KR101791654B1 - 초가속 수명 시험 장치 - Google Patents

초가속 수명 시험 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101791654B1
KR101791654B1 KR1020170064728A KR20170064728A KR101791654B1 KR 101791654 B1 KR101791654 B1 KR 101791654B1 KR 1020170064728 A KR1020170064728 A KR 1020170064728A KR 20170064728 A KR20170064728 A KR 20170064728A KR 101791654 B1 KR101791654 B1 KR 101791654B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
temperature
chamber
test
low
air
Prior art date
Application number
KR1020170064728A
Other languages
English (en)
Inventor
임종섭
Original Assignee
임종섭
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 임종섭 filed Critical 임종섭
Priority to KR1020170064728A priority Critical patent/KR101791654B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101791654B1 publication Critical patent/KR101791654B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/60—Investigating resistance of materials, e.g. refractory materials, to rapid heat changes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • G01M99/002—Thermal testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/02—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating changes of state or changes of phase; by investigating sintering

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

본 발명은 제품의 시험이 진행되는 테스트 챔버와, 상기 테스트 챔버의 일측에 위치되어 저온의 공기를 공급하도록 형성되는 저온 챔버, 및 상기 테스트 챔버의 타측에 위치되어 고온의 공기를 공급하도록 형성되는 고온 챔버를 포함하며, 상기 테스트 챔버를 저온 챔버 또는 고온 챔버에 택일적으로 연통하여 급격한 온도 변화를 형성하는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치에 관한 것이다.

Description

초가속 수명 시험 장치{Highly Accelerated Life Test}
본 발명은 초가속 수명 시험 장치에 관한 것으로, 액체 질소를 사용하지 않고 성능이 향상된 초가속 수명 시험 장치에 관한 것이다.
일반적으로 제품의 신뢰성 시험은 제품의 신뢰성 수준을 평가하고, 여러 사용 환경조건에서 시간에 따른 안정성을 평가하기 위하여 계획된 시험 및 분석 과정이다.
또한, 제품의 신뢰성 시험은 제품 개발 및 제조 과정에서 신뢰성의 향상, 평가, 인정 및 보증을 위하여 실시되는 시험이다.
상기 신뢰성이라 함은 어떤 아이템이 규정된 조건에서 정해진 기간 동안 의도한 기능을 만족스럽게 수행할 수 있는 확률이다.
상기 신뢰성 시험 장치 중 초가속 수명 시험 장치(HALT: Highly Accelerated Life Test)는 시간을 단축할 목적으로 기준보다 가혹한 조건에서 실시하는 신뢰성 시험 장치이다.
종래 초가속 수명 시험 장치에는 액체질소를 이용하여 비용이 과다하게 발생하는 문제가 있다.
한국공개특허 제2011-0077342호
본 발명은 액체질소를 사용하지 않는 초가속 수명 시험 장치를 제공하고자 한다.
본 발명은 제품의 시험이 진행되는 테스트 챔버와, 상기 테스트 챔버의 일측에 위치되어 저온의 공기를 공급하도록 형성되는 저온 챔버, 및 상기 테스트 챔버의 타측에 위치되어 고온의 공기를 공급하도록 형성되는 고온 챔버를 포함하며, 상기 테스트 챔버를 저온 챔버 또는 고온 챔버에 택일적으로 연통하여 급격한 온도 변화를 형성하는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치를 제공한다.
상기 테스트 챔버는 상기 제품이 안착되는 진동판과, 상기 진동판의 상방에 형성되어 외측 공기가 테스트 챔버 내측으로 인입되도록 안내하는 통로로 형성되는 제1상부덕트와, 상기 진동판의 상방에 형성되어 상기 테스트 챔버 내측 공기가 외부로 배출되도록 안내하는 통로로 형성되는 제2상부덕트와, 상기 제2상부덕트를 통해서 테스트 챔버 공기를 외측으로 배출시키도록 작동되는 제1브로워 모터와, 상기 제1상부덕트를 개폐하도록 형성되는 상부인입개폐부, 및 상기 제2상부덕트를 개폐하도록 형성되는 상부인출개폐부를 포함할 수 있다.
상기 저온 챔버는 공기의 흐름을 유도하도록 형성되는 제2브로워 모터와, 상기 제2브로워 모터의 전방에 위치하여 열을 발생하도록 형성되는 제1히터와, 상기 제1히터에 인접하여 온도를 강하시키도록 형성되는 제1냉각부재와, 상기 제1냉각부재에 인접하며 테스트 일측벽에 이격되어 나란히 형성되는 제1순환벽과, 상기 테스트 챔버에 형성된 테스트 일측벽의 일측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 저온일측개폐부, 및 상기 테스트 일측벽의 타측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 저온타측개폐부를 포함할 수 있다.
상기 고온 챔버는 공기의 흐름을 유도하도록 형성되는 제3브로워 모터와, 상기 제3브로워 모터의 전방에 위치하여 열을 발생하도록 형성되는 제2히터와, 상기 제2히터에 인접하여 온도를 강하시키도록 형성되는 제2냉각부재와, 상기 제2냉각부재에 인접하며 테스트 타측벽에 이격되어 나란히 형성되는 제2순환벽과, 상기 테스트 챔버에 형성된 테스트 타측벽의 일측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 고온일측개폐부, 및 상기 테스트 타측벽의 타측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 고온타측개폐부를 포함할 수 있다.
상기 진동판의 하부에는 복수개의 실린더 부재가 형성될 수 있다.
상기 진동판의 둘레와 테스트 챔버의 하부 프레임 사이에는 주름부재가 형성될 수 있다.
상기 제2히터는 제1히터에 비하여 공기를 고온으로 가열하고, 상기 제1냉각부재는 제2냉각부재에 비하여 공기를 저온으로 냉각하도록 형성될 수 있다.
