KR101667421B1

KR101667421B1 - 액압 제어 장치

Info

Publication number: KR101667421B1
Application number: KR1020100014134A
Authority: KR
Inventors: 다까시게 히나미; 요시오 모리따
Original assignee: 쟈트코 가부시키가이샤
Priority date: 2009-02-17
Filing date: 2010-02-17
Publication date: 2016-10-18
Also published as: JP2010216648A; CN101806358B; EP2221511B1; KR20100094402A; US20100211229A1; JP4802262B2; EP2221511A1; US8150555B2; CN101806358A

Abstract

본 발명의 과제는, 전자기 밸브의 절환 위치나 사용 액압 영역에 따라 히스테리시스량이 상이한 것에 대응하여 히스테리시스를 해소하는 보정을 행함으로써, 액압 제어 정밀도의 향상을 도모할 수 있는 액압 제어 장치를 제공하는 것이다.
솔레노이드 전류(I_SOL)에 따라서 개방도가 조정되고, 액압을 증가 혹은 감소 중 어느 한쪽으로 제어하는 리니어 솔레노이드 밸브(2)와, 솔레노이드 전류(I_SOL)의 증가 방향과 감소 방향에서의 솔레노이드 전류(I_SOL)에 대한 솔레노이드압(P_SOL)의 히스테리시스 특성에 의해 정해지는 히스테리시스 유압 보정량을 연산하고, 히스테리시스 유압 보정량을 고려하여, 솔레노이드압(P_SOL)이 목표압이 되도록 솔레노이드 전류(I_SOL)를 제어하는 클러치압 보정 제어부(40)를 구비하고 있다. 이 액압 제어 장치에 있어서, 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 솔레노이드 전류(I_SOL)의 방향이 절환되었을 때의 솔레노이드 전류(I_SOL)와 그 직전에 절환되었을 때의 솔레노이드 전류(I_SOL)의 차로부터 구해지는 리턴량에 기초하여, 히스테리시스 유압 보정량을 연산한다.

Description

액압 제어 장치{LIQUID PRESSURE CONTROL DEVICE}

본 발명은, 지시 전류에 따라서 개방도가 조정되고, 액압을 증가 혹은 감소 중 어느 한쪽으로 제어하는 전자기 밸브를 구비한 액압 제어 장치에 관한 것이다.

종래, 액압을 제어하는 전자기 밸브의 경우, 솔레노이드의 구동 전류와 출력압에는 전류의 증가측과 감소측에서 히스테리시스가 발생한다. 이 대책으로서, 출력압이 최대가 될 때까지 전류값을 증대시키고, 그 후, 전류값을 출력압이 제로를 나타낼 때까지 감소시켰을 때의, 전류값마다의 출력압의 실측값으로부터 실측 맵을 작성하고, 이 실측 맵 상에서 동일 출력압 실측값에 대응하는 상승측 전류값과 하강측 전류값의 전류 평균값을 산출하고, 산출된 전류 평균값과 출력압 실측값의 관계를 나타내는 맵을 작성하고, 이 맵을 이용하여 솔레노이드의 구동 전류를 제어하는 것이 알려져 있다(예를 들어, 특허 문헌 1 참조).

[특허문헌1]일본특허출원공개제2003-294126호공보

그러나 히스테리시스량이, 구동 전류가 증가 방향으로부터 감소 방향(또는 감소 방향으로부터 증가 방향)으로 절환되는 위치나 사용하는 액압 영역에 따라 상이해진다. 이로 인해, 액압이 최대압이 되기 전의 중간 위치에서 있어서 지시 전류가 리턴된 경우, 상기 종래의 전자기 밸브를 이용한 액압 제어 장치와 같이, 출력압이 최대가 될 때까지 전류값을 증대시키고, 그 후, 전류값을 감소시켰을 때의, 전류값마다의 출력압의 실측값으로부터 구해진 실측 맵에 기초하여 산출된 전류 평균값을 사용하여 구동 전류의 보정을 행하는 것에서는, 그 보정량에 편차분이 포함되어 있고, 구동 전류와 출력압의 관계를 고정밀도로 얻을 수 없어, 제어 정밀도의 저하를 초래한다고 하는 문제가 있었다.

본 발명은, 상기 문제에 착안하여 이루어진 것으로, 전자기 밸브의 절환 위치나 사용 액압 영역에 의해 히스테리시스량이 상이한 것에 대응하여 히스테리시스를 해소하는 보정을 행함으로써, 액압 제어 정밀도의 향상을 도모할 수 있는 액압 제어 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 액압 제어 장치에서는, 지시 전류에 따라서 개방도가 조정되고, 액압을 증가 혹은 감소 중 어느 한쪽으로 제어하는 전자기 밸브와,

상기 지시 전류의 증가 방향과 감소 방향에서의 지시 전류에 대한 출력 액압의 히스테리시스 특성에 따라 정해지는 히스테리시스 보정량을 연산하는 히스테리시스 보정량 연산 수단과,

상기 히스테리시스 보정량을 고려하여, 상기 출력 액압이 목표 출력 액압이 되도록 상기 지시 전류를 제어하는 지시 전류 제어 수단을 구비하고 있다.

이 액압 제어 장치에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 상기 지시 전류의 방향이 절환되었을 때의 지시 전류값과 그 직전에 절환되었을 때의 지시 전류값의 차로부터 구해지는 리턴량에 기초하여, 상기 히스테리시스 보정량을 연산하는 수단인 것을 특징으로 한다.

따라서, 본 발명의 액압 제어 장치에 있어서는, 히스테리시스 보정량 연산 수단에 있어서, 지시 전류의 방향이 절환되었을 때의 지시 전류값과 그 직전에 절환되었을 때의 지시 전류값의 차로부터 구해지는 리턴량에 기초하여, 히스테리시스 보정량이 연산된다.

즉, 전자기 밸브에서는, 솔레노이드에서 잔류 전자력이 발생하여, 균형점이 바뀌는 것을 원인으로 하고, 지시 전류(＝지시 액압)와 출력되는 실액압의 변화 특성에 히스테리시스가 발생한다. 이에 대해, 출력되는 액압이 최대압이 되기 전의 중간 위치에 있어서 지시 전류가 리턴된 경우라도, 리턴량에 기초하여 히스테리시스 보정량을 연산하고 있다. 따라서, 전자기 밸브의 절환 위치나 사용 액압 영역에 따라 히스테리시스량이 상이하다고 하는 히스테리시스 특성에 대응하여, 상이한 히스테리시스량을 세심하게 해소하는 보정이 행해진다.

이로 인해, 전자기 밸브의 절환 위치 등이 변화되었을 때, 이 변화에 추종하여 지시 전류와 출력되는 실액압의 관계에서 발생하는 히스테리시스량이 저감된다.

이와 같이, 전자기 밸브의 절환 위치나 사용 액압 영역에 의해 히스테리시스량이 상이한 것에 대응하여 히스테리시스를 해소하는 보정을 행함으로써, 액압 제어 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

도 1은 제1 실시예의 액압 제어 장치가 적용된 차량용 자동 변속기의 마찰 체결 요소압의 제어계를 도시하는 제어 시스템도.
도 2는 제1 실시예의 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)에 갖는 클러치압 보정 제어부(40)에서의 클러치압 보정 제어 처리의 흐름을 나타내는 제어 블록도.
도 3은 제1 실시예의 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)에 갖는 클러치압 보정 제어부(40)에서의 히스테리시스 유압 보정량 연산 처리의 흐름을 나타내는 제어 블록도.
도 4는 도 3의 히스테리시스 유압 보정량 연산 처리에서 이용되는 리턴 전류 하한값·리턴 전류 상한값·최대 지시 영역 전류폭·지시 영역 전류폭·히스테리시스 보정 영역 전류폭·리턴 보정 영역 전류폭·지시 진행률을 나타내는 설명도.
도 5는 도 3의 히스테리시스 유압 보정량 연산 처리에 있어서의 추정 클러치압·리턴 고려 히스테리시스 추정량·클러치 지시압·히스테리시스 유압 보정량의 각 특성을 나타내는 설명도.
도 6은 전자기 밸브에서 발생하는 히스테리시스 편차량을 설명하기 위한 실전류에 대한 실압(지령압)의 관계를 나타내는 특성도.
도 7은 전자기 밸브의 절환 위치를 상이하게 하였을 때에 히스테리시스량이 상이한 것을 설명하기 위한 실전류에 대한 실압(지령압)의 관계를 나타내는 특성도.
도 8은 보정 전의 전류에 대한 실압 특성으로부터 제1 실시예의 히스테리시스 유압 보정량 연산에 의해 얻어진 히스테리시스 유압 보정량으로 보정하였을 때의 전류에 대한 실압 특성에 이르는 작용을 나타내는 작용 설명도.
도 9는 리니어 솔레노이드 밸브(2)의 유압 변동량에 대한 PS 학습량에서의 보정에 의한 변동 캔슬 효과와 히스테리시스 유압 보정량에서의 보정에 의한 히스테리시스 캔슬 효과를 나타내는 도면.
도 10은 히스테리시스 캔슬 보정 없음의 경우와 히스테리시스 캔슬 보정 있음의 경우의 지시 유압에 대한 실유압의 실험 특성을 나타내는 히스테리시스 저감 효과 확인도.
도 11은 제2 실시예의 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)에 갖는 클러치압 보정 제어부(40)에서의 히스테리시스 유압 보정량 연산 처리의 흐름을 나타내는 제어 블록도.
도 12는 도 11의 히스테리시스 유압 보정량 연산 처리에서 이용되는 리턴 전류 하한값·리턴 전류 상한값·최대 지시 영역 전류폭·지시 영역 전류폭·히스테리시스 보정 영역 전류폭·리턴 보정 영역 전류폭·지시 진행률을 나타내는 설명도.
도 13은 도 11의 히스테리시스 유압 보정량 연산 처리에 있어서의 추정 클러치압·리턴 고려 히스테리시스 추정량·클러치 지시압·히스테리시스 유압 보정량의 각 특성을 나타내는 설명도.
도 14는 전류값 리턴 지시가 복수회 발생하였을 때의 액압 특성 맵의 일례를 나타내는 설명도.
도 15는 보정 전의 전류에 대한 실압 특성으로부터 제2 실시예의 히스테리시스 유압 보정량 제1 연산 처리에 의해 얻어진 히스테리시스 유압 보정량으로 보정하였을 때의 전류에 대한 실압 특성에 이르는 작용을 나타내는 작용 설명도.
도 16은 보정 전의 전류에 대한 실압 특성으로부터 제2 실시예의 히스테리시스 유압 보정량 제2 연산 처리에 의해 얻어진 히스테리시스 유압 보정량으로 보정하였을 때의 전류에 대한 실압 특성에 이르는 작용을 나타내는 작용 설명도.

