KR101918804B1 - 전지 시험 장치 - Google Patents

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KR101918804B1
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마사타카 나카니시
유스케 우에다
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에스펙 가부시키가이샤
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Abstract

시험의 준비 작업의 부담을 경감할 수 있는 전지 시험 장치를 제공한다.
전지 시험 장치(10)는, 전지(B)의 압괴 시험 시에 전지(B)를 가압하기 위한 가압판(16)과, 가압판(16)을 이동시키기 위한 구동력을 발생시키는 구동부(18)를 구비한다. 가압판(16)에는, 못 관통 시험용 지그(44)를 부착 가능한 부착부(42b)가 설치되어 있다. 부착부(42b)는, 못 관통 시험용 지그(44)의 수나사부(44b)를 나사식 결합시키는 암나사부를 가지고 있다. 전지 시험 장치(10)는, 암나사부를 막기 위한 마개 부재(50)를 구비하고 있다.

Description

전지 시험 장치{BATTERY TESTING APPARATUS}
본 발명은, 전지 시험 장치에 관한 것이다.
종래, 일본국 특허 제4408058호 공보에 개시되어 있는 바와 같이, 전지의 안전성을 평가하기 위한 전지 시험 장치가 알려져 있다. 일본국 특허 제4408058호 공보에 개시된 전지 시험 장치에서는, 전지의 압괴 시험을 행할 때에, 구동되는 로드의 선단에 평판이나 각재(角材)가 부착된다. 로드를 구동함으로써, 전지는 평판 또는 각재에 의해 가압된다. 한편, 전지의 못 관통 시험을 행할 때에는, 로드의 선단에 못이 부착된다. 로드를 구동함으로써, 전지에 못이 관통된다. 이것에 의해, 전지의 내부 단락이 일어난다.
일본국 특허 제4408058호 공보에 개시된 전지 시험 장치에서는, 전지의 압괴 시험을 행하는 경우와, 못 관통 시험을 행하는 경우에 있어서, 로드의 선단에 부착되어 있는 부재를 떼어낸 다음, 다른 부재로 교환할 필요가 있다. 예를 들면, 못 관통 시험을 행할 때에는, 평판 또는 각재가 로드로부터 떼어내지고, 못이 로드에 부착된다. 이 때문에, 상기 전지 시험 장치에서는, 시험의 준비 작업에 시간이 걸린다는 문제가 있다.
본 발명의 목적은, 시험의 준비 작업의 부담을 경감할 수 있는 전지 시험 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 일 국면에 따르는 전지 시험 장치는, 시험조 내에 배치된 전지의 시험을 행하는 전지 시험 장치로서, 전지의 압괴 시험 시에 상기 전지를 가압하기 위한 가압판과, 상기 가압판을 이동시키기 위한 구동력을 발생시키는 구동부를 구비하고, 상기 가압판에는, 못 관통 시험용 지그를 부착 가능한 전지 시험 장치이다.
본 발명에 관련된 전지 시험 장치에 의하면, 시험의 준비 작업의 부담을 경감할 수 있다.
도 1은, 본 발명의 실시 형태에 관련된 전지 시험 장치의 전체 구성을 나타내는 도면이다.
도 2는, 상기 전지 시험 장치에 설치된 가압판의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은, 상기 가압판을 구성하는 가압부를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는, 가압부의 변형예를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는, 상기 전지 시험 장치에 있어서, 외부 단락 시험을 행할 때의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
이하, 본 발명을 실시하기 위한 형태에 대해서 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.
본 실시 형태에 관련된 전지 시험 장치는, 전지의 압괴 시험, 못 관통 시험, 외부 단락 시험 및 충방전 시험이 가능한 시험 장치이다.
도 1에 나타내는 바와 같이, 본 실시 형태에 관련된 전지 시험 장치(10)는, 시험조(12)와, 시험조(12)의 외측에 배치된 고정체의 일례로서의 가대(14)와, 전지 B를 가압하기 위한 가압판(16)과, 가압판(16)을 이동시키는 구동력을 발생시키는 구동부(18)를 구비하고 있다. 또, 도시 생략하지만, 전지 시험 장치(10)에는, 시험 조건의 설정 및 기록, 동작 제어를 행하기 위한 제어부가 설치되어 있다.
시험조(12)는, 시험 대상이 되는 전지 B를 수납 가능한 시험실(21)을 구비하고 있다. 시험실(21) 내에는, 공조를 행하는 공조부(도시 생략)가 설치되어 있다. 시험실(21)은, 전측이 개구한 조 본체(25)와, 조 본체(25)의 전측 개구를 개폐하는 문(도시 생략)을 가지고 있다. 또한, 도 1은, 편의적으로 문이 생략된 상태로 그려져 있다. 문은, 도시 생략한 로크부에 의해 조 본체(25)에 로크될 수 있다.
조 본체(25)의 천정부(25a)에는, 한 쌍(2개 또는 4개)의 제1 삽입 통과 구멍(25b)과, 양 제1 삽입 통과 구멍(25b) 사이에 배치된 제2 삽입 통과 구멍(25c)이 형성되어 있다. 제1 삽입 통과 구멍(25b) 및 제2 삽입 통과 구멍(25c)은, 천정부(25a)를 관통하고 있다. 제1 삽입 통과 구멍(25b) 및 제2 삽입 통과 구멍(25c)은 각각, 시험조(12) 내(시험실(21) 내)의 공간과 외부를 연통하고 있다. 조 본체(25)의 일방(도 1에 있어서의 좌측)의 측부(25d)에는, 그 측부(25d)를 관통하는 연통 구멍(25e)이 형성되어 있다. 연통 구멍(25e)에는 덮개체(25f)가 씌워져 있다. 덮개체(25f)를 떼어냄으로써, 시험조(12) 내의 공간(시험실(21) 내)과 외부가 연통 구멍(25e)을 통해 연통한다.
공조부에는, 가열기, 냉각기, 팬 등이 설치되어 있다. 공조부에 의해 시험실(21) 내의 공기를 소정의 온도 조건으로 조정할 수 있다. 즉, 시험조(12)는, 항온조 또는 항온 항습조 등의 환경 시험 장치에 의해 구성되어 있다.
가대(14)는, 시험조(12)의 상방에 배치되는 상면부(14a)와, 상면부(14a)의 양단부를 각각 지지하는 한 쌍의 다리부(14b)를 구비하고 있다. 상면부(14a)는, 수평 방향으로 연장되는 판형상 또는 봉형상의 부재에 의해 구성되어 있다.
가대(14)의 상면부(14a)에는, 한 쌍(2개, 4개 등)의 가이드 샤프트(30)가 매달려 있다. 각 가이드 샤프트(30)의 상단부에는 수나사가 형성되어 있다. 가이드 샤프트(30)의 상단부에 형성된 수나사는, 상면부(14a)에 형성된 암나사(14c)에 나사식 결합되어 있다. 따라서, 양 가이드 샤프트(30)는, 가대(14)에 대해 착탈 가능하게 되어 있다.
각 가이드 샤프트(30)는, 조 본체(25)의 천정부(25a)에 설치된 제1 삽입 통과 구멍(25b)에 삽입 통과되어 있다. 따라서, 가이드 샤프트(30)의 상단부는, 시험실(21)의 외측에 위치하고, 가이드 샤프트(30)의 하단부는 시험실(21) 내에 위치하고 있다.
가이드 샤프트(30)의 하단부에는, 시험 대상으로서의 전지 B를 올려놓는 시험대(32)가 고정되어 있다. 구체적으로, 가이드 샤프트(30)의 하단부에는, 머리부를 가지는 체결구(34)를 체결 가능한 암나사부가 형성되어 있다. 시험대(32)는 평판형상의 부재에 의해 구성되어 있으며, 시험대(32)에는 체결구(34)의 수나사부를 삽입 통과시키는 삽입 통과 구멍이 형성되어 있다. 시험대(32)의 삽입 통과 구멍에 아래로부터 삽입 통과된 체결구(34)가 가이드 샤프트(30)의 암나사부에 나사식 결합됨으로써, 시험대(32)는 체결구(34)의 머리부에 의해 아래로부터 지지되어 있다. 즉, 가이드 샤프트(30)는, 시험대(32)를 지지하는 지지 부재로서도 기능하고 있다. 또한, 시험대(32)를 고정하는 구성은 이것에 한정되는 것은 아니다.
가압판(16)을 상하 이동시키기 위한 구동부(18)는, 실린더(18a)와, 실린더(18a)에 대해 진퇴 이동 가능하게 설치된 로드(18b)를 구비하고 있다. 실린더(18a)에는, 구동원으로서의 유압 펌프(36)가 접속되어 있다. 유압 펌프(36)를 구동함으로써, 로드(18b)를 진퇴 이동시킬 수 있다. 또한, 로드(18b)의 구동원으로서는, 유압 펌프(36)에 한정되는 것이 아니라, 공기압 펌프 등의 유체를 공급하는 펌프여도 되고, 혹은 전동 모터 등이어도 된다.
실린더(18a)는, 가대(14)의 상면부(14a)에 고정되어 있다. 상면부(14a)에는, 로드(18b)를 삽입 통과시키는 삽입 통과 구멍이 형성되어 있다. 실린더(18a)는, 삽입 통과 구멍에 삽입 통과된 로드(18b)가 실린더(18a)의 하단부에서 아래를 향해 연장되도록 상면부(14a) 상에 올려 놓아져 있다.