상기 제1냉각부재 및 제2냉각부재와 연결되도록 형성되는 냉동 챔버를 더 포함할 수 있다.
상기 저온 챔버에 제1냉각부재를 복수개의 냉각부재로 대체할 수 있다.
상기 개폐부에는 피스톤 로드와 실린더가 연결될 수 있다.
본 발명은 테스트 챔버에 저온 챔버와 고온 챔버를 선택적으로 연결할 수 있어 종래의 액체 질소를 사용하지 않고 테스트 챔버에 신속하게 온도 변화를 줄 수 있으면서도 비용이 절감되는 효과가 발생된다.
본 발명은 냉동 챔버를 통하여 테스트 챔버의 온도 변동을 신속하게 진행할 수 있도록 하는 효과가 발생된다.
본 발명은 제1냉각부재를 사용하지 않고 용량이 작은 제1-1냉각부재와 제3냉각부재를 사용하여 냉각부재를 전부 가동할 필요가 없는 경우에 제1-1냉각부재와 제3냉각부재 중 하나만 가동하여 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 발생된다.
본 발명은 열 충격 모드 시험을 통하여 시제품에 영상과 영하의 급격한 온도 변화를 부과함으로써 급격한 열 충격을 가하는 효과가 발생된다.
본 발명은 스텝 모드를 통하여 시제품에 단계별로 온도 변화를 주면서 시험할 수 있는 효과가 발생된다.
도 1은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치의 개략 평단면도이다.
도 2는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치의 개략 정단면도이다.
도 3은 냉동 챔버의 개략 구성도이다.
도 4는 도 1의 변형예를 도시한 개략 평단면도이다.
도 5는 저온 챔버의 일부를 확대한 개략 사시도이다.
도 6은 저온 챔버의 폐쇄형 상태에서의 순환과정을 나타내는 개략 단면도이다.
도 7은 저온 챔버의 개방형 상태에서 순환과정을 나타내는 개략 단면도이다.
도 8은 저온일측개폐부의 회전과정을 나타내는 것으로, 도 8의 (a)는 저온일측개폐부가 테스트 일측벽과 일직선 상에 위치된 상태를 나타내는 개략 확대단면도이고, 도 8의 (b)는 저온일측개폐부가 테스트 일측벽과 수직되게 회전되어 테스트 일측벽과 제1순환벽 사이에 위치된 상태를 나타내는 개략 확대단면도이다.
도 9는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 모드를 적용하여 시험하고 있는 개략 평단면도이다.
도 10은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 상온 모드를 적용하여 시험하고 있는 개략 평단면도이다.
도 11은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 모드를 적용해서 시험하고 있는 개략 평단면도이다.
도 12는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 열 충격 모드를 시험하고 있는 그래프이다.
도 13의 (a)는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 스텝 모드를 시험하고 있는 그래프이고, 도 13의 (b)는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 스텝 모드를 시험하고 있는 그래프이다.
도 14의 (a)는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 단속 진동 모드를 시험하고 있는 그래프이고, 도 14의 (b)는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 계단식 진동 모드를 시험하고 있는 그래프이다.
도 15는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 열 충격 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이다.
도 16은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 열 충격 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이다.
도 17은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 스텝 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이다.
도 18은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 스텝 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이다.
도 19는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 스텝 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이다.
도 20은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 스텝 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이다.
이하 본 발명의 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다. 다만, 첨부된 도면은 본 발명의 내용을 보다 쉽게 개시하기 위하여 설명되는 것일 뿐, 본 발명의 범위가 첨부된 도면의 범위로 한정되는 것이 아님은 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 용이하게 알 수 있을 것이다.
그리고, 본 실시예를 설명함에 있어서, 동일 구성에 대해서는 동일 명칭 및 동일 부호가 사용되며 이에 따른 부가적인 설명은 생략하기로 한다.
또한, 본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치의 개략 평단면도이고, 도 2는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치의 개략 정단면도이며, 도 3은 냉동 챔버의 개략 구성도이고, 도 4는 도 1의 변형예를 도시한 개략 평단면도이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치(100)는 가혹한 환경 시험이 진행되는 테스트 챔버(120)와, 상기 테스트 챔버(120)의 일측에 위치되어 저온의 공기를 공급하도록 형성되는 저온 챔버(140)와, 상기 테스트 챔버(120)의 타측에 위치되어 고온의 공기를 공급하도록 형성되는 고온 챔버(160), 및 상기 저온 챔버(140)의 하방에 위치되어 냉기발생시설이 형성되는 냉동 챔버(180) 및 제어부(500)를 포함한다.
상기 테스트 챔버(120)는 시제품이 안착되는 진동판(122)과, 상기 진동판(122)의 상방에 형성되어 외측 공기가 테스트 챔버(120) 내측으로 인입되도록 안내하는 통로로 형성되는 제1상부덕트(124)와, 상기 진동판(122)의 상방에 형성되어 상기 테스트 챔버(120) 내측 공기가 외부로 배출되도록 안내하는 통로로 형성되는 제2상부덕트(126)와, 상기 제2상부덕트(126)를 통해서 테스트 챔버(120) 공기를 외측으로 배출시키도록 작동되는 제1브로워 모터(128)와, 상기 제1상부덕트(124)를 개폐하도록 형성되는 상부인입개폐부(124a), 및 상기 제2상부덕트(126)를 개폐하도록 형성되는 상부인출개폐부(126a)를 포함한다.
상기 진동판(122)의 하부에는 제1실린더 부재(122a)와 제2실린더 부재(122b)를 포함하는 복수개의 실린더 부재가 형성되어 진동판(122)을 사방으로 진동시킨다.
또한, 상기 진동판(122)의 둘레와 테스트 챔버(120)의 하부 프레임(120-1) 사이에는 주름 천 등의 주름부재(122-1)가 형성되어 진동판(122)이 진동되더라도 테스트 챔버(120)의 냉기 또는 온기가 외부로 배출되는 것을 차단한다.
상기 진동판(122)의 하부에는 스프링 등의 탄성부재(122-2)가 형성되며, 상기 탄성부재(122-2)의 하부에는 지지프레임(122-3)이 형성된다.
상기 탄성부재(122-2)는 지지프레임(122-3)에 지지되어 진동판(122)의 진동을 탄성 범위 내에서 완충시킨다.
상기 테스트 챔버(120)에는 저온 챔버(140)와 접하는 부분에 테스트 일측벽(120a)이 형성되고, 고온 챔버(160)와 접하는 부분에 테스트 타측벽(120b)가 형성된다.
이러한 테스트 챔버(120)에서는 시제품을 진동판(122) 상부에 위치시킨 후에 저온의 공기와 고온의 공기를 신속하게 변경하면서 진동시키는 과정을 병행하여 다양한 가혹환경에서 시제품이 진동하는 것에 대해 시험이 진행된다.
상기 공기는 필요한 경우에 다양한 열매체 등의 유체로 변경 가능하다.
상기 저온 챔버(140)는 공기의 흐름을 유도하도록 형성되는 제2브로워 모터(142)와, 상기 제2브로워 모터(142)의 전방에 위치하여 열을 발생하도록 형성되는 제1히터(144)와, 상기 제1히터(144)에 인접하여 온도를 강하시키도록 형성되는 증발기인 제1냉각부재(146)와, 상기 제1냉각부재(146)에 인접하며 테스트 일측벽(120a)에 일정거리 이격되어 나란히 형성되는 제1순환벽(147)과, 상기 테스트 일측벽(120a)의 일측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 저온일측개폐부(152), 및 상기 테스트 일측벽(120a)의 타측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 저온타측개폐부(154)를 포함한다.
상기 저온 챔버(140)는 제2브로워 모터(142)를 통하여 제1히터(144)로부터 발생되는 열을 순환하거나 제1냉각부재(146)로부터 발생되는 냉각 공기를 순환하는 역할을 한다.
제1순환벽(147)은 저온일측개폐부(152)와 저온타측개폐부(154)가 테스트 일측벽(120a)과 같은 직선상에 있는 경우에 저온 챔버(140)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로를 차단하여 저온 챔버(140)에서 발생된 공기가 제1순환벽(147)을 중심으로 저온 챔버(140) 내에서 회전하는 작용을 한다.
그리고 저온일측개폐부(152)와 저온타측개폐부(154)가 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이를 폐쇄하도록 위치되는 경우에는 저온 챔버(140)에서 발생된 공기가 테스트 챔버(120)로 유입된 후에 다시 저온 챔버(140)로 이동되는 경로로 순환된다.
상기 고온 챔버(160)는 공기의 흐름을 유도하도록 형성되는 제3브로워 모터(162)와, 상기 제3브로워 모터(162)의 전방에 위치하여 열을 발생하도록 형성되는 제2히터(164)와, 상기 제2히터(164)에 인접하여 온도를 강하시키도록 형성되는 증발기인 제2냉각부재(166)와, 상기 제2냉각부재(166)에 인접하며 테스트 타측벽(120b)에 일정거리 이격되어 나란히 형성되는 제2순환벽(167)과, 상기 테스트 타측벽(120b)의 일측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 고온일측개폐부(170), 및 상기 테스트 타측벽(120b)의 타측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 고온타측개폐부(172)를 포함한다.
상기 제3브로워 모터(162)는 제2히터(164)로부터 발생되는 고온 공기를 순환시키거나 제2냉각부재(166)로부터 발생된 저온 공기를 순환시키는 작용을 한다.
상기 제2히터(164)는 제1히터(144)에 비하여 용량이 크기 때문에 같은 공간 영역을 제1히터(144)에 비하여 단시간에 고온으로 상승시킬 수 있고 상승된 온도도 높다.
상기 제2히터(164)와 제1히터(144)의 구조는 일반적으로 널리 공지된 열교환 구조를 포함한 형태로 자세한 설명은 생략한다.
상기 제2냉각부재(166)는 제1냉각부재(146)에 비하여 용량이 작게 형성되어 같은 공간 영역의 온도를 하강시키는데 제1냉각부재(146)에 비하여 장시간이 소요된다.
그리고 저온으로 하강시길 수 있는 온도 범위도 제1냉각부재(146)가 제2냉각부재(166)보다 더 크기 때문에 제1냉각부재(146)에 의해 하강되는 온도는 제2냉각부재(166)에 의해 하강되는 온도보다 낮다.
도 3과 같이 상기 냉동 챔버(180)는 저온 챔버(140)의 제1냉각부재(146) 및 고온 챔버(160)의 제2냉각부재(166)와 연결되며, 열교환기(182), 복수개의 액분리기(182-1)와, 복수개의 압축기(182-2), 복수개의 유분리기(182-3), 응축기(182-4), 복수개의 팽창밸브(182-5), 복수개의 전자밸브(182-6), 고압스위치(182-7) 및 고저압스위치(182-8)를 포함한다.
상기 액분리기(182-1)는 증발기에서 압축기로 흡입되는 냉매가스 중에 포함된 냉매액을 분리시켜 증발기에서 완전히 증발되지 않는 냉매가 압축기로 흡입되어 압축기가 파손되는 것을 방지한다.
상기 압축기(Compressor)(182-2)는 압축관 내부에 전기 코일로 냉매를 강제로 압축하여 순환시키는 기계 장치로 기체상태의 냉매가스를 고온고압의 액체상태로 만들어 주는 부분이다.
상기 유분리기(182-3)는 압축기에서 응축기까지의 토출가스에 포함되어 있는 기름을 분리시켜 기름이 응축기(182-4)로 전달되어 응축기(182-4)의 성능이 저하되는 것을 방지한다.
상기 응축기(Condenser)(182-4)는 압축기에서 나온 고온고압의 액체가스를 온도만 낮추어주는 부분이다.
상기 팽창밸브(Expansion Valve)(182-5)는 응축기에서 나온 저온고압의 액체가스를 가느다란 구멍을 통과시켜 급작스러운 압력저하를 주어 강제로 기체화시키는 장치이다.
상기 전자밸브(182-6)는 솔레노이드 밸브로 형성된다.
상기 고압스위치(182-7) 및 고저압스위치(182-8)는 압축기(182-2)의 압력을 조절한다.
본 발명은 또한 도 4와 같이 저온 챔버(140)에 제1냉각부재(146)를 사용하지 않고 제1-1냉각부재(146-1)를 형성하고, 제1-1냉각부재(146-1)와 같은 용량의 제3냉각부재(168)를 추가로 저온 챔버(140)에 설치하는 것도 가능하다.
제1냉각부재(146)를 사용하지 않고 용량이 작은 제1-1냉각부재(146-1)와 제3냉각부재(168)를 사용하는 경우에는 냉각부재를 전부 가동할 필요가 없는 경우에 저온 챔버(140)에 형성된 제1-1냉각부재(146-1)와 제3냉각부재(168) 중 하나만 가동하여 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 발생된다.
그리고 제1-1냉각부재(146-1)에 의해 저온 챔버의 온도를 1차로 하강하고, 제3냉각부재(168)에 의해 저온 챔버의 온도를 2차로 하강시켜서 온도 하강을 크게 진행할 수 있다.
또한, 이 경우에 용량이 상이한 냉각부재를 각각 설치하는 경우보다 용량이 같은 냉각부재를 복수개 설치하는 것이 냉동기 교체 및 수리 비용면에서 유리한 점이 있다.
도 5는 저온 챔버의 일부를 확대한 개략 사시도이고, 도 6은 저온 챔버의 폐쇄형 상태에서의 순환과정을 나타내는 개략 단면도이고, 도 7은 저온 챔버의 개방형 상태에서의 순환과정을 나타내는 개략 단면도이다.
도 5와 같이 저온 챔버(140)는 저온일측개폐부(152)와 저온타측개폐부(154)가 테스트 일측벽(120a)과 같은 직선상에 위치된 상태인 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이의 공간을 개방하고 저온 챔버(140)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로가 폐쇄된 상태로 형성될 수 있다.
또한, 저온일측개폐부(152)와 저온타측개폐부(154)가 테스트 일측벽(120a)과 같은 직선상에 위치된 상태에서 회전되면 테스트 일측벽(120a)과 수직위치로 이동되어 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이의 공간이 폐쇄되고 저온 챔버(140)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로가 개방되는 형태로 전환된다.
도 6과 같이 저온일측개폐부(152)와 저온타측개폐부(154)가 테스트 일측벽(120a)과 같은 직선상에 위치된 상태인 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이의 공간을 개방하고 저온 챔버(140)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로가 폐쇄된 상태에서는 저온 챔버(140)가 폐쇄형 상태에서의 순환과정으로 제2브로워 모터(142)로부터 전방으로 이동되는 공기는 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이의 공간을 통하여 되돌아오는 과정을 거치면서 저온 챔버(140) 내에서만 순환된다.
한편, 도 7과 같이 저온일측개폐부(152)와 저온타측개폐부(154)가 테스트 일측벽(120a)과 수직위치로 이동되어 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이의 공간이 폐쇄되고 저온 챔버(140)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로가 개방되는 형태에서는 저온 챔버(140)가 개방형 상태에서의 순환과정으로 제2브로워 모터(142)로부터 전방으로 이동되는 공기는 저온타측개폐부(154)에 의해 개방된 통로를 통해 테스트 챔버(120)로 이동된 후 저온일측개폐부(152)에 의해 개방된 통로를 통해 다시 저온 챔버(140)로 돌아오는 순환과정으로 진행된다.
본 발명의 고온 챔버(160)도 상기 저온 챔버(140)와 같이 순환 구조가 형성된다.
도 8은 저온일측개폐부의 회전과정을 나타내는 것으로, 도 8의 (a)는 저온일측개폐부가 테스트 일측벽과 일직선 상에 위치된 상태를 나타내는 개략 확대단면도이고, 도 8의 (b)는 저온일측개폐부가 테스트 일측벽과 수직되게 회전되어 테스트 일측벽과 제1순환벽 사이에 위치된 상태를 나타내는 개략 확대단면도이다.
본 발명에서 저온일측개폐부(152)에는 피스톤 로드(152b)와 실린더(152a)가 연결되어 저온일측개폐부(152)가 힌지축을 중심으로 회전되도록 작동된다.
즉, 도 8의 (a)와 같이 저온일측개폐부(152)가 테스트 일측벽(120a)과 일직선 상에 위치된 상태에서 피스톤 로드(152b)를 신장시키면 도 8의 (b)와 같이 저온일측개폐부(152)가 테스트 일측벽(120a)과 수직되게 회전되어 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이에 위치되도록 작용된다.
본 발명에서의 개폐부(124a, 126a, 152, 154, 170, 172) 회전 구조는 상기 도 8과 같은 피스톤 로드(152b)와 실린더(152a)를 이용한 구조로 형성된다.
도 9는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 모드를 적용하여 시험하고 있는 개략 평단면도이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치(100)를 이용하여 고온 모드를 적용하면, 저온 챔버(140)의 저온일측개폐부(152)와 저온타측개폐부(154)가 테스트 일측벽(120a)과 일직선으로 위치되어 저온 챔버(140)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로가 폐쇄되고, 고온 챔버(160)의 고온일측개폐부(170)와 고온타측개폐부(172)가 테스트 타측벽(120b)에 수직 방향으로 이동되어 테스트 타측벽(120b)과 제2순환벽(167) 사이에 공간을 폐쇄하고 고온 챔버(160)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로가 개방된 상태가 된다.
따라서, 저온 챔버(140)는 폐쇄형 상태에서의 순환과정이 진행되어 제2브로워 모터(142)로부터 이동되는 공기는 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이의 공간을 통하여 되돌아오는 과정을 거치면서 저온 챔버(140) 내에서만 순환된다.
그리고 고온 챔버(160)는 개방형 상태에서의 순환과정이 진행되어 제3브로워 모터(162)를 통하여 고온의 공기가 테스트 챔버(120)로 이동하여 테스트 챔버(120)의 온도를 상승시키고, 다시 고온 챔버(160)로 이동되어 제3브로워 모터(162)로 전달되는 과정이다.
이를 통하여 저온 챔버(140)의 저온 공기는 테스트 챔버(120)에 전달되지 않지만 계속 저온 챔버(140)에서 순환되면서 다음 과정에서 필요한 온도로 전환될 수 있고 즉시 테스트 챔버(120)에 투입될 수 있는 상태가 유지된다.
또한, 고온 챔버(160)의 고온 공기는 테스트 챔버(120)에 전달되어 테스트 챔버(120)의 온도를 고온으로 유지할 수 있도록 순환상태를 유지한다.
고온 챔버(160)에는 제2히터(164)에 의해 섭씨 약 150도까지 상승할 수 있고, 제2냉각부재(166)를 가동하여 고온으로 상승한 공기의 온도를 신속하게 하강할 수도 있다.
이 상태에서 진동 모드가 진행되는 경우에는 테스트 챔버(120)에는 진동판(122)이 상하 좌우로 진동되며, 고온 챔버(160)의 고온 공기는 테스트 챔버(120)에 전달되어 테스트 챔버(120)의 온도를 고온으로 유지할 수 있도록 순환상태를 유지한다.
도 10은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 상온 모드를 적용하여 시험하고 있는 개략 평단면도이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치(100)를 이용하여 상온 모드를 적용하는 경우는 저온 챔버(140) 및 고온 챔버(160)가 테스트 챔버(120)와의 연결이 차단된 상태이고, 상부인입개폐부(124a)가 제1상부덕트(124)를 개방하고 상부인출개폐부(126a)가 제2상부덕트(126)를 개방한 상태에서 외부 공기가 테스트 챔버(120)에 유입되어 순환된 후에 제1브로워 모터(128)를 통하여 외부로 배출되는 과정이다.
이 상태에서 진동 모드가 진행되는 경우에는 테스트 챔버(120)에는 진동판(122)이 상하 좌우로 진동된다.
도 11은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 모드를 적용해서 시험하고 있는 개략 평단면도이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치(100)를 이용하여 저온 모드를 적용하면, 저온 챔버(140)의 저온일측개폐부(152)와 저온타측개폐부(154)가 테스트 일측벽(120a)과 수직으로 위치되어 테스트 일측벽(120a)과 제1순환벽(147) 사이에 공간을 폐쇄하며 저온 챔버(140)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로가 개방되고, 고온 챔버(160)의 고온일측개폐부(170)와 고온타측개폐부(172)가 테스트 타측벽(120b)에 일직선 방향으로 위치되어 고온 챔버(160)와 테스트 챔버(120) 사이의 통로가 폐쇄된 상태가 된다.
따라서, 저온 챔버(140)는 개방형 상태에서의 순환과정이 진행되어 제2브로워 모터(142)로부터 이동되는 공기는 테스트 챔버(120)로 이동되어 순환된 후에 다시 저온 챔버(140)로 유입되어 제2브로워 모터(142)로 전달된다.
그리고 고온 챔버(160)는 폐쇄형 상태에서의 순환과정이 진행되어 제3브로워 모터(162)를 통하여 고온 공기가 고온 챔버(160) 내에서만 순환된다.
이를 통하여 고온 챔버(160)의 고온 공기는 테스트 챔버(120)에 전달되지 않지만 계속 고온 챔버(160)에서 순환되면서 다음 과정에서 필요한 온도로 전환될 수 있고 즉시 테스트 챔버(120)에 투입될 수 있는 상태가 유지된다.
또한, 저온 챔버(140)의 저온 공기는 테스트 챔버(120)에 전달되어 테스트 챔버(120)의 온도를 저온으로 유지할 수 있도록 순환상태를 유지한다.
저온 챔버(140)에는 제1냉각부재(146) 또는, 도 4의 제1-1냉각부재(146-1)과 제3냉각부재(168)에 의해 섭씨 약 -70도까지 하강할 수 있고, 제1히터(144)을 가동하여 온도를 신속하게 상승시킬 수 있다.
이 상태에서 진동 모드가 진행되는 경우에는 테스트 챔버(120)에는 진동판(122)이 상하 좌우로 진동되면서 저온 챔버(140)의 저온 공기는 테스트 챔버(120)에 전달되어 테스트 챔버(120)의 온도를 저온으로 유지할 수 있도록 순환상태를 유지한다.
도 12는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 열 충격 모드를 시험하고 있는 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치(100)를 이용하여 열 충격 모드를 시험하는 경우에는 제어부(500)로부터 도 11과 같이 저온 모드를 적용하여 저온 챔버(140)에서 테스트 챔버(120)로 섭씨 -20도의 공기를 t1시간까지 순환시키고, t1시간 후에 도 10과 같이 상온 모드로 잠시 전환 후에 도 9와 같이 고온 모드를 적용하여 고온 챔버(160)에서 테스트 챔버(120)로 섭씨 20도의 공기를 순환한다.
그리고 t2시간 후에 도 10과 같이 상온 모드로 잠시 전환 후에 도 11과 같이 저온 모드를 적용하여 저온 챔버(140)에서 테스트 챔버(120)로 섭씨 -40도의 공기를 순환시켜 시제품에 열 충격을 가한다.
이러한 과정을 반복하여 도 9와 같이 고온 모드를 적용하고 섭씨 60도의 온기를 순환하여 열 충격을 가한다.
이 과정에서 상기 상온 모드는 저온 모드와 고온 모드의 신속한 이동을 위해서 저온 모드에서 고온 모드로 또는 고온 모드에서 저온 모드로 전환되는 과정 중간에 테스트 챔버(120)의 공기를 신속하게 외부로 배출시키는 과정이다.
상기와 같은 열 충격 모드 시험을 통하여 시제품에 영상과 영하의 급격한 온도 변화를 부과함으로써 급격한 열 충격을 가하는 효과가 발생된다.
도 13의 (a)는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 스텝 모드를 시험하고 있는 그래프이고, 도 13의 (b)는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 스텝 모드를 시험하고 있는 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치(100)를 이용하여 도 13의 (a)와 같이 고온 스텝 모드를 시험하는 경우에는 제어부(500)로부터 도 9와 같이 고온 모드를 적용하여 고온 챔버(160)에서 테스트 챔버(120)로 섭씨 20도의 대략 상온 공기를 순환시키고, 일정 시간이 경과할 때마다 20도의 온도를 상승하는 과정을 반복한다.
상기 시작온도와 온도 상승 간격을 임의로 변동 가능하다.
또한, 본 발명인 초가속 수명 시험 장치(100)를 이용하여 도 13의 (b)와 같이 저온 스텝 모드를 시험하는 경우에는 제어부(500)로부터 도 11과 같이 저온 모드를 적용하여 저온 챔버(140)에서 테스트 챔버(120)로 섭씨 20도의 대략 상온 공기를 순환시키고, 일정 시간이 경과할 때마다 20도의 온도를 하강하는 과정을 반복한다.
상기 시작온도와 온도 하강 간격을 임의로 변동 가능하다.
상기와 같은 스텝 모드를 통하여 시제품에 단계별로 온도 변화를 주면서 시험할 수 있는 효과가 발생된다.
본 발명은 테스트 챔버(120)에 저온 챔버(140)와 고온 챔버(160)를 선택적으로 연결할 수 있어 종래의 액체 질소를 사용하지 않고 테스트 챔버(120)에 신속하게 온도 변화를 줄 수 있으면서도 비용이 절감되는 효과가 발생된다.
도 14의 (a)는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 단속 진동 모드를 시험하고 있는 그래프이고, 도 14의 (b)는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 계단식 진동 모드를 시험하고 있는 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 단속 진동 모드를 시험하는 경우에는 도 14의 (a)와 같이 진동판(122)을 h1의 진동수로 t1에서 t2까지 진동시킨 후에 t2에서 t3까지 진동을 멈추고, t3부터 t4까지 다시 h1의 진동수로 진동시키는 과정이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 계단식 진동 모드를 시험하는 경우에는 도 14의 (b)와 같이 진동판(122)을 h1의 진동수로 t1에서 t2까지 진동시킨 후에 진동수를 h2로 상승시켜 t2에서 t3까지 진동시키는 과정을 통하여 일정 시간 간격 마다 진동수를 높여 t4에서 t5까지는 h4로 진동시킨 후에 t5에서 t6까지는 진동수를 낮추어 h3으로 진동시키면서 일정시간마다 진동수를 단계별로 감소시키는 과정을 진행한다.
상기 계단식 진동 모드를 시험하는 과정을 통하여 일정 시간마다 진동수를 상승시키다가 어느 시점에서 다시 일정 시간마다 진동수를 하강시키는 과정을 거치면서 진동의 강도에 따른 제품의 변화를 측정할 수 있는 효과가 발생된다.
도 15는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 열 충격 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이고, 구체적으로 도 15의 (a)는 열 충격 모드 그래프이며, 도 15의 (b)는 단속 진동 모드 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 열 충격 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하는 경우에는 시험 시작 시간부터 t1까지는 테스트 챔버(120)에 영하 20도의 냉기가 유동되고 진동은 없는 상태이며 t1부터 t2까지는 테스트 챔버(120)에 영상 20도의 공기가 유동되고 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
그리고 t2부터 t3까지는 테스트 챔버(120)에 영하 40도의 냉기가 유동되고 진동은 없는 상태이며, t3부터 t4까지는 테스트 챔버(120)에 영상 40도의 고온 공기가 유동되며 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
도 16은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 열 충격 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이고, 구체적으로 16의 (a)는 열 충격 모드 그래프이며, 도 16의 (b)는 계단식 진동 모드 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 열 충격 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하는 경우에는 시험 시작 시간부터 t1까지는 테스트 챔버(120)에 영하 20도의 냉기가 유동되고 진동은 없는 상태이며 t1부터 t2까지는 테스트 챔버(120)에 영상 20도의 공기가 유동되고 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
그리고 t2부터 t3까지는 테스트 챔버(120)에 영하 40도의 냉기가 유동되고 진동은 h2크기 만큼 이루어지며, t3부터 t4까지는 테스트 챔버(120)에 영상 40도의 고온 공기가 유동되며 진동은 h3크기 만큼 이루어진다.
t4부터 t5까지는 테스트 챔버(120)에 영하 60도의 초저온 냉기가 유동되며 진동은 h4크기 만큼 이루어지며, t5부터 t6까지는 테스트 챔버(120)에 영상 60도의 고온 공기가 유동되며 진동은 h3 크기 만큼 이루어진다.
도 17은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 스텝 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이며, 구체적으로 도 17의 (a)는 고온 스텝 모드 그래프이고, 도 17의 (b)는 단속 진동 모드 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 스텝 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하는 경우에는 시험 시작 시간부터 t1까지는 테스트 챔버(120)에 영상 20도의 상온 공기가 유동되고 진동은 없는 상태이며 t1부터 t2까지는 테스트 챔버(120)에 영상 40도의 공기가 유동되고 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
그리고 t2부터 t3까지는 테스트 챔버(120)에 영상 60도의 고온의 공기가 유동되고 진동은 없는 상태이며, t3부터 t4까지는 테스트 챔버(120)에 영상 80도의 고온 공기가 유동되며 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
도 18은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 스텝 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이며, 구체적으로 도 18의 (a)는 고온 스텝 모드 그래프이고, 도 18의 (b)는 계단식 진동 모드 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 고온 스텝 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하는 경우에는 시험 시작 시간부터 t1까지는 테스트 챔버(120)에 영상 20도의 상온 공기가 유동되고 진동은 없는 상태이며 t1부터 t2까지는 테스트 챔버(120)에 영상 40도의 공기가 유동되고 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
그리고 t2부터 t3까지는 테스트 챔버(120)에 영상 60도의 고온의 공기가 유동되고 진동은 h2크기 만큼 이루어지는 상태이며, t3부터 t4까지는 테스트 챔버(120)에 영상 80도의 고온 공기가 유동되며 진동은 h3크기 만큼 이루어진다.
t4부터 t5까지는 테스트 챔버(120)에 영상 100도의 고온 공기가 유동되며 진동은 h2 크기 만큼 이루어진다.
도 19는 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 스텝 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이며, 구체적으로 도 19의 (a)는 저온 스텝 모드 그래프이고, 도 19의 (b)는 단속 진동 모드 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 스텝 모드와 단속 진동 모드를 동시에 시험하는 경우에는 시험 시작 시간부터 t1까지는 테스트 챔버(120)에 영상 20도의 상온 공기가 유동되고 진동은 없는 상태이며 t1부터 t2까지는 테스트 챔버(120)에 0도의 공기가 유동되고 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
그리고 t2부터 t3까지는 테스트 챔버(120)에 영하 20도의 냉기가 유동되고 진동은 없는 상태이며, t3부터 t4까지는 테스트 챔버(120)에 영하 40도의 냉기가 유동되며 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
도 20은 본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 스텝 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하고 있는 그래프이며, 구체적으로 도 20의 (a)는 저온 스텝 모드 그래프이고, 도 20의 (b)는 계단식 진동 모드 그래프이다.
본 발명인 초가속 수명 시험 장치를 이용하여 저온 스텝 모드와 계단식 진동 모드를 동시에 시험하는 경우에는 시험 시작 시간부터 t1까지는 테스트 챔버(120)에 영상 20도의 상온 공기가 유동되고 진동은 없는 상태이며 t1부터 t2까지는 테스트 챔버(120)에 0도의 공기가 유동되고 진동은 h1크기 만큼 이루어진다.
그리고 t2부터 t3까지는 테스트 챔버(120)에 영하 20도의 냉기가 유동되고 진동은 h2크기 만큼 이루어지는 상태이며, t3부터 t4까지는 테스트 챔버(120)에 영하 40도의 냉기가 유동되며 진동은 h3크기 만큼 이루어진다.
t4부터 t5까지는 테스트 챔버(120)에 영하 60도의 냉기가 유동되며 진동은 h2 크기 만큼 이루어진다.
상기와 같이 본 발명은 다양한 가혹 조건을 통하여 제품을 시험할 수 있는 효과가 발생된다.
이상과 같이 본 발명에 따른 실시예를 살펴보았으며, 앞서 설명된 실시예 이외에도 본 발명이 그 취지나 범주에서 벗어남이 없이 다른 특정 형태로 구체화 될 수 있다는 사실은 해당 기술에 통상의 지식을 가진 이들에게는 자명한 것이다. 그러므로, 상술된 실시예는 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 여겨져야 하고, 이에 따라 본 발명은 상술한 설명에 한정되지 않고 첨부된 청구항의 범주 및 그 동등 범위 내에서 변경될 수도 있다.
100: 초가속 수명 시험 장치 120: 테스트 챔버
122: 진동판 124: 제1상부덕트
124a: 상부인입개폐부 126: 제2상부덕트
126a: 상부인출개폐부 128: 제1브로워 모터
140: 저온 챔버 142: 제2브로워 모터
160: 고온 챔버 180: 냉동 챔버

Claims (10)

  1. 제품의 시험이 진행되는 테스트 챔버; 상기 테스트 챔버의 일측에 위치되어 저온의 공기를 공급하도록 형성되는 저온 챔버; 상기 테스트 챔버의 타측에 위치되어 고온의 공기를 공급하도록 형성되는 고온 챔버; 상기 저온 챔버의 하방에 위치되어 냉기발생시설이 형성되는 냉동 챔버; 및 상기 제품의 시험을 열충격모드 또는 스텝모드로 동작하는 것을 제어하기 위한 제어부를 포함하며,
    상기 테스트 챔버를 저온 챔버 또는 고온 챔버에 연통하여 온도 변화를 형성하며,
    상기 테스트 챔버는,
    상기 제품이 안착되는 진동판과, 상기 진동판의 상방에 형성되어 외측 공기가 테스트 챔버 내측으로 인입되도록 안내하는 통로로 형성되는 제1상부덕트와, 상기 진동판의 상방에 형성되어 상기 테스트 챔버 내측 공기가 외부로 배출되도록 안내하는 통로로 형성되는 제2상부덕트와, 상기 제2상부덕트를 통해서 테스트 챔버 공기를 외측으로 배출시키도록 작동되는 제1브로워 모터와, 상기 제1상부덕트를 개폐하도록 형성되는 상부인입개폐부, 및 상기 제2상부덕트를 개폐하도록 형성되는 상부인출개폐부를 포함하며,
    상기 저온 챔버는,
    공기의 흐름을 유도하도록 형성되는 제2브로워 모터와, 상기 제2브로워 모터의 전방에 위치하여 열을 발생하도록 형성되는 제1히터와, 상기 제1히터에 인접하여 온도를 강하시키도록 형성되는 제1냉각부재를 포함하며,
    상기 고온 챔버는,
    공기의 흐름을 유도하도록 형성되는 제3브로워 모터와, 상기 제3브로워 모터의 전방에 위치하여 열을 발생하도록 형성되는 제2히터와, 상기 제2히터에 인접하여 온도를 강하시키도록 형성되는 제2냉각부재를 포함하며,
    상기 냉동 챔버는,
    상기 저온 챔버의 제1냉각부재 및 고온 챔버의 제2냉각부재와 연결되며, 열교환기와, 복수개의 액분리기와, 복수개의 압축기, 복수개의 유분리기, 응축기 및 밸브를 포함하며,
    상기 제어부는 상기 열충격모드 동작시,
    저온 모드를 적용하여 상기 저온 챔버에서 상기 테스트 챔버로 영하 온도 이하의 공기를 미리 설정된 시간동안 순환시킨 후, 상온 모드로 전환하여 공기를 외부로 배출시킨 후, 고온 모드를 적용하여 상기 고온 챔버에서 상기 테스트 챔버로 영상 온도 이상의 공기를 순환하는 과정을 반복하여 열 충격을 가하는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 제어부는 상기 진동판의 동작을 제어하여, 제품 시험시 단속 진동 모드나 계단식 진동 모드를 수행하며,
    상기 단속 진동 모드는 상기 진동판을 미리 설정된 진동수로 일정 시간동안 진동시킨 후, 일정 시간동안 진동을 멈추는 과정을 반복하게 되며,
    상기 계단식 진동 모드는 일정 시간마다 진동수를 상승시키다가 어느 시점에서 다시 일정 시간마다 진동수를 하강시키는 과정을 반복하는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 저온 챔버는
    상기 제1냉각부재에 인접하며 테스트 일측벽에 이격되어 나란히 형성되는 제1순환벽과,
    상기 테스트 챔버에 형성된 테스트 일측벽의 일측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 저온일측개폐부, 및
    상기 테스트 일측벽의 타측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 저온타측개폐부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 진동판의 하부에는 복수개의 실린더 부재가 형성되는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  5. 청구항 1항에 있어서,
    상기 고온 챔버는,
    상기 제2냉각부재에 인접하며 테스트 타측벽에 이격되어 나란히 형성되는 제2순환벽과,
    상기 테스트 챔버에 형성된 테스트 타측벽의 일측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 고온일측개폐부, 및
    상기 테스트 타측벽의 타측에 연결되어 힌지축을 중심으로 개폐되도록 형성되는 고온타측개폐부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  6. 청구항 4에 있어서,
    상기 진동판의 둘레와 테스트 챔버의 하부 프레임 사이에는 주름부재가 형성되는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  7. 청구항 5에 있어서,
    상기 제2히터는 제1히터에 비하여 공기를 고온으로 가열하고,
    상기 제1냉각부재는 제2냉각부재에 비하여 공기를 저온으로 냉각하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 제1냉각부재 및 제2냉각부재와 연결되도록 형성되는 냉동 챔버를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 저온 챔버에 제1냉각부재를 복수개의 냉각부재로 대체하는 것을 특징으로 하는 초가속 수명 시험 장치.
  10. 삭제
KR1020170064728A 2017-05-25 2017-05-25 초가속 수명 시험 장치 KR101791654B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170064728A KR101791654B1 (ko) 2017-05-25 2017-05-25 초가속 수명 시험 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170064728A KR101791654B1 (ko) 2017-05-25 2017-05-25 초가속 수명 시험 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101791654B1 true KR101791654B1 (ko) 2017-10-30

Family

ID=60301357

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170064728A KR101791654B1 (ko) 2017-05-25 2017-05-25 초가속 수명 시험 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101791654B1 (ko)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003302323A (ja) 2002-04-09 2003-10-24 Hitachi Ltd 熱衝撃試験装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003302323A (ja) 2002-04-09 2003-10-24 Hitachi Ltd 熱衝撃試験装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20100085613A (ko) 냉장고
KR20100085614A (ko) 냉장고
US7600385B2 (en) Pulse tube cryogenic cooler
GB2578254A (en) Refrigeration cycle device and heat source unit
KR101791654B1 (ko) 초가속 수명 시험 장치
JP2014020738A (ja) 膨張弁
KR100690670B1 (ko) 오일온도조절기능을 구비한 압축기
JP6695447B2 (ja) 流路切替装置、冷凍サイクル回路及び冷蔵庫
KR100750260B1 (ko) 냉장고 압축기의 냉각장치
JPH1073330A (ja) 冷凍装置
JPH0413076A (ja) 冷却庫装置
KR100782973B1 (ko) 압축기 시험장치
JP3679726B2 (ja) スターリング冷却装置
JP2015028423A (ja) 冷却装置及び冷凍サイクル装置
CN111981715B (zh) 制冷设备
JP2000205682A (ja) 冷却装置
KR102341828B1 (ko) 냉장고 및 이의 제어 방법
KR200273219Y1 (ko) 냉동탑차용 냉동기
JP2005188771A (ja) 冷凍装置及び冷凍装置の制御方法
KR102214038B1 (ko) 온도 센서 유닛 및 이를 포함하는 냉각 설비
WO2022105829A1 (zh) 线性压缩机和内部碰撞缓冲
JP2000035273A (ja) 冷却システム
JP6785381B2 (ja) 冷凍サイクル装置
JP2012242049A (ja) 冷凍装置
KR100228854B1 (ko) 냉장고내의 부하량에 따른 냉기토출량 조절시스템

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant