KR101859262B1 - 식별 방법, 식별 시스템, 식별 장치, 및 프로그램 - Google Patents

식별 방법, 식별 시스템, 식별 장치, 및 프로그램 Download PDF

Info

Publication number
KR101859262B1
KR101859262B1 KR1020157028429A KR20157028429A KR101859262B1 KR 101859262 B1 KR101859262 B1 KR 101859262B1 KR 1020157028429 A KR1020157028429 A KR 1020157028429A KR 20157028429 A KR20157028429 A KR 20157028429A KR 101859262 B1 KR101859262 B1 KR 101859262B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
product
textured pattern
image
identification
component
Prior art date
Application number
KR1020157028429A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20150128934A (ko
Inventor
루이 이시야마
Original Assignee
닛본 덴끼 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 닛본 덴끼 가부시끼가이샤 filed Critical 닛본 덴끼 가부시끼가이샤
Publication of KR20150128934A publication Critical patent/KR20150128934A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101859262B1 publication Critical patent/KR101859262B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G06K9/00577
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V20/00Scenes; Scene-specific elements
    • G06V20/80Recognising image objects characterised by unique random patterns
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00Pattern recognition
    • G06F18/20Analysing
    • G06F18/24Classification techniques
    • GPHYSICS
    • G07CHECKING-DEVICES
    • G07DHANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D7/00Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
    • G07D7/20Testing patterns thereon
    • G07D7/202Testing patterns thereon using pattern matching

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
  • Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
  • Evolutionary Biology (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)

Abstract

부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하는, 본 식별 방법은, 조회 영역 상에 형성되는 질감형 패턴을 사용하여, 부품, 생산품, 또는 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별한다.

