KR101832988B1 - 모판, 모판의 제조 방법, 및 마스크의 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 FMM을 이용한 OLED 화소 증착 장치를 나타내는 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전주 도금 장치를 나타내는 개략도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 마스크를 나타내는 개략도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 모판의 외면을 나타내는 개략도이다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 모판의 제조 방법을 나타내는 개략도이다.
도 9 내지 도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 모판을 이용한 마스크 제조 과정을 나타내는 개략도이다.
도 12는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 도금막이 생성되는 형태를 나타내는 개략도이다.
11: 도금조
12: 도금액
15: 도금막
20: 음극체, 모판
21: 전도성 기재, 도금부
23: 절연막
25: 절연부
26: 단위 절연체
30: 양극체
40: 전원공급부
100: 마스크, 새도우 마스크, FMM(Fine Metal Mask)
200: OLED 화소 증착 장치
EF: 전기장
DP: 디스플레이 패턴
PP: 화소 패턴
ML: 식각방지층
MP: 식각방지 패턴
Claims (30)
- 전주 도금(Electroforming)으로 OLED 화소 형성용 마스크 제조시 사용되는 모판(Mother Plate)으로서,
도금막이 형성되는 도금부; 및
모판의 일면 상에 패턴을 구성하며 형성된 복수의 절연부;
를 포함하며,
모판은 도핑된 단결정 실리콘 재질이고, 절연부는 평판 형상의 모판으로부터 양각으로 돌출 형성된 세라믹 재질이며,
노출된 단결정 실리콘의 표면에서 인바(Invar) 또는 수퍼 인바(Super Invar) 재질의 도금막이 형성되고, 절연부 상에서 도금막의 형성이 방지되어 도금막이 패턴을 가지게 되며, 상기 패턴을 가지는 도금막은 FMM(Fine Metal Mask)이 되는, 모판. - 삭제
- 제1항에 있어서,
절연부는 도금막의 패턴에 대응하는 형상을 가지는, 모판. - 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,
모판은 적어도 1019 cm-3 이상 도핑된, 모판. - 제1항에 있어서,
절연부는 실리콘 산화물 재질인, 모판. - 제1항에 있어서,
절연부의 두께는 0.5㎛인, 모판. - 제1항에 있어서,
도금부 및 절연부 상의 소정 부분에 도금막을 형성할 수 있는 전기장이 작용하는, 모판. - 제1항에 있어서,
절연부는 모판의 다른 일면의 전부 및 측면의 전부에 형성된, 모판. - 삭제
- 제1항에 있어서,
모판은 전주 도금에서 음극체(Cathode Body)로 사용되는, 모판. - 전주 도금(Electroforming)으로 OLED 화소 형성용 마스크 제조시 사용되는 모판(Mother Plate)으로서,
모판의 일면은,
전도성을 가지는 제1 영역 및 비전도성을 가지도록 모판의 일면 상에 절연부를 배치한 제2 영역으로 구분되고,
제1 영역에서 도금막이 형성됨으로써 마스크가 제조되며,
모판은 도핑된 단결정 실리콘 재질이고, 절연부는 평판 형상의 모판으로부터 양각으로 돌출 형성된 세라믹 재질이며,
모판의 제1 영역 표면에서 인바(Invar) 또는 수퍼 인바(Super Invar) 재질의 도금막이 형성되고, 제2 영역 상에서 도금막의 형성이 방지되어 도금막이 패턴을 가지게 되며, 상기 패턴을 가지는 도금막은 FMM(Fine Metal Mask)이 되는, 모판. - 전주 도금(Electroforming)으로 OLED 화소 형성용 마스크 제조시 사용되는 모판(Mother Plate)의 제조 방법으로서,
(a) 도핑된 단결정 실리콘 재질의 전도성 기재를 제공하는 단계;
(b) 평판 형상의 전도성 기재의 적어도 일면 상에 전도성 기재로부터 양각으로 돌출 형성된 세라믹 재질인 절연막을 형성하는 단계; 및
(c) 절연막을 식각하여 패턴을 구성하는 복수의 절연부를 형성하는 단계;
를 포함하며,
노출된 단결정 실리콘의 표면에서 인바(Invar) 또는 수퍼 인바(Super Invar) 재질의 도금막이 형성되고, 절연부 상에서 도금막의 형성이 방지되어 도금막이 패턴을 가지게 되며, 상기 패턴을 가지는 도금막은 FMM(Fine Metal Mask)이 되는, 모판의 제조 방법. - 삭제
- 삭제
- 제14항에 있어서,
(b) 단계는,
습식 산화법 또는 건식 산화법으로 전도성 기재의 적어도 일면상에 실리콘 산화물 재질인 절연막을 형성하는 단계인, 모판의 제조 방법. - 제14항에 있어서,
