KR101753130B1 - Inspection jig with a capacitor - Google Patents

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Abstract

본 발명은 회로 기판 혹은 전자 부품 등의 전기적 검사에 사용되는 검사 지그에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 복수의 프로브와, 상기 프로브의 일단이 삽입되는 다수의 제1삽입공이 형성된 제1지지판과, 상기 제1지지판과 일정 간격 이격되어 나란하게 배치되며, 상기 프로브의 타단이 삽입되는 다수의 제2삽입공이 형성된 제2지지판과, 상기 제1지지판의 표면에 일정한 간격을 두고 서로 마주보도록 형성된 한 쌍의 전극과, 상기 한 쌍의 전극에 연결된 바이어스 전원을 포함하는 캐패시터를 구비한 검사 지그가 제공된다. 본 발명에 따른 캐패시터를 구비한 검사 지그는 검사 과정 중 발생하는 노이즈나 정전기 등의 간섭효과 등을 회피 또는 축소할 수 있다는 효과가 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a test jig used for electrical inspection of a circuit board or an electronic part. According to the present invention, there is provided a probe comprising: a first support plate having a plurality of probes, a plurality of first insertion holes into which one end of the probe is inserted, and a second support plate spaced apart from the first support plate by a predetermined distance, A second support plate on which a plurality of second insertion holes are formed, a pair of electrodes formed on the surface of the first support plate so as to face each other at a predetermined interval, and a capacitor including a bias power source connected to the pair of electrodes A jig is provided. The inspection jig having the capacitor according to the present invention has the effect of avoiding or reducing interference effects such as noise and static electricity generated during the inspection process.

Description

캐패시터를 구비한 검사 지그{INSPECTION JIG WITH A CAPACITOR}[0001] INSPECTION JIG WITH A CAPACITOR [0002]

본 발명은 회로 기판 혹은 전자 부품 등의 전기적 검사에 사용되는 검사 지그에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 검사 대상에 형성된 검사용 단자에 전기적으로 접촉하는 복수의 프로브와 이를 지지하는 지지체를 포함하는 검사 지그에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection jig used for electrical inspection of a circuit board or an electronic part, and more particularly to an inspection jig having a plurality of probes electrically contacting an inspection terminal formed on an inspection object, .

일반적으로, 회로 기판의 단락, 단선 등의 이상을 발견하기 위한 전기적 검사는, 검사 대상에 형성된 검사용 단자에 전기적으로 접촉하는 복수의 프로브(probe)를 구비한 검사 지그가 사용된다. 이러한 검사 지그는 검사 대상에 형성된 검사용 단자에 전기적으로 접촉하는 복수의 프로브와 프로브를 지지하는 지지체를 구비한다.2. Description of the Related Art In general, an electrical inspection for detecting an abnormality such as short circuiting or disconnection of a circuit board is performed using a test jig having a plurality of probes electrically contacting an inspection terminal formed on an object to be inspected. The inspection jig includes a plurality of probes electrically contacting the inspection terminals formed on the object to be inspected and a support for supporting the probes.

공개특허 제2010-124929호Published Patent No. 2010-124929 공개특허 제2006-111248호Published Patent No. 2006-111248

본 발명은 검사 대상에 신호를 인가한 후 발생하는 출력 값을 측정하여 정상 값과 비교하는 검사 과정 중 발생하는 노이즈나 정전기 등의 간섭효과 등을 회피 또는 축소할 수 있는 검사 지그를 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a test jig capable of avoiding or reducing interference effects such as noise and static electricity generated during an inspection process for measuring an output value generated after a signal is applied to an inspection object and comparing the output value with a normal value .

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따르면, 복수의 프로브와, 상기 프로브의 일단이 삽입되는 다수의 제1삽입공이 형성되며, 유전체로 이루어진 제1지지판과, 상기 제1지지판과 일정 간격 이격되어 나란하게 배치되며, 상기 프로브의 타단이 삽입되는 다수의 제2삽입공이 형성된 제2지지판과, 상기 제1지지판의 표면에 일정한 간격을 두고 서로 마주보도록 형성된 한 쌍의 전극을 구비한 캐패시터와, 상기 한 쌍의 전극에 연결된 바이어스 전원을 포함하는 캐패시터를 구비한 검사 지그가 제공된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a probe comprising: a plurality of probes; a first support plate formed with a plurality of first insertion holes into which one end of the probe is inserted, the first support plate being made of a dielectric; A second support plate disposed in parallel with the first support plate and having a plurality of second insertion holes for receiving the other end of the probe, a capacitor having a pair of electrodes facing each other at a predetermined interval on the surface of the first support plate, There is provided a test jig having a capacitor including a bias power source connected to a pair of electrodes.

또한, 상기 한 쌍의 전극은 ㄴ자 형태의 전극이며, 하나의 전극의 끝단이 다른 전극의 끝쪽 내면과 마주보도록 배치된 캐패시터를 구비한 검사 지그를 제공한다.Also, the pair of electrodes may be a square shape electrode, and a capacitor may be disposed such that the end of one electrode faces the inner surface of the other end of the other electrode.

또한, 상기 제1지지판은 세라믹을 이루어진 캐패시터를 구비한 검사 지그가 제공된다.The first support plate is provided with a capacitor made of ceramic.

또한, 상기 한 쌍의 전극은 인쇄 또는 도금에 의해서 형성된 캐패시터를 구비한 검사 지그가 제공된다.Further, the pair of electrodes are provided with a test jig having a capacitor formed by printing or plating.

본 발명에 따른 캐패시터를 구비한 검사 지그는 검사 과정 중 발생하는 노이즈나 정전기 등의 간섭효과 등을 회피 또는 축소할 수 있다는 효과가 있다.The inspection jig having the capacitor according to the present invention has the effect of avoiding or reducing interference effects such as noise and static electricity generated during the inspection process.

도 1은 본 발명에 따른 검사 지그의 일실시예의 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 검사 지그의 단면도이다.1 is a plan view of an embodiment of a test jig according to the present invention.
2 is a sectional view of the inspection jig shown in Fig.

이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 일실시예에 대해서 상세히 설명한다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

다음에 소개되는 실시예는 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 그리고 도면들에 있어서, 구성요소의 폭, 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.The following embodiments are provided by way of example so that those skilled in the art can fully understand the spirit of the present invention. Therefore, the present invention is not limited to the embodiments described below, but may be embodied in other forms. In the drawings, the width, length, thickness, etc. of components may be exaggerated for convenience. Like reference numerals designate like elements throughout the specification.

도 1은 본 발명에 따른 검사 지그의 일실시예의 평면도이며, 도 2는 도 1에 도시된 검사 지그의 단면도이다. 도 1과 2를 참고하면, 본 발명에 따른 검사 지그의 일실시예는 제1지지판(10), 제2지지판(20), 프로브(30), 캐패시터(40) 및 바이어스 전원(50)을 포함한다.1 is a plan view of an inspection jig according to an embodiment of the present invention, and Fig. 2 is a sectional view of the inspection jig shown in Fig. 1 and 2, an embodiment of the inspection jig according to the present invention includes a first support plate 10, a second support plate 20, a probe 30, a capacitor 40, and a bias power source 50 do.

지지판(10, 20)에 형성된 삽입공(11, 21)에는 프로브(30)가 삽입되어 있다. 프로브(30)의 선단(31)은 제1지지판(10)을 관통한 후 검사 대상의 단자에 접하며, 프로브(30)의 후단(32)은 제2지지판(20)을 관통한 후 측정 장치의 단자에 접한다.The probes 30 are inserted into the insertion holes 11 and 21 formed in the support plates 10 and 20, respectively. The distal end 31 of the probe 30 passes through the first support plate 10 and then contacts the terminal to be inspected and the rear end 32 of the probe 30 passes through the second support plate 20, Terminal.

제1지지판(10)의 중심부에는 다수의 제1삽입공(11)이 형성되어 있다. 제1삽입공(11)은 프로브(30)의 선단(31)이 관통한다.A plurality of first insertion holes 11 are formed in the center of the first support plate 10. The distal end (31) of the probe (30) penetrates the first insertion hole (11).

제1삽입공(11)의 둘레에는 지지 포스트(22)를 삽입하기 위한 4개의 결합 홈(12)들이 형성되어 있다. 결합 홈(12)들은 제1지지판(10)의 모서리 부분에 각각 형성된다.Four coupling grooves 12 for inserting the support posts 22 are formed around the first insertion holes 11. As shown in Fig. The engaging grooves 12 are formed at corner portions of the first support plate 10, respectively.

제1지지판(10)은 유전체로 이루어진다. 특히, 세라믹 기판으로 이루어지는 것이 바람직하다.The first support plate 10 is made of a dielectric. Particularly, a ceramic substrate is preferable.

제2지지판(20)은 제1지지판(10)로부터 일정한 간격 이격되어 나란하게 배치된다. 제2지지판(20)의 제2삽입공(21)을 관통한 프로브(30)의 후단(32)은 측정 장치의 단자에 접한다. 제2지지판(20)에는 일단은 제2지지판(20)에 결합하며, 타단은 제1지지판(10) 방향으로 연장된 4개의 지지 포스트(22)가 결합된다.The second support plates 20 are arranged in parallel to each other with a predetermined distance from the first support plate 10. The rear end 32 of the probe 30 penetrating the second insertion hole 21 of the second support plate 20 is in contact with the terminal of the measuring device. One end of the second support plate 20 is coupled to the second support plate 20 and the other end thereof is coupled to the four support posts 22 extending in the direction of the first support plate 10.

제2지지판(20)은 세라믹 기판 또는 강도가 높고, 가공성이 우수한 엔지니어링 플라스틱으로 이루어진다. 예를 들면, 폴리아미드, 폴리아세탈, ABS, 폴리카보닛, 염화 비닐 등으로 제조될 수 있다.The second support plate 20 is made of a ceramic substrate or an engineering plastic having high strength and excellent workability. For example, polyamide, polyacetal, ABS, polycarbonate, vinyl chloride, and the like.

제1지지판(10)의 상면에는 캐패시터(40)가 형성된다. 캐패시터(40)는 ㄴ자 형태에 한 쌍의 전극(41)을 포함한다. 한 쌍의 전극(41)의 하나의 전극의 끝단이 다른 전극의 끝쪽 내면과 마주하도록 배치된다. 전극(41)은 은, 구리, 니켈, 파라듐 등 적어도 하나를 포함할 있다.A capacitor (40) is formed on the upper surface of the first support plate (10). The capacitor 40 includes a pair of electrodes 41 in a square shape. One end of one electrode of the pair of electrodes 41 is arranged to face the inner surface of the other end of the other electrode. The electrode 41 may include at least one of silver, copper, nickel, palladium, and the like.

제1지지판(10)은 세라믹 기판으로 이루어지므로, 한 쌍의 전극(41) 사이의 세라믹 기판이 유전체 층으로서 작용한다. 캐패시터(40)의 용량은 세라믹 기판의 유전률에 비례하며, 한 쌍의 전극(41) 사이의 간격에 반비례한다.Since the first support plate 10 is made of a ceramic substrate, the ceramic substrate between the pair of electrodes 41 serves as a dielectric layer. The capacitance of the capacitor 40 is proportional to the dielectric constant of the ceramic substrate and is inversely proportional to the interval between the pair of electrodes 41. [

바이어스 전원(50)은 한 쌍의 전극(41)에 연결되어, 한 쌍의 전극(41)에 바이어스 전압을 인가한다.The bias power supply 50 is connected to a pair of electrodes 41 to apply a bias voltage to the pair of electrodes 41. [

검사 지그는 다음과 같은 방법으로 제조된다.The test jig is manufactured in the following manner.

우선, 세라믹으로 이루어진 제1지지판(10)에 한 쌍의 전극(41)을 형성한다. 전극은 스크린 프린팅 등의 후막 인쇄 또는 도금 등을 통해서 형성할 수 있다. 후막 인쇄의 경우 금속 파우더, 바인더, 용제 등이 혼합된 전극 페이스트를 제조한 후 이를 세라믹 기판에 인쇄하고, 열처리하여 바인더와 용제를 제거하고, 금속 파우더를 소결하는 방법으로 형성할 수 있다.First, a pair of electrodes 41 are formed on a first support plate 10 made of ceramic. The electrode can be formed by thick film printing such as screen printing or plating or the like. In the case of thick film printing, an electrode paste in which a metal powder, a binder, a solvent and the like are mixed is printed, printed on a ceramic substrate, heat treated to remove the binder and solvent, and the metal powder is sintered.

다음, 제1지지판(10)에 삽입공(11)과 결합 홈(12)을 형성한다. 그리고 제2지지판(20)에 삽입공(21)을 형성한다. 삽입공(11, 21)과 결합 홈(12)은 마이크로드릴을 이용하여 형성하거나, 레이저를 이용하여 가공할 수 있다.Next, an insertion hole 11 and an engagement groove 12 are formed in the first support plate 10. The insertion holes 21 are formed in the second support plate 20. The insertion holes 11 and 21 and the coupling groove 12 can be formed using a micro drill or can be processed using a laser.

다음으로, 제2지지판(20)에 지지 포스트(22)를 결합한 후 지지 포스트(22)를 제1지지판(10)의 제1결합 홈(13)에 결합하여, 제1지지판(10)과 제2지지판(20)을 나란하게 배치한다. 이때, 제1삽입공(11)과 제2삽입공(12)의 중심을 연결한 선은 제1지지판(10) 및 제2지지판(20)의 표면과 직교하는 법선과 나란하다.Next, after the support post 22 is coupled to the second support plate 20, the support post 22 is coupled to the first engagement groove 13 of the first support plate 10, 2 support plates 20 are arranged side by side. The lines connecting the centers of the first insertion holes 11 and the second insertion holes 12 are parallel to the normal line orthogonal to the surfaces of the first support plate 10 and the second support plate 20.

다음으로, 프로브(30)의 선단(31)을 제1지지판(10)의 삽입공(11)에 삽입하고, 프로브(30)의 후단(32)을 제2지지판(20)의 삽입공(21)에 삽입한다.The distal end 31 of the probe 30 is inserted into the insertion hole 11 of the first support plate 10 and the rear end 32 of the probe 30 is inserted into the insertion hole 21 of the second support plate 20 ).

다음으로, 지지 포스트(22)를 제1지지판(10)의 제2결합 홈(12)에 결합한다.Next, the support post 22 is engaged with the second engagement groove 12 of the first support plate 10.

마지막으로, 바이어스 전원(50)은 한 쌍의 전극(41)에 연결한다.Finally, the bias power supply 50 is connected to the pair of electrodes 41. Fig.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어서는 안 될 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be construed as limiting the scope of the invention as defined by the appended claims. It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the present invention.

10: 제1지지판 11: 제1삽입공
12: 결합 홈 20: 제2지지판
21: 제2삽입공 22: 지지 포스트
30: 프로브 31: 프로브 선단
32: 프로브 후단 40: 캐패시터
41: 전극 50: 바이어스 전원10: first support plate 11: first insertion hole
12: coupling groove 20: second support plate
21: second insertion hole 22: support post
30: probe 31: probe tip
32: Probe rear end 40: Capacitor
41: Electrode 50: Bias power source

Claims (4)

복수의 프로브와,
상기 프로브의 일단이 삽입되는 다수의 제1삽입공이 형성되며, 유전체로 이루어진 제1지지판과,
상기 제1지지판과 일정 간격 이격되어 나란하게 배치되며, 상기 프로브의 타단이 삽입되는 다수의 제2삽입공이 형성된 제2지지판과,
상기 제1지지판의 표면에 일정한 간격을 두고 서로 마주보도록 형성된 한 쌍의 전극을 구비한 캐패시터와,
상기 한 쌍의 전극에 연결된 바이어스 전원을 포함하는 캐패시터를 구비한 검사 지그.A plurality of probes,
A first support plate having a plurality of first insertion holes into which one end of the probe is inserted,
A second support plate which is spaced apart from the first support plate by a predetermined distance and has a plurality of second insertion holes for receiving the other end of the probe;
A capacitor having a pair of electrodes formed on a surface of the first support plate so as to face each other with a predetermined gap therebetween;
And a capacitor including a bias power connected to the pair of electrodes. 제1항에 있어서,
상기 한 쌍의 전극은 ㄴ자 형태의 전극이며, 하나의 전극의 끝단이 다른 전극의 끝쪽 내면과 마주보도록 배치된 캐패시터를 구비한 검사 지그.The method according to claim 1,
Wherein the pair of electrodes is a bipolar electrode and has a capacitor arranged such that one end of the one electrode faces the inner surface of the other end of the other electrode. 제1항에 있어서,
상기 제1지지판은 세라믹을 이루어진 캐패시터를 구비한 검사 지그.The method according to claim 1,
Wherein the first support plate comprises a ceramic capacitor. 제1항에 있어서,
상기 한 쌍의 전극은 인쇄 또는 도금에 의해서 형성된 캐패시터를 구비한 검사 지그.The method according to claim 1,
Wherein said pair of electrodes is provided with a capacitor formed by printing or plating.
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