Description

식별 방법, 식별 시스템, 식별 장치, 및 프로그램{IDENTIFICATION METHOD, IDENTIFICATION SYSTEM, IDENTIFICATION DEVICE AND PROGRAM}
 본 발명은, 식별 방법, 식별 시스템, 식별 장치, 및 프로그램에 관한 것이다.
최근, 품질 제어 및 유통 관리를 위해서, 부품 및/또는 생산품을, 금형이나 로트 단위로, 또는 개체 단위로 대조/식별하는 요구가 높아지고 있다.
따라서, 부품 및/또는 생산품의 생산으로부터 시작하여 물류, 판매 등에 이르는 종합적인 상품 관리, 및 상품으로서의 부품 및/또는 생산품의 분실, 도난, 위조 등의 방지를 달성하기 위해, 무선 통신 기술에 의한 데이터 통신을 위한 RFID가 부품 및/또는 생산품에 내장된다.
예를 들어, 특허문헌 1에 개시되는 기술은, 물품에 RFID 칩을 장착하는 것을 포함한다. 이러한 구성에 의하면, RFID 칩 내의 메모리에 저장되는 데이터가, 상품 물류 관리, 제조물 이력 관리, 진위 판정 등을 위한 대조를 수행하는데 사용될 수 있다.
또한, 특허문헌 2에는, RFID 칩과 같은 특별한 장치를 장착하지 않고, 상품의 표면 내의 소정의 영역에 미세한 요철부를 형성하는 것, 및 이러한 요철부를 대조하여 상품의 진위 판정을 달성하는 것을 포함하는 발명이 제안되고 있다.
특허문헌 1 : 일본 미심사 특허 출원 공보 2008-9539호 특허문헌 2 : 일본 미심사 특허 출원 공보 2008-133495호
그러나, 특허문헌 1에 따른 기술은, 관리 대상인 각각의 및 모든 제품에 RFID 칩이 장착되어야 하기 때문에 상당히 비싸다는 문제점을 제기한다. 또한, 버튼, 리벳, 잠금 부품 등과 같은 작은 물품에는, RFID 칩과 같은 특별한 장치는 물론이고, 통상의 태그조차 장착될 수 없다.
또한, 상품 디자인 및 금속 가공과 같은 기술의 최근 진보로부터, 부품 또는 생산품과 같은 상품의, 특히, 금속 부분 등의 매끄러운 표면에 대해 선호하는 경향이 있다. 따라서, 특허문헌 2에 따른 기술에서와 같이, 상품 생산품의 표면 상에 식별용의 요철부가 형성될 때, 부품 및/또는 생산품과 같은 상품의 디자인이 손상된다는 문제점이 발생한다.
또한, 특허문헌 2에 따른 기술에서, 식별용의 요철부는 미세한 것이며, 이는 단지 식별용 요철부에만 의존하여 어느 부분을 대조용 대조 영역으로서 촬영할지를 판정하는 것이 어렵다는 문제점을 제기한다.
따라서, 본 발명은 위에 설명된 문제점들을 감안하여 이루어진 것으로서, 그 목적은, IC 태그와 같은 특별한 장치가 요구되지 않고, 부품 및/또는 생산품의 디자인을 손상시키지 않고도 부품 및/또는 생산품의 식별을 가능하게 하도록 대조 영역이 용이하게 배치될 수 있는, 식별 방법, 식별 시스템, 식별 장치 및 프로그램을 제공하는 것이다.
본 발명은, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴(textured pattern)을 사용하여, 상기 부품, 상기 생산품 또는 상기 부품을 그 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하는 단계를 포함하는 식별 방법이다.
본 발명은, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징이 저장되는 화상 특징 저장부; 및 식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 화상 특징 저장부에 저장되는 화상 특징과 대조하여, 상기 식별 대상인 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하도록 구성되는 식별부를 포함하는 식별 시스템이다.
본 발명은, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 제1 화상, 및 식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 제2 화상을 취득하도록 구성되는 취득부; 및 상기 제1 화상을 상기 제2 화상과 대조하여, 대조 결과를 출력하도록 구성되는 출력부를 포함하는 대조 장치이다.
본 발명은, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리를 적용하고, 대조용 질감형 패턴을 형성하도록 구성되는 질감형 패턴 형성부; 질감형 패턴이 형성된 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 부품 또는 상기 생산품의 골격 부분의 대조 영역에서의 질감형 패턴을, 소정의 촬영 조건 아래에서 촬영하도록 구성되는 촬영부; 및 상기 부품 또는 상기 생산품을 식별하는 식별 정보를, 상기 촬영된 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을 대응시켜, 저장부에 등록하도록 구성되는 등록부를 포함하는 등록 장치이다.
본 발명은, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 제1 화상, 및 식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 제2 화상을 취득하는 취득 처리; 및 상기 제1 화상을 상기 제2 화상과 대조하여, 대조 결과를 출력하는 대조 처리를 컴퓨터에 실행시키는 프로그램이다.
본 발명은, 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 부품 또는 생산품을 식별하기 위한 대조용 질감형 패턴이 형성되는 부품 또는 생산품이다.
본 발명은, IC 태그와 같은, 특별한 장치를 요구하지 않으며, 부품들 및/또는 생산품들의 디자인을 손상시키지 않고도, 부품 및/또는 생산품들을 식별하기 위해 대조 영역을 용이하게 배치할 수 있다.
도 1은 식별 마크의 골격 부분을 설명하는 도면이다.
도 2는 제1 실시예의 블럭도이다.
도 3은 제1 실시예를 설명하는 도면이다.
도 4는 제1 실시예를 설명하는 도면이다.
도 5는 제1 실시예에 사용되는 촬영 보조 디바이스 및 촬영 장치를 설명하는 도면이다.
도 6은 제1 실시예에 사용되는 촬영 보조 디바이스 및 촬영 장치를 설명하는 도면이다.
도 7은 제2 실시예의 블럭도이다.
도 8은 화상 특징 데이터베이스(103)의 일 예를 도시하는 도면이다.
도 9는 제3 실시예의 블럭도이다.
도 10은 화상 특징 데이터베이스(203)의 일 예를 도시하는 도면이다.
도 11은 제4 실시예의 블럭도이다.
도 12는 화상 특징 데이터베이스(303)의 일 예를 도시하는 도면이다.
도 13은 제5 실시예의 블럭도이다.
본 발명은, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴을 사용하여, 부품, 생산품, 또는 이러한 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하는 것을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이제, 본 실시예들에서 사용되는 용어들이 설명될 것이다.
부품이란 용어는, 제조업자에 의해 생산되는 부품을 말하며, 예를 들어, 생산품들 및/또는 제조자들에 대한 식별 마크로서 역할을 하는 로고 플레이트 및 엠블럼, 뿐만 아니라 식별 마크를 내부에 일반적으로 포함하는 것들을 포함한다. 예를 들어, 이들은 잠금 부품들(리벳들, 슬라이더 지퍼들, 후크-앤드-루프 파스너들(hook-and-loop fasteners), 스냅 파스너들, 레일 지퍼들, 버클들, 코드 스토퍼들, 벨트 조절기들, 회전 걸쇠들(swivel clasps), 스냅 버튼들, 버튼들 등), 볼트들, 못들, 반도체 칩들의 패키지들 또는 하우징들, 플라스틱 부품들, 및 (자동차 또는 자전거 등을 위한) 기어들, 프레임들, 베어링들 및 휠들을 포함하는 기계 부품들을 포함한다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 부품은, 반드시 다른 부품 또는 생산품에 일체형으로/끊임없이 고정될 필요는 없고, 컨테이너들(캔들, 캡들, 배터리 케이스들 등), 봉인들, 및 라벨들(금속 클립 등)과 같은, 일시적 봉인 또는 고정을 위한 것들을 포함할 수 있다.
또한, 생산품이란 용어는, 제조업자들에 의해 생산되고 소비자들에 의해 구입되는 것들을 말하며, 예를 들어, 가방들 및 옷들과 같은 의류 생산품들, 시계들, 장신구, 가죽 상품들, 가공된 금속 생산품들(창틀들과 같은 건축 재료들, 열쇠들, 렌치들이나 소켓 렌치들과 같은 공구들, 시계들, 골프 클럽 등), 목공 생산품들, 및 산업 생산품들(예를 들어, 반도체 칩들, 이들을 포함하는 전자 디바이스들 등)을 포함한다.
부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품이란 용어는 상술된 부품이 장착된 생산품을 말한다. 예를 들어, 이는 로고 플레이트나 잠금 부품(부품)이 장착된 가방(생산품)을 포함한다.
식별 마크란 용어는, 문자들, 도형들, 심볼들, 3차원 형상들 또는 이들의 조합, 또는 이들과 색채들과의 조합들을 말하며, 이들은 부품 또는 생산품을 식별하기 위해서 장착된다. 식별 마크의 예들은, 상표, 로고, 제조자명, 제조 회사명, 브랜드명, 생산품명, 일련 번호, 제품 번호를 포함한다.
식별 마크의 골격 부분이란 용어는, 식별 마크를 식별하기 위해 인간의 지각들에 의해 식별되는 대상으로서 역할을 할 수 있는 식별 마크의 주요 형상의 부분을 말하며, 종종 착색 부분 또는 전경 부분이라고 불리운다. 예를 들어, 도 1에 도시한 바와 같은 식별 마크(1)가 존재한다고 가정하면, 식별 마크(1)는, "XYZ"의 문자 부분(1a)과, "XYZ"의 문자 부분(1a)을 둘러싸는 프레임 라인 부분(1b), 평면 부분(1c)으로 이루어진다. 이러한 부분들 중, 식별 마크를 식별하기 위해 인간의 지각들에 의해 인식되는 대상으로서 역할을 할 수 있는 부분, 즉, 식별 마크(1)의 골격 부분은, "XYZ"의 문자 부분(1a) 및 프레임 라인 부분(1b)이다. 골격 부분이 반드시 골격 부분 이외의 부분들, 예를 들어, 질감형(직물) 부분에 대해 물리적 요철부들을 갖는 3차원일 필요는 없고, 다른 부분들과 유사하게 평면일 수 있다는 점에 주의하여야 한다.
대조 영역이란 용어는, 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 말한다. 환언하면, 전체 골격 부분 또는 골격 부분의 일부만이 대조 영역으로서 정의될 수 있다. 도 1의 예에서는, 문자 부분(1a) 및 프레임 라인 부분(1b)이, 예를 들어, 대조 영역일 수 있거나, 문자 부분(1a) 또는 프레임 라인 부분(1b)만이 대조 영역일 수 있다. 또한, 문자 부분(1a) 또는 프레임 라인 부분(1b)의 일부만이 대조 영역일 수 있다.
식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴이란 용어는, 식별 마크의 골격 부분의 디자인으로서 형성되는 질감형 패턴을 포함하며, 또한, 부품 또는 생산품을 식별하기 위해 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 의도적으로 형성되는 질감형 패턴을 포함한다. 이는 식별 마크의 골격 부분의 모두에 질감형 패턴이 형성될 때에도 대조 영역에서의 질감형 패턴만이 사용되는 경우를 더 포함한다.
이제, 구체적인 실시예들이 이하 설명될 것이다.
(제1 실시예)
본 발명의 제1 실시예가 설명될 것이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예의 블럭도이다.
본 발명의 제1 실시예의 식별 시스템은, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징이 저장되는 화상 특징 저장부(10); 및 식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 화상 특징 저장부(10)에 저장되는 화상 특징과 대조하여, 식별 대상인 부품, 생산품, 또는 이러한 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하는 식별부(11)를 포함한다.
이하의 설명은, 도 3에 도시된 바와 같이, 부품이 로고 플레이트(2)이며, 이러한 로고 플레이트(2)를 구성 요소들 중 하나로서 갖는 가방(3), 즉, 로고 플레이트(2)가 장착된 가방(3)이 식별 대상인 경우를 다룰 것이다. 그러므로, 도 4에 도시된 바와 같이, 로고 플레이트(2)의 식별 마크(1)의 골격 부분 내에서 문자 "X"의 부분이 대조 영역(4)으로서 지정되고, 이러한 영역에 질감형 패턴이 형성된다고 가정하자. 그러나, 대조 영역(4)은, 전체 문자 "X" 보다는 오히려, 문자 "X"의 일부에 지정될 수 있다.
그러므로, 식별 마크의 골격 부분에 형성되는 질감형 패턴을 만드는 가능한 처리 방법들은 일반적으로 2가지 타입들로 분류될 수 있다.