이하, 본 발명의 액압 제어 장치를 실현하는 최량의 형태를, 도면에 도시하는 제1 실시예에 기초하여 설명한다.

<제1 실시예>

우선, 구성을 설명한다.

도 1은, 제1 실시예의 액압 제어 장치가 적용된 차량용 자동 변속기의 마찰 체결 요소압의 제어계를 도시하는 제어 시스템도이다.

제1 실시예의 자동 변속기의 제어 장치는, 도 1에 도시하는 바와 같이, 마찰 체결 요소(1)와, 리니어 솔레노이드 밸브(2)(전자기 밸브)와, 컨트롤 밸브(3)와, 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)을 구비하고 있다.

상기 마찰 체결 요소(1)는, 변속 과도기에 컨트롤 밸브(3)로부터의 체결 요소압(Pc)에 의해 체결 또는 해방이 제어되는 유압 다판 클러치나 유압 다판 브레이크 등이다.

상기 리니어 솔레노이드 밸브(2)는, 도시하지 않은 파일럿판에 의해 만들어내어지는 파일럿압(Pp)(일정압)을 원압으로 하고, 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)로부터의 솔레노이드 전류(I_SOL)(예를 들어, 800㎐의 듀티 구동 전류)의 인가에 의해, 컨트롤 밸브(3)로의 솔레노이드압(P_SOL)을 만들어내는 밸브이다.

이 리니어 솔레노이드 밸브(2)는, 도 1에 도시하는 바와 같이, 솔레노이드 코일(21)과, 볼(22)과, 플런저(23)와, 스프링(24)과, 파일럿압 유로(25)와, 솔레노이드압 유로(26)를 갖는다. 밸브 작동은, 솔레노이드 전류(I_SOL)가 제로일 때, 스프링(24)에 의한 가압력에 의해 볼(22)을 압박하여 폐쇄하므로 솔레노이드압(P_SOL)은 제로가 된다. 그리고 솔레노이드 코일(21)에 대한 지시 전류인 솔레노이드 전류(I_SOL)를 높이면, 가압력에 저항하여 볼(22)이 개방측으로 이동하여, 출력 유압인 솔레노이드압(P_SOL)을 높인다.

상기 컨트롤 밸브(3)는, 상기 리니어 솔레노이드 밸브(2)로부터의 솔레노이드압(P_SOL)을 작동 신호압으로 하고, 도시하지 않은 라인압 제어 밸브로부터의 라인압(P_L)을 원압으로 하고, 상기 마찰 체결 요소(1)로의 체결 요소압(Pc)을 제어하는 압력 조정 스풀 밸브이다. 이 컨트롤 밸브(3)에서는, 솔레노이드압(P_SOL)이 고압일수록 마찰 체결 요소(1)로의 체결 요소압(Pc)을 고압으로 하는 유압 제어를 행한다.

상기 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)은, 도 1에 도시하는 바와 같이, AT 유온 센서(5)와, 엔진 회전수 센서(6)와, 스로틀 센서(7)와, 터빈 회전수 센서(8)와, 차속 센서(9)와, 다른 센서·스위치류(10)로부터의 센서 신호나 스위치 신호를 입력한다.

이 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)에서는, 미리 설정되어 있는 시프트 스케줄(예를 들어, 전진 7속의 시프트 스케줄) 상에서 스로틀 개방도와 차속에 의한 운전점이 업 시프트선이나 다운 시프트선을 가로지름으로써 변속 개시 지령을 출력하는 변속 제어 처리를 행한다. 또한, 변속 개시 지령이나 터빈 회전수(AT 입력 회전수)와 차속(AT 출력 회전수)에 의해 구해지는 기어비(Gr)의 변화 등에 따라서, 변속 과도기에 있어서의 클러치압 지령값의 산출 처리나 슬립 체결 제어시에 있어서의 클러치압 지령값의 산출 처리 등을 행한다.

또한, 이 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)에는, 클러치압 지령값(실현하고자 하는 유압)에 대해 보정량(SOL 경시 열화 보정량이나 히스테리시스 유압 보정량이나 PS 학습량)을 산출하고, 클러치압 지령값을 보정한 클러치 지시압을 취득하고, 클러치 지시압을 온도 보정이나 전류 변환을 경과하여 실전류인 솔레노이드 전류(I_SOL)를 만들어내는 클러치압 보정 제어부(40)를 갖는다.

도 2는, 제1 실시예의 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)에 갖는 클러치압 보정 제어부(40)에서의 클러치압 보정 제어 처리의 흐름을 나타내는 제어 블록도이다. 이하, 각 단계에 대해 설명한다.

단계 S41은, 제어 기구계에 발생하는 사후적 경시 열화의 영향을 해소하는 것을 목적으로 하고, SOL 경시 열화 보정량을 산출하는 단계이다. 이 SOL 경시 열화 보정량은, 학습 보정량을, 고체 변동을 원인으로 하는 초기 학습량과, 제어 기구계의 사후적 열화를 원인으로 하는 경시 열화량으로 나누고, PS 학습 영역 보정량과 PS 초기 학습량의 차로 나타나는 경시 열화 진행도와 지시 전류값에 기초하여 구한다.

단계 S42는, 리니어 솔레노이드 밸브(2)의 절환 위치나 사용 액압 영역에 의해 히스테리시스량이 상이한 것에 대응하여 히스테리시스를 해소하는 보정을 행하는 것을 목적으로 하고, 히스테리시스 유압 보정량을 산출하는 단계이다. 이 히스테리시스 유압 보정량은, 지시 전류값의 리턴 판정과 지시 진행률과 히스테리시스 유압 맵을 이용하여 히스테리시스 추정량을 구하고, 이것에 히스테리시스 보정 전류 영역의 판정에 따라서 편차 추정량을 구하고, 히스테리시스 추정량과 편차 추정량으로부터 구한다. 상세하게는, 도 3에서 설명한다.

단계 S43은, AT 유온의 변화(작동유의 점성 변화)에 의한 편차분을 해소하는 보정을 행하는 것을 목적으로 하고, AT 유온에 대응하는 PS 학습량을 산출하는 단계이다. 이 PS 학습량은, 검출되는 AT 유온 영역에 의해 나누어 PS 학습량을 기억해 두고, 검출되는 AT 유온을 반영한 설정 유온 영역에서의 학습 영역 SOL 경시 열화량이 산출되면, PS 학습량과 학습 영역 SOL 경시 열화량의 차에 의해 구한다.

단계 S44는, 클러치 지시압 산출 단계이고, 클러치압 지령값(실현하고자 하는 유압)에 대해, 단계 S41에서의 SOL 경시 열화 보정량과, 단계 S42에서의 히스테리시스 유압 보정량과, 단계 S43에서의 PS 학습량을 가산하여, 클러치압 지령값을 보정한 클러치 지시압을 산출한다.

단계 S45는, 지시압 변환 단계이고, 단계 S44로부터 클러치 지시압을 입력하고, 지시압 변환 맵 등을 이용하여, 클러치 지시압을 SOL 지시압으로 변환한다.

단계 S46은, 유압 온도 보정 단계이고, 단계 S45로부터 SOL 지시압을 입력하고, 유압 온도 보정 처리를 실행하여, 온도 보정량을 출력한다.

단계 S47은, 보정 후 Sol 지시압 산출 단계이고, 단계 S45로부터의 SOL 지시압과, 단계 S46으로부터의 온도 보정량을 가산하여, 보정 후 Sol 지시압을 산출한다.

단계 S48은, PI 전류 변환 단계이고, 단계 S47로부터 보정 후 Sol 지시압을 입력하고, PI 전류 변환 맵 등을 이용하여, 보정 후 Sol 지시압을 지시 전류값으로 변환한다.

단계 S49는, 실전류 변환 단계이고, 단계 S48로부터의 지시 전류값을, 솔레노이드 구동 회로에 의해 실전류[솔레노이드 전류(I_SOL)]로 변환한다. 이 실전류[솔레노이드 전류(I_SOL)]는, 리니어 솔레노이드 밸브(2)의 솔레노이드 코일(21)에 인가된다.

단계 S50은, 실전류 피드백 단계이고, 단계 S49로부터의 실전류를 모니터하고, 단계 S48로부터의 지시 전류값에 필요한 피드백 보정을 부가한다. 또한, 히스테리시스 유압 보정량을 산출하는 단계 S42에서의 보정 입력은, 피드백 보정을 부가한 모니터 전류가 아닌, 단계 S48로부터의 지시 전류값으로 한다. 그 이유는, 모니터 전류는, 피드백 보정에 의한 지연이 있으므로, 히스테리시스의 추정 자체도 지연되어 버리는 것에 의한다.

도 3은, 제1 실시예의 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)에 갖는 클러치압 보정 제어부(40)에서의 히스테리시스 유압 보정량 연산 처리의 흐름을 나타내는 제어 블록도이다(히스테리시스 보정량 연산 수단). 이하, 각 단계에 대해 설명한다.

단계 S400은, 미분 연산 처리 단계이고, 보정 입력인 지시 전류값을 미분 연산 처리함으로써 지시 전류 변화량을 취득한다.

단계 S401은, 지시 전류 리턴 판정 단계이고, 단계 S400으로부터의 지시 전류 변화량의 부호 변화에 의해[예를 들어, 30msec 전후의 (＋)→(－) 변화, (－)→(＋) 변화], 지시 전류값의 리턴을 판정한다.

단계 S402는, 리턴 전류값 기억 단계이고, 단계 S401에서 하강 리턴 판단시에는, 지시 전류 하강 리턴 전류값을 메모리에 기억하고, 단계 S401에서 상승 리턴 판단시에는, 지시 전류 상승 리턴 전류값을 메모리에 기억한다.

여기서, 리턴 지시 전류값은, 도 4에 나타내는 바와 같이, 초기값·리미트값을 각각 리턴 전류 상한값과 리턴 전류 하한값으로 한다.

단계 S403은, 지시 영역률을 산출하기 위해 사용하는 지시 영역 전류폭의 산출 단계이고, 이 지시 영역 전류폭은, 하강으로의 리턴 전류값과 상승으로의 리턴 전류값의 차(2점 사이의 리턴량)에 의해 산출된다.

예를 들어, 500㎃로부터 100㎃로 리턴되었을 때에는, 도 4에 나타내는 바와 같이, 400㎃라고 하는 전류값의 리턴량이, 지시 영역 전류폭이 된다.

단계 S404는, 지시 영역 전류폭의 영향을 히스테리시스의 값 추정시에 고려하기 위해 사용하는 지시 영역률의 산출 단계이고, 이 지시 영역률은, 최대 지시 영역 전류폭(분모)과, 단계 S416을 경과함으로써 0 이상으로 하는 리미트 처리가 실시된 지시 영역 전류폭(분자)의 비에 의해 산출된다.

예를 들어, 500㎃로부터 100㎃로 리턴되었을 때에는, 도 4에 나타내는 바와 같이, 0㎃로부터 800㎃까지의 최대 지시 영역 전류폭에 대한 400㎃의 지시 영역 전류폭의 비가 된다.

단계 S405는, 지시 진행률을 산출하기 위한 리턴 보정 영역 전류폭의 산출 단계이고, 이 리턴 보정 영역 전류폭은,

리턴 보정 영역 전류폭＝min(히스테리시스 보정 상한값, 하강으로의 리턴 전류값)－max(히스테리시스 보정 하한값, 상승으로의 리턴 전류값)

의 식에 의해 산출된다.

예를 들어, 도 4에 나타내는 바와 같이, 250㎃로부터 650㎃까지를 히스테리시스 보정 영역 전류폭으로 할 때, 하강으로의 리턴 전류값 500㎃로부터 히스테리시스 보정 하한값 250㎃를 뺀 250㎃가 리턴 보정 영역 전류폭이 된다.

단계 S406은, 히스테리시스 유압을 히스테리시스 유압 맵으로부터 추정하기 위해 사용하는 지시 진행률의 산출 단계이고, 이 지시 진행률은,

지시 진행률＝{지시 전류값－max(히스테리시스 보정 하한값, 상승으로의 리턴 전류값)}/리턴 보정 영역 전류폭

의 식에 의해 산출된다.

예를 들어, 지시 전류값을 375㎃로 한 경우에는, 도 4에 나타내는 바와 같이, 지시 진행률은 50％가 된다.

단계 S407은, 히스테리시스 보정 전류 영역 판정 단계이고, 지시 전류값이,

히스테리시스 보정 전류 하한값＜지시 전류값＜히스테리시스 보정 전류 상한값

의 관계이면, 히스테리시스 보정 전류 영역 내라고 판정하고, 그 이외는 히스테리시스 보정 전류 영역 외라고 판정한다.

단계 S408은, 지시 진행률과 히스테리시스 유압 맵에 의해 히스테리시스 맵 환산값을 산출하는 단계이고, 이 히스테리시스 맵 환산값은, 단계 S417을 경과함으로써 0 내지 100％의 리미트 처리가 실시된 지시 진행률과 히스테리시스 유압 맵에 의해 산출된다.

여기서, 히스테리시스 유압 맵은, 예를 들어 단계 S408의 박스(box) 내에 기재되어 있는 바와 같이, 지시 진행률이 소정량까지는 히스테리시스량이 상승하고, 지시 진행률이 소정량 이상이 되면 히스테리시스량이 감소하는 특성을 갖는다.

단계 S409는, 리턴 고려 히스테리시스 추정량의 산출 단계이고, 이 리턴 고려 히스테리시스 추정량은, 단계 S408로부터의 히스테리시스 맵 환산값에, 단계 S404로부터의 지시 영역률을 곱함으로써 산출된다.

예를 들어, 도 5의 추정 클러치압 특성으로 나타내는 바와 같이, 지시 전류값이 A점으로부터 B점까지 상승한 후, B점으로부터 C점까지 하강하고, 다시 C점으로부터 D점까지 상승하는 경우, 도 5의 리턴 고려 히스테리시스 추정량 특성으로 나타내는 바와 같이, 지시 전류값 A 내지 B 영역의 리턴 고려 히스테리시스 추정량은 H1이 되고, 지시 전류값 B 내지 C 영역의 리턴 고려 히스테리시스 추정량은 H2가 되고, 지시 전류값 C 내지 D 영역의 리턴 고려 히스테리시스 추정량은 H3이 된다.

단계 S410은, 히스테리시스 추정량의 산출 단계이고, 이 히스테리시스 추정량은, 단계 S409로부터의 리턴 고려 히스테리시스 추정량에, 히스테리시스 유온 보정 계수와 히스테리시스 지시 전류 변화량 보정 계수를 곱함으로써 산출된다.

단계 S411은, 히스테리시스 추정량의 게인 변경 단계이고, 단계 S410에서 산출된 히스테리시스 추정량의 전류 상승 하강에 의해 게인을 변경한다.

단계 S412는, 지시압과 실압의 편차 추정값을 기억하는 단계이고, 단계 S401에서 지시 전류의 리턴 판정이 되었을 때에만, 단계 S413으로부터 출력되는 편차 추정량을 메모리에 기억한다.

단계 S413은, 편차 추정량의 산출 단계이고, 이 편차 추정량은, 단계 S411로부터의 게인 변경에 의한 히스테리시스 추정량에, 단계 S412로부터의 리턴 판정시에 기억되어 있었던 편차 추정량을 더함으로써 산출된다. 또한, 히스테리시스 보정 전류 영역 밖이면, 편차 보정량은 0이 된다.

단계 S414는, 히스테리시스 맵 환산값에 의한 보정량 리미트 처리 단계이고, 단계 S413으로부터의 편차 추정량을, 단계 S408로부터의 히스테리시스 맵 환산값에 의해 리미트 처리하여, 히스테리시스 유압 보정량을 취득한다.

단계 S415는, 단계 S414로부터의 히스테리시스 유압 보정량의 반전 처리 단계이고, 단계 S414로부터의 히스테리시스 유압 보정량이, 유압이 부족한 측에서 마이너스의 값이 됨으로써, 이것을 반전 처리하여 플러스의 히스테리시스 유압 보정량으로 한다.

이 히스테리시스 유압 보정량은, 예를 들어 도 5의 클러치 지시압 특성 및 히스테리시스 유압 보정량 특성으로 나타내는 바와 같이, A 내지 B의 클러치 지시압 영역에서의 히스테리시스 유압 보정량은 HP1이 되고, B 내지 C의 클러치 지시압 영역에서의 히스테리시스 유압 보정량은 HP2가 되고, C 내지 D의 클러치 지시압 영역에서의 히스테리시스 유압 보정량은 HP3이 된다. 단, 히스테리시스 유압 보정량 특성은, 이해하기 쉽게 하기 위해 종축을 2배로 하여 나타내고 있다.

다음에, 작용을 설명한다.

우선,「유압 제어용 전자기 밸브의 과제」의 설명을 행하고, 계속해서 제1 실시예의 액압 제어 장치에 있어서의 작용을,「클러치압 보정 제어 작용」,「클러치압 히스테리시스 보정 제어 작용」으로 나누어 설명한다.

[유압 제어용 전자기 밸브의 과제]

우선, 전자기 밸브의 경우, 실전류에 대한 목표(목적)의 유압 특성은, 도 6의 가는 선 특성으로 나타내는 바와 같이, 실전류가 상승하거나 하강해도 동일한 1개의 특성선 상을 추이하는 특성이다. 그러나 전자기 밸브는, 솔레노이드에서 잔류 전자기력이 발생하여, 균형점이 바뀌는 것을 원인으로 하고, 실전류와 실압(지령압)의 변화 특성에 히스테리시스가 발생한다. 즉, 실전류가 상승할 때에는, 도 6의 하측 굵은 선 특성으로 나타내는 바와 같이, 실전류의 상승에 대해 실압이 목적의 유압보다 낮은 상태에서 추이하고, 실전류가 하강할 때에는, 도 6의 상측 굵은 선 특성으로 나타내는 바와 같이, 실전류의 하강에 대해 실압이 목적의 유압보다 높은 상태에서 추이한다. 이로 인해, 예를 들어 목표 유압이 (1)일 때, 목표(목적)의 유압 특성에 의해 목표 전류값(I1)이 정해지지만, 유압의 상승측에서는, 정해진 목표 전류값(I1)일 때에 유압 (1')이 되고, 유압의 하강측에서는, 정해진 목표 전류값(I1)일 때에 유압 (1")이 된다. 즉, 유압 폭 (1') 내지 (1")에 의한 히스테리시스 편차량을 갖게 된다. 즉, 유압의 상승측에서는, 실전류값을 I2(＞I1)로 하지 않고서는 목표(목적)의 유압을 얻을 수 없고, 반대로 유압의 하강측에서는, 실전류값을 I3(＜I1)으로 하지 않고서는 목표(목적)의 유압을 얻을 수 없다.

그리고 상기 히스테리시스 편차량인 히스테리시스량은, 도 7에 나타내는 바와 같이, 실전류가 증가 방향으로부터 감소 방향으로 절환되는 위치가, 위치 TP1일 때에는 히스테리시스량이 작고, 위치 TP2일 때에는 위치 TP1일 때보다 히스테리시스량이 크고, 위치 TP3일 때에는 위치 TP2일 때보다 히스테리시스량이 커진다. 또한, 이 히스테리시스량이 상이한 특성은, 사용 유압 영역에 의해서도 마찬가지이다.

이로 인해, 유압이 최대압이 되기 전의 중간 위치에 있어서 전자기 밸브로의 지시 전류가 리턴된 경우, 예를 들어 종래 기술과 같이, 출력압이 최대가 될 때까지 전류값을 증대시키고, 그 후, 전류값을 감소시켰을 때의, 전류값마다의 출력압의 실측값으로부터 구해진 실측 맵에 기초하여 산출된 전류 평균값을 사용하여 지시 전류의 히스테리시스 보정을 행하는 것에서는, 그 히스테리시스 보정량에, 절환 위치나 사용 유압 영역에 의해 히스테리시스량이 상이한 특성에 의한 편차분이 포함되게 된다. 이 결과, 지시 전류와 출력압의 관계를 고정밀도로 얻을 수 없어, 제어 정밀도의 저하를 초래한다.

특히, 목표 유압이 증압 혹은 감압의 일방향 동작으로 되어 있는 전자기 밸브 제어의 경우에는, 종래 기술을 이용하였다고 해도 공칭 히스테리시스분을 일부 캔슬하는 것이 가능하다. 그러나 예를 들어, 마찰 체결 요소를 슬립 체결하고, 슬립 체결 상태를 유지한 채로 마찰 체결 요소를 경과하여 전달하는 토크를, 드라이버의 액셀러레이터 조작에 따른 요구 토크가 되도록 증감 제어하는 전자기 밸브 제어를 행하는 경우에는, 전자기 밸브의 절환 위치나 사용 유압 영역에 따라 상이한 히스테리시스분을 캔슬할 수 없다.

[클러치압 보정 제어 작용]

제1 실시예에서는, 클러치압 지령값에, SOL 경시 열화 보정량과 히스테리시스 유압 보정량과 PS 학습량을 더하여 클러치 지시압으로 하는 클러치압 보정 방법을 채용하였다. 이하, 도 2에 기초하여 클러치압 보정 제어 작용을 설명한다.

클러치압 보정 제어 처리는, 도 2에 나타내는 제어 블록도에 있어서, 단계 S44→단계 S45→단계 S46→단계 S47→단계 S48→단계 S49로 진행함으로써 행해진다.

즉, 단계 S44에서는, 클러치압 지령값(실현하고자 하는 유압)에 대해, 단계 S41에서의 SOL 경시 열화 보정량과, 단계 S42에서의 히스테리시스 유압 보정량과, 단계 S43에서의 PS 학습량이 가산되어, 클러치압 지령값을 보정한 클러치 지시압이 산출된다. 다음 단계 S45에서는, 단계 S44로부터 클러치 지시압을 입력하고, 지시압 변환 맵 등을 이용하여, 클러치 지시압이 SOL 지시압으로 변환된다. 다음 단계 S46은, 단계 S45로부터 SOL 지시압을 입력하고, 유압 온도 보정 처리를 실행함으로써, 온도 보정량이 출력된다. 다음 단계 S47에서는, 단계 S45로부터의 SOL 지시압과, 단계 S46으로부터의 온도 보정량이 가산되어, 보정 후 Sol 지시압이 산출된다. 다음 단계 S48에서는, 단계 S47로부터 보정 후 Sol 지시압을 입력하고, PI 전류 변환 맵 등을 이용하여, 보정 후 Sol 지시압이 지시 전류값으로 변환된다. 다음 단계 S49에서는, 단계 S48로부터의 지시 전류값이, 솔레노이드 구동 회로에 의해 실전류[솔레노이드 전류(I_SOL)]로 변환된다.

그리고 단계 S49로부터의 실전류[솔레노이드 전류(I_SOL)]는, 리니어 솔레노이드 밸브(2)의 솔레노이드 코일(21)에 인가된다. 이때, 단계 S50에 있어서, 단계 S49로부터의 실전류가 모니터되고, 단계 S48로부터의 지시 전류값에 필요한 피드백 보정이 부가된다.

상기 클러치압 보정 제어에 있어서, SOL 경시 열화 보정량을 산출하는 단계 S41에 있어서, 학습 보정량을, 고체 변동을 원인으로 하는 초기 학습량과, 제어 기구계의 사후적 열화를 원인으로 하는 경시 열화량으로 나누어, PS 학습 영역 보정량과 PS 초기 학습량의 차로 나타나는 경시 열화 진행도와 지시 전류값에 기초하여 SOL 경시 열화 보정량이 구해진다.

따라서, 제어 기구계에 발생하는 사후적 경시 열화의 영향을 해소할 수 있다.

또한, 히스테리시스 유압 보정량을 산출하는 단계 S42에 있어서, 지시 전류값의 리턴 판정과 지시 진행률과 히스테리시스 유압 맵을 이용하여 히스테리시스 추정량이 구해지고, 이것에 히스테리시스 보정 전류 영역의 판정에 따라서 편차 추정량이 구해지고, 히스테리시스 추정량과 편차 추정량으로부터 히스테리시스 유압 보정량이 구해진다.

따라서, 리니어 솔레노이드 밸브(2)의 절환 위치나 사용 액압 영역에 의해 히스테리시스량이 상이한 것에 대응하여 히스테리시스를 해소하는 보정을 행할 수 있다.

또한, AT 유온에 대응하는 PS 학습량을 산출하는 단계 S43에 있어서, 검출되는 AT 유온 영역에 의해 나누어 PS 학습량을 기억해 두고, 검출되는 AT 유온을 반영한 설정 유온 영역에서의 학습 영역 SOL 경시 열화량이 산출되면, PS 학습량과 학습 영역 SOL 경시 열화량의 차에 의해 PS 학습량이 구해진다.

따라서, AT 유온의 변화(작동유의 점성 변화)에 의한 편차분을 해소하는 보정을 행할 수 있다.

[히스테리시스 유압 보정량 연산 작용]

제1 실시예에서는, 히스테리시스량은 지시 전류의 리턴에 의한 전류 사용 영역의 비율에 맞추어 변화되는 경향이 있고, 이것을 이용하여 히스테리시스 유압 보정량을 추정 연산하는 방법을 채용하였다. 이하, 도 3 및 도 8에 기초하여 히스테리시스 유압 보정량 연산 작용을 설명한다.

히스테리시스 유압 보정량 연산 처리는, 도 3에 나타내는 제어 블록도에 있어서, 단계 S400→단계 S401→단계 S402로 진행하고, 단계 S402에 있어서, 이후의 처리에서 필요로 하는 리턴 전류값 정보가 기억된다. 즉, 단계 S400에서는, 지시 전류값으로부터 지시 전류 변화량이 취득되고, 다음 단계 S401에서는 지시 전류 변화량의 부호 변화에 의해 지시 전류값의 리턴이 판정된다. 그리고 단계 S402에서는, 하강 리턴 판단시에 지시 전류 하강 리턴 전류값이 기억되고, 상승 리턴 판단시에 지시 전류 상승 리턴 전류값이 기억된다.

그리고 단계 S402로부터 단계 S403→단계 S416→단계 S404로 진행함으로써, 지시 영역률이 산출된다. 즉, 단계 S403에서는, 지시 영역 전류폭이, 하강으로의 리턴 전류값과 상승으로의 리턴 전류값의 차에 의해 산출되고, 다음 단계 S416에서 0 이상으로 하는 리미트 처리가 실시되고, 다음 단계 S404에서는, 최대 지시 영역 전류폭(분모)과 지시 영역 전류폭(분자)의 비에 의해 지시 영역률이 산출된다.

한편, 단계 S402로부터 단계 S405→단계 S406→단계 S417로 진행함으로써, 지시 진행률이 산출된다. 즉, 단계 S405에서는, 리턴 보정 영역 전류폭이,

min(히스테리시스 보정 상한값, 하강으로의 리턴 전류값)－max(히스테리시스 보정 하한값, 상승으로의 리턴 전류값)

의 식에 의해 산출되고, 다음 단계 S406에서는, 지시 진행률이,

{지시 전류값－max(히스테리시스 보정 하한값, 상승으로의 리턴 전류값)}/리턴 보정 영역 전류폭

의 식에 의해 산출된다. 그리고 단계 S417에서 산출된 지시 진행률에 0 내지 100％의 리미트 처리를 실시함으로써, 최종적인 지시 진행률이 정해진다.

그리고 단계 S417로부터는, 단계 S408→단계 S409→단계 S410→단계 S411→단계 S413→단계 S414→단계 S415로 진행하여, 히스테리시스 유압 보정량이 산출된다. 즉, 단계 S408에서는, 지시 진행률과 히스테리시스 유압 맵에 의해 히스테리시스 맵 환산값이 산출된다. 다음 단계 S409에서는, 리턴 고려 히스테리시스 추정량이, 히스테리시스 맵 환산값에 지시 영역률을 곱함으로써 산출된다. 다음 단계 S410에서는, 리턴 고려 히스테리시스 추정량에, 히스테리시스 유온 보정 계수와 히스테리시스 지시 전류 변화량 보정 계수를 곱함으로써 히스테리시스 추정량이 산출되고, 다음 단계 S411에서는, 히스테리시스 추정량의 게인이 변경되고, 다음 단계 S413에서는, 히스테리시스 추정량에, 단계 S412로부터의 리턴 판정시에 기억되어 있었던 편차 추정량을 더함으로써 편차 추정량이 산출된다. 또한, 단계 S407에서, 지시 전류값이, 히스테리시스 보정 전류 하한값으로부터 히스테리시스 보정 전류 상한값까지의 값이면, 히스테리시스 보정 전류 영역 내라고 판정되고, 그 이외는 히스테리시스 보정 전류 영역 밖이라고 판정되고, 히스테리시스 보정 전류 영역 밖이라고 판정되면, 편차 보정량은 0이 된다.

다음 단계 S414에서는, 단계 S413으로부터의 편차 추정량을, 단계 S408로부터의 히스테리시스 맵 환산값에 의해 리미트 처리함으로써, 히스테리시스 유압 보정량이 취득된다. 다음 단계 S415에서는, 단계 S414로부터의 히스테리시스 유압 보정량을 반전 처리함으로써, 최종적인 히스테리시스 유압 보정량이 연산된다.

다음에, 도 8에 기초하여 히스테리시스 유압 보정량 연산 작용을 설명한다.

도 8의 (a)에 보정 전의 전류에 대한 실압 특성예를 나타낸다. 즉, (1)로 나타내는 영역에서 실전류를 0㎃로부터 500㎃까지 높이고, A점을 하강 리턴점으로 하고, (2)로 나타내는 영역에서 실전류를 500㎃로부터 300㎃까지 낮추고, B점을 상승 리턴점으로 하고, (3)으로 나타내는 영역에서 실전류를 300㎃로부터 800㎃까지 높이는 예이다.

이 경우, 히스테리시스 특성의 중앙값에 대한 실압 편차 추정량은, 도 8의 (b)에 나타내는 바와 같이, (1)영역에서 마이너스측으로 가장 큰 실압 편차 추정량이 되고, (2)영역에서 플러스측으로 (1)영역보다도 작은 실압 편차 추정량이 되고, 또한 (3)영역에서 마이너스측으로 (2)영역보다도 작은 실압 편차 추정량이 된다.

따라서, 히스테리시스 특성의 중앙값에 대한 실압 편차 추정량을, (1)＋(2)＋(3)의 합산 영역으로 나타내면, 도 8의 (c)에 나타내는 바와 같이, 3개의 실압 편차 추정량의 특성이 관계를 가진 특성이 된다.

그리고 중앙값에 대한 실압 편차 추정량을 캔슬하는 것이 보정량이므로, 도 8의 (d)에 나타내는 바와 같이, 도 8의 (c)에 나타내는 실압 편차 추정량 특성의 플러스 마이너스를 반전시킨 특성이 히스테리시스 유압 보정량 특성이 된다.

따라서, 제1 실시예의 히스테리시스 유압 보정량 연산에 의해 얻어진 히스테리시스 유압 보정량으로 보정하였을 때의 전류에 대한 실압 특성은, 예를 들어 도 8의 (e)에 나타내는 바와 같이 히스테리시스량이 억제된 특성이 된다.

제1 실시예에서는, 히스테리시스 유압 보정량에 의한 클러치압 지령값의 보정에 의해, 유압 히스테리시스를「40㎪」이하로 하는 것을 목적으로 하고 있다. 이에 대해, 도 9에 나타내는 바와 같이, 리니어 솔레노이드 밸브(2)의 유압 편차량에 대해, PS 학습량에서의 보정에 의해 공칭 히스테리시스를 고려하지 않는 편차 요소분을 ±20㎪까지 억제할 수 있었다. 그리고 히스테리시스 유압 보정량에서의 보정에 의해 공칭 히스테리시스에 의한 히스테리시스분(80㎪)을 40㎪ 이내로 억제할 수 있어,「40㎪」이하로 하는 목적을 달성하였다. 또한, 나머지 편차량은, 마찰 체결 요소(1)의 피드백 제어로 억제한다.

도 10은, 히스테리시스 캔슬 보정 없음의 경우와 히스테리시스 캔슬 보정 있음의 경우의 지시 유압에 대한 실유압의 실험 특성을 나타낸다. 히스테리시스 캔슬 보정 없음의 경우에는, 점선 특성으로 나타내는 바와 같이 유압 히스테리시스량이 약 100㎪ 존재한 것에 대해, 히스테리시스 캔슬 보정 있음의 경우에는, 실선 특성으로 나타내는 바와 같이, 유압 히스테리시스량이 약 50㎪라고 하는 바와 같이 대략 절반으로 캔슬할 수 있다고 하는 히스테리시스 저감 효과가 확인되었다.

다음에, 효과를 설명한다.

제1 실시예의 액압 제어 장치에 있어서는, 하기에 열거하는 효과를 얻을 수 있다.

(1) 지시 전류[솔레노이드 전류(I_SOL)]에 따라서 개방도가 조정되고, 액압을 증가 혹은 감소 중 어느 한쪽으로 제어하는 전자기 밸브[리니어 솔레노이드 밸브(2)]와, 상기 지시 전류의 증가 방향과 감소 방향에서의 지시 전류에 대한 출력 액압[솔레노이드압(P_SOL)]의 히스테리시스 특성에 의해 정해지는 히스테리시스 보정량(히스테리시스 유압 보정량)을 연산하는 히스테리시스 보정량 연산 수단과, 상기 히스테리시스 보정량을 고려하여, 상기 출력 액압이 목표 출력 액압이 되도록 상기 지시 전류를 제어하는 지시 전류 제어 수단[클러치압 보정 제어부(40)]을 구비한 액압 제어 장치에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 상기 지시 전류의 방향이 절환되었을 때의 지시 전류값과 그 직전에 절환되었을 때의 지시 전류값의 차로부터 구해지는 리턴량에 기초하여, 상기 히스테리시스 보정량을 연산하는 수단이다.

이와 같이, 전자기 밸브[리니어 솔레노이드 밸브(2)]의 절환 위치나 사용 액압 영역에 의해 히스테리시스량이 상이하다고 하는 특성을 고려하여, 이것에 대응하여 히스테리시스를 해소하는 보정을 행함으로써, 액압 제어 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.

(2) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 사용하는 지시 전류의 상한값과 하한값의 차와, 상기 리턴량의 비율인 지시 영역률에 기초하여 히스테리시스 보정량을 연산한다(단계 S403, 단계 S404).

이와 같이, 히스테리시스량은 지시 전류의 리턴에 의한 전류 사용 영역의 비율에 맞추어 변화되는 경향을 고려하여, 지시 영역률에 기초하는 히스테리시스 보정량의 연산을 채용함으로써, 고정밀도로 보정해야 할 히스테리시스량의 산출을 행할 수 있다.

(3) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 상기 지시 영역률이 클수록 상기 히스테리시스 보정량이 커지도록 연산한다(단계 S409).

이와 같이, 히스테리시스량은 지시 전류의 사용 영역이 클수록 커진다고 하는 경향을 고려한 연산을 채용함으로써, 더욱 고정밀도로 보정해야 할 히스테리시스량의 산출을 행할 수 있다.

(4) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 리턴시에 있어서의 지시 전류값과 리턴한 후의 지시 전류값의 차분으로부터 구해지는 지시 전류 변화량에 기초하여, 히스테리시스 보정량을 연산한다(단계 S405, 단계 S406).

이와 같이, 직전의 리턴점으로부터의 지시 전류의 변화량에 의해서도 히스테리시스량이 상이하다고 하는 특성을 고려함으로써, 더욱 고정밀도로 보정해야 할 히스테리시스량을 산출할 수 있어, 히스테리시스량을 캔슬한 제어를 행하는 것이 가능해진다.

(5) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 리턴 보정 영역 전류폭을,

의 식에 의해 산출하고(단계 S405), 지시 진행률을,

의 식에 의해 산출하고(단계 S406), 이 지시 진행률에 기초하여, 히스테리시스 보정량을 연산한다.

이와 같이, 리턴 보정 영역 전류폭을 고려함으로써, 실제의 히스테리시스 특성이 연산에 반영되어, 고정밀도로 히스테리시스 보정량을 연산할 수 있다.

(6) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 지시 진행률에 대한 히스테리시스량 맵을 미리 설정하고, 상기 산출한 지시 진행률과 상기 히스테리시스량 맵을 이용하여 구한 히스테리시스량에, 상기 지시 영역률을 승산함으로써, 히스테리시스 보정량을 연산한다(단계 S408, 단계 S409).

이로 인해, 지시 전류의 리턴 위치가 다양하게 상이해도, 또한 사용 액압 영역이 다양하게 상이해도, 각각에 대해 복잡한 히스테리시스 보정량을 연산할 필요가 없어, 연산 부하를 작게 억제할 수 있다.

(7) 상기 히스테리시스량 맵은, 지시 진행률이 소정량 이상이 되면 히스테리시스량이 감소하는 맵이다(단계 S408).

이로 인해, 실제의 히스테리시스 특성을 반영한 맵을 작성할 수 있어, 고정밀도로 히스테리시스량을 연산할 수 있다.

(8) 지시 전류의 변화량에 기초하여, 지시 전류가 리턴인지 여부를 판정하는 리턴 판정 수단(단계 S401)을 구비하고, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 리턴 판정이 있었을 때, 히스테리시스 보정량의 연산을 개시한다.

이로 인해, 지시 전류가 리턴이라고 판정되었을 때에만 히스테리시스 보정량이 연산되게 되어, 지시 전류의 변화에 추종하는 것과 같은 연산에 비해, 연산 부하를 경감할 수 있다.

(9) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 리턴 판정이 이루어졌을 때의 지시 전류값을 기억하는 기억 수단을 갖는다(단계 S402).

이로 인해, 리턴 판정이 이루어졌을 때의 지시 전류값을, 히스테리시스 보정량의 기준값으로서 정밀도가 좋은 히스테리시스 보정을 행할 수 있다.

(10) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단(도 3)은, 지시 전류값이 히스테리시스 보정량을 산출하는 범위 이외인 경우, 상기 히스테리시스 보정량을 제로로 한다(단계 S407).

이로 인해, 지시 전류값이 히스테리시스 보정량을 산출하는 범위 이외일 때의 히스테리시스 보정 정밀도를 확보할 수 있다.

<제2 실시예>

우선, 구성을 설명한다. 또한, 제2 실시예의 액압 제어 장치가 적용된 차량용 자동 변속기의 마찰 체결 요소의 제어계는, 제1 실시예와 동일하므로 설명을 생략한다.

도 11은, 제2 실시예의 액압 제어 장치가 적용된 자동 변속기 컨트롤 유닛(4)에 있는 클러치압 보정 제어부(40)에서의 히스테리시스 유압 보정량 연산 처리의 흐름을 나타내는 제어 블록도이다(히스테리시스 보정량 연산 수단). 이하, 각 단계에 대해 설명한다.

단계 S500은, 미분 연산 처리 단계이고, 보정 입력인 지시 전류값을 미분 연산 처리함으로써 지시 전류 변화량을 취득한다.

단계 S501은, 지시 전류 리턴 판정 단계이고, 단계 S500으로부터의 지시 전류 변화량의 부호 변화에 의해[예를 들어, 30msec 전후의 (＋)→(－) 변화, (－)→(＋) 변화], 지시 전류값의 리턴을 판정한다.

단계 S502는, 리턴 전류값 기억 단계이고, 단계 S501에서 하강 리턴 판단시에는, 지시 전류 하강 리턴 전류값을 메모리에 기억하고, 단계 S501에서 상승 리턴 판단시에는, 지시 전류 상승 리턴 전류값을 메모리에 기억한다.

여기서, 리턴 지시 전류값은, 도 12에 나타내는 바와 같이, 초기값·리미트값을 각각 리턴 전류 상한값과 리턴 전류 하한값으로 한다. 또한, 리턴 지시 전류값이 상한값 또는 하한값이 된 경우에는, 메모리에 기억시킨 리턴 지시 전류값을 초기값으로 복귀시킨다.

단계 S503은, 지시 영역률을 산출하기 위해 사용하는 지시 영역 전류폭의 산출 단계이고, 이 지시 영역 전류폭은, 하강으로의 리턴 전류값과 상승으로의 리턴 전류값의 차(2점 사이의 리턴량)에 의해 산출된다.

예를 들어, 500㎃로부터 100㎃로 리턴하였을 때에는, 도 12에 나타내는 바와 같이, 400㎃라고 하는 전류값의 리턴량이, 지시 영역 전류폭이 된다.

단계 S504는, 지시 영역 전류폭의 영향을 히스테리시스의 값 추정시에 고려하기 위해 사용하는 지시 영역률의 산출 단계이고, 이 지시 영역률은, 리턴 전류 상한값과 리턴 전류 하한값의 차로부터 구해지는 최대 지시 영역 전류폭(분모)과, 단계 S503에서 산출된 지시 영역 전류폭(분자)의 비에 의해 산출된다.

예를 들어, 500㎃로부터 100㎃로 리턴하였을 때에는, 도 12에 나타내는 바와 같이, 0㎃로부터 800㎃까지의 최대 지시 영역 전류폭에 대한 400㎃의 지시 영역 전류폭의 비가 된다.

단계 S505는, 지시 진행률을 산출하기 위한 리턴 보정 영역 전류폭의 산출 단계이고, 이 리턴 보정 영역 전류폭은,

의 식에 의해 산출된다.

예를 들어, 도 12에 나타내는 바와 같이, 250㎃로부터 650㎃까지를 히스테리시스 보정 영역 전류폭으로 할 때, 하강으로의 리턴 전류값 500㎃로부터 히스테리시스 보정 하한값 250㎃를 뺀 250㎃가 리턴 보정 영역으로의 전류폭이 된다.

또한, 히스테리시스 보정 영역 전류폭은, 히스테리시스 유압의 보정을 하는 전류 지시의 전류폭, 즉 히스테리시스 유압의 보정을 행한다고 선언한 폭이며, 임의로 설정한다.

단계 S506은, 히스테리시스 유압을 히스테리시스 유압 맵으로부터 추정하기 위해 사용하는 지시 진행률의 산출 단계이고, 이 지시 진행률은,

의 식에 의해 산출된다.

예를 들어, 지시 전류값을 375㎃로 한 경우에는, 도 12에 나타내는 바와 같이 지시 진행률은 50％가 된다.

단계 S507은, 히스테리시스 보정 전류 영역 판정 단계이고, 지시 전류값이,

의 관계이면, 히스테리시스 보정 전류 영역 내라고 판정하고, 그 이외는 히스테리시스 보정 전류 영역 밖이라고 판정한다.

단계 S508은, 지시 진행률과 히스테리시스 유압 맵에 의해 히스테리시스 맵 환산값을 산출하는 단계이고, 이 히스테리시스 맵 환산값은, 단계 S517을 경과함으로써 0 내지 100％의 리미트 처리가 실시된 지시 진행률과 히스테리시스 유압 맵에 의해 산출된다.

여기서, 히스테리시스 유압 맵은, 예를 들어 단계 S508의 박스 내에 기재되어 있는 바와 같이, 지시 진행률이 소정량까지는 히스테리시스량이 상승하고, 지시 진행률이 소정량 이상이 되면 히스테리시스량이 감소하는 특성을 갖는다.

단계 S509는, 리턴 고려 히스테리시스 추정량의 산출 단계이고, 이 리턴 고려 히스테리시스 추정량은, 단계 S508로부터의 히스테리시스 맵 환산값에, 단계 S504로부터의 지시 영역률을 곱함으로써 산출된다.

예를 들어, 도 13의 추정 클러치압 특성으로 나타내는 바와 같이, 지시 전류값이 A'점으로부터 B'점까지 상승한 후, B'점으로부터 C'점까지 하강하고, 다시 C'점으로부터 D'점까지 상승하는 경우, 도 13의 리턴 고려 히스테리시스 추정량 특성으로 나타내는 바와 같이, 지시 전류값 A' 내지 B' 영역의 리턴 고려 히스테리시스 추정량은 H1이 되고, 지시 전류값 B' 내지 C' 영역의 리턴 고려 히스테리시스 추정량은 H2가 되고, 지시 전류값 C' 내지 D' 영역의 리턴 고려 히스테리시스 추정량은 H3이 된다.

단계 S510은, 히스테리시스 추정량의 산출 단계이고, 이 히스테리시스 추정량은 단계 S509로부터의 리턴 고려 히스테리시스 추정량에, 히스테리시스 유온 보정 계수와 히스테리시스 지시 전류 변화량 보정 계수를 곱함으로써 산출된다.

단계 S511은, 히스테리시스 추정량의 게인 변경 단계이고, 단계 S510에서 산출된 히스테리시스 추정량의 전류 상승 하강에 의해 게인을 변경한다.

단계 S512는, 지시압과 실압의 편차 추정값을 기억하는 단계이고, 단계 S501에서 지시 전류의 리턴이 판정되었을 때에만, 단계 S513으로부터 출력되는 편차 추정량을 메모리에 기억한다.

또한, 도 13에 나타내는 바와 같이, 추정 클러치압 특성에 있어서, 지시 전류값이 B'점에서 하강 방향으로 리턴한 후, 다시 C'점에서 상승 방향으로 리턴함으로써 루프(R)가 형성될 때에는, 메모리에 기억한 편차 추정량과, 전회 기억한 편차 추정량과, 단계 S506으로부터 단계 S517을 통과함으로써 0 내지 100％의 리미트 처리가 실시된 지시 진행률로부터, 루프(R)의 후반(지시 전류값 C'점 이후)의 행선지가 루프(R)의 기점(지시 전류값 B'점)으로 복귀되도록 고찰한다. 또한, 이 고찰 방법에 대해서는 후술한다.

단계 S513은, 편차 추정량의 산출 단계이고, 이 편차 추정량은, 단계 S511로부터의 게인 변경에 의한 히스테리시스 추정량에, 단계 S512로부터의 리턴 판정시에 기억되어 있었던 편차 추정량을 더함으로써 산출된다. 또한, 히스테리시스 보정 전류 영역 밖이면, 편차 추정량은 0이 된다.

단계 S514는, 히스테리시스 맵 환산값에 의한 보정량 리미트 처리 단계이고, 단계 S513으로부터의 편차 추정량을, 단계 S508로부터의 히스테리시스 맵 환산값에 의해 리미트 처리하여, 히스테리시스 유압 보정량을 취득한다.

단계 S515는, 단계 S514로부터의 히스테리시스 유압 보정량의 반전 처리 단계이고, 단계 S514로부터의 히스테리시스 유압 보정량이, 유압이 부족한 측에서 마이너스의 값이 됨으로써, 이것을 반전 처리하여 플러스의 히스테리시스 유압 보정량으로 한다.

이 히스테리시스 유압 보정량은, 예를 들어 도 13의 클러치 지시압 특성 및 히스테리시스 유압 보정량 특성으로 나타내는 바와 같이, A' 내지 B'의 클러치 지시압 영역에서의 히스테리시스 유압 보정량은 HP1이 되고, B' 내지 C'의 클러치 지시압 영역에서의 히스테리시스 유압 보정량은 HP2가 되고, C' 내지 D'에서의 클러치 지시압 영역에서의 히스테리시스 유압 보정량은 HP3이 된다. 단, 히스테리시스 유압 보정량 특성은, 이해하기 쉽게 하기 위해 종축을 2배로 하여 나타내고 있다.

다음에, 작용을 설명한다.

우선,「전류값 리턴 지시가 복수회 발생하였을 때의 과제」의 설명을 행하고, 계속해서 제2 실시예의 액압 제어 장치에 있어서의 작용을「히스테리시스 유압 보정량 제1 연산 작용」,「히스테리시스 유압 보정량 제2 연산 작용」으로 나누어 설명한다.

[전류값 리턴 지시가 복수회 발생하였을 때의 과제]

도 14는, 전류 밸브의 지시 전류값의 리턴 지시가 복수회 발생하였을 때, 리턴량에 기초하여 히스테리시스 보정하였을 때의 전류에 대한 실압 특성을 나타내는 설명도이다.

제1 실시예에 있어서 설명한 바와 같이, 전자기 밸브에 있어서의 실전류와 실압의 사이에는, 지시 전류가 상승해 갈 때와 하강해 갈 때에서, 상이한 압력 특성을 나타내는 히스테리시스가 발생한다.

그리고 이 히스테리시스가 발생하는 것을 고려하여 전자기 밸브의 지시 전류를 제어하는 것으로서, 지시 전류의 방향이 절환되었을 때의 지시 전류값과, 그 직전에 절환되었을 때의 지시 전류값의 차로부터 구해지는 리턴량에 기초하여 히스테리시스 보정량을 연산하는 것이 있다(제1 실시예).

그런데, 도 14에 나타내는 지시 전류값에 대한 출력 액압의 특성을 나타내는 액압 특성 맵에 있어서, 지시 전류값 α점에 있어서 리턴 지시가 있은 후, 지시 전류값 β점에 있어서 다시 리턴 지시가 발생하여, 루프가 형성되는 경우가 있다.

이때, 리턴량에 기초하여 히스테리시스 보정량을 연산하면, 실제의 히스테리시스량과는 괴리된 값으로 되어 버리는 것이 실험에 의해 판명되었다. 그로 인해, 리턴량에 기초하여 히스테리시스를 계속해서 보정하면, 전류값의 리턴 지시가 복수회 발생하여 루프가 형성되는 것과 같은 경우에는, 지시압과 실압의 차가 커져, 전자기 밸브의 압력 제어의 정밀도가 저하된다고 하는 문제가 발생한다.

특히, 지시 전류값에 대한 실압의 상승이 빠른 경우에는, 오버슈트가 발생해 버려, 실압을 단시간에 상하 변동시켜 마찰 체결 요소를 슬립 제어하는 것을 고정밀도로 행할 수 없다.

[히스테리시스 유압 보정량 제1 연산 작용]

도 15는, 보정 전의 전류에 대한 실압 특성으로부터 제2 실시예의 히스테리시스 유압 보정량 제1 연산 처리에 의해 얻어진 히스테리시스 유압 보정량으로 보정하였을 때의 지시 전류에 대한 실압 특성에 이르는 작용을 나타내는 작용 설명도이다.

도 15의 (a)에 보정 전의 전류에 대한 실압 특성예를 나타낸다. 즉, (1)로 나타내는 영역에서 실전류를 0㎃로부터 500㎃까지 높이고, A'점을 하강 리턴점으로 하고, (2)로 나타내는 영역에서 실전류를 500㎃로부터 300㎃까지 낮추고, B'점을 상승 리턴점으로 하고, (3)으로 나타내는 영역에서 실전류를 300㎃로부터 800㎃까지 높임으로써 실압 특성을 나타내는 맵에 루프가 발생하는 예이다.

이 경우, 도 15의 (b)에 나타내는 바와 같이, 실전류가 0으로부터 증가하는 상황인 (1)영역에서는, 히스테리시스 특성의 중앙값에 대한 실압 편차 추정량은, 마이너스측으로 가장 큰 실압 편차 추정량이 된다. 이때, 상승으로의 리턴 전류값(하측의 리턴점) 및 리턴 전류 하한값은 0㎃이고, 하강으로의 리턴 전류값(상측의 리턴점) 및 리턴 전류 상한값은 800㎃이므로, 지시 영역 전류폭은 800㎃이고, 지시 영역률은 800/800이 된다.

즉, 이 (1)영역에서는, 미리 준비한 0 내지 800㎃의 히스테리시스 유압 맵을 이용하여 중앙값에 대한 실압 편차 추정량을 연산한다.

실전류의 상측의 리턴점이 500㎃인 (2)영역에서는, 히스테리시스 특성의 중앙값에 대한 실압 편차 추정량은, 플러스측으로 (1)영역보다도 작은 실압 편차 추정량이 된다. 이때, 상승으로의 리턴 전류값(하측 리턴점)은 0㎃이고, 하강으로의 리턴 전류값(상측 리턴점)은 500㎃이므로, 지시 영역 전류폭은 500㎃이고, 지시 영역률은 500/800이 된다.

즉, 이 (2)영역에서는, 높이 방향 폭을 500 내지 800㎃로 압축한 히스테리시스 유압 맵을 이용하여 중앙값에 대한 실압 편차 추정량을 연산한다.

실전류의 하측의 리턴점이 300㎃인 (3)영역에서는, 루프 형성시에 루프 후반의 행선지가 루프 기점으로 복귀되는 고려 방법에 맞추기 위해, (2)영역의 개시 위치(B'점)로 복귀되도록 모델을 만든다.

이때, 상승으로의 리턴 전류값(하측 리턴점)은 300㎃이고, 하강으로의 리턴 전류값(상측 리턴점)은 500㎃이지만, (2)영역일 때의 지시 영역률을 계승하여, 500/800을 유지한다. 또한, 전류 지지 변화와 지시 진행률의 변화 비율도 (2)영역일 때에 맞추어, 중앙값에 대한 실압 편차 추정량이 (2)영역의 개시 위치로 복귀되도록 연산한다. 그리고 전류값이 500㎃에 도달하면 보정량을 유지한다.

그리고 히스테리시스 특성의 중앙값에 대한 실편차 추정량을, (1)＋(2)＋(3)의 합계 영역으로 나타내면, 도 15의 (c)에 나타내는 바와 같이, 3개의 실압 편차 추정량의 특성이 관계를 가진 특성이 된다. 특히, (3)영역에 있어서 지시 영역률 및 전류 지시 변화와 지시 진행률의 변화 비율을 유지함으로써, B'점에서 리턴한 후, C'점에서 리턴한 특성이 B'점으로 복귀되게 된다.

그리고 도 15의 (d)에 나타내는 바와 같이, 도 15의 (c)에 나타내는 실압 편차 추정량 특성의 플러스 마이너스를 반전시킨 특성이 히스테리시스 유압 보정량 특성이 되고, 제2 실시예의 히스테리시스 유압 보정량 연산에 의해 얻어진 히스테리시스 유압 보정량으로 보정하였을 때의 전류에 대한 실압 특성은, 예를 들어 도 15의 (e)에 나타내는 바와 같이, 지시 전류값에 대한 출력 액압의 특성을 나타내는 맵에 있어서 루프가 형성되는 경우라도, 실제의 히스테리시스 특성에 맞춘 히스테리시스량의 추정을 할 수 있어, 전자기 밸브의 압력 제어의 정밀도 저하를 방지할 수 있다.

[히스테리시스 유압 보정량 제2 연산 작용]

도 16은, 보정 전의 전류에 대한 실압 특성으로부터 제2 실시예의 히스테리시스 유압 보정량 제2 연산 처리에 의해 얻어진 히스테리시스 유압 보정량으로 보정하였을 때의 지시 전류에 대한 실압 특성에 이르는 작용을 나타내는 작용 설명도이다.

도 16의 (a)에 보정 전의 전류에 대한 실압 특성예를 나타내고, 도 16의 (b)에 히스테리시스 특성의 중앙값에 대한 실압 편차 추정량을 실전류의 변동 영역마다 나타낸다. 여기서, 실압 특성예 및 실압 특성 (1), (2) 영역은, 상술한 히스테리시스 유압 보정량 제1 연산 작용에서 설명한 것과 동일하므로, 설명을 생략한다.

실전류를 300㎃로부터 800㎃까지 높이는 (3)으로 나타내는 영역에서는, 상승으로의 리턴 전류값(하측 리턴점)은 300㎃이고, 하강으로의 리턴 전류값(상측 리턴점)은 500㎃이므로, 히스테리시스 특성의 중앙값에 대한 실압 편차 추정량은, 높이 방향폭을 200 내지 800㎃로 압축한 히스테리시스 유압 맵을 이용하여 연산한다.

그리고 루프 형성시에 루프 후반의 행선지가 루프 기점으로 복귀되는 고려 방법에 맞추기 위해, 연산한 실압 편차 추정량이 (2)영역의 개시 위치(B'점)로 복귀되도록 설계한다. 구체적으로는, 실전류에 대한 목표가 되는 유압 특성을 오프셋하고, 이 유압 특성을 가변으로 함으로써 연산한 실압 편차 추정량이 루프 기점으로 복귀되도록 오프셋할 수 있다.

그리고 히스테리시스 특성의 중앙값에 대한 실편차 추정량을, (1)＋(2)＋(3)의 합계 영역으로 나타내면, 도 16의 (c)에 나타내는 바와 같이, 3개의 실압 편차 추정량의 특성이 관계를 가진 특성이 된다.

또한, 도 16의 (d)에 나타내는 바와 같이, 도 16의 (c)에 나타내는 실압 편차 추정량 특성의 플러스 마이너스를 반전시킨 특성이 히스테리시스 유압 보정량 특성이 되고, 제2 실시예의 히스테리시스 유압 보정량 연산에 의해 얻어진 히스테리시스 유압 보정량으로 보정하였을 때의 전류에 대한 실압 특성은, 예를 들어 도 16의 (e)에 나타내는 바와 같이, 지시 전류값에 대한 출력 액압의 특성을 나타내는 맵에 있어서 루프가 형성되는 경우라도, 실제의 히스테리시스 특성에 맞춘 히스테리시스량의 추정을 할 수 있어, 전자기 밸브의 압력 제어의 정밀도 저하를 방지할 수 있다.

특히, 히스테리시스 유압 보정량 제2 연산 처리에서는, 지시 전류값에 대한 출력 액압의 특성을 나타내는 맵에 있어서 루프가 형성되는 경우라도, 리턴량에 기초하여 구해진 히스테리시스 보정량을 오프셋 시키는 것만으로 실제의 히스테리시스 특성에 맞춘 히스테리시스량의 추정을 할 수 있으므로, 연산 방법이 크게 변경되는 일도 없어, 연산량의 증대를 억제할 수 있다.

다음에, 효과를 설명한다.

제2 실시예의 액압 제어 장치에 있어서는, 상술한 (1) 내지 (10)의 효과에 부가하여, 하기에 열거하는 효과를 얻을 수 있다.

(11) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 상기 지시 전류의 방향이 절환된 후에, 다시 상기 지시 전류의 방향이 절환됨으로써, 지시 전류값에 대한 출력 액압의 특성을 나타내는 액압 특성 맵에서 루프가 형성될 때에는, 상기 루프 후반의 행선지가 상기 루프 기점으로 복귀되도록, 상기 히스테리시스 보정량을 연산한다.

이로 인해, 루프가 형성되는 경우라도, 실제의 히스테리시스 특성에 맞춘 히스테리시스량의 추정을 할 수 있어, 전자기 밸브의 압력 제어의 정밀도 저하를 방지할 수 있다.

(12) 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 상기 리턴량에 기초하여 상기 히스테리시스 보정량을 연산하는 동시에, 이 연산한 히스테리시스 보정량을, 상기 액압 특성 맵에서 형성된 루프 후반의 행선지가 상기 루프 기점으로 복귀되도록 오프셋한다.

이로 인해, 루프가 형성되는 경우라도, 리턴량에 기초하여 구해진 히스테리시스 보정량을 오프셋시키는 것만으로 실제의 히스테리시스 특성에 맞춘 히스테리시스량의 추정을 할 수 있으므로, 연산 방법이 크게 변경되는 일도 없어, 연산량의 증대를 억제할 수 있다.

이상, 본 발명의 액압 제어 장치를 제1 실시예 및 제2 실시예에 기초하여 설명해 왔지만, 구체적인 구성에 대해서는, 본 제1 실시예 및 제2 실시예에 한정되는 것은 아니며, 특허청구의 범위의 각 청구항에 관한 발명의 요지를 일탈하지 않는 한, 설계의 변경이나 추가 등은 허용된다.

제1 실시예 및 제2 실시예에서는, 히스테리시스 유압 맵을 1개 설정하고, 지시 진행률과 지시 영역률에 의해 히스테리시스 추정량을 구하는 예를 나타냈다. 그러나 지시 진행률의 방향과 크기, 혹은 지시 영역률의 크기 등에 의해, 세심하게 복수의 히스테리시스 유압 맵을 설정하는 예로 해도 좋다.

제1 실시예 및 제2 실시예에서는, 지시 전류가 커질수록 비례적으로 액압이 상승하는 노멀 로우형의 리니어 솔레노이드 밸브를 이용한 액압 제어 장치로의 적용예를 나타냈지만, 지시 전류가 제로에서 최대 액압을 발생하고, 지시 전류가 커질수록 비례적으로 액압이 하강하는 노멀 하이형의 리니어 솔레노이드 밸브를 이용한 액압 제어 장치에 대해서도 적용할 수 있다.

또한, 제1 실시예 및 제2 실시예에서는, 차량용 자동 변속기의 마찰 체결 요소압을 제어하는 액압 제어 장치에의 적용예를 나타냈지만, 정밀도가 높은 액압 제어가 요구되는 다양한 대상에 적용할 수 있다.

1 : 마찰 체결 요소
2 : 리니어 솔레노이드 밸브(전자기 밸브)
3 : 컨트롤 밸브
4 : 자동 변속기 컨트롤 유닛
40 : 클러치압 보정 제어부(지시 전류 제어 수단)
Pc : 체결 요소압
Pp : 파일럿압
I_SOL : 솔레노이드 전류(지시 전류)
P_SOL : 솔레노이드압(출력 액압)

Claims

지시 전류에 따라서 개방도가 조정되고, 액압을 증가 혹은 감소 중 어느 한쪽으로 제어하는 전자기 밸브와,
상기 지시 전류의 증가 방향과 감소 방향에서의 지시 전류에 대한 출력 액압의 히스테리시스 특성에 의해 정해지는 히스테리시스 보정량을 연산하는 히스테리시스 보정량 연산 수단과,
상기 히스테리시스 보정량을 고려하여, 상기 출력 액압이 목표 출력 액압이 되도록 상기 지시 전류를 제어하는 지시 전류 제어 수단을 구비한 액압 제어 장치에 있어서,
상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 상기 지시 전류의 방향이 절환되었을 때의 지시 전류값과 그 직전에 절환되었을 때의 지시 전류값의 차로부터 구해지는 리턴량에 기초하여, 상기 히스테리시스 보정량을 연산하는 수단인 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제1항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 사용하는 지시 전류의 상한값과 하한값의 차와, 상기 리턴량의 비율인 지시 영역률에 기초하여 히스테리시스 보정량을 연산하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제2항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 상기 지시 영역률이 클수록 상기 히스테리시스 보정량이 커지도록 연산하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 리턴시에 있어서의 지시 전류값과 리턴한 후의 지시 전류값의 차분으로부터 구해지는 지시 전류 변화량에 기초하여, 히스테리시스 보정량을 연산하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제4항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 리턴 보정 영역 전류폭을,
리턴 보정 영역 전류폭＝min(히스테리시스 보정 상한값, 하강으로의 리턴 전류값)－max(히스테리시스 보정 하한값, 상승으로의 리턴 전류값)
의 식에 의해 산출하고, 지시 진행률을,
지시 진행률＝{지시 전류값－max(히스테리시스 보정 하한값, 상승으로의 리턴 전류값)}/리턴 보정 영역 전류폭
의 식에 의해 산출하고, 이 지시 진행률에 기초하여, 히스테리시스 보정량을 연산하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제5항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 지시 진행률에 대한 히스테리시스량 맵을 미리 설정하고, 상기 산출한 지시 진행률과 상기 히스테리시스량 맵을 이용하여 구한 히스테리시스량에, 상기 지시 영역률을 승산함으로써, 히스테리시스 보정량을 연산하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제6항에 있어서, 상기 히스테리시스량 맵은, 지시 진행률이 소정량 이상이 되면 히스테리시스량이 감소하는 맵인 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 지시 전류의 변화량에 기초하여, 지시 전류가 리턴인지 여부를 판정하는 리턴 판정 수단을 구비하고,
상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 리턴 판정이 있었을 때, 히스테리시스 보정량의 연산을 개시하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제8항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 리턴 판정이 이루어졌을 때의 지시 전류값을 기억하는 기억 수단을 갖는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 지시 전류값이 히스테리시스 보정량을 산출하는 범위 이외인 경우, 상기 히스테리시스 보정량을 제로로 하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 상기 지시 전류의 방향이 절환된 후에, 다시 상기 지시 전류의 방향이 절환됨으로써, 지시 전류값에 대한 출력 액압의 특성을 나타내는 액압 특성 맵에서 루프가 형성될 때에는, 상기 루프 후반의 행선지가 상기 루프 기점으로 복귀되도록 상기 히스테리시스 보정량을 연산하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.
제11항에 있어서, 상기 히스테리시스 보정량 연산 수단은, 상기 리턴량에 기초하여 상기 히스테리시스 보정량을 연산하는 동시에, 이 연산한 히스테리시스 보정량을, 상기 액압 특성 맵에서 형성된 루프 후반의 행선지가 상기 루프 기점으로 복귀되도록 오프셋하는 것을 특징으로 하는, 액압 제어 장치.