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以对该触控面板进行手动测试,其中该手动测试可变参数可包括消框测试可变参数、线性测试可变参数、准确性测试可变参数,及该触控面板的尺寸等。
上述的使用该手动测试单元的步骤还可选择性地包括下列步骤:对该触控面板进行消框测试;对该触控面板进行线性测试;以及对该触控面板进行准确性测试。
上述消框测试在该测试中的触控面板上的显示状况,如图2所示。请参考图2,上述的对该触控面板进行消框测试的步骤还可选择性地包括下列次步骤:
进行该消框测试程序,并输入该消框测试可变参数;
使该消框测试程序在该触控面板2的四周边界上定义包含多个区块21的框状区域20,其中该消框测试可变参数包括该多个区块21的大小及消框测试时间;以及
对该多个区块21逐一进行消框触碰测试,使该触控轨迹显示单元接收该消框触碰测试的触碰轨迹,当该消框触碰测试的触碰轨迹未落在该多个区块21中正进行该消框触碰测试的区块21内时,则不消除该正进行消框触碰测试的该区块21,当该消框触碰测试的触碰轨迹落在该多个区块21中正进行该消框触碰测试的区块21内时,则消除该正进行消框触碰测试的该区块21,当在该消框测试时间内,所有该多个区块21皆被消除时,则该触控面板2被判定为消框测试成功,当在该消框测试时间内,该多个区块21有至少一个以上的区块21未被消除时,则该触控面板2被判定为消框测试失败。
上述线性测试在该测试中的触控面板上的显示状况,如图3所示。请参考图3,上述的对该触控面板进行线性测试的步骤还可选择性地包括下列次步骤:
进行该线性测试程序,并输入该线性测试可变参数;
使该线性测试过程定义该触控面板3的该四周边界的4条边界线31及2条对角线32,其中该线性测试可变参数包括该4条边界线31及该2条对角线32的宽度及线性测试时间;以及
对该4条边界线31及该2条对角线32进行线性触碰测试,使该触控轨迹显示单元接收该线性触碰测试的触碰轨迹,当该线性触碰测试的触碰轨迹皆落在该4条边界线31及该2条对角线32的宽度内时,则该触控面板3被判定为线性测试成功,当该线性触碰测试的触碰轨迹有落在该4条边界线31或该2条对角线32中的任何一个的宽度外时,则该触控面板3被判定为线性测试失败。
当然依本发明的精神,线性测试除了可使用上述4条边界线31及该2条对角线进行测试外,亦可使用其它几何线,例如采用4条边界线、连接上下两条边界线中间点,及连接左右两条边界线中间点所形成的十字线等各种可能的几何线组合,皆不脱离本发明的精神。
上述准确性测试在该测试中的触控面板上的显示状况,如图4所示。请参考图4,上述的对该触控面板进行准确性测试的步骤还可选择性地包括下列次步骤:
进行该准确性测试程序,并输入该准确性测试可变参数;
使该准确性测试过程定义该触控面板4的4角落点、该四周边界的每个边界的中间点、该2对角线的交叉点,及该交叉点与每个该4角落点的距离的中间点,共13个测试点,每个该测试点具有测试圆圈41,该测试圆圈41的圆心位于该测试点上,该测试圆圈41的大小定义该准确性测试的容忍范围,其中该准确性测试可变参数包括该测试圆圈41的半径大小及准确性测试时间;以及
对该13个测试点逐一进行准确性触碰测试,使该触控轨迹显示单元接收该准确性触碰测试的触碰轨迹,当所有该准确性触碰测试的触碰轨迹均落在正进行该准确性触碰测试的该测试点的该测试圆圈41内时,则该触控面板4被判定为准确性测试成功,当该准确性触碰测试的触碰轨迹中的至少一个未落在正进行该准确性触碰测试的该测试点的该测试圆圈41内时,则该触控面板4被判定为准确性测试失败。
当然依本发明的精神,准确性测试除了可使用上述所定义的13点测试点进行测试外,亦可使用其它适当位置的测试点,例如在长边的边界线上可定义分成3等分的2个内测试点及2个外端点测试点,也就是2个长边各会增加1个测试点,这特别适合长宽比例较大的触控面板。当然,当触控面板尺寸很大时,测试点可酌量增加,反之则可减少,因此测试点的数目与其位置的适当调整皆不脱离本发明的精神。
请参考图5a及图5b,其为本发明另一个实施例的测试触控面板的方法的流程图,因流程图较长,而分为两页显示,故结合图5a及图5b为一个完整的单一流程图。在本实施例中,在步骤50,开启触控面板测试软件;接着在步骤51,启用数据单元;接着在步骤52,载入接口设定可变参数;接着在步骤53,载入触控芯片可变参数;接着在步骤54,载入自动测试可变参数;接着在步骤55,启用自动测试单元;接着在步骤56,判定自动测试结果是否通过,若是,则进入步骤57,启用手动测试单元;若否,则进入步骤510,判定该片为失败片,换下一片继续测试,然后回到步骤55;在步骤57之后,进入步骤58,载入消框测试可变参数;接着在步骤59,启用消框测试程序;接着在步骤511,判定消框测试结果是否通过,若是,则进入步骤512,载入线性测试可变参数;若否,则进入步骤510,判定该片为失败片,换下一片继续测试,然后回到步骤55;在步骤512之后,进入步骤513,启用线性测试程序;接着在步骤514,判定线性测试结果是否通过,若是,则进入步骤515,载入准确性测试可变参数;若否,则进入步骤510,判定该片为失败片,换下一片继续测试,然后回到步骤55;在步骤515之后,进入步骤516,启用准确性测试程序;接着在步骤517,判定准确性测试结果是否通过,若是,则进入步骤518,判定该片为正常品,并结束该片测试;若否,则进入步骤510,判定该片为失败片,换下一片继续测试,然后回到步骤55。
上述图5a及图5b所显示的测试方法流程图,仅为本发明的实施例,在实际测试时,可考虑要测试的触控面板的实际状况,而增加或减少部分步骤,以进一步确保触控面板的触控灵敏度及准确度,或是为了减少测试成本等,这些步骤的增减皆不脱本发明的精神。
请参考图6,其为本发明一个实施例的触控面板测试软件的方块示意图。在本实施例中,触控面板测试软件6包括数据可变参数60,而数据可变参数60进一步包括接口设定可变参数61、触控芯片可变参数62、自动测试可变参数63及手动测试可变参数64中的至少一种。
在本实施例中的触控面板测试软件6包含数据可变参数60,可由使用者依实际所要测试的触控面板,决定对应于该触控面板的该数据可变参数60。因此,本实施例的测试触控面板的方法可应用于测试各种尺寸、规格的触控面板,而无须如现有技术必须更换对应尺寸、规格的触控面板测试软件,故本实施例的触控面板测试软件可提供便利性,并有效降低成本。
请参考图7,其为本发明另一个实施例的触控面板测试软件的方块示意图。在图7中,触控面板测试软件7包括数据单元7a及应用程序7b。数据单元7a则包括接口设定可变参数71、触控芯片可变参数72、自动测试可变参数73及手动测试可变参数74;手动测试可变参数74则进一步包括消框测试可变参数74a、线性测试可变参数74b及准确性测试可变参数74c。另外,应用程序7b则包括触控轨迹显示单元75、自动测试单元76及手动测试单元77;手动测试单元77则进一步包括消框测试程序77a、线性测试程序77b及准确性测试程序77c。
在图7的触控面板测试软件7中的各个单元、程序及可变参数,皆可依上述多个实施例中的测试触控面板的方法而被使用,来进行触控面板的测试。
接下来,介绍本发明的其它实施例,如下。
1.一种测试触控面板的方法,包括下列步骤:
提供该触控面板;
提供触控面板测试软件,其包含数据可变参数,该数据可变参数包括接口设定可变参数、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种;以及
决定对应于该触控面板的该数据可变参数,以对该触控面板进行测试。
2.如上述第1实施例所述的方法,其中该触控面板测试软件还包括数据单元,其包含该数据可变参数。
3.如上述任何实施例所述的方法,其中该提供触控面板测试软件的步骤进一步包括:
提供电脑;以及
安装该触控面板测试软件于该电脑上。
4.如上述任何实施例所述的方法,其中该决定对应于该触控面板的该数据可变参数的步骤进一步包括由使用者于该电脑上使用该触控面板测试软件中的该数据单元,以输入该数据可变参数。
5.如上述任何实施例所述的方法,其中该触控面板测试软件还包括数据单元及应用程序,该数据单元包含该数据可变参数,该应用程序包括触控轨迹显示单元,该方法进一步包括下列步骤:使用该触控轨迹显示单元,载入该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以显示触控轨迹于该触控面板上。
6.如上述任何实施例所述的方法,其中该触控面板测试软件还包括数据单元及应用程序,该数据单元包含该数据可变参数,该应用程序包括自动测试单元,该方法进一步包括下列步骤:使用该自动测试单元,载入该自动测试可变参数和/或该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以对该触控面板进行自动测试。
7.如上述任何实施例所述的方法,其中该触控面板测试软件还包括数据单元及应用程序,该数据单元包含该数据可变参数,该应用程序包括手动测试单元,该方法进一步包括下列步骤:使用该手动测试单元,载入该手动测试可变参数和/或该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以对该触控面板进行手动测试。
8.如上述任何实施例所述的方法,其中该手动测试可变参数包括消框测试可变参数和/或该触控面板的尺寸,该手动测试单元包括消框测试程序,该使用该手动测试单元的步骤进一步包括对该触控面板进行消框测试,其包括下列步骤:
进行该消框测试程序,并输入该消框测试可变参数;
使该消框测试程序在该触控面板的4周边界上定义包含多个区块的框状区域,其中该消框测试可变参数包括该多个区块的大小及消框测试时间;
对该多个区块逐一进行消框触碰测试,使该触控轨迹显示单元接收该消框触碰测试的触碰轨迹,当该消框触碰测试的触碰轨迹未落在该多个区块中正进行该消框触碰测试的区块内时,则不消除该正进行消框触碰测试的该区块,当该消框触碰测试的触碰轨迹落在该多个区块中正进行该消框触碰测试的区块内时,则消除该正进行消框触碰测试的该区块,当在该消框测试时间内,所有该多个区块皆被消除时,则该触控面板被判定为消框测试成功,当在该消框测试时间内,该多个区块有至少一个以上的区块未被消除时,则该触控面板被判定为消框测试失败。
9.如上述任何实施例所述的方法,其中该手动测试可变参数包括线性测试可变参数和/或该触控面板的尺寸,该手动测试单元包括线性测试程序,该使用该手动测试单元的步骤进一步包括对该触控面板进行线性测试,其包括下列步骤:
进行该线性测试程序,并输入该线性测试可变参数;
使该线性测试过程定义该触控面板的该四周边界的4边界线及2对角线,其中该线性测试可变参数包括该4边界线及该2对角线的宽度及线性测试时间;以及
对该4边界线及该2对角线进行线性触碰测试,使该触控轨迹显示单元接收该线性触碰测试的触碰轨迹,当该线性触碰测试的触碰轨迹皆落在该4边界线及该2对角线的宽度内时,则该触控面板被判定为线性测试成功,当该线性触碰测试的触碰轨迹有落在该4边界线或该2对角线中的任何一个的宽度外时,则该触控面板被判定为线性测试失败。
10.如上述任何实施例所述的方法,其中该手动测试可变参数包括准确性测试可变参数和/或该触控面板的尺寸,该手动测试单元包括准确性测试程序,该使用该手动测试单元的步骤进一步包括对该触控面板进行准确性测试,其包括下列步骤:
进行该准确性测试程序,并输入该准确性测试可变参数;
使该准确性测试过程定义该触控面板的4角落点、该四周边界的每一边界的中间点、该2对角线的交叉点及该交叉点与每个该4角落点的距离的中间点,共13个测试点,每个该测试点具有测试圆圈,该测试圆圈的圆心位于该测试点上,该测试圆圈的大小定义该准确性测试的容忍范围,其中该准确性测试可变参数包括该测试圆圈的半径大小及准确性测试时间;以及
对该13个测试点逐一进行准确性触碰测试,使该触控轨迹显示单元接收该准确性触碰测试的触碰轨迹,当所有该准确性触碰测试的触碰轨迹均落在正进行该准确性触碰测试的该测试点的该测试圆圈内时,则该触控面板被判定为准确性测试成功,当该准确性触碰测试的触碰轨迹中的至少一个未落在正进行该准确性触碰测试的该测试点的该测试圆圈内时,则该触控面板被判定为准确性测试失败。
11.一种触控面板测试软件,用以测试触控面板,该软件包括数据可变参数,其包括接口设定可变参数、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种。
12.如上述第11实施例所述的软件,还包括数据单元,其包含该数据可变参数,该数据单元提供使用者输入该数据可变参数。
13.如上述任何实施例所述的软件,还包括应用程序,其包括触控轨迹显示单元,载入该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以显示触控轨迹于该触控面板上。
14.如上述任何实施例所述的软件,还包括应用程序,其包括自动测试单元,载入该自动测试可变参数和/或该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以对该触控面板进行自动测试。
15.如上述任何实施例所述的软件,还包括应用程序,其包括手动测试单元,载入该手动测试可变参数和/或该接口设定可变参数和/或该触控芯片可变参数,以对该触控面板进行手动测试。
16.如上述任何实施例所述的软件,其中该手动测试可变参数包括消框测试可变参数和/或该触控面板的尺寸,该手动测试单元包括消框测试程序,其在该触控面板的4周边界上定义包含多个区块的框状区域,并载入该消框测试可变参数,以进行消框测试,其中该消框测试可变参数包括该多个区块的大小及消框测试时间。
17.如上述任何实施例所述的软件,其中该手动测试可变参数包括线性测试可变参数和/或该触控面板的尺寸,该手动测试单元包括线性测试程序,定义该触控面板的该4周边界的4边界线及2对角线,以进行线性测试,其中该线性测试可变参数包括该4边界线及该2对角线的宽度及线性测试时间。
18.如上述任何实施例所述的软件,其中该手动测试可变参数包括准确性测试可变参数和/或该触控面板的尺寸,该手动测试单元包括准确性程序,定义该触控面板的4角落点、该4周边界的每个边界的中间点、该2对角线的交叉点,及该交叉点与每个该4角落点的距离的中间点,共13个测试点,以进行准确性测试,其中每个该测试点具有测试圆圈,该测试圆圈的圆心位于该测试点上,该测试圆圈的大小定义该准确性测试的容忍范围,其中该准确性测试可变参数包括该测试圆圈的半径大小及准确性测试时间。
19.一种电子装置,安装有上述任何实施例所述的软件。
20.一种储存装置,储存如上述任何实施例所述的软件。
综合上述,本发明提出崭新的触控面板测试方法及其测试软件,能大幅提升触控面板测试的便利性及效率,可以随着需要测试的触控面板的尺寸及所需的触控灵敏度及准确度的规格,实时做适当且弹性的调整,可显著地降低生产成本,提供广大的使用者更质量优异且价格低廉的产品。