(c) 단계는,
(c1) 절연막의 일면 상에 식각방지 패턴을 가지는 식각방지층을 형성하는 단계; 및
(c2) 식각방지 패턴 사이로 절연막을 식각하여 패턴을 구성하는 복수의 절연부를 형성하는 단계
를 포함하는, 모판의 제조 방법. - 제18항에 있어서,
(c2) 단계는,
습식 식각을 이용하여, 식각방지 패턴이 형성된 면에서 절연막을 식각하여 패턴을 구성하는 복수의 절연부를 형성함과 동시에, 식각방지 패턴이 형성된 면을 제외한 나머지 면의 절연막을 식각하는 단계인, 모판의 제조 방법. - 제18항에 있어서,
(c2) 단계는,
건식 식각을 이용하여, 식각방지 패턴이 형성된 면에서만 절연막을 식각하여 패턴을 구성하는 복수의 절연부를 형성하는 단계인, 모판의 제조 방법. - 전주 도금(Electroforming)으로 OLED 화소 형성용 마스크를 제조하는 방법으로서,
도핑된 단결정 실리콘 재질인 음극체(Cathode Body)의 일면 상에 패턴을 구성하며, 평판 형상의 음극체로부터 양각으로 돌출 형성된 세라믹 재질인 복수의 절연부가 형성되고,
음극체의 절연부를 제외한 표면에서 인바(Invar) 또는 수퍼 인바(Super Invar) 재질의 도금막이 형성되어 마스크 바디를 구성하고,
음극체의 절연부가 형성된 표면에서 도금막의 형성이 방지되어 마스크 패턴을 구성하며, 상기 패턴을 가지는 도금막은 FMM(Fine Metal Mask)이 되는, 마스크의 제조 방법. - 전주 도금(Electroforming)으로 OLED 화소 형성용 마스크를 제조하는 방법으로서,
(a) 도핑된 단결정 실리콘 재질의 전도성 기재를 제공하는 단계;
(b) 평판 형상의 전도성 기재의 적어도 일면 상에 전도성 기재로부터 양각으로 돌출 형성된 세라믹 재질인 절연막을 형성하는 단계;
(c) 절연막을 식각하여 패턴을 구성하는 복수의 절연부를 형성함으로써 음극체(Cathode Body)를 제조하는 단계; 및
(d) 음극체 및 음극체에 이격되어 배치되는 양극체(Anode Body)의 적어도 일부를 도금액에 침지하고, 음극체 및 양극체 사이에 전기장을 인가하는 단계
를 포함하며,
음극체의 절연부를 제외한 표면에서 인바(Invar) 또는 수퍼 인바(Super Invar) 재질의 도금막이 형성되어 마스크 바디를 구성하고,
음극체의 절연부가 형성된 표면에서 도금막의 형성이 방지되어 마스크 패턴을 구성하며, 상기 패턴을 가지는 도금막은 FMM(Fine Metal Mask)이 되는, 마스크의 제조 방법. - 전주 도금(Electroforming)으로 OLED 화소 형성용 마스크를 제조하는 방법으로서,
도핑된 단결정 실리콘 재질인 음극체(Cathode Body)의 일면 상에 패턴을 구성하며, 평판 형상의 음극체로부터 양각으로 돌출 형성된 세라믹 재질인 복수의 절연부가 형성되고,
도금막을 형성할 수 있는 전기장이 작용하는, 절연부 상의 소정 부분 및 절연부를 제외한 음극체 상의 표면 전부에서 인바(Invar) 또는 수퍼 인바(Super Invar) 재질의 도금막이 생성되어 마스크 바디를 구성하고,
도금막을 형성할 수 있는 전기장이 작용하지 않는, 절연부 상의 소정 부분을 제외한 나머지 부분에서 도금막의 생성이 방지되어 마스크 패턴을 구성하며, 상기 패턴을 가지는 도금막은 FMM(Fine Metal Mask)이 되는, 마스크의 제조 방법. - 삭제
- 제21항 또는 제22항에 있어서,
절연부는 마스크 패턴에 대응하는 형상을 가지는, 마스크의 제조 방법. - 제21항 내지 제23항 중 어느 한 항에 있어서,
마스크 패턴의 폭은 적어도 30㎛보다 작은, 마스크의 제조 방법. - 제23항에 있어서,
절연부의 폭은 마스크 패턴의 폭보다 큰, 마스크의 제조 방법. - 삭제
- 제23항에 있어서,
도금막의 두께는 적어도 5㎛이고,
절연부의 두께는 0.5㎛인, 마스크의 제조 방법. - 전주 도금(Electroforming)으로 제조된 OLED 화소 형성용 마스크를 사용하는 OLED 화소 증착 방법으로서,
(a) 제21항 내지 제23항 중 어느 하나의 마스크의 제조 방법을 이용하여 제조한 마스크를 대상 기판에 대응시키는 단계;
(b) 대상 기판에 마스크를 통하여 유기물 소스를 공급하는 단계; 및
(c) 유기물 소스가 마스크의 패턴을 통과하여 대상 기판에 증착되는 단계
를 포함하는, OLED 화소 증착 방법.
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JP2008305703A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Hitachi Chem Co Ltd | パターンが施された金属箔の製造方法 |
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