KR20190079420A - 자동 이득 조정 알고리즘을 이용한 회전각 검출 방법 및 그 장치 - Google Patents

자동 이득 조정 알고리즘을 이용한 회전각 검출 방법 및 그 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20190079420A
KR20190079420A KR1020170181607A KR20170181607A KR20190079420A KR 20190079420 A KR20190079420 A KR 20190079420A KR 1020170181607 A KR1020170181607 A KR 1020170181607A KR 20170181607 A KR20170181607 A KR 20170181607A KR 20190079420 A KR20190079420 A KR 20190079420A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
value
rotation angle
detected
gain
magnetic
Prior art date
Application number
KR1020170181607A
Other languages
English (en)
Inventor
김동윤
최성민
김은중
윤준열
Original Assignee
주식회사 해치텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 해치텍 filed Critical 주식회사 해치텍
Priority to KR1020170181607A priority Critical patent/KR20190079420A/ko
Priority to US16/204,629 priority patent/US10655985B2/en
Priority to CN201811611578.5A priority patent/CN109974575A/zh
Publication of KR20190079420A publication Critical patent/KR20190079420A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
    • G01D18/001—Calibrating encoders
    • G01D5/24452—
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/30—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D11/00—Component parts of measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
    • G01D11/24—Housings ; Casings for instruments
    • G01D11/245—Housings for sensors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/142—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/142—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices
    • G01D5/145—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices influenced by the relative movement between the Hall device and magnetic fields
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
    • G06F17/10—Complex mathematical operations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07—Hall effect devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07—Hall effect devices
    • G01R33/072—Constructional adaptation of the sensor to specific applications
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07—Hall effect devices
    • G01R33/077—Vertical Hall-effect devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09—Magnetoresistive devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Algebra (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

회전각 검출 장치가 개시된다. 본 발명의 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법은 제 1 홀 소자에서 측정된 제1 실측 자기값에 기초하여 제1 검출 회전각을 검출하는 단계; 상기 제1 검출 회전각에 따른 제2 홀 소자에서의 제1 검출 자기값를 검출하는 단계; 상기 제2 홀 소자에서 상기 제1 검출 회전각으로 회전하여 측정된 제2 실측 자기값와 상기 제1 검출 자기값 간의 제1 차이값에 기초하여 이득을 조정하는 단계; 상기 제1 검출 자기값에 상기 이득을 적용하여 제2 검출 회전각을 재검출하고, 상기 제2 검출 회전각에 따른 상기 제2 홀 소자에서의 제2 검출 자기값을 재검출하는 단계; 및 상기 제2 검출 자기값과 상기 제2 실측 자기값 간의 제2 차이값이 기설정된 델타값보다 작아지면, 상기 제2 검출 회전각을 확정 회전각으로 출력하는 단계를 포함할 수 있다.

Description

자동 이득 조정 알고리즘을 이용한 회전각 검출 방법 및 그 장치 {Method for Detecting Angle of Rotation using Automatic Gain Adjustment Algorithm and Apparatus thereof}
본 발명은 회전체의 회전각을 검출하는 장치에 관한 것이다.
(특허문헌 1) 등록특허 제10-1218028호, 2012년12월26일 등록
회전회전각 검출 장치로서 회전판에 영구 자석이 부착되고 그 주위에 적어도 하나의 홀 센서가 배치되는 구조가 알려져 있다. 자석과 센서 간의 상대 운동에 의해 발생하는 자기장의 변화를 감지하여 자석과 센서의 상대 회전 각도를 계산할 수 있다. 이런 원리를 이용하면 자석과 센서 특성이 균일할 때 측정값을 거리나 각도로 신뢰성 있게 변환하는 것이 가능하다.
도 16은 본 발명의 회전각 검출 장치에 대한 비교예를 설명하기 위한 그래프이다.
도 16(a)를 참조하면, 비교예의 회전각 검출 장치에서 측정된 자기 값(magnetic value)은 회전판을 시계 방향과 반 시계 방향으로 각각 회전시켜 측정된 값이다. 회전판의 회전방향이 변경된 시점을 중심으로 신호의 형태가 좌우 대칭이 되고 자석편이 홀 센서 위에서 교차할 때마다 신호 하단의 피크(peak)가 나타난다. 도 16(a)를 일부 확대하여 보면, 홀 센서 각각에서 측정된 자기 값은 도 16(b)와 같이 측정된다. 도 16(a)에서 피크값이 편차가 있는 것은 각 자석편의 불 균일성으로 피크값이 다르게 측정되기 때문이다. 음의 방향의 피크가 최소 -600 카운트(count)에서 최대 -500 카운트까지 측정되는 것을 알 수 있다. 이는 같은 자석편이라 간주할 수 있는 제품이라도 20%의 편차를 나타내기 때문이다.
도 17은 본 발명의 회전각 검출 장치에 대한 비교예를 설명하기 위한 그래프이다. 이는 회전판에 위치한 어느 한 자석편의 중간 지점과 다음 자석편의 중간 지점을 한 구간으로 설정하여 도 16의 커브 중 정해진 구간내에 최대 피크값을 갖는 커브와 최소 피크값을 갖는 커브를 중첩시켜 도 17의 한 구간안에 예시한 것이다.
도 17을 살펴보면, 복수의 홀 센서들 중 어느 하나(Z3)홀 센서에서 측정되어야 하는 이상적인 커브는 굵은 점선으로 표현된 Z3 커브이다. Z'3는 최대 피크를 나타내는 커브이며 Z''3는 최소 피크를 나타내는 커브이다. 각도 x에 대한 자기 값이 Z3에서 -300 카운트라고 하자. 이때 자석편 또는 센서에 의해 발생하는 외란을 고려하여 측정되는 Z'3 커브에서는 -300 카운트에 대응되는 각도가 x'이고, 또다른 Z''3 커브에서는 -300 카운트에 대응되는 각도가 x"로 검출된다. 이때 x'와 x" 간의 오차는 30°범위 내에서 약 2°에 해당하여, 약 7%의 오차범위 또는 ±3.5%의 오차범위를 의미한다.
즉, 실제 센서나 자석들이 제조과정에서 각각 균일하지 않게 생산되기 때문에, 각도 계산 시 이러한 불 균일성이 실제 상대 운동으로 발생하는 신호로 간주되어 회전각 검출 장치에서 검출된 각도가 정확하지 않게 된다.
본 발명은 회전체에서 회전 각도를 측정할 때 사용되는 자석편이나 홀 센서의 제조 시 허용되는 공차와 기구 설치 시 발생되는 기계적인 공차로 인한 다양한 오차와 관계없이 정밀한 회전 각도를 검출할 수 있는 회전각 검출 방법과 그 장치를 제공하는 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 복수의 홀 소자를 이용하여 회전각을 검출하는 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법은 제 1 홀 소자에서 측정된 제1 실측 자기값에 기초하여 제1 검출 회전각을 검출하는 단계; 상기 제1 검출 회전각에 따른 제2 홀 소자에서의 제1 검출 자기값를 검출하는 단계; 상기 제2 홀 소자에서 상기 제1 검출 회전각으로 회전하여 측정된 제2 실측 자기값와 상기 제1 검출 자기값 간의 제1 차이값에 기초하여 이득을 조정하는 단계; 상기 제1 검출 자기값에 상기 이득을 적용하여 제2 검출 회전각을 재검출하고, 상기 제2 검출 회전각에 따른 상기 제2 홀 소자에서의 제2 검출 자기값을 재검출하는 단계; 및 상기 제2 검출 자기값과 상기 제2 실측 자기값 간의 제2 차이값이 기설정된 델타값보다 작아지면, 상기 제2 검출 회전각을 확정 회전각으로 출력하는 단계를 포함한다.
상기 제1 홀 소자와 상기 제2 홀 소자는 상기 홀 소자들 중 출력파형의 변화가 더 민감한 자기값을 갖는 홀 소자일 수 있다.
상기 이득을 조정하는 단계는 상기 제1 차이값보다 상기 제2 차이값이 크면, 상기 이득을 기설정된 조정값만큼 증가 조정한다.
상기 이득을 조정하는 단계는 상기 제1 차이값보다 상기 제2 차이값이 작으면, 상기 이득을 기설정된 조정값만큼 감소 조정한다.
적어도 2 개의 홀 소자는 상기 자석편과 홀 센서의 상대 운동방향과 위상이 일치하도록 배치된다.
상기 검출 자기값은 상기 검출 회전각에 기초하여 기설정된 함수로부터 산출되는 자기값일 수 있다.
상기 검출 자기값은 상기 각 홀 소자의 회전각에 대응하는 자기값으로, 룩업테이블(Look-Up-Table)에 저장된 것일 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 다른 실시예에 따른 회전각 검출 장치는 회전체에 위치하는 복수의 자석편들; 적어도 3 이상의 홀 소자들을 포함하여, 상기 각 자석편의 자기값을 측정하는 적어도 하나의 홀 센서; 및 제1 홀 소자의 제1 실측 자기값을 제2 홀 소자에 적용하여 이득을 조정하고 확정 회전각을 검출하는 신호처리부를 포함한다.
상기 신호처리부는 상기 제1 실측 자기값에 기초하여 검출된 제1 검출 회전각을 제2 홀 소자에 적용하여 제1 검출 자기값을 산출하고, 상기 제2 홀 소자에서 상기 제1 검출 회전각으로 회전하여 측정된 제2 실측 자기값과 상기 제1 검출 자기값 간의 제1 차이값에 기초하여 이득을 조정하며, 상기 이득에 의해 재검출된 제2 검출 자기값과 상기 제2 실측 자기값 간의 제2 차이값을 상기 제1 차이값과의 비교결과에 기초하여, 상기 제2 검출 회전각을 확정 회전각으로 출력한다.
상기 신호처리부는 상기 복수의 홀 소자들 중 출력파형의 미분값의 절대값이 큰 순서대로 2개의 출력파형을 선택할 수 있다.
상기 신호처리부는 상기 제1 차이값보다 상기 제2 차이값이 크면, 상기 이득을 기설정된 조정값만큼 증가 조정하고, 상기 제1 차이값보다 상기 제2 차이값이 작으면, 상기 이득을 기설정된 조정값만큼 감소 조정한다.
상기 회전각 검출 장치는 상기 각 홀 소자의 회전각에 대응하는 자기값들을 룩업테이블(Look-Up-Table)로 저장한 저장부를 더 포함할 수 있다.
상기 신호 처리부는 상기 제2 차이값이 기설정된 델타값보다 작아질 때까지 상기 이득을 조정하여 상기 제2 검출 회전각을 재검출할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 회전각 검출 장치 및 그 회전각 검출 방법에 따르면, 자동적으로 센서 출력의 이득을 변화시켜 상대 거리 변화에 의해서 발생하는 자기장만의 변화만을 측정할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명의 실시예들에 따른 회전각 검출 장치 및 그 회전각 검출 방법에 따르면, 외란을 제거하고 자기장 변화를 측정할 수 있으므로 회전각 및 회전 속도를 정밀하게 측정할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명의 실시예들에 따른 회전각 검출 장치 및 그 회전각 검출 방법에 따르면, 고가의 센서 추가 없이 회전각 및 회전속도를 정밀하게 측정하여 비용이 절감되는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회전각 검출 장치를 개략적으로 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 회전각 검출 장치의 일 실시예에 따른 측면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 홀 센서를 상세히 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 회전각 검출 장치의 구성을 설명하는 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 회전각 검출 장치의 홀 센서에서 회전체를 0°에서 29°까지 회전시킴으로써 획득한 홀 소자들의 출력 파형들을 도시한 그래프이다.
도 6은 도 5에 도시한 출력 파형들 중 2개의 선택된 출력 파형에 이득을 적용한 파형들을 도시한 그래프이다.
도 7은 도 6에 적용한 이득의 변화를 나타낸 그래프이다.
도 8은 본 발명의 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법을 설명하기 위한 개념도이다.
도 9는 본 발명의 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법을 설명하기 위한 개념도이다.
도 10은 본 발명의 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 11은 본 발명의 회전각 검출 장치의 각도에 따른 함수값을 저장한 룩업테이블의 일 실시예이다.
도 12는 본 발명의 회전각 검출 장치의 각도 x 를 나타낸 그래프이다.
도 13은 도 14에 도시된 각도 x 값을 연속적으로 360°로 전환시킨 그래프이다.
도 14는 본 발명의 회전각 검출 장치의 일 실시예에 따른 도면이다.
도 15는 본 발명의 회전각 검출 장치의 다른 실시예에 따른 도면이다.
도 16은 본 발명의 회전각 검출 장치에 대한 비교예를 설명하기 위한 그래프이다.
도 17은 본 발명의 회전각 검출 장치에 대한 비교예를 설명하기 위한 그래프이다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용을 실시 예에 기초하여 설명한다. 이들 실시 예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시 예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시 예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시 예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시 예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는 적절하게 설명된다면 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있는 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백히 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 바람직한 실시 예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회전각 검출 장치를 개략적으로 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 도 1에 도시된 회전각 검출 장치의 일 실시예에 따른 측면도이다.
본 발명의 회전각 검출 장치는 자기장의 변화를 이용하는 거리나 각도 등을 측정하는 모든 응용 분야에 적용이 가능하다. 일 실시예로, 모터 제어 장치로서 산업기계의 모터 회전각 및 회전속도의 정밀한 측정이 필요한 경우, 다른 실시예로 밸브의 자동개폐장치로서, 자동차의 엔진 RPM측정이 필요한 경우, 자동차의 경로 및 진행방향을 사용자의 요구에 따라 전환하는 조향장치의 경우, 또다른 실시예로 컴퓨터 커버의 개방각도 조절 장치, 또다른 실시예로 스마트워치의 바젤 회전 각도 조절 장치 등에 적용될 수 있다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 회전각 검출 장치(100)는 베이스 부재(110)에 회전 가능한 방식으로 탑재된 회전체(120)를 포함할 수 있다. 회전각 검출 장치(100)를 스마트워치와 같은 웨어러블 기기에 탑재하는 경우, 베이스 부재(110)는 스마트워치(smart watch)의 숫자판일 수 있다. 일 실시예에서 회전체(120)는, 디스크 형태의 판 부재로 구성될 수 있으며, 이 경우 회전체(120)는, 도시된 바와 같이 회전체(120)와 일체로 형성될 수 있는 회전축(122)을 중심으로 회전 가능하도록 구성될 수 있다. 다른 실시예에서, 회전체(120)는 고리 형태의 판 부재로 형성될 수도 있다. 또 다른 실시예에서, 회전체(120)는 그 하부 면이 판 형태이나 그 상부 면이 볼록하거나 만곡되도록 변형된 다양한 형태로 형성될 수 있다. 회전체(120)는, 사용자의 조작에 의해 기준 상태 - 기준 상태는 회전체(120)가 회전되지 않은 상태임 - 로부터 임의의 각도로 회전된 상태로 그 상태가 전환될 수 있다. 일 실시예에서, 다른 부재를 회전시키는 것에 의해 연동되어 회전체(120)가 회전될 수 있도록 회전체(120)를 구성하는 것도 가능하다.
회전체(120)에는 회전체(120)의 원주 방향을 따라 선정된 각도 간격으로 배열된 복수의 자석편(130)이 장착될 수 있다. 일 실시예에서, 도시된 바와 같이 복수의 자석편(130)은 회전체(120)의 하부 면에 삽입되는 형태로 회전체(120)에 장착될 수 있다. 복수의 자석편(130)은 원형, 정사각형, 직사각형 등 다양한 형태로 형성될 수 있다. 도시된 실시예에서는 자석편(130)의 개수가 8개인 것으로 예시되어 있으나, 자석편의 개수가 이에 의해 제한되는 것은 아니다. 예컨대, 자석편(130)의 개수가 8개인 경우 복수의 자석편(130)은 회전체(120)의 원주 방향을 따라 45°간격으로 배열되고, 자석편(130)의 개수가 12개인 경우 복수의 자석편(130)은 회전체(120)의 원주 방향을 따라 30°간격으로 배열될 수 있다. 복수의 자석편(130)은 회전체(120)가 회전됨에 따라 원주 방향의 제1 궤적을 따라 이동할 수 있다.
회전각 검출 장치(100)는 적어도 하나의 홀 센서(Hall sensor)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서 적어도 하나의 홀 센서(140)는 1개 또는 2개일 수 있으나, 홀 센서(140)의 개수가 이로 제한되는 것은 아니다. 적어도 하나의 홀 센서(140)의 각각은 적어도 3 이상의 홀 소자(Hall element)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 홀 소자는 모두 평면형의 홀 소자(planar Hall element)일 수 있다. 다른 실시예에서, 홀 소자는 모두 수직형의 홀 소자(Vertical Hall element)일 수 있다. 또다른 실시예에서, 적어도 하나는 평면형의 홀 소자 또는 수직형의 홀 소자(vertical Hall element)일 수 있다. 공지된 바와 같이, 평면형의 홀 소자는 수직 방향의 자력선의 세기를 감지하여 그에 비례하는 자기력의 값을 출력하는 소자이고, 수직형의 홀 소자는 수평 방향의 자력선의 세기를 감지하여 그에 비례하는 자기력의 값을 출력하는 소자이다.
도 2에 도시된 실시예에 따르면, 적어도 하나의 홀 센서(140)는 회전체(120)의 하부 면으로부터 하부 방향으로 이격된 위치들에 각각 배치될 수 있다. 적어도 하나의 홀 센서(140)는 회전체(120)가 회전됨에 따라 복수의 자석편(130)이 차례로 홀 소자의 상부를 통과하도록 배치될 수 있다. 도시된 실시예의 경우를 예로 들면, 회전체(120)가 기준 위치에 있을 때에는 자석편들(130) 중 하나가 홀 센서(140)의 상부에 대향되게 위치하고 있다가 회전체(120)가 29°이상 회전하게 되면 인접한 자석편(130)이 홀 센서(140)의 상부를 통과하게 된다. 나아가, 회전체(120)가 기준 위치에서 59°이상 회전하게 되면 인접한 2개의 자석편(130)이 홀 센서(140)의 상부를 차례로 통과하게 된다. 이와 같이, 회전체(120)의 회전각이 클수록 더 많은 개수의 자석편(130)이 홀 센서(140)의 상부를 통과하도록 홀 센서(140)를 배치할 수 있다. 일 실시예에서, 회전체(120)가 기준 위치에 있을 때 홀 센서(140)와 자석편(130)은 서로 이격되어 있을 수 있다.
회전각 검출 장치(100)는 적어도 하나의 홀 센서(140)를 탑재하는, PCB 기판 등의 회로 기판(150)을 더 포함할 수 있다. 회로 기판(150)은 홀 센서(140)의 출력에 응답하여 회전체(120)의 현재의 회전된 상태에 대응하는 회전체(120)의 회전각을 검출하도록 구성된 전자회로부(도시되지 않음)를 더 포함할 수 있다.
도 3은 도 1에 도시된 홀 센서를 상세히 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 회전각 검출 장치(100)의 홀 센서는 적어도 3개 이상의 홀 소자를 포함한다. 이때 홀 소자는 자석편과 홀 센서의 상대 운동방향(화살표 표시)과 위상이 일치하도록 배치한다. 이는 진행 방향의 홀 소자들에서 발생하는 위상 차이를 최대화하기 위함이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 회전각 검출 장치의 구성을 설명하는 도면이다.
도 4를 참조하면, 회전각 검출 장치(100)의 회로 기판(150)에 포함된 전자회로부(200)는 신호전처리부(210), 신호처리부(220) 및 출력부(230)를 포함한다.
신호전처리부(210)는 홀 센서에서 검출된 아날로그 신호를 디지털신호로 변환하고, 증폭 및 노이즈 필터링할 수 있다.
신호처리부(220)는 복수의 홀 소자들 중 출력파형의 변화가 민감한 상위 2개의 홀 소자를 선택한다. 즉, 출력파형의 미분값의 절대값이 큰 순서로 2개의 홀 소자의 출력파형을 선택한다. 이때 출력파형은 사인(sine)함수의 합으로 표현될 수 있다.
신호처리부(220)는 연산부(221) 및 이득조정부(222)를 포함할 수 있다.
연산부(221)는 제1 홀 소자의 제1 실측 자기값을 제2 홀 소자에 적용하여 이득을 조정하고 확정 자기값을 검출한다. 연산부(221)는 제1 실측 자기값에 기초하여 검출된 제1 검출 회전각을 제2 홀 소자에 적용하여 제2 검출 자기값을 산출하고, 상기 제2 홀 소자에서 상기 제1 검출 회전각으로 회전하여 측정된 실측 자기값와 상기 제2 검출 자기값 간의 제1 차이값에 기초하여 조정된 이득에 의해 제2 검출 자기값을 재검출한다. 연산부(221)는 재검출된 상기 제2 검출 자기값과 상기 실측 자기값 간의 제2 차이값과 상기 제1 차이값의 비교결과에 기초하여, 상기 제1 검출 회전각을 확정 회전각으로 출력한다. 또한 연산부(221)는 제2 차이값이 기설정된 델타값보다 작아지면, 제1 검출 회전각을 확정 회전각으로 출력한다.
이득조정부(222)는 제1 차이값보다 제2 차이값이 크면, 이득을 기설정된 조정값만큼 증가 조정하고, 제1 차이값보다 제2 차이값이 작으면, 이득을 기설정된 조정값만큼 감소 조정한다. 이때 조정값은 일 실시예에 따라 하나의 상수일 수도 있고, 다른 실시예에 따라 비교결과에 기초하여 단계를 달리하는 적어도 두 개의 상수일 수도 있다. 예컨대, 이득조정부(221)는 제1 차이값보다 제2 차이값이 크면 이득 α = 1 에서 기설정된 조정값 0.05 만큼 증가 조정하여 α=1+0.05 =1.05 로 조정할 수 있고, 제1 차이값보다 제2 차이값이 작으면 기설정된 조정값 0.025만큼 조정(α = 1.05 - 0.025 = 1.025) 할 수 있다. 상기 조정값이 비교결과에 기초하여 조정되는 정도가 달라지는 복수의 값인 경우, 회전각 검출 장치가 회전각을 검출하기 위한 계산 속도는 느려질 수 있으나 정확성은 커지는 효과가 있다.
회전각 검출장치는 저장부(240)를 더 포함할 수 있다. 저장부(240)는 복수의 회전각 각각에 대응하는 자기값들을 룩업테이블로 저장할 수 있다. 이에 대해서는 도 11에서 구체적으로 설명하기로 한다.
출력부(230)는 확정 회전각을 출력한다. 출력부(230)는 측정된 실측 자기값 또는 외란이 제거된 검출 자기값을 출력할 수 있다.
도 5는 본 발명에 따른 회전각 검출 장치의 홀 센서에서 회전체를 0°에서 29°까지 회전시킴으로써 획득한 홀 소자들의 출력 파형들을 도시한 그래프이며, 도 6은 도 5에 도시한 출력 파형들 중 2개의 선택된 출력에 이득을 적용한 파형들을 도시한 그래프이고, 도 7은 도 6에 적용한 이득의 변화를 나타낸 그래프이다.
도 5를 참고하면, 홀 소자 Z4의 경우 자석편과의 위치 관계가 홀 소자 Z1 또는 Z3와 다르기 때문에, Z4의 출력 파형은 Z1, Z3의 출력 파형에 비해 진동폭 및 오프셋이 다르게 출력된다.
도 3에 도시된 홀 소자를 360°회전하면 도 16 (a) 에 도시된 바와 같이 홀 소자의 개수만큼의 출력파형을 구할 수 있으나, 회전각 검출 장치 (100)가 각 구간 30°에서 각도를 우선 계산하고 다음 30°구간으로 진행하면 이 측정값을 연속적으로 연장시켜 전 범위 0~360°를 출력할 수 있게 된다. 본 발명에서는 0~29 °의 각도를 계산하는 것에 국한하고 x의 근사값 및 이득 α 를 구하기 위해서 서로 다른 홀 소자들로부터 2개의 출력파형을 사용한다.
2개의 출력파형을 선택할 경우, 회전각 검출 장치(100)는 각도 x의 근사해 및 이득 α를 위해 각 구간을 구별하여 선택한다. 보다 구체적으로 설명하면, 출력 파형들 각각을 함수, 즉 곡선 방정식으로 산출하여 곡선 방정식의 미분값을 기준으로 2개의 출력파형을 선택할 수 있다. 이하에서는 먼저 출력 파형을 곡선 방정식의 함수로 산출하는 과정에 대해 설명한다.
도 5 및 도 16을 참고하면, 홀 소자 각각에서 측정된 실측 자기값이 특정한 외란이 없다고 가정한다. 어느 하나의 자석편의 중간과 다음 자석편의 중간을 한 구간을 설정하고, 각 구간의 실측 자기값을 중첩시킨다. 중첩되는 실측 자기값의 파형은 자석편의 갯수만큼 나타난다. 중첩시킨 값들 중 중간 값 또는 평균 값을 기준이 되는 실측 자기값으로 설정하고, 일 실시예에 따라, 홀 소자 1에 대한 기준이 된 실측 자기값을 수식적으로 표현하면 수학식 1과 같이 표현할 수 있다.
Figure pat00001
이때 a11, a21, a31, a41, b11, b21, b31, b41, c11, c21, c31 및 c41은 홀 소자 기준 실측값 Z1의 함수를 정의하는 상수이며, 함수의 형태는 사인(sine) 함수의 합으로 구성된다. 본 발명에서는 사인 함수로 설명하나, 본 발명의 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며, 코사인(cosine) 함수로도 설명될 수 있다. 상기 상수들은 기설정된 프로그램을 이용한 커브 핏팅(curve fitting)방법을 이용하면 용이하게 구할 수 있다.
수학식 1을 간단히 표현하면 수학식 2와 같다.
Figure pat00002
같은 방법으로 홀 소자 3 및 4에 대한 Z 함수는 수학식 3 및 수학식 4와 같이 표현될 수 있다.
Figure pat00003
Figure pat00004
즉, 홀 소자 각각의 출력파형에 대한 Z 함수는 수학식 5와 같이 표현할 수 있다.
Figure pat00005
이때 aij, bij 및 cij는 각각 회전각 검출 장치의 특성에 따라 달라지는 값으로, 실측 실험으로 구할 수 있다. i는 사인(sine) 함수의 순서를 나타내는 인덱스이며, j는 홀 소자의 번호를 나타낸다.
홀 소자 각각에서의 출력파형을 수식적으로 활용하기 위해 실측 자기값이 어떤 외란이 없이 측정이 된다고 가정하면, 이는 각도 x에 대한 함수로 표현될 수 있다.
수학식 6, 수학식 7 및 수학식 8은 홀 소자에서 각도의 변화에 따라 각각 측정되는 자기값을 함수 Z로 나타낸 것이다.
Figure pat00006
Figure pat00007
Figure pat00008
상기 수학식 6, 수학식 7 및 수학식 8에서 x는 변수로서의 각도이고, m1, m3 및 m4는 홀 센서 1, 3 및 4에서의 자기값이며, Z1, Z3 및 Z4는 수학식 5로 표현된 함수이다.
회전각 검출 장치(100)에 외란이 발생하는 경우, 도 6에 도시된 바와 같이, 수학식 6, 수학식 7 및 수학식 8에 임의의 이득 α를 적용하여, 수학식 9, 수학식 10 및 수학식 11로 각각 표현할 수 있다.
Figure pat00009
Figure pat00010
Figure pat00011
회전각도 x는 수학식 9, 수학식 10 및 수학식 11에서 홀 센서에서의 자기값 m1, m3 및 m4 만으로는 구할 수 없고, 외란을 고려하는 이득 α를 알아야만 구할 수 있다.
이득 α를 구하기 위해서, 도 5에 도시된 3개의 출력파형(이하 수학식 9, 수학식 10 또는 수학식 11의 함수곡선) 중에서 구간마다 2개의 함수곡선을 선택할 수 있다. 회전각 검출 장치의 정확도 및 민감도를 향상시키기 위해 3개의 함수 곡선 중 변화량이 가장 작은 함수곡선을 제외하는 것이다.
상술한 바와 같이, 회전각 검출 장치(100)는 홀 소자의 출력파형을 곡선 방정식의 함수로 도출한 다음, 일 실시예에 따라 각 홀 소자의 함수 곡선의 미분값의 절대값을 기초로 회전구간마다 2개의 함수곡선을 선택한다. 도 5를 참고하면, 어느 하나의 자석편의 중간과 다음 자석편의 중간을 한 구간으로 한 출력파형을 3개 곡선의 미분값의 절대값을 기초로 A 구간 내지 F구간으로 구분하였다.
본 발명에서 3개의 함수 곡선을 언제나 사용 가능하나 구해야 하는 회전각 x와 이득 α 즉 미지수 2개를 계산하기 위해서 2개의 함수 만이 필요하다. 따라서 2개의 함수를 선택할 때 각 구간을 구별하여 함수를 선택하며 이 때 선택 기준이 필요하다. 실제 회전각 x와 x의 근사해 x'로 구한 함수 값의 차이가 빠르게 수렴하도록 해를 구하는 것이 기준이 될 수 있다.
일 실시예에 따라 근사해 x'을 구할 때 보간법을 이용할 수 있으며 함수의 기울기 즉 함수의 미분 값을 사용한다. 함수의 미분 값이 크면 자기값의 변화가 크므로,함수 값의 차이가 빠르게 수렴하기 때문에 함수의 미분 값이 함수 선택의 기준이 될 수 있다. 즉, 함수곡선의 미분값의 절대값이 큰 순서대로 상위 2개의 곡선을 선택한다. 도 5에 도시된 함수 곡선의 A 구간에서 Z4의 미분 값의 절대값이 가장 작다. 따라서 Z4를 제외한 Z1과 Z3 함수를 선택하여 해를 구한다. 또한 B구간에서는 Z3의 미분 값이 가장 작아 Z1과 Z4를 이용하여 해를 구하고 C구간에서는 같은 방법으로 Z1와 Z3를 이용하여 해를 구한다. D구간은 C구간과 대칭이 되므로 Z1, Z3를 E구간에서는 B구간과 대칭이 되어 Z1, Z4를 선택하고 F 구간에서는 A구간과 대칭이 되어 Z1, Z3를 이용하여 해를 구한다.
다른 실시예에 따라 함수 곡선 선택시 단순 미분 값을 고려하는 것이 적절하지 않은 기준이 될 수 있어 미분 값으로 기준을 삼는 것에 추가적으로 임계값을 이용하여 결정할 수 있다. 도 5에 예시된 함수가 실제에 사용되는 모든 함수의 형태를 대표할 수 있는 함수가 아니기 때문이다. 함수의 형태는 일반적으로 사용되는 자석의 크기 즉 형태와 자석 강도, 자석의 재질, 센서와의 간극 등 많은 요인에 영향을 받는다
보다 구체적으로 설명하면, 도 5의 B구간 C구간과 D구간과 E구간을 선택할 때 일률적으로 미분 값을 고려해서 함수를 결정하는 것이 무리한 방법이 될 수 있다. 따라서, 본 발명의 경우 함수의 미분값 뿐만 아니라 기설정된 임계값까지 고려하여 함수 곡선을 선택한다. 이 임계값(이하 δ)은 실험적으로 결정할 수 있으며 각 함수의 미분 값의 변화를 관찰하여 선택한다. 도 5의 실시예에서는 약 -20 ~-100의 범위 내의 특정값을 기준으로 함수 곡선을 선택하였으나, 임계값의 수치는 이에 한정되지 아니하고 다양한 실시예에 따라 다르게 설정될 수 있다.
회전각 검출 장치(100)는 복수의 홀 소자에서의 측정값 Z1, Z3, Z4 중 선택된 2개의 함수 곡선으로부터 회전 각도 x와 이득 α을 계산할 수 있다. 설명의 편의를 위하여, 이득 α를 구하는 방법에 대한 설명은 도 8 내지 도 10에서 설명한다. 수학식 5에 기초한 기준 함수곡선(original Z curve)에 이득 α를 적용하면 도 6과 같이 도시된다.
도 6에 도시된 함수곡선은 이득 α를 0.9 내지 1.1 범위에서 0.05씩 변화시켜 나타낸 것이다. 도 6의 계산된 함수곡선을 도 16에 도시된 실측 된 출력파형과 비교하면, 수학식 9 내지 11의 함수곡선에 적정한 이득 α를 적용하면, 실측된 출력파형에 가까운 곡선으로 도출할 수 있다.
도 7을 참고하면, 이득 α는 기설정된 샘플링 주기마다 1.2 내지 0.9사이에서 변화한다. 즉, 회전각 검출 장치(100)는 홀 소자에서 실제 측정 자기값과 회전각 x에 기초하여 함수곡선들로부터 산출되는 이득 α는 일정범위 내에서 회전 샘플링 주기마다 유사한 변화 경향을 보이는 것을 알 수 있다.
도 8은 본 발명의 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법을 설명하기 위한 개념도이다. 설명의 편의를 위해 홀 소자 1 및 홀 소자 3의 출력파형(함수곡선)을 이용하여 실제 회전각 x에 대한 근사해(approximate value 또는 approximate solution)로서 확정 회전각을 구한다고 가정한다.
먼저, 홀 소자 1에서 측정된 제1 실측 자기값 m1 (①)은 외란이 없는 α=1인 상태라고 가정한다. 이때 제1 실측 자기값 m1을 수학식 6에 대입하여, 제1 검출 회전각 x'를 구한다(②).
Figure pat00012
즉, 제1 검출 회전각 x'는 수학식 12와 같이 제1 실측 자기값 m1으로부터 구할 수 있다. 그러나 제1 검출 회전각 x'는 외란이 반영된 값이며, 실제 회전각 x와는 다른 값이다.
제1 검출 회전각 x'를 이용하여 홀 소자 3에서의 측정 예상 가능한 제1 검출 자기값 m'3를 구한다(③). 이때 외란이 없는 α=1인 상태이므로 수학식 7에 기초하면, 수학식 13과 같이 표현된다.
Figure pat00013
제1 검출 자기값 m'3는 제1 실측 회전각 x가 아닌 제1 검출 회전각 x'에 의해 계산된 자기값이므로 홀 소자 3에서의 실제 측정된 제2 실측 자기값 m3와 차이가 난다(④).
Figure pat00014
수학식 14는 제2 실측 자기값 m3와 제1 검출 자기값 m'3의 차이를 dm이라고 하자. 검출 회전각 x'가 실제 회전각 x에서 멀어져 있으면, dm의 크기는 커진다.
이때 회전각 검출 장치(100)는 수학식 15와 같이 이득 α를 기설정된 단위 스텝(step)으로 증가 또는 감소시켜 제1 검출 회전각 x'를 실제 회전각 x에 접근하도록 한다.
Figure pat00015
수학식 16은 수학식 15에 의해 조정된 이득 α을 반영하여 제1 실측 자기값 m1을 수정한 것이다(⑤).
Figure pat00016
수정된 제1 실측 자기값 m1/α는 도 8에 도시된 바와 같이, 제1 실측 자기값 m1보다 위에 위치한다. 측정값들은 음수로 표현되고, α는 1보다 큰 값을 가지기 때문이다.
수정된 제1 실측 자기값 m1/α를 수학식 6에 대입하여 제2 검출 회전각 x"를 구한다(⑥). 이때 제2 검출 회전각 x"를 수학식 7을 이용하여 수정된 제2 검출 자기값 m"3 즉, Z3(x")를 구할 수 있다(⑦).
그러나 외란이 발생하여 이득 α는 초기 설정 1에서 하나의 단위 스텝이 조정된 것이므로, 조정된 이득을 반영한 함수곡선, 즉 수학식 11에 제2 검출 회전각 x"를 구하면, 수학식 17과 같이 표현된다(⑧).
Figure pat00017
수학식 17에 의하면, 제2 검출 자기값은 m"'3이지만, 제2 실측 자기값은 m3이기 때문에, d'm만큼의 차이가 존재한다(⑨). 그러나 초기 설정 이득이 반영된 경우의 dm에 비해 d'm이 작아지고, 이와 비례하여 실제 회전각 x와 제2 검출 회전각 x"간의 차이가 좁아진 것을 확인할 수 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 회전각 검출 방법을 사용하여 dm이 작아지는 방향으로 제2 검출 자기값을 재검출하면, 해당 제2 검출 자기값에 상응하는 제2 검출 회전각을 실제 회전각 x의 근사값으로 구할 수 있다.
도 9는 본 발명의 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법을 설명하기 위한 개념도이다.
도 9를 참조하면, 먼저, 홀 소자 1에서 측정된 제1 실측 자기값 m1 은 외란이 없는 α=1인 상태라고 가정한다(①). 이때 제1 실측 자기값 m1을 수학식 6에 대입하여, 제1 검출 회전각 x'를 구한다(②).
제1 검출 회전각 x'는 수학식 12와 같이 제1 실측 자기값 m1으로부터 구할 수 있다. 그러나 제1 검출 회전각 x'는 외란이 반영된 값이며, 실제 회전각 x와는 다른 값이다.
제1 검출 회전각 x'을 수학식 13에 대입하여 홀 소자 3에서의 측정 예상 가능한 제1 검출 자기값 m'3를 구한다(③).
제1 검출 자기값 m'3는 제1 실측회전각 x가 아닌 제1 검출 회전각 x'에 의해 계산된 자기값이므로 수학식 14와 같이 홀 소자 3에서의 실제 측정된 제2 실측 자기값 m3와 차이가 난다(④).
회전각 검출 장치(100)는 수학식 15와 같이 이득 α를 기설정된 단위 스텝(step)으로 증가 조정한다.
수정된 제1 실측 자기값 m1/α'는 수학식 15에 의해 조정된 이득 α'을 반영하여 수학식 16과 같이 제1 실측 자기값 m1을 조정한 것이다(⑤).
수정된 제1 실측 자기값 m1/α'는 도 9에 도시된 바와 같이, 제1 실측 자기값 m1보다 위에 위치한다. 측정값들은 음수로 표현되고, α는 1보다 큰 값을 가지기 때문이다.
수정된 제1 실측 자기값 m1/α'를 수학식 6에 대입하여 제2 검출 회전각 x"를 구한다(⑥). 이때 제2 검출 회전각 x"를 수학식 7을 이용하여 수정된 제2 검출 자기값 m"3 즉, Z3(x")를 구할 수 있다(⑦).
조정된 이득으로 검출되는 제2 검출 자기값은 m"'3 이지만, 제2 실측 자기값은 m3로서, d'm만큼의 차이가 존재한다(⑧). 이때 초기 설정 이득이 반영된 경우의 dm에 비해 d'm이 커졌으므로 이득 α'는 다시 조정되어야 한다.
즉, 회전각 검출 장치는 dm보다 d'm이 크므로, 비교결과에 기초하여 이득을 단위 스텝으로 증가시킬 것이 아니라, 수학식 18과 같이 기설정된 단위 스텝으로 감소 조정한다.
Figure pat00018
수정된 제1 실측 자기값 m1/α"는 수학식 15에 의해 조정된 이득 α'을 반영하여 수학식 16과 같이 제1 실측 자기값 m1을 조정한 것이다(⑨).
수정된 제1 실측 자기값 m1/α'는 도 9에 도시된 바와 같이, 제1 실측 자기값 m1보다 아래에 위치한다(⑨). 측정값들은 음수로 표현되고, α는 1보다 작은 값을 가지기 때문이다.
수정된 제1 실측 자기값 m1/α"를 수학식 6에 대입하여 제2 검출 회전각 x"'를 구한다(⑩). 이때 제2 검출 회전각 x"'를 수학식 7을 이용하여 수정된 제2 검출 자기값 m"'3 즉, Z3(x"')를 구할 수 있다(⑪).
제2 검출 자기값 m"'3와 제2 실측 자기값 m3간의 제2 차이값은 d"m 이고(⑫), 초기 설정 이득 α에 의한 제1 차이값 dm보다 작아졌다. 이와 비례하여 실제 회전각 x와 제2 검출 회전각 x"'간의 차이가 좁아진 것을 확인할 수 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 회전각 검출 방법을 사용하여 dm이 작아지는 방향으로 제2 검출 자기값을 재검출하면, 해당 제2 검출 자기값에 상응하는 제2 검출 회전각을 실제 회전각 x의 근사값으로 구할 수 있다.
도 10은 본 발명의 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 10을 참조하면, 본 발명의 회전각 검출 장치(100)는 회전체의 회전에 따라 움직이는 자석편들의 자기장 변화를 적어도 하나의 홀 센서로 센싱한다(S10). 이때 각 홀 센서는 복수의 홀 소자들을 포함하고, 설명의 편의를 위하여 자석편과의 상대 운동 방향이 일치하는 적어도 2개의 홀 소자를 포함하여, 3개의 홀 소자를 예시하나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니고 다른 개수의 홀 소자들을 포함할 수 있다.
회전각 검출 장치(100)는 이득 α의 초기값을 설정하고(S11)(예컨대, 초기 이득 α는 1로 설정할 수 있다), 제1 홀 소자에서 측정된 제1 실측 자기값 m1을 기초로 제1 검출 회전각 x'를 검출한다(S12). 이때 검출 회전각 x'은 실제 회전각 x의 근사해이며, 수학식 5와 같이 기설정된 함수로부터 산출될 수도 있고, 다른 실시예에 따라 회전각에 대응되는 자기값을 저장한 룩업테이블에서 산출될 수도 있다.
회전각 검출 장치(100)는 제2 홀 소자에서 상기 제1 검출 회전각 x'에 대응되는 제1 검출 자기값 m'3를 구하고(S13), 제2 홀 소자에서 제2 실측 자기값 m3와 비교하여(S14) 제1 차이값 dm이 기설정된 임계값 델타 δ와 비교한다(S15).
제1 차이값 dm이 기설정된 임계값 델타 δ보다 크면, 이득을 증가 또는 감소조정하여 검출 회전각 및 검출 자기값을 재검출 한다.
보다 구체적으로 설명하면, 이득을 감소 조정하여(S17), 조정된 이득을 적용하여 제1 실측 자기값에 기초한 제2 검출 회전각 x"을 재검출한다(S12). 회전각 검출 장치(100)는 제2 검출 회전각 x"를 이용하여 제2 홀 소자에서의 제2 검출 자기값 m"3를 구하고(S13), 제2 실측 자기값 m3과의 제2 차이값 d'm을 계산한다(S14).
회전각 검출 장치(100)는 제2 차이값 d'm이 기설정된 임계치 델타 δ보다 크면, 다시 이득을 증가 또는 감소조정하여 검출 회전각 및 검출 자기값을 재검출 한다.
이때 제1 차이값 dm과 제2 차이값 d'm을 비교하여(S16) 제1 차이값 dm이 제2 차이값 d'm이 작으면, 즉, 차이값이 증가한 경우, 이득을 감소 조정한다(S17). 그러나 제1 차이값 dm이 제2 차이값이 크면, 즉, 차이값이 감소한 경우, 이득을 증가 조정한다(S18). 그리고 조정된 이득을 적용하여 S12 내지 S15 단계를 반복한다.
회전각 검출 장치는 바뀐 α를 이용하여 차이값 dm'을 갱신시켜 기설정된 델타 δ보다 작아지면, 해당 제2 검출 회전각 x'을 실제 회전각 x의 근사해인 확정 회전각으로 검출하고(S20), 확정 회전각 x'을 출력한다.
도 11은 본 발명의 회전각 검출 장치의 각도에 따른 함수값을 저장한 룩업테이블의 일 실시예이다.
룩업테이블(Look-Up Table)은 수학식 5와 같이 기정의된 함수의 값을 표로 나타낸 것이다. 표의 첫 번째 행은 회전 각도이며 2~4행은 홀 소자 1, 3, 4의 각도에 해당하는 자기값이다. 즉, 룩업테이블은 회전각에 따른 각 홀 소자에서의 자기값을 나타낸 것이다.
도 11에 도시된 룩업테이블은 회전판의 자석편 개수 및 홀 센서에 포함된 홀 소자 개수에 따라 다르게 설정될 수 있다. 도 11의 룩업테이블은 3개의 홀 소자 및 30°구간을 예시한 것이나, 회전판의 자석편이 18개이면 20°구간의 룩업테이블이 될 수 있다.
회전각 검출 장치(100)가 회전각에 대한 자기값 또는 자기값에 대한 회전각을 검출할 경우 룩업테이블을 이용하면, 계산 시간이 감소되어 회전각 검출 장치에서의 회전각 검출 속도가 향상될 수 있다. 또한 계산량이 감소되어 회전각 검출 장치의 신호 처리부의 발열이 줄어드는 효과가 있다.
도 12는 본 발명의 회전각 검출 장치의 각도 x를 나타낸 그래프이고, 도 13은 도 12에 도시된 각도 x의 값을 연속적으로 360°로 전환시킨 그래프이다.
도 12를 참조하면, 도 11의 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법에 따라 출력된 확정 회전각 x'는 회전판의 자석편의 개수에 따라 구간별로 0° 내지 30°까지 증가하였다가, 다시 0°에서 시작 반복한다.
도 13을 참조하면, 확정 회전각 x'가 정방향으로 즉 시계 방향으로 0° 에서 360°로 두 바퀴 회전한 후 반대방향으로 두 바퀴 회전한 것을 검출한 것이다. 즉, 자석편의 제조상 편차 또는 홀 소자의 제조상 편차로 발생하는 외란에도 불구하고, 회전각 검출 함수 또는 룩업테이블에 적용하는 이득 α를 조정하여 실제 회전각에 가까운 확정 회전각을 정확하게 검출한 것을 알 수 있다.
도 14는 본 발명의 회전각 검출 장치의 일 실시예에 따른 도면이고, 도 15는 본 발명의 회전각 검출 장치의 다른 실시예에 따른 도면이다.
본 발명의 회전각 검출 장치는 자석편과 센서 간의 위치가 하기 실시예들에 따라 다양하게 배치할 수 있다.
제1 실시예로 도 14에 도시된 바와 같이, 회전축에 동일한 거리로 이격된 복수의 자석편들이 동일 평면상에서 회전하고, 홀 센서는 자석편들의 회전 평면 상위에 소정의 거리로 이격되어 배치될 수 있다. 제2 실시예로 도 15에 도시된 바와 같이, 복수의 자석편 자체가 종축으로 회전하고, 홀 센서는 자석편들의 회전평면 상위에 소정의 거리로 이격되어 배치될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 회전각 검출 장치에 따르면, 매우 간단한 회전각 검출 방법을 이용함으로써, 고가의 센서 추가 비용없이 회전각도를 검출할 수 있는 효과가 있다.
또한 본 발명의 실시예들에 따른 회전각 검출 장치에 따르면, 자석편이나 홀 센서의 편차를 고려하여 센서 출력파형에 적용되는 이득을 증감 조정함으로써, 외란이 없는 정밀한 각도를 검출할 수 있는 효과가 있다.
또한 본 발명의 실시예들에 따른 회전각 검출 장치에 따르면, 매우 간단한 회전각 검출 방법을 이용함으로써 회전각 검출의 연산속도가 향상되고 프로세서의 연산 부담이 줄어드는 효과가 있다.
한편, 본 발명의 일 실시 예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
본 발명은 특정 기능들 및 그의 관계들의 성능을 나타내는 방법 단계들의 목적을 가지고 위에서 설명되었다. 이러한 기능적 구성 요소들 및 방법 단계들의 경계들 및 순서는 설명의 편의를 위해 여기에서 임의로 정의되었다. 상기 특정 기능들 및 관계들이 적절히 수행되는 한 대안적인 경계들 및 순서들이 정의될 수 있다. 임의의 그러한 대안적인 경계들 및 순서들은 그러므로 상기 청구된 발명의 범위 및 사상 내에 있다. 추가로, 이러한 기능적 구성 요소들의 경계들은 설명의 편의를 위해 임의로 정의되었다. 어떠한 중요한 기능들이 적절히 수행되는 한 대안적인 경계들이 정의될 수 있다. 마찬가지로, 흐름도 블록들은 또한 어떠한 중요한 기능성을 나타내기 위해 여기에서 임의로 정의되었을 수 있다. 확장된 사용을 위해, 상기 흐름도 블록 경계들 및 순서는 정의되었을 수 있으며 여전히 어떠한 중요한 기능을 수행한다. 기능적 구성 요소들 및 흐름도 블록들 및 순서들 둘 다의 대안적인 정의들은 그러므로 청구된 본 발명의 범위 및 사상 내에 있다.
본 발명은 또한 하나 이상의 실시 예들의 용어로, 적어도 부분적으로 설명되었을 수 있다. 본 발명의 실시 예는 본 발명, 그 측면, 그 특징, 그 개념, 및/또는 그 예를 나타내기 위해 여기에서 사용된다. 본 발명을 구현하는 장치, 제조의 물건, 머신, 및/또는 프로세스의 물리적인 실시 예는 여기에 설명된 하나 이상의 실시 예들을 참조하여 설명된 하나 이상의 측면들, 특징들, 개념들, 예들 등을 포함할 수 있다. 더구나, 전체 도면에서, 실시 예들은 상기 동일한 또는 상이한 참조 번호들을 사용할 수 있는 상기 동일하게 또는 유사하게 명명된 기능들, 단계들, 모듈들 등을 통합할 수 있으며, 그와 같이, 상기 기능들, 단계들, 모듈들 등은 상기 동일한 또는 유사한 기능들, 단계들, 모듈들 등 또는 다른 것들일 수 있다.
이상과 같이 본 발명에서는 구체적인 구성 요소 등과 같은 특정 사항들과 한정된 실시 예 및 도면에 의해 설명되었으나 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐, 본 발명은 상기의 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상적인 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 아니되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
100 : 회전각 검출 장치
140 : 홀 센서
200 : 전자 회로부
210 : 신호전처리부
220 : 신호처리부
230 : 출력부
240 : 저장부

Claims (12)

  1. 복수의 홀 소자를 이용하여 회전각을 검출하는 회전각 검출 장치에 있어서,
    제 1 홀 소자에서 측정된 제1 실측 자기값에 기초하여 제1 검출 회전각을 검출하는 단계;
    상기 제1 검출 회전각에 따른 제2 홀 소자에서의 제1 검출 자기값를 검출하는 단계;
    상기 제2 홀 소자에서 상기 제1 검출 회전각으로 회전하여 측정된 제2 실측 자기값와 상기 제1 검출 자기값 간의 제1 차이값에 기초하여 이득을 조정하는 단계;
    상기 제1 검출 자기값에 상기 이득을 적용하여 제2 검출 회전각을 재검출하고, 상기 제2 검출 회전각에 따른 상기 제2 홀 소자에서의 제2 검출 자기값을 재검출하는 단계; 및
    상기 제2 검출 자기값과 상기 제2 실측 자기값 간의 제2 차이값이 기설정된 델타값보다 작아지면, 상기 제2 검출 회전각을 확정 회전각으로 출력하는 단계를 포함하는 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 홀 소자와 상기 제2 홀 소자는
    상기 홀 소자들 중 출력파형의 변화가 더 민감한 자기값을 갖는 홀 소자인, 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 이득을 조정하는 단계는
    상기 제1 차이값보다 상기 제2 차이값이 크면, 상기 이득을 기설정된 조정값만큼 증가 조정하는 것인, 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 이득을 조정하는 단계는
    상기 제1 차이값보다 상기 제2 차이값이 작으면, 상기 이득을 기설정된 조정값만큼 감소 조정하는 것인, 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법.
  5. 제1항에 있어서, 적어도 2 개의 홀 소자는
    상기 자석편과 홀 센서의 상대 운동방향과 위상이 일치하도록 배치되는 것인, 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 검출 자기값은
    상기 각 홀 소자의 회전각에 기초하여 기설정된 함수로부터 산출되는 자기값인, 회전각 검출장치의 회전각 검출 방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 검출 자기값은
    상기 각 홀 소자의 회전각에 대응하는 자기값으로, 룩업테이블(Look-Up-Table)에 저장된 것인, 회전각 검출 장치의 회전각 검출 방법.
  8. 회전체에 위치하는 복수의 자석편들;
    적어도 3 이상의 홀 소자들을 포함하여, 상기 각 자석편의 자기값을 측정하는 적어도 하나의 홀 센서; 및
    제1 홀 소자의 제1 실측 자기값을 제2 홀 소자에 적용하여 이득을 조정하고 확정 회전각을 검출하는 신호처리부를 포함하고,
    상기 신호처리부는
    상기 제1 실측 자기값에 기초하여 검출된 제1 검출 회전각을 제2 홀 소자에 적용하여 제1 검출 자기값을 산출하고, 상기 제2 홀 소자에서 상기 제1 검출 회전각으로 회전하여 측정된 제2 실측 자기값과 상기 제1 검출 자기값 간의 제1 차이값에 기초하여 이득을 조정하며,
    상기 이득에 의해 재검출된 제2 검출 자기값과 상기 제2 실측 자기값 간의 제2 차이값을 상기 제1 차이값과의 비교결과에 기초하여, 상기 제2 검출 회전각을 확정 회전각으로 출력하는 것인, 회전각 검출 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 신호처리부는
    상기 복수의 홀 소자들 중 출력파형의 미분값의 절대값이 큰 순서대로 2개의 출력파형을 선택하는 것인, 회전각 검출 장치.
  10. 제8항에 있어서, 상기 신호처리부는
    상기 제1 차이값보다 상기 제2 차이값이 크면, 상기 이득을 기설정된 조정값만큼 증가 조정하고,
    상기 제1 차이값보다 상기 제2 차이값이 작으면, 상기 이득을 기설정된 조정값만큼 감소 조정하는 것인, 회전각 검출 장치.
  11. 제8항에 있어서, 상기 회전각 검출 장치는
    상기 각 홀 소자의 회전각에 대응하는 자기값들을 룩업테이블(Look-Up-Table)로 저장한 저장부를 더 포함하는 것인, 회전각 검출 장치.
  12. 제8항에 있어서, 상기 신호 처리부는
    상기 제2 차이값이 기설정된 델타값보다 작아질 때까지 상기 이득을 조정하여 상기 제2 검출 회전각을 재검출하는 것인, 회전각 검출 장치.
KR1020170181607A 2017-12-27 2017-12-27 자동 이득 조정 알고리즘을 이용한 회전각 검출 방법 및 그 장치 KR20190079420A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170181607A KR20190079420A (ko) 2017-12-27 2017-12-27 자동 이득 조정 알고리즘을 이용한 회전각 검출 방법 및 그 장치
US16/204,629 US10655985B2 (en) 2017-12-27 2018-11-29 Method for detecting angle of rotation using automatic gain adjustment algorithm and apparatus thereof
CN201811611578.5A CN109974575A (zh) 2017-12-27 2018-12-27 用于使用自动增益调整算法检测旋转角度的方法及其设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170181607A KR20190079420A (ko) 2017-12-27 2017-12-27 자동 이득 조정 알고리즘을 이용한 회전각 검출 방법 및 그 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20190079420A true KR20190079420A (ko) 2019-07-05

Family

ID=66951043

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170181607A KR20190079420A (ko) 2017-12-27 2017-12-27 자동 이득 조정 알고리즘을 이용한 회전각 검출 방법 및 그 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10655985B2 (ko)
KR (1) KR20190079420A (ko)
CN (1) CN109974575A (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102021122249A1 (de) * 2021-08-27 2023-03-02 Paul Vahle Gmbh & Co. Kg Messeinrichtung für Stromabnehmer und Verfahren zum Betrieb der Messeinrichtung sowie eine Kalibrierungsvorrichtung

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005043228A (ja) 2003-07-22 2005-02-17 Asahi Kasei Electronics Co Ltd デジタル角度測定システム
JP2005351849A (ja) * 2004-06-14 2005-12-22 Denso Corp 回転角度検出装置および回転角度検出方法
JP4710047B2 (ja) * 2005-10-14 2011-06-29 康雄 飯島 バリアブルリラクタンス型角度検出器
JP4559982B2 (ja) * 2006-03-02 2010-10-13 株式会社東海理化電機製作所 回転角度検出装置及びその初期設定方法
CN100476364C (zh) * 2007-11-13 2009-04-08 长春理工大学 全数字化的四象限探测器检测激光光束偏转角的装置及方法
EP2244070A4 (en) 2008-02-07 2017-07-12 Hitachi Metals, Ltd. Rotation angle detection device, rotary machine, and rotation angle detection method
CN202126242U (zh) * 2010-12-25 2012-01-25 九江精密测试技术研究所 一种圆感应同步器
JP2012189377A (ja) * 2011-03-09 2012-10-04 Jtekt Corp 回転角検出装置
CN202013413U (zh) * 2011-04-06 2011-10-19 江苏多维科技有限公司 单一芯片桥式磁场传感器
JP5682798B2 (ja) * 2012-08-06 2015-03-11 株式会社デンソー 位置検出装置
CN203163676U (zh) * 2012-12-26 2013-08-28 万向钱潮（上海）汽车系统有限公司 编码磁阻结合式esp绝对式多圈角度传感器
US9523589B2 (en) * 2013-02-12 2016-12-20 Asahi Kasei Microdevices Corporation Rotation angle measurement apparatus
US10634516B2 (en) * 2016-03-22 2020-04-28 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Rotation detecting device
US10393499B2 (en) * 2016-05-04 2019-08-27 Fastech Co., Ltd. Angle determinating method using encoder signal with noise suppression, adjusting method for output signal of encoder and absolute encoder
KR101963106B1 (ko) * 2016-11-29 2019-04-01 주식회사 해치텍 회전각 검출 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN109974575A (zh) 2019-07-05
US20190195656A1 (en) 2019-06-27
US10655985B2 (en) 2020-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5613839B2 (ja) 移動する物体の絶対的な位置特定のための方法及び装置
US9500465B2 (en) Method and device for determining a recognition threshold
EP3611515B1 (en) Circuits and methods for generating a threshold signal used in a motion detector
EP2912411B1 (en) Circuits and methods for generating a threshold signal used in a magnetic field sensor
JP6061317B2 (ja) 直列に配置された複数の磁界センサによって位置を非接触式に測定する変位センサ
KR100538472B1 (ko) 자기 센서 조정 방법, 자기 센서 조정 장치 및 자기 센서
US7386415B2 (en) System and method for increasing sensor resolution using interpolation
US9689717B2 (en) Phase estimation method and apparatus therefor
JP6043721B2 (ja) 改良型位置センサ
US9778326B2 (en) Circuits and methods for limiting a smallest separation of thresholds in a magnetic field sensor
US9638548B2 (en) Output switching systems and methods for magnetic field sensors
US20120249126A1 (en) Circuits and methods for motion detection
JP5725377B2 (ja) 回転角検出装置
US8547044B2 (en) Determining the rotor angle of a synchronous machine at standstill with the aid of iterative test pulses
US9285438B2 (en) Circuits and methods for processing signals generated by a plurality of magnetic field sensing elements
JP2020504300A (ja) 距離センサ
JP2018132356A (ja) ロータリエンコーダ
US20180149495A1 (en) Apparatus for detecting an angle of rotation
CN110494716B (zh) 位置检测装置和位置检测方法
KR20190079420A (ko) 자동 이득 조정 알고리즘을 이용한 회전각 검출 방법 및 그 장치
US11500038B2 (en) Sensor, control device and method for determining the direction of a magnetic field
US9507444B2 (en) Method for operating an operating device for a motor vehicle
US11639860B2 (en) Absolute position detection device and detection method of rotating body using magnetic material
WO2023240468A1 (zh) 一种角度传感器的校准方法和传感系统
JP2023041534A (ja) 磁気式エンコーダ

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
E601 Decision to refuse application
E801 Decision on dismissal of amendment