虽然本发明已将较佳实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明所属技术领域中的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可做更动与润饰。因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。本发明得由所述技术领域中的普通技术人员任施匠思而做的各种修饰,皆不脱权利要求所限定的范围。

Claims (10)

1.一种测试触控面板的方法,包括下列步骤:
提供所述触控面板;
提供触控面板测试软件,其包含数据可变参数,所述数据可变参数包括接口设定可变参数、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种;以及
决定对应于所述触控面板的所述数据可变参数,以对所述触控面板进行测试。
2.如权利要求1所述的方法,其中:
所述触控面板测试软件还包括数据单元,其包含所述数据可变参数;
所述提供触控面板测试软件的步骤进一步包括:
提供电脑;以及
安装所述触控面板测试软件于所述电脑上;以及
所述决定对应于所述触控面板的所述数据可变参数的步骤进一步包括:
由使用者于所述电脑上使用所述触控面板测试软件中的所述数据单元,以输
入所述数据可变参数。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述触控面板测试软件还包括数据单元及应用程序,所述数据单元包含所述数据可变参数,所述应用程序包括触控轨迹显示单元、自动测试单元及手动测试单元,所述方法进一步包括下列步骤:
使用所述触控轨迹显示单元,载入所述接口设定可变参数和/或所述触控芯片可变参数,以显示触控轨迹于所述触控面板上;以及
使用所述自动测试单元,载入所述自动测试可变参数和/或所述接口设定可变参数和/或所述触控芯片可变参数,以对所述触控面板进行自动测试。
4.如权利要求3所述的方法,其中所述手动测试可变参数包括消框测试可变参数、线性测试可变参数、准确性测试可变参数及所述触控面板的尺寸,所述方法还包括步骤:
使用所述手动测试单元,载入所述手动测试可变参数和/或所述接口设定可变参数和/或所述触控芯片可变参数,以对所述触控面板进行手动测试。
5.如权利要求4所述的方法,其中所述手动测试单元包括消框测试程序、线性测试程序及准确性测试程序,所述使用所述手动测试单元的步骤进一步包括下列步骤:对所述触控面板进行消框测试,其包括下列步骤:
进行所述消框测试程序,并输入所述消框测试可变参数;
使所述消框测试程序在所述触控面板的4周边界上定义包含多个区块的框状区域,其中所述消框测试可变参数包括所述多个区块的大小及消框测试时间;
对所述多个区块逐一进行消框触碰测试,使所述触控轨迹显示单元接收所述消框触碰测试的触碰轨迹,当所述消框触碰测试的触碰轨迹未落在所述多个区块中正进行所述消框触碰测试的区块内时,则不消除所述正进行消框触碰测试的所述区块,当所述消框触碰测试的触碰轨迹落在所述多个区块中正进行所述消框触碰测试的区块内时,则消除所述正进行消框触碰测试的所述区块,当在所述消框测试时间内,所有所述多个区块皆被消除时,则所述触控面板被判定为消框测试成功,当在所述消框测试时间内,所述多个区块有至少一个以上的区块未被消除时,则所述触控面板被判定为消框测试失败;对所述触控面板进行线性测试,其包括下列步骤:
进行所述线性测试程序,并输入所述线性测试可变参数;
使所述线性测试过程定义所述触控面板的所述四周边界的4边界线及2对角线,其中所述线性测试可变参数包括所述4边界线及所述2对角线的宽度及线性测试时间;以及
对所述4边界线及所述2对角线进行线性触碰测试,使所述触控轨迹显示单元接收所述线性触碰测试的触碰轨迹,当所述线性触碰测试的触碰轨迹皆落在所述4边界线及所述2对角线的宽度内时,则所述触控面板被判定为线性测试成功,当所述线性触碰测试的触碰轨迹有落在所述4边界线或所述2对角线中的任何一个的宽度外时,则所述触控面板被判定为线性测试失败;以及对所述触控面板进行准确性测试,其包括下列步骤:
进行所述准确性测试程序,并输入所述准确性测试可变参数;
使所述准确性测试过程定义所述触控面板的4角落点、所述四周边界的每个边界的中间点、所述2对角线的交叉点及所述交叉点与每个所述4角落点的距离的中间点,共13个测试点,每个所述测试点具有测试圆圈,所述测试圆圈的圆心位于所述测试点上,所述测试圆圈的大小定义所述准确性测试的容忍范围,其中所述准确性测试可变参数包括所述测试圆圈的半径大小及准确性测试时间;以及
对所述13个测试点逐一进行准确性触碰测试,使所述触控轨迹显示单元接收
所述准确性触碰测试的触碰轨迹,当所有所述准确性触碰测试的触碰轨迹均落在正进行所述准确性触碰测试的所述测试点的所述测试圆圈内时,则所述触控面板被判定为准确性测试成功,当所述准确性触碰测试的触碰轨迹中的至少一个未落在正进行所述准确性触碰测试的所述测试点的所述测试圆圈内时,则所述触控面板被判定为准确性测试失败。