이러한 타입들 중 하나는, 부품 및/또는 생산품을 사출 성형 또는 주조에 의해 제조하기 위한 금형에 질감형 패턴을 적용하는 처리 방법이다. 금형에 대한 질감형 마무리는, 에칭 및 블라스팅을 포함하는 다양한 기술들을 사용하여 달성될 수 있다. 일반적인 기술들은 단지 질감형 표면의 입도 등을 제어를 가능하게 하지만, 각각의 및 모든 미세한 요철의 위치 및 크기를 정확히 재현하지 못하고, 처리시마다 랜덤한 패턴이 생성된다. 따라서, 동일한 물품을 제조하는 복수의 금형들이 마련되는 경우에, 각각의 금형의 질감형 마무리 영역의 미세 요철은 금형마다 상이하다. 명백히, 모조품들을 생성할 때, 일견으로는 동일한 금형을 모조하는 것은 가능하지만, 질감형 패턴의 각각의 및 모든 미세한 요철을 완전히 복제하는 것은 곤란하다. 이러한 처리 방법에 따르면, 동일한 금형으로부터 생산되는 모든 개체들에 일반적으로 동일한 질감형 패턴이 주어질 수 있다. 반대로, 다른 금형들은 그들의 질감형 패턴들의 미세 특징이 상이하다. 이러한 처리에서, 특정 금형을 사용하여 생산되는 개체들의 그룹(물품들의 그룹) 중 적어도 하나 이상이 선택되고, 그 개체의 대조 영역(4)의 질감형 패턴의 화상 특징이, 식별을 위한 기준으로서 사용할 대표치로서, 화상 특징 저장부(10)에 등록된다. 이러한 방법에 따르면, 등록되어 있는 화상 특징에 대해 소정의 유사도 이상인 화상 특징을 갖는 부품 또는 생산품은, 그 금형에 의해 질감형 패턴이 형성된 부품 또는 생산품으로서 식별될 수 있고, 이는 특정 금형으로부터 생산된 개체들의 그룹(부품들의 그룹 또는 생산품들의 그룹)이 더 적은 양의 등록된 데이터를 사용하여 대조될 수 있다는 이점을 제공한다. 또한, 식별 마크가 생성되는 금형에 적용되는 질감형 마무리는 덜 비싸고 비용이 제조 생산품들의 수에 비례하지 않기 때문에, 이러한 방법은 비용면에서 유리하다.
위 설명은, 특정 금형을 사용하여 생산되는 개체들의 그룹(물품들의 그룹) 중 적어도 하나가 선택되고, 그 개체의 대조 영역(4)의 질감형 패턴의 화상 특징이, 식별을 위한 기준으로서 사용되는 대표치로서 화상 특징 저장부(10)에 등록되는 경우를 다루지만, 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 질감형 부분(부품 등에 질감형 처리를 적용하는 부분)의 금형의 화상이 화상 특징 저장부(10)에 등록용으로 취득될 수 있다. 이 경우, 금형에 의한 질감형 처리의 적용에 의해 형성되는 부품 등의 질감형 패턴의 요철 패턴은, 금형의 질감형 패턴의 요철 패턴에 대하여 반전된 요철을 갖는 반전 패턴이다. 따라서, 화상 특징 저장부(10)에 등록될 금형의 질감형 패턴(부품 등에 질감형 처리를 적용하는 부분)의 화상은, 그 화상의 휘도값들이 반전된 화상(화상 특징)이다. 따라서, 부품 등의 개체의 대조 영역(4)의 질감형 패턴의 화상이 대조 중 변형없이 사용될 수 있다.
대안적으로, 화상 특징 저장부(10)에 등록될 금형의 질감형 패턴(부품 등에 질감형 처리를 적용하는 부분)의 화상은, 그 휘도값을 반전시키지 않고 그대로 등록될 수 있고, 부품 등의 개체의 대조 영역(4)의 질감형 패턴의 화상의 휘도값이 대조 중 반전될 수 있다.
다른 타입의 방법들은, 에칭, 블라스팅, 절삭, 결정/분체 도장, 분산 도금과 같은, 각 개체에 대해 미세 랜덤 요철 패턴을 생성하는 처리, 또는 도금 또는 도장에 의한 미세 평면 요철의 생성에 의한 질감형 처리를 포함한다. 이러한 처리에 의하면, 형성된 질감형 패턴은 개체마다 상이하다. 따라서, 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징은 각 개체에 대해(각 부품 또는 생산품에 대해) 화상 특징 저장부(10)에 등록된다. 본 방법은, 개체마다(부품 또는 생산품마다) 질감형 패턴이 상이하기 때문에, 대조(식별)가 부품 또는 생산품의 각 개체에 대해 달성될 수 있다는 이점을 제공할 수 있다.
또한, 위에 설명된 2가지 타입들의 방법들은, 금형에 의한 질감형 처리를 받는 부분에 위에 설명된 도장 또는 도금을 더욱 적용하도록 조합될 수 있고, 이에 의하면 식별성을 더욱 향상시키는 개체들간 미세 요철의 차별화가 촉진될 수 있다. 그 때, 금형마다 특징의 차이들을 그대로 유지하면서 개체마다 특징의 차이들이 추가의 마무리에 의해 추가적으로 제공되어, 금형 기반의 식별 및 개체 기반의 식별 양자 모두가 가능하게 된다. 특히, 금형에 적용된 질감형 마무리의 요철의 치수들은 차후 질감형 마무리보다 더 거칠게 될 수 있고, 이에 의해 개체들간 차이들보다 더 큰 금형들간 차이를 달성한다. 따라서, 각 개체의 식별 중에 보다 각 금형의 식별 중에 대조시(식별시) 특징량의 유사도의 더 낮은 임계치가 설정될 수 있어, 위에 설명된 바와 같이, 더 적은 양의 등록된 데이터를 사용하여 대조할 수 있게 한다. 또한, 이러한 이점은, 대조될 데이터의 수를 감소시키도록 금형 기반의 식별을 먼저 수행하고, 그 후, 개체의 식별을 수행하는 것을 포함하는 계층적 식별 처리를 달성하는데 긍정적으로 사용될 수 있고, 이는 식별 처리의 부담의 감소를 가능하게 한다.
다음으로, 대조 영역에서의 질감형 패턴의 촬영, 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징의 추출, 및 화상 특징 저장부(10)로의 등록이 설명될 것이다; 본 실시예에 따르면, 문자 "X"의 부분이 대조 영역(4)으로서 지정되고, 대조 영역(4)에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징이 화상 특징 저장부(10)에 저장을 위해 미리 추출된다. 금형 기반의 질감형 처리에서는, 금형에 의해 질감형 처리를 받는 로고 플레이트(2)의 여러 샘플들이 선택되고, 로고 플레이트(2)의 샘플들의 대조 영역(4)의 질감형 패턴이 촬영 장치에 의해 촬영되거나, 또는 금형의 질감형 패턴(부품 등에 질감형 처리를 적용하는 부분)이 촬영 장치에 의해 촬영된다. 또한, 마무리에 의한 질감형 처리에서는, 대조 영역(4)의 각 로고 플레이트(2)의 질감형 패턴이 촬영 장치에 의해 촬영된다. 촬영된 질감형 패턴으로부터 화상 특징이 추출되어, 화상 특징 저장부(10)에 등록된다. 촬영 화상으로부터의 화상 특징의 추출은, 화상의 휘도값, 특징점들, 및 2치화된 화상의 선들의 변곡점들, 교점들, 단부점들 및 중심점들과 같은 지문들의 화상 특징들에 대한 추출 기술을 사용하여 추출을 수행하는 것에 의해 달성될 수 있다.
로고 플레이트(2)의 화상 특징을 화상 특징 저장부(10)에 등록함에 있어서, 로고 플레이트(2)를 구성 요소들 중 하나로서 갖는 가방(3)에 관한 관리 정보가, 로고 플레이트(2)의 화상 특징과 대응하여 등록된다. 이렇게 하는 것에 의해, 로고 플레이트(2)가 식별될 수 있으면 가방(3)이 식별될 수 있다.
이제, 식별을 위한 질감형 패턴의 화상 특징이 설명될 것이다; 동일한 부품 또는 생산품이라도, 그 부품 또는 생산품에 형성되는 질감형 패턴을 촬영할 때의 조명 조건들에 의존하여 상이한 화상 특징들을 가질 수 있다. 이는, 질감형 패턴이 미세한 요철들로 이루어지고, 요철들에 의해 생성되는 그림자들의 위치들이 광 조사의 방향에 따라 변하여, 결국 상이한 화상 특징을 초래하기 때문이다. 따라서, 화상 특징 저장부(10)에 등록되는 질감형 패턴 및 식별 대상인 부품 또는 생산품의 골격 부분의 질감형 패턴을, 유사한 조명 조건들 아래에서 촬영하는 것이 바람직하다.
따라서, 예를 들어, 부품 또는 생산품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴을 촬영하기 위한 촬영 보조 디바이스 및 촬영 장치를 사용하는 것이 바람직하다. 이제, 본 실시예에 사용되는 예시적인 촬영 보조 디바이스 및 촬영 장치가 설명될 것이다.
도 5는 본 실시예에 사용되는 촬영 보조 디바이스 및 촬영 장치를 설명하는 도면이다. 본 실시예의 촬영 보조 디바이스는, 경면 반사가 강한 미세 요철들을 갖는 피사체의 표면, 예를 들어, 대조 영역에 질감형 패턴이 있는 질감형 표면의 촬영을 돕기 위한 것이며, 이러한 디바이스는, 광을 조사하는 광원부(20), 및 부품 또는 생산품의 표면의 소정 영역을 덮는 형상을 갖고, 상술된 소정 영역에 바로 대향하는 법선 방향에 대해 소정 각도 범위 내에 해당하는 그 표면의 일부가 광을 흡수하기 위해 흑색으로 채색되고, 기타 각도 범위 내에 해당하는 그 표면의 나머지 부분이 광원부(20) 또는 광원부(20)에 의해 조사되는 광을 확산하여 방사하는 광원 영역 평면으로서 역할을 하는 덮개부(21)를 포함한다.
덮개부(21)는, 예를 들어, 질감형 표면과 평행하게 형성되고, 질감형 표면의 법선 방향에 촬영을 위한 촬영 구멍이 제공되며, 덮개부(21)는, 질감형 표면과 대향하는 영역이 흑색으로 채색되는 상면부와, 상면부에 수직으로 제공되고, 광원부(20)의 광을 확산하는 부재로 구성되는 측벽부를 포함한다.
덮개부(21)의 흑색 영역은, 부품 또는 생산품의 질감형 표면의 대조 영역에서의 평면(예를 들어, 대조 영역의 중심에 놓이는 볼록부의 피크 평면)의 법선에 대한 암 영역의 각도 범위 θ나 명 영역의 각도 범위 φ에 의해 지정된다. 이와 같이, 흑색 평면 및 확산 평면의 분포는, 질감형 표면의 법선 방향에 대한 각도의 범위만으로 구체화되며, 이러한 평면의 형상 및 각도는 임의이다. 즉, 확산 부재의 표면은 흑색 평면에 수직인 것으로서 단지 예로써 설명되지만, 그 형상 및 배치 각도는 임의이다. 마찬가지로, 흑색 평면이 반드시 평면일 필요는 없고, 질감형 표면의 법선으로부터 각도 θ의 전체 범위를 덮기만 하면 임의의 형상을 가질 수 있다.
덮개부(21)의 흑색 영역은 광원부(20)로부터 조사되는 광을 반사하지 않기 때문에, 상면부를 통해 촬영 구멍에 장착되는 카메라에 바로 대향하는 질감형 표면 볼록부의 피크 부분은 흑색으로 보인다. 도 6에 도시된 바와 같이, 덮개부(21)의 흑색 영역의 사이즈와 암 영역의 각도 범위 θ 사이에는 관련성이 있어, 흑색 및 암 영역에 대해 더 큰 각도 범위 θ가 설정되면 덮개부(21)의 흑색 영역이 더 커지는 반면, 암 영역에 대해 더 작은 각도 범위 θ가 설정되면 덮개부(21)의 흑색 영역이 더 작아진다. 그리고, 덮개부(21)의 흑색 영역이 더 커지면 흑색으로 보이는 질감형 표면 부분이 더 커지는 반면, 흑색 영역이 더 작아지면 흑색으로 보이는 질감형 표면이 더 작아진다. 본 실시예에 따르면, 질감형 표면을 촬영하는 화상에서의 대조 영역의 흑색 화소들의 수 또는 대조 영역중의 화소들의 휘도값의 분리도가 소정 값(예를 들어, 25% 등)을 갖도록 각도 범위 θ 및/또는 φ가 조정된다. 구체적으로, 덮개부(21)의 흑색 영역의 사이즈가 변경될 수 있거나, 또는 덮개부(21)의 측벽부의 높이가 변경될 수 있다. 다양한 방법들이 이러한 목적으로 사용될 수 있으며, 예시적인 방법은, 흑색 영역을 수직 이동시키는 나사 메커니즘을 제공하는 것, 및 나사 메커니즘을 회전시킴으로써, 덮개부(21)의 측벽부의 높이를 조정하는 것을 포함한다. 이는 단지 예로써 제공되며 기타 방법들이 이용될 수 있다.
질감형 요철의 실제 치수들은 식별 대상인 부품 또는 생산품의 마무리에 있어서 파라미터들에 의해 변하며, 따라서, 적절한 사이즈를 갖는 흑색 영역을 제공하도록 각도 범위 θ, φ를 조정함으로써 촬영된 화상의 휘도 분포가 최적화된다. 2치화에 대한 임계치는 휘도 변화의 히스토그램에서 1차 미분이 최대가 되는 휘도값을 사용하여 정해진다는 점에 주의하여야 한다.
따라서, 카메라에 바로 대향하는 방향의 법선을 갖는 질감형 표면 볼록부들의 피크 부분은 흑색으로 촬영되는 반면, 이에 바로 대향하지 않는 질감형 표면 오목부들은 다양한 방향으로 반사되는 광 때문에 백색으로 촬영되어, 요철부에 대해서 명암의 콘트라스트가 강조된 촬영 화상이 취득될 수 있고, 따라서 특징점들로서 피크들의 안정적 추출을 용이하게 한다.
또한, 대조 영역에서의 질감형 패턴의 촬영 화상으로부터 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을 추출할 때, 대조 영역에서의 질감형 패턴의 촬영 화상을 정규화한 후 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을 추출하는 것이 바람직하다. 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부가 본 실시예에 따라 대조 영역으로서 지정되기 때문에, 식별 마크의 골격 부분이 기준 부위로서 지정될 수 있다. 도 4의 경우, 예를 들어, 로고 플레이트(2)의 식별 마크(1)의 골격 부분 중 문자 "X"의 부분이 대조 영역(4)(점선의 내부)으로서 지정된다. 이와 같이, 골격 부분 중 문자 "X"는, 식별 마크(1)의 일부이며, 로고 플레이트(2)의 모든 샘플들 사이에서 공통인 형상 및 사이즈를 가지므로, 문자 "X"는 기준 부위로서 지정될 수 있다. 그리고 나서, 기준 부위로서 역할을 하는 문자 "X"의 특징들이 저장될 수 있으며, 이에 따라 촬영 화상의 문자 "X" 위치/자세의 식별을 용이하게 한다. 따라서, 문자 "X"의 위치/자세를 정규화하여 식별하는 것에 의해, 대조 영역(4)에서 문자 "X"의 위치/자세는 대조 영역(4)에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을 추출하기 위해 정규화되어 특정될 수 있다. 또한, 골격 부분 중 문자 "X"가 기준 부위로서 지정되는 경우가 본 실시예에서 설명되지만, 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니며, 예를 들어, 임의의 다른 문자 또는 둘러싸는 프레임 라인 부분(1b)와 같은, 골격 부분의 다른 부분들이 기준 부위로서 지정될 수 있다.
위에 설명된 바와 같이, 식별부(11)는, 소정의 촬영 조건하에서 촬영된, 식별 대상인 로고 플레이트(2)에서 문자 "X"의 대조 영역(4)에 형성되는 질감형 패턴의 촬영 화상을 정규화하여, 화상 특징을 추출한다. 그리고 나서, 식별 대상인 로고 플레이트(2)에 대해 추출된 화상 특징은, 화상 특징 저장부(10)에 저장되는 화상 특징과 대조되며, 이에 의해 로고 플레이트(2)를 식별한다. 로고 플레이트(2)가 식별될 수 있을 때, 가방(3) 또한 로고 플레이트(2)의 화상 특징에 대응하는 관리 정보로부터 식별될 수 있다.
위에 설명된 본 실시예의 효과들은 이하와 같다:
(1) 부품 또는 생산품을 식별하는 질감형 패턴이 식별 마크의 골격 부분에 형성되므로, 질감형 패턴은 사람의 눈에 의해 착색된 영역으로서 지각되고, 따라서 식별 마크의 디자인 등을 저해한다.
(2) 대조 영역이 식별 마크의 골격 부분에 배치되고, 식별 마크는 통상 누구에게도 인식되므로, 부품 또는 생산품을 식별함에 있어서, 부품 또는 생산품을 식별하기 위해 어느 부분을 촬영할지를 판정하는 것이 용이하다.
(3) 질감의 화상 특징을 추출함에 있어서, 식별 마크의 골격 부분이 기준 부위로서 지정될 수 있고, 이는 촬영 화상의 용이한 정규화를 가능하게 한다. 이는, 동일한 종류의 부품들 또는 생산품들에서 기준 부위로서 역할을 하는 식별 마크의 골격 부분에, 개체들과 무관하게, 공통으로 동일한 패턴이 주어지기 때문이다.
(제2 실시예)
제2 실시예가 설명될 것이다.
제2 실시예는, 부품의 일 예가 로고 플레이트이고, 금형에 의해 로고 플레이트의 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 질감형 패턴이 형성되는, 로고 플레이트를 사용하는 가방의 식별 시스템에 관한 것이다.
도 7은 가방의 식별 시스템의 구성도이다.
촬영부(101)은, 가방(100)의 생산에 관계된 자(가방의 제조업자 등) 또는 가방(100)의 품질 제어에 관계된 자 측에 존재하고, 제조업자 등에 의해 가방(100)에 장착되는 로고 플레이트(110)의 식별 마크의 골격부의 대조 영역을 촬영하기 위한 것이다. 촬영부(101)는, 위에 설명된 소정의 촬영 조건들 아래에서 촬영을 수행하기 위한 것이다. 촬영될 샘플들의 수에 대해서, 금형 기반의 질감형 처리의 경우, 각 금형에 대해 일반적으로 동일한 질감형 패턴이 형성되기 때문에, 각 금형에 대해 로고 플레이트의 여러 샘플들이 선택될 수 있고, 로고 플레이트의 선택된 샘플들이 촬영될 수 있다. 또한, 촬영된 화상의 파일 타입은 임의이며, JPEG 등일 수 있다.
화상 특징 추출부(102)는, 촬영부(101)에서 촬영된 화상으로부터 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을 추출하기 위한 것이다. 화상 특징의 추출은, 위에 설명된 바와 같이, 촬영부(101)에서 촬영된 화상을 식별 마크의 골격부를 사용하여 정규화하고, 그 후 화상의 휘도값, 특징점들, 및 2치화된 화상의 선들의 변곡점들, 교점들, 단부점들 및 중심점들과 같은, 지문들의 화상 특징들의 추출 기술을 사용하여 추출을 수행함으로써 달성된다. 이와 같이 추출된 화상 특징들은 화상 특징 데이터베이스(103)에 등록된다.
화상 특징 데이터베이스(103)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 금형, 금형에 의해 처리된 로고 플레이트(110)의 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징, 및 로고 플레이트(110)가 장착된 가방(100)에 대한 관리 정보를 상호 대응시켜 저장한다. 관리 정보는, 부품 또는 생산품이나, 또는 부품이 장착된 생산품에 대한 식별 정보, 뿐만 아니라, 부품 또는 생산품에 대한 제조 장소, 생산품 라인, 생산 일시를 포함하는 생산 정보, 및 부품이 사용되는 생산품명, 출하처, 출하일 등을 포함하는 유통 정보와 같은, 부품 또는 생산품의 관리 정보를 포함하는 개념을 말한다는 점에 주의하여야 한다.
이와 같이, 부품의 질감형 패턴의 화상 특징을, 부품 또는 생산품이나, 또는 부품이 장착된 생산품에 대한 관리 정보와 대응시키는 것에 의하면, 식별된 로고 플레이트(110)(부품)에 대한 이력 정보의 취득 뿐만 아니라 로고 플레이트(110)가 장착된 가방(100)(부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품)의 식별을 달성할 수 있다.
촬영부(104) 및 화상 특징 추출부(105)는, 가방에 대한 검사부, 가방의 출하처, 및 가방의 판매자나 구입자와 같은, 가방의 대조/식별을 수행하는 측에 존재하고, 촬영부(101) 및 화상 특징 추출부(102)의 것과 유사한 구성을 갖는다.
대조부(106)는, 화상 특징 추출부(105)에서 추출되는 대조 대상인 가방(107)의 로고 플레이트(111)의 대조 영역의 화상 특징을, 화상 특징 데이터베이스(103)에 저장된 화상 특징과 대조하여, 일치되는 엔트리가 발견되는 경우에, 대조 대상인 가방(107)의 로고 플레이트(111)가 화상 특징 데이터베이스(103)에 등록된 인가된 로고 플레이트라고 판정한다. 예를 들어, 로고 플레이트(111)의 화상 특징이 "YYY"일 때, 로고 플레이트(111)는 금형(2)에 의해 처리된 것으로서 식별될 수 있다. 그리고 나서, 로고 플레이트(111)가 장착된 가방(107)은 관리 정보가 "100"인 것으로서 식별될 수 있다.
화상 특징의 대조 방법은, 예를 들어, 질감형 패턴에서의 선들의 단부점들, 교점들, 및 코너들을 특징점들로서 지정하는 것, 특징점들의 배치들을 대조하는 것, (특정 임계치 범위 내의) 동일 위치에 있는 특징점들의 쌍들의 수가 특정 수 이상인 경우 동일성을 판정하는 것을 포함할 수 있다. 이러한 대조 기술은 기존의 지문 대조 기술을 이용하여 달성될 수 있다.
위에 설명된, 촬영부, 화상 특징 추출부, 화상 특징 데이터베이스, 및 대조부는, 각각 단독으로 존재할 수 있거나, 서로 네트워크를 통해 접속될 수 있거나, 또는 이들 중 몇몇은 통합하여 존재될 수 있다는 점에 주의하여야 한다.
위에 설명된 바와 같이, 본 실시예에 따르면, 물품을 식별하는 태그 또는 RFID 태그와 같은 특별한 장치에 대한 필요성을 제거하면서, 동시에, 상표 또는 로고와 같은 식별 마크의 디자인을 손상시키지 않고도, 부품 또는 생산품의 개체, 또는, 부품 또는 생산품의 제조에 사용되는 금형이, 식별 마크의 골격 부분에 형성되는 질감형 패턴에 의존하여 대조될 수 있다. 특히, 이러한 제2 실시예에 따르면, 금형 기반의 질감형 처리로 인해 각 금형에 대해 일반적으로 동일한 질감형 패턴이 형성되며, 이는 금형 기반의 대조가 수행될 때, 예를 들어, 금형 기반의 품질 검사에 유용하다. 또한, 모조품들 등은 인가된 생산품들과는 다른 금형을 사용하여 제조되기 때문에 모조품의 판정을 가능하게 한다.
(제3 실시예)
제3 실시예가 설명될 것이다.
제3 실시예는, 물품의 일 예가 로고 플레이트이고, 블라스팅에 의해, 로고 플레이트 지퍼의 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 질감형 패턴이 개별로 형성되는, 로고 플레이트를 사용하는 가방의 식별 시스템에 관한 것이다.
도 9는 지퍼의 대조 시스템의 구성도이다.
촬영부(201)는, 가방(200)의 생산에 관계된 자(가방의 제조업자 등) 또는 가방(200)의 품질 제어에 관계된 자 측에 존재하고, 제조업자 등에 의해, 가방(200)에 장착되는 로고 플레이트(210)의 식별 마크의 골격부의 대조 영역을 촬영하기 위한 것이다. 또한, 촬영부(201)는, 위에 설명된 소정의 촬영 조건들 아래에서 촬영을 수행하기 위한 것이다. 또한, 촬영된 화상의 파일 타입은 임의이며, JPEG 등일 수 있다.
화상 특징 추출부(202)는, 촬영부(201)에서 촬영된 화상으로부터 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을 추출하기 위한 것이다. 화상 특징의 추출은, 상술된 바와 같이, 촬영부(201)에서 촬영된 화상을 식별 마크의 골격부를 사용하여 정규화고 나서, 화상의 휘도값, 특징점들, 2치화 화상의 선들의 변곡점들, 교점들, 단부점들 및 중심점들과 같은, 지문들의 화상 특징들에 대한 추출 기술을 사용하여 추출을 수행하는 것에 의해 달성된다. 이와 같이 추출된 화상 특징들은 화상 특징 데이터베이스(203)에 등록된다.
화상 특징 데이터베이스(203)는, 도 10에 도시된 바와 같이, 로고 플레이트(210)의 개체를 식별하는 개체 식별 정보, 로고 플레이트(210)의 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징, 및 로고 플레이트(210)가 장착된 가방(200)에 대한 관리 정보를 상호 대응시켜 저장하고 있다. 로고 플레이트(210)에 대한 개체 식별 정보는, 부품 또는 생산품에 대한 제조 장소, 생산품 라인, 및 생산 일시를 포함하는 생산 정보, 및 부품이 사용되는 생산품명, 출하처, 출하일 등을 포함하는 유통 정보와 같은, 부품 또는 생산품의 관리 정보를 포함할 수 있다. 또한, 가방(200)에 대한 관리 정보는, 부품 또는 생산품, 또는 부품이 장착된 생산품에 대한 식별 정보 뿐만 아니라, 부품 또는 생산품에 대한 제조 장소, 생산 라인 및 생산 일시를 포함하는 생산 정보, 및 부품이 사용되는 생산품명, 출하처, 출하일 등을 포함하는 유통 정보와 같은, 부품 또는 생산품에 대한 관리 정보를 포함하는 개념을 말한다.
이와 같이, 부품의 질감형 패턴의 화상 특징을, 부품 또는 생산품, 또는 부품이 장착된 생산품에 대한 관리 정보와 대응시키는 것에 의하면, 식별된 로고 플레이트(210)(부품)에 대한 이력 정보의 취득, 및 로고 플레이트(210)가 장착된 가방(200)(부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품)의 식별도 달성할 수 있다.
촬영부(204) 및 화상 특징 추출부(205)는, 가방의 검사부, 및 가방의 판매자 또는 구입자를 포함하는, 가방의 출하처와 같은, 가방의 대조/식별을 수행하는 측에 존재하고, 촬영부(201) 및 화상 특징 추출부(202)의 것들과 유사한 구성을 갖는다.
대조부(206)는, 화상 특징 추출부(205)에서 추출되는 대조 대상인 가방(207)의 로고 플레이트(211)의 대조 영역의 화상 특징을, 화상 특징 데이터베이스(203)에 저장된 화상 특징과 대조하여, 일치되는 엔트리가 발견되는 경우에, 대조 대상인 로고 플레이트(211)가 화상 특징 데이터베이스(203)에 등록된 인가된 로고 플레이트라고 판정한다. 예를 들어, 로고 플레이트(211)의 화상 특징이 "YYY"일 때, 로고 플레이트(211)는 식별 정보 "로고 플레이트(2)"에 의해 특정되는 것으로서 식별될 수 있다. 그리고나서, 로고 플레이트(211)가 장착된 가방(207)은, 관리 정보가 "200"인 것으로서 식별될 수 있다.
화상 특징 대조 방법은, 예를 들어, 질감형 패턴의 선들의 단부점들, 교점들, 코너들을 특징점들로서 지정하는 것, 특징점들의 배치를 대조하는 것, (특정 임계 범위 내의) 동일 위치에 있는 특징점들의 쌍들의 수가 특정 수 이상인 경우 동일성을 판정하는 것을 포함할 수 있다. 이러한 대조 기술은 기존의 지문 대조 기술을 이용하여 달성될 수 있다.
위에 설명된 촬영부, 화상 특징 추출부, 화상 특징 데이터베이스 및 대조부는, 각각 단독으로 존재할 수 있거나, 서로 네트워크를 통해 접속될 수 있거나, 또는 이들 중 몇몇은 통합하여 존재될 수 있다는 점에 주의하여야 한다.
위에 설명된 바와 같이, 본 실시예에 따르면, 물품을 식별하는 태그 또는 RFID 태그와 같은 특별한 장치에 대한 필요성을 제거하면서, 동시에, 상표 또는 로고와 같은 식별 마크의 디자인을 손상시키지 않고도, 부품 또는 생산품의 개체, 또는, 부품 또는 생산품의 제조에 사용되는 금형이, 식별 마크의 골격 부분에 형성되는 질감형 패턴에 의존하여 대조될 수 있다. 특히, 이러한 제3 실시예에 따르면, 질감형 처리가 마무리 마크들에 기초하며, 질감형 패턴이 부품마다 또는 생산품마다 상이하게 형성되기 때문에, 부품 또는 생산품의 대조가 개체의 레벨에서 구별될 수 있다.
(제4 실시예)
제4 실시예가 설명될 것이다.
제4 실시예는, 물품의 일 예가 로고 플레이트이고, 금형에 의해 적용되는 로고 플레이트 대한 질감형 패턴에 대해, 블라스팅, 분체 도장에 의한 질감형 마무리, 또는 도금이 후속 마무리 처리로서 적용되는, 로고 플레이트를 사용하는 가방의 식별 시스템에 관한 것이다.
도 11은 가방의 식별 시스템의 구성도이다.
촬영부(301)은, 가방(300)의 생산에 관계된 자(가방의 제조업자 등) 또는 가방(300)의 품질 제어에 관계된 자 측에 존재하고, 제조업자 등에 의해, 가방(300)에 장착되는 로고 플레이트(310)의 식별 마크의 골격부의 대조 영역을 촬영하기 위한 것이다. 촬영부(301)는 위에 설명된 소정의 촬영 조건들 아래에서 촬영하기 위한 것이다. 또한, 촬영된 화상의 파일 타입은 임의이고, JPEG 등일 수 있다.
화상 특징 추출부(302)는, 촬영부(301)에서 촬영된 화상으로부터 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을 추출하기 위한 것이다. 화상 특징의 추출은, 위에 설명된 바와 같이, 촬영부(301)에서 촬영된 화상을 식별 마크의 골격부를 사용하여 정규화하고 나서, 화상의 휘도값, 특징점들, 2치화된 화상의 선들의 변곡점들, 교점들, 단부점들 및 중심점들과 같은, 지문들의 화상 특징들에 대한 추출 기술을 사용하여 추출을 수행하는 것에 의해 달성된다. 이와 같이 추출된 화상 특징들은 화상 특징 데이터베이스(303)에 등록된다.
로고 플레이트(310)의 화상 특징을 취득함에 있어서, 로고 플레이트(310)는 금형에 의해 적용되는 질감형 패턴을 가지며, 그 위에, 블라스팅, 분체 도장에 의한 질감형 마무리, 또는 도금이 후속 마무리 처리로서 적용된다. 따라서, 위에 설명된 바와 같이, 금형마다 특징의 차이들을 그대로 유지하면서 개체마다 특징의 차이들이 추가의 마무리에 의해 추가적으로 제공된다. 따라서, 각 금형에 대해 로고 플레이트(310)의 여러 샘플들을 선택하고, 후속 마무리 처리 이전 금형에 의한 질감형 패턴의 화상 특징(금형 차이 화상 특징이라 함)만을 취득하는 것이 바람직하다. 다른 개체에 대해서는, 금형 기판의 질감형 패턴 외에, 후속 마무리 처리 이후 질감형 패턴의 화상 특징(개체 차이 화상 특징)이 취득된다.
금형 차이 화상 특징 및 개체 차이 화상 특징을 취득하는 예시적인 방법들은 이하를 포함한다: 금형에 적용되는 질감형 처리에 의해 생성되는 각 미세 요철의 사이즈를 a라 하고, 후속 마무리 처리에 의해 생성되는 각 요철의 사이즈를 b라 한다. 이와 같이, 예를 들어, a > b가 되도록 질감 처리들이 제어된다고 가정하자. 동일한 금형으로부터 제조되는 개체들의 화상들에는, 사이즈 a인 반점들이 사이즈 b인 반점과 함께 생성된다. 이와 같이, 사이즈가 대략 a인 반점들만이 금형 차이 화상 특징을 취득하기 위한 특징점들로서 취득될 수 있다. 또한, 사이즈 b인 반점들은 개체 차이 화상 특징을 취득하기 위해 추출될 수 있다.
복수의 샘플들로부터 금형 차이 특징들을 추출하여 이들의 평균 등을 취하는 것에 의해 보다 안정적인 금형 대조가 달성될 수 있다.
화상 특징 데이터베이스(303)는, 도 12에 도시된 바와 같이, 로고 플레이트(310)의 개체를 식별하는 개별 식별 정보, 로고 플레이트(310)가 생산되는 금형에 의한 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징(금형 차이 화상 특징), 각 금형에 의해 생산되는 로고 플레이트(310)의 대조 영역 위에 후속 마무리 처리 동안 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징(개체 차이 화상 특징), 및 로고 플레이트(310)가 장착되는 가방(300)에 대한 관리 정보를 상호 대응시켜 저장한다. 로고 플레이트(310)에 대한 개체 식별 정보는, 부품 또는 생산품의 생산 장소, 생산품 라인, 생산 일시를 포함하는 생산 정보, 및 부품이 사용되는 생산품명, 출하처, 출하일 등을 포함하는 유통 정보와 같은, 부품 또는 생산품에 대한 관리 정보를 포함할 수 있다. 가방(300)에 대한 관리 정보는, 부품 또는 생산품, 또는 부품이 장착된 생산품에 대한 식별 정보 뿐만 아니라, 부품 또는 생산품의 생산 장소, 생산품 라인, 생산 일시를 포함하는 생산 정보, 및 부품이 사용되는 생산품명, 출하처, 출하일 등을 포함하는 유통 정보와 같은, 부품 또는 생산품에 대한 관리 정보를 포함하는 개념을 말한다.
이와 같이, 부품의 질감형 패턴의 화상 특징을, 부품 또는 생산품, 또는 부품이 장착된 생산품에 대한 관리 정보와 대응시키는 것에 의하면, 식별된 로고 플레이트(310)(부품)에 대한 이력 정보의 취득, 및 로고 플레이트(310)가 장착된 가방(300)(부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품)의 식별도 달성할 수 있다.
촬영부(304) 및 화상 특징 추출부(305)는, 가방의 검사부, 및 가방의 판매자 또는 구입자를 포함하는, 가방의 출하처와 같은, 가방의 대조/식별을 수행하는 측에 존재하고, 촬영부(301) 및 화상 특징 추출부(302)의 것들과 유사한 구성을 갖는다.
대조부(306)는, 화상 특징 추출부(305)에서 추출되는 식별 대상인 가방(307)의 로고 플레이트(311)의 대조 영역의 화상 특징을, 화상 특징 데이터베이스(303)에 저장된 화상 특징과 대조하여, 일치되는 엔트리가 발견되는 경우에, 식별 대상인 로고 플레이트(311)가 화상 특징 데이터베이스(303)에 등록된 인가된 로고 플레이트라고 판정한다. 이와 같이, 대조부(306)는, 먼저, 식별 대상인 가방(307)의 로고 플레이트(311)의 대조 영역의 화상 특징을, 금형에 의한 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징(금형 차이 화상 특징)과 대조하여, 로고 플레이트(311)가 생산된 금형을 판별한다. 다음으로, 판별된 금형으로 생산된 지퍼들의 그룹의 개체 차이 화상 특징을, 로고 플레이트(311)의 화상 특징(개체 차이 화상 특징)과 대조하여, 로고 플레이트(311)의 개체를 점검한다.
예를 들어, 로고 플레이트(311)의 화상 특징이 "AAA+YYY"인 경우에, 위에 설명된 바와 같이, 예를 들어, 반점들의 사이즈 또는 선들의 두께를 사용하는 선별은, 특징점 AAA 및 특징점 YYY로 화상 특징을 분리할 수 있다. 로고 플레이트(311)의 화상 특징은 "AAA"를 포함하기 때문에, 생산품은 금형 A로부터 생산된 것으로서 판별될 수 있다. 그리고 나서, 금형 A로부터 생산된 로고 플레이트들의 그룹의 화상 특징은, 대조 대상인 로고 플레이트(311)의 화상 특징 "AAA+YYY"과 대조되어, 로고 플레이트(311)를 식별 정보 "로고 플레이트(2)"에 의해 특정되는 로고 플레이트로서 식별할 수 있다. 그리고 나서, 로고 플레이트(311)가 장착된 가방(307)은, 관리 정보가 "101"인 것으로서 식별될 수 있다.
화상 특징 대조 방법은, 예를 들어, 질감형 패턴의 선들의 단부점들, 교점들, 코너들을 특징점들로서 지정하는 것, 특징점들의 배치를 대조하는 것, (특정 임계 범위 내의) 동일 위치에 있는 특징점들의 쌍들의 수가 특정 수 이상인 경우 동일성을 판정하는 것을 포함할 수 있다. 이러한 대조 기술은 기존의 지문 대조 기술을 이용하여 달성될 수 있다.
위에 설명된 촬영부, 화상 특징 추출부, 화상 특징 데이터베이스 및 대조부는, 각각 단독으로 존재할 수 있거나, 서로 네트워크를 통해 접속될 수 있거나, 또는 이들 중 몇몇은 통합하여 존재될 수 있다는 점에 주의하여야 한다.
위에 설명된 바와 같이, 제4 실시예의 특징점은, 위에 설명된 제2 실시예 및 제3 실시예의 효과 외에도, 부품 또는 생산품의 개체가 식별 대상일 때에도, 등록된 모든 화상 특징과 대조를 수행할 필요가 없어, 고속 대조 처리를 달성할 수 있는 점이다. 또한, 부품 또는 생산품의 개체 레벨 대조를 수행할 것을 필요로 하지 않고, 단지 부품 또는 생산품을 생산한 금형 레벨를 수행하는 것에 의해 계층적인 대조가 달성될 수 있다.
(제5 실시예)
제5 실시예가 설명될 것이다.
제5 실시예는, 로고 플레이트와 같은 부품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리를 적용하여, 대조용 질감형 패턴을 형성하고; 질감형 패턴이 형성된 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하여, 대조 영역에서의 질감형 패턴을, 소정의 촬영 조건들 아래에서 촬영하며; 부품을 식별하는 식별 정보를, 촬영된 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징과 대응시켜, 데이터베이스에 등록하는 등록 장치이다.
도 13은 제5 실시예의 등록 장치의 블럭도이다.
제5 실시예의 등록 장치는, 부품(400)을 운반하는 벨트 컨베이어(401); 부품(400)에 질감형 패턴을 형성하는 질감형 패턴 형성부(402); 부품(400)의 대조 영역에서의 질감형 패턴을, 소정의 촬영 조건들 아래에서 촬영하는 촬영부(403); 촬영부(403)에서 촬영된 화상으로부터 대조 영역의 화상 특징을 추출하는 화상 특징 추출부(404); 및 추출된 화상 특징을 부품의 식별과 대응시켜 화상 특징 데이터베이스(406)에 등록하는 화상 특징 등록부(405)를 포함한다.
질감형 패턴 형성부(402)는, 부품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리를 적용하여, 대조용 질감형 패턴을 형성하기 위한 것이다. 질감형 마무리의 대표적인 예들은, 샌드 블라스팅, 에칭 기반의 표면 처리, 블라스팅 도장 등이 있지만, 다른 방법들도 적용될 수 있다. 또한, 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 정밀하게 질감형 마무리를 적용하는 것이 바람직하지만, 일부 오프셋 등은 후속 화상 처리에서 대처될 수 있으므로, 대조 영역 내에 질감형 패턴이 최소로 형성될 수 있다.
촬영부(403)는, 질감형 패턴이 형성되어 벨트 컨베이어(401)에 의해 운반되는 부품(400)의 대조 영역을 제1 실시예에 관하여 설명된 촬영 조건들에서와 같은 방법에 의해 촬영하여, 촬영된 화상을 화상 특징 추출부(404)에 출력한다.
화상 특징 추출부(404)는 촬영부(403)에서 촬영된 화상으로부터 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을 추출하기 위한 것이다. 화상 특징의 추출은, 화상의 휘도값, 특징점들, 2치화된 화상의 선들의 변곡점, 교점들, 단부점들 및 중심점들과 같은, 지문들의 화상 특징들에 대한 추출 기술을 사용하여 달성된다. 필요할 때는, 먼저 설명된 바와 같이, 식별 마크의 골격부를 사용하는 정규화 이후 화상 특징의 추출이 수행된다.
화상 특징 등록부(405)는, 화상 특징 추출부(404)에 의해 추출된 부품(400)의 화상 특징을, 부품(400)의 식별 정보와 대응시켜, 화상 데이터베이스(406)에 등록한다.
이러한 등록 장치에 따르면, 식별용의 질감형 마무리로부터 시작하여 화상 특징의 등록에 이르는 처리가 자동으로 수행될 수 있다.
등록 장치는, 질감형 패턴 형성부(402)을 갖지 않고, 화상 특징들의 등록을 위해서만 존재할 수 있다.
여러 실시예들이 설명되었으며, 앞선 설명으로부터 명백한 바와 같이, 화상 특징 추출부, 식별부 등은 하드웨어로 구성될 수 있지만, 이들은 또한 컴퓨터 프로그램에 의해 구현될 수 있다. 이러한 경우, 프로그램 메모리에 저장되는 프로그램들에 의해 동작되는 프로세서는, 위에 설명된 실시예들과 유사한 기능들 및/또는 동작들을 구현한다.
또한, 앞선 실시예들의 일부 또는 전부는, 이하의 부기와 같이 설명될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.
(부기 1) 식별 방법으로서,
부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴을 사용하여, 상기 부품, 상기 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하는 단계를 포함하는 식별 방법.
(부기 2) 부기 1에 따른 식별 방법으로서,
부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 미리 저장하는 단계;
식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을 취득하는 단계; 및
상기 취득된 화상 특징을 상기 저장된 화상 특징과 대조하여, 식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하는 단계
를 포함하는 식별 방법.
(부기 3) 부기 1 또는 2에 따른 식별 방법으로서,
상기 식별 마크의 골격 부분을 사용하여, 상기 대조 영역에 형성되는 상기 질감형 패턴의 화상을 정규화하여, 상기 대조 영역에 형성되는 상기 질감형 패턴의 화상 특징을 취득하는 식별 방법.
(부기 4) 부기 1 내지 3 중 어느 하나에 따른 식별 방법으로서,
상기 저장된 화상 특징은, 상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴을, 소정의 조명 조건들 아래에서 촬영하여 얻어진 화상의 화상 특징이며,
식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 상기 화상 특징은, 식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 상기 질감형 패턴을, 상기 소정의 조명 조건들과 유사한 조명 조건들 아래에서 촬영하여 취득된 화상 특징인 식별 방법.
(부기 5) 부기 1 내지 4 중 어느 하나에 따른 식별 방법으로서,
상기 질감형 패턴은 금형에 의해 형성되는 것이며,
상기 방법은,
동일한 금형에 의해 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 질감형 패턴이 형성되는 복수의 부품들 또는 생산품들 중 적어도 하나의 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 각 금형에 대해, 저장하는 단계; 및
식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 식별을 금형 단위로 수행하는 단계
를 포함하는 식별 방법.
(부기 6) 부기 5에 따른 식별 방법으로서,
각 금형에 대한 상기 화상 특징은, 금형의 질감을 휘도값을 반전시켜 촬영한 화상의 화상 특징이며,
상기 방법은 휘도값이 반전된 상기 화상 특징을, 식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징과 대조하는 식별 방법.
(부기 7) 부기 1 내지 4 중 어느 하나에 따른 식별 방법으로서,
부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 부품 또는 상기 생산품의 각 개체에 대해 미리 저장하는 단계; 및
식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 식별을, 상기 부품 또는 상기 생산품의 각 개체에 대해 수행하는 단계
를 포함하는 식별 방법.
(부기 8) 부기 5 내지 7 중 어느 하나에 따른 식별 방법으로서,
상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 상기 화상 특징을, 상기 부품, 생산품 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 관리 정보와 대응시켜 저장하는 단계
를 포함하는 방법.
(부기 9) 부기 1 내지 8 중 어느 하나에 따른 식별 방법으로서,
상기 부품 또는 생산품의 제조 처리 중, 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리를 적용하여, 대조용 질감형 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 식별 방법.
(부기 10) 부기 9에 따른 식별 방법으로서,
상기 질감형 마무리는, 샌드 블라스팅, 에칭 기반의 표면 처리, 또는 블라스팅 도장인 식별 방법.
(부기 11) 식별 시스템으로서,
부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징이 저장되는 화상 특징 저장부;
식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 화상 특징 저장부에 저장돤 화상 특징과 대조하여, 식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하도록 구성되는 식별부
를 포함하는 식별 시스템.
(부기 12) 부기 11에 따른 식별 시스템으로서,
상기 식별부는, 상기 식별 마크의 골격 부분을 사용하여, 상기 대조 영역에 형성되는 상기 질감형 패턴의 촬영된 화상을 정규화하여, 상기 대조 영역에 형성되는 상기 질감형 패턴의 화상 특징을 취득하는 식별 시스템.
(부기 13) 부기 11 또는 12에 따른 식별 시스템으로서,
상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴을, 소정의 조명 조건들 아래에서 촬영하도록 구성되는 화상 촬영부; 및
식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 소정의 조명 조건들과 유사한 조명 조건들 아래에서 촬영하도록 구성되는 식별 화상 촬영부
를 포함하는 식별 시스템.
(부기 14) 부기 11 내지 13 중 어느 하나에 따른 식별 시스템으로서,
상기 질감형 패턴은 금형에 의해 형성되는 것이며,
상기 화상 특징 저장부는, 동일한 금형에 의해 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 질감형 패턴이 형성되는 복수의 부품들 또는 생산품들 중 적어도 하나의 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 각 금형에 대해, 저장하며,
상기 식별부는, 식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 식별을 금형 단위로 수행하는 식별 시스템.
(부기 15) 부기 14에 따른 식별 시스템으로서,
각 금형에 대한 상기 화상 특징은 금형의 질감을 휘도값을 반전시켜 촬영한 화상의 화상 특징이며,
상기 식별부는, 휘도값이 반전된 상기 화상 특징을, 식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 상기 화상 특징과 대조하는 식별 시스템.
(부기 16) 부기 11 내지 13 중 어느 하나에 따른 식별 시스템으로서,
상기 화상 특징 저장부는, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 부품 또는 상기 생산품의 각 개체에 대해 저장하며,
상기 식별부는, 식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 식별을, 상기 부품 또는 상기 생산품의 각 개체에 대해 수행하는 식별 시스템.
(부기 17) 부기 14 내지 16 중 어느 하나에 따른 식별 시스템으로서,
상기 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상 특징은, 상기 부품, 생산품 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품에 대한 관리 정보와 대응되어 상기 화상 특징 저장부에 저장되는 식별 시스템.
(부기 18) 대조 장치로서,
부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 제1 화상, 및 식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 제2 화상을 취득하도록 구성되는 취득부; 및
상기 제1 화상을 상기 제2 화상과 대조하여, 대조 결과를 출력하도록 구성되는 출력부
를 포함하는 대조 장치.
(부기 19) 부기 18에 따른 대조 장치로서,
상기 출력부는, 상기 식별 마크의 골격 부분을 사용하여, 상기 제1 화상 또는 상기 제2 화상을 정규화하는 대조 장치.
(부기 20) 부기 18 또는 19에 따른 대조 장치로서,
상기 제1 화상 및 상기 제2 화상은, 유사한 소정의 조명 조건들 아래에서 촬영을 수행하여 얻어진 화상들인 대조 장치.
(부기 21) 부기 18 내지 20 중 어느 하나에 따른 대조 장치로서,
상기 질감형 패턴은 금형에 의해 형성된 것이며,
상기 제1 화상은, 동일한 금형에 의해 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 질감형 패턴이 형성되는 복수의 부품들 또는 생산품들 중 적어도 하나의 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상이며,
상기 출력부는, 상기 제1 화상과 상기 제2 화상 사이의 대조를 금형 단위로 수행하는 대조 장치.
(부기 22) 부기 22에 따른 대조 장치로서,
상기 제1 화상은 금형의 질감을 휘도값을 반전시켜 촬영한 화상인 대조 장치.
(부기 23) 부기 18 내지 20 중 어느 하나에 따른 대조 장치로서,
상기 제1 화상은, 각 개체에 대해 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상이며,
상기 출력부는, 상기 제1 화상과 상기 제2 화상 사이의 대조를, 개체 단위로 수행하는 대조 장치.
(부기 24) 부기 18 내지 23 중 어느 하나에 따른 대조 장치로서,
상기 부품 또는 생산품의 제조 공정 중, 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리가 적용되어, 대조용 질감형 패턴을 형성하는 대조 장치.
(부기 25) 부기 24에 따른 대조 장치로서,
상기 질감형 마무리는, 샌드 블라스팅, 에칭 기반의 표면 처리, 또는 블라스팅 도장인 대조 장치.
(부기 26) 등록 장치로서,
부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리를 적용하여, 대조용 질감형 패턴을 형성하도록 구성되는 질감형 패턴 형성부;
질감형 패턴이 형성된 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 부품 또는 상기 생산품의 골격 부분의 대조 영역에서의 질감형 패턴을, 소정의 촬영 조건들 아래에서 촬영하도록 구성되는 촬영부; 및
상기 부품 또는 상기 생산품을 식별하는 식별 정보를, 상기 촬영된 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징과 대응시켜, 저장부에 등록하도록 구성되는 등록부
를 포함하는 등록 장치.
(부기 27) 부기 26에 따른 등록 장치로서,
부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리를 적용하여, 대조용 질감형 패턴을 형성하도록 구성되는 질감형 패턴 형성부를 포함하는 등록 장치.
(부기 28) 부기 26 또는 27에 따른 등록 장치로서,
상기 등록부는, 상기 촬영된 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품에 대한 관리 정보와 대응시켜, 상기 저장부에 등록하는 등록 장치.
(부기 29) 프로그램으로서,
컴퓨터로 하여금,
부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 제1 화상, 및 식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 제2 화상을 취득하는 취득 처리; 및
상기 제1 화상을 상기 제2 화상과 대조하여, 대조 결과를 출력하는 대조 처리
를 실행하게 하는 프로그램.
(부기 30) 부기 29에 따른 프로그램으로서,
상기 식별 마크의 골격 부분을 사용하여, 상기 제1 화상 또는 상기 제2 화상을 정규화하는 처리를 포함하는 프로그램.
(부기 31) 부기 29 또는 30에 따른 프로그램으로서,
상기 제1 화상 및 상기 제2 화상은 유사한 소정의 조명 조건들 아래에서 촬영을 수행하여 얻어지는 화상들인 프로그램.
(부기 32) 부기 29 내지 31 중 어느 하나에 따른 프로그램으로서,
상기 질감형 패턴은 금형에 의해 형성되는 것이고,
상기 제1 화상은, 동일한 금형에 의해 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 질감형 패턴이 형성되는 복수의 부품들 또는 생산품들 중 적어도 하나의 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 화상이며,
상기 대조 처리는, 상기 제1 화상과 상기 제2 화상 사이의 대조를 금형 단위로 수행하는 프로그램.
(부기 33) 부기 29 내지 32 중 어느 하나에 따른 프로그램으로서,
상기 제1 화상은, 금형의 질감을 휘도값을 반전시켜 촬영한 화상인 프로그램.
(부기 34) 부기 29 내지 33 중 어느 하나에 따른 프로그램으로서,
상기 제1 화상은, 부품 또는 생산품에 장착되는 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성되는 질감형 패턴의 각 개체에 대한 화상이며,
상기 대조 처리는, 상기 제1 화상과 상기 제2 화상 사이의 대조를, 개체 단위로 수행하는 프로그램.
(부기 35) 부기 29 내지 34 중 어느 하나에 따른 프로그램으로서,
상기 부품 또는 생산품에 대한 제조 공정 중, 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리가 적용되어, 대조용 질감형 패턴을 형성하는 프로그램.
(부기 36) 부기 35에 따른 프로그램으로서,
상기 질감형 마무리는, 샌드 블라스팅, 에칭 기반의 표면 처리, 또는 블라스팅 도장인 프로그램.
(부기 37) 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 부품 또는 생산품을 식별하기 위한 대조용 질감형 패턴이 형성되는 부품 또는 생산품.
바람직한 실시예들에 대하여 본 발명이 설명되었지만, 위에 설명된 실시예들에 반드시 제한되어야 하는 것은 아니며, 그 기술적 아이디어의 범위 내에서 여러 변형들로 실시될 수 있다.
본 출원은, 2013년 3월 12일에 출원된 일본 출원 일본 특허 출원 2013-49282호를 기초로 하는 우선권을 주장하며, 그 개시내용은 모두 본 명세서에 원용된다.
1 식별 마크
1a, 1b 골격 부분
2 로고 플레이트
3 가방
4 대조 영역
10 화상 특징 저장부
11 식별부
20 광원부
21 덮개부
100 가방
101 촬영부
102 화상 특징 추출부
103 화상 특징 데이터베이스
104 촬영부
105 화상 특징 추출부
106 대조부
107 가방
110 로고 플레이트
111 로고 플레이트
200 가방
201 촬영부
202 화상 특징 추출부
203 화상 특징 데이터베이스
204 촬영부
205 화상 특징 추출부
206 대조부
207 가방
210 로고 플레이트
211 로고 플레이트
300 가방
301 촬영부
302 화상 특징 추출부
303 화상 특징 데이터베이스
304 촬영부
305 화상 특징 추출부
306 대조부
307 가방
310 로고 플레이트
311 로고 플레이트
400 부품
401 벨트 컨베이어
402 질감형 패턴 형성부
403 촬영부
404 화상 특징 추출부
405 화상 특징 등록부
406 화상 특징 데이터베이스

Claims (24)

  1. 삭제
  2. 식별 방법으로서,
    부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 금형(mold)에 의해 형성된 질감형 패턴의 화상 특징을, 메모리에 미리 저장하는 단계;
    식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 금형에 의해 형성된 질감형 패턴의 화상 특징을 취득하는 단계; 및
    상기 취득한 화상 특징을 상기 저장된 화상 특징과 대조(matching)하여, 식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하는 단계 - 상기 저장된 화상 특징은 상기 메모리에 저장됨 -
    를 포함하고,
    상기 질감형 패턴은 상기 금형에 적용되고, 상기 대조 영역 내의 상기 질감형 패턴은 상기 금형의 상기 질감형 패턴을 전사함으로써 형성되는 식별 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 식별 마크의 골격 부분을 사용하여, 상기 대조 영역에 형성된 상기 질감형 패턴의 촬영된 화상을 정규화하고, 상기 대조 영역에 형성된 상기 질감형 패턴의 화상 특징을 취득하는 단계를 포함하는 식별 방법.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 저장된 화상 특징은, 상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴을, 사전결정된 조명 조건들 하에서 촬영하여 얻어진 화상의 화상 특징이며,
    식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 상기 화상 특징은, 식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 상기 질감형 패턴을, 상기 사전결정된 조명 조건들과 유사한 조명 조건들 하에서 촬영하여 취득된 화상 특징인 식별 방법.
  5. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 방법은,
    동일한 금형에 의해 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 질감형 패턴이 형성된 복수의 부품들 또는 생산품들 중 적어도 하나의 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 화상 특징을, 각 금형에 대해, 저장하는 단계; 및
    식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 식별을 금형 단위로 수행하는 단계
    를 포함하는 식별 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    각 금형에 대한 상기 화상 특징은, 금형의 질감을 휘도값을 반전시켜 촬영한 화상의 화상 특징이며,
    상기 방법은,
    휘도값이 반전된 상기 화상 특징을, 식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 화상 특징과 대조하는 식별 방법.
  7. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 부품 또는 상기 생산품의 각 개체에 대해 미리 저장하는 단계; 및
    식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 식별을, 상기 부품 또는 상기 생산품의 각 개체에 대해 수행하는 단계
    를 포함하는 식별 방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 상기 화상 특징을, 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품에 대한 관리 정보와 대응시켜 저장하는 단계를 포함하는 식별 방법.
  9. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 부품 또는 생산품의 제조 처리 중, 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리를 적용하여, 대조용 질감형 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 식별 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 질감형 마무리는, 샌드 블라스팅, 에칭 기반의 표면 처리, 또는 블라스팅 코팅인 식별 방법.
  11. 식별 시스템으로서,
    부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 금형에 의해 형성된 질감형 패턴의 화상 특징이 저장되는 화상 특징 저장부; 및
    식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 금형에 의해 형성된 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 화상 특징 저장부에 저장된 상기 화상 특징과 대조하여, 식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품을 식별하도록 구성되는 식별부
    를 포함하고,
    상기 질감형 패턴은 상기 금형에 적용되고, 상기 대조 영역 내의 상기 질감형 패턴은 상기 금형의 상기 질감형 패턴을 전사함으로써 형성되는 식별 시스템.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 식별부는, 상기 식별 마크의 골격 부분을 사용하여, 상기 대조 영역에 형성된 상기 질감형 패턴의 촬영된 화상을 정규화하고, 상기 대조 영역에 형성된 상기 질감형 패턴의 화상 특징을 취득하는 식별 시스템.
  13. 제11항 또는 제12항에 있어서,
    상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴을, 사전결정된 조명 조건들 하에서 촬영하도록 구성되는 화상 촬영부; 및
    식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 사전결정된 조명 조건들과 유사한 조명 조건들 하에서 촬영하도록 구성되는 식별 화상 촬영부
    를 포함하는 식별 시스템.
  14. 제11항 또는 제12항에 있어서,
    상기 화상 특징 저장부는, 동일한 금형에 의해 상기 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 질감형 패턴이 형성된 복수의 부품들 또는 생산품들 중 적어도 하나의 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 화상 특징을, 각 금형에 대해, 저장하고,
    상기 식별부는, 식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 식별을 금형 단위로 수행하는 식별 시스템.
  15. 제14항에 있어서,
    각 금형에 대한 상기 화상 특징은, 금형의 질감을 휘도값을 반전시켜 촬영한 화상의 화상 특징이며,
    상기 식별부는, 휘도값이 반전된 상기 화상 특징을, 식별 대상인 상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 상기 생산품의 구성 요소들 중 하나인 상기 부품의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 상기 화상 특징과 대조하는 식별 시스템.
  16. 제11항 또는 제12항에 있어서,
    상기 화상 특징 저장부는, 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 부품 또는 상기 생산품의 각 개체에 대해 저장하고,
    상기 식별부는, 식별 대상인 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품의 식별을, 상기 부품 또는 상기 생산품의 각 개체에 대해 수행하는 식별 시스템.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 대조 영역에 형성된 질감형 패턴의 화상 특징은, 상기 부품, 생산품 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품에 대한 관리 정보와 대응되어 상기 화상 특징 저장부에 저장되는 식별 시스템.
  18. 대조 장치로서,
    부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 금형에 의해 형성된 질감형 패턴의 제1 화상, 및 식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 금형에 의해 형성된 질감형 패턴의 제2 화상을 취득하도록 구성되는 취득부; 및
    상기 제1 화상을 상기 제2 화상과 대조하여, 대조 결과를 출력하도록 구성되는 출력부
    를 포함하고,
    상기 질감형 패턴은 상기 금형에 적용되고, 상기 대조 영역 내의 상기 질감형 패턴은 상기 금형의 상기 질감형 패턴을 전사함으로써 형성되는 대조 장치.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 출력부는, 상기 식별 마크의 골격 부분을 사용하여, 상기 제1 화상 또는 상기 제2 화상을 정규화하는 대조 장치.
  20. 등록 장치로서,
    질감형 패턴이 형성된 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 부품 또는 생산품의 골격 부분의 대조 영역에 금형에 의해 형성된 질감형 패턴을, 사전결정된 촬영 조건들 하에서 촬영하도록 구성되는 촬영부; 및
    상기 부품 또는 상기 생산품을 식별하는 식별 정보를, 상기 촬영된 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징과 대응시켜, 저장부에 등록하도록 구성되는 등록부
    를 포함하고,
    상기 질감형 패턴은 상기 금형에 적용되고, 상기 대조 영역 내의 상기 질감형 패턴은 상기 금형의 상기 질감형 패턴을 전사함으로써 형성되는 등록 장치.
  21. 제20항에 있어서,
    부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 랜덤한 미세 요철을 생성하는 질감형 마무리를 적용하여, 대조용 질감형 패턴을 형성하도록 구성되는 질감형 패턴 형성부를 포함하는 등록 장치.
  22. 제20항 또는 제21항에 있어서,
    상기 등록부는, 상기 촬영된 대조 영역에서의 질감형 패턴의 화상 특징을, 상기 부품, 생산품, 또는 상기 부품을 구성 요소들 중 하나로서 갖는 생산품에 대한 관리 정보와 대응시켜, 상기 저장부에 등록하는 등록 장치.
  23. 프로그램을 저장하는 비-일시적인 컴퓨터 판독가능한 저장 매체로서,
    상기 프로그램은 컴퓨터로 하여금,
    부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부를 대조 영역으로서 지정하고, 상기 대조 영역에 금형에 의해 형성된 질감형 패턴의 제1 화상, 및 식별 대상인 부품 또는 생산품에 장착된 식별 마크의 골격 부분, 또는, 식별 대상인 생산품의 구성 요소들 중 하나인 부품의 골격 부분의 대조 영역에 금형에 의해 형성된 질감형 패턴의 제2 화상을 취득하는 취득 처리; 및
    상기 제1 화상을 상기 제2 화상과 대조하여, 대조 결과를 출력하는 대조 처리
    를 실행하게 하고,
    상기 질감형 패턴은 상기 금형에 적용되고, 상기 대조 영역 내의 상기 질감형 패턴은 상기 금형의 상기 질감형 패턴을 전사함으로써 형성되는 비-일시적인 컴퓨터 판독가능한 저장 매체.
  24. 식별 마크의 골격 부분의 적어도 일부에, 부품 또는 생산품을 식별하기 위한 대조용 질감형 패턴이 금형에 의해 형성되고,
    상기 질감형 패턴은 상기 금형에 적용되고, 대조 영역 내의 상기 질감형 패턴은 상기 금형의 상기 질감형 패턴을 전사함으로써 형성되는 부품 또는 생산품.
KR1020157028429A 2013-03-12 2014-03-11 식별 방법, 식별 시스템, 식별 장치, 및 프로그램 KR101859262B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2013-049282 2013-03-12
JP2013049282 2013-03-12
PCT/JP2014/056266 WO2014142099A1 (ja) 2013-03-12 2014-03-11 識別方法、識別システム、識別装置及びプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150128934A KR20150128934A (ko) 2015-11-18
KR101859262B1 true KR101859262B1 (ko) 2018-05-18

Family

ID=51536754

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020157028429A KR101859262B1 (ko) 2013-03-12 2014-03-11 식별 방법, 식별 시스템, 식별 장치, 및 프로그램

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10235593B2 (ko)
EP (1) EP2975575B1 (ko)
JP (1) JP6455678B2 (ko)
KR (1) KR101859262B1 (ko)
CN (1) CN105122307B (ko)
WO (1) WO2014142099A1 (ko)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10083370B2 (en) * 2013-04-04 2018-09-25 Nec Corporation Identification system, identification method, matching device, and program
DE102013216013A1 (de) * 2013-08-13 2015-02-19 Otto Männer Innovation GmbH Spritzgießmaschine mit verbesserter Ausbringung
DE102014009686A1 (de) * 2014-07-02 2016-01-07 Csb-System Ag Verfahren zur Erfassung schlachttierbezogener Daten an einem Schlachttier
TWI739843B (zh) 2016-05-31 2021-09-21 美商康寧公司 用於玻璃製品的防偽措施
EP3252656A1 (de) * 2016-06-03 2017-12-06 Becton Dickinson Rowa Germany GmbH Verfahren zum bereitstellen einer vereinzelungseinrichtung einer vorrats- und abgabestation
US10255524B2 (en) 2016-06-03 2019-04-09 Becton Dickinson Rowa Germany Gmbh Method for providing a singling device of a storage and dispensing container
CN106372644A (zh) * 2016-08-22 2017-02-01 保定市立中车轮制造有限公司 一种用于轮毂分拣系统的图像识别方法
US20180173213A1 (en) * 2016-12-15 2018-06-21 Solar Turbines Incorporated Assessment of industrial machines
JP2018108633A (ja) * 2016-12-28 2018-07-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 工具システム
WO2018123433A1 (ja) 2016-12-28 2018-07-05 パナソニックIpマネジメント株式会社 工具システム
US11501517B2 (en) * 2017-03-28 2022-11-15 Nec Corporation Individual identifying device
JP6800820B2 (ja) * 2017-07-14 2020-12-16 パナソニック株式会社 人流分析方法、人流分析装置、及び人流分析システム
CN109344900B (zh) * 2018-09-30 2022-02-08 中民筑友科技投资有限公司 一种构件识别方法、装置、设备及计算机可读存储介质
WO2020110269A1 (ja) * 2018-11-29 2020-06-04 日本電気株式会社 個体識別装置
WO2020140262A1 (zh) * 2019-01-04 2020-07-09 罗伯特·博世有限公司 验证方法、终端设备与服务器
KR102191028B1 (ko) * 2019-02-14 2020-12-15 한양대학교 에리카산학협력단 분할 이미지 기반 이미지 복원 시스템
CN112461829B (zh) * 2019-09-06 2022-11-18 科沃斯机器人股份有限公司 一种光流传感模块、自移动机器人以及材质检测的方法
JP2022122666A (ja) * 2021-02-10 2022-08-23 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 識別装置および識別プログラム
WO2023188115A1 (ja) * 2022-03-30 2023-10-05 三菱電機株式会社 半導体デバイス、半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイスの識別方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008133495A (ja) * 2006-11-27 2008-06-12 Fuji Xerox Co Ltd 交換品、真偽判定装置、交換品使用許可装置、真偽判定プログラム、交換品使用許可プログラム

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7095874B2 (en) * 1996-07-02 2006-08-22 Wistaria Trading, Inc. Optimization methods for the insertion, protection, and detection of digital watermarks in digitized data
US6263086B1 (en) * 1998-04-15 2001-07-17 Xerox Corporation Automatic detection and retrieval of embedded invisible digital watermarks from halftone images
US7065228B2 (en) * 2002-10-31 2006-06-20 Digimarc Corporation Injection molding process including digital watermarking and articles manufactured from injection molding process
JP2001014462A (ja) 1999-07-02 2001-01-19 Mitsubishi Electric Corp 指紋照合システム
US7058199B1 (en) * 2000-08-14 2006-06-06 The Hong Kong University Of Science And Technology Methods and apparatus for hiding data in halftone images
US20020175446A1 (en) * 2001-05-24 2002-11-28 Friery Edward J. Injection mold inner core die and method of use
JP2003138486A (ja) 2001-10-31 2003-05-14 Upepo & Maji Inc 電子透かしコード内在着色物
JP4615272B2 (ja) 2003-09-29 2011-01-19 富士フイルム株式会社 認証システム、プログラム、及び建築物
US8323780B1 (en) * 2004-10-08 2012-12-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Ink coatings for identifying objects
WO2007028799A1 (en) * 2005-09-05 2007-03-15 Alpvision S.A. Means for using microstructure of materials surface as a unique identifier
JP5052054B2 (ja) 2006-06-27 2012-10-17 品川商工株式会社 Icタグ
JP4848912B2 (ja) 2006-09-28 2011-12-28 富士ゼロックス株式会社 真偽判定装置、真偽判定方法、真偽判定プログラム、非晶質合金部材の作製方法
JP4689570B2 (ja) 2006-10-11 2011-05-25 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法
US20090080760A1 (en) * 2007-09-21 2009-03-26 Microsecurity Lab Inc. Anti-counterfeiting mark and methods
HUE026760T2 (en) * 2008-03-20 2016-07-28 Univ Geneve Secure element identification and authentication system and non-cloning properties
DE102009016289A1 (de) * 2009-01-02 2010-07-15 Singulus Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zur Identifizierung von Gegenständen sowie zum Verfolgen von Gegenständen in einem Produktionsprozess
JP2012043953A (ja) * 2010-08-18 2012-03-01 Renesas Electronics Corp 電子部品および電子部品の製造方法
KR102055231B1 (ko) * 2011-03-17 2019-12-12 뉴욕 유니버시티 물리적 객체의 인증 및 확인을 위한 시스템, 방법 및 컴퓨터-접근가능 매체
WO2013018615A1 (ja) * 2011-07-29 2013-02-07 日本電気株式会社 照合・検索システム、照合・検索サーバ、画像特徴抽出装置、照合・検索方法及びプログラム
US9842285B2 (en) 2011-07-29 2017-12-12 Nec Corporation Collation/retrieval system, collation/retrieval server, image feature extraction apparatus, collation/retrieval method, and program

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008133495A (ja) * 2006-11-27 2008-06-12 Fuji Xerox Co Ltd 交換品、真偽判定装置、交換品使用許可装置、真偽判定プログラム、交換品使用許可プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US20160042245A1 (en) 2016-02-11
JPWO2014142099A1 (ja) 2017-02-16
US10235593B2 (en) 2019-03-19
KR20150128934A (ko) 2015-11-18
CN105122307B (zh) 2019-01-22
CN105122307A (zh) 2015-12-02
EP2975575A1 (en) 2016-01-20
EP2975575B1 (en) 2020-06-24
WO2014142099A1 (ja) 2014-09-18
EP2975575A4 (en) 2016-11-30
JP6455678B2 (ja) 2019-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101859262B1 (ko) 식별 방법, 식별 시스템, 식별 장치, 및 프로그램
US11302016B2 (en) Determination method, determination system, determination device, and program
JP6455679B2 (ja) 識別システム、識別方法、照合装置及びプログラム
US9760771B2 (en) Identification method, identification system, matching device, and program
US20220109811A1 (en) Verification method, verification system, verification apparatus, and program therefor
US20210312158A1 (en) Model-based digital fingerprinting
JP6406513B2 (ja) 照合方法、照合システム、装置、照合装置及びプログラム
JPWO2014163014A1 (ja) 識別システム、識別方法、照合装置及びプログラム
CN107251092B (zh) 比较系统、比较装置、比较方法和程序
JP7143868B2 (ja) 部品取付機器、作業管理方法、作業管理システム、照合装置、照合方法及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right