도 2에 나타내는 바와 같이, 가압판(16)은, 평판재로 이루어지는 개재부(41)와, 개재부(41)에 고정되는 가압부(42)를 가진다. 개재부(41)는, 로드(18b)의 하단부에 고정되는 부재이다. 가압부(42)는, 전지 B를 가압하는 부재인 한편, 후술하는 못 관통 시험용 지그(44)를 부착하기 위한 부재이며, 개재부(41)에 겹쳐져 이용된다.
로드(18b)는, 로드 본체(18c)와 로드 본체(18c)의 선단부(하단부)에 설치된 고정부(18d)를 가진다. 고정부(18d)는, 블록형상으로 형성되어 있으며, 예를 들면 로드 본체(18c)와 동축형상의 원기둥형상으로 형성되어 있다. 그리고 고정부(18d)의 상면은, 로드 본체(18c)의 하단면에 연결되어 있다. 고정부(18d)의 하면은, 평면형상으로 형성되어 있다. 이 하면에는, 체결구(46)의 수나사부(46a)가 나사식 결합되는 암나사부(18e)가 형성되어 있다. 암나사부(18e)는, 로드 본체(18c)가 연장되는 방향에 일치하는 방향으로 연장되어 있다.
개재부(41)에는, 체결구(46)의 수나사부(46a)를 삽입 통과시키는 삽입 통과 구멍이 형성되어 있다. 이 삽입 통과 구멍에 아래로부터 삽입 통과된 체결구(46)의 수나사부(46a)가 고정부(18d)의 암나사부(18e)에 나사식 결합된다. 이것에 의해, 개재부(41)는, 체결구(46)의 머리부(46b)와 고정부(18d) 사이에 협지된다. 따라서, 개재부(41)의 상면이 고정부(18d)의 하면에 면접촉한 상태로, 개재부(41)(가압판(16))는, 체결구(46)에 의해 고정부(18d)(로드(18b))에 고정되어 있다. 바꾸어 말하면, 가압판(16)은, 로드(18b)의 선단면에 접촉한 상태로, 체결구(46)에 의해 로드(18b)에 체결되어 있다.
개재부(41)는, 평판형상의 부재로 이루어지며, 고정부(18d)의 하면에 접촉한 상태로 고정부(18d)에 고정되어 있다. 이 때문에, 끼워 맞춤 구조를 설치하지 않고, 개재부(41)를 로드(18b)에 고정할 수 있다. 따라서, 끼워 맞춤부에서의 클리어런스가 필요 없어지기 때문에, 개재부(41)가 흔들리거나, 덜컹거리지 않는 상태로 개재부(41)를 로드(18b)에 고정할 수 있다.
가압부(42)는, 개재부(41)의 하측에 배치됨과 함께 유지 수단(볼트)(48)에 의해 개재부(41)에 유지되어 있다. 유지 수단(48)은, 가압부(42)의 하면(가압면)에 노출되지 않도록, 개재부(41)로부터 가압부(42)에 걸쳐 설치되어 있다. 또한, 유지 수단(48)은, 볼트에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 유지 수단(48)은, 가압부(42)를 개재부(41)에 걸리게 하는 걸림쇠 등에 의해 구성해도 된다.
가압부(42)의 상면에 있어서의 중앙부에는, 개재부(41)를 로드(18b)에 체결하기 위한 체결구(46)의 머리부(46b)를 수용하는 오목부(42a)가 형성되어 있다. 이것에 의해, 체결구(46)의 머리부(46b)가 개재부(41)의 하측(가압부(42)측)으로 돌출된 상태여도, 가압부(42)를 개재부(41)에 겹치게 할 수 있다.
가압부(42)(가압판(16))의 하면은, 전지 B를 가압하는 가압면으로서 기능하는 한편, 가압부(42)(가압판(16))의 하면에는, 못 관통 시험용 지그(44)를 부착 가능한 부착부(42b)가 설치되어 있다. 즉, 못 관통 시험을 행할 때에는, 못 관통 시험용 지그(44)가 부착되는 한편, 전지 B의 압괴 시험을 행할 때에는, 못 관통 시험용 지그(44)가 가압판(16)으로부터 떼어내진다. 못 관통 시험용 지그(44)가 떼어내진 가압판(16)을 강하시킴으로써, 가압판(16)에 의해 전지 B를 가압할 수 있다. 따라서, 못 관통 시험 시에 있어서도 중량물인 가압판(16)을 떼어낼 필요가 없다. 또한, 못 관통 시험 시에 있어서 가압판(16)을 방호판(격벽)으로서도 기능시킬 수 있다.
못 관통 시험용 지그(44)는, 못부(44a)와, 못부(44a)의 근원부에 일체적으로 형성된 기초부(44c)와, 기초부(44c)에 일체적으로 형성된 볼록형상의 피부착부인 수나사부(44b)를 가진다. 부착부(42b)는, 못 관통 시험용 지그(44)의 수나사부(44b)를 나사식 결합시키는 암나사부를 가지고 있다. 즉, 가압판(16)의 가압면에는, 못 관통 시험용 지그(44)에 설치된 볼록형상의 피부착부를 장착 가능한 오목형상의 부착부(42b)가 형성되어 있다.
가압부(42)로부터 못 관통 시험용 지그(44)가 떼어내진 상태에서는, 오목형상의 암나사부가 노출된다. 이 때문에, 도 3에 나타내는 바와 같이, 암나사부를 막기 위한 마개 부재(50)가 설치되어 있어도 된다. 마개 부재(50)가 암나사부에 부착되면, 가압부(42)의 하면은 전체에 걸쳐 평탄하게 된다. 따라서, 로드(18b)를 강하시킴으로써 가압판(16)을 강하시켜 전지 B를 가압하는 압괴 시험이 행해질 때에는, 평탄한 가압면으로 전지 B를 가압할 수 있다. 또한, 부착부(42b)가 매우 작은 경우나 전지 B에 접촉하는 위치로부터 어긋나 있는 경우 등에는, 마개 부재(50)를 생략하는 것도 가능하다.
부착부(42b)는, 가압부(42)의 하면에 있어서의 중앙부에 설치되어 있을 필요는 없다. 도 4에 나타내는 바와 같이, 복수의 부착부(42b)가 중앙부로부터 어긋난 위치에 설치되는 구성이어도 된다. 즉, 각 부착부(42b)는 가압부(42)의 단부 근방에 설치되어 있어도 된다. 한편, 못부(44a)는, 못 관통 시험용 지그(44)가 가압부(42)에 고정되었을 때에, 가압부(42)의 중앙에 위치하도록 배치되어 있다. 이 구성에서는, 부착부(42b)는, 전지 B에 간섭하지 않는 위치에 설치되어 있다. 예를 들면, 서로 이웃하는 부착부(42b)의 간격이, 전지 B의 폭보다 길어져 있다. 따라서, 압괴 시험 시에 부착부(42b)가 전지 B의 압괴에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다.
복수의 부착부(42b)가 설치되는 경우, 수나사부(44b)는, 못부(44a)에 대해 회전 가능하게 설치되어 있으면 된다. 즉, 못 관통 시험용 지그(44)는, 수나사부(44b) 및 머리부(44d)를 가지는 고정구(44e)를 구비하고 있으며, 이 고정구(44e)는, 판형상으로 형성된 기초부(44c)의 단부 근방에 형성된 삽입 통과 구멍에 삽입 통과된다. 이 고정구(44e)의 머리부(44d)를 돌림으로써, 수나사부(44b)가 부착부(42b)에 나사식 결합된다. 이것에 의해, 못 관통 시험용 지그(44)가 가압부(42)에 유지된다. 도 4에서는, 고정구(44e)의 머리부(44d)가 기초부(44c)의 하측으로 돌출되어 있다. 이 대신에, 고정구(44e)의 머리부(44d)가 기초부(44c) 내에 들어가도록, 기초부(44c)에 머리부(44d)를 수용하는 오목부가 형성되어 있어도 된다.
도 3에 나타내는 예에서는, 부착부(42b)가 암나사부를 가지는 구성이 나타나 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 못 관통 시험용 지그(44)에 수나사부(44b) 대신에 기둥형상의 볼록부가 형성되어 있으며, 부착부(42b)는, 볼록부가 딱 들어가는 크기의 구멍에 의해 구성되어 있어도 된다. 이 경우, 볼록부가 마찰로 부착부(42b)로부터 떨어지지 않도록 할 수도 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 볼록부를 조금 돌림으로써 볼록부가 부착부(42b)에 걸어 맞춰지는 수단이 설치되어 있어도 된다.
한편, 도 4에 나타내는 예 대신에, 부착부(42b)는, 가압부(42)의 하면에 설치된 레일에 의해 구성되어 있어도 된다. 이 경우, 못 관통 시험용 지그(44)에는, 레일을 따라 슬라이드할 수 있는 형상의 걸어 맞춤부가 형성되어 있는 구성이어도 된다. 이 경우, 못 관통 시험용 지그(44)를 측방으로 슬라이드시킴으로써, 못 관통 시험용 지그(44)를 가압판(16)에 부착할 수 있다. 또, 가압판(16)에 못 관통 시험용 지그(44)를 고정하는 고정구로서, 가압판(16)과 못 관통 시험용 지그(44)의 기초부(44c)를 협지하는 협지구가 이용되는 경우에는, 부착부(42b)를 생략하는 것도 가능하다.
가이드 샤프트(30)는, 가압판(16)의 흔들림을 방지하는 부재로서도 기능한다. 가압판(16)(가압부(42) 및 개재부(41))에는, 가이드 샤프트(30)를 삽입 통과시키는 삽입 통과 구멍이 형성되어 있다. 삽입 통과 구멍은 가이드 샤프트(30)의 수에 따른 수만큼 설치되어 있다. 가압판(16)은, 예를 들면 평면에서 보았을 때에 직사각형형상으로 형성되어 있으며, 삽입 통과 구멍은, 대향하는 한 쌍의 변의 중앙부 근방에 각각 형성되어 있다. 가이드 샤프트(30)가 가압판(16)의 삽입 통과 구멍에 삽입 통과되어 있기 때문에, 가압판(16)이 전지 B의 폭발 등의 충격을 받았을 때에도, 가압판(16)의 흔들림을 방지할 수 있다. 또한, 가이드 샤프트(30)는, 2개가 아니라, 4개 설치되어 있어도 된다. 이 경우, 가압판(16)의 삽입 통과 구멍은, 네 코너의 근방에 형성된다.
도 5에 나타내는 바와 같이, 외부 단락 시험을 행할 때에는, 가압판(16)이 가이드 샤프트(30)로부터 떼어내짐과 함께 가이드 샤프트(30)가 가대(14)로부터 떼어내진다. 그리고 시험실(21)의 천정부(25a)에 형성된 제1 삽입 통과 구멍(25b)에는, 버스 바 등의 배선 중계 모듈(54)이 삽입 통과되어도 된다. 이때, 제2 삽입 통과 구멍(25c)에는 도시 생략한 캡이 씌워져 막아진다. 또한, 배선 중계 모듈(54)은, 제1 삽입 통과 구멍(25b)이 아니라, 측부(25d)의 연통 구멍(25e)에 삽입 통과되어도 된다. 이 경우, 가이드 샤프트(30)를 가대(14)로부터 떼어내지 않아도 된다.
또, 시험조(12)와 가대(14)의 상면부(14a) 사이에는, 틀형상 부재(56)가 설치되어도 된다. 이 틀형상 부재(56)는, 시험조(12)와 가대(14) 사이의 간극을 막아, 배선 중계 모듈(54)에 사람 손이 닿지 않도록 하기 위한 것이다.
배선 중계 모듈(54)의 내단부는, 배선에 의해 전지 B와 전기적으로 접속되며, 외단부는, 배선에 의해 외부 단락 시험 장치(60)와 전기적으로 접속된다. 외부 단락 시험 장치(60)에 의해, 전지 B가 외부 단락된 상태를 만들어 내는 시험을 행할 수 있다. 배선 중계 모듈(54)의 외단부에, 도면 밖의 충방전 시험 장치를 전기적으로 접속해도 된다. 이렇게 하면, 전지 B를 정해진 조건(전압, 전류 등)으로 충전 및 방전하는 충방전 시험을 행할 수 있다. 또한, 도 1에 나타내는 상태로 측부(25d)의 연통 구멍(25e)에 배선 중계 모듈(54)을 설치하고, 전지 B의 충방전을 행하면서 압괴 시험을 행하는 것도 가능하다.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시 형태에서는, 가압판(16)에 못 관통 시험용 지그(44)를 부착 가능한 부착부(42b)가 설치되어 있기 때문에, 못 관통 시험용 지그(44)를 부착할 때에 있어서, 가압판(16)을 떼어낼 필요가 없다. 이 때문에, 전지 B의 압괴 시험을 행할 때에는, 못 관통 시험용 지그(44)가 떼어진 가압판(16)을 구동부(18)에 의해 이동시켜 전지 B를 가압하면 되고, 또, 못 관통 시험을 행할 때에는, 가압판(16)에 못 관통 시험용 지그(44)가 부착된 상태로 가압판(16)을 이동시키면 된다. 따라서, 가압판(16)을 떼어낼 필요는 없기 때문에, 시험의 준비 작업의 부담을 경감할 수 있다. 가압판(16)은 중량물이기 때문에, 가압판(16)을 떼어내는 작업은 위험한 작업이다. 이 때문에, 가압판(16)을 떼어내는 작업을 생략할 수 있음으로써, 준비 작업의 부담을 경감할 수 있다. 또한, 못 관통 시험에 있어서, 전지 B가 폭발했을 때에 가압판(16)을 방호판(격벽)으로서 기능시킬 수 있다. 이 때문에, 못 관통 시험 시에 시험조(12) 내가 데미지를 받는 것을 억제할 수 있다.
또 본 실시 형태에서는, 못 관통 시험용 지그(44)를 가압판(16)으로부터 떼어냈을 때에는, 암나사부를 마개 부재(50)로 막음으로써, 가압판(16)의 가압면에 오목형상의 부위가 남는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 압괴 시험 시에, 암나사부가 노출되는 것에 의한 악영향을 배제할 수 있다.