6.一种触控面板测试软件,用以测试触控面板,所述软件包括数据可变参数,其包括接口设定可变参数、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种。
7.如权利要求6所述的软件,还包括数据单元,其包含所述数据可变参数,所述数据单元提供使用者输入所述数据可变参数。
8.如权利要求6所述的软件,其中所述手动测试可变参数包括消框测试可变参数、线性测试可变参数及准确性测试可变参数,所述软件还包括应用程序,其包括:
触控轨迹显示单元,载入所述接口设定可变参数和/或所述触控芯片可变参数,以显示触控轨迹于所述触控面板上;
自动测试单元,载入所述自动测试可变参数和/或所述接口设定可变参数和/或所述触控芯片可变参数,以对所述触控面板进行自动测试;以及
手动测试单元,包括:
消框测试程序,其在所述触控面板的4周边界上定义包含多个区块的框状区域,并载入所述消框测试可变参数,以进行消框测试,其中所述消框测试可变参数包括所述多个区块的大小及消框测试时间;
线性测试程序,定义所述触控面板的所述4周边界的4边界线及2对角线,以进行线性测试,其中所述线性测试可变参数包括所述4边界线及所述2对角线的宽度及线性测试时间;以及
准确性程序,定义所述触控面板的4角落点、所述4周边界的每个边界的中间点、所述2对角线的交叉点及所述交叉点与每个所述4角落点的距离的中间点,共13个测试点,以进行准确性测试,其中每个所述测试点具有测试圆圈,所述测试圆圈的圆心位于所述测试点上,所述测试圆圈的大小定义所述准确性测试的容忍范围,其中所述准确性测试可变参数包括所述测试圆圈的半径大小及准确性测试时间。
9.一种电子装置,安装有权利要求6所述的软件。
10.一种储存装置,储存权利要求6所述的软件。
CN201210082956.1A 2011-12-26 2012-03-26 触控面板测试方法 Active CN103176075B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW100148700A TWI467430B (zh) 2011-12-26 2011-12-26 觸控面板測試方法及其測試軟體
TW100148700 2011-12-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103176075A true CN103176075A (zh) 2013-06-26
CN103176075B CN103176075B (zh) 2015-12-02

Family

ID=48636065

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210082956.1A Active CN103176075B (zh) 2011-12-26 2012-03-26 触控面板测试方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8872779B2 (zh)
CN (1) CN103176075B (zh)
TW (1) TWI467430B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103853640A (zh) * 2014-03-31 2014-06-11 广州华欣电子科技有限公司 触摸屏测试方法以及装置
CN104881176A (zh) * 2015-06-12 2015-09-02 武汉精测电子技术股份有限公司 一种触控屏划线检测判定系统及其检测判定方法
CN108897648A (zh) * 2018-05-29 2018-11-27 广东嘉腾机器人自动化有限公司 Agv触摸屏的调试方法、装置、系统及计算机可读存储介质
CN111459335A (zh) * 2020-04-07 2020-07-28 深圳回收宝科技有限公司 一种电子产品的触摸屏检测方法和触摸屏检测装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015141448A (ja) * 2014-01-27 2015-08-03 日本電産リード株式会社 タッチパネル検査装置
TW201633108A (zh) * 2015-03-06 2016-09-16 Extech Electronics Co Ltd 透過滑移畫面切換設定、啓動及顯示程序之檢測方法
CN105045692B (zh) * 2015-07-22 2018-11-30 京东方科技集团股份有限公司 触摸屏测试装置及系统、触摸屏测试控制装置
WO2017190103A1 (en) * 2016-04-28 2017-11-02 Yougetitback Limited Systems and methods for detection of mobile device fault conditions
EP4032017A1 (en) 2019-09-16 2022-07-27 Assurant, Inc. System, method, apparatus, and computer program product for utilizing machine learning to process an image of a mobile device to determine a mobile device integrity status

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050107977A1 (en) * 2004-06-23 2005-05-19 Michael Edwards Test device for signaling and waveform generation and monitoring
US20070200831A1 (en) * 2006-02-27 2007-08-30 Texas Instruments Incorporated Method and circuitry for self testing of connectivity of touch screen panel
CN101145122A (zh) * 2006-09-15 2008-03-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 触摸板测试机台
CN101551725A (zh) * 2008-03-31 2009-10-07 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 触摸板测试装置及利用该装置测试触摸板的方法
CN201348686Y (zh) * 2008-12-19 2009-11-18 宁波高新区七鑫旗科技有限公司 一种用于测试小尺寸液晶模块的系统
US20090315826A1 (en) * 2008-06-20 2009-12-24 Sentelic Corporation Method for identifying a single tap, double taps and a drag and a controller for a touch device employing the method
US20090315835A1 (en) * 2008-06-24 2009-12-24 Freescale Semiconductor, Inc. Touch screen detection and diagnostics

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW498161B (en) * 2000-11-07 2002-08-11 An Ten Technologies Co Ltd Test apparatus and method for touch panel
TWI230903B (en) * 2003-06-05 2005-04-11 Wintek Corp Test device of touch panel
CN101187685A (zh) * 2007-10-18 2008-05-28 张福尧 触摸屏测试装置及方法
TWM385755U (en) * 2010-02-10 2010-08-01 Nas Technologies Corps Touch panel testing equipment

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050107977A1 (en) * 2004-06-23 2005-05-19 Michael Edwards Test device for signaling and waveform generation and monitoring
US20070200831A1 (en) * 2006-02-27 2007-08-30 Texas Instruments Incorporated Method and circuitry for self testing of connectivity of touch screen panel
CN101145122A (zh) * 2006-09-15 2008-03-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 触摸板测试机台
CN101551725A (zh) * 2008-03-31 2009-10-07 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 触摸板测试装置及利用该装置测试触摸板的方法
US20090315826A1 (en) * 2008-06-20 2009-12-24 Sentelic Corporation Method for identifying a single tap, double taps and a drag and a controller for a touch device employing the method
US20090315835A1 (en) * 2008-06-24 2009-12-24 Freescale Semiconductor, Inc. Touch screen detection and diagnostics
CN201348686Y (zh) * 2008-12-19 2009-11-18 宁波高新区七鑫旗科技有限公司 一种用于测试小尺寸液晶模块的系统

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103853640A (zh) * 2014-03-31 2014-06-11 广州华欣电子科技有限公司 触摸屏测试方法以及装置
CN103853640B (zh) * 2014-03-31 2017-04-19 广州华欣电子科技有限公司 触摸屏测试方法以及装置
CN104881176A (zh) * 2015-06-12 2015-09-02 武汉精测电子技术股份有限公司 一种触控屏划线检测判定系统及其检测判定方法
CN104881176B (zh) * 2015-06-12 2018-05-18 武汉精测电子集团股份有限公司 一种触控屏划线检测判定系统及其检测判定方法
CN108897648A (zh) * 2018-05-29 2018-11-27 广东嘉腾机器人自动化有限公司 Agv触摸屏的调试方法、装置、系统及计算机可读存储介质
CN111459335A (zh) * 2020-04-07 2020-07-28 深圳回收宝科技有限公司 一种电子产品的触摸屏检测方法和触摸屏检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20130162548A1 (en) 2013-06-27
TW201327298A (zh) 2013-07-01
US8872779B2 (en) 2014-10-28
TWI467430B (zh) 2015-01-01
CN103176075B (zh) 2015-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103176075B (zh) 触控面板测试方法
CN101644984B (zh) 一种触摸屏检测方法及装置
CN104285205A (zh) 触控面板器件和触控面板器件的控制方法
CN104571748A (zh) 触摸控制器、电子设备和显示设备、以及触摸感测方法
CN104380240A (zh) 用户设备的信息显示装置和方法
CN104956300A (zh) 使用限位调整滚动
CN103123573B (zh) 电子装置
EP2849039A1 (en) Method, device, and mobile terminal for detecting capacitive touch screen
CN103049207A (zh) 手写输入识别系统及方法
US20130082947A1 (en) Touch device, touch system and touch method
CN101770340A (zh) 电子装置及该电子装置的输入方法
CN105005448A (zh) 应用程序启动方法、装置及终端设备
CN103597439A (zh) 信息处理装置、信息处理方法和信息处理程序
CN105094487A (zh) 触摸屏及其控制方法、控制装置、触摸显示装置
CN103680229A (zh) 一种手写输入方法、装置和手写板
CN104090701A (zh) 信息处理方法及电子设备
CN105468271A (zh) 手写符号的识别方法、系统与装置
CN103995669A (zh) 一种通讯录导航条显示方法及装置
KR101533603B1 (ko) 인식방법 및 인식장치
CN100589076C (zh) 可在窗口标题列呈现程序图形界面的方法及电脑系统
CN102622277B (zh) 屏幕损坏保护适应方法和电子设备
CN107037473A (zh) 基于移动设备的急转弯驾驶行为识别方法以及装置
CN103049198A (zh) 手写输入识别系统及方法
CN104933451B (zh) 一种物品识别和其特征信息显示交互的系统及方法
CN103488317A (zh) 结合多个触控屏幕的方法及组合式屏幕

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant