KR101739635B1 - 자기장 센서를 위한 출력 스위칭 시스템 및 방법 - Google Patents

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Abstract

실시예는 예를 들어 자기장 센서와 같은 센서를 위한 예측 출력 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법에 관한 것이다. 실시예에서, 강자성 치형부 또는 폴 휠의 각각의 치형부 또는 폴에 대해 적어도 하나의 개별 스위칭 문턱 값은 각각 반응적으로 판단되지 않고 예측 방식으로 판단된다. 예를 들어, 하나의 실시예에서, 치형부 또는 폴의 개수는 프로그래밍되고, 각각의 치형부 또는 폴에 대한 최적 문턱 값은 휠의 회전 중에 판단된다. 그런 다음, 각각의 치형부에 대한 판단된 최적 문턱 값은 휠의 적어도 하나의 다음 회전에서 그러한 치형부를 위해 사용되고, 보정은 미래의 다음 회전에서 선택적으로 발생한다. 따라서, 실시예에서, 문턱 값은 인접한 치형부 또는 폴에 대해 반응적이지 않고 각각의 개별 치형부 또는 폴에 대해 예측적이다.

Description

자기장 센서를 위한 출력 스위칭 시스템 및 방법{OUTPUT SWITCHING SYSTEMS AND METHODS FOR MAGNETIC FIELD SENSORS}
관련 출원
본 출원은 2012년 5월 7일자로 출원된 미국 가특허 출원 제61/643,677호에 대한 우선권을 주장하며, 이는 전체적으로 본 명세서에 참조로서 통합된다.
기술 분야
본 출원은 일반적으로 센서에 관한 것으로서, 특히 자기 센서를 위한 출력 스위칭 시스템 및 방법에 관한 것이다.
자기장 센서는 많은 응용예를 가지며, 그 중 하나는 자동차 엔진 관리 응용예이다. 예를 들어, 회전하는 치형부(rotating tooth) 또는 폴 휠(pole wheels)에 연관된 자기장 센서와 백 바이어스 자석(a back bias magnet)은 캠샤프트의 회전 및/또는 위치를 감지하기 위해 사용될 수 있다.
엔진 배기가스를 감소시키기 위해, 엔진의 보다 정확한 제어가 요구된다. 센서 신호는 자기장의 세기 및 센서와 타깃 소자 사이의 거리에 의존하므로, 엔진의 정확한 제어는 개선된 출력 스위칭을 제공하면서 센서와 회전하는 소자의 상대적인 위치에 덜 의존하는 센서와 같은 보다 양호한 성능의 보다 정확한 센서에 의해 적어도 부분적으로 제공될 수 있다.
출력 스위칭 문턱 값을 판단하기 위한 통상적인 해결 방법은 일반적으로 현재 신호 특성에 대한 반응과 같이 저속 조정에 기반하여 반응하는(reactive) 것이다. 일반적으로, 도 1a에 도시된 바와 같이 전체 패턴 변화 후에 저속 적응을 이용하여 전체 패턴에 걸쳐 단일 문턱 값을 설정하는 것(저속 반응적 알고리즘), 또는 도 1b에 도시된 바와 같이 마지막 신호 최대 값 및 신호 최소 값 쌍에 따라 계속하여 적응하는 것(고속 반응적 알고리즘)과 같은 2개의 접근 방법 중 하나가 채택된다. 이들 접근 방법은 각각 위상 반복성과 런아웃(run-out)(즉, 축 상에 중심이 맞춰지지 않은 치형부 또는 폴의 동요) 및 강건성(진폭 변조)을 개선할 수 있지만 차선(sub-optimal)의 위상 정확성을 제공한다. 또한, 도 2를 참조하면, 전술된 캠샤프트 예를 위해 사용될 수 있는 통상적인 센서 신호 처리 시스템의 개념도가 도시된다. 출력이 상태를 변화시키는 지점은 오프셋 조정 루프에 의해 제공된 피드백 신호의 양에 의해 정의된다. 순방향 신호 경로에 존재하는 앤티앨리어싱 필터(아날로그 신호 처리 블록)에 의해 판단된 저속 루프 응답은 오프셋 조정 루프 내의 업데이트의 타이밍 및 양을 바람직하게는 드문 적은 업데이트로 억제한다. 이러한 저속 응답은 기생 스위칭을 발생시킬 수 있으며, 이는 바람직하지 않다.
그러므로, 개선된 출력 스위칭 시스템 및 방법을 위한 필요성이 존재한다.
실시예는 센서와 같은 것을 위한 최적 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법에 관한 것이다.
일 실시예에서, 센서 시스템은 복수의 타깃 소자를 포함하는 타깃 휠과, 센서 회로에 결합된 센서 소자를 포함하는 센서를 포함하고, 센서 소자는 타깃 휠의 회전을 감지하여 복수의 타깃 소자 각각에 대한 최대 값 및 최소 값을 포함하는 출력 신호를 제공하도록 구성되고, 센서 회로는 복수의 타깃 소자 중 하나의 타깃 소자의 미래 인스턴스에 대한 최적 스위칭 문턱 값을 예측하기 위해 복수의 타깃 소자 중 하나의 타깃 소자에 관련된 적어도 하나의 최대 값 및 적어도 하나의 최소 값을 사용하도록 구성된다.
일 실시예에서, 방법은 타깃 휠의 제 1 회전 중에 각각의 타깃 소자에 대한 최대 값과 최소 값을 센서 소자에 의해 검출하는 단계와, 타깃 휠의 적어도 하나의 다음 회전에서 타깃 소자에 대한 최적 스위칭 문턱 값을 예측하기 위해 특정 타깃 소자에 관련된 적어도 하나의 최대 값 및 적어도 하나의 최소 값을 사용하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 센서는 입력 신호를 제공하도록 구성된 센서 소자와, 입력 신호를 수신하기 위해 센서 소자에 결합된 센서 회로를 포함하고, 센서 회로는 입력 신호의 일부분과 입력 신호의 일부분에 대해 예측된 최적 스위칭 문턱 값을 비교하여 비교에 따라 센서 회로의 출력을 스위칭하도록 구성되는 비교기를 포함한다.
본 발명은 첨부 도면에 관련된 본 발명의 다양한 실시예에 대한 다음의 상세한 설명에 의해 보다 완전하게 이해될 수 있다.
도 1a는 통상적인 단일 문턱 값 실시예에 관련된 신호도이다.
도 1b는 통상적인 반응적 문턱 값 실시예에 관련된 신호도이다.
도 2는 통상적인 문턱 값 판단 회로에 관련된 회로 블록도이다.
도 3은 일 실시예에 따른 타깃 휠 및 센서 시스템의 블록도이다.
도 4는 일 실시예에 따른 예측 최적 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법의 신호도이다.
도 5a는 일 실시예에 따른 예측 최적 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법의 신호도이다.
도 5b는 일 실시예에 따른 예측 최적 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법의 신호도이다.
도 5c는 일 실시예에 따른 예측 최적 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법의 신호도이다.
도 6은 일 실시예에 따른 예측 최적 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법의 신호도이다.
도 7은 일 실시예에 따른 회로 블록도이다.
도 8a는 일 실시예에 따른 회로 블록도이다.
도 8b는 도 8a의 실시예에 따른 예측 최적 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법의 신호도이다.
본 발명은 다양한 변경 및 대안 형태에 친근하지만, 본 발명의 세부 사항은 도면에 예로서 도시되었고 상세하게 설명될 것이다. 그러나, 본 발명을 설명된 특정 실시예로 제한하도록 의도되지 않는다는 점이 이해되어야 한다. 이와 반대로, 본 발명은 첨부된 특허청구범위에 의해 정의된 바와 같은 본 발명의 사상 및 범위 내에 속하는 모든 변경, 균등물, 및 대안예를 포함하도록 의도된다.
실시예는 센서, 예를 들어 자기장 센서를 위한 예측 출력 스위칭 문턱 값 판단 시스템 및 방법에 관한 것이다. 실시예에서, 강자성 치형부 또는 폴 휠의 각각의 치형부 또는 폴에 대해 적어도 하나의 개별 스위칭 문턱 값이 각각 반응적이라기 보다는 예측적으로 판단된다. 예를 들어, 하나의 실시예에서, 치형부 또는 폴의 개수는 프로그래밍되고, 각각의 치형부 또는 폴에 대한 최적 문턱 값은 휠의 회전 중에 판단된다. 그런 다음, 각각의 치형부에 대한 판단된 최적 문턱 값은 휠의 적어도 하나의 다음 회전에서 그러한 치형부를 위해 사용되고, 보정이 미래의 다음 회전에서 선택적으로 발생한다. 따라서, 실시예에서, 문턱 값은 인접한 치형부 또는 폴에 대해 반응적이지 않고 각각의 개별 치형부 또는 폴에 대해 예측적이다.
이에 의해, 실시예는 런아웃을 보다 양호하게 보정하고/하거나 보상하고, 보다 양호하게 제조하고, 센서와 타깃 휠 사이의 공차를 보다 양호하게 위치시키면서 개선된 위상 정확성을 제공할 수 있다. 이들 실시예 및 다른 실시예는 본 명세서에 논의된 바와 같이 추가적 이점 및 장점을 또한 제공한다.
도 3을 참조하면, 타깃 휠(104)로부터 이격된 센서(102)를 포함하는 센서 시스템(100)이 도시되어 있다. 실시예에서 센서(102)는 홀 효과 센서와 같은 자기장 센서를 포함하지만, 다른 실시예에서 센서(102)는 다른 센서 유형을 포함할 수 있다. 센서(102)는 본 명세서에서 아래에 논의되는 신호 처리 회로도 포함한다.
센서(102)가 자기장 센서를 포함하는 실시예에서, 타깃 휠(104)은 강자성이고, (도 3에 도시된 바와 같은) 치형 휠, 폴 휠, 또는 일부 다른 적절한 타깃 디바이스를 포함한다. 센서 시스템(100)은 백 바이어스 자석(도시되지 않음)도 또한 포함할 수 있다. 일부 다른 유형의 센서(102)가 사용되는 실시예에서, 타깃 휠은 다른 적절한 타깃을 포함하고, 타깃의 회전 또는 이동은 센서(102)에 의해 검출될 수 있다. 도 3에 도시된 실시예에서, 타깃 휠(104)은 4개의 치형부(106)를 포함하지만, 이러한 개수는 다른 실시예에서 더 많아지거나 더 작아질 수 있다. 편의상, 도 3에 도시된 바와 같은 4-치형 휠이 예시적인 타깃 휠(104)로서 본 명세서에서 내내 사용되지만, 다른 실시예에 대해 제한하는 것으로 간주되지 않아야 한다. 실시예에서, 치형부 또는 폴의 개수는 EEPROM과 같은 센서 시스템(100)의 메모리 내로 프로그래밍될 수 있거나, 치형부의 개수는 센서 시스템(100)에 의해 검출될 수 있다.
타깃 휠(104)의 각각의 치형부(106)는 편의상 도 3에서 타깃 휠(104)의 골(108) 또는 나머지에 대해 대략 동일한 크기를 갖는 것, 즉 대략 동일한 폭과 동일한 높이를 갖는 것으로 도시된다. 실제로, 치형부(106)는 의도적으로 또는 의도하지 않게 서로 달라질 수 있다. 예를 들어, 치형부(106)는 의도적으로 서로 달라질 수 있어서, 센서 시스템(100)은 타깃 휠(104)이 회전 중에 정확하게 어디에 위치하는지를 보다 쉽게 판단할 수 있다. 치형부(106)는 예를 들어 제조 공차 또는 결함으로 인해 의도하지 않게 서로 달라질 수도 있다.
동작 중에 타깃 휠(104)은 회전하여 센서(102)에 의해 감지될 수 있는 가변 자기장을 생성한다. 도 4를 참조하면, 센서(102)에 의해 감지된 신호는 신호(110)와 유사할 수 있다. 치형부 1 내지 4 각각에 관련된 신호(110)의 일부분은 신호(110) 상부에서 식별된다. 도시된 바와 같은 신호(110)는 자기장의 상대적인 최대 세기 및 위상이 회전 중에 변화하도록 (도 3에 도시되지 않은) 4개의 치형부들 간의 차이를 표시한다. 최대 세기는 상대적으로 일정하지만, 다른 실시예에서 최대 세기도 또한 변화할 수 있다. 그러므로, 타깃 휠(104)이 회전함에 따라 센서 시스템(100)은 최고(high)로부터 최저(low)로 또는 온(on)으로부터 오프(off)로 스위칭하고, 센서(102)에 의해 검출된 자기장은 최고로부터 최저까지 변화한다.
개선된 위상 정확성을 위해, 더 작고 더 큰 치형부인 경우에 기하학적으로 동일한 지점에서 최고로부터 최저로 그리고 이와 반대로 스위칭하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 하나의 실시예에서, 자기장이 특정 치형부의 최대 값의 대략 70%에 도달할 때, 즉 K=진폭의 0.7일 때, 최저에서 최고로 스위칭하는 것이 최적이다. 마찬가지로, 그런 다음 자기장이 그러한 특정 치형부에 연관된 자기장의 최대 값의 70% 미만으로 떨어질 때 최고에서 최저로 다시 스위칭하는 것이 최적일 수 있다. 치형부의 크기가 변화할 때, 도 4에 도시된 예시적인 최적 문턱 값(optimal threshold)에 의해 도시된 바와 같이 K도 또한 치형부에서 치형부로 계속하여 변화할 수 있다.
K에 대한 값이 센서 시스템(100)을 위해 프로그래밍될 수 있지만, 센서 시스템(100)의 각각의 구현예의 각각의 타깃 휠(104)의 각각의 개별 치형부에 대한 K에 연관된 상응하는 최적 문턱 값을 프로그래밍하는 것은 불가능하지는 않지만 비현실적이다. 또한, 최적 문턱 값은 런아웃, 온도 변화, 위치 설정, 및 많은 다른 이유로 인해 달라질 수 있다.
그러므로, 실시예에서, 센서 시스템(100)은 타깃 휠(104)의 적어도 하나의 회전 중에 각각의 치형부에 대한 최적 문턱 값을 판단한다. 실시예에서, 적어도 하나의 회전은 타깃 휠(104)의 제 1 회전이거나, 타깃 휠(104)의 이전 회전이거나, 타깃 휠(104)의 현재 회전이거나, 이들의 조합일 수 있다. 또한, 센서 시스템(100)의 실시예는 판단된 최적 문턱 값을 다음 회전에서의 동일한 치형부의 미래 인스턴스에 적용함으로써 그 문턱 값을 예측 방식으로 사용할 수 있다. 센서(102) 및 타깃 휠(104) 중 어느 하나 또는 두 개 모두의 위치 설정을 변경시킬 수 있는 온도 변화 또는 다른 사건과 같이 최적 문턱 값이 초기에 판단된 다음에 동작 중에 발생할 수 있는 사건을 설명하기 위해, 최적 문턱 값은 보정을 제공하도록 미래 회전에서 계속하여 예측 방식으로 판단될 수 있다. 실시예에서, 최적 문턱 값은 각각의 회전에서 또는 다른 시간 간격에서 재판단되거나 보정될 수 있지만, 다른 실시예에서 최적 문턱 값은 한 번 판단되어 계속적인 기반으로 사용될 수 있다. 판단된 최적 스위칭 문턱 값은 보정이 구현되는지에 무관하게 예측 방식으로 사용되는데, 즉 판단된 최적 스위칭 문턱 값은 각각의 치형부에 대해 타깃 휠(104)의 제 1 회전 중에 판단되고 그러한 동일한 치형부의 미래 인스턴스에 대한 적어도 하나의 다음 회전에 적용된다.
도 5a를 참조하면, 최적 스위칭 문턱 값을 판단하는 하나의 방법이 도시된다. 도 5a의 실시예에서, 센서 시스템(100)은 다음에 치형부 1의 다음 인스턴스(next instance)에 대한 최적 문턱 값을 예측 방식으로 판단하기 위해, 프로그래밍되거나 동적으로 판단된 K-값과 함께, 치형부 1의 제 1 회전 중의 최대 값 및 그러한 제 1 회전 내에 있는 치형부 1 내지 4 각각의 최소 값의 평균을 사용한다. 마찬가지로, 센서 시스템(100)은 치형부 2의 제 2 인스턴스에 대한 최적 문턱 값을 예측 방식으로 판단하기 위해 치형부 2의 제 1 인스턴스의 최대 값 및 치형부 1 내지 4의 제 1 인스턴스의 최소 값의 평균을 사용한다. 유사한 방법은 치형부 3 및 4의 제 2 인스턴스 각각의 최적 스위칭 문턱 값을 판단하기 위해 확장될 수 있다.
도 5b를 참조하면, 치형부의 최대 값 및 2개의 인접 최소 값이 그러한 치형부의 다음 인스턴스의 최적 스위칭 문턱 값을 예측하기 위해 사용되는 또 다른 방법론이 도시된다. 예를 들어, 프로그래밍된 K-값과 함께 치형부 1의 제 1 인스턴스의 최대 값은 물론 최대 값 바로 앞의 최소 값 및 최대 값 바로 뒤의 최소 값이 치형부 1의 제 2 인스턴스의 최적 스위칭 문턱 값을 예측하기 위해 사용된다. 이러한 동일한 접근 방법은 나머지 치형부에 대해 확장될 수 있다.
도 5a 및 도 5b의 실시예는 각각 하나의 응용예 또는 또 다른 응용예인 경우에 보다 적당할 수 있는 실시예를 제공할 수 있다. 예를 들어, 도 5b는 평균을 판단하기 위해 4개의 최소 값이 모두 저장될 필요가 없기 때문에서 실시예에서 보다 작은 메모리 요건을 가질 수 있고, 이러한 것은 일부 응용예에서 유리할 수 있지만 다른 응용예에서 결정적인 인자가 되지 않을 수 있다. 기본적으로, 다양한 실시예는 특정 응용예에 대해 고려될 수 있는 선택 범위를 제공한다.
실시예에서, 도 5a 및 도 5b 각각의 최소/최대 정반대 값이 사용될 수 있다. 예를 들어, 도 5a의 방법을 참조하면, 개별 최소 값 및 최대 값의 평균이 사용되거나, 도 5b를 참조하면, 개별 최소 값 및 두 개의 인접한 최대 값이 사용될 수 있다. 추가로, 특정 방법론이 하나뿐일 필요는 없으며, 예를 들어 실시예에서 센서 시스템(100)은 도 5a의 접근 방법과 도 5b의 접근 방법을 교대로 사용하거나 또는 논의된 바와 같은 다른 방법론들을 교대로 사용할 수 있다. 실시예에서, 센서 시스템(100)은 응용예 및/또는 조건을 고려할 때 어느 것이 가장 적절할 것인지를 동적으로 판단하는 능력은 물론 2개의 방법론을 이용하여 프로그래밍될 수 있다.
도 5c를 참조하면, 다른 실시예에서, 각각의 치형부 또는 폴은 물론 각각의 에지에 대해 상이한 최적 스위칭 문턱 값이 판단될 수 있으며, 예를 들어 동일한 치형부 또는 폴의 상승 에지 대 하강 에지에 대해 상이한 최적 스위칭 문턱 값이 판단될 수 있다. 따라서, 타깃 휠(104)이 4개의 치형부(106)를 포함하는 도 3의 실시예에서, 센서 시스템(100)은 각각의 치형부(106)에 2개씩 8개의 최적 스위칭 문턱 값을 계산할 것이다.
도 6을 참조하면, 다음 치형부에 대한 하나의 최적 문턱 값으로부터 다음 최적 문턱 값으로의 스위칭의 타이밍도 또한 고려되어야 한다. 최적 문턱 값과 오프셋 조정 루프에 제공된 피드백의 양 사이의 차이는 델타 문턱 값으로서 도시된다. 현재 최적 문턱 값으로부터 다음 최적 문턱 값으로의 스위칭의 타이밍을 포함하는 프로세스는 실시예에서 기생 스위칭 또는 부정확한 문턱 값으로의 스위칭을 회피하도록 최적으로 트리거링된다. 이러한 최적 트리거링은 센서 시스템(100) 내의 히스테리시스 효과도 또한 고려할 수 있다. 그러므로, 도 6에 도시된 바와 같이, 안전 구역은 실시예에서 이른 스위칭을 방지하도록 구현될 수 있다. 하나의 실시예에서, 히스테리시스 인자뿐만 아니라 하강 에지 상에서 다음 문턱 값이 통과되는 지점은 각각의 안전 구역을 정의하며, 안전 구역은 상승 에지와 하강 에지에 대해 확장된 상태이다.
히스테리시스는 몇 가지 방식으로 해결될 수 있다. 실시예에서, 히스테리시스 인자(hysteresis factor)는 고정될 수 있다. 예를 들어, 히스테리시스 인자는 센서 시스템(100)이 구현되는 공지된 응용예 또는 상황에 기반하여 센서 시스템(100) 내에서 프로그래밍될 수 있다. 하나의 실시예에서 예시적인 히스테리시스 값은 대략 3mT이지만, 이러한 값은 다른 실시예에서 달라질 수 있다. 다른 실시예에서, 히스테리시스 인자는 신호 진폭에 적응할 수 있다. 이들 실시예에서, 센서 시스템(100)은 히스테리시스가 신호 진폭에 비례한다는 것을 고려하여 최적 문턱 값을 계산하기 위한 정보와 동일한 정보를 사용하여 히스테리시스 인자를 내부적으로 계산하도록 프로그래밍될 수 있다. 예를 들어, 최적 문턱 값이 판단되는 제 1 회전에서, 센서 시스템(100)은 진폭 및 그에 따른 적절한 히스테리시스 인자를 판단하기 위해 최대 값 및 최소 값을 사용할 수 있다. 그런 다음, 도 6에 도시된 바와 같이, 스위칭 지점(120)이 식별되고, 스위칭 지점(120)에서 센서 시스템(100)은 사용되는 최적 문턱 값을 스위칭할 수 있다.
각각의 치형부 또는 폴이 하나는 상승 에지를 위한 최적 문턱 값이고 나머지 하나는 하강 에지를 위한 최적 문턱 값인 2개의 최적 문턱 값을 갖는 도 5c의 실시예인 경우에, 센서 시스템(100)은 특정 상승 에지 또는 특정 하강 에지에 상응하는 저장된 최대 값 및 최소 값에 기반하여 안전 구역을 계속하여 계산할 수 있다. 발생하는 2개의 연속적인 문턱 값들 사이의 변화에 대해, 문턱 값보다 크면서 히스테리시스도 또한 고려하는 등가 안전 구역이 구현될 수 있다.
도 7을 참조하면, 센서 시스템(100)의 회로(130)의 일 실시예가 도시된다. 회로(130)는 이미 논의된 바와 같은 홀 소자와 같은 센서 소자로부터 아날로그 입력 신호(132)를 수신한다. 신호는 신호 처리 블록(134)을 관통해 통과한 다음 아날로그 루프에서 최적 문턱 값의 오프셋 조정 및 판단을 위해 아날로그 디지털 변환기(ADC) 및 디지털 아날로그 변환기(DAC)(136)로 통과한다. 신호 처리 블록(134) 후에, 신호는 변환기(138)로도 또한 통과하며, 변환기(138)에서 신호는 출력 스위칭(140)이 발생하는지를 판단하기 위해 고려되고 있는 특정 입력 신호(132)에 관련된 치형부 또는 폴의 마지막 인스턴스로부터 판단된 적절한 예측 최적 문턱 값과 비교된다.
도 8을 참조하면, 회로(150)의 또 다른 실시예 및 본 발명의 실시예를 구현하기 위한 관련된 신호도가 도시된다. 도 8a를 참조하면, 회로(150)는 최대 값과 최소 값에 대해 각각 하나씩 2개의 시프트 레지스터 시리즈(152 및 154)를 포함한다. 회로(150)는 각각의 치형부에 대해 각각의 시리즈(152 및 154) 내에 하나의 시프트 레지스터를 포함한다. 따라서, 도 8a의 실시예는 도 3의 실시예에 상응하는 것을 각각 4개 포함한다.
시프트 레지스터(152 및 154)는 각각 최대 값과 최소 값을 버퍼링하고, 그들 값을 타깃 휠의 하나의 회전만큼 지연된 DAC(156 및 158)로 통과시킨다. 따라서, 도 8b를 참조하면, Bop1은 Pk2 및 Pk3으로부터 판단되고, Brp1은 Pk3 및 Pk4로부터 판단되는데, 여기서 Pk2, Pk3 및 Pk4는 한 회전 주기 전에 판단되어 저장된다.
따라서, 실시예는 출력 신호 스위칭 성능을 개선하기 위해 예측 최적 문턱 값 판단을 이용한다. 다양할 실시예는 타깃 휠의 특정 부분(예를 들어, 치형부 또는 폴)에 연관된 최적 문턱 값을 예측 방식으로 판단하기 위해 최대 값, 최소 값 및/또는 어느 하나 또는 2개 모두의 평균과 같은 상이한 신호 인자를 이용할 수 있으며, 그들 최적 문턱 값은 타깃 휠의 적어도 하나의 미래 회전에 대해 구현된다. 통상적인 단일 문턱 값 및/또는 반응적 시스템에 비해, 본 명세서에서 전술된 바와 같은 다양한 장점이 제공될 수 있다.
시스템, 디바이스 및 방법의 다양한 실시예가 본 명세서에 설명되었다. 이들 실시예는 단지 예시로서 주어지며 본 발명의 범위를 제한하도록 의도되지 않는다. 또한, 다양한 추가 실시예를 생성하기 위해 설명된 실시예의 다양한 특징이 다양한 방식으로 조합될 수 있다는 것이 이해되어야 한다. 또한, 다양한 재료, 치수, 형상, 구성 및 위치 등이 개시된 실시예와 사용하도록 설명되었지만, 개시된 실시예 이외의 다른 실시예가 본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서 이용될 수 있다.
당업자는 본 발명이 전술된 모든 개별 실시예에 도시된 특징보다 작은 개수의 특징을 포함할 수 있다는 것을 인식할 것이다. 본 명세서에 설명된 실시예는 본 발명의 다양한 특징이 조합될 수 있는 방식에 대한 완전한 제시를 의미하지는 않는다. 따라서, 실시예는 서로 배타적인 특징의 조합이 아니며, 그와 반대로 본 발명은 당업자에 의해 이해되는 바와 같이 상이한 개별 실시예로부터 선택된 상이한 개별 특징의 조합을 포함할 수 있다. 또한, 하나의 실시예에서 설명된 소자는 다른 실시예에서 설명되지 않았더라도 달리 기재되어 있지 않는 한 다른 실시예에서 구현될 수 있다. 특허청구범위에서 종속 청구항은 하나 이상의 다른 청구항과의 특정 조합을 지칭할 수 있지만, 다른 실시예는 그 종속 청구항의 각각의 다른 종속하는 청구항의 발명 대상과의 조합 또는 하나 이상의 특징의 다른 종속 또는 독립 청구항과의 조합도 또한 포함할 수 있다. 이러한 조합은 특정 조합이 의도되지 않는다고 기재되지 않는 한 본 명세서에서 제안된다. 또한, 이러한 조합은 또한 임의의 다른 독립 청구항에 직접 종속되지 않더라도 그 독립 청구항에 하나의 청구항의 특징을 포함하도록 의도된다.
전술된 문서의 참조로서의 모든 통합은 본 명세서의 명백한 개시에 반대되는 발명 대상이 통합되지 않도록 제한된다. 전술된 문서의 참조로서의 모든 통합은 문서에 포함된 특허청구범위가 본 명세서에 참조로서 통합되지 않도록 더 제한된다. 전술된 문서의 참조로서의 모든 통합은 문서 내에 제공된 모든 정의가 본 명세서에서 명시적으로 포함되지 않는 한 본 명세서에 참조로서 통합되지 않도록 더 제한된다.
본 발명에 대한 특허청구범위를 해석할 목적으로, 미국특허법 35 U.S.C의 제 112조 제6항의 규정은 특정 용어 "하기 위한 수단" 또는 "하기 위한 단계"가 청구항에 언급되지 않는 한 발동되지 않도록 명백히 의도된다.

Claims (34)

  1. 복수의 타깃 소자들을 포함하는 타깃 휠과,
    센서 회로에 결합된 자기장 센서 소자를 포함하는 센서를 포함하되,
    상기 자기장 센서 소자는 변화하는 자기장에 기초하여 상기 타깃 휠의 회전을 감지하고 상기 복수의 타깃 소자들 사이의 차이를 나타내는 상기 복수의 타깃 소자들 각각에 대한 최대 값과 최소 값을 포함하는 대응 출력 신호를 제공하도록 구성되고, 상기 센서 회로는, 상기 복수의 타깃 소자들 중 각각의 타깃 소자에 대하여, 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자에 관련된 적어도 하나의 최대 값 및 적어도 하나의 최소 값을 사용하여 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자의 후속 인스턴스에 대한 개별 스위칭 문턱 값을 추정하도록 구성되는
    센서 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 타깃 휠은 폴 휠(a pole wheel) 또는 치형 휠(a tooth wheel) 중 하나를 포함하고, 상기 타깃 소자는 각각 폴 또는 치형부 중 하나를 포함하는
    센서 시스템.
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 자기장 센서 소자는 홀 소자를 포함하는
    센서 시스템.
  5. 제 1 항에 있어서,
    백 바이어스 자석(back bias magnet)을 더 포함하는
    센서 시스템.
  6. 삭제
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는, 상기 복수의 타깃 소자들 중 각각의 타깃 소자에 대하여, 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자의 후속 인스턴스에 대한 상승 에지 개별 문턱 값 및 하강 에지 개별 문턱 값을 추정하도록 구성되는
    센서 시스템.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는, 상기 복수의 타깃 소자들 중 각각의 타깃 소자에 대하여, 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자의 적어도 다음 인스턴스에 대한 개별 스위칭 문턱 값을 추정하기 위해, 일 회전에서 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자에 대한 최대 값 및 상기 복수의 타깃 소자들에 대한 최소 값들의 평균을 사용하도록 구성되는
    센서 시스템.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는, 상기 복수의 타깃 소자들 중 각각의 타깃 소자에 대하여, 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자의 적어도 다음 인스턴스에 대한 개별 스위칭 문턱 값을 추정하기 위해, 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자에 대한 최대 값, 상기 최대 값 바로 앞의 최소 값, 및 상기 최대 값 바로 뒤의 최소 값을 사용하도록 구성되는
    센서 시스템.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는, 상기 복수의 타깃 소자들 중 각각의 타깃 소자에 대하여, 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자의 적어도 다음 인스턴스에 대한 개별 스위칭 문턱 값을 추정하기 위해, 일 회전에서 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자에 대한 최소 값 및 상기 복수의 타깃 소자들에 대한 최대 값들의 평균을 사용하도록 구성되는
    센서 시스템.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는, 상기 복수의 타깃 소자들 중 각각의 타깃 소자에 대하여, 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자의 적어도 다음 인스턴스에 대한 개별 스위칭 문턱 값을 추정하기 위해, 상기 복수의 타깃 소자들 중 상기 각각의 타깃 소자에 대한 최소 값, 상기 최소 값 바로 앞의 최대 값, 및 상기 최소 값 바로 뒤의 최대 값을 사용하도록 구성되는
    센서 시스템.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는 각각의 개별 문턱 값에 대한 안전 구역을 결정하도록 구성되고, 상기 안전 구역은 상기 센서 회로가 상기 출력 신호와 현재 개별 문턱 값을 비교하는 것으로부터 상기 출력 신호와 다음 개별 문턱 값을 비교하는 것으로 전이할 수 있는 지점을 정의하는
    센서 시스템.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 안전 구역은 히스테리시스 보상 컴포넌트를 포함하는
    센서 시스템.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 히스테리시스 보상 컴포넌트는 미리 프로그래밍되는
    센서 시스템.
  15. 제 13 항에 있어서,
    상기 히스테리시스 보상 컴포넌트는 신호 진폭으로부터 상기 센서 회로에 의해 결정되는
    센서 시스템.
  16. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는 아날로그 신호 처리 회로, 비교기, 디지털 아날로그 변환기, 및 아날로그 디지털 변환기를 포함하는
    센서 시스템.
  17. 제 16 항에 있어서,
    상기 비교기는 상기 자기장 센서 소자로부터의 상기 출력 신호와 개별 스위칭 문턱 값을 비교하도록 구성되는
    센서 시스템.
  18. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는, 상기 복수의 타깃 소자들 중 각각의 타깃 소자에 대하여, 복수의 시프트 레지스터와, 상기 타깃 소자들 중 하나의 타깃 소자에 대한 최대 값을 저장하도록 각각 구성되는 상기 복수의 시프트 레지스터의 제 1 부분집합과, 상기 복수의 타깃 소자들 중 하나의 타깃 소자에 대한 최소 값을 저장하도록 각각 구성되는 상기 복수의 시프트 레지스터의 제 2 부분집합을 포함하고,
    상기 복수의 시프트 레지스터는 특정 최대 값 및 최소 값 세트에 연관된 상기 타깃 소자의 다음 인스턴스까지 상기 최대 값 및 상기 최소 값을 버퍼링하도록 구성되는
    센서 시스템.
  19. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는 상기 복수의 타깃 소자들의 전체 개수를 검출하도록 구성되는
    센서 시스템.
  20. 제 1 항에 있어서,
    상기 센서 회로는 상기 복수의 타깃 소자들의 전체 개수를 이용하여 미리 프로그래밍되는
    센서 시스템.
  21. 자기장 센서 소자에 의해, 타깃 휠의 제 1 회전 중에 각각의 타깃 소자 사이의 차이를 나타내는 각각의 타깃 소자에 대한 최대 값 및 최소 값을 검출하는 단계와,
    복수의 타깃 소자들 중 각각의 타깃 소자에 대하여, 특정 타깃 소자에 관련된 적어도 하나의 최대 값 및 적어도 하나의 최소 값을 사용하여 상기 타깃 휠의 적어도 하나의 후속 회전에서의 상기 특정 타깃 소자에 대한 개별 스위칭 문턱 값을 추정하는 단계
    를 포함하는 방법.
  22. 제 21 항에 있어서,
    상기 타깃 휠의 각각의 회전에서 상기 검출하는 단계 및 상기 추정하는 단계를 반복함으로써 상기 개별 스위칭 문턱 값을 보정하는 단계를 포함하는
    방법.
  23. 제 21 항에 있어서,
    상기 추정하는 단계는, 상기 특정 타깃 소자에 대한 최대 값, 상기 최대 값 바로 앞의 최소 값, 및 상기 최대 값 바로 뒤의 최소 값을 사용하여, 상기 특정 타깃 소자의 적어도 다음 인스턴스에 대한 개별 스위칭 문턱 값을 추정하는 단계를 포함하는
    방법.
  24. 제 21 항에 있어서,
    상기 추정하는 단계는, 상기 특정 타깃 소자에 대한 최소 값, 상기 최소 값 바로 앞의 최대 값, 및 상기 최소 값 바로 뒤의 최대 값을 사용하여, 상기 특정 타깃 소자의 적어도 다음 인스턴스에 대한 개별 스위칭 문턱 값을 추정하는 단계를 포함하는
    방법.
  25. 입력 신호를 제공하도록 구성된 자기장 센서 소자 - 상기 입력 신호는 상기 입력 신호의 다른 부분들 사이의 차이를 나타냄 - 와,
    상기 자기장 센서 소자에 결합되어 상기 입력 신호를 수신하는 센서 회로를 포함하되,
    상기 센서 회로는, 상기 입력 신호의 복수의 부분 중 각각의 부분에 대하여, 상기 입력 신호의 상기 각각의 부분과 상기 입력 신호의 상기 각각의 부분에 대해 추정된 개별 스위칭 문턱 값을 비교하고 상기 비교에 따라 상기 센서 회로의 출력을 스위칭하도록 구성되는 비교기를 포함하는
    센서.
  26. 삭제
  27. 삭제
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9488700B2 (en) 2013-09-12 2016-11-08 Infineon Technologies Ag Magnetic field sensors and systems with sensor circuit portions having different bias voltages and frequency ranges
KR101575981B1 (ko) 2014-10-07 2015-12-08 주식회사 현대케피코 런-아웃을 갖는 회전체에 대한 회전체 검출 센서 제어 장치 및 방법
US20160216333A1 (en) * 2015-01-23 2016-07-28 Brandon & Clark, Inc. System and method for induction motor rotor bar magnetic field analysis
BR112017024161A2 (pt) 2015-05-12 2018-07-17 Dana Automotive Systems Group método para controlar um evento de conexão do sistema de tração total de um veículo
JP2017044665A (ja) * 2015-08-28 2017-03-02 アイシン精機株式会社 回転センサ
FR3044087B1 (fr) * 2015-11-25 2018-11-16 Continental Automotive France Procede de calibration automatique d’un capteur d’arbre a cames pour moteur de vehicule automobile et capteur associe
JP6566885B2 (ja) * 2016-02-10 2019-08-28 メレキシス テクノロジーズ エス エー 回転検出装置
US10739368B2 (en) * 2017-05-18 2020-08-11 Infineon Technologies Ag Incremental speed sensor with redundant sensor elements
US10969435B2 (en) 2018-02-12 2021-04-06 Brandon & Clark, Inc. System and method for induction motor rotor bar surface magnetic field analysis
FR3079926B1 (fr) * 2018-04-05 2020-03-13 Continental Automotive France Procede de calibration automatique d'un capteur d'arbre a cames pour corriger un faux rond de cible
FR3079925B1 (fr) * 2018-04-05 2020-03-13 Continental Automotive France Procede de calibration automatique d'un capteur d'arbre a cames pour corriger un saut d'entrefer
US11597502B2 (en) 2019-09-05 2023-03-07 Pratt & Whitney Canada Corp. Signal amplification in blade angle position feedback system
US11365691B2 (en) 2019-09-05 2022-06-21 Pratt & Whitney Canada Corp. Blade angle position feedback system with embedded markers
DE102020201441A1 (de) * 2020-02-06 2021-08-12 Infineon Technologies Ag Aktualisieren eines Standardschaltpegels

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040095129A1 (en) * 2002-11-15 2004-05-20 Furlong Gregory R. Sensing methods and systems for hall and/or mr sensors
US20110298447A1 (en) * 2010-06-03 2011-12-08 Allegro Microsystems, Inc. Motion Sensor, Method, and Computer-Readable Storage Medium Providing a Motion Sensor with a State Processor Having a Reduced Amount of State Chatter

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4575677A (en) 1984-05-25 1986-03-11 Mobil Oil Corporation Motor speed detector
WO1987006348A1 (en) 1986-04-10 1987-10-22 Caterpillar Inc. Velocity sensor with drift compensation
US4914387A (en) 1988-04-04 1990-04-03 The Torrington Company Magnetic speed sensor with an adaptive threshold circuit for use with a bearing assembly
IT1223867B (it) 1988-10-25 1990-09-29 Marelli Autronica Circuito per il trattamento del segnale generato da un sensore elettromagnetico di rotazione del tipo a riluttanza variabile
US5221250A (en) 1991-01-07 1993-06-22 Beckman Instruments, Inc. Coding of maximum operating speed on centrifuge rotors and detection thereof
US5446375A (en) 1992-10-16 1995-08-29 At&T Global Information Solutions Company Reluctance sensor having variable threshold detection circuit
US5477142A (en) 1994-02-22 1995-12-19 Delco Electronics Corporation Variable reluctance sensor interface using a differential input and digital adaptive control
US5497084A (en) * 1995-03-03 1996-03-05 Honeywell Inc. Geartooth sensor with means for selecting a threshold magnitude as a function of the average and minimum values of a signal of magnetic field strength
US5650719A (en) 1996-01-17 1997-07-22 Allegro Microsystems, Inc. Detection of passing magnetic articles while periodically adapting detection thresholds to changing amplitudes of the magnetic field
US6242908B1 (en) 1996-01-17 2001-06-05 Allegro Microsystems, Inc. Detection of passing magnetic articles while adapting the detection threshold
DE19707263B4 (de) 1997-02-24 2006-03-16 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Einstellen von Schaltpunkten bei einem Sensor-Ausgangssignal
US6221670B1 (en) 1997-03-21 2001-04-24 Scios Inc. Methods to identify β-amyloid reducing agents
US6064199A (en) * 1998-02-23 2000-05-16 Analog Devices, Inc. Magnetic field change detection circuitry having threshold establishing circuitry
US6191576B1 (en) * 1998-06-30 2001-02-20 Honeywell Inc. Method of operating or constructing a geartooth sensor
JP3233129B2 (ja) 1999-04-07 2001-11-26 株式会社デンソー 磁気検出装置
US6487787B1 (en) 2001-08-03 2002-12-03 Mitutoyo Corporation System and method for determination of error parameters for performing self-calibration and other functions without an external position reference in a transducer
DE10223514B4 (de) 2002-05-27 2010-01-28 Infineon Technologies Ag Komparatorschaltung
DE10223767B4 (de) 2002-05-28 2004-10-21 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Verarbeiten eines Signals eines Sensors
US6798192B2 (en) 2002-06-11 2004-09-28 Honeywell International, Inc. Speed sensing system with automatic sensitivity adjustment
GB0305352D0 (en) 2003-03-08 2003-04-16 Melexis Nv Hall effect sensor
DE10345734B4 (de) 2003-10-01 2012-04-26 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Anordnung zur Korrektur der Auswertung der Schaltschwellen bei einer Magnetsensoranordnung
DE102004029941B3 (de) 2004-06-21 2005-12-15 Infineon Technologies Ag System zur Auswertung eines Sensorsignals
DE102004046803B4 (de) 2004-09-27 2011-08-18 Infineon Technologies AG, 81669 Verfahren zur Bestimmung der Winkelposition eines rotierenden Objekts und Drehgeber
US6967477B1 (en) 2004-12-02 2005-11-22 Honeywell International Inc. Adaptive geartooth sensor with dual peak detectors and true power on capability
JP5052982B2 (ja) 2007-07-25 2012-10-17 セイコーインスツル株式会社 磁気センサ回路
US7839141B2 (en) * 2007-08-14 2010-11-23 Infineon Technologies Ag Method of biasing a magneto resistive sensor element
JP4965387B2 (ja) 2007-08-21 2012-07-04 セイコーインスツル株式会社 磁気センサ回路
US8072208B2 (en) 2008-05-30 2011-12-06 Infineon Technologies Ag Integrated circuit with tracking logic
US8886471B2 (en) 2008-06-26 2014-11-11 Infineon Technologies Ag Rotation sensing method and system
US8598867B2 (en) 2010-06-04 2013-12-03 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for generating a threshold signal used in a motion detector
US8442793B2 (en) 2010-09-28 2013-05-14 Ford Global Technologies, Llc System for determining quality of a rotating position sensor system
CN102052967B (zh) 2010-11-26 2012-09-05 中国科学院紫金山天文台 多像元超导探测器接收系统及太赫兹信号检测方法
DE102010064203A1 (de) 2010-12-27 2012-06-28 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Erkennungsschwelle
FR2978833B1 (fr) 2011-08-04 2014-05-02 Continental Automotive France Procede de calibration automatique d'un capteur d'arbre a cames pour vehicule automobile

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040095129A1 (en) * 2002-11-15 2004-05-20 Furlong Gregory R. Sensing methods and systems for hall and/or mr sensors
US20110298447A1 (en) * 2010-06-03 2011-12-08 Allegro Microsystems, Inc. Motion Sensor, Method, and Computer-Readable Storage Medium Providing a Motion Sensor with a State Processor Having a Reduced Amount of State Chatter

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Publication number Publication date
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