또 본 실시 형태에서는, 가압판(16)의 흔들림을 방지하는 가이드 샤프트(30)가 설치되어 있기 때문에, 가압판(16)이, 못 관통 시험 시에 전지 B가 폭발한 충격을 받았다고 해도, 흔들리는 것을 방지할 수 있다. 이 때문에, 가압판(16)을 구동하기 위한 로드(18b) 등의 구동부(18)가 데미지를 받는 것을 방지할 수 있다. 또, 전지 B의 상면에 요철이 있는 경우에도, 로드(18b)에 편하중이 걸리는 것을 방지할 수 있으며, 또 로드(18b)가 구부러지는 것을 방지할 수 있다. 또, 구동부(18)에 의해 가압판(16)을 이동시킬 때에 가이드 샤프트(30)에 의해 가압판(16)을 안내할 수 있다. 시험 시에는, 가압판(16)이 가이드 샤프트(30)를 따라 서서히 하측을 향해 이동하게 되지만, 가압판(16)이 어느 위치에 있는 경우에도 가이드 샤프트(30)가 가압판(16)의 삽입 통과 구멍에 삽입 통과되어 있다. 이 때문에, 가압판(16)의 위치에 상관없이, 전지 B의 폭발의 충격에 의한 가압판(16)의 흔들림을 가이드 샤프트(30)에 의해 억제할 수 있다.
또 본 실시 형태에서는, 가이드 샤프트(30)를 가대(14)로부터 떼어내어 시험조(12)의 제1 삽입 통과 구멍(25b)으로부터 꺼낼 수 있다. 이 상태에 있어서, 천정부(25a)의 제1 삽입 통과 구멍(25b)에는, 예를 들면 배선 중계 모듈(54), 배선 등을 삽입할 수 있다. 따라서, 못 관통 시험, 압괴 시험뿐만이 아니라, 외부 단락 시험, 충방전 시험 등을 행할 수 있다. 또, 측부(25d)의 연통 구멍(25e)에, 예를 들면 배선 중계 모듈(54), 배선 등을 삽입할 수도 있다.
또 본 실시 형태에서는, 로드(18b)에 체결되는 개재부(41)에 가압부(42)가 겹쳐지는 구성으로 되어 있다. 이 때문에, 가압판(16)의 개재부(41)를 로드(18b)에 체결하기 위한 체결구(46)가, 가압부(42)의 가압면에 노출되지 않도록 할 수 있다. 또한, 가압부(42)에 오목부(42a)가 형성되어 있기 때문에, 체결구(46)의 머리부(46b)가 가압부(42)에 간섭하는 것을 방지할 수 있다.
또 본 실시 형태에서는, 가압판(16)이 로드(18b)의 선단면에 설치된 고정부(18d)의 하면에 접촉하고 있기 때문에, 가압판(16)이 흔들리는 것을 방지할 수 있다. 즉, 가압판(16)이 로드(18b)의 선단면에 면접촉한 상태로 로드(18b)에 고정되어 있기 때문에, 예를 들면 전지 B의 폭발의 충격을 받아 가압판(16)이 흔들리려고 해도, 로드(18b)의 선단면에 의해 그것을 방지할 수 있다.
또한, 본 발명은, 상기 실시 형태에 한정되는 것이 아니라, 그 취지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변경, 개량 등이 가능하다. 예를 들면, 가대(14)를 생략해도 된다. 이 경우, 가이드 샤프트(30)는, 시험조(12)의 천정부(25a)에 매달려지며, 구동부(18)의 실린더(18a)도 시험조(12)의 천정부(25a)에 고정된다. 이 경우, 실린더(18a)도 시험실(21) 내에 배치되는 경우가 있다. 전지 B가 폭발했을 때에 파편이 비산하는 경우가 있지만, 이 경우에도, 가압판(16)이 방호벽이 되어, 실린더(18a)의 슬라이딩부에 파편이 물리는 것을 방지할 수 있다.
상기 실시 형태에서는, 가압판(16)이, 서로 별체로 구성된 개재부(41)와 가압부(42)를 가지는 구성으로 했지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 가압판(16)은, 1개의 판재로 구성되어 있어도 된다.
상기 실시 형태에서는, 가압부(42)에, 체결구(46)의 머리부(46b)가 수납되는 오목부(42a)가 형성된 구성으로 했지만, 예를 들면 체결구(46)의 머리부(46b)가 개재부(41)로부터 돌출되지 않는 경우에는, 오목부(42a)를 생략할 수도 있다.
여기서, 상기 실시 형태에 대해서, 개략 설명한다.
(1) 상기 실시 형태는, 시험조 내에 배치된 전지의 시험을 행하는 전지 시험 장치로서, 전지의 압괴 시험 시에 상기 전지를 가압하기 위한 가압판과, 상기 가압판을 이동시키기 위한 구동력을 발생시키는 구동부를 구비한다. 상기 가압판에는, 못 관통 시험용 지그를 부착 가능하다.
상기 실시 형태에서는, 가압판에 못 관통 시험용 지그를 부착 가능하기 때문에, 못 관통 시험용 지그를 부착할 때에 있어서, 가압판을 떼어낼 필요가 없다. 이 때문에, 전지의 압괴 시험을 행할 때에는, 구동부에 의해 가압판을 이동시켜 전지를 가압하면 되고, 또, 못 관통 시험을 행할 때에는, 가압판에 못 관통 시험용 지그가 부착된 상태로 가압판을 이동시키면 된다. 따라서, 가압판을 떼어낼 필요는 없기 때문에, 시험의 준비 작업의 부담을 경감할 수 있다. 가압판은 중량물이기 때문에, 가압판을 떼어내는 작업은 위험한 작업이다. 이 때문에, 가압판을 떼어내는 작업을 생략할 수 있음으로써, 준비 작업의 부담을 경감할 수 있다. 또한, 못 관통 시험에 있어서, 전지가 폭발했을 때에 가압판을 방호판(격벽)으로서 기능시킬 수 있다. 이 때문에, 못 관통 시험 시에 시험조 내가 데미지를 받는 것을 억제할 수 있다.
(2) 상기 가압판은, 상기 못 관통 시험용 지그에 설치된 볼록형상의 피부착부를 장착 가능한 오목형상의 부착부를 가지고 있어도 된다. 이 경우, 상기 부착부를 막기 위한 마개 부재를 구비하고 있어도 된다.
이 양태에서는, 못 관통 시험용 지그의 볼록형상의 피부착부를 가압판의 오목형상의 부착부에 장착함으로써, 못 관통 시험용 지그를 가압판에 부착할 수 있다. 또, 못 관통 시험 지그를 가압판으로부터 떼어냈을 때에는, 부착부를 마개 부재로 막음으로써, 가압판의 가압면에 오목부가 남는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 압괴 시험 시에, 부착부가 노출되는 것에 의한 악영향을 배제할 수 있다.
(3) 상기 가압판은, 상기 못 관통 시험용 지그를 부착 가능한 부착부를 가지고 있어도 된다. 이 경우, 상기 부착부는, 압괴 시험 시에 시험 대상이 되는 전지에 간섭하지 않는 위치에 설치되어 있어도 된다. 이 양태에서는, 부착부가 가압판의 가압면에 대해 평탄하게 되어 있지 않다고 해도, 부착부가 압괴 시험 시에 악영향을 미치는 것을 방지할 수 있다.
(4) 상기 가압판의 흔들림을 방지하는 가이드 샤프트를 구비하고 있어도 된다. 이 양태에서는, 가압판의 흔들림을 방지하는 가이드 샤프트가 설치되어 있기 때문에, 가압판이, 못 관통 시험 시에 전지가 폭발한 충격을 받았다고 해도, 흔들리는 것을 방지할 수 있다. 이 때문에, 가압판을 구동하기 위한 구동부가 데미지를 받는 것을 방지할 수 있다. 또, 구동부에 의해 가압판을 이동시킬 때에 가이드 샤프트에 의해 가압판을 안내할 수 있다. 시험 시에는, 가압판이 가이드 샤프트를 따라 서서히 이동하게 되지만, 가압판의 위치에 상관없이, 전지의 폭발의 충격에 의한 가압판의 흔들림을 가이드 샤프트에 의해 억제할 수 있다.
(5) 상기 시험조에는, 상기 가이드 샤프트를 삽입 통과 가능한 삽입 통과 구멍이 형성되어 있어도 된다. 이 경우, 상기 가이드 샤프트는, 상기 시험조 밖에 배치된 고정체에 착탈 가능하게 구성되어 있어도 된다.
이 양태에서는, 가이드 샤프트를 고정체로부터 떼어내어 시험조의 삽입 통과 구멍으로부터 꺼낼 수 있다. 이 상태에 있어서, 삽입 통과 구멍에는, 예를 들면 배선 중계 모듈, 배선 등을 삽입할 수 있다. 따라서, 못 관통 시험, 압괴 시험뿐만이 아니라, 외부 단락 시험, 충방전 시험 등을 행할 수 있다.
(6) 상기 시험조에는, 상기 시험조 내의 공간과 외부를 연통시키는 연통 구멍이 형성되어 있어도 된다. 이 경우, 상기 연통 구멍에 착탈 가능한 덮개체가 설치되어 있어도 된다.
이 양태에서는, 연통 구멍에, 예를 들면 배선 중계 모듈, 배선 등을 삽입할 수 있다. 따라서, 못 관통 시험, 압괴 시험뿐만이 아니라, 외부 단락 시험, 충방전 시험 등을 행할 수 있다.
(7) 상기 구동부는, 직선적으로 이동 가능한 로드를 가지고 있어도 된다. 이 경우, 상기 가압판은, 체결구에 의해 상기 로드에 체결되는 개재부와, 상기 전지를 가압하는 가압면을 가지며, 상기 개재부에 유지되는 가압부를 가지고 있어도 된다.
이 양태에서는, 가압판이 로드에 체결되는 개재부와, 개재부에 유지되는 가압부를 가지고 있으므로, 개재부를 로드에 체결하기 위한 체결구를 가압부에 의해 숨길 수 있다. 따라서, 체결구가 가압면에 노출되지 않도록 할 수 있다.
(8) 상기 체결구는, 머리부를 가져도 된다. 이 경우, 상기 개재부는, 상기 체결구의 상기 머리부와 상기 로드 사이에 협지되어도 된다. 또, 상기 가압부에는, 상기 체결구의 상기 머리부를 수용하는 오목부가 형성되어 있어도 된다.
이 양태에서는, 가압부에 오목부가 형성되어 있기 때문에, 체결구의 머리부가 가압부에 간섭하는 것을 방지할 수 있다.
(9) 상기 구동부는, 직선적으로 이동 가능한 로드를 가져도 된다. 이 경우, 상기 가압판은, 상기 로드의 선단면에 접촉한 상태로, 체결구에 의해 상기 로드에 체결되어 있어도 된다.
이 양태에서는, 가압판이 로드의 선단면에 설치된 고정부에 접촉하고 있기 때문에, 가압판이 흔들리는 것을 방지할 수 있다. 즉, 가압판이 로드의 선단면에 면접촉한 상태로 로드에 고정되어 있기 때문에, 예를 들면 전지의 폭발의 충격을 받아 가압판이 흔들리려고 해도, 로드의 선단면에 의해 그것을 방지할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시 형태에 관련된 전지 시험 장치에 의하면, 시험의 준비 작업의 부담을 경감할 수 있다.

Claims (9)

  1. 시험조 내에 배치된 전지의 시험을 행하는 전지 시험 장치로서,
    전지의 압괴 시험 시에 상기 전지에 직접 접촉하여 상기 전지를 가압하는 가압판과,
    상기 가압판을 이동시키기 위한 구동력을 발생시키는 구동부를 구비하고,
    상기 가압판에는 못 관통 시험용 지그를 부착 가능한, 전지 시험 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 가압판은, 상기 못 관통 시험용 지그에 설치된 볼록형상의 피부착부를 장착 가능한 오목형상의 부착부를 가지고 있으며,
    상기 부착부를 막기 위한 마개 부재를 구비하고 있는, 전지 시험 장치.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 가압판은, 상기 못 관통 시험용 지그를 부착 가능한 부착부를 가지고 있으며,
    상기 부착부는, 압괴 시험 시에 시험 대상이 되는 전지에 간섭하지 않는 위치에 설치되어 있는, 전지 시험 장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 가압판의 흔들림을 방지하는 가이드 샤프트를 구비하고 있는, 전지 시험 장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 시험조에는, 상기 가이드 샤프트를 삽입 통과 가능한 삽입 통과 구멍이 형성되어 있으며,
    상기 가이드 샤프트는, 상기 시험조 밖에 배치된 고정체에 착탈 가능하게 구성되어 있는, 전지 시험 장치.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 시험조에는, 상기 시험조 내의 공간과 외부를 연통시키는 연통 구멍이 형성되어 있으며,
    상기 연통 구멍에 착탈 가능한 덮개체가 설치되어 있는, 전지 시험 장치.
  7. 청구항 1 내지 청구항 6 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 구동부는, 직선적으로 이동 가능한 로드를 가지고 있으며,
    상기 가압판은, 체결구에 의해 상기 로드에 체결되는 개재부와, 상기 못 관통 시험용 지그를 부착 가능한, 상기 전지를 가압하는 가압면을 가지며, 상기 개재부에 유지되는 가압부를 가지는, 전지 시험 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 체결구는 머리부를 가지며,
    상기 개재부는, 상기 체결구의 상기 머리부와 상기 로드 사이에 협지되고,
    상기 가압부에는, 상기 체결구의 상기 머리부를 수용하는 오목부가 형성되어 있는, 전지 시험 장치.
  9. 청구항 1 내지 청구항 6 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 구동부는, 직선적으로 이동 가능한 로드를 가지고 있으며,
    상기 가압판은, 상기 로드의 선단면에 접촉한 상태로, 체결구에 의해 상기 로드에 체결되어 있는, 전지 시험 장치.
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